DE102011008655A1

DE102011008655A1 - Vorrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen

Info

Publication number: DE102011008655A1
Application number: DE102011008655A
Authority: DE
Inventors: Dr. Lilienblum Tilo; Wolfram Schmidt
Original assignee: INB Vision AG
Current assignee: INB Vision AG
Priority date: 2011-01-14
Filing date: 2011-01-14
Publication date: 2012-07-19
Also published as: US20140009584A1; KR20130119971A; EP2635872A1; WO2012095088A1

Abstract

Eine Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte (2) mittels Musterprojektionsverfahren, mit einem Projektor (3) zur Musterprojektion auf die Oberfläche (1) des Objekts (2), mindestens einer Kamera (5) oder bildgebenden Einheit zur Aufnahme des projizierten Musters und einem Computer zur Verarbeitung der über die Kamera oder bildgebende Einheit aufgenommenen Bildinformationen in 3D-Daten, ggf. zur dreidimensionalen Abbildung des Objekts (2), ist dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor (3) ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera (5) oder der bildgebenden Einheit eine Filtereinrichtung angeordnet ist, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor (3) ausgesandten Lichts durchlässig ist. Eine Verfahrensanwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist entsprechend ausgelegt.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte mittels Musterprojektionsverfahren (im Besonderen Streifenprojektionsverfahren), mit einem Projektor zur Musterprojektion auf die Oberfläche des Objekts, mindestens einer Kamera zur Aufnahme des projizierten Musters und einem Computer zur Verarbeitung der über die Kamera aufgenommenen Bildinformationen in 3D-Daten, ggf. zur dreidimensionalen Abbildung des Objekts. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein entsprechendes Verfahren, welches die erfindungsgemäße Vorrichtung nutzt.
Es sei angemerkt, dass es hier grundsätzlich um die Nutzung eines Musterprojektionsverfahrens geht, wobei der Begriff „Muster” im weitesten Sinne zu verstehen ist. Es lassen sich unter diesen Begriff beispielsweise Sinusmuster im Rahmen phasenschiebender Verfahren, radiale Muster für radialsymmetrische Teile oder Teilmuster zur Vermeidung einer Beleuchtung störend reflektierender Oberflächenteile, inverse Muster, etc. subsummieren.
Das Musterprojektionsverfahren, insbesondere das Streifenprojektionsverfahren, manchmal auch Streifenlichttopometrie genannt, umfasst eine Gruppe optischer Messmethoden, wonach Bildsequenzen zur dreidimensionalen Erfassung bzw. Vermessung von Oberflächen verwendet werden. Dieses Verfahren benötigt einen Musterprojektor und mindestens eine Kamera oder bildgebende Einheit, beispielsweise eine analoge oder digitale Videokamera.
Bei der Messung beleuchtet der Projektor das Messobjekt zeitlich sequentiell mit Mustern von parallelen hellen und dunklen Bereichen bzw. Streifen gleicher oder unterschiedlicher Breite. Die Kamera bzw. Kameras registriert bzw. registrieren das projizierte Muster unter einer bekannten Position und einem bekannten Winkel zur Projektion. Für jedes Projektionsmuster wird mit der Kamera mindestens ein Bild aufgenommen. Für jeden Bildpunkt der Kameras entsteht eine zeitliche Folge von unterschiedlichen Helligkeitswerten. Die dreidimensionalen Koordinaten der abzubildenden Oberfläche werden üblicherweise in zwei Schritten berechnet. Zu einem gegebenen Objektpunkt sind die Bildkoordinaten im Kamerabild bekannt. Aus der Folge von Helligkeitswerten, die aus der Bildsequenz für jeden Kamerabildpunkt gemessen bzw. detektiert wurden, kann der konkrete Streifen berechnet werden. Im einfachsten Falle erfolgt dies über einen Binärcode, der die Nummer des Streifens als diskrete Koordinate im Projektor kennzeichnet. Eine höhere Genauigkeit lässt sich mit dem sog. Phasenschiebeverfahren erreichen, wonach eine nicht-diskrete Koordinate bestimmbar ist.
Die Streifennummer im Projektor entspricht der Bildkoordinate in der Kamera. Sie spezifiziert eine Lichtebene im Raum, die Bildkoordinate einen Lichtstrahl. Bei bekannter Kamera- und Projektorposition kann der Schnittpunkt der Ebene und der Gerade berechnet werden. So ergibt sich die dreidimensionale Koordinate des Objektpunkts im Koordinatensystem des Sensors. Die geometrische Lage aller Bildstrahlen ist als bekannt vorauszusetzen. Die exakte Berechnung der Strahlen erfolgt üblicherweise mit dem aus der Photogrammetrie bekannten Vorwärtsschnitt.
Eine Voraussetzung für eine korrekte Berechnung der Koordinaten ist eine präzise Kalibrierung der Abbildungseigenschaften. Außerdem ist wesentlich, dass mittels Streifenprojektionssensor nur der sichtbare Teil einer Oberfläche erfasst werden kann, nämlich derjenige Teil, der vom Projektor beleuchtet und von der Kamera bzw. den Kameras beobachtet werden kann. Versteckte Bereiche müssen unter einem anderen Winkel sichtbar gemacht werden.
Aus der Praxis sind eine Reihe von bildgebenden Verfahren bekannt, bei denen mit Hilfe einer Projektionseinheit und einer oder mehreren Kameras dreidimensionale Daten erzeugt werden. Lediglich beispielhaft sei dazu verwiesen auf die US 6,542,250 B1 .
Vorrichtungen, die nach dem bekannten Verfahren arbeiten, umfassen einen sog. Musterprojektor (insbesondere Linienprojektor) und eine oder mehrere Kameras. Die zu projizierenden Muster (beispielsweise Linien) werden regelmäßig mit speziell für optische 3D-Messungen entwickelten Projektoren auf die Oberfläche des Objekts projiziert. Als Beleuchtung werden üblicherweise Halogenlampen, Gasentladungslampen oder LED-Lampen verwendet.
Außerdem ist es aus der Praxis bekannt, zur Eliminierung von Fremdlicht Blitzlampen zu verwenden. Der Blitz ist mit der jeweiligen Kamera synchronisiert.
Auch ist es aus der Praxis bereits bekannt, eine schmalbandige Lichtquelle zu verwenden und das projizierte Licht mit Hilfe eines Filters vor der Kamera vom Fremdlicht zu trennen. Dazu sei verwiesen auf die US 5,175,601 . Insoweit findet hier bereits eine Filterung des monochromatischen Laserlichts für die Streifenprojektion statt.
Des Weiteren ist es aus der Praxis bekannt, durch die Projektion von polarisiertem Licht und die Verwendung von Polfiltern vor den Objektiven direkt reflektiertes Licht herauszufiltern.
Die aus der Praxis bekannten Vorrichtungen und Verfahren sind insoweit problematisch, als die Anwendung der Streifenlichtprojektion sowohl in der Erzeugung des Streifenlichts bzw. der Linien als auch in der Detektion des interessierenden Lichts, unter Vermeidung von direkt reflektiertem Licht, aufwändig sind. Außerdem ist die Durchführung entsprechender Verfahren problematisch, da stets Fremdlicht durch aufwändige Maßnahmen eliminiert werden muss. Regelmäßig ist eine Beleuchtung auszuwählen, die wesentlich intensiver als das Umgebungslicht ist. Blitzlicht und eine entsprechende Synchronisation mit der Kamera sind zur Bildaufnahme erforderlich. Nicht selten wird die Messanordnung komplett abgedunkelt, um die zuvor genannten Probleme zu eliminieren.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zu Grunde, sowohl eine Vorrichtung als auch ein Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte anzugeben, wonach sich das Streifenprojektionsverfahren auf einfache Weise unter Eliminierung der sonst üblichen Nachteile anwenden lässt.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte mittels Streifenprojektionsverfahren löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patenanspruchs 1. Danach ist die gattungsbildende Vorrichtung dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera eine Filtereinrichtung angeordnet ist, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor ausgesandten Lichts durchlässig ist.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist durch die Merkmale des nebengeordneten Patentanspruchs 16 gekennzeichnet, nämlich dadurch, dass durch den Projektor ausschließlich schmalbandiges Licht ausgesendet wird und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera eine Filtereinrichtung verwendet wird, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor ausgesandten Lichts durchlässig ist.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, dass sich das Streifenprojektionsverfahren problemlos anwenden lässt, wenn der Projektor zur Beleuchtung der Oberfläche des jeweiligen Objekts in Bezug auf das Beleuchtungslicht über besondere Eigenschaften verfügt, nämlich ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet. Entsprechend ist die Kamera bzw. das Kamerasystem angepasst, nämlich dadurch, dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera eine Filtereinrichtung angeordnet ist, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor ausgesandten Lichts durchlässig ist. Die Kamera bzw. die der Kamera zugeordnete Filtereinrichtung ist somit auf den Bandbereich der Lichtquelle des Projektors abgestimmt.
In erfindungsgemäßer Weise ist eine Vorrichtung realisiert, die eine flächenhafte Messung nach dem Streifenprojektionsverfahren ermöglicht. In vorteilhafter Weise handelt es sich bei dem dabei verwendeten Projektor um einen handelsüblichen Video-Projektor, der zur Projektion schmalbandigen Lichts modifiziert bzw. umgebaut ist. Dieser umgebaute Video-Projektor lässt sich in idealer Weise zur Musterprojektion nutzen.
Entsprechend ist das erfindungsgemäße Verfahren ausgelegt, wobei dieses weniger fremdlichtabhängig ist als die bisher aus der Praxis bekannten Verfahren, nämlich unter Nutzung der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
In ganz besonders vorteilhafter Weise ist der Projektor mit einer monochromatischen Lichtquelle ausgestattet, vorzugsweise mit einer Laserlichtquelle. Der Projektor ist derart ausgelegt, dass er ausschließlich das Licht dieser Lichtquelle aussendet. An dieser Stelle sei angemerkt, dass sich eine Laserlichtquelle ganz besonders eignet, wobei auch andere monochromatische Lichtquellen verwendbar sind.
Die monochromatische Lichtquelle emittiert in vorteilhafter Weise kohärentes Licht. Genauer gesagt kann die monochromatische Lichtquelle vorzugsweise linear polarisiertes Licht emittieren, woraus sich später erörterte Vorteile, insbesondere in Bezug auf entsprechend ausgelegte Kamerasysteme, ergeben.
Wie bereits zuvor erwähnt, kann es sich bei dem Projektor um einen – preiswerten – handelsüblichen Video-Projektor handeln. Dieser kann um diejenigen Bauteile/Funktionsgruppen befreit sein, die zur Erzeugung eines breitbandigen Lichtspektrums, d. h. zur Erzeugung der Grundfarben Rot, Grün und Blau, dienen. Alternativ ist es denkbar, dass diese Bauteile/Funktionsgruppen innerhalb des Video-Projektors abgeschaltet bzw. deaktiviert sind. Lediglich beispielhaft sei auf einen konkreten Projektor der Marke Casio, Typ XJ-A, verwiesen, wobei dort der Umbau im Wesentlichen durch Entfernen des Farbrades aus dem Strahlengang sowie durch Abschalten der roten LED-Lichtquelle realisiert ist. Andere handelsübliche Projektoren sind entsprechend modifizierbar und nach der Modifikation verwendbar.
Auch ist es denkbar, dass vor dem Projektor ein Weichzeichnerfilter und/oder ein diffraktives Element angeordnet ist. Dadurch erhalten die projizierten Muster unabhängig von der Scharfstellung des Projektors eine durch den Filter oder das diffraktive Element definierbare Unschärfe.
In Bezug auf die Kamera ist wesentlich, dass es sich jeweils um ein Kamerasystem mit vorgeschaltetem Bandpassfilter handeln kann, nämlich mit einem Bandpassfilter vor der Optik einer jeden Kamera, wobei der Filter ausschließlich für den von der monochromatischen Lichtquelle erzeugten Wellenlängenbereich durchlässig ist. So kann die Filtereinrichtung vor der Kamera einen oder mehrere Bandpassfilter, einen oder mehrere Polfilter oder eine Kombination aus Bandpassfilter und Polfilter umfassen. Im Rahmen einer solchen Ausführungsform ist davon auszugehen, dass die monochromatische Lichtquelle, z. B. eine Laserlichtquelle, linear polarisiertes Licht erzeugt. Die Polfilter vor der Kamera bzw. vor den Kameras können in vorteilhafter Weise so eingestellt werden, dass nur diffus reflektiertes Licht durchgelassen wird. Dadurch lassen sich bei bestimmten Materialien, beispielsweise bei Oberflächen aus Kunststoff, Störungen durch direkte Reflexionen unterdrücken.
Im Rahmen einer weiteren besonderen Ausführungsform ist es denkbar, dass die Filtereinrichtung derart ausgelegt ist, dass sie mehrere Durchlassbereiche aufweist. Dies lässt sich dadurch erreichen, dass die Filtereinrichtung einen besonderen Filter oder eine Kombination aus mehreren Filtern umfasst. Dies ist dann von Vorteil, wenn die Lichtquelle des Projektors mehrere Frequenzbänder emittiert, beispielsweise bei Verwendung von Gasentladungslampen. Auch könnte der Projektor so umgebaut sein, dass mehrere Lichtquellen für die Projektion genutzt werden, möglichst wahlweise. Auch dann ist es von Vorteil, wenn die Filtereinrichtung mehrere – vorzugsweise auswählbare – Durchlassbereiche hat.
Zuvor ist erwähnt worden, dass das Kamerasystem mehrere Kameras umfassen kann, wobei es von weiterem Vorteil ist, wenn die Kameras mit ihren optischen Achsen in unterschiedlichen Winkeln zu der Oberfläche des zu vermessenden Objekts ausgerichtet sind. Insoweit ist ein besseres optischen Abtasten der Oberfläche möglich, insbesondere bei stark strukturierten Oberflächen.
Eine besondere Situation ergibt sich bei Stereoaufnahmen, wonach nicht etwa Schnitte von einem Sichtstrahl der Kamera mit der Lichtebene des Projektors zur Rekonstruktion verwendet werden, vielmehr die Beleuchtung über Korrelation der verschiedenen Intensitäten korrespondierende Pixel der beiden Kameras liefert, so dass beispielsweise eine Rekonstruktion über Punkte kürzesten Abstands zu den beiden Sichtstrahlen der Kamera erfolgen kann. In Bezug auf das hier zugrunde liegende Verfahren sei auf die US 6,542,251 B1 verwiesen.
Des Weiteren sei in Bezug auf die verwendbaren Kameras angemerkt, dass auch Zeilenkamerasystem nutzbar sind.
Das zur Anwendung des Streifenprojektionsverfahrens erforderliche Streifenlicht kann auf unterschiedliche Art und Weise erzeugt werden, beispielsweise durch ein Dia, ein LCD-Display, ein LCOS-Display oder einen DLP-Chip. Jegliche Arten der Streiflichterzeugung sind denkbar.
Das erfindungsgemäße Verfahren nutzt in vorteilhafter Weise die erfindungsgemäße Vorrichtung, so dass zur Vermeidung von Wiederholungen auf die Ausführungen zu der erfindungsgemäßen Vorrichtung verwiesen werden kann.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die dem Patentanspruch 1 nachgeordneten Patentansprüche und andererseits auf die nachfolgende Erläuterung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung des bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen
1 in einer schematischen Ansicht die grundsätzliche Anordnung der jeweiligen Funktionselemente einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens, und
2 in einer schematischen Ansicht den grundsätzlichen Aufbau einer Kamera als Bestandteil einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.
1 zeigt die grundsätzliche Anordnung eines Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, wobei diese zur dreidimensionalen optischen Vermessung der Oberfläche 1 eines Objekts 2 dient. Ein umgebauter handelsüblicher Video-Projektor 3 dient zur Musterprojektion auf die Oberfläche 1 des Objekts 2. Vor dem Video-Projektor 3 ist ein Weichzeichnerfilter 4 symbolisch angedeutet, nämlich vor der Optik des Video-Projektors 3.
Zu der erfindungsgemäßen Vorrichtung gehört des weiteren ein Kamerasystem mit in 1 beispielhaft gezeigten drei einzelnen Kameras 5, wobei es sich dabei um Digitalkameras handeln kann. Jede Kamera 5 umfasst ein Objektiv 6, einen vorgeschalteten Bandpassfilter 7 und einen Polfilter 8, wie dies in 2 schematisch dargestellt ist.
Für die erfindungsgemäße Vorrichtung sowie für das erfindungsgemäße Verfahren ist wesentlich, dass der Video-Projektor 3 derart umgebaut bzw. modifiziert ist, dass er ausschließlich schmalbandiges und vorteilhafterweise zusätzlich polarisiertes Licht aussendet, beispielsweise durch Integration einer geeigneten Laserlichtquelle.
Das Kamerasystem bzw. die einzelnen Kameras 5 sind durch das zugeordnete Filtersystem, beispielsweise durch einen geeigneten Bandpassfilter 7 und einen Polfilter 8, derart auf das vom Videoprojektor 3 ausgesandte schmalbandige Licht abgestimmt, dass ausschließlich Licht im Wellenlängenbereich des vom Video-Projektor 3 ausgesandten Lichts durch das Filtersystem der Kamera 5 hindurch in die Kamera 5 gelangen kann.
In Bezug auf Merkmale, die sich den Figuren nicht entnehmen lassen, sei zur Vermeidung von Wiederholungen auf den allgemeinen Teil der Beschreibung verwiesen.
Hinsichtlich weiterer vorteilhafter Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung wird zur Vermeidung von Wiederholungen auf den allgemeinen Teil der Beschreibung sowie auf die beigefügten Patentansprüche verwiesen.
Schließlich sei ausdrücklich darauf hingewiesen, dass das voranstehend beschriebene Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vorrichtung lediglich zur Erörterung der beanspruchten Lehre dient, diese jedoch nicht auf das Ausführungsbeispiel einschränkt.
Bezugszeichenliste

1: Oberfläche
2: Objekt
3: Video-Projektor, Projektor
4: Weichzeichnerfilter
5: Kamera
6: Objektiv
7: Bandpassfilter
8: Polfilter

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
Zitierte Patentliteratur

US 6542250 B1 [0007]
US 5175601 [0010]
US 6542251 B1 [0026]

Claims

Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen beliebiger Objekte (2) mittels Musterprojektionsverfahren, mit einem Projektor (3) zur Musterprojektion auf die Oberfläche (1) des Objekts (2), mindestens einer Kamera (5) oder bildgebenden Einheit zur Aufnahme des projizierten Musters und einem Computer zur Verarbeitung der über die Kamera aufgenommenen Bildinformationen in 3D-Daten, ggf. zur dreidimensionalen Abbildung des Objekts (2), dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor (3) ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera (5) oder bildgebenden Einheit eine Filtereinrichtung angeordnet ist, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor (3) ausgesandten Lichts durchlässig ist.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem Projektor (3) um einen handelsüblichen Video-Projektor handelt, der zur Projektion schmalbandigen Lichts modifiziert bzw. umgebaut ist.
Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor (3) mit einer monochromatischen Lichtquelle, vorzugsweise einer Laserlichtquelle, ausgestattet ist und ausschließlich das Licht dieser Lichtquelle aussendet.
Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die monochromatische Lichtquelle kohärentes Licht emittiert.
Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass die monochromatische Lichtquelle vorzugsweise linear polarisiertes Licht emittiert.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Projektor (3) um diejenigen Bauteile/Funktionsgruppen befreit ist, die zur Erzeugung eines breitbandigen Lichtspektrums, d. h. zur Erzeugung der Grundfarben Rot, Grün und Blau, dienen, oder dass diese Bauteile/Funktionsgruppen abgeschaltet bzw. deaktiviert sind.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass vor dem Projektor (3) ein Weichzeichnerfilter (4) und/oder ein diffraktives Element angeordnet ist.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die der Kamera (5) oder bildgebenden Einheit zugeordnete Filtereinrichtung einen oder mehrere Bandpassfilter (7) umfasst.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Filtereinrichtung einen oder mehrere Polfilter (8) umfasst.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Filtereinrichtung die Kombination aus mindestens einem Bandpassfilter (7) und mindestens einem Polfilter (8) umfasst.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Filtereinrichtung derart ausgelegt bzw. eingestellt ist, dass nur diffus reflektiertes Licht passieren kann.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Filtereinrichtung derart ausgelegt ist, dass sie mehrere Durchlassbereiche aufweist.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass zwei oder mehrere Kameras (5) oder bildgebende Einheiten vorgesehen sind.
Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Kameras (5) mit ihren optischen Achsen in unterschiedlichen Winkeln zu der Oberfläche (1) des Objekts (2) ausgerichtet sind.
Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das vom Projektor (3) ausgesandte Streifenlicht durch ein Dia, ein LCD-Display, ein LCOS-Display oder einen DLP-Chip erzeugbar ist.
Verfahren zur dreidimensionalen optischen Vermessung von Oberflächen (1) beliebiger Objekte (2) mittels Musterprojektionsverfahren, wobei mittels eines Projektors (3) ein Muster auf die Oberfläche des Objekts (2) projiziert wird, wobei mindestens eine Kamera (5) oder bildgebende Einheit zur Aufnahme des projizierten Musters dient und wobei die über die Kamera (5) oder bildgebende Einheit aufgenommenen Bildinformationen über einen Computer in 3D-Daten, ggf. zur dreidimensionalen Abbildung des Objekts (2), verarbeitet werden, insbesondere zur Anwendung einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass durch den Projektor (3) ausschließlich schmalbandiges Licht aussendet wird und dass im Detektionsstrahlengang vor der Kamera (5) oder bildgebenden Einheit eine Filtereinrichtung verwendet wird, die ausschließlich für den Wellenlängenbereich des vom Projektor (3) ausgesandten Lichts durchlässig ist.