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Die
Erfindung betrifft eine optische Vorrichtung zur Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite eines Laserstrahls einer
Laserlichtquelle, mit einem Strahlaufweitungsmodul, das den Laserstrahl
in Richtung quer zur Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls aufweitet.
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Die
Erfindung betrifft weiterhin eine Laserlichtquelle.
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Eine
optische Vorrichtung und eine Laserlichtquelle der eingangs genannten
Art sind durch ihre Verwendung allgemein bekannt.
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Eine
solche optische Vorrichtung wird allgemein in Laserlichtquellen
verwendet, die für
die Halbleiterlithographie oder für die Lasermaterialbearbeitung
verwendet werden. Für
die Halbleiterlithographie werden insbesondere Excimer-Laser verwendet,
die ohne zusätzliche
Vorrichtung zur Bandbreiteneinengung eine spektrale Bandbreite von
etwa 0,5 nm (Nanometer) aufweisen. Für die Verwendung solcher Laser
als Lichtquellen in der Halbleiterlithographie ist diese Bandbreite
meist zu groß.
Deshalb kommen in Lasern, die als Lichtquelle für die Halbleiterlithographie
verwendet werden, so genannte Bandbreiteneinengungsmodule zum Einsatz,
die die Bandbreite reduzieren.
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Ein
solches Bandbreiteneinengungsmodul besteht im Wesentlichen aus einer
Eingangsapertur, einem Strahlaufweitungsmodul sowie einem Reflexionsgitter,
wobei das Bandbreiteneinengungsmodul einen der beiden Endspiegel
des Laserresonators ersetzt. In das Bandbreiteneinengungsmodul einfallendes
Laserlicht wird über
das Reflexionsgitter, das beispielsweise in Littrow-Anordnung angeordnet
ist, nur dann durch die Eingangsapertur zurück in den Resonator reflektiert,
wenn die Wellenlänge
des Lichts die Gittergleichung erfüllt. Welche Wellenlänge zurück in den
Resonator reflektiert wird, hängt
davon ab, unter welchen Winkeln das Licht auf das Gitter fällt. Je
größer die
Winkelverteilung des einfallenden Lichts ist, desto größer ist
die Breite der Wellenlängenverteilung
und damit die spektrale Bandbreite des Nutzstrahls des Laserstrahls,
der den Laserresonator verlässt.
Die Erzeugung von Laserstrahlung mit kleiner Bandbreite erfordert
daher eine kleine Winkelverteilung (schmales Winkelspektrum) innerhalb
des Laserstrahls.
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Eine
kleine Winkelverteilung innerhalb des Laserstrahls lässt sich
dadurch erreichen, dass der aus dem Resonator in das Bandbreiteneinengungsmodul
einfallende Laserstrahl mit Hilfe eines Strahlaufweitungsmoduls
in Richtung quer zur Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls aufgeweitet
wird. Die Aufweitung des Laserstrahls kann dabei das 20- bis 50-fache
des in das Bandbreiteneinengungsmodul einfallenden Laserstrahls
betragen. Hierdurch können
spektrale Bandbreiten des Laserstrahls von wenigen 100 fm (Femtometer)
erreicht werden. Eine größere Strahlaufweitung
führt demnach
zu einer kleineren spektralen Bandbreite des Laserlichts.
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Während für die Halbleiterlithographie
Laserlicht mit einer möglichst
geringen spektralen Bandbreite erwünscht ist, ist es für andere
Anwendungen jedoch zuweilen erforderlich, die spektrale Bandbreite
des Laserlichts künstlich
zu erhöhen,
beispielsweise um einen Laser, der nur eine geringe spektrale Bandbreite
zur Verfügung
stellt, als Lichtquelle für
einen Prozess zu verwenden, der eine höhere spektrale Bandbreite des
Laserlichts erfordert oder der auf Laserlicht mit größerer spektraler
Bandbreite optimiert wurde.
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Eine
Möglichkeit,
die spektrale Bandbreite künstlich
zu erhöhen,
besteht darin, die oben erwähnte
Strahlaufweitung des Laserstrahls zu reduzieren. Bei einem Bandbreiteneinengungsmodul,
das ein Strahlaufweitungsmodul mit einer Mehrzahl von Prismen aufweist,
kann dies durch Drehung eines der Prismen realisiert werden, um
die Strahlaufweitung zu reduzieren und dadurch die spektrale Bandbreite zu
erhöhen.
Diese Vorgehensweise der Erhöhung der
spektralen Bandbreite hat jedoch folgende Nachteile.
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Der
Bereich der Variation der Strahlaufweitung mittels des Strahlaufweitungsmoduls
ist begrenzt, wodurch auch der Einstellbereich der spektralen Bandbreite
begrenzt ist. Darüber
hinaus bestehen hohe Anforderungen an die mechanische Ausführung eines
beweglichen Prismas, wobei zu beachten ist, dass es bei der Drehung
eines oder mehrerer der Prismen zu einer Verkippung der Achsen der Prismen
kommen kann, wodurch das Strahlprofil verschlechtert wird. Darüber hinaus
führen
bei einer Verkleinerung der Strahlaufweitung Fluktuationen der Winkelverteilung
zu einer erhöhten
Fluktuation der Zentralwellenlänge
des Laserlichts, wobei ein solcher Wellenlängenfehler die Stabilität des Prozesses, für den das
Laserlicht benutzt wird, beeinträchtigt.
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Der
Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine optische Vorrichtung
zur Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite eines Laserstrahls der
eingangs genannten Art anzugeben, mit der die spektrale Bandbreite
des Laserstrahls einer Laserlichtquelle gezielt eingestellt werden
kann, ohne dass es zu einer merklichen Erhöhung der Fluktuation der Zentralwellenlänge des
Laserlichts oder zu einer merklichen Verschlechterung des Strahlprofils
kommt.
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Erfindungsgemäß wird diese
Aufgabe hinsichtlich der eingangs genannten optischen Vorrichtung
durch eine optische Anordnung gelöst, die zumindest ein erstes
optisches Bauelement aufweist, dessen optische Eigenschaften so
gewählt
sind, dass es das Winkelspektrum des Laserstrahls verbreitert.
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Die
erfindungsgemäße optische
Vorrichtung zur Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite eines Laserstrahls geht
nicht wie die bekannte optische Vorrichtung davon aus, zur Veränderung
der spektralen Bandbreite die Strahlweite des Laserstrahl mittels
des Strahlaufweitungsmoduls zu variieren, sondern in den Laserstrahl,
vorzugsweise in den aufgeweiteten Laserstrahl, eine optische Anordnung
einzubringen, die zumindest ein erstes optisches Bauelement aufweist,
dessen optische Eigenschaften so gewählt sind, dass sie das Winkelspektrum
des Laserstrahls, vorzugsweise des aufgeweiteten Laserstrahls, verbreitert.
Unter ”Verbreiterung bzw.
Vergrößerung des
Winkelspektrums” ist
zu verstehen, dass in den Laserstrahl zusätzliche Ausbreitungsrichtungswinkel
eingeführt
werden. Durch die gezielte Verbreiterung des Winkelspektrums mittels des
zumindest einen optischen Bauelements kann die spektrale Bandbreite
des Laserstrahls gezielt vergrößert werden,
indem das erste optische Bauelement mit entsprechenden definierten
optischen Eigenschaften bereitgestellt wird. Diese optischen Eigenschaften
sind so beschaffen, dass das zumindest eine optische Bauelement
in den Laserstrahl zusätzliche
Winkel der Ausbreitung einführt,
die vom Gitter in zusätzliche
Wellenlängen
umgesetzt werden. Es versteht sich, dass die Einstellung der spektralen Bandbreite
des Laserstrahls mittels der erfindungsgemäß vorgesehenen optischen Anordnung
auch zusätzlich
zu einer Variation der Strahlaufweitung genutzt werden kann, wobei
jedoch eine Variation der Strahlaufweitung aufgrund der erfindungsgemäß vorgesehenen
optischen Anord nung nicht erforderlich ist. Die erfindungsgemäß vorgesehene
optische Anordnung zur Vergrößerung des
Winkelspektrums des Laserstrahls kann nämlich als vollständiger Ersatz der
Veränderung
der Strahlaufweitung mittels des Strahlaufweitungsmoduls verwendet
werden, so dass Wellenlängenfehler
oder Strahlprofilverschlechterungen zumindest verringert werden.
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Die
optische Anordnung zur Verbreiterung des Winkelspektrums kann im
Rahmen der Erfindung auch vor dem Strahlaufweitungsmodul angeordnet sein,
wobei es bevorzugt ist, sie im oder hinter dem Strahlaufweitungsmodul
anzuordnen.
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Mit
der vorliegenden Erfindung kann eine bereits vorhandene Laserlichtquelle
durch zusätzliches Vorsehen
der erfindungsgemäßen optischen
Anordnung zur gezielten Beeinflussung des Winkelspektrums des Laserstrahls
nachgerüstet
werden.
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In
einer bevorzugten Ausgestaltung ist das zumindest eine optische
Bauelement wahlweise in den Laserstrahl zumindest teilweise einbringbar
und wieder herausnehmbar.
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Hierbei
ist von Vorteil, dass die optische Vorrichtung sowohl in herkömmlicher
Weise dazu verwendet werden kann, Laserlicht mit einer sehr schmalen
spektralen Bandbreite zu erzeugen, wenn das zumindest eine optische
Bauelement aus dem Laserstrahl herausgenommen ist, um das so erzeugte
Laserlicht für
einen Prozess beispielsweise in der Halbleiterlithographie zu verwenden,
als auch bei in den Laserstrahl eingebrachtem optischen Bauelement
zur Vergrößerung des
Winkelspektrums des Laserstrahls mit einer größeren spektralen Bandbreite
zu erzeugen, um das so erzeugte Laserlicht für einen Prozess zu verwenden,
der auf Laserlicht mit höherer
spektraler Bandbreite ausgelegt ist. Die Anzahl der Einsatzmöglichkeiten
einer mit einer solchen erfindungsgemäßen optischen Vorrichtung ausgestatteten
Laserlichtquelle wird dadurch vorteilhafterweise erhöht.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung weist die optische Anordnung
zumindest ein zweites optisches Bauelement auf, dessen optische
Eigenschaften zu den optischen Eigenschaften des ersten optischen
Bauelements komplementär
sind, wobei das erste optische Bauelement und das zweite optische
Bauelement relativ zueinander verfahrbar sind.
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Diese
Maßnahme
hat den Vorteil, dass die spektrale Bandbreite des Laserstrahls
variabel eingestellt werden kann, indem die zumindest zwei optischen
Bauelemente relativ zueinander verfahren werden. Durch die komplementäre Ausgestaltung der
optischen Eigenschaften des ersten und zweiten optischen Bauelements
relativ zueinander gibt es eine relative Position der beiden optischen
Bauelemente, in der sie keine optische Wirkung entfalten und daher
das Winkelspektrum des Laserstrahls nicht beeinflussen, und durch
Verfahren eines oder beider optischer Bauelemente aus dieser „Null-Lage” wird dann
das Winkelspektrum des Laserstrahls vergrößert, um die spektrale Bandbreite
des Laserstrahls zu vergrößern. „Verfahrbar” bedeutet
hier eine translatorische und/oder eine rotatorische Lageänderung.
Die optischen Eigenschaften des ersten und zweiten optischen Bauelements,
die zueinander komplementär
sind, können
beispielsweise Brechungsindexverteilungen im ersten und zweiten
Bauelement sein, oder, wie in einer bevorzugten Ausgestaltung vorgesehen
ist, Oberflächenstrukturierungen
der Oberflächen
der beiden Bauelemente.
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Die
optischen Eigenschaften des ersten optischen Bauelements und ggf.
des zweiten optischen Bauelements oder weiterer optischer Bauelemente können auf
verschiedene Arten und Weisen bereitgestellt sein, um das Winkelspektrum
des Laserstrahls zu vergrößern.
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Eine
erste bevorzugte Ausgestaltung besteht darin, dass das erste optische
Bauelement auf zumindest einer seiner optisch genutzten Oberflächen eine
erste Mikrostrukturierung in Form eines ersten Oberflächenreliefs
aufweist, das die Wellenfront des Laserlichts umformt.
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Bei
dieser Ausgestaltung wird das Winkelspektrum des Laserstrahls durch
eine Umformung der Wellenfront des Laserlichts durch die Mikrostrukturierung
in Form eines Oberflächenreliefs
vergrößert. Das
Oberflächenrelief
bewirkt eine gezielte Störung
der Wellenfront des auf das Oberflächenrelief einfallenden Laserstrahls,
wodurch zusätzliche
Winkel in das Winkelspektrum des Laserlichts eingeführt werden,
die am nachgeordneten Reflexionsgitter, das wie eingangs beschrieben
beispielsweise in Littrow-Anordnung angeordnet ist, in verschiedene
Wellenlängen übersetzt
werden und zu einer erhöhten spektralen
Bandbreite führen. Über die
Struktur des Oberflächenreliefs
kann dabei die Größe und Verteilung
der Winkel innerhalb des Winkelspektrums eingestellt und damit die
spektrale Form des Laserstrahls nach den Anforderungen und Bedürfnissen zugeschnitten
werden. Die vorstehend beschriebene Ausgestaltung eignet sich sowohl
für reflektive
als auch für
transmissive optische Bauelemente.
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Wenn
wie in einer oben beschriebenen Ausgestaltung die optische Anordnung
zumindest zwei optische Bauelemente mit zueinander komplementären optischen
Eigenschaften aufweist, ist es weiterhin bevorzugt, wenn das zweite
optische Bauelement auf zumindest einer seiner optisch genutzten
Oberflächen
eine zweite Mikrostrukturierung in Form eines zweiten Oberflächenreliefs
aufweist, das zum ersten Oberflächenrelief
komplementär
ist.
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Mit
dieser Maßnahme
lassen sich zueinander komplementäre optische Eigenschaften herstellungstechnisch
einfach erzeugen, die zuverlässig eine
gezielte Bandbreitenvergrößerung des
Laserlichts gewährleisten.
Weist das Oberflächenrelief
beispielsweise eine stufenförmige
Vertiefung auf, weist das andere Oberflächenrelief dann eine stufenförmige Erhabung
auf.
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Nach
der Strahlaufweitung weist der auf das erste optische Bauelement
einfallende Laserstrahl üblicherweise
eine erste Abmessung in einer ersten Raumrichtung und eine zweite
Abmessung in einer zweiten Raumrichtung auf, wobei die erste Abmessung
größer sein
kann als die zweite Abmessung. In diesem Fall ist das erste Oberflächenrelief
vorzugsweise in Richtung der zweiten, also kleineren Abmessung ausgebil det
und weist zumindest eine Vertiefung auf, die sich in Richtung der
ersten Abmessung erstreckt und deren Breite in Richtung der zweiten Abmessung
kleiner als die Abmessung des Laserstrahls in der zweiten Raumrichtung
ist.
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Während eine
Ausbildung des Oberflächenreliefs
auch in Richtung der ersten, also größeren Abmessung des Laserstrahls
möglich
ist, hat die vorstehend genannte Ausgestaltung den Vorteil, dass
in Richtung der ersten, längeren
Abmessung des Laserstrahls keine Subaperturen erzeugt werden, die das
Strahlprofil des Laserstrahls negativ beeinflussen können. Das
Oberflächenrelief
des optischen Bauelements weist somit in Richtung der zweiten Abmessung
gesehen zumindest eine Vertiefung auf, die in Richtung der ersten
Abmessung vorzugsweise eben oder glatt ist.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung ist die zumindest eine
Vertiefung in Richtung der ersten Abmessung keilförmig ausgebildet.
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Durch
die keilförmige
Ausgestaltung wird entsprechend dem Keilwinkel ein zusätzlicher
Winkel in das Winkelspektrum des auf das Oberflächenrelief einfallenden Laserstrahls
eingeführt.
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Vorteilhafterweise
werden mehrere unterschiedliche Winkel in den Laserstrahl eingeführt und die
spektrale Bandbreite des Laserlichts noch weiter vergrößert, wenn
das erste Oberflächenrelief
eine Mehrzahl an keilförmigen
Vertiefungen aufweist, deren Keilwinkel unterschiedlich sind.
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Die
mehreren keilförmigen
Vertiefungen können
gegenläufig
oder gleichläufig
ausgebildet sein und insbesondere ein fächer- oder wendeltreppenförmiges Profil
bilden.
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Im
Fall, dass die zumindest eine Vertiefung keilförmig ausgebildet ist, kann
die keilförmige
Vertiefung auch einen oder mehrere Knicke zwischen den beiden Längsenden
der keilförmigen
Vertiefung aufweisen, wodurch es möglich ist, bei einer einzelnen keilförmigen Vertiefung
verschiedene Keilwinkel vorzusehen. Damit kann durch unterschiedliche
Aufweitung des Laserlichtstrahls in Längsrichtung der Vertiefung
der unterschiedliche Einfluss der verschiedenen Keilwinkel auf die
Veränderung
der spektralen Breite des Laserlichts ausgenutzt werden, d. h. in
Abhängigkeit
der Aufweitung des Laserlichtstrahls tragen die verschiedenen Keilwinkel
unterschiedlich zur Veränderung
des Winkelspektrums des Laserlichts bei. Der Knick oder die Knicke
können
dabei in der keilförmigen
Vertiefung insbesondere in Bezug auf die erste Abmessung nahe zur
Mitte der keilförmigen Vertiefung
vorgesehen sein.
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Während in
den zuvor genannten Ausgestaltungen das Oberflächenrelief eine nicht periodische Struktur
darstellt, kann es auch vorgesehen sein, das erste Oberflächenrelief
mit einem periodischen Verlauf auszugestalten.
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Ein
solches periodisches Oberflächenrelief kann
beispielsweise ein sinusförmiges
Profil sein oder ein Profil mit variierender Periodenlänge sein.
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Ein
nicht periodisches Oberflächenrelief
hat den Vorteil, dass durch das Oberflächenrelief keine Gitterwirkung
erzeugt wird.
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Im
Falle eines periodischen Oberflächenreliefs
ist die Periodenlänge
vorzugsweise kleiner als die Breite des auf die Oberfläche einfallenden
Laserstrahls.
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In
allen zuvor genannten Ausgestaltungen, wonach das erste und ggf.
das zweite optische Bauelement auf zumindest einer ihrer Oberflächen ein Oberflächenrelief
aufweisen, beträgt
die Tiefe des Oberflächenreliefs
im Bereich von etwa 1 nm bis etwa 1 μm. Im Falle der Ausgestaltung
des Oberflächenreliefs
mit keilförmigen
Vertiefungen liegen die Keilwinkel im μrad-Bereich.
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Obwohl
die erfindungsgemäß vorgesehene optische
Anordnung innerhalb der optischen Vorrichtung zur Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite eines Laserstrahls ein
reflektives Bauelement oder reflektive Bauelemente aufweisen kann,
ist es bevorzugt, wenn das erste optische Bauelement ein für den Laserstrahl
transmissives Bauelement ist.
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Der
Vorteil der Verwendung eines oder mehrerer transmissiver optischer
Bauelemente für
die erfindungsgemäß vorgesehene
optische Anordnung besteht in einer geringen Baugröße und in
einem geringen Raumbedarf der optischen Anordnung.
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Im
Fall, dass das erste optische Bauelement ein transmissives Bauelement
ist, ist es weiterhin bevorzugt, wenn das erste optische Bauelement
auf seinen beiden Oberflächen
jeweils eine Mikrostrukturierung in Form eines Oberflächenreliefs
aufweist, wobei das Oberflächenrelief
der einen Oberfläche asymmetrisch
zum Oberflächenrelief
der anderen Oberfläche
ausgebildet ist.
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Hierbei
ist von Vorteil, dass das jeweilige Oberflächenrelief auf einer der Oberflächen beispielsweise
nur eine Vertiefung erfordert, während die
zweite Vertiefung dann auf der anderen Oberfläche vorgesehen ist, wobei beide
Vertiefungen gegeneinander versetzt sind. Der Vorteil dieser Maßnahme besteht
in der einfacheren Herstellbarkeit der Oberflächenreliefs bei einem gleichzeitig
hohen Vermögen,
zusätzliche
Winkel in das Winkelspektrum des Laserstrahls einzuführen.
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Die
optischen Eigenschaften können
zur Vergrößerung des
Winkelspektrums innerhalb des Laserstrahls auch durch eine entsprechende
Brechungsindexverteilung eingestellt werden, was jedoch nur im Fall
eines transmissiven optischen Bauelements möglich ist.
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Im
Fall, dass das optische Bauelement ein transmissives Bauelement
ist, ist das erste optische Bauelement vorzugsweise eine Planplatte
oder eine Platte mit Keilung.
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Die
Verwendung einer Planplatte hat den Vorteil, dass sie außer der
Beeinflussung des Winkelspektrums keine weiteren optischen Wirkungen
auf den Laserstrahl besitzt, so dass beispielsweise das Strahlprofil
des Laserstrahls nicht beeinträchtigt wird. Eine
Planplatte weist im Vergleich zu dem Oberflächenrelief gemäß einiger
der oben genannten Ausgestaltungen keine oder im Vergleich zu dem
Oberflächenrelief
vernachlässigbare
langwellige Passefehler auf. Die Dicke der Planplatte sollte dabei
so gewählt
werden, dass sich die Platte durch mechanische oder thermische Einflüsse nicht
deformiert. Es kann auch vorgesehen sein, zur Vermeidung von Interferenzen
und Vielfachreflexen eine Antireflexbeschichtung auf den Oberflächen der
Planplatte aufzubringen, oder die Platte mit Keilung herzustellen.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung weist das optische Bauelement
CaF2 auf. In dieser Ausgestaltung ist die
optische Anordnung insbesondere für Laserlichtquellen mit einer
kurzen Zentralwellenlänge
geeignet, beispielsweise für
Laserlichtquellen, die Laserlicht mit einer Wellenlänge von
weniger als 200 nm erzeugen.
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Die
erfindungsgemäß vorgesehene
optische Anordnung ist vorzugsweise zwischen dem Strahlaufweitungsmodul
und einem Reflexionsgitter, vorzugsweise in Littrow-Anordnung, angeordnet.
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Zwischen
dem Strahlaufweitungsmodul und dem Reflexionsgitter lässt sich
die optische Anordnung optimalerweise mit senkrechtem Lichteinfall des
Laserstrahls auf die optische Anordnung positionieren.
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Erfindungsgemäß wird weiterhin
eine Laserlichtquelle bereitgestellt, die Licht mit einer Wellenlänge λ0,
die in einem Bereich von etwa 140 Nanometer bis etwa 380 Nanometer
liegt, und mit einem Wellenlängenspektrum
einer Bandbreite Δλ um die Wellenlänge λ0 herum
emittiert, wobei die Bandbreite Δλ einstellbar
ist.
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In
bevorzugten Ausgestaltungen beträgt
die Wellenlänge λ0 etwa
157 Nanometer, etwa 193 Nanometer, etwa 248 Nanometer oder etwa
308 Nanometer.
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Mit
den vorstehend genannten Wellenlängen λ0 ist
die erfindungsgemäße Laserlichtquelle
insbesondere zur Verwendung in der Halbleiterlithographie geeignet.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung beträgt die Wellenlänge λ0 etwa
351 nm. In dieser Ausgestaltung eignet sich die Laserlichtquelle
insbesondere zur Verwendung in der Materialbearbeitung, insbesondere
zur Kristallisation von Silizium-Wafern.
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Erfindungsgemäß wird weiterhin
eine Laserlichtquelle bereitgestellt, die Licht mit einer Wellenlänge λ0 und
einem Wellenlängenspektrum
einer Bandbreite Δλ um die Wellenlänge λ0 herum
mit einer Leistung in einem Leistungsbereich von etwa 20 bis etwa
2000 Watt emittiert, wobei die Bandbreite Δλ einstellbar ist.
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In
einer bevorzugten Ausgestaltung, in der die Leistung in einem Leistungsbereich
von etwa 20 bis etwa 100 Watt liegt, ist die Laserlichtquelle zur Verwendung
in der Halbleiterlithographie geeignet.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung, in der sich die Laserlichtquelle
zur Verwendung in der Materialbearbeitung, insbesondere zur Kristallisation
von Silizium-Wafern eignet, liegt die Leistung in einem Leistungsbereich
von etwa 500 bis etwa 2000 Watt.
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Erfindungsgemäß wird weiterhin
eine Laserlichtquelle bereitgestellt, die Licht mit einer Wellenlänge λ0 und
mit einem Wellenlängenspektrum
einer Bandbreite Δλ um die Wellenlänge λ0 herum
in Form von Lichtpulsen mit einer Leistung in einem Leistungsbereich
emittiert, die im Bereich von etwa 10 Millijoule pro Puls bis etwa
500 Millijoule pro Puls liegt, wobei die Bandbreite Δλ einstellbar
ist.
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In
einer bevorzugten Ausgestaltung, die sich für die Verwendung der Laserlichtquelle
in der Halbleiterlithographie eignet, liegt die Leistung in einem Leistungsbereich
von etwa 10 mJ/Puls bis etwa 20 mJ/Puls.
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Eine
Ausgestaltung der Laserlichtquelle, die sich für die Materialbearbeitung,
insbesondere zur Kristallisation von Silizium-Wafern eignet, erzeugt eine
Leistung in einem Leistungsbereich von etwa 50 Millijoule pro Puls
bis etwa 5000 Millijoule pro Puls.
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In
allen vorstehend genannten Fällen,
die auch miteinander kombinierbar sind, ist die Bandbreite Δλ in einem
Bereich von etwa 100 Femtometer (fm) bis etwa 300 Femtometer, weiter
bis etwa 400 Femtometer, weiter vorzugsweise bis etwa 500 Femtometer
einstellbar.
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Eine
erfindungsgemäße Laserlichtquelle weist
vorzugsweise eine optische Vorrichtung zur Vergrößerung des Einstellbereichs
der spektralen Bandbreite eines Laserstrahls in einem Bandbreiteneinengungsmodul
einer Laserlichtquelle gemäß einer oder
mehrerer der vorstehend genannten Ausgestaltungen auf.
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Weitere
Vorteile und Merkmale ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
und der beigefügten
Zeichnung.
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Es
versteht sich, dass die vorstehend genannten und nachstehend noch
zu erläuternden Merkmale
nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in
anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne
den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.
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Ausführungsbeispiele
der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden mit Bezug
auf diese hiernach näher
beschrieben. Es zeigen:
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1 eine
Laserlichtquelle ausschnittsweise im Bereich einer optischen Vorrichtung
zur Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite des von der Laserlichtquelle
erzeugten Laserstrahls;
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2 ein
optisches Bauelement einer optischen Anordnung zur Vergrößerung des
Winkelspektrums des Laserstrahls in einem ersten Ausführungsbeispiel
in einer perspektivischen Darstellung;
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3 eine
optische Anordnung zur Vergrößerung des
Winkelspektrums des Laserstrahls mit zwei optischen Bauelementen;
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4 ein
optisches Bauelement einer optischen Anordnung zur Vergrößerung des
Winkelspektrums innerhalb des Laserstrahls in einer perspektivischen
Darstellung gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel;
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5 eine
Abwandlung des optischen Bauelements in 4 gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel;
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6a) und b) eine weitere Abwandlung des optischen
Bauelements in 4, wobei das optische Bauelement
in 6a) perspektivisch und in 6b) in Draufsicht dargestellt ist;
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7a) bis e) ein noch weiteres Ausführungsbeispiel
eines optischen Bauelements zur Vergrößerung des Winkelspektrums
innerhalb des Laserstrahls in einer ersten perspektivischen Ansicht (7a)), einer zweiten perspektivischen Darstellung
(7b)), einer ersten Stirnansicht (7c)), einer zweiten Stirnansicht (7d)) und einer Draufsicht (7e));
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8a)
bis e) eine Abwandlung des optischen Bauelements in 7a)
bis e), in einer ersten perspektivischen Ansicht (8a)),
einer zweiten perspektivischen Ansicht (8b)),
einer ersten Stirnansicht (8c)),
einer zweiten Stirnansicht (8d)) und
einer Draufsicht (8e));
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9 eine
Abwandlung des optischen Bauelements in 7 in einer
Draufsicht wie in 7e); und
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10 eine
weitere Abwandlung des optischen Bauelements in 7 in
einer Draufsicht wie in 7e).
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In 1 ist
eine mit dem allgemeinen Bezugszeichen 10 versehene Laserlichtquelle
ausschnittsweise dargestellt. Der dargestellte Ausschnitt bezieht
sich auf eine zur Laserlichtquelle gehörende optische Vorrichtung 12 zur
Vergrößerung des
Einstellbereichs der spektralen Bandbreite eines von der Laserlichtquelle 10 erzeugten
Laserstrahls 14. Die optische Vorrichtung 12 bildet
dabei den einen Endspiegel des Laserresonators der Laserlichtquelle 10. Ein
weiterer Endspiegel 16 dient als Auskoppelspiegel und ist
entsprechend teildurchlässig
ausgebildet. Das laseraktive Medium der Laserlichtquelle 10 ist hier
nicht dargestellt.
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Die
optische Vorrichtung 12 zur Vergrößerung des Einstellbereichs
der spektralen Bandbreite des Laserstrahls 14 weist ein
Strahlaufweitungsmodul 18 mit einer Eingangsapertur 20 auf,
das aus einem oder mehreren Prismen aufgebaut sein kann. Der Laserstrahl 14 durchläuft das
Strahlaufweitungsmodul 18 und wird dabei aufgeweitet. Nach
Verlassen des Strahlaufweitungsmoduls 18 weist der Laserstrahl 14 entsprechend
einen größeren Querschnitt
auf als vor dem Eintritt in das Strahlaufweitungsmodul 18.
Nach dem Austritt aus dem Strahlaufweitungsmodul 18 weist
der Laserstrahl 14 in einer ersten Raumrichtung, die nachfolgend
mit y bezeichnet wird, eine erste Abmessung Dy und
in einer zweiten Raumrichtung, die nachfolgend mit x bezeichnet
wird, und die zur ersten Raumrichtung y senkrecht steht und in 1 senkrecht
zur Zeichenebene verläuft,
eine zweite Abmessung auf, die hier ohne Beschränkung der Allgemeinheit kleiner
ist als die erste Abmessung Dy. Mit z ist
die Raumrichtung der Ausbreitungsrichtung des Laserstrahls 14 bezeichnet.
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Die
optische Vorrichtung 12 weist weiterhin ein Reflexionsgitter 28 auf,
das in Littrow-Anordnung in Bezug auf den auf das Reflexionsgitter 28 einfallenden
Laserstrahl 14 angeordnet ist. Durch die Littrow-Anordnung
des Reflexionsgitters 28 wird eine sehr hohe Reflexionsordnung
von dem Reflexionsgitter 28 retroreflektiert und läuft dann
wieder durch das Strahlaufweitungsmodul 18 bis zu dem zweiten
Endspiegel 16.
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Das
Reflexionsgitter 28 reflektiert nur solche Wellenlängen des
Laserstrahls 14 zurück
in das Strahlaufweitungsmodul 18, die die Gittergleichung erfüllen. Welche
Wellen längen
zurück
in den Resonator reflektiert werden, hängt davon ab, unter welchen
Winkeln das Licht des Laserstrahls 14 auf das Reflexionsgitter 28 fällt. Je
größer das
Winkelspektrum des einfallenden Lichts des Laserstrahls 14 ist, desto
größer ist
die Breite der Wellenlängenverteilung
und damit die Bandbreite des aus dem zweiten Spiegel 16 ausgekoppelten
Laserstrahls, der als Nutzstrahl den Laserresonator verlässt. Die
Laserlichtquelle 10 erzeugt somit einen Laserstrahl mit kleiner
spektraler Bandbreite, wenn die Winkelverteilung (Winkelspektrum)
des auf das Reflexionsgitter 28 einfallenden Laserstrahls 14 klein
ist, und eine entsprechend größere spektrale
Bandbreite, wenn die Winkelverteilung entsprechend größer ist.
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Um
die Winkelverteilung bzw. das Winkelspektrum des Laserstrahls zu
vergrößern, weist
die optische Vorrichtung 12 eine optische Anordnung 30 auf,
die zumindest ein optisches Bauelement 32 aufweist, das
im Ausführungsbeispiel
gemäß 1 hinter
dem Strahlaufweitungsmodul 18 angeordnet ist, und dessen
optische Eigenschaften so gewählt
sind, dass es das Winkelspektrum des Laserstrahls vergrößert. Die
Winkelverteilung bzw. das Winkelspektrum wird durch das Element 32 gemäß der Anordnung
in 1, also im aufgeweiteten Laserstrahl vergrößert.
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Nachfolgend
werden verschiedene Ausführungsbeispiele
der optischen Anordnung 30 näher beschrieben.
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In 2 ist
ein erstes Ausführungsbeispiel der
optischen Anordnung 30 dargestellt, die das optische Bauelement 32 aufweist.
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Das
optische Bauelement 32 ist in Form einer transmissiven
Planplatte 34 ausgebildet, deren Abmessung in der y-Richtung
etwas größer als
die Abmessung des Laserstrahls 14 in y-Richtung ist, und
deren Abmessung in x-Richtung etwas größer als die Abmessung des Laserstrahls 14 in
x-Richtung ist. Die Dicke der Planplatte 34 in z-Richtung, also in Richtung
des Durchtritts des Laserstrahls 14, ist sehr viel kleiner
als die Abmessungen der Planplatte 34 in x- und y-Richtung
und beträgt
beispielsweise wenige Millimeter.
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Wenn
das Strahlaufweitungsmodul 18 eine Strahlaufweitung im
Bereich zwischen dem 20- und 50-Fachen des in das Strahlaufweitungsmodul 18 einfallenden
Laserstrahls 14 bewirkt, betragen die Außenabmessungen
der Planplatte 34 beispielsweise 40 bis 70 mm in y-Richtung
und etwa 10 bis 20 mm in x-Richtung.
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Auf
einer ersten Oberfläche 36 weist
die Planplatte 34 eine Mikrostrukturierung in Form eines Oberflächenprofils
auf, das in dem gezeigten Ausführungsbeispiel
ein periodisches sinusförmiges
Profil 38 ist. Das sinusförmige Profil 38 besteht
abwechselnd aus Bergen 40 und Tälern 42, wobei die
Amplitude oder gleichbedeutend die Tiefe Vz des
Oberflächenreliefs
der Oberfläche 36 im
Bereich von etwa 1 nm bis etwa 1 μm
betragen kann. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel beträgt die Tiefe
Vz im Bereich von etwa 5 bis etwa 50 nm.
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Das
Oberflächenrelief
in Form des sinusförmigen
Profils 38 bewirkt, dass die Wellenfront des Laserstrahls 14 beim
Durchtritt durch die Planplatte 34 gezielt umgeformt wird.
Mit anderen Worten werden in dem Laserstrahl 14 zusätzliche
Winkel in das Winkelspektrum des Laserstrahls 14 nach Durchtritt durch
die Planplatte 34 eingeführt, die an dem Reflexionsgitter 28 in
verschiedene Zentralwellenlängen übersetzt
werden und entsprechend zu einer erhöhten spektralen Bandbreite
des Laserstrahls 14 führen.
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Bei
dem sinusförmigen
Profil 38 ist die Periodenlänge in y-Richtung kleiner als
die Breite des auf die Oberfläche 36 einfallenden
Laserstrahls 14 in y-Richtung.
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Während in
dem gezeigten Ausführungsbeispiel
in 2 die der Oberfläche 36 gegenüberliegende
optisch genutzte Oberfläche 44 eben
ist, kann auch diese eine geeignete Mikrostrukturierung in Form
eines Oberflächenreliefs
aufweisen.
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Mit
dem optischen Element 32 in 2 kann bei
einer Tiefe Vz des Oberflächenreliefs
im Bereich von etwa 5 bis etwa 50 nm und einer Periodenlänge von
etwa 6 mm in y- Richtung
eine Vergrößerung der spektralen
Bandbreite um zumindest etwa 100 fm erreicht werden, ohne dass die
Strahlaufweitung reduziert werden muss.
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Bei
unveränderter
Strahlaufweitung durch das Strahlaufweitungsmodul 18 kann
mit dem optischen Element 32 in 2 nur eine
Bandbreitenvergrößerung um
einen festen Wert erreicht werden.
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3 zeigt
dagegen eine optische Anordnung 30, die zusätzlich zu
dem optischen Bauelement 32 ein zweites optisches Bauelement 32' aufweist, dessen
optische Eigenschaften, die die Winkelverteilung des Laserstrahls 14 zwischen
dem Strahlaufweitungsmodul 18 und dem Reflexionsgitter 28 beeinflussen,
komplementär
zu den entsprechenden optischen Eigenschaften des optischen Bauelements 32 sind.
In dem gezeigten Ausführungsbeispiel
des optischen Bauelements 32, das eine Mikrostrukturierung
in Form eines Oberflächenreliefs
aufweist, das als sinusförmiges
Profil 38 ausgestaltet ist, weist das zweite optische Bauelement 32' eine entsprechende
Mikrostrukturierung in Form eines komplementären Oberflächenreliefs, hier eines zu
dem sinusförmigen
Profil 38 komplementären
sinusförmigen
Profils 38' auf.
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Die
optischen Bauelemente 32, 32' sind in z-Richtung hintereinander
angeordnet, so dass der Laserstrahl 14 beide optischen
Bauelemente 32, 32' durchlaufen
muss. Aufgrund der komplementären
Eigenschaften der Oberflächenreliefs
des ersten optischen Bauelements 32 und des zweiten optischen Bauelements 32' gibt es eine
Relativposition der Bauelemente 32, 32' zueinander,
in der sich die Einflüsse
der Oberflächenreliefs
auf die Winkelverteilung des Laserstrahls 14, der hier
nicht dargestellt ist, gegenseitig aufheben. Dies ist die in 3 gezeigte Position
der optischen Bauelemente 32 und 32'.
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Werden
die optischen Bauelemente 32 und 32' relativ zueinander verfahren,
beispielsweise gegensinnig gemäß Pfeilen 46 und 48 quer
zur z-Richtung, ergibt sich ein von 0 verschiedener resultierender
Einfluss auf die Winkelverteilung innerhalb des Laserstrahls 14,
wobei dieser Einfluss durch das Verfahren der optischen Elemente 32 und 32' relativ zueinander
variabel einstellbar ist. Mit der optischen Anordnung 30 gemäß 3 kann
somit die spektrale Bandbreite des Laserstrahls 14 variabel
eingestellt werden, ohne dass dazu die Strahlaufweitung mittels des
Strahlaufweitungsmoduls 18 variiert werden muss.
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Bei
den Ausführungsbeispielen
gemäß 2 und 3 erstreckt
sich das jeweilige Oberflächenrelief,
dort das sinusförmige
Profil 38 bzw. 38' in y-Richtung,
d. h. in Richtung der größeren Abmessung
des Laserstrahls 14. Es ist jedoch ebenso denkbar, dass
sich das sinusförmige
Profil 38 bzw. 38' in x-Richtung
erstreckt, um Sub-Aperturen in y-Richtung,
also in Richtung der größeren Abmessung
des Laserstrahls 14, zu vermeiden.
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Nachfolgend
werden weitere Ausführungsbeispiele
von optischen Anordnungen 30 beschrieben, bei denen das
zumindest eine optische Bauelement 32 ein nicht-periodisches Oberflächenrelief
aufweist.
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Das
optische Bauelement 32 gemäß 4 ist als
transmissive Planplatte 50 ausgebildet. Eine Oberfläche 52 der
Planplatte 50 wurde durch eine entsprechende Materialbearbeitung
mit einer Mikrostrukturierung in Form eines Oberflächenreliefs
versehen, das in x-Richtung ausgebildet ist. In y-Richtung weist
das Oberflächenrelief
keine zusätzliche Strukturierung
auf. Das Oberflächenrelief
der Oberfläche 52 ist
in dem gezeigten Ausführungsbeispiel durch
vier keilförmige
Vertiefungen 54 gebildet, die in x-Richtung übereinander
angeordnet sind. Durch die keilförmige
Ausgestaltung der Vertiefungen 54 mit jeweils unterschiedlichem
Keilwinkel besitzen x-Wandabschnitte 56 untereinander
unterschiedliche Winkel zu der gegenüberliegenden Oberfläche 58 der
Planplatte 50, während
ein x-Wandabschnitt 60 der obersten Vertiefung 50 parallel
zur Oberfläche 58 verläuft. Durch
die unterschiedlichen Winkel der x-Wandabschnitte 56 der
Vertiefungen 54 zur Oberfläche 58 werden in dem
Laserstrahl 14 zusätzliche Winkel
im Winkelspektrum erzeugt, die zu einer Vergrößerung der spektralen Bandbreite
des Laserstrahls 14 führen.
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Eine
Abmessung Vx jeder der Vertiefungen 54 beträgt beispielsweise
etwa 2 bis 2,5 mm, und eine maximale Tiefe Vz jeder
Vertiefung 54 liegt im Bereich von etwa 250 nm. Andere
Abmessungen sind jedoch in Abhängigkeit
der gewünschten
Bandbreitenvergrößerung ebenso
möglich.
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5 zeigt
eine optische Anordnung 30 mit einem optischen Bauelement 32,
das eine Abwandlung des optischen Bauelements 32 in 4 darstellt und
bei gleichen Dimensionierungen der Größen Vx und
Vz die gleiche optische Wirkung wie das
optische Bauelement 32 in 4 auf die
Winkelverteilung des Laserstrahls 14 erzeugt, weil die
Keilwinkel der einzelnen Vertiefungen 54 bei den optischen
Bauelementen 32 in 4 und in 5 gleich
sind.
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In 6a) und 6b)
ist eine weitere Abwandlung des optischen Bauelements 32 in 4 bzw.
in 5 dargestellt, bei dem die Oberfläche 52 der Planplatte 50 eine
Mikrostrukturierung in Form eines Oberflächenreliefs aufweist, das wendeltreppenförmig ausgebildet
ist. Bei diesem wendeltreppenförmigen
Oberflächenrelief
der Oberfläche 52 werden
bei gegenüber 4 oder 5 halbierter
Tiefe Vz der Vertiefungen 54 die
gleichen Keilwinkel und damit die gleiche optische Wirkung auf die
Winkelverteilung des Laserstrahls 14 erreicht wie bei den
optischen Bauelementen 32 gemäß 4 oder 5.
Der Vorteil der Ausgestaltung des optischen Bauelements 32 gemäß 6 besteht
aufgrund der geringeren Tiefe Vz der einzelnen
Vertiefungen 54 in einer einfacheren Herstellbarkeit in
einem Material abtragenden Verfahren.
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In 7a) bis e) ist ein weiteres Ausführungsbeispiel
einer optischen Anordnung 30 zur Vergrößerung der Winkelverteilung
bzw. des Winkelspektrums des Laserstrahls 14 zur Vergrößerung der spektralen
Bandbereite des Laserstrahls 14 dargestellt.
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Im
Unterschied zu den vorherigen Ausführungsbeispielen ist das optische
Bauelement 32 in Form einer Planplatte 70 ausgebildet,
deren beiden Oberflächen 72 und 74 jeweils
mit einer Mikrostrukturierung in Form eines Oberflächenreliefs
versehen sind. Da nunmehr auf beiden Oberflächen 72 und 74 jeweils
ein Oberflächenrelief vorhanden
ist, kann das Oberflächenrelief
jeder einzelnen Oberfläche 72 und 74 mit
weniger Vertiefungen ausgebildet werden, was den Herstellungsprozess
des optischen Bauelements 32 vereinfacht.
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In
dem in 7a) bis e) dargestellten Ausführungsbeispiel
weist die Oberfläche 72 nur
eine Vertiefung 76 und die Oberfläche 74 nur eine Vertiefung 78 auf,
wobei beide Vertiefungen 76 und 78 keilförmig ausgebildet
sind. Die Keilwinkel 76 und 78 sind in diesem
Ausführungsbeispiel
gleichsinnig gerichtet, unterscheiden sich jedoch betragsmäßig, d. h.
der Keilwinkel der Vertiefung 78 ist kleiner als der Keilwinkel
der Vertiefung 76.
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Der
Keilwinkel der Vertiefung 78 beträgt beispielsweise etwa 5 μrad, und
der Keilwinkel der Vertiefung 76 beispielsweise etwa 9 μrad. Die
maximale Tiefe Vz1 der Vertiefung 78 ist
entsprechend kleiner als die maximale Tiefe Vz2 der
Vertiefung 76. Beispielsweise beträgt Vz1 etwa
330 nm, und Vz2 beträgt etwa 580 nm.
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Die
Breite Vx der Vertiefungen 76 und 78 in x-Richtung
ist in dem gezeigten Ausführungsbeispiel für beide
Vertiefungen 76 und 78 gleich groß und beträgt etwa
5 mm.
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Die
Vertiefungen 76 und 78 sind in x-Richtung zueinander
versetzt, haben jedoch einen gemeinsamen Überlappbereich.
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In 8 ist
eine Abwandlung des optischen Bauelements 32 in 7 dargestellt.
Das optische Bauelement 32 wird durch die Planplatte 70 gebildet, die
auf der Oberfläche 74 ein
Oberflächenrelief
in Form der keilförmigen
Vertiefung 78 und auf der Oberfläche 72 ein Oberflächenrelief
aufweist, das die keilförmige
Vertiefung 76 aufweist. Auf der Oberfläche 72 weist das Oberflächenrelief
jedoch noch weitere Vertiefungen 80 und 82 auf,
deren Keilwinkel zu dem Keilwinkel der Vertiefung 76 gegensinnig
bzw. gegenläufig
ausgebildet ist. Dadurch, dass zusätzlich zu der Vertiefung 76 noch
die Vertiefungen 80 und 82 vorhanden sind, kann
die Vertiefung 76 mit einer maximalen Tiefe Vz2 ausgebildet
werden, die nur halb so groß ist
wie die maximale Tiefe Vz2 der Vertiefung 76 in 7.
Gegenüber
dem Ausführungsbeispiel
in 7 hat diese Ausgestaltung den Vorteil, dass aufgrund
der geringeren Tiefe der Vertiefungen 76, 80 und 82 weniger
Lichtverluste an den Kanten der Vertiefungen auftreten, wohingegen
die Herstellung dieses optischen Bauelements 32 gegenüber dem
optischen Bauelement in 7 etwas aufwändiger ist, da mehrere keilförmige Vertiefungen
in die Oberfläche 72 eingebracht
werden müssen.
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In 9 ist
eine Abwandlung des optischen Bauelements 32 in 7 dargestellt.
Das optische Bauelement 32 wird durch die Planplatte 70 gebildet, die
auf der Oberfläche 74 ein
Oberflächenrelief
in Form der keilförmigen
Vertiefung 78 und auf der Oberfläche 72 ein Oberflächenrelief
aufweist, das eine keilförmige
Vertiefung 76' aufweist.
Die Vertiefung 76' weist
im Unterschied zu der Vertiefung 76 in 7 zwei
Knicke 90 und 92 auf, wodurch verschiedene Keilwinkel
in der Vertiefung 76' ausgebildet werden.
Gegenüber
dem Ausführungsbeispiel
in 7 hat diese Ausgestaltung den Vorteil, dass der innere
Keilwinkel bei voller Aufweitung wenig zum Spektrum des Laserlichts
beiträgt,
bei geringer Aufweitung überwiegt
jedoch der Einfluss des inneren Keilwinkels und verursacht so eine
zusätzliche
Veränderung
der spektralen Breite des Laserlichts.
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In 10 ist
eine weitere Abwandlung des optischen Bauelements 32 in 7 dargestellt.
Das optische Bauelement 32 wird durch die Planplatte 70 gebildet,
die auf der Oberfläche 72 ein
Oberflächenrelief
in Form einer keilförmigen
Vertiefung 76'' und auf der
Oberfläche 74 ein
Oberflächenrelief
aufweist, das eine keilförmige
Vertiefung 78'' aufweist. Die
keilförmige
Vertiefung 76'' weist zwei
Knicke 94 und 96 und die Vertiefung 78'' weist zwei Knicke 98, 100 auf. Die
Vertiefung 78'' ist im Unterschied
zu dem Ausführungsbeispiel
in 9 nun so ausgeführt, dass sie parallel zur
Vertiefung 76'' verläuft, wodurch
ein Steg 102 mit parallelen Wänden 104, 106 in
der Platte 70 entsteht. Gegenüber dem Ausführungsbeispiel
in 7 hat diese Ausgestaltung den Vorteil, dass der innere
Keilwinkel bei voller Aufweitung wenig zum Spektrum des Laserlichts
beiträgt,
bei geringer Aufweitung überwiegt
jedoch der Einfluss des inneren Keilwinkels und verursacht so eine
zusätzliche
Veränderung
der spektralen Breite des Laserlichts.
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Gegenüber dem
Ausführungsbeispiel
in 9 hat diese Ausgestaltung den Vorteil, dass das Zentrum
des Spektrums eine stärkere
Gewichtung erhält,
wodurch die Form des Spektrums günstiger ist.
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Bei
allen zuvor genannten Ausgestaltungen ist das optische Bauelement 32 bzw. 32' aus dem Strahlengang
des Laserstrahls 14 herausnehmbar oder in diesen teilweise
oder vollständig
einbringbar.
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Das
Bauelement 32 bzw. 32' ist insbesondere aus CaF2 gefertigt, wenn die Zentralwellenlänge des
Laserlichts kleiner als 200 nm ist.
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Die
Laserlichtquelle 10 mit variablem Einstellbereich der spektralen
Bandbreite (Δλ) kann so ausgelegt
sein, dass sie Licht mit einer Wellenlänge λ0 in
einem Bereich von etwa 140 Nanometer bis etwa 380 Nanometer emittiert,
beispielsweise Licht mit einer Wellenlänge λ0 von
etwa 157 Nanometer, von etwa 193 Nanometer, etwa 248 Nanometer,
etwa 308 Nanometer oder etwa 351 Nanometer.
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Die
Leistung des von der Laserlichtquelle 10 emittierten Lichts
kann im Bereich von etwa 20 bis etwa 2000 Watt liegen, vorzugsweise
im Bereich von etwa 20 bis etwa 100 Watt oder im Bereich von etwa 500
bis etwa 2000 Watt.
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Die
Laserlichtquelle 10 kann auch gepulstes Licht in Form von
Lichtpulsen emittieren, deren Leistung im Bereich von etwa 10 Millijoule
pro Puls bis etwa 500 Millijoule pro Puls liegt, vorzugsweise im Bereich
von etwa 10 Millijoule pro Puls bis etwa 20 Millijoule pro Puls
oder im Bereich von etwa 50 Millijoule pro Puls bis etwa 5000 Millijoule
pro Puls.
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Der
Einstellbereich der spektralen Bandbreite Δλ kann im Bereich von etwa 100
Femtometer bis etwa 300 Femtometer, von etwa 100 Femtometer bis etwa
400 Femtometer oder sogar von etwa 100 Femtometer bis etwa 500 Femtometer
oder darüber
einstellbar sein.