DE102014004005A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontmessung und Herstellverfahren für ein optisches Element - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontmessung und Herstellverfahren für ein optisches Element Download PDFInfo
- Publication number
- DE102014004005A1 DE102014004005A1 DE201410004005 DE102014004005A DE102014004005A1 DE 102014004005 A1 DE102014004005 A1 DE 102014004005A1 DE 201410004005 DE201410004005 DE 201410004005 DE 102014004005 A DE102014004005 A DE 102014004005A DE 102014004005 A1 DE102014004005 A1 DE 102014004005A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wavefront
- differential
- light
- measuring
- receiving sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title description 43
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims abstract description 81
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 10
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 37
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 210000003644 lens cell Anatomy 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 2
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 2
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012887 quadratic function Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013-063405 | 2013-03-26 | ||
| JP2013063405A JP6124641B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 波面収差計測方法、波面収差計測装置および光学素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102014004005A1 true DE102014004005A1 (de) | 2014-10-02 |
Family
ID=51519868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE201410004005 Withdrawn DE102014004005A1 (de) | 2013-03-26 | 2014-03-19 | Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontmessung und Herstellverfahren für ein optisches Element |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9557241B2 (https=) |
| JP (1) | JP6124641B2 (https=) |
| DE (1) | DE102014004005A1 (https=) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109900200A (zh) * | 2019-03-12 | 2019-06-18 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于光栅剪切干涉的光学成像系统的波像差检测方法 |
| CN109900201A (zh) * | 2019-03-12 | 2019-06-18 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 光栅剪切干涉光学成像系统波像差检测方法 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104238284B (zh) * | 2014-09-25 | 2016-08-17 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于光栅泰伯效应的检焦方法 |
| CN108700738A (zh) * | 2015-12-12 | 2018-10-23 | 印度电子与信息技术部（Deity) | 用于薄膜中的表面轮廓和厚度测量的监测的系统、装置和方法 |
| TWI637147B (zh) * | 2017-09-15 | 2018-10-01 | 東大光電股份有限公司 | Wavefront measurement system |
| JP7277101B2 (ja) | 2018-10-11 | 2023-05-18 | キヤノン株式会社 | 収差推定方法、収差推定装置、プログラムおよび記憶媒体 |
| WO2020073346A1 (zh) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | 广州博冠光电科技股份有限公司 | 一种基于数字激光全息快速检测透镜中心偏的装置及方法 |
| CN111665023B (zh) * | 2020-06-24 | 2021-10-12 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种望远镜畸变测量装置及方法 |
| EP4242621B1 (en) * | 2020-12-10 | 2025-01-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Wavefront measurement device and wavefront measurement method |
| CN115436025B (zh) * | 2022-09-28 | 2025-05-13 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于光栅剪切干涉的光学系统数值孔径的测量方法 |
| CN117537937B (zh) * | 2024-01-05 | 2024-04-16 | 国科大杭州高等研究院 | 一种抑制差分波前传感技术非线性的指向控制系统 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010151578A (ja) | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Canon Inc | 屈折率分布計測方法及び屈折率分布計測装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2831428B2 (ja) * | 1990-03-20 | 1998-12-02 | オリンパス光学工業株式会社 | 非球面形状測定機 |
| JPH04155225A (ja) * | 1990-10-17 | 1992-05-28 | Ando Electric Co Ltd | レーザダイオードの放射特性測定装置 |
| US5898501A (en) * | 1996-07-25 | 1999-04-27 | Nikon Corporation | Apparatus and methods for measuring wavefront aberrations of a microlithography projection lens |
| WO2002054036A1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-11 | Nikon Corporation | Imaging characteristics measuring method, imaging characteriatics adjusting method, exposure method and system, program and recording medium, and device producing method |
| JP2009004711A (ja) * | 2007-06-25 | 2009-01-08 | Canon Inc | 計測装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
| JP5351976B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2013-11-27 | ザイゴ コーポレーション | 二重グレーチング横方向シアリング波面センサ |
| JP5008763B2 (ja) * | 2010-12-03 | 2012-08-22 | キヤノン株式会社 | 屈折率分布計測方法、屈折率分布計測装置および光学素子の製造方法 |
-
2013
- 2013-03-26 JP JP2013063405A patent/JP6124641B2/ja active Active
-
2014
- 2014-03-19 DE DE201410004005 patent/DE102014004005A1/de not_active Withdrawn
- 2014-03-25 US US14/224,285 patent/US9557241B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010151578A (ja) | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Canon Inc | 屈折率分布計測方法及び屈折率分布計測装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109900200A (zh) * | 2019-03-12 | 2019-06-18 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于光栅剪切干涉的光学成像系统的波像差检测方法 |
| CN109900201A (zh) * | 2019-03-12 | 2019-06-18 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 光栅剪切干涉光学成像系统波像差检测方法 |
| CN109900200B (zh) * | 2019-03-12 | 2020-10-16 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于光栅剪切干涉的光学成像系统的波像差检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6124641B2 (ja) | 2017-05-10 |
| US9557241B2 (en) | 2017-01-31 |
| US20140293275A1 (en) | 2014-10-02 |
| JP2014190705A (ja) | 2014-10-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102014004005A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Wellenfrontmessung und Herstellverfahren für ein optisches Element | |
| EP0370229B1 (de) | Interferometrisches Verfahren zur Prüfung von asphärische Wellenfronten erzeugenden optischen Elementen | |
| EP2458363B1 (de) | Messung der Positionen von Krümmungsmittelpunkten optischer Flächen eines mehrlinsigen optischen Systems | |
| DE69810480T2 (de) | Bildqualitätserfassungsvorrichtung für progressive brillengläser | |
| CN104111163B (zh) | 凸透镜焦距的测量装置和测量方法 | |
| DE102013004043B4 (de) | Messverfahren für eine asphärische Oberfläche, Messvorrichtung für eine asphärische Oberfläche, Fertigungsvorrichtung für ein optisches Element und optisches Element | |
| WO2008012091A2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen einer abweichung einer tatsächlichen form von einer sollform einer optischen oberfläche | |
| DE102013203883B4 (de) | Verfahren zum Messen einer asphärischen Oberfläche, Vorrichtung zum Messen einer asphärischen Oberfläche, Vorrichtung zum Erzeugen eines optischen Elements und optisches Element | |
| DE102017009099B4 (de) | Phasenverschiebungs-interferometer und formmessverfahren | |
| EP1636542B1 (de) | Verfahren und messvorrichtung zur berührungslosen messung von winkeln oder winkeländerungen an gegenständen | |
| EP3140628B1 (de) | System und verfahren zur analyse eines von einer strahlführungsoptik geführten lichtstrahls | |
| DE102013113265B4 (de) | Vorrichtung zur berührungslosen optischen Abstandsmessung | |
| DE102008041062A1 (de) | Meßvorrichtung und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche | |
| DE112018007421T5 (de) | Entfernungsmesseinheit und lichtbestrahlungsvorrichtung | |
| DE69723110T2 (de) | Verlaufgitter für Beugungsentfernungsmessung | |
| DE102012007452B4 (de) | Optische Verschiebungsmesseinrichtung | |
| DE102016103295A1 (de) | Dreidimensionales Interferometer und Verfahren zur Bestimmung einer Phase eines elektrischen Feldes | |
| WO2024056501A1 (de) | Verfahren zum bearbeiten eines referenzelements für ein interferometer | |
| DE102006055070B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum interferometrischen Vermessen einer Form eines Testobjekts | |
| DE102015209489A1 (de) | Interferometrische Messvorrichtung | |
| DE102017202651A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung mittels projizierter Muster mit virtueller Ebene | |
| DE102020102959B4 (de) | Oberflächen-Messsystem und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche eines Prüflings | |
| DE102006033779B4 (de) | Verfahren zur Vermessung einer reflektierenden Oberfläche | |
| DE102017001524B4 (de) | Anordnung zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen | |
| DE102007010588B3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche eines Objekts und Verfahren zur Herstellung eines Objekts |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R012 | Request for examination validly filed | ||
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: WESER & KOLLEGEN, DE |
|
| R120 | Application withdrawn or ip right abandoned |