DE102014007466B3 - Vorrichtung und Verfahren zur Vebesserung des Cpk-Wertes bei der Fertigung von CMOS Fotodedektoren für die schnelle Lichtlaufzeitmessung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Vebesserung des Cpk-Wertes bei der Fertigung von CMOS Fotodedektoren für die schnelle Lichtlaufzeitmessung Download PDF

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Abstract

Das erfindungsgemäße Verfahren betrifft eine Methode zur Verminderung der Fertigungsfehler bei einem lichtlaufzeitbasierenden Messsystem. Bei einem System, das das erfindungsgemäße Verfahren ausführt erzeugt ein Fotodetektor Ladungsträger beim Auftreffen eines durch ein Objekt reflektierten Laser-Pulses auf denselben. Dabei werden die Ladungsträger in drei Integratoren gesammelt und zwar in einem ersten Integrator bis zu einem Zeitpunkt, der nach dem Beginn des Wiedereintreffens des reflektierten Laserpulses liegt und vor dem Zeitpunkt des Eintreffens des Endes des reflektierten Laser-Pulses. In einem zweiten Integrator werden die Ladungsträger beispielsweise ab diesem Zeitpunkt gesammelt und bis zu einem Zeitpunkt gesammelt, der nach dem Zeitpunkt des Eintreffens des Endes des reflektierten Pulses liegt. Während eines dritten Zeitraums werden die Ladungsträger gesammelt, die ausschließlich auf das Umgebungslicht zurückzuführen sind. Durch insbesondere zyklisches Vertauschen der Integratoren wird eine Datenbasis geschaffen, die zur Schätzung des realen Wertes verwendet wird. Hierdurch kann der jeweilige Fertigungsfehler geschätzt werden. Die Fehler der Integratoren werden somit ermittelt und können beim Ergebnis berücksichtigt werden.

Description

  • Aus dem Stand der Technik sind verschiedene Verfahren zur dreidimensionalen Vermessung des Abstands a von einem oder mehreren Objekten (O1 bis OM) mittels Lichtlaufzeit bekannt. So offenbart die DE19833207A1 ein Verfahren zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes von räumlichen Objekten unter Einsatz eines bildpunktauflösenden optoelektronischen Sensors mit einem an jedem Bildpunktelement vorhandenen elektronischen Kurzzeitintegrator. Dabei ist die Integrationszeit einstellbar. Das in der DE19833207A1 und der EP104036661 offenbarte Verfahren besteht aus folgenden Schritten:
    • – das Objekt wird mit einem Lichtimpuls vorgegebener Lichtimpulsdauer ΔL beleuchtet,
    • – von Objektpunkten zurückgestreute Lichtimpulse werden an zugehörigen Bildpunkten des Sensors innerhalb einer vorgegebenen kurzen Integrationszeit ΔA, mit ΔA ≤ ΔL, erfasst, wobei der Zeitpunkt für den Beginn der Integrationszeit ΔA vor dem Eintreffen des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses liegt, der dem nächstliegenden Objektpunkt entspricht,
    • – aus den entsprechend ihrer unterschiedlichen Laufzeiten resultierenden unterschiedlichen aufgenommenen Intensitäten der zurückgestreuten Lichtimpulse werden Abstandswerte ermittelt.
  • Ein ähnliches Verfahren ist aus der EP167852361 bekannt. Diese Schrift offenbart einen Abstandssensor zur Erfassung eines Abstands zu einem Objektpunkt. Der offenbarte Abstandssensor umfasst
    • – eine elektromagnetischen Strahlungsquelle zur Bestrahlung des Objektpunkts mit einem Strahlungspuls in einem Bestrahlungszeitfenster,
    • – eine Erfassungseinrichtung zur Erfassung von durch den Objektpunkt reflektierter elektromagnetischer Strahlung in einem Erfassungszeitfenster, das in vorbestimmter zeitlicher Beziehung zu dem Bestrahlungszeitfenster steht,
    • – eine Photoelektrode zum, Abgeben von Photoelektronen auf die reflektierte elektromagnetische Strahlung hin,
    • – einen Elektronendetektor zum Umwandeln der abgegebenen Photoelektronen in ein Erfassungssignal, das eine Menge der von dem Objektpunkt reflektierten elektromagnetischen Strahlung anzeigt,
    • – eine Auswerteeinrichtung zur Ermittlung des Abstands zu dem Objektpunkt aus dem Erfassungssignal,
    • – eine Gegenelektrode, die zusammen mit der Fotoelektrode eine Kapazität bildet,
    • – eine Einrichtung zum Verbinden der Gegenelektrode mit einem vorbestimmten Potential vor dem Erfassungszeitfenster und zum Trennen derselben von dem vorbestimmten Potential während des Erfassungszeitfensters, so dass die Kapazität während des Erfassungszeitfensters entladen wird,
    • – eine Einrichtung zum Verbinden der Fotoelektrode mit Masse während des Erfassungszeitfensters und mit dem vorbestimmten Potential im Anschluss an das Erfassungszeitfenster,
    • – eine Einrichtung zum Auslesen einer über die Kapazität abfallenden Spannung nach dem Erfassungszeitfenster, um ein Erfassungssignal zu erhalten.
  • Ähnliche Verfahren sind aus der DE 10 2008 018 718 A1 , der DE 10 2007 036 973 A1 und der DE 10 2008 018 718 B4 bekannt.
  • Aus der WO2007031102A1 , der DE 10 2009 020 218 B3 , der DE 10 2012 206 089 A1 , der US20130092824A1 und der DE 10 2011 076 635 B3 sind geeignete Detektoren für diese Systeme mit einem eingebauten Drift-Feld durch eine Wannenkonstruktion bekannt.
  • Auch die DE 10 2009 037 596 A1 beschreibt ein Verfahren und eine Vorrichtung für einen solchen Sensor.
  • Die Problematik der Flugzeit-Sensorik wird auch behandelt in „Neuartige CMOS-Fotodetektoren für die schnelle Flugzeit-Sensorik” Photonik 3/2012 Seiten 42 bis 45. Weitere Informationen zum Detektor sind unter A. Spiekermann et al. ”CMOS 3D Image Sensor Based an Pulse Modulated Time-of-Flight Principle and Intrinsic Lateral Drift-Filed photodiode Pixels” Proceedings of the ESSCIRC (ESSCIRC) 2011 auf den Seiten 111 bis 114 zu finden. Über diese Techniken wurde an der Fakultät für Ingenieurwissenschaften der Universität Duisburg Essen eine Arbeit unter dem Titel ”Photodetektoren und Auslesekonzepte für 3D-Time-of-Flight-Bildsensoren in 0,35 μm-Standard-CMOS-Technologie” von A. Spiekermann angefertigt.
  • Aus allen diesen Schriften in Summe ist bekannt, dass es günstig ist, mittels dreier Messungen den mittelern Abstand zu einem Objekt oder mehreren Objekten O1 bis OM zu ermitteln. Hierbei wird vorzugsweise ein Lichtpuls Lp auf das zu vermessende Objekt oder die zu vermessenden Objekte O1 bis OM gesendet, von diesen reflektiert und von einem Fotodetektor F aufgefangen. Das Besondere ist, dass der zum Fotodetektor F gehörende Integrator I mit einem Torsignal für eine Integrationszeit ΔE für das zu empfangende Lichtsignal, den reflektierten Lichtpuls Lpr, empfindlich, d. h. integrierend, geschaltet werden kann. Verwendet man nun drei Integratoren I1, I2, I3 so kann der erste Integrator I1 beispielsweise während einer ersten Integrationszeit ΔE1 während des Aussendens, d. h. währen der Lichtimpulsdauer ΔL, des Lichtpulses Lp in einen integrierenden Zustand gebracht werden, in dem die durch den Fotodetektor F erzeugten Ladungsträger gesammelt werden. Die von Objektpunkten zurückgestreuten Lichtimpulse werden an zugehörigen Bildpunkten eines ersten Integrators I1 des Fotodetektors F innerhalb der besagten, vorgegebenen, kurzen ersten Integrationszeit ΔE1, mit ΔE1 ≤ ΔL, erfasst, wobei der erste Zeitpunkt ts1 für den Beginn der ersten Integrationszeit ΔE1 vor dem Eintreffen des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1 zum Eintreffzeitpunkt tLE liegt, der dem nächstliegenden Objektpunkt O1 entspricht. Die zweite Integrationseinrichtung L2 des Fotodetektors F wird für einen zweiten Integrationszeitraum ΔE2 auf empfangend geschaltet. Die von Objektpunkten O1 bis ON zurückgestreuten Lichtimpulse Lpr1 bis LprN werden durch die zweite Integrationseinheit I2 des Fotodetektors F innerhalb einer vorgegebenen kurzen zweiten Integrationszeit ΔE2, mit ΔE2 ≤ ΔL, erfasst, wobei der zweite Zeitpunkt ts2 für den Beginn der zweiten Integrationszeit ΔE2 nach dem Zeitpunkt tLE des Eintreffen des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1 und vor dem Zeitpunkt tLS des Eintreffens des Endes des Lichtpulses liegt, der dem am entferntesten noch zu erfassenden Objektpunkt ON plus der Lichtpulsdauer ΔL entspricht. Vorzugsweise liegt der zweite Zeitpunkt ts2 für den Beginn der zweiten Integrationszeit ΔE2 vor dem dritten Zeitpunkt te3 des Endes der ersten Integrationszeit ΔE1 oder fällt mit diesem zusammen. Vorzugsweise liegt der dritte Zeitpunkt te3 des Endes der ersten Integrationszeit ΔE1 nach dem Eintreffzeitpunkt tLE des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1 und vor dem Zeitpunkt tLS des Eintreffens des Endes des Lichtpulses LprN liegt, der der Reflektion am entferntesten noch zu erfassenden Objektpunkt ON plus der Lichtpulsdauer ΔL entspricht. Vorzugsweise liegt der vierte Zeitpunkt te4 des Endes der zweiten Integrationszeit ΔE2 nach dem Eintreffzeitpunkt tLE des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1 und nach dem Zeitpunkt tLS des Eintreffens des Endes des Lichtpulses LprN, der der Reflektion am entferntesten noch zu erfassenden Objektpunkt ON plus der Lichtpulsdauer ΔL entspricht.
  • Die dritte Integrationseinrichtung I3 des Fotodetektors F wird für einen dritten Zeitraum ΔE3 auf empfangend geschaltet. Die von Objektpunkten O1 bis OM zurückgestreuten Lichtimpulse Lpr1 bis LprN werden durch die dritten Integrationseinheit I3 des Fotodetektors F innerhalb einer vorgegebenen kurzen dritten Integrationszeit ΔE3, mit ΔE3 ≤ ΔL, nicht erfasst, da der Zeitpunkt ts3 für den Beginn der dritten Integrationszeit ΔE3 des dritten Integrators I3 nach dem Eintreffzeitpunkt tLE des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1 und nach dem Zeitpunkt tLS des Eintreffens des Endes des Lichtpulses LprN, der der Reflektion am entferntesten noch zu erfassenden Objektpunkt ON plus der Lichtpulsdauer ΔL entspricht, liegt. Somit erfasst die dritte Integrationseinrichtung I3 im Wesentlichen nur das Umgebungslicht, während die erste Integrationseinrichtung I1 das Umgebungslicht und den Beginn der Überlagerung der eintreffenden Lichtpulse Lpr1 bis LprN und die zweite Integrationseinrichtung I2 das Umgebungslicht und das Ende der Überlagerung der eintreffenden Lichtpulse Lpr1 bis LprN erfasst.
  • Es ist besonders vorteilhaft, wenn die Integrationseinrichtungen (I1, I2, I3) symmetrisch matchend ausgeführt werden. Ein solche Vorrichtung ist in der DE 10 2009 037 596 A1 offenbart.
  • Stattdessen ist es aber auch denkbar, jede Integrationseinrichtung (I1, I2, I3) mit einem eigenen Fotodetektor zu versehen. Eine geeignete Vorrichtung aus Fotodetektor und Integrationseinrichtung ist in DE 10 2012 206 089 A1 offenbart.
  • Durch die mittlere Lichtlaufzeit ΔLF des Lichtpulses Lp der Lichtpulslänge ΔL zum Objekt O1 bis ON und zurück, kommt es in Abhängigkeit von der mittleren Lichtlaufzeit ΔLF und damit vom mittleren Abstand a zum Objekt O1 bis ON zu einer Veränderung des ersten Integrationsergebnisses IT1 der ersten Integrationseinrichtung I1 des Fotodetektors F in der ersten Integrationszeit ΔE1 im Vergleich zum zweiten Integrationsergebnis IT2 der zweiten Integrationseinrichtung I2 des Fotodetektors F in der zweiten Integrationszeit ΔE2. Mit steigendem mittleren Anstand a der Objekte O1 bis ON nimmt das Verhältnis von IT1/IT2 zugunsten von IT2 ab.
  • Da das dritte Integrationsergebnis IT3 der dritten Integrationseinrichtung I3 des Fotodetektors F in der dritten Integrationszeit ΔE3 nur das Umgebungslicht erfasst, kann die Lichtlaufzeit ΔLF des Lichtpulses Lp der Lichtpulslänge ΔL zum Objekt O1 bis ON und zurück in Abhängigkeit vom Verhältnis (IT1 – IT3)/(IT2 - IT3) und damit der mittlere Abstand a zu den Objekten (O1 bis OM) nun leicht ermittelt werden.
  • Dies setzt voraus, dass die drei Integrationseinrichtungen I1, I2, I3 des Fotodetektors F sich gleichartig verhalten und gleichartig durch den Fotodetektor F mit photoinduzierten Ladungsträgern versorgt werden, was aber real nicht der Fall ist. Vielmehr zeigen die Fotodetektoren kristallrichtungsabhängige Kennlinien und die Integrationseinheiten werden, da beispielsweise in der DE 10 2009 037 596 A1 um je 90° zueinander gedreht, ebenfalls keine identischen Integrationseigenschaften aufweisen. Hieraus resultieren Fehler, die das Messergebnis beeinträchtigen und die Cpk-Werte der Systemkennwerte eines deratigen Lichtlaufzeitmesssystems verschlechtern.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung, die Cpk-Werte der Systemkennwerte eines deratigen Lichtlaufzeitmesssystems zu verbessern und somit eine bessere Fertigbarkeit eines erfindungsgemäßen Lichtlaufzeitdetektors sicherzustellen.
  • Beschreibung der erfindungsgemäßen Vorrichtung
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Systems bestehend aus mindestens einem Lichtlaufzeitdetektor mit mehreren, typischerweise jedoch drei Integratoren (I1, I2, I3) zur Sammlung fotoinduzierter Ladungsträger eines Fotodetektors (F) zur Messung einer Lichtlaufzeit (ΔLF). Hierbei ist hervorzuheben, dass es auch denkbar ist, mehrere Fotodetektoren (F) zu benutzen. Besonders vorteilhaft ist die Benutzung eines Fotodetektors pro Integrator (I1, I2, I3). Im Folgenden wird von einem Fotodetektor (F) und drei Integratoren (I1, I2, I3) ausgegangen, ohne die Anzahl dieser darauf zu beschränken. Die drei Integratoren (I1, I2, I3) sammeln entsprechend ihrem Quantenwirkungsgrad zumindest einen Teil der im Fotodetektor (F) durch das empfangene Licht erzeugten photoinduzierten Ladungsträger. Dieser Integrationsprozess wird dabei nur bei Aktivität eines der dem jeweiligen Integrator (I1, I2, I3) jeweils zugehörigen, mindestens drei Torsignale (St1, St2, St3) durchgeführt. Diese mindestens drei Aktivitäten sind zeitlich gestaffelt. Eine solche Staffelung ist beispielsweise, wie oben bereits beschrieben, beispielsweise schon aus den Offenbarungen DE 10 2009 037 596 A1 oder DE 10 2008 018 718 A1 bekannt. Im Gegensatz zu diesem Stand der Technik wird nun jedoch der Zeitpunkt der Aktivität während einer Messkampagne (MK) geändert. Die Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) der Integratoren (I1, I2, I3) werden in einer Messkampagne aus N, vorzugsweise mindestens drei Messequenzen (M1, M2, M3) vertauscht. Hierfür werden nacheinander mehrere Messungen in Form von Messsequenzen (M1 bis M3) innerhalb einer Messkampagne (MK) durchgeführt. Im Folgenden wird davon ausgegangen, dass eine Messkampagne (MK) aus drei Messsequenz en (M1 bis M3) besteht. Eine andere Anzahl N an Messsequenzen (M1 bis MN) je Messkampagne (MK) ist jedoch möglich. Jeder der drei Integratoren (I1, I2, I3) wird durch sein Torsignal (St1, St2, St3) in jeder der beispielhaften drei Messsequenzen (M1 bis M3) für einem anderen Zeitraum (ΔE1, ΔE2, ΔE3) bezogen auf den jeweiligen Zeitpunkts t0 des Beginns der jeweiligen Messsequenz (M1, M2, M3) aktiv. Die Konfiguration wird also verwürfelt. Da der Zeitpunkt der Aktivität des Torsignals (St1, St2, St3) die Funktion, also seine Integratorrolle, bestimmt, ändert damit der jeweilige Integrator (I1, I2, I3) seine Funktion von Messsequenz (Mi) zu Messsequenz (Mj mit i ≠ j). Er nimmt jeweils eine andere Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) ein. Somit ist der Wert des Integrators am Ende jeder Messsequenz (Mi) in diesem Beispiel stets ein anderer. Durch Rückzuordnung der so ermittelten Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) stehen für jede Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) drei Messwerte von je drei Messwerttypen (MW1, MW2, MW3), die mit verschiedenen Integratoren gewonnen wurden, zur Verfügung. Diese können dann für jede Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) Bemittelt werden, wodurch sich parasitäre Elemente und Fertigungstoleranzen der physikalischen Integratoren (I1, I2, I3) ausmitteln. Eine Integratorrolle repräsentiert im Sinne dieser Offenbarung also einen virtuellen Integrator mit einem verringerten Fehler.
  • Ein Konfigurationssignal (KS) legt dabei für die drei Integratoren (I1, I2, I3) fest, ob die Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) des jeweiligen Integrators (I1, I2, I3) in der jeweiligen Messsequenz (Mi) eine erste Integratorrolle (IR1), eine zweite Integratorrolle (IR2) oder eine dritte Integratorrolle (IR3) ist. Wie bereits erwähnt, sind dabei auch mehr als drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) möglich, was im Folgenden bei der Beschreibung einer beispielhaften Lösung stillschweigend als bekannt vorausgesetzt wird. Der Vollständigkeit halbe sei erwähnt, dass eine Messsequenz (Mi) jeweils zu einem Zeitpunkt t0 beginnen soll und zu einem Zeitpunkt tm enden soll, um diese Begriffe eindeutig festzulegen. Jeder der beispielhaft drei Integratoren (I1, I2, I3) erzeugt ein zugehöriges Integratorausgangssignal (S1, S2, S3). Dieses Integratorausgangssignal (S1, S2, S3) hängt von der durch den mindestens einen Fotodetektor (F) empfangen Lichtleistung ab. Hierzu integriert der Integrator (I1, I2, I3) für die Dauer der Aktivität seines zugehörigen Torsignals (St1, St2, St3) die durch den Fotodetektor (F) während dieser Aktivität des besagten zugehörigen Torsignals (St1, St2, St3) erzeugten photoinduzierten Ladungsträger auf. Da die Torsignale (St1, St2, St3) nur während der der Messsequenz (Mi) aktiv sind, geschieht dies vorzugsweise nur in dieser Zeit. Vorzugsweise werden die drei Torsignale (St1, St2, St3) so gestaltet, dass jedes der Torsignale (St1, St2, St3) jeden der zugehörigen drei Integratoren (I1, I2, I3) während einer Messsequenz (Mi) mindestens einmal aktiviert. Dabei nimmt vorzugsweise jeder der drei Integratoren (I1, I2, I3) innerhalb einer Messsequenz eine andere Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) ein, wodurch typischer, aber nicht notwendigerweise für jeder dieser Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) in einer Messsequenz (Mi) jeweils ein Integrationsergebnis (IT1, IT2, IT3) erhalten wird. Jedes Integrationsergebnis (IT1, IT2, IT3) kann dann am Ende einer Messsequenz (Mi) basierend auf der aktuell für diese Messsequenz (Mi) durch das Konfigurationssignal (KS) bestimmten Konfiguration einer bestimmten Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) und damit einem bestimmten Messwert (MW1, MW2, MW3) zugeordnet werden.
  • Um nun die Lichtlaufzeit zu messen, sendet ein Lichtsender beginnend zu einer Sendestartzeit (Ts0) für die Lichtimpulsdauer (ΔL) einen Lichtpuls (Lp) aus. Dieser Lichtpuls (Lp) wird an einem Objekt (O1) als reflektierter Lichtpuls (Lpr) reflektiert. An mehreren Objekten (O1 bis OM) findet die Reflektion in Form mehrerer sich überlagernder Lichtpulse (Lpr1 bis LprM) statt. Diese können wie ein einzelner reflektierter Lichtpuls (Lpr) behandelt werden. Das im Folgenden beschriebene Verfahren ist nicht in der Lage, mehrere Objekte aufzulösen, sondern liefert nur einen gewichteten Mittelwert.
  • Nach einer mittleren Lichtlaufzeit (ΔLF) fällt dieser reflektierte Lichtpuls (Lpr, Lpr1 bis LprM) auf den besagten Fotodetektor (F). Sofern das Torsignal (St1, St2, St3) eines der Integratoren (I1, I2, I3) aktiv ist, integriert dieser Integrator die photoinduzierten Ladungsträger des Fotodetektors (F) auf.
  • Wie bereits beschrieben, nehmen die beispielhaft drei Integratoren (I1, I2, I3) während einer Messsequenz (Mi) unterschiedliche Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) ein. Diese unterscheiden sich, wie beschrieben, durch den Zeitraum der Aktivität des jeweiligen Torsignals (St1, St2, St3) innerhalb einer Messsequenz (Mi), also die jeweilige Integrationszeit (ΔE1, ΔE2, ΔE3).
  • Dies kann so zusammengefasst werden, dass das Torsignal des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) während einer ersten Integrationszeit (ΔE1) aktiv ist und das Torsignal des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) während einer zweiten Integrationszeit (ΔE2) aktiv ist und das Torsignal des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) während einer dritten Integrationszeit (ΔE3) aktiv ist. Welcher der drei Integratoren dabei in welcher Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) sich befindet, wird durch das Konfigurationssignal (KS) für die jeweilige Messsequenz (Mi) festgelegt.
  • Der Zeitpunkt (ts1) des Beginns der ersten Integrationszeit (ΔE1) des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) liegt dabei zu einem Zeitpunkt vor dem Zeitpunkt Ts0 + ΔL. Dieser Zeitpunkt bezieht sich hierbei auf den Beginn der der jeweiligen Messsequenz (Mi), den Zeitpunkt (t0).
  • Der dritte Zeitpunkt (te3) des Endes der ersten Integrationszeit (ΔE1) des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) liegt nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF und vor einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF + ΔL. Die erste Integrationszeit (ΔE1) beginnt also vor dem Eintreffen des Beginns des reflektierten Lichtpulses (Lpr, Lr1 bis LrM) und endet nach dem Eintreffen des reflektierten Lichtpulses (Lpr, Lr1 bis LrM) zu einem Eintreffzeitpunkt (tLE) und vor dem Zeitpunkt tLS des Eintreffens des Endes des reflektierten Lichtpulses (Lpr, Lr1 bis LrM) zu einem Zeitpunkt tLE + ΔL. Dabei sammelt der Integrator in der ersten Integratorrolle (IR1) eine erste Ladungsmenge (Qi1).
  • Der Zeitpunkt (ts2) des Beginns der zweiten Integrationszeit (ΔE2) des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) liegt nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF und vor einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF.
  • Der vierter Zeitpunkt (te4) des Endes der zweiten Integrationszeit (ΔE2) des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) liegt nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF. Es ist besonders vorteilhaft, wenn die Länge mehrerer, vorzugsweise aller Integrationszeiten (ΔE1, ΔE2, ΔE3) gleich lang ist. Ansosnsten sind Korrekturfaktoren und/oder Korrekturfunktionen bei der Berechnung des Abstands unter Umständen notwendig.
  • Der vierte Zeitpunkt (te4) des Endes der zweiten Integrationszeit (ΔE2) des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) liegt nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF + ΔL. Die zweite Integrationszeit (ΔE2) beginnt also nach dem Eintreffen des Beginns des reflektierten Lichtpulses (Lpr, Lr1 bis LrM) zu einem Eintreffzeitpunkt (tLE) und vor dessen Ende und endet nach dem Zeitpunkt des Eintreffens des Endes des reflektierten Lichtpulses (Lpr, Ir1 bis LrM) zu einem Zeitpunkt tLE + ΔL. Dabei sammelt der Integrator in der zweiten Integratorrolle (IR2) eine zweite Ladungsmenge (Qi2).
  • Der Zeitpunkt (ts3) des Beginns der dritten Integrationszeit (ΔE3) des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) liegt nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF.
  • Der fünfte Zeitpunkt (te5) des Endes der dritten Integrationszeit (ΔE3) des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) liegt dabei nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF + ΔE3. Dabei sammelt der Integrator in der dritten Integratorrolle (IR3) eine dritte Ladungsmenge (Qi3).
  • Der Endzeitpunkt (tm) der jeweiligen Messsequenz (Mi) liegt dabei später oder gleichzeitig zum fünften Zeitpunkt (te5).
  • Aufgrund der während einer Messsequenz (Mi) durch die Integratoren gesammelten Ladungsmengen (Qi1, Qi2, Qi3) geben die Integratoren (I1, I2, I3) nun jeweils ein Integrationsausgangssignal (S1, S2, S3) aus, das mit der jeweils gesammelten Ladungsmenge korreliert. Dieses kann mit Hilfe des Konfigurationssignals (KS) nun einem Integratorrollenausgangssignal (SR1, SR2, SR3), das jeweils mit genau einer Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) korreliert, für die Dauer der Messsequenz (Mi) zugeordnet werden. Zum Ende der Messsequenz (Mi), typischerweise wenn alle Tor-Signale (St1, St2, St3) inaktiv sind, wird das Integrationsergebnis, das in Form des jeweiligen Integratorrollenausgangssignals (SR1, SR2, SR3) vorliegt, abgetastet und beispielsweise in einem analogen und/oder digitalen Speicher (MEM) als integratorrollenspezifisches Messergebnis (MW1, MW2, MW3) abgelegt. Das besondere des erfindungsgemäßen Verfahrens ist nun, dass die Messergebnisse (MW1, MW2, MW3) für jede der mindestens drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) für jede der drei Messsequenzen (M1, M2, M3) einer Messkampagne (MK) in zu jeweils einem mittleren Messwert (MMW1, MMW2, MMW3) je Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) und Messkampagne MK zusammengefasst werden. Die Schätzung eines verbesserten Messwertes, hier eines gemittelten Messwertes (MMW1, MMW1, MMW1) stellt einen wesentlichen Gedanken der Erfindung dar.
  • Wie bereits erwähnt, bestimmt das besagte Konfigurationssignal (KS), welcher der drei Integratoren (I1, I2, I3), welche der drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) in der jeweiligen Messsequenz (Mi) einnimmt. Jedes der drei Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) der mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) wird entsprechend dem Konfigurationssignal (KS) einem Integratorrollenausgangssignal (SR1, SR2, SR3) für die Dauer der jeweiligen Messsequenz (Mi) zugeordnet. Die Konfiguration in Form des Konfigurationssignals (KS) ist dabei bei zumindest zwei Messsequenzen (Mi, Mj), besser bei allen drei Messsequenzen (M1, M2, M3) innerhalb einer Messkampagne (MK) unterschiedlich.
  • Insbesondere ist es in einer speziellen Ausprägung der Erfindung vorteilhaft, wenn jeder der beispielhaft drei Integratoren (I1, I2, I3) jede der beispielhaft drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) innerhalb einer Messkampagne (MK) von beispielhaft drei Messsequenzen (M1, M2, M3) einmal einnimmt und/oder gleich oft einnimmt.
  • Ebenso ist es besonders günstig, wenn jede mögliche Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) eines Integrators (I1, I2, I3) innerhalb zumindest einer Messsequenz (Mi) nur einmal und/oder besser genau einmal in der Menge der beispielhaft drei Integratoren (I1, I2, I3) vergeben ist.
  • Um das System zu Beginn einer Messsequenz in einen definierten Zustand zu versetzen, ist es vorteilhaft, wenn die beispielhaft drei Integratoren (I1, I2, I3) einzeln, in Teilen oder als Gesamtheit durch ein oder mehrere Reset-Signale in einen vorbestimmten Ausgangszustand zurückversetzt werden. Dies kann beispielsweise bedeuten, dass ein jeweils der Integration dienender Kondensator entladen wird oder ein digitaler Speicherwert gelöscht wird. Es ist besonders günstig, wenn diese durch ein Reset-Signal vor dem Beginn der ersten Integrationszeit ΔE1 des Integrators in der ersten Integratorrolle IR1, dem Zeitpunkt ts1, in mindestens einer und/oder jeder der beispielhaft drei Messsequenzen (M1, M2, M3) zurückgesetzt werden.
  • Sofern mehrere Messsequenzen (M1 bis MN) innerhalb einer Messkampagne (MK) durchgeführt werden, sollten für die Mittelung mindestens zwei Messsequenzen in der besagten Messkampagne durchgeführt werden. In einer Messkampagne (MK) wird daher typischerweise eine Anzahl von N Messsequenzen (M1 bis MN) mit N > 1 durchgeführt.
  • Dies ist insbesondere dann von Vorteil, wenn zur Ermittlung eines gemittelten Messwertes (MMW1, MMW2, MMW3) für eine Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) für eine Messkampagne (MK) eine Mittelung über die Messwerte (MW1, MW2, MW3) der Integratorrollenausgangssignale (SR1, SR2, SR3) der beispielhaft 3 innerhalb einer Messkampagne MK durchgeführten Messsequenzen (M1, M2, M3) für die betreffende Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) erfolgt. Durch eine solche Mittelung werden die Fertigungstoleranzen der Integratoren (I1, I2, I3) und ggf. der jeweils zugehörigen Fotodetektoren (F) wie beschrieben ausgeglichen.
  • Hierbei ist es besonders vorteilhaft, wenn die Anzahl der Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) eines Integrators (I1, I2, I3) in einer bestimmten Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) und auf diese bezogen innerhalb einer Messkampagne MK für alle Integratoren (I1, I2, I3) gleich ist.
  • Daher ist es für das hier diskutierte Beispiel mit drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) besonders günstig, wenn die Anzahl N der Messsequenzen (M1 bis MN) während einer Messkampagne (MK) drei beträgt oder durch 3 teilbar ist.
  • In bestimmten Anwendungsfällen mag es günstig sein, wenn nicht nur Mittelwerte gebildet werden, sondern auch die Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) und/oder die Messwerte (MW1, MW2, MW3) miteinander verglichen werden. Daher kann es günstig sein, wenn das Konfigurationssignal (KS) ein Zufallssignal oder Pseudozufallssignal ist. Damit alle Integratorrollen mit der gleichen Wahrscheinlichkeit eingenommen werden ist es wichtig, dass die Wahrscheinlichkeit für einen Integrator (I1, I2, I3) eine bestimmte Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) einzunehmen der Kehrwehrt der Anzahl der Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), in diesem Beispiel ein Drittel, ist. Sofern die Pseudozufallszahl mit einem einfach primitiven Polynom mittels eines oder mehrerer rückgekoppelter Schieberegister erzeugt wird, werden nicht alle Zahlen tatsächlich ausgegeben. Daher weicht die Wahrscheinlichkeit in diesem Fall leicht ab, was durch einen Korrekturfaktor berücksichtigt werden muss. In diesem Fall sollte die die Wahrscheinlichkeit für einen Integrator (I1, I2, I3) eine bestimmte Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) einzunehmen nicht mehr als 10% relativ bezogen auf die zuvor dargestellten Werte nach oben oder unten von diesen Werten abweichen.
  • Das Konfigurationssignal (KS) besteht daher vorzugsweise aus einer vorgegebenen, beispielsweise konstruktiv festgelegten Sequenz verschiedener Konfigurationen. Nach jeder Messsequenz (Mi) nimmt das Konfigurationssignal (KS) vorzugsweise einen neuen Wert ein und stellt damit eine neue Konfiguration ein. Nicht immer muss die Konfiguration am Ende einer Messsequenz (Mi) gewechselt werden. Zwei aufeinanderfolgende Konfigurationen zweier aufeinander folgender Messsequenzen (Mi, Mj) können auch gleich sein. Innerhalb einer Messkampagne (MK) ist es aber vorteilhaft, wenn mindestens zwei aufeinanderfolgende Konfigurationen, charakterisiert durch den Zustand des Konfigurationssignals (KS) und der zugeordneten Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) zu den Integratoren (I1, I2, I3), ungleich sind. Unterschiedliche Konfigurationen zeigen sich also insbesondere durch eine unterschiedliche Zuordnung der Integrationszeiten (ΔE1, ΔE2, ΔE3) zu den Integratoren (I1, I2, I3) in mindestens zwei verschiedenen Messsequenzen (Mi, Mj mit i ≠ j).
  • Daher ist es auch möglich, dass innerhalb einer Messkampagne (MK) in einer oder mehreren Messsequenzen (Mi) zwei Integratoren (I1, I2, I3) die gleiche Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) einnehmen, was den Vergleich der Messergebnisse (MW1, MW2, MW3) und Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) ermöglicht.
  • Dabei werden beispielsweise aus den Integrationsergebnissen (IT1, IT2, IT3) und/oder den Messwerten (MW1, MW2, MW3) einer Messsequenz (Mi), in der mindestens zwei Integratoren (I1, I2, I3) die gleiche Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) eingenommen haben, Messwerte (MD12, MD23, MD31) über die Unterschiede zwischen diesen Integratoren (I1, I2, I3) abgeleitet. Auch können Korrekturfaktoren und/oder Korrekturwerte zur Korrektur dieser Integratoren (I1, I2, I3) und/oder folgender Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) und/oder Messwerte (MW1, MW2, MW3) dieser Integratoren (I1, I2, I3) in jeweils diesen Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) abgeleitet werden.
  • Für den Fall, dass mehr als drei Integratoren verwendet werden, ist es sinnvoll, wenn die Anzahl der Integratoren (I1, I2, I3) durch die Anzahl der Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), insbesondere durch drei im Falle der beispielhaften drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), teilbar ist. In Bezug auf die DE 10 2009 037 596 A1 bedeutet dies, dass deren Konfiguration mit vier Integratoren ungünstig ist. (siehe z. B. 4 der DE 10 2009 037 596 A1 ) Eine günstigere Form wäre die eines Sechsecks mit sechs Integratoren, da sich mit einem Sechseck eine Fläche parkettieren lässt und gleichzeitig das zuvor beschriebene Schema mit drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) durchführen lässt. Eine Sechseckform weist also eine besonders hohe Symmetrie und damit eine hohe Fehlertoleranz auf.
  • Im Falle einer dermaßen erhöhten Anzahl von Integratoren, ist es sinnvoll, wenn die Menge der Integratoren (I1, I2, I3) sich in einer Messsequenz (Mi) innerhalb einer Messkampagne (MK) gleichmäßig auf die möglichen Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), insbesondere auf drei beispielhaften Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), aufteilt. Insofern ist es günstig, wenn die Anzahl der Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) eine ganzzahligen Teiler der Anzahl der Integratoren (I1, I2, I3) darstellt. Werden beispielsweise N Integratoren (I1, I2, I3) und N Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) beispielsweise rollierend miteinander gepaart, so sind in einer Messkampagne (MK) vorzugsweise N Messsequenzen (Mi) sinnvoll, um jeden Integrator (I1, I2, I3) einmal in jeder Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) zu vermessen. Sofern alle Kombinationen aus d Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) und e Integratoren (I1, I2, I3) einmal vorkommen sollen, so sind de Messequenzen (Mi) gefordert, was aber, wie leicht zu erkennen ist, schnell ausufert.
  • Schließlich bleibt noch zu erwähnen, dass der Beginn ts2 der zweiten Integrationszeit ΔE2 des Integrators in der zweiten Integratorrolle IR2 mit dem dritten Zeitpunkt te3 des Endes der ersten Integrationszeit ΔE1 des Integrators in der ersten Integratorrolle IR1 korrelieren sollte, um den Messbereich nicht einzuschränken.
  • 1 zeigt eine Anordnung aus Fotodetektor (F), Torsignalen (St1, St2, St3), die das Gate jeweils eines Transfertransistors bilden, und den jeweiligen Integratorausgangssignalen (S1, S2, S3). Eine solche Struktur der 1 kann auch der 4 der DE 10 2009 037 596 A1 entnommen werden und entspricht daher dem nicht beanspruchten Stand der Technik.
  • 2 zeigt ein Schema zum erfindungsgemäßen Betreiben eines solchen Fotodetektors (F) mit Auswertung. Die 2 zeigt zwei Messkampagnen (MK) aus einer Folge von Messkampagnen (MK). Jeder der Messkampagnen (MK) ist in jeweils beispielhaft drei Messsequenzen (M1, M2, M3) unterteilt. Jede Messsequenz (M1, M2, M3) beginnt mit dem Zeitpunkt t0 und endet mit dem Zeitpunkt tm. Zum Sendestart (TS0) beginnt der Lichtsender einen Lichtpuls (Lp) auszusenden. Dieser hat eine Lichtpulsdauer (ΔL). Dieser Vorgang widerholt sich in jeder Messsequenz (M1, M2, M3). Der Lichtpuls wird an einem nicht gezeichneten Objekt reflektiert und erreicht nach Reflektion und Rücklauf verschoben um einen Zeitraum der mittleren Lichtlaufzeit ΔLF wieder das Messsystem, dass das erfindungsgemäße Verfahren durchführt. Das Messsystem erzeugt nun ein erstes Torsignal (St1) für die Aktivierung des ersten Integrators (I1). Aufgrund des nicht gezeigten Konfigurationssignals (KS) befindet sich dieser in der ersten Messsequenz (M1) in der ersten Integratorrolle (IR1), die eingezeichnet ist. Daher wird das erste Torsignal (St1) des ersten Integrators (I1) während der ersten Integrationszeit ΔE1 aktiv, die der ersten Integratorrolle (IR1) zugeordnet ist.
  • Das Messsystem erzeugt des Weiteren ein zweites Torsignal (St2) für die Aktivierung des zweiten Integrators (I2). Aufgrund des nicht gezeigten Konfigurationssignals (KS) befindet sich dieser in der ersten Messsequenz (M1) in der zweiten Integratorrolle (IR2), die ebenfalls eingezeichnet ist. Daher wird das zweite Torsignal (St2) des zweiten Integrators (I2) während der zweiten Integrationszeit (ΔE2) aktiv, die der zweiten Integratorrolle (IR2) zugeordnet ist.
  • Schließlich erzeugt Messsystem ein drittes Torsignal (St3) für die Aktivierung des dritten Integrators (I3). Aufgrund des nicht gezeigten Konfigurationssignals (KS) befindet sich dieser in der ersten Messsequenz (M1) in der dritten Integratorrolle (IR3), die ebenfalls eingezeichnet ist. Daher wird das dritte Torsignal (St3) des dritten Integrators (I3) während der dritten Integrationszeit (ΔE3) aktiv, die der dritten Integratorrolle (IR3) zugeordnet ist.
  • Während der ersten Integrationszeit (ΔE1) in der ersten Messsequenz (M1) erfasst der erste Integrator (I1), der gerade die erste Integratorrolle (IR1) wahrnimmt, die Ladungsmenge (Q11), die durch den nicht gezeichneten Fotodetektor (F) aus dem empfangenen reflektierten Lichtpuls (Lpr) und dem Umgebungslicht während der ersten Integrationszeit (ΔE1) erzeugt wird.
  • Während der zweiten Integrationszeit (ΔE2) in der ersten Messsequenz (M1) erfasst der zweite Integrator (I2), der gerade die zweite Integratorrolle (IR2) wahrnimmt, die Ladungsmenge (Q12), die durch den nicht gezeichneten Fotodetektor (F) aus dem empfangenen reflektierten Lichtpuls (Lpr) und dem Umgebungslicht während der zweiten Integrationszeit (ΔE2) erzeugt wird.
  • Während der dritten Integrationszeit (ΔE3) in der ersten Messsequenz (M1) erfasst der dritte Integrator (I3), der gerade die dritte Integratorrolle (IR3) wahrnimmt, die Ladungsmenge (Q13), die durch den nicht gezeichneten Fotodetektor (F) aus dem empfangenen reflektierten Lichtpuls (Lpr) und dem Umgebungslicht während der dritten Integrationszeit (ΔE3) erzeugt wird. Da die Ladungen (Q11, Q12, Q13) durch die Integratoren (I1, I2, I3), typischerweise Kondensatoren und/oder Integratorschaltungen etc., in einen Pegel umgesetzt werden, steigen deren Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) während der Aktivität der jeweiligen Torsignale (St1, St2, St3) an. Der Anstieg wird dabei durch das Umgebungslicht und die Intensität des aufgefangenen, reflektierten Pulses bestimmt. Der am Ende der jeweiligen Integrationszeit (ΔE1, ΔE2, ΔE3) erreichte Pegel des Integratorausgangssignals (S1, S2, S3) wird im Idealfall bis zum Ende der jeweiligen Messsequenz beibehalten und stellt das jeweilige Integrationsergebnis (IT1, IT2, IT3) für den jeweiligen Integrator (I1, I2, I3) bezogen auf diese Messsequenz (M1) dar. Aufgrund des nicht gezeigten Konfigurationssignals (KS) kann nun jedes der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) für die Dauer der Messsequenz (M1) einem Integratorrollenausgangssignal (SR1, SR2, SR3) zugeordnet werden. Vorzugsweise am Ende der ersten Messsequenz (M1) wird das Integrationsergebnis (IT1, IT2, IT3) dem jewiligen Messwert (MW1, MW2, MW3) zugeordnet.
  • Am Ende der ersten Messsequenz (M1) werden die Integrationsergebnisse vorzugsweise durch ein nicht gezeichnetes Reset-Signal gelöscht, was die Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) und die Integratorrollenausgangssignale (SR1, SR2, SR3) zurücksetzt. Das nicht gezeichnete Konfigurationssignal (KS) wird zum Ende der ersten Messsequenz (M1) zum Zeitpunkt (tm) und damit zum Beginn der zweiten Messsequenz (M2) zu deren Zeitpunkt (t0) geändert. Damit ändert sich die Zuordnung von Integratoren (I1, I2, I3), Integrationsergebnissen (IT1, IT2, IT3) und Integratorausgangssignalen (S1, S2, S3) auf der einen Seite zu Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), Messwerten (MW1, MW2, MW3) und Integratorrollenausgangssignalen (IR1, IR2, IR3) auf der anderen Seite entsprechend der neuen Konfiguration, die durch das Konfigurationssignal (KS) festgelegt ist. In dem Beispiel übt nun in der zweiten Messsequenz (M2) der erste Integrator (I1) die dritte Integratorrolle (IR3) aus, der zweite Integrator (I2) die erste Integratorrolle (IR1) aus und der dritte Integrator (I3) die zweite Integratorrolle (IR2) aus. Dementsprechend werden die Integrationszeiten (ΔE1, ΔE2, ΔE3) neu zugeordnet. Auf diese Weise wird vorzugsweise mit jeder neuen Messsequenz Mi einen neue Permutation der Zuordnungen als Konfiguration eingestellt, sodass vorzugsweise währen einer Messkampagne jeder der Integratoren (I1, I2, I3) jede der Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) mindestens einmal, vorzugsweise gleich oft, einnimmt. Das gleiche gilt vorzugsweise für die Zuordnung der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) in Bezug auf die Integratorrollenausgangssignale (SR1, SR2, SR3) und für die Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) in Bezug auf die Messwerte (MW1, MW2, MW3).
  • Da die Ergebnisse in Form der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) nun ebenfalls anders zugeordnet sind, können diese entsprechend dem Konfigurationssignal (KS) den richtigen Integratorrollenausgangssignalen (SR1, SR2, SR3) durch Umsortieren mittels eines geeigneten Multiplexers zugeordnet werden.
  • Wie leicht zu erkennen ist, kann durch Mittelwertbildung nun ein verbesserter Messwert für die jeweiligen Integrationszeiten in der gesamten Messkampagne (Mk) erzielt werden.
  • Hierzu wird innerhalb einer Messkampagne (MK) das erste Integrationsergebnis (IT1) in der ersten Messsequenz (M1) mit dem zweiten Integrationsergebnis (IT2) in der zweiten Messsequenz (M2) und mit dem dritten Integrationsergebnis (IT3) in der dritten Messsequenz (M3) addiert und das Ergebnis durch drei geteilt, was einen verbesserten Wert (MMW2) für die erste Integrationszeit (ΔE1) in der jeweiligen Messkampagne (MK) ergibt, der weniger von Fertigungsstreuungen innerhalb des Messsystems abhängig ist. Dies gescheiht so, dass die verschiedenen ersten Messwerte (MW1) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK), die ja den relevanten Integrationsergebnissen (IT1, IT2, IT3) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK) entsprechen, aufsummiert und durch ihre Anzahl, in diesem Beispiel 3, geteilt werden.
  • Des Weiteren wird innerhalb einer Messkampagne (MK) das zweite Integrationsergebnis (IT2) in der ersten Messsequenz (M1) mit dem dritten Integrationsergebnis (IT3) in der zweiten Messsequenz (M2) und mit dem ersten Integrationsergebnis (IT1) in der dritten Messsequenz (M3) addiert und das Ergebnis durch drei geteilt, was einen verbesserten Wert (MMW2) für die zweite Integrationszeit (ΔE2) in der jeweiligen Messkampagne (MK) ergibt, der ebenfalls weniger von Fertigungsstreuungen innerhalb des Messsystems abhängig ist. Dies gescheiht so, dass die verschiedenen zweiten Messwerte (MW2) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK), die ja den relevanten Integrationsergebnissen (IT1, IT2, IT3) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK) entsprechen, aufsummiert und wieder durch ihre Anzahl, in diesem Beispiel 3, geteilt werden.
  • Schließlich wird innerhalb einer Messkampagne (MK) das dritte Integrationsergebnis (IT3) in der ersten Messsequenz (M1) mit dem ersten Integrationsergebnis (IT1) in der zweiten Messsequenz (M2) und mit dem zweiten Integrationsergebnis (IT2) in der dritten Messsequenz (M3) addiert und das Ergebnis durch drei geteilt, was nun einen verbesserten Wert (MMW3) für die dritte Integrationszeit (ΔE3) in der jeweiligen Messkampagne (MK) ergibt, der ebenfalls weniger von Fertigungsstreuungen innerhalb des Messsystems abhängig ist. Dies gescheiht so, dass die verschiedenen dritten Messwerte (MW3) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK), die ja den relevanten Integrationsergebnissen (IT1, IT2, IT3) der Messsequenzen (M1, M2, M3) der Messkampagne (MK) entsprechen, aufsummiert und wieder durch ihre Anzahl, in diesem Beispiel 3, geteilt werden.
  • Da der dritte verbesserte Wert (MMW3) sich auf das Integrationsergebnis der dritten Integrationszeit ΔE3 bezieht und damit nur das Umgebungslicht erfasst, kann die Lichtlaufzeit ΔLF des Lichtpulses Lp der Lichtpulslänge ΔL zum Objekt O1 bis ON und zurück nun in Abhängigkeit vom Verhältnis (MMW1 – MMW3)/(MMW2 – MMW3) mit erhöhter Genauigkeit für diese Messkampagne (MK) ermittelt werden.
  • Mit der nächsten Messkampagne (MK) wird dieser Vorgang dann jeweils wiederholt.
  • 3 zeigt eine erfindungsgemäße Vorrichtung mit einem Fotodetektor (F) und drei Torsignalen (St1, St2, St3). Die Integratoren, beispielsweise mit einem Pol gegen Masse geschaltete Kondensatoren, sind nicht eingezeichnet. Der andere Pol jedes Integrators (I1, I2, I3) kann über ein Transfergate, das an das Torsignal (St1, St2, St3) angeschlossen ist und daher mit dem gleichen Bezugszeichen markiert ist, mit dem Fotodetektor (F) verbunden werden. Dieser Andere Pol ist in diesem Beispiel das jeweilige Integratorausgangssignal (S1, S2, S3).
  • 4 zeigt eine beispielhafte Parkettierung mit einer Vorrichtung nach 3. Die Verdrahtung der Torsignale (St1, St2, St3) und der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3)., die nicht über die Fotodetektoren laufen darf, ist nicht eingezeichnet.
  • 5 zeigt die Vorrichtung aus 3 mit einer anderen Anordnung der Torsignale (St1, St2, St3) und der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3).
  • Bezugszeichenliste
    • A
      mittlerer Abstand zu den Objekten O1 bis OM
      ΔA
      Integrationszeit zur Messung der Reflektion des Lichtpulses Lp
      ΔE
      Torsignal, um den Integrator I des Fotodetektors F für das zu empfangende Lichtsignal, den reflektierten Lichtpuls Lpr, empfindlich zu schalten
      ΔE1
      erste Integrationszeit oder erstes Torsignal der ersten Integratorrolle IR1, um den Integrator in der ersten Integratorrolle IR1 für das durch den Fotodetektor F zu empfangende Lichtsignal, also den reflektierten Lichtpuls Lpr, empfindlich zu schalten. In der ersten Integrationszeit integriert der Integrator in der ersten Integratorrolle IR1 die durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger auf.
      ΔE2
      zweite Integrationszeit oder zweites Torsignal der zweiten Integratorrolle IR2, um den Integrator in der zweiten Integratorrolle IR2 für das durch den Fotodetektor F zu empfangende Lichtsignal, also den reflektierten Lichtpuls Lpr, empfindlich zu schalten. In der zweiten Integrationszeit integriert der Integrator in der zweiten Integratorrolle (IR2) die durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger auf. ΔE3 dritte Integrationszeit oder drittes Torsignal der dritten Integratorrolle IR3, um den Integrator in der dritten Integratorrolle IR3 für das durch den Fotodetektor F zu empfangende Lichtsignal, also den reflektierten Lichtpuls Lpr, empfindlich zu schalten. In der dritten Integrationszeit integriert der Integrator in der dritten Integratorrolle IR3 die durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger auf. Hierbei wird vorzugsweise nur das Umgebungslicht gemessen.
      ΔL
      Lichtimpulsdauer des Lichtpulses Lp
      ΔLF
      mittlere Lichtlaufzeit des Lichtpulses Lp der Lichtpulslänge ΔL zum Objekt O1 bis ON und zurück.
      F
      Fotodetektor
      I
      Integrator (allgemein)
      I1
      erster Integrator
      I2
      zweiter Integrator
      I3
      dritter Integrator
      IR1
      erste Integratorrolle. Jeder Integrator (I1, I2, I3) hat vorzugsweise innerhalb einer Messsequenz (Mi mit 1 ≤ i ≤ N) eine unterschiedliche Integratorrolle. Die erste Integratorrolle im Sinne dieser Offenbarung ist die der Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger während der ersten Integrationszeit ΔE1.
      IR2
      zweite Integratorrolle. Jeder Integrator (I1, I2, I3) hat vorzugsweise innerhalb einer Messsequenz (Mi mit 1 ≤ i ≤ N) eine unterschiedliche Integratorrolle. Die zweite Integratorrolle im Sinne dieser Offenbarung ist die der Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger während der zweiten Integrationszeit ΔE2.
      IR3
      dritte Integratorrolle. Jeder Integrator (I1, I2, I3) hat vorzugsweise innerhalb einer Messsequenz (Mi mit 1 ≤ i ≤ N) eine unterschiedliche Integratorrolle. Die dritte Integratorrolle im Sinne dieser Offenbarung ist die der Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten photoinduzierten Ladungsträger während der dritten Integrationszeit ΔE3.
      IT1
      erstes Integrationsergebnis der ersten Integrationseinrichtung I1 des Fotodetektors F innerhalb einer Messsequenz Mi in der konfigurationsgemäß zugehörigen Integrationszeit (ΔE1, ΔE2, ΔE3).
      IT2
      zweites Integrationsergebnis der zweiten Integrationseinrichtung I2 des Fotodetektors F innerhalb einer Messsequenz Mi in der konfigurationsgemäß zugehörigen Integrationszeit (ΔE1, ΔE2, ΔE3).
      IT3
      drittes Integrationsergebnis der dritten Integrationseinrichtung I3 des Fotodetektors F innerhalb einer Messsequenz Mi in der konfigurationsgemäß zugehörigen Integrationszeit (ΔE1, ΔE2, ΔE3).
      KS
      Konfigurationssignal. Das Konfigurationssignal bestimmt, welche der mindestens drei Integratorrollen IR1, IR2, IR3 die mindestens drei Integratoren I1, I2, I3 in der jeweiligen Messsequenz Mi von N Messsequenzen mit 1 ≤ i ≤ N einer Messkampagne MK einnehmen.
      Lp
      Lichtpuls
      Lpr
      an den Objekten O1 bis OM reflektierter Lichtpuls Lp
      Lpr1
      am nächstgelegenen Objekt O1 erster reflektierter Lichtpuls Lp
      LprM
      am fernsten Objekt OM M-ter reflektierter Lichtpuls Lp
      M
      Messsequenz
      M1
      erste Messsequenz
      MD12
      Messwert über den einen Unterschied zwischen einem ersten Integrator (I1) und einem zweiten Integrator (I2) bezogen auf eine gleiche Integratorrolle, die hier nicht näher spezifiziert wird. Es handelt sich also nur um ein Beispiel für einen von mehreren möglichen Messwert zur Charakterisierung der beiden Integratoren.
      MD23
      Messwert über den einen Unterschied zwischen einem zweiten Integrator (I2) und einem dritten Integrator (I3) bezogen auf eine gleiche Integratorrolle, die hier nicht näher spezifiziert wird. Es handelt sich also nur um ein Beispiel für einen von mehreren möglichen Messwert zur Charakterisierung der beiden Integratoren.
      MD31
      Messwert über den einen Unterschied zwischen einem dritten Integrator (I3) und einem ersten Integrator (I1) bezogen auf eine gleiche Integratorrolle, die hier nicht näher spezifiziert wird. Es handelt sich also nur um ein Beispiel für einen von mehreren möglichen Messwert zur Charakterisierung der beiden Integratoren.
      Mi
      i-te Messsequenz mit 1 ≤ i ≤ N und i ≠ j
      Mj
      j-te Messsequenz mit 1 ≤ j ≤ N und i ≠ j
      MK
      Messkampagne aus N Messsequenzen M1 bis MN
      MN
      N-te Messsequenz
      MEM
      Speicher
      MMW1
      gemittelter erster Messwert MW1 für die erste Integratorrolle IR1, wobei die Mittelung über eine Messkampagne MK erfolgt. (Wie zu jeder Messsequenz Mi einer Messkampagne die Messwerte MW1 aus den beispielhaft der Integrationsergebnissen IT1, IT2, IT3 ermittelt werden, kann dem text entnommen werden.)
      MMW2
      gemittelter zweiter Messwert MW2 für die zweite Integratorrolle IR2, wobei die Mittelung über eine Messkampagne MK erfolgt. (Wie zu jeder Messsequenz Mi einer Messkampagne, die Messwerte MW2 aus den beispielhaft der Integrationsergebnissen IT1, IT2, IT3 ermittelt werden, kann dem text entnommen werden.)
      MMW3
      gemittelter dritter Messwert MW1 für die dritte Integratorrolle IR3, wobei die Mittelung über eine Messkampagne MK erfolgt. (Wie zu jeder Messsequenz Mi einer Messkampagne die Messwerte MW2 aus den beispielhaft der Integrationsergebnissen IT1, IT2, IT3 ermittelt werden, kann dem text entnommen werden.)
      MW1
      erster Messwert für die erste Integratorrolle IR1, wobei dieser erste Messwert immer zum Ende einer Messsequenz (M1 bis MN) zum Endzeitpunkt tm der jeweiligen Messsequenz Mi (mit 1 ≤ i ≤ N) dem ersten Integratorrollenausgangssignal SR1 entnommen wird, sodass am Ende einer Messkampagne MK mit N Messsequenzen (M1 bis MN) N erste Messwerte MW1 erfasst worden sind. Typischerweise werden die ersten Messwerte MW1 unmittelbar aufintegriert und mit einem konstanten Faktor geteilt, sodass sich der gemittelte erste Messwert MMW1 unmittelbar ergibt.
      MW2
      zweiter Messwert für die zweite Integratorrolle IR2, wobei dieser zweite Messwert immer zum Ende einer Messsequenz (M1 bis MN) zum Endzeitpunkt tm der jeweiligen Messsequenz Mi (mit 1 ≤ i ≤ N) dem zweiten Integratorrollenausgangssignal SR2 entnommen wird, sodass am Ende einer Messkampagne MK mit N Messsequenzen (M1 bis MN) N zweite Messwerte MW2 erfasst worden sind. Typischerweise werden die zweiten Messwerte MW2 unmittelbar aufintegriert und mit einem konstanten Faktor geteilt, sodass sich der gemittelte zweite Messwert MMW2 unmittelbar ergibt.
      MW3
      dritter Messwert für die dritte Integratorrolle IR3, wobei dieser dritte Messwert immer zum Ende einer Messsequenz (M1 bis MN) zum Endzeitpunkt tm der jeweiligen Messsequenz Mi (mit 1 ≤ i ≤ N) dem dritten Integratorrollenausgangssignal SR3 entnommen wird, sodass am Ende einer Messkampagne MK mit N Messsequenzen (M1 bis MN) N dritte Messwerte MW3 erfasst worden sind. Typischerweise werden die dritten Messwerte MW3 unmittelbar aufintegriert und mit einem konstanten Faktor geteilt, sodass sich der gemittelte dritte Messwert MMW3 unmittelbar ergibt.
      N
      Anzahl der Messsequenzen Mi innerhalb einer Messkampagne MK.
      O1
      erstes Objekt, dass den Lichtpuls Lp reflektiert
      ON
      N-tes Objekt, das den Lichtpuls Lp reflektiert.
      S1
      erstes Integratorausgangssignal des ersten Integrators I1
      S2
      zweites Integratorausgangssignal des zweiten Integrators I2
      S3
      drittes Integratorausgangssignal des dritten Integrators I3
      St1
      erstes Torsignal des ersten Integrators I1, um die Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten fotoinduzierten Ladungsträger, die durch das zu empfangende Lichtsignal, den reflektierten Lichtpuls Lpr, erzeugt wurden, zu aktivieren.
      St2
      zweites Torsignal des zweiten Integrators I2, um die Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten fotoinduzierten Ladungsträger, die durch das zu empfangende Lichtsignal, den reflektierten Lichtpuls Lpr, erzeugt wurden, zu aktivieren.
      St3
      drittes Torsignal des dritten Integrators I3, um die Integration der durch den Fotodetektor F erzeugten fotoinduzierten Ladungsträger, die im Wesentlichen durch das Umgebungslicht erzeugt wurden, zu aktivieren.
      SR1
      erstes Integratorrollenausgangssignal. Das erste Integratorrollenausgangssignal ist in dem beispielhaften Fall gleich dem ersten Integratorausgangssignal S1 des ersten Integrators I1, wenn der erste Integrator I1 die erste Integratorrolle IR1 inne hat, bzw. gleich dem zweiten Integratorausgangssignal S2 des zweiten Integrators I2, wenn der zweite Integrator I2 die erste Integratorrolle IR1 inne hat, bzw. gleich dem dritten Integratorausgangssignal S3 des dritten Integrators I3, wenn der dritte Integrator I3 die erste Integratorrolle IR1 inne hat.
      SR2
      zweites Integratorrollenausgangssignal. Das zweite Integratorrollenausgangssignal ist in dem beispielhaften Fall gleich dem ersten Integratorausgangssignal S1 des ersten Integrators I1, wenn der erste Integrator I1 die zweite Integratorrolle IR2 inne hat, bzw. gleich dem zweiten Integratorausgangssignal S2 des zweiten Integrators I2, wenn der zweite Integrator I2 die zweite Integratorrolle IR2 inne hat, bzw. gleich dem dritten Integratorausgangssignal S3 des dritten Integrators I3, wenn der dritte Integrator I3 die zweite Integratorrolle IR2 inne hat.
      SR3
      drittes Integratorrollenausgangssignal. Das dritte Integratorrollenausgangssignal ist in dem beispielhaften Fall gleich dem ersten Integratorausgangssignal S1 des ersten Integrators I1, wenn der erste Integrator I1 die dritte Integratorrolle IR3 inne hat, bzw. gleich dem zweiten Integratorausgangssignal S2 des zweiten Integrators I2, wenn der zweite Integrator I2 die dritte Integratorrolle IR3 inne hat, bzw. gleich dem dritten Integratorausgangssignal S3 des dritten Integrators I3, wenn der dritte Integrator I3 die dritte Integratorrolle IR3 inne hat.
      te3
      dritter Zeitpunkt des Endes der ersten Integrationszeit ΔE1
      te4
      vierter Zeitpunkt des Endes der zweiten Integrationszeit ΔE2
      te5
      fünfter Zeitpunkt des Endes der dritten Integrationszeit ΔE3
      tLE
      Eintreffzeitpunkt des ersten zurückgestreuten Lichtimpulses Lpr1
      tLS
      Zeitpunkt des Eintreffens des Endes des M-ten reflektierten Lichtpulses LprM, der am entferntesten noch zu erfassenden Objektpunkt OM reflektiert wurde, plus der Lichtpulsdauer ΔL.
      ts1
      Beginn der ersten Integrationszeit ΔE1 des Integrators in der ersten Integratorrolle IR1
      ts2
      Beginn der zweiten Integrationszeit ΔE2 des Integrators in der zweiten Integratorrolle IR2
      ts3
      Zeitpunkt für den Beginn der dritten Integrationszeit ΔE3 des Integrators in der dritten Integratorrolle IR3
      t0
      Beginn einer Messsequenz Mi
      tm
      Endzeitpunkt der Messsequenz Mi
      Ts0
      Sendestartzeit, Beginn der Aussendung des Lichtpulses Lp durch die Lichtquelle

Claims (22)

  1. Verfahren zum Betreiben eines Systems bestehend aus mindestens einem Lichtlaufzeitdetektor mit mehreren, mindestens jedoch drei Integratoren (I1, I2, I3) zur Sammlung fotoinduzierter Ladungsträger mindestens eines Fotodetektors (F) zur Messung einer Lichtlaufzeit (ΔLF) umfassend die Schritte a. Aussenden eines Lichtpulses (Lp) beginnend mit einer Sendestartzeit (Ts0) und für die Lichtimpulsdauer (ΔL), b. Reflektion dieses Lichtpulses (Lp) an einem oder mehreren Objekten (O1 bis OM) als reflektierter Lichtpuls (Lpr, Lpr1 bis LprN), c. Erzeugen von photoinduzierten Ladungsträgern (Qph) durch den zumindest einen Fotodetektor (F) bei Einfall des reflektieren Lichtpulses (Lpr, Lpr1 bis LprN) im zeitlichen Mittel nach einer mittleren Lichtlaufzeit (ΔLF) auf diesen zumindest einen Fotodetektor (F), d. Integration der durch den Fotodetektor (F) erzeugten photoinduzierten Ladungsträger (Qph) in den besagten Integratoren (I1, I2, I3) währed der Aktivität eines jeweils dem jeweiligen Integrator (I1, I2, I3) zugehörigen Torsignals (St1, St2, St3), e. Erzeugen je eines Torsignals (St1, St2, St3) je Integrator (I1, I2, I3), f. Festlegen einer Konfiguration für die Dauer einer Messsequenz (Mi mit 1 ≤ i ≤ N), g. Zuweisen je einer Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) zu je einem der besagten Integratoren (I1, I2, I3) für die Dauer dieser Messsequenz (Mi) in Abhängigkeit von der Konfiguration in dieser Messsequenz (Mi), h. Aktivieren der Torsignale (St1, St2, St3) für den jeweiligen Integrationszeitraum (ΔE1, ΔE2, ΔE3) nur für die Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) für mindestenens einen Integrationszeitraum (ΔE1, ΔE2, ΔE3) während der Messsequenz (Mi mit 1 ≤ i ≤ N), wobei jeder Integrationszeitraum (ΔE1, ΔE2, ΔE3) mit genau einer Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) korrespondiert, i. Aktivieren des Torsignals des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) während einer ersten Integrationszeit (ΔE1), j. Aktivieren des Torsignals des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) während einer zweiten Integrationszeit (ΔE2), k. Aktivieren des Torsignals des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) während einer dritten Integrationszeit (ΔE3), l. Erzeugen je eines Integratorausgangssignal (S1, S2, S3) und/oder eines entsprechenden Wertes für jeden der mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3), wobei das Integratorausgangssignal (S1, S2, S3) und/oder der entsprechende Wert von der während der Aktivität des dem jeweiligen Integrator (I1, I2, I3) zugehörigen Torsignals (St1, St2, St3) während der der Messsequenz (Mi) durch den mindestens einen Fotodetektor (F) empfangen Lichtleistung integriert abhängt, m. Rückzuordnung der Integratorausgangssignale (S1, S2, S3) oder der entprechenden Werte zu je einem Integratorrollenausgangssignal (SR1, SR2, SR3) oder einem entsprechenden Wert in Abhängigkeit von der Konfiguration in dieser Messsequenz (Mi) und Umwandlung in je einen Messwert (MW1, MW2, MW3) und/oder Erfassung je eines Integrationsergebnisses (IT1, IT2, IT3) basierend auf je einem Integratorausgangssignal (S1, S2, S3) oder dem entsprechenden Wert und Rückzuordnung der Integrationsergebnisse (IT1, IT2, IT3) zu je einen Messwert (MW1, MW2, MW3) je Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) und Messsequenz (Mi), n. Schätzung je eines verbesserten Messwertes (MMW1, MMW2, MMW3) je Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) und Messkampagne (MK) auf Basis der besagten Messergebnisse (MW1, MW2, MW3) für jede der mindestens drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) für eine Anzahl von N Messsequenzen (M1 bis MN) einer Messkampagne (MK), wobei die Schätzung mit Hilfe eines statistischen Verfahrens erfolgt, o. Durchführen der vorhergehenden Schritte für die nächste Messsequenz (Mi), wobei die Konfiguration bei zumindest zwei Messsequenzen (Mi, Mj) innerhalb einer Messkampagne (MK) unterschiedlich ist, p. wobei der Zeitpunkt (ts1) des Beginns der ersten Integrationszeit (ΔE1) des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) zu einem Zeitpunkt vor dem Zeitpunkt (Ts0 + Δ1) bezogen auf den Beginn der der jeweiligen Messsequenz (Mi) zum Zeitpunkt (t0) liegt und q. wobei der dritte Zeitpunkt (te3) des Endes der ersten Integrationszeit (ΔE1) des Integrators in der ersten Integratorrolle (IR1) zu einem dritten Zeitpunkt (te3) nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF und vor einem Zeitpunkt T s0 + ΔLF + ΔL bezogen auf den Beginn der der jeweiligen Messsequenz (Mi) zum Zeitpunkt (t0) liegt und r. wobei der Zeitpunkt (ts2) des Beginns der zweiten Integrationszeit (ΔE2) des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) zu einem vierten Zeitpunkt (te4) vor einem Zeitpunkt Ts0 + ΔLF und vor einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF bezogen auf den Beginn der der jeweiligen Messsequenz (Mi) zum Zeitpunkt (t0) liegt und s. wobei ein vierter Zeitpunkt (te4) des Endes der zweiten Integrationszeit (ΔE2) des Integrators in der zweiten Integratorrolle (IR2) zu einem Zeitpunkt (te4) nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF bezogen auf dem Beginn der der jeweiligen Messsequenz (Mi) zum Zeitpunkt (t0) liegt und t. wobei der Zeitpunkt (ts3) für den Beginn der dritten Integrationszeit (ΔE3) des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) zu einem Zeitpunkt (ts3) nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF bezogen auf den Beginn der Aussendung des Lichtpulses (Lp) zum Zeitpunkt (t0) liegt und u. wobei ein fünfter Zeitpunkt (te5) des Endes der dritten Integrationszeit (ΔE3) des Integrators in der dritten Integratorrolle (IR3) zu einem Zeitpunkt (te5) nach einem Zeitpunkt Ts0 + ΔL + ΔLF + ΔE3 bezogen auf dem Beginn der Aussendung des Lichtpulses (Lp) zum Zeitpunkt (t0) liegt und v. wobei der Endzeitpunkt (tm) der jeweiligen Messsequenz (Mi) später oder gleichzeitig zum fünften Zeitpunkt (te5) liegt.
  2. Verfahren nach dem vorhergehenden Anspruch a. wobei die Schätzung zumindest eines verbesserten Messwertes (MMWI) für eine Messkampagne (MK) durch Mittelung der zugehörigen N Messwerte (MWI) über eine Anzahl von N Messsequenzen (M1 bis MN) für die zugehörige Integratorrolle (IRI) erfolgt.
  3. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei jeder der mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) jede der zumindest drei Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) innerhalb einer Messkampagne (MK) mit einer Anzahl von N > 2 Messsequenzen (M1 bis MN) mindestens einmal einnimmt.
  4. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei jede mögliche Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) eines Integrators (I1, I2, I3) innerhalb zumindest einer Messsequenz (Mi) nur einmal in der Menge der mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) vergeben ist.
  5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei die mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) einzeln in Teilen oder als Gesamtheit, insbesondere durch ein oder mehrere Reset-Signale, in einen vorbestimmten Ausgangszustand zurückversetzt werden.
  6. Verfahren nach Anspruch 5 a. wobei die mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) vor dem Beginn ts1 der ersten Integrationszeit ΔE1 des Integrators in der ersten Integratorrolle IR1 in mindestens einer und/oder jeder Messsequenz (M1 bis MN) zurückgesetzt werden.
  7. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei in einer Messkampagne (MK) eine Anzahl von N Messsequenzen (M1 bis MN) mit N > 1 durchgeführt werden.
  8. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei zur Ermittlung eines verbesserten Messwertes (MMW1, MMW2, MMW3) für eine Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) für eine Messkampagne MK eine Mittelung über die Messwerte (MW1, MW2, MW3) der Integratorrollenausgangssignale (SR1, SR2, SR3) der N innerhalb einer Messkampagne MK durchgeführten Messsequenzen (M1 bis MN) für die betreffende Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) erfolgt.
  9. Verfahren nach Anspruch 8 a. wobei die Anzahl der Messwerte (MW1, MW2, MW3) eines Integrators (I1, I2, I3) in einer Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) innerhalb einer Messkampagne MK für alle Integratoren (I1, I2, I3) gleich ist.
  10. Verfahren nach Anspruch 4 oder 3 a. wobei die Anzahl N der Messsequenzen (M1 bis MN) während einer Messkampagne (MK) durch 3 teilbar ist.
  11. Verfahren nach Anspruch 4 oder 3 a. wobei die Anzahl N der Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) während einer Messsequenz (Mi) einen ganzzahligen Teiler der Anzahl der Integratoren (I1, I2, I3) darstellt.
  12. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei die Konfiguration bei einem Konfigurationswechsel zufällig, insbesondere durch eine Zufallssignal oder Pseudozufallssignal, bestimmt wird und wobei die Wahrscheinlichkeit für einen Integrator (I1, I2, I3) eine bestimmte Integratorrolle (I1, I2, I3) einzunehmen der Kehrwehrt der Anzahl der Integratorrollen (I1, I2, I3), insbsondere ein Drittel) ist und/oder nicht mehr als 10% relativ bezogen auf diese Werte nach oben oder unten von diesem Wahrscheinlichkeitswert abweicht.
  13. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei nach jeder Messsequenz (Mi) eine neue Konfiguration eingestellt wird, wobei zwei aufeinanderfolgende Konfigurationen auch gleich sein können, mindestens zwei aufeinanderfolgende Konfigurationen innerhalb einer Messkampagne (MK) ungleich sein müssen.
  14. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei innerhalb einer Messkampagne (MK) in zumindest einer Messsequenz (Mi) zwei Integratoren (I1, I2, I3) die gleiche Integratorrolle (I1, I2, I3) einnehmen
  15. Verfahren nach Anspruch 14 a. wobei aus Messwerten (MW1, MW2, MW3) zumindest einer Messsequenz (Mi), in der mindestens zwei Integratoren (I1, I2, I3) die gleiche Integratorrolle (IR1, IR2, IR3) eingenommen haben, Messwerte (MD12, MD23, MD31) über die Unterschiede zwischen diesen Integratoren (I1, I2, I3) abgeleitet werden und/oder Korrekturfaktoren und/oder Korrekturwerte zur Korrektur dieser Integratoren (I1, I2, I3) und/oder folgender Messwerte (MW1, MW2, MW3) dieser Integratoren (I1, I2, I3) in jeweils diesen Integratorrollen (IR1, IR2, IR3) abgeleitet werden.
  16. Verfahren nach Anspruch 11 a. wobei die Menge der mindestens drei Integratoren (I1, I2, I3) sich in zumindest einer Messsequenz (Mi) innerhalb einer Messkampagne (MK) gleichmäßig auf die möglichen Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), insbesondere auf drei mögliche Integratorrollen (IR1, IR2, IR3), aufteilt
  17. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei der Beginn ts2 der zweiten Integrationszeit ΔE2 des Integrators in der zweiten Integratorrolle IR2 mit dem dritten Zeitpunkt te3 des Endes der ersten Integrationszeit ΔE1 des Integrators in der ersten Integratorrolle IR1 korreliert.
  18. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche a. wobei die zeitliche Länge der ersten Integrationszeit ΔE1 nicht mehr als 25% und/oder nicht mehr als 10% und/oder nicht mehr als 5% und/oder nicht mehr als 1% von der die zeitlichen Länge der zweiten Integrationszeit ΔE2 abweicht und/oder b. wobei die zeitliche Länge der dritten Integrationszeit ΔE3 nicht mehr als 25% und/oder nicht mehr als 10% und/oder nicht mehr als 5% und/oder nicht mehr als 1% von der die zeitlichen Länge der zweiten Integrationszeit ΔE2 abweicht und/oder c. wobei die zeitliche Länge der ersten Integrationszeit ΔE1 nicht mehr als 25% und/oder nicht mehr als 10% und/oder nicht mehr als 5% und/oder nicht mehr als 1% von der die zeitlichen Länge der dritten Integrationszeit ΔE3 abweicht.
  19. System ausgebildet zur Durchführung eines Verfahrens nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche
  20. System nach dem vorhergehenden Anspruch wobei das System mindestens einen sechseckigen Fotodetektor (F) umfasst.
  21. System nach Anspruch 20 wobei sich an jeder der Außenkannten des sechseckigen Fotodetektors (F) sich je ein Transfergate befindet, und wobei immer zwei Transfergates mit einem von die besagten Torsignalen (S1, S2, S3) angesteuert werden.
  22. System nach dem Anspruch 21 wobei immer zwei gegenüberliegende und/oder zwei nebeneinanderliegende Transfergates mit einem gemeinsamen Torsignal (S1, S2, S3) verbunden sind und von diesem angesteuert werden.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111868556A (zh) * 2018-02-13 2020-10-30 感应光子公司 用于高分辨率远程闪速lidar的方法和系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19833207A1 (de) * 1998-07-23 2000-02-17 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes
WO2007031102A1 (de) * 2005-09-15 2007-03-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Erfassung optischer strahlung
EP1678523B1 (de) * 2003-10-29 2007-07-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Abstandssensor und verfahren zur abstandserfassung
DE102008018718A1 (de) * 2008-04-14 2009-10-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optischer Abstandsmesser und Verfahren zur optischen Abstandsmessung
DE102009037596A1 (de) * 2009-08-14 2011-05-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Konzept zur optischen Abstandsmessung

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19833207A1 (de) * 1998-07-23 2000-02-17 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes
EP1678523B1 (de) * 2003-10-29 2007-07-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Abstandssensor und verfahren zur abstandserfassung
WO2007031102A1 (de) * 2005-09-15 2007-03-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Erfassung optischer strahlung
DE102008018718A1 (de) * 2008-04-14 2009-10-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optischer Abstandsmesser und Verfahren zur optischen Abstandsmessung
DE102009037596A1 (de) * 2009-08-14 2011-05-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Konzept zur optischen Abstandsmessung

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Andreas Spickermann: Photodetektoren und Auslesekonzepte für 3D-Time-of-Flight-Bildsensoren in 0,35 µm-Standard-CMOS-Technologie. 2010,Fakultät für Ingenieurwissenschaften der Universität Duisburg-EssenQuelle: http://duepublico.uni-duisburg-essen.de/servlets/DerivateServlet/Derivate-4771/Spickermann_Andreas_Diss.pdf[abgrufen am 04.03.2015] *
Spickermann, A.; Durini, D.; Suss, A.; Ulfig, W.; Brockherde, W.; Hosticka, Bedrich J.; Schwope, S.; Grabmaier, A., "CMOS 3D image sensor based on pulse modulated time-of-flight principle and intrinsic lateral drift-field photodiode pixels," ESSCIRC (ESSCIRC), 2011 Proceedings of the , vol., no., pp.111,114, 12-16 Sept. 2011doi: 10.1109/ESSCIRC.2011.6044927URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6044927&isnumber=6044880 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111868556A (zh) * 2018-02-13 2020-10-30 感应光子公司 用于高分辨率远程闪速lidar的方法和系统

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