DE102008013567A1 - Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage - Google Patents

Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, mit einem polarisationsbeeinflussenden Element (15, 75), welches eine lineare Polarisationsverteilung mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung eines durch dieses polarisationsbeeinflussende Element (15, 75) hindurchtretenden Lichtbündels in eine zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung umwandelt, und einem diffraktiven optischen Element (12, 72), welches in Lichtausbreitungsrichtung vor dem polarisationsbeeinflussenden Element (15, 75) positionierbar ist und unterschiedliche Bereiche eines durch dieses diffraktive optische Element (12, 72) hindurchtretenden Lichtbündels in unterschiedliche Ablenkrichtungen ablenkt, wobei das diffraktive optische Element (12, 72) für in wenigstens zwei unterschiedlichen Ablenkrichtungen abgelenkte Lichtstrahlen des Lichtbündels voneinander verschiedene Polarisationszustände einstellt.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage.
  • Mikrolithographie wird zur Herstellung mikrostrukturierter Bauelemente, wie beispielsweise integrierter Schaltkreise oder LCD's, angewendet. Der Mikrolithographieprozess wird in einer sogenannten Projektionsbelichtungsanlage durchgeführt, welche eine Beleuchtungseinrichtung und ein Projektionsobjektiv aufweist. Das Bild einer mittels der Beleuchtungseinrichtung beleuchteten Maske (= Retikel) wird mittels des Projektionsobjektivs auf ein mit einer lichtempfindlichen Schicht (z. B. Photoresist) beschichtetes und in der Bildebene des Projektionsobjektivs angeordnetes Substrat (z. B. einen Siliziumwafer) projiziert, um die Maskenstruktur auf die lichtempfindliche Beschichtung des Substrats zu übertragen.
  • Es sind verschiedene Ansätze bekannt, in der Beleuchtungseinrichtung zur Optimierung des Abbildungskontrastes gezielt bestimmte Polarisationsverteilungen in der Pupillenebene und/oder in der Retikelebene einzustellen.
  • Aus WO 2005/069081 A2 ist u. a. ein polarisationsbeeinflussendes optisches Element bekannt, welches aus einem optisch aktiven Kristall besteht und ein in Richtung der optischen Achse des Kristalls variierendes Dickenprofil aufweist. Das Dickenprofil kann insbesondere so ausgestaltet sein, dass eine lineare Eingangspolarisationsverteilung mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung in eine zumindest näherungsweise tangentiale oder radiale Polarisationsverteilung umgewandelt wird.
  • Aus WO 2005/116772 A1 ist u. a. zur Einstellung einer quasitangentialen Polarisationsverteilung der Einsatz einer polarisationsbeeinflussenden optischen Anordnung mit zwei 90°-Rotatorelementen aus optisch aktivem Material bekannt.
  • Aus WO 2006/040184 A2 ist es u. a. bekannt, in einer Beleuchtungseinrichtung zur flexiblen Anpassung der Polarisationsverteilung an unterschiedliche Retikel insbesondere in der Nähe eines diffraktiven optischen Elementes eine Polarisationsdreheinrichtung anzuordnen, um die Polarisationsvorzugsrichtung global um 90° zu drehen.
  • Aus US 2003/0086156 A1 ist es u. a. bekannt, ein optisches System wie z. B. ein Projektionsobjektiv mit einem 90°-Rotatorelement in eine vordere und eine hintere Gruppe zu unterteilen, um die in der vorderen Gruppe erzeugte Verzögerung durch die in der hinteren Gruppe erzeugte Verzögerung auszugleichen.
  • Aus EP 1 367 446 A1 ist es bekannt, zur Bereitstellung eines gewünschten Beleuchtungsmodus in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage ein optisches Element aus einer Vielzahl vorgefertigter optischer Komponenten zusammensetzen, von denen zumindest einige das hindurchtretende Licht in voneinander verschiedener Weise hinsichtlich Strahlablenkung und/oder einer Änderung des Polarisationszustandes beeinflussen.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage bereitzustellen, welche mit geringem Aufwand je nach gewünschtem Beleuchtungssetting eine flexible Anpassung der Polarisationsverteilung ermöglicht.
  • Diese Aufgabe wird gemäß den Merkmalen des unabhängigen Anspruchs 1 gelöst.
  • Eine erfindungsgemäße Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage umfasst:
    • – ein polarisationsbeeinflussendes Element, welches eine lineare Polarisationsverteilung mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung eines durch dieses polarisationsbeeinflussende Element hindurchtretenden Lichtbündels in eine zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung umwandelt; und
    • – ein diffraktives optisches Element, welches in Lichtausbreitungsrichtung vor dem polarisationsbeeinflussenden Element positionierbar ist und unterschiedliche Bereiche eines durch dieses diffraktive optische Element hindurchtretenden Lichtbündels in unterschiedliche Ablenkrichtungen ablenkt;
    • – wobei das diffraktive optische Element für in wenigstens zwei unterschiedlichen Ablenkrichtungen voneinander abgelenkte Lichtstrahlen des Lichtbündels verschiedene Polarisationszustände einstellt.
  • Dadurch, dass bei der erfindungsgemäßen Beleuchtungseinrichtung zusätzlich zu einem eine zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung einstellenden polarisationsbeeinflussenden Element ein in unterschiedlichen Ablenkrich tungen verschiedene Polarisationszustände erzeugendes diffraktives optisches Element (im Folgenden auch "polarisierendes DOE") bereitgestellt wird, wird die Möglichkeit geschaffen, das besagte polarisationsbeeinflussende Element dauerhaft im Strahlengang zu belassen bzw. fest in der Beleuchtungseinrichtung eingebaut zu installieren und das polarisierende DOE, welches vorzugsweise selektiv in den Strahlengang einfahrbar bzw. aus diesem herausfahrbar angeordnet sein kann, (nur) in solchen Situationen einzusetzen, in welchen das gewünschte polarisierte Beleuchtungssetting nicht vollständig mit dem polarisationsbeeinflussenden Element erzeugbar (bzw. mit diesem „verträglich") ist.
  • Zugleich wird mit der erfindungsgemäßen Kombination aus dem die zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung einstellenden polarisationsbeeinflussenden Element einerseits und dem polarisierenden DOE andererseits – und den hiermit ermöglichten festen Einbau des besagten polarisationsbeeinflussenden Elementes – dem Umstand Rechnung getragen, dass in der Praxis in der weitaus überwiegenden Mehrheit der Fälle das gewünschte polarisierte Beleuchtungssetting mit dem besagten polarisationsbeeinflussenden Element einstellbar bzw. mit diesem verträglich ist. Im Ergebnis wird dabei durch das polarisierende DOE mit geringem Aufwand je nach gewünschtem Beleuchtungssetting eine flexible Anpassung der Polarisationsverteilung ermöglicht.
  • Im Sinne der vorliegenden Anmeldung ist unter dem Begriff „zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung" jede Polarisationsverteilung zu verstehen, bei der die Polarisationsvorzugsrichtung der einzelnen Lichtstrahlen entweder exakt oder näherungsweise senkrecht zum auf die optische Achse gerichteten Radius orientiert ist. Insbesondere wird unter einer „zumindest näherungsweise tangentialen Polarisationsverteilung" auch eine Polarisationsverteilung verstanden, bei welcher innerhalb einzelner Quadranten bzw. Beleuchtungspole des Beleuchtungssettings (z. B. innerhalb zweier einander gegenüberliegender Quadranten oder Beleuchtungspole in einem Quadrupol-Beleuchtungssetting) eine Polarisationsverteilung eingestellt wird, bei der die Polarisationsvorzugsrichtung in jedem einzelnen der betreffenden Quadranten bzw. Beleuchtungspole konstant ist, wobei sie insbesondere in der Mittenebene des jeweiligen Quadranten exakt und an den übrigen Positionen näherungsweise senkrecht zum auf die optische Achse OA gerichteten Radius orientiert sein kann.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist das diffraktive optische Element in den Strahlengang selektiv ein- und ausfahrbar. Auf diese Weise kann es aus dem Strahlengang für den Fall entfernt werden, dass sich durch die Wirkung des polarisationsbeeinflussenden Elementes bereits die gewünschte Polarisationsverteilung in der Retikelebene ergibt.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform erfolgt die Umwandlung in die zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung durch das polarisationsbeeinflussende Element mit Ausnahme eines Teilbereichs des Lichtbündelquerschnitts. In diesem Falle ist die Bereitstellung des polarisierenden DOE's insofern besonders vorteilhaft, als das polarisierende DOE dann z. B. zur Einstellung eines einheitlich polarisierten Beleuchtungssettings auch in den nicht von dem polarisationsbeeinflussenden Element erfassten Bereichen des Lichtbündelquerschnitts verwendet werden kann.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist das polarisationsbeeinflussende Element in einer Pupillenebene der Beleuch tungseinrichtung oder in unmittelbarer Nähe dieser Pupillenebene, also an einer Position mit vergleichsweise geringer Winkelbelastung, angeordnet.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform weist die Beleuchtungseinrichtung ferner einen Depolarisator, insbesondere einen Hanle-Depolarisator auf, um erforderlichenfalls ein unpolarisiertes Beleuchtungssetting einstellen zu können. Dabei wird die depolarisierende Wirkung in bekannter Weise durch Zusammenwirken des Depolarisators (auch „Pseudo-Depolarisator") mit der Lichtmischeinrichtung der Beleuchtungseinrichtung erzielt, wie z. B. in der DE 198 29 612 A1 beschrieben ist. Als Lichtmischeinrichtung kann insbesondere ein Stabintegrator eingesetzt werden.
  • Durch die Kombination des Depolarisators mit einem polarisationsbeeinflussenden Element gemäß der Erfindung wird außerdem erreicht, dass ein vorhandener Restpolarisationsgrad, welcher z. B. durch polarisationsabhängige Transmissionseigenschaften von AR- und/oder HR-Schichten verursacht wird, im nach dem polarisationsbeeinflussenden Element befindlichen zweiten Abschnitt der Beleuchtungseinrichtung infolge der durch dieses Element bereichsweise oder vollständig bewirkten 90°-Drehung der Polarisationsvorzugsrichtung teilweise oder vollständig kompensiert werden kann.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist der Hanle-Depolarisator mit einer diffraktiven Struktur versehen. Auf diese Weise kann die Wirkung eines DOE mit der Wirkung eines Depolarisators kombiniert werden, wobei das so gebildete integrale Element wiederum vorzugsweise selektiv in dem Strahlengang ein- und ausfahrbar ausgebildet sein kann. Eine zu sätzliche Austauschvorrichtung („Exchanger") für den Depolarisator kann so eingespart werden.
  • Die Erfindung betrifft auch eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage, ein Verfahren zur mikrolithographischen Herstellung mikrostrukturierter Bauelemente und ein mikrostrukturiertes Bauelement.
  • Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind der Beschreibung sowie den Unteransprüchen zu entnehmen.
  • Die Erfindung wird nachstehend anhand von in den beigefügten Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 eine Beleuchtungseinrichtung gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in schematischer Darstellung;
  • 2 eine schematische Darstellung des in der Beleuchtungseinrichtung von 1 eingesetzten polarisationsbeeinflussenden Elementes;
  • 3a–d unterschiedliche polarisierte Beleuchtungssettings, welche mit dem polarisationsbeeinflussenden Element aus 2 in der Beleuchtungseinrichtung von 1 ohne Einschub des erfindungsgemäß bereitgestellten, polarisationsbeeinflussenden DOE's einstellbar sind;
  • 4a–b zur Erläuterung der Wirkung eines polarisierenden DOE's unterschiedliche in der Beleuchtungsein richtung von 1 einstellbare Polarisationsverteilungen;
  • 5a–b schematische Darstellungen zur Erläuterung des Aufbaus unterschiedlicher Ausführungsformen von DOE's ohne (5a) bzw. mit Polarisationsbeeinflussung (5b);
  • 6 ein weiteres polarisiertes Beleuchtungssetting, welches mit dem polarisationsbeeinflussenden Element aus 2 in der Beleuchtungseinrichtung von 1 einstellbar ist; und
  • 78 schematische Darstellungen jeweils einer Beleuchtungseinrichtung gemäß weiterer bevorzugter Ausführungsformen der Erfindung.
  • 1 zeigt in schematischer Darstellung eine Beleuchtungseinrichtung 10 einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage. Die Beleuchtungseinrichtung 10 dient zum Beleuchten einer in einer Retikelebene 19 angeordneten, Struktur tragenden Maske, deren Struktur mit einem (in 1 nicht dargestellten) Projektionsobjektiv auf ein lichtempfindliches Substrat abgebildet wird.
  • Von einer Lichtquelleneinheit 10, die eine Lichtquelle (beispielsweise einen ArF-Laser für eine Arbeitswellenlänge von 193 nm oder einen F2-Laser für eine Arbeitswellenlänge von 157 nm) sowie eine Strahlformungsoptik, welche ein paralleles Lichtbüschel erzeugt, wird ein paralleles Lichtbündel erzeugt.
  • Dieses parallele Lichtbüschel trifft gemäß dem Ausführungsbeispiel zunächst auf ein im Weiteren noch näher erläutertes diffraktives optisches Element (DOE) 12, welches in Verbindung mit einem nachfolgenden, in bekannter Weise angeordneten Zoom-Axikon 13 in der nach einem Umlenkspiegel 14 angeordneten Pupillenebene PP1 je nach Zoom-Stellung und Position der Axikonelemente unterschiedliche Beleuchtungskonfigurationen erzeugt. In Nähe der Pupillenebene PP1 oder auch in der Pupillenebene PP1 selbst befindet sich ein polarisationsbeeinflussendes Element 15, dessen Aufbau und Wirkung im Weiteren unter Bezugnahme auf 2 und 3 ebenfalls noch näher erläutert wird. Lediglich schematisch dargestellt ist weiter ein Lichtmischsystem 16, welches hier in für sich bekannter Weise eine zur Erzielung einer Lichtmischung geeignete Anordnung aus mikrooptischen Elementen aufweist, alternativ jedoch auch als Wabenkondensator oder als Stabintegrator aus für Licht der Arbeitswellenlänge transparentem Material wie z. B. Quarzglas oder auch kristallinem Kalzium-Fluorid ausgebildet sein kann. Eine nach einer darauf folgenden Abbildungsoptik 17 angeordnete Zwischenfeldebene wird in grundsätzlich bekannter Weise durch ein (lediglich schematisch angedeutetes) REMA-Objektiv 18 auf die sich in der Retikelebene 19 befindende, Struktur tragende Maske (Retikel) abgebildet. Die Struktur tragende Maske wird mit einem (in 1 nicht dargestellten) Projektionsobjektiv auf ein lichtempfindliches Substrat abgebildet.
  • Das polarisationsbeeinflussende Element 15 umfasst gemäß 2 gemäß dem Ausführungsbeispiel zwei Teilelemente 15a und 15b, welche die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden, linear polarisierten Lichtes effektiv um 90° drehen. Die Teilelemente 15a und 15b können beispielsweise als Planplatten aus optisch aktivem Quarz hergestellt sein, bei denen die optische Kristallachse parallel zur optischen Achse OA der Beleuchtungseinrichtung orientiert ist (sog. optischer Rotator) und deren Dicke so gewählt ist, dass die Polarisationsvorzugsrichtung von hindurchtretendem, linear polarisiertem Licht durch den Effekt der zirkularen Doppelbrechung um 90° (oder allgemeiner 90° + N·180°) gedreht wird. Bei Verwendung von synthetischem, optisch aktivem kristallinem Quarz mit dem spezifische Drehvermögen α von etwa 323.1°/mm bei einer Wellenlänge von 193 nm und einer Temperatur von 21.6°C entspricht diese Bedingung einer Dicke der Planplatte von etwa d ≈ (278.5 + N·557) μm.
  • Gemäß einer weiteren, nicht dargestellten Ausführungsform kann das polarisationsbeeinflussende Element 15 auch über seinen Querschnitt eine zumindest bereichsweise kontinuierliche Dickenänderung derart aufweisen, dass auftreffendes linear polarisiertes Licht von konstanter linearer Polarisationsverteilung in eine tangentiale Polarisationsverteilung umgewandelt wird. Entsprechende Ausführungsformen solcher „Spiralrotator"-Elemente sind in WO 2005/069081 A2 beschrieben. In diesem Falle sind vorzugsweise auch die in 2 frei gelassenen Bereiche mit entsprechenden „Spiralrotator"-Segmenten aufgefüllt.
  • Die von dem polarisationsbeeinflussenden Element 15 erzeugte Polarisationsverteilung ist, für den Fall einer bei Eintritt in das Element 15 linearen Polarisation mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung in y-Richtung, eine „quasi-tangentiale" Polarisationsverteilung in einem Beleuchtungssetting 330 wie in 3c dargestellt, wobei die Polarisationsvorzugsrichtung, welche in jedem einzelnen der vier eingezeichneten Quadranten konstant ist, in der Mittenebene des jeweiligen Quadranten exakt und an den übrigen Positionen nä herungsweise senkrecht zum auf die optische Achse OA (welche in z-Richtung im eingezeichneten Koordinatensystem verläuft) gerichteten Radius orientiert ist.
  • Infolge der durch das polarisationsbeeinflussende Element 15 bereichsweise bewirkten Drehung der Polarisationsvorzugsrichtung um 90° ergibt sich in der Retikelebene 19 ohne Berücksichtigung einer polarisierenden Wirkung des DOE's 12, d. h. bei Verwendung eines herkömmlichen DOES, welches ohne Beeinflussung des Polarisationszustandes das hindurchtretende Licht in unterschiedliche Richtungen ablenkt, die „quasi-tangentiale" Polarisationsverteilung von 3c, falls durch das DOE eine entsprechende Strahlablenkung zur Erzeugung des dargestellten, sogenannten C-Quad-Beleuchtungssettings, eingestellt wird.
  • Entsprechend lassen sich mittels des polarisationsbeeinflussenden Elementes 15 von 2 auch die übrigen, in 2a, 2b und 2d dargestellten Beleuchtungssettings in Verbindung mit einem geeigneten herkömmlichen, nicht polarisierenden DOE einstellen. Im Einzelnen wird dabei das Beleuchtungssetting 310 von 2a auch als „Dipol-Y"-Setting, das Beleuchtungssetting 320 von 2b auch als „Dipol-X"-Setting und das Beleuchtungssetting 340 von 2d auch als „Low-Sigma"-Setting (d. h. ein Beleuchtungssetting mit „kleinem Sigma", in dem der ausgeleuchtete Bereich klein gegen den Pupillendurchmesser ist), bezeichnet. Des Weiteren lässt sich auch ein „Low-Sigma"-Setting mit um 90° gedrehter (d. h. in x-Richtung orientierter) Polarisationsvorzugsrichtung einstellen, indem z. B. ein 90°-Rotatorelement vorzugsweise in unmittelbarer Nähe des DOE's in den Strahlengang eingeführt wird oder indem das DOE selbst durch ein polarisierendes, die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes um 90° drehen des DOE ersetzt wird. Des Weiteren ist das polarisationsbeeinflussende Element 15 von 2 auch in Verbindung mit einem in 6 dargestellten Beleuchtungssetting 600 geeignet, in welchem die Beleuchtungspole 601604 nur teilweise durch die Teilelemente 15a und 15b abgedeckt werden.
  • Gemäß der Erfindung wird nun als DOE 12 ein selektiv in den Strahlengang ein- bzw. aus diesem herausfahrbares polarisierendes DOE eingesetzt. Zur Erläuterung von dessen Aufbau und Wirkung wird im Weiteren beispielhaft davon ausgegangen, dass die sich vor dem polarisierenden DOE 12 ergebende Polarisationsverteilung eine lineare Polarisationsverteilung mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung in y-Richtung bezogen auf das z. B. in 2 und 3 eingezeichnete Koordinatensystem ist.
  • Das polarisierende DOE 12 weist eine Rasterstruktur mit Bereichen 12a und 12b auf, welche eine unterschiedliche Wirkung auf die Polarisation des hindurchtretenden Lichtes haben. Derartige polarisierende DOE's sind grundsätzlich sich aus der EP 1 367 446 A1 bekannt. Genauer drehen die Bereiche 12a die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes um 90°, wohingegen die Bereiche 12b die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes nicht verändern. Außerdem weisen die Bereiche 12a und 12b eine unterschiedliche strahlablenkende Wirkung auf, wie im Weiteren unter Bezugnahme auf 4 noch näher erläutert wird.
  • Wie aus EP 1 367 446 A1 grundsätzlich bekannt ist, können solche polarisierenden DOE's beispielsweise als matrix- bzw. rasterförmige Anordnung einer Vielzahl von beispielsweise jeweils rechteckige Geometrie aufweisenden, die Strahlablenkung bewirkenden diffraktiven Einzelelementen zusammengesetzt sein, wobei die Einzelelemente z. B. typische Abmessungen von 2 mm·3 mm aufweisen und zu einem rechteckförmigen Raster z. B. mit den Abmessungen 24 mm·24 mm zusammengesetzt sein können. Die gewünschte polarisierende Wirkung kann durch zusätzliche Bereitstellung polarisierender Einzelelemente erzielt werden, welche beispielsweise unmittelbar auf den besagten diffraktiven Einzelelementen angeordnet und z. B. als in unterschiedlichen Richtungen orientierte Lambda/2-Platten ausgebildet sein können, um die strahlablenkende Wirkung mit der polarisierenden Wirkung zu kombinieren.
  • Im Weiteren wird nun davon ausgegangen, dass in der Beleuchtungseinrichtung 10 von 1 ein Beleuchtungssetting gewünscht wird, welches ausgeleuchtete Bereiche auch außerhalb der Teilelemente 15a, 15b des polarisationsbeeinflussenden Elementes 15 von 2 aufweist. Ein Beispiel hierfür ist in 4 gezeigt, wobei die Positionen der Teilelemente 15 wiederum mit 15a, 15b bezeichnet sind, und wobei die gepunkteten Bereiche die in dem gewünschten Beleuchtungssetting auszuleuchtenden Bereiche darstellen. 4a zeigt die Situation im Falle der Verwendung eines herkömmlichen, nicht polarisierenden DOE's (in 5a mit 510 bezeichnet). Unter der Annahme, dass in den auszuleuchtenden Bereichen eine einheitliche Polarisationsverteilung (mit Polarisationsvorzugsrichtung in x-Richtung, also „quasi-tangentiale" Polarisation) gewünscht ist, wird in den Teilelementen 15a und 15b die Polarisationsvorzugsrichtung von „y" nach „x" gedreht und weist im Falle von 4a in den auszuleuchtenden Bereichen außerhalb der Teilelemente 15a, 15b die Polarisationsvorzugsrichtung in y-Richtung, so dass in den auszuleuchtenden Bereichen außerhalb der Teilelemente 15a, 15b die „falsche" Polarisationsverteilung erhalten wird.
  • 4b zeigt die Situation im Falle der Verwendung eines polarisierenden DOE's (in 5b mit 520 bezeichnet). Dabei sind nur zwei Bereiche 521, 522 der Rasterstruktur des DOE's 520 dargestellt, wobei die Bereiche 522 des DOE's 520 die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes um 90° drehen und das Licht auf die in 4b mit 421 bezeichneten (jeweils von einem der Teilelemente 15a, 15b überdeckten) Bereiche lenken, wohingegen die Bereiche 521 des DOE's 520 die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes nicht verändern und das Licht auf die in 4b mit 422 bezeichneten (von keinem der Teilelemente 15a, 15b überdeckten) Bereiche lenken. Im Ergebnis wird über den gesamten Querschnitt eine einheitliche Polarisationsverteilung mit quasi-tangentialer Polarisation erhalten.
  • Hierbei wird der Vorteil erzielt, dass das polarisationsbeeinflussende Element 15 dauerhaft im Strahlengang verbleiben kann, so dass aufwändige Maßnahmen wie die Verwendung einer Austauschvorrichtung („Exchanger") für das polarisationsbeeinflussende Element oder die Bereitstellung einer Vielzahl alternativer DOE's entbehrlich wird.
  • 7 zeigt in schematischer Darstellung eine Beleuchtungseinrichtung 70 gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung, wobei zur Ausführungsform von 1 im Wesentlichen funktionsgleiche Elemente mit um 60 erhöhten Bezugsziffern bezeichnet sind.
  • Gemäß 7 ist anstelle des diffraktiven optischen Elementes 12 von 1 ein Hanle-Depolarisator 72a vorgesehen, welcher in für sich bekannter Weise aus zwei doppelbrechenden Keilplatten zusammengesetzt ist. Auf der Lichtaustrittsfläche des Hanle-Depolarisators 72a (d. h. der zur optischen Achse OA senkrechten Planfläche der zweiten Keilplatte des Hanle-Depolarisators 72a) ist eine DOE-Struktur 72b aufgebracht, so dass das optische Element 72 insgesamt eine Kombination aus Hanle-Depolarisator und DOE darstellt. Die DOE-Struktur 72b kann selbstverständlich alternativ auch auf einer anderen planen Oberfläche von einer der Keilplatten des Hanle-Depolarisators 72a vorgesehen sein.
  • In der Pupillenebene PP1 befindet sich gemäß 7 wiederum ein polarisationsbeeinflussendes Element 75, welches insbesondere den in 2 gezeigten Aufbau haben kann, d. h. aus wenigstens zwei Teilelementen zusammengesetzt ist, welche jeweils für sich ein 90°-Rotatorelement bilden. Alternativ können diese 90°-Rotatorelemente jedoch auch einen größeren Bereich der Pupillenebene PP1 ausfüllen. Insbesondere kann das polarisationsbeeinflussende Element 75 auch ein 90°-Rotatorelement sein, welches sich über den gesamten Lichtbündelquerschnitt erstreckt, also den ausgeleuchteten Bereich der Pupillenebene vollständig abdeckt.
  • Die Ausführungsform der Beleuchtungseinrichtung 70 von 7 ist für den Fall geeignet und vorteilhaft, dass eine unpolarisierte Beleuchtung der in der Retikelebene 79 angeordneten Maske gewünscht ist. Unpolarisiertes Licht wird dabei in bekannter Weise durch Zusammenwirken des Hanle-Depolarisators 72a mit dem Lichtmischsystem 76 erzeugt. Durch die Kombination des Hanle-Depolarisators 72a mit dem polarisationsbeeinflussenden Element 75 gemäß 7 wird nun erreicht, dass ein vorhandener Restpolarisationsgrad, welcher im vor dem polarisationsbeeinflussenden Element 75 befindlichen ersten Abschnitt der Beleuchtungseinrichtung z. B. aufgrund von polarisationsabhängigen Transmissionseigenschaften von AR- und/oder HR-Schichten verursacht wird, im nach dem polarisationsbeein flussenden Element 75 befindlichen zweiten Abschnitt der Beleuchtungseinrichtung infolge der durch das Element 75 bereichsweise oder vollständig bewirkten 90°-Drehung der Polarisationsvorzugsrichtung teilweise oder vollständig kompensiert wird.
  • Die „integrale" Ausgestaltung von DOE 72b und Hanle-Depolarisator 72a gemäß 7 hat den Vorteil, dass eine zusätzliche Austauschvorrichtung („Exchanger") für den Depolarisator nicht benötigt wird und daher eingespart werden kann. Die Erfindung ist jedoch nicht auf diese integrale Ausführung beschränkt, so dass in einer weiteren (ansonsten zu 7 analogen) Ausführungsform gemäß 8, in welcher wiederum zur Ausführungsform von 1 im Wesentlichen funktionsgleiche Elemente mit um 70 erhöhten Bezugsziffern bezeichnet sind, das DOE 82b und der Hanle-Depolarisator 82a auch als separate Bauteile vorgesehen sein können.
  • Wenn die Erfindung auch anhand spezieller Ausführungsformen beschrieben wurde, erschließen sich für den Fachmann zahlreiche Variationen und alternative Ausführungsformen, z. B. durch Kombination und/oder Austausch von Merkmalen einzelner Ausführungsformen. Dementsprechend versteht es sich für den Fachmann, dass derartige Variationen und alternative Ausführungsformen von der vorliegenden Erfindung mit umfasst sind, und die Reichweite der Erfindung nur im Sinne der beigefügten Patentansprüche und deren Äquivalente beschränkt ist.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - WO 2005/069081 A2 [0004, 0035]
    • - WO 2005/116772 A1 [0005]
    • - WO 2006/040184 A2 [0006]
    • - US 2003/0086156 A1 [0007]
    • - EP 1367446 A1 [0008, 0040, 0041]
    • - DE 19829612 A1 [0018]

Claims (14)

  1. Beleuchtungseinrichtung (10, 70) einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, mit: • einem polarisationsbeeinflussenden Element (15, 75), welches eine lineare Polarisationsverteilung mit konstanter Polarisationsvorzugsrichtung eines durch dieses polarisationsbeeinflussende Element (15, 75) hindurchtretenden Lichtbündels in eine zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung umwandelt; und • einem diffraktiven optischen Element (12, 72), welches in Lichtausbreitungsrichtung vor dem polarisationsbeeinflussenden Element (15, 75) positionierbar ist und unterschiedliche Bereiche eines durch dieses diffraktive optische Element (12, 72) hindurchtretenden Lichtbündels in unterschiedliche Ablenkrichtungen ablenkt; • wobei das diffraktive optische Element (12, 72) für in wenigstens zwei unterschiedlichen Ablenkrichtungen abgelenkte Lichtstrahlen des Lichtbündels voneinander verschiedene Polarisationszustände einstellt.
  2. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Umwandlung in die zumindest näherungsweise tangentiale Polarisationsverteilung durch das polarisationsbeeinflussende Element (15, 75) mit Ausnahme eines Teilbereichs des Lichtbündelquerschnitts erfolgt.
  3. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das polarisationsbeeinflussende Element (15, 75) in einer Pupillenebene der Beleuch tungseinrichtung oder in unmittelbarer Nähe dieser Pupillenebene angeordnet ist.
  4. Beleuchtungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das polarisationsbeeinflussende Element (15, 75) wenigstens zwei jeweils als optischer Rotator (15a, 15b) ausgebildete Teilelemente (15a, 15b) aufweist, welche für hindurchtretendes, linear polarisiertes Licht eine Drehung der Polarisationsvorzugsrichtung um 90° bewirken.
  5. Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das diffraktive optische Element (12) eine Rasterstruktur aus ersten Bereichen (12a) und zweiten Bereichen (12b) aufweist, wobei die ersten und zweiten Bereiche für hindurchtretendes Licht eine unterschiedliche Strahlablenkung und eine unterschiedliche Änderung des Polarisationszustandes bewirken.
  6. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die ersten Bereiche (12a) die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes um 90° drehen und die zweiten Bereiche (12b) die Polarisationsvorzugsrichtung des hindurchtretenden Lichtes unverändert lassen.
  7. Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das diffraktive optische Element (15, 75) selektiv in den Strahlengang ein- und ausfahrbar ist.
  8. Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass diese ferner einen Hanle-Depolarisator (72a) aufweist.
  9. Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Hanle-Depolarisator (72a) selektiv in den Strahlengang ein- und ausfahrbar ist.
  10. Beleuchtungseinrichtung nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Hanle-Depolarisator (72a) mit einer diffraktiven Struktur versehen ist.
  11. Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass diese zur Lichtmischung einen Stabintegrator aufweist.
  12. Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage mit einer Beleuchtungseinrichtung (10, 70) und einem Projektionsobjektiv, wobei die Beleuchtungseinrichtung eine Objektebene des Projektionsobjektivs beleuchtet und wobei die Objektebene mittels des Projektionsobjektivs in eine Bildebene des Projektionsobjektivs abgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche ausgebildet ist.
  13. Verfahren zur mikrolithographischen Herstellung mikrostrukturierter Bauelemente mit folgenden Schritten: • Bereitstellen eines Substrats, auf das zumindest teilweise eine Schicht aus einem lichtempfindlichen Material aufgebracht ist; • Bereitstellen einer Maske, die abzubildende Strukturen aufweist; • Bereitstellen einer Projektionsbelichtungsanlage nach Anspruch 12; und • Projizieren wenigstens eines Teils der Maske auf einen Bereich der Schicht mit Hilfe der Projektionsbelichtungsanlage.
  14. Mikrostrukturiertes Bauelement, das nach einem Verfahren gemäß Anspruch 13 hergestellt ist.
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