DE102019128752A1 - Process for the production of stacked OLEDs - Google Patents

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DE102019128752A1
DE102019128752A1 DE102019128752.9A DE102019128752A DE102019128752A1 DE 102019128752 A1 DE102019128752 A1 DE 102019128752A1 DE 102019128752 A DE102019128752 A DE 102019128752A DE 102019128752 A1 DE102019128752 A1 DE 102019128752A1
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    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Abstract

Mehrschichtige OLED und Verfahren zu deren Herstellung, wobei nacheinander auf einem Substrat 1 eine erste OLED-Schichtstruktur (10), eine Metallisierung (11), eine zweite OLED-Schichtstruktur (12), eine Metallisierung (13), eine Isolationsschicht (14), eine Metallisierung (15), eine dritte OLED-Schichtstruktur (16) und eine Metallisierung (17) abgeschieden werden, wobei der gesamte Prozess in einer einzigen Prozesskammer (29) unter Verwendung einer einzigen Schattenmaske (19) durchgeführt wird und die Schattenmaske (19) beim Abscheiden der Metallisierungen (13, 15, 17) und der Isolationsschicht (14) einen vertikalen Abstand zur darunterliegenden Schicht aufweist.Multi-layer OLED and a method for their production, in which a first OLED layer structure (10), a metallization (11), a second OLED layer structure (12), a metallization (13), an insulation layer (14), a metallization (15), a third OLED layer structure (16) and a metallization (17) are deposited, the entire process being carried out in a single process chamber (29) using a single shadow mask (19) and the shadow mask (19) when the metallizations (13, 15, 17) and the insulation layer (14) are deposited, it is at a vertical distance from the layer below.

Description

Gebiet der TechnikField of technology

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von OLEDs, bei dem in aufeinanderfolgenden Prozessschritten mehrere OLED-Schichtstrukturen, die jeweils Licht in einer anderen Farbe emittieren, und zwischen den OLED-Schichtstrukturen Metallisierungen abgeschieden werden.The invention relates to a method for producing OLEDs in which, in successive process steps, a plurality of OLED layer structures, each of which emits light in a different color, and metallizations are deposited between the OLED layer structures.

Die Erfindung betrifft darüber hinaus eine nach dem Verfahren hergestellte Schichtstruktur.The invention also relates to a layer structure produced by the method.

Stand der TechnikState of the art

Die DE 10212923A1 beschreibt ein Verfahren zum Beschichten eines Substrates, bei dem in derselben Prozesskammer sowohl n- und p-leitende, isolierende oder metallische Schichten abgeschieden werden können.The DE 10212923A1 describes a method for coating a substrate in which both n- and p-conducting, insulating or metallic layers can be deposited in the same process chamber.

Die DE 102014102191 B4 beschreibt ein Verfahren zur Herstellung von OLEDs.The DE 102014102191 B4 describes a process for the production of OLEDs.

Die US 2018/0019441 A1 beschreibt ein Verfahren zum Abscheiden von strukturierten Schichten, die mehrere übereinander angeordnete Lagen aufweisen, die mittels einer einzigen Schattenmaske strukturiert werden, wobei die Schattenmaske verschiedene Abstände zum Substrat einnehmen kann.The US 2018/0019441 A1 describes a method for depositing structured layers which have a plurality of layers arranged one on top of the other and which are structured by means of a single shadow mask, the shadow mask being able to assume different distances from the substrate.

Das Standardverfahren zur Herstellung von OLED-Bildschirmen verlangt das Abscheiden einer Vielzahl von Schichten. Die Schichten werden jeweils in einer gesonderten Prozesskammer mit einer speziellen Schattenmaske abgeschieden. Dabei werden OLED-Schichtstrukturen mit verschiedenen Farben nebeneinander angeordnet. Es gibt auch Verfahren, bei denen die OLED-Schichtstrukturen übereinander abgeschieden werden. Jede OLED-Schichtstruktur liegt zwischen zwei Metallisierungen, mit denen die Oberflächen der OLED-Schichtstrukturen mit Kontaktfeldern elektrisch leitend verbunden sind. Die Kontaktfelder befinden sich auf dem Substrat und werden von einer elektronischen Funktionsschicht angesteuert.The standard process for the production of OLED screens requires the deposition of a large number of layers. The layers are each deposited in a separate process chamber with a special shadow mask. Here, OLED layer structures with different colors are arranged next to one another. There are also processes in which the OLED layer structures are deposited on top of one another. Each OLED layer structure lies between two metallizations with which the surfaces of the OLED layer structures are electrically conductively connected to contact fields. The contact fields are located on the substrate and are controlled by an electronic functional layer.

Zusammenfassung der ErfindungSummary of the invention

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Herstellung von OLEDs anzugeben, das mit einer verminderten Anzahl von Prozesskammern auskommt.The invention is based on the object of specifying a method for producing OLEDs which manages with a reduced number of process chambers.

Gelöst wird die Aufgabe durch die in den Ansprüchen angegebene Erfindung, wobei die Unteransprüche nicht nur vorteilhafte Weiterbildungen der im Hauptanspruch angegebenen Erfindung, sondern auch eigenständige Lösungen der Aufgabe sind.The object is achieved by the invention specified in the claims, the subclaims not only being advantageous developments of the invention specified in the main claim, but also independent solutions to the object.

Erfindungsgemäß werden zumindest einige der mehreren Beschichtungsschritte in nur einer Prozesskammer eines OVPD-Reaktors durchgeführt. Dem Abscheideverfahren geht eine Vorbereitung des Substrates voraus. Zur Vorbereitung des Substrates gehört eine Strukturierung der Substratoberfläche mit einer Vielzahl von Emissionsfeldern. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren erhält jedes Emissionsfeld bei den erfindungsgemäßen Behandlungsschritten drei OLED-Schichtstrukturen, die vertikal übereinander angeordnet sind, wobei zwischen den OLED-Schichtstrukturen Metallisierungen angeordnet sind. Diese werden von optisch durchsichtigen Metallschichten ausgebildet. Unter dem Begriff Metallisierung oder Metallschichten wird im Rahmen dieser Offenbarung eine dünne Lage aus elektrisch leitfähigem Material verstanden. Es handelt sich um eine transparente elektrisch leitfähige Schicht, die neben einer Komposition aus Metallen gegebenenfalls auch organische Anteile enthalten kann. Bei Bedarf kann die transparente elektrisch leitende Schicht auch polimerisierte organische Anteile enthalten. Die Grundstruktur des Substrates enthält eine Vielzahl von Emissionsfeldern, die jeweils von einem Isolator umgeben sein können und schachbrettartig auf dem Substrat angeordnet sind. Jedem Emissionsfeld sind darüber hinaus vier Kontaktflächen zugeordnet. Das Emissionsfeld kann eine rechteckige und insbesondere quadratische Form besitzen. Die Kontaktflächen können sich parallel zu den Rändern des Emissionsfeldes erstrecken. Es kann vorgesehen sein, dass sich ein erstes Paar Kontaktflächen gegenüberliegt, die einen ersten, geringen Abstand zum Isolator besitzen. Es kann ferner vorgesehen sein, dass ein zweites Paar Kontaktflächen sich gegenüberliegt, die einen zweiten, größeren Abstand jeweils zum Isolator oder Emissionsfeld besitzen. Es kann aber auch vorgesehen sein, dass zwei Kontaktflächen mit geringem Abstand jeweils zum Isolator oder Emissionsfeld über Eck benachbart angeordnet sind und zwei Kontaktflächen mit einem großen Abstand jeweils zum Isolator oder Emissionsfeld ebenfalls über Eck benachbart angeordnet sind. Erfindungsgemäß werden von den folgenden Behandlungsschritten zumindest zwei Schritte in derselben Prozesskammer eines OVPD-Reaktors unmittelbar aufeinander folgend durchgeführt:According to the invention, at least some of the multiple coating steps are carried out in only one process chamber of an OVPD reactor. The deposition process is preceded by a preparation of the substrate. Structuring the substrate surface with a large number of emission fields is part of the preparation of the substrate. With the method according to the invention, each emission field receives three OLED layer structures in the treatment steps according to the invention, which are arranged vertically one above the other, with metallizations being arranged between the OLED layer structures. These are formed by optically transparent metal layers. In the context of this disclosure, the term metallization or metal layers is understood to mean a thin layer of electrically conductive material. It is a transparent, electrically conductive layer which, in addition to a composition of metals, can optionally also contain organic components. If necessary, the transparent electrically conductive layer can also contain polymerized organic components. The basic structure of the substrate contains a multiplicity of emission fields, which can each be surrounded by an insulator and are arranged on the substrate in a checkerboard manner. In addition, four contact areas are assigned to each emission field. The emission field can have a rectangular and, in particular, a square shape. The contact surfaces can extend parallel to the edges of the emission field. It can be provided that a first pair of contact surfaces are opposite one another and have a first, small distance from the insulator. It can also be provided that a second pair of contact surfaces are opposite each other, each having a second, greater distance from the insulator or emission field. However, it can also be provided that two contact surfaces are arranged closely adjacent to the insulator or emission field in each case at a corner and two contact surfaces with a large distance from the insulator or emission field are also arranged adjacent to the corner. According to the invention, at least two steps of the following treatment steps are carried out in the same process chamber of an OVPD reactor in direct succession:

Aufbringen einer ersten OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines in zumindest einem ersten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine zweite Position und Aufbringen einer ersten Metallisierung auf die erste OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine dritte Position und Aufbringen einer zweiten OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines in zumindest einem zweiten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine vierte Position und Aufbringen einer zweiten Metallisierung auf die zweite OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine fünfte Position und Aufbringen einer Isolationsschicht auf die zweite Metallisierung durch Einspeisen eines auf dem Substrat zu einem Isolator kondensierenden Dampfes; Anordnen der Schattenmaske in eine sechste Position und Aufbringen einer dritten Metallisierung auf die Isolationsschicht durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine siebte Position und Aufbringen einer dritten OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines in zumindest einem dritten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat; Anordnen der Schattenmaske in eine achte Position und Aufbringen einer vierten Metallisierung auf die dritte OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat. Unter Dampferzeuger wird im Rahmen der Offenbarung jede Quelle angesehen, die in der Lage ist, einen Dampf zu erzeugen, also insbesondere solche Quellen, bei denen ein Festkörper oder eine Flüssigkeit durch Erhitzen oder durch Änderungen anderer thermodynamischer Parameter in eine Gasform gebracht wird. Es werden auch solche Vorrichtungen darunter verstanden, bei denen ein Aerosol durch Zufuhr von Energie verdampft wird.Application of a first OLED layer structure by feeding an organic vapor generated in at least one first steam generator together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arranging the shadow mask in a second position and applying a first metallization to the first OLED layer structure by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arrange the shadow mask in a third position and apply a second OLED layer structure by feeding an organic vapor generated in at least one second steam generator together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arranging the shadow mask in a fourth position and applying a second metallization to the second OLED layer structure by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arranging the shadow mask in a fifth position and applying an insulation layer to the second metallization by feeding in a vapor condensing on the substrate to form an insulator; Arranging the shadow mask in a sixth position and applying a third metallization to the insulation layer by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arranging the shadow mask in a seventh position and applying a third OLED layer structure by feeding an organic vapor generated in at least one third steam generator together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate; Arranging the shadow mask in an eighth position and applying a fourth metallization to the third OLED layer structure by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber and condensing the vapor on the substrate. In the context of the disclosure, a steam generator is considered to be any source that is capable of generating steam, that is to say in particular those sources in which a solid or a liquid is converted into a gas form by heating or by changing other thermodynamic parameters. It is also understood to include such devices in which an aerosol is vaporized by supplying energy.

Während des Abschneidens der OLED-Schichtstrukturen liegt eine Randkante einer Öffnung der Schattenmaske, durch die das Beschichtungsmaterial in Richtung des Substrates, insbesondere durch Diffusion, transportiert wird, berührend auf der darunter liegenden Schicht, beispielsweise Metallisierung, oder dem Isolator auf. Die Fläche der OLED-Schichtstrukturen stimmt dadurch mit der Fläche der Öffnung der Schattenmaske überein. Die Öffnung kann geringfügig größer sein, als der von einem Rand, beispielsweise von einem Isolator, begrenzte Innenraum des Emissionsfeldes. Der Rand der Öffnung kann beim Abscheiden der OLED-Schichtstrukturen auf der Fläche des Isolators liegen, sodass die OLED-Schichtstruktur sich nicht nur über das Emissionsfeld, sondern auch über einen Abschnitt des Isolators erstreckt. Die Positionen der Schattenmaske beim Abscheiden der drei OLED-Schichtstrukturen können dieselben sein, sodass die OLED-Schichtstrukturen vertikal übereinander abgeschieden werden. Die OLED-Schichtstrukturen können in der folgenden Reihenfolge abgeschieden werden rot, blau, grün. Beim Abscheiden der Metallisierung und/oder der Isolationsschicht kann die Schattenmaske vom Substrat abgehoben werden, sodass zwischen der Randkante der Öffnung der Schattenmaske und der darunterliegenden Schicht oder dem darunterliegenden Isolator ein Spalt entsteht. Durch diesen Spalt kann der zum Abscheiden der Metallisierung oder der Isolationsschicht verwendete Dampf unter den Steg der Schattenmaske diffundieren. Dies hat die Abscheidung einer vergrößerten Fläche zur Folge. Die Schattenmaske wird beim Abscheiden der Metallisierung derart angeordnet, dass sich die Metallisierung über einen wesentlichen Bereich der Oberfläche der OLED-Schichtstruktur erstreckt und zusätzlich über eine Kontaktfläche. Die Schattenmaske wird hierzu bevorzugt diagonal zu den Randkanten des Emissionsfeldes verlagert, sodass zwei über Eck aneinander angrenzende Randkanten der Metallisierung etwa entlang des äußeren Randes des Emissionsfeldes beziehungsweise des inneren Randes des Isolators verlaufen und ein Randbereich der Metallisierung über eine Kontaktfläche verläuft. In einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung verbindet die erste Metallisierung eine gering dem Isolator beabstandete Kontaktfläche mit der Oberfläche einer OLED-Schichtstruktur. Die zweite Metallisierung, die auf die zweite OLED-Schichtstruktur abgeschieden wird, kann ebenfalls zwei über Eck aneinander angrenzende Ränder besitzen, die etwa auf dem inneren Rand des Isolators beziehungsweise dem Rand des Emissionsfeldes verlaufen. Ein Randbereich der Metallisierung liegt auf einer Kontaktfläche auf, die einen geringen Abstand zum Akkumulator beziehungsweise zum Emissionsfeld besitzt. Diese Kontaktfläche wird mit der Oberfläche der OLED-Schichtstruktur verbunden. Die erste Metallisierung bildet eine Elektrode, für zwei OLED-Strukturen. Die Abscheidung der ersten und der zweiten OLED-Schichtstrukturen und der ersten und zweiten Metallisierung erfolgt bevorzugt in einer einzigen Prozesskammer mit derselben Schattenmaske in unmittelbar aufeinanderfolgenden Prozessschritten. An diesem Prozessschritt kann sich die Abscheidung einer Isolationsschicht anschließen. Diese Abscheidung kann in derselben Prozesskammer mit derselben Schattenmaske erfolgen. Die Isolationsschicht besitzt eine Größe, die durch den Abstand der Maske vom Substrat eingestellt wird, die ausreichend groß ist, um die beiden ersten und zweiten Metallisierungen zu überdecken, nicht jedoch die beiden, insbesondere sich gegenüberliegenden, weiter vom Isolator beabstandeten Kontaktflächen. Der Abstand dieser zweiten Kontaktflächen vom Isolator oder vom Emissionsfeld ist größer, als die Breite der ersten Kontaktflächen, die nahe am Isolator angeordnet sind. In einer weiteren Folge von Prozessschritten, die in einer anderen Prozesskammer, bevorzugt aber in derselben Prozesskammer, in der die vorherigen Prozessschritte durchgeführt worden sind, durchgeführt werden, wird auf die Isolationsschicht zunächst eine dritte Metallisierung, dann eine dritte OLED-Schichtstruktur und dann eine vierte Metallisierung abgeschieden. Auch hier werden die dritten und vierten Metallisierungen derart abgeschieden, dass ein Randabschnitt der Metallisierung sich über eine der zwei freiliegenden Kontaktflächen erstreckt. Die Metallisierungen können zwei über Eck aneinandergrenzende Randkanten aufweisen, die sich entlang des inneren Randes des Emissionsfeldes erstrecken. Das Ergebnis des zuvor beschriebenen Verfahrens ist ein Schichtenstapel aus transparenten Schichten, bei dem rotes, grünes und blaues Licht emittierende OLED-Schichtstrukturen vertikal übereinander angeordnet sind, wobei jede OLED separat und unabhängig von benachbarten OLEDs elektrisch angesteuert werden kann. Hierzu sind jeweils zwei Elektroden vorgesehen, die durch die Metallisierungen gebildet sind. Eine Metallisierung bildet jeweils eine Anode und eine andere Metallisierung jeweils eine Katode. Die Elektroden werden derart abgeschieden, dass sie einen elektrischen Kontakt mit einer Ansteuerelektronik, die von der elektronischen Funktionsschicht gebildet ist, besitzen. Um die Metallisierung herzustellen, wird eine Metallquelle verwendet. Bei dem OVPD-Reaktor handelt es sich um einen Vakuum-Reaktor, dessen Gaseinlassorgan auf eine Dampftemperatur des Metalles aufgeheizt werden kann. Über ein Trägergas kann verdampftes Metall durch das Gaseinlassorgan, bei dem es sich um einen Showerhead handeln kann, in die Prozesskammer eingespeist werden. Dort liegt das Substrat auf einem gekühlten Substrathalter, sodass das verdampfte Metall auf dem Substrat und insbesondere unter den Öffnungen der Schattenmaske kondensieren kann. Der Metalldampf diffundiert dabei unter die Stege der Maske. Das Substrat wird, bevor es in die Prozesskammer gebracht und auf den Substrathalter gelegt wird, mit einer Vielzahl von Emissionsfeldern strukturiert, wobei jedes Missionsfeld eine elektronische Funktionseinheit besitzt. Letztere kann von einer elektronischen Funktionsschicht gebildet sein. Das Emissionsfeld wird von einem Isolator umgeben. Mit der Funktionseinheit sind vier Kontaktflächen verbunden, die jeweils mit einer Metallisierung verbunden sind. In einem ersten Prozessschritt wird eine rote OLED-Schichtstruktur abgeschieden, wobei der Abstand der Maske zum Substrat kleiner als 10 µm, bevorzugt 0 µm ist. Danach wird die Schattenmaske angehoben und parallel zur Substratebene und insbesondere diagonal zu den Schenkeln des Isolators verschoben. Beim Abscheiden der Metallisierung kann der Abstand von Schattenmaske zum Substrat größer als 10 µm sein. Die nächste OLED-Schichtstruktur wird unmittelbar auf die Metallisierung abgeschieden, wobei hierzu der Abstand der Scheibenmaske zum Substrat bevorzugt kleiner als 10 µm, bevorzugt 0 µm ist. Danach wird die Schattenmaske angehoben und parallel zur Substratebene und insbesondere diagonal zu den Schenkeln des Isolators verschoben. Beim Abscheiden der nächsten Metallisierung kann der Abstand von Schattenmaske zum Substrat größer als 10 µm sein. Die Maske wird erneut parallel zur Erstreckungsebene des Substrates verschoben und auf einen Abstand von größer 10 µm, bevorzugt größer 20 µm und bevorzugt größer 50 µm angehoben. In dieser Position wird die Isolationsschicht abgeschieden. Anschließend wird die Maske gegebenenfalls angehoben und erneut in der Erstreckungsebene des Substrates verschoben. Sie kann auf einen Abstand von größer 10 µm abgesenkt werden. Es wird eine weitere transparente leitfähige Schicht als Metallisierung abgeschieden. Nachfolgend wird die Maske gegebenenfalls angehoben, verschoben und abgesenkt, bis der Abstand der Schattenmaske zum Substrat kleiner 10 µm, bevorzugt 0 µm ist. In dieser Abstandslage wird die nächste OLED-Schichtstruktur abgeschieden. Nachfolgend wird die Maske angehoben, wieder verschoben und bei einem Abstand von größer 10 µm eine transparente leitfähige Schicht als Metallisierung auf das Substrat abgeschieden. Die Metallisierungen werden derart abgeschieden, dass sie elektrisch voneinander isoliert sind. Es wird als vorteilhaft angesehen, wenn sich zwei OLED-Schichtstrukturen einen gemeinsamen Kontakt teilen. Die Schichtdicke der Metallisierung oder der Isolationsschicht kann in dem Bereich, in dem sie unterhalb der Stege der Schattenmaske liegt, geringer sein, als im Bereich der Öffnung der Schattenmaske. Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung ist vorgesehen, dass die Schattenmaske während des Abscheidens einer der zuvor beschriebenen Schichten in einen der zuvor beschriebenen Prozessschritte derart lateral verlagert wird, dass sich die wirksame Größe der Öffnung der Schattenmaske vergrößert. Hierdurch können in einer alternativen Verfahrensweise Flächen unterschiedlicher Größe abgeschieden werden.While the OLED layer structures are being cut off, a marginal edge of an opening in the shadow mask, through which the coating material is transported in the direction of the substrate, in particular by diffusion, rests in contact with the underlying layer, for example metallization, or the insulator. The area of the OLED layer structures thus corresponds to the area of the opening of the shadow mask. The opening can be slightly larger than the interior of the emission field bounded by an edge, for example by an insulator. When the OLED layer structures are deposited, the edge of the opening can lie on the surface of the insulator, so that the OLED layer structure extends not only over the emission field but also over a section of the insulator. The positions of the shadow mask when the three OLED layer structures are deposited can be the same, so that the OLED layer structures are deposited vertically one above the other. The OLED layer structures can be deposited in the following order: red, blue, green. When the metallization and / or the insulation layer are deposited, the shadow mask can be lifted off the substrate, so that a gap is created between the edge of the opening of the shadow mask and the layer or insulator underneath. The vapor used to deposit the metallization or the insulation layer can diffuse through this gap under the web of the shadow mask. This results in the deposition of an enlarged area. When the metallization is deposited, the shadow mask is arranged in such a way that the metallization extends over a substantial area of the surface of the OLED layer structure and additionally over a contact area. For this purpose, the shadow mask is preferably displaced diagonally to the edge edges of the emission field, so that two edge edges of the metallization that adjoin one another at corners run approximately along the outer edge of the emission field or the inner edge of the insulator and one edge area of the metallization runs over a contact surface. In a preferred embodiment of the invention, the first metallization connects a contact area, which is slightly spaced apart from the insulator, to the surface of an OLED layer structure. The second metallization, which is deposited on the second OLED layer structure, can also have two edges which are adjacent to one another at a corner and which run approximately on the inner edge of the insulator or the edge of the emission field. An edge region of the metallization rests on a contact surface that is at a short distance from the accumulator or from the emission field. This contact area is connected to the surface of the OLED layer structure. The first metallization forms an electrode for two OLED structures. The first and second OLED layer structures and the first and second metallization are preferably deposited in a single process chamber with the same shadow mask in directly successive process steps. This process step can be followed by the deposition of an insulation layer. This deposition can take place in the same process chamber with the same shadow mask. The insulation layer has a size which is set by the distance of the mask from the substrate, which is sufficiently large to cover the two first and second metallizations, but not the two, in particular opposite, contact surfaces further spaced from the insulator. The distance between these second contact areas from the insulator or from the emission field is greater than the width of the first contact areas which are arranged close to the insulator. In a further sequence of process steps that are carried out in a different process chamber, but preferably in the same process chamber in which the previous process steps have been carried out, first a third metallization, then a third OLED layer structure and then a fourth metallization is deposited on the insulation layer. Here, too, the third and fourth metallizations are deposited in such a way that an edge section of the metallization extends over one of the two exposed contact surfaces. The metallizations can have two edge edges adjoining one another at a corner, which extend along the inner edge of the emission field. The result of the method described above is a layer stack of transparent layers in which red, green and blue light-emitting OLED layer structures are arranged vertically one above the other, each OLED being able to be controlled electrically separately and independently of neighboring OLEDs. For this purpose, two electrodes are provided in each case, which are formed by the metallizations. One metallization forms an anode and another metallization forms a cathode. The electrodes are deposited in such a way that they have electrical contact with control electronics that are formed by the electronic functional layer. A metal source is used to produce the metallization. The OVPD reactor is a vacuum reactor whose gas inlet element can be heated to a vapor temperature of the metal. Vaporized metal can be fed into the process chamber via a carrier gas through the gas inlet element, which can be a showerhead. There the substrate lies on a cooled substrate holder so that the vaporized metal can condense on the substrate and in particular under the openings of the shadow mask. The metal vapor diffuses under the webs of the mask. Before it is brought into the process chamber and placed on the substrate holder, the substrate is structured with a large number of emission fields, each mission field having an electronic functional unit. The latter can be formed by an electronic functional layer. The emission field is surrounded by an insulator. Four contact surfaces are connected to the functional unit, each of which is connected to a metallization. In a first process step, a red OLED layer structure is deposited, the distance between the mask and the substrate being less than 10 μm, preferably 0 μm. The shadow mask is then raised and displaced parallel to the substrate plane and, in particular, diagonally to the legs of the insulator. When the metallization is deposited, the distance from the shadow mask to the substrate can be greater than 10 µm. The next OLED layer structure is deposited directly on the metallization, for this purpose the distance between the disk mask and the substrate is preferably less than 10 μm, preferably 0 μm. The shadow mask is then raised and displaced parallel to the substrate plane and, in particular, diagonally to the legs of the insulator. When the next metallization is deposited, the distance from the shadow mask to the substrate can be greater than 10 µm. The mask is again shifted parallel to the plane of extension of the substrate and raised to a distance of greater than 10 μm, preferably greater than 20 μm and preferably greater than 50 μm. The insulation layer is deposited in this position. The mask is then raised, if necessary, and shifted again in the plane of extent of the substrate. It can be lowered to a distance of greater than 10 µm. Another transparent conductive layer is deposited as a metallization. The mask is then raised, shifted and lowered, if necessary, until the distance between the shadow mask and the substrate is less than 10 μm, preferably 0 μm. The next OLED layer structure is deposited in this spaced position. The mask is then lifted, shifted again and, at a distance of greater than 10 μm, a transparent conductive layer is deposited onto the substrate as a metallization. The metallizations are deposited in such a way that they are electrically isolated from one another. It is considered advantageous if two OLED layer structures share a common contact. The layer thickness of the metallization or the insulation layer can be less in the area in which it lies below the webs of the shadow mask than in the area of the opening of the shadow mask. According to a further aspect of the invention, it is provided that the shadow mask is laterally displaced during the deposition of one of the previously described layers in one of the previously described process steps in such a way that the effective size of the opening of the shadow mask increases. In this way, areas of different sizes can be deposited in an alternative procedure.

FigurenlisteFigure list

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand beigefügter Zeichnungen erläutert. Es zeigen:

  • 1 schematisch eine Draufsicht auf einen Ausschnitt eines vorbereiteten Substrates mit einer Vielzahl von Emissionsfeldern 2,
  • 2 die Draufsicht auf ein einzelnes Emissionsfeld 2 mit außerhalb eines das Emissionsfeld 2 umgebenden Isolators 5 angeordneten Kontaktflächen 6, 7, 8, 9,
  • 3 den Schnitt gemäß der Linie III-III in 2,
  • 4 den Schnitt gemäß der Linie IV-IV in 2,
  • 5 eine Darstellung gemäß 2 nach dem Abscheiden einer ersten OLED-Schichtstruktur 10 unter Verwendung einer Schattenmaske 19,
  • 6 den Schnitt gemäß der Linie VI-VI in 5,
  • 7 den Schnitt gemäß Linie VII-VII in 5,
  • 8 eine Darstellung gemäß 5, jedoch nach Abscheiden einer Metallisierung 11,
  • 9 den Schnitt gemäß der Linie IX-IX in 8,
  • 10 den Schnitt gemäß der Linie X-X in 8,
  • 11 eine Darstellung gemäß 8, jedoch nach Abscheiden einer weiteren OLED-Schichtstruktur 12,
  • 12 den Schnitt gemäß der Linie XII-XII in 11,
  • 13 den Schnitt gemäß der Linie XIII-XIII in 11,
  • 14 eine Darstellung gemäß 11, jedoch nach Abscheiden einer weiteren Metallisierung 13,
  • 15 den Schnitt gemäß der Linie XV-XV in 14,
  • 16 den Schnitt gemäß der Linie XVI-XVI in 14,
  • 17 eine Darstellung gemäß 14, jedoch nach Abscheiden einer Isolationsschicht 14,
  • 18 den Schnitt gemäß der Linie XVIII-XVIII in 17,
  • 19 den Schnitt gemäß der Linie XIX-XIX in 17,
  • 20 eine Darstellung gemäß 17, jedoch nach Abscheiden einer weiteren Metallisierung 15,
  • 21 den Schnitt gemäß der Linie XXI-XXI in 20,
  • 22 den Schnitt gemäß der Linie XXII-XXII in 20,
  • 23 eine Darstellung gemäß 20, jedoch nach Abscheiden einer weiteren OLED-Schichtstruktur 16,
  • 24 den Schnitt gemäß der Linie XXIV-XXIV in 23,
  • 25 den Schnitt gemäß der Linie XXV-XXV in 24,
  • 26 eine Darstellung gemäß 23, jedoch nach Abscheiden einer weiteren Metallisierung 17,
  • 27 den Schnitt gemäß der Linie XXVII-XXVII in 26,
  • 28 den Schnitt gemäß der Linie XXVIII-XXVIII in 26 und
  • 29 schematisch eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.
An exemplary embodiment of the invention is explained below with reference to the accompanying drawings. Show it:
  • 1 schematically a plan view of a section of a prepared substrate with a plurality of emission fields 2 ,
  • 2 the top view of a single emission field 2 with outside one the emission field 2 surrounding isolator 5 arranged contact surfaces 6th , 7th , 8th , 9 ,
  • 3 the section along the line III-III in 2 ,
  • 4th the section along the line IV-IV in 2 ,
  • 5 a representation according to 2 after the deposition of a first OLED layer structure 10 using a shadow mask 19th ,
  • 6th the section along the line VI-VI in 5 ,
  • 7th the section along line VII-VII in 5 ,
  • 8th a representation according to 5 , but after a metallization has been deposited 11 ,
  • 9 the section along the line IX-IX in 8th ,
  • 10 the section along the line XX in 8th ,
  • 11 a representation according to 8th , but after depositing another OLED layer structure 12th ,
  • 12th the section along the line XII-XII in 11 ,
  • 13th the section along the line XIII-XIII in 11 ,
  • 14th a representation according to 11 , but after a further metallization has been deposited 13th ,
  • 15th the section along the line XV-XV in 14th ,
  • 16 the section along the line XVI-XVI in 14th ,
  • 17th a representation according to 14th , but after the deposition of an insulation layer 14th ,
  • 18th the section along the line XVIII-XVIII in 17th ,
  • 19th the section along the line XIX-XIX in 17th ,
  • 20th a representation according to 17th , but after a further metallization has been deposited 15th ,
  • 21 the section along the line XXI-XXI in 20th ,
  • 22nd the section along the line XXII-XXII in 20th ,
  • 23 a representation according to 20th , but after depositing another OLED layer structure 16 ,
  • 24 the section along the line XXIV-XXIV in 23 ,
  • 25th the section along the line XXV-XXV in 24 ,
  • 26th a representation according to 23 , but after a further metallization has been deposited 17th ,
  • 27 the section along the line XXVII-XXVII in 26th ,
  • 28 the section along the line XXVIII-XXVIII in 26th and
  • 29 schematically an apparatus for carrying out the method.

Beschreibung der AusführungsformenDescription of the embodiments

Die 29 zeigt eine Vorrichtung, wie sie auch in der eingangs genannten DE 10212923 A1 beschrieben wird. In einem gasdichten, evakuierbaren Gehäuse 30 eines OVPD-Reaktors befindet sich ein Substrathalter 31 mit Kühlkanälen 32, durch die ein Kühlmittel fließen kann, um den Substrathalter 31 zu kühlen. Auf dem Substrathalter 31 liegt ein zu beschichtendes Substrat 1, welches aus Glas oder einem anderen transparenten Material besteht. Oberhalb des Substrates 1 befindet sich eine Prozesskammer 29, in die verschiedene Prozessgase eingespeist werden können. Bei den Prozessgasen handelt es sich um jeweils mit einem Trägergas transportierte organische, metallische oder anderweitige Dämpfe, die auf dem Substrat 1 kondensieren können. Oberhalb der Prozesskammer 29 erstreckt sich eine Gasaustrittsfläche 34 eines die Form eines rechteckigen Duschkopfs aufweisenden Gaseinlassorganes 33. Die Gasaustrittsfläche 34 besitzt eine Vielzahl siebartig oder gitternetzartig angeordnete Gasaustrittsöffnungen 35, durch die das Prozessgas von einem Gasverteilvolumen des Gaseinlassorganes 33 in die Prozesskammer 29 eintreten kann. Innerhalb des Gasverteilvolumens des Gaseinlassorganes 3 können nicht dargestellte Mittel zur Vergleichmäßigung des Prozessgases angeordnet sein. Das Gasverteilvolumen des Gaseinlassorganes 33 wird mit einer Zuleitung 36 gespeist. In die Zuleitung 36 kann wahlweise ein organischer Dampf, der in einem Dampferzeuger 40 erzeugt wird, oder ein metallischer Dampf, der in einer Metall-Dampfquelle 37 erzeugt wird, eingespeist werden. In die Metall-Dampfquelle 37 mündet eine Gaszuleitung 41, durch die ein Trägergas, beispielsweise Wasserstoff, Stickstoff oder ein anderes Inertgas, eingespeist wird. Mit diesem Trägergas wird der in der Metallquelle 37 erzeugte Metalldampf zur Zuleitung 36 transportiert. Der Dampferzeuger 38 kann einen Aerosolerzeuger 39 aufweisen, in dem aus organischen Partikeln ein Aerosol erzeugt wird, welches mit einem in eine Gaszuleitung 42 eingespeisten Trägergas zu einem Verdampfer 38 transportiert wird, wo die Aerosolpartikel verdampft werden.The 29 shows a device as it is also mentioned in the introduction DE 10212923 A1 is described. In a gas-tight, evacuable housing 30th of an OVPD reactor there is a substrate holder 31 with cooling channels 32 through which a coolant can flow to the substrate holder 31 to cool. On the substrate holder 31 is a substrate to be coated 1 made of glass or another transparent material. Above the substrate 1 there is a process chamber 29 into which various process gases can be fed. The process gases are organic, metallic or other vapors that are transported with a carrier gas and that are deposited on the substrate 1 can condense. Above the process chamber 29 a gas outlet surface extends 34 a gas inlet element having the shape of a rectangular shower head 33 . The gas exit area 34 has a large number of gas outlet openings arranged in the manner of a sieve or a grid 35 , through which the process gas from a gas distribution volume of the gas inlet element 33 into the process chamber 29 can occur. Within the gas distribution volume of the gas inlet element 3 Means, not shown, can be arranged for equalizing the process gas. The gas distribution volume of the gas inlet element 33 comes with a lead 36 fed. In the supply line 36 can optionally be an organic steam that is produced in a steam generator 40 or a metallic vapor that is generated in a metal vapor source 37 is generated. Into the metal steam source 37 opens a gas supply line 41 through which a carrier gas, for example hydrogen, nitrogen or another inert gas, is fed. This carrier gas is used in the metal source 37 generated metal vapor for supply line 36 transported. The steam generator 38 can be an aerosol generator 39 have, in which an aerosol is generated from organic particles, which with a in a gas supply line 42 fed carrier gas to an evaporator 38 where the aerosol particles are vaporized.

Der in der 29 mit der Bezugsziffer 40 bezeichnete Dampferzeuger kann auch anders ausgestaltet sein, beispielsweise als Wanne, die einen flüssigen oder festen Stoff beinhaltet, der durch Energiezufuhr in einen gasförmigen Zustand gebracht wird. Der so erzeugte Dampf gelangt durch die Zuleitung 36 in das Gaseinlassorgan. Dies kann auch mit einem Trägergas erfolgen, das durch eine Gaszuleitung 42 in den Dampferzeuger 40 eingespeist wird. Es können mehrere Dampferzeuger 40 vorgesehen sein, von denen in der 29 der Übersicht halber aber nur einer dargestellt ist.The Indian 29 with the reference number 40 designated steam generator can also be designed differently, for example as a tub that contains a liquid or solid substance that is brought into a gaseous state by supplying energy. The steam generated in this way passes through the supply line 36 into the gas inlet member. This can also be done with a carrier gas that flows through a gas feed line 42 in the steam generator 40 is fed in. There can be several steam generators 40 be provided, of which in the 29 but only one is shown for the sake of clarity.

Bei der Durchführung des Verfahrens wird in die Prozesskammer 29 ein vorbereitetes Substrat eingeführt. Das Substrat 1 besitzt eine Vielzahl von schachbrettartig oder gitternetzartig angeordneten Emissionsfeldern 2, die jeweils von einem quadratischen Isolator 5 umgeben sind. Entlang der Randkante des Isolators 5 erstrecken sich erste und zweite Kontaktflächen 6, 7, 8, 9. Die ersten Kontaktflächen 6, 8 sind unmittelbar angrenzend an eine Randkante des Isolators 5 angeordnet. Beim Ausführungsbeispiel liegen sich zwei erste Kontaktflächen 6, 8 gegenüber. Die zweiten Kontaktflächen 7, 9 sind von einer Randkante des Isolators 5 weiter beabstandet, als die ersten Kontaktflächen 6, 8. Der Abstand, den die zweiten Kontaktflächen 7, 9 zur Randkante des Isolators 5 haben, ist größer, als die Breite der ersten Kontaktflächen 6, 8 und insbesondere größer, als der Abstand des vom Isolator 5 wegweisenden Randes der ersten Kontaktfläche 6, 8 vom Isolator 5. Die Breite der zweiten Kontaktflächen 7, 9 kann der Breite der ersten Kontaktflächen 6, 8 entsprechen. Ein derartig vorbereitetes Substrat zeigt die 2 am Beispiel eines der vielen Emissionsfelder 2, wie sie die 1 zeigt.When the process is carried out, the process chamber is used 29 a prepared substrate is introduced. The substrate 1 has a large number of emission fields arranged in a checkerboard or grid-like manner 2 each of a square insulator 5 are surrounded. Along the edge of the insulator 5 first and second contact surfaces extend 6th , 7th , 8th , 9 . The first contact areas 6th , 8th are immediately adjacent to a marginal edge of the insulator 5 arranged. In the exemplary embodiment, there are two first contact surfaces 6th , 8th across from. The second contact areas 7th , 9 are from a peripheral edge of the insulator 5 further apart than the first contact surfaces 6th , 8th . The distance between the second contact surfaces 7th , 9 to the edge of the insulator 5 is larger than the width of the first contact areas 6th , 8th and in particular greater than the distance from the insulator 5 leading edge of the first contact surface 6th , 8th from the isolator 5 . The width of the second contact areas 7th , 9 can be the width of the first contact areas 6th , 8th correspond. A substrate prepared in this way is shown in FIG 2 using the example of one of the many emission fields 2 how they the 1 shows.

Die Schnittdarstellungen der 3 und 4 zeigen den Isolator 5 im Querschnitt. Der Isolator 5 ist schematisch als Rechteck-Querschnittstruktur dargestellt. Er kann aber auch eine im Querschnitt wulstartige Form aufweisen oder eine im Querschnitt trapezförmige Form. Innerhalb des Emissionsfeldes 2 erstreckt sich eine elektrisch leitende Schicht 4, die im Ausführungsbeispiel eine Anode sein kann. Diese ist mit einer elektronischen Funktionsschicht 3 verbunden. Die Kontaktflächen 6, 7, 8, 9 sind ebenfalls mit der elektronischen Funktionsschicht 3 verbunden. Über die elektronische Funktionsschicht 3 kann die elektrisch leitende Schicht 4 und können die Kontaktflächen 6 bis 9 individuell mit elektrischer Spannung versorgt werden, sodass jedes der Vielzahl von fertig prozessierten Emissionsfeldern 2 ein Pixel eines Displays ausbilden kann, welches in einer beliebigen Farbe Licht aussendet.The sectional views of the 3 and 4th show the isolator 5 in cross section. The isolator 5 is shown schematically as a rectangular cross-sectional structure. However, it can also have a bead-like shape in cross-section or a trapezoidal shape in cross-section. Within the emission field 2 an electrically conductive layer extends 4th , which can be an anode in the exemplary embodiment. This is with an electronic functional layer 3 connected. The contact areas 6th , 7th , 8th , 9 are also with the electronic functional layer 3 connected. Via the electronic functional layer 3 can be the electrically conductive layer 4th and can the contact surfaces 6th to 9 individually supplied with electrical voltage, so that each of the large number of fully processed emission fields 2 can form a pixel of a display, which emits light in any color.

In einem ersten Prozessschritt wird das vorbereitete Substrat 1 in die Prozesskammer 29 des OVPD-Reaktors gebracht und auf den Substrathalter 31 aufgelegt. Innerhalb der Prozesskammer 29 befindet sich eine in der 29 nicht dargestellte Schattenmaske 19, die eine Vielzahl von schachbrettartig angeordneten, jeweils durch einen Steg von einer benachbarten Öffnung getrennte Öffnungen 20 aufweist. Die Flächen der Öffnungen 20 sind geringfügig größer, als die Fläche eines Emissionsfeldes 2, sodass der Rand 21 der Öffnung 20 in dem in den 5 bis 7 dargestellten Prozessschritt auf dem Isolator 5 aufliegt.In a first process step, the prepared substrate is made 1 into the process chamber 29 of the OVPD reactor and placed on the substrate holder 31 hung up. Inside the process chamber 29 there is one in the 29 shadow mask not shown 19th , which have a plurality of chessboard-like arranged openings, each separated by a web from an adjacent opening 20th having. The areas of the openings 20th are slightly larger than the area of an emission field 2 so that the edge 21 the opening 20th in the in the 5 to 7th process step shown on the isolator 5 rests.

Von einem Dampferzeuger 40 wird ein organischer Dampf erzeugt, der mit einem Trägergas durch das Gaseinlassorgan 33 hindurch in die Prozesskammer 29 transportiert wird. Die Temperatur des Gaseinlassorgans 33 und der Zuleitung 36 ist größer, als die Kondensationstemperatur des Dampfes. Der Dampf kondensiert unter Ausbildung einer organischen Schicht 10 auf der Anode 4, wobei sich ein Randbereich der organischen Schicht 10 über einen Randbereich des Isolators 5 erstreckt. Der Substrathalter 31 wird hierzu auf eine Temperatur unterhalb der Kondensationstemperatur gekühlt. Eine derartig abgeschiedene organische Schicht 10, die beispielsweise rotes Licht emittieren kann, ist in den 6 und 7 schematisch dargestellt.From a steam generator 40 an organic vapor is generated, which with a carrier gas through the gas inlet element 33 through into the process chamber 29 is transported. The temperature of the gas inlet organ 33 and the supply line 36 is higher than the condensation temperature of the steam. The steam condenses with the formation of an organic layer 10 on the anode 4th , with an edge area of the organic layer 10 over an edge area of the insulator 5 extends. The substrate holder 31 is for this purpose cooled to a temperature below the condensation temperature. Such a deposited organic layer 10 that can emit red light, for example, is in the 6th and 7th shown schematically.

Die 8-10 zeigen einen zweiten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine erste elektrisch leitende Schicht auf die zuvor abgeschiedene organische Schicht 11 abgeschieden wird. Hierzu wird die Maske 19 angehoben, sodass sich ein Spalt 18 zwischen einem Steg der Maske 19 und dem Substrat beziehungsweise der Kontaktfläche 8 ausbildet. In dieser Position wird ein metallischer Dampf aus der Metallquelle 37 zusammen mit einem Trägergas durch das Gaseinlassorgan 30 in die Prozesskammer 29 gefördert. Die Temperatur der Zuleitung 36 und des Gaseinlassorgans 33 ist auch hier größer, als die Kondensationstemperatur des Metalls. Die Maske 19 ist ausgehend von der in den 5 bis 7 dargestellten Richtung lateral sowohl in X-Richtung als auch in Y-Richtung verschoben. Zusätzlich wurde die Maske 19 in Z-Richtung angehoben.The 8-10 show a second process step in which using the same shadow mask 19th a first electrically conductive layer on the previously deposited organic layer 11 is deposited. To do this, the mask 19th raised so that there is a gap 18th between a web of the mask 19th and the substrate or the contact area 8th trains. In this position, a metallic vapor is generated from the metal source 37 together with a carrier gas through the gas inlet member 30th into the process chamber 29 promoted. The temperature of the supply line 36 and the gas inlet member 33 is also here higher than the condensation temperature of the metal. The mask 19th is based on the in the 5 to 7th The direction shown laterally shifted both in the X-direction and in the Y-direction. In addition, the mask 19th raised in the Z direction.

In dieser Position der Maske wird ein metallischer Dampf aus der Metallquelle 37 zusammen mit einem Trägergas durch das Gaseinlassorgan 30 in die Prozesskammer 29 gefördert. Die Temperatur der Zuleitung 36 und des Gaseinlassorgans 23 ist hierbei größer, als die Kondensationstemperatur des Metalls. Als Metall wird ein Metall verwendet, dessen Kondensationstemperatur unterhalb von 450°C, bevorzugt unterhalb von 400°C, liegt. Als Metall kommt beispielsweise Zink in Betracht. Der Dampf diffundiert durch die Öffnung 20 hindurch und auf die bereits abgeschiedene organische Schicht 10. Der Dampf diffundiert ferner unter die Stege zwischen den Öffnungen 20 der Schattenmaske 19, sodass die abgeschiedene Metallschicht 11 eine größere Fläche aufweist, als die darunterliegende organische Schicht 10. Wegen des lateralen Versatzes der Schattenmaske 19 wird die Schicht über die Kontaktfläche 8 abgeschieden. Die bei diesem Schritt abgeschiedene Schicht 11 bildet eine Elektrode der organischen Schichtenfolge 10.In this position of the mask, a metallic vapor is generated from the metal source 37 together with a carrier gas through the gas inlet member 30th into the process chamber 29 promoted. The temperature of the supply line 36 and the gas inlet member 23 is greater than the condensation temperature of the metal. The metal used is a metal whose condensation temperature is below 450.degree. C., preferably below 400.degree. Zinc, for example, can be considered as the metal. The steam diffuses through the opening 20th through and onto the organic layer that has already been deposited 10 . The steam also diffuses under the webs between the openings 20th the shadow mask 19th so that the deposited metal layer 11 has a larger area than the underlying organic layer 10 . Because of the lateral offset of the shadow mask 19th becomes the layer over the contact area 8th deposited. The layer deposited in this step 11 forms an electrode of the organic layer sequence 10 .

Die 11 bis 13 zeigen einen dritten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske eine zweite organische Schicht 12 auf die zuvor abgeschiedene Metallisierung 11 abgeschieden wird. Die Schattenmaske 19 wird hierzu etwa in dieselbe Position gebracht, in der die erste organische Schicht 10 abgeschieden worden ist (8). Die Schattenmaske 19 wird so weit abgesenkt, dass der Rand 21 auf der Metallisierung 11 aufliegt. Mit einer weiteren Dampfquelle eines Dampferzeugers 40 wird ein anderer organischer Ausgangsstoff bereitgestellt, der zu einer beispielsweise blauen OLED kondensieren kann. Die bei diesem Prozessschritt abgeschiedene organische Schicht, die auch eine Schichtenfolge sein kann, ist in den 12 und 13 mit der Bezugsziffer 12 bezeichnet. Die zweite organische Schicht 12 wird dabei derart abgeschieden, dass einer ihrer Ränder unmittelbar auf einem Rand der ersten organischen Schicht 10 unmittelbar liegt.The 11 to 13th show a third process step in which a second organic layer is created using the same shadow mask 12th on the previously deposited metallization 11 is deposited. The shadow mask 19th is brought to about the same position as the first organic layer 10 has been deposited ( 8th ). The shadow mask 19th is lowered so far that the edge 21 on the metallization 11 rests. With another steam source from a steam generator 40 Another organic starting material is provided which can condense to form a blue OLED, for example. The organic layer deposited during this process step, which can also be a layer sequence, is in the 12th and 13th with the reference number 12th designated. The second organic layer 12th is deposited in such a way that one of its edges is directly on an edge of the first organic layer 10 immediately lies.

Die zuvor abgeschiedene leitende Schicht 11 bildet ebenfalls eine Elektrode für die im zweiten Prozessschritt abgeschiedene organische Schichtenfolge 12.The previously deposited conductive layer 11 also forms an electrode for the organic layer sequence deposited in the second process step 12th .

Die 14 bis 16 zeigen einen vierten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine zweite elektrisch leitende Schicht auf die zuvor abgeschiedene organische Schicht 12 abgeschieden wird. Hierzu wird die Maske 19 angehoben, sodass sich ein Spalt 18 zwischen dem Rand 21 der Öffnung 20 der Maske 19 und der darunterliegenden Schicht ausbildet. Die Maske ist, ausgehend von der in den 11 bis 13 dargestellten Stellung, sowohl in X-Richtung als auch in Y-Richtung verschoben worden. Zusätzlich wird die Maske 19 in Z-Richtung angehoben.The 14th to 16 show a fourth process step in which the same shadow mask is used 19th a second electrically conductive layer on the previously deposited organic layer 12th is deposited. To do this, the mask 19th raised so that there is a gap 18th between the edge 21 the opening 20th the mask 19th and the underlying layer. The mask is based on the one in the 11 to 13th position shown, has been moved both in the X-direction and in the Y-direction. In addition, the mask 19th raised in the Z direction.

In dieser Position wird ein metallischer Dampf, bei dem es sich um denselben Dampf handeln kann, der im zweiten Prozessschritt verwendet worden ist, aus der Metallquelle 37 zusammen mit einem Trägergas durch das Gaseinlassorgan 30 in die Prozesskammer 29 gefördert. Wegen des Spaltes 18 zwischen dem Rand 21 der Öffnung 20 der Maske 19 und der darunterliegenden Schicht diffundiert der Dampf nicht nur auf die organische Schicht 12, sondern auch über den Kontakt 8. Die metallische Schicht 13 bildet somit eine Elektrode, die den Kontakt 8 mit der organischen Schicht 12 verbindet.In this position, a metallic vapor, which can be the same vapor that was used in the second process step, is released from the metal source 37 together with a carrier gas through the gas inlet member 30th into the process chamber 29 promoted. Because of the gap 18th between the edge 21 the opening 20th the mask 19th and the underlying layer, the vapor does not only diffuse onto the organic layer 12th but also through contact 8th . The metallic layer 13th thus forms an electrode that makes the contact 8th with the organic layer 12th connects.

Die 17 bis 19 zeigen einen fünften Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine isolierende Schicht 14 auf die zuvor abgeschiedene Metallisierung 13 abgeschieden wird. Hierzu wird die Maske 19 sowohl in X-Richtung als auch in Z-Richtung derart verlagert, dass die Mitte der Öffnung 20 etwa über dem Zentrum des Emissionsfeldes 2 liegt. Die Maske 19 wird in Z-Richtung so weit verlagert, dass sich ein Spalt 18 zwischen dem Steg der Maske 19 und der darunterliegenden Schicht ausbildet, dass ein durch das Gaseinlassorgan 33 eingespeister Dampf, der als Isolator kondensieren kann, nicht nur auf der zuletzt abgeschiedenen Metallisierung 13 kondensiert, sondern auch auf der zuvor abgeschiedenen Metallisierung 11. Die Isolationsschicht 14 überdeckt somit die beiden sich gegenüberliegenden Kontaktflächen 6 und 8, nicht jedoch die sich gegenüberliegenden, weiter als die Kontaktflächen 6, 8 vom Emissionsfeld 2 entfernt liegenden Kontaktflächen 7 und 9. Bevorzugt werden dabei alle Metallisierungen 11, 13 und OLED-Schichtstrukturen 10, 12 vollständig überdeckt.The 17th to 19th show a fifth process step in which using the same shadow mask 19th an insulating layer 14th on the previously deposited metallization 13th is deposited. To do this, the mask 19th both in the X-direction and in the Z-direction displaced such that the center of the opening 20th about the center of the emission field 2 lies. The mask 19th is shifted so far in the Z direction that there is a gap 18th between the bridge of the mask 19th and the underlying layer that forms a through the gas inlet member 33 injected steam, which can condense as an insulator, not only on the metallization that was deposited last 13th condensed, but also on the previously deposited metallization 11 . The insulation layer 14th thus covers the two opposing contact surfaces 6th and 8th , but not the opposite ones, further than the contact surfaces 6th , 8th from the emission field 2 distant contact surfaces 7th and 9 . All metallizations are preferred 11 , 13th and OLED layer structures 10 , 12th completely covered.

Die 20 bis 22 zeigen einen sechsten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine dritte elektrisch leitende Schicht 15 auf die zuvor abgeschiedene Isolationsschicht 14 abgeschieden wird. Hierzu wird die Maske 19 in X-Richtung, Y-Richtung und Z-Richtung verlagert. Der Rand 21 der Öffnung 20 ist von der darunterliegenden Isolationsschicht 14 um einen Spalt 18 beabstandet. Ein in die Prozesskammer 29 in der zuvor beschriebenen Weise eingespeister metallischer Dampf diffundiert auf die Oberfläche der Isolationsschicht 14 und unter die Ränder 21, sodass die dritte elektrisch leitende Schicht als Elektrode einer weiteren organischen Schicht letztere mit der Kontaktfläche 7 verbindet.The 20th to 22nd show a sixth process step in which the same shadow mask is used 19th a third electrically conductive layer 15th onto the previously deposited insulation layer 14th is deposited. To do this, the mask 19th displaced in the X-direction, Y-direction and Z-direction. The edge 21 the opening 20th is from the underlying insulation layer 14th by a crack 18th spaced. One in the process chamber 29 Metallic vapor fed in in the manner described above diffuses onto the surface of the insulation layer 14th and under the edges 21 so that the third electrically conductive layer acts as the electrode of a further organic layer, the latter with the contact surface 7th connects.

Die 23 bis 25 zeigen einen siebten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine dritte organische Schicht beziehungsweise Schichtenfolge 16 auf die dritte elektrisch leitende Schicht 15 abgeschieden wird. Die Schattenmaske 19 wird hierzu in eine Position gebracht, bei der die Ränder 21 der Öffnung 20 auf einer darunterliegenden Schicht aufliegen, sodass auch hier, wie im ersten und dritten Prozessschritt, eine organische Schicht 16 auf die zuvor abgeschiedene Elektrode aufgebracht wird, deren Fläche nur wenig größer ist, als die Fläche innerhalb des Isolators 5. Der organische Dampf wird von einer anderen Dampfquelle bereitgestellt. Es wird beispielsweise eine grüne OLED abgeschieden.The 23 to 25th show a seventh process step in which the same shadow mask is used 19th a third organic layer or layer sequence 16 on the third electrically conductive layer 15th is deposited. The shadow mask 19th is brought into a position in which the edges 21 the opening 20th lie on an underlying layer, so that here too, as in the first and third process step, an organic layer 16 is applied to the previously deposited electrode, the area of which is only slightly larger than the area within the insulator 5 . The organic vapor is provided by another vapor source. For example, a green OLED is deposited.

Die 26 bis 28 zeigen einen achten Prozessschritt, bei dem unter Verwendung derselben Schattenmaske 19 eine vierte elektrisch leitende Schicht 17 auf die zuvor abgeschiedene organische Schicht 16 abgeschieden wird. Hierzu wird die Maske 19 in X-Richtung, Y-Richtung und Z-Richtung derart verlagert, dass sich die elektrisch leitende Schicht 17 nicht nur über die dritte organische Schicht 16 erstreckt, sondern auch über die Kontaktfläche 7, sodass die elektrisch leitende Schicht 17 eine Elektrode für die grüne OLED bildet.The 26th to 28 show an eighth process step in which using the same shadow mask 19th a fourth electrically conductive layer 17th onto the previously deposited organic layer 16 is deposited. To do this, the mask 19th displaced in the X direction, Y direction and Z direction in such a way that the electrically conductive layer 17th not just about the third organic layer 16 extends, but also over the contact surface 7th so that the electrically conductive layer 17th forms an electrode for the green OLED.

Beim Ausführungsbeispiel besitzt das Emissionsfeld 2 einen quadratischen Grundriss. Es sind aber auch andere Ausführungsformen vorgesehen, bei denen der Grundriss des Emissionsfeldes 2 von der Form eines Quadrates abweicht. Beim Ausführungsbeispiel hat die Öffnung 20 der Schattenmaske 19 einen quadratischen Grundriss. Es sind aber auch Ausführungsformen vorgesehen, bei denen der Grundriss der Öffnung 20 der Schattenmaske 19 einen von der quadratischen Form abweichenden Grundriss aufweist. Beim Ausführungsbeispiel haben sämtliche abgeschiedenen Schichten den Grundriss eines Quadrates. Es können aber auch Ausführungsbeispiele vorgesehen sein, bei denen der Grundriss der abgeschiedenen Schichten von der Quadratform abweicht.In the exemplary embodiment, the emission field has 2 a square floor plan. However, other embodiments are also provided in which the floor plan of the emission field 2 deviates from the shape of a square. In the exemplary embodiment, the opening 20th the shadow mask 19th a square floor plan. However, embodiments are also provided in which the outline of the opening 20th the shadow mask 19th has a floor plan that differs from the square shape. In the exemplary embodiment, all the deposited layers have the outline of a square. However, embodiments can also be provided in which the plan of the deposited layers deviates from the square shape.

Die Größe der Flächen der abgeschiedenen Schichten ist voneinander verschieden. Die OLED-Schichtstrukturen 10, 12, 16 haben die geringste Flächengröße. Die Fläche der OLED-Schichtstrukturen 10, 12, 16 entspricht der Fläche der Öffnung 20. Die Flächen der Metallisierungen 11, 13, 15, 17 können gleich groß sein. Sie sind größer als die Flächen der OLED-Schichtstrukturen 10, 12, 16. Es ist insbesondere vorgesehen, dass die Länge einer Randkante einer Metallisierung 11 mindestens eine Länge besitzt, die die Summe der Kantenlänge des Emissionsfeldes 2 der Breite des Isolators 5, des Abstandes der zugeordneten Kontaktfläche 6, 7, 8, 9 vom Isolator 5 und der Breite der Kontaktfläche 6, 7, 8, 9 ist. Die Größen der unter der Isolationsschicht 14 liegenden Metallisierungen 11, 13 können geringer sein, als die Größen der oberhalb der Isolationsschicht liegenden Metallisierungen 15, 17. Die Isolationsschicht kann die größte Fläche aufweisen. Die Fläche der Isolationsschicht 14 ist insbesondere größer als die Flächen der Metallisierungen 11, 13, 15, 17.The size of the areas of the deposited layers is different from one another. The OLED layer structures 10 , 12th , 16 have the smallest area size. The area of the OLED layer structures 10 , 12th , 16 corresponds to the area of the opening 20th . The surfaces of the metallizations 11 , 13th , 15th , 17th can be the same size. They are larger than the areas of the OLED layer structures 10 , 12th , 16 . It is provided in particular that the length of a peripheral edge of a metallization 11 has at least a length that is the sum of the edge length of the emission field 2 the width of the isolator 5 , the distance of the assigned contact surface 6th , 7th , 8th , 9 from the isolator 5 and the width of the contact area 6th , 7th , 8th , 9 is. The sizes of the under the insulation layer 14th lying metallizations 11 , 13th can be smaller than the size of the metallizations above the insulation layer 15th , 17th . The insulation layer can have the largest area. The area of the insulation layer 14th is in particular larger than the areas of the metallizations 11 , 13th , 15th , 17th .

Um diese Flächenverhältnisse zu erzielen, ist der Abstand 18 beim Abscheiden der Isolationsschicht 14 größer als der Abstand 18 beim Abscheiden der Metallisierungen 11, 13, 15, 17. Der Abstand 18 ist beim Abscheiden der über der Isolationsschicht 14 angeordneten Metallsierungen 15, 17 größer als der Abstand 18 beim Abscheiden der unter der Isolationsschicht 14 liegenden Metallisierungen 11, 13.To achieve these area ratios, the distance is 18th when depositing the insulation layer 14th greater than the distance 18th when depositing the metallizations 11 , 13th , 15th , 17th . The distance 18th is when depositing the above the insulation layer 14th arranged metal coatings 15th , 17th greater than the distance 18th when depositing the under the insulation layer 14th lying metallizations 11 , 13th .

In den Figuren besitzt die Maske 19 eine Vielzahl von über die gesamte Fläche der Maske regelmäßig verteilte Öffnungen 20. Die Ränder 21 der Öffnung 20 können scharfkantig oder gerundet sein. Die Maske kann während eines der beschriebenen Prozessschritte ihre Position nicht ändern. Es kann aber auch vorgesehen sein, dass sie zur Vergrößerung der Fläche der abgeschiedenen Schicht während des Abscheidens einer Schicht in Erstreckungsrichtung der Maske linear verlagert wird. Hierzu kann die Halterung der Maske einen Antrieb, beispielsweise einen Schrittmotor aufweisen, mit dem die Maske mit einer vorbestimmten Geschwindigkeit während des Einspeisens des Dampfes in die Prozesskammer verlagert wird. Eine Öffnung 20 mit einem quadratischen Grundriss kann so eine Schicht mit einem länglichen Grundriss erzeugen. Durch die Verschiebung der Maske während einer Abscheidung befindet sich die Öffnung gewissermaßen nicht mehr symmetrisch über der Abscheidungsfläche. Bei einer derartigen Verfahrensdurchführung bilden die 9, 10, 15, 16, 18, 19, 21, 22, 27, 28 lediglich Momentaufnahmen einer Position der Schattenmaske 19, die während des Abscheidens der jeweiligen Schicht in ihre Erstreckungsrichtung bewegt wird. Hierdurch kann der Abstand der Schattenmaske 19 gegenüber dem Substrat 1 beziehungsweise die Weite des Spaltes 18 gegenüber einer Prozessführung, bei der die Schattenmaske 19 nicht bewegt wird, vermindert werden.In the figures, the mask has 19th a plurality of openings regularly distributed over the entire surface of the mask 20th . The edges 21 the opening 20th can be sharp-edged or rounded. The mask cannot change its position during one of the process steps described. However, it can also be provided that it is linearly displaced in the direction of extent of the mask during the deposition of a layer in order to enlarge the area of the deposited layer. For this purpose, the holder of the mask can have a drive, for example a stepping motor, with which the mask is displaced at a predetermined speed while the steam is being fed into the process chamber. An opening 20th With a square floor plan, you can create a layer with an elongated floor plan. As a result of the displacement of the mask during a deposition, the opening is to a certain extent no longer located symmetrically above the deposition surface. When the method is carried out in this way, the 9 , 10 , 15th , 16 , 18th , 19th , 21 , 22nd , 27 , 28 only snapshots of a position of the shadow mask 19th , which is moved in its direction of extension during the deposition of the respective layer. This allows the distance between the shadow mask 19th compared to the substrate 1 or the width of the gap 18th compared to litigation in which the shadow mask 19th is not moved, be decreased.

Die vorstehenden Ausführungen dienen der Erläuterung der von der Anmeldung insgesamt erfassten Erfindungen, die den Stand der Technik zumindest durch die folgenden Merkmalskombinationen jeweils auch eigenständig weiterbilden, wobei zwei, mehrere oder alle dieser Merkmalskombinationen auch kombiniert sein können, nämlich:The above explanations serve to explain the inventions covered by the application as a whole, which also develop the state of the art independently at least through the following combinations of features, whereby two, more or all of these combinations of features can also be combined, namely:

Ein Verfahren, das gekennzeichnet ist durch Anordnen der Schattenmaske 19 in eine erste Position und Aufbringen einer ersten OLED-Schichtstruktur 10 durch Einspeisen eines in zumindest einem ersten Dampferzeuger 40 erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1; Anordnen der Schattenmaske 19 in eine zweite Position und Aufbringen einer ersten Metallisierung 11 auf die erste OLED-Schichtstruktur 10 durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1; Anordnen der Schattenmaske 19 in eine dritte Position und Aufbringen einer zweiten OLED-Schichtstruktur 12 durch Einspeisen eines in zumindest einem zweiten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1; Anordnen der Schattenmaske in eine vierte Position und Aufbringen einer zweiten Metallisierung 13 auf die zweite OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1; Anordnen der Schattenmaske 19 in eine fünfte Position und Aufbringen einer Isolationsschicht 14 auf die zweite Metallisierung 13 durch Einspeisen eines auf dem Substrat 1 zu einem Isolator kondensierenden Dampfes; Anordnen der Schattenmaske 19 in eine sechste Position und Aufbringen einer dritten Metallisierung 15 auf die Isolationsschicht 14 durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1; Anordnen der Schattenmaske 19 in eine siebte Position und Aufbringen einer dritten OLED-Schichtstruktur 16 durch Einspeisen eines in zumindest einem dritten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1 oder Anordnen der Schattenmaske 19 in eine achte Position und Aufbringen einer vierten Metallisierung 17 auf die dritte OLED-Schichtstruktur 16 durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer 29 und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat 1.A method that is characterized by arranging the shadow mask 19th into a first position and applying a first OLED layer structure 10 by feeding one into at least one first steam generator 40 generated organic vapor together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 ; Arranging the shadow mask 19th into a second position and applying a first metallization 11 onto the first OLED layer structure 10 by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 ; Arranging the shadow mask 19th into a third position and applying a second OLED layer structure 12th by feeding an organic steam generated in at least one second steam generator together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 ; Arranging the shadow mask in a fourth position and applying a second metallization 13th onto the second OLED layer structure by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 ; Arranging the shadow mask 19th into a fifth position and applying an insulation layer 14th on the second metallization 13th by feeding one on the substrate 1 steam condensing to an isolator; Arranging the shadow mask 19th into a sixth position and applying a third metallization 15th on the insulation layer 14th by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 ; Arranging the shadow mask 19th into a seventh position and applying a third OLED layer structure 16 by feeding an organic steam generated in at least one third steam generator together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 or arranging the shadow mask 19th into an eighth position and applying a fourth metallization 17th on the third OLED layer structure 16 by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber 29 and condensing the vapor on the substrate 1 .

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Randkante 21 einer Öffnung 20 der Schattenmaske 19 beim Abscheiden der ersten bis dritten OLED-Schichtstrukturen 10, 12, 16 berührend auf der darunterliegenden Schicht aufliegt.A method which is characterized in that a marginal edge 21 an opening 20th the shadow mask 19th when depositing the first to third OLED layer structures 10 , 12th , 16 touching the layer below.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Schattenmaske 19 beim Abscheiden der Metallisierungen und/oder der Isolationsschicht in ihrer Erstreckungsrichtung bewegt wird.A method, which is characterized in that the shadow mask 19th is moved in their direction of extension when the metallizations and / or the insulation layer are deposited.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Randkante 21 einer Öffnung 20 der Schattenmaske 19 beim Abscheiden der ersten bis vierten Metallisierung 11, 13, 15, 17 und/oder der Isolationsschicht 14 durch einen Spalt 18 von der darunterliegenden Schicht oder dem Isolator 5 beabstandet ist.A method which is characterized in that a marginal edge 21 an opening 20th the shadow mask 19th when depositing the first to fourth metallization 11 , 13th , 15th , 17th and / or the insulation layer 14th through a gap 18th from the underlying layer or insulator 5 is spaced.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die erste OLED-Schichtstruktur 10 auf eine elektrisch leitende Anode 4 abgeschieden wird, die das vorbereitete Substrat 1 aufweist oder die in einem vorangehenden Behandlungsschritt in derselben Prozesskammer 29 abgeschieden wird.A method which is characterized in that the first OLED layer structure 10 to an electrically conductive anode 4th is deposited, which is the prepared substrate 1 or those in a previous treatment step in the same process chamber 29 is deposited.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass zumindest eine der ersten bis dritten OLED-Schichtstruktur jeweils eine Mehrzahl organischer Schichten aufweist, die hintereinander insbesondere ohne einen Wechsel der Position der Schattenmaske 19 abgeschieden werden.A method which is characterized in that at least one of the first to third OLED layer structures each has a plurality of organic layers, which are arranged one behind the other, in particular without changing the position of the shadow mask 19th to be deposited.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Schattenmaske 19 bei ihrer Verlagerung in ihre zweite, vierte, fünfte, sechste und achte Position sowohl parallel zur Erstreckungsebene des Substrates 1, also auch senkrecht dazu, in Richtung weg vom Substrat 1 verlagert wird.A method, which is characterized in that the shadow mask 19th when they are moved into their second, fourth, fifth, sixth and eighth position, both parallel to the plane of extension of the substrate 1 , so also perpendicular to it, in the direction away from the substrate 1 is relocated.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Schattenmaske 19 bei ihrer Verlagerung in die dritte und siebte Position sowohl parallel zur Erstreckungsebene des Substrates 1 als auch senkrecht dazu in Richtung auf das Substrat 1 verlagert wird.A method, which is characterized in that the shadow mask 19th when they are moved into the third and seventh position, both parallel to the plane of extent of the substrate 1 as well as perpendicular to it in the direction of the substrate 1 is relocated.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass zumindest das Abscheiden der ersten OLED-Schichtstruktur 10, der ersten Metallisierung 11, der zweiten OLED-Schichtstruktur und der zweiten Metallisierung 13 und/ oder das Abscheiden der dritten Metallisierung 15, der dritten OLED-Schichtstruktur 16 und der vierten Metallisierung 17 und/oder der Isolationsschicht 14 in einer einzigen Prozesskammer 29 in unmittelbar aufeinanderfolgenden Schritten durchgeführt wird.A method, which is characterized in that at least the deposition of the first OLED layer structure 10 , the first metallization 11 , the second OLED layer structure and the second metallization 13th and / or the deposition of the third metallization 15th , the third OLED layer structure 16 and the fourth metallization 17th and / or the insulation layer 14th in a single process chamber 29 is carried out in consecutive steps.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass sämtliche Behandlungsschritte unmittelbar aufeinanderfolgend in einer einzigen Prozesskammer 29 durchgeführt werden.A method which is characterized in that all treatment steps follow one another in a single process chamber 29 be performed.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass das Substrat 1 einen die Funktionsschicht 3 umgebenden Isolator 5 aufweist, wobei sich die Kontaktflächen 6, 7, 8, 9 entlang des von der Funktionsschicht 3 wegweisenden Randes des Isolators 5 erstrecken.A method, which is characterized in that the substrate 1 one the functional layer 3 surrounding isolator 5 having, wherein the contact surfaces 6th , 7th , 8th , 9 along the from the functional layer 3 groundbreaking edge of the isolator 5 extend.

Eine Schichtstruktur, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Kontaktflächen 6, 7, 8, 9 sich mit unterschiedlichen Abständen zum Rand der Funktionsschicht 3 entlang jeweils eines Randes der Funktionsschicht 3 erstrecken.A layer structure, which is characterized in that the contact surfaces 6th , 7th , 8th , 9 at different distances from the edge of the functional layer 3 along one edge of the functional layer 3 extend.

Ein Verfahren, das dadurch gekennzeichnet ist, dass die Kontaktflächen 6, 7, 8, 9 erste Kontaktflächen 6, 8 ausbilden, die dem Emissionsfeld 2 geringer beabstandet sind, als zweite Kontaktflächen 7, 8 und/oder dass erste Kontaktflächen 6, 7 einen ersten Abstand zum Emissionsfeld 2 oder zu einem das Emissionsfeld 2 umgebenden Isolator 5 aufweisen und zweite Kontaktflächen 6, 8 einen zweiten Abstand zum Emissionsfeld 2 oder zu dem Isolator 5 aufweisen, wobei der zweite Abstand mindestens die Summe aus erstem Abstand und einer in Richtung des Abstandes gemessenen Breite der ersten Kontaktflächen 6, 7 ist.A method, which is characterized in that the contact surfaces 6th , 7th , 8th , 9 first contact surfaces 6th , 8th train that the emission field 2 are less spaced than second contact surfaces 7th , 8th and / or that first contact surfaces 6th , 7th a first distance to the emission field 2 or to one the emission field 2 surrounding isolator 5 have and second contact surfaces 6th , 8th a second distance to the emission field 2 or to the isolator 5 have, wherein the second distance is at least the sum of the first distance and a width of the first contact surfaces measured in the direction of the distance 6th , 7th is.

Alle offenbarten Merkmale sind (für sich, aber auch in Kombination untereinander) erfindungswesentlich. In die Offenbarung der Anmeldung wird hiermit auch der Offenbarungsinhalt der zugehörigen/beigefügten Prioritätsunterlagen (Abschrift der Voranmeldung) vollinhaltlich mit einbezogen, auch zu dem Zweck, Merkmale dieser Unterlagen in Ansprüche vorliegender Anmeldung mit aufzunehmen. Die Unteransprüche charakterisieren, auch ohne die Merkmale eines in Bezug genommenen Anspruchs, mit ihren Merkmalen eigenständige erfinderische Weiterbildungen des Standes der Technik, insbesondere um auf Basis dieser Ansprüche Teilanmeldungen vorzunehmen. Die in jedem Anspruch angegebene Erfindung kann zusätzlich ein oder mehrere der in der vorstehenden Beschreibung, insbesondere mit Bezugsziffern versehene und/oder in der Bezugsziffernliste angegebene Merkmale aufweisen. Die Erfindung betrifft auch Gestaltungsformen, bei denen einzelne der in der vorstehenden Beschreibung genannten Merkmale nicht verwirklicht sind, insbesondere soweit sie erkennbar für den jeweiligen Verwendungszweck entbehrlich sind oder durch andere technisch gleichwirkende Mittel ersetzt werden können.All the features disclosed are essential to the invention (individually, but also in combination with one another). The disclosure of the application hereby also includes the full content of the disclosure content of the associated / attached priority documents (copy of the previous application), also for the purpose of including features of these documents in the claims of the present application. The subclaims characterize, even without the features of a referenced claim, with their features independent inventive developments of the prior art, in particular in order to make divisional applications on the basis of these claims. The one in every claim The specified invention can additionally have one or more of the features provided in the above description, in particular provided with reference numerals and / or indicated in the list of reference numerals. The invention also relates to design forms in which some of the features mentioned in the above description are not implemented, in particular insofar as they are recognizable for the respective purpose or can be replaced by other technically equivalent means.

BezugszeichenlisteList of reference symbols

11
SubstratSubstrate
22
EmissionsfeldEmission field
33
elektronische Funktionsschichtelectronic functional layer
44th
Anodeanode
55
Isolatorinsulator
66th
KontaktflächeContact area
77th
KontaktflächeContact area
88th
KontaktflächeContact area
99
KontaktflächeContact area
1010
rote OLEDred OLED
1111
MetallisierungMetallization
1212th
blaue OLEDblue OLED
1313th
MetallisierungMetallization
1414th
IsolationsschichtInsulation layer
1515th
MetallisierungMetallization
1616
grüne OLEDgreen OLED
1717th
MetallisierungMetallization
1818th
Spaltgap
1919th
SchattenmaskeShadow mask
2020th
Öffnungopening
2121
Randedge
2929
ProzesskammerProcess chamber
3030th
Gehäusecasing
3131
SubstrathalterSubstrate holder
3232
KühlkanalCooling duct
3333
GaseinlassorganGas inlet element
3434
Gasaustrittsfläche Gas outlet surface
3535
Gasaustrittsöffnung/OVPD-ReaktorGas outlet opening / OVPD reactor
3636
ZuleitungSupply line
3737
MetallquelleMetal source
3838
VerdampferEvaporator
3939
AerosolerzeugerAerosol generator
4040
DampferzeugerSteam generator
4141
GaszuleitungGas supply line
4242
GaszuleitungGas supply line

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDED IN THE DESCRIPTION

Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.This list of the documents listed by the applicant was generated automatically and is included solely for the better information of the reader. The list is not part of the German patent or utility model application. The DPMA assumes no liability for any errors or omissions.

Zitierte PatentliteraturPatent literature cited

  • DE 10212923 A1 [0003, 0013]DE 10212923 A1 [0003, 0013]
  • DE 102014102191 B4 [0004]DE 102014102191 B4 [0004]
  • US 2018/0019441 A1 [0005]US 2018/0019441 A1 [0005]

Claims (14)

Verfahren zur Herstellung von OLEDs, bei dem ein Substrat (1) mit einer Vielzahl von Emissionsfeldern (2) vorbereitet wird, wobei jedes Emissionsfeld (2) eine elektronische Funktionsschicht (3) und mehrere nahe des Randes des Emissionsfeldes (2) angeordnete Kontaktflächen (6, 7, 8, 9) aufweist, und das so vorbereitete Substrat (1) in eine Prozesskammer (29) eines OVPD-Reaktors (35) gebracht wird und darin zumindest zwei der folgenden Behandlungsschritte unmittelbar aufeinander folgend und mit derselben Schattenmaske (19) durchgeführt werden: Anordnen der Schattenmaske (19) in eine erste Position und Aufbringen einer ersten OLED-Schichtstruktur (10) durch Einspeisen eines in zumindest einem ersten Dampferzeuger (40) erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1); Anordnen der Schattenmaske (19) in eine zweite Position und Aufbringen einer ersten Metallisierung (11) auf die erste OLED-Schichtstruktur (10) durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1); Anordnen der Schattenmaske (19) in eine dritte Position und Aufbringen einer zweiten OLED-Schichtstruktur (12) durch Einspeisen eines in zumindest einem zweiten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1); Anordnen der Schattenmaske in eine vierte Position und Aufbringen einer zweiten Metallisierung (13) auf die zweite OLED-Schichtstruktur durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1); Anordnen der Schattenmaske (19) in eine fünfte Position und Aufbringen einer Isolationsschicht (14) auf die zweite Metallisierung (13) durch Einspeisen eines auf dem Substrat (1) zu einem Isolator kondensierenden Dampfes; Anordnen der Schattenmaske (19) in eine sechste Position und Aufbringen einer dritten Metallisierung (15) auf die Isolationsschicht (14) durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1); Anordnen der Schattenmaske (19) in eine siebte Position und Aufbringen einer dritten OLED-Schichtstruktur (16) durch Einspeisen eines in zumindest einem dritten Dampferzeuger erzeugten organischen Dampfes zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1) oder Anordnen der Schattenmaske (19) in eine achte Position und Aufbringen einer vierten Metallisierung (17) auf die dritte OLED-Schichtstruktur (16) durch Einspeisen eines Dampfes eines Metalls zusammen mit einem Trägergas in die Prozesskammer (29) und Kondensieren des Dampfes auf dem Substrat (1).Method for producing OLEDs, in which a substrate (1) is prepared with a plurality of emission fields (2), each emission field (2) having an electronic functional layer (3) and several contact surfaces (6) arranged near the edge of the emission field (2) , 7, 8, 9), and the substrate (1) prepared in this way is brought into a process chamber (29) of an OVPD reactor (35) and carried out therein at least two of the following treatment steps immediately one after the other and with the same shadow mask (19) Arranging the shadow mask (19) in a first position and applying a first OLED layer structure (10) by feeding an organic steam generated in at least one first steam generator (40) together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the steam on the substrate (1); Arranging the shadow mask (19) in a second position and applying a first metallization (11) to the first OLED layer structure (10) by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor on the substrate (1); Arranging the shadow mask (19) in a third position and applying a second OLED layer structure (12) by feeding an organic vapor generated in at least one second steam generator together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor on the substrate (1 ); Arranging the shadow mask in a fourth position and applying a second metallization (13) to the second OLED layer structure by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor on the substrate (1); Arranging the shadow mask (19) in a fifth position and applying an insulation layer (14) to the second metallization (13) by feeding in a vapor condensing on the substrate (1) to form an insulator; Arranging the shadow mask (19) in a sixth position and applying a third metallization (15) to the insulation layer (14) by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor on the substrate (1) ; Arranging the shadow mask (19) in a seventh position and applying a third OLED layer structure (16) by feeding an organic vapor generated in at least one third steam generator together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor on the substrate (1 ) or arranging the shadow mask (19) in an eighth position and applying a fourth metallization (17) to the third OLED layer structure (16) by feeding a vapor of a metal together with a carrier gas into the process chamber (29) and condensing the vapor the substrate (1). Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Randkante (21) einer Öffnung (20) der Schattenmaske (19) beim Abscheiden der ersten bis dritten OLED-Schichtstrukturen (10, 12, 16) berührend auf der darunterliegenden Schicht aufliegt.Procedure according to Claim 1 , characterized in that a marginal edge (21) of an opening (20) of the shadow mask (19) rests in contact with the underlying layer when the first to third OLED layer structures (10, 12, 16) are deposited. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schattenmaske (19) beim Abscheiden der Metallisierungen und/oder der Isolationsschicht in ihrer Erstreckungsrichtung bewegt wird.Method according to one of the preceding claims, characterized in that the shadow mask (19) is moved in its direction of extension when the metallizations and / or the insulation layer are deposited. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Randkante (21) einer Öffnung (20) der Schattenmaske (19) beim Abscheiden der ersten bis vierten Metallisierung (11, 13, 15, 17) und/ oder der Isolationsschicht (14) durch einen Spalt (18) von der darunterliegenden Schicht oder dem Isolator (5) beabstandet ist.Method according to one of the preceding claims, characterized in that a marginal edge (21) of an opening (20) of the shadow mask (19) during the deposition of the first to fourth metallization (11, 13, 15, 17) and / or the insulation layer (14) is spaced from the underlying layer or the insulator (5) by a gap (18). Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die erste OLED-Schichtstruktur (10) auf eine elektrisch leitende Anode (4) abgeschieden wird, die das vorbereitete Substrat (1) aufweist oder die in einem vorangehenden Behandlungsschritt in derselben Prozesskammer (29) abgeschieden wird.Method according to one of the preceding claims, characterized in that the first OLED layer structure (10) is deposited on an electrically conductive anode (4) which has the prepared substrate (1) or which in a previous treatment step in the same process chamber (29) is deposited. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine der ersten bis dritten OLED-Schichtstruktur jeweils eine Mehrzahl organischer Schichten aufweist, die hintereinander insbesondere ohne einen Wechsel der Position der Schattenmaske (19) abgeschieden werden.Method according to one of the preceding claims, characterized in that at least one of the first to third OLED layer structure each has a plurality of organic layers which are deposited one behind the other, in particular without changing the position of the shadow mask (19). Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schattenmaske (19) bei ihrer Verlagerung in ihre zweite, vierte, fünfte, sechste und achte Position sowohl parallel zur Erstreckungsebene des Substrates (1), also auch senkrecht dazu, in Richtung weg vom Substrat (1) verlagert wird.Method according to one of the preceding claims, characterized in that the shadow mask (19) when it is shifted into its second, fourth, fifth, sixth and eighth position both parallel to the plane of extent of the substrate (1), i.e. also perpendicular to it, in the direction away from Substrate (1) is relocated. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schattenmaske (19) bei ihrer Verlagerung in die dritte und siebte Position sowohl parallel zur Erstreckungsebene des Substrates (1) als auch senkrecht dazu in Richtung auf das Substrat (1) verlagert wird.Method according to one of the preceding claims, characterized in that when the shadow mask (19) is shifted into the third and seventh position, it is shifted both parallel to the plane of extent of the substrate (1) and perpendicular thereto in the direction of the substrate (1). Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest das Abscheiden der ersten OLED-Schichtstruktur (10), der ersten Metallisierung (11), der zweiten OLED-Schichtstruktur und der zweiten Metallisierung (13) und/ oder das Abscheiden der dritten Metallisierung (15), der dritten OLED-Schichtstruktur (16) und der vierten Metallisierung (17) und/oder der Isolationsschicht (14) in einer einzigen Prozesskammer (29) in unmittelbar aufeinanderfolgenden Schritten durchgeführt wird.Method according to one of the preceding claims, characterized in that at least the deposition of the first OLED layer structure (10), the first metallization (11), the second OLED layer structure and the second metallization (13) and / or the deposition of the third metallization (15), the third OLED layer structure (16) and the fourth metallization (17) and / or the insulation layer (14) in a single process chamber ( 29) is carried out in consecutive steps. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sämtliche Behandlungsschritte unmittelbar aufeinanderfolgend in einer einzigen Prozesskammer (29) durchgeführt werden.Method according to one of the preceding claims, characterized in that all treatment steps are carried out in direct succession in a single process chamber (29). Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (1) einen die Funktionsschicht (3) umgebenden Isolator (5) aufweist, wobei sich die Kontaktflächen (6, 7, 8, 9) entlang des von der Funktionsschicht (3) wegweisenden Randes des Isolators (5) erstrecken.Method according to one of the preceding claims, characterized in that the substrate (1) has an insulator (5) surrounding the functional layer (3), the contact surfaces (6, 7, 8, 9) extending along the length of the functional layer (3) extending edge of the insulator (5). Schichtstruktur aufweisend eine auf einem Substrat (1) aufgebrachte elektronische Funktionsschicht (3) und mehrere nahe des Randes eines Emissionsfeldes (2) angeordnete Kontaktflächen (6, 7, 8, 9) aufweist, wobei auf der Funktionsschicht (3) im Bereich des Emissionsfeldes (2) eine erste OLED-Schichtstruktur (10) aufgebracht ist, wobei auf die erste OLED-Schichtstruktur (10) eine, Kontaktflächen (8) mit der ersten OLED-Schichtstruktur (10) verbindende, erste Metallisierung (11) aufgebracht ist, wobei auf die erste Metallisierung (11) eine zweite OLED-Schichtstruktur (12) aufgebracht ist, wobei auf die zweite OLED-Schichtstruktur (12) eine, Kontaktflächen (6) mit der zweiten OLED-Schichtstruktur (12) verbindende, zweite Metallisierung (13) aufgebracht ist, wobei auf die zweite Metallisierung (13) eine auch die Kontaktflächen (6, 8) überdeckende Isolationsschicht (14) aufgebracht ist, wobei auf die Isolationsschicht (14) eine mit einer Kontaktfläche (7) verbundene dritte Metallisierung (15) aufgebracht ist, wobei auf die dritte Metallisierung (15) eine dritte OLED-Schichtstruktur (16) aufgebracht ist und wobei auf die dritte OLED-Schichtstruktur (16) eine, Kontaktfläche (9) mit der dritten OLED-Schichtstruktur (12) verbindende, vierte Metallisierung (17) aufgebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (6, 7, 8, 9) sich mit unterschiedlichen Abständen zum Rand der Funktionsschicht (3) entlang jeweils eines Randes der Funktionsschicht (3) erstrecken.Layer structure having an electronic functional layer (3) applied to a substrate (1) and a plurality of contact surfaces (6, 7, 8, 9) arranged near the edge of an emission field (2), wherein on the functional layer (3) in the region of the emission field ( 2) a first OLED layer structure (10) is applied, a first metallization (11) connecting contact areas (8) to the first OLED layer structure (10) being applied to the first OLED layer structure (10), wherein on the first metallization (11) a second OLED layer structure (12) is applied, a second metallization (13) connecting contact areas (6) to the second OLED layer structure (12) being applied to the second OLED layer structure (12) an insulation layer (14) also covering the contact surfaces (6, 8) being applied to the second metallization (13), a third metallization (1 5) is applied, a third OLED layer structure (16) being applied to the third metallization (15) and a contact surface (9) connecting the third OLED layer structure (12) to the third OLED layer structure (16) , fourth metallization (17) is applied, characterized in that the contact surfaces (6, 7, 8, 9) extend at different distances from the edge of the functional layer (3) along one edge of the functional layer (3). Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche oder Schichtstruktur nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (6, 7, 8, 9) erste Kontaktflächen (6, 8) ausbilden, die dem Emissionsfeld (2) geringer beabstandet sind, als zweite Kontaktflächen (7, 8) und/oder dass erste Kontaktflächen (6, 7) einen ersten Abstand zum Emissionsfeld (2) oder zu einem das Emissionsfeld (2) umgebenden Isolator (5) aufweisen und zweite Kontaktflächen (6, 8) einen zweiten Abstand zum Emissionsfeld (2) oder zu dem Isolator (5) aufweisen, wobei der zweite Abstand mindestens die Summe aus erstem Abstand und einer in Richtung des Abstandes gemessenen Breite der ersten Kontaktflächen (6, 7) ist.Method according to one of the preceding claims or layer structure according to Claim 12 , characterized in that the contact surfaces (6, 7, 8, 9) form first contact surfaces (6, 8) which are less spaced from the emission field (2) than second contact surfaces (7, 8) and / or that first contact surfaces ( 6, 7) have a first distance from the emission field (2) or from an insulator (5) surrounding the emission field (2) and second contact surfaces (6, 8) have a second distance from the emission field (2) or from the insulator (5) , wherein the second distance is at least the sum of the first distance and a width of the first contact surfaces (6, 7) measured in the direction of the distance. Verfahren oder Schichtstruktur, gekennzeichnet durch eines oder mehrere der kennzeichnenden Merkmale eines der vorhergehenden Ansprüche.Method or layer structure, characterized by one or more of the characterizing features of one of the preceding claims.
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