DE102008052234A1 - Prüfvorrichtung und Prüfverfahren für elektrische oder elektromechanische Geräte - Google Patents

Prüfvorrichtung und Prüfverfahren für elektrische oder elektromechanische Geräte Download PDF

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Uwe Busch
Benjamin Tillmann
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Leopold Kostal GmbH and Co KG
SOMA GmbH Systementwicklung Software Automation
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Abstract

Beschrieben wird eine Prüfvorrichtung für ein elektrisches oder elektromechanisches Gerät ("Prüfling") mit einer Hardwareeinheit und mit einem Prüfrechner, der in die Hardwareeinheit integriert oder an die Hardwareeinheit anschließbar ist wobei der Prüfling elektrisch mit der Hardwareeinheit verbunden ist, und wobei der Prüfrechner eine Prüfsoftware zur Beeinflussung des Prüflings ausführt und am Prüfling Signale erfasst und mit, aufgrund der Beeinflussung, erwarteten Signalen vergleicht, wobei die elektrische Verbindung zwischen dem Prüfling und der Hardwareeinheit über eine modulartig austauschbare Hardwarekomponente erfolgt, die eine die spezifisch auf den Prüfling zugeschnittene Anpassung zwischen Hardwareeinheit und dem Prüfling herstellt. Außerdem wird ein Prüfverfahren vorgechlagen, das durch die Prüfvorrichtung ausgeführt werden kann.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung und ein Prüfverfahren für elektrische oder elektromechanische Geräte.
  • Prüfsysteme für elektrische oder elektromechanische Geräte sind beispielsweise als Bandendetestgeräte oder Diagnosegeräte bekannt. Derartige Systeme sind als rechnergesteuerte Vorrichtungen ausgeführt, die zum Teil die Funktionsumgebung des zu prüfenden Gerätes simulieren und durch automatisches Aufschalten und Abfragen von Signalen nacheinander verschiedene Funktionen des Gerätes überprüfen.
  • Bandendetests haben im allgemeinen die Aufgabe, festzustellen, ob das zu prüfende Gerät vollständig funktionstüchtig und verwendbar ist, oder ob es einen Defekt aufweist und daher auszusondern ist. Das Auftreten eines Fehlers ist zumeist ein ausreichendes Kriterium zum Aussondern des Gerätes. Bandendetests laufen üblicherweise vollautomatisch ab und dauern zumeist nur wenige Sekunden.
  • Fällt ein derartig überprüftes Gerät zu einem späteren Zeitpunkt dennoch aus, so sind die Gründe hierbei im allgemeinen komplexer. Oftmals entsteht der Fehler durch das Zusammenwirken mehrerer Funktionskomponenten, die bei Einzelprüfungen keine Auffälligkeiten zeigen. Die Fehleranalyse kann in diesen Fällen sehr zeitaufwendig und damit teuer sein. Da Geräteausfälle oftmals hohe Kosten durch Gewährleistungen, durch Produkthaftungskosten oder durch den Verlust von Kundenaufträgen nach sich ziehen, wird dieser Aufwand im allgemeinen dennoch betrieben. Diese Prüfungen sind in vielen Fällen manuell durchgeführte Einzelprüfungen, und haben, neben dem hohen Zeit- und Kostenaufwand, zusätzlich das Problem, einen Prüfablauf vorzusehen, dessen Ergebnis von Kunden anerkannt wird.
  • Es stellte sich daher die Aufgabe, eine Prüfvorrichtung für elektrische oder elektromechanische Geräte zu schaffen, welche eine möglichst einfache und schnelle Prüfung von verschiedenartigen Geräte mit einem standardisierbaren Prüfverfahren ermöglicht. Darüber hinaus soll ein Prüfverfahren geschaffen werden, welches auch die Aufdeckung komplexer Fehler unterstützen soll.
  • Der erste Teil der Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Hauptanspruchs 1 gelöst. Der zweite Teil der Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 11 gelöst
  • Besonders vorteilhaft ist, dass die erfindungsgemäße Prüfvorrichtung zusammen mit dem zugehörigen Prüfverfahren in vielen Fällen detaillierte Hinweise auf mögliche Fehlerursachen liefern kann. Dies wird insbesondere dadurch erreicht, dass die Bewertung der in einem Prüfschritt erhaltenen Signalmuster nicht absolut auf einen festen Referenzwert bezogen ist, sondern jeweils relativ auf ein modifiziertes Signalmuster des jeweils vorhergehenden Prüfschritts. Hierdurch gehen die jeweiligen Veränderungen der Prüfumgebung in das Prüfergebnis bewusst mit ein.
  • Ebenfalls vorteilhaft ist, dass die Prüfvorrichtung und das Prüfverfahren mit nur geringem Aufwand an unterschiedlichste Prüfaufgaben anpassbar ist und damit nahezu universell verwendbar ist.
  • Weitere vorteilhafte Eigenschaften und Weiterbildungsmöglichkeiten einer Prüfvorrichtung und eines Prüfverfahrens gehen aus der nachfolgenden Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Zeichnung hervor. Es zeigen
  • 1 eine Skizze des Hardwareaufbaus einer Prüfvorrichtung,
  • 2 eine skizzierter Ablauf eines Prüfverfahrens,
  • 3 Details des in der 2 dargestellten Prüfverfahrens,
  • 4, 5, 6 mehrere beispielhafte Prüfabläufe mit einem Vergleich verschiedener Bewertungsverfahren,
  • 7, 8, 9 Detailbeschreibungen zu den Prüfabläufen.
  • Die 1 skizziert schematisch den Hardwareaufbau einer erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung. Zentrales Element der Prüfvorrichtung ist eine Hardwareeinheit HE. Die Hardwareeinheit HE weist, hier nicht einzeln aufgeführte, grundlegende Hardwarekomponenten auf, wie beispielsweise Spannungs- und Stromversorgungseinheiten für feste und variable Spannungen und Ströme, diverse Schnittstellen zur Anschaltung externer Hardware, insbesondere auch von Netzwerkschnittstellen, sowie ein einfaches Rechnersystem, welches im wesentlichen mit dem Ein- und Auslesen von Daten über die vorhandenen Schnittstellen, sowie die Steuerung der externen Hardwarekomponenten ausgelastet ist.
  • Als externe Hardwarekomponenten kommen insbesondere externe Messgeräte MGE für elektrische Größen sowie steuerbare elektrische Netzteile in Betracht. Des weiteren können auch speziellere Hardwarebus-Systeme angeschaltet werden. Je nach Prüfaufgabe können auch andere Geräte vorgesehen sein, die über serielle oder parallele Schnittstellen, z. B. einem Can-Bus, steuerbar sind oder Daten mit der Hardwareeinheit HE austauschen können.
  • Für komplexere Steuerungs- und Prüfaufgaben ist ein, ebenfalls extern anschließbarer, Prüfrechner PR vorgesehen, der insbesondere über einen üblichen Netzwerkanschluss mit der Hardwareeinheit HE kommuniziert.
  • Prinzipiell kann der Prüfrechner PR auch als integraler Bestandteil der Hardwareeinheit HE vorgesehen sein. Die Erfahrung zeigt aber, dass die Integration eines kompletten Prüfrechners in die Hardwareeinheit HE im allgemeinen aufwendiger ist als beispielsweise einen einfachen handelsüblichen Laptop als externen Prüfrechner PR anzuschließen, der vorteilhafterweise zugleich einen Bildschirm zur Darstellung des Prüfablaufs mitbringt.
  • Neben diesen universell verwendbaren Hardwarekomponenten (HE, PR, MGE) ist eine Codierkassette CK vorgesehen, die eine gerätespezifische Schnittstelle zu dem zu prüfenden Gerät, im folgenden kurz als Prüfling P bezeichnet, ausbildet.
  • Eine auf den Prüfling P zugeschnittene Prüfsoftware SW befindet sich auf einem Datenträger des Prüfrechners PR oder kann über eine nicht dargestellte Datenschnittstelle in den Prüfrechner PR geladen werden.
  • Der grundlegende Ablauf eines durch die Prüfsoftware SW durchgeführten Prüfverfahrens ist in der 2 skizziert. Zentraler Bestandteil der Prüfsoftware SW ist eine Programmsequenz SQ, die die einzelnen Prüfschritte PS1...PSn nacheinander ausführt. Die Programmsequenz SQ stellt dabei den einzelnen Programmschritten die jeweils erforderlichen Programmparameter PAR zur Verfügung. Die typische Signalumgebung des Prüflings P kann durch eine Bus-Simulation BS softwaretechnisch nachgebildet werden. Die Prüfsoftware SW nimmt zudem Eingaben IN entgegen, insbesondere zur Beeinflussung des Prüfprogramms über eine Tastatur des Prüfrechners PR. Das Prüfergebnis wird als Report RE auf einem mit dem Prüfrechner PR verbundenen Bildschirm oder Drucker ausgegeben.
  • Der in den 3 bis 9 näher skizzierte Prüfablauf stellt ein im wesentlichen universell verwendbares Prüfverfahren dar, dessen spezifische Anpassungen an den jeweiligen Prüfling allein durch die Hardware der Codierkassette CK und durch die jeweilige Prüfsoftware SW (siehe 1) erfolgt.
  • Zur näheren Erläuterung der Prüfablaufs werden folgende Begriffe in der nachfolgend definierten Bedeutung verwendet.
    • • IO (”in Ordnung”) und NIO (”nicht in Ordnung”) sind die möglichen Bewertungsergebnisse eines Prüfschritts PS1, PS2, PS3, ...PSn.
    • • Relevante Signale sind die am Prüfling P erfassbaren Signale, deren Zustände sich im aktuellen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn für eine IO-Bewertung verändern müssen.
    • • Nicht relevante Signale sind die am Prüfling P erfassbaren Signale, deren Zustände sich im aktuellen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn für eine IO-Bewertung nicht verändern dürfen.
    • • Zu ignorierende Signale sind die am Prüfling P erfassbaren Signale, deren Zustände im aktuellen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn für eine IO-Bewertung jeden Wert haben bzw. annehmen dürfen.
    • • Als Istwert wird im aktuellen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn das Bitmuster aller am Prüfling erfassten Signale bezeichnet.
    • • Als Sollwert wird das im aktuellen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn für eine IO-Bewertung erwartete Bitmuster der relevanten Signale bezeichnet. Der Sollwert ist das Bitmuster, das in dem jeweiligen Prüfschritt für einen fehlerfreien Prüfling erwartet wird und ist für jeden Prüfschritt in der Prüfsoftware abgespeichert.
    • • Als Neutralposition wird das für die Prüfung eines fehlerfreien und unbeeinflussten Prüflings eindeutig definierte Bitmuster aller relevanten und nicht relevanten Signale bezeichnet. Die Neutralposition wird zumindest in einem ersten Prüfschritt PS1 am unbeeinflussten Prüfling kontrolliert.
    • • Der Vergleichswert ist ein Bitmuster aller relevanten und nichtrelevanten Signale, der im jedem Prüfschritt zur Bewertung des aktuellen Istwerts verwendet wird. Der Vergleichswert wird erfindungsgemäß zumindest im ersten Prüfschritt PS1 gleich dem Wert der Neutralposition gesetzt und erhält ansonsten den Wert des im jeweils vorherigen Prüfschritt erfassten Istwerts zugewiesen.
    • • Die Relevanzmaske gibt für jeden Prüfschritt an, welches Signal jeweils als relevantes, nicht relevantes oder zu ignorierendes Signal anzusehen ist.
  • Wie aus der 2 hervorgeht, führt die Programmsequenz SQ nacheinander die einzelnen Prüfschritte PS1, PS2, PS3, ...PSn aus. Die 3 deutet an, dass sich diese Prüfschritte PS1, PS2, PS3, ...PSn weiter unterteilen lassen und grundsätzlich immer die gleichen Teilschritte a) ... bis h) aufweisen. Diese Teilschritte sind:
    • a) Laden des in der Prüfsoftware gespeicherten Sollwerts für den jeweiligen Prüfschritt,
    • b) Laden der in der Prüfsoftware gespeicherten Relevanzmaske für den jeweiligen Prüfschritt,
    • c) Im ersten Prüfschritt PS1 und optional zusätzlich im letzten Prüfschritt PSn: Übernahme der in der Prüfsoftware gespeicherten Neutralposition als Vergleichswerts. Ab dem zweiten Prüfschritt PS2, und optional nicht im letzten Prüfschritt PSn, erfolgt statt dessen die Übernahme des erfassten Istwerts aus dem jeweils vorherigen Prüfschritt als Vergleichswert.
    • d) Der Prüfling P wird durch eine mechanische Beeinflussung, insbesondere durch eine manuelle Betätigung, oder durch eine elektrische Signalbeaufschlagung durch den Prüfrechner PR dazu veranlasst, elektrisch erfassbare Signale zu generieren.
    • e) Die am Prüfling vorliegenden Signale werden durch die, als Codierkassette CK bezeichnete, modulartig austauschbare Hardwarekomponente erfasst und der Hardwareeinheit HE zugeführt.
  • Vorzugsweise wird bei der Erfassung der Signale jeweils gewartet, bis eine der folgenden Bedingungen erfüllt ist:
    • – die Übereinstimmung aller erfasster Istwert-Stellen mit den Sollwert-Stellen aller relevanten Signale ist erreicht,
    • – eine vorgegeben Timeout-Zeit ist abgelaufen,
    • – es ist ein manueller Abbruch, etwa durch eine Tastenbetätigung des Prüfrechners PR festgestellt worden.
  • Innerhalb jedes Prüfschritts PS1, PS2, PS3, ...PSn wird also gewartet, bis entweder alle relevanten Signale ihren Wert gegenüber dem am Ende des letzten Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn – 1 gemerkten Wert geändert haben (dies kann besonders einfach durch eine XOR-Verknüpfung überprüft werden) und dem erwarteten Sollwert entsprechen, oder die für den jeweiligen Prüfschritt PS1, PS2, PS3, ...PSn definierte Timeout-Zeit abgelaufen ist. Bei einer automatischer Prüfung kann die Timeout-Zeit beispielsweise als eine Sekunde und bei einer manueller Prüfung als unendlich groß festgelegt sein.
    • f) Es erfolgt ein Vergleich der Werte der am Prüfling erfassten analogen Signale mit in der Prüfsoftware festgelegten Grenzwerten aller relevanten und nichtrelevanten Signale, und Speicherung des Vergleichsergebnisses als binären Wert an einer Stelle des aktuellen Istwerts. Die Werte erfasster digitaler Ein-Bit-Signale werden jeweils direkt als binärer Wert an einer Stelle des aktuellen Istwerts übernommen.
    • g) Zur Überprüfung/Bewertung jedes Prüfschritts als IO oder NIO wird eine Relevanzmaske verwendet in der – alle relevanten Signale mit ihrem erwarteten Kennzeichnung „R” – alle nicht relevanten Signale mit der Kennzeichnung „N”
    aufgeführt sind. Im ersten Prüfschritt PS1 und gegebenenfalls auch im letzten Prüfschritt PSn enthält die Kennzeichnung ”A” für ”absolute Messung”, da in diesen Prüfschritten eine Messung gegen einen festen, der Prüfsoftware abgelegten Wert erfolgt.
  • Des weiteren kennzeichnet die Relevanzmaske auch alle Stellen, an denen zu ignorierende Signale auftreten. Für den zu diesem Zeitpunkt aktuellen Istwert wird der Wert aller zu ignorierenden Signale ausgeblendet und danach kontrolliert, ob folgende Bedingungen erfüllt sind:
    • – der Istwert stimmt an den nichtrelevanten Stellen mit dem Vergleichswert überein,
    • – der Istwert stimmt an den relevanten Stellen mit dem invertierten Vergleichswert überein und
    • – der Istwert stimmt an den relevanten Stellen mit dem Sollwert überein.
  • Sind alle drei Bedingungen erfüllt wird der Prüfschritts als IO bewertet.
    • h) Ist mindestens eine der drei Bedingungen nicht erfüllt, wird der Prüfschritts als NIO bewertet.
  • Das Bewertungsergebnis jedes Prüfschritts PS1...PSn wird vorzugsweise protokolliert und als Report RE auf einem Bildschirm oder durch einen Drucker in Papierform ausgegeben und/oder auf einem Datenträger abgespeichert.
  • Der Vergleich aller nicht relevanten Signale der aktuellen Zustände mit den aus dem letzten Prüfschritt gemerkten Zustände, statt mit den aus der ursprünglichen Neutralposition gemerkten Zuständen, erfüllt die Anforderung, daß bei jedem Wertwechsel eines nicht relevanten Signals zwar der jeweils aktuelle Prüfschritt, nicht aber automatisch alle noch darauf folgenden Prüfschritte NIO bewertet werden dürfen.
  • Je nach Prüfdefinition für ein Gerät kann im letzten Prüfschritt Pn eine erneute Kontrolle der Neutralposition erfolgen. Diese erfolgt dann exakt auf die gleiche Weise wie im ersten Prüfschritt PS1. Dies bedeutet, dass in diesem Fall keine Kontrolle auf Änderungen des aktuellen Bitmusters zum im vorherigen Prüfschritt Pn – 1 gemerkten Muster durchgeführt, sondern erneut das aktuelle Bitmuster mit dem Muster der Neutralposition verglichen wird.
  • Die 4 bis 6 verdeutlichen das beschriebene Prüfverfahren an drei konkreten Beispielen, die aus Gründen der Anschaulichkeit allerdings sehr stark vereinfacht sind. In realen Anwendungen ist üblicherweise sowohl die Anzahl der zu erfassenden Signale als auch die Anzahl der zu prüfenden Funktionen deutlich größer als in diesen Beispielen. Außerdem wurden die zu ignorierenden Signale, also die Signale, die in den einzelnen Prüfschritten beliebige Werte annehmen dürfen und daher nicht in die Bewertung des jeweiligen Prüfschritts eingehen, hier nicht dargestellt. In den 7 bis 9 ist jeweils ein Prüfschritt der in den 5 und 6 dargestellten Prüfabläufe im Detail dargestellt.
  • Der Prüfling kann beispielsweise ein Lenkstockschaltermodul für ein Kraftfahrzeug sein, das neben verschiedenen betätigbaren Schalter noch eine signalverarbeitende Elektronik aufweist. Der Aufbau und die genaue Funktionsweise des Lenkstockschaltermoduls soll nicht näher erläutert werden, da diese Details zum Verständnis der nachfolgend beschriebenen Funktionsprüfung nicht von Belang ist. Es sei angenommen, dass am Prüfling folgende prüfbaren Signale auftreten können:
    Signal Beschreibung Grenzen
    1 Can-Signal 1 0 oder 1 (digital)
    2 Umgebungsvariable 3–7
    3 Messwert einer analogen Messkarte 1,26 V–2,54 Volt
    4 Wert einer digitalen Eingangskarte 0 oder 1 (digital)
    5 Messwert eines externen Messgeräts 100 mA–500 mA
  • Bei den Signalen 1 und 4 handelt es sich um digitale Signale, die jeweils durch ein Bit dargestellt sind. Die Umgebungsvariable 2 ist durch ein Mehrbitwort repräsentiert, das beispielsweise in einer auslesbaren Speicherzelle vorliegt. Die Signale 3 und 5 sind analoge Spannungs- bzw. Stromsignale, die durch eine analoge Messkarte bzw. durch ein externes an die Hardwareeinheit HE (1) angeschlossenes Messgerät MGE erfasst werden.
  • Die Aufnahme und Übertragung dieser Daten an die Hardwareeinheit HE erfolgt durch die Codierkassette CK, die die Daten an die entsprechenden Schnittstellen der Hardwareeinheit HE verteilt. Außerdem kann über die Codierkassette CK auch die Versorgung des Prüflings P mit festen oder variablen Spannungen und/oder Strömen erfolgen.
  • Die Hardwareeinheit HE überprüft, ob die Werte der erfassten Signale 2, 3 und 5, die nicht als ein Ein-Bit-Werte vorliegen, innerhalb der jeweils vorgegebenen Grenzen liegen und ordnet diesen als Prüfergebnis jeweils einen Ein-Bit-Wert, also einen Wert von 0 oder 1 zu. Die bereits als Ein-Bit-Werte vorliegenden Signale 1 und 4 werden entsprechend ihres aktuellen Wertes einfach übernommen.
  • Als Prüfergebnis ergibt sich so in jedem Prüfschritt PS1...PS8 ein aus fünf Bits bestehendes Bitmuster, das den jeweiligen Istwert repräsentiert.
  • In den 4 bis 9 sind relevante Signale, also Signale, die durch Bits repräsentiert werden, die in einem bestimmten Prüfschritt eine Veränderung erfahren müssen, mit dem Buchstaben R bezeichnet; nichtrelevante Signale, d. h. Signale, die durch Bits repräsentiert werden, die in einem bestimmten Prüfschritt keine Veränderung erfahren dürfen, sind durch den Buchstaben N gekennzeichnet; zu ignorierende Signale, deren Wert für den jeweiligen Prüfschritt ohne Bedeutung sind, und die folglich einen beliebigen Wert aufweisen können und dürfen, sind in den Figuren nicht dargestellt.
  • Die Zuordnung der Signale 1 bis 5 als relevante Signale R bzw. nichtrelevante Signale N ist von dem jeweiligen Prüfschritt PS2...PS8 abhängig und jeweils in der Spalte ”Relevanzmaske” angegeben. Lediglich im ersten und letzten Programmschritt (PS1, PS8) steht hierin jeweils der Wert ”A”, da in diesen Prüfschritten die erfassten Istwerte mit den in der Spalte ”Grenzen” angegebenen absoluten Werten verglichen werden.
  • Bevor weiter unten anhand der 4 bis 6 die Überprüfung von Prüflingen mit unterschiedlichem Fehlerzuständen näher erläutert werden soll, sei zunächst beispielhaft der Ablauf eines Prüfschritts des erfindungsgemäßen Prüfverfahren anhand der 7 kurz skizziert.
  • Die 7 erläutert den Prüfschritt 4 des in der 5 dargestellten Prüfablaufs. Der im Prüfschritt PS3 am Prüfling erfasste Istwert hat das Bitmuster (1, 1, 0, 1, 1). Das in der Relevanzmaske abgelegte Bewertungsschema im Prüfschritt PS4 lautet (N, R, R, N, N), wobei N ein nichtrelevantes Signal und R ein relevantes Signal an der entsprechenden Stelle des Bitmusters kennzeichnet. Der aus der Prüfsoftware abgerufene Sollwert für diesen Prüfschritt ist hier nur an den Stellen der relevanten Signale dargestellt.
  • Das Bitmuster des Istwerts aus dem Prüfschritt PS3 wird nun als Vergleichswert in den Prüfschritt PS4 übernommen. Der im Prüfschritt PS4 aktuell erfasste Istwert wird danach bitweise mit dem Vergleichswert und den ”relevanten Stellen” des Sollwerts verglichen.
  • Um diesen Vergleich einfacher nachvollziehbar zu machen, ist in den 7 bis 9 ein theoretischer Erwartungswert (in den 4 bis 6 auch einfach als ”Erwartungswert” bezeichnet) dargestellt, der den jeweils erwarteten Wert des Istwerts für eine IO-Bewertung aufzeigt. Es sei erwähnt, dass der Erwartungswert bei einer Realisierung des Prüfverfahrens nicht explizit berechnet werden muss, sondern dass diese Berechnung durch direkte Vergleiche des Sollwerts bzw. Vergleichswerts mit dem aktuellen Istwert ersetzt werden kann.
  • Für eine IO-Bewertung eines nichtrelevanten Signals (die Relevanzmaske hat für dieses Signal den Wert N) ist es erforderlich, dass der aktuelle Istwert an dieser Stelle mit dem Vergleichswert übereinstimmt. Für ein relevantes Signal (Wert der Relevanzmaske an dieser Stelle = R) ist gefordert, dass erstens der erfasste Istwert mit dem Sollwert übereinstimmt und zweitens, dass der erfasste Istwert mit dem Vergleichswert an dieser Stelle nicht übereinstimmt (oder was gleichbedeutend ist, dass der erfasste Istwert mit dem invertierten Vergleichswert übereinstimmt). Das Ergebnis dieser Bedingungen ist im Wert des theoretischen Erwartungswerts zusammengefasst. Da der Erwartungswert in diesem Beispiel an allen Stellen mit dem aktuell erfassten Istwert übereinstimmt und sich somit an jeder Stelle der Wert IO ergibt, ist auch die Gesamtbewertung dieses Prüfschritts IO.
  • Entsprechend ist auch der Prüfablauf in den anderen Prüfschritten. In der 5 ist das nach dem beschriebenen Verfahren erzielte Gesamtbewertungsergebnis für jeden Prüfschritt in der Tabellenzeile ”Bewertung c” aufgezeichnet.
  • Zurückkommend auf die 4 bis 6 zeigen die Tabellen drei verschiedene beispielhafte Prüfabläufe mit den Bitmustern für Soll- und Istwerte, wobei in 4 ein fehlerfreier Prüfling und in den 5 und 6 jeweils ein fehlerbehafteter Prüfling überprüft wird.
  • Dargestellt ist jeweils eine Abfolge mehrerer Prüfschritte, wobei in jedem Prüfschritt eine von drei Funktionen ein oder ausgeschaltet wird und die sich ergebenen Istsignale überprüft werden. Den drei Funktionen sind folgende Signale zugeordnet:
    Funktion 1 schaltet Signal 1 ein,
    Funktion 2 schaltet Signal 2 ein,
    Funktion 3 schaltet Signal 2 aus und Signal 3 ein.
  • Im ersten und im letzten Prüfschritt (PS1, PS8) wird jeweils die sogenannte Neutralposition überprüft, dass heißt keine Funktion ist eingeschaltet. Der zugehörige erfasste Istwert wird hier in jedem Fall nur mit einem vorbekannten, gespeicherten Sollwert verglichen.
  • In den letzten drei Zeilen jeder Tabelle sind die Prüfergebnisse jedes Prüfschritts eingetragen, die sich durch drei verschiedene Bewertungsverfahren ergeben. Der Eintrag ”IO” steht auch hier für ”in Ordnung”, während der Eintrag ”NIO” (= nicht in Ordnung) für eine Bewertung des jeweiligen Prüfschritts als fehlerhaft steht.
  • Die Zeilen ”Bewertung a” zeigen den Vergleich der im jeweiligen Prüfschritt ermittelten Bits des Istwerts der erwarteten Signalen, also der Signale, die in der Spalte Relevanzmaske mit dem Eintrag ”R” gekennzeichnet sind, mit den entsprechenden Bits des Sollwerts. Die Zeile ”Bewertung b” zeigt jeweils das Vergleichsergebnis des vollständigen Bitmusters des erfassten Istwerts mit dem vollständigen Bitmuster des vorbekannten Sollwert. Dieser vorbekannte Sollwert ist einfach das Bitmuster, das in dem jeweiligen Prüfschritt für einen fehlerfreien Prüfling erwartet wird.
  • Die Zeilen ”Bewertung a” und ”Bewertung b” zeigen somit Prüfergebnisse, wie sie durch übliche Prüfverfahren gewonnnen werden können.
  • Die Zeile ”Bewertung c” zeigt dagegen, jeweils ab dem zweiten Prüfschritt, den Vergleich eines erfassten Istwert mit einem Sollwert, der auf die zuvor anhand der 7 beschriebene Weise aus dem Istwert des vorherigen Prüfschritts unter Berücksichtigung der Bitstellen als relevante Signale bzw. nicht relevante Signale N.
  • Aus der Tabelle der 4 ergibt sich, dass bei einem fehlerfreien Prüfling alle drei Bewertungsverfahren bei jedem Prüfschritt das Ergebnis ”IO” liefern, und den Prüfling damit als vollständig fehlerfrei beurteilen. Die verschieden Verfahren unterscheiden sich also bei einem fehlerfreien Prüfling nicht in ihrem Bewertungsergebnis.
  • Bei dem Prüfvorgang, der in der Tabelle der 5 dargestellt ist, ist ein Fehler des Prüflings angenommen, bei dem der Wert des Signals 5 dauerhaft konstant gleich 1 ist. Wie aus dem bekannten Sollwert in der Neutralposition ersichtlich ist, wird in der Neutralposition für das Signal 5 der Wert 0 erwartet, so dass der Istwert des Signals 5 hier einen fehlerhaften Wert aufweist. Da die in den nachfolgenden Prüfschritten (PS2...PS8) geprüften Funktionen den Wert des Signals 5 nicht beeinflussen, ändert sich dieser nicht und die vollständigen Vergleiche der Istwerte und Sollwerte in Zeile ”Bewertung b” liefern jedes Mal die Bewertung NIO, also fehlerhaft.
  • Die Überprüfung nur der relevanten Signale R liefert dagegen jedes Mal das Ergebnis ”IO” (Zeile ”Bewertung a”), da das Signal 5 bei den hier vorgesehenen Prüfschritten nie ein relevantes Signal R darstellt.
  • Die ausschließliche Bewertung der relevanten Signale R liefert hier somit keinerlei Hinweis auf einen Fehler, was als Prüfergebnis für einen fehlerhaften Prüfling inakzeptabel ist. Die Bewertung von vollständigen Bitmustervergleichen von erfassten Istwerten und vorbekannten erwarteten Sollwerten liefert dagegen in jedem Prüfschritt (PS1...PS8) den Hinweis auf einen fehlerhaften Prüfling, wobei aber kein Hinweis auf die Art des aufgetretenen Fehlers erkennbar wird.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Prüfverfahren ergibt die Bewertung in Zeile ”Bewertung c”, ein NIO genau im ersten und im letzten Prüfschritt, also jeweils in der Neutralposition des Prüflings, während die übrigen Prüfschritte eine IO-Bewertung erhalten. Dies bedeutet, dass die Funktionen 1 und 3, die die Signale 1 bis 3 beeinflussen hier fehlerfrei ablaufen. Daraus ist ableitbar, dass sich der in der Neutralposition erkannte Fehler auf eines der Signal 4 oder 5 oder auch auf beide Signale 4 und 5 bezieht. Dieses Prüfverfahren liefert somit bereits relativ konkrete Fehlerhinweise, und zwar in diesem Fall durch Ausschluss von Fehlermöglichkeiten.
  • Im dritten Prüfbeispiel, welches in der Tabelle der 6 dargestellt ist, wird als Fehler angenommen, dass die Signale 1 und 3 immer gemeinsam auftreten, was durch eine unzulässige gegenseitige mechanische oder elektrische Beeinflussung von Komponenten des Prüflings bewirkt sein kann.
  • Eine ausschließliche Prüfung der relevanten Signale R liefert hier jedes Mal die Bewertung ”IO” und zeigt damit auch in diesem Beispiel keinen Fehler auf, und dies obwohl die Prüfschritte PS1, PS2, PS3, ...PS8 durchaus Funktionen mit den fehlerhaften Signalen betreffen. Der Grund hierfür ist, dass die jeweils erwarteten ”relevanten” Signale ja durchaus an den richtigen Stellen auftauchen, während die zugleich erscheinenden fehlerhaften nicht erwarteten ”nicht relevanten Signale” gar nicht überprüft werden und daher nicht erkannt werden.
  • Umgekehrt stellt sich das Ergebnis dar, wenn sowohl die relevanten Signale R wie die nicht relevanten Signale N mit festen Sollwerten verglichen werden, dargestellt in Zeile ”Bewertung b”. Hier liefert der Vergleich, abgesehen von den beiden Prüfungen der Neutralposition, jedes Mal den Wert NIO und liefert damit auch keine auswertbaren Informationen über eine mögliche Fehlerursache.
  • Die in Zeile ”Bewertung c” dargestellte Bewertung gemäß des erfindungsgemäßen Prüfverfahrens liefert jeweils eine NIO-Bewertung in den Prüfschritten 2, 4, 5 und 7, in denen die Funktionen 1 und 3 geprüft werden. Die Funktionen 1 und 3 beeinflussen die Signale 1, 2 und 3. Ein fehlerhaftes Signal 2 ist aber unwahrscheinlich, da die Prüfschritte 3 und 5 die Funktion 2 als IO bewerten, die ausschließlich das Signal 2 verändert.
  • Dies lässt einen Fehler vermuten, der sich zugleich auf die Signale 1 und 3 auswirkt.
  • Die 8 und 9 zeigen zum in der 6 dargestellten Prüfablauf Detailansichten der Prüfschritte 2 und 4. In diesen Prüfschritten ist jeweils das Signal 3 für eine NIO-Bewertung verantwortlich. Im Prüfschritt 2, dargestellt in der 8, liefert das Signal 3 als nichtrelevantes Signal einen fehlerhaften, nicht mit dem Istwert übereinstimmenden Vergleichswert. Im Prüfschritt 4, der in der 9 verdeutlicht ist, ist das Signal 3 ein relevantes Signal. Hier liefern aber der Sollwert und der invertierte Vergleichswert unterschiedliche Signale, so dass der theoretische Erwartungswert an dieser Stelle undefiniert (bezeichnet als X) ist. Hieraus folgt eine Bewertung dieses Signals als NIO.
  • Zusammenfassend ist festzustellen, dass das Prüfsystem aufgrund seiner relativ zum letzten Prüfschritt berechneten Sollwerte ein weitaus differenzierteres Prüfergebnis liefert, als ein Vergleich von in den Prüfschritten ermittelten Istwerten mit festen Sollwerten.
  • In realen Prüfungen, die eine weitaus größere Anzahl von auswertbaren Signalen und von durchzuführenden Prüfschritten aufweisen, wirkt sich der Vorteil einer deutlichen Fehlererkennung noch weitaus vorteilhafter aus, als in diesen stark vereinfachten Beispielen.
  • (Hardware-Teil)
  • CK
    Codierkassette
    MGE
    Externe Messgeräte
    P
    Prüfling
    PR
    Prüfrechner
    HE
    Hardwareeinheit
    SW
    Prüfsoftware
  • (Software-Teil)
  • BS
    Bus-Simulation
    IN
    Eingaben
    PAR
    Parameter
    PS1, PS2, PS3, ...PSn
    Prüfschritte
    RE
    Report
    SQ
    Programmsequenz
    a)...h)
    Teilschritte

Claims (14)

  1. Prüfvorrichtung für ein elektrisches oder elektromechanisches Gerät, (”Prüfling”) mit einem Hardwareeinheit und mit einem Prüfrechner, der in die Hardwareeinheit integriert oder an die Hardwareeinheit anschließbar ist, wobei der Prüfling elektrisch mit der Hardwareeinheit verbunden ist, und wobei der Prüfrechner eine Prüfsoftware zur Beeinflussung des Prüflings ausführt, und am Prüfling Signale erfasst und mit aufgrund der Beeinflussung erwarteten Signalen vergleicht, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Verbindung zwischen dem Prüfling (P) und der Hardwareeinheit (HE) über eine modulartig austauschbare Hardwarekomponente (CK) erfolgt, die eine die spezifisch auf den Prüfling (P) zugeschnittene Anpassung zwischen Hardwareeinheit (HE) und dem Prüfling (P) herstellt.
  2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die modulartig austauschbaren Hardwarekomponente (CK) mittels Steckverbindern mit der Hardwareeinheit (HE) verbindbar ist.
  3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die modulartig austauschbare Hardwarekomponente (CK) als Steckkarte oder als eine Codierkassette ausgebildet ist.
  4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Prüfrechner (PR) ein handelsüblicher PC oder Laptop ist.
  5. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Hardwareeinheit (HE) eine Spannungs- oder Stromversorgung für den Prüfling (P) bereitstellt.
  6. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Hardwareeinheit (HE) jeweils mindestens eine Schnittstelle zum Anschluss des Prüfrechners (PR) und zur Ankopplung der austauschbaren Hardwarekomponente (CK) bereitstellt.
  7. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass an die Hardwareeinheit (HE) externe Geräte (MGE) anschaltbar sind, die durch die Hardwareeinheit (HE) oder den Prüfrechner (PR) ansteuerbar sind.
  8. Prüfvorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass zu den externen Geräten steuerbare Spannungs- und/oder Stromversorgungsgeräte gehören.
  9. Prüfvorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass zu den externen Geräten Messgeräte (MGE) gehören.
  10. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Prüfrechner (PR) eine bezüglich des zu prüfenden Geräts (P) spezifische Prüfsoftware (SW) ausführt.
  11. Prüfverfahren, das eine Abfolge mehrerer Prüfschritte PS1...PSn enthält, wobei jeder Prüfschritt mindestens folgende Verfahrensschritte aufweist: a) Laden eines in einer Prüfsoftware gespeicherten Sollwerts für den jeweiligen Prüfschritt, b) Laden einer in der Prüfsoftware gespeicherten Relevanzmaske für den jeweiligen Prüfschritt, c) Im ersten Prüfschritt PS1: Übernahme eines in der Prüfsoftware gespeicherten Vergleichswerts; ab dem zweiten Prüfschritt PS2: Übernahme des erfassten Istwerts aus dem jeweils vorherigen Prüfschritt als Vergleichswert, d) elektrische Beeinflussung des Prüflings durch ein an den Prüfling gegebenes Ansteuersignal oder mechanische Beeinflussung des Prüflings, e) Erfassung von Signalen am Prüfling, f) Vergleich der Werte der am Prüfling erfassten analogen Signale mit in der Prüfsoftware festgelegten Grenzwerten, und Speicherung des Vergleichsergebnisses jeweils als binäre Stelle des aktuellen Istwerts bzw. Übernahme der Werte digitaler Ein-Bit-Signale jeweils als binäre Stelle des aktuellen Istwerts, g) Bewertung des Prüfschritts als IO wenn folgende Bedingungen erfüllt sind: – der Istwert stimmt an den nichtrelevanten Stellen mit dem Vergleichswert überein, – der Istwert stimmt an den relevanten Stellen mit dem invertierten Vergleichswert überein und – der Istwert stimmt an den relevanten Stellen mit dem Sollwert überein, und h) Bewertung des Prüfschritts als NIO, wenn eine der vorgenannten Bedingungen nicht erfüllt ist.
  12. Prüfverfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass im Verfahrenschritt c) des letzten Prüfschritts PSn, genau wie im ersten Prüfschritt PS1, die Übernahme eines in der Prüfsoftware gespeicherten Vergleichswerts erfolgt.
  13. Prüfverfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Bewertungsergebnis jedes Prüfschritts protokolliert und auf einem Bildschirm oder in Papierform ausgegeben und/oder auf einem Datenträger abgespeichert wird.
  14. Prüfverfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass im Falle einer NIO-Bewertung eines Prüfschrittes die Signale, die zu der NIO-Bewertung geführt haben, zusätzlich dokumentiert werden.
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