DE102009036843A1 - Method for producing a light-emitting diode and light-emitting diode - Google Patents

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Peter Dr. Stauss
Patrick Rode
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Abstract

Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode mit den folgenden Schritten angegeben: - Bereitstellen eines Trägersubstrats (10), das eine Silizium-Oberfläche (10a) aufweist, - epitaktisches Abscheiden einer aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20) auf der Silizium-Oberfläche (10a) des Trägersubstrats (10) zur Bildung eines Leuchtdiodenträgers (100), - Bereitstellen einer Leuchtdioden-Struktur (300) auf einem Aufwachsträger (200), - Verbinden der dem Aufwachsträger (200) abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur (300) mit der dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberfläche des Leuchtdiodenträgers (100), - Ablösen des Aufwachsträgers (200), - Herstellen zumindest eines p-Kontaktes (62) und eines n-Kontaktes (61) zum Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur (300) von der dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur (300) her.The invention relates to a method for producing a light-emitting diode comprising the following steps: providing a carrier substrate (10) having a silicon surface (10a), epitaxially depositing an aluminum-containing nitride layer sequence (20) on the silicon surface (10a ) of the carrier substrate (10) to form a light-emitting diode carrier (100), - providing a light-emitting diode structure (300) on a growth carrier (200), - connecting the surface of the light-emitting diode structure (300) facing away from the growth carrier (200) with the one Carrier substrate (10) facing away from the surface of the LED holder (100), - detachment of the Aufwachsträgers (200), - producing at least one p-contact (62) and an n-contact (61) for contacting the light-emitting diode structure (300) of the Carrier substrate (10) facing away from surface of the light-emitting diode structure (300) ago.

Description

Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode angegeben. Darüber hinaus wird eine Leuchtdiode angegeben.It a method for producing a light-emitting diode is specified. In addition, a light-emitting diode is specified.

Die Druckschrift WO2007096405 beschreibt ein Nitridhalbleiter-Bauelement und ein Verfahren zu dessen Herstellung. Der Offenbarungsgehalt dieser Druckschrift wird hiermit ausdrücklich durch Rückbezug aufgenommen.The publication WO2007096405 describes a nitride semiconductor device and a method for its production. The disclosure of this document is hereby expressly incorporated by reference.

Bei Hochleistungsleuchtdioden, die beispielsweise als Leuchtmittel in Lampen oder Scheinwerfern eingesetzt werden können, stellt die Ableitung von im Betrieb erzeugter Wärme ein wichtiges Problem dar. Ein weiteres Problem besteht darin, dass die Leuchtdioden eine Hochspannungsstabilität von wenigstens 100 V, zum Beispiel 500 V bis zirka vier kV aufweisen sollten.at High-performance light-emitting diodes, for example, as a light source in Lamps or headlamps can be used the dissipation of heat generated during operation is an important problem Another problem is that the light emitting diodes a High voltage stability of at least 100V, for example 500 V to about four kV should have.

Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, ein kostengünstiges Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode mit einem thermisch leitfähigen aber elektrisch isolierenden Leuchtdiodenträger anzugeben.A to be solved task is a cost-effective Method for producing a light-emitting diode with a thermal conductive but electrically insulating light-emitting diode carrier specify.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung einer Leuchtdiode wird in einem Verfahrensschritt ein Trägersubstrat bereitgestellt, das eine Silizium-Oberfläche aufweist. Dazu kann das Trägersubstrat beispielsweise aus Silizium bestehen. Ferner ist es möglich, dass es sich bei dem Trägersubstrat um ein SOI-Substrat (Silizium an Insulator) handelt. Bei der Silizium-Oberfläche des Trägersubstrats handelt es sich beispielsweise um eine (111)-Silizium-Oberfläche. Die Silizium-Oberfläche zeichnet sich durch ihre gute thermische Leitfähigkeit von zirka 140 W/(mK) aus.At least an embodiment of the method for producing a LED is provided in a process step, a carrier substrate, which has a silicon surface. For this purpose, the carrier substrate for example, consist of silicon. It is also possible in that the carrier substrate is an SOI substrate (Silicon to insulator) acts. At the silicon surface of the The carrier substrate is, for example, a (111) silicon surface. The silicon surface is characterized by its good thermal Conductivity of approximately 140 W / (mK).

Gemäß zumindest einer Ausführungsform eines hier beschriebenen Verfahrens zur Herstellung einer Leuchtdiode weist das Verfahren einen Verfahrensschritt auf, bei dem eine aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge auf der Silizium-Oberfläche epitaktisch abgeschieden wird. Die Schichtenfolge umfasst dabei zumindest eine Schicht. Die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge umfasst vorzugsweise zumindest eine Schicht, die aus einem Material besteht, dass Aluminium und Stickstoff aufweist. Das Material kann darüber hinaus weitere Stoffe wie Silizium und/oder Gallium und/oder Indium umfassen.At least an embodiment of a method described herein For producing a light-emitting diode, the method has a method step in which an aluminum-containing nitride layer sequence on the Silicon surface is deposited epitaxially. The Layer sequence comprises at least one layer. The aluminum-containing Nitride layer sequence preferably comprises at least one layer, which consists of a material that has aluminum and nitrogen. The material can also contain other substances such as silicon and / or gallium and / or indium.

Die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge und das Trägersubstrat, auf welches die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge epitaktisch abgeschieden ist, bilden einen Leuchtdiodenträger. Der Leuchtdiodenträger ist elektrisch isolierend und weist eine Hochspannungsstabilität von wenigstens 500 V auf. Vorzugsweise weist der Leuchtdiodenträger eine Durchbruchspannung von größer 1 kV auf. Solch hohe Durchbruchspannungen können insbesondere aufgrund der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge des Leuchtdiodenträgers erzielt werden. Zum Beispiel ist die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge elektrisch isolierend.The aluminum-containing nitride layer sequence and the carrier substrate, on which the aluminum-containing nitride layer sequence epitaxially is deposited, forming a light-emitting diode. Of the Light-emitting diode carrier is electrically insulating and has a high voltage stability of at least 500V. Preferably the light-emitting diode carrier has a breakdown voltage of greater than 1 kV. Such high breakdown voltages may in particular due to the aluminum-containing nitride layer sequence of the LED carrier can be achieved. For example the aluminum-containing nitride layer sequence electrically insulating.

Die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge wird beispielsweise mittels einer der folgenden Wachstumstechniken auf die Silizium-Oberfläche des Trägersubstrats epitaktisch abgeschieden: MOVPE (Metallorganische Gasphasenepitaxie), HVPE (Hydridgasphasenepitaxie), MBE (Molekularstrahlepitaxie).The aluminum-containing nitride layer sequence is, for example, by means of one of the following growth techniques on the silicon surface of the Carrier substrate epitaxially deposited: MOVPE (organometallic Gas phase epitaxy), HVPE (hydride gas phase epitaxy), MBE (Molecular Beam Epitaxy).

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens umfasst das Verfahren einen Verfahrensschritt, bei dem eine Leuchtdioden-Struktur auf einem Aufwachsträgerbereitgestellt wird. Beispielsweise wird dazu ein Wafer bereitgestellt, bei dem eine Leuchtdioden-Struktur epitaktisch auf den Aufwachsträger abgeschieden ist. Der Aufwachsträger kann dabei beispielsweise Silizium, Saphir, Siliziumcarbid oder Galliumnitrid enthalten oder aus einem dieser Materialien bestehen. Die Leuchtdioden-Struktur basiert beispielsweise auf dem Materialsystem InGaN. Die Leuchtdioden-Struktur umfasst wenigstens eine aktive Zone, die zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung vorgesehen ist. Die Leuchtdioden-Struktur kann durchtrennt werden. Dadurch kann die Leuchtdioden-Struktur in eine Vielzahl von Leuchtdiodenchips vereinzelt werden.At least An embodiment of the method comprises the method a process step in which a light-emitting diode structure on a Wake up vehicle is provided. For example For this purpose, a wafer is provided in which a light-emitting diode structure epitaxially deposited on the growth support. Of the Growth carrier can be, for example, silicon, sapphire, Silicon carbide or gallium nitride or from one of these Materials exist. The light-emitting diode structure is based, for example on the material system InGaN. The light-emitting diode structure comprises at least an active zone used to generate electromagnetic radiation is provided. The light-emitting diode structure can be cut through. As a result, the light-emitting diode structure can be divided into a plurality of light-emitting diode chips to be isolated.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung einer Leuchtdiode umfasst das Verfahren einen Verfahrensschritt, bei dem die dem Aufwachsträger abgewandte Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur mit der dem Trägersubstrat abgewandten Oberfläche des Leuchtdiodenträgers verbunden wird. Das heißt, die Leuchtdioden-Struktur wird mit der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge verbunden. Dies kann beispielsweise mittels eines Lotmaterials geschehen, welches eine mechanisch stabile Verbindung zwischen der Leuchtdioden-Struktur und dem Leuchtdiodenträger vermittelt. Das Verbinden kann dann zum Beispiel über eutektisches Bonden geschehen. Das Verbindungsmittel kann dabei auch aus zwei oder mehr Materialien bestehen und elektrisch leitfähig oder elektrisch isolierend sein.At least an embodiment of the method for producing a Light emitting diode, the method comprises a method step in which the growth carrier facing away from the surface Light-emitting diode structure with the carrier substrate facing away Surface of the LED holder is connected. That is, the light-emitting diode structure comes with the aluminum-containing Nitride layer sequence connected. This can be done for example by means of a solder material happen, which is a mechanically stable compound mediated between the light-emitting diode structure and the LED support. The bonding may then be eutectic, for example Bonding happened. The connecting means can also consist of two or more materials and electrically conductive or be electrically insulating.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird in einem weiteren Verfahrensschritt der Aufwachsträger von der Leuchtdioden-Struktur abgelöst. Dies kann beispielsweise mittels eines Schleifens, Ätzens und/oder Laser-Lift-Off-Verfahrens geschehen. Nach dem Ablösen des Aufwachsträgers liegt die dem Trägersubstrat abgewandte Oberfläche, also die Oberseite, der Leuchtdioden-Struktur frei.At least an embodiment of the method is in another Process step of the growth carrier of the light-emitting diode structure replaced. This can be done, for example, by means of grinding, etching and / or laser lift-off procedure happen. After peeling off of the growth carrier is the carrier substrate remote surface, so the top, the light-emitting diode structure free.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird in einem Verfahrensschritt des Verfahrens zumindest ein p-Kontakt und zumindest ein n-Kontakt zum Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur von der dem Trägersubstrat abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur aus hergestellt. Das heißt, die Leuchtdioden-Struktur ist dann von der gleichen Seite her sowohl n-seitig als auch p-seitig kontaktierbar. Beispielsweise ist die dem Trägersubstrat abgewandte Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur die n-leitende Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur. Zum Beispiel mittels Ätzen kann ein Kanal in der Leuchtdioden-Struktur von der Oberseite her erzeugt werden, der bis zur p-leitenden Seite der Leuchtdioden-Struktur reicht und der mit dem p-Kontakt an der Oberseite der Leuchtdioden-Struktur verbunden werden kann. Vorzugsweise wird für jeden späteren Leuchtdiodenchip der Leuchtdioden-Struktur wenigstens ein p-Kontakt und wenigstens ein n-Kontakt in der beschriebenen Weise hergestellt.At least an embodiment of the method is in a process step of the method at least one p-contact and at least one n-contact for contacting the light-emitting diode structure from the carrier substrate turned away surface of the light-emitting diode structure made. That is, the light-emitting diode structure is then the same Side can be contacted on both the n-side and the p-side. For example is the surface facing away from the carrier substrate the light-emitting diode structure of the n-conductive surface of the Light-emitting diode structure. For example, by etching can a channel in the light emitting diode structure generated from the top which are up to the p-type side of the light-emitting diode structure ranges and the one with the p-contact at the top of the light-emitting diode structure can be connected. Preferably, for each later LED chip of the light-emitting diode structure at least one p-contact and at least one n-contact made in the manner described.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens zur Herstellung einer Leuchtdiode umfasst das Verfahren die folgenden Schritte vorzugsweise in der folgenden Reihenfolge:

  • – Bereitstellen eines Trägersubstrats, das eine Silizium-Oberfläche aufweist,
  • – Epitaktisches Abscheiden einer aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge auf der Silizium-Oberfläche des Trägersubstrats zur Bildung eines Leuchtdiodenträgers,
  • – Bereitstellen einer Leuchtdioden-Struktur auf einem Aufwachsträger,
  • – Verbinden der dem Aufwachsträger abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur mit der dem Trägersubstrat abgewandten Oberfläche des Leuchtdiodenträgers,
  • – Ablösen des Aufwachsträgers,
  • – Herstellen zumindest eines p-Kontakts und eines n-Kontaktes zum Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur von der dem Trägersubstrat abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur her.
According to at least one embodiment of the method for producing a light-emitting diode, the method preferably comprises the following steps in the following order:
  • Providing a carrier substrate having a silicon surface,
  • Epitactically depositing an aluminum-containing nitride layer sequence on the silicon surface of the carrier substrate to form a light-emitting diode carrier,
  • Providing a light-emitting diode structure on a growth carrier,
  • Connecting the surface of the light-emitting diode structure facing away from the growth carrier to the surface of the light-emitting diode carrier facing away from the carrier substrate,
  • Detachment of the growth carrier,
  • - Producing at least one p-contact and an n-contact for contacting the light-emitting diode structure of the carrier substrate remote from the surface of the light-emitting diode structure ago.

Das hier beschriebene Verfahren weist dabei unter anderem die folgenden Vorteile auf:
Zum einen zeichnet sich der Leuchtdiodenträger durch eine gute thermische Leitfähigkeit aus, die beispielsweise über der thermischen Leitfähigkeit von Germanium oder einer Al2O3-Keramik liegt. Ferner kann als Trägersubstrat ein Silizium-Wafer Verwendung finden, der besonders kostengünstig ist. Ferner zeichnet sich das Trägersubstrat mit der Silizium-Oberfläche durch eine gute Verarbeitbarkeit aus, da Silizium-Standardtechnologien, die beispielsweise bei der Chipherstellung eingesetzt werden, Verwendung finden können. Trägersubstrate mit einer Silizium-Oberfläche sind ferner beispielsweise besser verfügbar als zum Beispiel Saphir-Substrate.
The method described here has, among other things, the following advantages:
On the one hand, the light-emitting diode carrier is distinguished by a good thermal conductivity, which, for example, lies above the thermal conductivity of germanium or an Al 2 O 3 ceramic. Furthermore, a silicon wafer can be used as the carrier substrate, which is particularly cost-effective. Furthermore, the carrier substrate with the silicon surface is characterized by a good processability, since standard silicon technologies, which are used for example in chip production, can be used. Support substrates having a silicon surface are also more readily available than, for example, sapphire substrates.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens umfasst der Aufwachsträger der Leuchtdioden-Struktur ein Aufwachssubstrat und eine Pufferschichtenfolge, wobei die Pufferschichtenfolge epitaktisch auf eine Aufwachsoberfläche des Aufwachssubstrats abgeschieden ist. Das heißt, der Aufwachsträger ist – ähnlich wie der Leuchtdiodenträger – zumindest zweiteilig aufgebaut: Er weist ein Aufwachssubstrat auf und eine Pufferschichtenfolge, deren dem Aufwachssubstrat abgewandte Oberfläche als Aufwachsoberfläche für das epitaktische Abscheiden der Leuchtdioden-Struktur dient.At least An embodiment of the method comprises the growth carrier the light-emitting diode structure a growth substrate and a buffer layer sequence, wherein the buffer layer sequence is epitaxially applied to a growth surface of the growth substrate is deposited. That is, the growth carrier is - similar to the LED - at least constructed in two parts: it has a growth substrate and a Buffer layer sequence, the surface facing away from the growth substrate as growth surface for the epitaxial deposition the light-emitting diode structure is used.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens ist die Aufwachsoberfläche des Aufwachssubstrats dabei eine Silizium Oberfläche. Für das Aufwachssubstrat kann dann beispielsweise ein Silizium-Wafer Verwendung finden. Ferner ist es möglich, dass es sich bei dem Aufwachssubstrat um einen SOI-Wafer handelt. Bei der Silizium-Oberfläche handelt es sich beispielsweise um eine (111)-Silizium-Oberfläche.At least An embodiment of the method is the growth surface of the growth substrate while a silicon surface. For the Growth substrate may then use, for example, a silicon wafer Find. Further, it is possible that the growth substrate is an SOI wafer. At the silicon surface For example, it is a (111) silicon surface.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens umfasst die Pufferschichtenfolge zumindest eine aluminiumhaltige Nitrid-Schicht. Das heißt, auch die Pufferschichtenfolge ist eine aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge. Die Leuchtdioden-Struktur wird also epitaktisch auf eine aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge abgeschieden.At least An embodiment of the method comprises the buffer layer sequence at least one aluminum-containing nitride layer. This means, The buffer layer sequence is also an aluminum-containing nitride layer sequence. The light-emitting diode structure is thus epitaxially on an aluminum-containing Nitride layer sequence deposited.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens enthalten oder bestehen die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge des Leuchtdiodenträgers und/oder die Pufferschichtenfolge des Aufwachsträgers eines der folgenden Materialien: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN. Zusätzlich oder alternativ können die Schichtenfolgen auch Schichten aus weiteren Materialien wie beispielsweise InGaN oder GaN umfassen. Beispielsweise ist es möglich, dass die Schichtenfolgen Einzelschichten umfassen, die aus zumindest einem der genannten Materialien bestehen. Bevorzugt enthält jede der Schichtenfolgen zumindest eine aluminiumhaltige Nitrid-Schicht, die beispielsweise aus AlN oder aus AlGaN besteht.At least contain or consist of an embodiment of the method the aluminum-containing nitride layer sequence of the light-emitting diode carrier and / or the buffer layer sequence of the growth carrier of a the following materials: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN. additionally or alternatively, the layer sequences can also be layers from other materials such as InGaN or GaN. For example, it is possible that the layer sequences Single layers comprising at least one of said Materials exist. Preferably, each of the layer sequences contains at least an aluminum-containing nitride layer, for example made of AlN or AlGaN.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens sind der Aufwachsträger und der Leuchtdiodenträger identisch aufgebaut. Beispielsweise weisen beide Träger eine Silizium-Oberfläche auf, auf welche die gleiche aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge epitaktisch abgeschieden ist. Vorteilhafterweise können dann für die Erzeugung des Aufwachsträgers und des Leuchtdiodenträgers die gleichen Technologien sowie die gleichen Herstellungsapparate Verwendung finden.At least An embodiment of the method is the growth carrier and the LED support constructed identically. For example both carriers have a silicon surface, to which the same aluminum-containing nitride layer sequence epitaxially is deposited. Advantageously, then for the generation of the growth carrier and the LED holder the same technologies as well as the same manufacturing equipment Find use.

Ferner erweist es sich bei dem Verbinden der Leuchtdioden-Struktur mit dem Leuchtdiodenträger als besonders vorteilhaft, dass der Aufwachsträger und der Leuchtdiodenträger identisch aufgebaut sind, da die beiden Träger die gleichen thermischen Eigenschaften aufweisen. Dies führt zu einer Reduktion von thermischen Verspannungen beim Verbinden. Die thermischen Verspannungen können beispielsweise durch Erhitzen einer Lotschicht zwischen der Leuchtdioden-Struktur und dem Leuchtdiodenträger entstehen. Auch die thermischen Belastungen durch thermische Verspannungen beim Ablösen des Aufwachsträgers von der Leuchtdioden-Struktur sind in diesem Fall reduziert.Furthermore, it proves to be particularly advantageous in connecting the light-emitting diode structure to the light-emitting diode carrier that the growth carrier and the light-emitting diode carrier are constructed identically, since the two carriers have the same thermal properties. This leads to a reduction of thermal stresses during bonding. The thermal stresses can arise, for example, by heating a solder layer between the light-emitting diode structure and the light-emitting diode carrier. The thermal stresses due to thermal stresses when detaching the growth carrier from the light-emitting diode structure are also reduced in this case.

Es wird darüber hinaus eine Leuchtdiode angegeben. Die hier beschriebene Leuchtdiode kann mittels dem hier beschriebenen Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode hergestellt werden. Das heißt, sämtliche für das Verfahren offenbarten Merkmale sind auch für die hier beschriebene Leuchtdiode offenbart und umgekehrt.It In addition, a light-emitting diode is specified. This one described light emitting diode can by means of the method described here for producing a light-emitting diode are produced. This means, all features disclosed for the method are also disclosed for the light-emitting diode described here and vice versa.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der Leuchtdiode umfasst die Leuchtdiode ein Trägersubstrat, das eine Silizium-Oberfläche aufweist. Ferner umfasst die Leuchtdiode eine aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge, die auf der Silizium-Oberflächedes Trägersubstrats aufgebracht ist. Die Leuchtdiode umfasst ferner eine Verbindungsmittelschicht auf der dem Trägersubstrat abgewandten Oberfläche der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge. Bei der Verbindungsmittelschicht handelt es sich beispielsweise um eine Lotschicht. Die Verbindungsmittelschicht kann dabei auch aus mehreren Schichten aufgebaut sein, die beim Verbinden von Trägersubstrat und einer Leuchtdioden-Struktur durchmischen.At least An embodiment of the light emitting diode comprises the light emitting diode a carrier substrate having a silicon surface having. Furthermore, the light-emitting diode comprises an aluminum-containing nitride layer sequence, that on the silicon surface of the carrier substrate is applied. The light-emitting diode further comprises a connecting medium layer the carrier substrate facing away from the surface of the aluminum-containing nitride layer sequence. In the bonding agent layer For example, it is a layer of solder. The bonding agent layer can also be made up of several layers, the at Connecting carrier substrate and a light-emitting diode structure mix thoroughly.

Die Leuchtdiode umfasst ferner eine Leuchtdioden-Struktur auf der der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge abgewandten Oberfläche der Verbindungsmittelschicht. Schließlich umfasst die Leuchtdioden-Struktur an ihrer dem Trägersubstrat abgewandten Oberseite zumindest einen n-Kontakt und zumindest einen p-Kontakt, wobei die Kontakte zum n-seitigen und p-seitigen Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur dienen. Eine Strahlungsaustrittsfläche der Leuchtdioden-Struktur, durch die im Betrieb der Leuchtdiode erzeugte elektromagnetische Strahlung die Leuchtdioden-Struktur verlassen kann, befindet sich vorzugsweise an der Oberseite der Leuchtdioden-Struktur.The Light-emitting diode further comprises a light-emitting diode structure on the aluminum-containing nitride layer sequence facing away from the surface the bonding agent layer. Finally, the light-emitting diode structure includes at least on its upper side facing away from the carrier substrate an n-contact and at least one p-contact, wherein the contacts to the n-side and p-side contacting the light-emitting diode structure serve. A radiation exit surface of the light-emitting diode structure, by the electromagnetic generated during operation of the light emitting diode Radiation can leave the light-emitting diode structure is located preferably at the top of the light-emitting diode structure.

Gemäß zumindest einer Ausführungsform der Leuchtdiode ist zwischen der Leuchtdioden-Struktur und der Verbindungsmittelschicht eine reflektierende Schicht angeordnet, die zur Reflexion von im Betrieb der Leuchtdiode erzeugter elektromagnetischer Strahlung in Richtung der Oberseite der Leuchtdioden-Struktur eingerichtet ist. Bei der reflektierenden Schicht handelt es sich also um einen Spiegel, der erzeugte elektromagnetische Strahlung in Richtung der Strahlungsaustrittsfläche, also in Richtung der Oberseite der Leuchtdioden-Struktur, reflektiert. Beispielsweise enthält der Spiegel ein Metall wie Silber und/oder es handelt sich um einen dielektrischen Spiegel.At least an embodiment of the light emitting diode is between the Light-emitting diode structure and the connecting medium layer a reflective Layer arranged for the reflection of generated during operation of the light emitting diode electromagnetic radiation in the direction of the top of the light-emitting diode structure is set up. The reflective layer is So a mirror, the generated electromagnetic radiation in the direction of the radiation exit surface, ie in the direction the top of the light-emitting diode structure, reflected. For example The mirror contains a metal like silver and / or it acts a dielectric mirror.

Im Folgenden werden das hier beschriebene Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode sowie die hier beschriebene Leuchtdiode anhand von Ausführungsbeispielen und den zugehörigen Figuren näher erläutert.in the Following are the methods of preparation described herein a light-emitting diode and the light-emitting diode described here based on of embodiments and the associated Figures explained in more detail.

Anhand der schematischen Schnittdarstellungen der 1A bis 1D ist ein Ausführungsbeispiel eines hier beschriebenen Verfahrens näher erläutert.Based on the schematic sectional views of 1A to 1D an embodiment of a method described here is explained in more detail.

Anhand der schematischen Schnittdarstellungen der 1D und 2 sind Ausführungsbeispiele einer hier beschriebenen Leuchtdiode näher erläutert.Based on the schematic sectional views of 1D and 2 Embodiments of a light-emitting diode described here are explained in more detail.

Gleiche, gleichartige oder gleich wirkende Elemente sind in den Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen. Die Figuren und die Größenverhältnisse der in den Figuren dargestellten Elemente untereinander sind nicht als maßstäblich zu betrachten. Vielmehr können einzelne Elemente zur besseren Darstellbarkeit und/oder zum besseren Verständnis übertrieben groß dargestellt sein.Same, similar or equivalent elements are in the figures with provided the same reference numerals. The figures and the proportions the elements shown in the figures with each other are not to be considered to scale. Rather, you can individual elements for better presentation and / or for better Understanding shown exaggeratedly large be.

Anhand der schematischen Schnittdarstellung der 1A ist ein erster Verfahrensschritt eines hier beschriebenen Verfahrens näher erläutert. Bei dem Verfahren wird zunächst ein Leuchtdiodenträger 100 bereitgestellt. Vorliegend umfasst der Leuchtdiodenträger ein Trägersubstrat 10, das durch einen Silizium-Wafer gebildet ist. Das Trägersubstrat 10 weist eine Silizium-Oberfläche 10a, beispielsweise eine (111)-Silizium-Oberfläche auf. Auf der Silizium-Oberfläche 10a ist eine aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge 20 mit Einzelschichten 21 epitaktisch abgeschieden. Beispielsweise weist die aluminiumhaltig Nitrid-Schichtenfolge 20 vom Trägersubstrat 10 aus gesehen die folgenden Einzelschichten in der folgenden Reihenfolge auf: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN, GaN. Ferner ist auch folgende Schichtabfolge möglich: AlN, AlGaN, AlGaN. Bei der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge 20 handelt es sich vorzugsweise um eine elektrisch isolierende Schichtenfolge.Based on the schematic sectional view of 1A a first method step of a method described here is explained in more detail. In the method, first, a light-emitting diode carrier 100 provided. In the present case, the light-emitting diode carrier comprises a carrier substrate 10 which is formed by a silicon wafer. The carrier substrate 10 has a silicon surface 10a For example, a (111) silicon surface. On the silicon surface 10a is an aluminum-containing nitride layer sequence 20 with single layers 21 epitaxially deposited. For example, the aluminum-containing nitride layer sequence 20 from the carrier substrate 10 from the following individual layers in the following order: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN, GaN. Furthermore, the following layer sequence is also possible: AlN, AlGaN, AlGaN. For the aluminum-containing nitride layer sequence 20 it is preferably an electrically insulating layer sequence.

In Verbindung mit der schematischen Schnittdarstellung der 1B ist eine Leuchtdioden-Struktur 300 dargestellt, die auf einen Aufwachsträger 200 epitaktisch abgeschieden ist. Der Aufwachsträger 200 umfasst ein Aufwachssubstrat 30 und eine Pufferschichtenfolge 40, die auf die Aufwachsoberfläche 30a des Aufwachsträgers 30 epitaktisch abgeschieden ist und Einzelschichten 41 umfasst.In conjunction with the schematic sectional view of 1B is a light-emitting diode structure 300 shown on a growth carrier 200 epitaxially deposited. The growth carrier 200 comprises a growth substrate 30 and a buffer layer sequence 40 pointing to the waxing surface 30a of the growth carrier 30 is epitaxially deposited and single layers 41 includes.

Vorliegend ist das Aufwachssubstrat 30 identisch zum Trägersubstrat 10 gewählt, die Pufferschichtenfolge 40 ist identisch zur Nitrid-Schichtenfolge 20 gewählt. Bei der Leuchtdioden-Struktur 300 handelt es sich um eine auf dem Materialsystem InGaN basierenden Leuchtdioden-Struktur.The present invention is the growth substrate 30 identical to the carrier substrate 10 chosen, the buffer layer sequence 40 is identical to the nitride layer sequence 20 selected. In the light-emitting diode structure 300 is a light-emitting diode structure based on the InGaN material system.

Im in Verbindung mit der 1C schematisch dargestellten Verfahrensschritt werden die Leuchtdioden-Struktur 300 und der Aufwachsträger 200 mit dem Leuchtdiodenträger 100 verbunden. Dazu wird eine Verbindungsmittelschicht 50, zum Beispiel eine Lotschicht, an der dem Aufwachsträger 200 abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur 300 angeordnet. Das Verbinden erfolgt beispielsweise durch Erhitzen der Verbindungsmittelschicht 50.Im in conjunction with the 1C schematically illustrated step, the light-emitting diode structure 300 and the growth carrier 200 with the LED holder 100 connected. For this purpose, a connecting medium layer 50 , for example a layer of solder, at the growth support 200 remote surface of the light-emitting diode structure 300 arranged. The bonding takes place, for example, by heating the bonding agent layer 50 ,

In einem weiteren Verfahrensschritt, siehe dazu die schematische Schnittdarstellung der 1D, wird der Aufwachsträger 200 von der Leuchtdioden-Struktur 300 abgelöst. Dies kann beispielsweise durch Schleifen, Ätzen und/oder Laser-Lift-Off geschehen.In a further process step, see the schematic sectional view of 1D , becomes the growth bearer 200 from the light-emitting diode structure 300 replaced. This can be done for example by grinding, etching and / or laser lift-off.

Die durch das Ablösen des Aufwachsträgers 200 freigelegte Oberseite 300a der Leuchtdioden-Struktur 300 bildet die Strahlungsaustrittsfläche der Leuchtdioden-Struktur 300. Von der Oberseite 300a der Leuchtdioden-Struktur 300 her werden ein n-Kontakt 61 und ein p-Kontakt 62 zum elektrischen Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur 300 erzeugt. An der Oberseite 300a kann die Leuchtdioden-Struktur 300, wie in der 1D schematisch dargestellt, Aufrauungen aufweisen, die die Wahrscheinlichkeit für einen Strahlungsaustritt erhöhen. In der 1D ist dabei eine bereits vereinzelte Leuchtdioden-Struktur 300 dargestellt, die einen einzigen Leuchtdiodenchip bildet.The by the detachment of the growth carrier 200 exposed top 300a the light-emitting diode structure 300 forms the radiation exit surface of the light-emitting diode structure 300 , From the top 300a the light-emitting diode structure 300 Here's an n-contact 61 and a p-contact 62 for electrically contacting the light-emitting diode structure 300 generated. At the top 300a can the light-emitting diode structure 300 , like in the 1D shown schematically, have roughening, which increase the probability of radiation leakage. In the 1D is an already isolated light-emitting diode structure 300 shown, which forms a single LED chip.

Im Ausführungsbeispiel der 1D kann beispielsweise die Verbindungsmittelschicht 50 als Spiegel für die in der Leuchtdioden-Struktur 300 erzeugte elektromagnetische Strahlung dienen und diese in Richtung der Oberfläche 300a der Leuchtdioden-Struktur 300 reflektieren.In the embodiment of 1D For example, the bonding agent layer 50 as a mirror for in the light-emitting diode structure 300 generated electromagnetic radiation and these serve in the direction of the surface 300a the light-emitting diode structure 300 reflect.

In Verbindung mit der schematischen Schnittdarstellung der 2 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel einer hier beschriebenen Leuchtdiode näher erläutert. In diesem Ausführungsbeispiel umfasst die Leuchtdiode einen Leuchtdiodenträger 100 mit einem Trägersubstrat 10 und einer aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge 20 an der Silizium-Oberfläche 10a des Trägersubstrats 10. Die Leuchtdioden-Struktur 300 ist mittels der Verbindungsmittelschicht 50 mit dem Leuchtdiodenträger 100 verbunden.In conjunction with the schematic sectional view of 2 a further embodiment of a light-emitting diode described here is explained in more detail. In this exemplary embodiment, the light-emitting diode comprises a light-emitting diode carrier 100 with a carrier substrate 10 and an aluminum-containing nitride layer sequence 20 on the silicon surface 10a of the carrier substrate 10 , The light-emitting diode structure 300 is by means of the bonding agent layer 50 with the LED holder 100 connected.

Zusätzlich zum in Verbindung mit der 1D dargestellten Ausführungsbeispiel einer hier beschriebenen Leuchtdiode umfasst die in Verbindung mit der 2 beschriebene Leuchtdiode eine reflektierende Schicht 70, die an der der Oberseite 300a abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur 300 angeordnet ist. Die reflektierende Schicht 70 wirkt als Spiegel für die im Betrieb der Leuchtdiode in der Leuchtdioden-Struktur 300 erzeugte elektromagnetische Strahlung und reflektiert diese in Richtung der Oberseite 300a der Leuchtdioden-Struktur.In addition to in conjunction with the 1D illustrated embodiment of a light-emitting diode described here includes in connection with the 2 described light emitting diode a reflective layer 70 at the top 300a remote surface of the light-emitting diode structure 300 is arranged. The reflective layer 70 acts as a mirror for the operation of the light emitting diode in the light emitting diode structure 300 generated electromagnetic radiation and reflects it towards the top 300a the light-emitting diode structure.

Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele auf diese beschränkt. Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist.The The invention is not by the description based on the embodiments limited to these. Rather, the invention comprises each new feature as well as any combination of features, which in particular any combination of features in the claims includes, even if this feature or this combination itself not explicitly in the patent claims or embodiments is specified.

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • - WO 2007096405 [0002] - WO 2007096405 [0002]

Claims (9)

Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode mit den folgenden Schritten: – Bereitstellen eines Trägersubstrats (10), das eine Silizium-Oberfläche (10a) aufweist, – epitaktisches Abscheiden einer aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20) auf der Silizium-Oberfläche (10a) des Trägersubstrats (10) zur Bildung eines Leuchtdiodenträgers (100), – Bereitstellen einer Leuchtdioden-Struktur (300) auf einem Aufwachsträger (200), – Verbinden der dem Aufwachsträger (200) abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur (300) mit der dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberfläche des Leuchtdiodenträgers (100), – Ablösen des Aufwachsträgers (200), – Herstellen zumindest eines p-Kontaktes (62) und eines n-Kontaktes (61) zum Kontaktieren der Leuchtdioden-Struktur (300) von der dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberfläche der Leuchtdioden-Struktur (300) her.Method for producing a light-emitting diode, comprising the following steps: - providing a carrier substrate ( 10 ), which has a silicon surface ( 10a ), - epitaxially depositing an aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ) on the silicon surface ( 10a ) of the carrier substrate ( 10 ) for forming a light-emitting diode carrier ( 100 ), - providing a light-emitting diode structure ( 300 ) on a growth carrier ( 200 ), - connecting the growth carrier ( 200 ) facing away from the surface of the light-emitting diode structure ( 300 ) with the carrier substrate ( 10 ) facing away from the surface of the LED ( 100 ), - detachment of the growth carrier ( 200 ), - producing at least one p-contact ( 62 ) and an n-contact ( 61 ) for contacting the light-emitting diode structure ( 300 ) from the carrier substrate ( 10 ) facing away from the surface of the light-emitting diode structure ( 300 ) ago. Verfahren gemäß dem vorherigen Anspruch, wobei der Aufwachsträger (200) ein Aufwachsubstrat (30) und eine Pufferschichtenfolge (40) umfasst und wobei die Pufferschichtenfolge (40) epitaktisch auf eine Aufwachsoberfläche (30a) des Aufwachsubstrats (30) abgeschieden ist.Method according to the preceding claim, wherein the growth carrier ( 200 ) a growth substrate ( 30 ) and a buffer layer sequence ( 40 ) and wherein the buffer layer sequence ( 40 ) epitaxially on a growth surface ( 30a ) of the growth substrate ( 30 ) is deposited. Verfahren gemäß dem vorherigen Anspruch, wobei die Aufwachsoberfläche (30a) eine Silizium-Oberfläche ist.Method according to the preceding claim, wherein the growth surface ( 30a ) is a silicon surface. Verfahren gemäß einem der beiden vorherigen Ansprüche, wobei die Pufferschichtenfolge (40) eine aluminiumhaltige Nitrid-Schicht (41) umfasst.Method according to one of the two preceding claims, wherein the buffer layer sequence ( 40 ) an aluminum-containing nitride layer ( 41 ). Verfahren gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei die aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20) und/oder die Pufferschichtenfolge (40) eines der folgenden Materialien umfasst oder aus einem der folgenden Materialien besteht: AlN, AlGaN, InGaN, SiGaN, SiAlGaN.Method according to one of the preceding claims, wherein the aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ) and / or the buffer layer sequence ( 40 ) comprises one of the following materials or consists of one of the following materials: AlN, AlGaN, InGaN, SiGaN, SiAlGaN. Verfahren gemäß einem der vorherigen Ansprüche, wobei der Aufwachsträger (200) und der Leuchtdiodenträger (100) identisch aufgebaut sind.Method according to one of the preceding claims, wherein the growth carrier ( 200 ) and the light-emitting diode carrier ( 100 ) are constructed identically. Leuchtdiode mit – einem Trägersubstrat (10), das eine Silizium-Oberfläche (10a) aufweist, – einer aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20) auf der Silizium-Oberfläche (10a) des Trägersubstrats (10), – einer Verbindungsmittelschicht (50) auf der dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberfläche der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20), – einer Leuchtdioden-Struktur (300) auf der der aluminiumhaltigen Nitrid-Schichtenfolge (20) abgewandten Oberfläche der Verbindungsmittelschicht (50), wobei – die Leuchtdioden-Struktur (300) an ihrer dem Trägersubstrat (10) abgewandten Oberseite (300a) zumindest einen n-Kontakt (61) und zumindest einen p-Kontakt (62) aufweist.Light-emitting diode with - a carrier substrate ( 10 ), which has a silicon surface ( 10a ), - an aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ) on the silicon surface ( 10a ) of the carrier substrate ( 10 ), - a bonding agent layer ( 50 ) on the carrier substrate ( 10 ) facing away from the surface of the aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ), - a light-emitting diode structure ( 300 ) on the aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ) facing away from the surface of the bonding agent layer ( 50 ), wherein - the light-emitting diode structure ( 300 ) at its the carrier substrate ( 10 ) facing away from the top ( 300a ) at least one n-contact ( 61 ) and at least one p-contact ( 62 ) having. Leuchtdiode nach dem vorherigen Anspruch, bei der die aluminiumhaltige Nitrid-Schichtenfolge (20) eines der folgenden Materialien umfasst oder aus einem der folgenden Materialien besteht: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN, InGaN.Light-emitting diode according to the preceding claim, in which the aluminum-containing nitride layer sequence ( 20 ) comprises one of the following materials or consists of one of the following materials: AlN, AlGaN, SiGaN, SiAlGaN, InGaN. Leuchtdiode nach einem der beiden vorherigen Ansprüche, bei der zwischen der Leuchtdioden-Struktur (300) und der Verbindungsmittelschicht (50) eine reflektierende Schicht (70) angeordnet ist, die zur Reflektion von im Betrieb der Leuchtdiode erzeugter elektromagnetischer Strahlung in Richtung der Oberseite (300a) der Leuchtdioden-Struktur (300) eingerichtet ist.Light-emitting diode according to one of the two preceding claims, in which between the light-emitting diode structure ( 300 ) and the bonding agent layer ( 50 ) a reflective layer ( 70 ) arranged for reflecting electromagnetic radiation generated in the operation of the light emitting diode in the direction of the top ( 300a ) of the light-emitting diode structure ( 300 ) is set up.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011114671A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing an optoelectronic semiconductor chip and optoelectronic semiconductor chip

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007096405A1 (en) 2006-02-23 2007-08-30 Azzurro Semiconductors Ag Nitride semiconductor component and method for the production thereof
DE102006008929A1 (en) * 2006-02-23 2007-08-30 Azzurro Semiconductors Ag Layer structure production for nitride semiconductor component on silicon surface, involves preparation of substrate having silicon surface on which nitride nucleation layer is deposited with masking layer

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060124956A1 (en) * 2004-12-13 2006-06-15 Hui Peng Quasi group III-nitride substrates and methods of mass production of the same
WO2006065046A1 (en) * 2004-12-13 2006-06-22 Lg Chem, Ltd. Thin gallium nitride light emitting diode device
EP1864338A4 (en) * 2005-02-04 2010-01-20 Seoul Opto Device Co Ltd Light emitting device having a plurality of light emitting cells and method of fabricating the same
JP4933130B2 (en) * 2006-02-16 2012-05-16 昭和電工株式会社 GaN-based semiconductor light-emitting device and manufacturing method thereof
US10873002B2 (en) * 2006-10-20 2020-12-22 Cree, Inc. Permanent wafer bonding using metal alloy preform discs
GB2455489B (en) * 2007-08-22 2012-05-30 Photonstar Led Ltd High thermal performance packaging for optoelectronics devices
TWI369009B (en) * 2007-09-21 2012-07-21 Nat Univ Chung Hsing Light-emitting chip device with high thermal conductivity

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007096405A1 (en) 2006-02-23 2007-08-30 Azzurro Semiconductors Ag Nitride semiconductor component and method for the production thereof
DE102006008929A1 (en) * 2006-02-23 2007-08-30 Azzurro Semiconductors Ag Layer structure production for nitride semiconductor component on silicon surface, involves preparation of substrate having silicon surface on which nitride nucleation layer is deposited with masking layer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011114671A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing an optoelectronic semiconductor chip and optoelectronic semiconductor chip
US9343615B2 (en) 2011-09-30 2016-05-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing an optoelectronic semiconductor chip and optoelectronic semiconductor chip
US9647174B2 (en) 2011-09-30 2017-05-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor chip

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