-
Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung der im Oberbegriff des Anspruchs 1
genannten Art.
-
Leiterplatten tragen elektrische Schaltungen und sind auf einem isolierenden, z. B.
aus Kunststoff bestehenden Plattensubstrat mit Leiterbahnen versehen. Im
bestückten Endzustand tragen sie mit den Leiterbahnen verlötete elektronische
Bauelemente, wie z. B. ICs. Solche Leiterplatten müssen ein- oder mehrfach getestet
werden, z. B. einmal in unbestücktem und einmal in bestücktem Zustand. Dazu
werden Testvorrichtungen verwendet.
-
Gattungsgemäße Testvorrichtungen weisen Einrichtungen zum Halten einer
Leiterplatte während des Tests auf sowie wenigstens eine Testplatte, die parallel zur
Leiterplatte angeordnet ist. Soll eine Leiterplatte gleichzeitig von beiden Seiten
getestet werden, so ist zu beiden Seiten der Leiterplatte je eine Testplatte
angeordnet.
-
Die Testplatten sind je nach verwendetem Testverfahren auf ihrer der Leiterplatte
zugewandten Seite mit Testeinrichtungen bestückt. Es kann sich dabei um Nadeln
zum elektrischen Kontaktieren von Kontaktpunkten auf der Leiterplatte handeln
oder beispielsweise auch um optische Testeinrichtungen oder um Sensoren
anderer Art. Die auf der Testplatte vorgesehenen Testeinrichtungen können an
geeigneten Stellen zum Testen eines bestimmten Leiterplattentyps fest vorgesehen sein
oder auch in der Ebene der Testplatte verfahrbar, um nacheinander bestimmte zu
testende Stellen an der Leiterplatte anzufahren. Die Testeinrichtungen, wie
insbesondere Nadeln, können auch zum Kontaktieren in Richtung auf die Leiterplatte
verfahrbar angeordnet sein. In häufig verwendeter Ausführung sind alle Nadeln
gemeinsam gegen die Leiterplatte vorschiebbar, beispielsweise durch Bewegung
einer alle Nadeln tragenden Nadelplatte gegen einen Rahmen der Testplatte.
Vorteilhaft bei derartigen Testvorrichtungen ist die hohe Testgeschwindigkeit.
-
Bei solchen Testvorrichtungen müssen die Testplatten häufig gewartet werden.
Bestehen die Testeinrichtungen aus Nadeln, so müssen diese gewechselt werden,
weil sie z. B. verbogen oder abgenutzt sind und nicht mehr korrekt kontaktieren.
Bei einer Umstellung auf einen anderen Leiterplattentyp muß die Anordnung der
Testeinrichtungen verstellt oder müssen diese gewechselt werden. Alle diese
Wartungsarbeiten erfordern eine Zugangsmöglichkeit zu der der Leiterplatte
zugewandten Seite einer Testplatte.
-
Werden Leiterplatten nur einseitig mit einer Testplatte getestet, so ist diese
zumeist oberhalb der Leiterplatte angeordnet, wobei die der Leiterplatte
zugewandte, mit Testeinrichtungen bestückte Seite der Testplatte nach unten liegt.
Der zu Wartungszwecken erforderliche Zugang zu der nach unten liegenden, mit
Testeinrichtungen bestückten Seite der Testplatte ist naturgemäß schwierig. Ein
Mechaniker muß überkopf arbeiten.
-
Bei einer Testvorrichtung zum beidseitigen Testen einer Leiterplatte mit zwei zu
beiden Seiten der Leiterplatte angeordneten Testplatten ist der Zugang zu den mit
Testeinrichtungen bestückten Seiten der beiden Testplatten, die gegeneinander
gerichtet sind, noch zusätzlich durch die in geringen Abstand gegenüberliegende
Testplatte erschwert. Es muß in einem schmalen Schacht gearbeitet werden.
-
Es ist daher häufig erforderlich, die Testplatte komplett auszubauen, um sie in
Anordnung in einer bequemen Zugangslage besser bearbeiten zu können. Dazu
sind jedoch umfangreiche Demontagearbeiten erforderlich. Außerdem sind
gegebenenfalls die komplexen elektrischen Verbindungen zu dem angeschlossenen
Testcomputer zu lösen.
-
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Testvorrichtung der
eingangs genannten Art zu schaffen, bei der die Testplatten zu Wartungs- und
Reparaturarbeiten besser zugänglich sind.
-
Diese Aufgabe wird mit Merkmalen des Anspruches 1 gelöst.
-
Erfindungsgemäß ist die Testplatte im Bereich ihres Randes schwenkbar gelagert.
Sie kann somit ohne Kollision mit der Leiterplatte oder deren
Halterungseinrichtungen um die Achse geschwenkt werden bis in eine Winkelposition, bei der ihre
mit Testeinrichtungen bestückte Seite bequem zugänglich ist, z. B. in bequemster
Weise von oben. Der Ausbau der Testplatte zur Erleichterung der Wartung ist
nicht erforderlich. Es muß lediglich eine vorzugsweise vorgesehene Arretierung
der Testplatte gelöst und diese in eine bequemen Zugang gebende
Schwenkposition verschwenkt werden. Vorzugsweise flexibel mitschwenkend vorgesehene
Anschlußkabel zum Testcomputer brauchen nicht gelöst zu werden. Wartungs-
und Justierungsarbeiten an der Testplatte werden dadurch erheblich vereinfacht
und beschleunigt.
-
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung, die im einzelnen noch anhand der
nachfolgenden Zeichnungsbeschreibung diskutiert werden, ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
-
In der Zeichnung ist die Erfindung beispielsweise und schematisch dargestellt, es
zeigen:
-
Fig. 1 eine Seitenansicht einer Testvorrichtung und
-
Fig. 2 eine Seitenansicht einer Testvorrichtung in anderer Ausführungsform.
-
Fig. 1 zeigt eine Testvorrichtung mit einem Rahmen 1, der auf dem Boden 2
aufgestellt ist und der mit Aufnahmen 3 und 4 eine zu testende Leiterplatte 5
aufnimmt, welche im dargestellten Beispiel der Testvorrichtung waagerecht gehalten
ist. Die Leiterplatte 5 kann mit nicht dargestellten Einrichtungen gegen die
nächste zu testende Leiterplatte gewechselt werden, beispielsweise mittels
automatisch arbeitender Zu- und Abführeinrichtungen.
-
Oberhalb und unterhalb der Leiterplatte 5 und parallel zu dieser sind eine untere
Testplatte 6 und eine obere Testplatte 7 angeordnet. Die untere Testplatte 6 ist
mit dem Rahmen 1 mit einer Halterung 8 fest verbunden. Es können weitere
Halterungen zur festen Lagerung der unteren Testplatte vorgesehen sein.
-
Die obere Testplatte 7 ist an ihrem einen Rand um eine Achse 9 schwenkbar
gelagert und kann, wie mit dem Pfeil dargestellt, um 180° in die gestrichelte Lage
geschwenkt und dort mit nicht dargestellten Mitteln gehalten werden. Weiter
nicht dargestellt sind Arretiereinrichtungen, die die obere Testplatte 7 in der mit
ausgezogenen Linien dargestellten Lage parallel zur Leiterplatte 5 sichert. Dazu
kann beispielsweise das Schwenklager an der Achse 9 arretierbar ausgebildet sein
oder es kann eine Arretiereinrichtung im Bereich der Aufnahme 3 vorgesehen
sein, die mit dem gegenüberliegenden Rand der oberen Testplatte 7 in lösbaren
Eingriff bringbar ist.
-
Beide Testplatten sind auf ihrer der Leiterplatte 5 zugewandten Seite mit
Testeinrichtungen bestückt. Dabei kann es sich beispielsweise um Nadeln 10 handeln
oder um Einrichtungen 11 anderer Art, die z. B. als die Leiterplatte 5
betrachtende Objektive von Videokameras ausgebildet sind oder als Sensoren anderer Art,
wie z. B. Ultraschallsensoren oder dergleichen. Die Nadeln 10 können an den
Testplatten 6, 7 in Richtung auf die Leiterplatte 5 zur Kontaktfindung bewegbar
ausgebildet sein. Es können auch die Testplatten 6, 7 als umlaufender Rahmen
ausgebildet sein, in dem Nadelplatten in Richtung auf die Leiterplatte 5 bewegbar
gelagert sind.
-
An den Testeinrichtungen 10, 11 der Testplatten 6, 7 kann es zu Beschädigungen
oder sonstigen Ausfällen kommen, die deren Auswechslung erfordern. Ferner
sind Eingriffe an den Testeinrichtungen 10, 11 erforderlich, um diese in
bestimmte Positionen auf der Fläche der Testplatten 6, 7 zu justieren, die zu
entsprechenden Stellen der zu testenden Leiterplatte 5 fluchten. Solche
Justiermaßnahmen sind z. B. erforderlich, wenn auf das Testen einer Leiterplatte anderen
Typs ungerüstet werden muß.
-
Zu solchen Wartungsarbeiten muß an die der Leiterplatte 5 zugewandten Seiten
der Testplatten 6, 7 zugegriffen werden. In der in Fig. 1 dargestellten
Arbeitsstellung der beiden Testplatten ist dies offensichtlich schwierig, da in einem
schmalen Spalt zwischen den Testplatten gearbeitet werden muß.
-
Bei Wartungsarbeiten wird daher, wie Fig. 1 zeigt, die obere Testplatte 7 um die
Achse 9 in die gestrichelt dargestellte Lage geschwenkt und dort auf geeignete
Weise gesichert. Auch die Leiterplatte 5 wird entfernt. Nun sind beide Testplatten
6, 7 von oben in bequemer Arbeitsstellung an ihren mit Testeinrichtungen 10, 11
bestückten Flächen zugänglich.
-
Fig. 2 zeigt eine Ausführungsvariante, bei der dieselben Bezugszeichen wie in
der Fig. 1 verwendet werden. Erkennbar besteht hier derselbe Grundaufbau. Im
Unterschied zur Ausführungsform der Fig. 1 sind lediglich die Leiterplatte 5 und
die beiden Testplatten 6, 7 in ihrer Arbeitsstellung vertikal angeordnet. Bei der
Ausführungsform der Fig. 2 sind beide Testplatten 6, 7 um die Achsen 9
schwenkbar angeordnet, so daß sie um jeweils 90° nach links bzw. rechts in die
gestrichelt dargestellte Lage bringbar sind, bei der ihre mit Testeinrichtungen - im
Falle der Fig. 2 sind nur Nadeln 10 dargestellt - versehenen Testplatten 6, 7 von
oben gut zugänglich sind.
-
Weist eine einfachere Testeinrichtung der Bauart gemäß Fig. 1 nur die untere
Testplatte 6 auf, so wäre eine Schwenklagerung nicht erforderlich. Testet die
Testvorrichtung jedoch von oben nur mit der Testplatte 7, so wäre diese wie in
Fig. 1 dargestellt schwenkbar auszubilden.
-
Weist die Testvorrichtung der Fig. 2 in vereinfachter Ausführungsform nur eine
der beiden dargestellten Testplatten auf, so muß diese nicht unbedingt
schwenkbar ausgebildet sein, da sie in ihrer vertikal stehenden Lage nach Entfernen der
Leiterplatte 5 relativ gut von der Seite her zugänglich ist. Auch hierbei wäre es
allerdings vorzuziehen, die Testplatte schwenkbar zu lagern, um sie in eine
waagerechte Lage schwenken zu können, bei der ihre Testeinrichtungen von oben
zugänglich sind.
-
Diese Überlegungen gelten in ähnlicher Weise auch für Testvorrichtungen, bei
denen die Leiterplatten nicht horizontal oder vertikal, sondern in einer Schräglage
gehalten sind, auch dabei läßt sich mit schwenkbarer Anordnung der Testplatten
deren Zugänglichkeit bei der Wartung verbessern.