DE10340803A1 - Meßverfahren und Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts - Google Patents

Meßverfahren und Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts Download PDF

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/03Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring coordinates of points

Abstract

Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Meßverfahrens zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts wird ein Koordinatenmeßgerät mit einem Weißlichtsensor verwendet. Der Weißlichtsensor besitzt einen Erfassungsbereich, wobei auf den Weißlichtsensor eine Weißlichtsensor-Koordinatenachse mit einem Nullpunkt bezogen ist. Mit dem Weißlichtsensor wird eine in dem Erfassungsbereich gelegene Zone der Oberfläche erfasst und die Lage dieser Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional gemessen. Aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse gegenüber dem Objekt wird die räumliche Position der Zone in Bezug auf ein Referenz-Koordinatensystem bestimmt.

Description

  • Technisches Gebiet:
  • Die Erfindung betrifft ein Meßverfahren und Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts, welches insbesondere ein Werkstück, z.B. eine Kfz-Einspritzdüse, sein kann.
  • Stand der Technik:
  • Ein Weißlichtsensor ist ein Gerät zur eindimensionalen optischen Messung des Abstandes einer Zone einer Oberfläche von einem bestimmten, meist im Inneren des Weißlichtsensors gelegenen Bezugspunkt, unter Verwendung einer Linse, welche mit chromatischer Abberation behaftet ist, einer Lichtquelle, welche ein möglichst gleichmäßiges kontinuierliches Spektrum abgibt, sowie eines Spektrometers. Die Lichtquelle wird mittels der Linse auf die Oberfläche abgebildet, so dass das Bild der Lichtquelle auf der Oberfläche eine bestimmte Größe hat und daher eine bestimmte Zone der Oberfläche bedeckt.
  • Wegen der chromatischen Abberation der Linse hängt die Bildweite, d.h. der Abstand des Bildes der Lichtquelle von der Linse, von der Wellenlänge ab. Daher entsteht auf der Oberfläche nur für eine bestimmte Wellenlänge oder ein bestimmtes Wellenlängenintervall ein scharfes Bild der Lichtquelle. Für alle anderen Wellenlängen entsteht auf der Oberfläche entweder ein unscharfes oder überhaupt kein Bild der Lichtquelle. Wenn man daher mit Hilfe des Spektrometers das Spektrum, d.h. die Intensität als Funktion der Wellenlänge, eines derartigen scharfen Bildes aufnimmt, findet man, dass im diesem Spektrum für eine bestimmte Wellenlänge oder ein bestimmter Wellenlängenbereich ein Intensitätsmaximum vorliegt.
  • Diese Maximums-Wellenlänge ist identisch mit derjenigen Wellenlänge, welche das scharfe Bild erzeugt, da sich das gesamte Licht dieser Wellenlänge in dem scharfen Bild, d.h. auf einer kleinen Fläche, konzentriert und daher dort besonders intensiv ist. Die Intensität aller übrigen Wellenlängen in dem Spektrum ist geringer, da das Licht dieser Wellenlängen kein scharfes Bild auf der Oberfläche erzeugt und sich daher nicht in dem scharfen Bild konzentriert, sondern über einen Bereich auf der Oberfläche verteilt ist, welcher größer ist als das scharfe Bild. Für eine andere Entfernung zwischen der Oberfläche und der Linse erhält man eine andere Maximums-Wellenlänge.
  • Zu jeder Wellenlänge, für welche ein scharfes Bild der Lichtquelle entsteht, gehört also eine bestimmte Bildweite. Daher läßt sich die Bildweite und damit der Abstand der Oberfläche von der Linse aus der Maximums-Wellenlänge bestimmen. D.h., durch die Ermittlung der Maximums-Wellenlänge läßt sich eine eindimensionale Abstandsbestimmung durchführen.
  • Der Erfassungsbereich des Weißlichsensors ist derjenige Raumbereich, innerhalb welchem die Oberfläche positioniert werden muß, damit eine Abstandsmessung in der oben genannten Weise möglich ist. In Richtung der Achse des Weißlichsensors ist die Ausdehnung des Erfassungsbereiches gegeben durch den Abstand der minimal möglichen Bildweite zur maximal möglichen Bildweite. Dieser Abstand ist i.a. durch den spektralen Umfang des kontinuierlichen Spektrums der Lichtquelle sowie durch die Dispersionseigenschaften der Linse bestimmt und beträgt in der Praxis typischerweise z.B. 10mm. In Richtung quer zur Achse des Weißlichsensors ist die Ausdehnung des Erfassungsbereiches gegeben durch die Größe des scharfen Bildes, welche typischerweise bai ca. 20μm liegen kann. Die Tiefenauflösung eines Weißlichtsensors in Achsenrichtung beträgt typischerweise z.B. 100nm.
  • Die Lichtquelle braucht nicht notwendigerweise weißes Licht anzugeben; vielmehr kann als Lichtquelle eine solche verwendet werden, welche ein z.B. vom roten bis in den gelben oder z.B. vom grünen bis in den blauen Spektralbereich reichendes kontinuierliches Spektrum abgibt, d.h. das von der Lichtquelle abgegebene Spektrum kann den gesamten sichtbaren Spektralbereich oder nur einen Teil desselben umfassen. Ferner als Lichtquelle eine solche verwendet werden, deren Spektrum auch teilweise oder sogar ausschließlich unsichtbares Licht, Ultraviolett oder Infrarot, umfaßt.
  • Die Lichtquelle ist bevorzugt auf der optischen Achse der Linse angeordnet, so dass sich der Erfassungsbereich ebenfalls auf der optischen Achse Linse befindet. Durch den Einsatz eines Strahlteilers kann vorteilhaft erreicht werden, dass einerseits der Strahlengang zur Beleuchtung der Zone mittels der Lichtquelle und der Linse und andererseits der Strahlengang, in welchem von der Zone ausgehendes Licht in das Spektrometer einfällt, koaxial verlaufen. Da die Funktionsweise des Weißlichtsensors nicht auf Totalreflexion des Lichts an der Oberfläche beruht, spielen z.B. durch eine Mikrostruktur des Objektmaterials bedingte Abweichungen von der Regel "Einfallswinkel=Ausfallswinkel" für die Messung keine Rolle.
  • Weißlichtsensoren werden z.B. von der Firma JURCA und der Firma STIL angeboten.
  • Eine Möglichkeit, die Oberfläche eines Objekts dreidimensional zu vermessen, besteht in der Laserabtastung. Hierbei wird eine Zone der Oberfläche schrägt mit einem von einem Lasertaster abgegebenen Laserstrahls beleuchtet, wobei der Laserstrahl an der Oberfläche reflektiert wird und danach auf einen Detektor gelangt. Der Ort, an welchem der Laserstrahl auf den Detektor auftrifft, hängt ab von der Lage und Orientierung der Zone. Nachteilig ist hierbei, dass für die Berechnung der Lage der Zone aus dem Ort, an welchem der Laserstrahl auf den Detektor auftrifft, für die Reflexion des Laserstrahls an der Oberflache nicht immer die Regel "Einfallswinkel=Ausfallswinkel" zu Grunde gelegt werden kann. Vielmehr kommt es in vielen Fällen zu materialabhängigen Abweichungen von dieser Regel. Ursache hierfür sind Mikrostrukturen der Oberfläche, welchen den Reflexionswinkel beeinflussen, so dass Korrekturen oder Kalibrierungen der Methode in Abhängigkeit vom Material des Objekts, des Einfallswinkels in der Orientierung der Oberfläche erforderlich sein können, was oftmals mit erheblichem Aufwand verbunden ist und wobei trotz derartiger Korrekturen oftmals dennoch erhebliche Meßunsicherheiten resultieren.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, ein Meßverfahren sowie eine Meßanordnung anzugeben, mit welchen es auf sehr zeitsparende, rationelle Weise möglich ist, die Oberfläche eines Objekts unter Vermeidung der Nachteile einer Laserabtastung in hoher räumlicher Auflösung dreidimensional zu vermessen, und eine solche Vermessung auch an solchen Stellen zu ermöglichen, welche durch taktile Messverfahren nicht erreichbar sind, wie dies z.B. bei einer Objektoberfläche der Fall ist, welche sich hinter einer Glasabdeckung oder transparenten Schutzfolie befindet.
  • A1. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch ein Meßverfahren zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts, unter Verwendung eines Koordinatenmeßgerätes mit einem Weißlichtsensor, welcher einen Erfassungsbereich besitzt, wobei
    • – auf den Weißlichtsensor eine durch denselben sowie durch den Erfassungsbereich verlaufende Weißlichtsensor-Koordinatenachse mit einem Nullpunkt bezogen ist,
    • – mit dem Weißlichtsensor eine in dem Erfassungsbereich gelegene Zone der Oberfläche erfasst und die Lage dieser Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional gemessen wird,
    • – und aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse gegenüber dem Objekt die räumliche Position der Zone in Bezug auf ein Referenz-Koordinatensystem, insbesondere auf ein auf das Objekt bezogenes Objekt-Koordinatensystem, bestimmt wird.
  • A19. Die Aufgabe wird ferner gelöst durch eine Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone der Oberfläche eines Objekts, umfassend ein Koordinatenmeßgerät mit einem Weißlichtsensor, welcher einen Erfassungsbereich besitzt, wobei
    • – auf den Weißlichtsensor eine durch denselben sowie durch den Erfassungsbereich verlaufende Weißlichtsensor-Koordinatenachse mit einem Nullpunkt bezogen ist,
    • – mit dem Weißlichtsensor eine in dem Erfassungsbereich gelegene Zone der Oberfläche erfassbar und die Lage dieser Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional meßbar ist,
    • – und aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse gegenüber dem Objekt die räumliche Position der Zone in Bezug auf ein Referenz-Koordinatensystem, insbesondere auf ein auf das Objekt bezogenes Objekt-Koordinatensystem, bestimmbar ist.
  • Unter einem Weißlichtsensor wird hierbei ein solcher verstanden, wie er oben im Abschnitt "Stand der Technik" erläutert wurde.
  • A2. Gemäß einer bevorzugten Variante des erfindungsgemäßen Meßverfahrens werden folgende Schritte ausgeführt:
    • a) der Weißlichtsensor und das Objekt werden mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes relativ zueinander so positioniert und/oder ausgerichtet werden, dass sich eine erste Zone der Oberfläche in dem Erfassungsbereich befindet,
    • b) die Position der ersten Zone auf der Weißlichsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt wird mittels des Weißlichtsensors eindimensional gemessen,
    • c) die räumliche Position des Nullpunkts und die Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse werden in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem eingemessen, und
    • d) die räumliche Position der ersten Zone im Referenz-Koordinatensystem wird mit Hilfe der in den Schritten b) und c) gefundenen Ergebnisse bestimmt,
    wobei die Schritte b) und c) hierbei auch in umgekehrter Reihenfolge ausgeführt werden können, A14 d.h. der Schritt c) kann vor oder nach dem Schritt b) ausgeführt werden.
  • A20. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Meßanordnung sind daher
    • a) der Weißlichtsensor und das Objekt mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes relativ zueinander so positionierbar und/oder ausrichtbar, dass sich eine erste Zone der Oberfläche in dem Erfassungsbereich befindet,
    • b) die Position der ersten Zone auf der Weißlichsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichtsensors eindimensional meßbar,
    • c) die räumliche Position des Nullpunkts und die Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem einmeßbar oder eingemessen, und
    • d) die räumliche Position der ersten Zone im Referenz-Koordinatensystem mit Hilfe der gemäß b) und c) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar.
  • A3. Gemäß einer bevorzugten Variante des Verfahrens werden folgende weiteren Schritte ausgeführt:
    • e) der Weißlichtsensor und das Objekt werden mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes relativ zueinander so positioniert und ausgerichtet, dass sich eine mit der ersten Zone nicht identische andere Zone der Oberfläche in dem Erfassungsbereich befindet,
    • f) die Position der anderen Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt wird mittels des Weißlichsensors eindimensional gemessen,
    • g) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und
    • h) die räumliche Position der anderen Zone im Referenz-Koordinatensystem wird mit Hilfe der in den Schritten f) und g) gefundenen Ergebnisse bestimmt,
    wobei die Schritte f) und g) hierbei auch in umgekehrter Reihenfolge ausgeführt werden können, A14 d.h. der Schritt g) kann vor oder nach dem Schritt f) ausgeführt werden.
  • A21. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Meßanordnung sind daher
    • e) der Weißlichtsensor und das Objekt mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes relativ zueinander so positionierbar und ausrichtbar, dass sich eine mit der ersten Zone nicht identische andere Zone der Oberfläche in dem Erfassungsbereich befindet,
    • f) die Position der anderen Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors eindimensional meßbar, und
    • h) die räumliche Position der anderen Zone im Referenz-Koordinatensystem mit Hilfe der gemäß c) und f) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar.
  • A4. Die Schritte e) bis h) können insbesondere für eine Mehrzahl oder Vielzahl anderer Zonen der Oberfläche des Objekts jeweils erneut ausgeführt werden, wobei die Zonen so ausgewählt werden, dass sie zusammen mindestens einen bestimmten Teil der Oberfläche des Objekts aufspannen.
  • A5. Die Zonen können hierbei insbesondere gemäß einem regelmäßigen oder rasterartigen Muster auf der Oberfläche des Objekts verteilt ausgewählt werden.
  • A22. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Meßanordnung sind mittels derselben die räumliche Position eine Mehrzahl oder Vielzahl anderer Zonen der Oberfläche des Objekts, welche zusammen mindestens einen bestimmten Teil der Oberfläche des Objekts aufspannen, bestimmbar, A23 wobei die Zonen gemäß einem regelmäßigen oder rasterartigen Muster auf der Oberfläche des Objekts verteilt sein können.
  • A6. Gemäß einer sehr vorteilhaften Variante des Meßverfahrens wird der Weißlichsensor gegenüber dem Referenz-Koordinatensystem nicht verschwenkt, so dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse im Referenz-Koordinatensystem in allen Verfahrensschritten stets dieselbe Richtung einnimmt, und daher im Schritt g) auf die Einmessung der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem verzichtet: diese Orientierung ist nämlich bereits aus dem Schritt c) bekannt und hat sich inzwischen nicht verändert, da kein Verschwenken des Weißlichsensors gegenüber dem Referenz-Koordinatensystem erfolgt ist.
  • A24. Gemäß einer Ausführungsform der Meßanordnung verläuft daher die Weißlichtsensor-Koordinatenachse im Referenz-Koordinatensystem in einer vorgegebenen, festen Richtung, so dass nur eine einzige Einmessung der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem erforderlich ist.
  • A7 Als Referenz-Koordinatensystem kann insbesondere ein kartesisches Koordinatensystem gewählt werden, dessen z-Achse zu der Weißlichtsensor-Koordinatenachse parallel verläuft. A25. Das Referenz-Koordinatensystem kann daher insbesondere ein kartesisches Koordinatensystem sein, dessen z-Achse zu der Weißlichtsensor-Koordinatenachse parallel verläuft.
  • A8. Als Koordinatenmeßgerät kann vorteilhaft ein solches verwendet werden, welches einen gegenüber dem Weißlichtsensor zweidimensional oder dreidimensional verfahrbaren Objektträgertisch umfaßt und das Objekt auf dem Objektträgertisch angeordnet ist. A26. Das Koordinatenmeßgerät kann daher einen gegenüber dem Weißlichtsensor zweidimensional oder dreidimensional verfahrbaren Objektträgertisch umfassen, wobei und das Objekt auf dem Objektträgertisch angeordnet ist.
  • A9. Als Koordinatenmeßgerät kann ferner insbesondere ein solches verwendet werden, welches zusätzlich zu dem Weißlichtsensor mindestens einen weiteren Sensor, nämlich einen Zusatzsensor, aufweist, welcher ein taktiler oder ein optischer Sensor oder ein Ultraschall-Sensor ist und imstande ist, mindestens einen Punkt oder Bereich der Oberfläche zu erfassen und dessen räumliche Position jeweils in Bezug auf ein Bezugs-Koordinatensystem zu messen, wobei gleichzeitig oder nacheinander die räumliche Position einer Mehrzahl oder Vielzahl von Punkten oder Bereichen der Oberfläche, welche zumindest teilweise innerhalb des durch die Zonen aufgespannten Teils der Oberfläche liegen, mittels des Zusatzsensors jeweils in Bezug auf das Bezugs-Koordinatensystem bestimmt wird.
  • A27. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Meßanordnung weist das Koordinatenmeßgerät daher zusätzlich zu dem Weißlichtsensor mindestens einen weiteren Sensor, nämlich einen Zusatzsensor, auf, welcher ein taktiler oder ein optischer Sensor oder ein Ultraschall-Sensor ist und imstande ist, mindestens einen Punkt oder Bereich der Oberfläche zu erfassen und dessen räumliche Position jeweils in Bezug auf ein Bezugs-Koordinatensystem zu messen, wobei gleichzeitig oder nacheinander die räumliche Position einer Mehrzahl oder Vielzahl von Punkten oder Bereichen der Oberfläche, welche zumindest teilweise innerhalb des durch die Zonen aufgespannten Teils der Oberfläche liegen, mittels des Zusatzsensors jeweils in Bezug auf das Bezugs-Koordinatensystem bestimmbar ist.
  • A10. Der Zusatzsensor wird gemäß einer bevorzugten Variante gegenüber dem Weißlichtsensor so angeordnet und ausgerichtet, dass der von dem Zusatzsensor erfaßte Punkt der Oberfläche innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt, oder der von dem Zusatzsensor erfaßte Bereich der Oberfläche zumindest teilweise innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt, oder der von dem Zusatzsensor erfaßte Bereich der Oberfläche mit dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zusammenfält, oder das Zentrum des von dem Zusatzsensor erfaßten Bereiches der Oberfläche innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt. Auf diese Weise ist es z.B. möglich, mit dem Weißlichtsensor und mit dem Zusatzsensor übereinstimmte Teile der Pberläche zu vermessen und die Ergebnisse miteinander zu vergleichen oder miteinander zu kombinieren.
  • A28. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist daher der Zusatzsensor gegenüber dem Weißlichtsensor so angeordnet und ausgerichtet, dass der von dem Zusatzsensor erfaßte Punkt der Oberfläche innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt, oder der von dem Zusatzsensor erfaßte Bereich der Oberfläche zumindest teilweise innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt, oder der von dem Zusatzsensor erfaßte Bereich der Oberfläche mit dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zusammenfält, oder das Zentrum des von dem Zusatzsensor erfaßten Bereiches der Oberfläche innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors liegt.
  • A11, A29. Als Bezugs-Koordinatensystem wird das Referenz-Koordinatensystem gewählt, oder umgekehrt, in welchen Fällen das Bezugs-Koordinatensystem und das Referenz-Koordinatensystem miteinander identisch sind.
  • A12. Gemäß einer Variante des Meßverfahrens wird als Objekt ein transparentes Objekt verwendet, wobei und folgende Schritte ausgeführt werden:
    • i) der Weißlichtsensor wird gegenüber dem Objekt so positioniert und ausgerichtet, dass sich zwei Zonen zugleich, nämlich sowohl eine vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor zugewandt ist, als auch eine hintere Zone, welche der vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors befinden,
    • k) die Positionen der vorderen und der hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt werden mittels des Weißlichsensors eindimensional gemessen,
    • l) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und
    • m) die dreidimensionale Position der vorderen und der hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem werden mit Hilfe der in den Schritten i) und k) gefundenen Ergebnisse jeweils bestimmt,
    wobei die Schritte k) und l) hierbei auch in umgekehrter Reihenfolge ausgeführt werden können, A14 d.h. der Schritt l) kann vor oder nach dem Schritt k) ausgeführt werden.
  • A13. Hierbei werden gemäß einer Untervariante folgende Schritte ausgeführt:
    • n) der Weißlichtsensor wird gegenüber dem Objekt so positioniert und ausgerichtet, dass sich zwei andere Zonen zugleich, nämlich sowohl eine andere vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor zugewandt ist, als auch eine andere hintere Zone, welche der anderen vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors befinden,
    • o) die Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt werden mittels des Weißlichsensors eindimensional gemessen,
    • p) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und
    • q) die dreidimensionalen Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem werden mit Hilfe der in den Schritten o) und p) gefundenen Ergebnisse bestimmt,
    wobei die Schritte o) und p) hierbei auch in umgekehrter Reihenfolge ausgeführt werden können, A14 d.h. der Schritt p) kann vor oder nach dem Schritt l) ausgeführt werden.
  • A30. Das Objekt kann insbesondere transparent sein, wobei
    • i) der Weißlichtsensor gegenüber dem Objekt so positionierbar und ausrichtbar ist, dass sich zwei Zonen zugleich, nämlich sowohl eine vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor zugewandt ist, als auch eine hintere Zone, welche der vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors befinden,
    • k) die Positionen der vorderen und der hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors eindimensional meßbar sind, und
    • m) die dreidimensionale Position der vorderen und der hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem mit Hilfe der gemäß i) und c) gewinnbaren Ergebnisse jeweils bestimmbar ist.
  • A31. Hierbei können
    • n) der Weißlichtsensor gegenüber dem Objekt so positionierbar und ausrichtbar sein, dass sich zwei andere Zonen zugleich, nämlich sowohl eine andere vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor zugewandt ist, als auch eine andere hintere Zone, welche der anderen vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche des Objekts liegt, der dem Weißlichtsensor abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors befinden,
    • o) die Position der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors jeweils eindimensional meßbar sein, und
    • p) die dreidimensionalen Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem mit Hilfe der gemäß c) und
    • o) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar sein.
  • A15. Als Koordinatenmeßgerät kann insbesondere ein Multisensor-Koordinatenmeßgerät verwendet werden. A32 Das Koordinatenmeßgerät kann daher insbesondere ein Multisensor-Koordinatenmeßgerät sein. Der Standardsensor ist vorzugsweise imstande, einen Bereich der Oberfläche simultan als zweidimensional aufgelöstes Bild zu erfasssen, wobei dieser Bereich wesentlich größer ist als die Ausdehnung des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors quer zur Weißlichtsensor-Koordinatenachse, wodurch die schnelle, z.B. automatische Erkennung der Struktur wesentlich erleichtert wird.
  • Der Standardsensor kann in diesem Fall sehr vorteilhaft dazu herangezogen werden, die Oberfläche sehr schnell nach relevanten Gebieten abzusuchen, welche anschließend mittels des Weißlichtsensors im Detail untersucht bzw. vermessen werden sollen. Beispielsweise kann beabsichtigt sein, eine Struktur in einem Werkstück mittels des Weißlichtsensors topographisch zu vermessen, wobei es aufwendig sein kann, die Struktur ohne zusätzliche Hilfsmittel im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zu positionieren, oder umgekehrt den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors so zu positioinieren, dass er die Struktur enthält.
  • Mit Hilfe des Standardsensors kann in derartigen Fällen die Struktur sehr schnell erfaßt werden. Falls daher die Relativposition des vom Standardsensor erfaßten Bereichs der Oberfläche gegenüber dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors bzw. die Projektion dieser Relativposition auf den Objektträgertisch bekannt ist – diese Bedingung läßt sich durch Einmessung sehr leicht realisieren – kann daher eine mittels des Standardsensors einmal erkannte Struktur mittels des Objektträgertisches sofort und evtl. automatisch auf Anhieb zielgenau in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors W verfahren werden, oder es kann umgekehrt der Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zielgenau so positioiniert werden, das er auf Anhieb die Struktur enthält A19. Gemäß einer Variante des erfindungsgemäßen Meßverfahrens wird daher als Koordinatenmeßgerät ein solches verwendet wird, welches zusätzlich zu dem Weißlichtsensor einen optischen Standardsensor aufweist, welcher imstande ist, einen Bereich der Oberfläche zu erfassen und von diesem ein zweidimensionales Bild zu erzeugen und eine in diesem Bereich gelegene Struktur der Oberfläche auf dem Bild zu erkennen, wobei
    • – der Standardsensor gegenüber dem Weißlichtsensor oder umgekehrt eingemessen wird,
    • – mit Hilfe der Ergebnisse dieser Einmessung der laterale Abstand und die relative Orientierung zwischen der Struktur und der Weißlichtsensor-Koordinatenachse ermittelt wird,
    • – und die so erhaltenen Ergebnisse dazu verwendet werden, die Struktur in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zu verfahren oder umgekehrt den Weißlichtsensor so zu verfahren und/oder zu verschwenken, dass die Struktur im Erfassungsbereich desselben zu liegen kommt.
  • A36. Gemäß einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Meßanordnung weist daher das Koordinatenmeßgerät zusätzlich zu dem Weißlichtsensor einen optischen Standardsensor auf, welcher imstande ist, einen Bereich der Oberfläche zu erfassen und von diesem ein zweidimensionales Bild zu erzeugen und eine in diesem Bereich gelegene Struktur der Oberfläche auf dem Bild zu erkennen, wobei
    • – der Standardsensor gegenüber dem Weißlichtsensor oder umgekehrt einmeßbar ist, so dass der laterale Abstand und die relative Orientierung zwischen der Struktur und der Weißlichtsensor-Koordinatenachse ermittelbar ist
    • – und so gewinnbaren Ergebnisse dazu verwendbar sind, die Struktur in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors zu verfahren oder den Weißlichtsensor so zu verfahren und/oder zu verschwenken, dass die Struktur im Erfassungsbereich desselben zu liegen kommt.
  • Falls die ungefähre Position der Struktur im dem Objekt bekannt ist, was z.B. bei serienmäßig mit einer Oberflächenstruktur behafteten Serienteilen in der Massenproduktion in der Regel der Fall ist, kann das Objekt gegenüber dem Standardsensor von vornherein stets so positioniert und ausgerichtet werden, dass sich die Struktur in dem vom Standardsensor erfaßten Bereich befindet. Ein sofortiges zielgenaues Verfahren des Objektträgertisches oder des Erfassungsbereiches in der oben erläuterten sehr vorteilhaften Weise ist in diesen Fällen noch schneller möglich, da die Struktur nicht zunächst in das "Gesichtsfeld" des Standardsensors verfahren zu werden braucht. Dasselbe gilt für den Fall, dass der Standardsensor imstande ist, das gesamte Objekt einschließlich der Struktur simultan zu erfassen.
  • A16. Gemäß einer besonders vorteilhaften Variante des erfindungsgemäßen Meßverfahrens wird als Koordinatenmeßgerät ein solches verwendet, welches eine zentrale elektronische Rechen- und Steuereinheit aufweist, mit deren Hilfe sämtliche Verfahrensschritte softwaregesteuert durchgeführt werden. A33. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Meßanordnung weist daher das Koordinatenmeßgerät eine zentrale elektronische Rechen- und Steuereinheit auf, mit deren Hilfe sämtliche Funktionen des Koordinatenmeßgerätes softwaregesteuert durchführbar sind, so dass der Weißlichtsensor funktionell in den Betrieb und die Funktionen des Koordinatenmeßgerätes integriert ist.
  • A17. Als Objekt kann ein solches verwendet werden, welches sich vom Weißlichtsensor aus gesehen hinter einer transparenten Schicht, insbesondere Glasplatte oder Schutzfolie, befindet. Somit können mit dem erfindungsgemäßen Verfahren vorteilhafterweise auch solche Objektoberflächen oder Zonen derselben vermessen werden, welche mechanisch unzugänglich sind und daher z.B. mit einem taktilen Sensor nicht abgetastet werden können.
  • A18, A34. Gemäß bevorzugter Varianten der Erfindung ist bzw. wird der Weißlichtsensor (W)
    • – entweder so angeordnet, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche des Objekts (O) in einem Winkel von unter 45° schneidet.
    • – oder so angeordnet, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche des Objekts (O) in einem Winkel von über 70° schneidet.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnung, in welcher zeigen:
  • 1 eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Meßanordnung mit einem an einer Traverse angeordneten Weißlichtsensor und einem Objektträgertisch, auf welcher ein zu vermessendes Objekt angeordnet ist,
  • 2 eine perspektivische Ansicht einer bevorzugten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Meßanordnung, welche gegenüber der Meßanordnung von 1 zusätzlich einen Standardsensor aufweist, sowie das zu vermessende Objekt von 1,
  • 3 den Weißlichtsensor, einen Teil der Traverse und einen Teil des Objektträgertisches der Meßanordnung sowie das zu vermessende Objekt von 1, welches in 3 in Querschnittsdarstellung gezeigt ist, und
  • 4 den Weißlichtsensor, den Teil der Traverse und den Teil des Objektträgertisches von 3 sowie ein schalenförmiges transparentes zu vermessendes Objekt, welches in Querschnittsdarstellung gezeigt ist.
  • Zunächst wird auf die 1 und 3 Bezug genommen. 1 zeigt eine perspektivische Ansicht einer Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position einer Zone oder einer Mehrzahl oder Vielzahl von Zonen der Oberfläche F1 eines Objekts O1. 3 zeigt den Weißlichtsensor W, einen Teil der Traverse 4 und einen Teil des Objektträgertisches T der Meßanordnung sowie das zu vermessende Objekt O1 von 1, welches in 3 in Querschnittsdarstellung gezeigt ist. 3 ist gegenüber 1 nicht maßstäblich.
  • Die erfindungsgemäße Meßanordnung von 1 umfaßt ein Koordinatenmeßgerät KMG mit einem solchen Weißlichtsensor W, wie er oben im Abschnitt "Stand der Technik" bereits erläutert wurde, und welcher einen bestimmten Erfassungsbereich besitzt. Der Erfassungsbereich des Weißlichsensors W ist derjenige Raumbereich, innerhalb welchem eine Zone der Oberfläche eines Objekts positioniert sein muß, damit eine erfindungsgemäße Bestimmung der Position dieser Zone möglich ist.
  • Das Koordinatenmeßgerät KMG umfaßt außer dem Weißlichtsensor W des weiteren einen Objektträgertisch T sowie Trägerelemente 1,2,3, mit deren Hilfe eine Traverse 4 über dem Objektträgertisch 4 angeordnet ist. Der Weißlichtsensor W ist so an der Traverse 4 angeordnet, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' durch den Objektträgertisch T verläuft und der Erfassungsbereich sich im bereich des Objektträgertisches T befindet. Dieser ist zweidimensional oder dreidimensional gegenüber dem Weißlichtsensor W verfahrbar, was in 3 durch ein Kreuz aus zwei Doppelpfeilen angedeutet ist. Das Objekt O1 ist auf dem Objektträgertisch T angeordnet und daher mit diesem gegenüber dem Weißlichtsensor W verfahrbar.
  • Der Weißlichtsensor umfaßt eine Linse, welche mit chromatischer Abberation behaftet ist, eine Lichtquelle, welche ein kontinuierliches Spektrum abgibt, sowie ein Spektrometer; diese Komponenten des Weißlichtsensors W sind in den Figuren nicht gezeigt.
  • Die Lichtquelle wird mittels der Linse auf die Oberfläche O1 abgebildet. Der Weißlichtsensor W sendet daher einen sich in Richtung des Objektes O1 verjüngenden Weißlichtsensor-Erfassungslichtstrahl EW aus. Wegen der chromatischen Abberation der Linse hängt hierbei die Bildweite von der Wellenlänge ab, so dass auf der Oberfläche O1 nur für eine bestimmte Wellenlänge λ0 oder ein bestimmtes Wellenlängenintervall ein scharfes Bild der Lichtquelle entsteht. Für alle anderen Wellenlängen entsteht auf der Oberfläche O1 entweder ein unscharfes oder überhaupt kein Bild der Lichtquelle. Im Spektrum des scharfen Bildes liegt daher für die Wellenlänge λ0 ein Intensitätsmaximum vor, woraus die zugehörige Bildweite und somit der Abstand des scharfen Bildes von der Linse bestimmbar ist.
  • Im Beispiel von 3 wird die Lichtquelle für die Wellenlänge λ0 scharf auf der Oberfläche F1 abgebildet. Das so entstehende scharfe Bild, d.h. die Abbildung der Lichtquelle auf die Oberfläche F1 bei der Wellenlänge λ0, besitzt auf der Oberfläche F1 eine bestimmte Größe, welche sich der wahren Größe der Lichtquelle proportional ist und daher eine bestimmte Zone, nämlich im Beispiel von 3 die Zone Z1 der Oberfläche F1 bedeckt.
  • Zu jeder Wellenlänge, für welche ein scharfes Bild der Lichtquelle entsteht, gehört eine bestimmte Bildweite. Beispielsweise entsteht im Fall normaler Dispersion der Linse für eine Wellenlänge λ1, welche kleiner ist als λ0, ein scharfes Bild B1 oberhalb der Oberfläche F1, d.h. die Bildweite ist hier kürzer als für λ0, und für eine Wellenlänge λ2, welche größer ist als λ0, ein scharfes Bild B2 unterhalb der Oberfläche F1, d.h. die Bildweite ist hier länger als für λ0. Selbstverständlich kann hierbei jedoch für Wellenlängen größer als λ0 nur dann einen scharfes Bild entstehen, wenn das Objekt O1 transparent ist; andernfalls entstehen scharfe Bilder für Wellenlängen kleiner oder gleich als λ0; dies ist für die Funktion der Meßanordnung von 1 und 3 jedoch belanglos.
  • Auf den Weißlichtsensor W ist eine durch denselben sowie durch den Erfassungsbereich verlaufende Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' mit einem nicht gezeigten Nullpunkt bezogen. Im Beispiel von 1 und 2 fällt die Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' mit der optischen Achse bzw. der Mittelachse des Weißlichtsensors zusammen; dies ist jedoch nicht zwingend erforderlich.
  • Das Objekt O1 ist durch entsprechendes Verfahren des Objektträgertisches T gegenüber dem Weißlichtsensor W so positionierbar, dass sich eine die Zone Z1 der Oberfläche F1 im Erfassungsbereich befindet.
  • Mit dem Weißlichtsensor W ist die Zone Z1 erfaßbar und ihre Lage auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional meßbar. Aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' gegenüber dem Objekt O1 ist die räumliche Position der Zone Z1 in Bezug auf ein gegenüber der Position des Nullpunkts und der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' eingemessenes Referenz-Koordinatensystem RKS bestimmbar.
  • Im Beispiel von 1 ist das Referenz-Koordinatensystem RKS ein kartesisches Koordinatensystem mit den Achsen x, y, z, wobei die z-Achse zu der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' parallel verläuft.
  • Nach Bestimmung der Position der Zone Z1 bezüglich des Referenz-Koordinatensystems RKS kann in völlig entsprechender Weise für andere Zonen Z2, Z3, Z4 usw. vorgegangen werden. Auf diese Weise kann z.B. ein bestimmter Teil der Oberfläche F1 rasterartig vermessen werden.
  • Falls die Unebenheiten der Oberfläche F1 hinreichend klein sind, kann es für die Vermessung sämtlicher Zonen Z1,Z2,Z3,Z4 genügen, den Objektträgertisch T rein horizontal zu verfahren, da der Erfassungsbereich in Richtung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' typischerweise eine Tiefe von mehreren Millimetern aufweist.
  • An der Traverse 4 der Meßvorrichtung von 1 ist ferner ein Zusatzsensor ZS angeordnet, welcher in 3 weggelassen ist. Der Zusatzsensor ZS kann z.B. ein taktiler oder ein optischer Sensor oder ein Ultraschall-Sensor sein und ist imstande, mindestens einen Punkt oder einen Teilbereich der gerade von dem Weißlichtsensor W erfaßten Zone zu erfassen. D.h. der Zusatzsensor ZS ist gegenüber dem Weißlichtsensor W so positioniert und ausgerichtet, dass er dann mindestens einen Punkt oder einen Teilbereich der Zone Z2 erfaßt, wenn der Weißlichtsensor W gerade die Zone Z2 erfaßt. Der Zusatzsensor ZS ist daher vorzugsweise starr gegenüber dem Weißlichtsensor W angeordnet.
  • Der Zusatzsensor ZS ist im Beispiel von 1 ein optischer Sensor, z.B. ein Laser-Taster, mit einer optischen Achse AZS, und imstande, die räumliche Position des von ihm erfaßten Punktes oder Teilbereichs in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem RKS zu messen, so dass mittels des Zusatzsesors ZS die räumliche Position einer Mehrzahl oder Vielzahl von Punkten oder Bereichen der Oberfläche F1 erfaßbar und vermeßbar ist, welche zumindest teilweise innerhalb desjenigen Teils der Oberfläche F1 liegen, welcher durch die vom Weißlichtsensor W erfaßten und vermessenen Zonen Z1,Z2,Z3,Z4 usw. aufgespannt wird. Die so erhaltenenen Ergebnisse können z.B. miteinander verglichen oder insbesondere zu einem einzigen Datensatz kombiniert werden. Diese Vorgehensweise ist insbesondere dann sehr vorteilhaft, wenn der Weißlichtsensor W aufgrund seiner physikalischen Eigenschaften imstande ist, bestimmte, vom Zusatzsensor nicht erfaßbare Strukturen der Oberfläche F1 zu erfassen, und/oder umgekehrt der Zusatzsensor ZS aufgrund seiner physikalischen Eigenschaften imstande ist, bestimmte, vom Weißlichtsensor W nicht erfaßbare Strukturen der Oberfläche F1 zu erfassen.
  • Das Koordinatenmeßgerät KMG kann insbesondere ein Multisensor-Koordinatenmeßgerät sein. 2 zeigt daher als Beispiel hierfür eine perspektivische Ansicht einer bevorzugten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Meßanordnung, welche gegenüber der Meßanordnung von 1 zusätzlich einen Standardsensor S aufweist. Dieser ist im Beispiel von 2 ebenfalls ein optischer Sensor, nämlich eine Videokamera, mit einer optischen Achse AS. Der Standardsensor S ist vorzugsweise imstande, einen solchen Bereich B der Oberfläche F1 zu erfassen, welcher vom Erfassungsbereich des Weißlichtsensors W beabstandet und wesentlich größer ist als die Ausdehnung des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors W quer zur Weißlichtsensor-Koordinatenachse z'.
  • Der Standardsensor S kann z.B. sehr vorteilhaft dazu herangezogen werden, die Oberfläche F1 schnell und daher rationell nach relevanten Gebieten abzusuchen, welche anschließend mittels des Weißlichtsensors W im Detail untersucht bzw. vermessen werden sollen. Beispielsweise kann beabsichtigt sein, den Rand und die unmittelbare Umgebung einer sehr kleinen Bohrung in einem Werkstück, z.B. Kfz-Einspritzdüse, mittels des Weißlichtsensors W topographisch zu untersuchen, wobei es schwierig bzw. zeitraubend sein kann, die Bohrung ohne zusätzliche Hilfsmittel in hinreichender Nähe zum Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors W zu positionieren.
  • Mit Hilfe des Standardsensors S kann in derartigen Fällen die Bohrung schnell erfaßt werden, da der vom Standardsensor B erfaßte Bereich B der Oberfläche F1, das "Gesichtsfeld" des Standardsensors S, wesentlich größer ist als der Durchmesser des Erfassungsbereichs des Weißlichsensors W quer zur Achse z', und da der Standardsensor S, falls er z.B. als Video-Kamera ausgebildet ist, im Gegensatz zum Weißlichtsensor W eine große Vielzahl von Punkten der Oberfläche F1 simultan und getrennt voneinander als hochaufgelöstes Bild erfasssen kann, was die schnelle, z.B. automatische Erkennung einer Struktur wie z.B. der Bohrung wesentlich erleichtert.
  • Falls daher die Relativposition des vom Standardsensor S erfaßten Bereichs der Oberfläche F1 gegenüber dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors W bzw. die Projektion dieser Relativposition auf den Objektträgertisch T bekannt ist – diese Bedingung läßt sich durch Einmessung sehr leicht realisieren – kann daher eine mittels des Standardsensors S einmal erkannte Struktur mittels des Objektträgertisches T sofort und evtl. automatisch auf Anhieb zielgenau in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors W verfahren werden, oder der Erfassungsbereich wird umgekehrt durch Verschieben und/oder Verschwenken des Weißlichtsensors so verlagert, dass sich die Struktur auf nhieb im erfassungsbereich befindet. Die hierzu erforderliche Relativbewegung zwischen Objekt und Weißlichtsensor kann nämlich aus der genannten Relativposition bzw. deren Projektion sowie der Lage der Struktur innerhalb des vo Standardsensor erfassten Bereichs vorausberechnet werden.
  • Falls die ungefähre Position der Struktur im dem Objekt bekannt ist, was z.B. bei serienmäßig mit einer Oberflächenstruktur behafteten Serienteilen in der Massenproduktion in der Regel der Fall ist, kann das Objekt gegenüber dem Standardsensor von vornherein stets so positioniert und ausgerichtet werden, dass sich die Struktur in dem vom Standardsensor S erfaßten Bereich befindet. Ein sofortiges zielgenaues Verfahren des Objektträgertisches T in der oben erläuterten sehr vorteilhaften Weise ist in diesen Fällen noch schneller möglich, da die Struktur nicht erst in das "Gesichtsfeld" des Standardsensors S verfahren zu werden braucht. Dasselbe gilt für den Fall, dass der Standardsensor imstande ist, das gesamte Objekt einschließlich der Struktur simultan zu erfassen.
  • 4 zeigt den Weißlichtsensor W, den Teil der Traverse 4 und den Teil des Objektträgertisches T von 3 sowie ein schalenförmiges transparentes zu vermessendes Objekt O2, welches in Querschnittsdarstellung gezeigt ist.
  • Der Weißlichtsensor W ist gegenüber dem Objekt O2 so positioniert und ausgerichtet, dass sich zwei Zonen Z5,Z6 zugleich, nämlich sowohl eine vordere Zone Z5, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche F2 des Objekts O2 liegt, der dem Weißlichtsensor W zugewandt ist, als auch eine hintere Zone Z6, welche der vorderen Zone Z5 gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche F2 des Objekts O2 liegt, der dem Weißlichtsensor W abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors W befinden.
  • Die Position der vorderen und der hinteren Zone Z5,Z6 auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' in Bezug auf den Nullpunkt werden mittels des Weißlichsensors W jeweils eindimensional gemessen, und die dreidimensionale Position der vorderen und der hinteren Zone Z5,Z6 werden im Referenz-Koordinatensystem RKS mit Hilfe der so gewonnenen Ergebnisse sowie der Ergebnisse einer Einmessung der räumlichen Position des Nullpunkts und der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse z' in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem RKS jeweils bestimmt. Somit wurden zwei Zonen der Oberfläche F2, nämlich das Zonenpaar Z5,Z6, vermessen, ohne dass dazwischen der Objektträgertisch T verfahren wurde.
  • Diese Vorgehensweise kann für eine Vielzahl weiterer derartiger Zonenpaare völlig entsprechend durchgeführt werden. Auf diese weise kann die Oberfläche F2 vollständig erfaßt werden, ohne dass das Objekt F2 umgedreht werden muss. Diese Vorgehensweise eignet sich ferner insbesondere zur Messung von Schichtdicken.
  • Gewerbliche Anwendbarkeit:
  • Die gewerbliche Anwendbarkeit der Erfindung besteht darin, dass dieselbe in der zerstörungsfreien Prüfung und Überwachung der Gestalt von Gegenständen, insbesondere von Serienteilen, z.B. Kfz-Einspritzdüsen, anwendbar ist. Ebenso ist die Erfindung anwendbar zum Orten und Vermessen von Oberflächenstrukturen. wobei solche gegenüber dem Stand der Technik auf Anhieb mit hoher Genauigkeit vermessen werden können.
  • 1,2,3
    Trägerelemente
    4
    Traverse
    AS
    Achse des Standardsensors
    AZS
    Achse des Zusatzsensors
    B
    vom Standardsensor erfaßter Bereich
    B1,B2
    scharfe Bilder
    EW
    Erfassungsstrahl des Weißlichtsensors
    F1
    Oberfläche des Objekts O1
    F2
    Oberfläche des Objekts O2
    KMG
    Koordinatenmeßgerät
    O1
    Objekt
    O2
    transparentes Objekt
    S
    Strandardsensor
    RKS
    Referenz-Koordinatensystem
    T
    Objektträgertisch
    x,y,z
    Achsen des Bezugs-Koordinatensystems
    W
    Weißlichtsensor
    ZS
    Zusatzsensor
    Z1–Z4
    Zonen auf F1
    Z5,Z6
    Zonen auf F2
    z'
    Weißlichtsensor-Koordinatenachse

Claims (36)

  1. Meßverfahren zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) eines Objekts (O1,O2), unter Verwendung eines Koordinatenmeßgerätes (KMG) mit einem Weißlichtsensor (W), welcher einen Erfassungsbereich besitzt, wobei – auf den Weißlichtsensor (W) eine durch denselben sowie durch den Erfassungsbereich verlaufende Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') mit einem Nullpunkt bezogen ist, – mit dem Weißlichtsensor (W) eine in dem Erfassungsbereich gelegene Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) erfasst und die Lage dieser Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional gemessen wird, – und aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') gegenüber dem Objekt (O1,O2) die räumliche Position der Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) in Bezug auf ein Referenz-Koordinatensystem (RKS), insbesondere auf ein auf das Objekt (O1,O2) bezogenes Objekt-Koordinatensystem, bestimmt wird.
  2. Meßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass folgende Schritte ausgeführt werden: a) der Weißlichtsensor (W) und das Objekt (O1,O2) werden mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes (KMG) relativ zueinander so positioniert und/oder ausgerichtet werden, dass sich eine erste Zone (Z1) der Oberfläche (F1,F2) in dem Erfassungsbereich befindet, b) die Position der ersten Zone (Z1) auf der Weißlichsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt wird mittels des Weißlichtsensors (W) eindimensional gemessen, c) die räumliche Position des Nullpunkts und die Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') werden in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem (RKS) eingemessen, und d) die räumliche Position der ersten Zone (Z1) im Referenz-Koordinatensystem wird mit Hilfe der in den Schritten b) und c) gefundenen Ergebnisse bestimmt.
  3. Meßverfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass folgende weiteren Schritte ausgeführt werden: e) der Weißlichtsensor (W) und das Objekt (O1,O2) werden mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes (KMG) relativ zueinander so positioniert und ausgerichtet, dass sich eine mit der ersten Zone (Z1) nicht identische andere Zone (Z2) der Oberfläche (F1,F2) in dem Erfassungsbereich befindet, f) die Position der anderen Zone (Z2) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt wird mittels des Weißlichsensors (W) eindimensional gemessen, g) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und h) die räumliche Position der anderen Zone (Z2) im Referenz-Koordinatensystem wird mit Hilfe der in den Schritten f) und g) gefundenen Ergebnisse bestimmt.
  4. Meßverfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Schritte e) bis h) für eine Mehrzahl oder Vielzahl anderer Zonen (Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) jeweils erneut ausgeführt werden, wobei die Zonen (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) so ausgewählt werden, dass sie zusammen mindestens einen bestimmten Teil der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) aufspannen.
  5. Meßverfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Zonen (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) gemäß einem regelmäßigen oder rasterartigen Muster auf der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) verteilt ausgewählt werden.
  6. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass – der Weißlichsensor (W) gegenüber dem Referenz-Koordinatensystem nicht verschwenkt wird, so dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') im Referenz-Koordinatensystem in allen Verfahrensschritten stets dieselbe Richtung einnimmt, – und daher im Schritt g) auf die Einmessung der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem (RKS) verzichtet wird.
  7. Meßverfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass als Referenz-Koordinatensystem (RKS) ein kartesisches Koordinatensystem gewählt wird, dessen z-Achse zu der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') parallel verläuft.
  8. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass als Koordinatenmeßgerät (KMG) ein solches verwendet wird, welches einen gegenüber dem Weißlichtsensor (W) zweidimensional oder dreidimensional verfahrbaren Objektträgertisch (T) umfaßt und das Objekt (O1,O2) auf dem Objektträgertisch (T) angeordnet ist.
  9. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass als Koordinatenmeßgerät (KMG) ein solches verwendet wird, welches zusätzlich zu dem Weißlichtsensor (W) mindestens einen weiteren Sensor, nämlich einen Zusatzsensor (ZS), aufweist, welcher – ein taktiler oder ein optischer Sensor oder ein Ultraschall-Sensor ist, – und imstande ist, mindestens einen Punkt oder Bereich der Oberfläche (F1,F2) zu erfassen und dessen räumliche Position jeweils in Bezug auf ein Bezugs-Koordinatensystem zu messen, wobei gleichzeitig oder nacheinander die räumliche Position einer Mehrzahl oder Vielzahl von Punkten oder Bereichen der Oberfläche (F1,F2), welche zumindest teilweise innerhalb des durch die Zonen (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) aufgespannten Teils der Oberfläche (F1,F2) liegen, mittels des Zusatzsensors (ZS) jeweils in Bezug auf das Bezugs-Koordinatensystem bestimmt wird.
  10. Meßverfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Zusatzsensor (ZS) gegenüber dem Weißlichtsensor (W) so angeordnet und ausgerichtet wird, dass – der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Punkt der Oberfläche (F1,F2) innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt, – oder der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Bereich der Oberfläche (F1,F2) zumindest teilweise innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt, – oder der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Bereich der Oberfläche (F1,F2) mit dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) zusammenfält, – oder das Zentrum des von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßten Bereiches der Oberfläche (F1,F2) innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt.
  11. Meßverfahren nach Anspruch 2 und einem der Ansprüche 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass das als Bezugs-Koordinatensystem das Referenz-Koordinatensystem gewählt wird, oder umgekehrt, so dass das Bezugs-Koordinatensystem und das Referenz-Koordinatensystem (RKS) miteinander identisch sind.
  12. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass – als Objekt (O2) ein transparentes Objekt (O2) verwendet wird, – und folgende Schritte ausgeführt werden: i) der Weißlichtsensor (W) wird gegenüber dem Objekt (O2) so positioniert und ausgerichtet, dass sich zwei Zonen (Z5,Z6) zugleich, – nämlich sowohl eine vordere Zone (Z5), welche auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) zugewandt ist, – als auch eine hintere Zone (Z6), welche der vorderen Zone (Z5) gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) befinden, k) die Positionen der vorderen und der hinteren Zone (Z5,Z6) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt werden mittels des Weißlichsensors (W) eindimensional gemessen, l) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und m) die dreidimensionale Position der vorderen und der hinteren Zone (Z5,Z6) im Referenz-Koordinatensystem werden mit Hilfe der in den Schritten i) und k) gefundenen Ergebnisse jeweils bestimmt.
  13. Meßverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass folgende Schritte ausgeführt werden: n) der Weißlichtsensor (W) wird gegenüber dem Objekt (O2) so positioniert und ausgerichtet, dass sich zwei andere Zonen zugleich, – nämlich sowohl eine andere vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) zugewandt ist, – als auch eine andere hintere Zone, welche der anderen vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) befinden, o) die Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt werden mittels des Weißlichsensors (W) eindimensional gemessen, p) der Schritt c) wird erneut ausgeführt, und q) die dreidimensionalen Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem (RKS) werden mit Hilfe der in den Schritten o) und p) gefundenen Ergebnisse bestimmt.
  14. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 2, 3, 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass der Schritt c) vor dem Schritt b) bzw. der Schritt g) vor dem Schritt f) bzw. der Schritt l) vor dem Schritt k) bzw. der Schritt q) vor dem Schritt p) ausgeführt wird.
  15. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass als Koordinatenmeßgerät (KMG) ein Multisensor-Koordinatenmeßgerät verwendet wird.
  16. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass als Koordinatenmeßgerät (KMG) ein solches verwendet wird, welches eine zentrale elektronische Rechen- und Steuereinheit aufweist, mit deren Hilfe sämtliche Verfahrensschritte softwaregesteuert durchgeführt werden.
  17. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass als Objekt (O1,O2) ein solches verwendet wird, welches sich vom Weißlichtsensor (W) aus gesehen hinter einer transparenten Schicht, insbesondere Glasplatte oder Schutzfolie, befindet.
  18. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass der Weißlichtsensor (W) – entweder so angeordnet wird, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) in einem Winkel von unter 45° schneidet. – oder so angeordnet wird, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) in einem Winkel von über 70° schneidet.
  19. Meßverfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass – als Koordinatenmeßgerät (KMG) ein solches verwendet wird, welches zusätzlich zu dem Weißlichtsensor (W) einen optischen Standardsensor (S) aufweist, welcher imstande ist, einen Bereich (B) der Oberfläche (F1,F2) zu erfassen und von diesem ein zweidimensionales Bild zu erzeugen und eine in diesem Bereich gelegene Struktur der Oberfläche (O1,O2) auf dem Bild zu erkennen, wobei – der Standardsensor (S) gegenüber dem Weißlichtsensor (W) oder umgekehrt eingemessen wird, – mit Hilfe der Ergebnisse dieser Einmessung der laterale Abstand und die relative Orientierung zwischen der Struktur und der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') ermittelt wird, – und die so erhaltenen Ergebnisse dazu verwendet werden, die Struktur in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) zu verfahren oder den Weißlichtsensor (W) so zu verfahren und/oder zu verschwenken, dass die Struktur im Erfassungsbereich desselben zu liegen kommt.
  20. Meßanordnung zur Bestimmung der räumlichen Position wenigstens einer Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) eines Objekts (O1,O2), umfassend ein Koordinatenmeßgerät (KMG) mit einem Weißlichtsensor (W), welcher einen Erfassungsbereich besitzt, wobei – auf den Weißlichtsensor (W) eine durch denselben sowie durch den Erfassungsbereich verlaufende Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') mit einem Nullpunkt bezogen ist, – mit dem Weißlichtsensor (W) eine in dem Erfassungsbereich gelegene Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) erfassbar und die Lage dieser Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt eindimensional meßbar ist, – und aus der relativen Position und Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') gegenüber dem Objekt (O1,O2) die räumliche Position der Zone (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) in Bezug auf ein Referenz-Koordinatensystem (RKS), insbesondere auf ein auf das Objekt (O1,O2) bezogenes Objekt-Koordinatensystem, bestimmbar ist.
  21. Meßanordnung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass a) der Weißlichtsensor (W) und das Objekt (O1,O2) mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes (KMG) relativ zueinander so positionierbar und/oder ausrichtbar sind, dass sich eine erste Zone (Z1) der Oberfläche (F1,F2) in dem Erfassungsbereich befindet, b) die Position der ersten Zone (Z1) auf der Weißlichsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichtsensors (W) eindimensional meßbar ist, c) die räumliche Position des Nullpunkts und die Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem (RKS) einmeßbar oder eingemessen sind, und d) die räumliche Position der ersten Zone (Z1) im Referenz-Koordinatensystem mit Hilfe der gemäß b) und c) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar ist.
  22. Meßanordnung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass e) der Weißlichtsensor (W) und das Objekt (O1,O2) mit Hilfe des Koordinatenmeßgerätes (KMG) relativ zueinander so positionierbar und ausrichtbar sind, dass sich eine mit der ersten Zone (Z1) nicht identische andere Zone (Z2) der Oberfläche (F1,F2) in dem Erfassungsbereich befindet, f) die Position der anderen Zone (Z2) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors (W) eindimensional meßbar ist, und h) die räumliche Position der anderen Zone (Z2) im Referenz-Koordinatensystem (RKS) mit Hilfe der gemäß c) und f) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar ist.
  23. Meßanordnung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass mittels derselben die räumliche Position eine Mehrzahl oder Vielzahl anderer Zonen (Z3,Z4,Z5,Z6) der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2)), welche zusammen mindestens einen bestimmten Teil der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) aufspannen, bestimmbar ist.
  24. Meßanordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Zonen (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) gemäß einem regelmäßigen oder rasterartigen Muster auf der Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) verteilt sind.
  25. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 21 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass – die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') im Referenz-Koordinatensystem in einer vorgegebenen, festen Richtung verläuft, – so dass nur eine einzige Einmessung der Orientierung der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf das Referenz-Koordinatensystem erforderlich ist.
  26. Meßanordnung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass das Referenz-Koordinatensystem (RKS) ein kartesisches Koordinatensystem ist, dessen z-Achse zu der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') parallel verläuft.
  27. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 26, dadurch gekennzeichnet, dass das Koordinatenmeßgerät (KMG) einen gegenüber dem Weißlichtsensor (W) zweidimensional oder dreidimensional verfahrbaren Objektträgertisch (T) umfaßt und das Objekt (O1,O2) auf dem Objektträgertisch (T) angeordnet ist.
  28. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 23 oder 24, dadurch gekennzeichnet, dass das Koordinatenmeßgerät (KMG) zusätzlich zu dem Weißlichtsensor (W) mindestens einen weiteren Sensor, nämlich einen Zusatzsensor (ZS), aufweist, welcher – ein taktiler oder ein optischer Sensor oder ein Ultraschall-Sensor ist, – und imstande ist, mindestens einen Punkt oder Bereich der Oberfläche (F1,F2) zu erfassen und dessen räumliche Position jeweils in Bezug auf ein Bezugs-Koordinatensystem zu messen, wobei gleichzeitig oder nacheinander die räumliche Position einer Mehrzahl oder Vielzahl von Punkten oder Bereichen der Oberfläche (F1,F2), welche zumindest teilweise innerhalb des durch die Zonen (Z1,Z2,Z3,Z4,Z5,Z6) aufgespannten Teils der Oberfläche (F1,F2) liegen, mittels des Zusatzsensors (ZS) jeweils in Bezug auf das Bezugs-Koordinatensystem bestimmbar ist.
  29. Meßanordnung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, dass der Zusatzsensor (ZS) gegenüber dem Weißlichtsensor (W) so angeordnet und ausgerichtet ist, dass – der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Punkt der Oberfläche (F1,F2) innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt, – oder der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Bereich der Oberfläche (F1,F2) zumindest teilweise innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt, – oder der von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßte Bereich der Oberfläche (F1,F2) mit dem Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) zusammenfält, – oder das Zentrum des von dem Zusatzsensor (ZS) erfaßten Bereiches der Oberfläche (F1,F2) innerhalb des Erfassungsbereichs des Weißlichtsensors (W) liegt.
  30. Meßanordnung nach Anspruch 21 und einem der Ansprüche 27 oder 28, dadurch gekennzeichnet, dass das Bezugs-Koordinatensystem und das Referenz-Koordinatensystem miteinander identisch sind.
  31. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt (O2) transparent ist, wobei i) der Weißlichtsensor (W) gegenüber dem Objekt (O2) so positionierbar und ausrichtbar ist, dass sich zwei Zonen (Z5,Z6) zugleich, – nämlich sowohl eine vordere Zone (Z5), welche auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) zugewandt ist, – als auch eine hintere Zone (Z6), welche der vorderen Zone (Z5) gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) befinden, k) die Positionen der vorderen und der hinteren Zone (Z5,Z6) auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors (W) eindimensional meßbar sind, und m) die dreidimensionale Position der vorderen und der hinteren Zone (Z5,Z6) im Referenz-Koordinatensystem (RKS) mit Hilfe der gemäß i) und c) gewinnbaren Ergebnisse jeweils bestimmbar ist.
  32. Meßanordnung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, dass n) der Weißlichtsensor (W) gegenüber dem Objekt (O2) so positionierbar und ausrichtbar ist, dass sich zwei andere Zonen zugleich, – nämlich sowohl eine andere vordere Zone, welche auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) zugewandt ist, – als auch eine andere hintere Zone, welche der anderen vorderen Zone gegenüberliegend auf demjenigen Teil der Oberfläche (F2) des Objekts (O2) liegt, der dem Weißlichtsensor (W) abgewandt ist, im Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) befinden, o) die Position der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone auf der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') in Bezug auf den Nullpunkt mittels des Weißlichsensors (W) jeweils eindimensional meßbar sind, und p) die dreidimensionalen Positionen der anderen vorderen und der anderen hinteren Zone im Referenz-Koordinatensystem (RKS) mit Hilfe der gemäß c) und o) gewinnbaren Ergebnisse bestimmbar sind.
  33. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 32, dadurch gekennzeichnet, dass das Koordinatenmeßgerät (KMG) ein Multisensor-Koordinatenmeßgerät ist.
  34. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 33, dadurch gekennzeichnet, dass das Koordinatenmeßgerät (KMG) eine zentrale elektronische Rechen- und Steuereinheit aufweist, mit deren Hilfe sämtliche Funktionen des Koordinatenmeßgerätes (KNG) softwaregesteuert durchführbar sind.
  35. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 34, dadurch gekennzeichnet, dass der Weißlichtsensor (W) – entweder so angeordnet ist, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) in einem Winkel von unter 45° schneidet. – oder so angeordnet ist, dass die Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') die Oberfläche (F1,F2) des Objekts (O1,O2) in einem Winkel von über 70° schneidet.
  36. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 20 bis 35, dadurch gekennzeichnet, dass – das Koordinatenmeßgerät (KMG) zusätzlich zu dem Weißlichtsensor (W) einen optischen Standardsensor (S) aufweist, welcher imstande ist, einen Bereich (B) der Oberfläche (F1,F2) zu erfassen und von diesem ein zweidimensionales Bild zu erzeugen und eine in diesem Bereich gelegene Struktur der Oberfläche (O1,O2) auf dem Bild zu erkennen, wobei – der Standardsensor (S) gegenüber dem Weißlichtsensor (W) oder umgekehrt einmeßbar ist, so dass der laterale Abstand und die relative Orientierung zwischen der Struktur und der Weißlichtsensor-Koordinatenachse (z') ermittelbar ist – und so gewinnbaren Ergebnisse dazu verwendbar sind, die Struktur in den Erfassungsbereich des Weißlichtsensors (W) zu verfahren oder den Weißlichtsensor (W) so zu verfahren und/oder zu verschwenken, dass die Struktur im Erfassungsbereich desselben zu liegen kommt.
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