In dem genannten speziellen Anwendungsfall
der Waferbelichtung werden im optischen System, das sich typischerweise
aus einem Beleuchtungssystem vor der Retikel- bzw. Maskenebene und einem
Projektionsobjektiv zwischen Retikelebene und Waferebene zusammensetzt,
häufig
ein oder mehrere Umlenkspiegel verwendet. Bekanntermaßen wird
p-polarisiertes Licht, d.h. parallel zur Einfallsebene linear polarisiertes
Licht, bei der Reflexion an einem Umlenkspiegel stärker geschwächt als
s-polarisiertes Licht, d.h. senkrecht zur Einfallsebene linear polarisiertes
Licht. Andererseits ist es bei hohen Anforderungen an die Abbildungsqualität wünschenswert,
dass die p-Komponente und die s-Komponente des
Beleuchtungslichts in der Waferebene möglichst gleich groß sind.
Diese Problematik ist z.B. in der
Offenlegungsschrift
DE
198 51 749 A1 für
den Fall eines katadioptrischen Objektivs mit mehreren Umlenkspiegeln
angesprochen, worunter vorliegend auch entsprechende Umlenkprismen
verstanden werden sollen. Als eine Abhilfe wird dort vorgeschlagen,
die Umlenkspiegel polarisationsunabhängig kompensiert anzuordnen,
speziell mit zueinander nicht-parallelen, insbesondere senkrechten,
Einfallsebenen. Diese Abhilfemaßnahme
eignet sich jedoch nur für
Systeme mit mehreren Umlenkspiegeln, und der Aufbau des Beleuchtungssystems
und Projektionsobjektivs im gesamten optischen System erlaubt nicht
immer eine derartige Anordnung von Umlenkspiegeln mit nicht-parallelen
Einfallsebenen. Die dort alternativ vorgeschlagene Maßnahme,
für ein
Objektiv mit mindestens einem Umlenkspiegel letzteren mit einer
polarisationsspezifischen dünnen
Schicht, insbesondere einer phasenkorrigierenden dielektrischen Schicht,
zu versehen, ist für
Anwendungen mit großen
Strahldivergenzen und kleinen Wellenlängen nur schwierig zu realisieren.
In der Patentschrift
US 5.475.491 ist ein Belichtungssystem
offenbart, bei dem ein Teil des z.B. von einem Laser erzeugten Lichts
durch Reflexion an einem halbdurchlässigen Spiegel zu einem Fotodetektor
ausgekoppelt wird, während
der vom halbdurchlässigen
Spiegel transmittierte Lichtanteil den Nutzlichtstrahl zur Belichtung
bildet. Mit dem Detektor soll die genaue Belichtungsdosis erfasst
werden. Da jedoch der Reflexions- und Transmissionsgrad des halbdurchlässigen Spiegels
für die
spolarisierte Komponente und die p-polarisierte Komponente jeweils
unterschiedlich sind, kann vom Detektorergebnis nicht ohne weiteres
auf die wahre Belichtungsdosis geschlossen werden, wenn der Polarisationszustand
des ankommenden Lichts vor dem Umlenkspiegel nicht bekannt ist bzw.
variiert. Als Abhilfe wird in den Strahlengang des ausgeblendeten
Detektionslichts zwischen Umlenkspiegel und Detektor eine plane
Transmissionsplatte schräg
zur optischen Achse mit verstellbarem Neigungswinkel eingebracht.
Dieser Neigungswinkel wird dann in Ab hängigkeit vom Transmissions-
und Reflexionsgrad des halbdurchlässigen Spiegels für s- bzw.
p-polarisiertes Licht so eingestellt, dass die am Detektor ankommende Lichtintensität unabhängig von
den eventuell varüerenden
s-polarisierten bzw. p-polarisierten Lichtanteilen stets proportional
zur Intensität
des vom halbdurchlässigen
Spiegel transmittierten Nutzlichts ist. Die relativen Anteile für die s-
und die p-Komponente des Nutzlichts werden hierdurch nicht festgelegt
und können
je nach Auslegung des Systemteils vor dem halbdurchlässigen Spiegel
beliebig variieren.
Der Erfindung liegt als technisches
Problem die Bereitstellung eines optischen Systems der eingangs
genannten Art zugrunde, das in der Lage ist, einen Nutzlichtstrahl
mit gleichen oder jedenfalls vergleichsweise wenig differierenden
Lichtanteilen zweier verschiedener Linearpolarisationszustände auch dann
zur Verfügung
zu stellen, wenn bereits das von einer zugehörigen Lichtquelle gelieferte
Licht ein merkliches Ungleichgewicht dieser Lichtanteile aufweist
oder ein solches Ungleichgewicht durch eine oder mehrere andere
Systemkomponenten, wie z.B. Umlenkspiegel, verursacht wird.
Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung
eines optischen Systems mit den Merkmalen des Anspruchs 1. Dieses
System weist eine Kompensationseinheit mit wenigstens einer zur optischen
Achse geneigt in den Lichtstrahlengang eingebrachten Transmissionsplatte
auf. Die Schrägstellung
bewirkt, dass die Platte den Lichtanteil mit einem ersten Linearpolarisationszustand,
z.B. s-polarisiertes Licht, in Transmission stärker schwächt als den Lichtanteil mit
einem davon verschiedenen, zweiten Linearpolarisationszustand, z.B.
p-polarisiertes Licht. Dies wird erfindungsgemäß dazu ausgenutzt, ein vom
System ohne die Kompensationseinheit z.B. durch Umlenkspiegel verursachtes
Ungleichgewicht der beiden Nutzlichtanteile vollständig oder
jedenfalls teilweise zu kompensieren.
In einer Weiterbildung der Erfindung
ist nach Anspruch 2 die Transmissionsplatte von einer transparenten
Platte gebildet, die mit einer transmittierenden Beschichtung versehen
ist. Mit einer geeignet gewählten
Beschichtung lässt
sich der Effekt, dass der Nutzlichtanteil mit dem ersten Linearpolarisationszustand
in einem vom Lichteinfallswinkel abhängigen Maß stärker geschwächt wird als der Nutzlichtanteil
mit dem zweiten Linearpolarisationszustand, in einer gewünschten
Weise erreichen bzw. verstärken.
Einer Weiterbildung der Erfindung
nach Anspruch 3 liegt ein System zugrunde, das einen oder mehrere
Umlenkspiegel aufweist, die das Ungleichgewicht der beiden Nutzlichtanteile
verursachen. Der Neigungswinkel und/oder die Beschichtung der Transmissionsplatte
sind in Abhängigkeit
von der Größe dieses
Ungleichgewichts gewählt,
bevorzugt im Sinne einer vollständigen
Kompensation. Gemäß Anspruch
4 kann eine Messeinrichtung zur Bestimmung des Polarisationsgrades
im Strahlengang nach dem oder den Umlenkspiegeln vorgesehen sein,
mit der das besagte Ungleichgewicht der beiden Nutzlichtanteile
gemessen werden kann, um in Abhängigkeit
vom Messergebnis den Neigungswinkel bzw. die Beschichtung geeignet
zu steuern, bei Bedarf auch noch nachträglich, nachdem zuvor eine bestimmte Voreinstellung
gewählt
wurde. Einer weiteren Ausgestaltung dieser Maßnahme liegt nach Anspruch
5 als optisches System ein Abbildungssystem zugrunde, bei dem die
Transmissionsplatte und ein Umlenkspiegel wenigstens annähernd in
zueinander konjugierten Ebenen des Abbildungssystems angeordnet sind.
Dadurch liegen einander ähnliche
Lichteinfallsbedingungen, insbesondere Inzidenzwinkelverteil-ungen,
für die
Transmissionsplatte einerseits und den Umlenkspiegel andererseits
vor, was eine gegebenenfalls ortsabhängige Polarisationskompensation
erleichtert.
Bei nichtkonstanter Inzidenzwinkelverteilung des
auf einen Umlenkspiegel des Systems einfallenden Nutzlichts ergibt
sich ein entsprechend ortsabhängiges
Ungleichgewicht der beiden Nutzlichtanteile mit unterschiedlichem
Linearpolarisationszustand. Eine Ausgestaltung der Erfindung nach
Anspruch 6 erlaubt auch für
diesen Fall eine im wesentlichen vollständige Kompensation dieses Ungleichgewichts,
indem die Beschichtung dementsprechend ortsabhängig variabel auf die transparente
Platte aufgebracht ist.
Einer Weiterbildung der Erfindung
nach Anspruch 7 liegt ebenfalls ein Abbildungssystem als das optische
System zugrunde. Die Kompensationseinheit weist dabei eine zweite
Transmissionsplatte auf, die in den Nutzlichtstrahlengang schräg zur optischen
Achse mit einem Neigungswinkel eingebracht ist, der zu demjenigen
der anderen Transmissionsplatte entgegengesetzt ist. Dadurch lassen
sich asymmetrische Bildfehler ganz oder teilweise kompensieren,
die durch das schräge
Einbringen der einen Transmissionsplatte in das Abbildungssystem verursacht
werden. Für
eine im wesentlichen vollständige
Kompensation sind zweckmäßigerweise beide
Transmissionsplatten gleich dimensioniert und mit entgegengesetzt
gleich großen
Neigungswinkeln angeordnet.
Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung
sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben.
Hierbei zeigen:
1 eine
schematische Seitenansicht eines Teils eines optischen Systems für eine mikrolithographische
Projektionsbelichtungsanlage,
2 eine
Längsschnittansicht
eines Objektivs für
ein Beleuchtungssystem einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage,
3 ein
Kennliniendiagramm des Reflexionsgrades in Abhängigkeit vom Einfallswinkel
für einen
im Objektiv von 2 verwendeten
Umlenkspiegel,
4 ein
Kennliniendiagramm des Transmissionsgrades in Abhängigkeit
vom Einfallswinkel für
eine erste Realisierung einer in das Objektiv von 2 eingebrachten Transmissionsplatte,
5 ein
Kennliniendiagramm entsprechend 4,
jedoch für
eine zweite Realisierung der Transmissionsplatte, und
6 eine
Längsschnittansicht
eines anderen Objektivs für
ein Beleuchtungssystem einer mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage.
In 1 ist
schematisch die Problematik der unterschiedlichen Schwächung von
s-polarisiertem Licht und p-polarisiertem Licht durch Umlenkspiegel und
die Behebung des dadurch verursachten Ungleichgewichts der Intensität von s-
und p-polarisierter Komponente am Beispiel eines optischen Abbildungssystems
für eine
mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage veranschaulicht.
Bekanntermaßen
besteht ein solches Abbildungssystem aus einem Beleuchtungssystem
vor einer Retikel-/Maskenebene 1, um Licht zur Durchleuchtung
einer dort eingebrachten Maske bereitzustellen, und einem Projektionsobjektiv
zwischen Retikelebene 1 und Waferebene 2, um die
Maskenstruktur auf einen in die Waferebene 2 eingebrachten
Wafer abzubilden. Je nach Systemauslegung sind im Beleuchtungssystem
und/oder im Projektionsobjektiv Umlenkspiegel vorhanden, z.B. zur
Erzielung eines kompakten Systemaufbaus.
Im Beispiel von 1 sind ein erster Umlenkspiegel 3 im
Beleuchtungssystem und zwei Umlenkspiegel 4, 5 im Projektionsobjektiv
vorgesehen, jeweils als 45°-Umlenkspiegel.
Im Projektionsobjektiv dienen die beiden Umlenkspiegel 4, 5 z.B:
zur Realisierung eines katadioptrischen Aufbaus, schematisch angedeutet
durch einen Reflexionsspiegel 6. Die übrigen Systemkomponenten, wie
Linsen etc., sind in 1 der Übersichtlichkeit
halber weggelassen, da sie hinsichtlich der unterschiedlichen Schwächung von
s- und p-polarisiertem Licht keine Rolle spielen.
Die drei Umlenkspiegel 3, 4, 5 sind
so angeordnet, dass ihre Ebenennormalen alle in einer Ebene, der
Zeichenebene von 1,
liegen. In dieser Ebene liegt auch die optische Achse des Systems, repräsentiert
durch einen Hauptlichtstrahl 7, der stellvertretend für das gesamte
Lichtstrahlenbündel
gezeigt ist. Diese Ebene bildet folglich eine gemeinsame Einfallsebene
für alle
drei Umlenkspiegel 3, 4, 5. Die relativen Amplituden bzw.
Intensitätsanteile
an s-polarisiertem Licht, d.h. senkrecht zur Einfallsebene polarisiertem
Licht, und an dazu senkrecht polarisiertem, d.h. p-polarisiertem,
Licht sind wie üblich durch
die Länge
eines zu p-polarisiertem
Licht gehörigen
Pfeils und den Durchmesser eines zu s-polarisiertem Licht gehörigen Doppelkreises
veranschaulicht.
Wie aus 1 zu erkennen, sei ohne Beschränkung der
Allgemeinheit angenommen, dass das Licht an der Ausgangsseite einer
Blende 8 des Beleuchtungssystems gleich große Anteil
von s- und p-polarisiertem Licht aufweist. Des weiteren ist aus einem
Vergleich von einfallendem und reflektiertem Licht ersichtlich,
dass jeder Umlenkspiegel 3, 4, 5 den
p-polarisierten Lichtanteil mit gegenüber dem s-polarisierten Lichtanteil
deutlich stärkerer
Schwächung
umlenkt (Verkürzung
der zugehörigen
p-Pfeile bei im
wesentlichen gleichbleibendem Durchmesser der s-Kreise in 1). Ohne weitere Maßnahmen würde daher
das auf Waferebene 2 bereitgestellte Nutzlicht einen gegenüber dem
s-polarisierten Anteil deutlich reduzierten p-polarisierten Lichtanteil
enthalten.
Um dieses Ungleichgewicht von s-
und p-polarisiertem Lichtanteil zu vermeiden, ist in den Strahlengang
des Nutzlichts 7 ein Kompensationselement in Form einer
Transmissionsplatte 9 eingebracht, die bevorzugt als wenigstens
einseitig beschichtete Planplatte realisiert ist. Die Transmissionsplatte 9 ist ebenfalls
mit in der Einfallsebene liegender Ebenennormale angeordnet, wobei
sie mit ihrer Ebene um einen vorgebbaren Neigungswinkel β gegenüber der zur
optischen Achse senkrechten Ebene geneigt ist. Mit anderen Worten
ist die Transmissionsplatte 9 gegenüber dieser Ebene um die zur
s-Polarisationsrichtung parallele Achse gekippt. Dieses zur optischen Achse 7 schräge Anordnen
der Transmissionsplatte 9 hat zur Folge, dass der s-polarisierte
Anteil des durch sie hindurchtretenden Lichts merklich geschwächt wird,
während
der p-polarisierte
Lichtanteil deutlich weniger geschwächt durchtritt.
Das Material und die Dimensionierung
der Transmissionsplatte 9 und speziell der Beschichtung, insbesondere
hinsichtlich ihres Brechungsindexes und ihrer Dicke, und der Neigungswinkel β sind in
Abhängigkeit
von der Größe des ohne
die Transmissionsplatte 9 bestehenden Ungleichgewichts
von s- und p-polarisiertem Licht so gewählt, dass der Grad an relativer
Schwächung
des s-polarisierten Lichts durch die Transmissionsplatte 9 ganz
oder jedenfalls weitgehend dem Maß an relativer Schwächung des p-polarisierten
Lichts durch die Umlenkspiegel 3, 4, 5 entspricht.
Dementsprechend wird das durch die Umlenkspiegel 3, 4, 5 verursachte
Ungleichgewicht von s- und p-polarisiertem Licht durch die Transmissionsplatte 9 ganz
oder jedenfalls teilweise kompensiert. Je nach Bedarf ist auch eine Überkompensation möglich. Das
Ungleichgewicht kann z.B. durch eine herkömmliche Messeinrichtung zur
Bestimmung des Polarisationsgrades erfasst werden, die hinter dem im
Strahlengang letzten Umlenkspiegel 5 angeordnet wird. Der
Neigungswinkel β und/oder
die Beschichtung werden dann abhängig
vom Messergebnis in gewünschter
Weise eingestellt und bei Bedarf nachgeregelt.
Dementsprechend stellt das mit der
Transmissionsplatte 9 ausgerüstete optische System einen Nutzlichtstrahl,
hier zur Waferbelichtung, zur Verfügung, dessen s-polarisierter
Lichtanteil auf ein gewünschtes
Maß relativ
zum p-polarisierten Lichtanteil einstellbar ist, wobei eine Schwächung des
p-polarisierten Lichtanteils, der durch Umlenkspiegel oder andere
Systemkomponenten verursacht wird, je nach Anwendungsfall genau
kompensiert, unter- oder überkompensiert
wird. Die Kompensationswirkung der Transmissionsplatte 9 kann
während
ihrer Fertigung speziell durch die Materialwahl sowie die Art und
Dicke einer optional aufgebrachten Beschichtung beeinflusst werden,
bei Bedarf ortsabhängig
variabel. Im Einsatz der Transmissionsplatte 9 kann die Kompensationswirkung
durch die Wahl eines entsprechenden Neigungswinkels β auf einen
jeweils gewünschten
Werteingestellt werden.
2 zeigt
ein in der Praxis realisiertes Ausführungsbeispiel in Form eines
in einem Beleuchtungssystem gemäß 1 verwendeten Objektivs 10,
auch ReMa-Objektiv bezeichnet, das den ersten, beleuchtungssystemseitigen
Umlenkspiegel 3 von 1 und
die Transmissionsplatte 9 beinhaltet. Dieses Objektiv besitzt
einen mit Ausnahme der zusätzlichen
Transmissionsplatte 9 herkömmlichen Aufbau aus diversen,
schematisch wiedergegebenen Optikkomponenten, insbesondere Linsen
und Blenden sowie dem Umlenkspiegel 3, deren optische Wirkung anhand
der eingezeichneten Strahlverläufe
deutlich wird und die hier keinerlei näheren Erläuterung bedürfen. Bevorzugt sind die Transmissionsplatte 9 und der
Umlenkspiegel 3 näherungsweise
auf Höhe
konjugierter Ebenen des Objektivs 10 angeordnet. Dadurch
liegen ähnliche
Inzidenzwinkelverteilungen für die
Transmissionsplatte 9 und den Umlenkspiegel 3 vor,
so dass eine über
die gesamte durchstrahlte Fläche
der Transmissionsplatte 9 hinweg ortsabhängig gleichförmige Beschichtung
genügt,
um eine gleichmäßige, bevorzugt
vollständige
Kompensation des Ungleichgewichts von s- und p-polarisiertem Lichtanteil
an allen Feldpunkten des gesamten Feldbereichs des Objektivs 10 zu
erreichen.
Wenn sich die Inzidenzwinkelverteilungen nicht
so ähnlich
sind, dass mit einer gleichförmigen Planplattenbeschichtung
die gewünschte
Kompensation an allen Feldpunkten erreicht werden kann, kann alternativ
eine ortsabhängig
variable Beschichtung für
die Transmissionsplatte 9 derart vorgesehen sein, dass
die örtliche
Beschichtungsvariation an jedem Feldpunkt der Variation der Inzidenzwinkelverteilung
entspricht, d.h. die Transmissionsplatte 9 kompensiert
für jeden
Feldpunkt die vom Umlenkspiegel 3 verursachte ortsabhängige Schwächung des
p-polarisierten Lichtanteils durch eine vorzugsweise gleich große ortsabhängige Schwächung des s-polarisierten
Lichtanteils. Analoges gilt für
den Fall, dass die Transmissionsplatte 9 die Schwächungswirkung
mehrerer Umlenkspiegel zu kompensieren hat, wie im Beispiel von 1. Alternativ kann jedem
Umlenkspiegel jeweils eine schräg
eingebrachte Transmissionsplatte zugeordnet sein.
Die quantitative Bestimmung der Parameter der
Transmissionsplatte 9, insbesondere hinsichtlich der Beschichtung
und des Neigungswinkels β,
zur oben erläuterten
Kompensation des durch den Umlenkspiegel 3 verursachten
Ungleichgewichts von s- und p-Polarisationsanteil im Nutzlichtstrahlengang wird
nachfolgend unter Bezugnahme auf die 3 bis 5 erläutert.
3 zeigt
den typischen Verlauf der Kennlinien des Reflektionsgrads eines
Umlenkspiegels, wie des Umlenkspiegels 3 der 1 und 2, in Abhängigkeit vom Einfallswinkel
für p-polarisiertes
Licht (durchgezogene Kennlinie) einerseits und s-polarisiertes Licht
(gestrichelte Kennlinie) andererseits. In punktierten Grenzen ist
ein typischer Arbeitsbereich AU für einen
45°-Umlenkspiegel
angegeben. In diesem Beispielfall sind die Inzidenzwinkel zwischen etwa
36° und
54° um den
mittleren Wert von 45° verteilt.
Wie aus 3 ersichtlich,
steigt die Differenz zwischen dem Reflektionsgrad für s-polarisiertes Licht
und demjenigen für
p-polarisiertes
Licht mit zunehmendem Einfallswinkel stetig an und damit der Unterschied
in der Polarisationsschwächung
von p-polarisiertem Licht relativ zu s-polarisiertem Licht. Über den
Arbeitsbereich AU hinweg nimmt dieser Unterschied
im Reflektionsgrad und damit der Polarisationsschwächung von
einem minimalen Wert ΔUu bis zum einem maximalen Wert ΔUo mit
einem mittleren Wert ΔU beim mittleren Einfallswinkel von 45° zu.
4 zeigt
den Transmissionsgrad in Abhängigkeit
vom Einfallswinkel für
eine Realisierung der Transmissionsplatte 9 als Planplatte,
die mit einer Beschichtung versehen ist, die eine Dicke von 30nm und
einen Brechungsindex von 1,45 aufweist, und zwar wiederum für p-polarisiertes Licht
(durchgezogene Kennlinie) einerseits und s-polarisiertes Licht (gestrichelte Kennlinie)
andererseits. Wie daraus ersichtlich, nimmt der Transmissionsgrad
für s-polarisiertes
Licht im betrachteten Bereich stetig ab, während er für p-polarisiertes Licht zunächst sogar
noch leicht zunimmt, d.h. die Transmissionsplatte 9 schwächt den
s-polarisierten Lichtanteil relativ zum p-polarisierten Lichtanteil
mit zunehmendem Einfallswinkel im betrachteten Einfallswinkelbereich
immer stärker.
Daher ist es stets möglich, einen
in 4 durch gepunktete
Grenzen angedeuteten Arbeitsbereich AT
1 für
die Transmissionsplatte 9 zu finden, der zu einer weitestgehend
vollständigen
Kompensation des vom Umlenkspiegel 3 verursachten Polarisationsungleichgewichts
für die
hier auftretenden Inzidenzwinkel führt. Zunächst wird dazu der Neigungswinkel β so ermittelt,
dass der sich für
ihn ergebende Unterschied ΔT
1 im Transmissionsgrad
der Transmissionsplatte 9 und damit in deren Polarisationsschwächung von
p- und s-polarisiertem Licht dem Unterschied ΔU im
Reflektionsgrad des Umlenkspiegels 3 und damit in dessen
Polarisationsschwächung
von s- und p-polarisiertem Licht beim gewählten Kippwinkel von 45°, dem mittleren
Inzidenzwinkel, entspricht. Mit diesem Neigungswinkel β von in diesem
Fall ca. 30° wird
die Transmissionsplatte 9 in den Nutzlichtstrahlengang
eingebracht.
Wenn Transmissionsplatte 9 und
Umlenkspiegel 3 in konjugierten Ebenen des Objektivs von 2 liegen, korrespondiert
zum Umlenkspiegel-Arbeitsbereich
AU der Transmissionsplatten-Arbeitsbereich
AT
1 um den Neigungswinkel β, wobei im
gezeigten Beispiel von 4 dieser
Arbeitsbereich AT
1 von etwa
24° bis
etwa 36° reicht.
Der sich für
diesen Arbeitsbereich AT
1 ergebende
minimale Unterschied ΔT1u und maximale Unterschied ΔT
1
o in der Polarisationsschwächung durch
die Transmissionsplatte 9 entspricht dann ebenfalls betraglich
weitestgehend dem relativen minimalen Schwächungswert ΔUu bzw.
dem maximalen Schwächungswert ΔU
o des Umlenkspiegels 3. Dies macht
deutlich, dass hier eine gleichförmige
Beschichtung der Transmissionsplatte 9 für eine über das
gesamte relevante Bildfeld des Objektivs hinweg gleichmäßige Kompensation
der unterschiedlichen Schwächung
von s- und p-polarisiertem Licht
aufgrund des Umlenkspiegels 3 ausreicht. Speziell gilt
dies, wenn die Einfallswinkel an den verschiedenen Punkten des Umlenkspiegels 3 weitgehend
gleich sind, so dass dann der vom Umlenkspiegel 3 induzierte
Polarisationsschwächungsunterschied
für s-polarisiertes Licht
bzw. p-polarisiertes Licht in der betreffenden Ebene näherungsweise konstant
ist.
Bei Variationen der Inzidenzwinkelverteilung und/oder
bei einer Abweichung der Position der Transmissionsplatte 9 von
einer zu dem oder den Umlenkspiegeln 3 konjugierten Ebene
lässt sich
eine über
das gesamte Bildfeld hinweg weitestgehend gleichmäßige und
vollständige
Kompensation dadurch erreichen, dass die Beschichtung entsprechend
ortsabhängig
unterschiedlich auf die Planplatte aufgebracht wird, insbesondere
hinsichtlich ihrer Dicke und/oder ihres Materials.
5 veranschaulicht
die Abhängigkeit
des Transmissionsgrads vom Einfallswinkel für eine zweite Realisierung
der Transmissionsplatte 9 in Form einer Planplatte mit
einer Beschichtung, die eine Dicke von 30nm und einen Brechungsindex
von 1,65 aufweist, wiederum einerseits für p-polarisiertes Licht (durchgezogene Kennlinie)
und andererseits für s-polarisiertes Licht
(gestrichelte Kennlinie). Qualitativ entsprechen die Kennlinienverläufe denjenigen von 4, der Unterschied zwischen
p- und s-polarisiertem
Licht ist jedoch bei gleichem Einfallswinkel geringer. Daher ergibt
sich in diesem Fall ein größerer Neigungswinkel β von etwa
47°, bei
dem der relative Schwächungsunterschied ΔT
2 betraglich dem mittleren Polarisationsschwächungsunterschied ΔU des
Umlenkspiegels 3 entspricht. Dem Umlenkspiegel-Arbeitsbereich
AU entspricht in diesem Fall ein Transmissionsplatten-Arbeitsbereich
AT
2 von etwa 40° bis etwa
54°. Wiederum
entsprechen der daraus resultierende minimale Polarisationsschwächungsunterschied ΔT2
u und maximale Polarisationsschwächungsunterschied ΔT
2o, wie sie durch diesen Transmissionsplatten-Arbeitsbereich AT
2 gegeben sind, betraglich
weitestgehend dem minimalen bzw. maximalen Polarisationsschwächungsunterschied ΔUu, ΔUo des
Umlenkspiegels 3.
Durch das Einbringen der gekippten
Transmissionsplatte 9 in ein Abbildungssystem, wie das abbildende
Objektiv von 2, können sich
Abbildungsfehler ergeben, die nicht rotationssymmetrisch zur optischen
Achse sind und daher von den Linsenelementen des Systems nicht ohne
weiteres kompensiert werden können.
Wenn die Transmissionsplatte relativ dünn ist, sind diese Bildfehler
eventuell vernachlässigbar.
Um besonders bei Verwendung einer Transmissionsplatte mit merklicher
Dicke eine Kompensation der asymmetrischen Bildfehler zu bewirken,
kann eine weitere Transmissionsplatte gleicher Dimensionierung in
den Nutzlichtstrahlengang eingebracht werden, die gegenüber der
zur optischen Achse senkrechten Ebene um die gleiche Achse, jedoch
entgegengesetzt zur anderen, ersten Transmissionsplatte geneigt
ist. Beide Platten sind vorzugsweise nur durch einen Luftraum getrennt.
Bevorzugt, aber nicht zwingend, sind beide Neigungswinkel betraglich
gleich groß gewählt.
Eine solche Realisierung ist in 6 für den Fall des Objektivs von 2 angegeben. Zusätzlich zum
Aufbau von 2 ist hinter
der Transmissionsplatte 9, die mit dem Neigungswinkel β angeordnet ist,
eine zweite, gleich dimensionierte Transmissionsplatte 11 mit
entgegengesetzt gleich großem
Neigungswinkel β gegenüber der
zur optischen Achse senkrechten Ebene verkippt im Nutzstrahlengang
angeordnet. Bevorzugt ist in diesem Fall die Transmissionsplattenbeschichtung
so gewählt,
dass mäßig große Neigungswinkel β genügen, so
dass beide Transmissionsplatten 9, 11 unbehindert
hintereinander im ansonsten unveränderten Objektiv 10' positioniert
werden können.
Zur Kompensationswirkung hinsichtlich Polarisationsschwächung können in
diesem Ausführungsbeispiel
beide Transmissionsplatten 9, 11 beitragen, die
vorzugsweise gleichartig beschichtet sind.
Wie die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele
deutlich machen, stellt die Erfindung ein optisches System zur Verfügung, das
einen Nutzlichtstrahl liefert, der trotz Vorhandenseins eines oder mehrerer
Umlenkspiegel oder anderer optischer Komponenten, welche zwei verschiedene
Linearpolarisationszustände
unterschiedlich schwächen,
ausgangsseitig einen Nutzlichtstrahl liefert, bei dem die Lichtanteile
beider Linearpolarisationszustände
in einem gewünschten
Verhältnis
zueinander stehen, vorzugsweise im wesentlichen gleich groß sind.
Dazu ist eine Kompensationseinheit mit wenigstens einer schräg in den
Strahlengang eingebrachten Transmissionsplatte vorgesehen, die dieses
Verhalten des übrigen
optischen Systemteils ganz oder teilweise kompensiert.
Durch die Wahl des Materials und
des Neigungswinkels der Transmissionsplatte und einer optimalen
Beschichtung kann das Intensitätsverhält nis der
Nutzlichtanteile der beiden Linearpolarisationszustände auf
einen gewünschten
Wert eingestellt werden. Die Transmissionsplatte ist bevorzugt um eine
zur Kippachse des jeweiligen Umlenkspiegels parallele Achse geneigt.
Noch im Betrieb kann eine Feineinstellung der Kompensationswirkung
durch entsprechendes Variieren des Neigungswinkels durchgeführt werden.
Bei Verwendung in Abbildungssystemen ist eine Positionierung der
Transmissionsplatte in einer zur Ebene eines Umlenkspiegels konjugierten
Ebene von Vorteil. Unterschiedliche Inzidenzwinkelverteilungen für den jeweiligen
Umlenkspiegel einerseits und die Transmissionsplatte andererseits
können
bei Bedarf durch eine ortsabhängig über die
bestrahlte Plattenfläche
hinweg variable Beschichtung ganz oder teilweise kompensiert werden. Eventuelle,
von der Transmissionsplatte verursachte asymmetrische Bildfehler
können
bei Verwendung in Abbildungssystemen durch Anordnen einer gleichartigen
zweiten Transmissionsplatte mit entgegengesetzt gleich großem Neigungswinkel
kompensiert werden.
Für
Objektive mit Umlenkspiegel, wie sie im Beleuchtungssystem und als
Projektionsobjektiv in mikrolithographischen Belichtungsanlagen
verwendet werden, lässt
sich auf diese Weise erreichen, dass in der Masken- und insbesondere
in der Waferebene Licht zur Verfügung
steht, dessen s-polarisierte Komponente und p-polarisierte Komponente mit
im wesentlichen gleicher Intensität vorliegen. Insbesondere lässt sich
mit dieser Maßnahme
eine Kompensation auch für
Systeme mit ungerader Anzahl von Umlenkspiegel und für Systeme
erreichen, bei denen mehrere Umlenkspiegel mit gemeinsamer Einfallsebene,
d.h. parallelen Kippachsen, angeordnet sind. Es versteht sich, dass
die Erfindung nicht nur für
mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlagen, sondern auch
für beliebig
andere optische Systeme einsetzbar ist, die einen Nutzlichtstrahl
unter Verwendung einer oder mehrerer optischer Komponenten bereitstellen,
die zwei verschiedene Linearpolarisationszustände des Nutzlichtstrahls unterschiedlich
schwächen.