DE102004020159A1 - Verfahren zum Prüfen von Münzen - Google Patents

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    • G07D5/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/08Testing the magnetic or electric properties

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Abstract

Verfahren zum Prüfen von Münzen mit einer induktiven Sensoranordnung, die eine Sende- und eine Empfangsspule aufweist, deren Feld von einer Münze durchquert wird, mit den folgenden Schritten: DOLLAR A Die Sendespule wird mit einem Harmonische enthaltenden periodischen Sendesignal gespeist, DOLLAR A während eines vorgegebenen Abschnitts (Meßintervalls) der periodisch wiederkehrenden Abschnitte des Sende- bzw. Empfangssignals werden an mindestens drei unterschiedlichen vorgegebenen Meßzeitpunkten die Amplituden des Empfangssignals gemessen, DOLLAR A aus den Amplitudenwerten wird durch ein Kurvenfitverfahren eine Kurve bzw. eine mathematische Funktion der Kurve gebildet, DOLLAR A die Kurve bzw. die Funktion wird im Hinblick auf mindestens einen charakteristischen Wert mit einer gespeicherten Sollkurve bzw. Sollfunktion verglichen zwecks Erzeugung eines Annahme- oder Rückgabesignals für die jeweils geprüfte Münze.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Prüfen von Münzen mit einer induktiv arbeitenden Sensoranordnung nach dem Patentanspruch 1.
  • Induktiv arbeitende Meßanordnungen für Münzprüfer nutzen üblicherweise eine Sendespule und auf der gegenüberliegenden Seite der Münzlaufbahn eine Empfängerspule. Beim Durchlauf der Münze durch das Magnetfeld wird die Empfangsspule bedämpft, und es ist möglich, durch das Messen von z.B. Amplitude, Phase, Frequenz oder Real- oder Imaginärteil von Strom oder Spannung des Ausgangssignals der Empfangsspule Falschmünzen zu diskriminieren. Da das Magnetfeld die gesamte Münze durchdringen muß, ist es nicht möglich, Inhomogenitäten in der Materialtiefe der Münze festzustellen. So kann beispielsweise bei einer bestimmten Münze das magnetische Moment bestimmt werden, nicht jedoch, ob sich die magnetische Schicht an der Oberfläche oder in der Mitte in der Münze befindet. Ein gleiches Problem ergibt sich bei plattierten Münzen. Es kann nicht festgestellt werden, ob es sich um homogenes Material oder um plattierte Münzen handelt.
  • Es könnte daran gedacht werden, das beschriebene Problem dadurch zu lösen, daß Sende- und Empfangsspule, die z.B. von einem Oszillator betrieben werden, auf einer Seite der Münzen angeordnet werden. Eine präzise Messung ist jedoch nicht ohne weiteres möglich, da es bei unruhigem Münzlauf zu Abstandsschwankungen zwischen Münze und Sende- und Empfangsanordnung kommt. Besonders bei kleinen Meßsonden, die erforderlich sind, um eine hohe örtliche Auflösung der Messung zu erzielen, wirken sich derartige Abstandsschwankungen verstärkt aus.
  • Aus DE 197 26 449 C2 ist ein Verfahren (Multifrequenztechnik) zur Prüfung von Münzen mit einer induktiv arbeitenden Sensoranordnung bekannt geworden, bei dem die Sendespule mit einem periodischen Sendesignal gespeist wird, das Harmonische enthält. Einem periodisch wiederkehrenden Abschnitt des Sendesignals bzw. Empfangssignals wird eine Anzahl von Schaltschritten zugeordnet. Aus den Werten des Empfangssignals der einzigen Empfangsspule werden bei den jeweiligen sich mit der Frequenz des Sendesignals wiederholenden Schaltschritten Hüllkurven gebildet. Eine Auswertevorrichtung bildet aus der Anzahl zeitgleich erzeugter Hüllkurven mindestens ein Kriterium zwecks Erzeugung des Annahme- oder Rückgabesignals. Im Extremfall kann nur ein Schaltschritt zur Unterteilung des Sendesignals verwendet werden. Auf diese Weise wird eine einzige Kurve mit einem Maximum erhalten, daß das Dämpfungsverhalten für eine be stimmtes Frequenzspectrum wiedergibt. Bekanntlich setzt sich das Empfangssignal aus einer Vielzahl von einzelnen Frequenzen zusammen. Jedem Schaltschritt entsprechen bestimmte Frequenzanteile. Die durch das Sendesignal erzeugte, gedämpfte Kurve des Ausgangssignals der Empfangsspule weist in der Regel einen steilen Anstieg auf und nähert sich einem Sättigungswert (annähernd e-Funktion). Die höheren Frequenzen sind daher dem steileren Teil der Flanke zuzuordnen. Bei dem bekannten Verfahren wird eine Höchstzahl von störenden Parametern ausgeschaltet, denen sonst mit erhöhtem Aufwand begegnet werden müßte. Das bekannte Verfahren benötigt nur eine Sende- und Empfangsspule und einen unabhängig programmierbaren Signalgenerator, der ohnehin Bestandteil eines Mikroprozessors ist, der üblicherweise für elektronische Münzprüfer verwendet wird.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Prüfen von Münzen anzugeben, mit dem bei ausreichend hoher Auflösung eine Messung über die Dicke der Münze hinweg ermöglicht wird, ohne daß sich Abstandsschwankungen der Münze nachteilig auswirken.
  • Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird von einer Meßtechnik ausgegangen, wie sie in DE 197 26 449 C2 beschrieben ist. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren werden jedoch nicht die Hüllkurven zu den einzelnen Schaltschritten bzw. Meßzeitpunkten ausgewertet, vielmehr wird während eines vorgegebenen Meßintervalls beim Durchlauf einer Münze an mindestens drei unterschiedlichen Meßzeitpunkten jeweils der Amplituden wert des Ausgangssignals der Empfangsspule gemessen. „Amplitude" meint hier nicht das Maximum einer periodischen Kurve, sondern den quantitativen Meßwert zum jeweiligen Meßzeitpunkt. Das Meßintervall, innerhalb dem mindestens drei Amplitudenwerte zu unterschiedlichen Zeitpunkten gemessen werden, ist außerordentlich kurz, zum Beispiel 50 Mikrosekunden. In diesem Zeitrahmen kann eine hindurchlaufende Münze als quasi stationär betrachtet werden.
  • Aus den Amplitudenwerten wird nach einem Kurvenfitverfahren bei homogenen Material eine Kurve bzw. eine mathematische Funktion durch Annäherung gebildet. Diese kann z. B. eine e-Funktion sein. Diese bzw. die e-Funktion ist charakteristisch für die geprüfte Münze, d.h. für deren Material. Bei homogenem Material ergibt sich z.B. eine charakteristische Zeitkonstante der e-Funktion. Diese Zeitkonstante ist unabhängig von der Lage der Münze zur Meßsonde. Bei Schichtmaterial erhält man je nach den zum Messen verwendeten Frequenzanteilen unterschiedliche Kurvenformen. Die vorderen Zeitpunkte z.B. Ti...T3 (höhere Frequenzanteile) enthalten Informationen über das Material an der Münzoberfläche. Die hinteren Zeitpunkte z.B. T6...T8 über das Münzmaterial von der Oberfläche bis in die Tiefe der Münze. Je nach den für den Kurvenfit verwendeten Zeitpunkten ergeben sich also bei Schichtmetallmünzen unterschiedliche Ergebnisse, die den Schichten des Materials zugeordnet werden können. Auch hierbei ergibt sich eine lageunabhängige Messung. Die Qualität eines Kurvenfit's (Störanfälligkeit z.B. durch Rauschen) hängt von der Anzahl der verwendeten Meßpunkte ab. Man kann bei der erfindungsmäßigen Meßanordnung zwischen guter örtlicher Auflösung in der Materialtiefe (Münzdicke) und optimaler Meßqualität mit integrierter Erfassung des Münzmaterials über die Materialtiefe wählen. Die Kurve(n) oder Funktion(en), die aus den Meßwerten eines Meßintervalls gewonnen wird, werden mit der vorgegebenen Soll-Kurve oder Soll-Funktion verglichen. Stimmt sie in einem oder mehreren Parametern mit der Soll-Kurve oder Soll-Funktion überein, kann ein Annahmesignal erzeugt werden. Mit diesem Verfahren ist es daher möglich, nicht nur eine zuverlässige Diskriminierung von Falschmünzen vorzunehmen, sondern auch das Münzmaterial zu identifizieren. Es versteht sich, daß für jede Münzsorte eine oder mehrere Soll-Kurven oder -Funktionen abgespeichert ist/sind.
  • Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens läßt sich mithin eine abstandsunabhängige Messung von Münzen vornehmen. Sie ist daher insbesondere für Sondenanordnungen geeignet, bei denen Sende- und Empfangsspule auf einer Seite der Münzlaufbahn angeordnet sind. Das erfindungsgemäße Verfahren ist jedoch nicht hierauf beschränkt, sondern kann auch auf herkömmliche Sensoranordnungen angewendet werden.
  • Die zeitliche Lage des Meßintervalls kann sich nach verschiedenen Kriterien richten. Vorzugsweise liegt es im Maximum der Amplitudenwerte, bei denen die Münzen komplett vor der Meßsonde angeordnet ist. Während des Durchlaufs einer Münze wachsen die Amplitudenwerte in den einzelnen wiederkehrenden Abschnitten des Empfangssignals mit zunehmender Dämpfung des Feldes durch die Münze. Die Dämpfung erreicht ein Maximum bei maximaler „Abschattung" der Empfangsspule. Dies läßt sich meßtechnisch relativ leicht ermitteln, indem während des Münzdurchlaufs während der wiederkehrenden Abschnitte des Empfangssignals zu den vorgegebenen Meßzeitpunkten die Amplitudenwerte von mindestens drei Meßzeitpunkten ermittelt werden. Steigen die Amplitudenwerte fortlaufend an, liegt das Maximum noch entfernt. Ändern sich die Amplitudenwerte nicht mehr, ist die Dämpfung des Feldes im Maximum.
  • Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren geht die Dicke der Münze nicht in das Meßergebnis ein. Nur wenn Frequenzen gewählt werden, bei denen das Magnetfeld eine Münze durchdringt, ergibt sich auch eine Abhängigkeit des Meßergebnisses von der Dicke einer Münze.
  • Die Erfindung soll nachfolgend anhand eines in Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert werden.
  • 1 zeigt ein Diagramm eines Meßsignals, das von einem Rechtecksignal erzeugt wird.
  • 2 zeigt ein Amplitudendiagramm für verschiedene Münzmaterialien über der Zeit während eines Meßintervalls.
  • 3 zeigt in einem Diagramm unterschiedliche Dämpfungskurven der gleichen Münze bei zwei Einwürfen.
  • 4 zeigt ein Diagramm der resultierenden nach Normierung identischen Kurven für die Amplituden während eines Meßintervalls.
  • Bei der nachfolgenden Beschreibung wird ausdrücklich Bezug genommen auf das Verfahren nach DE 197 26 449 C2 (nur die Frequenzmessung).
  • Das Verfahren zur Prüfung von Münzen kann z.B. mit einer Spulenanordnung durchgeführt werden, bei der Sendespule und Empfangsspule auf einem gemeinsamen Ferritkern angeordnet sind, wobei die Empfangsspule von dem homogenen Feld der Sendespule durchdrungen wird (einseitige Anordnung). Die Sendespule wird, wie in DE 197 26 449 beschrieben, mit periodisch wiederkehrenden Pulsen, z.B. in Rechteck- oder Dreieckform, beaufschlagt. Die Dauer eines Pulses beträgt z.B. 50 Mikrosekunden und wird in gleichen Zeitabständen (Millisekunden-Bereich) periodisch wiederholt. Das Ausgangssignal der Empfangsspule ist etwa in 1 dargestellt. Wie in DE 197 26 449 C2 ausgeführt, können die einzelnen Zeitpunkte T1 bis T8 des Ausgangssignals 10 bestimmten Frequenzspektren zugeordnet werden. Das Signal 10 mit den Schritten T1 bis T8 stellt ein Meßintervall dar, das periodisch wiederholt wird. Das Meßintervall hat, wie schon erwähnt, beispielsweise eine Länge von 50 Mikrosekunden.
  • Werden für die einzelnen Meßzeitpunkte T1 bis T3 während des Münzdurchlaufs die Amplitudenwerte aufgetragen, ergeben sich Dämpfungskurven, wie sie in 3 angedeutet sind. Weicht die Position von der Idealposition (z. B. rechtes Diagramm von 3) ab, ergeben sich unterschiedliche Kurvenverläufe, wie ebenfalls in 3 zu erkennen (linkes Diagramm), insbesondere abweichende Maxima. Würden allein die Maxima zugrunde gelegt, kann eine präzise Aussage aus der Münzmessung nicht gewonnen werden.
  • Bei dem beschriebenen Verfahren werden für einen Meßzyklus die Meßpunkte an mindestens drei Meßzeitpunkten interpoliert und durch ein Kurvenfitverfahren eine dazugehörende Funktion oder Kurve ermittelt. Dies ist in 4 angedeutet. In 4 sind zu den Meßzeitpunkten T1 bis T3 jeweils die gemessenen Amplituden für z. B. eine Messingmünze aufgetragen. Es ergeben sich durch ein Kurvenfitverfahren eine Kurve M1 für einen ersten Entwurf und eine Kurve M2 für den zweiten Entwurf. Nach einer Normierung der auf diese Weise gewonnenen Kurve oder Funktion kann mit der Idealkurve, die vorher ermittelt und gespeichert wird, verglichen werden. Derartige Idealkurven sind in 2 für sechs Münzmaterialien aufgetragen (siehe zu 2 gehörige Legende). Man erkennt, daß die unterschiedlichen Kurven, die den einzelnen Münzmaterialien zugeordnet sind, sich im wesentlichen durch unterschiedliche Zeitkonstanten auszeichnen. Diese sind aber im wesentlichen unabhängig davon, in welchem Abstand sich eine Münze von der Empfangsspule befindet. Daher können charakteristische Parameter der gemessenen Funktionen oder Kurven mit den charakteristischen Sollparametern verglichen werden. Auf diese Weise ist es möglich, Falschmünzen zu diskriminieren bzw. festzustellen, aus welchem Material die eingeworfene Münze besteht, um den Münzwert angeben zu können.
  • Die Kurve 1 von 2 zeigt den Meßzustand an, bei dem sich keine Münze innerhalb des magnetischen Feldes der Sensoranordnung befindet.
  • Wird, wie beschrieben, eine Meßpunktmenge zu einer Kurvenform gefittet, findet automatisch eine Reduzierung des Signalrauschens statt. Tests haben gezeigt, daß aus einer Schar durch unruhigen Münzlauf gestörter Meßkurven durch den beschriebenen Kurvenfit ein aussagekräftiger Meßwert erzeugt werden kann.

Claims (4)

  1. Verfahren zum Prüfen von Münzen mit einer induktiven Sensoranordnung, die eine Sende- und eine Empfangsspule aufweist, deren Feld von einer Münze durchquert wird, mit den folgenden Schritten: die Sendespule wird mit einem Harmonische enthaltenden periodischen Sendesignal gespeist während eines vorgegebenen Abschnitts (Meßintervalls) der periodisch wiederkehrenden Abschnitte des Sende- bzw. Empfangssignals werden an mindestens drei unterschiedlichen vorgegebenen Meßzeitpunkten (T1, T2, T3) die Amplituden des Empfangssignals gemessen aus den Amplitudenwerten wird durch ein Kurvenfitverfahren eine Kurve bzw. eine mathematische Funktion der Kurve gebildet die Kurve bzw. die Funktion wird im Hinblick auf mindestens einen charakteristischen Wert mit einer gespeicherten Sollkurve bzw. Sollfunktion verglichen zwecks Erzeugung eines Annahme- oder Rückgabesignals für die jeweils geprüfte Münze.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Meßintervall gewählt wird, in dem die Amplitudenwerte maximal sind.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur oberflächen- oder oberflächennahen Messung von Münzen zu frühen Zeitpunkten eines Meßintervalls gemessen und aus den Amplitudenwerten durch Kurvenfitverfahren eine Kurve bzw. eine mathematische Funktion der Kurve bildet wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung von einzelnen Schichten der Münzen zu späteren Zeitpunkten eines Meßintervalls gemessen und aus den Amplitudenwerten durch ein Kurvenfitverfahren eine Kurve bzw. eine mathematische Funktion der Kurve gebildet wird.
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