DE102007028014B4 - Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen - Google Patents

Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen Download PDF

Info

Publication number
DE102007028014B4
DE102007028014B4 DE102007028014.0A DE102007028014A DE102007028014B4 DE 102007028014 B4 DE102007028014 B4 DE 102007028014B4 DE 102007028014 A DE102007028014 A DE 102007028014A DE 102007028014 B4 DE102007028014 B4 DE 102007028014B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
control method
reflected
fibers
source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102007028014.0A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102007028014A1 (de
Inventor
Oliver Meyer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Airbus Defence and Space GmbH
Original Assignee
Airbus Defence and Space GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Airbus Defence and Space GmbH filed Critical Airbus Defence and Space GmbH
Priority to DE102007028014.0A priority Critical patent/DE102007028014B4/de
Priority to PCT/EP2008/056800 priority patent/WO2008151962A1/de
Publication of DE102007028014A1 publication Critical patent/DE102007028014A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102007028014B4 publication Critical patent/DE102007028014B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/36Textiles
    • G01N33/367Fabric or woven textiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientierungen mit dem Schritt Erfassen einer in einem Bereich (26) einer Oberfläche (10) eines textilen Gebildes (12) vorherrschenden Hauptfaserausrichtung, wobei die folgenden Teilschritte vorgesehen sind:a) Vorsehen von wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) zum Aussenden von durch die zu erfassenden Fasern (14) reflektierbarer Strahlung und einem Strahlungsdetektor (22) zum Erfassen von durch die Fasern (14) in dem textilen Gebilde (12) in einen bestimmten Bereich (z) reflektierter Strahlung;b) Ausrichten der wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) in einer gemeinsamen Ebene um eine durch die Mittelachse des Strahlungsdetektors (22) laufende Normale auf die Oberfläche (10);c) Anstrahlen der Oberfläche (10) mit den wenigstens zwei Strahlungsquellen (18);d) Messen der Intensität von von den Fasern (14) an dem Oberflächenbereich (26) reflektierter Strahlung, wobei Schritt c) den Schritt c1) Drehen der wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) um die durch die Mittelachse des Strahlungsdetektors (22) laufende Normale auf die Oberfläche (10) umfasst.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientierungen.
  • In jüngster Zeit finden faserverstärkte Kunststoffe immer größere Verbreitung. Um gewünschte mechanische Eigenschaften der daraus hergestellten Bauteile zu erreichen, werden die Fasern in bestimmten Ausrichtungen kraftliniengerecht angeordnet. Hierzu werden zum Beispiel textile Gebilde mit Techniken der Textiltechnik so ausgebildet, dass die Fasern hauptsächlich in der gewünschten Richtung verlaufen. Entsprechende aus den Fasern gebildete Halbzeuge werden insbesondere als Preforms bezeichnet. Ein anderer, bisher soweit ersichtlich noch nicht veröffentlichter Ansatz geht dahin, Faserstücke in ganz bestimmten Ausrichtungen einzeln abzulegen.
  • Bei der Herstellung trockener Kohlenstofffasertextilien und bei Preformingprozessen ist demnach eine genaue Einhaltung bestimmter Ablagewinkel wünschenswert, um die späteren mechanischen Eigenschaften sicherstellen zu können.
  • Verfahren zur Feststellung einer Hauptfaserrichtung sind aus anderen Industriezweigen an sich bekannt. Die DE 196 43 474 A1 beschreibt ein Verfahren, mit dem im Laufe des Herstellens von Papierbahnen die Faserausrichtung in einer nicht-gewobenen Materialbahn bestimmt werden kann. Dabei erfolgt eine Relativdrehung des Papiers relativ zu einer Detektoreinrichtung, die Strahlquellen für einen schrägen Einfall von Licht und einen Lichtdetektor senkrecht oberhalb der Auftrefffläche aufweist.
  • Ein weiteres Beispiel aus der Papierherstellung ist aus der US 5 394 247 bekannt. Diese Druckschrift betrifft eine Vorrichtung zur Messung der Tendenz von Papier, sich aufzurollen. Dabei wird die Faserrichtung innerhalb des Papiers derart ermittelt, dass sich ein zu untersuchendes Papier unterhalb einer Detektionseinrichtung verdreht, wobei die Detektionseinrichtung eine Strahlquelle für einen schrägen Strahleinfall sowie einen senkrecht über der Auftrefffläche angeordneten Detektor aufweist.
  • Die US 4 606 645 beschreibt ein Verfahren zur Bestimmung der Hauptfaserrichtung in Festholz, bei dem eine Lichtquelle um die Achse eines Detektors gedreht wird.
  • In der WO 2004/044566 A1 ist ein Verfahren zur Aufzeichnung der Oberflächenbeschaffenheit eines faserartig strukturierten Gegenstandes offenbart, bei dem wenigstens eine Lichtquelle wenigstens zwei Lichtspuren auf dem Gegenstand erzeugt, wobei eine Verbreiterung der Lichtspuren über eine Kamera erfasst wird.
  • Die DE 39 24 684 A1 beschreibt allgemein ein Abbildungsverfahren zur optischen Abstands- und Reflektivitätsmessung.
  • In der DE 20 2006 019 726 U1 ist ein Verfahren zur Bestimmung des Verlaufs von Kohlenfasergeweben offenbart, bei dem eine ortsfeste Lichtquelle einen Lichtstrahl aussendet, der von den Fasern je nach Orientierung in unterschiedlicher Richtung reflektiert wird und auf eine Projektionsfläche ein unterschiedliches Projektionsmuster ausbildet.
  • Die Erfindung hat sich zur Aufgabe gestellt, ein Steuerverfahren zur Ablegung von Fasern in bestimmten Orientierungen mit dem Erfassen der Lage von Filamenten in einem textilen Gebilde zu schaffen.
  • Diese Aufgabe wird mit einem Steuerverfahren gemäß Anspruch 1 gelöst.
  • Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Erfindungsgemäß ist bei einem Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientierungen der Schritt ein Erfassen einer in einem Bereich einer Oberfläche eines textilen Gebildes vorherrschenden Hauptfaserausrichtung vorgesehen. Damit lässt sich erstmals eine auch automatische Vermessung von Faserausrichtungen in Preformen oder anderen bei der Herstellung von Bauteilen aus faserverstärkten Materialien einzusetzenden textilen Halbzeugen durchführen, um so bereits zu einem sehr frühen Zeitpunkt die gewünschten Eigenschaften zu überprüfen.
  • Das Steuerverfahren kann zur Qualitätskontrolle in verschiedenen Fertigungsprozessen eingesetzt werden. Mögliche Einsatzgebiete sind auch die Textiltechnik, aber insbesondere und bevorzugt die Herstellung von CFK- oder GFK-Bauteilen.
  • Das Erfassen der Hauptfaserausrichtung kann unter Ausnutzung verschiedener physikalischer Effekte, die mit einer bestimmten Faserausrichtung korrelieren, aufgebaut werden. Besonders einfach und wirkungsvoll lässt sich die Hauptfaserausrichtung erfassen, indem man das unterschiedliche optische Verhalten von Fasern unterschiedlicher Ausrichtung bei Anstrahlen mit entsprechender Strahlung ausnutzt.
  • Insbesondere reflektieren in eine bestimmte Ausrichtung orientierte Fasern an ihren Grenzflächen zur Umgebung unter einem bestimmten Einfallswinkel einstrahlende Strahlung unterschiedlich stark. Die Strahlung wird demnach mehr oder weniger abgelenkt, je nachdem wie die Faser zur Strahlung orientiert ist. Misst man demnach die Intensität in bestimmter Weise reflektierter Strahlung in Abhängigkeit von der Einstrahlrichtung, so kann dies zum Bestimmen der Faserausrichtung verwendet werden. Die umgekehrte Messung (Austausch Strahlquelle/Strahldetektor) würde ebenfalls funktionieren. Ebenso könnte man je nach Anwendungsfall auch die noch in einem bestimmten Bereich durchgehende Strahlung messen, um so ebenfalls herauszufinden, welcher Anteil entsprechend reflektiert worden ist und demnach in der gemessenen Strahlung fehlt.
  • Eine besonders bevorzugte Ausgestaltung des Steuerverfahrens weist daher das Aussenden von durch das zu erfassende Fasermaterial reflektierbarer Strahlung durch eine Strahlungsquelle und das Erfassen von durch die Fasern in dem textilen Gebilde in einen bestimmten Bereich reflektierten Strahlung durch einen Strahlungsdetektor auf.
  • Aus einer Abhängigkeit der Reflexion/Transmission von der relativen Ausrichtung von Strahleinfall oder Strahlausgang einerseits und textiler Oberfläche andererseits lässt sich so die an der Oberfläche, genauer, dem angestrahlten Bereich davon, hauptsächlich vorherrschende Faserausrichtung ermitteln. Eine solche Abhängigkeit lässt sich besonders einfach durch einen Aufbau ermitteln, bei dem die Strahlungsquelle relativ zu der zu messenden Oberfläche drehbar angeordnet ist, um die Oberfläche über einen Winkelbereich anzustrahlen und die reflektierte Strahlung abhängig von dem Relativwinkel zwischen Einstrahlung und zu messender Oberfläche festzustellen. Die relative Drehbarkeit kann durch Drehung der Strahlungsquelle bei feststehender Oberfläche (zum Beispiel Objektträger oder in einem Fertigungsprozess befindliches und dort festgehaltenes Textil-Halbzeug) und/oder durch Drehung der Oberfläche (zum Beispiel Drehen des textilen Gebildes) erzeugt werden.
  • Bei der Strahlungsquelle reicht es im Prinzip auch aus, wenn nur der Strahl selbst dreht. Dies kann im Prinzip auch durch eine Mehrzahl etwa kreisförmig angeordneter mehr oder weniger fest stehender oder nur begrenzt schwenkender Strahlungsquellen erzielt werden, die nacheinander geschaltet werden.
  • Anstelle der Relativdrehung von Strahlung und zu messendem Objekt ist grundsätzlich auch eine Bewegung eines sensitiven Bereichs des Strahlendetektors denkbar, um so die entsprechend in unterschiedliche Richtungen reflektierte oder sonst wie (z.B. Beugung) umgelenkte Strahlung abhängig von der Abstrahlrichtung zu messen. Auch dies kann ein Maß für die Ausrichtung der Fasern, an denen die Strahlablenkung erfolgt, sein.
  • An den Oberflächen von Kohlenstofffasern oder auch bei Glasfasern werden insbesondere Lichtstrahlen je nach Auftreffwinkel mehr oder weniger gut reflektiert. Daher ist bei einer Ausgestaltung bevorzugt, dass an der Strahlungsquelle eine Lichtquelle zum Aussenden von Licht vorgesehen wird, das an Grenzflächen von Kohlenstofffasern oder Glasfasern reflektierbar ist, und der Strahlungsdetektor die Intensität von in einen Bereich reflektierter Lichtstrahlung misst.
  • Wenn die Strahlungsquelle zur schrägen Einstrahlung von Strahlung auf die auszumessende Oberfläche ausgebildet ist, dann wird die Strahlung an den in der Regel mit annähernd etwa rundem Querschnitt ausgebildeten Fasern besonders gut auf den entsprechend spiegelbildlich schrägen Winkel reflektiert, wenn die Fasern alle in Richtung des Strahlungseinfalls orientiert sind. Nach oben hin, d.h. direkt in die zur Oberfläche senkrechte Richtung wird dann aber keine Strahlung reflektiert. In diese Richtung erfolgt bei schrägem Strahlungseinfall nur dann eine Reflektion, wenn die Fasern im Wesentlichen rechtwinklig zur Strahlungseinfallrichtung stehen. Wenn nun der Strahlungsdetektor zum Messen von in einer zu der Oberfläche des textilen Gebildes senkrechte Richtung reflektierter Strahlung ausgebildet ist, dann ergibt sich ein relativ schmales Maximum in der reflektierten Strahlung über einen sehr schmalen Winkelbereich um den Wert 90° des Relativwinkels zwischen Faserausrichtung und Strahlungseinfallrichtung. Damit ergibt sich ein relativ genaues Maß für die Feststellung der hauptsächlichen Faserausrichtung.
  • Die zum Feststellen des Reflexionsgrads wirksame Strahlung lässt sich vergrößern, um somit die Ansprechempfindlichkeit des Strahlungsdetektors zu verbessern, wenn wenigstens zwei Strahlungsquellen vorgesehen sind. Zum Beispiel können mehrere Strahlungsquellen zum Ausstrahlen von Strahlung in einer gemeinsamen, das textile Gebilde kreuzenden Ebene - die eventuell um eine Normale auf die Textiloberfläche unter Erfassung des Relativdrehwinkels relativ drehbar ist - ausgerichtet sein. Zum Beispiel ist eine an einer zu der zu messenden Oberflächenebene senkrechten Ebene gespiegelte Anordnung der Strahlenquellen bevorzugt. Diese Anordnung ist besonders vorteilhaft im Verbindung mit dem genau für die senkrechte Abstrahlrichtung sensitiven Strahlungsdetektor. Dieser wird nur dann Reflexionslicht aus in eine Richtung zueinander und schräg zur Oberfläche hin abstrahlenden Strahlungsquellen erfassen, wenn diese Strahlung an den Fasern reflektiert wird, was bei den entsprechend in erster Näherung gerundeten Faserquerschnitten im Mittel nur dann bei den Fasern der Fall sein wird, wenn diese im wesentlichen senkrecht zur Strahleinfallebene orientiert sind und somit zumindest einen kleinen Bereich zur Reflexion von Strahlung aus der Strahleinfallebene genau in die senkrechte Richtung zur Verfügung stellen.
  • Um die Winkelabhängigkeit zu erfassen, ist bevorzugt, dass auch bei mehreren Strahlungsquellen diese Strahlungsquellen gemeinsam relativ zu der zu messenden Oberfläche drehbar sind. Dies schließt eine Drehung des reinen Strahlungseinfalls bei ansonsten feststehender Strahlerzeugung und damit insbesondere auch die entsprechende Ansteuerung von einzelnen feststehenden, entsprechend ausgerichteten Strahlungserzeugungseinrichtungen eines Strahlquellenarrays ein.
  • An der Strahlungsquelle wird besonders bevorzugt eine Lichtlinienquelle oder ein Laser vorgesehen. Die Strahlungsquelle kann zur Erzeugung eines entsprechenden Strahlungseinfalles aber auch eine schwenkbare Punktstrahlungsquelle, insbesondere Punktlichtquelle aufweisen.
  • Bei Licht als Detektionsstrahlung wird an dem Strahlungsdetektor vorzugsweise zur Erfassung der Intensität des reflektierten oder je nach Anwendung auch des verbleibenden - zum Beispiel transmittierten - Lichts eine Fotodiode vorgesehen.
  • In bevorzugter Ausgestaltung wird eine Auswerteeinrichtung vorgesehen, mittels der die Intensität einer von der Oberfläche in einen bestimmten Bereich reflektierten Strahlung abhängig von deren Einfallwinkel oder die Abhängigkeit von reflektierter Strahlung bei einem bestimmten Einfallwinkel abhängig von dem Ausfallwinkel ermittelbar ist.
  • Sofern in der Oberfläche hauptsächlich die Orientierung der Fasern in Projektion senkrecht auf die Oberfläche gesehen interessant ist, wird dabei hauptsächlich der auf die Oberflächenebene projizierte Einfall- bzw. Ausfallwinkel betrachtet.
  • In besonders bevorzugter Ausgestaltung wird durch eine Korrelation zwischen der Höhe eines Peaks in der reflektierten Strahlung und dem relativen Winkel zwischen Strahlungseinfall oder Strahlungsausfall auch ein Abstand zur zu messenden Oberfläche bestimmt. Die entsprechende Auslegung und Kalibrierung der Auswerteeinheit lässt sich leicht durch Durchführung einiger empirischer Versuche bestimmen.
  • Insbesondere ist bevorzugt, dass die Intensität der im Wesentlichen senkrecht zu der Oberfläche reflektierten Strahlung gemessen wird. Dort lässt sich der schmalste Peak in der Reflexionsstrahlung bei einer bestimmten Faserorientierung - nämlich wenn diese senkrecht zum Strahlungseinfall stehen - erreichen und damit die höchste Genauigkeit bei der Ausrichtungsvermessung. Außerdem kann so der Strahlungsdetektor auf einer Relativdrehachse feststehend angeordnet werden, was den Aufbau vereinfacht und den Anschluss erleichtert.
  • Zum Bestimmen der Faserausrichtung wird weiter bevorzugt, dass die Strahlrichtung des um eine Normale auf die Oberfläche um einen Winkelbereich kontinuierlich gedreht oder auch in - möglichst kleinen, je kleiner desto höhere Messauflösung - Drehwinkel-Schritten verändert und durch Messung der dort jeweils festzustellenden Reflexion derjenige Winkel bestimmt, in dem ein Extremwert der reflektierten Strahlung festgestellt wird. Unter „Strahlrichtung“ ist hierbei die Abstrahlrichtung der auf die Oberfläche gestrahlten Strahlung zu verstehen.
  • Insbesondere wird dann weiter bevorzugt als Hauptfaserrichtung diejenige Richtung bestimmt, die senkrecht zu der Strahlrichtung in der Ebene der Oberfläche liegt, in der die maximale Reflexion feststellbar ist.
  • Das Verfahren ist weiter vorzugsweise vollautomatisch durchführbar, beispielsweise im Rahmen einer automatisierten Herstellung von Textil-Halbzeugen, beispielsweise zur Weiterverarbeitung bei der Herstellung von CFK- oder GFK-Bauteilen.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Darin zeigt:
    • 1 eine schematische Querschnittsansicht durch ein textiles Gebilde (quer zur Textilebene) mit wesentlichen Elementen einer bevozugten Ausführungsform eines Faserwinkelsensors in einer Ausrichtung von 0° zu einer Hauptfaserrichtung;
    • 2 eine schematische Querschnittsansicht durch das textile Gebilde (quer zur Textilebene) mit den wesentlichen Elementen der bevozugten Ausführungsform eines Faserwinkelsensors in einer Ausrichtung von 90° zu der Hauptfaserrichtung;
    • 3 eine schematische Ansicht eines Messaufbaus der bevorzugten Ausführungsform des Faserwinkelsensors in einer Draufsicht auf die zu vermessende Textilebene; und
    • 4 eine schematische Ansicht eines Oszilloskops als Auswerteeinrichtung zum Messaufbau gemäß 3 mit einer beispielhaften Kurve zur Anzeige der vorherrschenden Faserausrichtung.
  • Im Folgenden wird zunächst anhand der 1 und 2 ein Messprinzip zur Messung einer Faserrichtung in einem Bereich einer Oberfläche 10 eines textilen Gebildes, am Beispiel einer Preform 12 als textiles Halbzeug für die Herstellung eines CFK-Bauteiles erläutert.
  • Die Preform 12 ist aus Kohlenstofffasern 14 gebildet, die an der Oberfläche entsprechend einer Hauptausrichtung ausgerichtet sind. Zur leichteren Diskussion wird im Folgenden die Anordnung in einem kartesischen Koordinatensystem erläutert, wobei die durch die x- und y-Richtung aufgespannte Ebene durch die Ebene der Oberfläche 10 definiert wird und die z-Richtung die Richtung senkrecht zur Oberfläche 10 darstellt.
  • Ein insgesamt mit 16 bezeichneter Faserwinkelsensor weist eine Strahlungsquelle, hier in Form einer Lichtquelle 18 zum Aussenden einer Lichtlinie (Lichtlinienquelle), insbesondere mit einem Laser 20, sowie einen auf das ausgesandte Licht sensitven Strahlungsdetektor, hier in Form einer Fotodiode 22, auf.
  • Die Lichtquelle 18 strahlt Licht mit einem Winkel β zur x-y-Ebene (d.h. mit einem Winkel zur Ebene der Oberfläche 10, im folgenden Höhenwinkel genannt) zwischen etwa 10° und 80° auf die Oberfläche 10. Das Licht fällt demnach schräg auf die Oberfläche 10.
  • In dem dargestellten Beispiel erstrecken sich die Kohlenstofffasern 14 im Wesentlichen in der x-Richtung.
  • In 1 wird das Licht in der x-z-Ebene und somit senkrecht zur Hauptfaserausrichtung eingestrahlt, und in 2 wird das Licht in der y-z-Ebene und somit parallel zur Hauptfaserausrichtung eingestrahlt.
  • Bei der parallelen Ausrichtung gemäß 2 (der Winkel α in der x-y-Ebene zwischen Lichteinfall und Hauptfaserrichtung ist 0° oder 180°) wird das Licht an der etwa annähernd zylindrischen Oberfläche der Kohlenstofffasern 14 reflektiert. Ein wesentlicher Anteil des Lichts wird in einen Bereich 24 reflektiert, der spiegelbildlich zu der Einstrahlrichtung angeordnet ist. Es gibt jedoch keinen Bereich der Oberfläche der Kohlenstofffasern 14, der das Licht aus der mit schrägem Höhenwinkel β einfallenden Richtung unmittelbar in z-Richtung (Höhenwinkel 90 °) reflektieren würde.
  • Bei der senkrechten Ausrichtung (der relative Winkel α in der x-y-Ebene zwischen Lichteinfallrichtung und Hauptfaserrichtung ist 90°) gibt es an der runden Oberfläche der Kohlenstofffasern 14 zumindest einen linienartigen Bereich, an dem das Licht unmittelbar in z-Richtung reflektiert wird. Dies ist offensichtlich nur dann der Fall, wenn der Winkel α gleich oder sehr nahe bei 90° liegt.
  • Im Prinzip könnte man nun auch die Fotodiode 22 in dem Reflexionsbereich 24 anordnen, um die maximale Reflexion bei exakt α = 0° festzustellen. Ein schmaleres Maximum oder einen schmaleren Peak erhält man aber dann, wenn man, wie dargestellt, die Fotodiode genau senkrecht zu der Oberfläche 10 ausrichtet, um das exakt in z-Richtung reflektierte Licht zu messen. Hier wird nur bei exakt in α=90° zu dem Lichteinfall ausgerichteter Hauptfaserausrichtung ein schmaler Peak erhalten.
  • 3 zeigt eine mögliche Anordnung des Faserwinkelsensors 16 in Draufsicht auf die Oberfläche 10. Es sind zwei Lichtquellen 18 vorgesehen, die in einer gemeinsamen Ebene zueinander gerichtet auf einen mittleren Bereich 26 der Oberfläche 10 strahlen. Die Fotodiode 22 ist exakt in z-Richtung senkrecht auf diesen Bereich gerichtet.
  • Mittels einer Drehvorrichtung 28 lassen sich die Lichtquellen 18 gemeinsam um die durch die Mittelachse der Fotodiode 22 laufende Normale auf die Oberfläche 10 als Drehachse relativ zu der Oberfläche 10 drehen. Die Drehvorrichtung 28 ist mit einem nicht näher dargestellten Drehwinkelsensor versehen, der den Drehwinkel erfasst.
  • Dadurch kann der Bereich 0°≤α≤360° abgefahren werden, wobei α den Relativdrehwinkel in der x-y-Ebene, genauer den Winkel der Projektion der Strahlrichtung in die x-y-Ebene zur x-Achse darstellt. Durch die Fotodiode 22 wird dabei die Intensität des in z-Richtung reflektierten Lichts gemessen und über den Winkel α - dessen Signal wird von dem Drehwinkelsensor geliefert - aufgenommen.
  • Ein als Beispiel für eine Auswerteeinheit angeschlossenes Oszilloskop 30, auf das die Ausgänge aus der Fotodiode 22 und dem Drehwinkelsensor geschaltet werden, ist in 4 dargestellt. Es ergibt sich genau bei α=90° ein relativ schmaler Peak; d.h. die Hauptfaserrichtung liegt bei α=0° (senkrecht zum Wert mit dem Peak); demnach lässt sich daraus ermitteln, dass die Hauptfaserrichtung bei dem hier gemessenen Bereich 26 der Preform 10 in x-Richtung verläuft.
  • Die speziellen Reflexionseigenschaften der Kohlenstofffasern 14 erlauben demnach die Bestimmung des Ablagewinkels. Wird die Oberfläche 10 eines zu untersuchenden Textils (hier Preform 12) in einem bestimmten Winkel (hier: β) mit einer Lichtlinienquelle bzw. einem Laser 20 angestrahlt und wird diese Lichtquelle 18 um die Normale zur Oberfläche 10 rotiert, dann tritt in Richtung der Normalen immer dann die stärkste Reflexion auf, wenn die Lichtlinie 90° zur Filamentachse liegt.
  • Die Stärke der Reflexion kann über eine Fotodiode 22 gemessen werden und gegen die Winkelposition mit einem geeigneten Instrument (z.B. Oszilloskop oder Messcomputer) aufgetragen werden.
  • Des Weiteren kann statt eines Linienlichts eine geschwenkte Punktquelle verwendet werden.
  • Weiter kann über eine Korrelation des Schwenk- oder Drehwinkels mit dem Reflexionspeak zusätzlich der Abstand zur Oberfläche 10 bestimmt werden.
  • Der Faserwinkelsensor 16 kann zur Qualitätskontrolle in verschiedenen Fertigungsprozessen eingesetzt werden. Bei der Herstellung von Faserpreformen werden Fehler bei der Ablage erkannt und können korrigiert werden, bevor Ausschlussbauteile entstehen.
  • Bezugszeichenliste
  • 10
    Oberfläche
    12
    Preform (textiles Gebilde)
    14
    Kohlenstofffasern
    16
    Faserwinkelsensor
    18
    Lichtquelle (Strahlungsquelle)
    20
    Laser
    22
    Fotodiode (Strahlungsdetektor)
    24
    Reflexionsbereich bei paralleler Ausrichtung
    26
    Messbereich der Oberfläche 10
    28
    Drehvorrichtung
    30
    Oszilloskop
    α
    Drehwinkel (Ausrichtung zur x-Achse in x-y-Ebene)
    β
    Höhenwinkel (Ausrichtung zur Oberfläche 10)

Claims (12)

  1. Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientierungen mit dem Schritt Erfassen einer in einem Bereich (26) einer Oberfläche (10) eines textilen Gebildes (12) vorherrschenden Hauptfaserausrichtung, wobei die folgenden Teilschritte vorgesehen sind: a) Vorsehen von wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) zum Aussenden von durch die zu erfassenden Fasern (14) reflektierbarer Strahlung und einem Strahlungsdetektor (22) zum Erfassen von durch die Fasern (14) in dem textilen Gebilde (12) in einen bestimmten Bereich (z) reflektierter Strahlung; b) Ausrichten der wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) in einer gemeinsamen Ebene um eine durch die Mittelachse des Strahlungsdetektors (22) laufende Normale auf die Oberfläche (10); c) Anstrahlen der Oberfläche (10) mit den wenigstens zwei Strahlungsquellen (18); d) Messen der Intensität von von den Fasern (14) an dem Oberflächenbereich (26) reflektierter Strahlung, wobei Schritt c) den Schritt c1) Drehen der wenigstens zwei Strahlungsquellen (18) um die durch die Mittelachse des Strahlungsdetektors (22) laufende Normale auf die Oberfläche (10) umfasst.
  2. Steuerverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass in Schritt a) als Strahlungsquelle eine Lichtquelle (18) zum Aussenden von Licht vorgesehen wird, das an Grenzflächen von Kohlenstofffasern (14) oder Glasfasern reflektierbar ist, und dass der Strahlungsdetektor (22) zum Messen der Intensität von in einen Bereich reflektierter Lichtstrahlung vorgesehen wird.
  3. Steuerverfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle (18) zur schrägen Einstrahlung von Strahlung auf die zu messende Oberfläche (10) vorgesehen wird.
  4. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlungsdetektor (22) zum Messen von in einer zu der Oberfläche (10) des textilen Gebildes (12) senkrechten Richtung (z) reflektierter Strahlung vorgesehen wird.
  5. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an der Strahlungsquelle (18) eine Lichtlinienquelle und/oder ein Laser (20) vorgesehen wird.
  6. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an dem Strahlungsdetektor eine Fotodiode (22) vorgesehen wird.
  7. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an der Strahlungsquelle (18) eine schwenkbare Punktquelle vorgesehen wird.
  8. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, wobei mit einer Auswerteeinrichtung (30) die Intensität einer bei Einfall von Strahlung auf die Oberfläche (10) reflektierten Strahlung abhängig von dem Einfallswinkel der einfallenden Strahlung und/oder dem Ausgangswinkel der reflektierten Strahlung ermittelt wird.
  9. Steuerverfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Auswerteeinheit (30) durch eine Korrelation zwischen der Höhe eines Peaks in der reflektierten Strahlung und der Einfallsrichtung einen Abstand zur messenden Oberfläche (10) bestimmt.
  10. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Intensität einer im Wesentlichen senkrecht zu der Oberfläche (10) reflektierten Strahlung gemessen wird.
  11. Steuerverfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Strahlrichtung in einem Drehwinkelbereich um die Normale auf die Oberfläche (10) als Achse verändert wird und derjenige relative Drehwinkel (α) zwischen Strahlrichtung und Oberfläche (10) bestimmt wird, in dem ein Extremwert der reflektierten Strahlung festgestellt wird.
  12. Steuerverfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass als Hauptfaserrichtung diejenige Richtung bestimmt wird, die senkrecht zu derjenigen Strahlrichtung liegt, in der die maximale Reflexion feststellbar ist.
DE102007028014.0A 2007-06-14 2007-06-14 Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen Expired - Fee Related DE102007028014B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007028014.0A DE102007028014B4 (de) 2007-06-14 2007-06-14 Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen
PCT/EP2008/056800 WO2008151962A1 (de) 2007-06-14 2008-06-02 Faserwinkelsensor sowie verfahren zur bestimmung einer vorherrschenden hauptfaserrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007028014.0A DE102007028014B4 (de) 2007-06-14 2007-06-14 Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102007028014A1 DE102007028014A1 (de) 2008-12-18
DE102007028014B4 true DE102007028014B4 (de) 2018-11-29

Family

ID=39730580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007028014.0A Expired - Fee Related DE102007028014B4 (de) 2007-06-14 2007-06-14 Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102007028014B4 (de)
WO (1) WO2008151962A1 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017107434A1 (de) * 2017-04-06 2018-10-11 Hochschule Bochum Vorrichtung und Verfahren zum Unterscheiden von Bodenbelägen
CN108692841B (zh) * 2018-08-20 2024-07-02 成都中住光纤有限公司 一种光纤扭转测量装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4606645A (en) 1984-10-29 1986-08-19 Weyerhaeuser Company Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material
DE3924684A1 (de) 1989-07-26 1991-01-31 Hans Dipl Phys Weissmann Abbildungsverfahren und vorrichtung zur optischen abstands- und reflektivitaetsmessung
US5394247A (en) 1993-03-09 1995-02-28 International Paper Company Measurement of paper curl tendency using specular and diffuse light reflection
DE19643474A1 (de) 1995-11-02 1997-05-07 Abb Ind Systems Inc Verfahren und Vorrichtung für die Online-Bestimmung der Faserausrichtung und Anisotropie in einem nicht-gewobenem Bahnmaterial
WO2004044566A1 (de) 2002-11-14 2004-05-27 Microtec S.R.L. Vorrichtung und verfahren zur aufzeichnung der oberflächenbeschaffenheit eines faserartig strukturierten langestreckten gegenstandes
DE202006019726U1 (de) 2006-12-29 2007-03-22 Isam Ag Vorrichtung zur Analyse und/oder Detektion der Oberfläche des eingangs genannten Werkstückes

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2720370B2 (ja) * 1993-02-26 1998-03-04 日本製紙株式会社 紙の繊維配向測定方法及び繊維配向測定装置
FI108675B (fi) * 1998-06-23 2002-02-28 Ambertec Oy Menetelmä ja laite kuituorientaation määrittämiseen paperinäytteestä
JP4600763B2 (ja) * 2005-09-20 2010-12-15 横河電機株式会社 配向計

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4606645A (en) 1984-10-29 1986-08-19 Weyerhaeuser Company Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material
DE3924684A1 (de) 1989-07-26 1991-01-31 Hans Dipl Phys Weissmann Abbildungsverfahren und vorrichtung zur optischen abstands- und reflektivitaetsmessung
US5394247A (en) 1993-03-09 1995-02-28 International Paper Company Measurement of paper curl tendency using specular and diffuse light reflection
DE19643474A1 (de) 1995-11-02 1997-05-07 Abb Ind Systems Inc Verfahren und Vorrichtung für die Online-Bestimmung der Faserausrichtung und Anisotropie in einem nicht-gewobenem Bahnmaterial
WO2004044566A1 (de) 2002-11-14 2004-05-27 Microtec S.R.L. Vorrichtung und verfahren zur aufzeichnung der oberflächenbeschaffenheit eines faserartig strukturierten langestreckten gegenstandes
DE202006019726U1 (de) 2006-12-29 2007-03-22 Isam Ag Vorrichtung zur Analyse und/oder Detektion der Oberfläche des eingangs genannten Werkstückes

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008151962A1 (de) 2008-12-18
DE102007028014A1 (de) 2008-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3390959B1 (de) Terahertz-messverfahren und terahertz-messvorrichtung zum ermitteln einer schichtdicke oder eines abstandes eines messobjektes
DE102012220923B4 (de) Messung einer faserrichtung eines kohlefaserwerkstoffes und herstellung eines objekts in kohlefaserverbundbauweise
DE102005052743B4 (de) Messsystem zur Vermessung von Grenz- oder Oberflächen von Werkstücken
DE102009009272B4 (de) Qualitätsprüfung für Rotorblätter einer Windenergieanlage
EP2993464B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur qualitätskontrolle transparenter objekte
EP0962746B1 (de) Verfahren und Vorrichtung, ob zwei hintereinander angeordnete Wellen fluchten
EP2263062A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur topographischen vermessung von oberflächen von gegenständen
DE102007028014B4 (de) Steuerverfahren zur Steuerung der Ablegung von Fasern in bestimmten Orientlerungen
EP0693451B1 (de) Verfahren zur optischen Vermessung der Spulenoberfläche von Fadenspulen
DE102019201272B4 (de) Vorrichtung, Vermessungssystem und Verfahren zur Erfassung einer zumindest teilweise spiegelnden Oberfläche unter Verwendung zweier Spiegelungsmuster
DE3827866A1 (de) Verfahren zur messung des verwirbelungsgrades und dazu geeignete messvorrichtung
DE3322714C2 (de) Optische Abstandsmeßvorrichtung
EP3569976B1 (de) Rauheitsmesstaster, vorrichtung mit rauheitsmesstaster und entsprechende verwendung
EP2144052A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren und Klassifizieren von Defekten
DE102006024251B4 (de) System und Verfahren zur dreidimensionalen Bestimmung der Oberfläche eines Objekts
DE4408226C2 (de) Meßeinrichtung zur prozeßgekoppelten Bestimmung der Rauheit technischer Oberflächen durch Auswertung di- oder polychromatischer Specklemuster
DE19725337C1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Oberflächenstruktur einer Körperoberfläche
DE10340803A1 (de) Meßverfahren und Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts
EP3390713B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des flächengewichts einer faserstoffbahn
DE102015105128B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrads und/oder der Mattheit von Gegenständen
DE102015209957A1 (de) Garnüberwachungsvorrichtung
DE102009015627B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zu Bestimmung von Innendurchmesser, Außendurchmesser und der Wandstärke von Körpern
DE4229349C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Messung der optischen Oberflächengüte von spiegelnden Materialien und der optischen Güte transparenter Materialien
DE19733775A1 (de) Verfahren zur Messung von Eigenschaften einer Materialoberfläche
DE102006032404B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R082 Change of representative

Representative=s name: FLUEGEL PREISSNER KASTEL SCHOBER, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: AIRBUS DEFENCE AND SPACE GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: EADS DEUTSCHLAND GMBH, 85521 OTTOBRUNN, DE

Effective date: 20140814

R082 Change of representative

Representative=s name: KASTEL PATENTANWAELTE, DE

Effective date: 20140814

Representative=s name: FLUEGEL PREISSNER SCHOBER SEIDEL PATENTANWAELT, DE

Effective date: 20140814

Representative=s name: FLUEGEL PREISSNER KASTEL SCHOBER PATENTANWAELT, DE

Effective date: 20140814

Representative=s name: KASTEL PATENTANWAELTE PARTG MBB, DE

Effective date: 20140814

R082 Change of representative

Representative=s name: KASTEL PATENTANWAELTE, DE

Representative=s name: KASTEL PATENTANWAELTE PARTG MBB, DE

R018 Grant decision by examination section/examining division
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee