DE10217164B4 - Piezoelektrische Vorrichtung - Google Patents

Piezoelektrische Vorrichtung Download PDF

Info

Publication number
DE10217164B4
DE10217164B4 DE10217164A DE10217164A DE10217164B4 DE 10217164 B4 DE10217164 B4 DE 10217164B4 DE 10217164 A DE10217164 A DE 10217164A DE 10217164 A DE10217164 A DE 10217164A DE 10217164 B4 DE10217164 B4 DE 10217164B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
piezoelectric
elements
support
adaptation
piezoelectric element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10217164A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10217164A1 (de
Inventor
Wolfgang Mag. Dr. Wallnöfer
Josef Dr. Glaser
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AVL List GmbH
Original Assignee
AVL List GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AVL List GmbH filed Critical AVL List GmbH
Publication of DE10217164A1 publication Critical patent/DE10217164A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10217164B4 publication Critical patent/DE10217164B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/16Measuring force or stress, in general using properties of piezoelectric devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/26Auxiliary measures taken, or devices used, in connection with the measurement of force, e.g. for preventing influence of transverse components of force, for preventing overload
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/80Constructional details
    • H10N30/88Mounts; Supports; Enclosures; Casings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

Piezoelektrische Vorrichtung mit zumindest einem piezoelektrischen Element (2), welches in der Kontaktebene (4) zu zumindest einem Auflageelement (3) eine anisotrope thermische Ausdehnung aufweist, so dass in einer Richtung der Kontaktebene ein maximaler Ausdehnungsunterschied zwischen dem piezoelektrischen Element (2) und dem Auflageelement (3) besteht, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem piezoelektrischen Element (2) und dem Auflageelement (3) mindestens ein Anpassungselement (5) angeordnet ist, dessen anisotrope thermische Ausdehnung in der Ebene seiner beiden Kontaktflächen (6) – zumindest in der Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede – zwischen jener des piezoelektrischen Elementes (2) und des Auflageelementes (3) liegt.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine piezoelektrische Vorrichtung mit zumindest einem piezoelektrischen Element, welches in der Kontaktebene zu zumindest einem Auflageelement eine anisotrope thermische Ausdehnung aufweist, so dass in einer Richtung der Kontaktebene ein maximaler Ausdehnungsunterschied zwischen dem piezoelektrischen Element und dem Auflageelement besteht.
  • Bei der Verwendung von piezoelektrischen Kristallelementen, beispielsweise für piezoelektrische Messelemente (Sensoren) oder piezoelektrischen Ultraschallwandlern, kann an den Kontaktflächen zwischen dem Kristallmaterial und den angrenzenden Auflageelementen – beispielsweise zur Krafteinleitung bei Druckwandlern – eine nachteilige Querspannung auftreten, welche aus dem anisotropen Wärmedehnungsverhalten vieler Kristallmaterialien resultiert.
  • In einem Drucksensor, welcher den longitudinalen Piezoeffekt ausnützt, werden beispielsweise mehrere scheibenförmige piezoelektrische Elemente aufeinander gestapelt, wobei die kristallographische x-Achse parallel zur Flächennormale der einzelnen Elemente steht und auch die Krafteinleitung parallel zur x-Achse erfolgt. Die optische z-Achse spannt mit der y-Achse des Kristallelementes eine Ebene auf, welche parallel zu den Kontaktflächen ausgerichtet ist. Nun weist beispielsweise Quarz in der y- und der z-Achse verschiedene Ausdehnungskoeffizienten auf. Um Schubspannungen innerhalb eines Stapels piezoelektrischer Elemente zu vermeiden, werden gemäß AT 271.947 B alle Elemente so angeordnet, dass ihre y- und z-Achsen in die gleiche Richtung weisen, sich also decken. Da alle piezoelektrischen Elemente des Stapels aus dem gleichen Material bestehen und bezüglich ihrer Achsen gleich ausgerichtet sind, entsteht in dem zusammengesetzten Messelement keine Scher- bzw. Schubspannung aufgrund unterschiedlicher thermischer Ausdehnung in unterschiedlichen Achsrichtungen, allerdings werden derartige Spannungen dann hervorgerufen, wenn der Messelementstapel zwischen krafteinleitende Auflageelemente eingebaut wird. Aus der AT 271.947 B ist es nun bekannt, zwischen dem Messelementestapel und den Auflageelementen aus isotropem Material eine sogenannte Ableit- bzw. Deckplatte einzufügen, die aus dem selben Material wie die piezoelektrischen Elemente bestehen, welche allerdings durch aufgedampfte Metallschichten elektrisch kurzgeschlossen sind. Dadurch können störende Ladungsanteile, hervorgerufen durch auftretende Quer- und Schubspannungen, weitgehend vermieden werden. Nachteilig bei dieser Art der Problemlösung ist allerdings die Tatsache, dass damit mechanische Spannungen, welche an den Kontaktflächen zu den thermisch isotropen Auflageelementen auftreten, nicht vermieden werden kön nen, was zu Rissbildungen und Zerstörungen angrenzender Schichten führen kann.
  • Die nachteiligen Eigenschaften der Anisotropie einiger Stoffwerte piezoelektrischer Kristalle, wie anisotrope Wärmedehnung oder Querdehnung wird auch in der DE 196 51 227 C behandelt. Bei Erwärmung und bei Druckbelastung dehnen sich an den Kontaktflächen das Messelement und das Auflager zumindest in einer Richtung unterschiedlich aus und es kommt daher zum reibungsbehafteten Gleiten der Teile aufeinander oder zu starken Verspannungen sowohl des Auflagers als auch des Messelementes, weil isotropes und anisotropes Material bestenfalls in einer Richtung dehnungsangepasst sein können. Meist wird daher das Material des Auflageelementes so gewählt, dass sein Wärmedehnungskoeffizient zwischen den jeweiligen Extremwerten des piezoelektrischen Kristallelementes gemessen in der Ebene der Berührungsflächen liegt, so dass auf diese Weise eine Beschränkung der Verspannungen bzw. der Gleitvorgänge erreicht werden kann. Zur Lösung des Problems schlägt nun die DE 196 51 227 C2 vor, das piezoelektrische Messelement oder die dem piezoelektrischen Messelement zugekehrten Endbereiche beider Auflager in mehrere stab-, rollen- oder stegförmige Elemente zu unterteilen. Weiters müssen die beiden Auflager und das piezoelektrische Messelement in Längsrichtung der stab-, rollen- oder stegförmigen Elemente normal auf die Richtung der Krafteinleitung im Wesentlichen dieselbe Wärmedehnung oder Querdehnung aufweisen. Die Bruchgefahr wird somit dadurch reduziert, dass entweder das piezoelektrische Element oder die beiden Auflageelemente in kleine Elemente unterteilt werden, um so in den einzelnen, verkleinerten Kontaktflächen die Dehnungsunterschiede und somit die sich aufbauenden Materialspannungen gering zu halten. Nachteiligerweise sind derartige Maßnahmen in der Herstellung sehr aufwendig bzw. für manche Anwendungsbereiche, wie etwa Resonatoren bzw. Ultraschallwandler, nicht zielführend anwendbar.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es geeignete Maßnahmen vorzuschlagen, um bei den eingangs beschriebenen piezoelektrischen Vorrichtungen, wie piezoelektrischen Messelementen oder Resonatoren die Belastungen im Kontaktbereich zwischen anisotropen, piezoelektrischen Messelementen und den Auflageelementen auf einfache Weise zu minimieren.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass zwischen dem piezoelektrischen Element und dem Auflageelement mindestens ein Anpassungselement angeordnet ist, dessen anisotrope thermische Ausdehnung in der Ebene seiner beiden Kontaktflächen zumindest in der Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede zwischen jener des piezoelektrischen Elementes und des Auflageelementes liegt.
  • Bei vielen Anwendungen bestehen Probleme hauptsächlich in einer Richtung der Kontaktebene, nämlich in jener mit dem maximalen Ausdehnungsunterschied zwischen dem meist isotropen Auflager und dem thermisch anisotropen Messelement. Beispielsweise kann bei Quarz-Elementen meist ein passendes Auflageelement, beispielsweise aus einer Spezialstahllegierung, gewählt werden, dessen thermische Ausdehnung z.B. ungefähr jener entlang der kristallographischen y-Achse des piezoelektrischen Elementes entspricht. Die Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede ist in diesem Fall die Richtung der optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes. Durch Auswahl eines Anpassungselementes mit Ausdehnungskoeffizienten, welche zwischen jenen des piezoelektrischen Messelementes und dem Auflageelement liegen, wird die mechanische Belastung reduziert und die Bruchgefahr herabgesetzt.
  • Beispielsweise können Galliumorthophosphat-x-Plättchen als Messelemente mit Kaliumtitanylphosphat-z-Plättchen als Anpassungselementen kombiniert werden. Die Ausdehnungskoeffizienten α im Bereich 20 bis 100°C in den Kontaktebenen sind wie folgt:
    Figure 00030001
  • Die Ausdehnungsunterschiede zwischen GaPO4 und Stahl können somit durch ein Anpassungselement aus KTiO2PO4 sowohl in z- als auch in y-Richtung des piezoelektrischen Elementes im Wesentlichen halbiert werden. Es ist auch möglich nichtkristallines Material als Anpassungselement zu verwenden, beispielsweise kohlefaserverstärkte Stähle, welche bei gleichgerichteter Anordnung der Kohlefasern ein anisotropes Ausdehnungsverhalten zeigen.
  • In einer besonders vorteilhaften Ausführungsvariante der Erfindung ist vorgesehen, dass das Anpassungselement aus dem selben Kristallmaterial wie das piezoelektrische Element besteht, wobei die optische z-Achse des Anpassungselementes in Bezug auf die Kontaktflächen einen spitzen Winkel ϑ einschließt und wobei insbesondere die Projektion z' der optischen z-Achse des Anpassungselementes auf die Kontaktflächen des Anpassungselementes im Wesentlichen parallel oder antiparallel zur optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes ausgerichtet ist.
  • Vorteilhafterweise kann somit durch einen geeigneten Kristallschnitt aus dem Kristallmaterial des piezoelektrischen Elementes ein Anpassungselement hergestellt werden, dessen optische z-Achse – beispielsweise bei Ausnützung des longitudinalen Piezoeffektes – um die y-Achse gedreht wird, so dass die optische z-Achse des Anpassungselementes in Bezug auf dessen Kontaktflächen einen Winkel ϑ einschließt. Bevorzugt sollte die Projektion z' der optischen z-Achse des Anpassungselementes auf dessen Kontaktflächen parallel oder entgegengesetzt parallel zur optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes ausgerichtet sein, wobei allerdings Abweichungen um einige Winkelgrade zulässig sind.
  • Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass die erfindungsgemäßen Anpassungselemente in Abhängigkeit vom Winkel ϑ einen Beitrag zum Signal beispielsweise eines Drucksensors liefern können.
  • Wenn man mit αz den Ausdehnungskoeffizienten in Richtung der z-Achse und mit αx jenen in Richtung der kristallographischen x-Achse bezeichnet, so ergibt sich für den Ausdehnungskoeffizienten αz' (Ausdehnung in Richtung der Projektion z') folgender Zusammenhang: αz' = αzcos2ϑ + αxsin2ϑ (1)
  • Mit Hilfe von (1) lässt sich für konkrete Anwendungsbeispiele, bei welchen der Ausdehnungskoeffizient des isotropen Auflageelementes und jener des anisotropen piezoelektrischen Elementes bekannt sind, der Schnittwinkel ϑ für das Anpassungselement berechnen, um eine optimale Anpassung zu erreichen: sin2ϑ = (αz' – αz)/(αx – αz) (2)
  • Weiters ist es gemäß vorliegender Erfindung auch möglich, zwischen dem piezoelektrischen Element bzw. einem Stapel mehrerer piezoelektrischer Elemente und dem Auflageelement mehrere Anpassungselemente anzuordnen, wobei zwischen dem piezoelektrischen Element bzw. einem Stapel mehrerer piezoelektrischer Elemente und dem Auflageelement mehrere Anpassungselemente angeordnet sind, deren thermische Ausdehnung in Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede jeweils abgestuft ist, derart, dass die Ausdehnungsunterschiede zwischen jeweils aneinandergrenzenden Elementen möglichst minimiert sind. Hier kann mit Hilfe von (1) bzw. (2) die Anpassung der Unterschiede im Ausdehnungskoeffizient auf mehrere Anpassungselemente aufgeteilt werden, so dass der Ausdehnungsunterschied zwischen dem isotropen Auflageelement und der z-Richtung des piezoelektrischen Elementes auf beispielsweise drei Anpassungselemente aufgeteilt wird und die jeweiligen Schnittwinkel für die drei Anpassungselemente berechnet werden.
  • Bei Quarz-x-Plättchen als Messelemente M, mit um die y-Achse gedrehten x-Plättchen als Anpassungselemente A1 bis A3 ergeben sich folgende Drehwinkel ϑ für eine optimale Anpassung:
    Figure 00050001
  • Durch die gewählte Maßnahme kann der große Ausdehnungsunterschied in z-Richtung zwischen Quarz (7,5·10 6/K) und Stahl (14,0·10 6/K) auf vier relativ kleine Schritte von jeweils ca. 1,6·10 6/K aufgeteilt werden. Aufgrund der Kristallsymmetrie bei Quarz und GaPO4 ist die Ausdehnung in x- und y-Richtung exakt gleich groß.
  • Die erfindungsgemäßen Maßnahmen eignen sich sowohl für piezoelektrische Messelemente, bei welchen zwischen zwei krafteinleitenden Auflageelementen zumindest ein piezoelektrisches Element angeordnet ist, wobei zwischen jedem der Auflageelemente und dem zumindest einen piezoelektrischen Element zumindest ein Anpassungselement vorgesehen ist als auch für piezoelektrische Resonatoren bzw. Ultraschallwandler-Anordnungen, wobei zwischen einem piezoelektrischen Element und einem Auflageelement, in welches Ultraschallwellen eingestrahlt bzw. aus welchem Ultraschallwellen detektiert werden, zumindest ein Anpassungselement, vorzugsweise durch Kleben oder Löten, befestigt ist.
  • Die Erfindung wird im Folgenden anhand von schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen
  • 1 die erfindungsgemäße piezoelektrische Vorrichtung anhand eines piezoelektrischen Druckaufnehmers,
  • 2 eine Ausführungsvariante eines Druckaufnehmers mit mehreren Anpassungselementen,
  • 3 eine Variante des Messwandlers unter Ausnutzung des transversalen Piezoeffektes sowie
  • 4 die erfindungsgemäße Vorrichtung anhand einer Ultraschallwandler-Anordnung.
  • Der in 1 dargestellte piezoelektrische Druckaufnehmer 1 weist ein piezoelektrisches Element 2 auf, welches in Ausnützung des longitudinalen Piezoeffektes parallel zur kristallographischen x-Achse über das obere Auflageelement 3 mit der Kraft F beaufschlagt wird. Daraus resultiert am entgegengesetzten Auflageelement 3 eine Gegenkraft G. Das piezoelektrische Element 2 (z.B. aus GaPO4) weist in der Kontaktebene 4 eine anisotrope thermische Ausdehnung auf, welche in Richtung der optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes 2 einen maximalen Ausdehnungsunterschied im Hinblick auf die thermisch isotropen Auflageelemente 3 erreicht. Der thermische Ausdehnungskoeffizient des piezoelektrischen Elementes 2 in Richtung der kristallographischen y-Achse stimmt bevorzugt mit jenem der Auflageelemente 3 überein, kann aber auch geringfügig davon abweichen. Zur besseren Anpassung der thermischen Ausdehnung ist nun zu beiden Seiten des piezoelektrischen Elementes 2 in Zwischenlage zum jeweiligen Auflageelement 3 ein Anpassungselement 5 angeordnet. Jedes der Anpassungselemente 5 (z.B. aus GaPO4) weist zumindest in der Ebene seiner beiden Kontaktflächen 6 eine anisotrope thermische Ausdehnung auf, welche in der Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede (im dargestellten Beispiel in Richtung der z-Achse des piezoelektrischen Elementes 2) zwischen jener des piezoelektrischen Elementes 2 und des isotropen Auflageelementes 3 liegt.
  • Im vorliegenden Beispiel wird der Ausgleich der unterschiedlichen thermischen Ausdehnung mit Hilfe von Anpassungselementen 5 erreicht, deren optische z-Achse in Bezug auf die Kontaktflächen 6 um einen Winkel ϑ gekippt bzw. um die y-Achse gedreht ist. Die thermische Ausdehnung in Richtung der Projektion z' (Projektion der z-Achse auf die Kontaktfläche 6) liegt zwischen jener des piezoelektrischen Elementes 2 in Richtung z-Achse und jener der isotropen Auflage 3. Weiters ist die Projektion z' der optischen z-Achse des Anpassungselementes 5 parallel oder antiparallel zur optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes 2 ausgerichtet.
  • Die hier nicht weiter dargestellte Ladungsableitung erfolgt in bekannter Weise über an den Deckflächen des piezoelektrischen Elementes 2 angeordnete Elektroden (z.B. aufgedampfte Metallelektroden) und entsprechende Ableitungen.
  • Wie in 2 in einer seitlichen Ansicht dargestellt, können auch mehrere piezoelektrische Elemente 2 zu einem Stapel 7 zusammengefasst und zwischen Auflageelementen 3 angeordnet sein. Im Stapel 7 sind die einzelnen piezoelektrischen Elemente 2 so angeordnet, dass sich ihre z-Achsen decken bzw. die y-Achsen entgegengesetzt parallel ausgerichtet sind und somit innerhalb des Stapels keine Scher- bzw. Schubspannungen auftreten. Als Zwischenlage zu den beiden Auflageelementen 3 können auf beiden Seiten des Stapels 7 mehrere Anpassungselemente 5 angeordnet sein, welche um die Winkel ϑ1 ϑ2 und ϑ3 verdreht sind, um die thermischen Ausdehnungsunterschiede in z-Richtung stufenweise anzupassen. Zur Veranschaulichung sind jeweils die unterschiedliche Ausrichtung der x-Achsen sowie der optischen z-Achsen der Anpassungselemente 5 eingetragen.
  • Wie in 3 dargestellt, kann die Erfindung auch bei Druckaufnehmern 1 angewandt werden, die den transversalen piezoelektrischen Effekt ausnützen, d.h. die mechanische Spannung erzeugt eine dazu senkrecht stehende Polarisation, die durch seitliche Elektroden (nicht dargestellt) abgeleitet wird. Bei piezoelektrischen Kristallen der Punktgruppe 32, wie z.B. Quarz oder GaPO4, wird dazu eine Druckrichtung verwendet, die parallel zur kristallographischen y-Achse verläuft oder um die x-Richtung dagegen verdreht ist. Im dargestellten Fall liegen die x-Achse und die z-Achse des piezoelektrischen Elementes 2 in der Kontaktebene 4, sodass auch hier eine anisotrope thermische Ausdehnung in Bezug auf die Auflageelemente 3 (z.B. Spezialstahl mit einem isotropen Ausdehnungskoeffizienten von 8,6·10 6/K) vorliegt. Die beiden Anpassungselemente 5 bestehen ebenfalls aus GaPO4 und sind in diesem Fall zur Anpassung der Ausdehnungsunterschiede um die x-Achse gedreht (ϑ = 33°).
  • Schließlich wird in 4 das Beispiel eines Resonators bzw. Ultraschallwandlers 8 gezeigt, bei welchem zwischen dem piezoelektrischen Element 2 und dem Auflageelement 3 ein Anpassungselement 5 angeordnet ist. Das piezoelektrische Element 2 wird für die Abstrahlung A von Ultraschallwellen und die Detektion D reflektierter Ultraschallwellen verwendet. Dabei wird das piezoelektrische Element 2 einseitig direkt oder indirekt unter Zwischenlage zumindest eines Anpassungselementes 5 auf die zu untersuchende Struktur bzw. Auflage 3 aufgebracht, so dass ein guter akustischer Kontakt herrscht. Die Befestigung erfolgt z.B. durch Löten oder Kleben.
  • Für den Ultraschallwandler 8 können z.B. x-Plättchen aus Quarz oder GaPO4 als piezoelektrisches Element 2 verwendet werden.

Claims (7)

  1. Piezoelektrische Vorrichtung mit zumindest einem piezoelektrischen Element (2), welches in der Kontaktebene (4) zu zumindest einem Auflageelement (3) eine anisotrope thermische Ausdehnung aufweist, so dass in einer Richtung der Kontaktebene ein maximaler Ausdehnungsunterschied zwischen dem piezoelektrischen Element (2) und dem Auflageelement (3) besteht, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem piezoelektrischen Element (2) und dem Auflageelement (3) mindestens ein Anpassungselement (5) angeordnet ist, dessen anisotrope thermische Ausdehnung in der Ebene seiner beiden Kontaktflächen (6) – zumindest in der Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede – zwischen jener des piezoelektrischen Elementes (2) und des Auflageelementes (3) liegt.
  2. Piezoelektrische Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Anpassungselement (5) aus dem selben Kristallmaterial wie das piezoelektrische Element (2) besteht, wobei die optische z-Achse des Anpassungselementes (5) in Bezug auf seine Kontaktflächen (6) einen spitzen Winkel ϑ einschließt.
  3. Piezoelektrische Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Projektion z' der optischen z-Achse des Anpassungselementes (5) auf die Kontaktflächen (6) des Anpassungselementes im Wesentlichen parallel oder antiparallel zur optischen z-Achse des piezoelektrischen Elementes (2) ausgerichtet ist.
  4. Piezoelektrische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem piezoelektrischen Element (2) bzw. einem Stapel (7) mehrerer piezoelektrischer Elemente (2) und dem Auflageelement (3) mehrere Anpassungselemente (5) angeordnet sind, deren thermische Ausdehnung in Richtung der maximalen Ausdehnungsunterschiede jeweils abgestuft ist, derart, dass die Ausdehnungsunterschiede zwischen jeweils aneinandergrenzenden Elementen (2, 5, 3) möglichst minimiert sind.
  5. Piezoelektrische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4 für ein piezoelektrisches Messelement (1), wobei zwischen zwei krafteinleitenden Auflageelementen (3) zumindest ein piezoelektrisches Element (2) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen jedem der Auflageelemente (3) und dem zumindest einen piezoelektrischen Element (2) zumindest ein Anpassungselement (5) angeordnet ist.
  6. Piezoelektrische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3 dadurch gekennzeichnet, dass zur Realisierung eines piezoelektrischen Resonators oder Ultraschallwandlers (8) zwischen einem piezoelektrischen Element (2) und einem Auflageelement (3), in welches Ultraschallwellen eingestrahlt bzw. aus welchem Ultraschallwellen detektiert werden, zumindest ein Anpassungselement (5), vorzugsweise durch Kleben oder Löten, befestigt ist.
  7. Piezoelektrische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das piezoelektrische Element (2) und/oder das Anpassungselement (5) aus Quarz, Galliumphosphat (GaPO4), Kaliumtitanylphosphat (KtiO2PO4) oder Triglycinsulfat (TGS) bestehen.
DE10217164A 2001-04-23 2002-04-17 Piezoelektrische Vorrichtung Expired - Fee Related DE10217164B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT652/01 2001-04-23
AT0065201A AT409550B (de) 2001-04-23 2001-04-23 Piezoelektrische vorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10217164A1 DE10217164A1 (de) 2002-11-21
DE10217164B4 true DE10217164B4 (de) 2004-06-03

Family

ID=3678234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10217164A Expired - Fee Related DE10217164B4 (de) 2001-04-23 2002-04-17 Piezoelektrische Vorrichtung

Country Status (2)

Country Link
AT (1) AT409550B (de)
DE (1) DE10217164B4 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5895615B2 (ja) * 2012-03-09 2016-03-30 セイコーエプソン株式会社 センサーモジュール、力検出装置及びロボット
JP6248709B2 (ja) * 2014-03-04 2017-12-20 セイコーエプソン株式会社 力検出装置およびロボット
JP6432647B2 (ja) * 2017-07-10 2018-12-05 セイコーエプソン株式会社 センサー素子、力検出装置およびロボット
AT520086B1 (de) 2017-08-07 2019-01-15 Piezocryst Advanced Sensorics Piezoelektrische vorrichtung mit zumindest einem piezoelektrischen element

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT271947B (de) * 1964-12-10 1969-06-25 Kistler Instrumente Ag Piezoelektrischer Einbaukörper
DE19651227C2 (de) * 1995-12-15 2000-05-25 Avl List Gmbh Meßanordnung mit einem piezoelektrischen, anisotropen Meßelement

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT271947B (de) * 1964-12-10 1969-06-25 Kistler Instrumente Ag Piezoelektrischer Einbaukörper
DE19651227C2 (de) * 1995-12-15 2000-05-25 Avl List Gmbh Meßanordnung mit einem piezoelektrischen, anisotropen Meßelement

Also Published As

Publication number Publication date
AT409550B (de) 2002-09-25
DE10217164A1 (de) 2002-11-21
ATA6522001A (de) 2002-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0444173B1 (de) Vorrichtung zur feststellung und/oder überwachung eines vorbestimmten füllstandes in einem behälter
EP0449023B1 (de) Vorrichtung zur Feststellung und/oder Überwachung eines vorbestimmten Füllstands in einem Behälter
DE10154526A1 (de) Piezoelektrisches Stellelement
DE60018165T2 (de) Oszillationskreiselsensor und drehwinkelmessgerät
EP2031359B1 (de) Füllstandsmessvorrichtung zum Bestimmen und/oder Überwachen eines Füllstandes
EP0543006A1 (de) Vorrichtung zur feststellung und/oder überwachung eines vorbestimmten füllstandes in einem behälter.
DE4322144A1 (de) Vibratoreinheit
EP2992302B1 (de) Ultraschallwandler und ultraschall-durchflussmessgerät
EP0436532A1 (de) Drehschwingungsantrieb
DE2855746A1 (de) Piezoelektrischer dehnungsaufnehmer
DE602004009204T2 (de) Wandler zur Winkelgeschwindigkeitsmessung
CH664235A5 (de) Piezoelektrisches messelement.
CH670310A5 (de)
EP0987532B1 (de) Messvorrichtung zur Bestimmung des Gesamtanzugsmoments, des Kopfreibungsmoments und der Vorspannkraft einer angezogenen Schraubverbindung
DE10217164B4 (de) Piezoelektrische Vorrichtung
DE60309681T2 (de) Ausdehnungsmesssonde
DE4201360A1 (de) Einrichtung zur fuellstandsmessung
EP2543978B1 (de) Vorrichtung zur Kraftmessung an einem Messkörper
WO2014177411A1 (de) Ultraschallwandler und ultraschall-durchflussmessgerät
DE3038660A1 (de) Beschleunigungsaufnehmer mit piezoelektrischem wandlerelement
DE4417132C2 (de) Resonanter Meßwertaufnehmer und dessen Verwendung
DE3808481A1 (de) Vorrichtung zur feststellung eines bestimmten fuellstandes in einem behaelter
EP3149468B1 (de) Anordnung zur zerstörungsfreien werkstoffprüfung
EP0426814A1 (de) Sensor zur bestimmung der winkelgeschwindigkeit.
EP3837512A1 (de) Ultraschallschwingeinrichtung mit piezosensor

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: KATSCHER HABERMANN, PATENTANWAELTE, 64291 DARMSTADT

8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee