DE112012001000T5 - Kapazitive Berührungserkennungs-Architektur - Google Patents

Kapazitive Berührungserkennungs-Architektur Download PDF

Info

Publication number
DE112012001000T5
DE112012001000T5 DE112012001000T DE112012001000T DE112012001000T5 DE 112012001000 T5 DE112012001000 T5 DE 112012001000T5 DE 112012001000 T DE112012001000 T DE 112012001000T DE 112012001000 T DE112012001000 T DE 112012001000T DE 112012001000 T5 DE112012001000 T5 DE 112012001000T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
circuit
analog
excitation signal
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE112012001000T
Other languages
English (en)
Inventor
Guozhong Shen
Ozan Erdogan
Rajesh Anantharaman
Behrooz Javid
Rahim Chowdhury
Ajay Taparia
Syed T. Mahmud
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qualcomm Inc
Original Assignee
Maxim Integrated Products Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Maxim Integrated Products Inc filed Critical Maxim Integrated Products Inc
Publication of DE112012001000T5 publication Critical patent/DE112012001000T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G06F3/04182Filtering of noise external to the device and not generated by digitiser components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Abstract

Ein analoger Front-End-Schaltkreis nutzt kohärente Demodulation in einer Kapazitätsmessungs-Anwendung. Der analoge Front-End-Schaltkreis benutzt kohärente Demodulation, um die Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms zu messen. Ein analoges Anregungssignal wird durch einen zu messenden Kondensator moduliert. Das modulierte Signal wird synchron demoduliert, wozu ein Korrelator benutzt wird, der einen diskreten Mischer und einen diskreten Integrator enthält. Das Anregungssignal wird ebenfalls in den Mischer eingegeben, so dass das modulierte Signal mit dem Anregungssignal multipliziert wird. Das Anregungssignal ist ein analoges Signal, das einen Sinussignal-Verlauf oder eine andere Signalform aufweist.

Description

  • Verwandte Anmeldungen
  • Diese Anmeldung beansprucht die Prioritätsrechte der vorläufigen US-Anmeldung, Serien-Nr. 61/446,944, eingereicht am 25.02.2011, mit dem Titel „Mutal Capacitance Touch-Screen Controller IIC Interface” durch dieselben Erfinder. In diese Anmeldung ist die vorläufige US-Anmeldung, Serien-Nr. 61/446,944, mit ihrem gesamten Inhalt durch Verweis aufgenommen.
  • Gebiet der Erfindung
  • Diese Erfindung betrifft analoge Front-End-Schaltkreise zum Umwandeln von gemessenen Kapazitäten in Spannungen. Spezieller betrifft diese Erfindung analoge Front-End-Schaltkreise, die einen Korrelator aufweisen, um eine gemessene Kapazität aus einem Ansteuerungssignal zu demodulieren.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Viele elektrische Vorrichtungen enthalten berührungsempfindliche Bildschirme. Ein berührungsempfindlicher Bildschirm ist ein Bildschirm, der das Vorhandensein, die Lage und den Druck einer Berührung, im Allgemeinen durch einen Finger, die Hand, einen Stift oder eine Zeigevorrichtung, innerhalb des Anzeigebereichs erkennt. Der berührungsempfindliche Bildschirm ermöglicht es einem Benutzer, mit dem Anzeigefeld direkt zu interagieren, ohne dass irgendeine Zwischen-Vorrichtung benötigt wird, anstatt indirekt mit einer Maus oder einem Tastenfeld. Berührungsempfindliche Bildschirme können in Computern oder als Endgeräte zum Zugriff auf Netzwerke realisiert sein. Berührungsempfindliche Bildschirme findet man im Allgemeinen in Kassensystemen, Geldautomaten, Mobiltelefonen, Personal Digital Assistants (PDAs), tragbaren Spielekonsolen, Satelliten-Navigationsvorrichtungen und Informations-Geräten.
  • Es gibt mehrere Arten von Technologien berührungsempfindlicher Bildschirme. Ein resistiver berührungsempfindlicher Bildschirm besteht aus mehreren Schichten, einschließlich zweier dünner metallischer elektrisch leitfähiger Widerstands-Schichten, die einen geringen Abstand voneinander aufweisen. Wenn ein Objekt den berührungsempfindlichen Bildschirm berührt, werden die Schichten an einem bestimmten Punkt miteinander verbunden. Als Reaktion auf den Kontakt mit dem Objekt wirkt das Anzeigefeld wie zwei Spannungsteiler mit verbundenen Ausgängen. Dies bewirkt eine Änderung des elektrischen Stroms, was als ein Berührungs-Ereignis registriert und zur Verarbeitung an die Steuereinheit gesendet wird.
  • Ein kapazitiver berührungsempfindlicher Bildschirm ist mit einem Material beschichtet, teilweise beschichtet oder mit einem Muster versehen, das einen kontinuierlichen elektrischen Strom durch einen Sensor leitet. Der Sensor zeigt ein präzise gesteuertes Feld gespeicherter Elektronen sowohl in der horizontalen als auch der vertikalen Achse, um eine Kapazität zu erhalten. Der menschliche Körper ist leitfähig, daher beeinflusst er in einer Kapazität gespeicherte elektrische Felder. Wenn eine Referenzkapazität des Sensors durch das Feld einer anderen Kapazität, wie z. B. eines Fingers, geändert wird, messen elektronische Schaltkreise, die in jeder Ecke des Anzeigefeldes angeordnet sind, die resultierende Störung der Referenzkapazität. Die mit dem Berührungsereignis in Zusammenhang stehende gemessene Information wird zur mathematischen Verarbeitung an die Steuereinheit gesendet. Kapazitive Sensoren können entweder mit dem bloßen Finger oder mit einer leitfähigen Vorrichtung, die in einer bloßen Hand gehalten wird, berührt werden. Kapazitive Sensoren arbeiten auch auf der Grundlage von Annäherung und müssen nicht direkt berührt werden, um ausgelöst zu werden. In den meisten Fällen tritt kein Kontakt zu einer leitfähigen Metallfläche auf, und der leitfähige Sensor ist vom Körper des Benutzers durch ein isolierendes Glas oder eine Kunststoffschicht getrennt. Vorrichtungen mit kapazitiven Schaltfeldern, die durch einen Finger berührt werden sollen, können oft ausgelöst werden, indem die Handfläche nahe der Oberfläche ohne Berührung schnell hin- und herbewegt wird.
  • 1 zeigt einen beispielhaften herkömmlichen kapazitiven Berührungssensor, der in einem kapazitiven berührungsempfindlichen Bildschirm benutzt wird. Solche Sensoren werden typischerweise ausgebildet, indem transparente Leiter verwendet werden, wie beispielsweise ITO (Indium-Zinn-Oxid), die in Schichten ausgebildet sind. In der beispielhaften Konfiguration von 1 bilden untere Leiter Ansteuer-Elektroden X0, X1, X2, X3, auch als Ansteuerleitungen bezeichnet, und obere Leiter bilden Erkennungselektroden Y0, Y1, Y2, Y3, auch als Erkennungsleitungen bezeichnet. Jeder Schnittpunkt einer Ansteuerleitung und einer Erkennungsleitung bildet einen Kondensator mit einer gemessenen Kapazität Cm. Das Ziel ist es, eine Schätzung einer Berührungsposition auf dem kapazitiven Berührungssensor zu bestimmen. Wenn ein Finger oder ein anderes Objekt, das geerdet ist, auf oder in der Nähe eines Schnittpunktes des Sensors positioniert wird, tritt eine Änderung der gemessenen Kapazität Cm an diesem Schnittpunkt auf. Die gemessene Kapazität Cm ist die Kapazität zwischen der Erkennungsleitung und der Ansteuerleitung am Schnittpunkt. Wenn das Berührungsereignis am Schnittpunkt auftritt, wird ein Teil der Feldlinien zwischen der Erkennungsleitung und der Ansteuerleitung so abgelenkt, dass er zwischen Erkennungsleitung und dem Finger verläuft. Als solches verringert sich die gemessene Kapazität Cm während eines Berührungsereignisses.
  • Ein analoger Front-End-(AFE)-Schaltkreis führt die Signalverarbeitung eines analogen Signals durch und führt typischerweise eine Analog-/Digital-Umsetzung durch. Analoge Front-End-Schaltkreise können in einer Vielzahl von Anwendungen benutzt werden, einschließlich Messen und Umwandeln einer Kapazität in eine entsprechende Spannung. Die 2A und 2B zeigen ein vereinfachtes schematisches Blockdiagramm eines herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises, der zur Messung der Kapazität eines externen Kondensators und zum Umwandeln der gemessenen Kapazität in eine entsprechende Spannung benutzt wird. In einer beispielhaften Anwendung ist die externe Kapazität die im Kondensator Cm von 1 gespeicherte Ladung. 2A zeigt den Schaltkreis in einer ersten Phase, und 2B zeigt den Schaltkreis in einer zweiten Phase. Während Phase 1 wird die zu messende Ladung im Kondensator Cm gesammelt. Während Phase 2 wird die in Kondensator Cm gespeicherte Ladung zum Kondensator Cf übertragen, und eine entsprechende Spannung Vout wird ausgegeben.
  • Mit Bezug auf 2A umfasst der Schaltkreis den Kondensator Cm, einen Operationsverstärker 2, einen Schalter 4, einen Rückkopplungs-Kondensator Cf und einen Schalter 6. Eine Spannung an dem negativen Eingang des Verstärkers 2, und daher an einem ersten Anschluss des Kondensators Cm, ist eine virtuelle Masse Vvg. Während Phase 1 ist der Schalter 4 mit der Referenzspannung Vref verbunden, und der Schalter 6 ist geschlossen. Das Schließen des Schalters 6 ermöglicht es, den Kondensator Cf vollständig auf einen bekannten Nullzustand zu entladen. Die Ladung des Kondensators Cm ist Vvg-Vref multipliziert mit der Kapazität Cm.
  • Während Phase 2 ist der Schalter 4 mit Masse verbunden, und der Schalter 6 ist geöffnet, wie in 2B gezeigt. Wenn der Schalter 4 mit Masse verbunden ist, ist die Spannung über dem Kondensator Cm Null, und die gesamte Ladung des Kondensators Cm wird zum Kondensator Cf übertragen. Die Ausgangsspannung Vout ist ein Signal, dessen Amplitude von der Ladung abhängt, die im Kondensator Cm gespeichert und zum Kondensator Cf übertragen ist. Die Ausgangsspannung Vout kann an einen Analog-/Digital-Umsetzer (ADC), wie in 4, angelegt werden, um in einen entsprechenden digitalen Ausgangswert umgewandelt zu werden. Da der Kondensator Cf während Phase 1 komplett entladen wurde, ist die im Kondensator Cf gespeicherte Ladung vollständig durch die Ladungsmenge bestimmt, die vom Kondensator Cm übertragen wurde. Wenn der Kondensator Cf während Phase 1 nicht vollständig auf einen Nullzustand entladen wird, wird der Kondensator Cf die Erinnerung an seinen vorherigen Zustand behalten.
  • Die Ausgangsspannung Vout = Vref·Cm/Cf + vn, wobei Vref ein bekannter interner Referenzwert ist, vn das vom System gemessene unerwünschte Rauschen ist, und Cf ein bekannter Wert ist. Als solche kann die Kapazität Cm aus den bekannten Werten Vref und Cf und dem gemessenen Wert Vout bestimmt werden. Die Kapazität Cm ist eine veränderliche Kapazität und stellt die zu messende Kapazität dar, wie beispielsweise die gemessene Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms. Wenn ein Finger den berührungsempfindlichen Bildschirm berührt, ändert sich die Kapazität, was die gemessene externe Kapazitätsänderung ist.
  • Ein Problem bei dem Schaltkreis der 2A und 2B betrifft das Abtasten von Breitband-Rauschen. Der Schaltkreis enthält keine Rauschfilterung, so dass alles Rauschen, das beim Übergang von Phase 1 zu Phase 2 in das System eingeführt wird, in die zum Kondensator Cf übertragene Ladung mit aufgenommen ist. Das Rauschen wird durch die Komponente ”vn” in der Ausgangsspannung Vout dargestellt. So ist die Ausgangsspannung Vout nicht nur ein Maß der Kapazität Cm, sondern auch eine unmittelbare Abtastung des Rauschens. Ferner muss der Dynamikbereich des ADC groß genug sein, um den durch Rauschen erhöhten Wert der Ausgangsspannung Vout zu berücksichtigen. Der größere Dynamikbereich führt zu einem ADC, der eine größere Fläche benötigt und eine höhere Stromaufnahme aufweist.
  • 3 zeigt Beispiele für Ansprechkurven des Schaltkreises der 2A und 2B. Die obere Kurve zeigt einen Abtast-Takt, der Phase 1 und Phase 2 entspricht. Wenn der Abtast-Takt auf High-Pegel liegt, z. B. auf 1 V, befindet sich der Schaltkreis in Phase 1 (1), und wenn der Abtast-Takt auf Low-Pegel liegt, z. B. auf 0 V, befindet sich der Schaltkreis in Phase 2 (2). In der Beispiel-Anwendung wird der Eingang an der steigenden Flanke des Abtast-Taktes abgetastet. In dem Moment, in dem die Schalter 4 und 6 von Phase 2 zu Phase 1 wechseln, wird die Spannung Vout abgetastet. Wie in der mittleren Kurve in 3 gezeigt, befindet sich Rauschen auf dem Eingangssignal, aber sein Mittelwert ist im Wesentlichen konstant. Es wird erwartet, dass der abgetastete Wert konstant ist, zum Beispiel 1 V, aber wegen des Rauschens schwankt das tatsächliche abgetastete Ausgangssignal abhängig von dem zur Abtastzeit vorhandenen Momentanwert des Rauschens um den erwarteten konstanten Wert. Ein Beispiel dieser Schwankung des tatsächlichen abgetasteten Ausgangssignals ist in der unteren Kurve in 3 gezeigt. Wenn das Momentanrauschen groß ist, ist das tatsächliche abgetastete Ausgangssignal größer als der erwartete konstante Wert, wie die Teile der Kurve des abgetasteten Ausgangssignals, die über 1 V liegen. Wenn das Momentanrauschen klein ist, ist das tatsächliche abgetastete Ausgangssignal kleiner als der erwartete konstante Wert, wie die Teile der Kurve des abgetasteten Ausgangssignals, die unter 1 V liegen.
  • In der Anwendung wird eine Schwellenspannung zum Bestimmen einer Änderung der Kapazität, wie ein Berührungs-Ereignis auf einem berührungsempfindlichen Bildschirm, erhöht, um sich an die Änderung des abgetasteten Ausgangssignals anzupassen. Durch Erhöhung der Schwellenspannung verringert sich die Empfindlichkeit des Systems. Verwendet man eine Schwellenspannung, die zu klein ist, um die Schwankungen durch Rauschen zu berücksichtigen, führt dies zu falschen Auslöseereignissen.
  • Verschiedene alternative Systeme, die eine Kapazität messen, umfassen Maßnahmen zur Berücksichtigung des Rauschens. 4 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises, bei dem digitale Filterung verwendet wird. Der Schaltkreis von 4 umfasst einen Analog-/Digital-Umsetzer (ADC), der an dem Ausgang des rauscharmen Verstärkers (LNA) angeschlossen ist. Die an den Eingang des ADC angelegte Spannung wird in einen digitalen Wert umgewandelt, der durch Digitalverarbeitungs-Schaltkreise, die Rauschfilterung umfassen, verarbeitet wird. Der ADC ist auch ein Abtastsystem, das zu einem einzigen Zeitpunkt abtastet. Dies führt zu ähnlich schwankenden Ausgangswerten, wie oben in Verbindung mit 3 beschrieben.
  • 5 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines anderen herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises. Der Schaltkreis in 5 ist derselbe wie der Schaltkreis in 4, wobei ein Bandpassfilter (BPF) hinzugefügt wurde, um das Signal vor der Eingabe in den ADC zu filtern. Der BPF versucht, das im Spannungssignal (mittlere Kurve in 3) vorhandene Rauschen zu filtern, bevor es in den ADC eingegeben wird. Die Abtastung wird an dem gefilterten Signal durchgeführt, das vom BPF ausgegeben wird. Das Problem bei dem Schaltkreis in 5 ist, dass verschiedene Anwendungen verschiedenen Rauschspektren ausgesetzt sind. Daher kann der BPF nicht fest sein, sondern stattdessen muss der BPF an die spezielle Anwendung anpassbar sein. Auch muss der BPF fein abgestimmt werden können, um an Anwendungen mit einem relativ schmalen Durchlassbereich angepasst werden zu können. Zum Beispiel kann ein berührungsempfindlicher Bildschirm einen Durchlassbereich von ungefähr 50 bis 400 kHz aufweisen. Wenn der BPF eine zu große Bandbreite aufweist, wie z. B. 50 kHz, kann es sein, dass für bestimmte Anwendungen die Filter-Bandbreite zu groß ist, um Rauschen effektiv zu filtern.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Ein analoger Front-End-Schaltkreis nutzt kohärente Demodulation in einer Kapazitätsmessungs-Anwendung. In manchen Anwendungen benutzt der analoge Front-End-Schaltkreis kohärente Demodulation, um die Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms zu messen. Der analoge Front-End-Demodulations-Schaltkreis umfasst einen Signalgenerator, der ein analoges Anregungssignal erzeugt. Das analoge Anregungssignal wird durch einen zu messenden Kondensator moduliert. Das modulierte Signal wird unter Verwendung eines Korrelators synchron demoduliert. In einigen Ausführungsformen umfasst der Korrelator einen diskreten Mischer und einen diskreten Integrator. Das Anregungssignal wird ebenfalls in den Mischer eingegeben, so dass das modulierte Signal mit dem Anregungssignal multipliziert wird. In einigen Ausführungsformen ist das Anregungssignal ein analoges Signal, das den Verlauf eines Sinussignals aufweist. In anderen Ausführungsformen können andere Signalformen als ein Sinussignal benutzt werden. Im Allgemeinen wird ein Anregungssignal erzeugt und von dem zu messenden Kondensator moduliert, und ein Korrelationssignal wird mit dem modulierten Signal gemischt und über eine diskrete Zeitdauer integriert. Das Korrelationssignal ist mit dem Anregungssignal korreliert.
  • In einem Aspekt umfasst der Kapazitätsmessungs-Schaltkreis einen externen Kondensator und einen Schaltkreis zur kohärenten Demodulation, der mit dem externen Kondensator gekoppelt ist. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation ist gestaltet, eine Kapazität des externen Kondensators zu messen und die gemessene Kapazität in eine entsprechendes Spannungs-Ausgangssignal umzuwandeln. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation kann einen diskreten Schaltkreis zum Mischen und einen diskreten Schaltkreis zum Integrieren umfassen. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation kann auch einen Signalgenerator umfassen, der mit dem externen Kondensator gekoppelt ist, wobei der Signalgenerator gestaltet ist, ein analoges Anregungssignal zu erzeugen. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation kann auch einen Verstärker und einen Rückkopplungskondensator umfassen, der mit einem Eingang und einem Ausgang des Verstärkers gekoppelt ist, wobei der Eingang des Verstärkers mit dem externen Kondensator gekoppelt ist und der Ausgang des Verstärkers mit dem Mischungs-Schaltkreis gekoppelt ist. Ein moduliertes analoges Anregungssignal kann an einen ersten Eingang des Mischungs-Schaltkreises angelegt werden, wobei das modulierte analoge Signal das analoge Anregungssignal umfasst, das durch eine Kapazität des externen Kondensators moduliert ist. Das vom Signalgenerator erzeugte analoge Anregungssignal kann auch an einen zweiten Eingang des Mischungs-Schaltkreises angelegt werden, wobei der Mischungs-Schaltkreis gestaltet ist, das modulierte analoge Anregungssignal und das analoge Anregungssignal miteinander zu multiplizieren und ein gemischtes analoges Signal auszugeben. In manchen Ausführungsformen kann eine Phasenverzögerung in das mischende analoge Signal eingeführt werden. Der Integrations-Schaltkreis kann gestaltet sein, das gemischte analoge Signal zu empfangen und das gemischte analoge Signal über eine diskrete Zeitdauer zu integrieren, um das entsprechende Spannungs-Ausgangssignal auszugeben. Die Zeitdauer kann ein Vielfaches von 1/f sein, wobei f eine Frequenz des analogen Anregungssignals ist.
  • Der Mischungs-Schaltkreis kann ein über kontinuierliche Zeit mischender Schaltkreis sein, und der Integrations-Schaltkreis kann ein über kontinuierliche Zeit integrierenden Schaltkreis sein. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation kann ein Pfad für ein kontinuierliches Zeitsignal sein, wobei der Pfad für ein kontinuierliches Zeitsignal gestaltet ist, ein moduliertes analoges Signal von dem externen Kondensator zu empfangen und das modulierte analoge Signal in das entsprechende Spannungs-Ausgangssignal umzuwandeln. Der Schaltkreis zur Kapazitätsmessung kann auch einen berührungsempfindlichen Bildschirm umfassen, wobei der berührungsempfindliche Bildschirm den externen Kondensator umfasst. Der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation kann ein analoger Synchrondemodulator sein.
  • In einem anderen Aspekt umfasst ein Schaltkreis zur Kapazitätsmessung einen Signalgenerator, einen berührungsempfindlichen Bildschirm, einen Rückkopplungs-Kondensator, einen Mischungs-Schaltkreis und einen Integrations-Schaltkreis. Der Signalgenerator ist gestaltet, ein analoges Anregungssignal zu erzeugen. Der berührungsempfindliche Bildschirm weist mindestens einen Kondensator auf, wobei der Kondensator so gestaltet ist, dass das analoge Anregungssignal eingegeben und ein moduliertes analoges Anregungssignal ausgegeben wird, wobei das analoge Anregungssignal entsprechend der Kapazität des Kondensators moduliert ist. Der Verstärker ist mit dem Kondensator und dem Rückkopplungs-Kondensator gekoppelt, der an einem Eingang und an einem Ausgang des Verstärkers angeschlossen ist. Der Verstärker ist so gestaltet, dass das modulierte analoge Anregungssignal eingegeben und ein verstärktes moduliertes analoges Anregungssignal ausgegeben wird. Der Mischungs-Schaltkreis ist mit dem Verstärker und dem Signalgenerator gekoppelt, wobei der Mischungs-Schaltkreis so gestaltet ist, dass das verstärkte modulierte analoge Anregungssignal und ein analoges Korrelationssignal, das mit dem analogen Anregungssignal korreliert ist, eingegeben und ein gemischtes analoges Signal ausgegeben wird. Der Integrations-Schaltkreis ist mit dem Mischungs-Schaltkreis gekoppelt, wobei der Integrations-Schaltkreis gestaltet ist, das gemischte analoge Signal zu empfangen und das gemischte analoge Signal über eine diskrete Zeitdauer zu integrieren, um ein Spannungssignal auszugeben, wobei das Spannungssignal der Kapazität des Kondensators entspricht.
  • In noch einem anderen Aspekt wird ein Verfahren zum Messen von Kapazität offenbart. Das Verfahren umfasst das Erzeugen eines analogen Anregungssignals. Das Verfahren umfasst auch das Anlegen des analogen Anregungssignals an einen zu messenden Kondensator, wodurch das analoge Anregungssignal moduliert wird. Das Verfahren umfasst auch das Korrelieren des modulierten analogen Anregungssignals mit einem Korrelationssignal, um das modulierte analoge Anregungssignal zu demodulieren, was zu einer Ausgangsspannung führt, die einer Kapazität des Kondensators entspricht, wobei das Korrelationssignal mit dem analogen Anregungssignal korreliert ist. Korrelieren des modulierten Anregungssignals mit dem Korrelationssignal kann es umfassen, das modulierte analoge Anregungssignal mit dem Korrelationssignal zu mischen, was zu einem gemischten analogen Signal führt, und das gemischte analoge Signal über eine Zeitdauer zu integrieren, was zu der Ausgangsspannung führt. Die Ausgangsspannung kann eine Gleichspannung (DC) sein. Durch Korrelieren des modulierten analogen Anregungssignals mit dem Korrelationssignal werden Rauschen und Störungen aus dem modulierten analogen Anregungssignal herausgefiltert. Der Kondensator kann eine Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms messen.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Mehrere beispielhafte Ausführungsformen werden mit Bezug auf die Zeichnungen beschrieben, wobei an gleichen Komponenten gleiche Bezugsziffern vorgesehen sind. Die beispielhaften Ausführungsformen haben die Absicht, die Erfindung zu erläutern, jedoch nicht einzuschränken. Die Zeichnungen umfassen die folgenden Figuren:
  • 1 zeigt einen beispielhaften herkömmlichen kapazitiven Berührungssensor, der in einem kapazitiven berührungsempfindlichen Bildschirm benutzt wird.
  • Die 2A und 2B zeigen ein vereinfachtes schematisches Blockdiagramm eines herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises, der zur Messung der Kapazität eines externen Kondensators und zum Umwandeln der gemessenen Kapazität in eine entsprechende Spannung benutzt wird.
  • 3 zeigt Beispiele für Ansprechkurven des Schaltkreises der 2A und 2B.
  • 4 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises, bei dem digitale Filterung verwendet wird.
  • 5 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines anderen herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreises.
  • 6 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines analogen Front-End-Schaltkreises, bei dem kohärente Demodulation gemäß einer ersten Ausführungsform verwendet wird.
  • 7 zeigt einen beispielhaften Frequenzgang des Schaltkreises in 6 für eine Anregungsfrequenz f gleich 300 kHz.
  • Genaue Beschreibung der Ausführungsformen
  • Ausführungsformen der vorliegenden Anmeldung richten sich auf einen analogen Front-End-Schaltkreis. Fachleuten sollte bewusst sein, dass die folgende genaue Beschreibung des analogen Front-End-Schaltkreises nur erläuternd ist und in keiner Weise einschränkend sein soll. Weitere Ausführungsformen des analogen Front-End-Schaltkreises werden Fachleuten einfallen, die den Nutzen dieser Offenbarung besitzen.
  • Nun wird genau auf Ausführungsformen des analogen Front-End-Schaltkreises Bezug genommen, wie er in den begleitenden Zeichnungen dargestellt ist. Dieselben Bezugszeichen sind in den gesamten Zeichnungen und der folgenden genauen Beschreibung verwendet, um sich auf dieselben oder ähnliche Teile zu beziehen. Im Interesse der Deutlichkeit sind nicht alle der Routinemerkmale der hier beschriebenen Ausführungsformen gezeigt und beschrieben. Es ist natürlich einzusehen, dass bei der Entwicklung beliebiger solcher tatsächlicher Ausführungsformen zahlreiche ausführungsspezifische Entscheidungen getroffen werden müssen, um die speziellen Ziele des Entwicklers zu erreichen, wie etwa Erfüllen von anwendungs- und betriebsbezogenen Zwängen, und dass diese speziellen Ziele von einer Ausführungsform zur anderen und von einem Entwickler zum anderen variieren. Darüber hinaus ist einzusehen, dass eine solche Entwicklungsanstrengung komplex und zeitraubend sein kann, jedoch nichtsdestoweniger für Fachleute mit dem Nutzen dieser Offenbarung eine Routine-Ingenieursleistung wäre.
  • In manchen Ausführungsformen wird eine Kapazitätsmessung durch einen analogen Front-End-Schaltkreis durchgeführt, bei dem kohärente Demodulation verwendet wird, auch als Synchrondemodulation oder Korrelation bezeichnet, um Rauschen und/oder andere Störungen zu unterdrücken. 6 zeigt ein vereinfachtes schematisches Blockschaltbild eines analogen Front-End-Schaltkreises, bei dem kohärente Demodulation gemäß einer ersten Ausführungsform verwendet wird. Kohärente Demodulation bezieht sich allgemein auf das Senden eines Signals mit einer bestimmten Frequenz f und die Demodulation des Signals bei derselben Frequenz f. Signale mit anderen Frequenzen werden als Rauschen betrachtet. Ein Mischer 10 und ein Integrator 12 werden zusammen als Korrelator bezeichnet, der Synchrondemodulation oder Korrelation durchführt, um Rauschen und/oder Störungen zu unterdrücken. In manchen Ausführungsformen umfasst ein Mischer einen Operationsverstärker und ein Widerstandspaar, einschließlich eines variablen Widerstands, wobei eine Ausgangsspannung des Mischers eine Funktion der Eingangsspannung multipliziert mit dem Verhältnis der beiden Widerstände ist. In manchen Ausführungsformen umfasst ein Integrator einen Operationsverstärker, einen Rückkopplungs-Kondensator, der mit dem Eingang und Ausgang des Operationsverstärkers gekoppelt ist, und einen Widerstand, der mit dem Eingang des Operationsverstärkers gekoppelt ist, wobei eine Ausgangsspannung des Integrators gleich dem Kehrwert des Produkts aus Widerstand und Kondensator multipliziert mit der Integration der Eingangsspannung über eine Zeitdauer ist. Alternativ können andere herkömmliche Mischer- und Integrator-Konfigurationen verwendet werden.
  • Ein Signalgenerator 8 erzeugt ein Anregungssignal sin(ωt), wobei ω = 2πf. Das Anregungssignal sin(ωt) wird mit einer Referenzspannung Vref multipliziert. Das resultierende Signal Vref·sin(ωt) wird gemäß einer gemessenen Kapazität des Kondensators Cm moduliert. Dieses modulierte Signal wird von einem rauscharmen Verstärker 9 verstärkt, in den Mischer 10 eingegeben und mit dem ursprünglichen Anregungssignal sin(ωt) gemischt. Der Mischer 10 multipliziert die beiden Eingangssignale, das modulierte und verstärkte Anregungssignal und das Anregungssignal. Die multiplizierten Signale werden dann über eine Zeitdauer T vom Integrator 12 integriert. Die Zeitdauer T ist ein Vielfaches der Periodendauer 1/f. Die Multiplikation der beiden Sinussignale führt zu einem DC-Spannungs-Term (Cm/2Cf)Vref plus einem Sinus-Term mit der doppelten Frequenz, der sich bei der Integration über ein Vielfaches der Frequenz aufhebt, so dass nur der DC-Spannungs-Term bleibt. Dies ist das Ergebnis, wenn nur ein ideales Signal vorhanden ist. Wenn Rauschen eingeführt wird, wird das Rauschen auch mit dem Anregungssignal sin(ωt) multipliziert und integriert. Die Ausgangsspannung Vout kann wie folgt dargestellt werden:
    Figure 00140001
    wobei T ein Vielfaches von 1/f ist und das Rauschen als n(t) repräsentiert wird. Der Integrator 12 sieht eine Bandpass-Filterfunktion mit einem Spitzenwert um f vor, so dass das im zweiten Term in Gleichung (1) enthaltene Rauschen herausgefiltert wird. Die Ausgangsspannung Vout ist der Gleichspannungs-Term, der nachfolgend unter Verwendung eines ADC abgetastet werden kann. Es ist kein dynamisches Signal abzutasten.
  • 7 zeigt einen beispielhaften Frequenzgang des Schaltkreises in 6 für eine Anregungsfrequenz f gleich 300 kHz. In einer beispielhaften Anwendung ist der Schaltkreis von 6 zur Schmalbandpassfilterung gestaltet, und der entsprechende Schmalband-Frequenzgang in 7 zeigt, dass der Schaltkreis um 300 kHz sehr selektiv ist. Andere Frequenzen werden herausgefiltert.
  • Zusätzlich zum Herausfiltern des Rauschens kann der in 6 gezeigte Schaltkreis zur kohärenten Demodulation auch leicht angepasst werden, um Anregungssignale mit wechselnden Frequenzen zu erzeugen, um die Bandpass-Funktion zu ändern. Diese Abstimmung erfordert es nicht, den LNA, den Mischer 10 oder den Integrator 12 zu ändern. Der Signalgenerator 8 wird einfach geändert, um das Anregungssignal mit der anderen Frequenz zu erzeugen. Im Gegensatz dazu muss die BPF-Komponente im herkömmlichen analogen Front-End-Schaltkreis in 5, z. B. die Widerstände und Kondensatoren im BPF, eingestellt werden, um die Bandpass-Funktion zu ändern.
  • Obwohl die obige Anmeldung für Sinuswellen beschrieben wird, versteht sich von selbst, dass andere Signalformen verwendet werden können, um die kohärente Demodulation anzuwenden. Gleichung (1) kann verallgemeinert werden zu: V0 = ∫ T / 0E(t)C(t)dt + ∫ T / 0n(t)C(t)dt (2) wobei E(t) ein Anregungssignal ist, das an den Kondensator Cm geliefert wird, und C(t) ein Korrektursignal ist, das in den Mischer eingegeben wird. E(t) und C(t) können beliebige Signalformen sein, so dass E(t) und C(t) korreliert sind. E(t) und C(t) werden so gewählt, dass die Integration von E(t)C(t) maximiert ist, und dass die Integration von n(t)C(t) minimiert ist. C(t) wird für die kleinste Korrelation zum Rauschen ausgewählt. Die Zeitdauer T ist ein Vielfaches der Periodendauer E(t)·C(t).
  • Der analoge Front-End-Schaltkreis in 6 nutzt kohärente Demodulation mit einer Kapazitätsmessungs-Anwendung. In einer beispielhaften Anwendung benutzt der analoge Front-End-Schaltkreis kohärente Demodulation, um die Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms zu messen. Der analoge Front-End-Schaltkreis sieht eine ausgezeichnete Unempfindlichkeit gegen Rauschen und Störungen vor, und sieht auch ein größeres Signal-Rauschverhältnis vor.
  • Der analoge Front-End-Schaltkreis in 6 sieht einen Pfad für ein kontinuierliches Zeitsignal vor, es wird keine diskrete Abtastfunktion durchgeführt, wenn die Abtastung durchgeführt wird, und dann wird die Ladung des Kondensators entladen. Das Signal fließt kontinuierlich durch den Mischer und den Integrator, und daher tritt kein Aliasing durch Abtasten an Zeitpunkten auf. Anti-Aliasing wird im Korrelator durchgeführt. Es ist kein getrenntes Anti-Aliasing-Filter erforderlich.
  • Der analoge Front-End-Schaltkreis von 6 hat einen kleineren Stromverbrauch als herkömmliche analoge Front-End-Schaltkreise, wie beispielsweise die analogen Front-End-Schaltkreise der 2A, 2B, 4 und 5. Der mit dem analogen Front-End-Schaltkreis von 6 gekoppelte ADC hat einen kleineren Stromverbrauch als ein ADC, wie beispielsweise der in 4 benutzte ADC, der ein aktives analoges Signal abtastet. Der mit dem analogen Front-End in 6 gekoppelte ADC kann langsamer und weniger präzise sein.
  • Die vorliegende Anmeldung wurde bezüglich bestimmter bevorzugter Ausführungsformen beschrieben, die Einzelheiten zum Erleichtern des Verständnisses der Aufbau- und Funktionsprinzipien des analogen Front-End-Schaltkreises enthalten. Viele der in den verschiedenen Figuren gezeigten und beschriebenen Bestandteile können untereinander ausgetauscht werden, um die notwendigen Ergebnisse zu erzielen, und diese Beschreibung sollte so gelesen werden, dass sie einen solchen Austausch ebenso einschließt. Daher ist nicht beabsichtigt, dass hier erfolgte Bezugnahmen auf besondere Ausführungsformen und Einzelheiten den Umfang der hier angehängten Ansprüche einschränken. Fachleuten ist offensichtlich, dass an den zur Erläuterung gewählten Ausführungsformen Abänderungen vorgenommen werden können, ohne vom Erfindungsgeist und Umfang der Anmeldung abzuweichen.

Claims (19)

  1. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung, umfassend: a. einen externen Kondensator; und b. einen Schaltkreis zur kohärenten Demodulation, der mit dem externen Kondensator gekoppelt ist und gestaltet ist, eine Kapazität des externen Kondensators zu messen und die gemessene Kapazität in eine entsprechende Ausgangsspannung umzuwandeln.
  2. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 1, wobei der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation einen diskreten Schaltkreis zum Mischen und einen diskreten Schaltkreis zum Integrieren umfasst.
  3. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 2, wobei der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation ferner einen Signalgenerator umfasst, der mit dem externen Kondensator gekoppelt ist, wobei der Signalgenerator gestaltet ist, ein analoges Anregungssignal zu erzeugen.
  4. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 3, wobei der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation ferner einen Verstärker und einen Rückkopplungskondensator umfasst, der mit einem Eingang und einem Ausgang des Verstärkers gekoppelt ist, wobei der Eingang des Verstärkers mit dem externen Kondensator gekoppelt ist und der Ausgang des Verstärkers mit dem Mischungs-Schaltkreis gekoppelt ist.
  5. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 4, wobei ein moduliertes analoges Anregungssignal an einen ersten Eingang des Mischungs-Schaltkreises angelegt wird, wobei das modulierte analoge Signal das analoge Anregungssignal umfasst, das durch eine Kapazität des externen Kondensators moduliert ist.
  6. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 5, wobei das vom Signalgenerator erzeugte analoge Anregungssignal an einen zweiten Eingang des Mischungs-Schaltkreises angelegt wird, wobei der Mischungs-Schaltkreis gestaltet ist, das modulierte analoge Anregungssignal und das analoge Anregungssignal miteinander zu multiplizieren und ein gemischtes analoges Signal auszugeben.
  7. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 6, wobei der Integrations-Schaltkreis gestaltet ist, das gemischte analoge Signal zu empfangen und das gemischte analoge Signal über eine diskrete Zeitdauer zu integrieren, um das entsprechende Spannungs-Ausgangssignal auszugeben.
  8. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 7, wobei die Zeitdauer ein Vielfaches von 1/f ist, wobei f eine Frequenz des analogen Anregungssignals ist.
  9. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 2, wobei der Mischungs-Schaltkreis einen Schaltkreis zum Mischen in kontinuierlicher Zeit umfasst.
  10. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 2, wobei der Integrations-Schaltkreis einen Schaltkreis zum Integrieren in kontinuierlicher Zeit umfasst.
  11. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 1, wobei der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation einen Pfad für ein kontinuierliches Zeitsignal umfasst, wobei der Pfad für ein kontinuierliches Zeitsignal gestaltet ist, ein moduliertes analoges Signal von dem externen Kondensator zu empfangen und das modulierte analoge Signal in das entsprechende Spannungs-Ausgangssignal umzuwandeln.
  12. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 1, ferner umfassend einen berührungsempfindlichen Bildschirm, wobei der berührungsempfindliche Bildschirm den externen Kondensator umfasst.
  13. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung nach Anspruch 1, wobei der Schaltkreis zur kohärenten Demodulation einen analogen Synchrondemodulator umfasst.
  14. Schaltkreis zur Kapazitätsmessung, umfassend: a. einen Signalgenerator, der gestaltet ist, ein analoges Anregungssignal zu erzeugen; b. einen berührungsempfindlichen Bildschirm, der mindestens einen Kondensator aufweist, wobei der Kondensator so gestaltet ist, dass das analoge Anregungssignal eingegeben und ein moduliertes analoges Anregungssignal ausgegeben wird, wobei das analoge Anregungssignal entsprechend einer Kapazität des Kondensators moduliert ist; c. einen mit dem Kondensator gekoppelten Verstärker und einen Rückkopplungs-Kondensator, der mit einem Eingang und einem Ausgang des Verstärkers gekoppelt ist, wobei der Verstärker so gestaltet ist, dass das modulierte analoge Anregungssignal eingegeben und ein verstärktes moduliertes analoges Anregungssignal ausgegeben wird; d. einen Mischungs-Schaltkreis, der mit dem Verstärker und dem Signalgenerator gekoppelt ist, wobei der Mischungs-Schaltkreis so gestaltet ist, dass das verstärkte modulierte analoge Anregungssignal und ein analoges Korrelationssignal, das mit dem analogen Anregungssignal korreliert ist, eingegeben und ein gemischtes analoges Signal ausgegeben wird; und e. einen Integrations-Schaltkreis, der mit dem Mischungs-Schaltkreis gekoppelt ist, wobei der Integrations-Schaltkreis gestaltet ist, das gemischte analoge Signal zu empfangen und das gemischte analoge Signal über eine diskrete Zeitdauer zu integrieren, um ein Spannungssignal auszugeben, wobei das Spannungssignal der Kapazität des Kondensators entspricht.
  15. Verfahren zum Messen von Kapazität, wobei das Verfahren umfasst: a. Erzeugen eines analogen Anregungssignals; b. Anlegen des analogen Anregungssignals an einen zu messenden Kondensator, wodurch das analoge Anregungssignal moduliert wird; und c. Korrelieren des modulierten analogen Anregungssignals mit einem Korrelationssignal, um das modulierte analoge Anregungssignal zu demodulieren, was zu einer Ausgangsspannung führt, die einer Kapazität des Kondensators entspricht, wobei das Korrelationssignal mit dem analogen Anregungssignal korreliert ist.
  16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei das Korrelieren des modulierten analogen Anregungssignals mit dem Korrelationssignal umfasst: a. Mischen des modulierten analogen Anregungssignals mit dem Korrelationssignal, was zu einem gemischten analogen Signal führt; und b. Integrieren des gemischten analogen Signals über eine Zeitdauer, was zur Ausgangsspannung führt.
  17. Verfahren nach Anspruch 15, wobei die Ausgangsspannung eine Gleichspannung (DC) umfasst.
  18. Verfahren nach Anspruch 15, wobei Korrelieren des modulierten analogen Anregungssignals mit dem Korrelationssignal Rauschen und Störungen aus dem modulierten analogen Anregungssignal herausfiltert.
  19. Verfahren nach Anspruch 15, wobei der Kondensator eine Kapazität eines berührungsempfindlichen Bildschirms misst.
DE112012001000T 2011-02-25 2012-02-23 Kapazitive Berührungserkennungs-Architektur Withdrawn DE112012001000T5 (de)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201161446944P 2011-02-25 2011-02-25
US61/446,944 2011-02-25
US13/403,873 US8878797B2 (en) 2011-02-25 2012-02-23 Capacitive touch sense architecture having a correlator for demodulating a measured capacitance from an excitation signal
US13/403,873 2012-02-23
PCT/US2012/026397 WO2012148539A1 (en) 2011-02-25 2012-02-23 Capacitive touch sense architecture

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112012001000T5 true DE112012001000T5 (de) 2013-11-21

Family

ID=47072668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112012001000T Withdrawn DE112012001000T5 (de) 2011-02-25 2012-02-23 Kapazitive Berührungserkennungs-Architektur

Country Status (4)

Country Link
US (3) US8878797B2 (de)
CN (2) CN106249954A (de)
DE (1) DE112012001000T5 (de)
WO (1) WO2012148539A1 (de)

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9086439B2 (en) 2011-02-25 2015-07-21 Maxim Integrated Products, Inc. Circuits, devices and methods having pipelined capacitance sensing
US8860432B2 (en) 2011-02-25 2014-10-14 Maxim Integrated Products, Inc. Background noise measurement and frequency selection in touch panel sensor systems
CN106249954A (zh) 2011-02-25 2016-12-21 高通股份有限公司 电容式触摸感测构架
CN102915138B (zh) * 2011-08-05 2015-09-09 宸鸿光电科技股份有限公司 感测电极阵列控制电路、控制方法及其触控感测系统
CN102955589A (zh) * 2011-08-18 2013-03-06 宸鸿光电科技股份有限公司 触控面板的控制系统及控制方法
KR101341924B1 (ko) * 2011-10-21 2013-12-19 포항공과대학교 산학협력단 정전식 터치센서
US9013425B2 (en) * 2012-02-23 2015-04-21 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for data transmission via capacitance sensing device
CN103064570A (zh) * 2012-12-25 2013-04-24 锐迪科科技有限公司 互电容触摸屏触摸检测方法
KR101515281B1 (ko) * 2013-03-04 2015-04-27 주식회사 동부하이텍 터치 스크린의 신호 처리 회로
US9081454B2 (en) * 2013-03-28 2015-07-14 Atmel Corporation Touch sensor with capacitive voltage divider
TWI539339B (zh) * 2013-11-08 2016-06-21 禾瑞亞科技股份有限公司 觸控處理裝置及其方法
US9886142B2 (en) * 2013-12-03 2018-02-06 Pixart Imaging Inc. Capacitive touch sensing system
US20150180493A1 (en) * 2013-12-23 2015-06-25 Yu-Ren Liu Capacitor Sensor Circuit with Rectifier and Integrator
CN103955322A (zh) * 2014-04-28 2014-07-30 南京九洲云拓电子信息技术有限公司 一种基于分布式结构的低功耗电容触摸屏控制芯片
CN104020914A (zh) 2014-06-06 2014-09-03 深圳市汇顶科技股份有限公司 自电容触摸检测电路
JP6568205B2 (ja) 2014-08-25 2019-08-28 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 干渉を低減した静電容量ベースのタッチ装置及び方法
TWI525517B (zh) * 2014-10-23 2016-03-11 瑞鼎科技股份有限公司 電容式觸控面板之觸控感測電路
CN104516716A (zh) * 2015-01-13 2015-04-15 深圳市亚耕电子科技有限公司 电子设备及其电容式感测系统、以及电容式感测系统的检测方法
CN106249970B (zh) 2015-06-05 2020-11-27 恩智浦美国有限公司 具有噪声抑制的电容传感器
CN106325632B (zh) 2015-06-15 2020-12-15 恩智浦美国有限公司 具有噪声抑制的电容传感器
US10228797B2 (en) * 2015-09-14 2019-03-12 Synaptics Incorporated Continuous time anti-alias filter for capacitive touch sensing
US10444892B2 (en) * 2015-10-07 2019-10-15 Microchip Technology Incorporated Capacitance measurement device with reduced noise
CN106598362B (zh) 2015-10-14 2020-12-25 恩智浦美国有限公司 互电容感测电路
EP3349092A4 (de) * 2015-10-16 2018-10-24 Alps Electric Co., Ltd. Sinuswellenmultiplikator und eingabevorrichtung damit
US10061415B2 (en) 2016-06-30 2018-08-28 Synaptics Incorporated Input device receiver with delta-sigma modulator
US10353511B2 (en) 2016-08-19 2019-07-16 Qualcomm Incorporated Capacitance-to-voltage modulation circuit
KR20180024500A (ko) 2016-08-30 2018-03-08 삼성전자주식회사 적분 회로 장치 및 그의 동작방법
JP2018054523A (ja) * 2016-09-30 2018-04-05 国立大学法人九州大学 生体の接近距離検出装置
JP2018072928A (ja) * 2016-10-25 2018-05-10 シナプティクス インコーポレイテッド センシングシステム、タッチ検出回路および半導体装置
TWI669640B (zh) * 2016-11-03 2019-08-21 禾瑞亞科技股份有限公司 觸控面板、觸控螢幕與電子系統
US10585529B2 (en) 2016-11-04 2020-03-10 Microsoft Technology Licensing, Llc Selecting correlation reference based on noise estimation
US20200110482A1 (en) * 2016-11-14 2020-04-09 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Method and apparatus for battery-free identification token for touch sensing devices
US10976796B2 (en) * 2017-07-26 2021-04-13 Qualcomm Incorporated Dynamic range enhancement for self-capacitance measurement
US10483947B2 (en) * 2018-03-14 2019-11-19 Mediatek Inc. Anti-aliasing filter
US11385336B2 (en) 2018-07-31 2022-07-12 Maxim Integrated Products, Inc. Time of flight sensors and sensing methods
CN111142705B (zh) * 2019-12-18 2023-09-08 基合半导体(宁波)有限公司 一种自电容检测装置、方法及移动终端
WO2021128209A1 (zh) * 2019-12-26 2021-07-01 深圳市汇顶科技股份有限公司 电容检测电路、触控芯片和电子设备
TWI765460B (zh) * 2020-02-13 2022-05-21 聯詠科技股份有限公司 用於觸控控制器的類比前端電路及其操作方法
US11507221B2 (en) 2020-02-13 2022-11-22 Novatek Microelectronics Corp. Analog front end circuit for touch controller and operating method thereof
US11397487B2 (en) * 2020-03-17 2022-07-26 Synaptics Incorporated Re-configurable receiver channels for a sensing device
WO2022056860A1 (zh) * 2020-09-18 2022-03-24 深圳市汇顶科技股份有限公司 触控芯片、打码方法和电子设备

Family Cites Families (113)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4350039A (en) 1980-05-14 1982-09-21 Honeywell Inc. Liquid gaging system null balance circuitry
US4567465A (en) 1982-05-25 1986-01-28 Iwatsu Electric Co., Ltd. Method and apparatus for converting analog signal into digital signal
US4584568A (en) 1984-06-25 1986-04-22 Xerox Corporation Two-step switched-capacitor digital to analog converter
DE3633791A1 (de) 1986-10-03 1988-04-14 Endress Hauser Gmbh Co Verfahren und anordnung zur messung des widerstandsverhaeltnisses an einer widerstands-halbbruecke
US4764717A (en) 1986-10-27 1988-08-16 Utah Scientific Advanced Development Center, Inc. Touch-sensitive potentiometer for operator control panel
US4949398A (en) 1988-06-09 1990-08-14 The Aerospace Corporation GaAs MESFET balanced resistive mixer
US4908623A (en) 1988-08-08 1990-03-13 Honeywell Inc. Apparatus and method for range control and supply voltage compensation in a dual slope analog to digital converter
US4939520A (en) 1988-10-26 1990-07-03 Analogic Corporation Analog to digital converter using an integrator having a partially controlled output signal
US4999632A (en) 1989-12-15 1991-03-12 Boehringer Mannheim Corporation Analog to digital conversion with noise reduction
KR950000326B1 (ko) 1991-12-27 1995-01-13 삼성전자 주식회사 윤곽보정장치
US7911456B2 (en) * 1992-06-08 2011-03-22 Synaptics Incorporated Object position detector with edge motion feature and gesture recognition
US5321403A (en) 1993-04-14 1994-06-14 John Fluke Mfg. Co., Inc. Multiple slope analog-to-digital converter
CA2123477A1 (en) * 1994-05-12 1995-11-13 Thomas Atkin Denning Riley Delta-sigma fractional-n frequency synthesizer and frequency discriminator suitable for use therein
US5799248A (en) 1995-12-20 1998-08-25 Watkins-Johnson Company Quasi-double balanced passive reflection FET mixer
US6043943A (en) 1996-12-31 2000-03-28 Stmicroelectronics, Inc. Asymmetry correction for a read head
US6031217A (en) 1997-01-06 2000-02-29 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for active integrator optical sensors
US5982221A (en) 1997-08-13 1999-11-09 Analog Devices, Inc. Switched current temperature sensor circuit with compounded ΔVBE
DK0970386T3 (da) 1998-01-23 2006-11-13 Tokyo Electron Ltd Impedans-til-spænding-konverter
US6308055B1 (en) * 1998-05-29 2001-10-23 Silicon Laboratories, Inc. Method and apparatus for operating a PLL for synthesizing high-frequency signals for wireless communications
US6493404B1 (en) 1999-03-01 2002-12-10 Sharp Kabushiki Kaisha Recycling integrator correlator
US6285310B1 (en) 2000-08-18 2001-09-04 Sartorius Aktiengesellschaft Integrating analog/digital converter
US6466822B1 (en) 2000-04-05 2002-10-15 Neuropace, Inc. Multimodal neurostimulator and process of using it
US6621487B2 (en) 2000-07-25 2003-09-16 Rohm Co., Ltd. Circuit for generating touch detection signals, locator device and a method of generating touch detection signals
JP3987294B2 (ja) 2001-03-16 2007-10-03 株式会社東芝 オフセット補償回路
US7039382B2 (en) 2001-05-15 2006-05-02 Broadcom Corporation DC offset calibration for a radio transceiver mixer
US6433713B1 (en) 2001-05-31 2002-08-13 Agilent Technologies, Inc. Calibration of analog-to-digital converters
ATE342611T1 (de) 2002-03-20 2006-11-15 Freescale Semiconductor Inc Analog-digital sigma-delta modulator mit fir- filter
US6650159B2 (en) 2002-03-29 2003-11-18 Intel Corporation Method and apparatus for precise signal interpolation
WO2004051550A1 (en) 2002-12-02 2004-06-17 The Trustees Of Columbia University In The City Ofnew York Mosfet parametric amplifier
US6940433B2 (en) * 2003-11-14 2005-09-06 Northrop Grumman Corporation Modulation method for signal crosstalk mitigation in electrostatically driven devices
TWI345369B (en) 2004-01-28 2011-07-11 Mediatek Inc High dynamic range time-varying integrated receiver for elimination of off-chip filters
WO2006035509A1 (en) 2004-09-29 2006-04-06 Nec Corporation Error calculation circuit for mixer
CA2524751C (en) 2004-10-27 2009-12-29 Synergy Microwave Corporation Passive reflection mixer
US7031886B1 (en) * 2004-12-14 2006-04-18 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting noise in a position sensor using minor shifts in sensing frequency
US7221534B2 (en) 2005-02-03 2007-05-22 Imation Corp. Piezoelectric crystal actuator and techniques for hysteresis reduction
US7206062B2 (en) 2005-04-18 2007-04-17 Raytheon Company Readout integrated circuit (ROIC) for laser detection and ranging (LADAR) system and method for using same
GB2428306B (en) 2005-07-08 2007-09-26 Harald Philipp Two-dimensional capacitive position sensor
US7932898B2 (en) 2005-09-20 2011-04-26 Atmel Corporation Touch sensitive screen
EP1770855B1 (de) 2005-09-28 2011-08-17 Yamaha Corporation Klasse D Verstärker
US7864160B2 (en) 2005-10-05 2011-01-04 3M Innovative Properties Company Interleaved electrodes for touch sensing
JP2007114514A (ja) 2005-10-20 2007-05-10 Hitachi Displays Ltd 表示装置
US7626626B2 (en) 2006-01-13 2009-12-01 Micron Technology, Inc. Method and apparatus providing pixel storage gate charge sensing for electronic stabilization in imagers
GB2436389A (en) 2006-03-23 2007-09-26 Sharp Kk Active matrix liquid crystal device with temperature measuring capacitor
US8279180B2 (en) 2006-05-02 2012-10-02 Apple Inc. Multipoint touch surface controller
WO2007132372A1 (en) 2006-05-09 2007-11-22 Koninklijke Philips Electronics N. V. A magnetic sensor device for and a method of sensing magnetic particles
KR101245944B1 (ko) 2006-05-10 2013-03-21 엘지디스플레이 주식회사 액정패널, 이를 구비한 액정표시장치 및 그 구동 방법
US20070268272A1 (en) 2006-05-19 2007-11-22 N-Trig Ltd. Variable capacitor array
PL1862806T3 (pl) 2006-06-01 2018-01-31 Electrolux Home Products Corp Nv Sposób i urządzenie do pomiaru pojemności elektrycznej elementu pojemnościowego
EP2027526A2 (de) 2006-06-09 2009-02-25 Apple, Inc. Touchscreen-flüssigkristallanzeige
EP2038902B1 (de) 2006-07-07 2017-10-04 Nxp B.V. Programmierbarer induktor
AU2007302788B2 (en) 2006-09-28 2010-12-16 Medtronic, Inc. Capacitive interface circuit for low power sensor system
US8054296B2 (en) * 2007-01-03 2011-11-08 Apple Inc. Storing baseline information in EEPROM
US8232970B2 (en) * 2007-01-03 2012-07-31 Apple Inc. Scan sequence generator
US7692638B2 (en) * 2007-01-03 2010-04-06 Apple Inc. Error compensation for multi-touch surfaces
US7643011B2 (en) 2007-01-03 2010-01-05 Apple Inc. Noise detection in multi-touch sensors
US8026904B2 (en) * 2007-01-03 2011-09-27 Apple Inc. Periodic sensor panel baseline adjustment
US8085247B2 (en) * 2007-01-03 2011-12-27 Apple Inc. Advanced frequency calibration
US8125456B2 (en) * 2007-01-03 2012-02-28 Apple Inc. Multi-touch auto scanning
US8094128B2 (en) * 2007-01-03 2012-01-10 Apple Inc. Channel scan logic
US8493330B2 (en) * 2007-01-03 2013-07-23 Apple Inc. Individual channel phase delay scheme
US8049732B2 (en) 2007-01-03 2011-11-01 Apple Inc. Front-end signal compensation
US20080297487A1 (en) * 2007-01-03 2008-12-04 Apple Inc. Display integrated photodiode matrix
US8970501B2 (en) * 2007-01-03 2015-03-03 Apple Inc. Proximity and multi-touch sensor detection and demodulation
US7986313B2 (en) * 2007-01-03 2011-07-26 Apple Inc. Analog boundary scanning based on stray capacitance
US7391257B1 (en) 2007-01-31 2008-06-24 Medtronic, Inc. Chopper-stabilized instrumentation amplifier for impedance measurement
TWI444876B (zh) 2007-04-05 2014-07-11 Qrg Ltd 二維位置感應器
US20080252367A1 (en) 2007-04-10 2008-10-16 Micrel, Inc. Demodulator with Multiple Operating Modes for Amplitude Shift Keyed Signals
CN101681223A (zh) 2007-05-07 2010-03-24 爱特梅尔公司 二维位置传感器
US7920134B2 (en) * 2007-06-13 2011-04-05 Apple Inc. Periodic sensor autocalibration and emulation by varying stimulus level
US8493331B2 (en) * 2007-06-13 2013-07-23 Apple Inc. Touch detection using multiple simultaneous frequencies
US7876311B2 (en) * 2007-06-13 2011-01-25 Apple Inc. Detection of low noise frequencies for multiple frequency sensor panel stimulation
US8730213B2 (en) 2007-07-02 2014-05-20 Elo Touch Solutions, Inc. Method and system for detecting touch events based on redundant validation
KR100915149B1 (ko) 2007-07-19 2009-09-03 (주)에스엠엘전자 다채널 용량 감지 회로
US7907020B2 (en) * 2007-08-31 2011-03-15 Apple Inc. Constant calibration
US8035622B2 (en) * 2008-03-27 2011-10-11 Apple Inc. SAR ADC with dynamic input scaling and offset adjustment
TW201005613A (en) 2008-04-10 2010-02-01 Atmel Corp Capacitive position sensor
US8193822B2 (en) 2009-02-12 2012-06-05 Silicon Laboratories Inc. System and method for determining capacitance value
US20090322351A1 (en) * 2008-06-27 2009-12-31 Mcleod Scott C Adaptive Capacitive Sensing
US8592697B2 (en) * 2008-09-10 2013-11-26 Apple Inc. Single-chip multi-stimulus sensor controller
EP2180599B1 (de) 2008-10-24 2014-12-17 Advanced Silicon SA Röntgenbildgebungsauslesung und System
JPWO2010046957A1 (ja) 2008-10-24 2012-03-15 株式会社アドバンテスト 直交振幅復調器、復調方法およびそれらを利用した半導体装置および試験装置
TWI381173B (zh) 2008-10-29 2013-01-01 Raydium Semiconductor Corp 電容量測電路及其電容量測方法
US20100110040A1 (en) 2008-10-30 2010-05-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Touch controller having increased sensing sensitivity, and display driving circuit and display device and system having the touch controller
TW201017501A (en) 2008-10-31 2010-05-01 Elan Microelectronics Corp The control circuit, method, and applications of capacitive touch panel
US20100156811A1 (en) 2008-12-22 2010-06-24 Ding Hua Long New pattern design for a capacitive touch screen
US20100156846A1 (en) 2008-12-23 2010-06-24 Flextronics Ap, Llc Single substrate capacitive touch panel
US8278571B2 (en) 2009-04-03 2012-10-02 Pixart Imaging Inc. Capacitive touchscreen or touchpad for finger and active stylus
US9495042B2 (en) 2009-04-14 2016-11-15 Atmel Corporation Two-dimensional position sensor
US8111097B1 (en) * 2009-05-10 2012-02-07 Cypress Semiconductor Corporation Device with reconfigurable continuous and discrete time functionality
US8253706B2 (en) 2009-06-26 2012-08-28 Atmel Corporation Apparatus using a differential analog-to-digital converter
US8188754B2 (en) * 2009-07-15 2012-05-29 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for sensing capacitance value and converting it into digital format
US9444453B2 (en) 2009-09-11 2016-09-13 Apple Inc. Measuring body capacitance effect in touch sensitive device
US8031094B2 (en) 2009-09-11 2011-10-04 Apple Inc. Touch controller with improved analog front end
US7898329B1 (en) 2009-10-20 2011-03-01 Lantiq Deutschland Gmbh Common-mode robust high-linearity analog switch
US9041682B2 (en) 2009-10-23 2015-05-26 Atmel Corporation Driving electrodes with different phase signals
JP5411670B2 (ja) 2009-11-25 2014-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 静電容量型タッチパネルの信号処理回路
US8653510B2 (en) * 2009-12-18 2014-02-18 Sri International Enhanced E-field sensing using negative capacitance FET subthreshold slope enhancement
KR20110091380A (ko) 2010-02-05 2011-08-11 삼성전자주식회사 터치 패널의 노이즈 보상 방법 및 장치
JP5426429B2 (ja) 2010-02-24 2014-02-26 株式会社ジャパンディスプレイ 入力装置及びそれを備えた表示装置
TWI420826B (zh) 2010-04-09 2013-12-21 Memsor Corp 具有校正機制之電容式感測器及電容偵測方法
US8599167B2 (en) 2010-04-22 2013-12-03 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for improving dynamic range of a touchscreen controller
KR101697342B1 (ko) 2010-05-04 2017-01-17 삼성전자 주식회사 터치 감지 시스템의 캘리브레이션 방법 및 장치와 이를 적용한 터치 감지 시스템
US20110273189A1 (en) 2010-05-06 2011-11-10 Steve Gerber Sensing apparatus for and associated methods
US8605054B2 (en) 2010-09-02 2013-12-10 Texas Instruments Incorporated Touch-sensitive interface and method using orthogonal signaling
US8836666B2 (en) 2010-10-31 2014-09-16 Pixart Imaging Inc. Method and device for reducing noise interference in a capacitive touchscreen system
US9086439B2 (en) 2011-02-25 2015-07-21 Maxim Integrated Products, Inc. Circuits, devices and methods having pipelined capacitance sensing
US20120218222A1 (en) 2011-02-25 2012-08-30 Maxim Integrated Products, Inc. Cancelling touch panel offset of a touch panel sensor
US8860432B2 (en) 2011-02-25 2014-10-14 Maxim Integrated Products, Inc. Background noise measurement and frequency selection in touch panel sensor systems
CN106249954A (zh) 2011-02-25 2016-12-21 高通股份有限公司 电容式触摸感测构架
US9857921B2 (en) 2011-05-13 2018-01-02 Synaptics Incorporated Input signal correction architecture
US9746967B2 (en) * 2011-09-15 2017-08-29 Apple Inc. Concurrent touch and negative pixel scan
US20130088245A1 (en) * 2011-10-10 2013-04-11 Kla-Tencor Corporation Capacitive Inspection Of EUV Photomasks
US8810537B2 (en) * 2012-02-15 2014-08-19 Apple Inc. Quadrature demodulation for touch sensitive devices

Also Published As

Publication number Publication date
US8878797B2 (en) 2014-11-04
US20150048851A1 (en) 2015-02-19
CN103392162A (zh) 2013-11-13
CN106249954A (zh) 2016-12-21
US20130162586A1 (en) 2013-06-27
US9857932B2 (en) 2018-01-02
CN103392162B (zh) 2016-08-24
US9846186B2 (en) 2017-12-19
US20170205948A1 (en) 2017-07-20
WO2012148539A1 (en) 2012-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112012001000T5 (de) Kapazitive Berührungserkennungs-Architektur
DE112007003764B4 (de) Steuerung für Mehrpunkt-Berührungsoberfläche
US8643619B2 (en) Continuous time correlator architecture
DE102011085464A1 (de) Signalerfassung bei einem kapazitiven Touchscreen ohne Zurücksetzen des Bedienfelds
EP3166228B1 (de) Sensormodul, sensorsystem und verfahren zum kapazitiven und ortsaufgelösten detektieren einer annäherung und berührung, verwendung des sensormoduls
DE102011017231A1 (de) Rauschauslöschungstechnik für kapazitative Touchscreen-Controlle unter Verwendung differentieller Erfassung
DE202008007929U1 (de) Vorrichtung zur mehrfachen simultanen Frequenzdetektierung
DE112015005732T5 (de) Kapazitiver Fingerabdrucksensor mit Abtastelementen, der eine Zeitsteuerschaltung aufweist
DE102013215676A1 (de) Eigenkapazitätsmessung für aktiven Stift
DE112009002587T5 (de) Rauschhandhabung in kapazitiven Berührungssensoren
DE102011010919A1 (de) System und Verfahren zur Generierung eines mit einer manuellen Eingabeoperation korrelierenden Signales
DE112015005726T5 (de) Kapazitive Fingerabdruck-Erfassungsvorrichtung mit Demodulationsschaltungsaufbau im Erfassungselement
DE102010027732A1 (de) Zweidimensionaler Positionssensor
DE112015005290B4 (de) Vollwellen-Synchrongleichrichtung für Eigenkapazitätserfassung
DE112018003731T5 (de) Verfahren zum Kombinieren von Eigen- und Gegenkapazitätserfassung
DE112015005851T5 (de) Kapazitiver Sensor
DE102010041464A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Eigenkapazität unter Verwendung eines einzigen Pins
EP3143482B1 (de) Verfahren zum messen eines kapazitätswertes
DE102008057823A1 (de) Kapazitives Sensorsystem
DE202013100869U1 (de) Berührungssensor mit Eigenkapazitätsmessung und Kapazitätskompensation
DE102011054690A1 (de) Elektrodeneinrichtung für eine kapazitive Sensoreinrichtung zur Positionserfassung
EP2147364A2 (de) Sensoreinrichtung, sowie verfahren zur generierung von hinsichtlich der position oder positionsänderung von gliedmassen indikativen signalen
EP2364526B1 (de) Sensoreinrichtung zur generierung von hinsichtlich der position oder positionsänderung von gliedmassen indikativen signalen
EP3317968B1 (de) Verfahren zum messen eines kapazitätswertes
DE102018000884A1 (de) Kapazitives Messsystem

Legal Events

Date Code Title Description
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SAN JOSE, US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SUNNYVALE, CALIF., US

Effective date: 20131015

Owner name: QUALCOMM TECHNOLOGIES, INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SUNNYVALE, CALIF., US

Effective date: 20131015

Owner name: QUALCOMM INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SUNNYVALE, CALIF., US

Effective date: 20131015

Owner name: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SUNNYVALE, US

Effective date: 20131015

R082 Change of representative

Representative=s name: PATENTANWAELTE CANZLER & BERGMEIER PARTNERSCHA, DE

Effective date: 20131015

Representative=s name: CANZLER & BERGMEIER PATENTANWAELTE, DE

Effective date: 20131015

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: QUALCOMM TECHNOLOGIES, INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SAN JOSE, CALIF., US

Owner name: QUALCOMM INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC., SAN JOSE, CALIF., US

R082 Change of representative

Representative=s name: CANZLER & BERGMEIER PATENTANWAELTE, DE

Representative=s name: PATENTANWAELTE CANZLER & BERGMEIER PARTNERSCHA, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: QUALCOMM INC., SAN DIEGO, US

Free format text: FORMER OWNER: QUALCOMM TECHNOLOGIES, INC., SAN DIEGO, CALF., US

R082 Change of representative

Representative=s name: CANZLER & BERGMEIER PATENTANWAELTE, DE

Representative=s name: PATENTANWAELTE CANZLER & BERGMEIER PARTNERSCHA, DE

R005 Application deemed withdrawn due to failure to request examination