DE102019112934A1 - Halbleitermodul - Google Patents
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Abstract
Ein Leistungsmodul (1), das eine Halbbrücke bereitstellt, wobei das Leistungsmodul umfasst: mindestens ein Substrat (2), das eine erste innere Lastbahn (11), eine zweite innere Lastbahn (12), eine dritte innere Lastbahn (14), eine vierte innere Lastbahn (15), eine erste äußere Lastbahn (10) und eine zweite äußere Lastbahn (13) umfasst; wobei jede äußere Lastbahn länglich ist und sich im Wesentlichen über das mindestens eine Substrat in einer ersten Richtung erstreckt.
Description
- Halbleiterleistungsmodule finden in der Industrie breite Anwendung. Beispielsweise kann ein derartiges Leistungsmodul zum gesteuerten Schalten von starken Strömen verwendet werden und kann in Leistungswandlern (wie etwa Invertern) zum Umwandeln von DC in AC oder umgekehrt oder zum Umwandeln zwischen verschiedenen Spannungen oder Frequenzen von AC verwendet werden. Solche Inverter werden in Motorsteuerungen oder -schnittstellen zwischen der Leistungsgenerierung oder -speicherung oder einem Leistungsverteilungsgitter verwendet.
- Das Halbleiterleistungsmodul ist dafür ausgelegt, zwei Hauptcharakteristika zu erfüllen: hohe Leistungsumwandlungseffizienz und hohe Leistungsdichte. Faktoren wie Lebensdauer, Kosten und Qualität werden ebenfalls berücksichtigt. Um eine hohe Leistungsdichte zu erzielen, können Hochleistungs-Halbleiter mit großem Bandabstand, wie etwa Siliziumcarbid(SiC)-Halbleiterschalter verwendet werden, da sie standardmäßige siliziumbasierte Halbleiterschalter, zum Beispiel IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistors) im Allgemeinen übertreffen. SiC-Bauelemente legen dem Design des Leistungsmoduls unter thermischem und elektrischem Standpunkt hohe Anforderungen auf. Die Halbleiter mit großem Bandabstand (z.B. SiC-Halbleiterschalter) besitzen die Charakteristik, dass sie schnell schalten, was bedeutet, dass der Übergang von der Leitung zum Blockiermodus nur einige wenige Nanosekunden benötigt.
- Das schnelle Schalten in Elektronikschaltungen verursacht in Kombination mit Streuinduktanzen ein Spannungsüberschwingen, wenn solche Halbleiterleistungsmodule verwendet werden. Dieses Spannungsüberschwingen erhöht die Schaltverluste und kann EMI-Emissionen durch Nachschwingen verursachen. Da Stromgradienten während des Schaltens hoch sind, muss die Streu-/parasitäre Induktanz der ganzen Baugruppe so klein wie möglich sein.
- SiC-MOSFETs werden als die Halbleiterschalter in Anwendungen verwendet, wo durch die Anwendung höchste Effizienz in einem kleinen Bauvolumen erforderlich ist. SiC-MOSFETs zeigen schnelle Schaltgeschwindigkeiten und einen niedrigen Einschaltwiderstand zur gleichen Zeit. Da SiC-Wafer in der Herstellung teuer sind und es bei aktuellen Herstellungsprozessen schwierig ist, Komponenten mit einem akzeptablen niedrigen Kristallfehlerausmaß herzustellen, sind die Die typischerweise sehr klein (beispielsweise 5-25mm2). Dies hält die Ausbeuteverluste niedrig, beschränkt aber den Gesamtstrom, den ein SiC-Halbleiterschalter durchlassen kann. Um hohe Ausgangsleistungen zu erzielen, müssen mehrere dieser kleinen Halbleiterschalter (beispielsweise MOSFETs) parallel betrieben werden. In Anwendungen wie etwa Kraftfahrzeugleistungsumwandlung benötigt die parallele Verwendung von mehreren Halbleiterschaltern Raum in dem Halbleiterleistungsmodul, was potentiell größere Module ergibt. Jedoch ist in einem Fahrzeug der Raum kostbar und das Vergrößern der Größe von Modulen stellt im Allgemeinen keine Option dar. Es ist deshalb ein großer Vorteil, wenn das innovative Design von Layouts sowohl mehrere Halbleiterschalter parallel, einen ausgeglichen (symmetrischen) Betrieb, eine niedrige Streuinduktanz als auch eine geringe Gesamtlayoutgröße berücksichtigen kann.
- Kurze Darstellung der Erfindung
- Somit besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung in der Bereitstellung eines Leistungsmoduls, das das simultane Schalten und einen ausgeglichenen Betrieb von mehreren Halbleiterschaltern parallel, niedrigere Streuinduktanzen und einen stabileren und effizienteren Betrieb als gegenwärtig erhältliche Leistungsmodule aufweisen kann.
- Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung werden die obigen und andere Aufgaben durch das Bereitstellen eines Leistungsmoduls erfüllt, das eine Halbbrücke bereitstellt, wobei das Leistungsmodul umfasst: mindestens ein Substrat, das eine erste innere Lastbahn, eine zweite innere Lastbahn, eine dritte innere Lastbahn, eine vierte innere Lastbahn, eine erste äußere Lastbahn und eine zweite äußere Lastbahn umfasst;wobei jede äußere Lastbahn länglich ist und sich im Wesentlichen über das mindestens eine Substrat in einer ersten Richtung erstreckt; wobei die inneren Lastbahnen zwischen den äußern Lastbahnen bezüglich einer zweiten Richtung im Wesentlichen orthogonal zu der ersten Richtung angeordnet sind; wobei die dritte innere Lastbahn und die vierte innere Lastbahn von der ersten inneren Lastbahn und einer oder der anderen der äußeren Lastbahnen im Wesentlichen umgeben ist; wobei die dritte innere Lastbahn und die vierte innere Lastbahn elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden sind; wobei das Leistungsmodul umfasst: eine erste Menge von Halbleiterschaltern, wobei die erste Menge von Halbleiterschaltern auf der zweiten inneren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn verbunden ist, eine zweite Menge von Halbleiterschaltern, wobei die zweite Menge von Halbleiterschaltern auf der dritten inneren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn verbunden ist, eine dritte Menge von Halbleiterschaltern, wobei die dritte Menge von Halbleiterschaltern auf der zweiten inneren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der ersten Lastbahn verbunden ist, eine vierte Menge von Halbleiterschaltern, wobei die vierte Menge von Halbleiterschaltern auf der vierten inneren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn verbunden ist, so dass die erste, zweite, dritte und vierte Menge von Halbleiterschaltern einen ersten Arm der Halbbrücke bilden; und wobei das Leistungsmodul umfasst: eine fünfte Menge von Halbleiterschaltern, wobei die fünfte Menge von Halbleiterschaltern auf der ersten äußeren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden ist, eine sechste Menge von Halbleiterschaltern, wobei die sechste Menge von Halbleiterschaltern auf der ersten äußeren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der dritten inneren Lastbahn verbunden ist, eine siebte Menge von Halbleiterschaltern, wobei die siebte Menge von Halbleiterschaltern auf der zweiten äußeren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden ist, eine achte Menge von Halbleiterschaltern, wobei die achte Menge von Halbleiterschaltern auf der zweiten äußeren Lastbahn montiert ist und elektrisch mit der vierten inneren Lastbahn verbunden ist, so dass die fünfte, sechste, siebte und achte Menge von Halbleiterschaltern einen zweiten Arm der Halbbrücke bilden.
- Das Substrat kann eine Isolierbasis umfassen, wobei leitende Bahnen die an der Isolierbasis angebrachte erforderliche Schaltungsanordnung bilden sollen. Ein geeignetes Substrat kann ein DBC(Direct Bonded Copper)-Substrat sein, das aus zwei leitenden Kupferschichten auf beiden Seiten einer isolierenden Keramikschicht ausgebildet ist. Zu anderen geeigneten Substraten können ein DBA (Direct Bonded Aluminium) oder andere Substrate, die auf dem Gebiet gut bekannt sind, zählen.
- Der Ausdruck „Bahn“ wird hier verwendet, um eine Leiterbahn zu spezifizieren, die aus einer Metallschicht ausgebildet ist, die einen Teil des Substrats bildet und durch einen Spalt von anderen Bahnen getrennt ist. Der Ausdruck „Lastbahn“ wird hier verwendet, um eine Bahn zu spezifizieren, die für das Führen eines großen Stroms geeignet ist, wie etwa der, der die elektrische Last liefert, für die das Leistungsmodul Strom liefert. Die Eignung für große Ströme kann eine Kombination aus der Breite der Bahn und der Dicke der Bahn sein, die eine große Querschnittsfläche bilden und somit dem Durchtritt von großen Strömen ohne unnötige Erwärmung gestatten.
- Der Ausdruck „Halbleiterschalter“ wird hier so verwendet, dass er ein beliebiges einer Anzahl von bekannten Halbleiterschaltbauelementen beinhaltet. Zu Beispielen für solche Bauelemente zählen Thyristoren, JFETs, IGBTs und MOSFETs, und sie können auf traditioneller Siliziumtechnologie oder Technologie mit großem Bandabstand wie Siliciumcarbid (SiC) basieren.
- Der Ausdruck „montiert“ wird hier so verwendet, dass er die ständige Verbindung eines Bauelements mit einer Bahn bedeutet, und er kann eine elektrisch leitende Verbindung beinhalten. Zu Mitteln für solche Verbindungen zählen Löten, Hartlöten und Sintern.
- Der Ausdruck „elektrisch verbunden mit“ wird hier so verwendet, dass er die Verbindung eines Teils des Bauelements mit einer entfernten Bahn oder einem anderen Bauelement bedeutet. Traditionellerweise wird diese Form von Verbindungen unter Verwendung von metallischen Drahtbonds, Aluminium umfassend, hergestellt. Jedoch können auch andere Metalle wie etwa Kupfer verwendet werden. Der Ausdruck deckt auch die Verwendung von Bändchen- oder Bandverbindungen, geflochtenen Bändern unter Verwendung von festen Metallstrukturen wie etwa Clips oder Sammelschienen ab.
- Das Layout der Lastbahnen kann um eine sich in der ersten Richtung erstreckende Linie symmetrisch sein.
- Gateverbindungen zu den Halbleiterschaltern, die die erste, zweite, dritte und vierte Menge von Halbleiterschaltern umfassen, können aus einer ersten Menge von Gatebahnen gebildet werden, die zwischen den äußeren Lastbahnen und dem Rand des Substrats angeordnet sind. Gateverbindungen zu den Halbleiterschaltern, die die fünfte, sechste, siebte und achte Menge von Halbleiterschaltern umfassen, können aus einer zweiten Menge von Gatebahnen gebildet werden, die zwischen den äußeren Lastbahnen und dem Rand des Substrats angeordnet sind.
- Bei einer Ausführungsform können sich die erste Menge oder die zweite Menge von Gatebahnen im Wesentlichen über das mindestens eine Substrat in einer ersten Richtung erstrecken.
- Bei einer anderen Ausführungsform kann die erste Menge oder die zweite Menge von Gatebahnen zwischen den ersten äußeren Lastbahnen und der ersten, zweiten und dritten inneren Lastbahn angeordnet sein.
- Bei einer anderen Ausführungsform kann die erste Menge oder die zweite Menge von Gatebahnen zwischen den zweiten äußeren Lastbahnen und der ersten, zweiten und vierten inneren Lastbahn angeordnet sein.
- Bei einer bevorzugten Ausführungsform kann ein erster DC-Anschluss elektrisch mit der ersten äußeren Lastbahn verbunden sein.
- Bei einer anderen Ausführungsform kann ein zweiter DC-Anschluss elektrisch mit der zweiten äußeren Lastbahn verbunden sein.
- Bei noch einer weiteren Ausführungsform kann ein dritter DC-Anschluss elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn verbunden sein.
- Bei einer weiteren Ausführungsform kann ein erster AC-Anschluss elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden sein. Wo erforderlich, kann ein zweiter AC-Anschluss auch elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden sein.
- Bei einer anderen Ausführungsform können die dritte und/oder die vierte innere Lastbahn elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn verbunden sein. Eine derartige elektrische Verbindung kann über eine oder mehrere Drahtbonds erfolgen.
- Bei einer anderen Ausführungsform erstrecken sich die Source-Erfassungsbahnen im Wesentlichen über das mindestens eine Substrat in einer ersten Richtung.
- Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform können die DC-Anschlüsse an einem Ende des Moduls in der ersten Richtung angeordnet sein, und ein oder mehrere AC-Anschlüsse können am entgegengesetzten Ende des Moduls in der ersten Richtung angeordnet sein.
- In einer alternativen Ausführungsform können eine oder mehrere der Gateverbindungen elektrisch mit auf der äußeren Oberfläche des Leistungsmoduls platzierten Anschlüssen verbunden sein, sich im Wesentlichen orthogonal zu der Ebene des Substrats erstreckend. Bei einer derartigen Ausführungsform können die Gatesteuersignale durch „obere Kontakt“-Anschlüsse in das Leistungsmodul geführt werden. Eine derartige Anordnung minimiert Längen von Leitern zwischen einer Ansteuerschaltung außerhalb des Moduls und den Halbleiterschaltern selbst. Dies ist ein großer Vorteil beim Reduzieren von Streuinduktanzen.
- Bei einer alternativen Ausführungsform können eine oder mehrere der Source-Erfassungsverbindungen elektrisch mit auf der äußeren Oberfläche des Leistungsmoduls platzierten Anschlüssen verbunden sein, sich im Wesentlichen orthogonal zu der Ebene des Substrats erstreckend. Eine derartige Anordnung minimiert Längen von Leitern zwischen den Halbleiterschaltern und den Messschaltungen der Treiberschaltungen und kann somit dazu beitragen, etwaige induktive Koppeleffekte mit dem Laststrom zu vermeiden.
- Figurenliste
- Die Erfindung lässt sich anhand der hier unten angegebenen ausführlichen Beschreibung umfassender verstehen. Die beiliegenden Zeichnungen sind nur als Darstellung angegeben, und somit beschränken sie nicht die vorliegende Erfindung. In den beiliegenden Zeichnungen zeigen:
-
1 eine Perspektivansicht einer ersten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls1 ; -
2 eine Draufsicht einer Ausführungsform des Substrats2 , die Teil des in1 gezeigten Leistungsmoduls1 bildet; -
3 eine alternative Ausführungsform des in2 gezeigten Su bstratlayouts; -
4 eine Perspektivansicht der Ausführungsform des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls1 , das das in3 gezeigte Substratlayout verwendet; und -
5 eine Draufsicht einer anderen Ausführungsform des Substrats des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls1 . - Ausführliche Beschreibung der Erfindung
- Nunmehr ausführlich bezugnehmend auf die Zeichnungen zum Zweck des Veranschaulichens von bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ist eine erste Ausführungsform des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls
1 in1 gezeigt. Das gezeigte Leistungsmodul1 umfasst ein Substrat2 innerhalb des Körpers des Leistungsmoduls. Das Leistungsmodul1 ist ausgelegt zum Bereitstellen einer Halbbrückenschaltung, und dazu sind drei DC-Leistungsanschlüsse3 ,4 ,5 und ein AC-Leistungsanschluss6 vorgesehen. Der AC-Anschluss ist hier am entgegengesetzten Ende der Kapselung gezeigt. Das Substrat2 und die mit ihm verbundene Schaltungsanordnung sind zusammen innerhalb der internen Abschnitte der Leistungsanschlüsse3 ,4 ,5 ,6 in dieser Ausführungsform in einer Formmasse22 gekapselt. Alternative Ausführungsformen sind möglich, wo das Substrat2 an einer Basisplatte angebracht und/oder innerhalb eines Rahmens montiert ist, der danach mit Silikongel gefüllt und mit einem Deckel fertiggestellt wird. Außerdem ist es möglich, mehrere Substrate2 innerhalb eines einzelnen Package zu montieren, um ein mehrere Halbbrücken enthaltendes Leistungsmodul bereitzustellen. -
2 zeigt eine Ausführungsform des Substrats2 , das Teil des in1 gezeigten Leistungsmoduls1 ist. Das Substrat kann beispielsweise ein DCB(Direct Copper Bonding)-Substrat sein, das eine als ein Isolator wirkende zentrale Keramikschicht umfasst und auf beiden Seiten mit einer Kupferschicht beschichtet ist. Bei einigen Ausführungsformen wird die untere Kupferschicht vollständig gelassen, während die obere Kupferschicht geätzt wird, um eine Anzahl von getrennten leitenden Bahnen auszubilden, die die erforderlichen Schaltungen bilden. Auf den Bahnen sind Komponenten wie etwa Halbleiterschalter montiert. Bei der in2 gezeigten Ausführungsform sind es sechs leitende Bahnen. Die Bahnen umfassen vier innere Lastbahnen11 ,12 ,14 ,15 und zwei äußere Lastbahnen10 ,13 . Die beiden äußeren Lastbahnen sind mit DC-Leistungsanschlüssen3 ,4 verbunden, und die erste innere Lastbahn11 ist mit einem DC-Lastanschluss5 verbunden. Die zweite innere Lastbahn ist wiederum mit dem AC-Leistungsanschluss6 verbunden. - In
2 sind auch Halbleiterschalter gezeigt. Bei dieser Ausführungsform umfassen die Halbleiterschalter SiC(Siliziumcarbid)-MOSFETs. Die Verwendung von anderen Arten von Halbleiterschaltern mit vertikaler Struktur ist ebenfalls möglich, beispielsweise IGBTs. - Die sechste Menge von Halbleiterschaltern
101 und die fünfte Menge von Halbleiterschaltern104 sind auf der ersten äußeren Lastbahn110 durch Löten, Sintern oder durch andere Verbindungstechnologien, die auf dem Gebiet bekannt sind, montiert. Sie sind auch elektrisch von Kontaktoberflächen gegenüber den Kontaktoberflächen verbunden, die verwendet werden, um einen Kontakt mit den ersten äußeren Lastbahnen10 zu der zweiten inneren Lastbahn12 herzustellen. Im Fall der sechsten Menge von Halbleiterschaltern101 ist dies über die dritte innere Lastbahn14 , da die sechste Menge von Halbleiterschaltern101 elektrisch zuerst mit der dritten inneren Lastbahn14 verbunden ist, die wiederum elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn12 verbunden ist. Analog sind die achte Menge von Halbleiterschaltern105 und die siebte Menge von Halbleiterschaltern108 auf der zweiten äußeren Lastbahn13 montiert und elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn12 verbunden. Im Fall der achten Menge von Halbleiterschaltern105 wird diese elektrische Verbindung über die vierte innere Lastbahn15 hergestellt. Die fünfte, sechste, siebte und achte Menge von Halbleiterschaltern104 ,101 ,108 ,105 bilden einen ersten Arm der Halbbrückenschaltung. - Die erste Menge von Halbleiterschaltern
102 und die dritte Menge von Halbleiterschaltern106 sind auf der zweiten inneren Lastbahn12 durch Löten, Sintern oder über andere auf dem Gebiet bekannte Verbindungstechnologien montiert. Sie sind auch elektrisch von den Kontaktoberflächen gegenüber den Kontaktoberflächen verbunden, die verwendet werden, um einen Kontakt mit der zweiten inneren Lastbahn12 zu der ersten inneren Lastbahn11 herzustellen. Die zweite Menge von Halbleiterschaltern103 ist auf der dritten inneren Lastbahn14 montiert und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn11 verbunden. Die vierte Menge von Halbleiterschaltern107 ist auf der vierten inneren Lastbahn15 montiert und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn11 verbunden, die erste, zweite, dritte und vierte Menge von Halbleiterschaltern102 ,103 ,106 ,107 bilden einen zweiten Arm der Halbbrückenschaltung. -
3 veranschaulicht eine alternative Ausführungsform des in2 gezeigten Substratlayouts. Der Unterschied zwischen diesen beiden Ausführungsformen besteht darin, dass die Fläche der mit dem ersten AC-Anschluss6 verbundenen zweiten inneren Lastbahn12 erweitert ist, um die Verbindung eines ersten AC-Anschlusses6 und eines zweiten AC-Anschlusses7 zu ermöglichen. Die parallele Verwendung von zwei AC-Anschlüssen ermöglicht stärkere Ströme zwischen der Innenseite und der Außenseite des Moduls. In3 ist außerdem ein Layout von Lastbahnen10 ,11 ,12 ,13 ,14 ,15 gezeigt, das um eine sich in der ersten Richtung8 erstreckende Linie201 symmetrisch ist. -
4 zeigt eine Perspektivansicht der Ausführungsform des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls1 , das das in3 gezeigte Substratlayout verwendet. Ein oder mehrere Anschlüsse200 für die Verbindung von Gate- und/oder Source-Erfassungssignalen sind auf der äußeren Oberfläche des Leistungsmoduls platziert, sich im Wesentlichen orthogonal zu der Ebene des Substrats2 erstreckend. -
5 veranschaulicht eine andere Ausführungsform des Substrats des erfindungsgemäßen Leistungsmoduls1 . Hier ist das Layout der Lastbahnen10 ,11 ,12 ,13 ,14 ,15 ähnlich dem in2 gezeigten, aber eine erste Menge von Gatebahnen16 , eine zweite Menge von Gatebahnen17 sind ebenfalls gezeigt. Die erste Menge von Gatebahnen16 ist mit der ersten Menge von Gateanschlüssen18 verbunden, und die zweite Menge von Gatebahnen17 ist mit der zweiten Menge von Gateanschlüssen19 verbunden. Gatekontaktpads23 sind zentral innerhalb von Gruppen von Halbleiterschaltern102-103 ,106-107 positioniert, und die Gateverbindungen zwischen dem Gatekontaktpad und den Gateverbindungen auf der oberen Oberfläche jedes der Halbleiterschalter erstrecken sich radial von dem Gatekontaktpad23 zu den Halbleiterschaltern102-103 ,106-107 . Aufgrund der radialen Gateverteilung werden synchrone Schaltbedingungen erzielt. - Die Verwendung von mehreren Pins für Gate- und/oder Source-Erfassungsverbindungen gestattet die Verwendung von geteilter Treiberausstattung zum Ansteuern des Moduls. Auf diese Weise können verschiedene Spannungen oder Zeitsteuerungen verwendet werden, um unterschiedliche Gruppen von Halbleiterschaltern anzusteuern.
Claims (8)
- Leistungsmodul (1), das eine Halbbrücke bereitstellt, wobei das Leistungsmodul umfasst: mindestens ein Substrat (2), das eine erste innere Lastbahn (11), eine zweite innere Lastbahn (12), eine dritte innere Lastbahn (14), eine vierte innere Lastbahn (15), eine erste äußere Lastbahn (10) und eine zweite äußere Lastbahn (13) umfasst; wobei jede äußere Lastbahn länglich ist und sich im Wesentlichen über das mindestens eine Substrat in einer ersten Richtung (8) erstreckt; wobei die inneren Lastbahnen zwischen den äußern Lastbahnen bezüglich einer zweiten Richtung (9) im Wesentlichen orthogonal zu der ersten Richtung (8) angeordnet sind; wobei die dritte innere Lastbahn (14) und die vierte innere Lastbahn (15) von der ersten inneren Lastbahn (11) und einer oder der anderen der äußeren Lastbahnen (10, 13) im Wesentlichen umgeben ist; wobei die dritte innere Lastbahn (14) und die vierte innere Lastbahn (15) elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden sind; wobei das Leistungsmodul umfasst: eine erste Menge von Halbleiterschaltern (102), wobei die erste Menge von Halbleiterschaltern (102) auf der zweiten inneren Lastbahn (12) montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn (11) verbunden ist, eine zweite Menge von Halbleiterschaltern (103), wobei die zweite Menge von Halbleiterschaltern (103) auf der dritten inneren Lastbahn (14) montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn (11) verbunden ist, eine dritte Menge von Halbleiterschaltern (106), wobei die dritte Menge von Halbleiterschaltern (106) auf der zweiten inneren Lastbahn (12) montiert ist und elektrisch mit der ersten Lastbahn (11) verbunden ist, eine vierte Menge von Halbleiterschaltern (107), wobei die vierte Menge von Halbleiterschaltern (107) auf der vierten inneren Lastbahn (15) montiert ist und elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn (11) verbunden ist, so dass die erste, zweite, dritte und vierte Menge von Halbleiterschaltern (102, 103, 106, 107) einen ersten Arm der Halbbrücke bilden; und wobei das Leistungsmodul umfasst: eine fünfte Menge von Halbleiterschaltern (104), wobei die fünfte Menge von Halbleiterschaltern (104) auf der ersten äußeren Lastbahn (10) montiert ist und elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist, eine sechste Menge von Halbleiterschaltern (101), wobei die sechste Menge von Halbleiterschaltern (101) auf der ersten äußeren Lastbahn (10) montiert ist und elektrisch mit der dritten inneren Lastbahn (14) verbunden ist, eine siebte Menge von Halbleiterschaltern (108), wobei die siebte Menge von Halbleiterschaltern (108) auf der zweiten äußeren Lastbahn (13) montiert ist und elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist, eine achte Menge von Halbleiterschaltern (105), wobei die achte Menge von Halbleiterschaltern (105) auf der zweiten äußeren Lastbahn (13) montiert ist und elektrisch mit der vierten inneren Lastbahn (15) verbunden ist, so dass die fünfte, sechste, siebte und achte Menge von Halbleiterschaltern (104, 101, 108, 105) einen zweiten Arm der Halbbrücke bilden.
- Leistungsmodul nach
Anspruch 1 , wobei Gateverbindungen zu den Halbleiterschaltern, die die erste, zweite, dritte und vierte Menge von Halbleiterschaltern (102, 103, 106, 107) umfassen, aus einer ersten Menge von Gatebahnen (16) gebildet ist, die zwischen den äußeren Lastbahnen (10, 13) und dem Rand des Substrats (2) angeordnet sind. - Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei Gateverbindungen zu den Halbleiterschaltern, die fünfte, sechste, siebte und achte Menge von Halbleiterschaltern (104, 101, 108, 105) umfassen, aus einer zweiten Menge von Gatebahnen (17) gebildet sind, die zwischen den äußeren Lastbahnen (10, 13) und dem Rand des Substrats (2) angeordnet sind.
- Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein erster DC-Anschluss (3) elektrisch mit der ersten äußeren Lastbahn (10) verbunden ist, ein zweiter DC-Anschluss (4) elektrisch mit der zweiten äußeren Lastbahn (13) verbunden ist und ein dritter DC-Anschluss (5) elektrisch mit der ersten inneren Lastbahn (11) verbunden ist.
- Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei ein erster AC-Anschluss (6) elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist und ein zweiter AC-Anschluss (7) elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist.
- Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die dritte innere Lastbahn (10) elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist.
- Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die vierte innere Lastbahn (15) elektrisch mit der zweiten inneren Lastbahn (12) verbunden ist.
- Leistungsmodul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die DC-Anschlüsse (3, 4, 5) an einem Ende des Moduls (1) in der ersten Richtung (8) angeordnet sind und ein oder mehrere AC-Anschlüsse (6, 7) am entgegengesetzten Ende des Moduls (1) in der ersten Richtung (8) angeordnet sind.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019112934.6A DE102019112934A1 (de) | 2019-05-16 | 2019-05-16 | Halbleitermodul |
PCT/EP2020/061180 WO2020229114A1 (en) | 2019-05-16 | 2020-04-22 | Semiconductor module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102019112934.6A DE102019112934A1 (de) | 2019-05-16 | 2019-05-16 | Halbleitermodul |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102019112934A1 true DE102019112934A1 (de) | 2020-11-19 |
Family
ID=70681767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102019112934.6A Pending DE102019112934A1 (de) | 2019-05-16 | 2019-05-16 | Halbleitermodul |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102019112934A1 (de) |
WO (1) | WO2020229114A1 (de) |
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EP4152384A1 (de) * | 2021-09-17 | 2023-03-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleiterbauelement |
DE102022133675A1 (de) | 2022-12-16 | 2024-06-27 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodulanordnung |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115513166A (zh) * | 2022-09-29 | 2022-12-23 | 扬州国扬电子有限公司 | 一种低电感功率模块 |
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-
2019
- 2019-05-16 DE DE102019112934.6A patent/DE102019112934A1/de active Pending
-
2020
- 2020-04-22 WO PCT/EP2020/061180 patent/WO2020229114A1/en active Application Filing
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WO2020229114A1 (en) | 2020-11-19 |
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