DE102005055679A1 - Spektroskop und damit ausgerüstetes Mikrospektroskop - Google Patents

Spektroskop und damit ausgerüstetes Mikrospektroskop Download PDF

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Abstract

Diese Erfindung stellt ein Spektroskop (10) bereit, welches derart eingerichtet ist, die Dimension und die Kosten bei der Vermeidung der üblichen Probleme auf Grund der Polarisationsabhängigkeit eines Beugungsgitters zu reduzieren. Das Spektroskop (10) weist auf: eine polarisierende Strahlteilerplatte (3), welche das Licht von einer Eingangsfaser (1) in einen ersten optischen Pfad (C1) und in einen zweiten optischen Pfad (C2) aufteilt und welche jedem Licht eines jeden optischen Pfades (C1, C2) eine zueinander unterschiedliche Polarisationsrichtung gibt; eine lambda/2-Platte (5) in Form eines Fresnelschen Rhombus, welche die Polarisationsrichtung des Lichts in dem ersten optischen Pfad (C1) in die Polarisationsrichtung des Lichts in dem zweiten optischen Pfad (C2) ausrichtet; und einen ebenen Spiegel (4), welcher einen der beiden optischen Pfade (C1, C2) derart ablenkt, dass zumindest ein Teil eines Gebiets, in dem das durch den ersten optischen Pfad (C1) hindurchlaufende Licht auf das Beugungsgitter (6) auftrifft, und ein Gebiet, in dem das durch den zweiten optischen Pfad (C2) hindurchlaufende Licht auf das Beugungsgitter (6) auftrifft, miteinander überlappen.

Description

  • Die vorliegende Anmeldung beansprucht die Priorität der am 26. November 2004 eingereichten japanischen Patentanmeldung mit der Nummer 2004-342718.
  • Diese Erfindung betrifft ein Spektroskop, welches mit einem spektroskopischen Element zum spektralen Zerlegen von Eingangslicht aus einem Eingangs-Abschnitt ausgerüstet ist, und ein damit ausgerüstetes Mikrospektroskop.
  • Bisher wurde ein Beugungsgitter als spektroskopisches Element für Spektroskope verwendet. Das Beugungsgitter ist polarisationsabhängig, so dass seine Beugungseffizienz für S-polarisiertes Licht, bei dem die Richtung der Oszillation des elektrischen Feldes senkrecht zu der Richtung der Gitterstriche bzw. Gitterrillen des Beugungsgitters ist, größer als für P-polarisiertes Licht, bei dem die Richtung der Oszillation des elektrischen Feldes parallel zu der Richtung der Gitterstriche bzw. Gitterrillen des Beugungsgitters ist, gehalten wird. Insbesondere im langwelligen Bereich, in dem die Wellenlänge des einfallenden Lichts vergleichbar oder größer als die Periode (des Abstandes der Gitterstriche) des Beugungsgitters ist, wird diese Tendenz auffällig. In anderen Worten, je kürzer die Periode des Beugungsgitters wird, desto auffälliger wird diese Tendenz, so dass bei Verwendung eines Beugungsgitters mit hoher Auflösung dies bemerkt wird.
  • Um diesen Unterschied bei der Beugungseffizienz in Abhängigkeit von der Polarisationsrichtung zu beseitigen, wurde in dem US-Patent US 6,498,872 B2 eine entsprechende Technik bekannt gemacht.
  • Diese Technik beinhaltet das Ausrichten der Polarisationsrichtung des auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts. Insbesondere wird das aus einer Einfallsöffnung kommende Licht mittels eines polarisierenden Strahlteilers in P-polarisiertes Licht und in S-polarisiertes Licht aufgeteilt, wird das P-polarisierte Licht mittels einer λ/2-Platte in S-polarisiertes Licht umgewandelt und werden der ursprüngliche S-polarisierte Lichtstrahl sowie der aus dem P-polarisierten Licht umgewandelte S-polarisierte Lichtstrahl parallel zueinander zu einem Beugungsgitter geführt.
  • Da die Polarisationsrichtungen des auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts ausgerichtet werden, wird gemäß der in dem US-Patent US 6,498,872 B2 beschriebenen Technik das Problem der Polarisationsabhängigkeit des Beugungsgitters gelöst. Da das ursprüngliche S-polarisierte Licht und das aus dem P-polarisierten Licht umgewandelte S-polarisierte Licht auf dem Beugungsgitter auf entsprechenden Gebieten einfallen, die voneinander verschieden sind, ist ein großes Beugungsgitter notwendig, woraus das Problem resultiert, dass das Instrument groß und teuer wird.
  • Diese Erfindung wurde unter dem Eindruck der vorgenannten Probleme gemacht und hat die Aufgabe, ein Spektroskop und ein damit ausgerüstetes Mikrospektroskop bereitzustellen, welche imstande sind, die Dimension und die Kosten zu reduzieren und dennoch das durch die Polarisationsabhängigkeit des Beugungsgitters verursachte Problem zu vermeiden.
  • Gemäß einem ersten Aspekt dieser Erfindung weist ein Spektroskop auf: einen Eingangs-Abschnitt; ein spektroskopisches Element, welches aus dem Eingangs-Abschnitt herauskommendes Licht spektral zerlegt; einen Ausgangs-Abschnitt, welcher das von dem spektroskopischen Element spektral zerlegte Licht ausgibt, oder einen Detektor, welcher das von dem spektroskopischen Element spektral zerlegte Licht detektiert; ein Polarisations-Teilerelement, welches das Licht von dem Eingangs-Abschnitt in einen ersten optischen Pfad und einen zweiten optischen Pfad aufteilt und welches jedem Licht eines jeden optischen Pfades eine zueinander unterschiedliche Polarisationsrichtung gibt; einen Polarisationsrotator, welcher in dem ersten optischen Pfad angeordnet ist und die Polarisationsrichtung des Lichts in dem ersten optischen Pfad in die Polarisationsrichtung des Lichts in dem zweiten optischen Pfad ausrichtet; und einen Strahlablenker, welcher entweder in dem ersten optischen Pfad oder in dem zweiten optischen Pfad angeordnet ist und welcher den jeweiligen optischen Pfad derart ablenkt, dass zumindest ein Teil eines Gebiets, in dem das durch den einen optischen Pfad hindurch laufende Licht auf das spektroskopische Element auftrifft, und ein Gebiet, in dem das durch den anderen optischen Pfad hindurch laufende Licht auf das spektroskopische Element auftrifft, miteinander überlappen.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung ist das Polarisations-Teilerelement bevorzugt eine polarisierende Strahlteilerplatte mit einer planparallelen Plattenform.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung ist das Polarisations-Teilerelement bevorzugt ein polarisierender Strahlteilerwürfel mit einer Einfalls-Oberfläche und einer Austritts-Oberfläche, wobei die Einfalls-Oberfläche des polarisierenden Strahlteilerwürfels bezüglich der Austritts-Oberfläche geneigt ist.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung ist die Einfalls-Oberfläche des polarisierenden Strahlteilerwürfels bevorzugt nicht senkrecht zum einfallenden Licht.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung ist der Polarisationsrotator bevorzugt eine λ/2-Platte in Form eines Fresnelschen Rhombus.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung weist das Spektroskop bevorzugt außerdem auf: ein optisches Überlagerungselement, welches zumindest einen Teil eines Gebiets, in dem das durch den anderen optischen Pfad hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor einfällt, relativ zu einem Gebiet, in dem das durch den einen optischen Pfad hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor einfällt, überlagert.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung ist das spektroskopische Element bevorzugt ein Beugungsgitter, in dem eine Mehrzahl von Gitterstegen parallel zueinander gebildet ist und bei dem der Einfallswinkel des durch den einen optischen Pfad hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts und der Einfallswinkel des durch den anderen optischen Pfad hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts in einer Ebene senkrecht zu der Richtung der Gitterstege im Wesentlichen gleich sind und in einer die Gitterstege enthaltenden Ebene verschieden sind.
  • Bei dem Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung haben der Einfallswinkel des durch den einen optischen Pfad hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts und der Einfallswinkel des durch den anderen optischen Pfad hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter einfallenden Lichts bevorzugt den gleichen absoluten Wert.
  • Gemäß einem zweiten Aspekt dieser Erfindung weist ein Mikrospektroskop auf: ein konfokales Mikroskop und das Spektroskop gemäß dem ersten Aspekt dieser Erfindung. Das konfokale Mikroskop weist auf: eine Laserlichtquelle; ein konvergierendes optisches System, welches das Licht von der Laserlichtquelle auf eine Beobachtungsoberfläche konvergiert; ein Pinhole-Element, auf dem ein mit der Beobachtungsoberfläche optisch konjugiertes Pinhole (Loch) gebildet ist; und ein optisches System, welches eingerichtet ist, das von der Beobachtungsoberfläche reflektierte Licht auf das Pinhole zu konvergieren. Das Spektroskop spaltet das durch das Pinhole des konfokalen Mikroskops hindurch laufende Licht spektral auf.
  • Andere Merkmale und Vorteile dieser Erfindung werden aus der detaillierten Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele im Zusammenhang mit den beigefügten Zeichnungen leicht verständlich.
  • 1 ist eine perspektivische Darstellung, die ein Spektroskop gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung zeigt.
  • 2A, 2B und 2C sind Graphiken, die das Spektroskop gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung zeigen, wobei 2A eine Seitenansicht ist, die den größten Teil des Spektroskops zeigt,
  • 2B eine Graphik ist, die eine λ/2-Platte in der Form eines Fresnelschen Rhombus zeigt, und 2C eine Graphik ist, die ein Beugungsgitter von der Z-Achse aus betrachtet zeigt.
  • 3 ist eine Graphik, die eine polarisierende Strahlteilerplatte gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung und die durch diese Strahlteilerplatte hindurch laufenden optischen Pfade erklärt.
  • 4 ist eine Seitenansicht des Hauptteils eines Spektroskops gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung, die eine Variation des ersten Ausführungsbeispiels dieser Erfindung darstellt.
  • 5 ist eine Graphik, die ein Mikrospektroskop mit dem Spektroskop gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung zeigt.
  • Ausführungsbeispiele dieser Erfindung werden nun nachfolgend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert.
  • Wie in l dargestellt, weist ein Spektroskop gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung auf: eine Eingangsfaser 1, eine Kollimatorlinse 2 zum Kollimieren (parallel Ausrichten) des Lichts aus der Eingangsfaser 1, eine polarisierende Strahlteilerplatte 3 zum Aufteilen des kollimierten Lichts in einen ersten optischen Pfad C1 und einen zweiten optischen Pfad C2, wobei den jeweiligen Lichtstrahlen entlang dem ersten optischen Pfad C1 und entlang dem zweiten optischen Pfad C2 zueinander verschiedene Polarisationsrichtungen gegeben wird, ein Beugungsgitter 6 vom Reflexions-Typ zum spektralen Zerlegen von durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch laufendem Licht und von durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch laufendem Licht, einen Beugungsgitter-Tisch 7 mit einer Rotationsachse parallel zu der Richtung der Gitterstriche 6a des Beugungsgitters 6, eine λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ zum Ausrichten der Polarisationsrichtung des Lichts entlang dem ersten optischen Pfad C1 in diejenige des Lichts entlang dem zweiten optischen Pfad C2, einen ebenen Spiegel 4 zum Ablenken des zweiten optischen Pfades C2 derart, dass ein Einfallsgebiet, in dem das durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch laufende Licht einfällt, und ein Einfallsgebiet, in dem das durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch laufende Licht einfällt, auf dem Beugungsgitter 6 miteinander überlappen, ein Photodetektor-Array 9 zum Detektieren der Lichtintensität eines jeden von dem Beugungsgitter 6 spektral zerlegten Wellenlängenbereichs, einen ersten konkaven Spiegel 8a zum Sammeln des von dem Beugungsgitter 6 spektral zerlegten Lichts aus dem ersten optischen Pfad C1 und zum Konvergieren auf die Detektionsoberfläche des Photodetektor-Arrays 9, und einen zweiten konkaven Spiegel 8b zum Sammeln des von dem Beugungsgitter 6 spektral zerlegten Lichts aus dem zweiten optischen Pfad C2 und zum Konvergieren auf die Detektionsoberfläche des Photodetektor-Arrays 9. Zum Zwecke der nachfolgenden Erklärung wird nun angenommen, dass eine Richtung parallel zur optischen Achse der Kollimatorlinse 2 eine Z-Richtung ist, dass eine Richtung senkrecht zur Z-Richtung und in einer Ebene liegend, die von der Z-Richtung und der Richtung des von der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 weg von der Z-Richtung reflektierten Lichts aufgespannt wird, eine Y-Richtung ist, und dass eine Richtung senkrecht sowohl zur Z-Richtung als auch zur Y-Richtung eine X-Richtung ist.
  • Die polarisierende Strahlteilerplatte 3 wird durch eine planparallele Glasplatte gebildet, welche mit einer dielektrischen Reflexionsbeschichtung versehen ist. Wie in 2A dargestellt, ist der Einfallswinkel des Lichts auf die Einfalls-Oberfläche 3a der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 auf einen Wert von 60° eingestellt. Übrigens gibt der Einfallswinkel einen Winkel des einfallenden Lichts relativ zur Normalen n der von dem einfallenden Licht beleuchteten Ebene an. Ein Teil des aus der Kollimatorlinse 2 herauskommenden Lichts wird von der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 als S-polarisiertes Licht reflektiert und breitet sich dann entlang dem zweiten optischen Pfad C2 parallel zur Y-Z-Ebene aus. Der Rest des Lichts geht durch die polarisierende Strahlteilerplatte 3 als P-polarisiertes Licht hindurch und breitet sich dann entlang dem ersten optischen Pfad C1 parallel zu der optischen Achse aus. Nebenbei bemerkt ist 2A eine Graphik, die das Spektroskop gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung aus der X-Richtung betrachtet darstellt. 2B ist eine Graphik, die die λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ aus der Z-Richtung betrachtet darstellt. 2C ist eine Graphik, die das Beugungsgitter 6 aus der Y-Richtung betrachtet darstellt.
  • Die λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ ist ein doppelbrechendes Element, das interne Totalreflexion mit extrem kleiner Wellenlängenabhängigkeit verwendet und geeignet ist, für Licht mit verschiedenen Wellenlängen verwendet zu werden. Bei der λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ wird das Licht, das durch eine Eintritts-Oberfläche 5a in die λ/2-Platte 5 hereinkommt, vier Mal in einer Reflexions-Ebene reflektiert und verlässt die λ/2-Platte 5 durch eine Austritts-Oberfläche 5b. Bei der λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ stehen die Eintritts- Oberfläche 5a und die Austritts-Oberfläche 5b senkrecht zur Z-Richtung, und die oben beschriebene Reflexions-Ebene ist mit einem Winkel von 45° relativ zu der Z-X-Ebene ausgerichtet, wie in 2B dargestellt ist. Indem die λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ auf diese Weise angeordnet wird, wird der Polarisationszustand des durch die polarisierende Strahlteilerplatte 3 hindurch laufenden P-polarisierten Lichts bei jeder internen Totalreflexion um 1/8 der Wellenlänge gedreht, um zusammen eine halbe Wellenlänge zu erreichen, so dass das P-polarisierte Licht in S-polarisiertes Licht konvertiert wird. Das konvertierte S-polarisierte Licht breitet sich dann entlang der optischen Achse der Kollimatorlinse 2, in anderen Worten: in eine Richtung parallel zur Z-Richtung, aus und fällt auf das Beugungsgitter 6 ein.
  • Der den zweiten optischen Pfad C2 ablenkende ebene Spiegel 4 ist derart angeordnet, dass der Einfallswinkel des S-polarisierten Lichts in dem zweiten optischen Pfad C2 einen Wert von 56° annimmt. Wenn der ebene Spiegel 4 derart angeordnet wird, dass der Einfallswinkel des S-polarisierten Lichts in dem zweiten optischen Pfad C2 einen Wert von 60° annimmt, wird das von dem ebenen Spiegel 4 reflektierte S-polarisierte Licht parallel zu dem durch die polarisierende Strahlteilerplatte 3 hindurch laufende P-polarisierten Lichtstrahl, parallel zu dem von der λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ konvertierten S-polarisierten Licht und parallel zur Z-Richtung. Da andererseits in dem oben beschriebenen ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung der ebene Spiegel 4 derart angeordnet ist, dass der Einfallswinkel des S-polarisierten Lichts in dem zweiten optischen Pfad C2 einen Wert von 56° annimmt, kreuzt der von dem ebenen Spiegel 4 reflektierte und sich entlang dem zweiten optischen Pfad C2 ausbreitende S-polarisierte Lichtstrahl den sich entlang dem ersten optischen Pfad C1 ausbreitenden S-polarisierten Lichtstrahl mit einem Winkel von 8° an einer Position, die einen vorgegebenen Abstand zu dem ebenen Spiegel 4 aufweist. Das oben beschriebene Beugungsgitter 6 ist an der Position angeordnet, an der sich die beiden Lichtstrahlen kreuzen. Dementsprechend überlappen sich das Einfallsgebiet des sich entlang dem ersten optischen Pfad C1 ausbreitende S-polarisierte Licht und das Einfallsgebiet des sich entlang dem zweiten optischen Pfad C2 ausbreitende S-polarisierte Licht auf der Einfalls-Oberfläche des Beugungsgitters 6. Folglich kann die Breite des Beugungsgitters 6 in Y-Richtung, in anderen Worten: die Breite des Beugungsgitters 6 in der Richtung der Gitterstege 6a, gegenüber dem Stand der Technik verkleinert werden.
  • Das Beugungsgitter 6 ist derart angeordnet, dass die Normale n der Einfalls-Oberfläche einen Winkel n von 4° zur Z-X-Ebene (siehe 2A) und einen Winkel θ zur Y-Z-Ebene (siehe 2C) aufweist, und dass sich die Gitterstege 6a im Wesentlichen in der Y-Richtung, genauer: in eine Richtung mit einem Winkel von 8° zur Y-Richtung, erstrecken. Da das Beugungsgitter 6 auf diese Weise angeordnet ist, hat in der Y-Z-Ebene der Einfallswinkel des aus dem P-polarisierten Licht in das S-polarisierte Licht konvertierten und sich entlang dem ersten optischen Pfad C1 ausbreitenden Lichts bezogen auf das Beugungsgitter 6 einen Wert von 4° und der Einfallswinkel des sich entlang dem zweiten optischen Pfad C2 ausbreitenden S-polarisierten Lichts bezogen auf das Beugungsgitter 6 einen wert von –4°.
  • In anderen Worten, da beide optischen Pfade C1, C2 parallel zur Y-Z-Ebene sind, sind der Einfallswinkel des sich entlang dem ersten optischen Pfad C1 ausbreitenden S-polarisierten Lichts bezogen auf das Beugungsgitter 6 und der Einfallswinkel des sich entlang dem zweiten optischen Pfad C2 ausbreitenden S-polarisierten Lichts bezogen auf das Beugungsgitter 6 gleich dem Winkel θ in der Ebene senkrecht zu den Gitterstrichen 6a des Beugungsgitters 6. Da der erste optische Pfad C1 einen Winkel von 8° zu dem zweiten optischen Pfad C2 in einer Ebene parallel zu der Y-Z-Ebene einschließt, sind die absoluten Werte dieser Einfallswinkel gleich, obwohl diese Einfallswinkel in einer die Gitterstege 6a des Beugungsgitters 6 aufweisenden Ebene verschieden sind. Solange der absolute Wert des Einfallswinkels des S-polarisierten Lichts in einer Ebene parallel zu der Y-Z-Ebene innerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereichs bezüglich des ersten optischen Pfades C1 und des zweiten optischen Pfades C2 liegt, gibt es übrigens kein Problem.
  • Wenn die Richtung des auf das Beugungsgitter 6 einfallenden Lichts parallel zu einer Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 ist, wird die Richtung des von dem Beugungsgitter 6 reflektierten Lichts für jeden Wellenlängenbereich im Allgemeinen parallel zu der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6. In diesem Fall ist dann die nachfolgende Bedingungsgleichung (1) erfüllt: sinθ + sinφ = nλ (1)wobei θ den Einfallswinkel auf das Beugungsgitter 6, φ den Austrittswinkel, n die Anzahl der Gitterstriche 6a des Beugungsgitters 6 pro Einheitslänge und λ die Wellenlänge des Lichts bezeichnet.
  • Da die Richtung des auf das Beugungsgitter 6 einfallenden Lichts bezüglich der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 geneigt ist, ist bei dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung die Bedingungsgleichung (1) jedoch nicht erfüllt, jedoch ist die nachfolgende Bedingungsgleichung (2) erfüllt: (sinθ + sinφ)cosη = nλ (2)wobei (neben den zu (1) bereits beschriebenen Variablen) η den Winkel des auf die Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 einfallenden Lichtstrahls, in anderen Worten: einen Depressions-Einfallswinkel, bezeichnet.
  • Da die Depressions-Einfallswinkel ±4° betragen, errechnet sich in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung cos η der Bedingungsgleichung (2) zu 0,9975 ≈ 1 und dies kann im Wesentlichen vernachlässigt werden, so dass die Bedingungsgleichung (1) auch in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung erfüllt ist.
  • Der Grund, warum die Bedingungsgleichung (1) erfüllt ist, ist jedoch, dass die Einfalls-Oberfläche des Beugungsgitters 6 zu der X-Y-Ebene um 8° geneigt ist, so dass der absolute Wert (4°) des Depressions-Einfallswinkels des durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden S-polarisierten Lichts relativ zu der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 und der absolute Wert (4°) des Depressions-Einfallswinkels des durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden S-polarisierten Lichts relativ zu der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 den selben Wert haben. Wenn der Depressions-Einfallswinkel des durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden S-polarisierten Lichts relativ zu der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 auf 0° und der Depressions-Einfallswinkel des durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden S-polarisierten Lichts relativ zu der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 auf –8° eingestellt werden, wird die Bedingungsgleichung (1) bezüglich des durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden S-polarisierten Lichts erfüllt, das cosη den Wert 1 annimmt (η = 0°). Hinsichtlich des durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch auf das Beugungsgitter 6 einfallenden Lichts kann der Faktor cosη, da cosη den Wert 0,990 annimmt (η = –8°), unter bestimmten Umständen nicht vernachlässigt werden, so dass ein Wellenlängenfehler von ungefähr 1% zwischen diesen zwei durch diese zwei optischen Wege C1, C2 hindurch laufenden und von dem selben Detektor detektierten Lichtstrahlen verursacht wird.
  • Wie in 1 dargestellt, wird das durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch laufende und von dem Beugungsgitter 6 spektral aufgespaltete Licht mittels des ersten konkaven Spiegels 8a auf das Photodetektor-Array 9 konvergiert und wird das durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch laufende und von dem Beugungsgitter 6 spektral aufgespaltete Licht in ähnlicher Weise mittels des zweiten konkaven Spiegels 8b auf das Photodetektor-Array 9 konvergiert.
  • Nebenbei bemerkt, da bei der in dem US-Patent US 6,498,872 B2 offenbarten Technik ein ursprünglicher S-polarisierter Lichtstrahl und ein aus einem P-polarisierten Lichtstrahl konvertierter S-polarisierter Lichtstrahl parallel zueinander auf ein Beugungsgitter gelenkt werden, werden in jedem Wellenlängenbereich der Lichtstrahl des von dem Beugungsgitter spektral aufgespalteten ursprünglichen S-polarisierten Lichts und der Lichtstrahl des von dem Beugungsgitter spektral aufgespalteten früheren P-polarisierten Lichts parallel zueinander, so dass es zum Konvergieren dieser zwei Lichtstrahlen auf dem selben Bereich der Eingangs-Oberfläche des Photodetektor-Arrays notwendig ist, einen großen konkaven Spiegel oder zwei kleine außeraxiale konkave Spiegel anzuordnen. Sowohl der große konkave Spiegel als auch die außeraxialen konkaven Spiegel sind sehr teuer.
  • Obwohl in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung zwei konkave Spiegel verwendet werden, da der durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch laufende und von dem Beugungsgitter 6 spektral aufgespaltete Lichtstrahl und der durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch laufende und von dem Beugungsgitter 6 spektral aufgespaltete Lichtstrahl einen vorgegebenen Winkel, insbesondere 8°, aufweisen und einen ähnlichen Winkel bei ihrem Einfall auf das Photodetektor-Array einschließen, ist es andererseits nicht notwendig, die konkaven Spiegel außeraxial anzuordnen, so dass es möglich wird, den Anstieg bei den Herstellungskosten zu unterdrücken.
  • Für das Photodetektor-Array 9 werden 32 Photomultiplier-Röhren (PMR) verwendet. Diese Mehrzahl von PMRs ist in derjenigen Richtung angeordnet, in der die Mehrzahl von Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 eine Linie bilden, in anderen Worten: in Dispersionsrichtung, d.h. der Richtung der spektralen Aufspaltung. Da in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung ein Photodetektor-Array 9 mit einer Mehrzahl von Photodetektoren als Photosensor in dieser Weise verwendet wird, kann das Licht einer Mehrzahl von Wellenlängenbereichen zur selben Zeit detektiert werden. Indem in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung der Beugungsgitter-Tisch 7, auf dem das Beugungsgitter 6 platziert ist, rotiert wird, können der Einfallswinkel θ und der Austrittswinkel φ des Lichts relativ zu dem Beugungsgitter 6 variiert werden, so dass der von dem Photodetektor-Array 9 detektierbare Wellenlängenbereich variiert werden kann.
  • Wie oben beschrieben, da bei dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung die Polarisationsrichtung des auf das Beugungsgitter 6 einfallenden Lichts unter Verwendung des polarisierenden Strahlteilerplatte 3 und der λ/2-Platte 5 vom Fresnelschen Rhombus-Typ ausgerichtet werden, können durch die Polarisationsabhängigkeit des Beugungsgitters 6 verursachte Probleme vermieden werden. Da bei dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung jeder von der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 auf die optischen Wege C1, C2 aufgeteilte Lichtstrahl auf das selbe Gebiet auf der Eingangs-Oberfläche des Beugungsgitters 6 einfällt, wird es außerdem möglich zu verhindern, dass das Beugungsgitter 6 groß wird, so dass es möglich wird, die Zunahme bei der Größe und bei den Kosten des Spektroskops zu verhindern.
  • Bei dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung wird die polarisierende Strahlteilerplatte 3 mit einer planparallelen Plattenform, wie in 3 gezeigt, als ein Polarisations-Aufteil-Element verwendet. Ein Teil des von der Einfalls-Oberfläche 3a der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 einfallenden Lichts wird von der Austritts-Oberfläche 3b reflektiert und dieses reflektierte Licht L2 verlässt die polarisierende Strahlteilerplatte 3 nach einer weiteren Reflexion an der Einfalls-Oberfläche 3a. Der Rest des von der Einfalls-Oberfläche 3a der polarisierenden Strahlteilerplatte 3 einfallenden Lichts verlässt die polarisierende Strahlteilerplatte 3 durch die Austritts-Oberfläche 3b unabgelenkt, d.h. ohne Reflexion, als unabgelenktes Licht L1.
  • Da das reflektierte Licht L2 bezüglich des unabgelenkten Lichts L1 verschoben ist, ist es möglich zu verhindern, dass das reflektierte Licht L2 ein Geisterbild auf der Einfalls-Oberfläche des Photodetektor-Arrays 9 erzeugt. Auch wenn das von der Eingangs-Oberfläche des Photodetektor-Arrays 9 reflektierte Licht mittels Reflektierens an den konkaven Spiegeln 8a bzw. 8b und der Oberfläche des Beugungsgitters 6 zurückkehrt, wird außerdem das zurückkehrende Licht nicht erneut in die Richtung auf das Photodetektor-Array 9 hin reflektiert, so dass das Ausbilden eines Geisterbildes verhindert wird. Da insbesondere in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung der Einfallswinkel in die polarisierende Strahlteilerplatte 3 auf 60° und somit größer als 45° festgelegt wurde, wird die oben erwähnte Größe der Verschiebung des reflektierten Lichts L2 bezogen auf das unabgelenkte Licht L1 größer, so dass es möglich wird, effektiv ein Geisterbild zu verhindern.
  • Um ein Geisterbild zu verhindern, kann in einem zweiten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung statt der stark geneigten polarisierenden Strahlteilerplatte 3, die die Form einer planparallelen Platte hat, ein polarisierender Strahlteilerwürfel 3A verwendet werden, wie in 4 gezeigt ist. In dem zweiten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung sind Komponenten, die in gleicher weise in dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung verwendet werden, mit gleichen Bezugszeichen versehen und werden nicht erneut beschrieben. In dem zweiten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung wird insbesondere ein polarisierende Strahlteilerwürfel 3A verwendet, der eine Reflexions-Oberfläche 3c in einem Winkel von 45° bezogen auf eine Austritts-Oberfläche 3b aufweist und dessen Einfalls-Oberfläche 3a bezogen auf die Austritts-Oberfläche 3b leicht geneigt ist. Wenn der polarisierende Strahlteilerwürfel 3A derart angeordnet ist, dass der Einfallswinkel auf die Reflexions-Oberfläche 3c 45° beträgt, und ein ebener Spiegel 4 zum Verändern der Richtung des von der Reflexions-Oberfläche 3c reflektierten Lichts derart angeordnet ist, dass der Einfallswinkel des von dem polarisierenden Strahlteilerwürfel 3A reflektierten Lichts 41° beträgt, dann schließen das unabgelenkte Licht L1, das sich direkt durch den polarisierenden Strahlteilerwürfel 3A hindurch ausbreitet, und das von dem ebenen Spiegel 4 reflektierte Licht L2 in Analogie zu dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung einen Winkel von 8° ein. Da die Einfalls-Oberfläche 3a bezüglich der Austritts-Oberfläche 3b auf diese Weise geneigt ist, auch wenn ein Teil des von der Einfalls-Oberfläche 3a des polarisierenden Strahlteilerwürfels 3A einfallenden Lichts von der Austritts-Oberfläche 3b reflektiert wird und das reflektierte Licht L2 nach einer Reflexion an der Einfalls-Oberfläche 3a den polarisierenden Strahlteilerwürfel 3A an der Austritts-Oberfläche 3b verlässt, schließt das reflektierte Licht L2 mit dem unabgelenkten Licht L1 einen gewissen Winkel ein, so dass es möglich wird zu verhindern, dass ein Geisterbild auf der Eingangs-Oberfläche des Photodetektor-Arrays 9 gebildet wird. Auch wenn das von der Eingangs-Oberfläche des Photodetektor-Arrays 9 reflektierte Licht mittels Reflexion an dem konkaven Spiegel 8a bzw. 8b und an der Oberfläche des Beugungsgitters 6 zurückkehrt, wird außerdem das zurückkehrende Licht nicht erneut in die Richtung auf das Photodetektor-Array 9 hin reflektiert, so dass das Ausbilden eines Geisterbildes verhindert werden kann.
  • Obwohl bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen dieser Erfindung der ebene Spiegel 4 in dem zweiten optischen Pfad C2 derart angeordnet ist, dass die sich durch die jeweiligen optischen Pfade C1, C2 hindurch ausbreitenden Lichtstrahlen auf den selben Bereich des Beugungsgitters 6 einfallen, muss erwähnt werden, dass der ebene Spiegel 4 alternativ auch in dem ersten optischen Pfad C1 angeordnet werden kann. Obwohl bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen dieser Erfindung das von dem Beugungsgitter 6 spektral zerlegte Licht von den konkaven Spiegeln 8a, 8b gesammelt und von dem Photodetektor-Array 9 detektiert wird, kann statt dem Photodetektor-Array 9 ein Ausgangsschlitz zum Ausgeben von Licht in einem bestimmten Wellenlängenbereich vorgesehen und angeordnet sein. Obwohl bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen dieser Erfindung der Einfallswinkel von Licht, welches sich durch den ersten optischen Pfad C1 hindurch zu dem Beugungsgitter 6 ausbreitet, und der Einfallswinkel von Licht, welches sich durch den zweiten optischen Pfad C2 hindurch zu dem Beugungsgitter 6 ausbreitet, in der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 im Wesentlichen die selben sind und in der die Gitterstege 6a enthaltenden Ebene verschieden sind, ist es möglich, diese Winkel derart einzustellen, dass sie in der Ebene senkrecht zu den Gitterstegen 6a des Beugungsgitters 6 verschieden sind und in der die Gitterstege 6a enthaltenden Ebene im Wesentlichen die selben sind. In anderen Worten ist es möglich, die horizontale und vertikale Beziehung des Beugungsgitters 6 gemäß den beiden oben dargestellten Ausführungsbeispielen dieser Erfindung umzudrehen. Da jedoch bei dem Beugungsgitter 6 ein Unterschied in der Sekundär-Dispersion vermieden werden kann, ist der in den beiden oben genannten Ausführungsbeispielen dieser Erfindung vorgeschlagene Aufbau des Beugungsgitters 6 besser.
  • Mit Bezug auf 5 wird nun ein erfindungsgemäßes Mikrospektroskop mit dem Spektroskop gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung beschrieben.
  • Gemäß einem Ausführungsbeispiel weist das erfindungsgemäße Mikrospektroskop ein konfokales Mikroskop 20, ein Spektroskop 10 zum spektralen Zerlegen des von dem konfokalen Mikroskop 20 ausgegebenen Lichts eines Präparats S und zum Detektieren der Lichtintensität in jedem Wellenlängenbereich und eine Steuerung 30 zum Verarbeiten von Bilddaten ausgegeben von dem Spektroskop 10 und zum Veranlassen, dass eine Anzeige 31 die Bilddaten anzeigt, während sie die Bewegung des konfokalen Mikroskops 20 steuert.
  • Das konfokale Mikroskop 20 weist eine Laserlichtquelle 21, eine optische Faser 22 zum Führen von Licht ausgegeben von der Laserlichtquelle 21 an eine vorgegebene Position, eine Kollimatorlinse 23 zum Kollimieren von Laserlicht ausgegeben von der Laserlichtquelle 21, einen dichroitischen Spiegel 24 zum Empfangen des von der Kollimatorlinse 23 kollimierten Laserlichts, einen Galvano-Spiegel 25 zum zweidimensionalen Abtasten des Präparats S mittels des von dem dichroitischen Spiegel 24 reflektierten Laserlichts, eine Objektivlinse 26 zum Konvergieren des Lichts des Galvano-Spiegels 25 auf eine Beobachtungsoberfläche des Präparats S, eine an einer zu der Beobachtungsoberfläche des Präparats S optisch konjugierten Position angeordnete Pinhole-Platte 29 und eine Sammellinse 28 zum Sammeln von Laserlicht, welches von der Beobachtungsoberfläche des Präparats S reflektiert wurde und auf dem Pinhole der Pinhole-Platte 29 konvergiert.
  • Das Präparat S ist auf einem mindestens in zwei Dimensionen verschiebbaren Objektträger-Tisch 27 angeordnet, um das Präparat S oder eine besonders interessante Stelle des Präparats S vor einem Abtasten mittels des Galvano-Spiegels 25 an die korrekte fokale Position zu verschieben und dort einzujustieren.
  • Ein optisches Beleuchtungssystem des konfokalen Mikroskops 20 weist die Laserlichtquelle 21, die optische Faser 22, die Kollimatorlinse 23, den dichroitischen Spiegel 24, den Galvano-Spiegel 25 und die Objektivlinse 26 auf. Ein optisches Beobachtungssystem des konfokalen Mikroskops 20 weist die Objektivlinse 26, den Galvano-Spiegel 25, den dichroitischen Spiegel 24 und die Sammellinse 28 auf. Dementsprechend sind die Objektivlinse 26, der Galvano-Spiegel 25 und der dichroitische Spiegel 24 gemeinsam in dem optischen Beleuchtungssystem und in dem optischen Beobachtungssystem vorhanden.
  • Das durch das Pinhole hindurch laufende Licht des konfokalen Mikroskops 20 wird dem Spektroskop 10 durch die Eingangsfaser 1 des Spektroskops 10 hindurch zugeführt. In dem Spektroskop 10 wird das Licht des konfokalen Mikroskops 20 mittels des Beugungsgitters 6 spektral aufgespaltet und die Lichtintensität eines jeden Wellenlängenbereichs wird mittels des Photodetektor-Arrays 9 detektiert.
  • Das Photodetektor-Array 9 sendet die den Lichtintensitäten entsprechenden detektierten Daten an die Steuerung 30. Die Steuerung 30 führt mit diesen Daten eine vorgegebene Bildverarbeitung aus und sendet die verarbeiteten Daten als Bilddaten an die Anzeige 31 zur entsprechenden Darstellung. Außerdem steuert die Steuerung 30 den Betrieb der Laserlichtquelle 21 und das optische Abtasten des Präparats S, indem die Steuerung 30 den Galvano-Spiegel 25 in geeigneter Weise ansteuert und dabei den Fokus des mittels der Objektivlinse 26 fokussierten Laserlichtstrahls der Laserlichtquelle 21 auf dem Präparat S zwei-dimensional parallel zur abzutastenden Oberfläche des Präparats S verschiebt.
  • Obwohl bei diesem Ausführungsbeispiel dieser Erfindung das durch das Pinhole des konfokalen Mikroskops 20 hindurch laufende Licht dem Spektroskop 10 zugeführt wird, ist es möglich, einen als Pinhole dienenden Schlitz an der Position des Pinholes anzuordnen, das Spektroskop 10 direkt an den Schlitz anzuschließen und den Schlitz als einen Eingangs-Anschluss des Spektroskops 10 zu verwenden. In anderen Worten, es ist möglich, den Eingangs-Abschnitt des Spektroskops 10 als Pinhole des konfokalen Mikroskops 20 zu verwenden. Wenn, wie oben beschrieben, das Spektroskop 10 auf diese Weise direkt an das konfokale Mikroskop 20 angeschlossen ist, ist der Verdienst um die Miniaturisierung des Spektroskops 10 von entscheidender Wichtigkeit.
  • Wie oben beschrieben, ermöglicht diese Erfindung die Bereitstellung eines Spektroskops, welches im Wesentlichen zwei Lichtstrahlen, die sich durch entsprechende, mittels eines Polarisations-Teilerelements getrennte optische Pfade hindurch ausgebreitet haben, auf der Oberfläche eines spektroskopischen Elements mittels eines Strahlablenkers zu überlagern, um ein Vergrößern des spektroskopischen Elements zu vermeiden, was in einem Verringern der Dimension und der Kosten des erfindungsgemäßen Mikrospektroskops resultiert.
  • Zusätzliche Vorteile und Modifikationen dieser Erfindung sind dem Fachmann offensichtlich. Daher soll der breiteste Schutzumfang dieser Erfindung nicht auf hierin beschriebene und dargestellte spezielle Details und beispielhafte Vorrichtungen beschränkt sein. Es können daher zahlreiche Modifikationen vorgenommen werden, ohne den Schutzbereich der zugrunde liegenden Erfindung, wie er in den nachfolgenden Ansprüchen definiert wird, zu verlassen.

Claims (15)

  1. Spektroskop (10), welches aufweist: einen Eingangs-Abschnitt (1); ein spektroskopisches Element (6), welches aus dem Eingangs-Abschnitt (1) herauskommendes Licht spektral zerlegt; einen Ausgangs-Abschnitt, welcher das von dem spektroskopischen Element (6) spektral zerlegte Licht ausgibt, oder einen Detektor (9), welcher das von dem spektroskopischen Element (6) spektral zerlegte Licht detektiert; ein Polarisations-Teilerelement (3; 3A), welches das Licht von dem Eingangs-Abschnitt (1) in einen ersten optischen Pfad (C1) und in einen zweiten optischen Pfad (C2) aufteilt und welches jedem Licht eines jeden optischen Pfades (C1, C2) eine zueinander unterschiedliche Polarisationsrichtung gibt; einen Polarisationsrotator (5), welcher in dem ersten optischen Pfad (C1) angeordnet ist und die Polarisationsrichtung des Lichts in dem ersten optischen Pfad (C1) in die Polarisationsrichtung des Lichts in dem zweiten optischen Pfad (C2) ausrichtet; und einen Strahlablenker (4), welcher entweder in dem ersten optischen Pfad (C1) oder in dem zweiten optischen Pfad (C2) angeordnet ist und welcher den jeweiligen optischen Pfad (C1, C2) derart ablenkt, dass zumindest ein Teil eines Gebiets, in dem das durch den einen optischen Pfad (C1 oder C2) hindurch laufende Licht auf das spektroskopische Element (6) auftrifft, und ein Gebiet, in dem das durch den anderen optischen Pfad (C2 oder C1) hindurch laufende Licht auf das spektroskopische Element (6) auftrifft, miteinander überlappen.
  2. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1, wobei das Polarisations-Teilerelement (3; 3A) eine polarisierende Strahlteilerplatte (3) mit einer planparallelen Plattenform ist.
  3. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1, wobei das Polarisations-Teilerelement (3; 3A) ein polarisierender Strahlteilerwürfel (3A) mit einer Einfalls-Oberfläche (3a) und einer Austritts-Oberfläche (3b) ist, wobei die Einfalls-Oberfläche (3a) des polarisierenden Strahlteilerwürfels (3A) bezüglich der Austritts-Oberfläche (3b) geneigt ist.
  4. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 3, wobei die Einfalls-Oberfläche (3a) des polarisierenden Strahlteilerwürfels (3A) nicht senkrecht zum einfallenden Licht ist.
  5. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1, wobei der Polarisationsrotator (5) eine λ/2-Platte (5) in Form eines Fresnelschen Rhombus ist.
  6. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1, außerdem ein optisches Überlagerungselement (8a, 8b) aufweist, welches zumindest einen Teil eines Gebiets, in dem das durch den anderen optischen Pfad (C2 oder C1) hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements (6) spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor (9) einfällt, relativ zu einem Gebiet, in dem das durch den einen optischen Pfad (C1 oder C2) hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements (6) spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor (9) einfällt, überlagert.
  7. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1, wobei das spektroskopische Element (6) ein Beugungsgitter (6) ist, in dem eine Mehrzahl von Gitterstegen (6a) parallel zueinander gebildet ist und bei dem der Einfallswinkel des durch den einen optischen Pfad (C1 oder C2) hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter (6) einfallenden Lichts und der Einfallswinkel des durch den anderen optischen Pfad (C2 oder C1) hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter (6) einfallenden Lichts in einer Ebene senkrecht zu der Richtung der Gitterstege (6a) im Wesentlichen gleich sind und in einer die Gitterstege (6a) enthaltenden Ebene verschieden sind.
  8. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 7, wobei der Einfallswinkel des durch den einen optischen Pfad (C1 oder C2) hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter (6) einfallenden Lichts und der Einfallswinkel des durch den anderen optischen Pfad (C2 oder C1) hindurch laufenden und auf das Beugungsgitter (6) einfallenden Lichts den gleichen absoluten Wert haben.
  9. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 8, wobei das Polarisations-Teilerelement (3; 3A) eine polarisierende Strahlteilerplatte (3) mit einer planparallelen Plattenform ist.
  10. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 8, wobei das Polarisations-Teilerelement (3; 3A) ein polarisierender Strahlteilerwürfel (3A) mit einer Einfalls-Oberfläche (3a) und einer Austritts-Oberfläche (3b) ist, wobei die Einfalls-Oberfläche (3a) des polarisierenden Strahlteilerwürfels (3A) bezüglich der Austritts-Oberfläche (3b) geneigt ist.
  11. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 8, wobei der Polarisationsrotator (5) eine λ/2-Platte (5) in Form eines Fresnelschen Rhombus ist.
  12. Spektroskop (10) gemäß Anspruch 8, außerdem ein optisches Überlagerungselement (8a, 8b) aufweist, welches zumindest einen Teil eines Gebiets, in dem das durch den anderen optischen Pfad (C2 oder C1) hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements (6) spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor (9) einfällt, relativ zu einem Gebiet, in dem das durch den einen optischen Pfad (C1 oder C2) hindurch laufende und mittels des spektroskopischen Elements (6) spektral zerlegte Licht auf den Ausgangs-Abschnitt oder den Detektor (9) einfällt, überlagert.
  13. Mikrospektroskop, welches ein konfokales Mikroskop (20) und das Spektroskop (10) gemäß Anspruch 1 aufweist, wobei das konfokale Mikroskop (20) aufweist: eine Laserlichtquelle (21); ein konvergierendes optisches Beleuchtungssystem, welches das Licht von der Laserlichtquelle (21) auf eine Beobachtungsoberfläche konvergiert; ein Pinhole-Element (29), auf dem ein mit der Beobachtungsoberfläche optisch konjugiertes Pinhole gebildet ist; und ein optisches Beobachtungssystem, welches eingerichtet ist, das von der Beobachtungsoberfläche reflektierte Licht auf das Pinhole zu konvergieren; wobei das Spektroskop (10) das durch das Pinhole des konfokalen Mikroskops (20) hindurch laufende Licht spektral aufspaltet.
  14. Mikrospektroskop, welches ein konfokales Mikroskop (20) und das Spektroskop (10) gemäß Anspruch 6 aufweist, wobei das konfokale Mikroskop (20) aufweist: eine Laserlichtquelle (21); ein konvergierendes optisches Beleuchtungssystem, welches das Licht von der Laserlichtquelle (21) auf eine Beobachtungsoberfläche konvergiert; ein Pinhole-Element (29), auf dem ein mit der Beobachtungsoberfläche optisch konjugiertes Pinhole gebildet ist; und ein optisches Beobachtungssystem, welches eingerichtet ist, das von der Beobachtungsoberfläche reflektierte Licht auf das Pinhole zu konvergieren; wobei das Spektroskop (10) das durch das Pinhole des konfokalen Mikroskops (20) hindurch laufende Licht spektral aufspaltet.
  15. Mikrospektroskop, welches ein konfokales Mikroskop (20) und das Spektroskop (10) gemäß Anspruch 8 aufweist, wobei das konfokale Mikroskop (20) aufweist: eine Laserlichtquelle (21); ein konvergierendes optisches Beleuchtungssystem, welches das Licht von der Laserlichtquelle (21) auf eine Beobachtungsoberfläche konvergiert; ein Pinhole-Element (29), auf dem ein mit der Beobachtungsoberfläche optisch konjugiertes Pinhole gebildet ist; und ein optisches Beobachtungssystem, welches eingerichtet ist, das von der Beobachtungsoberfläche reflektierte Licht auf das Pinhole zu konvergieren; wobei das Spektroskop (10) das durch das Pinhole des konfokalen Mikroskops (20) hindurch laufende Licht spektral aufspaltet.
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