DE102008013391B4 - Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile Download PDF

Info

Publication number
DE102008013391B4
DE102008013391B4 DE200810013391 DE102008013391A DE102008013391B4 DE 102008013391 B4 DE102008013391 B4 DE 102008013391B4 DE 200810013391 DE200810013391 DE 200810013391 DE 102008013391 A DE102008013391 A DE 102008013391A DE 102008013391 B4 DE102008013391 B4 DE 102008013391B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
measuring
probe
dielectric
measurement
composition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE200810013391
Other languages
English (en)
Other versions
DE102008013391A1 (de
Inventor
Dipl.-Ing. Will Bianca
Dr.-Ing. Gerding Michael
Prof. Dr.-Ing. Schiek Burkhard
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Krohne Messtechnik GmbH and Co KG
Original Assignee
Krohne Messtechnik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Krohne Messtechnik GmbH and Co KG filed Critical Krohne Messtechnik GmbH and Co KG
Priority to DE200810013391 priority Critical patent/DE102008013391B4/de
Publication of DE102008013391A1 publication Critical patent/DE102008013391A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102008013391B4 publication Critical patent/DE102008013391B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more

Abstract

Verfahren zur Messung dielektrischer Profile oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder zusammengesetztem Material, wobei das Material, von dem ein dielektrisches Profil gemessen werden soll, oder das inhomogen aufgebaute und/oder inhomogen zusammengesetzte Material, dessen Aufbau und/oder Zusammensetzung bestimmt werden soll, unter Verwendung elektromagnetischer Wellen bezüglich seiner dielektrischen Eigenschaften sukzessive vermessen wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Prinzip der Transmissionsmessung oder der Doppel-Transmissionsmessung angewendet werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung dielektrischer Profile oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material, wobei das Material, von dem ein dielektrisches Profil gemessen werden soll, oder das inhomogen aufgebaute und/oder das inhomogen zusammengesetzte Material, dessen Aufbau und/oder Zusammensetzung bestimmt werden soll, unter Verwendung elektromagnetischer Wellen bezüglich seiner dielektrischen Eigenschaften sukzessive vermessen wird. Dabei bedeutet das sukzessive Vermessen, dass dies in einzelnen Teilstücken erfolgt, die jeweils so klein gewählt werden, wie es die gewünschte Ortsauflösung vorgibt.
  • Einleitend heißt es, dass die Erfindung ein Verfahren und eine Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile betrifft. Diese Formulierung ist gewählt, weil bei der eigentlichen Problemstellung, nämlich der Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material ”dielektrisch gearbeitet” wird. Mit ”dielektrisch gearbeitet” ist gemeint, dass die dielektrischen Eigenschaften des inhomogen aufgebauten und/oder des inhomogen zusammengesetzten Materials ”ausgewertet”, ”herangezogen”, ”ausgenutzt” und/oder ”verwendet” werden.
  • Einleitend heißt es auch, dass die Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung dielektrischer Profile oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material betrifft. Ist weiter oben zum Ausdruck gebracht worden, dass die Messung dielektrischer Profile kein Selbstzweck ist, es insbesondere um die Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material geht, so geht es erfindungsgemäß jedoch nicht ausschließlich um die Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material. Die Messung dielektrischer Profile kann z. B. auch in der Geologie angewendet werden, z. B. zur Bestimmung und Charakterisierung unterschiedlicher Erdschichten. Auch kann die Messung dielektrischer Profile in abgeleiteter Form zur Bestimmung des Feuchtegehaltes in Böden und in Bauwerken, insbesondere in Mauerwerken, angewendet werden. Weitere mögliche Anwendungen der Messung dielektrischer Profile sind in der Füllstandsmesstechnik bei der Charakterisierung bzw. Vermessung von Emulsionen zu sehen.
  • Die im Stand der Technik bekannten Verfahren und Einrichtungen zur Messung dielektrischer Profile und/oder zur Messung dielektrischer Eigenschaften von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material und/oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material liefern zumeist mir einen Wert, der dem Mittelwert der Dielektrizitätszahl entlang der Messstrecke entspricht. Erst durch die Verwendung von Einrichtungen, insbesondere von Sonden unterschiedlicher Länge oder von mehreren Sonden an unterschiedlichen Positionen in dem inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material wird eine ortsaufgelöste Darstellung erreicht. Lediglich für den Sonderfall abrupter Materialübergänge lassen sich Materialprofile unter Verwendung einer Sonde in Kombination mit weitestgehend herkömmlichen TDR-Verfahren bestimmen, wobei die zu erreichende Ortsauflösung unmittelbar von der Materialschichtung abhängig ist und somit nicht frei wählbar ist.
  • Im übrigen wird zum Stand der Technik auf die Literaturstelle C. Huebner und K. Kupfer ”Modelling of electromagnetic wave propagation along transmission lines in inhomogeneous media” in MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 18 (2007) Seiten 1147 bis 1154 und auf die Druckschriften US 61 04 200 A und EP 0 952 444 A1 verwiesen.
  • Unter Berücksichtigung dessen, was zuvor ausgeführt worden ist, liegt der Erfindung die Aufgabe bzw. das Problem zugrunde, ein Verfahren und eine Einrichtung der eingangs beschriebenen Art anzugeben, mit dem bzw. mit der in besonders einfacher Weise mit guter Ortsauflösung dielektrische Profile gemessen und/oder der Aufbau und/oder die Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder inhomogen zusammengesetztem Material bestimmt werden kann.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren ist nun zunächst und im Wesentlichen dadurch gekennzeichnet, dass das Prinzip der Transmissionsmessung oder der Doppel-Transmissionsmessung angewendet wird.
  • Die Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile, mit der das zuvor beschriebene Verfahren durchgeführt wird, ist eine Sonde, die aus einer Leiterstruktur besteht und die folgenden Randbedingungen erfüllen muss:
    Die Leiterstruktur muss die elektromagnetische Welle führen.
    Das elektromagnetische Feld der Sonde muss in den Außenraum ragen, um einen Einfluss der dielektrischen Eigenschaften des Außenraumes messen zu können.
  • Sonden der in Rede stehenden Art können in ein Material, z. B. in Festkörper oder in Flüssigkeiten, eingebracht werden oder auf der Oberfläche des Materials aufgebracht werden.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich insbesondere, wie einleitend ausgeführt, zur Messung dielektrischer Profile in der Geologie, z. B. zur Bestimmung und Charakterisierung unterschiedlicher Erdschichten, vor allem aber auch zur Bestimmung des Feuchtegehaltes in Böden und in Bauwerken, insbesondere in Mauerwerken, weil der Feuchtegehalt des Materials die dielektrischen Eigenschaften wesentlich beeinflusst. Das erfindungsgemäße Verfahren kann auch, wie eingangs ausgeführt, in der Füllstandsmesstechnik bei der Charakterisierung bzw. Vermessung von Emulsionen angewendet werden, weil auch die Art und Zusammensetzung von Emulsionen die dielektrischen Eigenschaften bestimmt.
  • Im Übrigen können die dielektrischen Eigenschaften auch anderweitig beeinflusst werden; so sind z. B. die dielektrischen Eigenschaften der Materialien unter Umständen druck- und/oder temperaturabhängig. Auch eine solche Druck- und/oder Temperaturabhängigkeit kann also erfindungsgemäß erfasst werden.
  • Im Einzelnen gibt es nun verschiedene Möglichkeiten der Realisierung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Insbesondere kann man das Prinzip der Transmissionsmessung in zwei unterschiedlichen Methoden anwenden.
  • Bei der reinen Transmissionsmessung wird das Messsignal an einem Ende der aus einer Leiterstruktur bestehenden Sonde eingespeist und am anderen Ende empfangen. Gemessen wird die Laufzeit des Messsignals zwischen dem Zeitpunkt des Aussendens und dem Zeitpunkt des Empfangens. Entscheidend für die Laufzeit des Messsignals ist dabei die effektive Permittivität des die Sonde umgebenden Materials. Zum Erreichen einer ortsaufgelösten Darstellung des Permittivitätsprofils des Materials entlang der Sonde wird ein Obstakel entlang der Sonde verschoben, welches die Eigenschaft besitzt, das elektromagnetische Feld der Sonde lokal weiter in den Außenraum zu drangen, wodurch lokal der Einfluss des die Sonde umgebenden Materials auf die Laufzeit des Messsignals erhöht wird. Aus der bekannten Position des Obstakels und der entsprechenden Änderung der Laufzeit lassen sich abschließend Rückschlüsse auf die Permittivität des umgebenden Materials an der jeweiligen Position des Obstakels ziehen.
  • Bei der Doppel-Transmissionsmessung wird auf eine zweite Messstelle am Ende der aus einer Leiterstruktur bestehenden Sonde verzichtet und stattdessen ein hinreichend starker Reflektor realisiert. Das Funktionsprinzip bzw. die Wirkungsweise des Obstakels und die daraus resultierende Auswertung der Messsignale ist weitestgehend identisch zu der reinen Transmissionsmessung. Lediglich bedingt durch die gemeinsame Anordnung des Messsignal-Senders und des Messsignal-Empfängers am gleichen Ende der Sonde ist das Auswerteverfahren dahingehend zu ändern, dass nicht direkt die Laufzeit des transmittierten Messsignals bestimmt werden kann, sondern die Laufzeit des doppelt entlang der Sonde gelaufenen Messsignals. Das eingespeiste Messsignal wird nach einmaligem Durchlaufen der Messstrecke am Ende reflektiert und erst nach einem weiteren rückwärtigen Durchlaufen der Messstrecke am Einspeisepunkt detektiert. Dementsprechend haben sich gegenüber der reinen Transmissionsmessung sowohl die Laufzeit des Messsignals verdoppelt als auch der Einfluss des die Messsonde umgebenden Materials.
  • Bei den zuvor beschriebenen Methoden der Transmissionsmessung wird ein massives, die Sonde umgebendes Obstakel aus einem Material mit hoher Permittivität gewählt, um den gewünschten Effekt der lokalen Verdrängung des elektromagnetischen Feldes in den die Sonde umgebenden Außenraum zu erzielen. Alternativ sind Obstakelgeometrien und -materialien dankbar, die den gegenteiligen Effekt haben und für eine lokale Ausdehnung des elektromagnetischen Feldes im die Sonde umgebenden Außenraum sorgen. Eine lokale Ausblendung des elektromagnetischen Feldes in dem die Sonde umgebenden Außenraum führt ebenfalls zu einer entsprechenden Beeinträchtigung der Laufzeit bzw. der Laufzeiten des Masssignals und lässt somit Rückschlüsse auf die Eigenschalen des die Sonde umgebenden Materials zu.
  • Wie mit der gemessenen effektiven Dielektrizitätszahl weiter gearbeitet werden kann, kann für die Bestimmung der Feuchtigkeit der Literaturstelle G. C. Topp und J. L. Davis ”Measurement of Soil Water Content Using Time-Domain Reflectrometry (TDR): A Field Evaluation”, Soil Science Society of American Journal, Volume 49, Nr. 1, 1985, entnommen werden.
  • Zuvor ist als Möglichkeit der Realisierung des erfindungsgemäßen Verfahrens das Prinzip der Transmissionsmessung in zwei unterschiedlichen Methoden dargestellt worden. Es ist aber auch möglich, gleichzeitig eine Transmissionsmessung und eine Reflexionsmessung durchzuführen, wenn das einzusetzende Obstakel geeignet gewählt wird. Da das Obstakel für die Transmissionsmessung eine gewisse Länge haben muss und außerdem keine Totalreflexion verursachen darf, kommt es zu Reflexionen am Anfang und am Ende des Obstakels. Daher muss bei der Wahl des Obstakels sichergestellt werden, dass die einzelnen Reflexionen getrennt erfasst werden können, ist dafür Sorge getragen, können sowohl das am Anfang des Obstakels reflektierte Messsignal als auch das am Ende reflektierte Messsignal zur Laufzeitmessung verwendet werden.
  • Abhängig von der verwendeten Realisierungsmöglichkeit des erfindungsgemäßen Verfahrens-Transmissionsmessung sowie Kombination aus Transmissionsmessung und Reflexionsmessung – existieren mehrere Realisierungsmöglichkeiten zur Erstellung von geeigneten Obstakeln. Das Obstakel kann z. B. aus dielektrischem Material oder aus metallischem Material realisiert und mechanisch verfahren werden. Alternativ können auch PIN-Dioden-Schalter verwendet werden, die elektronisch angesteuert werden. Die Positionierung des Obstakels kann also sowohl manuell als auch automatisch erfolgen. Auch besteht die Möglichkeit, die gesamte Sonde zu verschieben. In einem solchen Fall dient das Ende der Sonde als Obstakel, und durch die Verschiebung der Sonde ergibt sich ein dielektrisches Profil.
  • Unabhängig von den beschriebenen Realisierungsmöglichkeiten des erfindungsgemäßen Verfahrens können zur Erzeugung geeigneter Messsignale und zur entsprechenden Auswertung entfernungsmessende Mikrowellenmessverfahren bzw. allgemeiner laufzeitmessende Mikrowellenmessverfahren eingesetzt werden, wie z. B. TDR-Systeme, FMCW-Radarsysteme, Netzwerkanalysatoren und trägerfrequente Puls-Radarsysteme.
  • Die 1, 2 und 3 zeigen schematische Darstellungen in Bezug auf die verschiedenen, zuvor erläuterten Realisierungsmöglichkeiten des erfindungsgemäßen Verfahrens, nämlich 1 eine schematische Darstellung der Reflexionsmessung, 2 eine schematische Darstellung der reinen Transmissionsmessung und 3 eine schematische Darstellung der Doppel-Transmissionsmessung.
  • In den Figuren ist jeweils ein inhomogen aufgebautes bzw. zusammengesetztes Material dargestellt, bei dem die einzelnen Teilstücke die ungetragenen effektiven Dielektrizitätszahlen ε1 bis ε6 haben. In einer Bohrung mit einem relativ kleinen Durchmesser – man kann deshalb das erfindungsgemäße Verfahren auch als minimal invasives Verfahren bezeichnen – wird eingebracht bzw. ist eingebracht als Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens eine Sonde, die aus einer Leiterstruktur besteht und die weiter oben aufgeführten Randbedingungen erfüllt. In den dargestellten Ausführungsbeispielen befindet sich auf der Sonde ein Obstakel, das auf der Sonde verschiebbar ist. Wie das Obstakel ausgeführt sein kann und wie das Obstakel längs der Sonde bewegt werden kann, ist weiter oben ausgeführt. In der 1 ist besonders deutlich die Verschiebung des Obstakels um Teilbereiche lmech erkennbar. In der 3, in der schematisch die Doppel-Transmissionsmessung dargestellt ist, ist am Ende der Messstrecke ein Reflektor vorgesehen.

Claims (7)

  1. Verfahren zur Messung dielektrischer Profile oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebautem und/oder zusammengesetztem Material, wobei das Material, von dem ein dielektrisches Profil gemessen werden soll, oder das inhomogen aufgebaute und/oder inhomogen zusammengesetzte Material, dessen Aufbau und/oder Zusammensetzung bestimmt werden soll, unter Verwendung elektromagnetischer Wellen bezüglich seiner dielektrischen Eigenschaften sukzessive vermessen wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Prinzip der Transmissionsmessung oder der Doppel-Transmissionsmessung angewendet werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzeugung geeigneter Messsignale und zur entsprechenden Auswertung entfernungsmessende Mikrowellenmessverfahren oder allgemeiner laufzeitmessende Mikrowellenmessverfahren eingesetzt werden.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Mikrowellenmessverfahren mit TDR-Systemen, FMCW-Radarsystemen, Netzwerkanalysatoren und/oder trägerfrequenten Puls-Radarsystemen ausgeführt werden.
  4. Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile oder zur Bestimmung des Aufbaus und/oder der Zusammensetzung von inhomogen aufgebauten und/oder inhomogen zusammengesetztem Material mit einer aus einer Leiterstruktur bestehenden, die elektromagnetischen Wellen führenden Sonde, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Sonde ein Obstakel in Längsrichtung der Sonde verschiebbar angeordnet ist.
  5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Obstakel aus dielektrischem Material besteht.
  6. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Obstakel aus metallischem Material besteht.
  7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Positionierung des Obstakels auf der Sonde manuell oder automatisch erfolgen kann.
DE200810013391 2008-03-10 2008-03-10 Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile Expired - Fee Related DE102008013391B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810013391 DE102008013391B4 (de) 2008-03-10 2008-03-10 Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810013391 DE102008013391B4 (de) 2008-03-10 2008-03-10 Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102008013391A1 DE102008013391A1 (de) 2009-10-01
DE102008013391B4 true DE102008013391B4 (de) 2013-06-06

Family

ID=41010949

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200810013391 Expired - Fee Related DE102008013391B4 (de) 2008-03-10 2008-03-10 Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102008013391B4 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019119281A1 (de) * 2019-07-16 2021-01-21 Endress+Hauser SE+Co. KG Messgerät zur Bestimmung eines Dielektrizitätswert-Profils

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0952444A1 (de) * 1998-04-24 1999-10-27 Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Verfahren und Vorrichtung zur Messung von zumindest einer Eigenschaft von Fels und Boden
US6104200A (en) * 1993-06-09 2000-08-15 Precision Moisture Instruments, Inc. Apparatus and methods for generating unambiguous large amplitude timing makers in time domain reflectometry systems for measuring propagation velocities of RF pulses to determine material liquid contents moisture
WO2003016835A1 (de) * 2001-07-27 2003-02-27 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Verfahren zur auswertung von messsignalen eines nach dem laufzeitprinzip arbeitenden messgerätes
EP1351050A2 (de) * 2002-04-05 2003-10-08 imko Intelligente Micromodule Köhler GmbH Vorrichtung zur Ermittlung der Materialfeuchte eines Mediums
WO2007131268A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-22 Callidan Instruments Pty Ltd Microwave probe device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6104200A (en) * 1993-06-09 2000-08-15 Precision Moisture Instruments, Inc. Apparatus and methods for generating unambiguous large amplitude timing makers in time domain reflectometry systems for measuring propagation velocities of RF pulses to determine material liquid contents moisture
EP0952444A1 (de) * 1998-04-24 1999-10-27 Eidgenössische Technische Hochschule Zürich Verfahren und Vorrichtung zur Messung von zumindest einer Eigenschaft von Fels und Boden
WO2003016835A1 (de) * 2001-07-27 2003-02-27 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Verfahren zur auswertung von messsignalen eines nach dem laufzeitprinzip arbeitenden messgerätes
EP1351050A2 (de) * 2002-04-05 2003-10-08 imko Intelligente Micromodule Köhler GmbH Vorrichtung zur Ermittlung der Materialfeuchte eines Mediums
WO2007131268A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-22 Callidan Instruments Pty Ltd Microwave probe device

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
C Huebner and K Kupfer. "Modelling of electromagnetic wave propagation along transmission lines in inhomogeneous media" Measurement Science and Technology,18 (2007), Seiten 1147 bis 1154 *

Also Published As

Publication number Publication date
DE102008013391A1 (de) 2009-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2223059B1 (de) Verfahren zur füllstandsmessung
DE69530863T2 (de) Elektronischer vielzweck-füllstandsensor
DE102005042646A1 (de) Vorrichtung zur Ermittlung und Überwachung des Füllstandes eines Mediums in einem Behälter
EP0882957B1 (de) Verfahren zur Messung des Füllstands eines Füllguts in einem Behälter nach dem Radarprinzip
EP3008430B1 (de) Füllstandmessgerät zur feuchtigkeitsbestimmung
WO2012079642A1 (de) Messvorrichtung, steuervorrichtung und messgerät zur füllstandmessung
DE19958584C1 (de) Füllstandmessgerät
EP2652465B1 (de) Bestimmung von medieneigenschaften bei der füllstandmessung
EP1412710A1 (de) Verfahren zur auswertung von messsignalen eines nach dem lautzeitprinzip arbeitenden messgerätes
DE112006002933T5 (de) Radarfüllstandmesssystem und Übertragungsleitungssonde für die Verwendung in einem solchen System
EP1701142A2 (de) Verfahren zur Messung des Füllstands eines in einem Behälter vorgesehenen Mediums auf der Grundlage des Radar-Prinzips
DE102012008350A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Abstimmung von Abstand und Radialgeschwindigkeit eines Objekts mittels Radarsignalen
DE60003307T2 (de) Ein verfahren und eine vorrichtung zur bestimmung eines formationswiderstandes, durch welchen ein verrohrtes bohrloch führt
EP2759813A1 (de) Verfahren und Sensor zur Füllstandsmessung geschichteter Medien
DE10393842T5 (de) Hydraulikkolbenpositionssensorsignal- Verarbeitung
DE2649049A1 (de) Verfahren zum messen des abstandes zwischen relativ zueinander bewegten teilen, insbesondere im untertagebergbau, und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
EP2770306A1 (de) Verfahren zur Messung der Lage des Medienspiegels in einer Erdreichöffnung
EP1191315A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung der Positionen der Grenzfläche unterschiedlicher Medien
DE102008013391B4 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung dielektrischer Profile
EP3447456A1 (de) Tdr-füllstandmessgerät und verfahren zum betreiben eines tdr-füllstandmessgeräts
DE2833598A1 (de) Verfahren zur kontrolle untertaegiger verbrennungs- und vergasungsvorgaenge in kohlefloezen
DE102015102200A1 (de) Verfahren zur Bestimmung von Eigenschaften eines Mediums und Vorrichtung zur Bestimmung von Eigenschaften eines Mediums
EP3246671A1 (de) Kapazitiver sensor und verfahren zur bestimmung der permittivitätsverteilung in einem objekt
DE10136754A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Dichtebestimmung
DE102013202765B4 (de) Elektrisches Messsystem

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final

Effective date: 20130907

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee