DE102006062831B4 - Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors und Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor sowie elektronische Bauelement-Anordnung parallel geschalteter Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistoren - Google Patents
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Abstract
Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors, bei dem • auf bzw. über einem Substrat eine Fin-Struktur gebildet wird; • in der Fin-Struktur ein erster dotierter Anschluss-Bereich und ein zweiter dotierter Anschluss-Bereich gebildet werden, wobei der erste Anschluss-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich einen ersten Leitfähigkeitstyp aufweisen; • ein erster Body-Bereich und ein zweiter Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet werden, wobei der erste Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Body-Bereich gebildet wird, und wobei der zweite Body-Bereich zwischen dem ersten Body-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet wird; • der erste Body-Bereich und der zweite Body-Bereich mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert werden, derart, dass der erste Body-Bereich den ersten Leitfähigkeitstyp aufweist, und dass der zweite Body-Bereich einen zu dem ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist; • ein Gate-Bereich auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich und auf bzw. über zumindest einem Teilbereich des...
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors und einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor sowie eine elektronische Bauelement-Anordnung.
- Elektrostatische Entladungen (Electrostatic Discharge, ESD) stellen eine permanente Bedrohung für integrierte Schaltkreise (Integrated Circuit, IC) dar. Bei einem ESD-Ereignis kommt es, ausgelöst durch eine große elektrische Spannungsdifferenz, zu einem kurzen elektrischen Entladungspuls, bei dem ein elektrischer Strom mit einer hohen Stromstärke zum Beispiel über ein normalerweise elektrisch isolierendes Material (z. B. ein Gate-Oxid eines Feldeffekttransistors) fließen kann und dadurch Schäden an einem elektronischen Bauelement des ICs hervorrufen kann. Ein Schutz vor elektrostatischen Entladungen bzw. ESD-Ereignissen ist deshalb für alle elektronischen Bauteile eines Schaltkreises zwingend erforderlich.
- Die Entwicklung effizienter ESD-Schutzmechanismen stellt insbesondere beim Einsatz fortgeschrittener Prozesstechnologien wie z. B. FDSOI-Technologien (FDSOI: Fully Depleted Silicon an Insulator = vollständig an Ladungsträgern verarmte Silizium-auf-Isolator-Struktur) oder FinFET-Technologien (FinFET: Fin Field Effect Transistor = Feldeffekttransistor mit einer Fin-Struktur bzw. Steg-Struktur) bzw. MuGFET-Technologien (MuGFET: Multi-Gate Field Effect Transistor = Feldeffekttransistor mit einer Steg-Struktur, bei der ein Kanalbereich mit Hilfe eines Gates von mindestens drei Seiten aus angesteuert wird) eine wachsende Herausforderung dar, angesichts der immer kleiner werdenden Abmessungen der elektronischen Bauteile und der damit verbundenen zunehmenden Empfindlichkeit gegenüber elektrischen Überspannungen.
- Um einen integrierten Schaltkreis vor Schäden zu bewahren, die durch elektrostatische Entladungen hervorgerufen werden, müssen ESD-Schutz-Elemente an jedem Eingangs-/Ausgangs-Anschluss (I/O-Pad) und an jedem Versorgungs-Anschluss (supply pad) des ICs installiert werden. Diese Schutz-Elemente müssen sich sofort einschalten, sobald eine Entladung auftritt, und müssen den Voltage Overshoot, d. h. das Überschreiten eines kritischen Spannungswertes, wirksam begrenzen. Gleichzeitig sollten sie durch die Entladung, welche elektrische Ströme mit einer Stromstärke von mehreren Ampere durch die I/O-Einrichtungen und die Schutz-Elemente zwingt, selbst nicht beschädigt werden.
- Ein bekanntes effizientes Schutz-Element stellt ein Thyristor (Silicon Controlled Rectifier, SCR) dar.
- Er besteht aus einem n+-Kontakt-Bereich und einem p+-Kontakt-Bereich sowie zwei aneinandergrenzenden niedrig dotierten Bereichen unterschiedlichen Leitfähigkeitstyps (i. e. einem schwach p-dotierten Bereich und einem schwach n-dotierten Bereich) dazwischen, welche so angeordnet sind, dass sich eine pnpn-Vierschichtstruktur mit drei pn-Übergängen ergibt.
-
1 zeigt als Beispiel eine schematische Querschnittsansicht eines herkömmlichen SCRs100 , welcher in einer SOI-Technologie realisiert ist. Auf einer vergrabenen Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)101 des SCRs100 sind ein stark p-dotierter (P+) erster Kontakt-Bereich102 und ein stark n-dotierter (N+) zweiter Kontakt-Bereich103 ausgebildet. Auf dem ersten Kontakt-Bereich102 ist eine erste Silizid-Schicht102a ausgebildet, welche mittels eines ersten elektrischen Kontakts102b kontaktiert wird. Auf dem zweiten Kontakt-Bereich103 ist eine zweite Silizid-Schicht103a ausgebildet, welche mittels eines zweiten elektrischen Kontakts103b elektrisch kontaktiert wird. Der erste Kontakt-Bereich102 , die darauf ausgebildete erste Silizid-Schicht102a und der erste elektrische Kontakt102b bilden eine Anode (in1 durch ”Anode” gekennzeichnet) des SCRs100 , während der zweite Kontakt-Bereich103 , die darauf ausgebildete zweite Silizid-Schicht103a und der zweite elektrische Kontakt103b eine Kathode des SCRs100 bilden (in1 durch ”Cathode” gekennzeichnet). Zwischen dem ersten Kontakt-Bereich102 und dem zweiten Kontakt-Bereich103 sind ein schwach n-dotierter (N–) erster Body-Bereich104 und ein schwach p-dotierter (P–) zweiter Body-Bereich105 ausgebildet. - Anschaulich kann der SCR
100 aufgefasst werden als zwei lateral angeordnete, ineinander verschränkte Bipolartransistoren unterschiedlichen Typs, d. h. als ein pnp-Transistor (gebildet aus dem ersten Kontakt-Bereich102 (P+), dem ersten Body-Bereich104 (N–) und dem zweiten Body-Bereich105 (P–)) und ein npn-Transistor (gebildet aus dem ersten Body-Bereich104 (N–), dem zweiten Body-Bereich105 (P–) und dem zweiten Kontakt-Bereich103 (N+)), wobei der Kollektor des pnp-Transistors die Basis des npn-Transistors bildet und umgekehrt. - Ein Problem bei der Herstellung eines SCRs wie dem in
1 gezeigten SCR100 besteht darin, die beiden niedrigdotierten Body-Bereiche104 (N–) bzw.105 (P–) zwischen den beiden hoch dotierten Kontakt-Bereichen102 (P+) und103 (N+) des SCRs100 zu realisieren. - In herkömmlichen Bulk-CMOS-Technologien (CMOS: Complementary Metal Oxide Semiconductor) werden sogenannte Wannen-Implantationen bzw. Well Implants (z. B. Nwell-Implants und/oder Pwell-Implants) verwendet, um die niedrigdotierten Basis-Bereiche eines SCRs auszubilden, während in herkömmlichen PDSOI-Technologien (PDSOI: Partially Depleted Silicon an Insulator = teilweise an Ladungsträgern verarmte Silizium-auf-Isolator-Struktur) sogenannte Schwellenspannungs-Implantationen bzw. Vt-Implants zum Ausbilden der niedrigdotierten Body-Bereiche verwendet werden.
- Herkömmliche Verfahren (z. B. in einer PDSOI-Technologie) zum Realisieren eines lateralen SCRs beruhen darauf, dass während des Ausbildens der hochdotierten (P+ bzw. N+) Kontakt-Bereiche (z. B. durch Ionenimplantation) die P+-Dotierung bzw. N+-Dotierung in den Bereichen, in denen eine n-Wannen-Dotierung (N–) bzw. eine p-Wannendotierung (P–) erwünscht ist (mit anderen Worten in den Bereichen, welche als schwach dotierte Body-Bereiche des SCRs dienen sollen) blockiert wird, und dass außerdem eine Silizid-Bildung über den Body-Bereichen blockiert wird, um Kurzschlüsse zwischen den hochdotierten Kontakt-Bereichen zu vermeiden.
- Die oben beschriebenen Verfahren weisen folgende Nachteile auf:
- 1) Das Blockieren der Silizid-Bildung erfordert eine spezielle Maske (Silizid-Blockier-Maske), welche in einem Standard-FDSOI-Prozess oder einem Standard-MuGFET-Prozess unter Umständen nicht zur Verfügung steht.
- 2) Zum Definieren des Abstandes zwischen den hochdotierten Elektroden-Bereichen und dem n-Wannenbereich (N–) bzw. p-Wannenbereich (P–) müssen nicht-selbstjustierende Prozessschritte verwendet werden, was zu einer größeren Streuung der Auslöse-Spannung (Trigger-Spannung) eines SCRs und/oder zum Auftreten von Leckströmen in dem SCR führen kann.
- 3) Falls – wie es für einen MuGFET-Prozess geplant ist – weder eine n-Wannen-Implantation (bzw. p-Wannen-Implantation) noch eine entsprechende Schwellenspannungs-Implantation (Vt-Implantation) in dem Prozess-Fluss zur Verfügung stehen, so kann das oben beschriebene Verfahren zum Ausbilden der niedrig dotierten Body-Bereiche von vornherein nicht durchgeführt werden.
- Bei einem MuGFET-Prozess führt eine Wannen-Implantation oder eine Vt-Implantation im Allgemeinen dazu, dass die Dotieratome statistisch innerhalb der einzelnen Transistor-Finger-Struktur verteilt sind, wobei jeder einzelne Transistor-Finger nur einige wenige Dotieratome aufweist. Aufgrund der statistischen Verteilung dieser äußerst geringen Anzahl an Dotieratomen würde ein in einer MuGFET-Technologie auf diese Weise hergestelltes MOSFET-Device oftmals Fluktuationen der Schwellenspannung Vt, des ”An”-Stromes Ion und des ”Aus”-Stromes Ioff aufweisen. Dem Verzicht auf eine Wannen-Implantation liegt daher die Idee zugrunde, diese Fluktuationen zu verringern.
- Es wird intrinsisches Silizium-Material für die Body-Regionen des NFETs und des PFETs verwendet. In diesem Fall müssen die Schwellenspannungen des NFETs und des PFETs mittels geeigneter Gate-Materialien angepasst werden.
- Es wird erwartet, dass in Zukunft Multigate-FET-Devices (MuGFET) bzw. FinFET-Devices verwendet werden aufgrund der begrenzten Skalierbarkeit von herkömmlichen Bulk-CMOS-Technologien. Diese FinFET-Devices werden üblicherweise für Hochgeschwindigkeits-Logik-Kern-Anwendungen entworfen, welche Anwendungen sich durch niedrige Versorgungsspannungen (z. B. 0.8 V bis 1.2 V) auszeichnen. Um die Prozesskomplexität gering zu halten, werden Devices für die üblicherweise höheren I/O-Versorgungsspannungen (z. B. 1.5 V bis 2.5 V und höher) benötigt, welche Devices keine zusätzlichen Prozessschritte bei der Herstellung erfordern.
-
2 zeigt eine in derUS 6 720 619 B1 beschriebene herkömmliche FinFET-Struktur200 . Der FinFET200 weist eine Fin-Struktur (Finne)209 auf, welche auf einer ersten elektrisch isolierenden Schicht201 über einem Substrat (nicht gezeigt) ausgebildet ist. Auf der ersten isolierenden Schicht201 ist eine zweite isolierende Schicht201' ausgebildet, wobei die Finne209 von der zweiten isolierenden Schicht201' umgeben bzw. teilweise in die zweite isolierende Schicht201' eingebettet ist. Auf der Finne209 ist ein Gate-Dielektrikum206a ausgebildet, und auf einem Teilbereich des Gate-Dielektrikums206a sowie auf einem Teilbereich der zweiten isolierenden Schicht201' ist ein Gate206 ausgebildet. In [3] wird ein spezielles Herstellungsverfahren beschrieben zum Bilden des FinFET-Devices200 , welches FinFET-Device200 für Standard-Versorgungs-Spannungen geeignet ist. - Das vorgeschlagene FinFET-Device
200 ist jedoch nicht für hohe I/O-Versorgungsspannungen geeignet, da - (i) der Body des FinFETs
200 potentialfrei ist (Floating Body) - (ii) der FinFET
200 einen hohen Leckstrom im ”Aus”-Zustand (off-state) aufweist - (iii) der FinFET
200 einen Gate-induzierten Drain-Leckstrom aufweist, und - (iv) der FinFET
200 empfindlich gegenüber der Erzeugung von heißen Ladungsträgern (hot carrier generation) ist. -
3 zeigt einen weiteren herkömmlichen Drain-Extended-NMOS-(DE-NMOS)-Feldeffekttransistor300 (i. e. einen N-Kanal-MOSFET mit einem erweiterten Drain-Bereich) für konventionelle CMOS-Bulk-Technologien. Der DE-NMOS-Feldeffekttransistor300 weist einen in einem p-dotierten Substrat301 (P-substrate) ausgebildeten N-Wannenbereich322 (Nwell) sowie einen in dem Substrat301 ausgebildeten P-Wannenbereich323 (Pwell) auf, wobei der N-Wannenbereich322 und der P-Wannenbereich323 masken-ausgerichtet (maskaligned) sind und mittels Ionenimplantation dotiert sind. In dem N-Wannenbereich322 ist ein N+-dotierter Drain-Bereich302 ausgebildet, und in dem P-Wannenbereich323 ist ein N+-dotierter Source-Bereich303 ausgebildet. Ein Gate306 ist über einem Teilbereich des P-Wannenbereiches323 und über einem Teilbereich des N-Wannenbereiches322 ausgebildet. Der DE-NMOS-Transistor300 wird lateral mittels Grabenisolationsbereichen330 (Shallow Trench Isolation, STI) elektrisch isoliert. Die tatsächliche MOS-Kanal-Länge des DE-NMOS-Feldeffekttransistors300 wird bestimmt durch die gedruckte Gate-Länge abzüglich des Überlapps X in den N-Wannenbereich322 . - In CMOS-Bulk-Technologien ist es erforderlich, dass der N-Wannenbereich
322 und der P-Wannenbereich323 verhältnismäßig tief hinunter reichen (Tiefe ungefähr 1 μm bis 2 μm). Diese Technologien weisen eine signifikante vertikale und laterale Ausdiffusion der Dotieratome und damit der Position der pn-Übergänge auf. Daher besteht ein Problem bei einem DE-MOS-Device im Allgemeinen darin, die elektrisch wirksame Gate-Länge (i. e. den wesentlichen Design-Parameter) des Devices genau zu kontrollieren bzw. festzulegen. - Die Motivation für die Verwendung eines DE-MOS-Devices wie des in
3 gezeigten ist dessen Eignung für höhere Versorgungsspannungen. Dies wird durch den N-Wannenbereich322 erreicht, welcher bis unter die Gate-Elektrode306 reicht und somit einen erweiterten Drain-Bereich (Extended Drain), anders ausgedrückt eine Drain-Erweiterung (Drain Extension), des Transistors300 bildet. Aufgrund der niedrigeren Dotierstoff-Konzentration des N-Wannenbereiches322 , verglichen mit der Standard-N+-Drain-Dotierung, ist das elektrische Feld in dem Drain-Bereich des Transistors300 niedriger. Als Folge davon kann eine höhere Drain-Spannung verwendet werden, ohne dass das Problem der Erzeugung von heißen Ladungsträgern auftritt. - Ein Nachteil eines DE-MOS-Feldeffekttransistor-Devices besteht im Allgemeinen darin, dass ein DE-MOS-FET einen niedrigeren ”An”-Strom (On-current) und einen höheren ”An”-Widerstand (On-resistance) aufweist. Die in
3 gezeigte DE-MOS-Struktur300 ist zusätzlich nicht mit einer SOI-Technologie oder MUGFET-Technologie kompatibel. -
4 zeigt einen in einer Bulk-Technologie hergestellten herkömmlichen MOS-Feldeffekttransistor (MOS-FET)400 mit einem p-dotierten Substrat401 bzw. einem P-Wannenbereich401 sowie einem ersten in dem P-Substrat/P-Wannenbereich401 ausgebildeten N+-dotierten Source/Drain-Bereich402 und einem zweiten in dem P-Substrat/P-Wannenbereich401 ausgebildeten N+-dotierten Source/Drain-Bereich403 . Die N+-Dotierung der Source/Drain-Bereiche402 bzw.403 erfolgt unter Verwendung einer N+-Photomaske413 , deren Umriss in4 dargestellt ist. Auf dem ersten Source/Drain-Bereich402 ist eine erste Silizid-Schicht402a ausgebildet, welches mittels eines ersten elektrischen Kontakts402b elektrisch kontaktiert wird. Auf dem zweiten Source/Drain-Bereich403 ist eine zweite Silizid-Schicht403a ausgebildet, welche mittels eines zweiten elektrischen Kontakts403b elektrisch kontaktiert wird. Über dem P-Substrat/P-Wannenbereich401 ist zwischen dem ersten Source/Drain-Bereich402 und dem zweiten Source/Drain-Bereich403 ein Gate406 und ein Gate-Dielektrikum406a ausgebildet, an dessen Seiten zwei Spacer416 ausgebildet sind. Der MOS-FET400 weist ferner zwei in dem P-Substrat/P-Wannenbereich401 ausgebildete N-dotierte Extension-Bereiche404 auf, wobei jeweils ein Extension-Bereich404 neben dem ersten Source/Drain-Bereich402 bzw. neben dem zweiten Source/Drain-Bereich403 unterhalb eines Spacers416 ausgebildet ist. Weiterhin weist der MOS-FET400 zwei in dem P-Substrat/P-Wannenbereich401 ausgebildete P-halo-Implantations-Bereiche405 auf, wobei jeweils ein P-halo-Implantations-Bereich405 unterhalb eines Spacers416 ausgebildet ist. Das Ausbilden der P-halo-Implantations-Bereiche405 erfolgt unter Verwendung einer P-halo-Photomaske415 , deren Umriss in4 dargestellt ist. Die beiden Extension-Bereiche404 und die beiden P-halo-Implantations-Bereiche405 dienen zum Unterdrücken von Kurzkanal-Effekten in dem MOS-FET400 . - Ein Feldeffekttramsistor mit Fin-Struktur ist aus der
US 2004/02174 33 A1 - Die Erfindung schafft ein Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors, einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor sowie eine Bauelement-Anordnung mit den Merkmalen gemäß den unabhängigen Patentansprüchen.
- Beispielhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Patentansprüchen.
- Es wird ein Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors bereitgestellt, bei welchem Verfahren auf bzw. über einem Substrat eine Fin-Struktur gebildet wird. In der Fin-Struktur werden ein erster dotierter Anschluss-Bereich und ein zweiter dotierter Anschluss-Bereich gebildet, wobei der erste Anschluss-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich einen ersten Leitfähigkeitstyp aufweisen. Ferner werden ein erster Body-Bereich und ein zweiter Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet, wobei der erste Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Body-Bereich gebildet wird, und wobei der zweite Body-Bereich zwischen dem ersten Body-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet wird. Weiterhin werden der erste Body-Bereich und der zweite Body-Bereich mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert, derart, dass der erste Body-Bereich den ersten Leitfähigkeitstyp aufweist, und dass der zweite Body-Bereich einen zu dem ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist. Ferner wird ein Gate-Bereich auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich und auf bzw. über zumindest einem Teilbereich des ersten Body-Bereiches gebildet.
- Weiterhin wird ein Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor bereitgestellt, welcher eine Fin-Struktur aufweist. Die Fin-Struktur weist einen ersten dotierten Anschluss-Bereich und einen zweiten dotierten Anschluss-Bereich auf, welche auf bzw. über einem Substrat ausgebildet sind, wobei der erste Anschluss-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich einen ersten Leitfähigkeitstyp aufweisen; einen ersten dotierten Body-Bereich und einen zweiten dotierten Body-Bereich, welche zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildet sind, wobei der erste Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Body-Bereich ausgebildet ist, und wobei der zweite Body-Bereich zwischen dem ersten Body-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildet ist, und wobei der erste Body-Bereich den ersten Leitfähigkeitstyp aufweist und der zweite Body-Bereich einen zu dem ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist; einen Gate-Bereich, welcher auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich und zumindest einem Teilbereich des ersten Body-Bereiches ausgebildet ist.
- Weiterhin wird eine elektronische Bauelement-Anordnung mit einer Mehrzahl von parallel geschalteten elektronischen Bauelementen bereitgestellt.
- Mindestens eines der parallel geschalteten elektronischen Bauelemente der elektronischen Bauelement-Anordnung ist als Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor ausgebildet.
- Die nachfolgend beschriebenen Ausgestaltungen der Erfindung gelten für das Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors, den Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor und die elektronische Bauelement-Anordnung.
- Gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung ist das Substrat als ein Halbleitersubstrat ausgebildet, zum Beispiel als ein Silizium-Substrat. Das Substrat kann als intrinsisches Substrat, in anderen Worten als Substrat mit einer intrinsischen Leitfähigkeit, ausgebildet sein. Alternativ kann das Substrat schwach dotiert sein (zum Beispiel schwach p-dotiert), mit anderen Worten kann das Substrat eine schwache Hintergrund-Dotierung aufweisen.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung wird in dem Substrat eine elektrisch isolierende Schicht, zum Beispiel eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide Layer, BOX), gebildet. In einem als Silizium-Substrat ausgebildeten Substrat kann eine vergrabene Oxidschicht als vergrabene Siliziumdioxid-Schicht ausgebildet sein.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung weisen der erste Anschluss-Bereich und/oder der zweite Anschluss-Bereich und/oder der mindestens eine zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildete Body-Bereich Silizium-Material auf.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung werden der erste Anschluss-Bereich und/oder der zweite Anschluss-Bereich und/oder der mindestens eine zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildete Body-Bereich auf einer in dem Substrat ausgebildeten elektrisch isolierenden Schicht gebildet, zum Beispiel auf einer vergrabenen Oxidschicht (BOX). Die beiden Anschluss-Bereiche und der mindestens eine Body-Bereich können anschaulich in einer auf einer vergrabenen Oxidschicht ausgebildeten (beispielsweise intrinsischen) Schicht gebildet werden.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung werden der erste Anschluss-Bereich und/oder der zweite Anschluss-Bereich silizidiert. Mit anderen Worten wird auf dem ersten Anschluss-Bereich bzw. in einem oberen Teilbereich des ersten Anschluss-Bereiches eine erste Silizid-Schicht gebildet, und/oder auf dem zweiten Anschluss-Bereich bzw. in einem oberen Teilbereich des zweiten Anschluss-Bereiches wird eine zweite Silizid-Schicht gebildet.
- Die erste Silizid-Schicht und/oder die zweite Silizid-Schicht können so gebildet werden, dass ein Kurzschluss und/oder ein elektrischer Kontakt bzw. Schottky-Kontakt zwischen der ersten Silizid-Schicht und einem neben dem ersten Anschluss-Bereich ausgebildeten Body-Bereich bzw. zwischen der zweiten Silizid-Schicht und einem neben dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildeten Body-Bereich vermieden wird.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung wird auf dem ersten Anschluss-Bereich (bzw. auf einer auf dem ersten Anschluss-Bereich ausgebildeten ersten Silizid-Schicht) ein erster elektrischer Kontakt gebildet, und/oder auf dem zweiten Anschluss-Bereich (bzw. auf einer auf dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildeten zweiten Silizid-Schicht) wird ein zweiter elektrischer Kontakt gebildet. Mittels einer auf dem ersten Anschluss-Bereich ausgebildeten ersten Silizid-Schicht kann der Kontaktwiderstand zwischen dem ersten elektrischen Kontakt und dem ersten Anschluss-Bereich verringert werden, und mittels einer auf dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildeten zweiten Silizid-Schicht kann der Kontaktwiderstand zwischen dem zweiten elektrischen Kontakt und dem zweiten Anschluss-Bereich verringert werden.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung werden der erste Anschluss-Bereich und/oder der zweite Anschluss-Bereich unter Verwendung eines Ionen-Implantations-Verfahrens dotiert.
- Als Ionen-Implantations-Verfahren kann beispielsweise ein HDD-Implantations-Verfahren (HDD: Highly Doped Drain) verwendet werden.
- Unter einem HDD-Implantations-Verfahren kann ein Dotier-Verfahren verstanden werden, welches zum Beispiel bei der Herstellung eines Feldeffekttransistors dazu dient, einen oder mehrere hochdotierte Source/Drain-Bereiche auszubilden. Ein HDD-Implantations-Verfahren kann daher alternativ auch als Source/Drain-Implantations-Verfahren bezeichnet werden, und die mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens eingebrachten bzw. implantierten Dotierstoffatome können als HDD-Implants bzw. als Source/Drain-Implants bezeichnet werden.
- In diesem Zusammenhang ist anzumerken, dass in einem Standard-Prozessfluss, in welchem das Bilden eines Gates und eines oder mehrerer Spacer vorgesehen ist, eine HDD-Implantation gewöhnlich nach dem Bilden des Gates und nach dem Bilden des bzw. der Spacer erfolgt.
- HDD-Implants, welche zum n-Dotieren verwendet werden, können auch als N+-Implants bezeichnet werden, und HDD-Implants, welche zum p-Dotieren verwendet werden, können auch als P+-Implants bezeichnet werden.
- Bei einem HDD-Implantations-Verfahren kann das Einbringen der Dotierstoffatome in einen zu dotierenden Bereich (zum Beispiel den ersten Anschluss-Bereich und/oder den zweiten Anschluss-Bereich) entlang der Richtung der Oberflächennormalen erfolgen, mit anderen Worten senkrecht zur Oberfläche bzw. unter einem Implantationswinkel von 0° (0 Winkelgrad).
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung werden der erste Anschluss-Bereich und/oder der zweite Anschluss-Bereich derart dotiert (zum Beispiel mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens), dass sie eine Dotierstoffkonzentration von ungefähr größer als 1020 cm–3 aufweisen.
- Die nachfolgend beschriebenen Ausgestaltungen der Erfindung gelten für das Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors sowie den Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor.
- Der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor wird so gebildet, dass er eine Fin-Struktur bzw. eine Finne aufweist. Der erste Anschluss-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich und der zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich ausgebildete erste und zweite Body-Bereich werden so gebildet, dass sie eine Fin-Struktur (Finne), anders ausgedrückt eine Steg-Struktur, aufweisen bzw. bilden. Die Fin-Struktur bzw. Finne kann gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung auf einer elektrisch isolierenden Schicht, z. B. auf einer in dem Substrat ausgebildeten vergrabenen Oxidschicht (Buried Oxide, BOX) ausgebildet sein.
- Mit anderen Worten kann der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor in einer FinFET-Technologie bzw. einer MuGFET-Technologie hergestellt werden. Noch anders ausgedrückt ist das Verfahren zum Herstellen des Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors kompatibel mit einer FinFET-Technologie (MuGFET-Technologie) bzw. einem FinFET-Prozess-Fluss (MuGFET-Prozess-Fluss).
- Die nachfolgend beschriebenen Ausgestaltungen der Erfindung betreffen das Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors und gelten sinngemäß auch für den Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor.
- Bei einem Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor mit einer Silizium-auf-Isolator-Struktur können der erste Anschluss-Bereich, der zweite Anschluss-Bereich sowie der erste Body-Bereich und der zweite Body-Bereich des Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors auf einer elektrisch isolierenden Schicht, z. B. auf einer auf dem Substrat ausgebildeten vergrabenen Oxidschicht (Buried Oxide, BOX) ausgebildet sein.
- Ein in einer FinFET-Technologie hergestellter Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor kann auch als Drain-Extended-FinFET bezeichnet werden.
- Gemäß einem Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors bzw. ein Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (DE-MOS-FET) geschaffen, i. e. ein MOS-Feldeffekttransistor mit einem erweiterten Drain-Bereich (sogenannter Extended Drain), welcher Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor beispielsweise geeignet ist zur Verwendung bei hohen Eingangs-/Ausgangs-Versorgungsspannungen (Input/Output-Versorgungsspannung bzw. I/O-Versorgungsspannung), z. B. bei Versorgungsspannungen von ungefähr 1.5 V bis 2.5 V.
- Mit anderen Worten kann der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (DE-MOS-FET) für Anwendungen wie zum Beispiel I/O-Schaltkreise verwendet werden. Alternativ kann der DE-MOS-FET jedoch auch in anderen Anwendungen verwendet werden.
- Der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor kann in einer FinFET-Technologie (bzw. MuGFET-Technologie) oder in einer SOI-Technologie (z. B. FD-SOI-Technologie) hergestellt werden.
- Das Dotieren des ersten Body-Bereiches und/oder des zweiten Body-Bereiches kann unter Verwendung eines Vt-Implantations-Verfahrens erfolgen.
- Unter einem Vt-Implantations-Verfahren kann ein Dotier-Verfahren verstanden werden, welches zum Beispiel bei der Herstellung eines MOS-Feldeffekttransistors dazu dient, eine Schwellenspannung (threshold voltage) Vt in dem MOS-Feldeffekttransistor einzustellen.
- In diesem Zusammenhang ist anzumerken, dass in einem Standard-Prozessfluss, in welchem das Bilden eines Gates vorgesehen ist, eine Vt-Implantation gewöhnlich vor dem Bilden des Gates erfolgt.
- Die mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens eingebrachten bzw. implantierten Dotierstoffatome können als Schwellenspannungs-Implants (Vt-Implants) bzw. als Kanal-Implants bezeichnet werden.
- Bei Verwendung eines Vt-Implantations-Verfahrens kann das Einbringen der Dotierstoffatome in einen zu dotierenden Bereich senkrecht zur Oberfläche, d. h. unter einem Implantationswinkel von 0° (0 Winkelgrad) erfolgen.
- Mit Hilfe eines Vt-Implantations-Verfahrens kann eine Dotierstoffkonzentration von ungefähr 1017 cm–3 bis 1018 cm–3 in einem zu dotierenden Bereich erreicht werden.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung ist es vorgesehen, dass der erste Anschluss-Bereich, der erste Body-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich n-dotiert werden, und dass der zweite Body-Bereich p-dotiert wird, so dass ein Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor gebildet wird.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung ist es vorgesehen, dass der erste Anschluss-Bereich, der erste Body-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich p-dotiert werden, und dass der zweite Body-Bereich n-dotiert wird, so dass ein Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor gebildet wird.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung wird der Gate-Bereich so gebildet, dass ein Teilbereich des ersten Body-Bereiches von dem Gate-Bereich frei bleibt. Die Länge des von dem Gate-Bereich freien Teilbereiches kann ungefähr 50 nm bis 2000 nm betragen.
- Gemäß einer anderen Ausgestaltung der Erfindung ist es vorgesehen, dass einer oder mehrere der folgenden Bereiche des Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors silizidiert werden:
- • der erste Anschluss-Bereich;
- • der zweite Anschluss-Bereich;
- • der Gate-Bereich;
- • der von dem Gate-Bereich freie Teilbereich des ersten Body-Bereiches.
- In einer anderen Ausgestaltung der Erfindung ist es vorgesehen, dass eine Maske verwendet wird, mit deren Hilfe eine Silizidierung des von dem Gate-Bereich freien Teilbereiches des ersten Body-Bereiches blockiert wird.
- Ein Vorteil des Verfahrens zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors (DE-MOS-FET) kann darin gesehen werden, dass der DE-MOS-FET (bzw. das Verfahren) kompatibel ist mit einer aufkommenden MuGFET-Prozess-Technologie. Ein anderer Vorteil kann darin gesehen werden, dass das Verfahren auch kompatibel ist zu bereits vorhandenen SOI-Technologien, wobei zum Beispiel keine zusätzlichen Prozessschritte erforderlich sind.
- Ferner kann eine besser kontrollierbare und/oder geringere Aus-Diffusion erreicht werden mittels einer neuartigen Methode zum Ausbilden eines erweiterten Drain-Bereiches (Extended Drain Region) und damit der tatsächlichen Gate-Länge des DE-MOS-FETs.
- Ein anderer Vorteil des Verfahrens kann darin gesehen werden, dass mit dem Verfahren sowohl NMOS-Device-Strukturen als auch PMOS-Device-Strukturen hergestellt werden können.
- Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Figuren dargestellt und werden im Folgenden näher erläutert. In den Figuren sind gleiche oder ähnliche Elemente, soweit sinnvoll, mit gleichen oder identischen Bezugszeichen versehen. Die in den Figuren gezeigten Darstellungen sind schematisch und daher nicht maßstabsgetreu gezeichnet.
- Es zeigen
-
1 einen Thyristor gemäß dem Stand der Technik; -
2 einen Fin-Feldeffekttransistor gemäß dem Stand der Technik; -
3 einen Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor gemäß dem Stand der Technik; -
4 einen MOS-Feldeffekttransistor gemäß dem Stand der Technik; -
5A einen Thyristor drenen der Erläterung; -
5B einen Thyristor drenen der Erläterung; -
6A einen Thyristor drenen der Erläterung; -
6B einen Thyristor drenen der Erläterung; -
6C einen Thyristor drenen der Erläterung; -
6D einen Thyristor drenen der Erläterung; -
7A einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
7B einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
8A einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
8B einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
9 eine Layout-Darstellung einer elektronischen Bauelement-Anordnung gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung; -
10A bis10F verschiedene Prozessschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel; -
11 einen Thyristor gemäß einem Beispiel; -
12A bis12F verschiedene Prozessschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel; -
13 einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor, hergestellt mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel; -
14 einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor, hergestellt mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel; -
15 einen Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor, hergestellt mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel. -
5A zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors500 bzw. SCRs (Silicon Controlled Rectifier)500 gemäß einem Beispiel. Der Thyristor500 weist eine vollständig an Ladungsträgern verarmte SOI-Struktur (SOI: Silicon an Insulator) auf, d. h. eine FD-SOI-Struktur (Fully Depleted SOI). - Bei dem Verfahren zum Herstellen des Thyristors
500 wird in einem ersten Prozessschritt eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)501 in einem Halbleitersubstrat (nicht gezeigt), beispielsweise in einem Silizium-Substrat, gebildet, derart, dass eine dünne (monokristalline) Silizium-Schicht (nicht gezeigt, vgl. Schicht1007' in10A ) an der Oberfläche des Substrats gebildet wird. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines Halo-Implantations-Verfahrens (alternativ oder zusätzlich mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens) ein n-dotierter erster Body-Bereich
504 gebildet. Das n-Dotieren des ersten Body-Bereiches504 erfolgt unter Verwendung einer N-halo-Photomaske (bzw. einer N-Vt-Photomaske), deren Umriss514 in5A dargestellt ist. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines Halo-Implantations-Verfahrens (alternativ oder zusätzlich mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens) ein p-dotierter zweiter Body-Bereich
505 gebildet. Das p-Dotieren des zweiten Body-Bereiches505 erfolgt unter Verwendung einer P-halo-Photomaske (bzw. einer P-Vt-Photomaske), deren Umriss515 in5A dargestellt ist. Der p-dotierte zweite Body-Bereich505 wird neben dem n-dotierten ersten Body-Bereich504 gebildet, derart, dass der n-dotierte erste Body-Bereich504 und der p-dotierte zweite Body-Bereich505 eine gemeinsame erste Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der erste Body-Bereich504 und der zweite Body-Bereich505 einen ersten pn-Übergang (pn-junction) des Thyristors500 . - Das Einbringen der Dotierstoff-Atome in den ersten Body-Bereich
504 (n-Dotierung) und/oder in den zweiten Body-Bereich505 (p-Dotierung) mittels des Halo-Implantations-Verfahrens kann unter einem Implantations-Winkel von ungefähr 5° bis 80° erfolgen. Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Body-Bereich504 und/oder in dem zweiten Body-Bereich505 kann ungefähr 1018 cm–3 bis 1019 cm–3 betragen. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) ein stark p-dotierter (P+) erster Anschluss-Bereich
502 gebildet. Das p-Dotieren des ersten Anschluss-Bereiches502 erfolgt unter Verwendung einer P+-Photomaske, deren Umriss512 in5A dargestellt ist. Der stark p-dotierte erste Anschluss-Bereich502 wird neben dem n-dotierten ersten Body-Bereich504 gebildet, derart, dass der n-dotierte erste Body-Bereich504 und der p-dotierte zweite Body-Bereich505 eine gemeinsame zweite Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der stark p-dotierte erste Anschluss-Bereich502 und der n-dotierte erste Body-Bereich504 einen zweiten pn-Übergang des Thyristors500 . - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) ein stark n-dotierter (N+) zweiter Anschluss-Bereich
503 gebildet. Das n-Dotieren des zweiten Anschluss-Bereiches503 erfolgt unter Verwendung einer N+-Photomaske, deren Umriss513 in5A dargestellt ist. Der stark n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 wird neben dem p-dotierten zweiten Body-Bereich505 gebildet, derart, dass der p-dotierte zweite Body-Bereich505 und der n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 eine gemeinsame dritte Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der p-dotierte zweite Body-Bereich505 und der stark n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 einen dritten pn-Übergang des Thyristors500 . - Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Body-Bereich
504 und/oder in dem zweiten Body-Bereich505 kann ungefähr größer als 1020 cm–3 sein. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens erfolgt eine Silizidierung des ersten Anschluss-Bereiches
502 und des zweiten Anschluss-Bereiches503 . Mit anderen Worten wird auf dem ersten Anschluss-Bereich502 bzw. in einem oberen Teilbereich des ersten Anschluss-Bereiches502 eine erste Silizid-Schicht502a gebildet, und auf dem zweiten Anschluss-Bereich503 bzw. in einem oberen Teilbereich des zweiten Anschluss-Bereiches503 wird eine zweite Silizid-Schicht503a gebildet. Eine Silizidierung des ersten Body-Bereiches504 bzw. des zweiten Body-Bereiches505 kann mit Hilfe einer Maske (Silizid-Blockier-Maske) verhindert bzw. blockiert werden, wobei die Maske anschaulich aus den Formen der Masken514 und515 gebildet sein kann. - In dem in
5A gezeigten Beispiel sowie in den nachfolgenden Beispielen können die auf den Anschluss-Bereichen bzw. in oberen Teilbereichen der jeweiligen Anschluss-Bereiche gebildeten Silizid-Schichten (z. B. die erste Silizid-Schicht502a und die zweite Silizid-Schicht503a ) so gebildet werden, dass ein Kurzschluss und/oder ein Schottky-Kontakt zwischen einer Silizid-Schicht und einem neben dem entsprechenden Anschluss-Bereich ausgebildeten Body-Bereich vermieden wird. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird ein erster elektrischer Kontakt
502b auf der ersten Silizid-Schicht502a gebildet, und ein zweiter elektrischer Kontakt503b wird auf der zweiten Silizid-Schicht503a gebildet. Der erste elektrische Kontakt502b dient zum elektrischen Kontaktieren des ersten Anschluss-Bereiches502 , wobei der Kontaktwiderstand zwischen dem ersten elektrischen Kontakt502b und dem ersten Anschluss-Bereich502 mit Hilfe der ersten Silizid-Schicht502a verringert werden kann. Entsprechend dient der zweite elektrische Kontakt503b zum elektrischen Kontaktieren des zweiten Anschluss-Bereiches503 , wobei der Kontaktwiderstand zwischen dem zweiten elektrischen Kontakt503b und dem zweiten Anschluss-Bereich503 mit Hilfe der zweiten Silizid-Schicht503a verringert werden kann. - Der erste Anschluss-Bereich
502 , die erste Silizid-Schicht502a und der erste elektrische Kontakt502b bilden anschaulich einen Anoden-Bereich bzw. eine Anode (durch ”Anode” in5A gekennzeichnet) des Thyristors500 , während der zweite Anschluss-Bereich503 , die zweite Silizid-Schicht503a und der zweite elektrische Kontakt503b anschaulich einen Kathoden-Bereich bzw. eine Kathode (durch ”Cathode” in5A gekennzeichnet) des Thyristors500 bilden. - Der stark p-dotierte erste Anschluss-Bereich
502 (P+), der n-dotierte erste Body-Bereich504 , der p-dotierte zweite Body-Bereich505 und der stark n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 (N+) bilden zusammen eine pnpn-Vierschicht-Struktur des Thyristors500 mit insgesamt drei pn-Übergängen. - Gemäß dem in Zusammenhang mit
5A beschriebenen Beispiel können der erste Body-Bereich504 und der zweite Body-Bereich505 des Thyristors500 gebildet werden mittels Implantierens von Halo-Implants (alternativ oder zusätzlich mittels Vt-Implants) in vorgegebene (zum Beispiel lithographisch definierte) Bereiche. Dies ist ein nicht-selbstjustierender (non-self-aligned) Prozess. Der vollständige Thyristor500 kann erhalten werden mittels Silizid-Blockierung oder mittels Maskierens mit Hilfe eines Gates (vgl.5B ). - In einem alternativen (nicht gezeigten) Beispiel kann der Thyristor
500 unter Verwendung einer MuGFET-Technologie gebildet werden. Mit anderen Worten kann der Thyristor500 in diesem Fall eine Fin-Struktur bzw. Steg-Struktur aufweisen, mit einer Finne, in welcher die beiden Anschluss-Bereiche502 ,503 und die beiden Body-Bereiche504 ,505 des Thyristors500 ausgebildet sind. - In SOI-Technologien bzw. MuGFET-Technologien ermöglicht die Anwesenheit der vergrabenen Oxidschicht
501 das Erzeugen eines neuartigen, ausschließlich lateralen pn-Übergangs (pn-junction) zwischen einem Halo-Bereich, anders ausgedrückt einem Bereich, welcher mit Hilfe einer Halo-Implantation dotiert wurde (i. e. die beiden Body-Bereiche504 bzw.505 ) und einem hochdotierten Anschluss-Bereich (i. e. die beiden Anschluss-Bereiche502 bzw.503 ). -
5B zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors520 gemäß einem Beispiel. Der Thyristor520 weist eine vollständig an Ladungsträgern verarmte SOI-Struktur (SOI: Silicon an Insulator) auf, d. h. eine FD-SOI-Struktur (Fully Depleted SOI). - Gemäß dem gezeigten Beispiel wird bei dem Verfahren zum Herstellen des Thyristors
520 in einem ersten Prozessschritt eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)501 in einem Halbleitersubstrat (nicht gezeigt), beispielsweise in einem Silizium-Substrat, gebildet, derart, dass eine dünne Silizium-Schicht (nicht gezeigt, vgl. Schicht1007' in10A ) an der Substrat-Oberfläche gebildet wird. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens ein n-dotierter erster Body-Bereich
504 (N–) gebildet. Das n-Dotieren des ersten Body-Bereiches504 kann, wie im Zusammenhang mit5A beschrieben, unter Verwendung einer N-Vt-Photomaske erfolgen. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens ein p-dotierter zweiter Body-Bereich
505 (P–) gebildet. Das p-Dotieren des zweiten Body-Bereiches505 kann, wie oben im Zusammenhang mit5A beschrieben, unter Verwendung einer P-Vt-Photomaske erfolgen. - Der p-dotierte zweite Body-Bereich
505 wird neben dem n-dotierten ersten Body-Bereich504 gebildet, derart, dass der n-dotierte erste Body-Bereich504 und der p-dotierte zweite Body-Bereich505 eine gemeinsame erste Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der erste Body-Bereich504 und der zweite Body-Bereich505 einen ersten pn-Übergang (pn-junction) des Thyristors520 . - Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Body-Bereich
504 und/oder in dem zweiten Body-Bereich505 kann ungefähr 1018 cm–3 bis 1019 cm–3 betragen. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird auf bzw. über dem ersten Body-Bereich
504 und dem zweiten Body-Bereich505 ein Gate-Bereich506 gebildet, welcher Gate-Bereich506 mit einem Gate-Anschluss G elektrisch gekoppelt ist. Der Gate-Bereich506 weist eine elektrisch isolierende Schicht506' (Gate-Dielektrikum), z. B. ein Gate-Oxid, auf, welche elektrisch isolierende Schicht506' auf dem ersten Body-Bereich504 und dem zweiten Body-Bereich505 ausgebildet ist, sowie eine auf der elektrisch isolierenden Schicht506' ausgebildete elektrisch leitfähige Schicht506'' (leitende Gate-Schicht z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material). - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) ein stark p-dotierter (P+) erster Anschluss-Bereich
502 gebildet, wobei der Gate-Bereich506 als Maske dient, so dass die P+-Implantation in dem Bereich unterhalb des Gate-Bereiches506 (d. h. in den beiden Body-Bereichen504 und505 ) blockiert wird. Der stark p-dotierte erste Anschluss-Bereich502 wird neben dem n-dotierten ersten Body-Bereich504 gebildet, derart, dass der n-dotierte erste Body-Bereich504 und der p-dotierte zweite Body-Bereich505 eine gemeinsame zweite Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der stark p-dotierte erste Anschluss-Bereich502 und der n-dotierte erste Body-Bereich504 einen zweiten pn-Übergang des Thyristors520 . - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird in der Silizium-Schicht mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) ein stark n-dotierter (N+) zweiter Anschluss-Bereich
503 gebildet, wobei der Gate-Bereich506 wiederum als Maske dient, so dass die N+-Implantation in dem Bereich unterhalb des Gate-Bereiches506 (d. h. in den beiden Body-Bereichen504 und505 ) blockiert wird. Der stark n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 wird neben dem p-dotierten zweiten Body-Bereich505 gebildet, derart, dass der p-dotierte zweite Body-Bereich505 und der n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 eine gemeinsame dritte Grenzfläche aufweisen. Anschaulich bilden der p-dotierte zweite Body-Bereich505 und der stark n-dotierte zweite Anschluss-Bereich503 einen dritten pn-Übergang des Thyristors520 . - Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Anschluss-Bereich
502 und/oder in dem zweiten Anschluss-Bereich503 kann ungefähr größer als 1020 cm–3 sein. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens erfolgt eine Silizidierung des ersten Anschluss-Bereiches
502 , des zweiten Anschluss-Bereiches503 und des Gate-Bereiches506 . Mit anderen Worten wird auf dem ersten Anschluss-Bereich502 bzw. in einem oberen Teilbereich des ersten Anschluss-Bereiches502 eine erste Silizid-Schicht502a gebildet, auf dem zweiten Anschluss-Bereich503 bzw. in einem oberen Teilbereich des zweiten Anschluss-Bereiches503 wird eine zweite Silizid-Schicht503a gebildet, und auf dem Gate-Bereich506 wird eine dritte Silizid-Schicht506a gebildet. Eine Silizidierung des ersten Body-Bereiches504 bzw. des zweiten Body-Bereiches505 wird dabei wiederum mit Hilfe des Gate-Bereiches506 bzw. des Gate-Stapels (Gate-Stack)506 , welcher Gate-Bereich506 anschaulich als Maske dient, verhindert bzw. blockiert. - Anschaulich wird bei dem in Zusammenhang mit
5B beschriebenen Beispiel der Gate-Bereich506 bzw. Gate-Stack506 (zum Beispiel das Polysilizium-Material oder Metall-Material der Gate-Elektrode506'' ) als Maskenschicht verwendet, um eine HDD-Implantation (N+-Implantation bzw. P+-Implantation) und/oder eine Silizidierung in dem niedrig dotierten ersten Body-Bereich504 und dem niedrig dotierten zweiten Body-Bereich505 zu blockieren. Mit anderen Worten kann der Gate-Stapel506 als Maskenschicht bzw. Maske verwendet werden, um eine selbst-ausgerichtete (self-aligned) Definition der Body-Bereiche504 bzw.505 des Thyristors520 zu erreichen ohne Hinzufügen zusätzlicher Prozesskomplexität wie zum Beispiel einer Silizid-Blockierung. - Analog zu dem im Zusammenhang mit
5A beschriebenen Beispiel werden bei dem Verfahren zum Herstellen des Thyristors520 in anderen Prozessschritten ein erster elektrischer Kontakt502b auf der ersten Silizid-Schicht502a gebildet und ein zweiter elektrischer Kontakt503b auf der zweiten Silizid-Schicht503a gebildet. - Der Gate-Bereich
506 bzw. das Gate506 des in5B gezeigten Thyristors520 kann als Steuer-Gate verwendet werden, um eine verbesserte Triggerung des Thyristors zu erreichen. Dazu kann mittels des Gate-Anschlusses G ein an dem Gate506 anliegendes elektrisches Potential entsprechend gesteuert werden, wodurch wiederum das Oberflächenpotential des ersten Body-Bereiches504 und/oder des zweiten Body-Bereiches505 gesteuert werden kann. - Der in
5B gezeigte Thyristor520 wird mit Hilfe einer SOI-Technologie hergestellt. In einem alternativen (nicht gezeigten) Beispiel kann der Thyristor520 unter Verwendung einer MuGFET-Technologie gebildet werden. Mit anderen Worten kann der Thyristor in diesem Fall eine Fin-Struktur bzw. Steg-Struktur aufweisen, mit einer Finne, in welcher die beiden Anschluss-Bereiche502 ,503 und die beiden Body-Bereiche504 ,505 des Thyristors520 ausgebildet sind. - Bei einem Thyristor mit einer Fin-Struktur bzw. Finne kann das Gate
506 so auf bzw. über dem ersten Body-Bereich504 und dem zweiten Body-Bereich505 ausgebildet sein, dass der erste Body-Bereich504 und der zweite Body-Bereich505 von den beiden Seitenflächen der Finne aus angesteuert werden können (Double-Gate-Struktur). Alternativ kann das Gate506 so ausgebildet sein, dass die beiden Body-Bereiche504 und505 von den beiden Seitenflächen und der Deckfläche der Finne aus angesteuert werden können (Triele-Gate-Struktur bzw. Multi-Gate-Struktur). -
6A zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors600 gemäß einem Beispiel. Der Thyristor600 weist eine vollständig an Ladungsträgern verarmte SOI-Struktur (SOI: Silicon an Insulator) auf, d. h. eine FD-SOI-Struktur (Fully Depleted SOI). - Gemäß dem gezeigten Beispiel wird bei dem Verfahren zum Herstellen des Thyristors
600 in einem ersten Prozessschritt eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)501 in einem Halbleitersubstrat (nicht gezeigt), beispielsweise in einem Silizium-Substrat, gebildet, derart, dass eine dünne Silizium-Schicht (nicht gezeigt, vgl. Schicht1007' in10A ) an der Oberfläche des Substrats gebildet wird. - In anderen Prozessschritten des Verfahrens werden in der Silizium-Schicht ein erster Anschluss-Bereich
502 und ein zweiter Anschluss-Bereich503 gebildet, sowie ein erster Body-Bereich604 , ein zweiter Body-Bereich605 und ein dritter Body-Bereich607 , wobei der erste Body-Bereich604 zwischen dem ersten Anschluss-Bereich502 und dem dritten Body-Bereich607 gebildet wird, der zweite Body-Bereich605 zwischen dem dritten Body-Bereich607 und dem zweiten Anschluss-Bereich503 gebildet wird und der dritte Body-Bereich607 zwischen dem ersten Body-Bereich604 und dem zweiten Body-Bereich605 gebildet wird. - Der erste Body-Bereich
604 wird als ein Bereich mit einer intrinsischen Leitfähigkeit bzw. als intrinsischer Bereich gebildet (durch ”i” in6A gekennzeichnet), und der zweite Body-Bereich605 wird ebenfalls als intrinsischer Bereich gebildet (ebenfalls durch ”i” in6A gekennzeichnet). - Der zwischen dem intrinsischen ersten Body-Bereich
604 und dem intrinsischen zweiten Body-Bereich605 ausgebildete dritte Body-Bereich607 wird mittels eines Halo-Implantations-Verfahrens als p-dotierter dritter Body-Bereich607 (P-halo) gebildet. Auf bzw. über dem intrinsischen zweiten Body-Bereich605 wird ein erster Gate-Bereich606a gebildet, welcher erste Gate-Bereich606a mit einem ersten Gate-Anschluss G1 elektrisch gekoppelt ist. Der erste Gate-Bereich606a weist eine auf dem zweiten Body-Bereich605 ausgebildete erste elektrisch isolierende Schicht606a' (Gate-Dielektrikum), z. B. ein Gate-Oxid, auf, sowie eine auf der ersten elektrisch isolierenden Schicht606a' ausgebildete erste elektrisch leitfähige Schicht606a'' (leitende Gate-Schicht z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material). Ferner wird auf bzw. über dem intrinsischen ersten Body-Bereich604 ein zweiter Gate-Bereich606b gebildet, welcher zweite Gate-Bereich606b mit einem zweiten Gate-Anschluss G2 elektrisch gekoppelt ist. Der zweite Gate-Bereich606b weist eine auf dem ersten Body-Bereich604 ausgebildete zweite elektrisch isolierende Schicht606b' (Gate-Dielektrikum), z. B. ein Gate-Oxid, auf, sowie eine auf der zweiten elektrisch isolierenden Schicht606b' ausgebildete zweite elektrisch leitfähige Schicht606b'' (leitende Gate-Schicht z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material). - Gemäß dem gezeigten Beispiel erfolgt das Ausbilden der p-Dotierung in dem dritten Body-Bereich
607 nach dem Ausbilden des ersten Gate-Bereiches606a und nach dem Ausbilden des zweiten Gate-Bereiches606b mittels Einbringens von Halo-implants in den dritten Body-Bereich607 (Halo-Implantation), wobei der erste Gate-Bereich606 und der zweite Gate-Bereich606' anschaulich als Maske dienen. - Alternativ kann zuerst das Dotieren des dritten Body-Bereiches
607 mittels P-Vt-Implantation (z. B. unter Verwendung einer Lithographiemaske bzw. einer Vt-Photomaske, nicht gezeigt) erfolgen, und anschließend können der erste Gate-Bereich606a und der zweite Gate-Bereich606b auf bzw. über dem ersten Body-Bereich604 bzw. dem zweiten Body-Bereich605 gebildet werden. - Bei Verwendung eines Halo-Implantations-Verfahrens kann das Einbringen der Dotierstoff-Atome in den dritten Body-Bereich
607 unter einem Implantations-Winkel von ungefähr 5° bis 80° erfolgen. - Sowohl bei Verwendung einer Halo-Implantation als auch bei Verwendung einer Vt-Implantation kann das Dotieren des dritten Body-Bereiches
605 derart erfolgen, dass die Dotierstoffkonzentration in dem dritten Body-Bereich605 ungefähr 1018 cm–3 bis 1019 cm–3 beträgt. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird der erste Anschluss-Bereich
502 mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) stark p-dotiert (P+), wobei der zweite Gate-Bereich606b als Maske dient, so dass die HDD-Implantation unterhalb des zweiten Gate-Bereiches606b (d. h. in dem Bereich des intrinsischen ersten Body-Bereiches604 ) blockiert wird. Analog wird in einem anderen Prozessschritt des Verfahrens der zweite Anschluss-Bereich503 mittels eines HDD-Implantations-Verfahrens (HDD: Highly Doped Drain) stark n-dotiert (N+), wobei der erste Gate-Bereich606a als Maske dient, so dass die HDD-Implantation unterhalb des ersten Gate-Bereiches606a (d. h. in dem Bereich des intrinsischen zweiten Body-Bereiches605 ) blockiert wird. In diesem Zusammenhang ist anzumerken, dass die maskierende Wirkung der Gate-Bereiche606a bzw.606b nur zum genauen, selbstjustierenden Ausrichten der jeweiligen Implantationen ausgenutzt wird. Zusätzlich können im Prozess ”globale” N+/P+-Masken vorhanden sein und bei der Definition der hochdotierten Anschlussbereiche502 bzw.503 mitgenutzt werden. - Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Anschluss-Bereich
502 und/oder in dem zweiten Anschluss-Bereich503 kann ungefähr größer als 1020 cm–3 sein. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird ein erster elektrischer Kontakt
502b auf dem ersten Anschluss-Bereich502 (alternativ auf einer auf dem ersten Anschluss-Bereich502 ausgebildeten ersten Silizid-Schicht502a , vgl.6D ) gebildet, und ein zweiter elektrischer Kontakt503b wird auf dem zweiten Anschluss-Bereich503 (alternativ auf einer auf dem zweiten Anschluss-Bereich503 ausgebildeten zweiten Silizid-Schicht503a , vgl.6D ) gebildet. Der erste elektrische Kontakt502b dient zum elektrischen Kontaktieren des ersten Anschluss-Bereiches502 . Entsprechend dient der zweite elektrische Kontakt503b zum elektrischen Kontaktieren des zweiten Anschluss-Bereiches503 . - Der erste Anschluss-Bereich
502 (die optionale erste Silizid-Schicht502a ) und der erste elektrische Kontakt502b bilden anschaulich einen Anoden-Bereich bzw. eine Anode (durch ”Anode” in6A gekennzeichnet) des Thyristors600 , während der zweite Anschluss-Bereich503 (die optionale zweite Silizid-Schicht503a ) und der zweite elektrische Kontakt503b anschaulich einen Kathoden-Bereich bzw. eine Kathode (durch ”Cathode” in6A gekennzeichnet) des Thyristors600 bilden. - In einem alternativen (nicht gezeigten) Beispiel kann der Thyristor
600 unter Verwendung einer MuGFET-Technologie gebildet werden. Mit anderen Worten weist der Thyristor600 in diesem Fall eine Fin-Struktur bzw. Steg-Struktur auf, mit einer Finne, in welcher die beiden Anschluss-Bereiche502 ,503 und die drei Body-Bereiche604 ,605 und607 des Thyristors600 ausgebildet sind. - Bei einem Thyristor mit einer Fin-Struktur bzw. Finne können das erste Gate
606a und/oder das zweite Gate606b so ausgebildet sein, dass der zweite Body-Bereich605 und/oder der erste Body-Bereich604 von den beiden Seitenflächen der Finne aus angesteuert werden können (Double-Gate-Struktur). Alternativ können das erste Gate606a und/oder das zweite Gate606b so ausgebildet sein, dass der zweite Body-Bereich605 und/oder der erste Body-Bereich604 von den beiden Seitenflächen und der Deckfläche der Finne aus angesteuert werden können (Triele-Gate-Struktur bzw. Multi-Gate-Struktur). -
6B zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors620 gemäß einem Beispiel. Der Thyristor620 weist im Unterschied zu dem in6A gezeigten Thyristor600 einen n-dotierten dritten Body-Bereich627 auf, wobei die n-Dotierung des dritten Body-Bereiches627 mittels eines Halo-Implantations-Verfahrens (alternativ mittels eines Vt-Implantations-Verfahrens) erzielt werden kann. Das Verfahren zur Herstellung des in6B gezeigten Thyristors620 ist analog zu dem des in6A gezeigten Thyristors600 und wird deshalb der Kürze halber nicht noch einmal beschrieben. Der Thyristor620 kann, wie der Thyristor600 , mit Hilfe einer SOI-Technologie (z. B. einer FD-SOI-Technologie) oder einer MuGFET-Technologie hergestellt werden. - Anschaulich weisen die in
6A und6B gezeigten Thyristoren600 bzw.620 einen zentralen Bereich (i. e. den dritten Body-Bereich607 bzw.627 ) mit einer Dotierstoff-Sorte auf, welcher zwischen zwei intrinsischen Bereichen (erster Body-Bereich604 und zweiter Body-Bereich605 ) ausgebildet ist. -
6C zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors640 gemäß einem Beispiel. Das Verfahren zum Herstellen des Thyristors640 unterscheidet sich von dem im Zusammenhang mit6A beschriebenen Verfahren darin, dass bei dem Thyristor640 zusätzlich zu einem p-dotierten dritten Body-Bereich647 ein n-dotierter vierter Body-Bereich648 gebildet wird, wobei der vierte Body-Bereich648 zwischen dem p-dotierten dritten Body-Bereich647 und dem intrinsischen zweiten Body-Bereich605 gebildet wird. Anschaulich wird der zentrale Bereich der Thyristoren600 bzw.620 (d. h. der p-dotierte dritte Body-Bereich607 bzw. der n-dotierte dritte Body-Bereich627 ) mit nur einer Dotierstoff-Sorte bei dem Thyristor640 durch einen aus zwei Teilbereichen mit entgegengesetzter Dotierung (i. e. dem p-dotierten dritten Body-Bereich647 und dem n-dotierten vierten Body-Bereich648 ) gebildeten zentralen Bereich ersetzt, welcher zentrale Bereich zwischen den beiden intrinsischen Bereichen604 und605 ausgebildet wird. Das Verfahren zum Herstellen des Thyristors640 ist ähnlich zu dem im Zusammenhang mit6A beschriebenen Verfahren und wird daher an dieser Stelle nicht noch einmal wiederholt. - Der Thyristor
640 kann, wie die zuvor beschriebenen Thyristoren600 und620 , mit Hilfe einer SOI-Technologie (z. B. einer FD-SOI-Technologie) oder einer MuGFET-Technologie hergestellt werden, und die gezeigte Struktur640 ist verträglich mit einem Standard-Prozess-Fluss in der entsprechenden Technologie -
6D zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors660 gemäß einem Beispiel. Das Verfahren zum Herstellen des Thyristors660 unterscheidet sich von dem in Zusammenhang mit6A beschriebenen Verfahren darin, dass der dritte Body-Bereich678 des Thyristors660 sowohl p-dotiert als auch n-dotiert wird. Anders ausgedrückt wird der zwischen den intrinsischen Body-Bereichen604 und605 ausgebildete zentrale Bereich (i. e. der dritte Body-Bereich678 ) des Thyristors660 als ein Bereich gebildet, bei dem sich eine p-Implantation (bzw. p-Dotierung) und eine n-Implantation (bzw. n-Dotierung) vollständig oder zumindest teilweise gegenseitig kompensieren, anders ausgedrückt als ein Bereich mit entgegengesetzten Dotierstoffsorten bzw. counter-doped Bereich (in6D durch ”P/N” dargestellt). Die Dotierung des dritten Body-Bereiches678 erfolgt mit Hilfe eines Halo-Implantations-Verfahrens und/oder mit Hilfe eines HDD-Implantations-Verfahrens (P+/N+-Implantation), wobei der erste Gate-Bereich606 und der zweite Gate-Bereich606' als Maske dienen können, so dass eine Selbst-Ausrichtung (selfalignment) der Body-Bereiche erreicht werden kann. - Die in
6D gezeigte Struktur660 gleicht der Struktur einer pin-Diode, welche pin-Diode im Durchbruch ein ähnliches Verhalten zeigt wie ein SCR. Ein Vorteil der gezeigten Struktur660 kann in der Selbst-Ausrichtung gesehen werden. Falls außerdem sowohl p- und n-Halo-Implantationen als auch p- und n-HDD-Implantationen zum Dotieren des dritten Body-Bereiches678 verwendet werden (d. h. gleichzeitige Halo-Dotierung und HDD-Dotierung des dritten Body-Bereiches678 ), können bei der Herstellung des Thyristors660 gemeinsame Halo- und HDD-Masken verwendet werden. Mit anderen Worten kann für eine n-Halo-Implantation und eine n-HDD-Implantation eine erste gemeinsame Maske verwendet werden, und für eine p-Halo-Implantation und einen p-HDD-Implantation kann eine zweite gemeinsame Maske verwendet werden. Damit ist die Anzahl der verwendeten Masken identisch mit der bei einem Standardprozess verwendeten Maskenanzahl, d. h. es werden keine zusätzlichen Masken benötigt. - Der Thyristor
660 kann, wie die zuvor beschriebenen Thyristoren600 ,620 und640 , mit Hilfe einer SOI-Technologie (z. B. einer FD-SOI-Technologie) oder einer MuGFET-Technologie hergestellt werden. - Es felt die Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung
-
7A zeigt eine Querschnittsansicht eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors (DE-MOS-FETs)700 gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Der DE-MOS-FET700 weist eine auf einer vergrabenen Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)701 ausgebildete Fin-Struktur709 auf. Die Oxidschicht701 kann auf einem Halbleitersubstrat wie z. B. einem Silizium-Substrat ausgebildet sein (nicht gezeigt). Die Fin-Struktur709 bzw. Finne709 kann Silizium-Material aufweisen. In einer alternativen (nicht gezeigten) Ausgestaltung der Erfindung kann der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor700 eine Silizium-auf-Isolator-Struktur (SOI-Struktur) aufweisen, z. B. eine vollständig an Ladungsträgern verarmte SOI-Struktur (Fully Depleted SOI, FD-SOI). - Die Fin-Struktur
709 weist einen stark n-dotierten (N+) ersten Anschluss-Bereich702 und einen stark n-dotierten (N+) zweiten Anschluss-Bereich703 auf. Das Dotieren des ersten Anschluss-Bereiches702 und/oder des zweiten Anschluss-Bereiches703 kann mit Hilfe eines Ionen-Implantations-Verfahrens wie z. B. eines HDD-Implantations-Verfahrens (Highly Doped Drain) bzw. eines Source/Drain-Implantations-Verfahrens erfolgen, wobei eine Dotierstoffkonzentration von ungefähr größer als 1020 cm–3 in dem ersten Anschluss-Bereich702 und/oder in dem zweiten Anschluss-Bereich703 erreicht werden kann. - Der erste Anschluss-Bereich
702 kann mittels eines auf dem ersten Anschluss-Bereich702 ausgebildeten ersten elektrischen Kontaktes702b elektrisch kontaktiert werden, und der zweite Anschluss-Bereich703 kann mittels eines auf dem zweiten Anschluss-Bereich703 ausgebildeten zweiten elektrischen Kontaktes703b elektrisch kontaktiert werden. In einer alternativen (nicht gezeigten) Ausgestaltung der Erfindung können der erste Anschluss-Bereich702 und/oder der zweite Anschluss-Bereich703 silizidiert sein (d. h. es kann eine Silizid-Schicht auf dem jeweiligen Anschluss-Bereich bzw. in einem oberen Teilbereich des jeweiligen Anschluss-Bereiches ausgebildet sein), so dass der Kontaktwiderstand zwischen dem ersten elektrischen Kontakt702b und dem ersten Anschluss-Bereich702 bzw. zwischen dem zweiten elektrischen Kontakt703b und dem zweiten Anschluss-Bereich703 verringert werden kann. - Der erste Anschluss-Bereich
702 und der erste elektrische Kontakt702b dienen anschaulich als ein Drain-Bereich (in7A durch ”Drain” gekennzeichnet) des Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors700 , während der zweite Anschluss-Bereich703 und der zweite elektrische Kontakt703b anschaulich als ein Source-Bereich (in7A durch ”Source” gekennzeichnet) des DE-MOS-FETs700 dienen. - Zwischen dem ersten Anschluss-Bereich
702 und dem zweiten Anschluss-Bereiche703 sind ein schwach n-dotierter (N–) erster Body-Bereich704 und ein schwach p-dotierter (P–) zweiter Body-Bereich705 ausgebildet, wobei der erste Body-Bereich704 zwischen dem ersten Anschluss-Bereich702 und dem zweiten Body-Bereich705 ausgebildet ist und der zweite Body-Bereich705 zwischen dem ersten Body-Bereich704 und dem zweiten Anschluss-Bereich703 ausgebildet ist. - Das Dotieren des ersten Body-Bereiches
704 und/oder des zweiten Body-Bereiches705 kann mit Hilfe eines Ionen-Implantations-Verfahrens wie z. B. eines Vt-Implantations-Verfahrens erfolgen, wobei eine Dotierstoffkonzentration von ungefähr 1017 cm–3 bis 1018 cm–3 in dem ersten Body-Bereich704 und/oder in dem zweiten Body-Bereich705 erreicht werden kann. - Auf bzw. über dem ersten Body-Bereich
704 und dem zweiten Body-Bereich705 ist ein Gate-Bereich706 ausgebildet. Der Gate-Bereich706 weist eine auf dem ersten Body-Bereich704 und dem zweiten Body-Bereich705 ausgebildete elektrisch isolierende Schicht (Gate-Dielektrikum)706' auf (z. B. ein Gate-Oxid), sowie eine auf der elektrisch isolierenden706' Schicht ausgebildete elektrisch leitfähige Schicht706'' (leitende Gate-Schicht z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material). - Das Gate
706 kann so auf bzw. über dem ersten Body-Bereich704 und dem zweiten Body-Bereich705 ausgebildet sein, dass der erste Body-Bereich704 und der zweite Body-Bereich705 von den beiden Seitenflächen der Finne709 aus angesteuert werden können (Double-Gate-Struktur). Alternativ kann das Gate706 so ausgebildet sein, dass der erste Body-Bereich704 und der zweite Body-Bereich705 von den beiden Seitenflächen und der Deckfläche der Finne709 aus angesteuert werden können (Triele-Gate-Struktur bzw. Multi-Gate-Struktur). - Der in
7A gezeigte Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor700 ist als Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor (DE-NMOS-FET) ausgebildet, d. h. als N-Kanal-MOS-Feldeffekttransistor mit einem lateral erweiterten Drain-Bereich (Extended Drain). Anschaulich dient dabei der unter dem Gate706 ausgebildete niedrigdotierte (N–) erste Body-Bereich704 als Verlängerung des aus dem hochdotierten (N+) ersten Anschluss-Bereich702 gebildeten Drain-Bereiches. - Das Dotieren des ersten Anschluss-Bereiches
702 und/oder des zweiten Anschluss-Bereiches703 kann nach dem Bilden des Gate-Bereiches706 erfolgen. In diesem Fall dient das Gate706 anschaulich als Maske bei der HDD-Dotierung der Anschluss-Bereiche702 bzw.703 . Auf diese Weise kann eine Selbst-Ausrichtung (self-alignment) des Drain-Bereiches (bzw. des hochdotierten (N+) ersten Anschluss-Bereiches702 ) und/oder des verlängerten Drain-Bereiches (i. e. des niedrigdotierten (N–) ersten Body-Bereiches704 ) erreicht werden. Anschaulich weist der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor700 in diesem Fall eine selbstausgerichtete (self-aligned) Device-Struktur auf. -
7B zeigt eine Querschnittsansicht eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors (DE-MOS-FETs)720 gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Der DE-MOS-FET720 unterscheidet sich von dem in7A gezeigten DE-MOS-FET700 dadurch, dass eine Fin-Struktur729 des DE-MOS-FETs720 einen stark p-dotierten (P+) ersten Anschluss-Bereich722 und einen stark p-dotierten (P+) zweiten Anschluss-Bereich723 aufweist, sowie einen schwach p-dotierten (P–) ersten Body-Bereich724 und einen schwach n-dotierten (N–) zweiten Body-Bereich725 , wobei der erste Body-Bereich724 und der zweite Body-Bereich725 zwischen dem ersten Anschluss-Bereich722 und dem zweiten Anschluss-Bereich723 ausgebildet sind, derart, dass der erste Body-Bereich724 zwischen dem ersten Anschluss-Bereich722 und dem zweiten Body-Bereich725 ausgebildet ist und dass der zweite Body-Bereich725 zwischen dem ersten Body-Bereich724 und dem zweiten Anschluss-Bereich723 ausgebildet ist. - Der DE-MOS-FET
720 ist anschaulich als Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor (DE-PMOS-FET) ausgebildet, d. h. als P-Kanal-MOS-Feldeffekttransistor mit einem lateral erweiterten Drain-Bereich (Extended Drain), wobei der schwach p-dotierte (P–) erste Body-Bereich724 als Verlängerung des aus dem ersten Anschluss-Bereich722 (und dem ersten elektrischen Kontakt702b ) gebildeten Drain-Bereiches (durch ”Drain” in7B gekennzeichnet) des Transistors720 dient. Der Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor (DE-PMOS-FET) kann unter Verwendung ähnlicher Prozessschritte hergestellt werden, wie bereits im Zusammenhang mit7A beschrieben worden ist. -
8A zeigt eine Querschnittsansicht eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors (DE-MOS-FETs)800 gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Der DE-MOS-FET800 ist als Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor (DE-NMOS-FET) ausgebildet und unterscheidet sich von dem in7A gezeigten DE-MOS-FET (bzw. DE-NMOS-FET)700 dadurch, dass bei dem DE-NMOS-FET800 ein mit einem Gate-Anschluss G elektrisch gekoppelter Gate-Bereich806 (welcher Gate-Bereich806 eine elektrisch isolierende Schicht806' und eine auf der elektrisch isolierenden Schicht806' ausgebildete elektrisch leitfähige Schicht106'' aufweist) auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich705 und auf bzw. über einem ersten Teilbereich des ersten Body-Bereiches704 ausgebildet ist. Mit anderen Worten ist das Gate806 nur auf bzw. über einem ersten Teilbereich des ersten Body-Bereiches704 ausgebildet, so dass ein zweiter Teilbereich (gekennzeichnet durch den Doppelpfeil808 in8A ) der Länge Z (gemessen entlang der Längsachse der Fin-Struktur709 ) des ersten Body-Bereiches704 nicht von dem Gate-Bereich806 bedeckt ist. Mit Hilfe des Abstandes Z kann der Wert für die maximal zulässige Drain-Spannung erhöht werden, da ein Spannungsabfall auftritt entlang des niedriger dotierten (N–) ersten Body-Bereiches704 . Allgemein ist es bei einem DE-MOS-Transistor notwendig, die maximale Spannung, welcher über ein Gate-Oxid hinweg abfällt, zu beschränken. Mit zunehmendem Wert des Parameters Z (= Länge des von dem Gate-Bereich806 unbedeckten Abschnitts des ersten Body-Bereiches704 ) kann der Wert für die maximale Spannung erhöht werden. Mit anderen Worten sind mit zunehmendem Wert Z höhere maximale Spannungsabfälle zwischen Gate und Drain möglich. Die Länge Z kann ungefähr 50 nm bis 2000 nm betragen. - Die Ausrichtung des Drain-Bereiches (bzw. des hochdotierten (N+) ersten Anschluss-Bereiches
702 ) und/oder des verlängerten Drain-Bereiches (i. e. des niedrigdotierten (N–) ersten Body-Bereiches704 ) kann bei dem DE-NMOS-FET800 mit Hilfe einer Maske erreicht werden. Anschaulich weist der Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor800 in diesem Fall eine masken-ausgerichtete (mask-aligned) Device-Struktur auf. - Wie bei den im Zusammenhang mit
7A und7B beschriebenen Ausführungsbeispielen können der erste Anschluss-Bereich702 und/oder der zweite Anschluss-Bereich703 des DE-MOS-FETs800 silizidiert sein. Das Ausbilden einer Silizid-Schicht kann nach dem Bilden des Gates806 erfolgen, wobei eine Silizidierung des nicht von dem Gate806 bedeckten zweiten Teilbereiches des ersten Body-Bereiches704 zum Beispiel mit Hilfe einer Maske blockiert werden kann, wie durch den Bereich810 in8A dargestellt ist. -
8B zeigt eine Querschnittsansicht eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors (DE-MOS-FETs)820 gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Der DE-MOS-FET820 unterscheidet sich von dem in8A gezeigten DE-MOS-FET800 dadurch, dass der DE-MOS-FET820 als Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor820 , i. e. als P-Kanal-MOS-Feldeffekttransistor mit einem lateral erweiterten Drain-Bereich, ausgebildet ist. Der schwach p-dotierte (P–) erste Body-Bereich724 bildet dabei eine Verlängerung (extension) des aus dem stark p-dotierten (P+) ersten Anschluss-Bereich722 gebildeten Drains des Transistors820 . -
9 zeigt eine Layout-Darstellung einer als Feldeffekttransistor-Anordnung ausgebildeten elektronischen Bauelement-Anordnung900' basierend auf einer MuGFET-Technologie gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung. Die Feldeffekttransistor-Anordnung900' weist eine Multi-Fin-Struktur908 mit einer Mehrzahl von parallel geschalteten Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistoren (DE-NMOS-FETs)900 auf, wobei jeder DE-NMOS-FET900 eine Fin-Struktur909 aufweist. Jede Finne909 weist einen stark n-dotierten (N+) ersten Anschluss-Bereich702 und einen stark n-dotierten (N+) zweiten Anschluss-Bereich703 auf, sowie einen schwach n-dotierten (N–) ersten Body-Bereich704 und einen schwach p-dotierten (P–) zweiten Body-Bereich705 . Der schwach n-dotierte (N–) erste Body-Bereich704 und der schwach p-dotierte (P–) zweite Body-Bereich705 sind zwischen dem stark n-dotierten (N+) ersten Anschluss-Bereich702 und dem stark n-dotierten (N+) zweiten Anschluss-Bereich703 ausgebildet, derart, dass der schwach n-dotierte (N–) erste Body-Bereich704 zwischen dem stark n-dotierten (N+) ersten Anschluss-Bereich702 und dem schwach p-dotierten (P–) zweiten Body-Bereich705 ausgebildet ist und dass ferner der schwach p-dotierte (P–) zweite Body-Bereich705 zwischen dem schwach n-dotierten (N–) ersten Body-Bereich704 und dem stark n-dotierten (N+) zweiten Anschluss-Bereich703 ausgebildet ist. Die Fin-Strukturen909 weisen daher eine ähnliche Struktur auf wie die in7A bzw.8A gezeigten Fin-Strukturen709 bzw.809 . - Die ersten Anschluss-Bereiche
702 der Fin-Strukturen909 sind mittels einer Mehrzahl erster elektrischer Kontakte702b gemeinsam elektrisch kontaktiert, und die zweiten Anschluss-Bereiche703 sind mittels einer Mehrzahl zweiter elektrischer Kontakte703b gemeinsam elektrisch kontaktiert. Die ersten Anschluss-Bereiche702 bilden zusammen mit den ersten elektrischen Kontakten702b einen Drain-Bereich (mit ”Drain” in9 bezeichnet) der Feldeffekttransistor-Anordnung900' , während die zweiten Anschluss-Bereiche703 zusammen mit den zweiten elektrischen Kontakten703b einen Source-Bereich (mit ”Source” in9 bezeichnet) der Feldeffekttransistor-Anordnung900' bilden. - Die Multi-Fin-Struktur
908 der Feldeffekttransistor-Anordnung900' weist einen Gate-Bereich bzw. Gate (durch die Gate-Elektrode906 in9 gekennzeichnet) auf, welches Gate906 auf bzw. über den schwach p-dotierten (P–) zweiten Body-Bereichen705 und auf bzw. über einem ersten Teilbereich des schwach n-dotierten (N–) ersten Body-Bereiches704 jedes einzelnen der parallel geschalteten DE-NMOS-FETs900 (bzw. der jeweiligen Fin-Strukturen909 ) ausgebildet ist. Mit anderen Worten weisen die in der Feldeffekttransistor-Anordnung900' ausgebildeten DE-NMOS-FETs900 ein gemeinsames Gate906 auf, welches anschaulich über die Fin-Strukturen909 der Multi-Fin-Struktur908 gewickelt ist. Das Gate906 kann dabei so eingerichtet sein, wie es beispielsweise im Zusammenhang mit dem in8A gezeigten Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor800 beschrieben wurde. Das Gate906 weist ferner einen elektrischen Anschluss G auf, mit welchem Anschluss G das Gate906 elektrisch kontaktiert werden kann. - Die hochdotierten (N+) Anschluss-Bereiche
702 und703 der Feldeffekttransistor-Anordnung900' können als masken-ausgerichtete (mask-aligned) Bereiche ausgebildet werden. Ferner können der erste Anschluss-Bereich702 und/oder der zweite Anschluss-Bereich703 silizidiert werden zum Verringern eines Kontaktwiderstandes zwischen den elektrischen Kontakten702b bzw.703b und den Anschluss-Bereichen702 bzw.703 , wobei die Silizidierung in dem gekennzeichneten Bereich910 (zum Beispiel mit Hilfe einer Maske) blockiert werden kann. - In einer alternativen (nicht gezeigten) Ausgestaltung der Erfindung kann das Gate
906 auch den jeweiligen ersten Body-Bereich704 jedes DE-NMOS-FETs900 (bzw. der entsprechenden Fin-Struktur909 ) überdecken (vgl.7A ), und die hochdotierten (N+) Anschluss-Bereiche702 und703 können als selbst-ausgerichtete (self-aligned) Bereiche ausgebildet werden. Ferner können in der Feldeffekttransistor-Anordnung900' anstelle von DE-NMOS-FETs eine Mehrzahl von DE-PMOS-FETs (wie z. B. die in7B bzw.8B gezeigten DE-PMOS-FETs720 bzw.820 ) parallel geschaltet sein. - Im Folgenden werden anhand der
10A bis10E verschiedene Prozessschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel beschrieben, wobei das elektronische Bauelement beispielhaft als Thyristor in einer FD-SOI-Technologie ausgebildet wird. -
10A zeigt das elektronische Bauelement1000 bzw. den Thyristor1000 während eines ersten Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem in einem Halbleitersubstrat (Silizium-Substrat) eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)1001 gebildet wird. Das Substrat weist eine intrinsische Leitfähigkeit auf, so dass oberhalb der vergrabenen Oxidschicht1001 eine Schicht1007' mit intrinsischer Leitfähigkeit (intrinsische Schicht1007' ) gebildet wird. -
10B zeigt den Thyristor1000 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem auf der intrinsischen Schicht1007' eine elektrisch isolierende Schicht (Gate-Dielektrikum)1006' , z. B. eine Oxidschicht (Gate-Oxid), gebildet wird und auf der elektrisch isolierenden Schicht1006' eine elektrisch leitende Gate-Schicht1006'' (z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material) gebildet wird. -
10C zeigt den Thyristor1000 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem Material der elektrisch isolierenden Schicht1006' und der elektrisch leitfähigen Schicht1006'' entfernt wird, derart, dass mehrere voneinander getrennte Gate-Bereiche1006 auf bzw. über der intrinsischen Schicht1007' gebildet werden. Mit anderen Worten werden mittels Strukturierens der elektrischen isolierenden Schicht1006' und der elektrisch leitfähigen Schicht1006'' (zum Beispiel unter Verwendung eines Lithographie-Verfahrens und eines Ätz-Verfahrens) mehrere voneinander getrennte Gate-Bereiche1006 gebildet, wobei die Gate-Bereiche1006 auf bzw. über einem Teilbereich1007 der intrinsischen Schicht1007' gebildet werden, welcher Teilbereich1007 anschaulich als Body-Bereich1007 des Thyristors1000 dient. - Die Gate-Bereiche
1006 sind durch Zwischenbereiche1011 voneinander getrennt, in welchen Zwischenbereichen1011 kein Gate-Material ausgebildet ist. Anschaulich betrachtet bleiben Teilbereiche der intrinsischen Schicht1007' frei. - Die getrennten Gate-Bereiche
1006 können so gebildet werden, dass zwei benachbarte Gate-Bereiche1006 einen Abstand X aufweisen, welcher beispielsweise kleiner sein kann als die minimale Merkmalsgröße (Minimum Feature Size) F der verwendeten Technologie. Der Abstand X kann einige 10 nm betragen, zum Beispiel 15 nm bis 60 nm. - Ferner können die getrennten Gate-Bereiche
1006 so gebildet werden, dass einer oder mehrere der Gate-Bereiche1006 eine Länge L aufweist, welche Länge L beispielsweise kleiner sein kann als die minimale Merkmalsgröße F der verwendeten Technologie. Die Länge L eines Gate-Bereiches1006 kann 5 nm bis 200 nm betragen, beispielsweise einige 10 nm, zum Beispiel 15 nm bis 60 nm. - Anschaulich bilden die Gate-Bereiche
1006 zusammen mit den Zwischenbereichen1011 eine geschlitzte Gate-Maske (slotted gate mask)1017 bzw. ein geschlitztes Gate1017 . In dem gezeigten Beispiel weist die Gate-Maske1017 sieben voneinander durch Zwischenräume1011 getrennte Gate-Bereiche1006 auf, wobei ein zentraler Gate-Bereich1006 eine Länge von typischerweise größer als 2L aufweisen kann, während die anderen sechs Gate-Bereiche die Länge L aufweisen. Ferner weisen jeweils zwei benachbarte Gate-Bereiche1006 einen Abstand X auf. - Die in
10C gezeigte Struktur der geschlitzten Gate-Maske1017 , i. e. die Anzahl, Größe und der Abstand der Gate-Bereiche1006 bzw. Zwischenräume1011 , ist beispielhaft. Alternativ kann die Gate-Maske1017 eine andere Schlitz-Struktur aufweisen. -
10D zeigt den Thyristor1000 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem die freien Teilbereiche (d. h. die unterhalb der Zwischenbereiche1011 ausgebildeten Teilbereiche) des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert werden. Das Einbringen der Dotierstoffe erfolgt dabei durch die zwischen den getrennten Gate-Bereichen1006 ausgebildeten Zwischenräume1011 hindurch. In dem gezeigten Beispiel erfolgt das Dotieren mit Hilfe eines HDD-Implantations-Verfahrens, wobei eine Mehrzahl von ersten schwach n-dotierten (N–) Teilbereichen1004a mittels einer N+-Implantation (durch ”N+ implant” in10D gekennzeichnet) in einer einem (nachfolgend gebildeten, vgl.10E ) ersten Anschluss-Bereich1002 benachbarten ersten Hälfte des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 gebildet wird, und eine Mehrzahl von zweiten schwach p-dotierten (P–) Teilbereichen1005a mittels P+-Implantation (durch ”P+ implant” in10D gekennzeichnet) in einer einem (nachfolgend gebildeten, vgl.10E ) zweiten Anschluss-Bereich1003 benachbarten zweiten Hälfte des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 gebildet wird. - Anschaulich erfolgt das Dotieren der intrinsischen Schicht
1007' bzw. des in der intrinsischen Schicht1007' ausgebildeten (intrinsischen) Body-Bereiches1007 (genauer der ersten Teilbereiche1004a und der zweiten Teilbereiche1005a ) durch die geschlitzte Gate-Maske1017 hindurch, wobei die Dotierung direkt unterhalb der Gate-Bereiche1006 blockiert wird. Mit anderen Worten wird der (intrinsische) Body-Bereich1007 nur lokal dotiert (unterhalb der Zwischenbereiche1011 ), bzw. die Dotierstoffatome werden nur lokal (in die freiliegenden Teilbereiche1004a bzw.1005a des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 ) implantiert. - Aufgrund eines sich in dem (intrinsischen) Body-Bereich
1007 ausbildenden Dotierstoff-Konzentrationsgefälles zwischen den dotierten Teilbereichen1004a bzw.1005a und den angrenzenden undotierten Teilbereichen des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 kann es zu einer Ausdiffusion (out-diffusion) der in den (intrinsischen) Body-Bereich1007 eingebrachten Dotierstoffatome kommen. Mit anderen Worten können sich die Dotierstoffprofile der dotierten Teilbereiche1004a bzw.1005a auch in die maskierten Teilbereiche unterhalb der Gate-Bereiche1006 ausdehnen. Mittels der lateralen Ausdiffusion der Dotierstoffatome können anschaulich ein verdünnter schwach n-dotierter erster Body-Teilbereich1004 und ein verdünnter schwach p-dotierter zweiter Body-Teilbereich1005 in dem intrinsischen Body-Bereich1007 nebeneinander gebildet werden. Die verdünnten schwach dotierten Body-Teilbereiche1004 bzw.1005 werden auch als ”Diluted Body Regions” bezeichnet. Anschaulich weist der erste Body-Teilbereich1004 eine gemusterte bzw. verdünnte N-Implantation auf, und der zweite Body-Teilbereich1005 weist eine gemusterte bzw. verdünnte P-Implantation auf. -
10E zeigt den Thyristor1000 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem in der intrinsischen Schicht1007' ein erster Anschluss-Bereich1002 und ein zweiter Anschluss-Bereich1003 gebildet werden. Der erste Anschluss-Bereich1002 wird als stark p-dotierter (P+) Bereich1002 ausgebildet, und der zweite Anschluss-Bereich1003 wird als stark n-dotierter (N+) Bereich ausgebildet. In dem gezeigten Beispiel erfolgt das Dotieren des ersten Anschluss-Bereiches1002 und des zweiten Anschluss-Bereiches1003 jeweils mit Hilfe eines HDD-Implantations-Verfahrens (durch ”P+ implant” bzw. ”N+ implant” in10E gekennzeichnet), wobei die Gate-Bereiche1006 während des Dotierens bzw. des Implantierens der Dotierstoffatome als Maske dienen können. - Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Anschluss-Bereich
1002 und/oder in dem zweiten Anschluss-Bereich1003 kann ungefähr größer als 1020 cm–3 sein. -
10F zeigt den Thyristor1000 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem auf dem ersten Anschluss-Bereich1002 ein erster elektrischer Kontakt1002b gebildet wird, und bei dem weiterhin auf dem zweiten Anschluss-Bereich1003 ein zweiter elektrischer Kontakt1003b gebildet wird. Der erste Anschluss-Bereich1002 kann mittels des ersten elektrischen Kontaktes1002b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich eine Anode des Thyristors1000 (durch ”Anode” in10F gekennzeichnet). Entsprechend kann der zweite Anschluss-Bereich1003 mittels des zweiten elektrischen Kontaktes1003b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich eine Kathode des Thyristors1000 (durch ”Cathode” in10F gekennzeichnet). - Die Gate-Bereiche
1006 können als potentialfreie Gate-Bereiche1006 (elektrisch freischwebende Gates bzw. Floating Gates) ausgebildet werden. Alternativ können einer oder mehrere der Gate-Bereiche1006 elektrisch kontaktiert werden (zum Beispiel mittels eines oder mehrerer elektrischer Gate-Anschlüsse, vgl.11 ) und zum Beispiel als Steuer-Gates für eine verbesserte Triggerung des Thyristors1000 verwendet werden. -
11 zeigt eine Querschnittsansicht eines Thyristors1100 , welcher mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel hergestellt wird. Das Verfahren weist zunächst im Wesentlichen dieselben Prozessschritte auf, wie im Zusammenhang mit den10A bis10C beschrieben wurde, wobei im Unterschied zu der in10C gezeigten Thyristor-Struktur1000 bei dem in11 gezeigten Thyristor1100 eine Mehrzahl von voneinander getrennten Gate-Bereichen1106 so gebildet wird, dass alle Gate-Bereiche1106 in etwa dieselbe Länge L' aufweisen, und dass ferner jeweils zwei benachbarte Gate-Bereiche1106 einen Abstand X' aufweisen. Die Werte für die Länge L' und den Abstand X' können in derselben Größenordnung liegen wie im Zusammenhang mit10C für die Länge L bzw. den Abstand X beschrieben wurde. Die Gate-Bereiche1106 sind durch Zwischenbereiche1111 voneinander getrennt. - Bei dem Verfahren zum Herstellen des Thyristors
1100 werden in einem zu dem in10D gezeigten Prozessschritt analogen Prozessschritt die freiliegenden Teilbereiche (d. h. die unterhalb der Zwischenbereiche1111 ausgebildeten Teilbereiche) des intrinsischen Body-Bereiches1007 mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert, wobei das Einbringen der Dotierstoffe durch die zwischen den getrennten Gate-Bereichen1106 ausgebildeten Zwischenräume1111 hindurch erfolgt. Im Unterschied zu dem in10D gezeigten Prozessschritt erfolgt gemäß dem hier beschriebenen Beispiel des Verfahrens das Dotieren mit Hilfe eines Halo-Implantations-Verfahrens, wobei die Mehrzahl von ersten schwach n-dotierten (N–) Teilbereichen1004a mittels einer N-Halo-Implantation (durch ”N halo implant” in11 gekennzeichnet) in der dem ersten Anschluss-Bereich1002 benachbarten ersten Hälfte des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 gebildet wird, und die Mehrzahl von zweiten schwach p-dotierten (P–) Teilbereichen1005a mittels einer P-Halo-Implantation (durch ”P halo implant” in11 gekennzeichnet) in der dem zweiten Anschluss-Bereich1003 benachbarten zweiten Hälfte des (intrinsischen) Body-Bereiches1007 gebildet wird. - Anschaulich erfolgt das Dotieren des intrinsischen Body-Bereiches
1007 bzw. der Teilbereiche1004a und1005a mittels Einbringens von Halo-Implants durch eine geschlitzte Gate-Maske1117 hindurch, wodurch, wie oben im Zusammenhang mit10D beschrieben, ein verdünnter schwach n-dotierter erster Body-Teilbereich (”diluted body region”)1004 und ein verdünnter schwach p-dotierter zweiter Body-Teilbereich1005 in dem intrinsischen Body-Bereich1007 des Thyristors1100 nebeneinander gebildet werden. - Das Einbringen der Halo-Implants bzw. die Halo-Implantation kann unter einem Implantations-Winkel von beispielsweise 5° bis 80° erfolgen. Anschaulich treffen die Dotierstoff-Atome schräg auf die Oberfläche des Body-Bereiches
1007 . Aufgrund eines Abschattungseffekts der Gate-Bereiche1106 bzw. des Gate-Stacks während einer schrägen Implantation ist das Verwenden eines Halo-Implantations-Verfahrens besonders effektiv zum Ausbilden der verdünnten Body-Teilbereiche1004 bzw.1005 . - In einem anderen, zu dem in
10E gezeigten Prozessschritt analogen, Prozessschritt des Verfahrens wird mittels einer P+-Implantation (durch ”P+ implant” in11 gekennzeichnet) der stark p-dotierte (P+) erste Anschluss-Bereich1002 gebildet, und mittels einer N+-Implantation (durch ”N+ implant” in11 gekennzeichnet) wird der stark n-dotierte (N+) zweite Anschluss-Bereich1003 gebildet. - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens wird auf dem ersten Anschluss-Bereich
1002 ein erster elektrischer Kontakt1002b gebildet, und auf dem zweiten Anschluss-Bereich1003 wird ein zweiter elektrischer Kontakt1003b gebildet. Der erste Anschluss-Bereich1002 kann mittels des ersten elektrischen Kontaktes1002b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich eine Anode des Thyristors1100 (durch ”Anode” in11 gekennzeichnet). Entsprechend kann der zweite Anschluss-Bereich1003 mittels des zweiten elektrischen Kontaktes1003b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich eine Kathode des Thyristors (durch ”Cathode” in11 gekennzeichnet). - In einem anderen Prozessschritt des Verfahrens werden die über dem verdünnten schwach n-dotierten ersten Body-Teilbereich
1004 des Thyristors1100 ausgebildeten Gate-Bereiche1006 mittels eines ersten elektrischen Gate-Anschlusses G1 gemeinsam elektrisch kontaktiert, und die über dem verdünnten schwach p-dotierten zweiten Body-Teilbereich1005 des Thyristors110 ausgebildeten Gate-Bereiche1006 werden mittels eines zweiten elektrischen Gate-Anschlusses G2 gemeinsam elektrisch kontaktiert. Mittels Anlegens eines ersten elektrischen Potentials an die über dem verdünnten schwach n-dotierten ersten Body-Teilbereich1004 ausgebildeten Gate-Bereiche1106 und/oder mittels Anlegens eines zweiten elektrischen Potentials an die über dem verdünnten schwach p-dotierten zweiten Body-Teilbereich1005 ausgebildeten Gate-Bereiche1106 können das Oberflächenpotential des verdünnten schwach n-dotierten Body-Bereiches1104 und/oder das Oberflächenpotential des verdünnten schwach p-dotierten Body-Bereiches1105 gesteuert werden, womit zum Beispiel eine verbesserte Triggerung des Thyristors1100 erreicht werden kann. - Im Folgenden werden anhand der
12A bis12D verschiedene Prozessschritte eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel beschrieben, wobei das elektronische Bauelement beispielhaft als Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (DE-MOS-FET) in einer MuGFET-Technologie ausgebildet wird. -
12A zeigt das elektronische Bauelement1200 bzw. den Drain-Extendend-MOS-Feldeffekttransistor (DE-MOS-FET)1200 während eines ersten Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem in einem Halbleitersubstrat (z. B. einem Silizium-Substrat, nicht gezeigt) eine vergrabene Oxidschicht (Buried Oxide, BOX)1201 gebildet wird. Das Substrat kann eine intrinsische Leitfähigkeit aufweisen. Alternativ kann das Substrat als schwach p-dotiertes Substrat, z. B. mit einer Dotierstoffkonzentration von weniger als ungefähr 1016 cm–3, ausgebildet sein. Oberhalb der vergrabenen Oxidschicht1201 wird daher eine Schicht1207' ausgebildet, welche Schicht1207' eine intrinsische Leitfähigkeit aufweisen kann oder alternativ schwach p-dotiert (P–) sein kann (durch ”i (P–)” in12A gekennzeichnet). In der nachfolgenden Beschreibung wird angenommen, dass die Schicht1207' als intrinsische Schicht ausgebildet ist. Die Schicht1207' wird so strukturiert, dass sie eine Fin-Struktur bzw. Steg-Struktur1209 aufweist. -
12B zeigt den DE-MOS-FET1200 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem auf der intrinsischen Schicht1207' bzw. der Fin-Struktur1209 eine elektrisch isolierende Schicht (Gate-Dielektrikum)1206' , z. B. eine Oxidschicht (Gate-Oxid), gebildet wird und auf der elektrisch isolierenden Schicht1206' eine elektrisch leitende Gate-Schicht1206'' (z. B. aus Polysilizium, einem Metall oder einem anderen geeigneten elektrisch leitfähigen Material) gebildet wird. -
12C zeigt den DE-MOS-FET1200 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem Material der elektrisch isolierenden Schicht1206' und der elektrisch leitenden Gate-Schicht1206'' entfernt wird, derart, dass mehrere voneinander getrennte Gate-Bereiche1206a bzw.1206b auf bzw. über der intrinsischen Schicht1207' gebildet werden. Mit anderen Worten werden mittels Strukturierens der elektrischen isolierenden Schicht1206' und der elektrisch leitfähigen Schicht1206'' (zum Beispiel unter Verwendung eines Lithographie-Verfahrens und eines Ätz-Verfahrens) mehrere voneinander getrennte Gate-Bereiche1206a bzw.1206b gebildet, wobei die Gate-Bereiche1206a bzw.1206b auf bzw. über einem Teilbereich1207 der intrinsischen Schicht1207' gebildet werden, welcher Teilbereich1207 anschaulich als Body-Bereich1207 des DE-MOS-FETs1200 dient. Gemäß dem gezeigten Beispiel wird ein erster Gate-Bereich1206a gebildet, welcher eine Länge L'' aufweist, sowie eine Mehrzahl von zweiten Gate-Bereichen1206b , welche zweiten Gate-Bereiche eine Länge L''' aufweisen. - Die Gate-Bereiche
1206a bzw.1206b sind durch Zwischenbereiche1211 voneinander getrennt, in welchen Zwischenbereichen1211 kein Gate-Material ausgebildet ist. Durch das Entfernen des Gate-Materials werden anschaulich Teilbereiche der (intrinsischen) Schicht1207' freigelegt, welche von der elektrisch isolierenden Schicht1206' bzw. der elektrisch leitfähigen Schicht1206'' verdeckt waren. - Die getrennten Gate-Bereiche
1206a ,1206b können so gebildet werden, dass zwei benachbarte zweite Gate-Bereiche1206b und/oder der erste Gate-Bereich1206a und ein zu dem ersten Gate-Bereich1206a benachbarter zweiter Gate-Bereich1206b einen Abstand X'' aufweisen, welcher Abstand X'' beispielsweise kleiner sein kann als die minimale Merkmalsgröße (Minimum Feature Size) F der verwendeten Technologie. Der Abstand X'' kann einige 10 nm betragen, zum Beispiel 15 nm bis 60 nm. - Der erste Gate-Bereich
1206a kann eine Länge L'' aufweisen, welche für die jeweilige verwendete Technologie üblich ist, beispielsweise Minimum Feature Size F oder größer (z. B. 30 nm bis 600 nm). - Ferner können die zweiten Gate-Bereiche
1206b so gebildet werden, dass einer oder mehrere der zweiten Gate-Bereiche1206b eine Länge L''' aufweist, welche Länge L''' beispielsweise kleiner sein kann als die minimale Merkmalsgröße F der verwendeten Technologie. Die Länge L''' eines zweiten Gate-Bereiches1206b kann ungefähr 5 nm bis 200 nm betragen, beispielsweise einige 10 nm, zum Beispiel 15 nm bis 60 nm. - Anschaulich bilden der erste Gate-Bereich
1206a und die zweiten Gate-Bereiche1206b zusammen mit den Zwischenbereichen1211 eine geschlitzte Gate-Maske (slotted gate mask)1217 . - Die in
12C gezeigte Struktur der geschlitzten Gate-Maske1217 , i. e. die Anzahl, Größe und der Abstand der Gate-Bereiche1206a ,1206b bzw. der Zwischenräume1211 , ist beispielhaft. Alternativ kann die Gate-Maske1217 eine andere Schlitz-Struktur aufweisen. -
12D zeigt den DE-MOS-FET1200 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem die freiliegenden Teilbereiche (d. h. die unterhalb der Zwischenbereiche1211 ausgebildeten Teilbereiche) des intrinsischen Body-Bereiches1207 mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert werden. Das Einbringen der Dotierstoffe erfolgt durch die zwischen den getrennten Gate-Bereichen1206a bzw.1206b ausgebildeten Zwischenräume1211 hindurch. In dem gezeigten Beispiel erfolgt das Dotieren mit Hilfe eines Halo-Implantations-Verfahrens, wobei eine Mehrzahl von schwach n-dotierten (N–) Teilbereichen1204a mittels einer N-Halo-Implantation (durch ”N halo implant” in12D gekennzeichnet) in einem, einem ersten Anschluss-Bereich1202 (nicht gezeigt, vgl.12E ) benachbarten Teilbereich des Body-Bereiches1207 gebildet wird. - Anschaulich erfolgt das Dotieren des Body-Bereiches
1207 (genauer der Teilbereiche1204a ) durch die geschlitzte Gate-Maske1217 hindurch, wobei die Dotierung unterhalb des ersten Gate-Bereiches1206a und unterhalb der zweiten Gate-Bereiche1206b blockiert wird. Mit anderen Worten wird der Body-Bereich1207 nur lokal dotiert (unterhalb der Zwischenbereiche1211 ), bzw. die Dotierstoffatome werden nur lokal (in die freiliegenden Teilbereiche1204a des Body-Bereiches1207 ) implantiert. - Aufgrund eines sich in dem Body-Bereich
1207 ausbildenden Dotierstoff-Konzentrationsgefälles zwischen den dotierten Teilbereichen1204a des Body-Bereiches1207 und den angrenzenden undotierten Teilbereichen des Body-Bereiches1207 kann es zu einer Ausdiffusion (out-diffusion) der in den Body-Bereich1207 eingebrachten Dotierstoffatome kommen. Mit anderen Worten können sich die Dotierstoffprofile der dotierten Teilbereiche1204a in die maskierten Teilbereiche unterhalb der zweiten Gate-Bereiche1206b ausdehnen. Mittels der lateralen Ausdiffusion der Dotierstoffatome wird ein verdünnter schwach n-dotierter erster Body-Teilbereich1204 (”Diluted Body Region”) in dem Body-Bereich1207 gebildet. Der verdünnte schwach n-dotierte erste Body-Teilbereich1204 weist anschaulich eine gemusterte bzw. verdünnte N-Implantation auf und dient als erweiterter Drain-Bereich1204 des DE-MOS-FETs1200 . - Unterhalb des ersten Gate-Bereiches
1206a verbleibt ein intrinsischer (bzw. schwach p-dotierter) zweiter Body-Teilbereich1205 in dem Body-Bereich1207 , welcher zweite Body-Teilbereich1205 anschaulich als Kanalbereich1205 des DE-MOS-FETs1200 dient. - Gemäß dem in
12D gezeigten Beispiel erfolgt das Einbringen von Halo-Implants nur im Bereich der geschlitzten Gate-Maske1217 (wie durch ”N halo implant” gekennzeichnet). Alternativ kann eine Halo-Implantation über dem gesamten Device bzw. DE-MOS-FET1200 erfolgen, wobei in diesem Fall Halo-Implants auch in die rechts und links neben dem Body-Bereich1207 ausgebildeten Teilbereiche der intrinsischen Schicht1207' (d. h. in die als Anschluss-Bereiche des DE-MOS-FETs1200 auszubildenden Teilbereiche der intrinsischen Schicht1207' , vgl.12E ) eingebracht werden können. -
12E zeigt den DE-MOS-FET1200 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem in der intrinsischen (bzw. schwach p-dotierten) Schicht1207' mittels Einbringens von Dotierstoffatomen ein stark n-dotierter (N+) erster Anschluss-Bereich1202 und ein stark n-dotierter (N+) zweiter Anschluss-Bereich1203 gebildet werden. Das Dotieren des ersten Anschluss-Bereiches1202 und des zweiten Anschluss-Bereiches1203 erfolgt mit Hilfe eines HDD-Implantations-Verfahrens (Highly Doped Drain) bzw. eines Source/Drain-Implantations-Verfahrens (durch ”N+ implant” in12E gekennzeichnet), wobei der erste Gate-Bereich1206a und/oder die zweiten Gate-Bereiche1206b als Maske dienen können. Die Dotierstoffkonzentration in dem ersten Anschluss-Bereich1202 und/oder in dem zweiten Anschluss-Bereich1203 kann ungefähr mehr als 1020 cm–3 betragen. -
12F zeigt den DE-MOS-FET1200 während eines anderen Prozessschrittes des Verfahrens, bei dem eine Silizidierung des ersten Anschluss-Bereiches1202 und des zweiten Anschluss-Bereiches1203 erfolgt, derart, dass auf dem ersten Anschluss-Bereich1202 (bzw. in einem oberen Teilbereich des ersten Anschluss-Bereiches1202 ) eine erste Silizid-Schicht1202a gebildet wird und dass auf dem zweiten Anschluss-Bereich1203 (bzw. in einem oberen Teilbereich des zweiten Anschluss-Bereiches1203 ) eine zweite Silizid-Schicht1203a gebildet wird. Ferner wird auf dem geschlitzten Gate1217 (d. h. auf dem ersten Gate-Bereich1206a und auf den zweiten Gate-Bereichen1206b ) sowie auf bzw. in den schwach n-dotierten Teilbereichen1204a , welche schwach n-dotierten Teilbereiche1204a unterhalb der Zwischenbereiche1211 ausgebildet sind, eine dritte Silizid-Schicht1207a gebildet. - Weiterhin wird auf der auf dem ersten Anschluss-Bereich
1202 ausgebildeten ersten Silizid-Schicht1202a ein erster elektrischer Kontakt1202b gebildet, und auf der auf dem zweiten Anschluss-Bereich1203 ausgebildeten zweiten Silizid-Schicht1203a wird ein zweiter elektrischer Kontakt1203b gebildet. Der stark n-dotierte (N+) erste Anschluss-Bereich1202 kann mittels des ersten elektrischen Kontaktes1202b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich einen Drain-Bereich des DE-MOS-FETs1200 (durch ”Drain” in12F gekennzeichnet). Entsprechend kann der zweite Anschluss-Bereich1203 mittels des zweiten elektrischen Kontaktes1203b elektrisch kontaktiert werden und bildet anschaulich einen Source-Bereich des DE-MOS-FETs1200 (durch ”Source” in12F gekennzeichnet). - Der erste Gate-Bereich
1206a wird mittels eines elektrischen Gate-Anschlusses G elektrisch kontaktiert und dient anschaulich als Gate1206a des DE-MOS-FETs1200 . - Der DE-MOS-FET
1200 weist einen stark n-dotierten ersten Anschluss-Bereich1202 (Drain), einen stark n-dotierten zweiten Anschluss-Bereich1203 (Source), einen intrinsischen (bzw. schwach p-dotierten) Kanalbereich1205 , ein Gate1206a sowie einen erweiterten Drain-Bereich1204 auf. Der DE-MOS-FET1200 ist daher anschaulich als N-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor1200 bzw. DE-NMOS-FET1200 ausgebildet. -
13 zeigt einen N-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor1300 (DE-NMOS-FET1300 ), welcher mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel hergestellt werden kann. - Das Verfahren zum Herstellen des in
13 gezeigten DE-NMOS-FETs1300 unterscheidet sich von dem im Zusammenhang mit den12A bis12F beschriebenen Verfahren dadurch, dass das Ausbilden der dritten Silizid-Schicht1207a bei dem DE-NMOS-FET1300 verhindert wird. Mit anderen Worten wird anschaulich eine Silizidierung des erweiterten Drain-Bereiches1204 zwischen den Gate-Bereichen1206a ,1206b bzw. eine Silizidierung der unterhalb der Zwischenbereiche1211 ausgebildeten dotierten Teilbereiche1204a verhindert bzw. blockiert, und praktischerweise wird auch eine Silizidierung der Gates blockiert. In13 ist schematisch der Umriss1310 des Silizid-blockierten Bereiches dargestellt. - Das Blockieren der Silizidierung kann mit Hilfe einer Maske erfolgen. Ferner kann eine Silizidierung des erweiterten Drain-Bereiches
1204 blockiert werden, da sich in bzw. unterhalb der sehr schmalen Öffnungen1211 der Gate-Maske1217 kein Silizid ausbildet (zum Beispiel bedingt durch Materialeigenschaften, Korngröße, etc.). Mit anderen Worten können die Zwischenräume1211 so schmal sein, dass sich darin kein Silizid ausbildet. - Dadurch, dass eine Silizidierung des erweiterten Drain-Bereiches
1204 blockiert wird, kann ein unerwünschter elektrischer Stromfluss nahe der Oberfläche vermieden werden. -
14 zeigt einen N-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor1400 (DE-NMOS-FET1400 ), welcher mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel hergestellt werden kann. - Das Verfahren zum Herstellen des in
14 gezeigten DE-NMOS-FETs1400 unterscheidet sich von dem im Zusammenhang mit den12A bis12F beschriebenen Verfahren dadurch, dass zum Ausbilden der schwach n-dotierten Teilbereiche1204a des erweiterten Drain-Bereiches1204 sowohl ein Halo-Implantations-Verfahren als auch ein HDD-Implantations-Verfahren (bzw. Source/Drain-Implantations-Verfahren) verwendet werden. Mit anderen Worten werden in dem gezeigten Beispiel sowohl N-Halo-Implants (nicht gezeigt, vgl.12D ) als auch N+-Implants (in14 repräsentativ durch ”N+ implant” gekennzeichnet) zum Ausbilden der schwach n-dotierten Teilbereiche1204a verwendet. -
15 zeigt einen N-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor1500 (DE-NMOS-FET1500 ), welcher mittels eines Verfahrens zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes gemäß einem Beispiel hergestellt werden kann. - Das Verfahren zum Herstellen des in
15 gezeigten DE-NMOS-FETs1500 unterscheidet sich von dem im Zusammenhang mit14 beschriebenen Verfahren dadurch, dass das Ausbilden der dritten Silizid-Schicht1207a bei dem DE-NMOS-FET1500 verhindert wird. Mit anderen Worten wird eine Silizidierung des erweiterten Drain-Bereiches1204 bzw. der unterhalb der Zwischenbereiche1211 ausgebildeten dotierten Teilbereiche1204a verhindert bzw. blockiert. In15 ist schematisch der Umriss1310 des Silizid-blockierten Bereiches dargestellt. Das Blockieren der Silizidierung kann mit Hilfe einer Maske erfolgen. Dadurch, dass eine Silizidierung des erweiterten Drain-Bereiches1204 blockiert wird, kann ein unerwünschter elektrischer Stromfluss nahe der Oberfläche vermieden werden. - Die in
12F bis15 dargestellten Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistoren sind als N-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistoren (DE-NMOS-FETs) ausgebildet. Alternativ können in analoger Weise auch P-Kanal-Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistoren (DE-PMOS-FETs) gebildet werden. Allgemein kann ein Verfahren zum Herstellen eines elektronischen Bauelementes sowohl für NMOS-Strukturen als auch für PMOS-Strukturen verwendet werden. - Ferner können alle vorgenannten, in einer MugFET-Technologie realisierten Ausführungsbeispiele der Erfindung alternativ auch in einer Silizium-auf-Isolator-Technologie (SOI-Technologie) realisiert werden.
Claims (14)
- Verfahren zum Herstellen eines Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistors, bei dem • auf bzw. über einem Substrat eine Fin-Struktur gebildet wird; • in der Fin-Struktur ein erster dotierter Anschluss-Bereich und ein zweiter dotierter Anschluss-Bereich gebildet werden, wobei der erste Anschluss-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich einen ersten Leitfähigkeitstyp aufweisen; • ein erster Body-Bereich und ein zweiter Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet werden, wobei der erste Body-Bereich zwischen dem ersten Anschluss-Bereich und dem zweiten Body-Bereich gebildet wird, und wobei der zweite Body-Bereich zwischen dem ersten Body-Bereich und dem zweiten Anschluss-Bereich gebildet wird; • der erste Body-Bereich und der zweite Body-Bereich mittels Einbringens von Dotierstoffatomen dotiert werden, derart, dass der erste Body-Bereich den ersten Leitfähigkeitstyp aufweist, und dass der zweite Body-Bereich einen zu dem ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist; • ein Gate-Bereich auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich und auf bzw. über zumindest einem Teilbereich des ersten Body-Bereiches gebildet wird.
- Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei das Dotieren des ersten Body-Bereiches und/oder des zweiten Body-Bereiches mit Hilfe eines Vt-Implantations-Verfahrens erfolgt.
- Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei der erste Anschluss-Bereich, der erste Body-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich n-dotiert werden, und wobei der zweite Body-Bereich p-dotiert wird, so dass ein Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor gebildet wird.
- Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei der erste Anschluss-Bereich, der erste Body-Bereich und der zweite Anschluss-Bereich p-dotiert werden, und wobei der zweite Body-Bereich n-dotiert wird, so dass ein Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor gebildet wird.
- Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der Gate-Bereich so gebildet wird, dass ein Teilbereich des ersten Body-Bereiches von dem Gate-Bereich frei bleibt.
- Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei die Länge des von dem Gate-Bereich freien Tei1bereiches 50 nm bis 2000 nm beträgt.
- Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei einer oder mehrere der folgenden Bereiche silizidiert werden: • der erste Anschluss-Bereich; • der zweite Anschluss-Bereich; • der Gate-Bereich.
- Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei eine Maske verwendet wird, mit deren Hilfe eine Silizidierung des von dem Gate-Bereich freien Teilbereiches des ersten Body-Bereiches blockiert wird.
- Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (
700 ,720 ,800 ,820 ), • mit einer Fin-Struktur (709 ,729 ), welche aufweist: – einen ersten dotierten Anschluss-Bereich (702 ,722 ) und einen zweiten dotierten Anschluss-Bereich (703 ,723 ), welche auf bzw. über einem Substrat (701 ) ausgebildet sind, wobei der erste Anschluss-Bereich (702 ,722 ) und der zweite Anschluss-Bereich (703 ,723 ) einen ersten Leitfähigkeitstyp aufweisen; – einen ersten dotierten Body-Bereich (704 ,724 ) und einen zweiten dotierten Body-Bereich (705 ,725 ), welche zwischen dem ersten Anschluss-Bereich (702 ,722 ) und dem zweiten Anschluss-Bereich (703 ,723 ) ausgebildet sind, wobei der erste Body-Bereich (704 ,724 ) zwischen dem ersten Anschluss-Bereich (702 ,722 ) und dem zweiten Body-Bereich (705 ,725 ) ausgebildet ist, wobei der zweite Body-Bereich (705 ,725 ) zwischen dem ersten Body-Bereich (704 ,724 ) und dem zweiten Anschluss-Bereich (703 ,723 ) ausgebildet ist, und wobei der erste Body-Bereich (704 ,724 ) den ersten Leitfähigkeitstyp aufweist und der zweite Body-Bereich (705 ,725 ) einen zu dem ersten Leitfähigkeitstyp entgegengesetzten zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist; • mit einem Gate-Bereich (706 ,806 ), welcher auf bzw. über dem zweiten Body-Bereich (705 ,725 ) und auf bzw. über zumindest einem Teilbereich des ersten Body-Bereiches (704 ,724 ) ausgebildet ist. - Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (
700 ,800 ) gemäß Anspruch 9, wobei der erste Anschluss-Bereich (702 ,722 ), der erste Body-Bereich (704 ,724 ) und der zweite Anschluss-Bereich (703 ,723 ) n-dotiert sind, und wobei der zweite Body-Bereich (705 ,725 ) p-dotiert ist, so dass der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (700 ,800 ) als ein Drain-Extended-NMOS-Feldeffekttransistor ausgebildet ist. - Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (
720 ,820 ) gemäß Anspruch 9, wobei der erste Anschluss-Bereich (702 ,722 ), der erste Body-Bereich (704 ,724 ) und der zweite Anschluss-Bereich (703 ,723 ) p-dotiert sind, und wobei der zweite Body-Bereich (705 ,725 ) n-dotiert ist, so dass der Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (720 ,820 ) als ein Drain-Extended-PMOS-Feldeffekttransistor ausgebildet ist. - Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (
800 ,820 ) gemäß einem der Ansprüche 9 bis 11, wobei der Gate-Bereich (806 ) so ausgebildet ist, dass ein Teilbereich des ersten Body-Bereiches (704 ,724 ) von dem Gate-Bereich (806 ) frei bleibt. - Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistor (
800 ,820 ) gemäß Anspruch 12, wobei die Länge des von dem Gate-Bereich (806 ) freien Teilbereiches ungefähr 50 nm bis 2000 nm beträgt. - Elektronische Bauelement-Anordnung, mit einer Mehrzahl von parallel geschalteten Drain-Extended-MOS-Feldeffekttransistoren (
900 ) gemäß einem der Ansprüche 9 bis 13.
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