DE102009010096A1 - Rastersonden-Antriebseinheit - Google Patents

Rastersonden-Antriebseinheit Download PDF

Info

Publication number
DE102009010096A1
DE102009010096A1 DE102009010096A DE102009010096A DE102009010096A1 DE 102009010096 A1 DE102009010096 A1 DE 102009010096A1 DE 102009010096 A DE102009010096 A DE 102009010096A DE 102009010096 A DE102009010096 A DE 102009010096A DE 102009010096 A1 DE102009010096 A1 DE 102009010096A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probe
actuator
holder
scanning
probe holder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102009010096A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102009010096B4 (de
Inventor
Sai Dr. Gao
Zhi Dr. Li
Konrad Dr. Herrmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bundesrepublik Deutschland
Bundesministerium fuer Wirtschaft und Technologie
Original Assignee
Bundesrepublik Deutschland
Bundesministerium fuer Wirtschaft und Technologie
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bundesrepublik Deutschland, Bundesministerium fuer Wirtschaft und Technologie filed Critical Bundesrepublik Deutschland
Priority to DE102009010096A priority Critical patent/DE102009010096B4/de
Publication of DE102009010096A1 publication Critical patent/DE102009010096A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102009010096B4 publication Critical patent/DE102009010096B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q10/00Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
    • G01Q10/04Fine scanning or positioning

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Rastersonden-Antriebseinheit, die lithographisch auf einem Substrat (12)es Rastersondenmikroskops. Erfindungsgemäß ist eine Sondenhalter-Befestigung (14) zum Befestigen eines Sondenhalters (16) mit der Sonde (18), ein Sond(16) und ein Befestigungs-Aktor (40), der in eine Lösestellung, in der der Sondenhalter (16) ausgetauscht werden kann, bringbar ist, vorgesehen.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Rastersonden-Antriebseinheit, die lithografisch aus einem Substrat hergestellt ist, zum Bewegen einer Sonde eines Rastersondenmikroskops.
  • Als MEMS (micro electro mechanical system) realisierte Rastersonden-Antriebseinheiten sind bekannt und werden lithographisch, beispielsweise aus einem Halbleiter-Einkristall hergestellt. Die Rastersonden-Antriebseinheit besitzt dabei eine Sonde in Form einer feinen Tastspitze, mit der die zu untersuchende Probe abgerastert werden kann. Diese Sonde in Form der Tastspitze ist ebenfalls lithographisch hergestellt und befindet sich am Ende einer Antriebseinheit, die in der Regel als länglicher Schaft ausgebildet ist. Der längliche Schaft wird mit einem Antrieb entlang seiner Längsrichtung hin- und herbewegt, so dass ein Abstand zwischen der Tastspitze und dem zu untersuchenden Objekt oszilliert und so die Probe abgerastert werden kann.
  • Nachteilig an bekannten Rastersonden-Antriebseinheiten ist, dass die Messgenauigkeit durch den Verschleiß der Tastspitze mit der Zeit abnimmt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Rastersonden-Antriebseinheit vorzuschlagen, die eine verlängerte Bestzeit bei hoher Genauigkeit erlaubt.
  • Die Erfindung löst das Problem durch eine Rastersonden-Antriebseinheit, die lithographisch aus einem Substrat hergestellt ist, zum Bewegen einer Sonde, insbesondere einer Tastspitze, eines Rastersondenmikroskops, die eine Sondenhalter-Befestigung zum Befestigen eines Sondenhalses mit der Sonde, einen Sondenhalter-Aktor zum Bewegen des Sondenhalters und einen Befestigungs-Aktor, der in eine Lösestellung, in der der Sondenhalter ausgetauscht werden kann, bringbar ist, umfasst.
  • Vorteilhaft an der erfindungsgemäßen Rastersonden-Antriebseinheit ist, dass die Sonde, beispielsweise die Tastspitze, ausgetauscht werden kann, wenn sie verschlissen ist. Es hat sich nämlich gezeigt, dass Tastspitzen, wie sie in Rasterkraftmikroskopen verwendet werden, relativ schnell verschleißen und daher die Messgenauigkeit sinkt. Bei bekannten Rastersonden-Antriebseinheiten muss bei verschlissener Tastspitze eine komplett neue Antriebseinheit verwendet werden, um das Messen fortzusetzen. Bei der erfindungsgemäßen Rastersonden-Antriebseinheit muss hingegen lediglich der Sondenhalter ausgetauscht werden. Wenn es sich um eine Rasterkraftmikroskop-Antriebseinheit handelt, kann also die Tastspitze mitsamt dem Cantilever einfach ausgetauscht werden.
  • Vorteilhaft ist zudem, dass dadurch, dass der Sondenhalter nicht gemeinsam mit der Rastersonden-Antriebseinheit hergestellt werden muss. Wenn der Sondenhalter beispielsweise ein Cantilever mit einer Tastspitze ist, so kann die Tastspitze aus einem besonders harten Material gefertigt werden, was den Verschleiß reduziert.
  • Im Rahmen der vorliegenden Beschreibung wird unter dem Sondenhalter insbesondere jede Vorrichtung verstanden, der eine Sonde und eine Stützstruktur zum Halten der Sonde umfasst. Beispielsweise handelt es sich bei dem Sondenhalter um einen Cantilever mit einer Tastspitze. Es ist aber auch möglich, dass der Sondenhalter eine mikroskopische Spule, eine mikroskopische Elektrode oder eine sonstige Sonde umfasst, die ein Abrastern einer Probe erlaubt.
  • Unter der Sondenhalter-Befestigung wird insbesondere jede Vorrichtung verstanden, die zum lösbaren Befestigen des Sondenhalters am Sondenhalter-Aktor ausgebildet ist. Es handelt sich hierbei in der Regel um eine kraftschlüssige Befestigung, insbesondere um eine Klemmung.
  • Unter dem Sondenhalter-Aktor wird insbesondere jeder Aktor verstanden, der ausgebildet ist, um den Sondenhalter zu bewegen. Beispielsweise handelt es sich bei dem Sondenhalter-Aktor um einen länglichen Schaft, der mit einem Mikromotor, beispielsweise einem elektrostatischen Kammantrieb, in Oszillation entlang seiner Längsachse versetzbar ist. Diese Oszillation überträgt sich auf den Sondenhalter und über die Interaktion der Sonde des Sondenhalters mit der Probe können Aussagen über Eigenschaften der Probe gemacht werden. Insbesondere kann der Sondenhalter-Aktor gleichzeitig als Sensor ausgebildet sein, der das Ausmaß einer Wechselwirkung zwischen der Probe und der Sonde erfasst.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform weist der Sondenhalter-Aktor mindestens einen elektrostatischen Arbeits-Kammantrieb zum Oszillieren und Bewegen des Sondenhalter-Aktors und eine Arbeits-Feder auf, die angeordnet ist, um einer vom Arbeits-Kammantrieb ausgeübten Kraft entgegen zu wirken. Vorteilhaft hieran ist, dass lediglich ein in eine Richtung wirkender Arbeits-Kammantrieb vorgesehen sein muss, der eine Arbeitskraft erzeugt. Die Arbeits-Feder sorgt dann für die der Arbeitskraft entgegen wirkende Rückstellkraft, so dass durch Anlegen einer oszillierenden Spannung eine oszillierende Bewegung des Sondenhalter-Aktors ermöglicht wird.
  • Besonders bevorzugt umfasst der Befestigungs-Aktor einen elektrostatischen Befestigungs-Kammantrieb. Das ermöglicht es, allein durch Anlegen einer elektrischen Spannung an den Befestigungs-Kammantrieb den Befestigungs-Aktor in seine Lösestellung zu bringen, so dass der Sondenhalter einfach ausgetauscht werden kann. Denkbar ist auch, dass der Befestigungs-Aktor im spannungsfreien Zustand in der Lösestellung ist.
  • Besonders bevorzugt umfasst der Befestigungs-Aktor eine Befestigungs-Feder, die eine Befestigungs-Federkonstante hat, die kleiner ist als eine Arbeits-Federkonstante der Arbeitsfeder. Wird die Befestigungs-Feder beispielsweise mit dem Befestigungs- Kammantrieb mit einer Kraft beaufschlagt, so führt dies in der Regel zu einer Verformung sowohl der Arbeits-Feder als auch der Befestigungs-Feder. Weil die Befestigungs-Federkonstante kleiner ist als die Arbeits-Federkonstante, verformt sich die Befestigungs-Feder stärker und der Befestigungs-Aktor kommt in seine Lösestellung.
  • Besonders günstig ist es, wenn sowohl die Arbeits-Feder als auch die Befestigungs-Feder an einem Schaft des Sondenhalter-Aktors angreift. Beispielsweise handelt es sich bei den Federn um dünne, federnde Balken, die im Wesentlichen senkrecht zum Schaft verlaufen. Hierunter ist zu verstehen, dass es möglich, nicht aber notwendig ist, dass die Balken exakt senkrecht zum Schaft verlaufen. Abweichungen von beispielsweise 10° sind tolerierbar. Der Schaft ist länglich und hat in der Regel eine zylinderförmige oder quaderförmige Gestalt.
  • Um mit dem Sondenhalter-Aktor hohe Beschleunigungen sowohl in Hin- als auch in Rückrichtung zu erreichen, weist der Sondenhalter-Aktor vorzugsweise einen Haupt-Aktor zum Bewegen des Sondenhalters und einen Start-Aktor auf, der ausgebildet ist, um den Haupt-Aktor so zu bewegen, dass der Arbeits-Kammantrieb aus einer Position, in der Elektroden des Arbeits-Kammantriebs nicht ineinander greifen, in eine Position, in der die Elektroden des Arbeits-Kammantriebs ineinander greifen, gebracht wird. Der Arbeits-Kammantrieb oszilliert bei Betrieb der Rastersonden-Antriebseinheit um eine Nulllage, der von einer Ruhelage beabstandet ist. Die Ruhelage nimmt der Arbeits-Kammantrieb ein, wenn keine Spannung auf dem Kammantrieb liegt.
  • Bevorzugt ist die Befestigungs-Feder ausgebildet, um eine Spannkraft von mindestens einem Mikronewton auf den Sondenhalter auszuüben.
  • Bei einer erfindungsgemäßen Rastersondeneinheit mit einer Rastersonden-Antriebseinheit und einem Sondenhalter, ist der Sondenhalter bevorzugt ein Cantilever mit einer Tastspitze.
  • Gemäß einem unabhängigen Gegenstand der vorliegenden Anmeldung wird die Aufgabe gelöst durch ein Array aus Rastersonden-Antriebseinheiten, die lithographisch auf einem gemeinsamen Substrat hergestellt sind und jeweils einen Aktor umfassen, der entweder ein Befestigungs-Aktor wie oben beschrieben oder ein Aktor ist, der selbst eine Sonde umfasst. Besonders günstig ist es, wenn dieses Array aus Rastersonden-Antriebseinheiten aus eingangs beschriebenen Rastersonden-Antriebseinheiten aufgebaut ist.
  • Besonders vorteilhaft werden die geschilderten Rastersonden-Antriebseinheiten in einem Rastersondenmikroskop, insbesondere einem Rasterkraftmikroskop verwendet.
  • Im Folgenden wird die Erfindung anhand exemplarischer Ausführungsbeispiele näher erläutert. Dabei zeigt
  • 1 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen Rastersonden-Antriebseinheit.
  • 1 zeigt eine Rastersonden-Antriebseinheit 10, die lithographisch auf einem Substrat 12 hergestellt ist. Die Rastersonden-Antriebseinheit 10 umfasst eine Sondenhalter-Befestigung 14 zum Befestigen eines Sondenhalters 16, der eine Sonde in Form einer Tastspitze 18 und einen Cantilever 20 umfasst.
  • Die Sondenhalter-Befestigung 14 ist so angeordnet, dass sie den Sondenhalter 16 an einem Sondenhalter-Aktor 22 festklemmt. Der Sondenhalter-Aktor 22 ist ausgebildet, um sich oszillierend entlang einer Längsachse L zu bewegen und dadurch die Sonde 18 in Form der Tastspitze ebenfalls in eine oszillierende Bewegung zu versetzen.
  • Der Sondenhalter-Aktor 22 weist einen elektrostatischen Arbeits-Kammantrieb 24 auf, der seinerseits erste Elektroden 26.1, 26.2, ... und zweite Elektroden 28.1, ... besitzt. In der in 1 gezeigten Ruhestellung sind die ersten Elek-troden 26 und die zweiten Elektroden 28 um einen Abstand d voneinander getrennt.
  • Die ersten Elektroden 26 sind über einen Arm mit einem Schaft 30 des Sondenhalter-Aktors 22 verbunden, wohingegen die zweiten Elektroden 28 fest mit dem Substrat 12 verbunden sind. Durch Anlegen einer Spannung zwischen die ersten Elektroden 26 und die zweiten Elektroden 28 kann der Schaft 30 entlang der Längsachse L bewegt werden. Der Schaft 30 und der Arbeits-Kammantrieb 24 sind Bestandteile eines Haupt-Aktors 31.
  • Da in der in 1 gezeigten Ruhestellung des Haupt-Aktors 31 die ersten Elektroden 26 und die zweiten Elektroden 28 nicht ineinander greifen, sind zwei Start-Aktoren 32.1, 32.2 vorgesehen, die ihrerseits elektrostatische Start-Kammantriebe 34.1, 34.2 umfassen. In der in 1 gezeigten Ruhestellung sind die Start-Aktoren 32 von dem Sondenhalter-Aktor 22 beabstandet.
  • Werden die Start-Aktoren 32 mit einer Spannung beaufschlagt, so bewegen sich Abtriebsteile 36.1, 36.2 auf den Arm des Sondenhalter-Aktors 22 zu und drücken damit die ersten Elektroden 26 auf die zweiten Elektroden 28 zu, so dass der Arbeits-Kammantrieb 24 effektiv arbeiten kann. Sobald die ersten Elektroden 26 und die zweiten Elektroden 28 ineinander greifen, werden die Start-Aktoren 32.1, 32.2 spannungsfrei geschaltet und kommen während des Betriebs nicht mehr in Kontakt mit dem Haupt-Aktor 31. Die beschriebenen Start-Aktoren stellen einen unabhängigen Gegenstand der vorliegenden Patentanmeldung dar.
  • In Arbeitsstellung ist eine Arbeits-Feder 38, die aus zwei Teil-Federn 38.1 und 38.2 besteht, die gemeinsam eine Arbeits-Federkonstante K38 haben, gebogen und übt eine Rückstellkraft aus, die derjenigen Kraft entgegenwirkt, die vom Arbeits-Kammantrieb 24 auf den Schaft 30 ausgeübt wird.
  • Die Rastersonden-Antriebseinheit 10 umfasst zudem einen ersten Befestigungs-Aktor 40.1 und einen zweiten Befestigungs-Aktor 40.2, die beidseits des Schafts 22 angeordnet sind und den Sondenhalter-Aktor 22 im Betriebszustand nicht berühren. Die Befestigungs-Aktoren 40.1, 40.2 umfassen jeweils einen elektrostatischen Befestigungs-Kammantrieb 42.1., 42.2 und jeweils eine Rückstellfeder 44.1, 44.2.
  • Werden die Befestigungs-Kammantriebe 42.1, 42.2 mit einer Spannung beaufschlagt, so drücken Abtriebsteile 46.1, 46.2 auf eine Befestigungs-Feder 48. Diese verformt sich daraufhin und ein Befestigungskopf 50 der Befestigungs-Feder 48 gibt eine Klemmverbindung zwischen dem Sondenhalter 16 einerseits und dem Schaft 30 andererseits frei. Dadurch kann der Sondenhalter 16 entnommen und ausgetauscht werden.
  • Die Befestigungs-Feder 48 ist ausgebildet, um eine Spannkraft von mehr als einem Mikronewton auf den Sondenhalter 16 auszubilden.
  • 10
    Rastersonden-Antriebseinheit
    12
    Substrat
    14
    Sondenhalter-Befestigung
    16
    Sondenhalter
    18
    Sonde-Tastspitze
    20
    Cantilever
    22
    Sondenhalter-Aktor
    24
    Arbeits-Kammantrieb
    26
    Elektrode
    28
    Elektrode
    30
    Schaft
    31
    Haupt-Aktor
    32
    Start-Aktor
    34
    Start-Kammantrieb
    36
    Abtriebsteil
    38
    Arbeits-Feder
    40
    Befestigungs-Aktor
    42
    Befestigungs-Kammantrieb
    44
    Rückstellfeder
    46
    Abtriebsteil
    48
    Befestigungs-Feder
    50
    Befestigungskopf
    K
    Federkonstante
    L
    Langsachse
    D
    Abstand

Claims (11)

  1. Rastersonden-Antriebseinheit, die lithographisch auf einem Substrat (12) hergestellt ist, zum Bewegen einer Sonde (18) eines Rastersondenmikroskops, gekennzeichnet durch (a) eine Sondenhalter-Befestigung (14) zum Befestigen eines Sondenhalters (16) mit der Sonde (18), (b) einen Sondenhalter-Aktor (22) zum Bewegen des Sondenhalters (16) und (c) einen Befestigungs-Aktor (40), der in eine Lösestellung, in der der Sondenhalter (16) ausgetauscht werden kann, bringbar ist.
  2. Rastersonden-Antriebseinheit nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Sondenhalter-Aktor (22) – mindestens einen elektrostatischen Arbeits-Kammantrieb (24) zum oszillierenden Bewegen des Sondenhalter-Aktors (22) und – eine Arbeits-Feder (38.1, 38.2), die angeordnet ist, um einer vom Arbeits-Kammantrieb (24) ausgeübten Kraft (Fel) entgegenzuwirken, aufweist.
  3. Rastersonden-Antriebseinheit nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Befestigungs-Aktor (40) einen elektrostatischen Befestigungs-Kammantrieb (42) aufweist.
  4. Rastersonden-Antriebseinheit nach einem der vorstehenden Ansprüche 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass – der Befestigungs-Aktor (40) eine Befestigungs-Feder (48) aufweist, die eine Befestigungs-Federkonstante (K48) hat, die kleiner ist als eine Arbeits-Federkonstante (K38) der Arbeits-Feder (38.1., 38.2).
  5. Rastersonden-Antriebseinheit nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Befestigungs-Feder (48) am Sondenhalter-Aktor (22) befestigt ist.
  6. Rastersonden-Antriebseinheit nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Sondenhalter-Aktor (22) – zumindest einen Haupt-Aktor (31) zum Bewegen des Sondenhalters (16) und – einen Start-Aktor (32) aufweist, der ausgebildet ist, um den Haupt-Aktor so zu bewegen, dass der Arbeits-Kammantrieb (24) aus einer Position, in der die Elektroden (26) des Arbeits-Kammantriebs (24) nicht ineinander greifen, in eine Position, in der die Elektroden (26) des Arbeits-Kammantriebs (24) ineinander greifen, gebracht wird.
  7. Rastersonden-Antriebseinheit nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Befestigungs-Feder (48) ausgebildet ist, um eine Spannkraft von mindestens 1 Mikronewton auf den Sondenhalter (16) auszuüben.
  8. Rastersondeneinheit mit (a) mindestens einer Rastersonden-Antriebseinheit (10) nach einem der vorstehenden Ansprüche und (b) einem Sondenhalter (16), der mittels der Sondenhalter-Befestigung (14) am Sondenhalter-Aktor (22) befestigt ist.
  9. Rastersondeneinheit nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Sondenhalter (16) ein Cantilever (20) mit einer Tastspitze (18) ist
  10. Rastersondeneinheit nach Anspruch 8 oder 9, gekennzeichnet durch eine Vielzahl von Rastersonden-Antriebseinheiten (10).
  11. Rastersondenmikroskop, insbesondere Rasterkraftmikroskop, gekennzeichnet durch zumindest eine Rastersonden-Antriebseinheit (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 7 und/oder eine Rastersondeneinheit nach Anspruch 8 oder 9.
DE102009010096A 2009-02-24 2009-02-24 Rastersonden-Antriebseinheit Expired - Fee Related DE102009010096B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009010096A DE102009010096B4 (de) 2009-02-24 2009-02-24 Rastersonden-Antriebseinheit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009010096A DE102009010096B4 (de) 2009-02-24 2009-02-24 Rastersonden-Antriebseinheit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102009010096A1 true DE102009010096A1 (de) 2010-09-16
DE102009010096B4 DE102009010096B4 (de) 2011-01-13

Family

ID=42557671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102009010096A Expired - Fee Related DE102009010096B4 (de) 2009-02-24 2009-02-24 Rastersonden-Antriebseinheit

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102009010096B4 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014204029A1 (de) * 2014-03-05 2015-09-10 Bundesrepublik Deutschland, vertr. durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Energie, dieses vertreten durch den Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Membrandickenmessgerät

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020061662A1 (en) * 2000-08-25 2002-05-23 Peter Boggild Fabrication and application of nano-manipulators with induced growth
DE102007032866A1 (de) * 2006-07-17 2008-01-31 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware), Santa Clara Resonanzverfahren zum Bestimmen der Federkonstante von Rastersondenmikroskopauslegern, die MEMS-Betätigungselemente verwenden
US20080295585A1 (en) * 2007-06-01 2008-12-04 Aoi Electronics Co., Ltd. Tweezer-Equipped Scanning Probe Microscope and Transfer Method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020061662A1 (en) * 2000-08-25 2002-05-23 Peter Boggild Fabrication and application of nano-manipulators with induced growth
DE102007032866A1 (de) * 2006-07-17 2008-01-31 Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware), Santa Clara Resonanzverfahren zum Bestimmen der Federkonstante von Rastersondenmikroskopauslegern, die MEMS-Betätigungselemente verwenden
US20080295585A1 (en) * 2007-06-01 2008-12-04 Aoi Electronics Co., Ltd. Tweezer-Equipped Scanning Probe Microscope and Transfer Method

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
C.Mueller-Falcke et al.: "A nanoscanning platform for bio-engineering: an in-plane probe with switchable stiffness", Nanotechnology 17, pp. S69-S76 (2006) *
S.Gao and K.Herrmann: "A microelectromechanical force actuator for nano-tensile testing system", Proc. SPIE 6993, pp. 69930H (2008) *
S.Gao and K.Herrmann: "A microelectromechanical force actuator for nano-tensile testing system", Proc. SPIE 6993, pp. 69930H (2008) C.Mueller-Falcke et al.: "A nanoscanning platform for bio-engineering: an in-plane probe with switchable stiffness", Nanotechnology 17, pp. S69-S76 (2006)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014204029A1 (de) * 2014-03-05 2015-09-10 Bundesrepublik Deutschland, vertr. durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Energie, dieses vertreten durch den Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Membrandickenmessgerät
DE102014204029B4 (de) 2014-03-05 2020-01-09 Bundesrepublik Deutschland, vertr. durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Energie, dieses vertreten durch den Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Membrandickenmessgerät

Also Published As

Publication number Publication date
DE102009010096B4 (de) 2011-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0239085B1 (de) Bewegungseinrichtung zur Mikrobewegung von Objekten
DE602005002010T2 (de) Betätigungsvorrichtung des Mikroelektromechanischen Systems
EP2126925B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum mikromechanischen positionieren und manipulieren eines objektes
EP2409164A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur elektromechanischen positionierung
WO1996014959A1 (de) Elektromechanische positioniereinheit
DE102005051581A1 (de) Abtastmechanismus für ein Rastersondenmikroskop, sowie Rastersondenmikroskop hiermit
DE102011004214A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Analysieren und Verändern einer Probenoberfläche
DE60200725T2 (de) Prüfkopf mit vertikalen Prüfstiften für integrierte Halbleiterbausteine
DE102011006394A1 (de) Drehratensensor
EP0068270A1 (de) Vorrichtung zum gleichzeitigen Kontaktieren mehrerer eng beisammenliegender Prüfpunkte, insbesondere von Rasterfeldern
EP3080554B1 (de) Bedieneinrichtung für ein elektrisches gerät, insbesondere für eine fahrzeugkomponente
DE102008056127A1 (de) Elektromechanischer Energiewandler zur Erzeugung von elektrischer Energie aus mechanischen Bewegungen
EP1684059B1 (de) Vorrichtung zur hochgenauen Erzeugung und Messung von Kräften und Verschiebungen
EP2691179B1 (de) Zustandsüberwachung einer pipettenspitze mit von innen angekoppelten piezoelektrischen elementen
DE102009010096B4 (de) Rastersonden-Antriebseinheit
WO2018077751A1 (de) Mikromechanisches bauteil und herstellungsverfahren für ein mikromechanisches bauteil
DE10010392B4 (de) Piezoelekronisches X-Y-Mikropositioniersystem
DE102012104749B4 (de) Mehrachsige Aktorvorrichtung
DE102017118836B3 (de) Dosiervorrichtung
DE102010029539A1 (de) Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil
DE102011006397B4 (de) Mikromechanisches Bauelement mit einer Verhakungsstruktur
DE102008001038B4 (de) Mikromechanisches Bauelement mit Schrägstruktur und entsprechendes Herstellungsverfahren
DE2542024A1 (de) Elektromechanisches stellglied
DE102013204101A1 (de) Energieerzeugungseinrichtung mit freischwingenden piezoelektrischen Biegewandlern
DE102008042560A1 (de) Sondenspitzen-Baugruppe für Raster-Sondenmikroskope

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R020 Patent grant now final

Effective date: 20110413

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20140902