DE102008015775A1 - Chromatisch korrigiertes Lithographieobjektiv - Google Patents

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Abstract

Ein Projektionsobjektiv (200) für die Photolithographie hat eine Vielzahl von optischen Elementen, die entlang einer optischen Achse (AX) angeordnet sind, um ein in eine Objektfläche (OS) des Projektionsobjektivs angeordnetes Muster in eine zur Objektfläche optisch konjugierte Bildfläche (IS) des Projetionsobjektivs mit Ultraviolettlicht aus einem Wellenlängenband mit einer Bandbreite Deltalambda > 10 pm um eine zentrale Arbeitswellenlänge lambda > 200 nm abzubilden. Die optischen Elemente enthalten mindestens ein Linsenpaar (LP, LP'), das aus einer ersten Linse (L1, L1') und einer der ersten Linse direkt benachbarten zweiten Linse (L2, L2') besteht, wobei die erste Linse aus einem ersten Material mit einer ersten Dispersion und die zweite Linse aus einem zweiten Material mit einer von der ersten Dispersion verschiedenen zweiten Dispersion besteht, wobei eine der zweiten Linse zugewandte Linsenfläche (AS1) der ersten Linse sowie eine der ersten Linse zugewandte Linsenfläche (AS<SUB>"</SUB>) der zweiten Linse als asphärische Linsenflächen gestaltet sind.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Projektionsobjektiv für die Photolithographie.
  • Beschreibung des verwandten Standes der Technik
  • Zur Herstellung von Halbleiterbauelementen und anderen feinstrukturierten Bauteilen und im Bereich des sogenannten „advanced wafer-level IC packaging" werden heutzutage überwiegend mikrolithographische Projektionsbelichtungsverfahren eingesetzt. Dabei werden Masken (Retikel) verwendet, die das Muster einer abzubildenden Struktur tragen oder bilden, beispielsweise ein Linienmuster einer Schicht (layer) eines Halbleiterbauelementes. Eine Maske wird in eine Projektionsbelichtungsanlage zwischen Beleuchtungssystem und Projektionsobjektiv im Bereich der Objektfläche des Projektionsobjektivs positioniert und mit einem von Beleuchtungssystem bereitgestellten Beleuchtungslicht beleuchtet. Das durch die Maske und das Muster veränderte Licht verläuft als Projektionslicht durch das Projektionsobjektiv. Dabei formt das Projektionsobjektiv im Bereich der zur Objektfläche optisch konjugierten Bildfläche des Projektionsobjektivs ein Bild des Musters auf einem zu belichtenden Substrat, das normalerweise eine strahlungsempfindliche Schicht (photoresist, Photolack) trägt.
  • Bei der Auswahl geeigneter Projektionsbelichtungsanlagen und Verfahren für einen Lithographie-Prozess sind unterschiedliche technische und wirtschaftliche Kriterien zu berücksichtigen, die sich u. a. an der typischen Strukturgröße der innerhalb des belichteten Substrats zu erzeugenden Strukturen orientieren.
  • Bei der Herstellung von hochintegrierten Halbleiterbauelementen ist es häufig erforderlich, dass zumindest einige Schichten eines dreidimensionalen Bauteiles Strukturelemente enthalten, deren kritische Dimensionen unterhalb von 100 nm liegen können. Die für solch hohe Auflösungen ausgelegten Projektionsbelichtungsanlagen nutzen typischerweise schmalbandige Laser-Lichtquellen mit Arbeitswellenlängen λ < 200 nm in Verbindung mit einem in verkleinerndem Maßstab abbildenden Projektionsobjektiv (Reduktionsobjektiv).
  • Für die Erzeugung mittelkritischer oder unkritischer Schichten mit typischen Strukturgrößen von deutlich mehr als 150 nm wird dagegen üblicherweise mit Projektionsbelichtungsanlagen gearbeitet, die für Arbeitswellenlängen von mehr als 200 nm ausgelegt sind. So werden beispielsweise im Bereich des „advanced wafer-level IC packaging", bei der Strukturierung von Halbleiterbauelementen, bei der Herstellung von mikroelektromechanischen Systemen (MEMS), bei der Nanotechnologie und in anderen Anwendungsgebieten nicht-reduzierend wirkende Projektionsobjektive (sog. 1:1-Systeme) mit relativ großem Bildfeld und relativ geringem Auflösungsvermögen im Mikrometerbereich verwendet.
  • In den letzten Jahren sind für diese Anwendungsfälle einige modifizierte Wynne-Dyson-Systeme vorgeschlagen worden, die zur Abbildung das von einer Quecksilberdampflampe in einem relativ breiten Wellenlängenband abgestrahlte Ultraviolettlicht nutzen. Modifizierte Wynne-Dyson-Systeme zur Verwendung mit einer Quecksilberdampflampe als Lichtquelle sind beispielsweise in US 6,879,383 B2 , US 2006/0092395 A1 oder US 6,813,098 gezeigt. Die sog. i-Liniensysteme nutzen z. B. die i-Linie von Quecksilberdampflampen bei ca. 365.5 nm, wobei deren natürliche Bandbreite mit Hilfe eines Filters oder auf andere Weise auf eine schmalere genutzte Bandbreite Δλ von z. B. etwa 2 nm eingeschränkt wird.
  • Um möglichst viel der von der Quecksilberdampflampe abgestrahlten Energie für die Abbildung nutzen zu können, wird häufig angestrebt, mehrere Spektrallinien zu nutzen, insbesondere die i-Linie bei ca. 365 nm, die h-Linie bei ca. 405 nm und die g-Linie bei ca. 436 nm.
  • Wenn Ultraviolettlicht aus einem relativ breiten Wellenlängenband zur Abbildung genutzt werden soll, so muss das Projektionsobjektiv eine relativ starke Korrektur von chromatischen Aberrationen (Farbfehlern) leisten, um auch mit breitbandigem Projektionslicht bei der angestrebten Auflösung eine fehlerarme Abbildung zu gewährleisten. Die Ursache von chromatischen Aberrationen ist in erster Linie die Variation des Brechungsindex mit der Wellenlänge, wobei der Brechungsindex generell mit zunehmender Wellenlänge abnimmt. Häufig teilt man die chromatischen Aberrationen in zwei Kategorien ein. Da für jede Wellenlänge im paraxialen Bereich ein Bild entsteht, beschreibt die erste Kategorie die Abweichungen der Lage und Größe dieser Bilder von einem idealen Bild. Die chromatischen Aberrationen der ersten Kategorie werden in der Regel als Farblängsfehler (CHL) und als Farbquerfehler (Farbvergrößerungsfehler bzw. chromatische Vergrößerungsdifferenz, CHV) bezeichnet. Wenn diese Farbfehler der ersten Kategorie korrigiert sind, spricht man normalerweise von einem einzigen, chromatisch ggf. noch fehlerhaften Bild. Die zweite Kategorie chromatischer Aberrationen enthält die chromatischen Variationen sämtlicher monochromatischer Aberrationen. Für einige dieser Fehler haben sich gesonderte Bezeichnungen eingebürgert. So wird beispielsweise die chromatische Variation der sphärischen Aberration als „Gauss-Fehler" bezeichnet. In der Regel wird aber von der chromatischen Variation der Koma, des Astigmatismus, der Bildfeldwölbung, der Verzeichnung und auch von der chromatischen Variation der entsprechenden Pupillenaberrationen gesprochen.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Es ist eine Aufgabe der Erfindung, ein Projektionsobjektiv für die Photolithographie bereitzustellen, das mit Ultraviolettlicht aus einem Wellenlängenband mit einer Bandbreite Δλ > 10 pm um eine zentrale Arbeitswellenlänge λ > 200 nm betrieben werden kann und hinsichtlich der chromatischen Variation sämtlicher monochromatischen Aberrationen in einem für die Praxis ausreichendem Maße korrigiert ist.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe stellt die Erfindung ein Projektionsobjektiv mit den Merkmalen von Anspruch 1 bereit. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben. Der Wortlaut sämtlicher Ansprüche wird durch Bezugnahme zum Inhalt der Beschreibung gemacht.
  • Das Projektionsobjektiv hat eine Vielzahl von optischen Elementen, die entlang einer optischen Achse angeordnet sind, um ein in eine Objektfläche des Projektionsobjektivs angeordnetes Muster in eine zur Objektfläche optisch konjugierte Bildfläche des Projektionsobjektivs mit Ultraviolettlicht aus einem Wellenlängenband mit einer Bandbreite Δλ > 10 pm um eine zentrale Arbeitswellenlänge λ > 200 nm abzubilden. Die optischen Elemente enthalten mindestens ein Linsenpaar, das aus einer ersten Linse und einer der ersten Linse direkt benachbarten zweiten Linse besteht, wobei die erste Linse aus einem ersten Material mit einer ersten Dispersion und die zweite Linse aus einem zweiten Material mit einer von der ersten Dispersion verschiedenen zweiten Dispersion besteht. Eine der zweiten Linse zugewandte Linsenfläche der ersten Linse sowie eine der ersten Linse zugewandte Linsenfläche der zweiten Linse sind als asphärische Linsenflächen gestaltet.
  • Die asphärischen Linsenflächen werden im Folgenden auch kurz als „Asphären" bezeichnet. Durch das Linsenpaar werden somit unmittelbar benachbarte Asphären an Linsen unterschiedlicher Dispersion bereitgestellt. Der Begriff „Dispersion" bezeichnet hier die Brechungsdispersion dn/dλ, mit der die Wellenlängenabhängigkeit des Brechungsindex eines transparenten Materials beschrieben wird.
  • Bekanntlich besagt die Theorie der Korrektion der chromatischen Aberrationen für refraktive Systeme, dass für eine Korrektion des Falblängsfehlers (CHL) für zwei oder mehrere Wellenlängen mindestens zwei optische Materialien mit unterschiedlichen Dispersionen zu kombinieren sind, um aus einem reellem Objekt ein reelles Bild zu erzeugen. Optische Systeme, bei denen der Farblängsfehler für zwei Wellenlängen vollständig korrigiert ist, werden üblicherweise als „Dichromat" bezeichnet. Bei vollständiger Korrektion bei drei Wellenlängen spricht man üblicherweise von „Trichromat" usw. Außerhalb der Wellenlängen, für die diese optischen Systeme korrigiert sind, bleiben normalerweise residuale Aberrationen. Von McCarthy wurde gezeigt, dass durch eine gezielte Positionierung zweier Linsengruppen mit dichromatischen Potenzial die residuale chromatische Aberration des Farblängsfehlers weiter reduziert werden kann bis hin zu einem Trichromat.
  • Bekannt ist auch, dass Asphären nützliche Korrektionsmittel sind. Das Korrektionspotenzial von Asphären hängt bekanntlich einerseits von deren Abweichung von einer sphärischen Form und andererseits von der Lage der Asphäre im optischen System relativ zu den Höhen des Hauptstrahles (chief ray) und des Randstrahles (marginal ray) ab. Aus dem Bereich der mit verkleinerndem Abbildungsmaßstab arbeitenden Reduktionsobjektive sind bereits Linsenpaare mit einander zugewandten asphärischen Linsenflächen bekannt, wobei die benachbarten Linsen jedoch jeweils aus dem gleichen optischen Material bestehen (vgl. US 6,646,718 B2 ).
  • Es hat sich herausgestellt, dass benachbarte Asphären an Linsen unterschiedlicher Dispersion besonders wirksame Korrektionsmittel für die chromatische Variation monochromatischer Bildfehler sein können. Hierbei kann es sich beispielsweise um die sphärische Aberration dritter Ordnung der Pupille und um die chromatische Variation der Bildfeldkrümmung handeln. Auch die Verzeichnung und die Telezentrie können ggf. wirksam korrigiert werden.
  • Bei manchen Ausführungsformen hat das Projektionsobjektiv einen Abbildungsmaßstab β im Bereich 0.9 < |β| < 1.1. Bei manchen dieser Ausführungsformen hat das Projektionsobjektiv in Bezug auf eine zwischen der Objektfläche und der Bildfläche angeordnete Pupillenfläche einen im Wesentlichen symmetrischen Aufbau und einen Abbildungsmaßstab β im Bereich 0.9 < |β| < 1.1. Projektionsobjektive, deren Abbildungsmaßstab in diesem Bereich liegt, werden im Folgenden auch "1:1-Systeme" genannt, auch wenn der Abbildungsmaßstab geringfügig von Wert 1 abweicht. Im Wesentlichen symmetrische Systeme können so aufgebaut sein, dass die Koma, die Verzeichnung und der Farbquerfehler (CHV) bereits weitgehend oder vollständig korrigiert sind. Daher können weitere Korrektionsmittel für die Korrektion der sphärischen Aberration, des Astigmatismus und der Bildfeldwölbung optimiert werden.
  • Bei manchen Ausführungsformen wird durch das Projektionsobjektiv eine Größenveränderung zwischen Objekt und Bild erreicht. Bei manchen Ausführungsformen ist das Projektionsobjektiv als Reduktionsobjektiv ausgelegt, so dass das Bild kleiner als das Objekt ist. Das Projektionsobjektiv kann beispielsweise einen Abbildungsmaßstab |β| < 0.6 haben, z. B. |β| = 0.5. Solche Objektive können im Vergrößerungsmodus auch umgekehrt verwendet werden, beispielsweise so, dass |β| > 1.7 wird.
  • Das Projektionsobjektiv kann als katadioptrisches Projektionsobjektiv aufgebaut sein und mindestens einen abbildenden Spiegel, insbesondere einen Konkavspiegel enthalten. Zahlreiche für die Fotolithographie geeignete katadioptrische 1:1-Systeme basieren auf Modifikationen des Wynne-Dyson-Systems. Hier kann die Erfindung genutzt werden. Einige Beispiele sind in WO 2006/125790 oder US 2006/0268253 gezeigt.
  • Bei manchen Ausführungsformen ist das Projektionsobjektiv ein rein refraktives Projektionsobjektiv, bei dem alle mit Brechkraft ausgestatteten optischen Elemente Linsen aus transparentem Material sind. Bei Bedarf kann ein solches Projektionsobjektiv einen oder mehrere ebene Faltspiegel enthalten, die nicht zur Abbildung beitragen, sondern lediglich eine Faltung der optischen Achse bewirken, um beispielsweise besonderen Bauraumanforderungen gerecht zu werden. Bei manchen Ausführungsformen sind alle optischen Elemente entlang einer geraden, ungefalteten optischen Achse angeordnet, so dass Objektfläche und Bildfläche parallel zueinander ausgerichtet sind. Solche Systeme können in step-and-repeat-Systemen oder step-and-scan-Systemen genutzt werden.
  • In der Regel hat das Projektionsobjektiv im Bereich der Objektfläche und im Bereich der Bildfläche einen im Wesentlichen telezentrischen Strahlengang, wodurch das Projektionsobjektiv für die Photolithographie besonders geeignet ist, da geringfügige axiale Lageabweichungen des Musters und/oder des Substrats von ihren idealen Positionen nicht zu einem Vergrößerungsfehler führen. Das Linsenpaar kann wirksam zur Korrektur der Telezentrie beitragen.
  • Bei einem im Wesentlichen telezentrischen Strahlengang verläuft der Hauptstrahl (chief ray) der Abbildung nahezu parallel oder parallel zur optischen Achse, wobei die Abweichung von der Parallelität als Telezentriefehler bezeichnet wird. Bei manchen Ausführungsbeispielen beträgt der Hauptstrahlwinkel CRA im Bereich der Objektfläche und im Bereich er Bildfläche über alle Feldpunkte weniger als ca. 5 mrad.
  • Bei manchen Ausführungsformen ist die erste Linse eine Positivlinse (Linse mit positiver Brechkraft) aus einem ersten Material mit hoher Dispersion und die zweite Linse ist eine Negativlinse (Linse mit negativer Brechkraft) aus einem zweiten Material mit relativ zum ersten Material niedriger Dispersion. Bekanntlich wird bei vielen herkömmlichen, breitbandig genutzten optischen Systemen ein Beitrag zur Farbkorrektur dadurch erreicht, dass eine Positivlinse aus einem niedrigdispersiven Material mit einer Negativlinse (Zerstreuungslinse) aus einem möglichst hochdispersiven Material kombiniert wird. Gemäß der obigen Ausführungsform sind die Verhältnisse jedoch genau umgekehrt. Dies hat sich in Kombination mit den einander zugewandten Asphären als besonders wirkungsvolles Korrektionsmittel herausgestellt.
  • Die erste Linse und die zweite Linse können jeweils aus unterschiedlichen Materialien bestehen, die entsprechend der angestrebten Arbeitswellenlänge auszuwählen sind. Dabei sollte ein möglichst großer Unterschied der Dispersion zwischen der ersten und der zweiten Linse vorliegen, um die Farbkorrektur zu erleichtern. Bei Projektionsobjektiven, die mit Wellenlängen aus dem Bereich der Spektrallinien einer Quecksilberdampflampe betrieben werden sollen, können die optischen Eigenschaften der optischen Materialien zweckmäßig durch die Abbe-Zahl νHg = (nh – 1)/(ni – ng) definiert werden, wobei ng, nh und ni die jeweiligen Brechungsindizes des transparenten Materiales bei der Wellenlänge der Quecksilber g-, h- oder i-Linie sind. Dabei entsprechen relativ hohe Abbe-Zahlen Materialien mit relativ niedriger Dispersion (sog. Krongläser), während relativ niedrige Abbe-Zahlen zu Materialien mit relativ hoher Dispersion (sog. Flintgläser) gehören. Bezeichnet man die Abbe-Zahl des niedrigdispersiven Materials mit νhigh und die Abbe-Zahl des relativ hochdispersiven Materials mit νlow < νhigh, so ist das bevorzugt, wenn die Abbe-Zahl-Differenz Δν = νhigh – νlow mindestens 10 oder mindestens 15 oder mindestens 20 beträgt. Auf diese Weise ist ein für die Farbkorrektur vorteilhafter Dispersionsunterschied erzielbar.
  • Bei manchen Ausführungsformen ist für das relativ niedrigdispersive Material die Bedingung 65 ≥ νhigh ≥ 50 und für das relativ hochdispersive Material die Bedingung 45 ≥ νlow ≥ 25 erfüllt. Beispielsweise kann synthetisches Quarzglas (SiO2) als zweites Material mit relativ niedriger Dispersion verwendet werden. Als niedrigdispersives Material können auch die SCHOTT-Gläser FK5, BK7, K5 oder K7 oder entsprechende Spezialgläser vom OHARA oder anderen Herstellern verwendet werden. Als erstes Material mit relativ hoher Dispersion können beispielsweise die Spezialgläser LLF1, LLF5, LLF6 oder LF5 (SCHOTT) oder entsprechende Spezialgläser von OHARA oder anderen Herstellern verwendet werden.
  • Die Farbkorrektur kann auch durch gezielte Materialauswahl anderer Linsen des Projektionsobjektivs in Abhängigkeit von deren Lage relativ zu einer Pupillenfläche des Systems unterstützt werden. Wegen der ausgezeichneten optischen und physikalischen Eigenschaften von synthetischem Quarz kann es vorteilhaft sein, viele Linsen aus diesem Material zu fertigen. Sofern eine pupillennahe Positivlinse aus synthetischem Quarzglas vorgesehen ist, kann mindestens eine in deren Nähe angeordnete, pupillennahe Negativlinse aus einem höher dispersiven Material, wie LLF1, LLF6 oder LLF5 (oder vergleichbaren Gläsern) gefertigt sein. Wird eine in der Nähe der Pupillenfläche anzuordnende Positivlinse aus Kalziumfluorid (CaF2) gefertigt, so kann in deren Nähe mindestens eine pupillennahe Negativlinse aus einem höher dispersivem Material vorteilhaft sein, beispielsweise aus synthetischem Quarzglas, FK5, BK7, K5 oder K7 oder vergleichbaren Materialien. Sofern Materialien mit noch höherer Dispersion gewünscht sind, kann beispielsweise LLF1, LF6 oder LF5 oder ein vergleichbares Glas eines anderen Herstellers verwendet werden. Bei manchen Ausführungsformen ist dementsprechend im Bereich einer zwischen der Objektfläche und der Bildfläche angeordneten Pupillenfläche mindestens ein Doublett mit einer Positivlinse und einer unmittelbar neben der Positivlinse angeordneten Negativlinse vorgesehen, wobei die Negativlinse aus einem ersten Material mit relativ hoher Dispersion und die Positivlinse aus einem zweiten Material mit relativ zum ersten Material niedriger Dispersion besteht. Es können mehrere solcher Doubletts vorgesehen sein, beispielsweise unmittelbar vor und unmittelbar hinter der Pupillenfläche. Bei manchen Ausführungsformen befinden sich auf mindestens einer Seite der Pupillenfläche mindestens zwei unmittelbar aufeinanderfolgende Doubletts.
  • Durch die Wahl der Anordnung des mit zugewandten Asphären ausgestatteten Linsenpaares innerhalb des Projektionsobjektiv kann Einfluss auf die Art der vornehmlich zu korrigierenden Aberrationen und die Stärke der Aberrationskorrektur genommen werden. Bei manchen Ausführungsformen ist ein Linsenpaar in der Nähe einer Feldfläche des Projektionsobjektivs angeordnet, insbesondere in der Nähe der Objektfläche und/oder der Bildfläche. Die Anordnung ist dabei vorzugsweise so zu wählen, dass für ein Strahlhöhenverhältnis RHR = CRH/MRH zwischen Hauptstrahlhöhe CRH und Randstrahlhöhe MRH an mindestens einer der asphärischen Linsenflächen die Bedingung RHR > 1 gilt. Mit anderen Worten: bei diesen Ausführungsformen sollte das Linsenpaar so angeordnet sein, dass bei mindestens einer der asphärische Flächen die Hauptstrahlhöhe (chief ray height, CRH) größer als die Randstrahlhöhe (marginal ray height, MRH) des Strahlenganges ist. Vorzugsweise sollte diese Bedingung für beide asphärischen Linsenflächen gelten. Insbesondere kann die Bedingung RHR > 2 oder RHR > 3 oder RHR > 4 für den axialen Ort der asphärischen Linsenflächen gelten.
  • Soweit in dieser Anmeldung auf die „Randstrahlhöhe" oder die „Hauptstrahlhöhe" Bezug genommen wird, so sind hier die paraxiale Randstrahlhöhe und die paraxiale Hauptstrahlhöhe gemeint, auch bei Systemen, bei denen die Paraxialstrahlen nicht zur Abbildung beitragen (Systeme mit außeraxialem Objekt- und Bildfeld).
  • Ein auf diese Weise feldnah angebrachtes Linsenpaar trägt besonders wirksam zur Korrektur der chromatischen Variation der Petzval-Summe (Bildfeldwölbung) und der chromatischen Variation der Pupillenabbildung bei. Außerdem kann die Telezentrie für unterschiedliche Wellenlängen mit Hilfe des Linsenpaares eingestellt werden.
  • Ein Linsenpaar mit unmittelbar benachbarten Asphären an Linsen unterschiedlicher Dispersion kann z. B. in der Nähe der Objektfläche oder in der Nähe der Bildfläche angeordnet sein. Insbesondere bei symmetrischen Systemen kann sowohl in der Nähe der Objektfläche als auch in der Nähe der Bildfläche ein solches Linsenpaar vorgesehen sein. Zwischen der Objektfläche und der Bildfläche des Projektionsobjektivs kann auch mindestens ein reelles Zwischenbild gebildet werden. In diesem Fall kann eine feldnahe Anordnung eines Linsenpaares dadurch erreicht werden, dass das Linsenpaar in der Nähe des Zwischenbildes angeordnet ist, vorzugsweise so, dass an mindestens einer der asphärischen Linsenflächen die Bedingung RHR > 1 gilt.
  • Es kann vorteilhaft sein, wenn die einander gegenüberstehenden asphärischen Linsenflächen des Linsenpaares axial relativ eng benachbart sind, so dass das Strahlhöhenverhältnis RHR sich bei beiden asphärischen Linsenflächen nur wenig unterscheidet. Hierdurch können gezielt bestimmte Aberrationen ohne wesentlichen Einfluss auf andere Aberrationen beeinflusst werden, wobei durch die Kombination von zwei eng benachbarten asphärischen Flächen die Wirkung einer einzigen sehr komplex geformten Asphäre erzielt werden kann, obwohl jede einzelne der gegenüberstehenden asphärischen Flächen ggf. eine relativ einfache und damit ggf. relativ leicht zu fertigende Asphärenform haben kann. Insbesondere sollte der axiale Abstand der asphärischen Linsenflächen des Linsenpaares kleiner sein als der mittlere optisch genutzte Radius der gegenüberstehenden asphärischen Linsenflächen. Der Asphärenabstand DAS zwischen den asphärischen Linsenflächen des Linsenpaares kann insbesondere weniger als 50% oder weniger als 40% oder weniger als 30% oder weniger als 20% des mittleren freien optischen Radius der asphärischen Linsenflächen betragen.
  • Die Form der asphärischen Linsenflächen kann der gewünschten korrigierenden Wirkung angepasst werden. Obwohl auch nicht-rotationssymmetrische Asphärenformen möglich sind, werden bei den meisten Ausführungsformen rotationssymmetrische asphärische Linsenflächen verwendet. Bei manchen Ausführungsformen hat mindestens eine der asphärischen Linsenflächen einen ersten Bereich, in dem die lokale Krümmung von der optischen Achse der asphärischen Fläche in Richtung des Randes abnimmt. Hierdurch können beispielsweise spezielle Feldverläufe der zu korrigierenden Aberrationen eingestellt werden. Es ist auch möglich, dass mindestens eine der asphärischen Linsenflächen in Radialrichtung einen Wendepunkt bezüglich des Krümmungsverlaufs hat. Eine solche asphärische Linsenfläche kann einen ersten radialen Bereich und einen daran anschließenden zweiten radialen Bereich haben, wobei in dem ersten Bereich die lokale Krümmung von der optischen Achse zum Rand hin abnimmt und im zweiten Bereich die lokale Krümmung von der Achse zum Rand hin zunimmt. Die asphärischen Linsenflächen können somit in radial aufeinanderfolgende Zonen unterschiedlicher Änderung der lokalen Krümmung in Radialrichtung eingeteilt sein. Bei manchen Ausführungsformen haben beide einander zugewandten Linsenflächen der ersten und der zweiten Linse einen ersten Bereich oder einen zweiten Bereich der o. g. Art oder einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich der o. g. Art.
  • Die vorstehenden und weiteren Merkmale gehen außer aus den Ansprüchen auch aus der Beschreibung und den Zeichnungen hervor. Dabei können die einzelnen Merkmale jeweils für sich alleine oder zu mehreren in Form von Unterkombinationen bei einer Ausführungsform der Erfindung und auf anderen Gebieten verwirklicht sein und vorteilhafte sowie für sich schutzfähige Ausführungsformen darstellen. Bevorzugte Ausführungsformen werden an Hand der beigefügten Zeichnungen erläutert.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 zeigt eine schematische Darstellung einer Projektionsbelichtungsanlage, in die eine Ausführungsform eines Projektionsobjektivs gemäß der Erfindung eingebaut ist;
  • 2 zeigt einen meridionalen Linsenschnitt einer ersten Ausführungsform eines Projektionsobjektivs mit Abbildungsmaßstab 1:1;
  • 3 zeigt einen vergrößerten Ausschnitt des objektseitigen Endes des Projektionsobjektivs von 2;
  • 4 zeigt einen meridionalen Linsenschnitt durch ein Referenzsystem mit einem dem System in 1 vergleichbaren Aufbau, jedoch ohne Linsenpaar mit unmittelbar benachbarten Asphären an Linsen unterschiedlicher Dispersion;
  • 5 zeigt ein Diagramm, in dem die Fokuslage des Referenzsystems in Abhängigkeit von der Wellenlänge angegeben ist;
  • 6 ist eine graphische Darstellung zur Telezentrie des Referenzsystems in 4;
  • 7 zeigt ein Diagramm, bei dem für das Referenzsystem in 4 die Petzval-Schalen für drei Wellenlängen dargestellt sind;
  • 8 zeigt ein Diagramm zur Wellenlängenabhängigkeit der Fokuslage der in 2 gezeigten Ausführungsform;
  • 9 zeigt ein Diagramm, in dem die Telezentrie der Ausführungsform gemäß 2 graphisch dargestellt ist;
  • 10 zeigt ein Diagramm, in dem die chromatische Variation der Petzval-Schalen der in 2 gezeigten Ausführungsform gezeigt ist;
  • 11 zeigt einen meridionalen Linsenschnitt durch eine zweite Ausführungsform eines Projektionsobjektivs;
  • 12 zeigt ein Diagramm zur Wellenlängenabhängigkeit der Fokuslage der in 11 gezeigten Ausführungsform;
  • 13 zeigt ein Diagramm, in dem die Telezentrie der Ausführungsform gemäß 11 graphisch dargestellt ist;
  • 14 zeigt ein Diagramm, in dem die chromatische Variation der Petzval-Schalen der in 11 gezeigten Ausführungsform gezeigt ist;
  • 15 zeigt ein Diagramm, in dem für verschiedene für die Quecksilber-i-Linie taugliche optische Materialien in der Abszisse die Abbé-Zahl νi und in der Ordinate der Brechungsindex n dargestellt ist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Bei der folgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen bezeichnet der Begriff „optische Achse" eine gerade Linie (oder eine Folge von geraden Linienabschnitten) durch die Krümmungsmittelpunkte der optischen Elemente. Das Objekt kann eine Maske (Retikel) mit dem Muster einer bestimmten Lage einer integrierten Schaltung oder einem anderen Muster sein, beispielsweise eines Gitters oder einer anderen Struktur, die in einem bestimmten Fertigungsschritt beim „advanced wafer level IC packaging" benutzt wird. Das Bild des Musters wird in den Beispielen auf einen mit einer Photoresistschicht versehenen Wafer projiziert, der als Substrat dient. Es sind auch andere Substrate möglich, beispielsweise Elemente für Flüssigkeitskristallanzeigen oder Substrate für optische Gitter oder Substrate für die Nanotechnologie.
  • Die Spezifikationen der in den Zeichnungen gezeigten Projektionsobjektive sind in Tabellen angegeben, deren Nummerierung jeweils der Nummerierung der entsprechenden Zeichnungsfigur entspricht. Soweit sinnvoll, werden identische oder ähnliche Merkmale oder Merkmalsgruppen bei den verschiedenen Ausführungsformen mit ähnlichem Bezugsidentifikationen gekennzeichnet.
  • In 1 ist schematisch eine Projektionsbelichtungsanlage WS gezeigt, die zur Herstellung von feinstrukturierten Komponenten beim advanced wafer level IC packaging eingerichtet ist. Je nach Einstellung erreicht die Projektionsbelichtungsanlage typische Auflösungsvermögen bis hinunter zu R = 1 μm. Als primäre Lichtquelle LS wird eine Quecksilberdampflampe verwendet, deren Emissionsspektrum im genutzten Bereich drei lokale Intensitätsmaxima bei ca. 365.0 nm (i-Linie), 404.7 nm (h-Linie) und 435.8 nm (g-Linie) umfasst. Die Arbeitswellenlängen liegen somit innerhalb eines Wellenlängenbandes mit einer Bandbreite von Δλ = 71 nm.
  • Ein nachgeschaltetes Beleuchtungssystem ILL empfängt das Licht der primären Lichtquelle LS und erzeugt in seiner Austrittsebene EX ein großes, scharf begrenztes und sehr homogen beleuchtetes, an die Telezentrieerfordernisse des nachgeschalteten Projektionsobjektivs PO angepasstes und um die optische Achse AXILL des Beleuchtungssystems zentriertes Beleuchtungsfeld.
  • Zwischen dem austrittsseitigen letzten optischen Element des Beleuchtungssystems und dem Eintritt des Projektionsobjektivs ist eine Einrichtung RS zum Halten und Manipulieren einer Maske M so angeordnet, dass ein an der Maske angeordnetes Muster, z. B. das Muster einer bestimmten Schicht eines zu erzeugenden Halbleiterbauelementes, in der ebenen Objektfläche OS des Projektionsobjektivs liegt, die mit der Austrittsebene EX des Beleuchtungssystems zusammenfällt. Die optische Achse AXILL des Beleuchtungssystems fällt mit der optischen Achse AX des Projektionsobjektivs zusammen.
  • Im Lichtweg hinter der auch als Maskenebene bezeichneten Ebene EX (OS) folgt das Projektionsobjektiv PO, welches als 1:1-System dazu konfiguriert ist, ein Bild der von der Maske getragenen Struktur ohne Größenänderung (Abbildungsmaßstab 1:1) auf ein mit einer Photoresistschicht belegtes Substrat S abzubilden. Das Substrat wird von einer Einrichtung SS (substrate stage) gehalten und ist so angeordnet, dass seine ebene Substratoberfläche mit der ebenen Bildfläche (Bildebene) IS des Projektionsobjektives PO zusammenfällt. Zwischen der Austrittsfläche des der Bildfläche nächsten, letzten optischen Elementes des Projektionsobjektivs und der Bildfläche des Projektionsobjektivs besteht ein bildseitiger Arbeitsabstand von ca. 31 mm.
  • Die Projektionsbelichtungsanlage kann wahlweise für einen step-and-repeat Betrieb oder einen step-and-scan Betrieb konfiguriert sein.
  • In 2 ist ein meridionaler Linsenschnitt einer Ausführungsform eines Projektionsobjektiv 200 gezeigt, das in der Projektionsbelichtungsanlage gemäß 1 verwendet werden kann. Das Projektionsobjektiv ist dafür ausgelegt, ein in seiner Objektebene OS angeordnetes Muster einer Maske im Maßstab 1:1 auf seine parallel zur Objektebene ausgerichtete Bildebene IS direkt, d. h. ohne Erzeugung eines Zwischenbildes, abzubilden. Bei dem refraktiven Abbildungssystem wird ein um die optische Achse AX zentriertes Objektfeld bzw. Bildfeld genutzt. Mittig zwischen der Objektfläche OS und der Bildfläche IS liegt die einzige Pupillenfläche PUP des Projektionsobjektivs dort, wo der Hauptstrahl CR der Abbildung die optische Achse AX schneidet. Im Bereich der Pupillenfläche kann eine Aperturblende AS angeordnet sein, die ggf. einen verstellbaren Blendendurchmesser haben kann. Ein Randstrahl MR der Abbildung führt von einem axialen Objektpunkt (Schnittpunkt der optischen Achse mit der Objektfläche) zum Rand der Aperturblende.
  • Das Projektionsobjektiv PO hat einen zur Pupillenebene PUP spiegelsymmetrischen Aufbau mit insgesamt 24 Linsen L1 bis L12 und L12' bis L1' aus drei unterschiedliche Materialien. Die zwischen Objektebene OS und Pupille PUP angeordneten Linsen werden mit L1 bis L12 bezeichnet, während die spiegelsymmetrisch entsprechenden Linsen des zwischen Pupille und Bildfläche liegenden Objektivteils mit L12' bis L1' bezeichnet werden. Hierbei sind beispielsweise die Linsen L1 und L1' bezüglich Form und Größe identisch, jedoch spiegelsymmetrisch zur Pupillenfläche PUP eingebaut. Dies gilt für alle einander entsprechenden Linsen vor und hinter der Pupillenfläche.
  • Der zwischen Objektfläche OS und Pupille PUP liegende Objektivteil besteht aus einer ersten Linsengruppe LG1 mit insgesamt positiver Brechkraft, einer zweiten Linsengruppe LG2 mit insgesamt negativer Brechkraft und einer dritten Linsengruppe LG3 mit insgesamt schwach positiver Brechkraft. Diesen Linsengruppen entsprechen die Linsengruppen LG3', LG2' und LG1' zwischen Pupille und Bildfläche. Es ergibt sich somit ein Gesamtaufbau P-N-P-P-N-P, wenn mit „P" eine Linsengruppe mit positiver Brechkraft und mit „N" eine Linsensgruppe mit negativer Brechkraft bezeichnet wird.
  • Die in 3 im Detail gezeigte erste Linsengruppe LG1 umfasst eine der Objektebene OS unmittelbar folgende Positivlinse L1 mit nahezu ebener Eintrittsfläche und konvexer, asphärischer Austrittsfläche, eine bikonkave Negativlinse L2 mit asphärischer Eintrittsfläche und sphärischer Austrittsfläche, eine dicke Meniskuslinse L3 mit schwacher Brechkraft, einer konkaven Eintrittsfläche und einer asphärischen Austrittsfläche, einer bikonvexen, bisphärischen Positivlinse L4 und einer bikonvexen Positivlinse L5 mit sphärischer Eintrittsfläche und asphärischer Austrittsfläche.
  • Mit Abstand hinter der positiven Linsengruppe LG1 folgt die negative Linsengruppe LG2 mit einer bikonkaven Negativlinse L6 mit asphärischer Eintrittsfläche und sphärischer Austrittsfläche, und mit einer bisphärischen Positivmeniskuslinse L7.
  • Die Linsengruppe LG3 hat in dieser Reihenfolge eine bisphärische, bikonkave Negativlinse L8, eine bisphärische, bikonvexe Positivlinse L9, eine bikonkave, bisphärische Negativlinse L10, eine bikonvexe, bisphärische Positivlinse L11 und eine nahezu plankonkave Negativlinse L12 mit asphärischer Eintrittsfläche und nahezu ebener, sphärischer Austrittsfläche.
  • Bei den spiegelsymmetrisch korrespondierenden Linsen L12' bis L1' kehren sich die Verhältnisse zwischen Eintrittsfläche und Austrittsfläche entsprechend um.
  • Die überwiegende Mehrzahl der Linsen besteht aus synthetischem Quarzglas (SiO2). Eine Ausnahme bilden die aus dem Spezialglas LLF1 der Firma SCHOTT, Mainz gefertigte Linse L1 (und Linse L1'), sowie die aus Kalziumfluorid (CaF2) gefertigten dicken Positivlinsen L9 bzw. L9' und L11 bzw. L11' der dritten Linsengruppe LG3 bzw. LG3'.
  • In Tabelle 2 ist die Spezifikation des Design in tabellarischer Form zusammengefasst. Dabei gibt Spalte 1 die Nummer einer brechenden oder auf andere Weise ausgezeichneten Fläche, Spalte 2 den Radius r der Fläche (in mm), Spalte 3 den als Dicke bezeichneten Abstand d der Fläche zur nachfolgenden Fläche (in mm) und Spalte 4 das Material der optischen Komponenten an. Spalte 5 zeigt den Brechungsindex des Materials bei 365.015 nm und in Spalte 6 sind die optisch nutzbaren, freien Radien bzw. der halbe freie Durchmesser der Linsen (in mm) angegeben. Die Asphärenflächen sind in Spalte 1 mit „AS" gekennzeichnet. Tabelle 2A gibt die entsprechenden Asphärendaten an, wobei sich die asphärischen Flächen nach folgender Vorschrift berechnen: p(h) = [((1/r)h2)/(1 + SQRT(1 – (1 + K)(1/r)2h2)] + C1·h4 + C2·h6 + ....
  • Dabei gibt der Kehrwert (1/r) des Radius die Flächenkrümmung und h den Abstand eines Flächenpunktes von der optischen Achse (d. h. die Strahlhöhe) an. Somit gibt p(h) die sogenannten Pfeilhöhe, d. h. den Abstand des Flächenpunktes vom Flächenscheitel in z-Richtung (Richtung der optischen Achse). Die Konstanten K, C1, C2, ... sind in Tabelle 1A wiedergegeben.
  • Das objektseitig und bildseitig telezentrische System hat eine bildseitige numerische Apertur NA = 0.2, die der objektseitigen numerischen Apertur entspricht. Die Baulänge L (Abstand zwischen Bildebene und Objektebene) beträgt ca. 1000 mm. Der Radius des Objektfeldes bzw. Bildfeldes beträgt 42 mm. Der objektseitige und bildseitige Arbeitsabstand beträgt jeweils 31 mm.
  • Eine Besonderheit des Projektionsobjektivs besteht darin, dass in der Nähe der Objektebene OS und in der Nähe der Bildebene IS jeweils ein Linsenpaar LP bzw. LP' angeordnet ist, das in besonderer Weise für die Korrektion der chromatischen Variation bestimmter Bildfehler, insbesondere für die Korrektion der chromatischen Variation der sphärischen Aberration dritter Ordnung der Pupille und der chromatischen Variation der Bildfeldkrümmung ausgelegt ist und außerdem zur Einstellung der objektseitigen bzw. bildseitigen Telezentrie beiträgt. Zur Illustration zeigt 3 einen vergrößerten Ausschnitt des objektseitigen Endes des Projektionsobjektivs PO mit den Linsen L1 und L2 des Linsenpaars LP sowie den nachfolgenden Linsen L3, L4 und L5 der ersten Linsengruppe LG1. Am bildseitigen Ende des Projektionsobjektivs liegen spiegelsymmetrische Verhältnisse vor. Das Linsenpaar LP besteht aus einer ersten Linse L1 und einer der ersten Linse direkt benachbarten zweiten Linse L2. Die erste Linse besteht aus dem Spezialglas LLF1, während die zweite Linse aus synthetischem Quarzglas SiO2 besteht. Bei dieser Materialpaarung bildete LLF1 ein erstes Material mit relativ hoher Dispersion (Flintglas), während das als zweites Material dienende synthetische Quarzglas im Vergleich dazu eine relativ niedrige Dispersion hat und als Kronglas dient.
  • Die Dispersionen des Spezialglases LLF1 und von synthetischem Quarzglas sind stark unterschiedlich. Ein Maß für die Dispersion ist die für den Wellenlängenbereich der Quecksilberdampflampe berechnete Abbe-Zahl νHg = (nh – 1)/(ni – ng), worin ng, nh und ni die jeweiligen Brechungsindizes des transparenten Materiales bei der Wellenlänge der Quecksilber g-, h- oder i-Linie sind. Hier gilt νLLF1 = 35.596 und νSiO2 = 59.987, so dass ein Dispersionsunterschied Δν von mehr als 20 vorliegt (vergleiche 15).
  • Die der zweiten Linse L2 zugewandte, generell konvexe Linsenfläche AS1 sowie die der ersten Linse L1 zugewandte, generell konkave Linsenfläche AS2 der zweiten Linse L2 sind jeweils asphärische Linsenflächen (Asphären). Die einander direkt gegenüberliegenden Asphären haben unterschiedliche Asphärenform und einen relativ geringen axialen Abstand von weniger als 4 mm. Dieser axiale Asphärenabstand DAS ist sehr klein gegenüber den optisch genutzten freien Radien der gegenüberliegenden Asphären, wobei der Asphärenabstand DAS weniger als 20% des mittleren freien optischen Radius der beiden asphärischen Flächen AS1 und AS2 beträgt.
  • Die asphärische Fläche AS1 an der Austrittsseite der hochdispersiven Linse L1 hat eine lokale Krümmung, die vom Zentralbereich zum Rand der Linse, d. h. in Radialrichtung, kontinuierlich abnimmt. Dadurch wird im Bereich der optischen Achse stärkere positive Brechkraft bereitgestellt als am Linsenrand. Die asphärische Fläche AS2 an der Eintrittsseite der niedrigdispersiven Linse L2 ist im Zentralbereich um die optische Achse konkav, wobei der Betrag des Krümmungsradius von der optischen Achse zum Rand hin kontinuierlich zunimmt (Krümmung nimmt in Radialrichtung ab). Dadurch hat die Negativlinse L2 im Zentralbereich stärker negative Brechkraft als in ihrem Randbereich. Der zwischen den einander zugewandten Asphärenflächen gebildete Luftraum hat nahezu gleichförmige Dicke, die von der Mitte zum Rand nur geringfügig zunimmt.
  • Beide asphärischen Flächen sind sehr nahe an der Objektfläche OS in einem feldnahen Bereich angeordnet, wo die Hauptstrahlhöhe, d. h. der radiale Abstand zwischen dem Hauptstrahl CR und der optischen Achse AX, mehr als doppelt bzw. mehr als drei Mal so groß ist wie die entsprechende Randstrahlhöhe des Randstrahles MR. Durch die Kombination der sehr nah beieinanderliegenden, feldnah angeordneten Asphären AS1 und AS2 kann eine sehr komplexe Asphärenform, d. h. ein komplexer Verlauf der kombinierten Brechkraft der asphärischen Flächen über den Radius generiert werden, obwohl die einzelnen Asphären jeweils eine relativ einfach zu fertigende Asphärenform haben können. Die geometrische Wirkung der Asphären auf den Strahlverlauf wirkt bei dem Linsenpaar LP zusammen mit dem Unterschied der Dispersionen zwischen der ersten Linse L1 und der zweiten Linse L2.
  • Die zweite Linsengruppe LG2 hat mit ihrer konzentrierten negativen Brechkraft im Wesentlichen die Funktion der Korrektur der Bildfeldwölbung. In der dritten Linsengruppe LG3 sind mehrfach aufeinanderfolgend Zerstreuungslinsen aus synthetischem Quarzglas mit Positivlinsen aus Kalziumfluorid unter Bildung von Positiv/Negativ-Doubletts kombiniert. In dieser Kombination ist synthetisches Quarzglas mit einer Abbe-Zahl von νSIO2 = 59.992 das relativ hochdispersive Material, während Kalziumfluorid mit einer Abbe-Zahl von νCaF2 = 81.384 das relativ niedrigdispersive Material ist (vgl. 15). Hier liegen somit die Verhältnisse genau umgekehrt wie bei den objektnah bzw. bildnah angeordneten Linsenpaaren LP bzw. LP', da eine Positivlinse aus relativ niedrigdispersivem Material mit einer Negativlinse aus einem relativ hochdispersiven Material kombiniert ist. Die dritte Linsensgruppe LG3 trägt im Wesentlichen zur Farbkorrektur der chromatischen Längsaberration und des Farbquerfehlers bei.
  • Um die vorteilhaften Eigenschaften des durch das Linsenpaar LP gebildeten Korrektionsmittels zu verdeutlichen, sollen im Folgenden die optischen Eigenschaften des Projektionsobjektivs 200 aus 2 mit entsprechenden optischen Eigenschaft eines Referenz-Projektionsobjektivs REF verglichen werden, das bezüglich Linsenzahl, Linsenart, Linsenabfolge und Linsenmaterial im Wesentlichen den gleichen Aufbau wie das Projektionsobjektiv 200 hat, jedoch kein Linsenpaar LP mit einander zugewandten Asphären besitzt. Das Referenzsystem REF ist in 4 gezeigt, die entsprechende Spezifikation ist in den Tabellen 4 und 4A angegeben.
  • Das Referenz-Projektionsobjektiv REF ist für den Wellenlängenbereich zwischen der i-Linie und der g-Linie der Quecksilberdampflampe mit dem Schwerpunkt auf diesen Linien und der dazwischen liegenden h-Linie chromatisch korrigiert. In 5 ist die Fokuslage FS (focal shift) in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ [μm] angegeben. Die drei Null-Stellen der Fokuslage in dem Bereich der drei Quecksilber-Linien bei ca. 365 nm, 416 nm und 436 nm zeigen eine zufriedenstellende Korrektur der Focuslage für die drei Wellenlängen an. In 6 ist die Telezentrie des Systems graphisch dargestellt. Bei dieser Darstellung sind in der Abszisse die normierten Feldkoordinaten FD zwischen der Feldmitte beim Wert 0 und dem Feldrand beim Wert 1 angegeben. Die Ordinate zeigt den Hauptstrahlwinkel CRA (in mrad) für die g-, h- und i-Linie, wobei der Hauptstrahlwinkel CRA jeweils den Winkel zwischen dem Hauptstrahl bei der jeweiligen Wellenlänge und der optischen Achse angibt. Der Absolutwert des maximalen Hauptstrahlwinkels liegt bei mehr als 7 mrad.
  • Das durch die Linsengruppe gebildete neue Korrektionsmittel soll im Folgenden vor allem anhand von zwei besonders wichtigen Aberrationstypen bewertet werden, nämlich einerseits der chromatischen Aberration der sphärischen Aberration dritter Ordnung der Pupille und andererseits der chromatischen Variation der Bildfeldkrümmung. Hierzu wird die chromatische Variation der sphärischen Aberration dritter Ordnung der Pupille definiert als: CPSA3 = (PSA3g – PSA3l)/(λg – λl)
  • Hierbei bezeichnen die Parameter PSA3g etc. die sphärische Aberration dritter Ordnung der Pupille bei der Wellenlänge der g-Linie usw. und λg die entsprechende Wellenlänge.
  • Die chromatische Variation der Bildfeldwölbung dritter und fünfter Ordnung wird jeweils definiert als: CPTZ3 = (PTZ3g – PTZ3l)/(λg – λl)bzw. CPTZ5 = (PTZ5g – PTZ5l)/(λg – λl)
  • Für das Referenzsystem hat die sphärische Aberration dritter Ordnung der Pupille den Wert CPSA3 = –3.7 mm, während für die o. g. chromatischen Variationen der Bildfeldwölbung folgende Werte gelten:
    CPTZ3 = 0.0126 und CPTZ5 = –0.0064 mm.
  • In 7 sind jeweils die Petzval-Schalen für die drei Wellenlängen dargestellt. Dabei geben die Zahlen innerhalb des Diagramms die Nummern von Bildpunkten an, wobei Bildpunkt 1 auf der optischen Achse und Bildpunkt 11 am Bildfeldrand liegt. Die Linien stellen jeweils den Petzvalfokus PF über die Bildhöhe (in mm) für verschiedene Wellenlängen dar. Es ist erkennbar, dass für die i-Linie eine sehr gute Korrektur bis nahe zum Bildfeldrand vorliegt, während bei der g- und der h-Linie die Korrektion von der Bildmitte zum Bildrand deutlich abnimmt. Die Abweichungen der Lagen der Petzval-Oberflächen in der Feldmitte (Bildpunkt 1) zeigt an, dass eine residuale, chromatische Längsaberration CHL vorliegt, da die Bildschale für die h-Linie außerhalb der Null-Ebene liegt.
  • Durch die Bereitstellung der objektnahen und bildnahen Linsenpaare LP und LP' mit einander zugewandten Asphären auf Linsen unterschiedlicher Dispersion lässt sich bei dem in 2 gezeigten Projektionsobjektiv eine erhebliche Verbesserung der Korrektion für diese Aberrationen erreichen. Die sphärische Aberration dritter Ordnung der Pupille und deren chromatische Variation wurde stark reduziert auf: CPSA3 = 0.87 mm. Auch die chromatische Variation der Bildfeldwölbung wurde stark reduziert, nämlich auf: CPTZ3 = 0.0086 bzw. CPTZ5 = –0.0007 mm. Gleichzeitig ist auch der Telezentriefehler gegenüber dem Referenzsystem erheblich reduziert. Zur Illustration zeigt 8 die chromatische Fokusvariation für das mit der Linsengruppe ausgestattete Projektionsobjektiv gemäß 2. In 9 ist die Telezentrie des Systems entsprechend der 6 graphisch dargestellt. Im Vergleich zu 6 fällt auf, dass der maximale Telezentrierfehler um mehr als 50% reduziert wurde (beachte Skalierung der Ordinate). In 10 ist die chromatische Variation der Petzval-Schalen dargestellt. Auch hier zeigt sich im Vergleich zu 7 eine deutliche Reduktion der maximalen Abweichung der Petzval-Schale von der Null-Ebene, wobei sich insbesondere im Bereich des Feldrandes erhebliche Verbesserungen ergeben.
  • In 11 ist ein meridionaler Linsenschnitt einer weiteren Ausführungsform eines Projektionsobjektivs 1100 gezeigt, das in der Projektionsbelichtungsanlage gemäß 1 verwendet werden kann. Das Projektionsobjektiv ist als Reduktionsobjektiv ausgelegt, um ein in seiner Objektebene OS angeordnetes Muster in reduzierendem Maßstab 2:1 (|β| = 0.5) direkt in die parallel zur Objektebene angeordnete Bildebene IS abzubilden. Das refraktive Projektionsobjektiv hat einen zur Pupillenebene PUP asymmetrischen Aufbau mit 24 Linsen L1 bis L24 aus drei unterschiedlichen Materialien. Die Linsen bilden zwischen Objektfläche und Bildfläche in dieser Reihenfolge eine erste Linsengruppe LG1 mit insgesamt positiver Brechkraft, eine zweite Linsengruppe LG2 mit insgesamt negativer Brechkraft, eine dritte Linsengruppe LG3 mit insgesamt schwach positiver Brechkraft, eine vierte Linsengruppe LG4 mit insgesamt schwach positiver Brechkraft, eine fünfte Linsengruppe LG5 mit geringfügig negativer Brechkraft und eine sechste Linsengruppe LG6 mit relativ starker positiver Brechkraft unmittelbar vor der Bildebene IS. Wie bei dem System aus 2 ergibt sich somit ein Gesamtaufbau P-N-P-P-N-P. Im Unterschied zum System aus 2 besteht jedoch keine Symmetrie zur Pupillenebene PUP, wobei vor allem die bildseitig letzte Linsengruppe LG6 sich deutlich von der bildseitig letzten Linsengruppe LG1' in 2 unterscheidet, um bei ungeänderter objektseitiger numerischer Apertur NAOBJ = 0.2 die bildseitige numerische Apertur NA = 0.4 zu erzeugen. Die Spezifikation des Projektionsobjektivs 1100 ist in Tabellen 11, 11A angegeben.
  • Der Aufbau des objektseitigen Teils des Projektionsobjektivs zwischen Objektebene OS und Pupillenebene PUP unterscheidet sich hinsichtlich Anzahl, Art und Abfolge der Linsen nicht von dem Projektionsobjektiv gemäß 2, weshalb auf die dortige Beschreibung insoweit verwiesen wird. Insbesondere befindet sich unmittelbar hinter der Objektebene OS ein Linsenpaar LP, das aus einer ersten Linse L1 aus hochdispersivem Spezialglas LLF1 und einer direkt benachbarten zweiten Linse L2 aus im Vergleich dazu niedriger dispersivem synthetischen Quarzglas besteht. Die Austrittsfläche der ersten Linse und die Eintrittsfläche der zweiten Linse sind jeweils asphärische Linsenflächen, zwischen denen ein schmaler Luftspalt gebildet ist. Da die beiden einander zugewandten asphärischen Linsenflächen unterschiedliche Asphärenform haben, wird ein komplexer Verlauf der kombinierten Brechkraft in unmittelbarer Nähe zur Objektebene erzeugt, der insbesondere für die Korrektur der Bildfeldwölbung und der Einstellung der objektseitigen Telezentrie günstig ist. Die negative Brechkraft im Bereich der zweiten Linsengruppe LG2 trägt maßgeblich zur Korrektur der Bildfeldwölbung bei. Die unmittelbar vor und unmittelbar hinter der Pupille PUP angeordneten Linsengruppen LG3 und LG4 bestehen jeweils aus mehreren Doubletts mit jeweils einer bikonvexen Positivlinse aus Kalziumfluorid (Linsen L9, L11, L14, L16) und einer unmittelbar benachbart angeordneten bikonkaven Negativlinse aus synthetischem Quarzglas, welches im Vergleich zu Kalziumfluorid das höherdispersive Material ist. Dementsprechend tragen die pupillennahen, im Bereich hoher Randstrahlhöhen angeordneten Paarungen aus einer Positivlinse mit relativ niedriger Dispersion und einer Negativlinse mit relativ hoher Dispersion zur chromatischen Korrektur bei.
  • Die am bildseitigen Ende angeordnete sechste Linsengruppe LG6 mit positiver Brechkraft trägt maßgeblich zur Erzeugung der bildseitigen numerischen Apertur NA = 0.4 bei und umfasst von ihrer Eintrittsseite zwei aufeinanderfolgende bikonvexe Positivlinsen, einen darauf folgenden brechkraftschwachen Meniskus mit konkaver Austrittsfläche, einen weiteren bildseitig konkaven Meniskus schwacher Brechkraft sowie als bildseitig letztes optisches Element unmittelbar vor der Bildebene IS eine Positiv-Meniskuslinse L24 mit konkaver Austrittsfläche. Die konkave Austrittsseite des vorletzten Linsenelementes L23 und die konvexe Eintrittsseite des letzten Linsenelementes L24 sind jeweils asphärische Linsenflächen. Während das vorletzte Linsenelement L23 aus synthetischem Quarzglas gefertigt ist, besteht das letzte Linsenelement L24 aus im Vergleich dazu höherdispersivem LLF1. Dadurch ist auch bei diesem Projektionsobjektiv unmittelbar vor der Bildebene, d. h. in Feldnähe, ein Linsenpaar LP' mit benachbarten Asphären an Linsen unterschiedlicher Dispersion angeordnet. Hiermit wird besonders die Korrektion chromatischer Variationen monochromatischer Bildfehler unterstützt und die bildseitige Telezentrie kann wirksam sichergestellt werden.
  • 12 zeigt die Fokuslage FS (focal shift) in Abhängigkeit von der Wellenlänge. Die zwei 0-Stellen der Fokuslage bei ca. 365 nm (i-Linie) und im Bereich der h-Linie zeigen, dass das Projektionsobjektiv für zwei der drei Wellenlängen im Wellenlängenbereich der Quecksilberdampflampe sehr gut korrigiert ist. Die Variation des Hauptstrahlwinkels über die Feldposition in 13 zeigt, dass für alle drei Wellenlängen sehr gute Telezentriewerte mit einem Hauptstrahlwinkel von deutlich weniger als 5 mrad erzielt werden. In 14 sind jeweils die Petzval-Schalen für die drei Wellenlängen dargestellt. Die chromatische Variation der sphärischen Variation dritter Ordnung beträgt CPSA3 = –0.21 mm. Die chromatische Variation der Bildfeldwölbung dritter und fünfter Ordnung ist gegeben durch CPTZ3 = 0.0134 mm bzw. CPTZ5 = –0.0023 mm. Diese Werte sind vergleichbar mit dem symmetrischen System von 2. Tabelle 2: NA = 0.2; |β| = 1
    FLAECHE RADIEN DICKEN MATERIAL Index bei 365.015 nm 1/2 DURCHMESSER
    0 0.000000 31.000000 AIR 1.00000000 42.000
    1 0.000000 –0.006790 AIR 1.00000000 48.395
    2 301598.968220 15.371765 LLF1 1.57931548 48.395
    3 –103.561665 AS 3.678500 AIR 1.00000000 49.555
    4 –107.578181 AS 6.999802 SIO2 1.47454791 50.677
    5 154.763591 29.747497 AIR 1.00000000 52.512
    6 –87.808066 40.240842 SIO2 1.47454791 53.356
    7 –142.772694 AS 0.899797 AIR 1.00000000 70.220
    8 234.020468 38.347730 SIO2 1.47454791 82.486
    9 –248.577028 0.899823 AIR 1.00000000 83.180
    10 146.751423 35.158991 SIO2 1.47454791 81.031
    11 –458.400326 AS 85.668895 AIR 1.00000000 78.881
    12 –167.922968 AS 6.999879 SIO2 1.47454791 52.339
    13 101.207563 26.217434 AIR 1.00000000 50.278
    14 –129.520972 33.355017 SIO2 1.47454791 50.728
    15 –100.727925 20.329873 AIR 1.00000000 57.342
    16 –596.280878 6.999948 SIO2 1.47454791 59.750
    17 137.698845 2.889344 AIR 1.00000000 61.686
    18 145.815755 49.777244 CAF2 1.44491176 62.744
    19 –102.181631 0.899509 AIR 1.00000000 64.053
    20 –143.479738 6.999817 SIO2 1.47454791 61.827
    21 356.183191 0.899474 AIR 1.00000000 62.012
    22 131.918868 43.727364 CAF2 1.44491176 63.113
    23 –137.539113 0.899058 AIR 1.00000000 61.796
    24 –167.590814 AS 6.999886 SIO2 1.47454791 60.638
    25 –30419.359173 4.999878 AIR 1.00000000 58.876
    26 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 58.208
    27 0.000000 4.999878 AIR 1.00000000 58.208
    28 30419.359173 6.999886 SIO2 1.47454791 58.876
    29 167.590814 AS 0.899058 AIR 1.00000000 60.638
    30 137.539113 43.727364 CAF2 1.44491176 61.796
    31 –131.918868 0.899474 AIR 1.00000000 63.113
    32 –356.183191 6.999817 SIO2 1.47454791 62.012
    33 143.479738 0.899509 AIR 1.00000000 61.826
    34 102.181631 49.777244 CAF2 1.44491176 64.052
    35 –145.815755 2.889344 AIR 1.00000000 62.743
    36 –137.698845 6.999948 SIO2 1.47454791 61.685
    37 596.280878 20.329873 AIR 1.00000000 59.749
    38 100.727925 33.355017 SIO2 1.47454791 57.341
    39 129.520972 26.217434 AIR 1.00000000 50.727
    40 –101.207563 6.999879 SIO2 1.47454791 50.277
    41 167.922968 AS 85.668895 AIR 1.00000000 52.338
    42 458.400326 AS 35.158991 SIO2 1.47454791 78.877
    43 –146.751423 0.899823 AIR 1.00000000 81.028
    44 248.577028 38.347730 SIO2 1.47454791 83.176
    45 –234.020468 0.899797 AIR 1.00000000 82.482
    46 142.772694 AS 40.240842 SIO2 1.47454791 70.217
    47 87.808066 29.747497 AIR 1.00000000 53.353
    48 –154.763591 6.999802 SIO2 1.47454791 52.509
    49 107.578181 AS 3.678500 AIR 1.00000000 50.674
    50 103.561665 AS 15.371765 LLF1 1.57931548 49.552
    51 –301598.968220 –0.006790 AIR 1.00000000 48.392
    52 0.000000 31.000000 AIR 1.00000000 48.393
    53 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 42.003
    Tabelle 2A Asphärische Konstanten
    SRF 3 4 7 11 12
    K 0 0 0 0 0
    C1 9.776904e-07 1.353365e-06 –8.995160e-08 1.776253e-07 –1.179532e-07
    C2 3.925698e-11 –1.128802e-11 –1.061359e-11 –5.758337e-12 –1.670338e-11
    C3 8.443711e-15 1.142531e-14 5.303935e-16 –9.432780e-16 –2.193654e-16
    C4 –1.892335e-17 –2.372933e-17 –6.152638e-20 1.667191e-19 9.329714e-19
    C5 6.656883e-21 9.116912e-21 –1.101706e-24 –1.186258e-23 –1.476911e-22
    C6 –5.588530e-25 –1.006806e-24 –7.591472e-28 3.734750e-28 7.439195e-27
    C7 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 24 29 41 42 46
    K 0 0 0 0 0
    C1 –1.037467e-07 1.037467e-07 1.179532e-07 –1.776253e-07 8.995160e-08
    C2 –4.558180e-12 4.558180e-12 1.670338e-11 5.758337e-12 1.061359e-11
    C3 –3.893159e-17 3.893159e-17 2.193654e-16 9.432780e-16 –5.303935e-16
    C4 –2.186713e-20 2.186713e-20 –9.329714e-19 –1.667191e-19 6.152638e-20
    C5 9.495089e-24 –9.495089e-24 1.476911e-22 1.186258e-23 1.101706e-24
    C6 –6.989844e-28 6.989844e-28 –7.439195e-27 –3.734750e-28 7.591472e-28
    C7 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 49 50
    K 0 0
    C1 –1.353365e-06 –9.776904e-07
    C2 1.128802e-11 –3.925698e-11
    C3 –1.142531e-14 –8.443711e-15
    C4 2.372933e-17 1.892335e-17
    C5 –9.116912e-21 –6.656883e-21
    C6 1.006806e-24 5.588530e-25
    C7 0.0000008+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00
    Tabelle 4: NA = 0.2; |β| = 1(Referenzsystem)
    FLAECHE RADIEN DICKEN MATERIAL Index für 365.015 nm 1/2 DURCHMESSER
    0 0.000000 31.00000 AIR 1.00000000 42.000
    1 0.000000 11.24007 AIR 1.00000000 48.677
    2 –2909.790077 21.76693 LLF1 1.57931548 51.002
    3 –110.061959 0.899680 AIR 1.00000000 52.274
    4 –126.006309 6.999313 SIO2 1.47454791 52.029
    5 258.178233 AS 25.73612 AIR 1.00000000 54.039
    6 –89.509535 45.55135 SIO2 1.47454791 54.574
    7 –124.558174 AS 0.899881 AIR 1.00000000 69.818
    8 188.192284 37.26435 SIO2 1.47454791 77.824
    9 –269.497665 0.899997 AIR 1.00000000 77.620
    10 88.857706 42.67738 SIO2 1.47454791 69.245
    11 119.920065 AS 40.97811 AIR 1.00000000 56.091
    12 –171.892385 AS 6.999933 SIO2 1.47454791 52.528
    13 126.954570 30.86325 AIR 1.00000000 51.414
    14 –127.799124 29.98483 SIO2 1.47454791 52.758
    15 –99.190846 29.70953 AIR 1.00000000 58.329
    16 –263.936528 AS 6.999846 SIO2 1.47454791 59.970
    17 156.257721 3.526162 AIR 1.00000000 64.912
    18 175.066295 55.59658 CAF2 1.44491176 66.375
    19 –95.241877 0.899560 AIR 1.00000000 68.948
    20 –185.507833 6.999770 SIO2 1.47454791 65.714
    21 277.695696 0.899591 AIR 1.00000000 65.941
    22 131.830153 48.71120 CAF2 1.44491176 67.458
    23 –136.308349 0.898748 AIR 1.00000000 66.234
    24 –160.393853 AS 6.999589 SIO2 1.47454791 65.008
    25 –8955.726377 4.998902 AIR 1.00000000 63.236
    26 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 62.604
    27 0.000000 4.998902 AIR 1.00000000 62.604
    28 8955.726377 6.999589 SIO2 1.47454791 63.236
    29 160.393853 AS 0.898748 AIR 1.00000000 65.008
    30 136.308349 48.71120 CAF2 1.44491176 66.233
    31 –131.830153 0.899591 AIR 1.00000000 67.458
    32 –277.695696 6.999770 SIO2 1.47454791 65.941
    33 185.507833 0.899560 AIR 1.00000000 65.713
    34 95.241877 55.59658 CAF2 1.44491176 68.947
    35 –175.066295 3.526162 AIR 1.00000000 66.373
    36 –156.257721 6.999846 SIO2 1.47454791 64.910
    37 263.936528 AS 29.70953 AIR 1.00000000 59.968
    38 99.190846 29.98483 SIO2 1.47454791 58.327
    39 127.799124 30.86325 AIR 1.00000000 52.756
    40 –126.954570 6.999933 SIO2 1.47454791 51.411
    41 171.892385 AS 40.97811 AIR 1.00000000 52.525
    42 –119.920065 AS 42.67738 SIO2 1.47454791 56.089
    43 –88.857706 0.899997 AIR 1.00000000 69.242
    44 269.497665 37.26435 SIO2 1.47454791 77.614
    45 –188.192284 0.899881 AIR 1.00000000 77.818
    46 124.558174 AS 45.55135 SIO2 1.47454791 69.813
    47 89.509535 25.73612 AIR 1.00000000 54.571
    48 –258.178233 AS 6.999313 SIO2 1.47454791 54.034
    49 126.006309 0.899680 AIR 1.00000000 52.024
    50 110.061959 21.76693 LLF1 1.57931548 52.270
    51 2909.790077 11.24007 AIR 1.00000000 50.997
    52 0.000000 31.00000 AIR 1.00000000 48.672
    53 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 42.005
    Tabelle 4A Asphärische Konstanten
    SRF 5 7 11 12 16
    K 0 0 0 0 0
    C1 –2.177863e-07 –7.336744e-08 4.170733e-07 –1.219672e-07 –1.005106e-07
    C2 3.574994e-11 –9.581370e-13 1.258853e-12 –2.917960e-11 –1.287382e-11
    C3 –1.352883e-15 –5.103284e-16 5.263698e-15 8.837084e-15 –2.563292e-15
    C4 –1.210996e-19 4.048319e-20 2.161934e-19 –5.594645e-19 2.257311e-19
    C5 2.557245e-22 –2.756801e-23 1.512410e-22 3.555606e-22 –1.079821e-22
    C6 –8.822042e-26 5.147940e-27 –3.661226e-27 –2.274269e-25 2.099567e-26
    C7 9.259930e-30 –3.580800e-31 6.297068e-31 3.015793e-29 –8.090831e-31
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 24 29 37 41 42
    K 0 0 0 0 0
    C1 –8.799369e-08 8.799369e-08 1.005106e-07 1.219672e-07 –4.170733e-07
    C2 –2.777117e-12 2.777117e-12 1.287382e-11 2.917960e-11 –1.258853e-12
    C3 9.869929e-17 –9.869929e-17 2.563292e-15 –8.837084e-15 –5.263698e-15
    C4 –1.347303e-20 1.347303e-20 –2.257311e-19 5.594645e-19 –2.161934e-19
    C5 1.099840e-24 –1.099840e-24 1.079821e-22 –3.555606e-22 –1.512410e-22
    C6 –5.851223e-28 5.851223e-28 –2.099567e-26 2.274269e-25 3.661226e-27
    C7 5.807725e-32 –5.807725e-32 8.090831e-31 –3.015793e-29 –6.297068e-31
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 46 48
    K 0 0
    C1 7.336744e-08 2.177863e-07
    C2 9.581370e-13 –3.574994e-11
    C3 5.103284e-16 1.352883e-15
    C4 –4.0483198-20 1.210996e-19
    C5 2.756801e-23 –2.557245e-22
    C6 –5.147940e-27 8.822042e-26
    C7 3.580800e-31 –9.259930e-30
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00
    Tabelle 11: NA = 0.4; |β| = 0.5
    FLAECHE RADIEN DICKEN MATERIAL 365.015 nm 1/2 DURCHMESSER
    0 0.000000 28.876337 AIR 1.00000000 42.000
    1 0.000000 –0.584968 AIR 1.00000000 48.032
    2 2818.132718 7.345975 LLF1 1.57931548 47.995
    3 –514.255778 AS 1.189989 AIR 1.00000000 48.979
    4 –591.643644 AS 6.962847 SILUV 1.47454791 49.672
    5 146.975223 27.562130 AIR 1.00000000 51.397
    6 –94.371763 89.093550 SILUV 1.47454791 52.387
    7 –183.133407 AS 0.869698 AIR 1.00000000 90.717
    8 1482.135083 34.438813 SILUV 1.47454791 102.619
    9 –249.592865 0.889093 AIR 1.00000000 104.417
    10 436.810319 42.462752 SILUV 1.47454791 108.904
    11 –249.919236 AS 263.182480 AIR 1.00000000 108.875
    12 –543.251508 AS 6.993469 SILUV 1.47454791 62.666
    13 124.441711 26.387986 AIR 1.00000000 60.790
    14 –228.348224 61.649792 SILUV 1.47454791 61.161
    15 –159.139198 5.956461 AIR 1.00000000 71.942
    16 –388.325507 6.997026 SILUV 1.47454791 73.053
    17 170.604607 2.301074 AIR 1.00000000 76.510
    18 174.947584 55.562729 CAFUV 1.44491176 77.689
    19 –120.012813 0.832291 AIR 1.00000000 78.677
    20 –131.986339 6.978005 SILUV 1.47454791 77.536
    21 446.153619 0.851031 AIR 1.00000000 81.234
    22 168.111857 55.140199 CAFUV 1.44491176 85.118
    23 –159.079231 0.772776 AIR 1.00000000 84.872
    24 –204.289933 AS 6.947268 SILUV 1.47454791 83.884
    25 –920.036856 –1.745482 AIR 1.00000000 83.922
    26 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 83.835
    27 0.000000 2.085445 AIR 1.00000000 83.835
    28 1008.715402 6.945452 SILUV 1.47454791 84.529
    29 173.957619 AS 0.725168 AIR 1.00000000 85.997
    30 165.256362 56.594086 CAFUV 1.44491176 87.184
    31 –169.896999 0.812546 AIR 1.00000000 87.634
    32 –257.765659 6.969608 SILUV 1.47454791 85.608
    33 174.056116 0.795858 AIR 1.00000000 85.142
    34 128.587586 63.114407 CAFUV 1.44491176 89.253
    35 –209.669218 2.531188 AIR 1.00000000 88.285
    36 –202.659674 6.984691 SILUV 1.47454791 87.190
    37 378.798487 7.184581 AIR 1.00000000 83.252
    38 143.787015 18.672300 SILUV 1.47454791 81.949
    39 222.673173 37.901779 AIR 1.00000000 79.989
    40 –162.321047 6.974330 SILUV 1.47454791 79.581
    41 –207.257549 AS 102.944485 AIR 1.00000000 80.578
    42 245.824501 AS 33.373352 SILUV 1.47454791 84.106
    43 –214.577571 0.858855 AIR 1.00000000 84.521
    44 203.868548 40.285293 SILUV 1.47454791 79.172
    45 –460.435723 0.798554 AIR 1.00000000 74.834
    46 178.568711 AS 45.253033 SILUV 1.47454791 63.263
    47 52.215807 16.218401 AIR 1.00000000 38.214
    48 279.186819 26.688554 SILUV 1.47454791 37.429
    49 53.327852 AS 1.612806 AIR 1.00000000 28.405
    50 48.719319 AS 17.264898 LLF1 1.57931548 27.823
    51 140.180796 4.291961 AIR 1.00000000 23.856
    52 0.000000 4.205296 AIR 1.00000000 22.860
    53 0.000000 0.000000 AIR 1.00000000 21.003
    Tabelle 11A Asphärische Konstanten
    SRF 3 4 7 11 12
    K 0 0 0 0 0
    C1 6.591363e-07 8.565720e-07 –1.475142e-08 2.770815e-08 –3.293397e-10
    C2 1.848215e-11 1.030032e-12 –1.779656e-12 4.134942e-13 2.522079e-13
    C3 –4.115588e-14 –4.789653e-14 –2.351703e-17 –2.467610e-17 –2.011329e-16
    C4 1.530028e-17 1.560068e-17 –9.671198e-21 6.805608e-22 –8.924047e-21
    C5 –4.655037e-21 –4.290931e-21 7.077240e-25 3.297238e-26 8.150092e-24
    C6 6.781615e-25 6.154561e-25 –9.238330e-29 –1.974468e-30 –1.350836e-27
    C7 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 24 29 41 42 46
    K 0 0 0 0 0
    C1 –9.255278e-08 –5.221578e-09 2.912875e-08 –2.729908e-07 3.481554e-07
    C2 –5.795783e-13 1.149201e-12 1.337642e-11 8.079525e-12 –1.292153e-12
    C3 –4.298962e-17 2.874760e-17 –4.167434e-16 8.602345e-16 7.498473e-16
    C4 5.769052e-21 3.827051e-22 4.033452e-20 –1.281479e-19 1.098636e-19
    C5 –7.406637e-25 2.450874e-26 –1.516546e-24 6.456342e-24 –2.743652e-23
    C6 5.329369e-29 8.532961e-30 –1.313343e-28 –1.331485e-28 6.074324e-27
    C7 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00 0.000000e+00
    SRF 49 50
    K 0 0
    C1 –2.166696e-06 –1.771578e-06
    C2 –6.257550e-10 –4.850265e-10
    C3 5.331822e-13 2.398944e-13
    C4 7.628717e-17 3.766906e-16
    C5 –2.913693e-19 –5.941726e-19
    C6 2.215584e-22 3.813678e-22
    C7 0.000000e+00 0.000000e+00
    C8 0.000000e+00 0.000000e+00
    C9 0.000000e+00 0.000000e+00
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Claims (22)

  1. Projektionsobjektiv für die Photolithographie mit: einer Vielzahl von optischen Elementen, die entlang einer optischen Achse (AX) angeordnet sind, um ein in eine Objektfläche (OS) des Projektionsobjektivs angeordnetes Muster in eine zur Objektfläche optisch konjugierte Bildfläche (IS) des Projektionsobjektivs mit Ultraviolettlicht aus einem Wellenlängenband mit einer Bandbreite Δλ > 10 pm um eine zentrale Arbeitswellenlänge λ > 200 nm abzubilden, wobei die optischen Elemente mindestens ein Linsenpaar (LP, LP') enthalten, das aus einer ersten Linse (L1) und einer der ersten Linse direkt benachbarten zweiten Linse (L2) besteht, wobei die erste Linse (L1) aus einem ersten Material mit einer ersten Dispersion und die zweite Linse (L2) aus einem zweiten Material mit einer von der ersten Dispersion verschiedenen zweiten Dispersion besteht, und wobei eine der zweiten Linse zugewandte Linsenfläche (AS1) der ersten Linse sowie eine der ersten Linse zugewandte Linsenfläche (AS2) der zweiten Linse als asphärische Linsenflächen gestaltet sind.
  2. Projektionsobjektiv nach Anspruch 1, worin das Projektionsobjektiv (200) einen Abbildungsmaßstab β im Bereich 0.9 < |β| < 1.1 hat.
  3. Projektionsobjektiv nach Anspruch 1 oder 2, worin das Projektionsobjektiv (200) in Bezug auf eine zwischen der Objektfläche und der Bildfläche angeordnete Pupillenfläche (PUP) einen im Wesentlichen symmetrischen Aufbau und einen Abbildungsmaßstab β im Bereich 0.9 < |β| < 1.1 hat.
  4. Projektionsobjektiv nach Anspruch 1, worin das Projektionsobjektiv (1100) als Reduktionsobjektiv mit einem verkleinernden Abbildungsmaßstab β im Bereich 0.2 < |β| < 0.9 oder als vergrößerndes Projektionsobjektiv mit einem Abbildungsmaßstab β im Bereich 1.1 < |β| < 5 ausgelegt ist.
  5. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin das Projektionsobjektiv (200, 1100) ein rein refraktives Projektionsobjektiv ist, bei dem alle mit Brechkraft ausgestatteten optischen Elemente Linsen aus transparentem Material sind.
  6. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin alle optischen Elemente entlang einer geraden, ungefalteten optischen Achse (AX) angeordnet sind und/oder worin die Objektfläche (OS) und die Bildfläche (IS) parallel zueinander ausgerichtet sind.
  7. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin das Projektionsobjektiv (200, 1100) im Bereich der Objektfläche und im Bereich der Bildfläche einen im Wesentlichen telezentrischen Strahlengang, hat, wobei vorzugsweise der Hauptstrahlwinkel im Bereich der Objektfläche (OS) und im Bereich der Bildfläche (IS) über alle Feldpunkte weniger als ca. 5 mrad beträgt.
  8. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin die erste Linse (L1, L1', L24) eine Positivlinse aus einem ersten Material mit relativ hoher Dispersion und die zweite Linse (L2, L2', L23) eine Negativlinse aus einem zweiten Material mit relativ zum ersten Material niedrigerer Dispersion ist.
  9. Projektionsobjektiv nach Anspruch 8, worin das erste Material mit relativ hoher Dispersion eine Abbe-Zahl νlow und das zweite Material mit relativ niedriger Dispersion eine Abbe-Zahl νhigh hat und eine Abbe-Zahl-Differenz Δν = νhigh – νlow mindestens 10 beträgt, wobei die Abbe-Zahl ν definiert ist als ν = (nh – 1)/(ni – ng), wobei ng, nh und ni die Brechungsindizes des Materials bei den Wellenlängen der Quecksilber g-, h- oder i-Linie sind.
  10. Projektionsobjektiv nach Anspruch 9, worin für das relativ niedrigdispersive zweite Material die Bedingung 65 ≥ νhigh ≥ 50 und für das relativ hochdispersive erste Material die Bedingung 45 ≥ νlow ≥ 25 erfüllt ist.
  11. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin das zweite Material synthetisches Quarzglas (SiO2) ist, und vorzugsweise das erste Material ein Spezialglas aus der Gruppe LLF1, LLF5 oder LF5 ist.
  12. Projektionsobjektiv nach Anspruch 8, worin für das relativ niedrigdispersive zweite Material die Bedingung 85 ≥ νhigh ≥ 70 und für das relativ hochdispersive erste Material die Bedingung 65 ≥ νlow ≥ 50 erfüllt ist.
  13. Projektionsobjektiv nach Anspruch 12, worin das zweite Material Kalziumfluorid (CaF2) ist, und vorzugsweise das erste Material ausgewählt ist aus der Gruppe SiO2, FK5, K5, K7, BK7.
  14. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin ein Linsenpaar (LP, LP') in der Nähe einer Feldfläche des Projektionsobjektivs so angeordnet ist, dass für ein Strahlhöhenverhältnis RHR = CRH/MRH zwischen Hauptstrahlhöhe CRH und Randstrahlhöhe MRH an mindestens einer der asphärischen Linsenflächen die Bedingung RHR > 1 gilt, wobei vorzugsweise die Bedingung RHR > 2 für den axialen Ort der beiden asphärischen Linsenflächen gilt.
  15. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin ein axialer Asphärenabstand DAS der asphärischen Linsenflächen des Linsenpaares kleiner ist als ein mittlerer optisch genutzter Radius der gegenüberstehenden asphärischen Linsenflächen, wobei vorzugsweise der Asphärenabstand weniger als 50% des mittleren optisch genutzten Radius beträgt.
  16. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin mindestens eine der asphärischen Linsenflächen (AS1, AS2) einen Bereich hat, in dem die lokale Krümmung von der optischen Achse der Linse (L1, L2) zum Rand der Linse abnimmt.
  17. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin mindestens eine der asphärischen Linsenflächen einen Bereich hat, in dem die lokale Krümmung von der optischen Achse der Linse zum Rand der Linse zunimmt.
  18. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem mindestens eine der asphärischen Linsenflächen einen ersten Bereich hat, in dem die lokale Krümmung von der optischen Achse zum Rand hin abnimmt und einen zweiten Bereich, in dem die lokale Krümmung von der Achse zum Rand hin zunimmt.
  19. Projektionsobjektiv nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem im Bereich einer zwischen der Objektfläche (OS) und der Bildfläche (IS) angeordneten Pupillenfläche (PUP) mindestens ein Doublett mit einer Positivlinse und einer unmittelbar neben der Positivlinse angeordneten Negativlinse vorgesehen, wobei die Negativlinse aus einem ersten Material mit relativ hoher Dispersion und die Positivlinse aus einem zweiten Material mit relativ zum ersten Material niedriger Dispersion besteht.
  20. Projektionsobjektiv nach Anspruch 19, worin unmittelbar vor und unmittelbar hinter der Pupillenfläche (PUP) mindestens ein Doublett angeordnet ist und/oder worin auf mindestens einer Seite der Pupillenfläche (PUP) mindestens zwei unmittelbar aufeinanderfolgende Doubletts angeordnet sind.
  21. Projektionsobjektiv nach Anspruch 19 oder 20, worin das erste Material mit relativ hoher Dispersion eine Abbe-Zahl νlow und das zweite Material mit relativ niedriger Dispersion eine Abbe-Zahl νhigh hat und eine Abbe-Zahl-Differenz Δν = νhigh – νlow mindestens 10 beträgt, wobei die Abbe-Zahl ν definiert ist als ν = (nh – 1)/(ni – ng), wobei ng, nh und ni die Brechungsindizes des Materials bei den Wellenlängen der Quecksilber g-, h- oder i-Linie sind.
  22. Projektionsobjektiv nach Anspruch 19, 20 oder 21, worin für das relativ niedrigdispersive zweite Material die Bedingung 85 ≥ νhigh ≥ 70 und für das relativ hochdispersive erste Material die Bedingung 65 ≥ νlow ≥ 50 erfüllt ist, wobei vorzugsweise das zweite Material Kalziumfluorid (CaF2) und das erste Material SiO2 ist.
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