DE102010012712A1 - Licht emittierendes Halbleiterbauteil - Google Patents

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Frank Möllmer
Martin Haushalter
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Abstract

Es wird ein Licht emittierendes Halbleiterbauteil (1) angegeben, mit – zumindest einem Leuchtdiodenchip (2), der im Betrieb Licht (3) erzeugt, und – einer gezielt eingestellten schiefen Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts.

Description

  • Es wird ein Licht emittierendes Halbleiterbauteil angegeben.
  • Die Druckschrift WO 2009/033478 beschreibt eine Vorrichtung, bei der Licht emittierende Halbleiterbauteile auf eine unebene Montagefläche aufgebracht sind. Durch das Aufbringen der Licht emittierenden Bauteile auf die unebene Montagefläche ist es ermöglicht, die Abstrahlrichtung des von den Halbleiterbauteilen abgestrahlten Lichts vorzugeben. Als nachteilig kann sich dabei ergeben, dass in aufwändiger Weise eine unebene oder schiefe Montagefläche für die Licht emittierenden Halbleiterbauteile erzeugt werden muss, auf der sich eine Montage der Licht emittierenden Halbleiterbauteile kompliziert gestalten kann.
  • Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, ein Licht emittierendes Halbleiterbauteil anzugeben, das besonders einfach herstellbar und montierbar ist.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das Licht emittierende Halbleiterbauteil zumindest einen Leuchtdiodenchip, der im Betrieb Licht erzeugt. Unter Licht ist dabei insbesondere elektromagnetische Strahlung im sichtbaren Spektralbereich zu verstehen. Ferner kann der Begriff Licht auch elektromagnetische Strahlung aus dem nahen Infrarot- oder nahen UV-Bereich umfassen. Das Licht emittierende Halbleiterbauteil kann genau einen Leuchtdiodenchip oder mehrere Leuchtdiodenchips als Lichtquelle umfassen. Der oder die Leuchtdiodenchips des Licht emittierenden Halbleiterbauteils können farbiges oder weißes Licht emittieren. Bei mehreren Leuchtdiodenchips ist es möglich, dass sich das Licht der mehreren Leuchtdiodenchips zu weißem Licht mischt.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils weist das Licht emittierende Halbleiterbauteil eine gezielt eingestellte schiefe Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts auf. Das vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlte Licht ist dabei das von dem oder den Leuchtdiodenchips im Betrieb erzeugte Licht. Dass das Licht emittierende Halbleiterbauteil eine schiefe Abstrahlcharakteristik aufweist, bedeutet insbesondere, dass eine Hauptabstrahlrichtung des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts einen Winkel ≠ 90° mit einer ebenen Montagefläche aufweist, auf die das Licht emittierende Halbleiterbauteil montiert ist. Die Hauptabstrahlrichtung ist dabei die Richtung, in der das abgestrahlte Licht die größte Intensität aufweist.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das Licht emittierende Halbleiterbauteil zumindest einen Leuchtdiodenchip, der im Betrieb Licht erzeugt und eine gezielt eingestellte schiefe Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts.
  • Mit dem hier beschriebenen Licht emittierenden Halbleiterbauteil ist es möglich, gezielt eine seitliche Abstrahlung von Licht zu erreichen, auch wenn das Licht emittierende Halbleiterbauteil auf eine eben ausgebildete Montagefläche aufgebracht ist. Das Licht emittierende Halbleiterbauteil weist also von sich aus eine schiefe Abstrahlcharakteristik auf, ohne dass diese durch eine aufwändige Umgestaltung der Montagefläche für das Licht emittierende Halbleiterbauteil erzeugt werden muss.
  • Bei dem Leuchtdiodenchip des Licht emittierenden Halbleiterbauteils handelt es sich vorzugsweise um einen Oberflächenstrahler, insbesondere einen Lambert'schen Oberflächenstrahler. Mit einem solchen Leuchtdiodenchip ist eine schiefe Abstrahlcharakteristik besonders gut zu erreichen. Insbesondere kann der Leuchtdiodenchip durch einen Dünnfilm-Leuchtdiodenchip gegeben sein. Dieser zeichnet sich durch mindestens eines der folgenden charakteristischen Merkmale aus:
    An einer zu einem Trägerelement hingewandten Hauptfläche der strahlungserzeugenden Halbleiterschichtenfolge des Leuchtdiodenchips, bei der es sich insbesondere um eine strahlungserzeugende Epitaxie-Schichtenfolge handelt, ist eine reflektierende Schicht aufgebracht oder ausgebildet, die zumindest einen Teil der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung in diese zurückreflektiert.
  • Der Dünnfilm-Leuchtdiodenchip weist ein Trägerelement auf, bei dem es sich nicht um das Wachstumssubstrat handelt, auf dem die Halbleiterschichtenfolge epitaktisch gewachsen wurde, sondern um ein separates Trägerelement, das nachträglich an der Halbleiterschichtenfolge befestigt wurde. Das heißt, der Leuchtdiodenchip ist frei von einem Wachstumssubstrat.
  • Die Halbleiterschichtenfolge und damit gegebenenfalls der Leuchtdiodenchip weist eine Dicke im Bereich von 20 μm oder weniger, insbesondere im Bereich von 10 μm oder weniger auf.
  • Die Halbleiterschichtenfolge ist frei von einem Wachstumssubstrat. Vorliegend bedeutet „frei von einem Wachstumssubstrat”, dass ein gegebenenfalls zum Aufwachsen benutztes Aufwachssubstrat von der Halbleiterschichtenfolge entfernt oder zumindest stark gedünnt ist. Insbesondere ist es derart gedünnt, dass es für sich oder zusammen mit der Epitaxie-Schichtenfolge alleine nicht freitragend ist. Der verbleibende Rest des stark gedünnten Aufwachssubstrats ist insbesondere als solches für die Funktion eines Aufwachssubstrates ungeeignet.
  • Die Halbleiterschichtenfolge enthält mindestens eine Halbleiterschicht mit zumindest einer Fläche, die eine Durchmischungsstruktur aufweist, die im Idealfall zu einer annähernd ergodischen Verteilung des Lichtes in der Halbleiterschichtenfolge führt, das heißt, sie weist ein möglichst ergodisch stochastisches Streuverhalten auf. Der Dünnfilm-Leuchtdiodenchip ist daher in guter Näherung ein Lambert'scher Oberflächenstrahler
  • Im Folgenden werden unterschiedliche Maßnahmen beschrieben, mit denen eine solche schiefe Abstrahlcharakteristik des Licht emittierenden Halbleiterbauteils eingestellt werden kann. Die Maßnahmen können dabei für sich alleine oder in Kombination angewendet werden, um die gewünschte Abstrahlcharakteristik, das heißt beispielsweise den gewünschten Winkel der Hauptabstrahlrichtung zur Normalen, einzustellen.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils weist das Licht emittierende Halbleiterbauteil eine ebene Chipmontagefläche auf, auf der der zumindest eine Leuchtdiodenchip befestigt ist. Das heißt, die Chipmontagefläche ist nicht uneben ausgebildet, sodass die schiefe Abstrahlcharakteristik des Licht emittierenden Halbleiterbauteils nicht durch eine schiefe, beispielsweise zur Horizontalen verkippte, Anordnung des zumindest einen Leuchtdiodenchips erreicht ist.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils weist das Licht emittierende Halbleiterbauteil ein reflektierendes optisches Element auf, das zur Reflexion des im Betrieb des Leuchtdiodenchips erzeugten Lichts eingerichtet ist. Das reflektierende optische Element umgibt den zumindest einen Leuchtdiodenchip dabei seitlich. Bei dem reflektierenden optischen Element kann es sich beispielsweise um einen Reflektor handeln, der von der Chipmontagefläche in einem Winkel zur Chipmontagefläche weg von der Chipmontagefläche verläuft. Das reflektierende optische Element kann dabei den zumindest einen Leuchtdiodenchip vollständig seitlich umgeben. Das reflektierende optische Element umgibt den Leuchtdiodenchip dann beispielsweise rahmenartig. Ferner ist es möglich, dass das reflektierende optische Element den zumindest einen Leuchtdiodenchip nur stellenweise seitlich umgibt, sodass der zumindest eine Leuchtdiodenchip seitlich nicht vom reflektierenden optischen Element eingefasst ist.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils ist das reflektierende optische Element hinsichtlich seiner reflektierenden Eigenschaften inhomogen ausgebildet. Das heißt, an unterschiedlichen Stellen kann das reflektierende optische Element unterschiedlich große Reflektivitäten oder unterschiedliche Reflexionswinkel aufweisen. Ferner ist es möglich, dass das reflektierende optische Element an manchen Stellen diffus reflektierend und an anderen Stellen gerichtet reflektierend ausgebildet ist. Die unterschiedlichen reflektierenden Eigenschaften des reflektierenden optischen Elements können dabei durch die Wahl unterschiedlicher Materialien und/oder unterschiedlicher Neigungswinkel zur Chipmontagefläche eingestellt werden. Insbesondere ist es mit einem inhomogen ausgebildeten reflektierenden optischen Element möglich, die Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts gezielt schief einzustellen, da beispielsweise die Reflexion in eine bestimmte Richtung durch eine besonders hohe Reflektivität des reflektierenden optischen Elements für Strahlung, die in diese Richtung reflektiert wird, eingestellt werden kann.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das reflektierende optische Element eine reflektierende Fläche, die einen Neigungswinkel zur Chipmontagefläche aufweist, wobei sich der Neigungswinkel beim Umlauf um den zumindest einen Leuchtdiodenchip ändert. Beispielsweise ist das reflektierende optische Element dabei als geneigte Fläche ausgebildet, die einen Winkel zur Chipmontagefläche einschließt. Das reflektierende optische Element kann dabei in einem Bereich einen Neigungswinkel zur Chipmontagefläche aufweisen, der größer 90° ist. Ist die reflektierende Fläche des reflektierenden optischen Elements in diesem Bereich beispielsweise gerichtet reflektierend ausgebildet, so ergibt sich eine Abstrahlcharakteristik von dieser reflektierenden Fläche weg, deren Hauptabstrahlrichtung senkrecht auf der reflektierenden Fläche steht. Weisen andere Bereiche des reflektierenden optischen Elements reflektierende Flächen mit geringerer Reflektivität und/oder mit einem Neigungswinkel zur Chipmontagefläche von 90° oder kleiner auf, kann auf diese Weise eine schiefe Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts gezielt eingestellt werden.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umgibt das reflektierende optische Element den zumindest einen Leuchtdiodenchip nur stellenweise seitlich. Das heißt, es existieren Stellen, an denen der zumindest eine Leuchtdiodenchip nicht vom reflektierenden optischen Element umgeben ist. Vom zumindest einen Leuchtdiodenchip im Betrieb erzeugtes Licht wird dann räumlich inhomogen vom reflektierenden optischen Element umgeleitet, was eine entsprechend schiefe Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts zur Folge hat.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das Licht emittierende Halbleiterbauteil eine Bauteilmontagefläche, die zur Befestigung des Halbleiterbauteils eingerichtet ist. Beispielsweise ist die Bauteilmontagefläche durch die Außenfläche eines Anschlussträgers gebildet, welche der Chipmontagefläche gegenüberliegt. Die Bauteilmontagefläche weist dabei einen Neigungswinkel zur Chipmontagefläche auf, der ungleich 0° ist. Mit anderen Worten sind die Bauteilmontagefläche und die Chipmontagefläche nicht parallel zueinander ausgerichtet. Auf diese Weise ergibt sich bei der Montage des Licht emittierenden Halbleiterbauteils auf einer ebenen Montagefläche eine geneigte Montage des Halbleiterbauteils. Der Neigungswinkel ist dabei durch den Neigungswinkel einstellbar, den die Bauteilmontagefläche mit der Chipmontagefläche einschließt. Selbst ohne weitere Maßnahmen, beispielsweise an einem reflektierenden optischen Element des Halbleiterbauteils, ist es auf diese Weise möglich, eine schiefe Abstrahlcharakteristik des auf eine ebene Fläche montierten Licht emittierenden Halbleiterbauteils zu erreichen.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das Licht emittierende Halbleiterbauteil ein Licht brechendes optisches Element, das eine Strahlungseintrittsfläche und eine Strahlungsaustrittsfläche aufweist. Vom zumindest einen Leuchtdiodenchip im Betrieb erzeugtes Licht tritt zumindest teilweise durch die Strahlungseintrittsfläche in das Licht brechende optische Element ein und tritt aus der Strahlungsaustrittsfläche aus diesem wieder aus. Das Licht brechende optische Element ist dabei dazu eingerichtet, die Richtung des durchlaufenden Lichts zu ändern. Beispielsweise handelt es sich bei dem Licht brechenden optischen Element um eine Fresnel- oder eine fresnelartige Linse oder um ein Prisma. Über das Einstellen der Neigungswinkel der Strahlungsaustrittsfläche oder von Teilen der Strahlungsaustrittsfläche des Licht brechenden optischen Elements kann dann eine gezielte Veränderung der Hauptabstrahlrichtung des durchtretenden Lichts eingestellt werden. Alternativ oder zusätzlich ist eine entsprechende Strukturierung der Strahlungseintrittsfläche möglich. Die Strahlungsaustrittsfläche und die Strahlungseintrittsfläche können dabei jeweils an Luft grenzen; darüber hinaus ist es möglich, dass lediglich die Strahlungsaustrittsfläche an Luft grenzt. Die Strahlungseintrittsfläche kann dann beispielsweise direkt an den zumindest einen Leuchtdiodenchip grenzen. In diesem Fall kann das Licht brechende optische Element ein Vergusskörper sein, der den zumindest einen Leuchtdiodenchip zumindest stellenweise formschlüssig umgibt und sich zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem zumindest einen Leuchtdiodenchip befindet, wobei die der Chipmontagefläche des Licht emittierenden Halbleiterbauteils abgewandte Strahlungsaustrittsfläche des Vergusskörpers als Ebene ausgebildet sein kann, die in einem Winkel zur Chipmontagefläche verläuft. Durch Lichtbrechung beim Lichtaustritt durch diese Strahlungsaustrittsfläche erfolgt dann die gewünschte gezielte Einstellung der schiefen Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts.
  • Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Licht emittierenden Halbleiterbauteils umfasst das Licht emittierende Halbleiterbauteil einen strahlungsdurchlässigen Vergusskörper, der den zumindest einen Leuchtdiodenchip zumindest stellenweise formschlüssig umgibt und sich zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem zumindest einen Leuchtdiodenchip befindet. Der Vergusskörper kann dabei beispielsweise mit Silikon, mit Epoxydharz und/oder mit Glas gebildet sein. Der strahlungsdurchlässige Vergusskörper weist eine konvex von der Chipmontagefläche weg gekrümmte Strahlungsaustrittsfläche auf, die rotationssymmetrisch zu einer optischen Achse des Vergusskörpers angeordnet ist. Mit anderen Worten kann der Vergusskörper kuppelartig ausgebildet sein. Der zumindest eine Leuchtdiodenchip ist dabei unzentriert oder versetzt zur optischen Achse des Vergusskörpers angeordnet. Auf diese Weise wird durch die Strahlungsaustrittsfläche des Vergusskörpers das vom zumindest einen Leuchtdiodenchip im Betrieb erzeugte Licht von der Seite der optischen Achse weggebrochen, an der sich ein Großteil der Abstrahlfläche des zumindest einen Leuchtdiodenchips befindet. Umfasst das Halbleiterbauteil mehr als einen Leuchtdiodenchip, so sind die Leuchtdiodenchips insbesondere nicht-symmetrisch bezüglich der optischen Achse des Vergusskörpers angeordnet.
  • Die hier beschriebenen Maßnahmen zur Einstellung einer schiefen Abstrahlcharakteristik können zur Verstärkung der hier beschriebenen optischen Effekte miteinander kombiniert werden. Auf diese Weise lassen sich Licht emittierende Halbleiterbauteile realisieren, bei denen ein besonders großer Winkel der Hauptabstrahlrichtung zur Normalen auf einer ebenen Montagefläche des Licht emittierenden Halbleiterbauteils eingestellt werden.
  • Im Folgenden wird das hier beschriebene Licht emittierende Halbleiterbauteil anhand von Ausführungsbeispielen und den dazugehörigen Figuren näher erläutert.
  • Anhand der schematischen Schnittdarstellungen der 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7 und 9 sind Ausführungsbeispiele von hier beschriebenen Licht emittierenden Halbleiterbauteilen näher erläutert.
  • Anhand der grafischen Auftragung der 8 ist der Begriff ”schiefe Abstrahlcharakteristik” näher erläutert.
  • Gleiche, gleichartige oder gleich wirkende Elemente sind in den Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen. Die Figuren und die Größenverhältnisse der in den Figuren dargestellten Elemente untereinander sind nicht als maßstäblich zu betrachten. Vielmehr können einzelne Elemente zur besseren Darstellbarkeit und/oder zum besseren Verständnis übertrieben groß dargestellt sein.
  • Die schematische Schnittdarstellung der 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel eines hier beschriebenen Licht emittierenden Halbleiterbauteils 1.
  • Das Licht emittierende Halbleiterbauteil 1 umfasst einen Anschlussträger 9. Bei dem Anschlussträger 9 handelt es sich beispielsweise um einen elektrisch isolierenden Grundkörper, der mit nicht gezeigten elektrischen Anschlussstellen und/oder elektrischen Leiterbahnen versehen ist. Ferner kann es sich beim Anschlussträger 9 um einen elektrischen Leiterrahmen (englisch: leadframe) handeln. Der Anschlussträger 9 weist eine Chipmontagefläche 4 auf, an der ein Leuchtdiodenchip 2 mechanisch befestigt und elektrisch angeschlossen ist. Der Chipmontagefläche 4 gegenüberliegend ist die Bauteilmontagefläche 6 angeordnet, mit der das Licht emittierende Halbleiterbauteil 1 auf eine nicht dargestellte Montagefläche aufgebracht werden kann.
  • Der Leuchtdiodenchip 2 erzeugt im Betrieb Licht 3. Das Licht 3 weist zunächst eine Hauptabstrahlrichtung auf, die senkrecht zur Chipmontagefläche 4 verläuft. Das heißt, der Leuchtdiodenchip 2 ist im Rahmen der Herstellungstoleranz derart auf der Chipmontagefläche 4 befestigt, dass eine Strahlungsaustrittsfläche 2a des Leuchtdiodenchips 2 parallel zur Chipmontagefläche 4 verläuft.
  • Seitlich ist die Chipmontagefläche 4 mit dem Leuchtdiodenchip 2 von einem reflektierenden optischen Element 5 umgeben, das vorliegend als Reflektorwand ausgebildet ist. Das reflektierende optische Element 5 kann beispielsweise aus einem diffus reflektierenden Kunststoffmaterial oder einem diffus reflektierenden keramischen Material bestehen. Vorliegend weist das reflektierende optische Element 5 eine reflektierende Fläche 51 auf, die in einem Neigungswinkel α zur Chipmontagefläche 4 angeordnet ist. Dieser Neigungswinkel α ändert sich beim Umlauf um den Leuchtdiodenchip 2, sodass er in der Schnittdarstellung der 1 an der rechten Seite 90° beträgt. Die reflektierende Fläche 51 ist im Ausführungsbeispiel der 1 zusätzlich stellenweise mit einer Beschichtung 52 versehen, die beispielsweise gerichtet reflektierend ausgebildet sein kann. Beispielsweise ist die Beschichtung 52 durch eine Metallisierung der reflektierenden Fläche 51 gebildet. Vorliegend ist die reflektierende Fläche 51 dort mit der Beschichtung 52 versehen, wo der Neigungswinkel α > 90° ist. Auf diese Weise kann erreicht werden, dass sich eine schiefe Abstrahlcharakteristik ergibt, bei der das Maximum der Hauptabstrahlrichtung in einem Winkel von ≠ 90° zur Chipmontagefläche 4 besonders deutlich ausgeprägt ist. Die Hauptabstrahlrichtung ist dabei von der geneigten, beschichteten reflektierten Fläche 51 weg gerichtet.
  • Zur Erläuterung des Begriffs ”schiefe Abstrahlcharakteristik” wird auf die 8 verwiesen. Dort ist die Strahlungsintensität I gegen den Abstrahlwinkel γ, den das abgestrahlte Licht 3 mit der Montagefläche 10, auf der das Licht emittierende Bauteil 1 aufgebracht ist, für zwei Beispiele gezeigt. Das Beispiel A zeigt die Intensität für ein Licht emittierendes Halbleiterbauteil ohne schiefe Abstrahlcharakteristik. Hier verläuft die Hauptabstrahlrichtung des Lichts 3 in einem 90°-Winkel zur Montagefläche 10. Die Kurve für das Beispiel B betrifft ein hier beschriebenes Licht emittierendes Halbleiterbauteil mit schiefer Abstrahlcharakteristik.
  • In Verbindung mit 2 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel eines hier beschriebenen Licht emittierenden Halbleiterbauteils näher erläutert. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist die schiefe Abstrahlcharakteristik des Lichts 3 dadurch eingestellt, dass die Bauteilmontagefläche 6 und die Chipmontagefläche 4 einen Winkel β ≠ 0° miteinander einschließen. Das heißt, die beiden Hauptflächen das Anschlussträgers 9 laufen nicht parallel zueinander, sondern sind zueinander verkippt. Dadurch stellt sich bei der Montage des Licht emittierenden Halbleiterbauteils 1 auf eine ebene Montagefläche 10 eine schiefe Abstrahlcharakteristik 3 ein.
  • In Verbindung mit der schematischen Schnittdarstellung der 3 ist ein Ausführungsbeispiel beschrieben, bei dem dem Leuchtdiodenchip 2 ein Licht brechendes optisches Element 7 nachgeordnet ist. Das Licht brechende optische Element 7 weist eine Strahlungseintrittsfläche 71 und eine Strahlungsaustrittsfläche 72 auf. Vorliegend grenzen beide Flächen an Luft. Lichtbrechung findet sowohl beim Eintritt von Licht 3 durch die Strahlungseintrittsfläche 71 als auch beim Austritt durch die Strahlungsaustrittsfläche 72 statt. Die Strahlungsaustrittsfläche 72 ist vorliegend als nicht symmetrische, gerichtete Fresnellinse ausgebildet, die zu einer Verkippung der Hauptabstrahlrichtung des Lichts 3 weg von der Normalen zur Montagefläche 10 (hier nicht gezeigt) führt. Aufgrund der Gestaltung als Fresnellinse kann zusätzlich zur Änderung der Hauptabstrahlrichtung auch eine Fokussierung oder Aufweitung des durchtretenden Lichts erfolgen, sodass das Licht brechende optische Element 7 in der vorliegenden Ausführungsform eine Doppelfunktion wahrnehmen kann.
  • In Verbindung mit dem in der schematischen Schnittdarstellung der 4 beschriebenen Ausführungsbeispiel ist der Leuchtdiodenchip 2 von einem Vergusskörper 8 umgeben, der stellenweise direkt an den Leuchtdiodenchip 2 grenzt und diesen stellenweise formschlüssig umgibt. Der Vergusskörper 8 weist eine Strahlungsaustrittsfläche 82 auf, die stellenweise konvex von der Chipmontagefläche 4 weg gekrümmt ist. Die Strahlungsaustrittsfläche 82 ist achsensymmetrisch zur optischen Achse 83 des Vergusskörpers 8 ausgebildet. Der Leuchtdiodenchip 2 ist vorliegend versetzt, das heißt nicht zu seiner Strahlungsaustrittsfläche 2a zentriert zur optischen Achse 83 angeordnet. Daraus resultiert ein Umlenken der Hauptabstrahlrichtung des Lichts 3.
  • Beim in Verbindung mit der schematischen Schnittdarstellung der 5 beschriebenen Ausführungsbeispiel ist der Leuchtdiodenchip 2 stellenweise in direktem Kontakt mit dem Material eines Licht brechenden optischen Elements 7. Die Strahlungseintrittsfläche 71 des Licht brechenden optischen Elements 7 grenzt daher direkt an den Leuchtdiodenchip 2. Das Licht brechende optische Element 7 weist eine Strahlungsaustrittsfläche 72 auf, die vorliegend als ebene Fläche ausgebildet ist, welche einen Winkel ≠ 0° mit der Chipmontagefläche 4 einschließt. Durch Lichtbrechung beim Austritt des vom Leuchtdiodenchip 7 im Betrieb erzeugten Lichts 3 erfährt dieses eine Änderung seiner Hauptabstrahlrichtung. Daraus resultiert eine schiefe Abstrahlcharakteristik, welche durch die Neigung der Strahlungsaustrittsfläche 72 eingestellt werden kann.
  • In Verbindung mit der schematischen Schnittdarstellung der 6 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel des Licht emittierenden Halbleiterbauteils 1 näher erläutert. In diesem Ausführungsbeispiel ist das Licht brechende optische Element 7 durch ein Prisma gebildet, das eine Strahlungseintrittsfläche 71 aufweist, die parallel zur Chipmontagefläche 4 verläuft und eine Strahlungsaustrittsfläche 72, die in einem Winkel geneigt zur Chipmontagefläche 4 verläuft. Die Strahlungseintrittsfläche 71 grenzt dabei direkt an einen Vergusskörper 8, der den Leuchtdiodenchip 2 formschlüssig umhüllt und zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem Leuchtdiodenchip 2 steht. Der Brechungsindexsprung am Übergang zwischen Vergusskörper 8 und Licht brechendem optischen Element 7 ist daher kleiner als der Brechungsindexsprung zwischen Luft und Licht brechendem optischen Element 7. Das Prima kann dabei aus einem Glas oder einem Kunststoffmaterial bestehen oder eines dieser Materialien enthalten.
  • Im Unterschied zum Ausführungsbeispiel der 6 ist im Ausführungsbeispiel der 7 ein Licht emittierendes Halbleiterbauteil 1 näher erläutert, bei dem sowohl die Strahlungseintrittsfläche 71 als auch die Strahlungsaustrittsfläche 72 eines als Prisma ausgebildeten Licht brechenden optischen Elements 7 an Luft grenzen. Zusätzlich zur Änderung der Hauptabstrahlrichtung des abgestrahlten Lichts 3 durch das Licht brechende optische Element 7 erfährt das abgestrahlte Licht eine Richtungsänderung durch das reflektierende optische Element 5, das hinsichtlich seiner reflektierenden Eigenschaften inhomogen ausgebildet ist, wie dies beispielsweise in Verbindung mit dem Ausführungsbeispiel der 1 beschrieben ist. Auf diese Weise lässt sich in einfacher Art eine besonders starke Richtungsänderung der Hauptabstrahlrichtung des abgestrahlten Lichts 3 einstellen.
  • Beim in Verbindung mit 9 anhand einer schematischen Schnittdarstellung beschriebenen Ausführungsbeispiel des Licht emittierenden Halbleiterbauteils 1 sind die in Verbindung mit den 3, 4 und 2 beschriebenen Maßnahmen kombiniert. Das heißt, das Licht emittierende Halbleiterbauteil weist zumindest einen Leuchtdiodenchip 2 auf, der im Betrieb Licht 3 erzeugt. Ferner weist das Licht emittierende Halbleiterbauteil 1 eine ebene Chipmontagefläche 4 auf, auf der der zumindest eine Leuchtdiodenchip 2 befestigt ist, ein reflektierendes optisches Element 5, das zur Reflexion des im Betrieb des Leuchtdiodenchips erzeugten Lichts eingerichtet ist, eine Bauteilmontagefläche 6, die zur Befestigung des Halbleiterbauteils 1 eingerichtet ist, ein Licht brechendes optisches Element 7, das eine Strahlungseintrittsfläche 71 und eine Strahlungsaustrittsfläche 72 aufweist, und einen strahlungsdurchlässigen Vergusskörper 8, der den zumindest einen Leuchtdiodenchip 2 zumindest stellenweise formschlüssig umgibt und sich zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem zumindest einen Leuchtdiodenchip 2 befindet. Dabei ist das reflektierende optische Element hinsichtlich seiner reflektierenden Eigenschaften inhomogen ausgebildet. Vorliegend ist dazu eine gerichtet reflektierende Beschichtung 52 auf der diffus reflektierenden Fläche 51 stellenweise aufgebracht. Ferner weist die Bauteilmontagefläche 6 einen Neigungswinkel ungleich 0 mit der Chipmontagefläche 4 auf. Das Licht brechende optische Element ist dazu eingerichtet, die Richtung von durch die Strahlungseintrittsfläche 71 eintretender und aus der Strahlungsaustrittsfläche 72 austretender Strahlung zu ändern. Dies ist vorliegend durch die fresnelartige Ausgestaltung der Strahlungsaustrittsfläche 72 erreicht. Der strahlungsdurchlässige Vergusskörper 8 weist eine konvex gekrümmte Strahlungsaustrittsfläche 82 auf, die rotationssymmetrisch zu einer optischen Achse 83 des Vergusskörpers 8 angeordnet ist und der Leuchtdiodenchip 2 ist unzentriert oder versetzt zur optischen Achse 83 angeordnet.
  • Das vom Leuchtdiodenchip 2 im Betrieb erzeugte Licht wird also teilweise vom reflektierenden optischen Element 5 gerichtet reflektiert und tritt aus dem Vergusskörper 8 durch die Strahlungsaustrittsfläche 2 aus, die vorliegend an Luft grenzt. Aufgrund der unsymmetrischen Anordnung des Leuchtdiodenchips 2 im Vergusskörper 8 erfolgt eine weitere Richtungsänderung der Hauptabstrahlrichtung des Lichts. Beim nachfolgenden Durchtritt des Lichts 3 durch das Licht brechende optische Element 7 erfolgt schließlich eine weitere Änderung der Hauptabstrahlrichtung.
  • Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele auf diese beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.
  • Insbesondere eignet sich das hier beschriebene Halbleiterbauteil auch gut für die Verwendung mit einem Detektorchip – etwa einen Photodiodenchip –, der den Leuchtdiodenchip ersetzen kann. Bei dem Halbleiterbauteil handelt es sich dann um ein strahlungsempfangendes Halbleiterbauteil mit einer gezielt eingestellten schiefen Empfangscharakteristik des vom strahlungsempfangenden Halbleiterbauteil im Betrieb empfangenen Lichts. Die hier beschriebenen Ausführungsformen und Ausführungsbeispiele für das Licht emittierende Halbleiterbauteil sind auch für das strahlungsempfangende Halbleiterbauteil offenbart.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • WO 2009/033478 [0002]

Claims (10)

  1. Licht emittierendes Halbleiterbauteil (1) mit – zumindest einem Leuchtdiodenchip (2), der im Betrieb Licht (3) erzeugt, und – einer gezielt eingestellten schiefen Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts.
  2. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach dem vorherigen Anspruch mit – einer ebenen Chipmontagefläche (4), auf der der zumindest eine Leuchtdiodenchip (2) befestigt ist, und – einem reflektierenden optischen Element (5), das zur Reflexion des im Betrieb des Leuchtdiodenchips (2) erzeugten Lichts (3) eingerichtet ist, wobei – das reflektierende optische Element (5) den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) seitlich umgibt und – das reflektierende optische Element (5) hinsichtlich seiner reflektierenden Eigenschaften inhomogen ausgebildet ist.
  3. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach dem vorherigen Anspruch, bei dem das reflektierende optische Element (5) eine reflektierende Fläche (51) umfasst, die einen Neigungswinkel (α) zur Chipmontagefläche (4) aufweist, wobei sich der Neigungswinkel (α) beim Umlauf um den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) ändert.
  4. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem das reflektierende optische Element (5) den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) nur stellenweise seitlich umgibt.
  5. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach einem der vorherigen Ansprüche mit – einer Bauteilmontagefläche (6), die zur Befestigung des Halbeiterbauteils eingerichtet ist, wobei die Bauteilmontagefläche (6) einen weiteren Neigungswinkel (β) größer 0° mit der Chipmontagefläche (4) einschließt.
  6. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach einem der vorherigen Ansprüche mit – einem Licht brechenden optischen Element (7), das eine Strahlungseintrittfläche (71) und eine Strahlungsaustrittfläche (72) aufweist, wobei – das Licht brechende optische Element (7) dazu eingerichtet ist, die Richtung von durch die Strahlungseintrittfläche (71) eintretendem und aus der Strahlungsaustrittfläche (72) austretendem Licht, das vom zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) im Betrieb erzeugt wird, zu ändern.
  7. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach dem vorherigen Anspruch, bei dem die Strahlungseintrittfläche (71) und Strahlungsaustrittfläche (72) an Luft grenzen.
  8. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach dem vorvorherigen Anspruch, bei dem die Strahlungseintrittfläche (71) direkt an den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) grenzt.
  9. Licht emittierendes Halbleiterbauteil nach einem der vorherigen Ansprüche mit – einem strahlungsdurchlässigen Vergusskörper (8), der den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) zumindest stellenweise formschlüssig umgibt und sich zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) befindet, wobei – der strahlungsdurchlässige Vergusskörper (8) eine konvex gekrümmte Strahlungsaustrittsfläche (82) aufweist, die rotationssymmetrisch zu einer optischen Achse (83) des Vergusskörpers (8) angeordnet ist, und – der zumindest eine Leuchtdiodenchip (2) unzentriert oder versetzt zur optischen Achse (83) angeordnet ist.
  10. Licht emittierendes Halbleiterbauteil (1) mit – zumindest einem Leuchtdiodenchip (2), der im Betrieb Licht (3) erzeugt, – einer gezielt eingestellten schiefen Abstrahlcharakteristik des vom Licht emittierenden Halbleiterbauteil im Betrieb abgestrahlten Lichts, – einer ebenen Chipmontagefläche (4), auf der der zumindest eine Leuchtdiodenchip (2) befestigt ist, – einem reflektierenden optischen Element (5), das zur Reflexion des im Betrieb des Leuchtdiodenchips (2) erzeugten Lichts (3) eingerichtet ist und den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) seitlich umgibt, – einer Bauteilmontagefläche (6), die zur Befestigung des Halbeiterbauteils (1) eingerichtet ist, – einem Licht brechenden optischen Element (7), das eine Strahlungseintrittfläche (71) und eine Strahlungsaustrittfläche (72) aufweist, und – einem strahlungsdurchlässigen Vergusskörper (8), der den zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) zumindest stellenweise formschlüssig umgibt und sich zumindest stellenweise in direktem Kontakt mit dem zumindest einen Leuchtdiodenchip (2) befindet, wobei – das reflektierende optische Element (5) hinsichtlich seiner reflektierenden Eigenschaften inhomogen ausgebildet ist, – die Bauteilmontagefläche (6) einen weiteren Neigungswinkel (β) größer 0° mit der Chipmontagefläche (4) einschließt, – das Licht brechende optische Element (7) dazu eingerichtet ist, die Richtung von durch die Strahlungseintrittfläche (71) eintretendem und aus der Strahlungsaustrittfläche (72) austretendem Licht, das vom zumindest einem Leuchtdiodenchip (2) im Betrieb erzeugt wird, zu ändern, – der strahlungsdurchlässige Vergusskörper (8) eine konvex gekrümmte Strahlungsaustrittsfläche (82) aufweist, die rotationssymmetrisch zu einer optischen Achse (83) des Vergusskörpers (8) angeordnet ist, – der zumindest eine Leuchtdiodenchip (2) unzentriert oder versetzt zur optischen Achse (83) angeordnet ist, und – die Strahlungseintrittfläche (71) des Licht brechenden optischen Elements (7) der Strahlungsaustrittsfläche (82) des Vergusskörpers (8) nachgeordnet ist.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2590236A1 (de) * 2011-11-07 2013-05-08 Odelo GmbH Leuchtdiode und Leuchtmittel mit wenigstens zwei Leuchtdioden als Lichtquellen
DE102012107829A1 (de) * 2012-08-24 2014-02-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
WO2018197636A3 (de) * 2017-04-27 2018-12-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und verfahren zur herstellung einer beleuchtungsvorrichtung
US10263165B2 (en) 2015-01-12 2019-04-16 Osram Opto Semiconductor Gmbh Optoelectronic component with optical elements for beam shaping and beam deflection

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10085238T5 (de) * 1999-11-30 2004-04-29 Omron Corp. Optisches Bauteil und Vorrichtung mit diesem optischen Bauteil
WO2009033478A1 (de) 2007-09-14 2009-03-19 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Leucht-vorrichtung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2574780B2 (ja) * 1986-12-26 1997-01-22 オムロン株式会社 反射型光電スイッチ
US5130531A (en) * 1989-06-09 1992-07-14 Omron Corporation Reflective photosensor and semiconductor light emitting apparatus each using micro Fresnel lens
SE468027B (sv) * 1991-02-27 1992-10-19 Asea Brown Boveri Optoelektronisk komponent med halvledarelement innefattade i sluten kapsel, vilken kapsel bestaar av en kaapa som centreras och laases relativt en sockel medelst ett byggelement
GB9320637D0 (en) * 1993-10-07 1993-11-24 Bradbeer Peter F Proximity detectors
JP3319392B2 (ja) * 1998-06-17 2002-08-26 松下電器産業株式会社 半導体発光装置
JP4117868B2 (ja) * 1999-11-22 2008-07-16 シャープ株式会社 光結合素子
JP2004241757A (ja) * 2003-01-17 2004-08-26 Sharp Corp 光結合半導体装置とその製造方法
KR100738251B1 (ko) * 2005-09-05 2007-07-16 럭스피아(주) 발광 유니트 및 이를 채용한 직하 발광형 백라이트 장치
JP2008028025A (ja) * 2006-07-19 2008-02-07 Canon Inc 反射型センサ
DE102008025159A1 (de) * 2008-05-26 2009-12-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Halbleiterbauelement, Reflexlichtschranke und Verfahren zur Herstellung eines Gehäuses

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10085238T5 (de) * 1999-11-30 2004-04-29 Omron Corp. Optisches Bauteil und Vorrichtung mit diesem optischen Bauteil
WO2009033478A1 (de) 2007-09-14 2009-03-19 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Leucht-vorrichtung

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2590236A1 (de) * 2011-11-07 2013-05-08 Odelo GmbH Leuchtdiode und Leuchtmittel mit wenigstens zwei Leuchtdioden als Lichtquellen
DE102012107829A1 (de) * 2012-08-24 2014-02-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
US9356211B2 (en) 2012-08-24 2016-05-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic component and method of producing an optoelectronic component
DE102012107829B4 (de) 2012-08-24 2024-01-25 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronische Bauelemente und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
US10263165B2 (en) 2015-01-12 2019-04-16 Osram Opto Semiconductor Gmbh Optoelectronic component with optical elements for beam shaping and beam deflection
DE112016000316B4 (de) 2015-01-12 2021-11-18 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronisches Bauelement
WO2018197636A3 (de) * 2017-04-27 2018-12-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Beleuchtungsvorrichtung und verfahren zur herstellung einer beleuchtungsvorrichtung
US11041603B2 (en) 2017-04-27 2021-06-22 Osram Oled Gmbh Illumination device and method for manufacturing an illumination device

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