DE102007003824A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Auftrag einer Materialschicht - Google Patents

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Abstract

Eine Vorrichtung zum Auftrag einer Materialschicht (40) auf einer unebenen Oberfläche (25) umfasst eine Schablone konstanter Dicke (9) mit mindestens zwei Öffnungen (71, 74), die voneinander unterschiedliche Querschnittsflächen aufweisen. Jede Querschnittsfläche (75, 76) ist proportional zu der Länge (37), Breite (38) und Dicke (39) jeweils eines Bereiches (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) sowie dem Kehrwert der Schablonendicke (9). In dem Bereich (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) ist die Dicke (39) der Materialschicht (40) konstant.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine unebene Oberfläche, auf die eine Materialschicht reproduzierbar aufgetragen werden soll, und eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Auftragen der Materialschicht.
  • Kontrolliert aufgebrachte Schichten werden insbesondere bei Leistungshalbleitermodulen verwendet. Leistungshalbleitermodule mit und ohne Bodenplatte müssen die in den Modulen entstehende Verlustleistung an ein anderes Medium, vorzugsweise einen Kühlkörper, abführen. Anderenfalls könnte die maximale Sperrschichttemperatur der in dem Modul vorhandenen Bauelemente überschritten werden.
  • Üblicherweise wird das Leistungshalbleitermodul mit einer Wärmeleitpaste an den Kühlkörper thermisch angebunden. Sowohl Unebenheiten der Bodenplatte des Moduls als auch Oberflächenrauhigkeiten des Kühlkörpers werden mit Hilfe der Wärmeleitpaste ausgeglichen. Bisher wird die Wärmeleitpaste mit einem Pinsel oder einer Rolle auf das Modul oder auf dem Kühlkörper vor der Montage aufgetragen.
  • Alternativ zu einer Wärmeleitpaste kann auch eine Wärmeleitfolie zur thermischen Anbindung zwischen Leistungshalbleitermodul und Kühlkörper eingesetzt werden. Die Wärmeleitfolie wird vor der Montage zwischen den Kühlkörper und das Modul eingelegt. Ein Nachteil bei Wärmeleitfolien ist hierbei die geringere Wärmeleitfähigkeit gegenüber Wärmeleitpasten. Der Auftrag einer auch Huckel und Unebenheiten ausgleichenden Schicht Wärmeleitpaste mit einem Pinsel oder einer Rolle ist jedoch nicht reproduzierbar.
  • In der DE 103 20 186 A1 wird auf Siebdruckverfahren zum homogenen Auftrag von Wärmeleitpasten hingewiesen. Eine dabei eingesetzte Schablone zum homogenen Schichtauftrag ist in 1 gezeigt. Die Schablone 10 weist gleichmäßig angeordnete quadratische oder rechteckige Öffnungen auf, die durch Stege 11 voneinander beabstandet sind. Die Länge 12 bzw. Breite 13 der gleichartigen Öffnungen beträgt bei einem Einsatz der Schablone bei Leistungshalbleiterbauelementen üblicherweise zwischen 4,5 und 6,5 mm. Die Stegbreite 11 beträgt üblicherweise 1 bis 1,5 mm.
  • Die Oberfläche einer Bodenplatte eines aufgespannten bzw. montierten Leistungshalbleitermoduls ist beispielhaft in 2 als dreidimensionaler Graph abgebildet. Die Länge 21 des Ausschnittes der in dieser Abbildung nicht dargestellten Bodenplatte beträgt 10 cm, die Breite 22 beträgt 14 cm, wobei das Höhenprofil 25 der Bodenplatte auf einer Skala 29 von –17,7 bis 14,7 μm aufgetragen ist. Deutlich zu erkennen ist, dass das Höhenprofil 25 einen tiefsten Punkt 27 und ein Maximum 26 mit einer Höhendifferenz von ca. 32 μm aufweist. Der Zweck der auf der Oberfläche 25 der Bodenplatte 2 aufzubringenden Wärmeleitpaste 40 ist es nun, einen möglichst geringen thermischen Übergangswiderstand zwischen der Bodenplatte 2 und einem (nicht gezeigten) Kühlkörper herzustellen.
  • Ein homogener Schichtauftrag mit der in 1 gezeigten Schablone löst diese Aufgabe allerdings nur teilweise, da unterschiedliche Abstände zwischen der Bodenplatte und dem Kühlkörper durch eine Wärmeleitpaste konstanter Dicke nicht ausgeglichen werden. Im Fall der 2 kann es bei einem homogenen Schichtauftrag mittels der in 1 gezeigten Siebdruckschablone 10 mit einer Dicke, die kleiner ist als der Abstand zwischen Maximum 26 und Minimum 27 dazu kommen, dass sich am Minimum 27 der Bodenplattenoberfläche 25 eine Luftblase zwischen der Bodenplatte und dem (nicht gezeigten) Kühlkörper bildet. Eine homogene Dicke der Wärmeleitpaste 40, die größer ist als der Abstand zwischen dem Maximum 26 und Minimum 27 führt hingegen zu einem übermäßigen Schichtauftrag auf anderen Bereichen der Bodenplattenoberfläche 25. Ein vergrößerter thermischer Übergangswiderstand zwischen der Boden platte 2 und dem oberhalb der Bodenplatte 2 angeordneten Kühlkörper in diesen Bereichen ist die Folge.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Aufbringen einer Materialschicht auf einer unebenen Oberfläche bereitzustellen, wobei die Materialschicht eine ebene Oberfläche auf der unebenen zu beschichtenden Oberfläche ausbildet und die Schichtdicke so groß wie notwendig und so klein wie möglich ist.
  • Die Aufgabe wird durch eine Schablone gelöst, die über mehrere Öffnungen mit unterschiedlichen Querschnittsflächen verfügt. Die Anordnung der Öffnungen auf der Schablone und die Querschnittsflächen der Öffnungen werden derart aus der zu bedeckenden Oberfläche hergeleitet, dass die Schicht auf der unebenen Oberfläche eine vorgegebene Schichtdicke zwischen Modulbodenplatte und Kühlkörper nach dem Anschrauben des Moduls nicht unterschreitet.
  • Das Höhenprofil der zu bedeckenden Oberfläche wird messtechnisch erfasst und in unterschiedliche Flächenabschnitte mit im Wesentlichen konstanter Schichtdicke eingeteilt. Die Querschnittsfläche jeder Öffnung ist proportional zu jeweils einem Flächenabschnitt von im Wesentlichen konstanter Schichtdicke sowie dem Kehrwert der Schablonendicke. Die erfindungsgemäße Schablone erfährt also eine individuelle Anpassung an das Höhenprofil der zu bedeckenden Oberfläche.
  • Neben einem homogenen Schichtauftrag ist es mit der erfindungsgemäßen Schablone möglich, unterschiedliche Mengen an Wärmeleitpaste an unterschiedlichen Stellen auf der zu bedeckenden unebenen Oberfläche 25 der Bodenplatte 2 wiederholbar zu platzieren. Ein Kontakt zwischen Modul und Kühlkörper mit minimiertem thermischen Übergangswiderstand wird erreicht und Stellen, an denen sich Lufteinschlüsse bilden können, werden mit Wärmeleitpaste aufgefüllt.
  • Ein Aspekt der vorliegenden Erfindung besteht in einem möglichst dünnem Auftrag der Wärmeleitpaste zwischen Bodenplatte 2 und Kühlkörper. Da die Wärmeleitfähigkeit von Folien und Pasten schlecht ist gegenüber der von Kupfer und Aluminium, wird eine minimierte Schichtdicke der Wärmeleitpaste zwischen Bodenplatte und Kühlkörper angestrebt. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Schichtauftrag wird die Wärmeleitpaste in geeigneter Menge lediglich an denjenigen Stellen dicker aufgetragen, wo diese benötigt wird. Ein fehlender bzw. übermäßiger Schichtauftrag zwischen Bodenplatte und Kühlkörper wird vermieden.
  • Öffnungsquerschnitte in der Schablone mit einfachen geometrischen Formen, beispielsweise Kreise oder Langlöcher, sind vorteilhaft, da der Berechnungsaufwand für die Auslegung der Querschnittsflächen und der Herstellungsaufwand (Fräsen, Schneiden etc.) gegenüber einer beliebigen Querschnittsform geringer ausfallen. Auch andere Formen für die Öffnungen der Schablone sind möglich.
  • Um einen über die abzudeckende Oberfläche 25 vollständigen Schichtauftrag einer Wärmeleitpaste 40 zu gewährleisten, kann die bei der Berechnung der Öffnungsquerschnittsflächen herangezogene Schablonendicke größer gewählt werden als diejenige der nachfolgend hergestellten Schablone. Alternativ kann auch die hergestellte Schablonendicke größer gewählt werden als die zur Berechnung der Öffnungsquerschnittsflächen herangezogene Schablonendicke. Üblich sind Sicherheitszugaben bei der Schablonendicke von ca. 1/5 der Ausgangsschablonendicke. Mögliche Absolutwerte bei den Sicherheitszugaben zu der Ausgangsschablonendicke liegen im Bereich von 20 μm.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand der in den Figuren dargestellten Beispiele näher erläutert. In den Figuren bezeichnen, sofern nicht anders angegeben, gleiche Bezugszeichen gleiche Bauteile mit gleicher Bedeutung. Es ist:
  • 1 eine Draufsicht auf eine herkömmliche Schablone mit gleichartigen und gleichmäßig verteilten Öffnungen,
  • 2 ein räumliche Darstellung einer Oberflächenstruktur einer Bodenplatte eines Leistungshalbleiterbauelementes,
  • 3a ein Höhenprofil einer Oberfläche einer Bodenplatte eines Leistungshalbleiterbauelementes,
  • 3b ein Höhenprofil einer Oberfläche einer Bodenplatte eines Leistungshalbleiterbauelementes mit überlagertem Raster,
  • 3c ein Höhenprofil einer Oberfläche einer Bodenplatte eines Leistungshalbleiterbauelementes mit zusammengefassten Bereichen, die im Wesentlichen gleiche Höhenwerte aufweisen,
  • 3d ein Höhenprofil der Bodenplatte aus 3a bis 3c mit Bereichen von im Wesentlichen gleichen Höhenwerten der 3c und Schichtdickenangaben aus einer Maßstabsverschiebung der Höhenangaben,
  • 4 ein schematische Darstellung einer Schablone zur Berechnung der Querschnittsfläche einer Öffnung,
  • 5 eine Darstellung von zusammengefassten Bereichen von im Wesentlichen gleicher Schichtdicke mit Öffnungsdurchmesserwerten in einer ersten Ausführung,
  • 6 eine Darstellung von zusammengefassten Bereichen von im Wesentlichen gleicher Schichtdicke mit Öffnungsdurchmesserwerten in einer zweiten Ausführung,
  • 7 eine Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Schablone,
  • 8 eine Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Schablone in einer zweiten Ausführung.
  • In den 3a bis 3d ist die Erfassung des Oberflächenprofils des Leistungshalbleitermoduls mit einem geeigneten Messverfahren und der Umsetzung dieser Daten in eine Schablone mit unterschiedlichen Öffnungsquerschnittsflächen dargestellt. Das Oberflächenprofil 25 einer Bodenplatte 2 eines Leistungshalbleitermoduls ist in 3a dargestellt. Das Höhenprofil 29 zeigt Bereiche von Maxima 26 und Minima 27. Ein Bereich mittlerer Höhe 28 befindet sich in der Mitte des Höhenprofils 25. Dem Höhenprofil überlagert ist die äußere Kontur der zu fertigenden Schablone 1 mit einer Länge 21 und Breite 22. Der beispielhafte Höhenmaßstab 29 weist Höhenunterschiede von bis zu 50 μm auf. Das Höhenprofil wird in 3a gemessen, indem das Leistungshalbleitermodul auf eine Glasplatte aufgespannt wird, um die Unebenheit der Bodenplatte 2 im angeschraubten Zustand (zum Kühlkörper) zu messen. Danach wird die Glasplatte mit der Bodenplatte 2 unter ein Messgerät gelegt und ausgerichtet. Üblicherweise wird als Instrument zur Aufnahme des Höhenprofils 29 ein Weißlichtinterferometer eingesetzt. Das Weißlichtinterferometer misst das Höhenprofil 29 der Bodenplatte 2 abschnittsweise aus, wodurch sich der in 3a gestellte Scan-Plott ergibt.
  • In 3b ist das Höhenprofil 29 der Bodenplatte 2 aus 3a zu sehen, wobei ein Raster 3 dem Höhenprofil 25 überlagert wurde. Das Rastermaß als Multiplikation der Länge 31 mit der Breite 32 einer Rastereinheit 33 beträgt beispielsweise 5 × 5 mm. Das Rastermaß richtet sich an den Abmessungen der Bodenplatte 2 aus, wobei die Länge und Breite der Bodenplatte 2 der Länge 21 und Breite 22 der Schablone 1 entsprechen können. Die Abmessungen einer Bodenplatte des in 3 zu sehenden Höhenprofils betragen üblicherweise 107 × 37 mm. Die Höhenprofilskala 29 weist Höhenunterschiede zwischen dem tiefsten und höchsten Punkt der Bodenplatte 2 von 60 μm (–30 bis +30 μm) auf. Die Skala für die gemessenen Höhenunterschiede im Höhenprofil 29 kann zwischen –100 und 100 μm liegen.
  • 3c zeigt das Raster 3 der 3b, wobei Bereiche mit im Wesentlichen gleichen Höhenwerten zusammengefasst sind. Die Zusammenfassung der Rasterelemente 33 zu Bereichen von annähernd höhengleichen Werten geschieht über eine Ungleichung. Demnach sind in den Bereichen 36 Höhenwerte zusammengefasst, die von dem Wert 28 um +/–5 μm abweichen, also –5 μm < Höhenwert < +5 μm. Im Wesentlichen höhengleiche Bereiche werden, abhängig von den Rastermaßen 31, 32 beispielsweise mit Höhenunterschieden zwischen 5 und 10 μm zusammengefasst. Man erkennt, dass höhengleiche zusammengefasste Bereiche unterschiedliche Formen im Rahmen der Rastergeometrie 3 annehmen können. Neben Bereichen mit Rasterelementgröße 33 sind größere quadratische Bereiche 35 zu sehen. Auch rechteckige Bereiche 36 können vorkommen. Auffallend ist, dass die Struktur der zusammengefassten Bereiche mit den im Wesentlichen gleichen Höhenwerten symmetrisch ausfällt. Diese Symmetrie ist ausschließlich auf das individuelle Höhenprofil 29 der Bodenplatte 2 zurückzuführen. Es kann daher selbstverständlich auch unsymmetrisch ausfallen.
  • 3d zeigt die zusammengefassten Bereiche von den wesentlichen gleichen Höhenwerten der 3c, wobei die Höhen des Höhenprofils 29 in den zusammengefassten Bereichen 33, 35, 36 in Schichtdickenwerte 44 überführt sind. Die Überführung der Höhenwerte des Höhenprofils 29 in die Schichtdickenwerte 39, 41, 42 erfolgt durch eine einfache Verschiebung des Maßstabs 29 in den Schichtdickenmaßstab 44. Hierzu wird der im Maßstab 29 mittig vorhandene Nullpunkt nach außen (in 3d nach rechts) verschoben und das Vorzeichen des Maßstabs 29 invertiert. Aus der Höhenprofilskala 29 von –30 μm bis +30 μm wird die Schichtdickenskala 44 von 60 μm bis 0 μm. Die gemittelte Schichtdicke 39 für den zusammengefassten Höhenprofilbereich 36 bezieht sich ausschließlich auf ein Rechteck der Länge 37 und Breite 38.
  • Der Übergang von den Schichtdicken 39, 41, 42 in die zur Herstellung der Schablone notwendigen Öffnungsquerschnittsflächen ist schematisch in 4 gezeigt. Das Raster 3 gibt hierbei die kleinsten zusammengefassten Bereiche von im Wesentlichen gleicher Schichtdicke mit den Abmaßen 31, 32 vor. Die in 3d angegebenen Schichtdicken der zusammengefassten Bereiche 48 werden in Öffnungsquerschnittsflächen 47 überführt. Hierzu wird das Volumen der Länge 32, Breite 31 und Schichtdicke 44 des zusammengefassten Bereiches 33 gleichgesetzt mit dem Volumen aus der Öffnungsquerschnittsfläche 47 und der Schablonendicke 9. Im einfachen Fall eines Öffnungsquerschnittes in Form eines Kreises ergibt sich, dass der Durchmesser (6D) der kreisförmigen Öffnung (48) der Schablone definiert ist über die Gleichung
    Figure 00080001
  • ÖD:
    Durchmesser der Öffnung in mm
    SL:
    Länge (32) der aufzutragenden Schicht in mm
    SB:
    Breite (31) der aufzutragenden Schicht in mm
    SD:
    Dicke (44) der aufzutragenden Schicht in μm
    PD:
    Plattendicke (9) in μm.
  • Übliche Durchmesser ÖD betragen zwischen 2 und 5 mm.
  • In allgemeiner Form ergibt sich die Öffnungsquerschnittsfläche (QF) über die Gleichung
    Figure 00080002
  • Abhängig von der Schablonendicke 9, die beispielsweise zwischen 75 und 120 μm beträgt, sind für das Schichtdickenprofil 4 der 3d die Öffnungsdurchmesser ÖD in dem Öffnungs durchmesserprofil 5 in 5 eingetragen. Die Öffnungsdurchmesser betragen zwischen 2,5 mm (51) und 4,7 mm (52), wobei der Lochdurchmesser für den Bereich 36 4,2 mm (56) beträgt. Die Bereiche 34 sind nicht für den Materialschichtauftrag bestimmt. Diese Bereiche an den Ecken der zu fertigenden Schablone dienen der Abdeckung von Befestigungsvorrichtungen an dem Leistungshalbleitermodul während des Auftrags der Wärmeleitpaste.
  • Das Öffnungsdurchmesserprofil 6 für eine zweite Ausführung der Erfindung ist in 6 gezeigt. Die Öffnungsdurchmesser unterscheiden sich um nahezu den Faktor 2 von denen der 5, ersichtlich aus dem minimalen Wert 1,26 (61) und dem maximalen Wert 4,72 (62). Die Bereiche 68 dienen, ähnlich den Bereichen 34 in 5, dem Schutz von Befestigungsvorrichtungen am Leistungshalbleiterbauelement vor einem Schichtauftrag.
  • Eine Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Schablone 7 ist in 7 gezeigt. Man erkennt, dass neben den kreisförmigen Öffnungen 71, 72, 73 zusätzlich Langlöcher 74 in die Schablone eingebracht sind. Die Querschnittsflächen 76 der Langlöcher 74 berechnen sich nach der zweiten oben genannten Formel aus dem Schichtdickenprofil 4 der 3d. Bei der Berechnung der Querschnittsflächen 75 der Öffnungen 71, 72, 73, 74 der Schablone 7 ist es günstig, bei der Berechnungsschablonendicke PD einen zusätzlichen Wert zu der tatsächlichen späteren Schablonendicke 9 zu addieren. In einer Ausführung der Erfindung beträgt diese Sicherheitszugabe 20 μm bei einer Schablonendicke von 100 μm. Auch kann die tatsächliche späteren Schablonendicke 9 gegenüber der bei der Berechnung verwendeten Schablonendicke PD vergrößert sein.
  • Ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Schablone 8 ist in 8 gezeigt. Lochöffnungen 81, 82, 83 und langlochförmige Öffnungen 84, 85 in unterschiedlichen Größen sind zu sehen. Die Ecken der Schablone 88 dienen, wie die Bereiche 78 der Schablone 7, nicht dem Schichtauftrag auf das Leistungshalbleitermoduls. In diesen Bereichen befinden sich beispielsweise Anschraublöcher des Moduls und daher keine Öffnungen in der Schablone 8. Ein Vergleich der Schablonen 7 und 8 zeigt, dass abhängig vom Rastermaß 31, 32, der Schablonendicke 9 und der aufzubringenden Schichtdicke 44 das Öffnungsdurchmesserprofil 8 gegenüber dem Profil 7 verfeinert ist. Mit der Zahl der Öffnungen steigt der Berechnungs- und Herstellungsaufwand. Die Schablonen 7, 8 können über CAD-Zeichnungen der Lochdurchmesserprofile 5, 6 und der Schichtdickenprofile 4 hergestellt werden.
  • Mit den Schablonen 7, 8 kann auf ein Leistungshalbleiterbauelement, dessen Höhenprofil 25 zur Auslegung der Schablonen 7, 8 herangezogen wurde, eine minimierte Wärmeleitpastenschichtdicke aufgebracht werden. Aufgrund dieser reproduzierbar minimierten Wärmeleitpastenschichtdicke folgt ein optimierter thermischer Übergangswiderstand zwischen dem Leistungshalbleitermodul und dem Kühlkörper.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 10320186 A1 [0005]

Claims (27)

  1. Schablone konstanter Dicke (9) zum Auftragen einer Materialschicht (40) auf einer unebenen Oberfläche (25) mit mindestens zwei Öffnungen (71, 74, 81, 84), die voneinander unterschiedliche Querschnittsflächen (75, 76) aufweisen, wobei jede Querschnittsfläche (75, 76) proportional ist zu der Länge (37), Breite (38) und Dicke (39) jeweils eines Bereiches (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) mit konstanter Dicke (39) sowie dem Kehrwert der Schablonendicke (9).
  2. Schablone nach Anspruch 1, wobei die Öffnungen Querschnittsformen von Kreisen (71, 81) und/oder Langlöchern (74, 84) aufweisen.
  3. Schablone nach Anspruch 1 oder 2, wobei die aufzutragende Materialschicht (40) eine Paste ist.
  4. Schablone nach Anspruch 3, wobei die Paste eine Wärmeleitpaste ist, die sich zwischen einer Bodenplatte (2) eines Leistungshalbleitermoduls und einem Kühlkörper befindet.
  5. Schablone nach Anspruch 4, wobei die unebene Oberfläche (25) die Oberfläche der Bodenplatte (2) eines Leistungshalbleitermoduls ist.
  6. Schablone nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei die Schablone (7, 8) eine Siebdruckschablone ist.
  7. Schablone nach Anspruch 6, wobei die Oberflächenstruktur (25) der Bodenplatte (2) messtechnisch erfasst ist, im wesentlichen gleiche Oberflächenhöhen (29) über eine Ungleichung zu Flächenbereichen (33, 35, 36) gleicher Höhe (28) zusammengefasst sind, für jeden der Bereiche gleicher Höhe (33, 35, 36) die Querschnittsfläche (75, 76) berechnet ist, und die Siebdruckschablone mit den berechneten Querschnittsflä chen spezifisch für die jeweilige bodenplatte (2) hergestellt ist.
  8. Schablone nach Anspruch 7, wobei das Rastermaß für den kleinsten Flächenbereich (33) gleicher Höhe (28) ungefähr 5 × 5 mm beträgt.
  9. Schablone nach einem der Ansprüche 5 bis 8, wobei durch die Verwendung der Siebdruckschablone (7, 8) in einem Siebdruckverfahren ein reproduzierbarer Auftrag (40) einer Wärmeleitpaste auf der unebenen Oberfläche (25) der Bodenplatte (2) derart erfolgt, dass unter Vermeidung von Luftblasen die Wärmeleitpaste (40) den Raum zwischen dem Leistungshalbleitermodul und dem Kühlkörper vollständig ausfüllt.
  10. Schablone nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone größer oder kleiner ist als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  11. Schablone nach Anspruch 10, wobei die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone um den Faktor 1/5 größer oder kleiner ist als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  12. Schablone nach Anspruch 10, wobei die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone um 20 μm größer oder kleiner ist als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  13. Schablone nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei die Dicke (39) eines Bereiches (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) mit konstanter Dicke (39) im wesentlichen 80 μm beträgt.
  14. Schablone nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei der Durchmesser (6D) einer kreisförmigen Öffnung (48) zwi schen 2 und 5 mm beträgt und die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2) Werte zwischen 75 und 120 μm aufweist.
  15. Verfahren zum Auftrag einer Materialschicht (40) auf eine unebene Oberfläche (25), bei dem eine Schablone (7, 8) konstanter Dicke (9) mit mindestens zwei Öffnungen (71, 74, 81, 84) verwendet wird, bei der die Öffnungen (71, 74, 81, 84) mit voneinander unterschiedliche Querschnittsflächen (75, 76) ausgeführt werden, wobei jede Querschnittsfläche (75, 76) so ausgeführt ist, dass diese proportional wird zu der Länge (37), Breite (38) und Dicke (39) jeweils eines Bereiches (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) mit konstanter Dicke (39) sowie dem Kehrwert der Schablonendicke (9).
  16. Verfahren nach Anspruch 15, bei dem die Öffnungen der Schablone (7, 8) als Querschnittsformen von Kreisen (71, 81) und Langlöchern (74, 84) ausgeführt sind.
  17. Verfahren nach Anspruch 15 oder 16, bei dem die aufzutragende Materialschicht (40) als Paste aufgebracht wird.
  18. Verfahren nach Anspruch 17, bei dem eine Wärmeleitpaste als Paste aufgebracht wird, die sich zwischen einer Bodenplatte (2) eines Leistungshalbleitermoduls und einem Kühlkörper befindet.
  19. Verfahren nach Anspruch 18, bei dem als unebene Oberfläche (25) die Oberfläche der Bodenplatte (2) eines Leistungshalbleitermoduls verwendet wird.
  20. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 19, bei dem die Schablone (7, 8) als Siebdruckschablone verwendet wird.
  21. Verfahren nach Anspruch 20, bei dem die Oberflächenstruktur (25) der Bodenplatte (2) messtechnisch erfasst wird, im wesentlichen gleiche Oberflächenhöhen (29) über eine Ungleichung zu Flächenbereichen (33, 35, 36) gleicher Höhe (28) zusammengefasst werden, für jeden der Bereiche gleicher Höhe (33, 35, 36) die Querschnittsfläche (75, 76) berechnet wird, und die Siebdruckschablone (7, 8) mit den berechneten Querschnittsflächen (75, 76) spezifisch für die jeweilige bodenplatte (2) verwendet wird.
  22. Verfahren nach Anspruch 21, bei dem ein Rastermaß für den kleinsten Flächenbereich (33) gleicher Höhe (28) ungefähr 5 × 5 mm verwendet wird.
  23. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 22, bei dem durch die Verwendung der Siebdruckschablone (7, 8) in einem Siebdruckverfahren ein reproduzierbarer Auftrag (40) einer Wärmeleitpaste auf der unebenen Oberfläche (25) der Bodenplatte (2) derart aufgebracht wird, dass unter Vermeidung von Luftblasen von der Wärmeleitpaste (40) der Raum zwischen dem Leistungshalbleitermodul und dem Kühlkörper vollständig ausgefüllt wird.
  24. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 23, bei dem die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone größer oder kleiner gewählt wird als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  25. Verfahren nach Anspruch 24, bei dem die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone um den Faktor 1/5 größer oder kleiner gewählt wird als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  26. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem die zur Berechnung der Querschnittsflächen (75, 76) herangezogene Plattendicke der Schablone um 20 μm größer oder kleiner gewählt wird als die Plattendicke (9) der verwendeten Platte (2).
  27. Verfahren nach einem der Ansprüche 15 bis 26, bei dem eine Dicke (39) eines Bereiches (36) der aufzutragenden Materialschicht (40) mit konstanter Dicke (39) im Wesentlichen 80 μm verwendet wird.
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