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Die
Erfindung betrifft eine vergrößernde abbildende
Optik nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie ein Metrologiesystem
mit einer derartigen abbildenden Optik.
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Eine
vergrößernde abbildende Optik der eingangs genannten
Art ist zur Situation und Analyse von Auswirkungen von Eigenschaften
von Masken für die Mikrolithografie aus der
DE 102 20 815 A1 bekannt.
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine abbildende Optik
der eingangs genannten Art derart weiterzubilden, dass ihre Handhabbarkeit
verbessert ist.
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Die
Aufgabe ist erfindungsgemäß gelöst durch
eine abbildende Optik mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.
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Bei
der Baulänge handelt es sich um den Abstand der beiden
am weitesten voneinander entfernt angeordneten Komponenten der abbildenden
Optik, wobei als Komponenten in diesem Zusammenhang auch das Objektfeld
und/oder das Bildfeld verstanden werden. In der Regel handelt es
sich bei der Baulänge also um den Abstand zwischen dem
Objektfeld und dem Bildfeld. Im Einzelfall, wenn nämlich
beispielsweise einer der Spiegel von einem der Felder weiter entfernt
ist als die beiden Felder voneinander beabstandet sind, kann es
sich auch um den Abstand zwischen einem der Felder und der am weitesten
von diesem entfernten Komponente handeln. Die Baulänge
bezieht sich dabei immer auf einen ungefalteten Strahlengang, d.
h. auf eine abbildende Optik ohne Strahlumlenkung mittels Planspiegel.
Das erfindungsgemäße Verhätnis zwischen
der Baulänge und dem Abbildungsmaßstab führt
bei gegebenem Abbildungsmaßstab zu einer besonders kompakten
abbildenden Optik. Das Verhältnis aus der Baulänge
und dem Abbildungsmaßstab kann kleiner sein als 4,5 mm,
kann kleiner sein als 4 mm, kann kleiner sein 3,5 mm, kann kleiner
sein als 3 mm, kann insbesondere 2,52 mm betragen, kann kleiner
sein als 2,5 mm, kann kleiner sein als 2 mm, kann kleiner sein als
1,5 mm, kann insbesondere 1,20 mm betragen, kann kleiner sein als
1,0 mm und kann insbesondere 0,61 mm oder 0,575 mm betragen. Die
abbildende Optik kann natürlich umgedreht auch als verkleinernde
abbildende Optik benutzt werden, wobei dann Objektfeld und Bildfeld
ihre Funktion tauschen und als Abbildungsmaßstab das Verhältnis
zwischen Objektgröße und Bildgröße
eingesetzt wird.
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Ein
Abbildungsmaßstab nach Anspruch 2 führt zu einer
guten Eignung der abbildenden Optik im Rahmen eines Metrologie-
und Inspektionssystems. Der Abbildungsmaßstab kann größer
sein als 530, kann größer sein als 600, kann größer
sein als 750, kann größer sein als 1 000, kann
größer sein als 1 500 und kann größer
sein als 2 000.
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Eine
objektseitige numerische Apertur nach Anspruch 3 ist gut an die
Abbildungsverhältnisse von Projektionsobjektiven von Projektionsbelichtungsanlagen
für die EUV-Mikrolithografie zur Herstellung mikro- bzw. nanostrukturierter
Bauteile angepasst. Die objektseitige numerische Apertur kann mindestens
0,0825 und kann mindestens 0,125 betragen. Die abbildende Optik
kann so ausgelegt sein, dass zwischen diesen numerischen Aperturen
mithilfe einer Aperturblende gewechselt werden kann.
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Ein
objektseitiger Hauptstrahlwinkel nach Anspruch 4 ist ebenfalls an
die Verhältnisse bei der EUV-Projektionsbelichtung angepasst.
Der objektseitige Hauptstrahlwinkel kann auch 8° betragen.
Die abbildende Optik kann für mehrere Hauptstrahlwinkel
ausgelegt sein, zwischen denen mithilfe einer Aperturblende gewechselt
werden kann. Dabei kann es sich um die gleiche Aperturblende handeln,
mit der gegebenenfalls die objektseitige numerische Apertur einstellbar
ist.
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Ein
bildseitiger Hauptstrahlwinkel nach Anspruch 5 führt bildseitig
zu einem praktisch senkrechten Einfall der Hauptstrahlen, was die
Auflösung im Bildfeld verbessern kann. Der bildseitige
Hauptstrahlwinkel kann auch maximal 0,2° betragen. Auch
ein praktisch exakt senkrechter Einfall der Hauptstrahlen in der
Bildebene (Einfallswinkel gleich 0°) ist möglich.
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Ein
maximaler Einfallswinkel eines Hauptstrahls nach Anspruch 6 erlaubt
die Ausgestaltung der abbildenden Optik mit einer hochreflektiven
Mehrlagen-(Multilayer)Beschichtung zur Optimierung des Nutzlicht-Durchsatzes
der abbildenden Optik. Der maximale Einfallswinkel kann 6,65°,
6,25° oder kann sogar 4,62° betragen.
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Entsprechende
Vorteile hat ein maximaler Abbildungsstrahl-Einfallswinkel nach
Anspruch 7. Der maximale Abbildungsstrahl-Einfallswinkel kann 12,2°,
11,6° und kann sogar 8,7° betragen.
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Ein
Vierspiegel-System nach Anspruch 8 ermöglicht aufgrund
der geringen Anzahl von Reflexionen einen guten Durchsatz auch dann,
wenn Reflexionsverluste an den Spiegeln unvermeidlich sind.
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Eine
konvexe Gestaltung des vierten Spiegels nach Anspruch 9 schafft
insbesondere die Möglichkeit, diesen Spiegel bauklein zu
gestalten. Dies verbessert die Möglichkeiten einer kompakten
Ausgestaltung der abbildenden Optik.
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Ein
sphärischer Spiegel nach Anspruch 10 lässt sich
mit vergleichsweise geringem Aufwand fertigen.
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Mit
konkaven Spiegeln nach Anspruch 11 lässt sich eine abbildende
Optik mit guter Abbildungsfehlerkorrektur gestalten.
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Dies
gilt insbesondere für eine asphärische Gestaltung
nach Anspruch 12.
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Anordnungen
nach den Ansprüchen 13 und 14 stellen Alternativen dar,
die je nach der Bauraumsituation für die Spiegel der abbildenden
Optik genutzt werden können.
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Eine
Zwischenbildebene nach Anspruch 15 führt in der Nachbarschaft
der Zwischenbildebene zu einem kompakten Strahlengang und erleichtert
so eine kompakte Ausgestaltung der abbildenden Optik.
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Dies
gilt insbesondere für eine Anordnung der Zwischenbildebene
nach Anspruch 16.
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Eine
abbildende Optik mit sechs Spiegeln nach Anspruch 17 ermöglicht
eine gut abbildungsfehlerkorrigierte abbildende Optik.
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Sphärische
Spiegel nach Anspruch 18 lassen sich vergleichsweise kostengünstig
herstellen.
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Zwei
Zwischenbildebenen nach Anspruch 19 erleichtern die Möglichkeiten
einer kompakten Gestaltung der abbildenden Optik.
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Dies
gilt insbesondere für Anordnungen der Zwischenbildebenen
nach den Ansprüchen 20 und 21.
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Ein
kleinster Krümmungsradius nach Anspruch 22 lässt
sich mit vergleichsweise niedrigem Aufwand fertigen.
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Dies
gilt insbesondere, sofern der Spiegel mit dem kleinsten Krümmungsradius
sphärisch ausgestaltet ist.
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Eine
bildseitig telezentrische Ausgestaltung der abbildenden Optik verringert
die Genauigkeitsanforderungen was die Anordnung einer Komponente
im Bereich des Bildfeldes angeht.
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Ein
Off-Axis-Feld nach Anspruch 25 eignet sich insbesondere zur Abbildung
eines bogenförmigen Feldes.
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Die
Vorteile eines Metrologie- bzw. Inspektionssystems nach Anspruch
26 entsprechen denen, die vorstehend unter Bezugnahme auf die abbildende
Optik bereits erläutert wurden.
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung werden nachfolgend anhand der Zeichnung näher
erläutert. In dieser zeigen:
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1 einen
Meridionalschnitt durch eine erste Ausführungsform einer
vergrößernden abbildenden Optik zum Einsatz in
einem Metrologiesystem zur Simulation und zur Analyse von Auswirkungen
von Eigenschaften von Lithographiemasken auf eine optische Abbildung
innerhalb einer Projektionsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage
für die Mikrolithographie;
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2 in
einer zu 1 ähnlichen Darstellung
eine weitere Ausführungsform der abbildenden Optik;
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3 in
einer zu 1 ähnlichen Darstellung
eine weitere Ausführungsform der abbildenden Optik; und
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4 in
einer zu 1 ähnlichen Darstellung
eine weitere Ausführungsform der abbildenden Optik.
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Eine
vergrößernde abbildende Optik
1, die
in der
1 dargestellt ist, wird in einem Metrologiesystem zur
Analyse eines so genannten Luftbildes (Aerial Image Metrology System,
AIMS) eingesetzt und dient zur Simulation und Analyse der Auswirkungen
von Eigenschaften von Lithographiemasken, die wiederum bei der Projektionsbelichtung
zur Herstellung von Halbleiterbauelementen zum Einsatz kommen, auf
die optische Abbildung von Projektionsoptiken innerhalb der Projektionsbelichtungsanlage.
AIMS-Systeme sind aus der
DE 102
20 815 A1 bekannt.
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Die
abbildende Optik 1 bildet ein Objektfeld 2 in
einer Objektebene 3 mit einem Vergrößerungsfaktor (Abbildungsmaßstab β)
von 2 000 in ein Bildfeld 4 in einer Bildebene 5 ab.
Im Objektfeld 2 kann die zu vermessende Lithographiemaske,
die auch als Retikel bezeichnet ist, angeordnet sein. Im Bildfeld 4 kann
zur Analyse des erzeugten, vergrößerten Bildes
ein CCD-Chip einer CCD-Kamera angeordnet sein.
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Dargestellt
ist in der 1 der Verlauf von Hauptstrahlen 6 sowie
von Komastrahlen 7, 8, die von einer Mehrzahl
von in der y-Richtung übereinanderliegenden Objektfeldpunkten
ausgehen. Die Hauptstrahlen 6 einerseits und die Komastrahlen 7, 8 andererseits
werden nachfolgend auch als Abbildungsstrahlen bezeichnet.
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Zur
Erleichterung der Darstellung von Lagebeziehungen wird nachfolgend
ein kartesisches xyz-Koordinatensystem verwendet. Die x-Achse verläuft
in der 1 senkrecht zur Zeichenebene in diese hinein.
Die y-Achse verläuft in der 1 nach oben.
Die z-Achse verläuft in der 1 nach rechts.
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Das
Objektfeld 2 einerseits und das Bildfeld 4 andererseits
liegen in zueinander beabstandeten xy-Ebenen.
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Die
Hauptstrahlen 6 gehen im Abbildungsstrahlengang zwischen
dem Objektfeld 2 und dem Bildfeld 4 vom Objektfeld 2 mit
einem Hauptstrahlwinkel α von 8° zu einer in z-Richtung
verlaufenden Normalen 9 auf einem zentralen Objektfeldpunkt
der Objektebene 3 aus.
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Eine
objektfeldseitige numerische Apertur der abbildenden Optik 1 beträgt
NAO = 0,125. Mithilfe einer dezentrierbaren Aperturblende kann die
objektfeldseitige numerische Apertur auf NAO = 0,0625 oder NAO = 0,0825
reduziert werden, wobei dabei gleichzeitig ein Hauptstrahlwinkel α von
6° realisiert werden kann.
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In
der Bildebene 5 treffen die Abbildungsstrahlen 6 bis 8 nahezu
senkrecht zur Bildebene 5 und nahezu parallel zueinander
auf das Bildfeld 4.
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Im
Abbildungsstrahlengang zwischen dem Objektfeld 2 und dem
Bildfeld 4 hat die abbildende Optik 1 genau vier
Spiegel, die in der Reihenfolge ihrer Anordnung im Abbildungsstrahlengang
nachfolgend mit M1, M2, M3 und M4 bezeichnet werden.
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Die
dezentrierbare und austauschbare Aperturblende kann im Bauraum zwischen
der Objektebene 3 und dem Spiegel M2 angeordnet sein. Dies
ist in der 1 nicht dargestellt.
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Der
im Strahlengang vierte Spiegel M4 nach dem Objektfeld 2 ist
konvex und sphärisch gestaltet. Die ersten drei Spiegel
M1 bis M3 im Strahlengang nach dem Objektfeld nach dem Objektfeld 2 sind
konkav und asphärisch gestaltet.
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Dargestellt
sind in der 1 die Schnittkurven von Parentflächen,
die für die mathematische Modellierung der Reflexionsflächen
der Spiegel M1 bis M4 eingesetzt werden. In der dargestellten Schnittebene
tatsächlich physikalisch vorhanden sind diejenigen Bereiche
der Reflexionsflächen der Spiegel M1 bis M4, die von den
Komastrahlen 7, 8 und zwischen den Komastrahlen 7, 8 tatsächlich
mit Abbildungsstrahlung beaufschlagt werden.
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Eine
zur Abbildung genutzte Reflexionsfläche 10 des
Spiegels M1, also des ersten Spiegels nach dem Objektfeld 2,
und eine zur Abbildung genutzte Reflexionsfläche 11 des
Spiegels M2, also des zweiten Spiegels nach dem Objektfeld 2,
liegen im dargestellten Meridionalschnitt vollständig auf
ein und derselben Seite einer gemeinsamen Rotations-Symmetrieachse
der Reflexionsflächen der abbildenden Optik 1,
also der Spiegel M1 bis M4. Diese gemeinsame Rotations-Symmetrieachse,
die auch als optische Achse oA bezeichnet ist, fällt mit der
Normalen 9 auf den zentralen Objektfeldpunkt zusammen.
Das Objektfeld 2 der abbildenden Optik 1 nach 1 ist
auf der optischen Achse oA zentriert (on-axis).
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Die
genutzten Reflexionsflächen 10, 11 der
beiden Spiegel M1, M2 liegen in der in der 1 gezeigten Meridionalebene
also beide unterhalb der Normalen 9.
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Im
Abbildungsstrahlengang zwischen den Spiegeln M2 und M3 liegt ein
Zwischenbild 12. Das Zwischenbild 12 ist auf der
optischen Achse oA zentriert (on-axis).
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Die
abbildende Optik 1 ist ausgelegt auf eine Betriebswellenlänge
von 13,5 nm.
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Optische
Daten der abbildenden Optik 1 nach 1 werden
nachfolgend anhand zweier Tabellen wiedergegeben. Die erste Tabelle
zeigt in der Spalte „Radius” jeweils den Krümmungsradius
der Spiegel M1 bis M4. Die dritte Spalte (Dicke) beschreibt den
Abstand, ausgehend von der Objektebene 3, jeweils zur nachfolgenden
Oberfläche in z-Richtung.
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Die
zweite Tabelle beschreibt die genaue Oberflächenform der
Reflexionsflächen der Spiegel M1 bis M4, wobei die Konstanten
K sowie A bis C in folgende Gleichung für die Pfeilhöhe
einzusetzen sind:
h stellt hierbei den Abstand
zur optischen Achse, also zur Normalen
9, der abbildenden
Optik
1 dar. Es gilt also h
2 =
x
2 + y
2. Für
c wird in die Gleichung der Kehrwert von „Radius” eingesetzt.
Fläche | Radius | Dicke | Betriebsmodus |
Objekt | Unendlich | 2551,117 | |
M1 | –4351,884 | –2450,207 | REFL |
M2 | 5254,886 | 3032,313 | REFL |
M3 | –1122,534 | –1592,004 | REFL |
M4 | –6,565 | 3498,111 | REFL |
Bild | Unendlich | 0,000 | |
Fläche | K | A | B | C |
M1 | 0,000000E+00 | –9,911315E–13 | –2,013884E–20 | –7,941825E–27 |
M2 | 0,000000E+00 | –5,162330E–12 | –3,451054E–19 | 0,000000E+00 |
M3 | 0,000000E+00 | 1,528103E–11 | 0,000000E+00 | 0,000000E+00 |
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Die
nachfolgende Tabelle gibt die Einfallswinkel des Hauptstrahls
6 des
zentralen Objektfeldpunktes sowie die maximalen Einfallswinkel der
Abbildungsstrahlen
6 bis
8 auf den einzelnen Spiegeln
M1 bis M4 wieder:
| Einfallswinkel
des Hauptstrahls des zentralen Feldpunkts | Maximaler
AbbildungsstrahlenEinfallswinkel in Meridionalschnitt |
M1 | 3,29° | 6,1° |
M2 | 4,62° | 8,7° |
M3 | 1,78° | 3,3° |
M4 | 2,13° | 4,0° |
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Der
maximale Hauptstrahl-Einfallswinkel beträgt also 4,62°.
Der maximale Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel beträgt
8,7°. Für diese maximalen Einfallswinkel reicht
es aus, die Spiegel M1 bis M4 für die Betriebswellenlänge
bei 13,5 nm mit einer Mehrlagen-(Multilayer)Beschichtung mit einer über
die genutzte Reflexionsfläche der Spiegel M1 bis M4 konstanten
Einzelschichtdicke aufzubringen. Bei vergleichsweise einfacher Herstellung
ergeben sich hierdurch hohe Reflexionsgrade der Spiegel M1 bis M4
und ein entsprechend hoher Durchsatz der abbildenden Optik 1 für
die Betriebswellenlänge von 13,5 nm.
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Eine
Baulänge T, also ein Abstand zwischen der Objektebene 3 und
der Bildebene 5, beträgt 5 039 mm. Ein Verhältnis
aus der Baulänge T und dem Abbildungsmaßstab β beträgt
daher 5 039 mm/2 000 = 2,52 mm.
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Ein
Feldradius in der Objektebene 3 beträgt 10 μm.
Innerhalb eines Radius von 10 μm um die optische Achse
ist das Objektfeld 2 also abbildungsfehlerkorrigiert. Entsprechend
ist das Bildfeld 4 dann innerhalb eines Radius von 20 mm
abbildungsfehlerkorrigiert.
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Die
abbildende Optik 1 ist also Teil eines Metrologiesystems.
Zu diesen Metrologiesystem gehören noch eine Lichtquelle
sowie eine Beleuchtungsoptik zur Ausleuchtung des Objektfeldes 2 und
der im Zusammenhang mit dem Bildfeld 4 schon angesprochene
CCD-Chip, der Teil einer Detektionseinrichtung des Metrologiesystems
ist.
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Als
Lichtquellen kommen die auch für Lithografiesysteme üblichen
Lichtquellen in Frage, also beispielsweise Laser-Plasma-Quellen
(LPP; laser produced plasma) oder auch Entladungsquellen (DPP; discharge
produced plasma).
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Anhand
der 2 wird nachfolgend eine weitere Ausführung
einer abbildenden Optik 13 beschrieben, die anstelle der
abbildenden Optik 1 nach
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1 zum
Einsatz kommen kann. Komponenten und Funktionen, die denjenigen
entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme auf die 1 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und werden
nicht nochmals im Einzelnen diskutiert.
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Bei
der Ausführung der abbildenden Optik 13 nach 2 liegt
die zur Abbildung genutzte Reflexionsfläche 10 des
ersten Spiegels M1 im Abbildungsstrahlengang einerseits und die
zur Abbildung genutzte Reflexionsfläche 11 des
zweiten Spiegels M2 im Abbildungsstrahlengang andererseits auf gegenüberliegenden
Seiten der gemeinsamen Rotations-Symmetrieachse der Reflexionsflächen
der abbildenden Optik 13, also auf gegenüberliegenden
Seiten der Normalen 9.
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Ein
Zwischenbild 14 liegt bei der abbildenden Optik 13 im
Abbildungsstrahlengang zwischen den Spiegeln M1 und M2 räumlich
unmittelbar neben dem Spiegel M4.
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Die
optischen Daten der abbildenden Optik
13 nach
2 werden
nachfolgend anhand zweier Tabellen wiedergegeben, die vom Aufbau
her den Tabellen der abbildenden Optik
1 nach
1 entsprechen.
Fläche | Radius | Dicke | Betriebsmodus |
Objekt | Unendlich | 1280,334 | |
M1 | –1143,955 | –1180,334 | REFL |
M2 | 575,747 | 1311,691 | REFL |
M3 | –1399,087 | –1235,626 | REFL |
M4 | –2,812 | 2221,058 | REFL |
Bild | Unendlich | 0,000 | |
Fläche | K | A | B | C |
M1 | 0,000000E+00 | 1,009797E–11 | –2,139106E–18 | 4,620399E–24 |
M2 | 0,000000E+00 | 4,143783E–09 | –1,165432E–13 | –1,256966E–17 |
M3 | 0,000000E+00 | –1,446239E–11 | 2,217783E–17 | –1,798948E–23 |
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Die
Einfallswinkel des Hauptstrahls
6 des zentralen Objektfeldpunktes
sowie die maximalen Einfallswinkel der Abbildungsstrahlen
6 bis
8 Meridionalschnitt
auf den einzelnen Spiegeln M1 bis M4 sind in der folgenden Tabelle
zusammengefasst:
| Einfallswinkel
des Hauptstrahls des zentralen Feldpunkts | Maximaler
AbbildungsstrahlenEinfallswinkel in Meridionalschnitt |
M1 | 0,94° | 1,7° |
M2 | 7,37° | 13,7° |
M3 | 0,72° | 1,4° |
M4 | 3,16° | 5,9° |
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Der
maximale Hauptstrahl-Einfallswinkel beträgt also 7,37°.
Der maximale Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel beträgt
13,7°.
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Der
Abbildungsmaßstab β der abbildenden Optik 13 beträgt
2 000 und ist ebenfalls vergrößernd zwischen dem
Objektfeld 2 und dem Bildfeld 4. Die Baulänge
T beträgt 2 397 mm. Der Quotient T/β beträgt
1,20.
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Anhand
der 3 wird nachfolgend eine weitere Ausführung
einer abbildenden Optik 15 beschrieben, die anstelle der
abbildenden Optik 1 nach
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1 zum
Einsatz kommen kann. Komponenten und Funktionen, die denjenigen
entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme auf die 1 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und werden
nicht nochmals im Einzelnen diskutiert.
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Die
abbildende Optik 15 hat insgesamt sechs Spiegel, die in
der Reihenfolge ihrer Anordnung im Abbildungsstrahlengang zwischen
dem Objektfeld 2 und dem Bildfeld 4 mit M1 bis
M6 durchnummeriert werden.
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Die
ersten drei Spiegel der abbildenden Optik 15, also die
Spiegel M1 bis M3, sind asphärisch ausgebildet. Die letzten
drei Spiegel, also die Spiegel M4 bis M6, sind sphärisch
ausgebildet.
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Bei
der abbildenden Optik 15 liegen das Objektfeld 2 und
das Bildfeld 4 außerhalb der optischen Achse oA,
die in diesem Fall nicht mit der Normalen 9 zusammenfällt,
sondern parallel zu dieser Normalen 9 verläuft.
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Das
Objektfeld 2 liegt in der 3 ganz leicht,
nämlich etwa 100 μm, unterhalb der optischen Achse oA.
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Die
abbildende Optik 15 hat einen vergrößernden
Abbildungsmaßstab β von 2 000. Die Baulänge
T der abbildenden Optik 15 beträgt 1 217 mm. Der
Quotient T/β beträgt 0,61.
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Ein
erstes Zwischenbild 16 der abbildenden Optik 15 liegt
im Strahlengang zwischen den Spiegeln M2 und M3. Ein zweites Zwischenbild 17 liegt
im Strahlengang zwischen den Spiegeln M4 und M5. Beide Zwischenbilder 16, 17 liegen
benachbart zur optischen Achse oA.
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Die
optischen Daten der abbildenden Optik
15 nach
3 werden
nachfolgend anhand zweier Tabellen wiedergegeben, die vom Aufbau
her den Tabellen der abbildenden Optik
1 nach
1 entsprechen.
Fläche | Radius | Dicke | Betriebsmodus |
Objekt | Unendlich | 1094,383 | |
M1 | –5069,796 | –1014,383 | REFL |
M2 | 1541,181 | 1106,997 | REFL |
M3 | –115,243 | –686,984 | REFL |
M4 | –48,094 | 636,986 | REFL |
M5 | –96,403 | –586,987 | REFL |
M6 | 1069,542 | 666,985 | REFL |
Bild | Unendlich | 0,000 | |
Fläche | K | A | B | C |
M1 | 0,000000E+00 | –2,256066E–11 | 2,265548E–17 | –7,943975E–24 |
M2 | 0,000000E+00 | –1,427091E–11 | –6,408816E–18 | –1,613985E–24 |
M3 | 0,000000E+00 | 5,287695E–08 | –1,254664E–13 | –2,306538E–16 |
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Die
Einfallswinkel des Hauptstrahls
6 des zentralen Objektfeldpunktes
sowie die maximalen Einfallswinkel der Abbildungsstrahlen
6 bis
8 im
Meridionalschnitt auf den einzelnen Spiegeln M1 bis M6 sind in der folgenden
Tabelle zusammengefasst:
| Einfallswinkel
des Hauptstrahls des zentralen Feldpunkts | Maximaler
Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel in Meridionalschnitt |
M1 | 6,25° | 11,6° |
M2 | 4,11° | 7,6° |
M3 | 5,79° | 10,6° |
M4 | 0,79° | 1,4° |
M5 | 2,25° | 2,8° |
M6 | 2,46° | 3,0° |
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Der
maximale Hauptstrahl-Einfallswinkel beträgt also 6,25°.
Der maximale Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel beträgt
11,6°.
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Ein
maximaler Einfallswinkel der Hauptstrahlen 6 auf die Bildebene 5 beträgt
bei der abbildenden Optik 15 0,2 mrad. Die abbildende Optik 15 ist
bildseitig telezentrisch.
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Anhand
der 4 wird nachfolgend eine weitere Ausführung
einer abbildenden Optik 18 beschrieben, die anstelle der
abbildenden Optik 1 nach
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1 zum
Einsatz kommen kann. Komponenten und Funktionen, die denjenigen
entsprechen, die vorstehend unter Bezugnahme auf die 1 bereits
erläutert wurden, tragen die gleichen Bezugsziffern und werden
nicht nochmals im Einzelnen diskutiert.
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Auch
die abbildende Optik 18 nach 4 hat einen
vergrößernden Abbildungsmaßstab β von
2 000. Die Baulänge T beträgt 1 150 mm. Das Verhältnis
T/β beträgt bei der abbildenden Optik 18 0,575.
Den kleinsten Krümmungsradius hat der sphärische
Spiegel M4. Dieser Krümmungsradius beträgt 56
mm.
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Die
optischen Daten der abbildenden Optik
18 nach
4 werden
nachfolgend anhand zweier Tabellen wiedergegeben, die vom Aufbau
her den Tabellen der abbildenden Optik
1 nach
1 entsprechen.
Fläche | Radius | Dicke | Betriebsmodus |
Objekt | Unendlich | 1029,610 | |
M1 | –6339,907 | –949,610 | REFL |
M2 | 1440,086 | 1040,263 | REFL |
M3 | –119,092 | –820,245 | REFL |
M4 | –56,197 | 770,245 | REFL |
M5 | –130,703 | –720,245 | REFL |
M6 | 1297,051 | 800,245 | REFL |
Bild | Unendlich | 0,000 | |
Fläche | K | A | B | C |
M1 | 0,000000E+00 | –6,408521E–11 | 7,162652E–17 | –4,276723E–23 |
M2 | 0,000000E+00 | –1,933145E–11 | –1,212738E–17 | –4,374040E–24 |
M3 | 0,000000E+00 | 7,511917E–08 | –2,421135E–13 | –1,932664E–16 |
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Die
Einfallswinkel des Hauptstrahls
6 des zentralen Objektfeldpunktes
sowie die maximalen Einfallswinkel der Abbildungsstrahlen
6 bis
8 im
Meridionalschnitt auf den einzelnen Spiegeln M1 bis M6 sind in der folgenden
Tabelle zusammengefasst:
| Einfallswinkel
des Hauptstrahls des zentralen Feldpunkts | Maximaler
Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel in Meridionalschnitt |
M1 | 6.65° | 12.2° |
M2 | 4.13° | 7.7° |
M3 | 6.26° | 11.4° |
M4 | 0.72° | 1.3° |
M5 | 1.83° | 2.3° |
M6 | 2.03° | 2.5° |
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Der
maximale Hauptstrahl-Einfallswinkel beträgt also 6,65°.
Der maximale Abbildungsstrahlen-Einfallswinkel beträgt
12.2°.
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Die
Baulänge T bezieht sich immer auf eine ungefaltete Ausgestaltung
der abbildenden Optik, also auf eine Ausgestaltung ohne rein umlenkend
wirkende zwischengeschaltete Planspiegel. Die Baulänge
T wird entweder durch den Abstand zwischen dem Objektfeld und dem
Bildfeld, durch den Abstand zwischen dem Objektfeld und der zu diesem
entferntesten optischen Komponente oder durch den Abstand zwischen
dem Bildfeld und der von diesem entferntesten optischen Komponente
definiert.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - DE 10220815
A1 [0002, 0034]