DE10051052A1 - Lösung zum Ätzen von Metalloberflächen - Google Patents

Lösung zum Ätzen von Metalloberflächen

Info

Publication number
DE10051052A1
DE10051052A1 DE2000151052 DE10051052A DE10051052A1 DE 10051052 A1 DE10051052 A1 DE 10051052A1 DE 2000151052 DE2000151052 DE 2000151052 DE 10051052 A DE10051052 A DE 10051052A DE 10051052 A1 DE10051052 A1 DE 10051052A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
solution
solution according
acid
carboxylic acid
production
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2000151052
Other languages
English (en)
Other versions
DE10051052C2 (de
Inventor
Rolf Keller
Richard Spitz
Alexander Goelz
Guenter Wiltschko
Klaus Franzke
Alex Drljaca
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE2000151052 priority Critical patent/DE10051052C2/de
Publication of DE10051052A1 publication Critical patent/DE10051052A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10051052C2 publication Critical patent/DE10051052C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/32Alkaline compositions
    • C23F1/36Alkaline compositions for etching aluminium or alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/30604Chemical etching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3205Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
    • H01L21/321After treatment
    • H01L21/3213Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer
    • H01L21/32133Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer by chemical means only
    • H01L21/32134Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer by chemical means only by liquid etching only

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

Es wird eine Lösung und ein Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen beschrieben, insbesondere von Siliciumoberflächen, wobei die Lösung alkalisch ist und mindestens eine Carbonsäure enthält.

Description

Stand der Technik
Die Erfindung bezieht sich auf eine Lösung und ein Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen nach dem Oberbegriff der un­ abhängigen Ansprüche.
Um Metalloberflächen und insbesondere Siliciumoberflächen ätzen zu können, werden Lösungen benötigt, die metallische Oberflächen mit einer definiert hohen Abtragrate Chemisch angreifen. Bekannt ist beispielsweise die Verwendung von EDTA-Lösungen, wobei das EDTA (Ethylendiamintetraacetat) als Komplexbildner fungiert, die von der Metalloberfläche abge­ lösten Metallionen komplexiert und so deren Wiederanlagerung verhindert. Aus Gründen des Umweltschutzes ist die Verwen­ dung von EDTA jedoch unerwünscht.
Aus der US-Patentschrift 5,662,769 ist die Verwendung von Zitronensäure/Flußsäure- und EDTA/Flußsäurelösungen als Rei­ nigungslösung für Wafer bekannt. Abgesehen von der schwieri­ gen Handhabung und Entsorgung derartiger Lösungen ist die Anwendung auf Bauteile aus Silicium beschränkt, da es bei Bauteilen, die nicht nur Silicium- sondern beispielsweise auch Nickeloberflächen aufweisen, aufgrund des stark sauren pH-Wertes dieser Lösungen zu einer Zerstörung der Nic­ keloberflächen kommt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Lösung und ein Verfahren bereitzustellen, die ein selektives Ätzen von Metall­ oberflächen gestatten und zugleich umweltfreundlich sind.
Vorteile der Erfindung
Die erfindungsgemäße Lösung bzw. das erfindungsgemäße Ver­ fahren ermöglichen das selektive Ätzen von Metalloberflä­ chen, wobei die Selektivität durch den alkalischen pH-Wert der Lösung erreicht wird. So werden beipielsweise selektiv Silicium- und Aluminimoberflächen angeätzt, wohingegen Nic­ kel- und Eisenoberflächen unversehrt bleiben. Zusätzlich enthält die Lösung zur Komplexierung abgelöster Metallbe­ standteile eine Carbonsäure, was zu einer Steigerung der Ätzgeschwindigkeit führt.
Mit den in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen möglich. So kann die Abtragsra­ te der Lösung weiter gesteigert werden, indem der Lösung zu­ sätzlich Zitronensäure zugesetzt wird.
Ausführungsbeispiele
Die erfindungsgemäße Lösung zum selektiven Ätzen von Metall­ oberflächen enthält als Lösungsmittel Wasser, einen Alkohol oder ein Gemisch derselben. Um einen selektiven Abtrag vor allem von Silicium zu erzielen, wird die Lösung stark alka­ lisch eingestellt. Dazu wird beispielsweise Kaliumhydroxid zugesetzt, so daß die Lösung 5 bis 10 Gew.-%, vorzugsweise 7 Gew.-% an Kaliumhydroxid enthält. Dies entspricht einem pH- Wert von < 14. Mittels dieser Lösung können selektiv Metalle wie Silicium, Aluminium, Zinn, Zink und Blei abgetragen wer­ den. Um die Geschwindigkeit der Reaktion deutlich zu erhö­ hen, enthält die Lösung zusätzlich einen Komplexbildner, der die Wiederanlagerung aufgelöster Metallbestandteile durch Bildung entsprechender Metallkomplexe verhindert. Da die Verwendung des starken Komplexbildners EDTA aus Gründen des Umweltschutzes unerwünscht ist, wird stattdessen der Lösung mindestens eine Carbonsäure zugesetzt, die komplexierend wirkt und umweltverträglich sowie kostengünstig ist. Es wur­ de gefunden, daß vor allem Carbonsäuren wie Glycolsäure, Milchsäure, Gluconsäure, Malonsäure, Glycin und Weinsäure diesen Anforderungen genügen. Diese können einzeln oder in Mischungen der Lösung zugesetzt werden, wobei der Kaliumhy­ droxidgehalt der Lösung so angepaßt wird, daß stets der oben genannte Gehalt an freiem Kaliumhydroxid in der Lösung vor­ liegt. Der Lösung kann zusätzlich Zitronensäure oder Citrat enthalten, dies wirkt sich positiv auf das Ätzverhalten der Lösung aus.
Der Ätzvorgang umfaßt das Eintauchen oder Spülen der zu ät­ zenden Metalloberfläche in der Lösung für einen Zeitraum vorzugsweise von 10 bis 30 Minuten und ein anschließendes Abspülen mit Wasser sowie einen Trocknungsvorgang. Die Lö­ sung wird während dem Ätzvorgang auf einer konstanten Tempe­ ratur knapp unter dem Siedepunkt des Lösungsmittels gehal­ ten; bei einer wässrigen Lösung sind beispielsweie 93 bis 96°C vorteilhaft, insbesondere 95°C. Zusätzlich kann eine Ultraschallquelle vorgesehen werden, wodurch die Abtragsrate weiter erhöht wird.
Im folgenden werden die Zusammensetzungen von besonders ge­ eigneten Lösungen unter Angabe der Ätzrate an einer Sili­ ciumoberfläche aufgeführt.
Die beschriebenen Lösungen bzw. das Verfahren eignen sich zum Ätzen von Siliciumoberflächen beispielsweise bei Wafern, aber auch bei Bauteilen, die aus unterschiedlichen Materia­ lien bestehen und neben einer Siliciumoberfläche auch Ober­ flächen aus anderen Metallen aufweisen. So können auf diese Weise Halbleiterdioden wie beispielsweise Leistungsdioden für Generatoren während der Fertigung geätzt werden. Ferner können mehrere Ätz- bzw. Reinigungsprozesse nacheinander an einem Bauteil durchgeführt werden mit jeweils derselben oder auch verschiedenen Ätzlösungen.

Claims (13)

1. Lösung zum Ätzen von Metalloberflächen, insbesondere von Siliciumoberflächen, dadurch gekennzeichnet, daß die Lö­ sung alkalisch ist und mindestens eine Carbonsäure enthält.
2. Lösung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Carbonsäure Glycolsäure, Milchsäure und/oder Gluconsäure ist.
3. Lösung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Carbonsäure Malonsäure, Glycin und/oder Weinsäure ist.
4. Lösung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß sie 0.5 bis 5 Gew.-% der Carbonsäure ent­ hält.
5. Lösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ge­ kennzeichnet durch einen zusätzlichen Gehalt an Zitronensäu­ re oder einem Salz der Zitronensäure.
6. Lösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ge­ kennzeichnet durch einen Gehalt an Kaliumhydroxid.
7. Lösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß sie einen pH-Wert größer als 9 aufweist.
8. Lösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß sie als Lösungsmittel Wasser und/oder einen Alkohol enthält.
9. Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen, insbeson­ dere von Siliciumoberflächen, mittels einer Lösung nach ei­ nem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Metalloberfläche der Lösung für 10 bis 30 Minuten bei einer konstanten Temperatur ausgesetzt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Lösung als Lösungsmittel Wasser enthält und auf ei­ ner Temperatur von 93 bis 96, vorzugsweise 95°C gehalten wird.
11. Verfahren nach Anspruch 9 und 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Metalloberfläche zusätzlich der Einwirkung von Ultraschall ausgesetzt ist.
12. Siliciumwafer, gekennzeichnet durch eine mittels ei­ ner Lösung nach einem der Ansprüche 1 bis 8 und/oder eines Verfahrens nach Anspruch 9 bis 11 geätzte Oberfläche.
13. Halbleiterdiode, gekennzeichnet durch eine mittels einer Lösung nach einem der Ansprüche 1 bis 8 und/oder eines Verfahrens nach Anspruch 9 bis 11 geätzte Oberfläche.
DE2000151052 2000-10-14 2000-10-14 Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung Expired - Fee Related DE10051052C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2000151052 DE10051052C2 (de) 2000-10-14 2000-10-14 Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2000151052 DE10051052C2 (de) 2000-10-14 2000-10-14 Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10051052A1 true DE10051052A1 (de) 2002-04-25
DE10051052C2 DE10051052C2 (de) 2003-06-05

Family

ID=7659845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2000151052 Expired - Fee Related DE10051052C2 (de) 2000-10-14 2000-10-14 Lösung und Verfahren zum Ätzen von Metalloberflächen sowie deren Verwendung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10051052C2 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006009668A1 (en) * 2004-06-16 2006-01-26 Memc Electronic Materials, Inc. Silicon wafer etching process and composition
WO2008102172A1 (en) * 2007-02-20 2008-08-28 David John Ruchat Photovoltaic device and manufacturing method therefor
US8900472B2 (en) 2007-12-06 2014-12-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Föerderung der Angewandten Forschung E.V. Texturing and cleaning agent for the surface treatment of wafers and use thereof
US8940178B2 (en) 2009-03-18 2015-01-27 E I Du Pont De Nemours And Company Textured silicon substrate and method

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004033438A1 (de) * 2004-07-08 2006-02-02 Hansgrohe Ag Verfahren zur Bereitstellung von wasserführenden Bauteilen aus bleihaltigen Kupferlegierungen mit verringerter Bleifreisetzung
DE102007058876A1 (de) * 2007-12-06 2009-06-10 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Waferoberflächen

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2653860A (en) * 1953-03-09 1953-09-29 Enthone Etching aluminum using saccharic acid as a modifier
US2739883A (en) * 1954-07-22 1956-03-27 Turco Products Inc Process of etching aluminum
US3607477A (en) * 1968-03-21 1971-09-21 Westinghouse Brake & Signal Etchants,the treatment of moncrystalline semiconductor wafers therewith and semiconductor devices incorporating such wafers
JPH01168885A (ja) * 1987-12-25 1989-07-04 Tosoh Corp 活性電極の再活性化法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01268885A (ja) * 1988-04-20 1989-10-26 Seiko Epson Corp Ta膜パターン形成法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2653860A (en) * 1953-03-09 1953-09-29 Enthone Etching aluminum using saccharic acid as a modifier
US2739883A (en) * 1954-07-22 1956-03-27 Turco Products Inc Process of etching aluminum
US3607477A (en) * 1968-03-21 1971-09-21 Westinghouse Brake & Signal Etchants,the treatment of moncrystalline semiconductor wafers therewith and semiconductor devices incorporating such wafers
JPH01168885A (ja) * 1987-12-25 1989-07-04 Tosoh Corp 活性電極の再活性化法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006009668A1 (en) * 2004-06-16 2006-01-26 Memc Electronic Materials, Inc. Silicon wafer etching process and composition
US7323421B2 (en) 2004-06-16 2008-01-29 Memc Electronic Materials, Inc. Silicon wafer etching process and composition
US7938982B2 (en) 2004-06-16 2011-05-10 Memc Electronic Materials, Inc. Silicon wafer etching compositions
WO2008102172A1 (en) * 2007-02-20 2008-08-28 David John Ruchat Photovoltaic device and manufacturing method therefor
US8900472B2 (en) 2007-12-06 2014-12-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Föerderung der Angewandten Forschung E.V. Texturing and cleaning agent for the surface treatment of wafers and use thereof
US8940178B2 (en) 2009-03-18 2015-01-27 E I Du Pont De Nemours And Company Textured silicon substrate and method
US9673342B2 (en) 2009-03-18 2017-06-06 The Chemours Company Fc, Llc Textured silicon substrate and method

Also Published As

Publication number Publication date
DE10051052C2 (de) 2003-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1917381B1 (de) Stabilisierte ätzlösungen für cu- und cu/ni-schichten
DE69834931T2 (de) Verfahren zum entfernen von rückständen von einem halbleitersubstrat
DE60028962T2 (de) Zusammensetzungen zum reinigen von substraten von organischen und plasmaätz-rückständen bei halbleiter-vorrichtungen
DE69734868T2 (de) Zusammensetzung und verfahren zum chemisch-mechanischen polieren
DE60212366T2 (de) Reinigerzusammensetzung
DE69823283T2 (de) Reinigungszusammensetzung
WO2005098920A2 (de) Wässrige lösung zur entfernung von post-etch residue
DE2041463A1 (de) Verfahren zum Aufbringen von Kupfer auf Stahl- oder Zinklegierungsoberflaechen
EP0595881B1 (de) Verwendung von halogenkohlenwasserstoff-freien reinigungsmitteln zur fluxentfernung von elektronischen und elektrischen baugruppen
DE10051052A1 (de) Lösung zum Ätzen von Metalloberflächen
WO2015052347A1 (de) Fotoresist-stripping mit intelligenten flüssigkeiten
DE4417965A1 (de) Eisenphosphatierung unter Verwendung von substituierten Monocarbonsäuren
CN100537103C (zh) 清除芯片以及铅锡合金凸点表面助焊剂的方法
DE856663C (de) Verfahren zur Herstellung von Selen-Gleichrichtern
EP0230903B1 (de) Verfahren zur Reinigung von Aluminiumbehältern
DE102013226533A1 (de) Reiniger für ein Aluminiumbauteil und ein Verfahren zur Reinigung von Aluminiumbauteilen
EP1989266A1 (de) Zwei- oder mehrstufiges entlackungsverfahren
DE2545153A1 (de) Verfahren zum freilegen eines leitenden ueberzugs auf einem substrat, insbesondere bei der herstellung integrierter schaltungen
DE102012107669A1 (de) Verfahren zur Behandlung der Oberfläche von vorgeätzten Silizium-Wafern
EP0224190A2 (de) Verfahren zur Aktivierung von Metalloberflächen vor einer Zinkphosphatierung
EP1554753B1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Stufenprofils aus einer Schichtfolge
DE813472C (de) Vorbehandlung von Aluminium vor dem Aufbringen von Deckschichten
DE1290789B (de) Reinigungsverfahren fuer eine Halbleiterkoerper-Oberflaeche
DE2141235C3 (de) Ätzmittel für metallbeschichtete SUiciumhalbleiterscheiben
DE10014915B4 (de) Verfahren zum Freilegen einer Kontaktfläche

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8304 Grant after examination procedure
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee