DE102006015518B3 - Kohärenzmaß-Messung - Google Patents

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Abstract

Es wird eine Einrichtung zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters (11) zweier optischer Felder (1, 8) offenbart. Die Einrichtung weist eine Vorrichtung (3) zum Umwandeln einer gaußförmigen Modenstruktur des ersten optischen Feldes (1) in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur, eine Vorrichtung (6), die das erste optische Feld (1) mit der Gauß-Laguerre-Modenstruktur und das zweite optische Feld (8) mit einer gaußförmigen Modenstruktur zum Erzeugen des Interferenzmusters (11) einander überlagert und eine Detektionsvorrichtung (13) zum Erfassen des Interferenzmusters (11) auf.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Einrichtung und ein Verfahren zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters zweier optischer Felder.
  • Mit der Messung des komplexen Kohärenzmaßes ist die Messung eines Interferenzkontrastes und/oder einer Interferenzphase möglich. Dieses komplexe Kohärenzmaß ist eine komplexe Zahl, bei der – völlig gleichwertig – entweder der Real- und Imaginärteil oder der Betrag und die Amplitude angegeben werden kann.
  • Die instantane Messung der Interferenzphase zweier optischer Felder ist von großer praktischer Bedeutung in der Interferometrie. Eine Anwendung der Messung des Inferterenzkontrastes liegt in der Charakterisierung optischer Datenströme oder von kurzen Lichtimpulsen. Im Wesentlichen basiert die Messung des komplexen Kohärenzmaßes darauf, dass die beiden optischen Felder gleichzeitig mit vier verschiedenen Phasendrehungen, beispielsweise 0, π/2, π und 3π/2, überlagert und die resultierenden Signale getrennt registriert werden. Durch eine geeignete Verrechnung der erfassten vier Photoströme mittels bekannter Algorithmen ist der Interferenzkontrast bzw. die Interferenzphase ermittelbar. Das Messergebnis ist dabei weitgehend unabhängig von der Intensität der Eingangsfelder.
  • Ein typischer Aufbau ist aus "Linear Optical Sampling" von C. Dorrer et al, IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, 15, 1746–1748, Dezember 2003, bekannt. Dort ist die Messung von Wellenformen und Augendiagrammen (eye-diagram) bei hohen Bit-Raten durch optisches Abtasten unter Verwendung kohärenter Detektion beschrieben. Hierbei wird das elektrische Feld der zu untersuchenden Wellenform mittels eines Abtastpulses durchlassgesteuert. Der Aufbau verwendet polarisierende und nicht-polarisierende Strahlteiler λ/4- und λ/2-Verzögerungsplatten und vier Photodioden. Dieser Aufbau aus diskreten Elementen erfordert einen hohen Justieraufwand und besitzt eine hohe Empfindlichkeit für technische Rauschbeiträge, beispielsweise Strahlrichtungsrauschen.
  • Aus der US 2005/0185255 A1 sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zum linearen optischen Abtasten eines Interferenzmusters eines elektrischen Feldes bekannt, bei denen die Vorrichtung eine 90° optische Hybrideinrichtung und einen Prozessor zum Signalabtasten aufweist. Das Interferenzsignal wird von zwei balancierten Photodetektoren erfasst und an einen A/D-Wandler weitergeleitet. Die Analog/Digital-Wandlung dieser beiden Signale wird mit den Impulsen des Abtast-Lasers synchronisiert. Anschließend wird von dem Prozessor aus den empfangenen Signalen ein demodulierter Datenpuls erzeugt. Bei dieser integrier-optischen Variante muss allerdings eine λ/4-Phasendrehung mittels eines Heizelementes aktiv geregelt werden.
  • Die DE 199 35 631 C1 offenbart korrelatorische Verfahren und Anordnungen zur zeitlich aufgelösten Charakterisierung von einzelnen ultrakurzen Laserimpulsen in Mehrkanaltechnik. Hierbei ist vorgesehen, dass eine Matrix aus partiell reflektierenden, geeigneten Phasenelementen mit voneinander verschiedenen Phasenprofilen als Mehrkanalinterferometer wirksam wird und die Interferenzmuster bzw. die bei Überlagerung mit Referenzstrahlen linear- oder nichtlinear-optisch erzeugten Interferogramme bzw. Hologramme mit oder ohne optische Bildvorverarbeitung auf einen Detektor abgebildet oder direkt auf diesen erzeugt werden und nach Weiterverarbeitung mit geeigneten elektronischen und/oder mathematischen Prozeduren Informationen über die räumliche und zeitliche Verteilung von Phase und/oder Intensität einzelner Laserimpulse liefern.
  • Vor diesem Hintergrund ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Interferenzkontrast- bzw. Interferenzphasen-Messung in einfacher Weise zu verbessern.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Einrichtung mit den Merkmalen gemäß Anspruch 1 sowie durch ein Verfahren mit den Merkmalen gemäß Anspruch 9 gelöst.
  • Erfindungsgemäß weist eine Einrichtung zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters zweier optischer Felder eine Vorrichtung zum Umwandeln einer gaußförmigen Modenstruktur des ersten optischen Feldes in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur, eine Vorrichtung, die das erste optische Feld mit der Gauß-Laguerre-Modenstruktur und das zweite optische Feld mit einer gaußförmigen Modenstruktur zum Erzeugen des Interferenzmusters einander überlagert, und eine Detektionsvorrichtung zum Erfassen des Interferenzmusters auf. Die Einrichtung nutzt die topologischen Phaseneigenschaften solcher Gauß-Laguerre-Moden aus, die eine nicht verschwindende tangentiale Ordnungszahl aufweisen. Im einfachsten Fall ist dies eine ringförmige Mode LG0,±1, die auch häufig mit "doughnut"-Mode bezeichnet wird. Diese Mode weist eine schrauben- oder wendelförmige Wellenfront auf, bei der die Intensität auf der Achse verschwindet. In einer zu der Schraubenachse senkrechten Ebene kommen somit alle vier Phasen als Quadranten der ringförmigen Intensitätsverteilung vor. Wenn nun das erste optische Feld eine derartige Modenstruktur aufweist und das zweite optische Feld eine gaußförmige Grundmode aufweist, beispielsweise LG0,0, dann ergibt eine Phasenfront-angepasste Überlagerung der beiden Felder das gewünschte Interferenzmuster in den vier Quadranten des kreisförmigen Intensitätsprofils.
  • Bevorzugt ist als Detektionsvorrichtung eine Quadranten-Photodiode vorgesehen, um das Interterenzmuster in den vier Quadranten des kreisförmigen Intensitätsprofils zu erfassen.
  • In vorteilhafter Weise ist die Vorrichtung zum Überlagern der beiden optischen Felder ein Strahlteiler, beispielsweise ein 50%-Strahlteiler, der bei der erfindungsgemäßen Einrichtung die Funktion eines Strahlkombinierers übernimmt.
  • Da bei der Gauß-Laguerre-Mode die Intensität auf der Achse verschwindet, kommt es nach der Überlagerung der beiden optischen Felder in dem zentralen Teil nicht zu einer Interferenz, weshalb in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes eine Blende vorgesehen ist, um das Zentrum des zweiten optischen Feldes auszublenden.
  • Alternativ sind in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes vor der Vorrichtung zum Überlagern zwei Kegellinsen hintereinander angeordnet vorgesehen, um ein ringförmiges zweites optisches Feld zu erhalten.
  • Bevorzugt weist die Vorrichtung zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes ein Hologramm auf. Dieses Hologramm kann beispielsweise ein streifenförmiges Hologramm mit einer Dislokation im Zentrum sein.
  • Alternativ kann die Vorrichtung zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes zwei hintereinander angeordnete Kegellinsen, um ein erstes optisches Feld zu erhalten, und eine Phasenplatte aufweisen, um eine schraubenförmige Phasenverschiebung des ersten optischen Feldes zu erhalten. Die Phasenplatte kann beispielsweise eine Plexiglasscheibe in der Form einer ansteigenden Rampe sein, so dass die optische Dicke und damit die Phasenverschiebung im Verlauf der Rampensteigung zunehmen und an der Rampenkante eine Phasenverschiebung von genau einer Wellenlänge vorgesehen ist.
  • Weiterhin alternativ weist die Vorrichtung zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes zwei hintereinander angeordnete Zylinderlinsen auf, um aus einer um 45°-gedrehten Hermite-Gauß-Modenstruktur eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur zu erhalten.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters zweier optischer Felder sieht vor, dass das erste optische Feld von einer gaußförmigen Modenstruktur in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur umgewandelt und mit dem zweiten optischen Feld mit einer gaußförmigen Modenstruktur zum Erzeugen des Interferenzmusters überlagert wird und anschließend das derart erzeugte Interferenzmuster erfasst wird.
  • Bevorzugt werden der Phasenwinkel und/oder das Intensitätsprofil des Interferenzmusters erfasst.
  • Nachfolgend wird die Erfindung anhand der detaillierten Beschreibung der Ausführungsbeispiele unter Bezug auf die Figuren beispielhaft näher erläutert, in denen:
  • 1 – eine schematische Skizze eines ersten Ausführungsbeispiels einer erfindungsgemäßen Einrichtung zeigt;
  • 2 – eine zweidimensionale Darstellung des Hologramms aus der 1 zeigt;
  • 3 – schematisch die schraubenförmige Wellenfront der Gauß-Laguerre-Moden zeigt;
  • 4 – eine schematische Skizze einer alternativen Vorrichtung zum Umwandeln der gaußförmigen Modenstruktur des ersten optischen Feldes in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur zeigt.
  • In der 1 ist eine erfindungsgemäße Einrichtung schematisch skizziert. Ein erstes optisches Feld 1 weist eine gaußförmige Modenstruktur auf, d. h. das erste optische Feld 1 hat eine ebene Wellenfront, was symbolisch durch den vollständig ausgefüllten Kreis 2 dargestellt ist. Das erste optische Feld 1 trifft auf eine Vorrichtung 3 zum Umwandeln der gaußförmigen Modenstruktur des ersten optischen Feldes 1 in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur. In dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist dies ein geeignetes Hologramm 4 (siehe nachfolgend 2), auf den das erste optische Feld 1 unter einem bestimmten Winkel auftrifft und an dem es entsprechend gebeugt wird.
  • Die erste Ordnung des Beugungsfeldes des ersten optischen Feldes 1 weist nun eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur mit einer nicht verschwindenden tangentialen Ordnungszahl auf. Im einfachsten Fall ist dies die so genannte „doughnut"-Mode LG0,±1, die eine schraubenförmige Wellenfront (siehe nachfolgend 3) aufweist. Die Intensität des ersten optischen Feldes 1 verschwindet dadurch auf der Achse der spi ralförmigen Wellenfront, weshalb dieses in der 1 symbolisch als Kreisring 5 dargestellt ist.
  • Im weiteren Verlauf trifft das erste optische Feld 1 mit der Gauß-Laguerre-Modenstruktur auf eine Vorrichtung 6 zum Übereinanderlagern zweier optischer Felder. Dies ist in dem dargestellten Ausführungsbeispiel ein Strahlteiler 7, beispielsweise ein 50%-Strahlteiler. Für eine bessere Übersichtlichkeit der Darstellung ist nur einer der beiden Anteile des aufgeteilten optischen Feldes 1 dargestellt. Dies ist der den Strahlteiler 7 durchlaufende Anteil.
  • Ein zweites optisches Feld 8 trifft ebenfalls auf den Strahlteiler 7. Auch hier ist aus Gründen der Übersichtlichkeit nur einer der beiden Anteile des aufgeteilten optischen Feldes 8 in der 1 dargestellt. Dies ist der an dem Strahlteiler 7 reflektierte Anteil. Das zweite optische Feld 8 weist eine gaußförmige Modenstruktur auf, die als ebene Wellenfront symbolisch durch den vollständig ausgefüllten Kreis 9 dargestellt ist.
  • Die optischen Felder 1 und 8 überlagern sich hinter dem Strahlteiler 7 und bilden ein optisches Feld 10 mit einem Interferenzmuster 11. Es ist klar, dass das erste optische Feld 1 und das zweite optische Feld 8 zur Interferenz miteinander geeignet sind. Da bei dem ersten optischen Feld 1 mit der Gauß-Laguerre-Modenstruktur die Intensität auf der Achse verschwindet, ist eine Blende 12 in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes 8 vorgesehen, die den zentralen Bereich des optischen Feldes 8 bzw. 10 ausblendet, indem keine Interferenz vorliegt. Alternativ zu dem in der 1 dargestellten Aufbau, kann die Blende 12 in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes 8 vorgesehen sein, bevor dieses auf den Strahlteiler 7 trifft.
  • Das optische Feld 10 fällt anschließend auf eine Detektionsvorrichtung 13, beispielsweise Quadranten-Photodiode 14, die das Interferenzmuster 11 erfasst. Das Interferenzmuster 11 ist in der 1 symbolisch durch einen an einer Stelle unterbrochenen Ring dargestellt. Die Unterbrechung bzw. Lücke entspricht dem Minimum der Intensitätsverteilung des Interferenzmusters 11 und das Maximum der Intensitätsverteilung ist diesem Minimum genau gegenüber, also um 180° versetzt angeordnet. Durch Verrechnen der vier Photoströme der einzelnen Quadranten der Photodiode 14 kann sowohl die Lage des Minimums bzw. Maximums, d. h. der Phasenwinkel, und die Intensität erfasst und gemessen werden.
  • Das erste optische Feld 1 und das zweite optische Feld 8 können bei einer Verwendung der erfindungsgemäßen Vorrichtung in der Interferometrie die beiden Strahläste darstellen, die aus einem ursprünglichen optischen Feld durch Strahlteilung aufgeteilt worden sind. Die Messung des Interferenzkontrastes kann dann beispielsweise zu einer Längenmessung oder einer Brechungsindexmessung verwendet werden.
  • Eine andere Anwendung sieht vor, dass das erste optische Feld 1 ein Lichtimpuls einer optischen Datenübertragung ist. Das kann ein Datenstrom aus der Telekommunikation mit einer typischen Datenübertragung von etwa 10 bis 160 GBit/s sein. Derartig schnelle Datenströme sind von elektronischen Schaltkreisen nicht mehr verarbeitbar. Die erfindungsgemäße Interferenzkontrast-Messung kann zur Überprüfung verwendet werden, ob eine Interferenz mit einem Referenzlaser, beispielsweise das zweite optische Feld 8, stattfindet. Die Interferenzkontrast-Messung kann folglich zur Überwachung der Übertragungsqualität der optischen Datenübertragung verwendet werden. Es ist klar, dass bei diesem Verfahren auch das erste optische Feld 1 der Referenzlaser und das zweite optische Feld 8 der Lichtimpuls des Datenstromes sein kann.
  • 2 zeigt in einer zweidimensionalen Darstellung das Hologramm 4 aus der 1, an dem das erste optische Feld 1 gebeugt wird. Eine einfache Variante, um die Gauß-Laguerre-Modenstruktur zu erzeugen, verwendet das hier dargestellte streifenförmige Hologramm 4, das in seinem Zentrum eine Dislokation aufweist.
  • In der 3 ist die schraubenförmige Wellenfront der Gauß-Laguerre-Mode des optischen Feldes 1 aus der 1 skizziert dargestellt. Die Phasenverschiebung der einzelnen Segmente nach einem vollständigen Umlauf der Spirale beträgt 2π und entspricht somit genau einer Wellenlänge des optischen Feldes 1. Als Folge davon löschen sich die Anteile der jeweils um π verschobenen Phasen aus, so dass die Achse der Schraube keine Intensität mehr aufweist.
  • 4 zeigt ein alternatives Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung 3 zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes 1. Hierbei sind zwei hintereinander angeordnete Kegellinsen 15 und 16 vorgesehen, die die gaußförmige Modenstruktur in eine ringförmige Mode umformen. Eine Phasenverschiebung findet durch die Kegellinsen 15 und 16 nicht statt. Nach dem Durchlaufen der beiden Kegellinsen 15 und 16 trifft das nun ringförmige optische Feld 1 auf eine Phasenplatte 17 zur winkelabhängigen Phasenverschiebung, so dass die gaußförmige Modenstruktur des einfallenden optischen Feldes 1 in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur umgewandelt ist. Die Phasenplatte 17 kann eine rampenförmige Linse, beispielsweise aus Plexiglas sein, bei der der ansteigende Brechungsindex aufgrund der zunehmenden Linsendicke eine größer werdende Phasenverschiebung bewirkt. Alternativ kann die Phasenplatte 17 aus einem geeigneten Flüssigkristall bestehen, so dass der ansteigende Brechungsindex bzw. die optische Dicke in einzelnen Segmenten durch eine angelegte Spannung einstellbar ist.
  • Eine weitere Möglichkeit die Gauß-Laguerre-Modenstruktur des optischen Feldes 1 zu erhalten, besteht darin, dass um 45°-gedrehte Gauß-Hermite-Moden durch zwei hintereinander angeordnete Zylinderlinsen hindurch laufen, die zueinander parallel ausgerichtet sind. Ein prinzipieller Aufbau hierzu ist in „An experiment to observe the intensity and phase structure of Laguerre-Gaussian laser modes" von M. Padgett et. al., Am. J. Phys. 64 (1), 77–82, Januar 1996, beschrieben.
  • Zwei hintereinander angeordnete Kegellinsen können ebenfalls eingesetzt werden, um die ebene Wellenfront des zweiten optischen Feldes vor dem Auftreffen auf den Strahlteiler (7 in 1) in eine Ringform umzuformen. In diesem Fall kann eine Blende zum Ausblenden des Zentrums des Interferenzmusters entfallen.

Claims (10)

  1. Einrichtung zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters (11) zweier optischer Felder (1, 8) mit: einer Vorrichtung (3) zum Umwandeln einer gaußförmigen Modenstruktur des ersten optischen Feldes (1) in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur, einer Vorrichtung (6), die das erste optische Feld (1) mit einer Gauß-Laguerre-Modenstruktur und das zweite optische Feld (8) mit einer gaußförmigen-Modenstruktur zum Erzeugen des Interferenzmusters (11) einander überlagert, und einer Detektionsvorrichtung (13) zum Erfassen des Interferenzmusters (11).
  2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Detektionsvorrichtung (13) eine Quadranten-Photodiode (14) vorgesehen ist.
  3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (6) zum Überlagern der beiden optischen Felder (1, 8) ein Strahlteiler (7) ist.
  4. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes (8) eine Blende (12) vorgesehen ist, um das Zentrum des zweiten optischen Feldes (8) auszublenden.
  5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Ausbreitungsweg des zweiten optischen Feldes (8) vor der Vorrichtung (6) zum Überlagern zwei Kegellinsen hintereinander angeordnet vorgesehen sind, um ein ringförmiges zweites optisches Feld (8) zu erhalten.
  6. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (3) zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes (1) ein Hologramm (4) aufweist.
  7. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (3) zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes (1) zwei hintereinander angeordnete Kegellinsen (15, 16), um ein ringförmiges erstes optisches Feld (1) zu erhalten, und eine Phasenplatte (17) aufweist, um eine spiralförmige Phasenverschiebung des ersten optischen Feldes (1) zu erhalten.
  8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (3) zum Umwandeln der Modenstruktur des ersten optischen Feldes (1) zwei hintereinander angeordnete Zylinderlinsen aufweist, um aus einer um 45°-gedrehten Hermite-Gauß-Modenstruktur eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur zu erhalten.
  9. Verfahren zum Messen eines komplexen Kohärenzmaßes eines Interferenzmusters (11) zweier optischer Felder (1, 8), bei dem das erste optische Feld (1) von einer gaußförmigen Modenstruktur in eine Gauß-Laguerre-Modenstruktur umgewandelt und mit dem zweiten optischen Feld (8) mit einer gaußförmigen Modenstruktur zum Erzeugen des Interferenzmusters (11) überlagert wird und anschließend das derart erzeugte Interferenzmuster (11) erfasst wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Phasenwinkel und/oder das Intensitätsprofil des Interferenzmusters (11) erfasst werden.
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