DE102007036730A1 - Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen - Google Patents

Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen Download PDF

Info

Publication number
DE102007036730A1
DE102007036730A1 DE200710036730 DE102007036730A DE102007036730A1 DE 102007036730 A1 DE102007036730 A1 DE 102007036730A1 DE 200710036730 DE200710036730 DE 200710036730 DE 102007036730 A DE102007036730 A DE 102007036730A DE 102007036730 A1 DE102007036730 A1 DE 102007036730A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
multiport
reflection
analyzer
network analyzer
networks
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE200710036730
Other languages
English (en)
Inventor
Ilona Rolfes
Burkhard Schiek
Bianca Will
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE200710036730 priority Critical patent/DE102007036730A1/de
Publication of DE102007036730A1 publication Critical patent/DE102007036730A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der komplexen Streuparameter von Mehrtoren mit beliebig vielen Toren durch Zweitormessungen mit Hilfe eines vektoriellen Netzwerkanalysators. Vektoriell messende Zweitor-Netzwerkanalysatoren zur direkten Vermessung von Ein- und Zweitoren sind weit verbreitet. Zur Vermessung von Mehrtoren mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator werden jeweils zwei Tore des Messobjektes mit dem Netzwerkanalysator verbunden, während die übrigen Tore mit Reflexionsabschlüssen abgeschlossen werden. Das hier beschriebene Zweifach-Reflexionsverfahren zeichnet sich dadurch aus, dass es bei der Vermessung von Mehrtoren die Verwendung beliebiger Reflexionsabschlüsse ermöglicht. Wenn jedes Tor, das nicht mit dem Netzwerkanalysator verbunden ist, mit nur einem Reflexionsfaktor abgeschlossen wird, kann es bei bestimmten Frequenzen zu einer Entkopplung der übrigen Tore kommen. Das Zweifach-Reflexions-Verfahren löst dieses Problem, indem ein zweiter Satz von Reflexionsfaktoren, der von dem ersten verschieden ist, verwendet wird. Dadurch wird eine Entkopplung einzelner Tore ausgeschlossen. Das Zweifach-Reflexions-Verfahren kann zur Vermessung von Mehrtoren mit einem Netzwerkanalysator mit einer geringeren Anzahl von Toren verwendet werden. Darüber hinaus ist es auch in Schaltmatrizen, die einen Zweitornetzwerkanalysator mit einem Mehrtor verbinden, einsetzbar. Außerdem ist es möglich, das hier beschriebene Zweifach-Reflexions-Verfahren bei ...

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtores mit beliebig vielen Toren durch vektorielle Zweitormessungen.
  • Ein wichtiger Bereich der Hochfrequenztechnik umfasst die Messung der Streuparameter. Die Messung dieser Streuparameter erfolgt üblicherweise mit einem vektoriellen Netzwerkanalysator, der es ermöglicht, die Streuparameter nach Betrag und Phase zu vermessen. Während Netzwerkanalysatoren zur Vermessung von Zweitoren wert verbreitet sind, ist es zunehmend von Interesse, die Streuparameter von Schaltungen mit mehr als zwei Toren, sogenannten Mehrtoren, zu bestimmen. Einige Firmen bieten Netzwerkanalysatoren für 3-, 4- oder 8-Tore an, wobei optional auch Ausführungen mit noch höheren Torzahlen erhältlich sind. Theoretisch ist es möglich, Netzwerkanalysatoren mit beliebig vielen Messstellen, bzw. Toren zu realisieren, allerdings entsteht mit steigender Anzahl der Tore auch ein erheblicher Mehraufwand in der Realisierung der Messstellen und darüber hinaus existieren keine gängigen Kalibrierverfahren für Mehrtor-Netzwerkanalysatoren, so dass der Aufwand sich noch weiter erhöht.
  • Zusammen mit der weiten Verbreitung von Zweitor-Netzwerkanalysatoren ist es daher von Vorteil, ein Verfahren zu entwickeln, das es ermöglicht, Mehrtore mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator zu vermessen.
  • Die zunächst einfachste Möglichkeit, Mehrtore mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator zu vermessen, besteht darin, alle übrigen Tore mit Anpassungen abzuschließen. Allerdings gibt es verschiedene Gründe, die gegen dieses Verfahren sprechen. Zum einen ist es oft nicht möglich, an allen Toren Anpassungen anzubringen, beispielhaft sei hier eine on-wafer-Messung genannt, und zum anderen sind auch Anpassungen nicht vollkommen ideal, so dass Ungenauigkeiten der verwendeten Anpassungen zu Ungenauigkeiten der Messung führen.
  • Ein Verfahren, bekannt aus J. C. Tippet, R. A. Speciale, A Rigorous Technique for Measuring the Scattering Matrix of a Multiport Device with a 2-Port Network Analyzer, in IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. MTT-30, pp. 661–666, 05/1982, beschreibt eine Möglichkeit, Mehrtor-Streumatrizen aus Zeitormessungen zu bestimmen. Hierbei werden jeweils zwei Tore des Mehrtores mit dem Netzwerkanalysator verbunden, während die übrigen Tore mit Reflexionsabschlüssen Γi beschaltet sind. Das Verfahren basiert darauf, dass bezogen auf die Impedanzen der Reflexionsabschlüsse Γi eine Mehrtor-Streumatrix aufgestellt wird, die auf die gewünschte Bezugsimpedanz transformiert werden kann. Dieses Verfahren weist erhebliche Defizite bei der Wahl der Reflexionsabschlüsse auf. Zum einen müssen die Reflexionsabschlüsse exakt bekannt sein und zum anderen dürfen die Reflexionsabschlüsse nicht als Leerlauf oder Kurzschluss realisiert werden. Ein weiteres Verfahren, entwickelt von I. Rolfes, und B. Schiek, An efficient method for the measurement of the scattering-parameters of multi-ports with a two-gort network-analyzer, EuMC conference proceedings, 34th European Microwave Conference, vol. II, pp. 797–800, 10/2004, ermöglicht es, die Reflexionsabschlüsse frei zu wählen und zudem alle Reflexionsabschlüsse bis auf einen als unbekannt anzunehmen. Dieses Verfahren bestimmt die Mehrtor-Streumatrix aus den einzelnen Zweitor-Streumatrizen, die über die in die Tore hineinlaufenden Wellen und die aus den Toren heraus laufenden Wellen verknüpft sind. Dadurch ergeben sich lineare Gleichungssysteme, die zusätzlich zu der Bestimmung der Mehrtor-Streumatrix noch genug Freiheitsgrade enthalten, um alle Reflexionsfaktoren bis auf einen, der bekannt sein muss, zu bestimmen. Mit diesem Verfahren ist es prinzipiell möglich, sämtliche Mehrtore mit einem Zweitor-Netzwerkanalysator zu bestimmen.
  • Bei allen bisher bekannten Verfahren wird davon ausgegangen, dass alle notwendigen Zweitormessungen sinnvolle Gleichungen liefern, unabhängig von den verwendeten Reflexionsabschlüssen. Es lassen sich aber Mehrtore finden, bei denen eben dies nicht der Fall ist. Ein einfaches Beispiel ist hier eine T-Verzweigung. Werden bei der Bestimmung der Streuparameter einer T-Verzweigung Leerläufe verwendet, so kommt es zu einer Entkopplung der beiden mit dem Netzwerkanalysator verbundenen Tore, wenn die Leitungslänge zwischen dem Knotenpunkt der T-Verzweigung und dem an dem dritten Tor angeschlossenen Leerlauf einem ungeraden Vielfachen einer Viertel-Wellenlänge der verwendeten Frequenz entspricht. Der gleiche Fall tritt bei einem Kurzschluss ein, wenn die Leitungslänge einem Vielfachen einer halben Wellenlänge entspricht. In diesem Fall ist es nicht möglich, mit Hilfe der Zweitormessungen das Mehrtor zu charakterisieren, da aufgrund der Entkopplung nicht genug Information in den Gleichungen enthalten ist.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu entwickeln, das es ermöglicht, sämtliche Mehrtore ohne die Notwendigkeit einer Fallunterscheidung durch Zweitormessungen zu bestimmen und ohne die Wahl der Reflexionsfaktoren einzuschränken.
  • Die Aufgabe wird bezüglich des Verfahrens durch die Merkmale der Ansprüche 1 bis 5 gelöst.
  • Das erfindungsgemäße Vefahren basiert auf der Verwendung eines doppelten Satzes von Reflexionsfaktoren. Es werden alle Zweitormessungen mit zwei von einander verschiedenen Reflexionsabschlüssen Γi und Γj an den nicht zur Zweitormessung benötigten, übrigen Toren durchgeführt. Da somit in jedem Frequenzpunkt zwei Messungen mit zwei verschiedenen Reflexionsfaktoren vorliegen, existiert bei mindestens einer Messung eine Verkopplung der beiden Messtore und es ist daher immer genug Information in den resultierenden Gleichungen enthalten, um die Streumatrix des Mehrtores zu bestimmen.
  • Der Vorteil dieser Erfindung besteht darin, dass die Streumatrizen sämtlicher Mehrtore ohne jegliche Fallunterscheidung und ohne jegliche Einschränkungen bezüglich der Wahl des Reflexionsfaktors bestimmt werden können. Zudem beinhaltet das Verfahren die Möglichkeit, sämtliche Reflexionsfaktoren als unbekannt anzunehmen.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren wird im Folgenden als das Zweifach-Reflexions-Verfahren bezeichnet. Die theoretische Herleitung des Zweifach-Reflexionsverfahrens wird zunächst am Beispiel eines 3-Tores veranschaulicht. Allgemein lässt sich ein 3-Tor wie folgt in Abhängigkeit der Streuparameter und der Wellengrößen beschreiben:
    Figure 00040001
  • Führt man eine Zweitormessung an den Toren 2 und 3 des Mehrtores durch und schließt Tor 1 mit dem Reflexionsabschluss Γ1 ab, ergibt sich folgendes Gleichungssystem, das in drei einzelne Gleichungen zerlegt werden kann:
    Figure 00040002
  • Die anregenden Wellen a2 und a3 können als zwei voneinander linear unabhängige Vektoren der Form:
    Figure 00040003
    gewählt werden. Setzt man nacheinander diese beiden Werte für a2 und a3 ein und eliminiert zusätzlich die unbekannte Wellengröße b1 aus den Gleichungen (0.3) bis (0.5), ergeben sich folgende vier nichtlineare Gleichungen zur Bestimmung der Streuparameter:
    Figure 00050001
  • Aus den Zweitormessungen an Tor 2 mit Γ2 und an Tor 3 mit Γ3 ergeben sich acht weitere Gleichungen dieser Form. Durch die Messungen mit einem zweiten Satz von Reflexionsfaktoren (Γ ~1 , Γ ~2 , Γ ~3 ) ergeben sich weitere zwölf Gleichungen, die den ersten zwölf bis auf die unterschiedlichen Reflexionsfaktoren entsprechen. Man erhält 24 nichtlineare Gleichungen zur Bestimmung der neun unbekannten Streuparameter, die selbst dann ausreichen, wenn bei drei der sechs verwendeten Reflexionsfaktoren eine Entkopplung auftritt. Zur Lösung dieser nichtlinearen Gleichungen ist es zunächst möglich, numerische Verfahren wie zum Beispiel die Kleinste-Quadrate-Methode anzuwenden. Des Weiteren wurden im Rahmen dieser Erfindung zwei Varianten zur Linearisierung entwickelt.
  • Eine Variante besteht darin, die unbekannten Streuparameter Sij durch eine Konstante Ŝij zu ersetzen, zu der eine neue Variable e2.i addiert wird: Sij = Ŝij + εij. (0.11)
  • Von dieser Variable kann angenommen werden, dass sie klein gegen eins ist, und somit können Produkte der Form εij·εmn vernachlässigt werden. Dadurch ergibt sich aus den 24 nichtlinearen Gleichungen ein lineares Gleichungssystem für die Variablen εij, das in Matrixschreibweise wie folgt dargestellt werden kann:
    Figure 00060001
  • Addiert man die so bestimmten Variablen εij zu den Startwerten Ŝij, erhält man die gesuchten Streuparameter. Durch einige Iterationen, bei denen die jeweils zuvor bestimmten Streuparameter als neue Startewerte verwendet werden, lässt sich die Genauigkeit noch verbessern.
  • Eine weitere Variante der Erfindung besteht darin, die Unterdeterminanten der 3-Tor-Streumatrix als weitere Variable anzunehmen und so eine Linearisierung herbei zu führen. Durch eine einfache Umformung erhält man aus den Gleichungen (0.7) bis (0.10) folgendes Gleichungssystem: m(1)22 = m(1)22 Γ1S11 + S22 + Γ1(S12S21 – S11S22) (0.13) m(1)23 = m(1)23 Γ1S11 + S23 + Γ1(S13S21 – S11S23) (0.14) m(1)32 = m(1)32 Γ1S11 + S32 + Γ1(S31S12 – S11S32) (0.15) m(1)33 = m(1)33 Γ1S11 + S33 + Γ1(S13S31 – S11S33). (0.16)
  • In dieser Darstellung wird deutlich, dass sämtliche Terme, die nichtlinear bezüglich der Streuparameter sind, die Form einer Unterdeterminante der 3-Tor-Streumatrix aufweisen. Diese Unterdeterminanten können als weitere Variablen Δ1, Δ2, Δ3, Δ4, Δ5, Δ6, Δ7, Δ8, Δ9 angenommen werden, wodurch die Gleichungen linear werden.
  • In Matrix-Schreibweise ergibt sich das folgende lineare Gleichungssystem: AΔ·ΔS = mΔ (0.17)mit ΔS t = (S11S12S13S21S22S23S31S32S33Δ1Δ2Δ3Δ4Δ5Δ6Δ7Δ8Δ9)
  • Die sich so ergebende Lösung für die neun unbekannten Streuparameter kann auch als Startvektor für die zuvor beschriebene Variante der Linearisierung vewendet werden, wodurch sich ein sehr robustes und schnell konvergierendes Verfahren ergibt.
  • Diese Erfindung eignet sich zur Berechnung von Mehrtoren mit beliebig vielen Toren auf der Basis der hier dargestellten Gleichungen, da sich jedes Mehrtor mit mehr als drei Toren in 3-Tore zerlegen lässt, wie zum Beispiel in I. Rolfes und B. Schiek, An efficient method for the measurement of the scattering-parameters of multi-ports with a two-port network-analyzer, EuMC conference proceedings, 34th European Microwave Conference, vol. II, pp. 797–800, 10/2004, gezeigt wurde.
  • Des Weiteren können sämtliche Reflexionsfaktoren als unbekannt angenommen werden, wenn mindestens eine zusätzliche Eintormessung durchgeführt wird. Dazu wird nur ein Tor des Mehrtores mit dem Netzwerkanalysator verbunden, während alle übrigen Tore mit den zugehörigen Reflexionsabschlüssen Γi abgeschlossen sind. Kombiniert man diese Eintormessung mit den bereits durchgeführten Zweitormessungen, lassen sich dann sämtliche angeschlossenen Reflexionsfaktoren bestimmen. Wird dies bei einem 3-Tor durchgeführt, ergibt sich exemplarisch für Γ2:
    Figure 00070001
    wobei die Streuparameter Ŝij aus der zugehörigen Zweitormessung stammen und ϱii der jeweiligen Eingangsreflexion am Messtor entspricht.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - J. C. Tippet, R. A. Speciale, A Rigorous Technique for Measuring the Scattering Matrix of a Multiport Device with a 2-Port Network Analyzer, in IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. MTT-30, pp. 661–666, 05/1982 [0005]
    • - I. Rolfes, und B. Schiek, An efficient method for the measurement of the scattering-parameters of multi-ports with a two-gort network-analyzer, EuMC conference proceedings, 34th European Microwave Conference, vol. II, pp. 797–800, 10/2004 [0005]
    • - I. Rolfes und B. Schiek, An efficient method for the measurement of the scattering-parameters of multi-ports with a two-port network-analyzer, EuMC conference proceedings, 34th European Microwave Conference, vol. II, pp. 797–800, 10/2004 [0022]

Claims (7)

  1. Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtores mit mehr als zwei Toren unter Verwendung eines Netzwerkanalysators mit genau zwei Toren, wobei jeweils zwei Tore mit dem Netzwerkanalysator verbunden werden, wobei die übrigen Tore mit jeweils zwei unterschiedlichen beliebigen Reflexionsabschlüssen abgeschlossen werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass alle Reflexionsabschlüsse bekannt sind.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bis auf einen Reflexionsabschluss alle übrigen Reflexionsabschlüsse unbekannt sind.
  4. Vefahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sämtliche Reflexionsabschlüsse als unbekannt angenommen werden und im Zuge des Verfahrens bestimmt werden.
  5. Vefahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine beliebige Anzahl von Reflexionsabschlüssen als unbekannt angenommen wird und alle übrigen Reflexionsabschlüsse bekannt sind.
  6. Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtores mit mehr als zwei Toren unter Verwendung eines Netzwerkanalysators mit zwei Toren, wobei jeweils zwei Tore mit dem Netzwerkanalysator verbunden werden und die übrigen Tore mit Reflexionsabschlüssen beschaltet werden, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eines dieser Tore mit mehr als einem Reflexionsabschluss beschaltet wird.
  7. Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtores mit mehr als zwei Toren unter Verwendung eines Netzwerkanalysators mit einer geringeren Anzahl von Toren, jedoch mehr als zwei Toren, wobei jeweils die Tore, die nicht mit dem Netzwerkanalysator verbunden sind, mit Reflexionsabschlüssen beschaltet werden, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eines dieser Tore mit mehr als einem Reflexionsabschluss beschaltet wird.
DE200710036730 2007-08-03 2007-08-03 Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen Withdrawn DE102007036730A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200710036730 DE102007036730A1 (de) 2007-08-03 2007-08-03 Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200710036730 DE102007036730A1 (de) 2007-08-03 2007-08-03 Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007036730A1 true DE102007036730A1 (de) 2009-02-05

Family

ID=40175939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200710036730 Withdrawn DE102007036730A1 (de) 2007-08-03 2007-08-03 Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102007036730A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112858794A (zh) * 2021-01-22 2021-05-28 北京大学 一种超薄反射型电磁超表面的散射参数测量系统及其方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Rolfes, und B. Schiek, An efficient method for the measurement of the scattering-parameters of multi-ports with a two-gort network-analyzer, EuMC conference proceedings, 34th European Microwave Conference, vol. II, pp. 797-800, 10/2004
J. C. Tippet, R. A. Speciale, A Rigorous Technique for Measuring the Scattering Matrix of a Multiport Device with a 2-Port Network Analyzer, in IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. MTT-30, pp. 661-666, 05/1982

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112858794A (zh) * 2021-01-22 2021-05-28 北京大学 一种超薄反射型电磁超表面的散射参数测量系统及其方法
CN112858794B (zh) * 2021-01-22 2021-11-19 北京大学 一种超薄反射型电磁超表面的散射参数测量系统及其方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102013014175B4 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines Messaufbaus
DE60034121T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur streuparameter-kalibrierung
EP0706059B1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerk-Analysators nach dem 15-Term-Prinzip
DE4332273A1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
DE102007028725A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Netzwerkanalysatoren mit einem Kammgenerator
DE10311046A1 (de) Verfahren, Apparatur und Herstellungsartikel zum Charakterisieren einer Vorrichtung und zum Vorhersagen eines elektrischen Verhaltens der Vorrichtung in einer Schaltung
DE102009024751A1 (de) Verfahren zur sekundären Fehlerkorrektur eines Mehrtor-Netzwerkanalysators
DE102004020037A1 (de) Kalibrierverfahren zur Durchführung von Mehrtormessungen auf Halbleiterscheiben
DE102007027142B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators für Messungen an differentiellen Anschlüssen
DE102013217181A1 (de) Verfahren und System zum Durchführen einer Spektralanalyse eines nicht stationären Signals in Echtzeit
EP2035842B1 (de) Verfahren zur direkten messung der mixed-mode-streumatrix mit einem vektoriellen netzwerkanalysator
DE10106254B4 (de) Verfahren zur Fehlerkorrektur durch De-embedding von Streuparametern, Netzwerkanalysator und Schaltmodul
DE102006035827B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur vektoriellen Messung der Streuparameter von frequenzumsetzenden Schaltungen
DE102009018703A1 (de) 9-Term Kalibrierverfahren für Netzwerkanalysatoren
DE102014101718A1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines vektoriellen Netzwerk-Analysators
DE102007036730A1 (de) Zweifach-Reflexions-Verfahren zur Bestimmung der Streuparameter von Mehrtoren durch Zweitormessungen
DE102012023629A1 (de) Verfahren zur Berechnung der Restfehler einer Netzwerkanalysatormessung
DE10211334B4 (de) Verfahren zum Messen der effektiven Direktivität und/oder effektiven Quelltor-Anpassung eines systemkalibrierten vektoriellen Netzwerkanalysators und Kalibrierstandard-Satz
EP2817650B1 (de) System und verfahren zur kalibrierung einer messanordnung und zur charakterisierung einer messhalterung
DE4405211C2 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines zwei Meßtore und drei Meßstellen aufweisenden Netzwerkanalysators
DE4125624C2 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators
DE102014019008B4 (de) Verfahren zum Kalibrieren einer Messadaptierung mit zwei differentiellen Schnittstellen
DE10235221B4 (de) Verfahren zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren
DE10116388B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung vektorieller 4-Messstellen-Netzwerkanalysatoren
DE750780C (de) Anordnung zur elektrischen Durchfuehrung von Rechenvorgaengen mit Hilfe von zu Netzwerken zusammengesetzten Schaltelementen

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee