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Die Erfindung betrifft ein Scanmikroskop
mit einer Lichtquelle, die Beleuchtungslicht zur Beleuchtung einer
Probe emittiert, mit mindestens einem ersten Detektor zur Detektion
des von der Probe ausgehenden Detektionslichtes und mit einem Objektiv, durch
das die Probe beleuchtbar und detektierbar ist, wobei das Objektiv
sowohl in einem Beleuchtungs- als auch einem Detektionsstrahlengang
angeordnet ist.
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Weiterhin betrifft die Erfindung
ein Auskoppelelement für
ein Scanmikroskop.
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In der Scanmikroskopie wird eine
Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet, um das von der Probe emittierte
Detektionslicht, als Reflexions- oder Fluoreszenzlicht, zu beobachten.
Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles wird mit Hilfe einer steuerbaren
Strahlablenkeinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel,
in einer Probenebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht
aufeinander stehen, so daß ein
Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung
der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen
bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt kommenden Detektionslichtes
wird in Abhängigkeit
von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente
mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung ausgerüstet.
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Speziell in der konfokalen Scanmikroskopie wird
ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahles in drei Dimensionen
abgetastet.
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Ein konfokales Rastermikroskop umfasst
im allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das
Licht der Quelle auf eine Lochblende – die sog. Anregungsblende – fokussiert
wird, einen Strahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung,
eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren zum
Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszenzlichtes. Das Beleuchtungslicht wird über einen
Strahlteiler eingekoppelt. Das vom Objekt kommende Fluoreszenz-
oder Reflexionslicht gelangt über
die Strahlablenkeinrichtung zurück
zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende
fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Diese
Detektionsanordnung wird Descan-Anordnung genannt. Detektionslicht,
das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen
Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so daß man eine
Punktinformation erhält,
die durch sequentielles Abtasten des Objekts mit dem Fokus des Beleuchtungslichtstrahles
zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales
Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt. Kommerzielle Scanmikroskope
bestehen meist aus einem Scanmodul, das an das Stativ eines klassischen
Lichtmikroskops angeflanscht wird, wobei das Scanmodul alle genannten zur
Abrasterung einer Probe zusätzlich
nötigen
Elemente beinhaltet.
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Kommerzielle Scanmikroskope beinhalten meistens
ein Mikroskopstativ, wie es auch in der konventionellen Lichtmikroskopie
verwendet wird. In der Regel sind insbesondere konfokale Scanmikroskope auch
als konventionelle Lichtmikroskope verwendbar. In der konventionellen
Fluoreszenzauflichtmikroskopie wird aus dem Licht einer Lichtquelle,
beispielsweise einer Bogenlampe, mit Hilfe eines Farbfilters, dem
sog. Anregungsfilter, der Anteil in den mikroskopischen Strahlengang
eingekoppelt, der den gewünschten
Wellenlängenbereich
zur Fluoreszenzanregung aufweist. Die Einkopplung in den Strahlengang
des Mikroskops erfolgt mit Hilfe eines dichroitischen Strahlteilers,
der das Anregungslicht zur Probe reflektiert, während er das von der Probe
ausgehende Fluoreszenzlicht weitgehend ungehindert passieren lässt. Das
von der Probe rückgestreute
Anregungslicht wird mit einem Sperrfilter zurückgehalten, der für die Fluoreszenzstrahlung
jedoch durchlässig ist.
Die optimale Kombination aufeinander abgestimmter Filter und Strahlteiler
zu einem leicht austauschbaren modularen Filterblock ist seit langem üblich. Meist
sind die Filterblöcke
in einem Revolver innerhalb des Mikroskops, als Teil sog. Fluoreszenz-Auflichtilluminatoren,
angeordnet, so dass ein schneller und einfacher Austausch ermöglicht ist.
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In der konfokalen Scanmikroskopie
kann im Falle der Zweiphotonenanregung (oder Mehrphotonenanregung)
auf eine Detektionsblende verzichtet werden, da die Anregungswahrscheinlichkeit
vom Quadrat der Photonendichte und damit vom Quadrat der Beleuchtungslichtintensität abhängt, die
naturgemäß im Fokus
viel höher
ist als in den Nachbarregionen. Das zu detektierende Fluoreszenzlicht
stammt daher mit großer
Wahrscheinlichkeit zum aller größten Teil
aus der Fokusregion, was eine weitere Differenzierung von Fluoreszenzphotonen
aus dem Fokusbereich von Fluoreszenzphotonen aus den Nachbarbereichen
mit einer Blendenanordnung überflüssig macht.
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Insbesondere vor dem Hintergrund
einer ohnehin geringen Ausbeute an Fluoreszenzphotonen bei Zweiphotonenanregung
ist eine Non-Descan-Anordnung,
bei der das Detektionslicht nicht über die Strahlablenkeinrichtung
(Descan-Anordnung) und den Strahlteiler zur Beleuchtungslichteinkopplung zum
Detektor gelangt, sondern direkt nach dem Objektiv mit Hilfe eines
dichroitischen Strahlteilers ausgelenkt und detektiert wird, interessant;
denn im Allgemeinen geht auf diesem Detektionslichtweg weniger Licht
verloren. Außerdem
tragen bei der Zweiphotonenanregung mit Descan-Detektion gestreute Anteile
des Detektionslichtes wesentlich zum Signal bei, was bei Non-Descan-Detektion
nur in wesentlich verringertem Maße eine Rolle spielt. Anordnungen dieser
Art sind beispielsweise aus der Veröffentlichung von David. W.
Piston et al. „Two-photon-excitation
fluorescence imaging of three dimensional calcium-ion activity", Applied Optics,
Vol. 33, No. 4, Feb 1996, und aus Piston et al: „Time-Resolved Fluorescence
Imaging and Background Rejection by Two-Photon Excitation in Laser
Scanning Microscopy",
SPIE Vol. 1640 bekannt.
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Ein Problem der bekannten Anordnungen besteht
darin, zur Non-Descan-Detektion
einen Strahlteiler zur Auslenkung des Detektionslichtes aus dem
mikroskopischen Strahlengang nach dem Objektiv innerhalb eines Scanmikroskops
anzuordnen und präzise
zu justieren. Hierzu ist die Implementierung aufwendiger Zusatzanordnungen
notwendig, die massive bauliche Veränderungen des Scanmikroskops
und insbesondere des Mikroskopstativs erforderlich machen. Der Rückbau zu
einem Scanmikroskop mit Descan-Detektion ist meist unmöglich oder
sehr aufwendig.
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Der Erfindung liegt daher die Aufgabe
zugrunde, ein Scanmikroskop vorzuschlagen, das ein einfaches und
zuverlässiges
Umschalten zwischen Descan-Detektion und Non-Descan-Detektion ermöglicht.
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Diese Aufgabe wird durch ein Scanmikroskop
gelöst,
das dadurch gekennzeichnet ist, dass das Scanmikroskop wahlweise
mit Descan-Detektion oder mit Non-Descan-Detektion betreibbar ist,
wobei zur Non-Descan-Detektion
ein Auskoppelelement im Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang
einfügbar
ist und zur Descan-Detektion aus dem Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang
entfernbar ist und wobei das Auskoppelelement einen weiteren Detektor
beinhaltet und zumindest einen Teil des Detektionslichtes an der
Strahlablenkeinrichtung vorbei dem weiteren Detektor zuführt.
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Es ist außerdem Aufgabe der Erfindung
ein Auskoppelelement anzugeben, das einfach sowohl eine Descan-Detektion,
als auch eine Non-Descan-Detektion
in einem Scanmikroskop ermöglicht.
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Diese Aufgabe wird durch ein Auskoppelelement
gelöst,
das dadurch gekennzeichnet ist, dass das Auskoppelelement einen
Detektor beinhaltet und dass das Auskoppelelement zur Non-Descan-Detektion
in einem Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang des Scanmikroskops
einfügbar
ist und zur Descan-Detektion aus dem Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang
entfernbar ist.
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In einer bevorzugten Ausgestaltung
beinhaltet das Auskoppelelement einen Strahlteiler, der vorzugsweise
als dichroitischer Strahlteiler oder Farbstrahlteiler ausgebildet
ist. Der Strahlteiler ist vorzugsweise für das Beleuchtungslicht durchlässig und für das Detektionslicht
reflektierend ausgebildet.
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In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung umfasst
das Auskoppelelement Filter, die als Anregungsfilter auf das Licht
im Beleuchtungsstrahlengang oder als Detektionsfilter auf das Licht
im Detektionsstrahlengang wirken. In einer ganz besonders bevorzugten
Ausführung
beinhaltet das Auskoppelelement sowohl einen Anregungsfilter als
auch einen Detektionsfilter. Der Detektionsfilter ist vorzugsweise derart
ausgestaltet, dass er nur das von der Probe ausgehende Detektionslicht
insbesondere kein Licht der Wellenlänge des Beleuchtungslichtes
passieren lässt,
so dass vorteilhafter Weise eine ungewollte und verfälschende
Detektion insbesondere dieses Lichtes vermieden ist. Der Anregungsfilter
dient dazu, aus dem Spektrum der Lichtquelle die Lichtanteile der
zur Beleuchtung interessierenden Wellenlängen herauszufiltern.
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In einer Ausführungsvariante ist das Auskoppelelement
zum Umschalten von Descan-Detektion auf Non-Descan-Detektion von
außen
in den Beleuchtungs- und
Detektionsstrahlengang einbringbar, wobei Führungselemente, wie Führungsschienen, Gleitschienen
oder eine Bajonettfassung, vorgesehen sind, die ein einfaches und
zuverlässiges
Einbringen und Positionieren ermöglichen.
Weiterhin sind Anschlagelemente vorgesehen, die eine Arbeitsposition
des Auskoppelelements im Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang
definiert und die derart ausgestaltet sind, dass das positionierte
Auskoppelelement automatisch in Bezug auf den Detektionsstrahlengang
justiert ist und nach der Positionierung keine weitere Justierung
des Auskoppelelements erforderlich ist.
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In einer anderen bevorzugten Ausführungsform
ist ein Revolver oder ein Schiebeschlitten, der mindestens eine
Elementaufnahme aufweist, zur Positionierung des Auskoppelelements
vorgesehen, wobei an oder in der Elementaufnahme das Auskoppelelement
derart angebracht ist, dass das Auskoppelelement durch einfaches
Drehen des Revolvers oder durch Schieben des Schiebeschlittens in
dem Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang positionierbar ist.
Eine Justierung des Auskoppelelements erfolgt nur einmalig beim
Anbringen des Auskoppelelements in dem oder an dem Revolver oder
Schiebeschlitten. Der weist vorzugsweise eine Einrastvorrichtung
auf, die den Revolver oder den Schiebeschlitten lösbar fixiert,
wenn das Auskoppelelement in dem Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang positioniert
ist. In einer weiteren Ausführungsvariante weist
der Revolver oder der Schiebeschlitten mehrere Elementaufnahmen
auf, in den andere optische Elemente, beispielsweise Filter oder
Zusatzoptiken, angebracht sind. Weiterhin weist der Revolver oder der
Schiebeschlitten mindestens eine Leerposition auf, die in den Beleuchtungs-
und Detektionsstrahlengang derart einbringbar ist, dass das Beleuchtungslicht
sowie das Detektionslicht ungehindert passiert. Diese erfindungsgemäße Lösung ist
kostengünstig
und hochflexibel, da mehrere Auskoppelelemente mit unterschiedlichen
Strahlteilern unterschiedlicher spektraler Eigenschaften bereit
gehalten werden und einfach ausgetauscht werden können.
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In einer ganz besonders bevorzugten
Ausführungsform
ist das Auskoppelelement Bestandteil eines Fluoreszenz-Auflichtilluminators.
Von ganz besonderem Vorteil ist diese Ausführungsform bei Scanmikroskopen,
die auch zur klassischen Auflichtmikroskopie geeignet sind, die
einen Fluoreszenz-Auflichtilluminator mit einem Revolver beinhalten.
Dies hat den Vorteil, dass meist ohnehin vorhandene Vorrichtungen
genutzt bzw. umfunktioniert werden, wodurch ein baulicher Eingriff
in das Mikroskop bzw. in das Mikroskopstativ vermieden ist. Es ist möglich, durch
einfaches Drehen des Revolvers des Fluoreszenz-Auflichtilluminators
zwischen klassischer Fluoreszenzmikroskopie, Descan-Detektion und
Non-Descan-Detektion umzuschalten.
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Das Auskoppelelement führt zumindest
einen Teil des Detektionslichtes einem weiteren Detektor zu. Dieser
Detektor ist Bestandteil des Auskoppelelements. Besonders vorteilhaft
sind auf Grund der geringen Baugröße hierbei Halbleiterdetektoren,
wie Photodioden oder Avalanche-Photodioden. Auch Photomultiplier
sind verwendbar. Der weitere Detektor beinhaltet in einer besonders
bevorzugten Ausgestaltung mindestens zwei weitere Einzeldetektoren zur
getrennten Detektion unterschiedlicher Spektralbereiche des Detektionslichtes.
Zur Aufspaltung des Detektionslichtes sind Strahlteiler vorgesehen,
die vorteilhafter Weise in einem Filterblock untergebracht sind.
In den Filterblock sind weitere Filter und/oder Optiken einsetzbar.
Ganz besonders vorteilhaft, insbesondere mit Hinblick auf eine einheitliche
Herstellung, ist es, wenn der Filterblock dieselben Abmessungen
und Führungs-
und/oder Anschlagemente aufweist, wie das Auskoppelelement.
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In einer besonderen Ausführungsvariante wird
bei Non-Descan-Detektion das mit Hilfe des Auskoppelelements ausgekoppelte
Detektionslicht dem eigentlich zur Descan-Detektion vorgesehenen Detektor
zugeführt.
Hierzu sind Spiegelanordnungen oder Lichtleitfasern vorgesehen.
Diese Ausführungsvariante
hat den besonderen Vorteil, dass nur ein einziger Detektor sowohl
für Descan-Detektion,
als auch für
Non-Descan-Detektion verwendbar ist, was das Scanmikroskop insgesamt
sehr vereinfacht und in der Herstellung verbilligt.
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In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand
schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend
beschrieben, wobei gleich wirkende Elemente mit denselben Bezugszeichen
versehen sind. Dabei zeigen:
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1 eine
bekannte Anordnung zur Fluoreszenzmikroskopie mit mehreren austauschbaren
modularen Filterblöcken
in einem Revolver,
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2 die
Anordnung aus 1 in der
Draufsicht,
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3 eine
erfindungsgemäßes Scanmikroskop,
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4 das
erfindungsgemäße Scanmikroskop
aus 3 in der Draufsicht,
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5 ein
weiteres erfindungsgemäßes Scanmikroskop,
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6 ein
Auskoppelelement.
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1 zeigt
schematisch ein aus dem Stand der Technik bekanntes Auflicht-Fluoreszenzmikroskop 1 mit
einem Fluoreszenz-Auflichtilluminator 3. Aus dem von der
Lichtquelle 5, die als Bogenlampe 7 ausgeführt ist,
kommenden Licht 9 werden mit Hilfe des Anregungsfilters 11 die
Anteile der gewünschten Wellenlängen, nämlich das
Anregungslicht 13, herausgefiltert. Das Anregungslicht 13 wird
anschließend
vom dichroitischen Strahlteiler 15 in Richtung des Mikroskopobjektivs 17 reflektiert,
das das Anregungslicht 13 auf die Probe 19 fokussiert.
Das von der Probe ausgehende Fluoreszenzlicht 21 gelangt durch
das Mikroskopobjektiv hindurch zurück zum dichroitischen Strahlteiler 15,
passiert diesen und fällt durch
den Sperrfilter 23 und das Okular 25 in das Auge
des Benutzers 27. Der Anregungsfilter 11, der Sperrfilter 23 und
der dichroitische Strahlteiler 15 sind in einem austauschbaren
modularen ersten Filterblock 29 angeordnet.
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Der erste Filterblock 29 ist
mit einem weiteren Filterblock 31, der einen Anregungsfilter 33,
einen Detektionsfilter 35 und einen Strahlteiler 37 beinhaltet,
in einem um die Welle 39 drehbaren Revolver 41 angeordnet.
Der Anregungsfilter 33, der Detektionsfilter 35 und
der Strahlteiler 37 weisen anderes spektrale Eigenschaften
auf, als der Anregungsfilter 11, der Detektionsfilter 23 und
der Strahlteiler 15, des ersten Filterblocks 29.
Durch Drehen des Revolvers kann der Filterblock 29, 31 mit
den gewünschten
optischen Eigenschaften in den Strahlengang des Mikroskops gebracht
werden.
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2 zeigt
das Auflicht-Fluoreszenzmikroskop 1 in der Draufsicht,
in der zu erkennen ist, das der Revolver neben den Filterblöcken 29 und 31 noch zwei
weitere Filterblöcke 43, 45 beinhaltet.
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3 zeigt
ein erfindungsgemäßes Scanmikroskop 47.
Das von einer Lichtquelle 49, der als modenverkoppelter
Titan-Saphir-Laser 51 ausgeführt ist, kommende Beleuchtungslicht 53 weist
eine Wellenlänge
von ca. 800 nm auf und wird von der Optik 55 auf die Anregungsblende 57 fokussiert,
um anschließend
vom einem Strahlteiler 59 zur Strahlablenkeinrichtung 61,
die einen kardanisch aufgehängten
Spiegel 63 beinhaltet, reflektiert zu werden. Durch die
Scanoptik 65, die Tubusoptik 67 und das Objektiv 69,
wird ein Beleuchtungslichtstrahlengang 71 und ein Detektionsstrahlengang 72 definiert,
entlang dem das zu einem Strahl geformte Beleuchtungslicht 53 über bzw.
durch die Probe 19 geführt wird.
Zwischen der Tubusoptik 67 und dem Objektiv 69 befindet
sich das Auskoppelelement 73 zur Auskopplung des von der
Probe ausgehenden Detektionslichtes 75, das einen dichroitischen Strahlteiler 77 und
einen Anregungsfilter 74 beinhaltet. Der dichroitische
Strahlteiler 77 ist so ausgestaltet, dass das Beleuchtungslicht 53 mit
einer Wellenlänge
von ca. 800 nm ungehindert passiert und das Detektionslicht 75 in
Richtung der in dieser Figur nicht gezeigten weiteren Detektoren 80, 81 (aus
der Zeichenebene hinaus) reflektiert wird. Das Auskoppelelement 73 ist
in einem um die Welle 83 drehbaren Revolver 85 angeordnet
und derart justiert, dass es durch Drehen des Revolvers 85 im
Anregungs- und Detektionsstrahlengang positionierbar ist. In dem
Revolver 85 ist ein weiteres Auskoppelelement 87 angeordnet,
das einen Anregungsfilter 89, einen Detektionsfilter 91 und einen
Strahlteiler 93 beinhaltet, wobei diese Elemente andere
spektrale Eigenschaften aufweisen, als die des ersten Auskoppelelements 73.
Durch Drehen des Revolvers 85 ist das Auskoppelelement 73, 87 in dem
Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang 71, 72 positionierbar,
das die jeweils gewünschten
optischen Eigenschaften hat. Weiterhin ist der Revolver 85 zur
Descan-Detektion in eine in dieser Figur nicht gezeigte Leerposition 99, 101 drehbar,
so dass sowohl das Beleuchtungslicht 53, als auch das Detektionslicht 75 ungehindert
passiert. Das Detektionslicht 75 gelangt bei Descan-Detektion über die
Strahlablenkeinrichtung 61 zurück zum Strahlteiler 59,
passiert diesen, den Sperrfilter 79, der die Reststrahlung vom
Anregungslicht unterdrückt
und die Detektionsblende 95 und trifft anschließend auf
den ersten Detektor 97.
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4 zeigt
das in 3 dargestellte
Scanmikroskop in der Draufsicht. Das Beleuchtungslicht 53 fällt in die
Zeichenebene hinein. Das Detektionslicht 75 tritt seitlich
aus dem Auskoppelelement 73 aus und trifft auf den Filterblock 104,
der einen dichroitischen Strahlteiler 103 und zwei Sperrfilter 106, 108 beinhaltet.
An dem dichroitischen Strahlteiler 103, der als Farbstrahlteiler
ausgeführt
ist, wird das Detektionslicht 75 entsprechend der spektralen
Verteilung in die Teilstrahlen 105 und 107 aufgeteilt
und den Detektoren 80 und 81 zugeführt, die
als Photomultiplier ausgeführt
sind. Die beiden Sperrfilter 106, 108 sind so
ausgestaltet, dass nur Detektionslicht der jeweils gewünschten
Wellenlänge
die Detektoren 80, 81 erreicht. Die Leerpositionen 99, 101 zur
Descan-Detektion sind gepunktet eingezeichnet.
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5 zeigt
in einer dreidimensionalen Ansicht ein konfokales Scanmikroskop 47,
das aus einem klassischen Lichtmikroskop 109 und einem Scannermodul 111 besteht.
Das Scannermodul 111 beinhaltet eine Lichtquelle 49 zur
Erzeugung des Beleuchtungslichtes 53, eine Strahlablenkeinrichtung 61,
einen ersten Detektor 97 zur Descan-Detektion und einen
Strahlteiler 59, der das Beleuchtungslicht 53 zu
der Strahlablenkeinrichtung 61 reflektiert und bei Descan-Detektion
das Detektionslicht zu dem ersten Detektor 97 passieren
lässt.
Weiterhin beinhaltet das Scannermodul 111 nicht gezeigte
Elemente zur Strahlführung
und Strahlformung, sowie eine Anregungs- und eine Detektionsblende,
die der Übersichtlichkeit
halber ebenfalls nicht gezeigt sind. Die Probe 19 liegt
zusammen mit einem Objektträger 113 auf
einem nicht gezeigten Mikroskoptisch. Das klassische Lichtmikroskop 109 weist
ein nicht dargestelltes Gehäuse
auf, an dem das Scannermodul 111 angeflanscht ist. Weiterhin
beinhaltet das klassische Lichtmikroskop 109 einen Fluoreszenz-Auflichtilluminator 3 mit
einer Lichtquelle 5, die als Bogenlampe 7 ausgeführt ist,
und einem Revolver 41, der um die Welle 39 drehbar
ist. In dem Revolver sind ein Auskoppelelement 73 zur Scanmikroskopie
mit Non-Descan-Detektion
und ein erster und ein zweiter Filterblock 29, 31 zur
klassischen Fluoreszenz-Auflichtmikroskopie angeordnet. Weiterhin
weist der Revolver 41 eine Leerposition 99 auf,
die in den Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang 71, 72 drehbar
ist. Diese Einstellung dient zur Scanmikroskopie mit Descan-Detektion.
Das Gehäuse
des klassischen Lichtmikroskops 109 weist eine seitliche Öffnung auf, durch
die das Detektionslicht 75 bei Non-Descan-Detektion austritt
und zu den weiteren Detektoren 80 und 81 gelangt,
die am Gehäuse
angebracht sind.
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6 zeigt
ein erfindungsgemäßes Auskoppelelement 73,
das einen Anregungsfilter 74, einen Detektionsfilter 119 und
einen dichroitischen Strahlteiler 77 beinhaltet. Das Auskoppelelement 73 weist
ein Gehäuse 121 mit
drei Öffnungen 123, 125, 127 auf,
durch die das Beleuchtungslicht 53 und das Detektionslicht 75 durchtreten.
An dem Gehäuse 121 sind
Führungs- und/oder Anschlagelemente 129, 131, 133, 135 angebracht,
die ein einfaches und reproduzierbares Positionieren in Anregungs-
und Detektionsstrahlengang 71, 72 ermöglichen.
Das Auskoppelelement 73 weist einen integrierten weiteren Detektor 137,
der als Photodiode ausgestaltet ist, auf. Vor dem Detektor ist eine
Optik 120 angeordnet.
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Die Erfindung wurde in Bezug auf
eine besondere Ausführungsform
beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen
und Abwandlungen durchgeführt
werden können,
ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
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- 1
- Auflicht-Fluoreszenzmikroskop
- 3
- Fluoreszenz-Auflichtilluminator
- 5
- Lichtquelle
- 7
- Bogenlampe
- 9
- Licht
- 11
- Anregungsfilter
- 13
- Anregungslicht
- 15
- Strahlteiler
- 17
- Mikroskopobjektiv
- 19
- Probe
- 21
- Fluoreszenzlicht
- 23
- Sperrfilter
- 25
- Okular
- 27
- Auge
des Benutzers
- 29
- Filterblock
- 31
- weiterer
Filterblock
- 33
- Anregungsfilter
- 35
- Detektionsfilter
- 37
- Strahlteiler
- 39
- Welle
- 41
- Revolver
- 43
- weiterer
Filterblock
- 45
- weiterer
Filterblock
- 47
- Scanmikroskop
- 49
- Lichtquelle
- 51
- Titan-Saphir-Laser
- 53
- Beleuchtungslicht
- 55
- Optik
- 57
- Anregungsblende
- 59
- Strahlteiler
- 61
- Strahlablenkeinrichtung
- 63
- kardanisch
aufgehängter
Spiegel
- 65
- Scanoptik
- 67
- Tubusoptik
- 69
- Objektiv
- 71
- Beleuchtungsstrahlengang
- 72
- Detektionsstrahlengang
- 73
- Auskoppelelement
- 74
- Anregungsfilter
- 75
- Detektionslicht
- 77
- dichroitischer
Strahlteiler
- 79
- Sperrfilter
- 80
- weiterer
Detektor
- 81
- weiterer
Detektor
- 83
- Welle
- 85
- Revolver
- 87
- Auskoppelelement
- 89
- Anregungsfilter
- 91
- Detektionsfilter
- 93
- Strahlteiler
- 95
- Detektionsblende
- 97
- erster
Detektor
- 99
- Leerposition
- 101
- Leerposition
- 103
- dichroitischer
Strahlteiler
- 104
- Filterblock
- 105
- Teilstrahl
- 106
- Sperrfilter
- 107
- Teilstrahl
- 108
- Sperrfilter
- 109
- klassisches
Lichtmikroskop
- 111
- Scannermodul
- 113
- Objektträger
- 119
- Detektionsfilter
- 120
- Optik
- 121
- Gehäuse
- 123
- Öffnung
- 125
- Öffnung
- 127
- Öffnung
- 129
- Führungs-
und/oder Anschlagelement
- 131
- Führungs-
und/oder Anschlagelement
- 133
- Führungs-
und/oder Anschlagelement
- 135
- Führungs-
und/oder Anschlagelement
- 137
- weiterer
Detektor