DE102019214759A1

DE102019214759A1 - Bereitstellen von Kompensationsparametern für integrierte Sensorschaltungen

Info

Publication number: DE102019214759A1
Application number: DE102019214759.3A
Authority: DE
Inventors: Benjamin Kollmitzer; Stephan Leisenheimer; Mario Motz; Bernhard Schaffer
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Infineon Technologies AG
Priority date: 2018-09-26
Filing date: 2019-09-26
Publication date: 2020-03-26
Anticipated expiration: 2039-09-27
Also published as: US12013259B2; CN110954152A; DE102019214759B4; US20200096363A1

Abstract

Eine Vorrichtung kann eine Sensorkennung bestimmen, die einer integrierten Sensorschaltung (Sensor-IC) entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist. Die Vorrichtung kann die Sensorkennung, die der Sensor-IC entspricht, bereitstellen. Die Vorrichtung kann basierend auf dem Bereitstellen der Sensorkennung Kompensationsparameterinformationen empfangen, die der Sensor-IC zugeordnet sind. Die Vorrichtung kann bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, welche dem Sendesystem zugeordnet ist. Der Satz von Kompensationsparametern kann einen oder mehrere Parameter umfassen, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind.

Description

Eine integrierte Sensorschaltung (Sensor-IC, Sensor Integrated Circuit) (wird manchmal auch als Sensorchip bezeichnet) ist ein Bauelement, das dazu verwendet werden kann, eine physikalische Eigenschaft zu messen und eine Ausgabe bereitzustellen, die einem Wert der Messung entspricht. Beispielsweise kann eine Sensor-IC dazu ausgestaltet sein, eine Temperatur, einen Betrag einer mechanischen Belastung, einen Druck, eine Versorgungsspannung, eine Stärke einer elektromagnetischen Feldkomponente und/oder dergleichen zu messen und eine Ausgabe (z. B. ein elektrisches Signal) bereitzustellen, die den Wert der Messung darstellt.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, Verfahren sowie ein oder mehrere Vorrichtungen mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch Verfahren gemäß Anspruch 1 und Anspruch 11 sowie durch ein oder mehrere Vorrichtungen gemäß Anspruch 17 gelöst.
Gemäß einigen möglichen Implementierungen kann ein Verfahren Folgendes umfassen: Bestimmen, durch eine Vorrichtung, einer Sensorkennung, die einer integrierten Sensorschaltung (Sensor-IC, Sensor Integrated Circuit) entspricht, welche einem System zugeordnet ist; Bereitstellen der Sensorkennung, die der Sensor-IC entspricht, durch die Vorrichtung; Empfangen von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, durch die Vorrichtung und basierend auf dem Bereitstellen der Sensorkennung; und Bewirken, durch die Vorrichtung, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, welche dem Sensorsystem zugeordnet ist, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind.
Gemäß einigen möglichen Implementierungen kann ein Verfahren folgende Schritte umfassen: Empfangen, durch eine Vorrichtung, einer Sensorkennung, die einer integrierten Sensorschaltung (Sensor-IC, Sensor Integrated Circuit) entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist; Bestimmen von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, durch die Vorrichtung und basierend auf der Sensorkennung; und Bereitstellen, durch die Vorrichtung, der Kompensationsparameterinformationen in Verbindung mit einem Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, die dem Sensorsystem zugeordnet ist, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind.
Gemäß einigen möglichen Implementierungen können eine oder mehrere Vorrichtungen einen oder mehrere Prozessoren umfassen, um eine Kennung zu bestimmen, die eine integrierte Schaltung (IC, Integrated Circuit) identifiziert, welche einem System zugeordnet ist; basierend auf der Kennung Kompensationsparameterinformationen erhalten, die der IC zugeordnet sind; basierend auf den Kompensationsparameterinformationen einen Satz von Kompensationsparametern bestimmen, die einer von der IC ausgeführten Korrekturmessung oder einem von der IC bereitgestellten Sicherheitsergebnis zugeordnet sind; und bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf einer Steuerung gespeichert wird, welche dem System zugeordnet ist.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

1A-1C sind Diagramme einer Beispielimplementierung zum Bereitstellen von Kompensationsparametern für integrierte Sensorschaltungen, wie hierin beschrieben ist.
2 ist ein Diagramm einer Bespielumgebung, in der hierin beschriebene Techniken und/oder Verfahren implementiert werden können.
3 ist ein Diagramm von Beispielkomponenten eines oder mehrerer Vorrichtungen aus 2.
4 ist ein Flussdiagramm eines Bespielprozesses zum Empfangen, basierend auf einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC eines Sensorsystems zugeordnet ist, von Kompensationsparameterinformationen, die einer Sensor-IC zugeordnet sind, und Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC zugeordnet sind, auf einer Steuerung des Sensorsystems gespeichert wird.
5 ist ein Flussdiagramm eines Beispielprozesses zum Bereitstellen, basierend auf einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC entspricht, von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind.
6A-6C sind Diagramme von Beispielkomponenten einer Sensor-IC, einer Steuerung und eines Sensorsystems, das eine oder mehrere Sensor-IC und eine Steuerung umfasst, wie hierin beschrieben ist.
7 ist ein Diagramm einer veranschaulichten Beispielimplementierung eines Sensorsystems aus 6C.

Die folgende ausführliche Beschreibung von Beispielimplementierungen bezieht sich auf die beigefügten Zeichnungen. Die gleichen Bezugszeichen in unterschiedlichen Zeichnungen können die gleichen oder ähnliche Elemente identifizieren.
Eine Sensor-IC ist im Allgemeinen nicht nur gegenüber einer physikalischen Eigenschaft, die die Sensor-IC quantisieren soll, sondern auch gegenüber anderen physikalischen Eigenschaften empfindlich. Beispielsweise sollte eine Magnetsensor-IC gegenüber einem Magnetfeld empfindlich sein (z. B. so dass die Sensor-IC eine Stärke des Magnetfeldes messen kann), kann jedoch auch gegenüber einer Temperatur empfindlich sein (z. B. so dass eine Ausgabe der Sensor-IC nicht nur von der Magnetfeldstärke, sondern auch von einer Umgebungstemperatur abhängt).
In einigen Fällen kann eine solche Kreuzabhängigkeit durch digitale Kompensation reduziert oder beseitigt werden. Um dies zu erreichen, sollte sowohl die physikalische Eigenschaft von Interesse als auch die andere physikalische Eigenschaft gemessen werden. im Fall der oben beschriebenen Magnetsensor-IC sollte sowohl die Magnetfeldstärke als auch die Umgebungstemperatur gemessen werden. Anschließend kann ein Algorithmus (einschließlich eines Satzes von mathematischen Operationen) unter Verwendung der gemessenen Werte der physikalischen Eigenschaften und eines oder mehrerer vordefinierter Parameter (manchmal als Kompensationsparameter oder Sensorkoeffizienten bezeichnet) ausgeführt werden, um den gemessenen Wert der physikalischen Eigenschaft von Interesse zu korrigieren.
In einigen Fällen kann der Algorithmus kompliziert sein und - falls dieser im digitalen Bereich implementiert ist - eine mathematische Verarbeitung beispielsweise unter Verwendung einer arithmetischen, logischen Einheit (ALU, Arithmetic Logical Unit), eines Digitalsignalprozessors (DSP), einer Mikrosteuerung (µC) und/oder einer anderen Art von Bearbeitungseinheit erfordern.
Im Allgemeinen quantifiziert der Satz von Kompensationsparametern nicht nur Kreuzabhängigkeiten, die der Sensor-IC zugeordnet sind, sondern wird auch dazu verwendet, eine Antwort der Sensor-IC zu korrigieren. Beispielsweise können ein möglicher Versatz der Sensor-IC (z. B. ein Ausgangssignal bei einem spezifischen externen Signal von Interesse), eine Empfindlichkeit der Sensor-IC, eine lineare Temperaturabhängigkeit der Sensor-IC, eine quadratische Abhängigkeit der Sensor-IC und/oder dergleichen durch den Satz von Kompensationsparametern beschrieben und entsprechend korrigiert werden.
Es gibt verschiedene Techniken, um einen geeigneten Satz von Kompensationsparametern für eine bestimmte Sensor-IC abzuleiten. So kann beispielsweise der Satz von Kompensationsparametern aus mathematischen Modellen der Sensor-IC, aus Messungen anderer Sensor-ICs, die der Sensor-IC ähneln (z. B. Sensor-ICs, die die gleiche Gestaltung aufweisen), aus Messungen der Sensor-IC selbst oder aus Kombinationen davon abgeleitet werden. Aufgrund einer hohen erreichbaren Parallelität sind oft effiziente Messungen während der Produktion der Sensor-IC auf einer Wafer-Ebene in der Front-End-Verarbeitung und/oder nach dem Packaging in der Back-End-Verarbeitung möglich.
Darüber hinaus müssen Sensor-ICs (oder andere ICs), die beispielsweise in einer Fahrzeuganwendung genutzt werden können, eine oder mehrere Sicherheitsanforderungen aus ISO 26262 erfüllen. Für eine solche Anwendung, bei der funktionelle Sicherheit erforderlich ist - und im Allgemeinen zur Erhöhung der Diagnoseabdeckung - können eine oder mehrere dedizierte Diagnosekomponenten (hier als Sicherheitsmechanismen (SMs)) in der Sensor-IC implementiert werden. Ein Zweck der SM besteht darin, einen Ausfall der Sensor-IC (oder eines in Beziehung stehenden Elementes) zu detektieren. Eine Sicherheitsschwelle, die einem bestimmten SM zugeordnet ist, kann dazu verwendet werden, um zwischen einer akzeptablen Leistung und einer inakzeptablen Leistung zu unterscheiden. Wenn beispielsweise ein von dem SM bestimmtes Ergebnis eine anwendbare Schwelle nicht erfüllt (z. B. außerhalb einer geltenden Sicherheitsgrenze liegt), dann wird ein Fehler detektiert und es kann bewirkt werden, dass das System in einen sicheren Zustand versetzt wird. Umgekehrt kann der Normalbetrieb fortgesetzt werden, wenn das durch den SM bestimmte Ergebnis die geltende Schwelle erfüllt (z. B. innerhalb der geltenden Sicherheitsgrenze liegt).
Als besonderes Beispiel kann ein SM in dem Fall eines 3D-Hall-Magnetsensors für Fahrzeuge implementiert werden, um einen Spin-Test auszuführen. Der Spin-Test misst einen Versatz von Hall-Sonden der Sensor-IC und einen Versatz eines Analog-Digital-Wandlers der Sensor-IC. In einer typischen Magnetsensormessung werden diese „rohen“ Versätze jedoch durch Zerhacken (Chopping) und/oder Strom-Spinning beseitigt. Dennoch können übermäßige Versatzdrifts Magnetsensormessungen aufgrund von Kappen (Clipping) der Sensorsignale beeinträchtigen (selbst bei Chopping und Strom-Spinning). Solche Versatzdrifts werden das Ergebnis des Spin-Tests also modifizieren und sind somit detektierbar. Mit anderen Worten kann der Spin-Test eine Diagnoseabdeckung für bestimmte Ausfälle der Hall-Sonden bereitstellen.
Ähnlich wie bei einer oben beschriebenen Sensor-IC selbst kann ein bestimmter SM der Sensor-IC durch physikalische Eigenschaften an oder in der Nähe der Sensor-IC beeinflusst werden, die für den SM nicht von Interesse sind. Daher müssen die entsprechenden Sicherheitsschwellen möglicherweise unbeabsichtigte Kreuzabhängigkeiten berücksichtigen, um beispielsweise Fehlalarme zu vermeiden. Dies reduziert die erreichbare Auflösung und Diagnoseabdeckung. Als besonderes Beispiel für den oben beschriebenen 3D-Hall-Magnetsensor ändert sich das Spin-Test-Ergebnis mit wechselnden Temperaturen. Im Vergleich zu Ergebnissen bei Zimmertemperatur muss eine Sicherheitsschwelle daher möglicherweise erweitert werden, um einen Betriebstemperaturbereich gerecht zu werden.
Wie bei anderen von einer bestimmten Sensor-IC bereitgestellten Messungen, kann ein von dem SM bereitgestelltes Ergebnis (im Folgenden als Sicherheitsergebnis bezeichnet) kompensiert werden. Zum Beispiel wäre die Nomenklatur zum Kompensieren eines SM (SM₁ ) für Änderungen der Temperatur (T) und der mechanischen Belastung (S) wie folgt: $S M_{1, c o m p} = f (S M_{1}, T, S; A)$
Wobei f eine Kompensationsfunktion bezeichnet und A einen oder mehrere SM-Kompensationsparameter darstellt (z. B. einen Vektor von Kompensationskoeffizienten), die einem Kompensieren einer Rohmessung durch den SM zugeordnet sind.
Abhängig von Sensor-IC und Sicherheitskonzepten könnten der eine oder die mehreren SM-Kompensationsparameter aus einem Satz von Kompensationsparametern abgeleitet werden, welche einem Sensorsignal von Interesse zugeordnet sind. Beispielsweise könnte der oben beschriebene Spin-Test des 3D-Hall-Magnetsensors eine ähnliche Temperaturabhängigkeit wie ein Restmagnetversatz zeigen. Typischerweise wird eine digitale Kompensation durch die Sensor-IC oder in einer externen Mikrosteuerung ausgeführt. Der eine oder die mehreren SM-Kompensationsparameter könnten während einer Charakterisierung und/oder Abtastwert-fein während der Produktion (z. B. im Frontend (FE) oder im Backend (BE)) bestimmt werden.
Eng mit der Leistung einer Sensor-IC verbunden ist die Frage der Verifizierung, dass ein Satz von Kompensationsparametern mit der jeweiligen Sensor-IC übereinstimmt. Dies kann in einem Fall trivial sein, in dem der Satz von Kompensationsparametern auf der Sensor-IC gespeichert ist (z. B. in einer Speicherkomponente der Sensor-IC), ist jedoch in einem Fall, in dem der Satz von Kompensationsparametern oder Kompensationsparameterinformationen (d. h. Informationen, aus denen der Satz von Kompensationsparametern bestimmt werden kann) an einer Stelle gespeichert ist, die physisch von der Sensor-IC getrennt ist, ein erhebliches Problem.
Ein weiteres Problem ist eine Fähigkeit, eine Sensor-IC zu authentifizieren (z. B. eine Fähigkeit, echte Sensor-ICs von manipulierten Sensor-ICs oder sogar gefälschten Sensor-ICs zu unterscheiden). Dies ist aufgrund der zunehmenden Präsens von Fahrerassistenzsystemen und autonomem Fahren besonders besorgniserregend, da elektrische und/oder elektronische Automobilsysteme, welche Sensor-ICs aufweisen, mehr und mehr Verantwortung übernehmen (z. B. da lediglich echten Sensor-ICs vertraut werden kann, gemäß einer Spezifizierung zu agieren). Um ein unangemessenes Risiko eines möglichen Ausfalles und/oder eine Unvorhersehbarkeit zu verhindern, ist daher eine Authentifizierung einer Sensor-IC empfehlenswert.
Üblicherweise wird ein Satz von Kompensationsparametern (einschließlich eines oder mehreren SM-Kompensationsparametern) auf einer Sensor-IC gespeichert, und eine Messkompensation sowie Sicherheitsergebniskompensation wird von der Sensor-IC ausgeführt. Dies kann erreicht werden, wenn die Sensor-IC zumindest eine einmalig programmierbare Speicherkomponente und ein Verarbeitungseinheit umfasst (z. B. eine ALU, ein DSP und/oder dergleichen). Jedoch erfordern die Speicherkomponente und die Verarbeitungseinheit aufgrund ihres Vorhandenseins auf der Sensor-IC eine bestimmte, nicht vernachlässigbare Chipfläche, was dazu führen kann, dass die Sensor-IC unerwünscht hohe Kosten, große Abmessungen und/oder eine hohe Komplexität aufweist. Ein alternativer Ansatz besteht darin, den Satz von Kompensationsparametern extern zu kalibrieren und zu speichern. Jedoch führt dieser Ansatz zu einem erheblichen Kalibrierungsaufwand in späten Produktionsstadien und ist daher unerwünscht.
Im Hinblick auf eine Authentifizierung einer bestimmten Sensor-IC stützt sich die Identifizierung einer gefälschten Sensor-IC typischerweise auf die Überprüfung einer Paketmarkierung, eines Versandaufklebers und/oder dergleichen. Daher ist der Authentifizierungsprozess schwierig zu automatisieren und fehleranfällig.
Einige hierin beschriebene Implementierungen stellen Techniken und Prozesse zum Speichern eines Satzes von Kompensationsparametern, die einer Sensor-IC eines Sensorsystems zugeordnet sind, auf einer Steuerung bereit, welche dem Sensorsystem zugeordnet ist, so dass die Steuerung eine Kompensation (z. B. eine Messkompensation, die einer physikalischen Eigenschaft von Interesse zugeordnet ist, eine Sicherheitsergebniskompensation, die einem auf der Sensor-IC implementierten SM zugeordnet ist und/oder dergleichen) auf der Basis von Rohdaten ausführen kann, die von der Sensor-IC bereitgestellt werden. Bei einigen Implementierungen wird der Satz von Kompensationsparametern basierend darauf auf der Steuerung gespeichert, dass derselbe aus einer Kompensationsparameterdatenstruktur erhalten wird, die auf einer Kompensationsparameterdatenvorrichtung gepflegt wird, die sowohl extern zu der Sensor-IC als auch zu dem Sensorsystem selbst ist. Daher muss die Sensor-IC nicht notwendigerweise eine Speicherkomponente, die dazu geeignet ist, den Satz von Kompensationsparametern zu speichern, oder eine Verarbeitungseinheit zum Korrigieren von Sensormessungen umfassen, wodurch Kosten, Größe und Komplexität der Sensor-IC reduziert werden. Ferner können Kompensationsparameterinformationen, die dem Satz von Kompensationsparametern zugeordnet sind, während der Produktion der Sensor-IC auf der externen Kompensationsparameterdatenvorrichtung gespeichert sein, wodurch ein Kalibrierungsaufwand in späteren Produktionsetappen der Sensor-IC reduziert wird (z. B. im Vergleich zu dem oben beschriebenen alternativen Ansatz).
Einige hierin beschriebene Implementierungen stellen ferner Techniken und Prozesse zur Verifizierung von Kompensationsparameterinformationen bereit. Während der Produktion einer Sensor-IC können beispielsweise erste Verifizierungsinformationen (z. B. ein Hash-Wert, der basierend auf einem oder mehreren Elementen von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, berechnet wird) auf der Sensor-IC gespeichert werden. Während der Produktion eines Sensorsystems, das die Sensor-IC umfasst, können hier zweite Verifizierungsinformationen basierend auf Kompensationsparameterinformationen bestimmt werden, die von der externen Kompensationsparameterdatenvorrichtung erhalten werden. Die ersten und die zweiten Verifizierungsinformationen können dann verglichen werden (z. B. um zu bestimmen, ob die ersten Verifizierungsinformationen mit den zweiten Verifizierungsinformationen übereinstimmen), wodurch eine Verifizierung, dass die empfangenen Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen, ermöglicht wird.
Einige hierin beschriebene Implementierungen stellen ferner Techniken und Prozesse zur Authentifizierung einer Sensor-IC bereit. Bei einigen Implementierungen kann beispielsweise ein erster Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist, während der Produktion der Sensor-IC in der Kompensationsparameterdatenstruktur auf der Kompensationsparameterdatenvorrichtung gespeichert werden. Ein zweiter Wert des PUF-Parameters kann unabhängig davon während der Produktion des Sensorsystems gemessen werden. Hier können der erste und der zweite Wert des PUF-Parameters verglichen werden (z. B. um zu bestimmen, ob der erste Wert der PUF mit dem zweiten Wert der PUF übereinstimmt), wodurch eine Sensor-IC-Authentifizierung auf automatische und zuverlässige Weise ermöglicht wird.
Zusätzliche Details im Hinblick auf die oben beschriebenen Aspekte sind im Folgenden bereitgestellt.
1A-1C sind Diagramme einer Beispielimplementierung zum Bereitstellen von Kompensationsparametern für Sensor-ICs, wie hierin beschrieben. Für die Zwecke von 1A werden Sensor-ICs in einer IC-Produktionsanlage produziert und Sensorsysteme (z. B. ein System, das eine oder mehrere Sensor-ICs, eine Steuerung (µC) und/oder andere Komponenten umfasst) werden in einer Systemproduktionsanlage produziert. Während die hierin beschriebenen Techniken und Prozesse im Kontext von Sensor-ICs beschrieben sind, ist zu beachten, dass diese Techniken und Prozesse in Verbindung mit jeglicher Art von IC angewendet werden können, für die eine Kompensation erforderlich ist. Mit anderen Worten sind die hierin beschriebenen Techniken und Prozesse nicht auf die Verwendung in Verbindung mit Sensor-ICs beschränkt, sondern können in Verbindung mit anderen Arten von ICs verwendet werden.
Wie in 1A gezeigt ist, wird eine Sensor-IC (z. B. ICx) in der IC-Produktionsanlage produziert. Die Sensor-IC kann eine oder mehrere Sensorkomponenten (z. B. eine oder mehrere Komponenten, die einem Messen einer physikalischen Eigenschaft zugeordnet sind), eine oder mehrere SM-Komponenten (z. B. eine oder mehrere Komponenten, die einem Feststellen einer Funktionssicherheit zugeordnet sind), eine Speicherkomponente (z. B. eine elektrisch löschbare programmierbare Nur-Lese-speicher Komponente (EEPROM, Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory Component)), einen Analog-Digital-Wandler (ADC, Analog-to-digital Converter), eine digitale Schnittstelle und/oder dergleichen umfassen. Wie in 1A gezeigt ist, kann die Speicherkomponente der Sensor-IC bei einigen Implementierungen eine Sensorkennung (z. B. IDx) speichern, die einem Identifizieren der Sensor-IC zugeordnet ist.
Bei einigen Implementierungen, wie in 1A gezeigt ist, kann ein Prozess 100 ausgeführt werden, um Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, auf einer Kompensationsparameterdatenvorrichtung zu speichern. Ein veranschaulichendes Beispiel des Prozesses 100 ist in 1B gezeigt.
Wie in 1B und durch Bezugszeichen 105 gezeigt ist, kann eine IC-Testvorrichtung Kompensationsparameterinformationen bestimmen, die der Sensor-IC zugeordnet sind. Bei einigen Implementierungen umfasst die IC-Testvorrichtung ein Bauelement, das dazu geeignet ist, Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, zu bestimmen, zu messen, zu berechnen oder anderweitig zu erhalten. Wie angegeben ist, kann sich die IC-Testvorrichtung bei einigen Implementierungen in der IC-Produktionsanlage befinden.
Die Kompensationsparameterinformationen umfassen Informationen, auf deren Basis ein Satz von Kompensationsparametern bestimmt wird, die einem Korrigieren einer Messung oder eines Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind, welche/welches von der Sensor-IC bereitgestellt wird. Beispielsweise können die Kompensationsparameterinformationen Kompensationsdaten (z. B. Rohdaten) umfassen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, basierend auf welchen der Satz von Kompensationsparametern berechnet werden kann (z. B. unter Verwendung eines Kompensationsparameteralgorithmus). Als weiteres Beispiel können die Kompensationsparameterinformationen den Satz von Kompensationsparametern umfassen (z. B. wenn der Satz von Kompensationsparametern in der IC-Produktionsanlage durch die IC-Testvorrichtung oder eine andere Vorrichtung berechnet wird).
Bei einigen Implementierungen können die Kompensationsparameterinformationen Informationen umfassen, die einem oder mehreren Parametern zugeordnet sind, welche dahin gehend zu verwenden sind, eine Messung einer physikalischen Eigenschaft von Interesse, wie durch eine Sensorkomponente der Sensor-IC gemessen wird, zu korrigieren. In dem Fall eines Magnetfeldsensors können die Kompensationsparameterinformationen beispielsweise Informationen umfassen, die einem oder mehreren Parametern zugeordnet sind, welche dahin gehend verwendet werden können, eine Stärke (von einer oder mehreren Komponenten) eines Magnetfeldes, wie durch eine Sensorkomponenten der Sensor-IC gemessen wird, zu korrigieren. Zusätzlich oder alternativ dazu können die Kompensationsparameterinformationen Informationen umfassen, die dem einen oder den mehreren Parametern zugeordnet sind, welche dazu verwendet werden können, ein durch einen auf der Sensor-IC implementierten SM bereitgestelltes Sicherheitsergebnis zu korrigieren. In dem Fall des Magnetfeldsensors können die Kompensationsparameterinformationen beispielsweise Informationen umfassen, die einem oder mehreren Parametern zugeordnet sind, welche dazu verwendet werden können, ein Ergebnis eines Spin-Tests, wie durch einen SM der Sensor IC bestimmt wird, zu korrigieren.
Bei einigen Implementierungen können die Kompensationsparameterinformationen solche Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einzigartig für die Sensor-IC sind. Beispielsweise können die Kompensationsparameterinformationen Rohkompensationsdaten, die unter Verwendung der Sensor-IC selbst erhalten werden, einen Satz von Kompensationsparametern, die aus unter Verwendung der Sensor-IC selbst erhaltenen Rohkompensationsdaten berechnet werden, und/oder dergleichen umfassen.
Bei einigen Implementierungen können die Kompensationsparameterinformationen globale Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einer Gruppe von Sensor-ICs einschließlich der Sensor-IC zugeordnet sind. Beispielsweise können die Kompensationsparameterinformationen Rohkompensationsdaten, die unter Verwendung einer oder mehrerer der Sensor-IC ähnlichen Sensor-ICs (z. B. Sensor-ICs mit derselben Gestaltung) erhalten werden, einen Satz von Kompensationsparametern, die aus Rohkompensationsdaten berechnet werden, welche unter Verwendung einer oder mehrerer der Sensor-IC ähnlichen Sensor-ICs erhalten werden, und/oder dergleichen umfassen.
Bei einigen Implementierungen können die Kompensationsparameterinformationen eine Kombination aus Kompensationsparameterinformationen, die einzigartig für die Sensor-IC sind, und globalen Kompensationsparameterinformationen umfassen.
Wie ferner in 1B und durch Bezugszeichen 110 gezeigt ist, kann die IC-Testvorrichtung die Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, und die Sensorkennung, die der Sensor-IC zugeordnet ist, bereitstellen.
Wie durch Bezugszeichen 115 gezeigt ist, kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung die Kompensationsparameterinformationen und die Sensorkennung empfangen und kann die Kompensationsparameterinformationen und die Sensorkennung speichern (z. B. in einer von der Kompensationsparameterdatenvorrichtung gepflegten Kompensationsparameterdatenstruktur). Hier speichert die Kompensationsparameterdatenvorrichtung eine Zuordnung zwischen den Kompensationsparameterinformationen und der Sensorkennung (z. B. so dass die Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, zu einem späteren Zeitpunkt basierend auf der Sensorkennung, die der Sensor-IC zugeordnet ist, wiedergewonnen werden können.
Unter erneuter Bezugnahme auf 1A wird angenommen, dass die Sensor-IC in der Systemproduktionsanlage empfangen wird, nachdem die Kompensationsparameterinformationen und die Sensorkennung an die Kompensationsparameterdatenvorrichtung bereitgestellt wurden. Wie in 1A gezeigt ist, kann ein Prozess 150 ausgeführt werden, um die Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, derart zu erhalten, dass ein Satz von Kompensationsparametern (Ax), die der Sensor-IC zugeordnet sind, auf einem Sensorsystem gespeichert werden kann, welches die Sensor-IC umfasst. Ein veranschaulichendes Beispiel vom Prozess 150 ist in 1C gezeigt.
Wie in 1C und durch Bezugszeichen 155 gezeigt ist, kann eine Systemproduktionsvorrichtung die Sensorkennung, die der Sensor-IC entspricht, bestimmen. Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung eine Vorrichtung umfassen, die Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, erhalten kann und bewirken kann, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung des Systems, das die Sensor-IC umfasst, gespeichert wird. Wie angegeben ist, kann sich bei einigen Implementierungen die Systemproduktionsvorrichtung in der Systemproduktionsanlage befinden. Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung die Sensorkennungs-ID basierend auf der Sensorkennung bestimmen, die auf der Sensor-IC gespeichert ist. Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung die Sensorkennung aus der Speicherkomponente der Sensor-IC wiedergewinnen, um die Sensorkennung zu bestimmen.
Wie durch Bezugszeichen 160 gezeigt ist, kann die Systemproduktionsvorrichtung die Sensorkennung bereitstellen, die der Sensor-IC entspricht. Wie beispielsweise gezeigt ist, kann die Systemproduktionsvorrichtung die Sensorkennung an die Kompensationsparameterdatenvorrichtung bereitstellen. Bei einigen Implementierungen kann die Sensorkennung in einer Aufforderung, dass die Kompensationsparameterdatenvorrichtung Kompensationsparameterinformationen, die der Sensorkennung zugeordnet sind, bereitzustellen hat, enthalten sein. In solch einem Fall kann die Systemproduktionsvorrichtung die Aufforderung bereitstellen.
Wie durch Bezugszeichen 165 gezeigt ist, kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung die Sensorkennung empfangen und kann basierend auf der Sensorkennung die Kompensationsparameterinformationen bestimmen, die der Sensor-IC zugeordnet sind. Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung basierend auf der gespeicherten Zuordnung zwischen der Sensorkennung und den Kompensationsparameterinformationen die Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, aus der Kompensationsparameterdatenstruktur wiedergewinnen.
Wie durch Bezugszeichen 170 gezeigt ist, kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung die Kompensationsparameterinformationen an die Systemproduktionsvorrichtung bereitstellen. Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung die Kompensationsparameterinformationen als Reaktion auf eine von der Systemproduktionsvorrichtung bereitgestellte Aufforderung bereitstellen.
Wie durch Bezugszeichen 175 gezeigt ist, kann die Systemproduktionsvorrichtung die Kompensationsparameterinformationen empfangen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, und kann bewirken, dass die Sensorkennung sowie ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung des Sensorsystems gespeichert werden. Wenn die Kompensationsparameterinformationen beispielsweise Rohkompensationsdaten umfassen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, dann kann die Systemproduktionsvorrichtung den Satz von Kompensationsparametern berechnen (z. B. unter Verwendung eines Kompensationsparameteralgorithmus) und kann Informationen, die dem Satz von Kompensationsparametern zugeordnet sind, zur Speicherung auf der Steuerung bereitstellen. Als weiteres Beispiel kann die Systemproduktionsvorrichtung dann, wenn die Kompensationsparameterinformationen den Satz von Kompensationsparametern umfassen, Informationen, die dem Satz von Kompensationsparametern zugeordnet sind, zur Speicherung auf der Steuerung bereitstellen. Hier speichert die Steuerung eine Zuordnung zwischen der Sensorkennung und dem Satz von Kompensationsparametern (z. B. so dass der Satz von Kompensationsparametern, die der Sensoridentität zugeordnet sind, zu einem späteren Zeitpunkt basierend auf der Sensorkennung, die der Sensor-IC zugeordnet ist, wiedergewonnen werden kann).
Auf diese Weise kann ein Satz von Kompensationsparametern (z. B. einschließlich eines oder mehrerer Parameter, die einem Korrigieren einer Messung einer physikalischen Eigenschaft von Interesse zugeordnet sind, einschließlich eines oder mehrerer Parameter, die einem Korrigieren eines Ergebnisses, das von einem auf der Sensor-IC implementierten SM bereitgestellt wird, zugeordnet sind, und/oder dergleichen), die der Sensor-IC des Sensorsystems zugeordnet sind, auf einer Steuerung, die dem Sensorsystem zugeordnet ist, gespeichert werden, wodurch ermöglicht wird, dass die Steuerung eine Messkompensation auf der Basis von Rohmessungen ausführt, die von der Sensor-IC bereitgestellt werden. Im Betrieb kann die Sensor-IC beispielsweise ein Signal, das die Rohmessung darstellt, und die Sensorkennung bereitstellen, die der Sensor-IC zugeordnet ist. Hier kann die Steuerung das Signal und die Sensorkennung empfangen, kann basierend auf der Sensorkennung dem Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC zugeordnet sind, bestimmen. Die Steuerung kann dann eine Messkompensation an den Rohmessungen unter Verwendung des Satzes von Kompensationsparametern ausführen. Daher muss die Sensor-IC nicht notwendigerweise eine Speicherkomponente, die zum Speichern des Satzes von Kompensationsparametern geeignet ist, oder eine Verarbeitungseinheit zum Korrigieren von Sensormessungen umfassen, was erhebliche Einsparungen in Bezug auf Kosten, Größe und Komplexität der Sensor-IC bereitstellt.
Bei einigen Implementierungen kann die Steuerung zum Ausführen aufwendiger mathematischer Operationen zur Kompensation geeignet sein und kann eine große Menge an Speicherplatz aufweisen (z. B. im Vergleich zu einer herkömmlichen Sensor-IC). Dies ermöglicht es, dass der Satz von Kompensationsparametern mit hoher Präzision gespeichert wird, und/oder ermöglicht es, dass Nachschlagtabellen mit Interpolation implementiert werden. Somit kann eine verbesserte Erfassung erreicht werden. Ferner kann die Verarbeitungseinheit der Steuerung ohne Weiteres in der Lage sein, Kompensationspolynome höherer Ordnung, nichtlineare Kompensationsfunktionen, z. B. Splines, stückweise linear und/oder dergleichen), multivariate Kompensationsfunktionen (z. B. multivariate Polynome, Spline-(Hyper)-Oberflächen und/oder dergleichen) berechnen, was eine Kompensation verbessern kann (z. B. im Vergleich zu dem, was mit einer herkömmlichen Sensor-IC erreichbar ist).
Bei einigen Implementierungen können mehrere Sensor-ICs mit der Steuerung verbunden sein. In solch einem Fall können die Rechen- und Speicherkapazitäten der Steuerung zwischen den mehreren Sensor-ICs verteilt werden, wodurch der erreichbare Nutzen multipliziert wird. Das heißt, dass mehrere kostengünstige, kleine Sensor-ICs von einer einzigen Steuerung aus mit hoher Auflösung kompensiert werden könnten, um eine hervorragende Genauigkeit zu erzielen. Ferner spart die Verwendung der einzelnen Steuerung eine Chipfläche für jeden verbundenen Sensor-IC ein.
Bei einigen Implementierungen kann ein Kanal, über den die Kompensationsparameterinformationen bereitgestellt werden (z. B. von der IC-Produktionsanlage zu der Kompensationsparameterdatenstruktur und von der Kompensationsparameterdatenstruktur zu der Systemproduktionsanlage) von einem Kanal getrennt sein, über dem die Sensor-IC selbst bereitgestellt wird (z. B. von der IC-Produktionsanlage zu der Systemproduktionsanlage). Dieser separate Informationskanal könnte jegliche Einrichtung zum Transportieren von Informationen sein. Beispielsweise könnte als der Kanal ein Netzwerk (z. B. das Internet), ein Datenbankzugriff, E-Mail, Fax, Post, eine physische Speichervorrichtung (z. B. ein Laufwerk, ein USB-Laufwerk, eine Compact Disc und/oder dergleichen), ein geschriebenes oder gedrucktes Medium, mündliche Kommunikation usw. verwendet werden.
Bei einigen Implementierungen kann ein Prozess implementiert werden, um eine Verifizierung von Kompensationsparameterinformationen zu ermöglichen, die von der Systemproduktionsvorrichtung erhalten werden. Beispielsweise können bei einigen Implementierungen während der Produktion der Sensor-ICs erste Verifizierungsinformationen auf dem Sensor-IC (z. B. zusätzlich zu der Sensorkennung) gespeichert werden. Die ersten Verifizierungsinformationen können Informationen umfassen, die während der Produktion der Sensor-ICs basierend auf Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, berechnet oder anderweitig bestimmt werden. Die ersten Verifizierungsinformationen können beispielsweise einen Hash-Wert umfassen, der basierend auf einem oder mehreren Elementen der Kompensationsparameterinformationen, die dem Sensor-IC entsprechen, berechnet wird.
Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung während der Systemproduktion die ersten Verifizierungsinformationen bestimmen (z. B. basierend auf den ersten Verifizierungsinformationen, die auf der Sensor-IC gespeichert sind). Nach dem Empfangen der Kompensationsparameterinformationen von der Kompensationsparameterdatenvorrichtung kann die Systemproduktionsvorrichtung als Nächstes zweite Verifizierungsinformationen berechnen. Die zweiten Verifizierungsinformationen können Informationen umfassen, die basierend auf Kompensationsparameterinformationen, die während der Produktion des die Sensor-IC umfassenden Sensorsystems von dem Kompensationsparameterdatenvorrichtung empfangen werden, berechnet oder anderweitig bestimmt werden. Die zweiten Verifizierungsinformationen können beispielsweise einen Hash-Wert umfassen, der basierend auf einem oder mehreren Elementen der Kompensationsparameterinformationen berechnet wird, die von dem Kompensationsparameterdatenvorrichtung empfangen werden4,. Bei einigen Implementierungen bestimmt die Systemproduktionsvorrichtung dann, ob die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen. Die Systemproduktionsvorrichtung kann dann verifizieren, dass die empfangenen Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen (z. B. wenn die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen) oder bestimmen, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC nicht entsprechen (z. B. wenn die zweiten Verifizierungsinformationen nicht mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen). Auf diese Weise kann eine Kompensationsparameterinformationsverifizierung bereitgestellt werden.
In einem Fall, in dem die Systemproduktionsvorrichtung verifiziert, dass die empfangenen Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen, kann die Systemproduktionsvorrichtung damit fortfahren, zu bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf der Steuerung des Sensorsystems gespeichert wird. In dem Fall, in dem die Systemproduktionsvorrichtung bestimmt, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC nicht entsprechen, muss die Systemproduktionsvorrichtung umgekehrt dazu nicht notwendigerweise damit fortfahren, zu bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf der Steuerung gespeichert wird, und/oder kann eine andere Maßnahme ergreifen (z. B. Senden einer Verifizierungsfehlermeldung an einen Systemproduzenten, erneutes Berechnen der zweiten Verifizierungsinformationen und erneutes Verifizieren, erneutes Anfordern der Kompensationsparameterinformationen und/oder dergleichen.
Bei einigen Implementierungen kann ein Prozess implementiert werden, um eine Authentifizierung der Sensor-IC zu ermöglichen. Bei einigen Implementierungen kann solch ein Prozess einen Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters verwenden, der dem Sensor-IC zugeordnet ist. Im Allgemeinen kann ein Wert eines PUF-Parameters als einzigartige Identität für eine bestimmte Sensor-IC dienen, da der Wert des PUF auf physikalischen Variationen basiert, die während der Produktion auf natürliche Weise auftreten, und es daher möglich macht, den Sensor-IC von ansonsten identischen Sensor-ICs zu unterscheiden.
Bei einigen Implementierungen kann ein erster Wert des PUF-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist, bestimmt werden, um eine Sensor-IC-Authentifizierung zu ermöglichen. Der erste Wert des PUF-Parameters kann einen Wert umfassen, der eine Ausgabe darstellt, die von der Sensor-IC unter einer spezifischen Bedingung bereitgestellt wird, wie durch die IC-Testvorrichtung während des Testens der Sender-ICs bei der Produktion bestimmt wird. Beispielsweise kann ein erster Wert des PUF-Parameters einen Wert umfassen, der einen Versatz der Sensor-ICs bei einer bestimmten Temperatur (z. B. 25°C) darstellt, wie von der IC-Testvorrichtung während des Testens der Sensor-ICs bestimmt wird. Der erste Wert des PUF-Parameters kann dann gemeinsam mit den Kompensationsparameterinformationen auf der Kompensationsparameterdatenvorrichtung gespeichert werden.
Bei einigen Implementierungen kann ein erster Wert des PUF-Parameters in Kompensationsparameterinformationen enthalten sein, die von der Kompensationsparameterdatenvorrichtung bereitgestellt werden. Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung auf den Empfang einer Sensorkennung von der Systemproduktionsvorrichtung hin basierend auf der Sensorkennung einen ersten Wert eines PUF-Parameters bestimmen (z. B. durch Identifizieren des ersten Werts des PUF-Parameters, der der Sensorkennung zugeordnet ist). Hier kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung den ersten Wert des PUF-Parameters an die Systemproduktionsvorrichtung bereitstellen (z. B. der erste Wert des PUF-Parameters kann in den Kompensationsparameterinformationen enthalten sein, die von der Kompensationsparameterdatenvorrichtung bereitgestellt werden). Zum Beispiel kann die Systemproduktionsvorrichtung einen zweiten Wert des PUF-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist, bestimmen (z. B. messen, erhalten, empfangen und/oder dergleichen), für welchen Kompensationsparameterinformationen gesucht werden. Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung dann bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt (z. B. innerhalb einer Schwelle). Die Systemproduktionsvorrichtung kann dann die Sensor-IC authentifizieren (z. B. wenn der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt) oder bestimmen, dass die Sensor-IC nicht authentisch ist (z. B. wenn der zweite Wert des PUF-Parameters nicht mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt). Auf diese Weise kann die Systemproduktionsvorrichtung die Sensor-IC selektiv authentifizieren.
Bei einigen Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung (oder jegliche Vorrichtung außer der Systemproduktionsvorrichtung) eine Authentifizierung durchführen, wobei in diesem Fall der erste Wert der PUF nicht an die Systemproduktionsvorrichtung bereitgestellt werden muss. Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung einen zweiten Wert des PUF-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist, für die Kompensationsparameterinformationen gesucht sind, bestimmen (z. B. messen, erhalten, empfangen und/oder dergleichen). Die Systemproduktionsvorrichtung kann dann den zweiten Wert des PUF-Parameters sowie eine Authentifizierungsaufforderung, die die Sensorkennung sowie Informationen umfasst, die den zweiten Wert des PUF-Parameters identifizieren, an die Kompensationsparameterdatenvorrichtung senden. Auf das Empfangen der Sensorkennung der Systemproduktionsvorrichtung hin kann hier die Kompensationsparameterdatenvorrichtung einen ersten Wert eines PUF-Parameters bestimmen. Bei diesem Beispiel kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt. Die Kompensationsparameterdatenvorrichtung kann bestimmen, ob die Sensor-IC authentisch ist (z. B. basierend darauf, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt) und kann eine Authentifizierungsantwort, die angibt, ob der Sensor-IC authentifiziert worden ist, an die Systemproduktionsvorrichtung senden. Die Systemproduktionsvorrichtung kann die Authentifizierungsantwort empfangen und demgemäß handeln. Auf diese Weise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung (oder jegliche andere Vorrichtung entfernt von der Systemproduktionsanlage) die Sensor-IC selektiv authentifizieren.
In einem Fall, in dem die Sensor-IC authentifiziert ist (z. B. durch die Systemproduktionsvorrichtung, die Kompensationsparameterdatenvorrichtung und/oder dergleichen), kann der Systemproduktionsvorrichtung gestattet werden, damit fortzufahren, zu bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf der Steuerung des Sensorsystems gespeichert wird. Umgekehrt muss der Systemproduktionsvorrichtung in einem Fall, in dem die Sensor-IC nicht authentifiziert ist, nicht notwendigerweise gestattet werden, damit fortzufahren, zu bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf der Steuerung gespeichert wird. In solch einem Fall kann die Authentifizierungsvorrichtung (z. B. die Systemproduktionsvorrichtung, der Kompensationsparameterdatenvorrichtung und/oder dergleichen) eine andere Maßnahme ergreifen, z. B. eine Fehlauthentifizierungsnachricht an einen Systemproduzenten und/oder an einen Sensor-IC-Produzenten senden, den zweiten Wert des PUF-Parameters erneut bestimmen und eine Authentifizierung erneut durchführen, verhindern, dass der Sensor-IC in dem Sensorsystem enthalten ist, und/oder dergleichen).
Wie oben angegeben ist, sind 1A-1C lediglich als Beispiele bereitgestellt. Weitere Beispiele sind möglich und können sich von der Beschreibung im Hinblick auf 1A-1C unterscheiden.
2 ist ein Diagramm einer Beispielumgebung 200, in der hierin beschriebene Techniken und/oder Verfahren implementiert werden können. Wie in 2 gezeigt ist, kann die Umgebung 200 eine IC-Testvorrichtung 205, eine Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210, eine Systemproduktionsvorrichtung 215 und ein Netzwerk 220 umfassen. Vorrichtungen der Umgebung 200 können über verdrahtete Verbindungen, drahtlose Verbindungen oder einer Kombination aus verdrahteten und drahtlosen Verbindungen miteinander verbunden sein.
Eine IC-Testvorrichtung 205 umfasst eine oder mehrere Vorrichtungen, die dazu geeignet sind, Kompensationsparameterinformationen und/oder andere Informationen (z. B. Verifizierungsinformationen, einen Wert eines PUF-Parameters und/oder dergleichen), die der Sensor-IC zugeordnet sind, bei der Produktion der Sensor-IC zu bestimmen, zu messen, zu berechnen oder anderweitig zu erhalten, wie hierin beschrieben ist. Beispielsweise kann die IC-Testvorrichtung 205 eine Testvorrichtung (z. B. eine Vorrichtung, die einen oder mehrere Tests an einer Sensor-IC ausführen kann), einen Server oder eine Gruppe von Servern, eine Benutzervorrichtung (z. B. einen Tablet-Computer, einen Laptop-Computer, einen Desktop-Computer) und/oder jegliche andere Art von Kommunikations- und Rechenvorrichtungen umfassen. Bei einigen Implementierungen kann sich die IC-Testvorrichtung 205 in einer IC-Produktionsanlage befinden, die der Produktion des Sensor-IC zugeordnet ist.
Eine Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 umfasst eine oder mehrere Vorrichtungen, die dazu geeignet sind, eine Kompensationsparameterdatenstruktur zum Speichern von Kompensationsparameterinformationen und/oder anderen Informationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, zu unterhalten, wie hierin beschrieben ist. Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 einen Server oder eine Gruppe von Servern und/oder jegliche andere Art von Kommunikations- und Rechenvorrichtungen umfassen. Bei einigen Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 eine oder mehrere Vorrichtungen umfassen, die dazu geeignet sind, Operationen auszuführen, die einem Authentifizieren einer Sensor-IC zugeordnet sind, wie hierin beschrieben ist. Bei einigen Implementierungen befindet sich die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 entfernt von einer IC-Produktionsanlage, die der Produktion von Sensor-ICs zugeordnet ist, und/oder entfernt von einer Systemproduktionsanlage, die der Produktion von Sensorsystemen zugeordnet ist. Bei den Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 beispielsweise (zumindest teileweise) in einer Cloud-Computerumgebung enthalten sein.
Eine Systemproduktionsvorrichtung 215 umfasst eine oder mehrere Vorrichtungen, die dazu geeignet sind, Kompensationsparameterinformationen, die einer Sensor-IC zugeordnet sind, und/oder andere Informationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, zu erhalten und zu bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung eines Sensorsystems gespeichert werden, das die Sensor-IC umfasst, wie hierin beschrieben ist. Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 einen Server oder eine Gruppe von Servern, eine Benutzervorrichtung (z. B. einen Tablet-Computer, einen Laptop-Computer, einen Desktop-Computer) und/oder jegliche andere Art von Kommunikations- und Rechenvorrichtungen umfassen. Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 sich in einer Systemproduktionsanlage befinden, die der Produktion der Sensoranlage zugeordnet ist.
Ein Netzwerk 220 umfasst ein oder mehrere verdrahtete und/oder drahtlose Netzwerke. Beispielsweise kann das Netzwerk 220 ein Mobilfunknetz (z. B. ein LTE-Netz (LTE = Long-Term Evolution), ein Codemultiplexzugriff(CDMA, Code Division Multiple Access)-Netz, ein 3G-Netz, ein 4G-Netz, ein 5G-Netz, eine andere Art von Netzwerk der nächsten Generation usw.), ein öffentliches Mobilfunknetz (PLMN, Public Land Mobile Network), ein lokales Netz (LAN, Local Area Network), ein weites Netz (WAN, Wide Area Network), ein Stadtnetz (MAN, Metropolitan Area Network), ein Telefonnetz (z. B. ein öfffentliches Fernsprechnetz (PSTN, Public Switched Telephone Network)), ein privates Netz, ein Ad-Hoc-Netz, ein Intranet, das Internet, ein Netz auf Faseroptikbasis, ein Cloud-Computing-Netz oder dergleichen und/oder eine Kombination dieser oder anderer Arten von Netzen umfassen.
Während die Beispielumgebung 200 die IC-Testvorrichtung 205, die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 und die Systemproduktionsvorrichtung 215 dahin gehend veranschaulicht, über ein Netzwerk verbunden zu sein, kann bei einigen Implementierungen ein Kanal, über den die Kompensationsparameterinformationen bereitgestellt werden, eine andere Form annehmen, z. B. einen Datenbankzugriff, E-Mail, Fax, Post, eine physische Speichervorrichtung, ein geschriebenes oder gedrucktes Medium, mündliche Kommunikation und/oder jegliche andere Art von Informationskanal.
Die in 2 gezeigte Anzahl und Anordnung von Vorrichtungen und Netzen werden lediglich als Beispiel bereitgestellt. In der Praxis können zusätzliche Vorrichtungen und/oder Netze, weniger Vorrichtungen und/oder Netze, unterschiedliche Vorrichtungen und/oder Netze oder unterschiedlich angeordnete Vorrichtungen und/oder Netze als die in 2 gezeigten vorhanden sein. Außerdem können zwei oder mehr in 2 gezeigte Vorrichtungen in einer einzelnen Vorrichtung implementiert sein, oder eine einzelne in 2 gezeigte Vorrichtung kann als mehrere, verteilte Vorrichtungen implementiert sein. Zusätzlich oder alternativ dazu kann ein Satz von Vorrichtungen (z. B. eine oder mehrere Vorrichtungen) der Umgebung 200 eine oder mehrere Funktionen ausführen, die dahin gehend beschrieben sind, dass sie von einem anderen Satz von Vorrichtungen aus der Umgebung 200 ausgeführt werden.
3 ist ein Diagramm von Beispielkomponenten einer Vorrichtung 300. Die Vorrichtung 300 kann der IC-Testvorrichtung 205, der Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 und/oder der Systemproduktionsvorrichtung 215 entsprechen. Bei einigen Implementierungen kann die IC-Testvorrichtung 205, die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 und/oder die Systemproduktionsvorrichtung 215 eine oder mehrere Vorrichtungen 300 und/oder eine oder mehrere Komponenten der Vorrichtung 300 umfassen. Wie in 3 gezeigt ist, kann die Vorrichtung 300 einen Bus 310, einen Prozessor 320, einen Speicher 330, eine Speicherkomponente 340, eine Eingangskomponente 350, eine Ausgangskomponente 360 und eine Kommunikationsschnittstelle 370 umfassen.
Der Bus 310 umfasst eine Komponente, die eine Kommunikation zwischen den Komponenten der Vorrichtung 300 ermöglicht. Der Prozessor 320 ist als Hardware, Firmware oder einer Kombination aus Hardware und Software implementiert. Der Prozessor 320 ist eine zentrale Verarbeitungseinheit (CPU, Central Processing Unit), eine Grafikverarbeitungseinheit (GPU, Graphics Processing Unit), eine beschleunigte Verarbeitungseinheit (APU, Accelerated Processing Unit), ein Mikroprozessor, eine Mikrosteuerung, ein Digitalsignalprozessor (DSP), ein feldprogrammierbares Gatter-Array (FPGA, Field-Programmable Gate Array), eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC, Application-Specific Integrated Circuit) oder jegliche andere Art von Verarbeitungskomponenten. Bei einigen Implementierungen umfasst der Prozessor 320 einen oder mehrere Prozessoren, die dazu geeignet sind, zum Ausführen einer Funktion programmiert zu sein.
Der Speicher 330 umfasst einen Direktzugriffsspeicher (RAM, Random Access Memory), einen nur-lese-Speicher (ROM, Read->Only Memory) und/oder jegliche andere Art von dynamischer oder statischer Speichervorrichtung (z. B. einen Flash-Speicher, einen Magnetspeicher und/oder einen optischen Speicher), der Informationen und/oder Anweisungen zur Verwendung durch den Prozessor 320 speichert.
Eine Speicherkomponente 340 speichert Informationen und/oder Software im Zusammenhang mit dem Betrieb und der Verwendung der Vorrichtung 300. Beispielsweise kann die Speicherkomponente 340 eine Festplatte (z. B. eine magnetische Platte, eine optische Platte, eine magneto-optische Platte und/oder eine Festkörperplatte), eine Compact Disc (CD), eine digitale vielseitige Platte (DVD), eine Diskette, eine Kassette, ein Magnetband und/oder jegliche andere Art von nicht-flüchtigem, computerlesbarem Medium sowie ein entsprechendes Laufwerk umfassen.
Die Eingabekomponente 350 umfasst eine Komponente, die es der Vorrichtung 300 gestattet, Informationen zu empfangen, z. B. über eine Benutzereingabe (z. B. Berührungsbildschirm, Tastatur, Maus, Taste, Schalter und/oder Mikrophon). Zusätzlich oder alternativ dazu kann die Eingabekomponente 350 einen Sensor zum Erfassen von Informationen umfassen (z. B. eine Komponente eines globalen Positionsbestimmungssystem (GPS = Global Positioning System), einen Beschleunigungssensor, ein Gyroskop und/oder ein Betätigungsbauglied). Die Ausgabekomponente 360 umfasst eine Komponente, die Ausgabeinformationen aus der Vorrichtung 300 bereitstellt (z. B. eine Anzeige, ein Lautsprecher und/oder eine oder mehrere Licht-emittierende Dioden (LED)).
Die Kommunikationsschnittstelle 370 umfasst eine Transceiver-artige Komponente (z. B. einen Transceiver und/oder einen getrennten Empfänger und Sender), die es der Vorrichtung 300 ermöglicht, mit anderen Vorrichtungen zu kommunizieren, z. B. über eine verdrahtete Verbindung, eine drahtlose Verbindung oder eine Kombination aus verdrahteter und drahtloser Verbindung. Die Kommunikationsschnittstelle 370 kann es der Vorrichtung 300 ermöglichen, Informationen von einer anderen Vorrichtung zu empfangen und/oder Informationen an eine andere Vorrichtung bereitzustellen. Beispielsweise kann die Kommunikationsschnittstelle 370 eine Ethernet-Schnittstelle, eine optische Schnittstelle, eine koaxiale Schnittstelle, eine Infrarotschnittstelle, eine Hochfrequenz(HF)-Schnittstelle, eine USB-Schnittstelle (USB = universeller serieller Bus), eine WLAN-Schnittstelle, eine Mobilfunknetzwerkschnittstelle oder dergleichen umfassen.
Die Vorrichtung 300 kann einen oder mehrere hierin beschriebene Prozesse ausführen. Die Vorrichtung 300 kann diese Prozesse auf der Basis davon ausführen, dass der Prozessor 320 Softwareanweisungen ausführt, die von einem nicht-flüchtigen computerlesbaren Medium wie etwa einem Speicher 330 und/oder einer Speicherkomponente 340 gespeichert werden. Ein computerlesbares Medium ist hier als nicht-flüchtige Speichervorrichtung definiert. Eine Speichervorrichtung umfasst Speicherplatz in einer einzelnen physischen Speichervorrichtung oder Speicherplatz, der über mehrere physische Speichervorrichtungen verteilt ist.
Die Softwareanweisungen können von einem anderen computerlesbaren Medium oder von einer anderen Vorrichtung über die Kommunikationsschnittstelle 370 in den Speicher 330 und/oder die Speicherkomponente 340 eingelesen werden. Bei Ausführung können die Softwareanweisungen, die in dem Speicher 330 oder der Speicherkomponente 340 gespeichert sind, bewirken, dass der Prozessor 320 einen oder mehrere hierin beschriebene Prozesse ausführt. Zusätzlich oder alternativ dazu kann eine festverdrahtete Schaltungsanordnung anstelle von oder in Kombination mit Softwareanweisungen verwendet werden, um einen oder mehrere hierin beschriebene Prozesse ausführen. Somit sind die hierin beschriebenen Implementierungen nicht auf spezifische Kombinationen von Hardware-Schaltungsanordnungen und Software beschränkt.
Die Anzahl und Anordnung von in 3 gezeigten Komponenten sind als Beispiel bereitgestellt. In der Praxis kann die Vorrichtung 300 zusätzliche Komponenten, weniger Komponenten, unterschiedliche Komponenten oder unterschiedlich angeordnete Komponenten als die in 3 gezeigten umfassen. Alternativ oder zusätzlich dazu kann ein Satz von Komponenten (z. B. eine oder mehrere Komponenten) der Vorrichtung 300 eine oder mehrere Funktionen ausführen, die hier als von einem anderen Satz von Komponenten der Vorrichtung 300 ausgeführt beschrieben sind.
4 ist ein Flussdiagramm eines Beispielprozesses 400 zum Empfangen, basierend auf einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC eines Sensorsystems zugeordnet ist, von Kompensationsparameterinformationen, die einer Sensor-IC zugeordnet sind, und Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC zugeordnet sind, auf einer Steuerung des Sensorsystems gespeichert wird. Bei einigen Implementierungen können ein oder mehrere Prozessblöcke aus 4 von der Systemproduktionsvorrichtung 215 ausgeführt werden. Bei einigen Implementierungen können ein oder mehrere Prozessblöcke aus 4 von einer anderen Vorrichtung oder einer Gruppe von Vorrichtungen getrennt von oder einschließlich der Systemproduktionsvorrichtung 215 ausgeführt werden, z. B. die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210.
Wie in 4 gezeigt ist, kann der Prozess 400 ein Bestimmen einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist, umfassen (Block 410). Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) eine Sensorkennung bestimmen, die einer Sensor-IC entspricht (z. B. Sensor-IC 605), welche einem Sensorsystem zugeordnet ist (z. B. Sensorsystem 680), wie oben beschrieben ist.
Wie ferner in 4 gezeigt ist, kann der Prozess 400 ein Bereitstellen der Sensorkennung, die der Sensor-IC zugeordnet ist, umfassen (Block 420). Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) die Sensorkennung bereitstellen, die der Sensor-IC entspricht, wie oben beschrieben ist.
Wie ferner in 4 gezeigt ist, kann der Prozess 400 ein Empfangen, basierend auf dem Bereitstellen der Sensorkennung, von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, umfassen (Block 430). Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) basierend auf dem Bereitstellen der Sensorkennung Kompensationsparameterinformationen empfangen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, wie oben beschrieben ist.
Wie ferner in 4 gezeigt ist, kann der Prozess 400 ein Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, welche dem Sensorsystem zugeordnet ist, umfassen, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC durchgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind (Block 440). Beispielsweise kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird (z. B. die Steuerung 650, wie im Hinblick auf 6B weiter unten erläutert ist), welche dem Sensorsystem zugeordnet ist, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind, wie oben beschrieben ist.
Der Prozess 400 kann zusätzliche Implementierungen umfassen, z. B. eine einzelne Implementierung oder jegliche Kombination aus unten beschriebenen Implementierungen und/oder in Verbindung mit einem oder mehreren anderen Prozessen, die hierin beschrieben sind.
Bei einigen Implementierungen umfassen die Kompensationsparameterinformationen Kompensationsdaten, die der Sensor-IC zugeordnet sind, und die Systemproduktionsvorrichtung 215 kann den Satz von Kompensationsparametern basierend auf den Kompensationsdaten und einem Kompensationsparameteralgorithmus berechnen. Bei einigen Implementierungen umfassen die Kompensationsparameterinformationen den Satz von Kom pensationspara metern.
Bei einigen Implementierungen umfassen die Kompensationsparameterinformationen solche Kompensationsparameterinformationen, die einzigartig für die Sensor-ICs sind. Bei einigen Implementierungen umfassen die Kompensationsparameterinformationen globale Kompensationsparameterinformationen, die einer Mehrzahl von Sensor-ICs zugeordnet sind.
Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung zuerst erste Verifizierungsinformationen bestimmen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, kann zweite Verifizierungsinformationen basierend auf den Kompensationsparameterinformationen berechnen und kann bestimmen, ob die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen. Basierend auf der Bestimmung kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 entweder verifizieren, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen (z. B. wenn die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen), oder kann bestimmen, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC nicht entsprechen (z. B. wenn die zweiten Verifizierungsinformationen nicht mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen). Mit anderen Worten kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 erste Verifizierungsinformationen bestimmen, die der IC zugeordnet sind, zweite Verifizierungsinformationen basierend auf den Kompensationsparameterinformationen berechnen, und basierend darauf, ob die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen, selektiv verifizieren, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen.
Bei einigen Implementierungen können die Kompensationsparameterinformationen einen ersten Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters umfassen, der der Sensor-IC zugeordnet ist. Hier kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 einen zweiten Wert des PUF-Parameters messen, der der Sensor-IC zugeordnet ist, und kann bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt. Basierend auf der Bestimmung kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 die Sensor-IC entweder authentifizieren (z. B. wenn der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt) oder bestimmen, dass die Sensor-IC nicht authentisch ist (z. B. wenn der zweite Wert des PUF-Parameters nicht mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt). Anders gesagt kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 einen zweiten Wert des PUF-Parameters messen, der der Sensor-IC zugeordnet ist, und kann basierend darauf, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt, die Sensor-IC selektiv authentifizieren.
Bei einigen Implementierungen kann die Systemproduktionsvorrichtung 215 einen Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters messen, der der Sensor-IC zugeordnet ist, kann eine Authentifizierungsaufforderung übertragen, die die Sensorkennung sowie Informationen umfasst, welche den Wert des PUF-Parameters identifizieren, der der Sensor-IC zugeordnet ist, und kann eine Authentifizierungsantwort empfangen, die angibt, ob die Sensor-IC authentisch ist.
Bei einigen Implementierungen werden die Kompensationsparameterinformationen von einer Kompensationsparameterdatenstruktur empfangen (z. B. durch die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 untergebracht, gewartet, verwaltet und/oder dergleichen), welche Kompensationsparameterinformationen speichert, die einer Mehrzahl von Sensor-ICs zugeordnet sind. Bei einigen Implementierungen wird die Sensorkennung basierend darauf bestimmt, dass dieselbe auf einer Speicherkomponente (z. B. die Speicherkomponente 615) der Sensor-IC gespeichert ist.
Obwohl 4 beispielhafte Blöcke des Prozesses 400 zeigt, kann der Prozess 400 bei einigen Implementierungen zusätzliche Blöcke, weniger Blöcke, unterschiedliche Blöcke oder unterschiedlich angeordnete Blöcke als die in 4 veranschaulichten umfassen. Zusätzlich oder alternativ dazu können zwei oder mehr der Blöcke des Prozesses 400 parallel ausgeführt werden.
5 ist ein Flussdiagramm eines Beispielprozesses 500 zum Bereitstellen, basierend auf einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC entspricht, von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind. Bei einigen Implementierungen können ein oder mehrere Prozessblöcke aus 5 von der Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 ausgeführt werden. Bei einigen Implementierungen können ein oder mehrere Prozessblöcke aus 5 von einer anderen Vorrichtung oder eine Gruppe von Vorrichtungen getrennt von oder einschließlich der Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 ausgeführt werden, z. B. die Systemproduktionsvorrichtung 215 oder die IC-Testvorrichtung 205.
Wie in 5 gezeigt ist, kann der Prozess 500 ein Empfangen einer Sensorkennung, die einer Sensor-IC entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist, umfassen (Block 510). Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) eine Sensorkennung empfangen, die einer Sensor-IC entspricht (z. B. Sensor-IC 605), welche einem Sensorsystem zugeordnet ist, wie oben beschrieben ist.
Wie ferner in 5 gezeigt ist, kann der Prozess 500 ein Bestimmen, basierend auf der Sensorkennung, von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, umfassen (Block 520). Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) basierend auf der Sensorkennung Kompensationsparameterinformationen bestimmen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, wie oben beschrieben ist.
Wie ferner in 5 gezeigt ist, kann der Prozess 500 ein Bereitstellen der Kompensationsparameterinformationen in Verbindung mit einem Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, die dem Sensorsystem zugeordnet ist, umfassen, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind (Block 530). Beispielsweise kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 (z. B. unter Verwendung von einer oder mehreren in Hinblick auf 3 beschriebenen Komponenten) die Kompensationsparameterinformationen in Verbindung mit einem Bewirken bereitstellen, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird (z. B. die Steuerung 650 aus 6B), welche einem Sensorsystem zugeordnet ist (z. B. Sensorsystem 680, wie im Hinblick auf 6C offenbart ist), wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die mit einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind, wie oben beschrieben ist.
Der Prozess 500 kann zusätzliche Implementierungen umfassen, z. B. eine einzelne Implementierung oder jegliche Kombination aus unten beschriebenen Implementierungen und/oder in Verbindung mit einem oder mehreren hierin beschriebenen Prozessen.
Bei einigen Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 basierend auf der Sensorkennung Verifizierungsinformationen bestimmen, die einem Verifizieren zugeordnet sind, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen, und kann die Verifizierungsinformationen bereitstellen.
Bei einigen Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 basierend auf der Sensorkennung einen Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters bestimmen, der einem Authentifizieren der Sensor-IC zugeordnet ist, und kann den Wert des PUF-Parameters bereitstellen.
Bei einigen Implementierungen kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 einen ersten Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters messen, welcher der Sensor-IC zugeordnet ist, und kann eine Authentifizierungsanforderung empfangen, die die Sensorkennung und Informationen umfasst, die einen zweiten Wert des PUF-Parameters identifizieren, welcher der Sensor-IC zugeordnet ist. Hier kann die Kompensationsparameterdatenvorrichtung 210 bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt, kann basierend darauf, ob der zweite Wert der PUF mit dem ersten Wert der PUF übereinstimmt, bestimmen, ob die Sensor-IC authentisch ist, und kann eine Authentifizierungsantwort senden, die angibt, ob die Sensor-IC authentisch ist.
Obwohl 5 Beispielblöcke des Prozesses 500 zeigt, kann der Prozess 500 bei einigen Implementierungen zusätzliche Blöcke, weniger Blöcke, unterschiedliche Blöcke oder unterschiedlich angeordnete Blöcke als die in 5 veranschaulichten umfassen. Zusätzlich oder alternativ dazu können zwei oder mehr der Blöcke des Prozesses 500 parallel ausgeführt werden.
6A-6C sind Diagramme von Beispielkomponenten einer Sensor-IC, einer Steuerung und eines Sensorsystems, das eine oder mehrere Sensor-ICs und eine Steuerung umfasst, wie hierin beschrieben ist. 6A ist ein Diagramm einer Beispielkomponente einer Sensor-IC 605.
Wie in 6A gezeigt ist, kann die Sensor-IC 605 eine oder mehrere Sensorkomponenten 610, eine oder mehrere SM-Komponenten 612, eine Speicherkomponente 615 und eine Digitalschnittstelle 620 umfassen.
Die Sensorkomponente 610 umfasst eine oder mehrere Komponenten, die dazu geeignet sind, eine Erfassungsfunktionalität bereitzustellen (z. B. Messen einer physikalischen Eigenschaft und Bereitstellen einer Ausgabe, die einem Wert der Messung entspricht). Beispielsweise kann die Sensorkomponente 610 eine oder mehrere Komponenten umfassen, die einen Magnetsensor (z. B. einen Hall-basierten Sensor, einen Magneto-Resistiv(MR)-Sensor, einen Variable-Reluktanz(VR)-Sensor, einen Temperatursensor, einen Drucksensor, einen Beschleunigungssensor, einen Belastungssensor, einen Spannungssensor (z. B. einen Versorgungsspannungssensor), einen Stromsensor, einen Feuchtigkeitssensor, einen Gassensor, einen Lichtsensor und/oder jegliche andere Art von Sensor umfassen. Wie in 6A gezeigt ist, kann die Sensor-IC 605 bei einigen Implementierungen mehrere Sensorkomponenten 610 (z. B. zwei oder mehr Sensorkomponenten 610) umfassen. Beispielsweise kann die Sensor-IC 605 eine erste Sensorkomponente 610, die ein Magnetsensor ist, eine zweite Sensorkomponente 610, die ein Temperatursensor ist, usw. umfassen. Bei einigen Implementierungen kann die Sensor-IC 605 und/oder eine bestimmte Sensorkomponente 610 einen Analog-Digital-Wandler (Analog-to-Digital Converter, ADC) umfassen, der ein analoges Signal in ein digitales Signal umwandelt (z. B. so dass ein analoges Signal in ein digitales Signal, welches über eine Digitalschnittstelle 620 bereitzustellen ist, umgewandelt werden kann).
Die SM-Komponente 612 umfasst eine oder mehrere Komponenten, die dazu geeignet sind, eine Sicherheitsfunktionalität bereitzustellen (z. B. Messen, Berechnen, Erhalten oder anderweitiges Bestimmen eines Sicherheitsergebnisses, das einem durch die SM-Komponente 612 implementierten Sicherheitsmechanismus zugeordnet ist). Bei einigen Implementierungen kann die SM-Komponente 612 eine oder mehrere Sensorkomponenten (z. B. eine oder mehrere Sensorkomponenten 610) umfassen, die einem Bereitstellen der Sicherheitsfunktionalität zugeordnet sind. Bei einigen Implementierungen, wie in 6A gezeigt ist, kann die Sensor-IC 605 mehrere SM-Komponenten 612 umfassen (z. B. zwei oder mehr SM-Komponenten 612). Bei einigen Implementierungen kann eine Sensor-IC 605 und/oder eine bestimmte SM-Komponente 612 einen ADC umfassen, der ein analoges Signal in ein digitales Signal umwandelt (z. B. so dass ein analoges Signal in ein digitales Signal, das über die digitale Schnittstelle 620 bereitzustellen ist, umgewandelt werden kann).
Die Speicherkomponente 615 kann einen Nur-Lese-Speicher (Read-Only-Memory, ROM) (z. B. ein EEPROM), einen Direktzugriffsspeicher (RAM, Random-Access-Memory) und/oder jegliche andere Art von dynamischer oder statischer Speichervorrichtung (z. B. ein Flash-Speicher, ein Magnetspeicher, ein optischer Speicher usw.) umfassen, der Informationen und/oder Anweisungen speichert, die einer oder mehreren Komponenten einer Sensor-IC 605 zugeordnet sind. Beispielsweise kann die Speicherkomponente 615 bei einigen Implementierungen Informationen und/oder Anweisungen speichern, die Operationen zugeordnet sind, welche durch die Sensorkomponente 610 und/oder SM-Komponente 612 ausgeführt werden. Wie ferner gezeigt ist, speichert die Speicherkomponente 615 eine Sensorkennung, die der Sensor-IC 605 zugeordnet ist. Wie oben beschrieben ist, muss die Speichervorrichtung 615 nicht notwendigerweise Kompensationsparameterinformationen und/oder einen Satz von Kompensationsparametern speichern, die der Sensor-IC 605 zugeordnet sind, wodurch es ermöglicht wird, dass die Sensor-IC 605 in Bezug auf Kosten, Größe und Komplexität reduziert wird (z. B. im Vergleich zu einer Sensor-IC mit einer vergleichsweise größeren Speicherkomponente, die erforderlich ist, um die Kompensationsparameterinformationen und/oder den Satz von Kompensationsparametern zu speichern). In Abhängigkeit der Umstände kann es jedoch vorteilhaft sein, Kompensationsparameterinformationen und/oder einen Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC 605 zugeordnet sind, in der Speicherkomponente 615 zu speichern. Das Bereitstellen von Kompensationsparametern in der Sensor-IC 605 kann Latenzzeiten reduzieren, die zum Anfordern dieser Parameter von einer anderen Entität erforderlich sind.
Die Digitalschnittstelle 620 kann eine Schnittstelle umfassen, über die die Sensor-IC 605 Informationen von einer anderen Vorrichtung empfangen und/oder derselben bereitstellen kann, z. B. der Steuerung 650. Beispielsweise kann die Digitalschnittstelle 620 ein Ausgangssignal der Sensorkomponente 610, ein Ausgangssignal der SM-Komponente 612 und/oder Informationen, die von der Speicherkomponente 615 gespeichert werden (z. B. die Sensorkennung, Verifizierungsinformationen, die einem Verifizieren von Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, und/oder dergleichen), an die Steuerung 650 bereitstellen. Bei einigen Implementierungen kann die Sensor-IC 605 Informationen über die Digitalschnittstelle 620 von der Steuerung 650 empfangen.
Da die Sensor-IC 605 Operationen, die einem Korrigieren einer Messung durch die Sensorkomponente 610 zugeordnet sind, oder Operationen, die einem Korrigieren eines von der SM-Komponente 612 bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind, nicht ausführen muss, enthält die Sensor-IC 605 keine Verarbeitungseinheit, wodurch Kosten, Größe und Komplexität der Sensor-IC 605 reduziert werden (z. B. im Vergleich zu einer Sensor-IC, die eine Verarbeitungseinheit enthält).
6B ist ein Diagramm von Beispielkomponenten einer Steuerung 650. Wie in 6B gezeigt ist, kann die Steuerung 650 einen DSP 655 und eine Speicherkomponente 660 umfassen. Der DSP 655 kann eine Digitalsignalverarbeitungsvorrichtung oder eine Sammlung von Digitalsignalverarbeitungsvorrichtungen umfassen, z. B. einen oder mehrere DSPs, eine oder mehrere ALUs, eine oder mehrere Mikrosteuerungen (µCs) und/oder dergleichen. Bei einigen Implementierungen kann der DSP 655 dazu ausgebildet sein, von einer oder mehreren Sensor-ICs 605 Digitalsignale zu empfangen, die Messungen, die von der einen oder den mehreren Sensor-ICs 605 ausgeführt werden, oder Sicherheitsergebnisse darstellen, die von der einen oder den mehreren Sensor-ICs 605 bestimmt werden. Bei einigen Implementierungen kann der DSP 655 Operationen, die einem Korrigieren der Messungen und/oder der Sicherheitsergebnisse zugeordnet sind, basierend auf jeweiligen Sätzen von Kompensationsparametern ausführen, die der einen oder den mehreren Sensor-IC 605 zugeordnet sind, welche auf der Speicherkomponente 660 gespeichert sind. Bei einigen Implementierungen kann der DSP 655 dazu ausgebildet sein, ein Signal auszugeben, das die korrigierten Messungen und/oder die korrigierten Sicherheitsergebnisse darstellt (z. B. Signale, die einem Steuern von einem oder mehreren elektrischen Systemen zugeordnet sind).
Die Speicherkomponente 660 kann einen ROM (z. B. einen EEPROM), einen RAM und/oder jegliche andere Art von dynamischer oder statischer Speichervorrichtung umfassen, die Informationen und/oder Anweisungen für die Steuerung 650 speichert. Bei einigen Implementierungen kann die Speicherkomponente 660 Informationen speichern, die Operationen zugeordnet sind, die von der DSP 655 ausgeführt werden. Wie ferner gezeigt ist, kann die Speicherkomponente 660 einen oder mehrere Sätze von Kompensationsparametern speichern, die einer oder mehreren jeweiligen Sensor-ICs 605 zugeordnet sind. Bei einigen Implementierungen kann die Speicherkomponente 660 eine Zuordnung zwischen jedem der Sätze von Kompensationsparametern und einer entsprechenden Sensorkennung speichern.
6C ist ein Diagramm eines beispielhaften Sensorsystems 680, das eine oder mehrere Sensor-ICs 605 und eine Steuerung 650 umfasst. Wie in 6C gezeigt ist, kann das Sensorsystem 680 eine oder mehrere Sensor-ICs 605 (z. B. Sensor-IC 605-1 bis Sensor-IC 605-N (N ≥ 1) umfassen, die mit der Steuerung 650 verbunden sind. Wie gezeigt ist, können die eine oder die mehreren Sensor-ICs 605 bei einigen Implementierungen über einen Bus 685 mit der Steuerung 650 verbunden sein.
Bei einigen Implementierungen können die Sensor-ICs 605 des Sensorsystems 680 unterschiedliche Arten von Sensorkomponenten 610 und/oder SM-Komponenten 612, unterschiedliche Anzahlen von Sensorkomponenten 610 und/oder SM-Komponenten 612, unterschiedliche Anordnungen von Komponenten und/oder dergleichen umfassen. Wie in 6C gezeigt ist, speichern jeweilige Speicherkomponenten 615 jeder Sensor-IC 605 eine zugeordnete Sensorkennung (z. B. Sensor-IC 605-1 speichert eine erste Sensorkennung, Sensor-IC 605-N speichert eine N-te Sensorkennung), wohingegen die Speicherkomponente 660 der Steuerung 650 Sätze von Kompensationsparametern speichert, die jeder der einen oder der mehreren Sensor-ICs 605 zugeordnet sind (z. B. Speicherkomponente 660 speichert einen Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC 605-1 entsprechen, und einen Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC 605-N entsprechen). Bei einigen Implementierungen können die Sätze von Kompensationsparametern während der Produktion des Sensorsystems 680 auf der Speicherkomponente 660 gespeichert werden, wie oben im Zusammenhang mit 1A-1C beschrieben wurde.
Die Anzahl und Anordnung von in 6A-6C gezeigten Komponenten sind als Beispiel bereitgestellt. In der Praxis können die Sensor-IC 605, die Steuerung 650 und/oder das Sensorsystem 680 zusätzliche Komponenten, weniger Komponenten, unterschiedliche Komponenten oder unterschiedliche angeordnete Komponenten als die in 6A-6C gezeigten umfassen. Zusätzlich oder alternativ dazu kann ein Satz von Komponenten (z. B. eine oder mehrere Komponenten) der Sensor-IC 605, der Steuerung 650 und/oder des Sensorsystems 680 eine oder mehrere Funktionen ausführen, die als von einem anderen Satz von Komponenten der Sensor-IC 605, der Steuerung 650 und/oder des Sensorsystems 680 ausgeführt beschrieben sind.
Bei einigen Ausführungsbeispielen kann eine bestimmte Sensor-IC 605 ein oder mehrere Signale von Interesse messen, von denen eines oder mehrere dazu verwendet werden können, deren gegenseitige Kreuzabhängigkeiten zu kompensieren. Bei einigen Implementierungen kann ein bestimmtes Signal von Interesse somit dazu verwendet werden, eine Kreuzabhängigkeit eines anderen Signals von Interesse zu kompensieren. Beispielsweise wird angenommen, dass die Sensor-IC 605 dazu entworfen ist, Druck, Beschleunigung, Belastung, Temperatur und Versorgungsspannung zu messen. Hier können Belastung, Temperatur und Versorgungsspannung, wie durch die Sensor-IC 605 gemessen, dazu verwendet werden, eine Beschleunigungsmessung zu kompensieren, wohingegen Belastung, Temperatur, Versorgungsspannung und Beschleunigung, wie durch die Sensor-IC 605 gemessen, dazu verwendet werden könnten, die Druckmessung zu kompensieren. Bei einem anderen Beispiel wird angenommen, dass die Sensor-IC 605 dazu entworfen ist, (eine oder mehrere Komponenten von) Magnetfeld, Belastung, Temperatur und Versorgungsspannung zu messen. Hier könnten die Versorgungsspannung, die Temperatur und die Belastung, wie durch die Sensor-IC 605 gemessen, dazu verwendet werden, die Magnetfeldmessung zu kompensieren. Bei einigen Implementierungen kann eine solche Technik implementiert werden, wenn die Sensor-IC 605 eine Sensorkennung speichert und Informationen bereitstellt, die der Sensorkennung und einer oder mehreren Rohmessungen zugeordnet sind, die durch eine oder mehrere jeweilige Sensorkomponenten 610 erhalten werden. Hier kann die Steuerung 650, die einen Satz von Kompensationsparametern speichert, die der Sensor-IC 605 zugeordnet sind, die Sensorkennung empfangen, den Satz von gespeicherten Kompensationsparametern bestimmen und eine Messkompensation der einen oder mehreren Rohmessungen basierend auf dem Satz von Kompensationsparametern ausführen. Alternativ kann eine solche Technik implementiert werden, wenn eine Sensor-IC 605 den Satz von Kompensationsparametern (anstelle einer Sensorkennung) speichert und Informationen, die dem Satz von Kompensationsparametern und einer oder mehreren Rohmessungen zugeordnet sind, die durch die eine oder die mehreren jeweiligen Sensorkomponenten 610 erhalten werden, bereitstellt. Hier kann die Steuerung 650 die Informationen empfangen, die dem Satz von Kompensationsparametern zugeordnet sind, und kann eine Messkompensation der einen oder mehreren Rohmessungen basierend auf dem Satz von Kompensationsparametern ausführen.
7 ist ein Diagramm, das eine Beispielimplementierung des Sensorsystems 680 veranschaulicht. Das beispielhafte Sensorsystem 680 aus 7 wird hierin als Sensorsystem 700 bezeichnet. Wie in 7 gezeigt ist, umfasst das Sensorsystem 700 die Sensor-IC 605-1 und die Sensor-IC 605-2, die mit der Steuerung 650 über einen Bus 685 verbunden sind.
Wie gezeigt ist, umfasst die Sensor-IC 605-1 eine Sensorkomponente 610-X1, die dazu ausgebildet ist, eine Magnetfeldstärke an der Sensor-IC 605-1 zu messen, eine Sensorkomponente 610-T1, die dazu ausgebildet ist, eine Temperatur an der Sensor-IC 605-1 zu messen, und eine SM-Komponente 612-1, die dazu ausgebildet ist, ein Sicherheitsergebnis bereitzustellen, das einem Prüfen einer Funktionssicherheit der Sensor-IC 605-1 zugeordnet ist. Wie ferner gezeigt ist, speichert die Speicherkomponente 615 der Sensor-IC 605-1 eine Sensorkennung der Sensor-IC 605-1 (z. B. ID₁ ).
Wie ferner gezeigt ist, umfasst die Sensor-IC 605-2 eine Sensorkomponente 610-X2, die dazu ausgebildet ist, eine Magnetfeldstärke an der Sensor-IC 605-2 zu messen, und eine Sensorkomponente 610-T2, die dazu ausgebildet ist, eine Temperatur an der Sensor-IC 605-2 zu messen. Die Sensor-IC 605-2 umfasst ferner eine Sensorkomponente 610-S2, die dazu ausgebildet ist, eine Belastung an der Sensor-IC 605-2 zu messen, und eine Sensorkomponente 610-V2, die dazu ausgebildet ist, eine Versorgungsspannung an der Sensor-IC 605-2 zu messen. Wie ferner gezeigt ist, speichert die Speicherkomponente 615 der Sensor-IC 605-2 eine Sensorkennung der Sensor-IC 605-2 (z. B. ID₂ ).
Wie ferner in 7 gezeigt ist, speichert die Speicherkomponente 660 der Steuerung 650 einen Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC 605-1 zugeordnet sind (z. B. A₁), und Informationen, die diesen Satz von Kompensationsparametern zu der Sensorkennung ID₁ zuordnen. Gleichermaßen speichert die Speicherkomponente 660 der Steuerung 650 einen Satz von Kompensationsparametern, die der Sensor-IC 605-2 zugeordnet sind (z. B. A₂ ), und Informationen, die diesen Satz von Kompensationsparametern zu der Sensorkennung ID₂ zuordnen.
In einem Beispielbetrieb stellt die Sensor-IC 605-1 ein Signal X₁, das eine von der Sensorkomponente 610-X₁ ausgeführte Magnetfeldmessung darstellt, ein Signal T₁ , das eine von der Sensorkomponente 610-T1 ausgeführte Temperaturmessung darstellt, und ein Signal SM₁ , das ein durch die SM-Komponente 612-1 bestimmtes Sicherheitsergebnis darstellt, an die Steuerung 650 bereit. Wie ferner gezeigt ist, stellt die Sensor-IC 605-1 außerdem Informationen bereit, welche die Sensorkennung ID₁ identifizieren. Gleichermaßen stellt die Sensor-IC 605-2 ein Signal X₂ , das eine von der Sensorkomponente 610-X2 ausgeführte Magnetfeldmessung darstellt, ein Signal T₂ , das eine von der Sensorkomponente 610-T2 ausgeführte Temperaturmessung darstellt, ein Signal S₂ , das eine von der Sensorkomponente 610-S2 ausgeführte Druckmessung darstellt, und ein Signal VDD₂ , das eine von der Sensorkomponente 610-V2 ausgeführte Versorgungsspannungsmessung darstellt, an die Steuerung 650 bereit. Wie ferner gezeigt ist, stellt die Sensor-IC 605-2 außerdem Informationen bereit, die die Sensorkennung ID₂ identifizieren.
Bei diesem Beispiel empfängt die Steuerung 650 (z. B. der DSP 655) die Signale und Sensorkennungen, die von der Sensor-IC 605-1 und der Sensor-IC 605-2 bereitgestellt werden, und führt (basierend auf den unterschiedlichen Signalen und einem Messkompensationsalgorithmus, der auf der Speicherkomponente 660 gespeichert ist) eine Messkompensation aus, um ein Ausgangssignal (z. B. X_comp ), das eine kompensierte Magnetfeldmessung darstellt, sowie ein Ausgangssignal (z. B. SM_comp ), das ein kompensiertes Sicherheitsergebnis darstellt, zu erzeugen.
Wie oben angegeben ist, ist 7 lediglich als Beispiel bereitgestellt. Andere Beispiele sind möglich und können sich von der Beschreibung im Hinblick auf 7 unterscheiden. Beispielsweise kann das Sensorsystem 680 eine unterschiedliche Anzahl von Sensor-ICs 605, unterschiedliche Sensor-ICs 605, unterschiedlich angeordnete Sensor-IC 605s, unterschiedlich verbundene Sensor-IC 605s und/oder dergleichen als in der Beispielimplementierung 700 gezeigten umfassen.
Die vorhergehende Offenbarung stellt Veranschaulichungen und Beschreibungen bereit, es ist jedoch nicht beabsichtigt, dass dieselbe erschöpfend ist oder die Implementierungen auf die offenbarte präzise Form einschränkt. Modifizierungen und Variationen sind im Hinblick auf die obige Offenbarung möglich oder können aus der Praxis der Implementierungen erhalten werden.
Obwohl bestimmte Kombinationen von Merkmalen in den Patentansprüchen angeführt und/oder in der Beschreibung offenbart sind, ist es nicht beabsichtigt, dass diese Merkmale die Offenbarung möglicher Implementierungen einschränken. Tatsächlich können zahlreiche dieser Merkmale auf Weisen kombiniert werden, die nicht spezifisch in den Patentansprüchen angeführt und/oder in der Beschreibung offenbart sind. Obwohl jeder der unten angeführten abhängigen Patentansprüche nur von einem Patentanspruch direkt abhängen kann, umfasst die Offenbarung möglicher Implementierungen jeden abhängigen Patentanspruch in Kombination mit allen anderen Patentansprüchen in dem Patentanspruchssatz.
Kein Element, keine Handlung oder keine Anweisung, die in der vorliegenden Anmeldung verwendet werden, sollte als entscheidend oder wesentlich für die Erfindung ausgelegt werden, wenn es bzw. sie nicht explizit als solches beschrieben ist. Außerdem ist der Artikel „ein“, wie er hier verwendet wird, vorgesehen, ein oder mehrere Elemente einzubeziehen und kann synonym mit „ein oder mehrere“ verwendet werden. Ferner ist der Begriff „Satz“, wie er hier verwendet wird, vorgesehen, ein oder mehrere Elemente zu umfassen (z. B. verwandte Elemente, nicht verwandte Elemente, eine Kombination von verwandten Elementen und unverwandten Elementen, usw.) und kann synonym mit „ein oder mehrere“ verwendet werden. Wo nur ein Element gemeint ist, wird der Begriff „ein“ oder eine ähnliche Sprache verwendet. Wie hier verwendet, sind die Begriffe „aufweisen“, „enthalten“, „umfassen“ und dergleichen offene Begriffe. Ferner ist beabsichtigt, dass die Redewendung „auf der Basis von“ auch „wenigstens teilweise auf der Basis von“ bedeutet, wenn es nicht explizit anders dargelegt ist.

Claims

Verfahren, das folgende Schritte aufweist: Bestimmen, durch eine Vorrichtung, einer Sensorkennung, die einer integrierten Sensorschaltung (Sensor-IC) entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist; Bereitstellen der Sensorkennung, die der Sensor-IC entspricht, durch die Vorrichtung; Empfangen von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, durch die Vorrichtung und basierend auf dem Bereitstellen der Sensorkennung; und Bewirken, durch die Vorrichtung, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung, welche dem Sensorsystem zugeordnet ist, gespeichert wird, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind.
Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem die Kompensationsparameterinformationen Kompensationsdaten umfassen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, und wobei das Verfahren ferner folgenden Schritt aufweist: Berechnen des Satzes von Kompensationsparametern basierend auf den Kompensationsdaten und einem Kompensationsparameteralgorithmus.
Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem die Kompensationsparameterinformationen den Satz von Kompensationsparametern umfassen.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die Kompensationsparameterinformationen solche Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einzigartig für die Sensor-IC sind.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die Kompensationsparameterinformationen globale Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einer Mehrzahl von Sensor-ICs einschließlich der Sensor-IC zugeordnet sind.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, das ferner folgende Schritte aufweist: Bestimmen erster Verifizierungsinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind; Berechnen zweiter Verifizierungsinformationen basierend auf den Kompensationsparameterinformationen; Bestimmen, ob die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen; und entweder: Verifizieren, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC entsprechen, wenn die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen; oder Bestimmen, dass die Kompensationsparameterinformationen der Sensor-IC nicht entsprechen, wenn die zweiten Verifizierungsinformationen nicht mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem die Kompensationsparameterinformationen einen ersten Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters umfassen, der der Sensor-IC zugeordnet ist, und wobei das Verfahren ferner folgende Schritte aufweist: Messen eines zweiten Werts des PUF-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist; Bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt; und entweder: Authentifizieren der Sensor-IC, wenn der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt; oder Bestimmen, dass die Sensor-IC nicht authentisch ist, wenn der zweite Wert des PUF-Parameters nicht mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, das ferner folgende Schritte aufweist: Messen eines Werts eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist; Übertragen einer Authentifizierungsaufforderung, die die Sensorkennung und Informationen umfasst, welche den Wert des PUF-Parameters identifizieren, der der Sensor-IC zugeordnet ist; und Empfangen einer Authentifizierungsantwort, die angibt, ob die Sensor-IC authentisch ist.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem die Kompensationsparameterinformationen von einer Kompensationsparameterdatenstruktur empfangen werden, welche Kompensationsparameterinformationen speichert, die der Mehrzahl von Sensor-ICs zugeordnet sind.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, bei dem die Sensorkennung basierend darauf bestimmt wird, dass dieselbe auf einer Speicherkomponente der Sensor-IC gespeichert ist.
Verfahren, das folgende Schritte aufweist: Empfangen, durch eine Vorrichtung, einer Sensorkennung, die einer integrierten Sensorschaltung (Sensor-IC) entspricht, welche einem Sensorsystem zugeordnet ist; Bestimmen von Kompensationsparameterinformationen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, durch die Vorrichtung und basierend auf der Sensorkennung; und Bereitstellen, durch die Vorrichtung, der Kompensationsparameterinformationen in Verbindung mit einem Bewirken, dass ein Satz von Kompensationsparametern, die den Kompensationsparameterinformationen zugeordnet sind, auf einer Steuerung gespeichert wird, die dem Sensorsystem zugeordnet ist, wobei der Satz von Kompensationsparametern einen oder mehrere Parameter umfasst, die einem Korrigieren einer von der Sensor-IC ausgeführten Messung oder eines von der Sensor-IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind.
Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem die Kompensationsparameterinformationen Kompensationsdaten umfassen, die der Sensor-IC zugeordnet sind, oder den Satz von Kompensationsparametern umfassen.
Verfahren gemäß Anspruch 11 oder 12, bei dem die Kompensationsparameterinformationen einzigartige Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einzigartig für die Sensor-IC sind.
Verfahren gemäß Anspruch 11 oder 12, bei dem die Kompensationsparameterinformationen globale Kompensationsparameterinformationen umfassen, die einer Mehrzahl von Sensor-ICs einschließlich der Sensor-IC zugeordnet sind.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 11 bis 14, das ferner folgende Schritte aufweist: Bestimmen, basierend auf der Sensorkennung, eines Werts eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters, der einem Authentifizieren der Sensor-IC zugeordnet ist; und Bereitstellen des Werts des PUF-Parameters.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 11 bis 14, das ferner folgende Schritte aufweist: Bestimmen eines ersten Werts eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters, der der Sensor-IC zugeordnet ist; Empfangen einer Authentifizierungsaufforderung, die die Sensorkennung und Informationen umfasst, die einen zweiten Wert des PUF-Parameters identifizieren, der der Sensor-IC zugeordnet ist; Bestimmen, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt; Bestimmen, ob die Sensor-IC authentisch ist, basierend darauf, ob der zweite Wert der PUF mit dem ersten Wert der PUF übereinstimmt; und Übertragen einer Authentifizierungsantwort, die angibt, ob die Sensor-IC authentisch ist.
Eine oder mehrere Vorrichtungen, die folgende Merkmale aufweisen: einen oder mehrere Prozessoren, die dazu dienen: eine Kennung zu bestimmen, die eine integrierte Schaltung (IC) identifiziert, welche einem System zugeordnet ist; Kompensationsparameterinformationen, die der IC zugeordnet sind, basierend auf der Kennung zu erhalten; einen Satz von Kompensationsparametern, die einem Korrigieren einer durch die IC ausgeführten Messung oder eines von der IC bereitgestellten Sicherheitsergebnisses zugeordnet sind, basierend auf den Kompensationsparameterinformationen zu bestimmen; und zu bewirken, dass der Satz von Kompensationsparametern auf einer Steuerung gespeichert wird, die dem System zugeordnet ist.
Eine oder mehrere Vorrichtungen gemäß Anspruch 17, bei denen der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu dienen: erste Verifizierungsinformationen, die der IC zugeordnet sind, zu bestimmen; zweite Verifizierungsinformationen basierend auf den Kompensationsparameterinformationen zu berechnen; und selektiv zu verifizieren, dass die Kompensationsparameterinformationen der IC entsprechen, basierend darauf, ob die zweiten Verifizierungsinformationen mit den ersten Verifizierungsinformationen übereinstimmen.
Eine oder mehrere Vorrichtungen gemäß Anspruch 17 oder 18, wobei die Kompensationsparameterinformationen einen ersten Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters umfassen, der der IC zugeordnet ist, und wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu dienen: einen zweiten Wert des PUF-Parameters, der der IC zugeordnet ist, zu messen; und die IC basierend darauf, ob der zweite Wert des PUF-Parameters mit dem ersten Wert des PUF-Parameters übereinstimmt, selektiv zu authentifizieren.
Eine oder mehrere Vorrichtungen gemäß Anspruch 17 oder 18, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu dienen: einen Wert eines Physikalisch-Unklonbare-Funktion(PUF)-Parameters, der der IC zugeordnet ist, zu messen; eine Authentifizierungsanforderung zu übertragen, die die Kennung sowie Informationen umfasst, welche den Wert des PUF-Parameters identifizieren, der der IC zugeordnet ist; eine Authentifizierungsantwort zu empfangen, die angibt, ob die IC authentisch ist.