DE10227111A1 - Spektralmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop - Google Patents

Spektralmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop

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Abstract

Es ist ein Spektralscanmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop offenbart. Es ist ein Rechnersystem (23) vorgesehen, das einen Speicher und eine Datenbank umfasst. In Verbindung mit dem Rechnersystem (23) und/oder der Datenbank kann mit dem spektralen Selektionsmittel (5) aus einem kontinuierlichen Wellenlängenbereich ein kontinuierlicher Teilwellenbereich ausgewählt werden, der zur Beleuchtung des Objekts dient. Ebenso kann in Verbindung mit dem Rechnersystem (23) zusammen mit dem spektralen Selektionsmittel aus dem Detektionslichtstrahl (17) ein Detektionsband ausgewählt werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Spektralmikroskop. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop.
  • Die Patentschrift US 6,097,870 offenbart eine Anordnung zur Generierung eines Breitbandspektrums im sichtbaren und infraroten Spektralbereich. Die Anordnung basiert auf einer mikrostrukturierten Faser, in die das Licht eines Pumplasers eingekoppelt wird. Das Pumplicht wird in der mikrostrukturierten Faser durch nichtlineare Effekte verbreitert. Als mikrostrukturierte Faser findet auch sog. Photonic-Band-Gap-Material oder "photon crystal fibres", "holey fibers" oder "microstructured fibers" Verwendung. Es sind auch Ausgestaltungen als sog. "Hollow fiber" bekannt.
  • Bogenlampen sind als breitbandige Lichtquellen bekannt und werden in vielen Bereichen verwendet. Exemplarisch sei hier die US-Patentschrift 3,720,822 "XENON PHOTOGRAPHY LIGHT" genannt, die eine Xenon-Bogenlampe zur Beleuchtung in der Photografie offenbart.
  • Die deutsche Patentanmeldung DE 100 06 800.6 offenbart eine Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens eines Spektralbereichs eines spektral aufgefächerten Lichtstrahls (SP-Modul). Im aufgefächerten Lichtstrahl sind Selektionsmittel vorgesehen, die als Schieber ausgebildet sind, um somit Teile des aufgefächerten Lichtstrahls auf verschiedene Detektoren zu lenken. Die Signale der Detektoren werden dann zu Bilderzeugung verwendet. Die DE 100 06 800.6 offenbart nicht die Betätigung der Schieber in der Art und Weise, dass eine schnelle und zuverlässige Detektion eines speziellen Spektrums möglich ist.
  • Aus der US-Patenschrift 5,791,024 ist ein Verfahren zur Klassifizierung von Chromosomen bekannt. Bei der Detektion von Chromosomdefekten werden die Chromosomen mit fünf verschiedenen, fluoreszierenden Farbstoffen versehen. Aus der Anlagerung der Farbstoffe an die Chromosomen können diese eindeutig klassifiziert werden. Aus dem Vergleich mit einer Referenz kann auf die vorhandenen Gendefekte geschlossen werden. Da durch die am Chromosom angelagerten Farbstoffe, dieses Chromosom ein charakteristisches Spektrum aussendet, ist somit eine eindeutige Bestimmung möglich. Das hier vorgestellte Verfahren ist besonders für die Bestimmung der Spektren der einzelnen Chromosomen geeignet, ist in seiner Anwendung aber nicht für die Fluoreszenzmessungen mit einen spektralen Scanmikroskop ausgelegt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde ein Verfahren zur Erfassung maximaler Information eines fluoreszierenden mikroskopischen Objekts zu schaffen. Die objektive Aufgabe wird durch ein Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop gelöst, das die Merkmale des Patentanspruchs 1 aufweist.
  • Der Erfindung liegt die weitere Aufgabe zugrunde ein Mikroskopsystem zur Erfassung maximaler Information eines fluoreszierenden mikroskopischen Objekts zu schaffen, das geeignet ist eng benachbarte Fluoreszenzspektren aufzulösen. Die objektive Aufgabe wird durch ein Spektralscanmikroskop gelöst, das die Merkmale des Patentanspruchs 6 aufweist.
  • Der Vorteil der Erfindung ist, dass mit dem Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop ein Beleuchtungslichtstrahl erzeugt wird, wobei das erzeugte Beleuchtungslicht einen kontinuierlichen Wellenbereich im Spektrum umfasst. Ein kontinuierlicher Teilwellenbereich wird aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts selektiert und zur Beleuchtung der Probe verwendet. Ebenso gilt es die Detektionseinheit auf einen ausgewählten Teilwellenbereich für das Detektionslicht einzustellen. Bild- oder Volumenaufnahmeprozesses werden durchgeführt und die aufgenommenen Bilddaten durch einen Algorithmus zur Datenanalyse verarbeitet. Gegebenenfalls kann und graphische Darstellung der analysierten Daten erfolgen. Die Selektion eines kontinuierlichen Teilwellenbereichs aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts und das Einstellen der Detektionseinheit auf den ausgewählten Teilwellenbereich des Detektionslichts kann durch den Benutzer erfolgen. Ebenso kann die Selektion eines kontinuierlichen Teilwellenbereichs aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts durch einen Computeralgorithmus erfolgen. Parallel dazu wird das Einstellen der Detektionseinheit auf ein ausgewähltes Teilwellenbereich ebenfalls durch einen Computeralgorithmus ausgeführt. Um bestimmte Konfigurationen des Emissionsspektrums zu vermessen, wird eine systematische Veränderung der zur Beleuchtung herangezogenen Teilwellenbereiche vorgenommen. Es wird einen Punkt, Linien, Bild, oder Volumenaufnahmeprozesses durchgeführt und eine pixelweise Rekonstruktion der Anregungs-/Emissionscharacteristik χ(λex, λem). Die kann dann visualisiert werden.
  • Das Spektralscanmikroskop ist in vorteilhafter Weise mit einem Beleuchtungssystem ausgestattet, das einen Beleuchtungslichtstrahl aussendet. Ein Mittel zur spektralen Selektion des Beleuchtungslichtstrahls ist vorgesehen und mindestens ein spektral konfigurierbar Detektor. Mit dem Spektralscanmikroskop ist ein Rechnersystem verbunden, das einen Speicher und eine Datenbank umfasst. In Verbindung mit dem Rechnersystem und/oder der Datenbank wird mit dem spektralen Selektionsmittel aus einem kontinuierlichen Wellenlängenbereich ein kontinuierlicher Teilwellenbereich auswählt. Dieser dient dazu ein Objekt zu beleuchten. Ebenso erfolgt in Verbindung mit dem Rechnersystem und/oder der Datenbank, dass mit dem spektralen Selektionsmittel aus dem Detektionslichtstrahl ein Detektionsband auswählbar ist. Das Beleuchtungssystem des Spektralscanmikroskops ist eine Weißlichtquelle. Das Mittel zur spektralen Selektion ist ein AOTF. Der mindestens eine spektral konfigurierbare Detektor ist ein SP-Modul.
  • In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:
  • Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Scanmikroskops, wobei dem Detektor ein SP Modul vorgeschaltet ist;
  • Fig. 2 eine schematische Darstellung des SP-Moduls im Detail,
  • Fig. 3 ein spezielles Weisslicht-Beleuchtungssystem für eine Scanmikroskop gemäß der gegenwärtigen Erfindung;
  • Fig. 4 ein Ausführungsform eines optischen Elements, das zur Lenkung des Beleuchtungslichtstrahls und des Detektionslichtstrahls vorgesehen ist;
  • Fig. 5a verdeutlicht die zweier eng benachbarter Farbstoffe;
  • Fig. 5b verdeutlicht die Emissionsspektren zweier eng benachbarter Farbstoffe;
  • Fig. 6a Beleuchten von spektral nah benachbarten Absorptionsspektren zweier Farbstoffe;
  • Fig. 6b Aufnahme von spektral nah benachbarten Emissionsspektren zweier Farbstoffe;
  • Fig. 7a Beleuchtung der Probe mit einer ersten Wellenlänge und einer zweiten Wellenlänge;
  • Fig. 7b das Ergebnis einer Abtastung eines des ersten und des zweiten Emissionsspektrums; und
  • Fig. 8 die unterschiedlichen Beleuchtungs- und Detektionsbänder für zwei verschiedene Farbstoffe innerhalb der Emissions- und Absorptionsebene.
  • In Fig. 1 ist das Ausführungsbeispiel eines konfokalen Scanmikroskops 100 schematisch gezeigt. Dies soll jedoch nicht als Beschränkung der Erfindung aufgefasst werden. Der von mindestens einem Beleuchtungssystem 1 kommende Beleuchtungslichtstrahl 3 wird von einem Strahlteiler oder einem geeigneten Umlenkmittel 5 zu einem Scanmodul 7 geleitet. Der Strahlteiler 5 ist vorteilhafterweise als acoustooptisches Bauteil (AOBS) realisiert, da dies die optische Gesamtperformance dramatisch verbessert. Bevor der Beleuchtungslichtstrahl 3 auf das Umlenkmittel 5 trifft, passiert dieser ein Beleuchtungspinhole 6. Das Scanmodul 7 umfasst einen kardanisch aufgehängten Scanspiegel 9, der den Beleuchtungslichtstrahl 3 durch eine Scanoptik 12 und eine Mikroskopoptik 13 hindurch über bzw. durch ein Objekt 15 führt. Das Beleuchtungssystem 1 kann derart ausgestaltet sein, dass es aus dem Licht eines Lasers, Weißlicht erzeugt. Hierzu ist ein mikrostrukturiertes Element 8 oder eine tapered Glasfaser vorgesehen. Der Aufbau zur Erzeugung von Weislicht ist in Fig. 3 genauer beschrieben. Beleuchtungslichtstrahl 3 wird bei nicht transparenten Objekten 15 über die Objektoberfläche geführt. Bei biologischen Objekten 15 (Präparaten) oder transparenten Objekten kann der Beleuchtungslichtstrahl 3 auch durch das Objekt 15 geführt werden. Zu diesen Zwecken werden nichtleuchtende Präparate ggf. mit einem geeigneten Farbstoff präpariert (nicht dargestellt, da etablierter Stand der Technik). Die in dem Objekt 15 vorhandenen Farbstoffe werden durch den Beleuchtungslichtstrahl 3 angeregt und senden Licht in einem ihnen eigenen charakteristischen Bereich des Spektrums aus. Dieses vom Objekt 15 ausgehende Licht definiert einen Detektionslichtstrahl 17. Dieser gelangt durch die Mikroskopoptik 13, die Scanoptik 12 und über das Scanmodul 7 zum Umlenkmittel 5, passiert dieses und gelangt über ein Detektionspinhole 18 auf eine Detektionseinheit. In einer besonderen Ausführungsform umfasst die Detektionseinheit mindestens einen Detektor 36, 37, der als Photomultiplier ausgeführt ist. Es ist dem Fachmann klar, dass auch andere Detektionskomponenten, wie z. B. Dioden, Diodenarrays, Photomultiplierarrays, CCD Chips oder CMOS Bildsensoren eingesetzt werden können. Die Detektoren 36 und 37 sind spektral konfigurierbar, um somit verschiedene, auswählbare Wellenlängenbereiche des Detektionslichtstrahls 17 bestimmen zu können. Der vom Objekt 15 ausgehende bzw. definierte Detektionslichtstrahl 17 ist in Fig. 1 als gestrichelte Linie dargestellt. In den Detektoren 36, 37 werden elektrische, zur Leistung des vom Objekt 15 ausgehenden Lichtes, proportionale Detektionssignale erzeugt. Da, wie bereits oben erwähnt, vom Objekt 15 Licht nicht nur einer Wellenlänge ausgesandt wird, ist es sinnvoll vor dem mindestens einen Detektor 36, 37 ein SP-Modul 20 vorzusehen. Die von dem mindestens einen Detektor 36, 37 erzeugten Daten werden an ein Rechnersystem 23 weitergegeben. Dem Rechnersystem 23 ist mindestens ein Peripheriegerät 27 zugeordnet. Das Peripheriegerät kann z. B. ein Display sein, auf dem der Benutzer Hinweise zur Einstellung des Scanmikroskops 100 erhält oder den aktuellen Setup und auch die Bilddaten in graphischer Form entnehmen kann. Ferner ist mit dem Rechnersystem 23 ein Eingabemittel zugeordnet, das z. B. aus einer Tastatur, einer elektronischen Einstellvorrichtung für die Komponenten des Mikroskopsystems und einer Maus besteht. Das SP Modul 20 (Fig. 2) ist derart ausgebildet, dass es einen kompletten Lambda Scan aufnehmen kann, d. h., das alle vom Objekt 15 ausgehenden Wellenlängen aufgezeichnet werden. Die Daten werden an das Rechnersystem 23 übertragen und können dann in einer von Benutzer bestimmbaren Weise auf dem Display (nicht dargestellt) angezeigt werden. Der Detektionslichtstrahl 17 wird mit einem Prisma 31 räumlich spektral aufgespalten. Eine weitere Möglichkeit der spektralen Aufspaltung ist die Verwendung eines Reflexions-, oder Transmissionsgitters. Der spektral aufgespaltene Lichtfächer 32 wird mit der Fokussieroptik 33 fokussiert und trifft anschließend auf eine Spiegelblendenanordnung 34, 35. Die Spiegelblendenanordnung 34, 35, die Mittel zur spektralen, räumlichen Aufspaltung, die Fokussieroptik 33 und die Detektoren 36 und 37 werden zusammen als SP-Modul 20 (oder Mutibanddetektor) bezeichnet.
  • Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, kann mittels der Spiegelblendenanordnung 34, 35 ein gewünschter Teil des Spektrums ausgewählt bzw. systematisch selektiert werden. In dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Spaltblendenanordnung 34, 35 mit einem ersten und einem zweiten Schieber 40 und 41 ausgestattet. Es ist selbstverständlich, dass für die Selektion von mehr als zwei spektralen Bereichen eine entsprechende Anzahl von Schiebern vorgesehen sein muss. Dem ersten Schieber 40 ist ein erster Motor 44 und dem zweiten Schieber 41 ist ein zweiter Motor 45 zugeordnet. Die Motore 44 und 45 veranlassen eine gemäß den nachstehenden Verfahren beschriebene Verstellung der Schieber 40 und 41. Durch die Verstellung der Schieber 40 und 41 passiert nur ein Teil des aufgespaltenen Lichtfächers 32 des Detektionslichtstrahls 17, der nur Licht des vorgewählten Spektralbereichs umfasst, die Spiegelblendenanordnung 34, 35 und wird von dem Detektor 36, der als Photomultiplier ausgeführt ist, detektiert. Ein anderer Teil des aufgespaltenen Lichtfächers 32 wird an der Spiegelblendenanordnung 35reflektiert und gelangt zu Detektor 37, der ebenfalls als Photomultiplier ausgeführt ist.
  • Fig. 3 zeigt das Beleuchtungssystem 1, das einen Laser 10 beinhaltet, der als diodenlasergepumpter, modengekoppelter Ti:Saphir-Laser ausgeführt ist und der einen gepulsten Lichtstrahl 50 (entspricht dem Beleuchtungslichtstrahl 3 aus Fig. 1), der gestrichelt gezeichnet ist, emittiert. Die Dauer der Lichtpulse beträgt ca. 100 fs bei einer Repetitionsrate von ca. 80 MHz. Der Lichtstrahl 50 wird mit der Fokussieroptik 51, die als Zoomoptik ausgestaltet und entlang der Fortpflanzungsrichtung des Lichtstrahles 50 verschiebbar angeordnet ist, auf ein mikrostrukturiertes optisches Element 8, das aus einem Kristall aus Photonic-band-Gap-Material besteht, fokussiert. In dem mikrostrukturierten optischen Element 8 wird das Licht des Lasers 10 spektral verbreitert. Alle Komponenten befinden sich in einem Gehäuse 54 mit einer Lichtaustrittsöffnung 55, durch die das spektral verbreiterte Licht 56, als divergent verlaufender Strahl, das Gehäuse verlässt. Das Spektrum des spektral verbreiterten Lichts 56 reicht von ca. 300 nm bis 1600 nm, wobei die Lichtleistung über das gesamte Spektrum weitgehend konstant ist. Das mikrostrukturierte optische Element 8 kann in einem Ausführungsbeispiel ebenfalls aus einem Lichtleiter bestehen, der mit einer Querschnittsverjüngung versehen. In dem Lichtleiter wird das Emissionslicht des Lasers 10 spektral verbreitert. Der Beleuchtungslichtstrahl 3 (siehe Fig. 1) gelangt zu dem Umlenkmittel 5, das aus einem akustooptischen Element ausgebildet ist. Das akustooptische Element ist als AOTF (Acustooptical Tunable Filter) ausgeführt, der den Beleuchtungslichtstrahl 3 gemäß eines vom Benutzer ausgewählten Bandes, das von λ - Δλ/2 bis λ + Δλ/2 reicht, begrenzt.
  • Fig. 4 zeigt das optische Umlenkmittel 5 im Detail, das dem SP-Modul 20 vorgeschaltet ist. Das optische Umlenkmittel 5 weist einen ersten Port 60, einen zweiten Port 61, und einen dritten Port 62 auf, wobei in den ersten Port 60 der Beleuchtungslichtstrahl 4 einkoppelt ist. An dem zweiten Port 61 wird der Beleuchtungslichtstrahl 4 auskoppelt und ein Detektionslichtstrahl 17 einkoppelt. An dem dritten Port 62 wird der Detektionslichtstrahl 17 auskoppelt und dem SP-Modul 20 zugeführt. Das optische Umlenkmittel 5 beinhaltet ein erstes akustooptisches Bauteil 63 und ist als austauschbares Modul mit einem Gehäuse 64 ausgestaltet. Der einfallende Beleuchtungslichtstrahl 4 wird von einem Umlenkspiegel 65 auf das erste akustooptische Bauteil 63 gelenkt. Das akustooptische Bauteil 63 ist als AOTF ausgestaltet, der von einer akustischen Welle durchlaufen ist. Die akustische Welle wird von einem der elektrisch angesteuerten Piezo-Schallerzeuger generiert. Die Frequenz der akustischen Welle ist so gewählt, dass nur die Anteile der gewünschten Wellenlänge des Beleuchtungslichtstrahls 4 in Richtung des zweiten Ports 61 gelenkt werden. Die übrigen, von der akustischen Anregung nicht beeinflussten Anteile des Beleuchtungslichtstrahls 4 werden in eine Strahlfalle 66 gelenkt. Durch Variation der Amplitude der akustischen Welle ist die Leistung des aus dem zweiten Port 61 austretenden Beleuchtungslichtstrahls 4 auswählbar, was insbesondere bei reflexionsmikroskopischen Anwendungen von besonderem Vorteil ist. Kristallschnitt und Orientierung des akustooptischen Bauteils 63 sind dabei so gewählt, dass bei gleicher Einkoppelrichtung verschiedene Wellenlängen in die gleiche Richtung abgelenkt werden.
  • Mit dem optischen Element 5 ist die Variierung der Leistung des Beleuchtungslichtstrahls 4, die Variierung der Leistung mindestens einer auswählbaren Wellenlänge oder mindestens eines auswählbaren Wellenlängenbandes des Beleuchtungslichtstrahls 4 und auch die vollständige Ausblendung auswählbarer Wellenlängen oder auswählbarer Wellenlängenbänder ermöglicht. Der Detektionslichtstrahl 17, der in Fig. 2 und in Fig. 4 gestrichelt dargestellt ist, trifft mit entgegengesetzter Ausbreitungsrichtung zum Beleuchtungslichtstrahls 4 auf das erste akustooptische Bauteil 63. Die Anteile des Detektionslichtstrahl 17 mit gleicher Wellenlänge und Polarisation wie die des Beleuchtungslichtstrahls 4 werden je nach Amplitude der akustischen Welle vollständig oder teilweise auf den Umlenkspiegel 65 und anschließend zum ersten Port 60 gelenkt; bei verminderter Amplitude gelangt der unbeeinflusste Anteil an dem Umlenkspiegel 65 vorbei. Handelt es sich bei dem Detektionslichtstrahl 17 beispielsweise um Reflexionslicht, so wirkt das optische Element 5 wie ein variabler Neutralstrahlteiler, dessen Teilungsverhältnis durch die Amplitude der akustischen Welle bestimmt ist. Handelt es sich bei dem Detektionslichtstrahl 11 um Fluoreszenzlicht, das z. B. aufgrund der Stokes- oder Ramanverschiebung in der Wellenlänge verändert ist, wird dieses von der akustischen Welle nicht beeinflusst und gelangt am Umlenkspiegel 17 vorbei. Aufgrund der Doppelbrechung des ersten akustooptischen Bauteils 63 ist der Detektionslichtstrahl 17 in einen ordentlich und einen außerordentlich polarisierten Strahl aufgespalten. Außerdem sind jeweils der ordentlich und der außerordentlich polarisierte Strahl aufgrund der Prismenwirkung des akustooptischen Bauteils 63 auch spektral aufgefächert. Zur Kompensation ist ein optisches Kompensationselement 67, das aus einem weiteren akustooptischen Bauteil 68 besteht, vorgesehen. Das weitere akustooptische Bauteil 68 entspricht im Aufbau dem ersten akustooptischen Bauteil 63. Es ist um 180 Grad um die Strahlachse bezüglich dem ersten akustooptischen Bauteils 63 gedreht angeordnet. Dadurch werden die aufgefächerten Teilstrahlen unterschiedlicher Polarisationsrichtung wieder vereinigt. Gleichzeitig wird die spektrale Auffächerung des ersten akustooptischen Bauteils 63 rückgängig gemacht. Es verbleibt allenfalls ein geringer Parallelversatz für Detektionslicht unterschiedlicher Wellenlängen. Nach Durchlaufen des weiteren akustooptischen Bauteils 67 trifft der Detektionslichtstrahl 17 auf ein Spiegelpaar, das aus einem ersten Spiegel 69 und einem zweiten Spiegel 70 aufgebaut ist. Das Spiegelpaar dient dazu, den Detektionslichtstrahl 17 auf die gewünschte Strahlachse, nämlich die Strahlachse, die der durch den zweiten Port 61 eintretende Detektionslichtstrahls 17 aufweist, zu bringen. Dies vereinfacht die Austauschbarkeit des optischen Umlenkmittels 5 gegen ein Element mit einem konventionellen Strahlteiler. Ebenso, wie der Beleuchtungslichtstrahl 4 kann der Detektionslichtstrahl 17 mit dem ersten akustooptischen Bauteil 63 oder auch mit dem weiteren akustooptischen Bauteil 68 spektral selektiv in der Leistung variiert werden.
  • Auf der bisher beschriebenen Mikroskoparchitektur und der hierzu äquivalenten Architektur (z. B. Wießlichtquelle, die als Bogenlampe ausgebildet ist, spektrale Zerlegung des Anregungslicht über Prismen und Spiegelschieber und Zoomoptiken) kann die Fluoreszenzeigenschaft der in die Probe oder das Objekt 15 eingebrachten Farbstoffe optimal detektiert werden.
  • Die Problematik lässt sich anhand der Fig. 5a und Fig. 5b erklären. Die Farbstoffe sind im wesentlichen durch eine graphische Darstellung 1000 mindesten eines Absorptionsspektrums charakterisiert. Bei der graphischen Darstellung 1000 des Absorptionsspektrum ist auf der Abszisse die Wellenlänge λ und auf der Ordinate der Absorptionskoeffizient α aufgetragen. Ein erstes und ein zweites Absorptionsspektrum 1001 und 1002 ist mit der Formel αiex) charakterisiert, wobei der Index i den i'ten in die Probe eingebrachten Farbstoff bezeichnet. Fig. 5b stellt eine graphische Darstellung 1100 eines Emissionsspektrums dar. Bei der graphischen Darstellung 1100 des Emissionsspektrums ist auf der Abszisse die Wellenlänge λ und auf der Ordinate der Emissionskoeffizient ε aufgetragen. Ein erstes und ein zweites Emissionsspektrum 1101 und 1102 ist mit der Formel εiem) charakterisiert, wobei der Index i den i'ten in die Probe eingebrachten Farbstoff referenziert. Die Unterscheidung der Wellenlängen λex und λem ist notwendig, da es sich bei λex um Licht im Beleuchtungsstrahlengang und bei λex um Licht im Detektionsstrahlengang handelt. Beide Typen von Spektren modellieren die Wahrscheinlichkeit, dass eine Photonenaktivität im Farbstoff auftritt und ist statistischer Natur. Das Absorbtionsspektrum beschreibt die Wahrscheinlichkeit das ein Photon vom Farbstoff eingefangen wird, ein interner Elektronenzustand verändert und die Energie des Moleküls erhöht wird. Das Emissionsspektrum beschreibt die Wahrscheinlichkeit, dass ein interner Energiezustand zu einer Lichtemission führt. Bei realen Farbstoffen sind diese Spektren relativ ähnlich, wobei in der Regel eine Spiegelung des einen Spektrum um einen ausgezeichneten Punkt ungefähr das andere Spektrum ergibt. Diese Spiegelung ist aber nicht als mathematisch exakt aufzufassen sondern nur eine Pseudoregel, die als Heuristik bei der Anwendung von Farbstoffen gute Dienste leistet. Es werden zusätzlich Veränderungen der Spektren beobachtet, die in Abhängigkeit der biochemischen Umgebung der Probe (z. B. lokale pH Werte) zu betrachten sind.
  • Ein komplettes Spektrum (Absorptions- und Emissionsspektrum) lässt sich dann über die Funktion:

    χiex λem)

    definieren, die im folgenden als Anregungs-Emissions-Übertragungs- Spektrum bezeichnet ist. Diese Funktion beschreibt das Fluoreszenzlicht eines Farbstoffes bei Anregung bei λex und Detektion bei λem. Bei Nutzung der beherrschenden annähernden Modellbildung ergibt sich als erste Näherung dieser Funktion

    χiex, λem) ≍ αiexiem)

    die in den meisten Fällen hinreichend ist, aber oft auch nicht.
  • Der wesentliche Nachteil des Stands der Technik ist, das Unterschiede in den Absorptionsspektren nicht ausgenutzt werden, sondern dass der Rückschluss auf die mikroskopische Struktur nur auf Basis der Emissionsspektren εiem) durchgeführt wird. Dies ist in Fig. 6a und Fig. 6b dargestellt. Bei spektral nah benachbarten erstem und zweitem Absorptionsspektren 1001 und 1002 sowie spektral nah benachbarten erstem und zweitem Emissionsspektren 1101 und 1102 wird in der Regel Laserlicht zur Beleuchtung eingesetzt. Die Beleuchtung durch das Laserlicht ist in den folgenden Figuren als Blitz 1003 dargestellt. Das zur Beleuchtung verwendete Laserlicht besitz eine bestimmte Wellenlänge, dessen Lage durch die gestrichelte Linie 1004 in der graphischen Darstellung 1000 des Absorptionsspektrum in Fig. 6a repräsentiert ist. In Fig. 6b ist die Aufnahme des Emissionsspektrums dargestellt. In den unterschiedlichen Abtastintervallen 1103 des Emissionsspektrums wird die Mischung aller Farben aufgenommen. Diese Messung kann sowohl als spektraler Scan (mehr als 4 Abtastintervalle) oder als Mehrfarbbild (z. B. pro Farbstoff ein Bild) durchgeführt werden. Die spezifischen Abtastintervalle 1105, 1106 und 1107 sind als grau hinterlegte Flächen dargestellt. In Fig. 6b sind die Signalanteile, die zur Diskriminierung des ersten und des zweiten Emissionsspektrums 1101 und 1102 herangezogen werden schraffiert gezeichnet. Liegen das erste und das zweite Emissionsspektrum 1101 und 1102 weiter auseinander, kommen eventuell mehr Laserlinien für die Beleuchtung zum Einsatz, wobei der Rest des Verfahrens unberührt bleibt. Hier wird die Wellenlänge des Beleuchtungslichts im wesentlichen nur verändert, um das Absorptionsspektrum überhaupt zu treffen.
  • Der Kerngedanke der Erfindung geht auf die direkte Erfassung von Bildern auf der Basis von χiex, λem) zurück. Hierzu wird gezielt die Wellenlänge λex der Beleuchtung und die Wellenlängenbereiche λem der Detektionsbänder variiert, um eine optimale Diskrimination der in die Probe eingebrachten Farbstoffe zu erhalten. Durch die Nutzung einer Weißlichtquelle mit einem Mechanismus zur spektralen Selektion des breitbandigen Beleuchtungssystems 1 wird die volle Erfassung der Funktion χiex, λem) möglich, die exakte Vorhersagen über die Farbstoffkombinationen ermöglicht. In Fig. 7a ist die Beleuchtung der Probe mit einer ersten Wellenlänge, die durch die gestrichelte Linie 1004 in der graphischen Darstellung 1000 des Absorptionsspektrums in Fig. 7a dargestellt ist. Ferner ist die Beleuchtung der Probe mit einer zweiten Wellenlänge, die durch die gestrichelte Linie 1006 im Absorptionsspektrum dargestellt ist. Die Beleuchtung mit der ersten Wellenlänge erzeugt eine ganz andere spektrale Antwort als die Beleuchtung mit der zweiten Wellenlänge. Es ist selbstverständlich, dass die Beleuchtung nicht auf zwei unterschiedliche Wellenlängen beschränkt sein muss. In Fig. 7b ist das Ergebnis einer Abtastung eines des ersten und des zweiten Emissionsspektrums 1101 und 1102 dargestellt. Durch Anregung der Probe mit dem Laserlicht, das durch den Blitz 1005 (siehe Fig. 7a) dargestellt ist, erhält man das in Fig. 7b erste Emissionsspektrum 1101, das in der gleichen Schraffur gekennzeichnet ist wie der Blitz 1005. Ebenso erhält man durch Anregung der Probe mit dem Laserlicht, das durch den Blitz 1003 (siehe Fig. 7a) dargestellt ist, das in Fig. 7b zweite Emissionsspektrum 1102, das in der gleichen Schraffur gekennzeichnet ist, wie der Blitz 1003. Durch sequentielle Ausführung kann man durch systematische Scans (reguläre Abtastpunkte und konstante Breiten der Abtastintervalle sowohl auf der Anregung als auf der Emissionsseite) bei gleichzeitiger Verstellung der Beleuchtungswellenlänge für jeden einzelnen Pixel eine Funktion I(λex, λem) abtasten, die alle Eigenschaften des Fluoreszenzfarbstoffs beinhaltet und direkt proportional zu χiex, λem) ist.
  • In Fig. 8 sind die unterschiedlichen Beleuchtungs- und Detektionsbänder für zwei verschiedene Farbstoffe dargestellt. Auf der Ordinate ist die Wellenlänge λex der Beleuchtung und auf der Abszisse ist die Wellenlänge λem der Emission aufgetragen. Die notwendige Genauigkeit mit der diese Funktion abgetastet wird, hängt hierbei vom Experiment ab und bewirkt eine Variation der Beleuchtungs- und Detektionsbänder 1203 und 1204, wobei der Kerngedanke der Erfindung unbeeinflusst bleibt. Da es sich bei der Wellenlänge λex der Beleuchtung und der Wellenlänge λem der Emission um Wellenlängenbereiche handelt, sind die Beleuchtungs- und Detektionsbänder 1203 und 1204 als Flächen in Fig. 8 repräsentiert. Bei Kenntnis von χiex, λem) kann man die Beleuchtungs- und Detektionsbänder 1203 und 1204 so wählen, dass die Unterscheidung von Farbstoffen optimiert ist. Hierzu wird - in Abhängigkeit des realen Mikroskopaufbaus (Anzahl Detektoren. . .) - ein Satz Flächen auf der (λex, λem) Ebene bestimmt deren Kanten die Beleuchtungs- und Detektionsbänder 1203 und 1204 definiert. In dem hier dargestellten Ausführungsbeispiel ist einen erster Farbstoff in der Probe, der ein erstes Übertragungsspektrum 1201 und ein zweiter Farbstoff in der Probe, der ein zweites Übertragungsspektrum 1202 aufweist, dargestellt. In Abhängigkeit von der a priori bekannten Farbstoffinformation (erstes und zweites Übertragungsspektrum 1201 und 1202) kann man in Abhängigkeit von den Farbstoffen ein irreguläres Muster von Abtastrechtecken innerhalb der Emissions-Absorptions-Ebene angeben, die bereits genügend Information bereitstellen, um die Proben und Farbstoffe auseinander zu halten. Als erste Heuristik zur Allokation dieser Detektionskonfigurationen für Zweifach Färbungen kann man Differenzen der Emissions- und Absorptionsspektren bestimmen und dieser einer Schwellwertprüfung unterziehen. Auf diese Weise lassen sich zusammenhängende Spektralbereiche auf der Emissions- und Absorptionsachse bestimmen, die ein Maximum an Informationsausbeute zur Diskriminierung der Farbstoffe ermöglichen. Bei Mehrfachfärbungen lassen sich ähnliche Algorithmen auf der Basis der linearen Algebra und der statistischen Diskriminanzanalyse herleiten, die gleichzeitig das Mischverhalten auf der Emissions- und Anregungsseite modellieren und ideale Einstellungen liefern. Das Prinzip ist gleich, nur der mathematisch zugrunde liegende Formalismus etwas komplizierter und umfangreicher.
  • Eine besondere Art der Systemkonfiguration erhält man, wenn man den interessierenden Gegenstand vollständig scannt, d. h. die Funktion χiex, λem) komplett mit hinreichender Genauigkeit scannt. Dann kann man auf der Basis eines numerischen Algorithmus die Beleuchtungs- und Detektionsbänder so setzen, dass sie optimal sind. Ansätze hierzu sind Entropiebasierte oder Diskriminanzanalyse Verfahren, welche die Fläche unter den Rechtecken bewerten, wobei die Flächen bezüglich dieser so definierten Güte optimiert werden.
  • Auch spezielle Datendarstellungen als Bild oder als 2S D Plot (wie er in Materialstudien üblich ist) sind sinnvoll, um den Experimentator die aufgenommene Information χiex, λem) darzustellen.
  • Die so gewonnen Daten sind für eine Weiterverarbeitung mit Dekorrelationsalgorithmen - wie in US- 5,791,024 offenbart - stark geeignet, da diese die zusätzliche Information optimal herausfiltern und redundante Information unterdrücken.
  • Die Erfindung wurde in bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen. Des Weiteren wurde die Erfindung für den vereinfachten Fall zweier Spektren beschrieben, wobei dem Fachmann hinreichend klar ist, dass der wahre Wert der Erfindung für mehr Farbstoffe erreicht wird. Bezugszeichenliste 1 Beleuchtungssystem
    3 Beleuchtungslichtstrahl
    5 Umlenkmittel
    6 Beleuchtungspinhole
    7 Scanmodul
    8 mikrostrukturiertes Element
    9 Scanspiegel
    10 Laser
    12 Scanoptik
    13 Mikroskopoptik
    15 Objekt
    17 Detektionslichtstrahl
    18 Detektionspinhole
    20 SP-Modul
    23 Rechnersystem
    31 Prisma
    32 aufgespaltener Lichtfächer
    33 Fokussieroptik
    34 Spiegelblendenanordnung
    35 Spiegelblendenanordnung
    36 Detektor
    37 Detektor
    40 erster Schieber
    41 zweiter Schieber
    44 erster Motor
    45 zweiter Motor
    50 gepulster Lichtstrahl
    51 Fokussieroptik
    52 Zoomoptik
    54 Gehäuse
    55 Lichtaustrittsöffnung
    56 spektral verbreitertes Licht
    60 erster Port
    61 zweiter Port
    62 dritter Port
    63 erstes akustooptisches Bauteil
    64 Gehäuse
    65 Umlenkspiegel
    66 Strahlfalle
    67 optisches Kompensationselement
    68 weiteres akustooptisches Bauteil
    69 erster Spiegel
    70 zweiter Spiegel
    100 Scanmikroskop
    1000 graphische Darstellung
    1001 erstes Absorptionsspektrum
    1002 zweites Absorptionsspektrum
    1003 Blitz (Beleuchtung durch Laserlicht)
    1004 gestrichelte Linie (erste Wellenlänge)
    1005 Blitz (Beleuchtung durch Laserlicht)
    1006 gestrichelte Linie (zweite Wellenlänge)
    1100 graphische Darstellung
    1101 erstes Emissionsspektrum
    1102 zweites Emissionsspektrum
    1103 Abtastintervall
    1105 spezifisches Abtastintervall
    1106 spezifisches Abtastintervall
    1107 spezifisches Abtastintervall
    1201 Übertragungsspektrum (erster Farbstoff)
    1202 Übertragungsspektrum (zweiter Farbstoff)
    1203 Beleuchtungs-/Detektionsband
    1204 Beleuchtungs-/Detektionsband

Claims (14)

1. Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
a) Erzeugen eines Beleuchtungslichtstrahls (3) wobei das erzeugte Beleuchtungslicht einen kontinuierlichen Wellenbereich im Spektrum umfasst;
b) Selektion eines kontinuierlichen Teilwellenbereichs aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts;
c) Einstellen der Detektionseinheit auf einen ausgewählten Teilwellenbereich;
d) Durchführen eines Bild- oder Volumenaufnahmeprozesses; und
e) Verarbeitung der aufgenommenen Bilddaten durch einen Algorithmus zur Datenanalyse und graphische Darstellung der analysierten Daten.
2. Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop, nach Anspruch 1 gekennzeichnet durch: Selektion eines kontinuierlichen Teilwellenbereichs aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts durch den Benutzer; und Einstellen der Detektionseinheit auf den ausgewählten Teilwellenbereich durch den Benutzer.
3. Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop, nach Anspruch 1 gekennzeichnet durch: Selektion eines kontinuierlichen Teilwellenbereichs aus dem kontinuierlichen Wellenlängenbereichs des Beleuchtungslichts durch einen Computeralgorithmus; und Einstellen der Detektionseinheit auf ein ausgewähltes Teilwellenbereich durch einen Computeralgorithmus.
4. Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop, nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
a) Systematische Veränderung der zur Beleuchtung herangezogenen Teilwellenbereiche;
b) Durchführung eines Punkt, Linien, Bild, oder Volumenaufnahmeprozesses;
c) Pixelweise Rekonstruktion der Anregungs- /Emissionscharacteristik χ(λex, λem)
d) Visualisierung der Anregungs-/Emissionscharacteristik χ(λex, λem)
5. Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralscanmikroskop, nach Anspruch 3 oder 4, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte:
a) sequentielles Aufnahmen der Anregungs- /Emissionscharakteristiken χ(λex,, λem) einzelner Farbstoffe;
b) Ablagen der aufgenommenen Anregungs- /Emissionscharakteristiken χ(λex, λem) in einem Speicher, einer Datenbank oder eines Files. und
c) Bestimmung optimaler Beleuchtungs- und Detektionsbereiche durch einen Computeralgorithmus,
6. Spektralscanmikroskop mit einem Beleuchtungssystem (1), das einen Beleuchtungslichtstrahl (3) aussendet, einem Mittel (5) zur spektralen Selektion des Beleuchtungslichtstrahls (3), mindestens einen spektralen konfigurierbaren Detektor (36, 37), gekennzeichnet dadurch, dass ein Rechnersystem (23) vorgesehen ist, das eine Speicher und eine Datenbank umfasst, und dass in Verbindung mit dem Rechnersystem (23) und/oder der Datenbank mit dem spektralen Selektionsmittel (5) aus einem kontinuierlichen Wellenlängenbereich ein kontinuierlicher Teilwellenbereich auswählbar ist, um ein Objekt (15) zu beleuchten und dass in Verbindung mit dem Rechnersystem (23) und/oder der Datenbank mit dem spektralen Selektionsmittel (5) aus dem Detektionslichtstrahl (17) ein Detektionsband auswählbar ist.
7. Spektralscanmikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Beleuchtungssystem (1) eine Weißlichtquelle umfasst.
8. Spektralscanmikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Weißlichtquelle aus einem Laser (10) besteht, der einen gepulsten Lichtstrahl (50) aussendet, und dass der gepulste Lichtstrahl in ein mikrostrukturiertes optisches Element (8) eingekoppelt ist.
9. Spektralscanmikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das mikrostrukturierte optisches Element (8) aus Photonic-band- Gap-Material besteht.
10. Spektralscanmikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das mikrostrukturierte optisches Element (8) aus einem Lichtleiter besteht, der mit einer Querschnittsverjüngung versehen ist.
11. Spektralscanmikroskop nach 6 dadurch gekennzeichnet dass die Weißlichtquelle aus einer Bogenlampe besteht.
12. Spektralscanmikroskop nach 6, dadurch gekennzeichnet dass das Mittel zur spektralen Selektion ein AOTF ist.
13. Spektralscanmikroskop nach 6 dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens eine spektral konfigurierbare Detektor (36, 37) ein SP Modul ist.
14. Spektralscanmikroskop nach 6, dadurch gekennzeichnet dass der spektral konfigurierbare Detektor auf der Basis eines Gratings und eines Multi-Channel PMT aufgebaut ist.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7280203B2 (en) 2003-08-27 2007-10-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for setting a fluorescence spectrum measurement system for microscopy
US7282724B2 (en) 2003-11-26 2007-10-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and system for the analysis of co-localizations
US7319520B2 (en) 2003-08-27 2008-01-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for separating fluorescence spectra of dyes present in a sample
US8294897B2 (en) 2008-10-10 2012-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for imaging a sample using a microscope, and microscope and data storage center
DE102012007609A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Weitbereichsspektrometer
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7508507B2 (en) * 2004-10-12 2009-03-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Device for selecting and detecting at least two spectral regions of a light beam
US7519253B2 (en) 2005-11-18 2009-04-14 Omni Sciences, Inc. Broadband or mid-infrared fiber light sources
JP4933878B2 (ja) * 2006-11-07 2012-05-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
ITPD20080374A1 (it) * 2008-12-19 2010-06-20 Optical Electronic Solutions S R L Duplicatore ottico d'immagine con autocompensazione della distorsione sferica.
US9103721B2 (en) * 2011-04-07 2015-08-11 Uwm Research Foundation, Inc. High speed microscope with spectral resolution
JP6603403B2 (ja) * 2015-08-31 2019-11-06 ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. 分光顕微鏡及びその方法
JP6768289B2 (ja) * 2015-12-01 2020-10-14 キヤノン株式会社 走査型顕微鏡
CN109313326B (zh) * 2016-05-19 2021-09-17 株式会社尼康 显微镜
EP3538941A4 (de) 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York Schnelles hochauflösendes bildgebungsverfahren für grosse proben
WO2019236549A1 (en) * 2018-06-08 2019-12-12 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Near infra-red light sheet microscopy through scattering tissues
EP4211508A4 (de) * 2020-09-14 2024-10-23 Singular Genomics Systems Inc Verfahren und systeme zur mehrdimensionalen bildgebung

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3720822A (en) 1971-01-29 1973-03-13 Xenotech Inc Xenon photography light
US5117466A (en) * 1991-04-30 1992-05-26 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Integrated fluorescence analysis system
DE4330347C2 (de) * 1993-09-08 1998-04-09 Leica Lasertechnik Verwendung einer Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls
DE19510102C1 (de) * 1995-03-20 1996-10-02 Rainer Dr Uhl Konfokales Fluoreszenzmikroskop
WO1997046865A1 (en) * 1996-06-04 1997-12-11 Tencor Instruments Optical scanning system for surface inspection
US5651167A (en) 1996-07-18 1997-07-29 Jovanovich; Radomir M. Side-actuated clip
DE19829944C2 (de) * 1998-07-04 2002-03-28 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration eines Fluoreszenz-Laserscanmikroskops
US6097870A (en) * 1999-05-17 2000-08-01 Lucent Technologies Inc. Article utilizing optical waveguides with anomalous dispersion at vis-nir wavelenghts
DE10006800A1 (de) 2000-02-15 2001-08-16 Leica Microsystems Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens eines Spektralbereichs eines spektral aufgefächerten Lichtstrahls
DE20122782U1 (de) * 2000-06-17 2007-11-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung
EP1164402B1 (de) * 2000-06-17 2010-04-28 Leica Microsystems CMS GmbH Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung und optisches Bauelement für ein Scanmikroskop mit mehrbandiger Beleuchtung
DE10115589B4 (de) * 2000-06-17 2020-07-30 Leica Microsystems Cms Gmbh Konfokales Scanmikroskop
US6658183B1 (en) * 2000-10-20 2003-12-02 Lucent Technologies Inc. Process for fabricating tapered microstructured fiber system and resultant system

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7280203B2 (en) 2003-08-27 2007-10-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for setting a fluorescence spectrum measurement system for microscopy
US7319520B2 (en) 2003-08-27 2008-01-15 Leica Microsystems Cms Gmbh Method for separating fluorescence spectra of dyes present in a sample
US7282724B2 (en) 2003-11-26 2007-10-16 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and system for the analysis of co-localizations
US8294897B2 (en) 2008-10-10 2012-10-23 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Method for imaging a sample using a microscope, and microscope and data storage center
DE102012007609A1 (de) * 2012-04-05 2013-10-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optisches Weitbereichsspektrometer
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop

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