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Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schutzvorrichtung für eine Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters und ein Verfahren zum Schutz einer Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner eine Steuervorrichtung für einen Halbleiterschalter sowie eine Wechselrichteranordnung.
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Stand der Technik
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Elektrische Antriebssysteme, wie sie beispielsweise in ganz oder teilweise elektrisch angetriebenen Fahrzeugen Verwendung finden, umfassen in der Regel eine elektrische Maschine, die von einem Stromrichter gespeist wird. Der Stromrichter umfasst dabei in der Regel mehrere Halbbrücken mit Leistungshalbleiterschaltern. Diese Leistungshalbleiterschalter werden über eine Treiberschaltung angesteuert, welche die Steuersignale verstärken, um eine ausreichende elektrische Leistung zur Ansteuerung der Leistungshalbleitschalter bereitzustellen.
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Die Druckschrift
DE 10 2015 217 175 A1 offenbart eine Ansteuerschaltung für einen Wechselrichter eines Fahrzeugs. Der Wechselrichter ist dazu ausgelegt, eine Gleichspannung aus einem elektrischen Energiespeicher in einen Wechselstrom zu wandeln, mit dem eine elektrische Maschine eines Fahrzeugs betrieben wird. Die Ansteuerschaltung umfasst eine Treibereinheit, welche Wechselrichter-Steuersignale für die Schaltelemente des Wechselrichters erzeugt.
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Im Falle eines Defekts eines Leistungshalbleiterschalters kann es zu einem Kurzschluss zwischen dem Steueranschluss des Leistungshalbleiterschalters und einem weiteren Ausgang des Leistungshalbleiterschalters kommen. Durch einen solchen Kurzschluss kann ein Ausgang einer Treiberstufe für das Ansteuern des Leistungshalbleiterschalters stark belastet werden.
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Offenbarung der Erfindung
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Die vorliegende Erfindung offenbart eine Schutzvorrichtung für eine Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters, sowie ein Verfahren zum Schutz einer Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters mit den Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen sind Gegenstand der abhängigen Patentansprüche.
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Demgemäß ist vorgesehen:
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Eine Schutzvorrichtung für eine Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters. Die Treiberschaltung ist mittels eines elektrischen Vorwiderstands mit einem Steueranschluss des Halbleiterschalters elektrisch gekoppelt. Die Schutzvorrichtung ist dazu ausgelegt, einen Spannungsabfall über dem Vorwiderstand der Treiberschaltung zu erfassen. Die Schutzvorrichtung ist ferner dazu ausgelegt, die Treiberschaltung zu deaktivieren, wenn in dem detektierten Spannungsabfall eine vorbestimmte Charakteristik detektiert worden ist. Insbesondere kann die Treiberschaltung deaktiviert werden, wenn der detektierte Spannungsabfall mindestens eine vorgegebene Zeitdauer einen vorbestimmten Wert überschreitet.
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Weiterhin ist vorgesehen:
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Ein Verfahren zum Schutz einer Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters, wobei die Treiberschaltung mittels eines elektrischen Vorwiderstands mit dem Steueranschluss des Halbleiterschalters elektrisch gekoppelt ist. Das Verfahren umfasst einen Schritt zum Erfassen eines Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand der Treiberschaltung, und einen Schritt zum Deaktivieren der Treiberschaltungen, wenn in dem detektierten Spannungsabfall eine vorbestimmte Charakteristik detektiert worden ist. Insbesondere erfolgt das Deaktivieren der Treiberschaltung, wenn der detektierte Spannungsabfall mindestens eine vorgegebene Zeitdauer einen vorbestimmten Schwellwert überschreitet.
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Vorteile der Erfindung
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Der vorliegenden Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass es bei einem Fehlerfall, insbesondere bei einem Durchlegieren, eines Leistungshalbleiterschalters zu einem Kurzschluss zwischen dem Steueranschluss und einem weiteren Anschluss des Leistungshalbleiterschalters kommen kann. Bei einem solchen Kurzschluss kann eine Treiberschaltung, welche den Steuereingang des Leistungshalbleiterschalters speist, sehr stark belastet werden, das heißt es kann ein relativ hoher elektrischer Strom fließen. Diese starke Belastung des Ausgangs der Treiberschaltung kann gegebenenfalls zu weiteren Beschädigungen innerhalb der Treiberstufe oder auch weiteren Komponenten führen. Hierdurch besteht die Gefahr, dass ein Fehler in einem Leistungshalbleiterschalter zu weiteren Beschädigungen in der Treiberschaltung führt.
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Es ist daher eine Idee der vorliegenden Erfindung, dieser Erkenntnis Rechnung zu tragen und einen Schutz für eine Treiberschaltung eines Halbleiterschalters vorzusehen, welche im Fehlerfall eine zuverlässige Abschaltung der Treiberstufe mit dem fehlerhaften Halbleiterschalter ermöglicht. Auf diese Weise ist es möglich, weiteren Beschädigungen innerhalb der Treiberstufe vorzubeugen. Darüber hinaus kann durch ein möglichst zeitnahes Abschalten der Treiberstufe eines fehlerhaften Halbleiterschalters auch eine Ausbreitung des Fehlers in weitere Komponenten, beispielsweise in weitere Treiberstufen oder ähnliches vermieden werden.
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Wird ein fehlerhafter Leistungshalbleiterschalter frühzeitig erkannt und daraufhin die betroffene Treiberstufe für diesen Halbleiterschalter deaktiviert, so ist es gegebenenfalls möglich, eine Ausbreitung des Fehlers in weitere Komponente zu verhindern. Dies ermöglicht es beispielsweise ein elektrisches System im Fehlerfall in einen sicheren Betriebszustand, beispielsweise einen aktiven Kurzschluss oder ähnliches, zu überführen. Auf diese Weise kann die Sicherheit eines elektrischen Antriebssystems erhöht werden.
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Darüber hinaus kann durch die Deaktivierung der Treiberschaltung bei einem Fehler in dem angeschlossenen Halbleiterschalter eine Beschädigung weiterer Komponenten verhindern werden. Somit kann die Anzahl der beschädigten Komponenten im Fehlerfall verringert werden. Dies ermöglicht eine schnelle und kostengünstige Reparatur.
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Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Schutzvorrichtung ein Tiefpassfilter. Das Tiefpassfilter ist dazu ausgelegt, den detektierten Spannungsabfall über dem Vorwiderstand zu filtern. Insbesondere kann das Tiefpassfilter dazu ausgelegt sein, höherfrequente Komponenten in dem detektierten Spannungsabfall zu filtern. Die üblichen Schaltvorgänge während der Ansteuerung des Halbleiterschalters führen in der Regel zu kurzen, höherfrequenten Schaltimpulsen. Durch eine geeignete Tiefpassfilterung können diese Schaltimpulse eliminiert oder zumindest minimiert werden, so dass die Spannungsabfälle über dem Vorwiderstand aufgrund der üblichen Schaltimpulse während des Betriebs keinen signifikanten Einfluss auf das auszuwertende Signal haben.
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Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Schutzvorrichtung eine Vergleichseinrichtung. Die Vergleichseinrichtung ist dazu ausgelegt, einen Wert des detektierten Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand mit einem vorbestimmten Schwellwert zu vergleichen. Überschreitet der detektierte Spannungsabfall über dem Vorwiderstand, insbesondere der geglättete oder tiefpassgefilterte Spannungsabfall über dem Vorwiderstand einen vorgegebenen Schwellwert, so kann dies als ein Indiz dafür gedeutet werden, dass der Ausgang der Treiberschaltung für den Halbleiterschalter über einen längeren Zeitraum stark belastet wird. Dies tritt in der Regel nur im Fehlerfall auf.
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Gemäß einer Ausführungsform ist der vorbestimmte Schwellwert der Vergleichseinrichtung anpassbar. Insbesondere kann der vorbestimmte Schwellwert der Vergleichseinrichtung in Abhängigkeit von einer Versorgungsspannung der Treiberschaltung anpassbar sein. Wird die Treiberschaltung von mehr als einer Spannung wersorgt, so kann der Schwellwert in Abhängigkeit von mindestens einer der mehreren Versorgungsspannungen angepasst werden. Durch das Anpassen der Schwellwerte für die Detektion eines Fehlerfalls können auch Schwankungen in den Rahmenbedingungen, wie beispielsweise eine schwankende Versorgungsspannung oder ähnliches, berücksichtigt werden. So können beispielsweise auch Schwankungen in der Versorgungsspannung der Treiberschaltung dazu führen, dass sich auch im normalen, fehlerfreien Betrieb, höhere oder niedere Spannungsabfälle über dem Vorwiderstand einstellen. Durch eine geeignete Anpassung der Detektionsschwellen können derartige Effekte berücksichtigt und kompensiert werden.
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Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Schutzvorrichtung eine Speichereinrichtung. Die Speichereinrichtung ist dazu ausgelegt, von einem ersten Zustand in einen zweiten Zustand überzugehen, wenn die Vergleichseinrichtung ein Überschreiten des Spannungsabfalls über den vorbestimmten Schwellwert detektiert hat. Insbesondere kann die Speichereinrichtung den zweiten Zustand auch dann beibehalten, wenn der Spannungsabfall über dem Vorwiderstand den vorbestimmten Schwellwert wieder unterschreitet. Auf diese Weise kann ein dauerhaftes Abschalten der Treiberschaltung nach der Detektion eines Fehlers gewährleistet werden. Beispielsweise kann es sich bei der Speichereinrichtung .um eine bistabile Kippschaltung, wie zum Beispiel ein Flipflop oder ähnliches, handeln. Gegebenenfalls kann die Speichereinrichtung durch Anlegen eines geeigneten Rücksetzsignals zurückgesetzt, das heißt in den ersten Zustand überführt werden. Wenn die sich Speichereinrichtung in dem ersten Zustand befindet, kann die Treiberschaltung zur Ansteuerung des Halbleiterschalters aktiviert werden.
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Weiterhin ist eine Steuervorrichtung für einen Halbleiterschalter mit einer Treiberschaltung und einer erfindungsgemäßen Schutzvorrichtung vorgesehen. Die Treiberschaltung ist dazu ausgelegt, an einem Steuereingang des Halbleiterschalters ein Steuersignal bereitzustellen.
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Ferner ist eine Wechselrichteranordnung mit mehreren Halbleiterschaltern und einer zuvor beschriebenen Steuervorrichtung vorgesehen, wobei jede Treiberschaltung dazu ausgelegt ist, mindestens einen der mehreren Halbleiterschalter anzusteuern.
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Gemäß einer Ausführungsform der Wechselrichteranordnung ist für jeden Halbleiterschalter der mehreren Halbleiterschalter eine separate Steuereinrichtung vorgesehen.
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Die obigen Ausgestaltungen und Weiterbildungen lassen sich, soweit sinnvoll, beliebig miteinander kombinieren. Weitere Ausgestaltungen, Weiterbildungen und Implementierungen der Erfindung umfassen auch nicht explizit genannte Kombinationen von zuvor oder im Folgenden bezüglich den Ausführungsbeispielen beschriebenen Merkmalen der Erfindung. Insbesondere wird der Fachmann auch Einzelaspekte als Verbesserungen oder Ergänzungen zu den jeweiligen Grundformen der Erfindung hinzufügen.
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Figurenliste
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Weitere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend anhand der Figuren erläutert. Dabei zeigen:
- 1: eine schematische Darstellung einer Steuervorrichtung für einen Halbleiterschalter mit einer Schutzvorrichtung gemäß einer Ausführungsform;
- 2: eine schematische Darstellung einer Steuervorrichtung für einen Halbleiterschalter mit einer Schutzvorrichtung gemäß einer weiteren Ausführungsform;
- 3: eine schematische Darstellung einer Wechselrichteranordnung gemäß einer Ausführungsform; und
- 4: ein Ablaufdiagramm, wie es einem Verfahren zum Schutz einer Treiberschaltung gemäß einer Ausführungsform zugrunde liegt.
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Ausführungsformen der Erfindung
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1 zeigt eine schematische Darstellung eines Blockschaltbilds einer Steuervorrichtung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters 3 gemäß einer Ausführungsform. Die Steuervorrichtung zur Ansteuerung des Halbleiterschalters 3 umfasst eine Treiberschaltung 2 und eine Schutzvorrichtung 1 für die Treiberschaltung 2. An einem Eingang E der Treiberschaltung 2 kann ein Steuersignal bereitgestellt werden, welches durch die Treiberschaltung 2 aufbereitet wird, um am Ausgang A der Treiberschaltung 2 ein Ansteuersignal bereitzustellen, welches eine ausreichende Spannungshöhe und Leistung aufweist, um einen Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 zu treiben. Hierzu kann das Eingangssignal der Treiberschaltung 2 von einem Schaltkreis 23, beispielsweise einem Gatetreiber-IC oder ähnlichem empfangen und aufbereitet werden. Daraufhin kann das Signal von einer Verstärkerschaltung 22 verstärkt und über einen Vorwiderstand 21 am Ausgang A bereitgestellt werden. Der Ausgang A der Treiberschaltung 2 ist elektrisch mit dem Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 gekoppelt, so dass das am Ausgang A bereitgestellte Signal den Halbleiterschalter 3 ansteuern kann.
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Während des Ansteuerns des Halbleiterschalters 3 erfolgt für einen relativ kurzen Zeitraum ein Stromfluss von dem Ausgang A der Treiberschaltung 2 zu dem Steueranschluss des Halbleiterschalters 3.
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Tritt in dem Halbleiterschalter 3 ein Fehlerfall auf, so kann auch zwischen dem Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 und einem weiteren Anschluss des Halbleiterschalters 3 ein Kurzschluss auftreten. Dieser Kurzschluss kann dazu führen, dass von dem Ausgangsanschluss A der Treiberschaltung 2 in Richtung des Halbleiterschalters 3 für einen längeren Zeitraum ein größerer Strom fließen kann. Dieser hohe Stromfluss führt dabei auch zu einem korrespondierenden Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21.
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Die Schutzvorrichtung 1 für die Treiberschaltung 2 ist mit der Treiberschaltung 2 derart gekoppelt, dass die Schutzvorrichtung 1 einen Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 detektieren kann. Während normale Schaltvorgänge für den Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 nur zu relativ kurzen Stromimpulsen und damit verbundenen kurzen Spannungsabfällen über dem Vorwiderstand 21 führen, führt ein Fehler in dem Halbleiterschalter 3 zu einem längeren Stromfluss und damit verbunden auch zu einem Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21, der über eine längere Zeit andauert. Ein derartiger Spannungsabfall, der länger als eine vorgegebene Zeitdauer anhält, kann von der Schutzvorrichtung 1 erkannt werden. Daraufhin kann die Schutzvorrichtung 1 die Treiberschaltung 2 deaktivieren. Beispielsweise kann die Schutzvorrichtung 1 an der Treiberschaltung 2 ein Steuersignal bereitstellen, welches die Treiberschaltung 2 aktiviert bzw. deaktiviert. Beispielsweise kann die Treiberschaltung 2 nur solange aktiviert werden, solange von der Schutzvorrichtung 1 ein aktives Freigabesignal anliegt. Wird dieses aktive Freigabesignal abgeschaltet, so wird daraufhin auch die Treiberschaltung 2 deaktiviert. Selbstverständlich ist es auch umgekehrt möglicht, dass die Schutzvorrichtung 1 zur Deaktivierung der Treiberschaltung 2 ein aktives Signal ausgibt.
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Wie bereits zuvor ausgeführt, verursachen die normalen Steuerimpulse zur Ansteuerung des Halbleiterschalters 2 während des normalen Betriebs nur relativ kurzzeitige Spannungsabfälle über dem Vorwiderstand 21. Im Fehlerfall dagegen kann für einen längeren Zeitraum ein Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 detektiert werden. Um zwischen diesen beiden Zuständen zu unterscheiden, kann in der Schutzvorrichtung 1 für die Treiberschaltung 2 ein Tiefpassfilter 11 vorgesehen sein, welches ein zu dem Spannungsabfall über den Vorwiderstand 21 korrespondierendes Signal filtert. Auf diese Weise können höherfrequente Signalanteile eliminiert oder zumindest minimiert werden, so dass für die weitere Auswertung nur der niederfrequente Anteil des Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand 21 ausgewertet wird. Für die Tiefpassfilterung kann ein beliebiges Tiefpassfilter, beispielsweise ein R-C-Glied oder ähnliches verwendet werden.
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Das entsprechend aufbereitete Signal kann daraufhin einer Vergleichseinrichtung 12 zugeführt werden, welche den detektierten Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 mit einem vorgegebenen Schwellwert vergleicht. Überschreitet der detektierte Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 den vorgegebenen Schwellwert, so kann dies als Hinweis darauf gewertet werden, dass in dem Halbleiterschalter 3 ein Fehler aufgetreten ist.
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Gegebenenfalls kann der vorgegebene Schwellwert, mit dem die Vergleichseinrichtung 12 den Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 vergleicht, angepasst werden. Beispielsweise kann die Schwelle für den Vergleich in Abhängigkeit einer Versorgungsspannung der Treiberschaltung 2 angepasst werden. Eine Variation in der Versorgungsspannung der Treiberschaltung 2 kann unter Umständen dazu führen, dass auch die elektrischen Ströme von der Treiberschaltung 2 zu dem Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 sich in Abhängigkeit von der Höhe der Versorgungsspannung ändern. Durch eine (dynamische) Anpassung der Detektionsschwelle in der Vergleichseinrichtung 12 können derartige Effekte berücksichtigt und gegebenenfalls kompensiert werden.
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Ein Ausgang der Vergleichseinrichtung 12 kann mit einer Speichereinrichtung 13 gekoppelt sein. Die Speichereinrichtung 13 kann beispielsweise von einem ersten Zustand in einen zweiten Zustand wechseln, wenn die Vergleichseinrichtung 12 ein Überschreiten des Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand 21 über den vorgegebenen Schwellwert detektiert. Darüber hinaus kann die Speichereinrichtung 13 auch in dem zweiten Zustand verbleiben, selbst wenn der Spannungsabfall über dem Vorwiderstand 21 wieder unter den vorgegebenen Schwellwert absinkt. Auf diese Weise kann die Speichereinrichtung 13 nach einer Detektion eines Fehlers, das heißt einem Überschreiten des Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand 21 für eine vorgegebene Zeitdauer, einen Fehlerfall detektieren und ein Abschaltsignal für das Deaktivieren der Treiberschaltung 2 bereitstellen. Dieses Abschaltsignal soll nach der Detektion eines Fehlers dauerhaft aufrechterhalten werden. Beispielsweise kann hierzu ein Flipflop oder ähnliches eingesetzt werden. Gegebenenfalls kann die Speichereinrichtung 13 mittels eines Rücksetzsignals (Reset) zurückgesetzt werden.
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2 zeigt eine schematische Darstellung eines Blockschaltbilds einer Steuervorrichtung für einen Halbleiterschalter 3 gemäß einer weiteren Ausführungsform. Die Steuervorrichtung gemäß 2 unterscheidet sich von der zuvor beschriebenen Steuervorrichtung insbesondere dadurch, dass das Treiber-IC 23 der Treiberschaltung 2 das Steuersignal in zwei Signale aufspaltet. Die entsprechenden Signalpfade sind durch die Buchstaben a und b gekennzeichnet. Für der Schließen des Halbleiterschalters 3 kann der obere Pfad a beispielsweise einen positiven Ausgangsstrom führen. In diesem Fall ist der Pfad b dann hochohmig. Für der Öffnen des Halbleiterschalters 3 kann der untere Pfad b einen negativen Ausgangsstrom führen. In diesem Fall ist der Pfad a dann hochohmig. Auf diese Weise werden separate Steuersignale für das Öffnen und das Schließen des Halbleiterschalters 3 generiert.. Darüber hinaus entspricht die Steuervorrichtung zur Ansteuerung des Halbleiterschalters 3 und insbesondere die Schutzvorrichtung 1 der zuvor beschriebenen Ausführungsform gemäß 1.
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3 zeigt eine schematische Darstellung einer Wechselrichteranordnung gemäß einer Ausführungsform. Die Wechselrichteranordnung kann beispielsweise drei Halbbrücken mit jeweils zwei Halbleiterschaltern 3 umfassen. Jeder dieser Halbleiterschalter 3 kann von einer Treiberschaltung 2 angesteuert werden. Darüber hinaus kann für jede Treiberschaltung 2 ein Schutzvorrichtung 1 gemäß einer der zuvor beschriebenen Ausführungsformen vorgesehen sein. Auf diese Weise kann für die Treiberschaltungen 2 der Halbleiterschalter 3 ein individueller Schutz vorgesehen sein. Insbesondere wenn in einem der Halbleiterschalter 3 ein Fehler, insbesondere ein Kurzschluss zwischen Steueranschluss und einem weiteren Anschluss auftritt, so kann die entsprechende Treiberschaltung 2 durch die korrespondierende Schutzvorrichtung 1 deaktiviert werden. Hierbei wird der Betrieb der verbleibenden Halbleiterschalter und der dazugehörigen Treiberschaltungen 2 nicht beeinflusst. Insbesondere wenn die Wechselrichterschaltung beispielsweise für eine Ansteuerung einer elektrischen Maschine vorgesehen ist, so kann im Falle eines Fehlers in einem der Halbleiterschalter 3 die Wechselrichteranordnung in einen sicheren Betriebszustand überführt werden.
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Beispielsweise kann es sich bei einem solchen sicheren Betriebszustand um einen aktiven Kurzschluss handeln, bei dem alle oberen oder unteren Halbleiterschalter gleichzeitig geschlossen sind. Tritt beispielsweise in einem der unteren Halbleiterschalter 3 ein Fehler und ein damit verbundener Kurzschluss in dem entsprechenden Halbleiterschalter 3 auf, so können die verbleibenden beiden unteren Halbleiterschalter ebenfalls geschlossen werden. Die drei oberen Halbleiterschalter 3 werden dabei alle geöffnet. Analog kann auch bei einem Kurzschluss einer der oberen Halbleiterschalter 3 vorgegangen werden. Durch das Deaktivieren der Treiberschaltung eines fehlerhaften Halbleiterschalters 3 ist ein sicheres Ansteuern der übrigen Halbleiterschalter 3 dabei weiterhin möglich.
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4 zeigt eine schematische Darstellung eines Ablaufdiagramms, wie es einem Verfahren zum Schutz einer Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters gemäß einer Ausführungsform zugrunde liegt. Das Verfahren kann insbesondere auf eine Treiberschaltung 2 zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters 3 angewendet werden, wobei die Treiberschaltung 2 mittels eines elektrischen Vorwiderstands 21 mit einem Steueranschluss des Halbleiterschalters 3 elektrisch gekoppelt ist. In Schritt S1 erfolgt ein Erfassen eines Spannungsabfalls über dem Vorwiderstand 21 der Treiberschaltung 2. In Schritt S2 wird die Treiberschaltung 2 dann deaktiviert, wenn in dem detektierten Spannungsabfall eine vorbestimmte Charakteristik detektiert worden ist. Wie zuvor beschrieben, kann es sich bei der vorbestimmten Charakteristik beispielsweise um ein Überschreiten des Spannungsabfalls über einen Schwellwert für eine vorbestimmte Zeitdauer handeln. Hierzu kann, wie oben beschrieben, der Spannungsabfall mittels eines Tiefpassfilters gefiltert und der gefilterte Spannungsabfall mit einem Schwellwert verglichen werden. Überschreitet der detektierte Spannungsabfall einen vorgegebenen Schwellwert, und ist der Schwellwert mindestens eine vorgegebene Zeitdauer überschritten, so kann die Ansteuerung des Halbleiterschalters deaktiviert werden. Diese Deaktivierung kann auch dann aufrechterhalten werden, wenn der detektierte Spannungsabfall den vorgegebenen Schwellwert wieder unterschreitet.
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Zusammenfassend betrifft die vorliegende Erfindung den Schutz einer Treiberschaltung zur Ansteuerung eines Halbleiterschalters. Hierzu wird ein Spannungsabfall in einem Vorwiderstand zwischen der Treiberschaltung und einem Steueranschluss des Halbleiterschalters ausgewertet. Überschreitet der Spannungsabfall über dem Vorwiderstand einen vorgegebenen Schwellwert und ist dieser Schwellwert für mindestens eine vorbestimmte Zeitdauer überschritten, so wird daraufhin die Treiberschaltung für den Halbleiterschalter deaktiviert.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- DE 102015217175 A1 [0003]
