DE10065644A1 - Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unterschiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren - Google Patents
Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unterschiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller NetzwerkanalysatorenInfo
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Abstract
Die erfindungsgemäße Anordnung ermöglicht für Verfahren zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren mit unterschiedlich langen Kalibrierleitungsnormalen, wie beispielsweise dem TRL-Verfahren, eine Anordnung zu schaffen, bei der alle Kalibrierstandards die gleiche Gesamtlänge aufweisen. Eine Realisierung beispielsweise auf Mikrostreifenleitungsbasis führt auf eine Kalibrierschaltung mit identischer Längenabmessung für alle Kalibrierstandards, die in einer Messvorrichtung verschoben werden kann, ohne die Stecker und Messkabel während der Kalibrierung seitlich verschieben zu müssen. Dadurch reduzieren sich die Anforderungen an die Phasenmessgenauigkeit der Messkabel und an die Komplexität der Messvorrichtung. DOLLAR A Die erfindungsgemäße Anordnung basiert auf der Strukturierung der Kalibrierleitungen mit Hilfe von Winkelelementen, die in mehreren Stufen hintereinander positioniert werden. Die Strukturen der einzelnen Stufen sind für die verschiedenen Kalibrierleitungen in ihren Abmessungen identisch, unterscheiden sich aber bezüglich ihrer Ausrichtung und können damit die Längendifferenzen der verschiedenen Kalibrierstandards ausgleichen. Da die Kalibrierstrukturen im Bereich der Winkelanordnungen das gleiche Reflexions- und Transmissionsverhalten besitzten, sind die Voraussetzungen für die Einsetzbarkeit der Kalibrierstrukturen in Kalibrierverfahren erfüllt.
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Kalibrierung vektorieller 4-Messstellen-Netz
werkanalysatoren laut Oberbegriff des Hauptanspruches.
Netzwerkanalysatoren zur Vermessung hochfrequenter Streuparameter von Ein- und Zwei
toren weisen Systemfehler, wie etwa fehlangepasste Messtore, unvollkommene Richtkopp
ler und frequenzabhängige nichtideale Mischer und Verstärker auf. Zur Bestimmung der
systemfehlerkorrigierten Streuparameter eines Messobjektes ist es erforderlich, die Sy
stemfehler in einem Fehlermodell zu erfassen und die Fehlerparameter im Rahmen einer
Kalibrierung zu bestimmen. In Abb. 1 ist ein für den 4-Messstellen-Netzwerkanaly
sator bekanntes Blockschaltbild gemäß dem sogenannten 7-Term-Modell dargestellt. Das
Blockschaltbild besteht aus der Hintereinanderschaltung der beiden Fehlerzweitore G und
H zur Erfassung der Systemfehler sowie dem Messobjektzweitor (MO), [1]. Die mit m1
bis m4 bezeichneten Messgrößen, sind den auf die Messstellen zulaufenden Wellen pro
portional. Die Größen a1, a2, b1 und b2 entsprechen den von den Systemfehlern befreiten
Wellengrößen hinter den Fehlerzweitoren, die mit den gesuchten Messobjektstreuparame
tern wie folgt zusammenhängen:
Bei der Kalibrierung des Netzwerkanalysators lassen sich die unbekannten Fehlerzweito
re G und H nur bis auf einen Vorfaktor bestimmen, so dass ein Fehlerzweitorparame
ter frei gewählt werden kann, wie beispielsweise H22 = 1. Damit sind im Rahmen der
Kalibrierung sieben unbekannte Fehlerzweitorparameter zu berechnen, was sich in der
Bezeichnung als 7-Term-Modell wiederspiegelt. Neben Kalibrierverfahren mit vollständig
bekannten Kalibrierstandards existieren die sogenannten Selbstkalibrierverfahren mit teil
weise unbekannten Standards. Bei den Selbstkalibrierverfahren werden zusätzlich zu den
Fehlerzweitoren G und H die unbekannten Parameter der Kalibrierstandards im Rahmen
einer Selbstkalibrierung bestimmt.
Zu den Selbstkalibrierverfahren zählt das TRL-Verfahren, [2] [3]. Dabei steht T (engl.
Through) für eine Durchverbindung, R (engl. Reflect) für einen Reflexionsstandard und L
(engl. Line) für eine Leitung mit einer bestimmten Differenzlänge bezogen auf die Durch
verbindung. Zur Durchführung der Systemfehlerkorrektur ist die Vermessung der drei
Kalibrierstandards erforderlich. Aufgrund der unterschiedlichen Längen der Kalibrier
standards ist es allerdings nötig, die Messkabel während der Kalibrierung zu verschieben.
Das wirkt sich nachteilig auf die Messgenauigkeit aus, da die Messanordnung bezüglich
der Phasenmessgenauigkeit empfindlich gegen derartige Verschiebungen ist. Insbesondere
erhöhen sich dadurch die Anforderungen an die Phasenstabilität der Messkabel und die
Komplexität der Messvorrichtung nimmt zu.
Der im Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, für Ka
librierverfahren mit unterschiedlich langen Kalibrierleitungsnormalen, wie beispielsweise
dem TRL-Verfahren, eine Anordnung zu schaffen, bei der die Kalibrierschaltung für al
le Kalibrierstandards die gleiche Länge aufweist, so dass die Stecker und Messkabel der
Messvorrichtung fest positioniert werden können und die Kalibrierschaltung zur Kon
taktierung der verschiedenen Standards in der Messvorrichtung verschoben wird, ohne
dabei die Messkabel und Stecker in ihrer Lage zu verändern. Die seitlichen Anschlüsse
der Kalibrierstandards können gegenüberliegend auf gleicher Höhe kontaktiert werden.
Die erfindungsgemäßen Anordnungen lassen sich beispielsweise als Mikrostreifenleitungs
schaltungen realisieren und ermöglichen, die Anforderungen an die Messvorrichtung zu
reduzieren.
Die erfindungsgemäße Anordnung basiert auf der Strukturierung der Kalibrierleitungen
mit Hilfe von Winkelelementen, durch die in die Kalibrierleitungen Störstellen in Form
von Knicken eingefügt werden. Die im Knickbereich auftretenden Feld- und Stromlinien
verzerrungen, die sich in einer Stromlinienkonzentration an der inneren Ecke und einem
elektrischem Streufeld an der äußeren Ecke äußern, [4], können durch eine Eckanschrägung
breitbandig kompensiert werden. Bei der Hintereinanderschaltung mehrer Winkelelemente
ist darauf zu achten, dass die Abstände zwischen den Elementen hinreichend groß gewählt
werden, so dass sich die durch die Knickstellen verursachten Störungen auf den Verbin
dungsleitungsstücken egalisieren können, bevor ein weiteres Winkelelement, eine Kali
brierstruktur oder die seitlichen Stecker zur äußeren Kontaktierung folgen. Unter diesen
Voraussetzungen lassen sich mehrere Winkelelemente in Stufen hintereinander positionie
ren, wobei die Strukturen der einzelnen Stufen für die verschiedenen Kalibrierleitungen in
ihren Abmessungen identisch zu wählen sind, sich aber bezüglich ihrer rechts- oder links
schwenkenden Ausrichtung unterscheiden dürfen, so dass die Gesamtstrukturen jeweils die
gleichen elektrischen Eigenschaften besitzen. Es lassen sich auf diese Weise Schaltungsto
pologien realisieren, die es ermöglichen, die Längendifferenzen der Kalibrierstandards so
auszugleichen, dass die Gesamtlänge der Kalibrierschaltung für alle Standards identisch
ist. Diese Eigenschaft der Kalibrierschaltung ermöglicht, dass die Stecker und Messkabel
zum Netzwerkanalysator nicht seitlich verschoben werden müssen. Die Kalibrierstruktu
ren besitzen das gleiche Reflexions- und Transmissionsverhalten zwischen den äußeren
Anschlüssen und einer Bezugsebene hinter den eingefügten Winkelstrukturen, womit die
Voraussetzungen für die Einsetzbarkeit der erfindungsgemäßen Kalibrierstrukturen in den
Kalibrierverfahren mit unterschiedlich langen Kalibrierleitungen erfüllt sind.
Als besonders vorteilhaft hat es sich erwiesen, die Kalibrierstandards als 135°-Winkel
strukturen mit kompensierten Eckanschrägungen auszubilden, um steile Abwinkelungen
für eine möglichst breitbandige Anpassung zu vermeiden und dabei gleichzeitig den Platz
bedarf zu optimieren. Im Prinzip könnten aber auch Strukturen mit kompensierten 90°-
Winkeln beziehungsweise beliebigen Winkeln oder abgerundeten Ecken eingesetzt werden.
Bei der Abrundung der Ecken ist allerdings zu berücksichtigen, dass diese Struktur nur
eine sehr geringe Kompensationswirkung besitzt.
Die Variante im Patentanspruch 2 geht davon aus, dass anstelle von Mikrostreifenleitun
gen andere Leitungen verwendet werden, wie beispielsweise Koplanar-Leitungen, Schlitz
leitungen, Hohlleitungen, dielektrische Leitungen.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand schematischer Zeichnungen näher erläutert. In
Abb. 2 ist ein Beispiel einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Anordnung
exemplarisch für eine Realisierung der Kalibrierstandards als Mikrostreifenleitungsschal
tung gemäß dem TRL-Verfahren dargestellt. Dabei ist mit 1 die Durchverbindung T,
mit 2 die Leitung L und mit 3 der Reflexionsstandard R gezeigt. Zusätzlich ist eine
Leitung mit Anschlusspads 4 zur Kontaktierung eines Messobjektes wie beispielswei
se eines Transistors dargestellt, um die Durchführung einer Messobjektvermessung zu
verdeutlichen. In den Bereichen zwischen den äußeren Kontakten 5 und den gestrichelt
eingezeichneten Bezugsebenen 6 setzen sich die Kalibrierstandards aus der Hintereinan
derschaltung gleichförmiger kompensierter 135°-Winkelelemente zusammen, die sich in
ihrer rechts- oder linksschwenkenden Ausrichtung unterscheiden. Die Kalibrierstandards
besitzen in den eingezeichneten Bereichen identische Reflexions- und Transmissionseigen
schaften, was sich anhand der in den Abb. 3 und 4 dargestellten Strukturen
verdeutlichen lässt. In Abb. 3 sind zwei 135°-Winkelelemente mit in unterschied
liche Richtungen zeigenden Leitungsabwinkelungen aufgeführt. Die bereits erwähnten im
Knickbereich auftretenden Feld- und Stromlinienverzerrungen, werden durch die darge
stellten Eckanschrägungen breitbandig kompensiert. Zusätzlich ist aufgrund der hinrei
chend langen Abstände zwischen den Abwinkelungen und den äußeren Leitungsenden
gewährleistet, dass sich die durch die Knickstellen verursachten Störungen auf den Zu
leitungsstücken egalisieren können. Die vorliegende Erfindung basiert wesentlich auf der
Tatsache, dass die beiden in Abb. 3 dargestellten rechts- oder linksschwenkenden
Strukturen zwischen den äußeren Anschlüssen das gleiche elektrische Verhalten aufweisen.
Ergänzt man die Strukturen aus Abb. 3 durch eine weitere Stufe kompensierter
Winkelelemente mit hinreichend langen Abständen zwischen den Knickstellen zur Ega
lisierung der im Knickbereich verursachten Störungen wie in Abb. 4, so besitzen
die beiden aufgeführten Strukturen trotz der unterschiedlichen Ausrichtungen das gleiche
elektrische Verhalten an den äußeren Klemmen. Damit lässt sich die Gleichheit der in
Abb. 2 gezeigten Strukturen in den markierten Bereichen 5 und 6 begründen.
Unter Ausnutzung dieser Eigenschaften lassen sich weitere Anordnungen für die Hinterein
anderschaltung von Winkelelementen angeben. Da der Vorteil der Erfindung insbesondere
in dem Ausgleich der Längendifferenzen unterschiedlicher Kalibrierstandards liegt, werden
im Folgenden verschiedene Möglichkeiten zur Strukturierung ungleich langer Leitungen
angegeben. Die übrigen Kalibrierstandards wie etwa der Reflexionsstandard beim TRL-
Verfahren lassen sich auf der Basis eines der beiden Leitungstypen einfach realisieren, was
bereits in Abb. 2 gezeigt wurde und daher in der weiteren Darstellung nicht mehr
berücksichtigt wird.
In Abb. 5 ist mit der ersten Struktur nochmals die Anordnung aus Abb.
2 für die beiden Leitungsstandards T und L gezeigt. Als weitere kompensierte 135°-
Anordnung läßt sich die zweite Struktur angeben. Beide Anordnungen sind symmetrisch
zu der in dem T-Standard angegebenen Bezugsebene. Ein Beispiel für eine asymmetrische,
kompensierte 135°-Winkelanordnung stellt die Struktur in Abb. 6 dar. Beispiele
von Ausführungen auf der Basis kompensierter 90°-Winkelelemente sind in der Abb.
7 gezeigt, wobei mit den ersten drei Strukturen symmetrische und mit der vierten bis
sechsten Struktur asymmetrische Anordnungen aufgeführt sind. Die jeweiligen Längen
differenzen zwischen den Leitungsstrukturen sind durch die gestrichelt eingezeichneten
Bezugsebenen verdeutlicht.
[1] Schiek, B., Grundlagen der Hochfrequenz-Messtechnik, Springer-Verlag, Berlin Hei
delberg, 1999, pp. 154-167.
[2] Engen, G. F., Hoer, C. A., Thru-Reflect-Line: An improved technique for calibrating the dual six port automatic network analyzer, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. MTT-27, Dec. 1979, pp. 987-993.
[3] Eul, H.-J., Schiek, B., A Generalized Theory and New Calibration Procedures für Network Analyzer Self-Calibration, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. MTT- 39, April 1991, pp. 724-731.
[4] Hoffmann, R. K., Integrierte Mikrowellenschaltungen, Springer-Verlag, Berlin Heidel berg, 1983, pp. 290-297.
[2] Engen, G. F., Hoer, C. A., Thru-Reflect-Line: An improved technique for calibrating the dual six port automatic network analyzer, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. MTT-27, Dec. 1979, pp. 987-993.
[3] Eul, H.-J., Schiek, B., A Generalized Theory and New Calibration Procedures für Network Analyzer Self-Calibration, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. MTT- 39, April 1991, pp. 724-731.
[4] Hoffmann, R. K., Integrierte Mikrowellenschaltungen, Springer-Verlag, Berlin Heidel berg, 1983, pp. 290-297.
Claims (2)
1. Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unter
schiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren, da
durch gekennzeichnet, dass Kalibrierstandards unterschiedlicher Länge durch die
Hintereinanderschaltung von Winkelelementen so realisiert werden, dass die Ge
samtlänge der Kalibrierschaltung für alle Kalibrierstandards identisch ist. Für die
Hintereinanderschaltung der Winkelelemente in mehreren Stufen gilt für die Winkel
strukturen der einzelnen Stufen aller Kalibrierstandards, dass diese bezüglich ihrer
Abmessungen und Abwinkelungen identisch zu wählen sind, sich aber in ihrer Aus
richtung unterscheiden dürfen. Die Winkelelemente sind so zu dimensionieren, dass
die im Knickbereich auftretenden Feld- und Stromlinienverzerrungen durch geeig
nete Maßnahmen, wie beispielsweise Eckanschrägungen, zu kompensieren sind. Die
Abstände zwischen verschiedenen Knickstellen sind so groß zu wählen, dass sich die
durch die Knicke verursachten Störungen auf den Verbindungsleitungsstücken ega
lisieren können. Die Kalibrieranordnungen lassen sich beispielsweise auf der Basis
von Mikrostreifenleitungsschaltungen ätztechnisch realisieren.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass anstelle von Streifenlei
tungen andere Leitungen verwendet werden, wie beispielsweise Koplanar-Leitungen,
Schlitzleitungen, Hohlleitungen, dielektrische Leitungen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000165644 DE10065644A1 (de) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unterschiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren |
Applications Claiming Priority (1)
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DE2000165644 DE10065644A1 (de) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unterschiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE10065644A1 true DE10065644A1 (de) | 2002-07-04 |
Family
ID=7669374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2000165644 Withdrawn DE10065644A1 (de) | 2000-12-29 | 2000-12-29 | Kalibrieranordnung mit Kalibrierstandards gleicher Einfügungslänge bei unterschiedlicher Leitungslänge zur Kalibrierung vektorieller Netzwerkanalysatoren |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10065644A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3038061A1 (fr) * | 2015-06-29 | 2016-12-30 | Univ Bordeaux | Dispositif de calibrage pour l'ajustement d'une mesure radiofrequence |
CN109804256A (zh) * | 2016-10-17 | 2019-05-24 | 韩国标准科学研究院 | 电磁阻抗测量装置和电磁阻抗校正方法 |
WO2020201007A1 (de) * | 2019-04-04 | 2020-10-08 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Impedanznormal |
-
2000
- 2000-12-29 DE DE2000165644 patent/DE10065644A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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FR3038061A1 (fr) * | 2015-06-29 | 2016-12-30 | Univ Bordeaux | Dispositif de calibrage pour l'ajustement d'une mesure radiofrequence |
CN109804256A (zh) * | 2016-10-17 | 2019-05-24 | 韩国标准科学研究院 | 电磁阻抗测量装置和电磁阻抗校正方法 |
CN109804256B (zh) * | 2016-10-17 | 2021-03-16 | 韩国标准科学研究院 | 电磁阻抗测量装置和电磁阻抗校正方法 |
WO2020201007A1 (de) * | 2019-04-04 | 2020-10-08 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Impedanznormal |
US11927663B2 (en) | 2019-04-04 | 2024-03-12 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Impedance standard |
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