DE10223937A1 - Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben - Google Patents

Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben Download PDF

Info

Publication number
DE10223937A1
DE10223937A1 DE2002123937 DE10223937A DE10223937A1 DE 10223937 A1 DE10223937 A1 DE 10223937A1 DE 2002123937 DE2002123937 DE 2002123937 DE 10223937 A DE10223937 A DE 10223937A DE 10223937 A1 DE10223937 A1 DE 10223937A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
single crystal
silicon single
crystal rod
aid
sawing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE2002123937
Other languages
English (en)
Inventor
Christian Ovesny
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siltronic AG
Original Assignee
Wacker Siltronic AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wacker Siltronic AG filed Critical Wacker Siltronic AG
Priority to DE2002123937 priority Critical patent/DE10223937A1/de
Publication of DE10223937A1 publication Critical patent/DE10223937A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0058Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
    • B28D5/0082Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for supporting, holding, feeding, conveying or discharging work

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Fixierung und Lösung einer Sägehilfe an einem Siliciumeinkristallstab, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindung der Sägehilfe mit dem Siliciumeinkristallstab aus mindestens zwei Schichten besteht.

Description

  • Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Fixierung und Lösung einer Sägehilfe an einem Siliciumeinkristallstab.
  • Üblicherweise wird ein Siliciumeinkristallstab in mehreren Arbeitsschritten in Siliciumscheiben zerteilt. Zur Montage und Führung in Sägen werden Sägehilfen, wie beispielsweise Druckstücke oder Sägeleisten, vorzugsweise aus Graphit, Glas, Epoxidharz, gepresstem Aluminiumoxid, Gips oder Ton, am Siliciumeinkristallstab fixiert. Druckstücke werden beispielsweise auf der Kreisfläche und Sägeleisten auf der Mantelfläche des Siliciumeinkristallstabes angebracht. Druckstücke dienen zur Führung des Siliciumeinkristallstabes in der Säge, während die Sägeleiste das Sägewerkzeug nach dem vollständigen Abtrennen der Siliciumeinkristallscheibe auf Grund ihrer zum Siliciumeinkristall ähnlichen Härte abfängt und somit verhindert, dass das Sägewerkzeug den Sägekanal ruckartig verlässt. Als Sägen für das Abschneiden von Scheiben kommen dabei beispielsweise Innenlochsägen oder Drahtsägen zum Einsatz. Weiterhin werden Sägehilfen zum Abtrennen von Endkonen bzw. Anschnittscheiben von Siliciumeinkristallstäben bzw. beim Zerteilen von Siliciumeinkristallstäben in Stabstücke eingesetzt.
  • Der Siliciumeinkristall wird mit den Sägehilfen mittels eines Klebers, wie beispielsweise Reaktionsklebstoffe auf der Basis von Epoxidharz-, Phenolharz-, Acrylharz-, Cyanacrylat- oder Polyesterharzformulierungen, verbunden. Nach dem Sägen haften an den Siliciumeinkristallstäben bzw. an den Siliciumscheiben Reste der Sägehilfen und Kleberreste, die in einem weiteren Arbeitsgang entfernt werden müssen.
  • Die Entfernung geschieht zum Teil in Lösungsmittelbädern oder auch mechanisch. Dazu werden die Scheiben mit den anhaftenden Resten der Sägehilfen in Lösungsmittel, vorzugsweise organische Lösungsmittel, die beispielsweise Trichlorethylen oder Aceton enthalten, gelegt, um die Klebeverbindungen zu trennen. Bei erhöhter Temperatur diffundieren dabei Verunreinigungen der verwendeten Lösungsmittel in den Halbleiterkristall ein und verändern dessen Eigenschaften.
  • In einem anderen Verfahren wird der aufgesägte Einkristall längere Zeit in einem Wasserbad bei erhöhter Temperatur gelagert. Die Sägehilfen werden anschließend mechanisch von den Siliciumeinkristallstäben bzw. Siliciumscheiben heruntergebrochen. Hierbei sind aber mechanische Verletzungen und metallische Kontamination der Siliciumeinkristalle unvermeidlich.
  • In DE 37 11 262 A1 ist ein Verfahren beschrieben, in dem nach dem Sägevorgang an Halbleiterscheiben verbleibende Reste von Sägehilfsmitteln wie z.B. Schneidleisten mit Hilfe von wässrigen Carbonsäurelösungen, insbesondere wässriger Ameisensäure entfernt werden. Dazu werden die Scheiben mit einer wässrigen, 0,5 bis 70%igen Lösung einer oder mehrerer 1 bis 6 Kohlenstoffatome enthaltenden Carbonsäure mit einer Temperatur von 20 bis 100°C in Kontakt gebracht und mit dieser bis zur Trennung der Verbindung zwischen Scheibe und Sägehilfsmittelrest in Kontakt gehalten.
  • Mit steigender Konzentration der Carbonsäuren verkürzt sich die Einwirkungszeit bis zum Ablösen der Sägehilfe- und Kleberreste von den gesägten Teilen. Höhere Konzentrationen sind wegen der Geruchsbelästigung, des erhöhten Entzündungsrisikos und der Kosten ausgeschlossen, so dass höhere Temperaturen angewendet werden müssen, um die Einwirkzeiten wirtschaftlich gestalten zu können. Dies führt jedoch zu erhöhten Verlusten und Gefährdungen durch abdampfende Carbonsäuren. Zur Steigerung der Effizienz des Ablösens der Rückstände ist es daher notwendig, mehrere beheizte Bäder hintereinander zu schalten. Die Siliciumscheiben werden hierfür in Prozesshorden bereitgestellt, die nach dem Schneidprozess zusammengestellt werden müssen. Eine direkte Rückkopplung zur Güte des Sägeprozesses wird durch die zeitliche Verzögerung des Zugangs zu den gereinigten Scheiben, die erst nach der Reinigung einer Vermessung zur Verfügung stehen, nicht möglich.
  • Die Aufgabe der Erfindung war es, ein Verfahren zur Entfernung von Sägehilfsmittelresten von Siliciumeinkristallstäben bzw. -scheiben zur Verfügung zu stellen, mit dessen Hilfe Sägehilfsmittel- und Klebstoffreste schnell und rückstandsfrei sowie wirtschaftlich entfernt, jedoch die beschriebenen Nachteile des Stands der Technik vermieden werden können.
  • Gelöst wurde die Aufgabe durch ein Verfahren zur Fixierung und Lösung einer Sägehilfe an einem Siliciumeinkristallstab, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Verbindung des Siliciumeinkristallstabs zur Sägehilfe aus mindestens zwei Schichten besteht und die Verbindung nach dem Sägen mittels einer wässrigen Tensidlösung gelöst wird.
  • Als erfindungsgemäße Verbindung zwischen Sägehilfe und Siliciumeinkristallstab kommen dabei vorzugsweise Zweischichtverklebungen mittels eines durch wässrige Tensidlösungen leicht löslichen Klebers als Trennschicht auf dem Siliciumeinkristallstab und eines Epoxidharzklebers als Trägermaterial für die Sägehilfe in Frage.
  • Weiterhin ist ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe unter Verwendung einer Sägehilfe, die mit Hilfe einer erfindungsgemäßen Zweischichtverklebung am Siliciumeinkristallstab angebracht wurde, Gegenstand der Erfindung.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren entfällt der bisher notwendige Einsatz von organischen Lösemitteln bzw. wässrigen Lösungen von Carbonsäuren zum Lösen der Sägehilfe- und Kleberreste von den Sägeprozessprodukten vor der weiteren Verwendung vollständig. Dadurch wird es möglich, den Vorgang des Ablösens der Sägehilfe- und Kleberreste von den Sägeprozessprodukten in den automatisierten Ablauf des Sägens einzubinden, da, im Gegensatz zu den bisher üblichen, nur mittels organischen Lösemitteln bzw. wässrigen Lösungen von Carbonsäuren löslichen Verklebungen, die erfindungsgemäßen Verklebungen mit wässrigen Tensidlösungen rückstandsfrei entfernt werden können. Derartige Tensidlösungen sind in Prozessautomaten ohne gesonderte Ablufttechnik und Explosionsschutz uneingeschränkt einsetzbar. Durch die Verwendung der Tensidlösungen zum Ablösen der Verklebungsreste wird zusätzlich eine Reinigung der Siliciumscheiben erzielt.
  • Eine Ausführungsform (1) der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass eine Schicht des mittels wässriger Tensidlösung leicht löslichen Klebers (2) auf den Siliciumeinkristallstab (1) aufgebracht wird. Auf die getrocknete Schicht des mittels wässriger Tensidlösung leicht löslichen Klebers (2) wird eine Schicht eines Reaktionsklebstoffs auf der Basis von Epoxidharz-, Phenolharz-, Acrylharz-, Cyanacrylat- oder Polyesterharzformulierungen (3) aufgetragen. Anschließen wird der Siliciumeinkristallstab (1) mit der Reaktionsklebstoffschicht (3) auf die Sägehilfe (4), vorzugsweise aus Graphit, Glas, Epoxidharz, gepresstem Aluminiumoxid, Gips oder Ton, aufgesetzt wird, wodurch nach dem Vernetzen der Reaktionsklebstoffschicht (3) eine feste Verbindung zwischen dem Siliciumeinkristallstab (1) und der Sägehilfe (4) entsteht. Die erfindungsgemäße Verbindung der Sägehilfe (4) mit dem Siliciumeinkristallstab (1) mittels einer Zweischichtverklebung weist eine ausreichende Festigkeit auf, so dass die Verbindung der Sägehilfe (4) mit dem Siliciumeinkristallstab (1) gegen die deformierenden Kräfte während des Sägeprozesses standhält und nicht bricht. Weiterhin weist die Schicht des mittels wässriger Tensidlösung leicht löslichen Klebers (2) eine ausreichende Haftung auf dem Siliciumeinkristallstab (1) sowie eine ausreichende Härte auf, dass die Festigkeit der Zweischichtverklebung gegeben ist.
  • Zur erfindungsgemäßen Zweischichtverklebung kann für die Schicht (2) jeder in wässriger Tensidlösung lösliche Kleber eingesetzt werden, der eine ausreichende Haftung auf dem Siliciumeinkristallstab, eine ausreichende Härte sowie Festigkeit der getrockneten Schicht aufweist, so dass die Verbindung Sägehilfe zum Siliciumeinkristallstab während des Sägeprozesses nicht bricht. Weiterhin darf ein erfindungsgemäßer mittels wässriger Tensidlösung löslicher Kleber keine chemische Reaktion mit dem Reaktionsklebstoff eingehen. Eine bevorzugte Ausführungsform sind beispielsweise Dispersionen oder Lösungen von Polyvinylacetatpulvern oder Mischungen davon. Besonders bevorzugt sind Polyvinylacetat-Copolymere, die in Wasser oder Alkoholen mit 1 bis 12 Kohlenstoffatomen dispergiert oder gelöst werden. Der mittels wässriger Tensidlösung lösliche Kleber wird mit einer Schichtdicke von 10 •m bis 10 mm, vorzugsweise 25–100 •m, auf dem Siliciumeinkristallstab aufgetragen. Das Trocknen der Schicht des mittels wässriger Tensidlösung löslichen Klebers kann vorzugsweise durch Wärme beschleunigt werden. Besonders bevorzugt wird hierzu Infrarotstrahlung eingesetzt, die auf der Oberfläche Temperaturen von 25 bis 100°C, bevorzugt 30 bis 45°C. erzeugen kann, um Trocknungszeiten von 30 Sekunden bis 30 Minuten, bevorzugt 2 bis 7,5 Minuten zu erzielen.
  • Als Reaktionsklebstoffe für die erfindungsgemäße Zweischichtverklebung können beispielsweise Reaktionsklebstoffe auf der Basis von Epoxidharz-, Phenolharz-, Acrylharz-, Cyanacrylat- oder Polyesterharzformulierungen eingesetzt werden. Die Reaktionsklebstoffe werden bevorzugt auf die getrocknete Schicht des mittels wässriger Tensidlösung löslichen Klebers aufgetragen und diese anschließend auf die Sägeleiste aufgelegt. Durch die Vernetzung des Reaktionsklebstoffs erfolgt die feste Verbindung zwischen Sägehilfe und Siliciumeinkristallstab. Das Vernetzen der Reaktionsklebstoffe wird bevorzugt durch Wärme unterstützt. Besonders bevorzugt erfolgt die Vernetzung in Öfen, wie beispielsweise Paternosteröfen, mit Temperaturen von 30 bis 120°C, bevorzugt 30 bis 50°C.
  • Nach dem Sägeprozess werden die Reste der Sägehilfe sowie der Verklebung mittels einer wässrigen Tensidlösung vom Siliciumeinkristall entfernt. Da die mittels wässriger Tensidlösung lösliche Kleberschicht direkt auf dem Silicium einkristall aufgetragen ist, werden die Reste rückstandsfrei vom Silicium entfernt. Die Tenside werden ausgewählt aus der Gruppe enthaltend anionische, nichtionische, kationische, amphotere und blockcopolymere Tenside. Besonders bevorzugt werden anionische Tenside verwendet. Die Tenside werden in wässrigen Lösungen enthaltend 0,1 bis 10, bevorzugt 0,3 bis 2 Gewichtsprozent Tensid eingesetzt. Nach einer ersten Einwirkzeit von 10 Sekunden bis 10 Minuten, bevorzugt 30 Sekunden bis 2 Minuten, im Tauchbad enthaltend eine wässrige Tensidlösung können eventuell noch anhaftende Sägehilfereste mittels mechanischer Unterstützung entfernt werden. Die Verbindung der Sägehilfereste zum Siliciumeinkristall ist nach dem Tauchbad bereits zu großen Teilen angelöst bzw. meist gelöst. In den wenigen verbleibenden Fällen ist es vorteilhaft, die Sägehilfereste mechanisch abzusteifen. Anschließend erfolgt vorzugsweise ein zweites Tauchbad für 1 Sekunde bis 5 Minuten, bevorzugt 1 bis 30 Sekunden, in die wässrige Tensidlösung. Bevorzugt wird das Lösen in der wässrigen Tensidlösung durch Ultraschall unterstützt, da sich die Einwirkzeiten derart halbieren lassen. Weiterhin bevorzugt hat die Tensidlösung im Tauchbad eine Temperatur von 25 bis 100°C, bevorzugt 80 bis 90°C.
  • Die vorliegende Erfindung ist für alle Sägeanwendungen zum Abtrennen von Stücken oder Scheiben von Siliciumeinkristallstäben geeignet. Bevorzugt ist das erfindungsgemäße Verfahren bei der Herstellung von Siliciumscheiben jeden Durchmessers geeignet.
  • In einem Ausführungsbeispiel wird auf der Oberfläche eines 200 mm-Siliciumeinkristallstabs ein 10 cm breiter Streifen längs zur Achse des Siliciumeinkristallstabs eines Vinylacetat-Crotonaldehyd-Copolymeren, gelöst mit 20 Gewichtsprozent in Ethanol, mit einer Schichtdicke von 30 μm aufgetragen und mittels Infrarotstrahlung, die eine Oberflächentemperatur von 30°C erzeugt, innerhalb von 2 Minuten getrocknet. Danach wird auf die getrocknete Schicht des Vinylacetat-Crotonaldehyd-Copolymeren auf der Oberfläche des Siliciumeinkristallstabs ein selbstaushärtender Zweikomponentenkleber auf Epoxidharzbasis in Raupenform mit anschließender Schichtdicke von ca. 3 mm aufgetragen. Der Siliciumeinkristallstab mit der Vinylacetat-Crotonaldehyd-Copolymeren und dem aufgetragenem Epoxidharz wird auf eine Graphitsägeleiste aufgelegt und angedrückt. Die Zweischichtklebeverbindung wird in einem Paternosterofen bei 40°C in 2 Stunden vernetzt. Die Sägeleiste ist nun mit dem Siliciumeinkristallstab fest verbunden. Der Siliciumeinkristallstab wird mittels einer Innenlochsäge in Siliciumscheiben zerteilt. Nachdem eine Siliciumscheibe abgetrennt wurde, wird die Siliciumscheibe 1 Minute in ein Ultraschallbad getaucht, das eine 1 gewichtsprozentige Lösung eines alkalischen Tensids (Puraton®, ICB GmbH & Co., Berlin) in Wasser enthält. Die Temperatur des wässrigen Tensidlösung beträgt 90°C. Eventuell noch anhaftende Sägeleistenreste werden anschließend mittels eines an die Siliciumscheibenrundung angepassten Schiebers mechanisch entfernt. Die restlichen eventuell noch anhaftenden Kleberreste werden in einem zweiten Tauchgang im selben Ultraschalltauchbad innerhalb von 2 Sekunden rückstandsfrei entfernt. Die Schritte des Sägens und der Reinigung sind automatisiert in direkter Folge hintereinander geschaltet. Zusätzlich ist das Vermessen der gesägten und gereinigten Siliciumscheiben sowie das einordnen in eine Rotte in den automatisierten Prozess integriert. Somit wird bereits 2 Minuten nach dem Sägen durch das Ergebnis des Vermessens eine direkte Rückkopplung zum Sägeprozess am Ort des Sägeprozesses erhalten.

Claims (10)

  1. Verfahren zur Fixierung und Lösung einer Sägehilfe an einem Siliciumeinkristallstab, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindung des Siliciumeinkristallstabs zur Sägehilfe aus mindestens zwei Schichten besteht und die Verbindung nach dem Sägen mittels einer wässrigen Tensidlösung gelöst wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindung des Siliciumeinkristallstabs zur Sägehilfe aus einer Schicht eines mit einer wässrigen Tensidlösung leicht löslichen Klebers und einer Schicht eines Reaktionsklebstoffes auf der Basis von Epoxidharz-, Phenolharz-, Acrylharz-, Cyanacrylat- oder Polyesterharzformulierungen besteht.
  3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass a) ein mit einer wässrigen Tensidlösung leicht löslicher Kleber auf den Siliciumeinkristallstab aufgetragen wird, b) die Schicht des mit einer wässrigen Tensidlösung leicht löslichen Klebers mittels einer auf der Oberfläche eine Temperatur von 25 bis 100°C erzeugenden Wärmestrahlung getrocknet wird, c) auf die getrocknete Schicht des mit einer wässrigen Tensidlösung leicht löslichen Klebers ein Reaktionsklebstoff auf der Basis von Epoxidharz-, Phenolharz-, Acrylharz-, Cyanacrylat- oder Polyesterharzformulierungen aufgetragen wird, d) der Siliciumstab mit dem noch nicht ausgehärteten Reaktionsklebstoff an der Sägehilfe fixiert wird und e) der Reaktionsklebstoff bei einer Temperatur von 30 bis 120°C vernetzt wird.
  4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der mit einer wässrigen Tensidlösung leicht lösliche Kleber Polyvinylacetat enthält.
  5. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der mit einer wässrigen Tensidlösung leicht lösliche Kleber a) eine ausreichende Härte der getrockneten Kleberschicht, b) eine ausreichende Haftung auf dem Siliciumeinkristallstab sowie c) eine ausreichende Festigkeit der Verklebung während des Sägeprozesses gewährleistet und d) keine chemische Reaktion mit dem Reaktionsklebstoff eingeht.
  6. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der mit einer wässrigen Tensidlösung leicht lösliche Kleber mit einer Schichtdicke von 10 μm bis 10 mm auf den Siliciumeinkristallstab aufgetragen wird.
  7. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass nach dem Sägeprozess die Sägehilfe mittels einer 0,1 bis 10 Gewichtsprozent Tensid enthaltenden wässrigen Lösung bei einer Temperatur von 25 bis 100°C vom Siliciumeinkristallkörper entfernt wird.
  8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Entfernen der Sägehilfe nach dem Sägeprozess mittels Ultraschall unterstützt wird.
  9. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Entfernen der Sägehilfe nach dem Sägeprozess mechanisch unterstützt wird.
  10. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Sägen des Siliciumeinkristallstabs das Entfernen der Endkappen, das Zerteilen des Siliciumeinkristallstabs oder das Schneiden in Siliciumscheiben mittels Innenlochsäge oder Drahtsäge ist.
DE2002123937 2002-05-29 2002-05-29 Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben Ceased DE10223937A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002123937 DE10223937A1 (de) 2002-05-29 2002-05-29 Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002123937 DE10223937A1 (de) 2002-05-29 2002-05-29 Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10223937A1 true DE10223937A1 (de) 2004-01-15

Family

ID=29723076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2002123937 Ceased DE10223937A1 (de) 2002-05-29 2002-05-29 Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10223937A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009040109A1 (de) * 2007-09-24 2009-04-02 Schott Ag Verfahren zur herstellung von wafern aus ingots
DE102009040503A1 (de) * 2009-08-31 2011-03-03 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Herstellung von Wafern
DE102013205563A1 (de) 2013-03-28 2013-06-06 Siltronic Ag Verfahren zum Fixieren eines Kristalls auf einer Sägeleiste

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3711262A1 (de) * 1987-04-03 1988-10-13 Wacker Chemitronic Verfahren und mittel zum entfernen von saegehilfsmittelresten von scheiben
US5154873A (en) * 1989-12-11 1992-10-13 Naoetsu Electronics Company Method and apparatus for mounting slice base on wafer of semiconductor
US5922137A (en) * 1996-06-29 1999-07-13 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd. Method of producing a semiconductor wafer and a cleaning apparatus for the same
US6006736A (en) * 1995-07-12 1999-12-28 Memc Electronic Materials, Inc. Method and apparatus for washing silicon ingot with water to remove particulate matter
US6074442A (en) * 1994-10-28 2000-06-13 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method of separating slice base mounting member from wafer and jig adapted therefor
US6119673A (en) * 1998-12-02 2000-09-19 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Wafer retrieval method in multiple slicing wire saw

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3711262A1 (de) * 1987-04-03 1988-10-13 Wacker Chemitronic Verfahren und mittel zum entfernen von saegehilfsmittelresten von scheiben
US5154873A (en) * 1989-12-11 1992-10-13 Naoetsu Electronics Company Method and apparatus for mounting slice base on wafer of semiconductor
US6074442A (en) * 1994-10-28 2000-06-13 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method of separating slice base mounting member from wafer and jig adapted therefor
US6006736A (en) * 1995-07-12 1999-12-28 Memc Electronic Materials, Inc. Method and apparatus for washing silicon ingot with water to remove particulate matter
US5922137A (en) * 1996-06-29 1999-07-13 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd. Method of producing a semiconductor wafer and a cleaning apparatus for the same
US6119673A (en) * 1998-12-02 2000-09-19 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Wafer retrieval method in multiple slicing wire saw

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009040109A1 (de) * 2007-09-24 2009-04-02 Schott Ag Verfahren zur herstellung von wafern aus ingots
DE102009040503A1 (de) * 2009-08-31 2011-03-03 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Herstellung von Wafern
DE102013205563A1 (de) 2013-03-28 2013-06-06 Siltronic Ag Verfahren zum Fixieren eines Kristalls auf einer Sägeleiste

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006035402B4 (de) Demontageverfahren und Wiederverwendungsverfahren eines Trägermaterial-Halterungselements
EP2795669B1 (de) Biegsame substrathalterung, vorrichtung und verfahren zum lösen eines ersten substrats
DE102010021764B4 (de) Verfahren zur Niedertemperatur Drucksinterverbindung zweier Verbindungspartner
EP1384255B1 (de) Verfahren zum rückseitenschleifen von wafern
WO2004051708A2 (de) Verfahren und vorrichtung zum bearbeiten eines wafers sowie wafer mit trennschicht und trägerschicht
WO2011026570A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum ablösen eines halbleiterwafers von einem trägersubstrat
DE2846398A1 (de) Verfahren zum zertrennen einer halbleiterplatte in mehrere plaettchen
DE112013000980B4 (de) Verfahren zum temporären Verbinden eines Produktsubstrats mit einem Trägersubstrat sowie ein entsprechender Verbund
DE10223937A1 (de) Zweischichtverklebung von Sägehilfen auf Siliciumeinkristallstäben
DE112006003839T5 (de) Verfahren zur Herstellung eines dünnen Halbleiter-Chips
WO2005083779A1 (de) Rückseitenbeschichteter, dünner halbleiterchip und verfahren zu seiner herstellung
DE10256247A1 (de) Schichtverbund aus einer Trennschicht und einer Schutzschicht zum Schutze und zum Handling eines Wafers beim Dünnen, bei der Rückseitenbeschichtung und beim Vereinzeln
EP0285090B1 (de) Verfahren zum Entfernen von Sägehilfsmittelresten von Scheiben
DE102015113421B4 (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterchips
EP2263825B1 (de) Verfahren zur herstellung von werkstücken aus einer materialplatte
DE102006009394A1 (de) Mehrlagenschichtsystem mit einer Schicht als Trennschicht zum Trägern von dünnen Wafern bei der Halbleiterherstellung
DE10340409B4 (de) Trägerwafer und Verfahren zum Bearbeiten eines Halbleiterwafers unter Verwendung eines Trägerwafers
DE102013012225A1 (de) Verfahren zur TEM-Lamellen-Herstellung und Anordnung für TEM-Lamellen-Schutzvorrichtung
DE10301245A1 (de) Verfahren zum Bearbeiten eines Werkstücks an einem Werkstückträger
DE2608427C2 (de) Verfahren zum Aufkitten von Halbleiterscheiben
DE10308860B4 (de) Verfahren zum Vereinzeln von Halbleiterscheiben mit frei liegenden mikromechanischen Strukturen zu Chips
EP2471627B1 (de) Verfahren zur Herstellung von mechanischen Werkstücken aus einer Platte aus monokristallinem Silizium
EP3201944B1 (de) Kombiniertes waferherstellungsverfahren mit einer mehrkomponentenaufnahmeschicht
DE102006048800B4 (de) Mehrlagenschichtsystem mit hartem Träger zum Trägern von dünnen Wafern bei der Halbleiterherstellung
DE19743349A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiterchips

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: SILTRONIC AG, 81737 MUENCHEN, DE

8131 Rejection