DE102005056106A1 - Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät mit einer eine Probe unter vorgebbarer Elevation beleuchtenden Lichtquelle und einem relativ dazu beweglichen Lichtempfänger zum Lichtempfang von der Probe. Hierbei ist vorgesehen, dass der Lichtempfänger zur simultanen Erfassung eines breiten Elevationgswinkelbereiches eine Mehrzahl von Empfängerelementen umfasst und zumindest einer von Lichtquelle und Lichtempfänger um eine allgemein auf die Probe senkrechte Achse beweglich ist.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft das oberbegrifflich Beanspruchte und befasst sich somit mit einem Zweirichtungsreflextanzverteilungsmessgerät sowie der Messung der Reflextanzverteilung.
  • Ein Gegenstand, der glänzt, erscheint dem Betrachter unterschiedlich hell, je nach dem, wie sich der Betrachter relativ zu einer Lichtquelle stellt, die den glänzenden Gegenstand beleuchtet. Diese Tatsache ist allgegenwärtig beobachtbar, sei es bei hochglänzenden Zeitungsmagazinen, metallenen Oberflächen oder dergleichen. Beschrieben und charakterisiert werden kann dieses Verhalten des Glanzes durch Angabe der Reflektanzverteilung. Sie gibt für alle Raumrichtungspaare an, wie Licht, das einen Gegenstand aus einer bestimmten Raum richtung beleuchtet, durch den beleuchteten Gegenstand in irgend eine andere Raumrichtung weitergestrahlt wird. Ein idealer Spiegel folgt etwa der bekannten Beziehung Einfallswinkel gleich Ausfallswinkel, wobei in einer Richtung quer zum Ausfallslichtstrahl kein Licht erfasst wird. Anders ist dies bei matten oder stumpfen Oberflächen, in denen nur ein geringer Teil des Lichtes wie bei einem Spiegel reflektiert wird, während die Oberfläche zugleich stark streut; so kann Licht auch an anderen Stellen beobachtet werden als nur jenen, die exakt in Richtung des Ausfallsstrahls liegen, welcher sich bei idealer Reflexion ergeben würde. Dieses Glanzverhalten gibt dem Menschen ein großes Maß an Information über einen beobachteten Gegenstand. Für die Generierung täuschend echter computergenerierter Bilder ist daher die genaue Berücksichtigung des Glanzverhaltens von fundamentaler Bedeutung. Dies gilt insbesondere dann, wenn der Beobachter sich mit einem computergenerierten Bild längere Zeit auseinandersetzen kann, wie dies bei Standbildern oder Werbefotografien der Fall ist. Realistische Ergebnisse können hier nur erhalten werden, wenn das Glanzverhalten für eine gegebene Oberfläche, beispielsweise eines neu zu entwickelnden Automobils, dessen Aussehen für verschiedene Lackarten computergeneriert werden soll, exakt bekannt ist.
  • Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgeräte dienen zur Bestimmung des Glanzverhaltens einer Probe.
  • Bei bekannten Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgeräten wird eine Probe so bestrahlt, dass die Lichtquelle nach und nach einen Bogen über die Probe hinweg beschreibt. Die Probe wird also unter vorgebbarer Elevation von der Lichtquelle beleuchtet. Gewünscht ist dabei, den Lichtempfang von der Probe für jeden Punkt einer über der Probe angeordneten Hemisphäre zu bestimmen. Dazu kann ein Lichtempfänger um die Probe herum bewegt werden, wobei er einerseits relativ zur Lichtquelle gedreht wird, wie die Zeiger einer Uhr, auf deren Ziffernblatt die Probe zu denken wäre, und andererseits muss auch seine Elevation unter bogenförmiger Bewegung über die Probe hinweg sukzessive verändert werden. Bekannte Systeme, die auf diese Weise die Zweirichtungsreflektanzverteilung bestimmen, sind präzise, aber teuer, aufwendig, groß und langsam.
  • Es wäre wünschenswert, ein Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät angeben zu können, mit welchem schnell und preiswert hinreichend präzise Messungen des Probenglanzverhaltens erhalten werden können.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, Neues für die gewerbliche Anwendung bereitzustellen.
  • Die Lösung dieser Aufgabe wird in unabhängiger Form beansprucht. Bevorzugte Ausführungsformen finden sich in den Unteransprüchen.
  • Die vorliegende Erfindung schlägt somit in einem ersten Grundgedanken ein Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät mit einer eine Probe unter vorgebbarer Elevation beleuchtenden Lichtquelle und einem relativ dazu beweglichen Lichtempfänger zum Lichtempfang von der Probe vor, bei welchem der Lichtempfänger zur simultanen Erfassung eines breiten Elevationswinkelbereiches eine Mehrzahl von Empfängerelementen umfasst und zumindest einer von Lichtquelle und Lichtempfänger um eine allgemein auf die Probe senkrechte Achse beweglich ist.
  • Ein erster Grundgedanke ist somit in der Erkenntnis zu sehen, dass eine präzise Abbildung des beleuchteten Lichtfleckes nicht erforderlich ist, um die Glanzeigenschaften eines Körpers zu bestimmen. Es wurde erkannt, dass es vielmehr möglich ist, auch ohne präzise Abbildung dieses Lichtfleckes auf einem Empfänger eine sogar für Standbilder und längere Betrachtung vollkommen ausreichende Messung ohne eine derartige Abbildungsoptik vorzunehmen. Dies ermöglicht die Ausbildung des Lichtempfängers mit einer Vielzahl von Empfängerelementen, die dicht beieinander angeordnet sind, und somit die simultane Erfassung eines breiten Elevationswinkelbereiches, der durch die Mehrzahl von Empfängerelementen winkelaufgelöst ausmessbar ist. Die Empfängerelemente können dabei durch den bevorzugten Verzicht auf größere abbildende Optiken und dergleichen nahe an der Probe angeordnet werden, was es erlaubt, einen sehr breiten Elevationswinkelbereich simultan winkelaufgelöst zu erfassen. Dadurch wird wiederum nur noch eine Rotation zwischen Lichtempfänger und Lichtquelle um eine auf die Probe allgemein senkrechte Achse erforderlich, so dass an Stelle eines bislang abzutastenden zweidimensionalen Feldes nurmehr eine einzelne Drehung bzw. Verschwenkung und damit eine Messung mit einem einzigen Bewegungsfreiheitsgrad vorgenommen werden muss. Dies hat wiederum zur Folge, dass die gesamte bauliche Anordnung wesentlich vereinfacht wird, schon weil keine so komplizierte Bewegungsmechanik und/oder -sensorik mehr erforderlich ist, was demgemäß eine weitere Verkleinerung, Vereinfachung und Verbilligung des Gesamtgerätes ermöglicht.
  • Bevorzugt ist es, wenn die Lichtquelle einen auf die Probe fokussierbaren Lichtfleck emittiert. Wenn das die Probe be strahlende Licht aus einem Leuchtmittel durch eine Faser geführt wird, wird der Gesamtaufbau noch weiter vereinfacht, weil es nicht erforderlich ist, das gesamte Leuchtmittel samt Halterung usw. zu bewegen.
  • Es ist möglich, im Strahlengang zwischen dem Leuchtmittel der Lichtquelle und der Probe ein Spektralfiltermittel vorzusehen, mit dem selektiv Licht einer vorgegebenen spektralen Intensitätsverteilung auf die Probe gestrahlt werden kann. Wenn Filterräder oder dergleichen als Spektralfiltermittel eingesetzt werden, können sehr schnell hintereinander Messungen der Zweirichtungsreflektanzverteilung bei unterschiedlichen Wellenlängen durchgeführt werden.
  • Wenn die Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet wird, der bei näherungsweise senkrechtem Einfall auf die Probe fokussiert ist, wird bei sehr geringer Beleuchtungselevation, also fast streifender Beleuchtung, ohne zusätzliche Maßnahmen der beleuchtete Fleck vergrößert sein. Bevorzugt ist es daher, wenn Mittel zur Verringerung der bei geringer Lichtquellenelevation auftretenden, lichtquellenabbildungsinduzierten Fehler vorgesehen sind. In einer ersten Variante können dazu beispielsweise die Abbildungsfehler bei schrägem Einfall, das heisst der sogenannte Astigmatismus, kompensiert werden, wozu etwa Zylinderlinsen oder dergleichen im Strahlengang vor der Probe angeordnet werden können. Alternativ und/oder zusätzlich hierzu ist es möglich, eine numerische Korrektur auf den endlich großen Leuchtfleck vorzunehmen, das heisst die real erfassten Rohdaten entsprechend numerisch zu korrigieren. Dies kann nach Art einer Faltung geschehen, wobei Rohdaten für andere Haupteinfallswinkel mit ausgewertet werden können und erforderlichenfalls die Geometrie und die Dimensionierung des Messsignals und der Probe zu berücksichtigen ist. Es wäre auch denkbar, die Probe sehr klein auszubilden und auf einem stab- bzw. nadelförmigen Träger über dunklem Untergrund anzuordnen.
  • Der Lichtempfänger wird typisch als Feld mit einer Vielzahl von Empfängerelementen gebildet sein. Es kann hierzu in einer bevorzugten Variante auf Lichtempfängerfelder zurückgegriffen werden, wie sie per se bereits erhältlich sind. Insbesondere können CMOS- oder CCD-Lichtempfängerfelder verwendet werden.
  • Eine besonders bevorzugte Variante ist die Verwendung von linearen Lichtempfängerfeldern. Dies ist einerseits bevorzugt, weil so die Abschattung der Probe bei Bestimmung der Rückstreuung, also dicht nahe der Lichtquelle angeordneten Lichtempfängern, minimiert ist, und andererseits, weil auch Rückstreuungen usw. vom Lichtempfänger auf die Probe minimiert werden, die bei den durch Erfassung des gewünschten breiten Elevationswinkelbereiches typisch vorgesehenen nahen Abständen zwischen Lichtempfänger und Lichtsender andernfalls störend wirken könnten.
  • Der Lichtempfänger wird typisch einen Elevationswinkelbereich von wenigstens 15° erfassen. Dies reicht bereits aus, um für bestimmte Anwendungen brauchbare Aussagen zu erhalten, erfordert aber womöglich noch eine Bewegung des Lichtempfängerfeldes, falls eine näherungsweise vollumfängliche Zweirichtungsreflektanzverteilung gemessen werden soll. Bevorzugt sind daher Winkelerfassungen eines Elevationswinkelbereiches von wenigstens 30°, insbesondere zumindest 45°. Es können in den bevorzugtesten Fällen sogar Winkel von näherungsweise 90° erfasst werden. Dazu kann ein unterstes genutztes Lichtempfän gerfeld ungefähr auf der Höhe der Probe angeordnet werden und der Lichtempfänger erstreckt sich bis dicht an oder über die Normale auf den Beleuchtungslichtfleck. Es sei erwähnt, dass bei äquidistanten Abständen der Lichtempfängerelemente im Lichtempfängerfeld dabei Fehler insoweit entstehen, als nicht jeder Lichtempfänger den exakt gleichen Winkelbereich beobachtet. Dennoch sind die sich daraus ergebenden Ungenauigkeiten, so sie nicht ohnehin kompensiert werden, ohne weiteres auch für hochempfindliche Messungen wie bei Autolacken oder anderen stark glänzenden Lacken ohne weiteres hinnehmbar.
  • Weiter sei darauf hingewiesen, dass für bestimmte, hinreichend dünne und durchscheinende Proben und geeignete Probentypen, die den Schattenverlauf nicht beeinflussen, sogar eine Erfassung von mehr als 90° Elevationswinkelbereich sinnvoll sein kann, wobei ein Teil der Beobachtung unterhalb der Probe geschieht. Dies kann durch Verwendung eines sich bis unter die Probenebene erbrechenden Lichtempfängerfeldes geschehen oder aber, bevorzugt durch Verwendung von zwei zumindest näherungsweise in der Probenebene zusammenstoßende Lichtempfängerteilfeldern geschehen, die sich dann jeweils zur Probenachse hin neigen, so dass sich in Seitenansicht eine „<"-Form ergibt. Mit einer solchen Anordnung kann simultan zur Reflektanz in zwei Richtungen auch die Transmittanz gemessen werden, was gerade bei durchscheinenden Proben wie Kunststoffen, die so dünn sind, dass Streuung in der Probe noch keine hochsignifikanten optischen Effekte verursacht, sehr hilfreich sein kann. Dass alternativ und/oder zusätzlich auch die Lichtquelle so bewegbar sein kann, dass sie die Probe von unten her aus geeigneten, dann negativen Elevationswinkel bestrahlt, um so gleichfalls die Transmittanz mit der Anordnung zu erfassen, sei erwähnt. Die Wahl zwischen Lichtquellenbewegung hin zu negativen Elevationswinkeln oder größeren, negative Elevationen erfassenden Lichtempfängerfeldern kann dabei im Hinblick auf den gewünschten mechanischen und elektrischen Aufwand sowie benötigte Messgeschwindigkeit geschehen. Weiter sei im Übrigen darauf hingewiesen, dass – unabhängig von der eventuellen Erfassung einer Transmittanz – die Veränderung des Beleuchtungselevationswinkels auch durch Veränderung der Probenneigung geschehen kann, wobei die Probe zum Beispiel auf einem Tisch angeordnet werden kann, der sich um eine in der Probenebene liegende Achse dreht.
  • In einer bevorzugten Variante ist der Lichtempfänger gegen eine Normale auf die Probe geneigt. Insbesondere wird der Lichtempfänger damit einen Bereich von näherungsweise wenigstens 90° Elevation Beobachtungswinkelbereich, gegebenenfalls auf einer Seite der Probe, abdecken. Wird ein Bereich von weniger als 90° Elevation Beobachtungswinkelbereich abgedeckt, so kann die Probe gegebenenfalls auch unmittelbar senkrecht von oben beleuchtet werden. Wird hingegen ein Bereich von zumindest 90° abgedeckt, so ist die Probe bei Beleuchtung senkrecht von oben abgeschattet. Es zeigt sich jedoch, dass die abgeschatteten Bereiche nicht zwingend ausgemessen werden müssen, um täuschend echte computergenerierte Standbilder mit hochpräzise modelliertem Glanzverhalten bestimmen zu können. Eine Interpolation ist vielmehr für die abgeschatteten Bereiche in der Regel unkritisch.
  • Die – bevorzugt mit nur schmalem Rand gebildeten und somit allgemein nadelförmigen – Lichtempfänger müssen nicht exakt die Achse schneiden, die senkrecht auf die Probe am Lichtfleck verläuft; es ist allerdings bevorzugt, wenn die Empfän gernadel dieser gedachten Achse zumindest sehr nahe kommt, was bei der typisch bevorzugten Neigung des Empfängerelementes zur Probenachse einer windschiefen Lage entsprechen würde.
  • Dass das lineare Empfängerfeld gegebenenfalls auf einem Bogen angeordnet sein könnte, um einen Winkelfehler zu reduzieren, sei erwähnt.
  • In einer bevorzugten Variante kann der gesamte Elevationsbereich durch die Lichtempfängerelemente mit ein und derselben Empfindlichkeit bzw. Verstärkung und/oder Zeitintegration beobachtet werden; auf diese Weise treten keine Fehler durch Umschalten eines Verstärkungsbereiches und dergleichen auf. Es sei darauf hingewiesen, dass lineare Empfängerfelder mit hoher Auflösung und hinreichender Dynamik bereits in kommerziellen Produkten des Anmelders eingesetzt werden.
  • Die Lichtquelle wird bevorzugt zur Elevationsveränderung um die Probe als Schwenkbogenmittelpunkt schwenkbar sein, insbesondere gesteuert. Dass alternativ und/oder zusätzlich die Probe, insbesondere um eine in der Probenebene oder zumindest parallel und nah an dieser liegende Achse gedreht oder geschwenkt werden kann, zum Beispiel bei nur groben Lichtquellenelevationsveränderungen mit geringen Bogenamplituden und zum Beispiel oszillierend, sei erwähnt. Weiter werden Lichtquelle und Lichtempfänger zueinander dreh-, schwenk- oder rotierbar angeordnet sein, so dass sich ein gedachter Winkel mit der beleuchteten Stelle der Probe als Scheitel zwischen wenigstens näherungsweise 0° und 180° verändert; dass die Veränderung nur zwischen näherungsweise 0° und 180° betragen wird, liegt an der geringen Abschattung durch die Lichtemp fängerelemente, die bevorzugt in einem geringeren Abstand an der Probe angeordnet sind als die Vorderfront der Lichtquelle. Die Drehachse der Relativbewegung von Lichtsender und Lichtempfänger muss nicht exakt senkrecht zur Probe liegen, dies vereinfacht aber die Ausweitung und den Aufbau. Abweichungen unter 10°, besonders unter 5° und insbesondere kleiner 0,5° sind klar bevorzugt.
  • Dass die Lichtempfängerelemente Licht bevorzugt ohne Abbildungsoptik empfangen können, sei erwähnt.
  • Die Erfindung wird im Folgenden nur beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben. In dieser ist gezeigt durch
  • 1: ein Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät der vorliegenden Erfindung.
  • 2: ein Bild einer Reflektanzverteilung für eine feste Beleuchtungselevation (hier: α = 40°) und mit interpolierten Werten in abgeschatteten Bereichen.
  • Nach 1 umfasst ein allgemein mit 1 bezeichnetes Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät 1 eine eine Probe 2 unter vorgegebener Beleuchtungselevation α beleuchtende Lichtquelle 3 und einen relativ dazu beweglichen Lichtempfänger 4 zum Lichtempfang von der Probe 2, wobei der Lichtempfänger zur simultanen Erfassung eines breiten Beobachtungselevationswinkelbereiches α' eine Mehrzahl von Empfängerelementen, aus Gründen der Übersichtlichkeit nur bei 4a, 4b angedeutet, umfasst und hier zumindest einer von Lichtquelle 3 und Lichtempfänger 4 um eine allgemein auf die Probe 2 senkrechte Achse 5 beweglich ist, wie durch Pfeil 6 angedeutet.
  • Das Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät 1 ist in seiner bevorzugten, dargestellten Variante transportabel und somit zumindest nicht größer, als die Unterbringung auf einem üblichen Arbeitstisch noch zulässt; die Abstände zwischen Lichtquelle 3 und Probe 2 betragen daher in der bevorzugten und dargestellten Ausführungsform nicht mehr als etwa 50 cm zwischen Austritt des auf die Probe fokussierten Lichtstrahls 3a und der Probe 2. Das Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät ist, wie bei 1a angedeutet, rechner- bzw. computergesteuert, wobei einerseits die Elevation α der Lichtquelle über einen computergesteuerten Elektromotor veränderlich ist, angedeutet bei Leitung 1a1, und weiter die spektrale Intensitätsverteilung des auf die Probe 2 durch die Lichtquelle 3 eingestrahlten Lichtes veränderlich ist, angedeutet durch Leitung 1a2, die als Steuerleitung zu einem elektromotorisch bewegten Filterrad 3b führt. Weiter ist eine Leitung 1a3 vorgesehen, um die für die Einstrahlungsintensität repräsentativen Signale der Mehrzahl der Empfängerelemente 4a, 4b in entsprechend signalkonditionierter Form an die zentrale Datenverarbeitungsstufe zu speisen. Die Bewegung von Lichtempfänger 4 und Lichtquelle 3 relativ zueinander, die durch Pfeil 6 angedeutet ist, ist über eine Steuerleitung 1a4, die einen Elektromotor 7 mit Steuer- und Leistungssignalen beaufschlagt, vorgebbar. Dass im übrigen Sensoren zur Erfassung von messungsrelevanten Parametern, wie Lichtquellenelevation, zur Normierung heranziehbare Intensität der Lichtquellenintensität etc. vorgesehen sind, sei erwähnt; die Signale dieser Sensoren sind gleichfalls auswertbar.
  • Die Steuer- und Datenauswerteeinheit 1a ist, abgesehen von den dedizierten Schnittstellen, als herkömmlicher Prozessrechner, PC oder Laptop auszubilden und im übrigen insoweit geeignet, numerische Korrekturen von Messwerten wie erforderlich vorzunehmen; die Steuer- und Datenauswerteeinheit 1a umfasst oder bildet also zugleich eine Korrekturstufe zur numerischen Korrektur erfasster Rohdaten.
  • Die Probe 2 ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel eine auf einem geeigneten Träger aufgebrachte Probe eines Automobillackes, dessen Glanz- und Albedoverhalten zu analysieren ist, um die Messdaten nachfolgend bei der Computergenerierung von Bildern mit diesem Lack zu lackierender Automobile verwenden zu können. Die Probe kann in einer bevorzugten Ausführungsform und bei den angegebenen Abständen eine Größe von etwa 5 × 5 cm oder noch darunter besitzen. Eine sehr kleine, auf einem etwa unten zusammenlaufenden oder stabförmigen, vorzugsweise absorbierenden Träger angeordnete Probe kann das Astigmatismusproblem des Beleuchtungsastigmatismus mildern.
  • Anzuordnen ist die Probe 2 so, dass ihre Mitte etwa mit der Achse 5 zusammenfällt, um welche Lichtempfänger 4 bzw. Lichtquelle 3 schwenk- oder drehbar sind. Die Probe liegt im beschriebenen Ausführungsbeispiel still und allgemein horizontal, das heisst, dass ein Lichtstrahl aus der Lichtquelle 3a unter einem Elevationswinkel α = 0 parallel zur Probe 2 läuft, während bei einem Elevationswinkel von α = 90° eine senkrechte Bestrahlung der Oberfläche der Probe 2 erfolgt.
  • Falls andere Proben außer Lackproben analysiert werden sollen, können geeignete Probenhalter vorgesehen sein, beispielsweise, um ein hinsichtlich des Zweirichtungsreflektanz verhaltens zu analysierendes textiles Gewebe straff und gerade zu fixieren.
  • Die Lichtquelle 3 umfasst zunächst ein Leuchtmittel 3c, die in der schematischen Darstellung von 1 als Glühbirne dargestellt ist, wobei einsichtig sein wird, dass in der praktischen Realisierung lichtstarke Leuchtmittel mit hoher Leuchtdichte und geeigneter spektraler Verteilung bevorzugt sind. Das Licht aus dem Leuchtmittel 3c wird, gegebenenfalls nach Kollimierung wie durch Linse 3d angedeutet, erforderlichenfalls spektral gefiltert oder mit geeigneter Spektralverteilung erzeugt, wie durch den Filter 3b angedeutet, der hier als auf einem über eine Steuerleitung 1a positionierbaren Filterrad 3b vorgesehenes Filterglas realisiert ist. Dass auch Spektrometer einsetzbar sind oder auch durch Ein- und Ausschalten geeigneter Lichtquellen wie farbiger Laserdioden usw. eine gewünschte Spektralverteilung erzielbar ist, sei erwähnt. Das wie erforderlich und gewünscht mit gewählter spektraler Intensitätsverteilung vorgesehene Licht wird im dargestellten Ausführungsbeispiel über eine Lichtleiterfaser 3e auf eine Auskoppeloptik 3f geführt, die eine Fokussierung des Lichtes auf die Probe 2 erlaubt. Das Objektiv, das heisst die Auskoppeloptik 3f, ist an einem elektromotorisch, insbesondere schrittmotorisch bewegten Schwenkarm dergestalt befestigt, dass unter Steuerung durch die Einheit 1a ein Bogen über die Probe hinweg und mit der Probe als Mittelpunkt abgeschritten werden kann, so dass Elevationen zwischen näherungsweise 0° (zur Probe nahezu paralleler Einfall) und 90° (nahezu senkrechter Einfall) beschrieben werden können. Die Fokussierung des auf die Probe eingeleuchteten Lichtes ist dabei dergestalt, dass bei näherungsweise senkrechtem Lichteinfall, also einer Elevation von α = 90° ein möglichst klei ner Brennfleck auf der Probe erhalten wird. Ohne zusätzliche Maßnahmen führt dies auf Grund des streifenden Einfalles bei geringeren Elevationen zu einer Brennfleckvergrößerung auf der Probe, das heisst es tritt ein Astigmatismus auf.
  • Der Empfänger 4 ist als lineares Feld von Lichtempfängerelementen dicht bei der Probe angeordnet, um das von der Probe in den Raum zurückgestrahlte Licht erfassen zu können. Dabei haben die Lichtempfängerelemente einen Abstand zur Probe, der deutlich kleiner ist als die Brennweite der Austrittsoptik 3f der Lichtquelle. Somit liegen die Lichtempfängerelemente näher an der Probe als die Austrittsoptik 3f der Lichtquelle 3. In einer praktischen Variante sind 1.024 lichtempfindliche Elemente im lichtempfindlichen Empfängerfeld angeordnet worden. Diese Anzahl erlaubt bei hinreichend dichter Anordnung des Lichtempfängers 4 an der Probe 2 von beispielsweise nicht mehr als 5 cm Abstand eine hinreichend hohe Auflösung. Durch geeignete Lichtempfängerfelder mit hinreichend großem Dynamikumfang, wie sie als lineare Arrays schon in Kameras als kommerziellen Produkten eingesetzt werden, kann eine Probe ohne Umschaltung eines Verstärkungsfaktors oder andere Anpassungen sowohl in den Bereichen, in denen sehr wenig Licht von der Probe empfangen wird, beispielsweise bei stark von dem Einfallselevationswinkel α abweichendem Beobachtungselevationswinkel α', als auch in der Direktreflexion erfasst werden.
  • Der Lichtempfänger 4 ist um die Achse 5 drehbar angeordnet, wobei im dargestellten Ausführungsbeispiel wie möglich der Drehbereich auf 360° oder darunter beschränkt ist, beispielsweise auf etwa 190°, wobei die über 180° hinaus gehenden Bereiche einen Überlapp ermöglichen. Bei homogenen Proben kann die Probe mit dem Lichtempfänger mitgedreht werden. Ist die Probe nicht homogen, wie beispielsweise bei textilen Geweben mit strukturbildender Webrichtung, kann die Probe fixiert werden und der Lichtempfänger 4 relativ zu dieser und zur Lichtquelle 3 um die Achse 5 rotiert werden. Der Lichtempfänger 4 ist dabei so angeordnet und ausgerichtet, dass die obersten der lichtempfindlichen Elemente auf der Achse 5 oder zumindest bei der Achse 5 liegen, während die untersten der lichtempfindlichen Elemente des Lichtempfängers 4 für einen Beobachtungselevationswinkel α' von etwa 0° ausgelegt sind.
  • Zur Rotation um die Achse 5 ist, wie bevorzugt möglich, ein Schrittmotor 7 vorgesehen, dessen Schrittweite und Schrittfrequenz über die Leitung 1a4 gesteuert wird. Die Schrittsequenz ist so bestimmt, dass eine für die jeweiligen Messzwecke erforderliche Integrationszeit in jeder Position des Lichtempfängers 4 relativ zur Lichtquelle 3 erhalten wird. Die Schrittweite ist hier, wie bevorzugt, anpassbar, um unterschiedlichen Anforderungen an die Messauflösung Rechnung zu tragen.
  • Die Anordnung wird verwendet wie folgt:
    Zunächst wird eine Probe 2 auf dem Probenhalter angeordnet. Dann wird bei einer Elevation von näherungsweise α = 90° Licht auf die Probe 2 fokussiert. Der maximale Elevationswinkel kann nur näherungsweise 90° und nicht exakt 90° betragen, da der Lichtempfänger 4 den Lichteinfall von exakt 90° abschattet. Es wird dann eine erste spektrale Intensitätsverteilung gewählt und der Empfänger 4 durch Drehung des Motors 7 in eine Position diametral gegenüber der Lichtquelle 3 angeordnet. Dann wird eine Integrationszeit abgewartet. Während dieser Zeit wird für jedes Lichtempfängerelement das am Lichtempfänger 4 erhaltene Signal jeweils aufintegriert. Dieses Signal stellt also ein Maß für das jeweils zu einem Lichtempfängerelement, also in einen gegebenen Beobachtungselevationswinkelbereich α' von der Probe abgestrahlte Licht dar. Das Lichtempfängerfeld 4 wird ausgelesen, die Daten abgespeichert und der Schrittmotor 7 einen vorgegebenen Winkelschritt unter Drehung um Achse 5 weiterbewegt, so dass sich der Lichtempfänger 4 um die Achse 5 etwas gedreht hat. Wiederum wird eine Messung vorgenommen und die Werte werden ausgelesen. Dies wiederholt sich, bis der Lichtempfänger näherungsweise aus der Richtung beobachtet, aus der auch eingestrahlt wird. Wird die diametral gegenüberliegende Position mit β = 0° bezeichnet, kann also bis etwa β = 180° gemessen werden. Am Bereich β = 180° selbst ist die Probe durch den Lichtempfänger 4 abgeschattet. Der abgeschattete Bereich kann auch bei herkömmlichen linearen Lichtfeldern weitestgehend reduziert werden, wenn der Lichtempfänger nicht in einer herkömmlichen IC-Fassung angeordnet wird, die eine erhebliche Breite besitzt, sondern dafür Sorge getragen wird, dass die Breite des Trägers, der elektrischen Verbindungen zum Lichtempfänger fehlt usw., so gering wie möglich ausfällt.
  • Es wird dann die Lichtquelle 3f einen Elevationswinkelschritt α heruntergefahren und dann zur Messung der Lichtempfänger im Bereich β von 0 bis circa 180° bewegt. Insgesamt können so Messungen für einen Einstrahlelevationswinkel α von ca. 90° bis ca. 0°, einen Beobachtungswinkel relativ zur Einfallsrichtung von β = 0° bis 180°, jeweils simultan für einen Beobachtungselevationswinkel α' von 90° bis ca. 0°, erfasst werden. Es sei darauf hingewiesen, dass bei einem Beleuchtungselevationswinkel α von um 0° ohne Nachfokussierung ein erheblich vergrößerter Lichtfleck der Lichtquelle erhalten wird.
  • Dies kann verringert werden durch Einsatz geeigneter Abbildungsoptiken, etwa Zylinderlinsen, die bei geringer Elevation, also α nahe 0°, eine Brennfleckverkleinerung bewirken und/oder durch numerische Korrektur der erfassten Werte nach Aufnahme der entsprechenden Parameterfelder. Derartige, als Faltung bezeichnete numerische Operationen machen zusätzliche Optikelemente entbehrlich.
  • Ein Beispiel für die mit einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zu erhaltenden Datensätze ist in 2 dargestellt. Hier sind die mit einem Einfallselevationswinkel von α = 40° bestimmten Rohdaten bei Umkreisung der beleuchteten Probe dargestellt, wobei noch keine Astigmatismuskorrekturen und dergleichen vorgenommen wurden, wohl aber eine Interpolation vorgenommen wurde für jene Daten, an denen der zwischen Lichtquelle und Probe bewegte Lichtempfänger die Probe abgeschattet hat. In dem Rohdatenbild sind zwei hellere Glanzpunkte jeweils links und rechts zu erkennen. Diese beiden Glanzpunkte sind im Rohdatensatz vorhanden, weil zur Erzielung eines Überlapps eine Rotation um mehr als 360° veranlasst wird. Der Umstand, dass die eigentlichen Glanzpunkte doppelt gemessen werden, ist besonders vorteilhaft, weil einerseits hier eine Überlappung besonders leicht erreicht werden kann, und andererseits für die besonders wichtigen Glanzpunkte und deren nähere Umgebung Messwerte gemittelt werden können.
  • Es sei darauf hingewiesen, dass bei strukturierten Proben die Reflektanz auch von der Mikrostruktur der Probe abhängen kann und dass die mit der beschriebenen Vorrichtung erhaltenen Werte ohne weiteres zur Simulation geeigneter Werte herangezogen werden können.
  • Weiter sei erwähnt, dass bei durchscheinenden, d.h. nicht voll-opaken Proben Messungen bei Elevationswinkeln kleiner Null für Lichteinfall- und/oder Beobachtungselevation vorgenommen werden können, sofern die Vorrichtung entsprechend ausgebildet ist, was durch hinreichendgroße, sich genügend weit erstreckende Lichtempfangsfelder, die insbesondere auch durch die Probe transmittiertes Licht simultan mit reflektiertem beziehungsweise gestreutem Licht genau so erfolgen kann wie durch entsprechend bewegliche Lichtsender, die mit Elevationswinkeln unter Null einstrahlen. Die negativen Elevationswinkel, unter denen eingestrahlt und/oder beobachtet wird, werden bevorzugt ebenfalls mindestens 90° umfassen, also zum Beispiel eine Erstreckung eines Lichtempfangs bis zur Probenachse erlauben; wie für positive Elevationen auch kann aber der Bereich beobachteter negativer Elevationen auch kleiner ausfallen und eine dann insbesondere schritt- beziehungsweise stufenweise Ausmessung erfolgen. Dass sich gegebenenfalls ein Lichtempfangsfeld sukzessive für Messungen der Transmittanz und Reflektanz verwenden lässt, zum Beispiel unter Rotation um eine in der Probenebene liegenden Achse, sei erwähnt.

Claims (15)

  1. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät mit einer eine Probe unter vorgebbarer Elevation beleuchtenden Lichtquelle und einem relativ dazu beweglichen Lichtempfänger zum Lichtempfang von der Probe, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger zur simultanen Erfassung eines breiten Elevationswinkelbereiches eine Mehrzahl von Empfängerelementen umfasst und zumindest einer von Lichtquelle und Lichtempfänger um eine allgemein auf die Probe senkrechte Achse beweglich ist.
  2. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle auf die Probe fokussierbar ist.
  3. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtquelle Spektralfiltermittel zugeordnet sind, um die Probe mit Licht gewählter spektraler Intensitätsverteilung beleuchten zu können.
  4. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass ein Mittel zur Verringerung von bei geringer Lichtquellenelevation auftretenden lichtquellenabbildungsinduzierten Fehlern vorgesehen ist.
  5. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach dem vorhergehenden Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel zur Verringerung von bei geringer Lichtquellenelevation auftretenden lichtquellenabbildungsinduzierten Fehlern eine Zylinderlinse zur Astigmatismuskompensation vor der Probe umfasst.
  6. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der beiden vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel eine Korrekturstufe zur numerischen Korrektur erfasster Rohdaten umfasst.
  7. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger als Lichtempfängerfeld gebildet ist.
  8. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger als lineares Lichtempfängerfeld gebildet ist.
  9. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger zum simultanen Empfang von Licht über einen Elevationswinkelbereich von wenigstens 15°, bevorzugt 30°, insbesondere 45° und insbesondere näherungsweise 90° ausgelegt ist.
  10. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger gegen eine auf die Probe senkrechte Achse geneigt ist.
  11. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Lichtempfänger eine Achse, die am Beleuchtungslichtfleck senkrecht auf der Probe steht, schneidet und/oder mit nur geringem Abstand zu dieser windschief angeordnet ist.
  12. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle zur Elevationsveränderung schwenkbar ist, insbesondere in einem um die Probe verlaufenden Bogen.
  13. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquelle und/oder der Lichtempfänger drehbar, schwenkbar und/oder rotierbar angeordnet sind.
  14. Zweirichtungsreflektanzverteilungsmessgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtempfängerelemente Licht ohne eine den Probenlichtfleck abbildende Abbildungsoptik empfangen.
  15. Transmittanzmessgerät insbesondere nach einem der vorher- gehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass es zum Empfang von durch eine Probe hindurch tretenden Licht angeordnet ist, insbesondere von Licht das unter negativen Elevationswinkeln beobachtet und/oder eingeschaltet wird.
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