DE10017825A1 - Polychromatische Fluoreszenz-Meßvorrichtung - Google Patents
Polychromatische Fluoreszenz-MeßvorrichtungInfo
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 68
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 206010016256 fatigue Diseases 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Abtasten einer Probenfläche (36, 226), mit einem Selektionselement (26, 206), mittels welchem Anregungslicht in einen Anregungsstrahlengang zur Probenfläche eingekoppelt und von der Probenfläche emittiertes Fluoreszenzlicht, das den Anregungsstrahlengang in umgekehrter Richtung durchläuft, aus dem Anregungsstrahlengang ausgekoppelt wird, wobei im Strahlengang ein erstes dispersives Element (30, 210) vorgesehen ist, so daß das von der Probenfläche emittierte Fluoreszenzlicht spektral aufgespalten auf dem Selektionselement auftrifft, wobei das Selektionselement einen ersten (48, 240) und einen zweiten Bereich (54, 242) aufweist, um die Selektion zwischen Anregungs- und Fluorenzenzlicht zu bewerkstelligen. Gemäß einem ersten Aspekt ist die räumliche Ausdehnung des Reflexions- (48, 50) und damit des Transmissionsbereichs (54) einstellbar, um den durchgelassenen Wellenlängenbereich des Emissionslichts einzustellen. Gemäß einem zweiten Aspekt ist das Selektionselement (206) so ausgebildet, daß bei kohärenter Anregung mit mehreren Laserlinien gleichzeitig operiert werden kann, sich eine 2-dimensional konfokale Meßanordnung realisieren läßt und das effizient vom Anregungslicht getrennte Emissionslicht mit spektraler Auflösung detektiert werden kann.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Abtasten einer Pro
benfläche gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1.
Bei der Auflicht-Fluoreszenz müssen Anregungs- und Emissionsstrahlengang miteinander
vereint bzw. voneinander getrennt werden. Gewöhnlich geschieht dies mit Hilfe eines Farb
teilers, der Licht unterhalb einer gewünschten Wellenlänge reflektiert und längerwelliges
Licht transmittiert. Die Notwendigkeit eines solchen Filters steht einem schnellen Wechsel
von Anregungs- bzw. Emissionswellenlänge im Wege. Bei einem aus DE 195 10 102 C 1 be
kannten, gattungsgemäßen konfokalen Fluoreszenzmikroskop wird. das Problem dadurch um
gangen, daß Anregungs- und Emissionsstrahlengang ohne Zuhilfenahme von Strahlteilern mit
Hilfe dispersiver Elemente z. B. Prismen vereint bzw. wieder getrennt werden. Dabei wird das
Gesichtsfeld mit einer Vielzahl spaltartiger oder punktförmiger "Lichtfenstern" beleuchtet und
das Präparat durch gleichzeitiges Bewegen dieser Beleuchtungsfelder parallel "abgetastet".
Die vorliegende Erfindung zielt auf eine Fluoreszenzmeßvorrichtung, welche die genannten
Vorteile der aus DE 195 10 102 C1 bekannten Vorrichtung bewahrt, durch einen Verzicht auf
Parallelabtastung und Beschränkung auf einzelne "Lichtfenster" jedoch einfacher zu realisie
ren ist, eine deutlich gesteigerte Fremdlicht-Unterdrückung aufweist, die freie, unabhängige
Auswahl von Anregungswellenlänge, Emissisonswellenlänge und Emissionsbandbreite ges
tattet, und in einer besonderen Ausgestaltung es sogar ermöglicht, mit mehreren An
regungswellenlängen simultan zu operieren und gleichzeitig die gesamte spektrale Informati
on des Emissisonslichtes einer Auswertung zugänglich zu machen.
Dieses Ziel wird in erfindungsgemäßer Weise erreicht durch Fluoreszenz-Meßvorrichtungen
wie sie in Anspruch 1 bzw. 9 definiert sind.
Bei der Lösung gemäß Anspruch 1 ist die einfache und flexible Auswahl sowohl des detek
tierten Emissionswellenlängenbereichs als auch der gewünschten "Stoke's Shift" vorteilhaft.
Bei der Lösung gemäß Anspruch 9 ist vorteilhaft, daß bei mehreren Anregungs- und Emissi
onswellenlängen gleichzeitig gemessen werden kann und daß eine Konfokalität in zwei
Raumrichtungen ermöglicht wird.
Anspruch 20 betrifft eine besondere Ausgestaltung des Selektionselements.
Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Im folgenden werden Ausführungsformen der Erfindung anhand der beigefügten Zeichnungen
beispielhaft näher erläutert, wobei:
Fig. 1 schematisch den Strahlengang in einer Fluoreszenzmeßvorrichtung gemäß einer ersten
Ausführungsform zeigt;
Fig. 2 eine vergrößerte Darstellung des Selektionselements aus Fig. 1 ist;
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Strahlengangs einer Fluoreszenzmeßvorrichtung in
einer zweiten Ausführungsform ist, bei der in der oberen Darstellung die Y-Richtung, und in
der unteren Darstellung die X-Richtung die Querrichtung bildet, wobei der in diesem Fall aus
der Bildebene herausragende Anregungsast nicht eingezeichnet ist, und
Fig. 4 die vergrößerte Darstellung eines Selektionselements ist, welches in der in Fig. 3 ge
zeigten Anordnung Anwendung finden kann.
Bei der ersten Ausführungsform der Erfindung gemäß Fig. 1 und 2 werden, anders als bei der
aus DE 195 10 102 C1 bekannten Lösung, nicht mehrere Spaltblenden gleichzeitig beleuchtet,
sondern lediglich eine einzige. Sie braucht keine beugungslimitierte Höhe zu besitzen, son
dern kann als Streifen ausgedehnter Höhe das Präparat überdecken. Das auf dem Flächensen
sor registrierte Bild entspricht dann jeweils einem solchen Streifen, und das Gesamtbild muss
aus mehreren solcher, mit dem Scanner über das Präparat geführten Streifen zusammengesetzt
werden. Der Vorteil, der den Verzicht auf eindimensionale Konfokalität und die Geschwin
digkeitssteigerung durch Parallelabtastung aufwiegt, liegt darin, daß sowohl die des Emis
sions-Bandbreite, als auch die Stoke's Shift frei einstellbar sind.
Eine mögliche Ausgestaltung dieses Prinzips ist in Fig. 1 gezeigt. Auf einen engen Wellen
längenbereich begrenztes Licht einer Lichtquelle 12 - hier wird bevorzugt eine Galvanometer
montierte Gitteranordnung analog zu der aus DE 42 28 366 A1 bekannten Gitteranordnung
eingesetzt - beleuchtet homogen einen in seiner Größe verstellbaren Spalt 14, welcher mit
Hilfe einer Spektrometeranordnung - bestehend aus den abbildenden Elementen 16 und 20
und dazwischen einem dispersiven Element 18 - in eine Zwischenbildebene 22 abgebildet
wird. Ein in dieser Zwischenbildebene plaziertes Umlenkelement 24 bildet gleichzeitig den
festen Backen 48 einer Spaltanordnung 26. Das im Bereich des festen Backens 48 reflektierte
und somit umgelenkte, monochromatische Anregungslicht passiert eine Tubuslinse 28, die die
Umlenkeinheit ins Unendliche abgebildet, wird danach von einem zum dispersiven Element
18 in subtraktiver Dispersion betriebenen zweiten dispersiven Element 30 abgelenkt, und
mittels eines drehbar gelagerten Umlenkspiegels 32 auf das Objektiv 34 gelenkt. Durch das
Objektiv entsteht in der Präparatebene 36 ein (üblicherweise verkleinertes) Bild der ursprüng
lichen Spaltebene 14, welches durch Drehen des Umlenkspiegels 32 über das Präparat 38 be
wegt werden kann. Das vom so beleuchteten Streifen des Präparats emittierte Licht durchläuft
die optische Anordnung rückwärts, wird wegen seiner Rotverschiebung verglichen mit dem
Anregungslicht vom dispersiven Element weniger stark abgelenkt und landet in der ersten
Zwischenbildebene 22 als spektral verwaschener Streifen. Bei entsprechender Positionierung
dieses Streifens relativ zu den Spaltbacken 48 und 50 der Spaltanordnung 26 kann durch Ver
stellen des verschiebbaren Spaltbackens 48 relativ zum festen Spaltbacken 50 die Breite des
Spalts 54 vorgegeben und damit wie durch einen Spektrometeraustrittsspalt die spektrale
Bandbreite beeinflusst werden. Da jedoch sowohl im Anregungs-, als auch im Emissions
strahlengang die Strahlposition in der Zwischenbildebene mit wechselnder Wellenlänge
wechselt, muss entweder das gesamte Umlenkelement 24 mitsamt der beiden Spalte der ge
wünschten Wellenlänge entsprechend verschoben werden, oder es muss in der Nähe des
dispersiven Elements 18 eine verstellbare Umlenkeinheit in den Strahl eingebracht werden,
welche den Anregungsstrahl auf der Umlenkeinheit positioniert. Jede der genannten Verstell
möglichkeiten dient der Plazierung des Anregungsstrahls auf dem reflektierenden Teil des
Umlenkelements 48 und damit der Einstellung der gewünschten Stoke's Shift.
Das spektral verwaschene Zwischenbild kann die Umlenkeinheit im nicht verspiegelten, son
dern nur entspiegelten Teil 54 passieren und wird durch eine in umgekehrter Dispersion be
triebene Spektrometeranordnung, bestehend aus einem optischen Element 40, welches die
Zwischenbildebene ins Unendliche abbildet, einem dispersiven Element 42, das die spektrale
Aufspaltung rückgängig macht, und einem weiteren optischen Element 44, welches das
Strahlbündel wieder fokussiert, auf den Flächensensor 46 abgebildet, wo ein nunmehr wieder
"unverwaschenes" Bild des beleuchteten Streifens resultiert. Aus mehreren solcher Streifen
bilder, welche jeweils nach Rotation des Spiegels 32 aufgenommen wurden, lässt sich dann
ein Gesamtbild zusammensetzen. Als Nachteil zu werten ist dabei, daß die Stoke's Shift, d. h.
die Verschiebung zwischen Anregungswellenlänge und Emissionswellenlänge, nur bei einem
infinitesimal schmalen Spalt für jeden Bildpunkt konstant ist. Bei einem aus mehreren Zeilen
des Sensors zusammengesetzten Streifenbild nimmt die Stoke's Shifi mit jeder Zeile um ein
endliches Δλ zu. Als Vorteil zu werten ist dagegen, daß das System einen rechteckigen Wel
lenlängen-Durchlaßbereich besitzt, d. h. die spektrale Durchlässigkeit erreicht, anders als ein
Filtersystem, im gesamten Durchlaßbereich 100%.
Die mit der beschriebenen Anordnung erzielbare minimale Stoke's Shift wird durch die spekt
rale Bandbreite des Anregungslichtes vorgegeben. Verwendet man zur streifenförmigen Aus
leuchtung der Zwischenbildebene 22 eine kohärente, sehr monochromatische Anregungslicht
quelle, wird diese Limitation beseitigt und es kann die gesamte optische Anordnung der Ele
mente 16-20 weggelassen werden. Geht man noch einen Schritt weiter und reduziert den ko
härent beleuchteten Streifen in seiner schmalen Dimension auf eine beugungslimitierte Breite,
so resultiert in der Zwischenbildebene 22, d. h. zwischen den Spaltbacken, eine zweidimensio
nale Intensitätsverteilung des Emissionslichtes, welche in eine Richtung ausschließlich räum
lich, in die andere Richtung ausschließlich spektral zu interpretieren ist. Für eine spektral auf
gelösten Auslese genügt es jedoch nicht, diese zweidimensionale Intensitätsverteilung auf
einen Flächensensor abzubilden, weil auf diese Weise das um viele Größenordnungen intensi
vere Anregungslicht durch Streuung bzw. Reflexion an den diversen optischen Elementen für
zu viel Falschlicht sorgen würde. Zur Behebung des Problems bedient man sich vorzugsweise
wieder der subtraktiven Dispersion, d. h. man lässt das Signal eine weitere Spektrometera
nordnung durchlaufen, welche die vorausgegangene Dispersion rückgängig macht. Eine be
sonders elegante Anordnung dieser Art, bei der statt eines Spalts, der nur in einer Dimension
über das Präparat geführt werden muss, ein beugungslimitierter "Spot" das Präparat in zwei
orthogonalen Dimensionen abtastet, ist im folgenden beschrieben.
Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 1 und 2 war eine Laserlichtquelle optional, bei der echt
konfokalen Ausführungsform gemäß Fig. 3 und 4 ist sie zur Anregung unabdingbar. Da das
Präparat in zwei voneinander unabhängigen Dimensionen x und y "abgetastet (gerastert) wer
den soll, muß der Emissionsstrahlengang nicht nur spektral aufgespaltet und wieder vereint,
sondern auch in zwei Dimensionen durch eine konfokale Blende geführt werden. Von den
vielen prinzipiell möglichen, die genannten Vorgaben erfüllenden Anordnungen besticht die
in Fig. 3 und 4 gezeigte Variante durch eine relativ einfache Realisierbarkeit und vor allem
durch die Freiheit, bei mehreren Anregungs- und Emissionswellenlängen gleichzeitig messen
zu können.
Kollimiertes Laserlicht 200 wird mit Hilfe eines dispersiven Elements 202 spektral abgelenkt
und mit Hilfe eines optischen Elements 204 auf ein in spezieller Weise gemäß Fig. 4 teilweise
verspiegeltes Strahlteilerelement 206 fokussiert. Dieses Element ist außerhalb der reflektie
renden Bereiche 240 transparent 242. Das dispersive Element 202 sorgt dafür, daß sich die
Positionen beugungslimitierter Fokuspunkte auf dem Strahlteilerelement 206 auf einer Linie
fortbewegen, wenn die Wellenlänge des Laserstahls variiert wird. Da es gewöhnlich nur eine
begrenzte Anzahl von Laserwellenlängen gibt, genügen entsprechend wenige verspiegelte
Punkte an den entsprechenden Positionen des Strahlteilerelements 206, um alle möglichen
Anregungswellenlängen gleichzeitig oder nacheinander in den Strahlengang einzukoppeln.
Aus technischen Gründen sollte die Ebene des Strahlteilerelement 206 vorzugsweise relativ
senkrecht stehen, d. h. lediglich einen kleinen Umlenkwinkel aufweisen. Das Strahlteilerele
ment 206 wird mit Hilfe eines optischen Elements 208 ins Unendliche abgebildet, mit Hilfe
eines zum Element 202 identischen dispersiven Elements 210, welches die Dispersion von
202 rückgängig macht, wieder kollimiert, und mit Hilfe eines Scanelements 212 in eine
Richtung (hier die x-Richtung) abgelenkt. Ein weiteres, abbildendes optisches Element 214
fokussiert den Strahl wieder und erzeugt in seiner Fokusebene 216 einen beugungslimitierten
Fokuspunkt, der sich mit der Scanbewegung des Scanelements 212 in der x-Dimension be
wegt. Ein weiteres optisches Element 218 bildet den Fokuspunkt wieder ins Unendliche ab,
ein weiteres Scanelement 220 sorgt für eine Ablenkung des Strahls in y-Richtung, und ein
Objektiv 222 bildet den nun in zwei orthogonalen Dimensionen gescannten Strahl in die Ob
jektebene 224 ab, in der sich das zu untersuchende Präparat 226 befindet. Das vom jeweils
beleuchteten Teil des Präparats emittierte Licht durchläuft die optische Anordnung rückwärts
und wird dabei gleichzeitig spektral aufgespalten. Durch die sog. Stoke's Shift, d. h. die Tatsa
che, daß emittiertes Licht immer längerwellig ist als das dazugehörige Anregungslicht, landet
der Fokuspunkt immer in einer gegenüber seinem Ausgangspunkt auf einer Gerade verscho
benen Position der Zwischenbildebene 206. Da auf dieser Linie lediglich die den Spot-
Auftreffstellen für die verschiedenen Laserwellenlängen entsprechenden Punkte verspiegelt
sind (siehe Fig. 4), wird das emittierte Licht größtenteils nicht reflektiert, sondern transmit
tiert. Eine weitere Spektrometeranordnung, bestehend aus einem ins unendliche abbildendem
Element 230, einem dispersivem Element 232, welches die Dispersion von Element 210 rück
gängig macht, und einem abbildenden optischen Element 234, erzeugt in der Fokusebene 236
des Elements 234 einen Punkt, dessen Ausdehnung durch eine in zwei Dimensionen einstell
bare Blendeneinrichtung 228, 238 in Art einer konfokalen Blende beeinflusst werden kann.
Durch die beschriebene subtraktive Dispersion wird sichergestellt, daß nur Licht, das den Li
nienbereich des Strahlteilerelements 206 passiert hat und die seiner Position auf der Linie
entsprechende Wellenlänge hat, die Blende passieren kann. Streulicht wird dadurch effektiv
eliminiert.
Das die konfokale Blendenkombination 228, 238 passierende Licht ist in zwei Dimensionen
konfokal und enthält alle Wellenlängen mit Ausnahme der "ausgefilterten" Anregungswel
lenlängen. Es kann nun mit Hilfe von Strahlteilern oder dispersiven Elementen wieder spekt
ral aufgespaltet und mehreren Detektoren zur spektral aufgelösten Registrierung zugeführt
werden, d. h. es ist möglich, bei mehreren Emissionswellenlängen gleichzeitig zu messen. Als
Detektoren kommen einzelne, diskret aufgebaute Licht-Sensoren (z. B. Photomultiplier oder
Avalanche-Photodioden), aber auch die Pixel eines Zeilen- oder Flächensensors in Betracht.
Besonders vorteilhaft ist die Verteilung des Spektrums mit Hilfe eines dispersiven Elements
auf mehrere Pixel eines Zeilen oder Flächensensors analog zur DE-198 01 139 Al beschrie
benen Vorgehensweise, weil diese Sensoren gewöhnlich eine höhere Quantenausbeute als
Photomultiplier aufweisen. Besitzt der Sensor in der "spektralen" Dimension mehr Pixel, als
es die gewünschte spektrale Auflösung erforderlich macht, muß dem durch entsprechend fle
xible elektronische Auslesemodi, d. h. sogenanntes "Binnen" von Pixeln und das "Wegwer
fen" unerwünschter Information Rechnung getragen werden. Handelt es sich um einen Flä
chensensor, der auch noch in der zur "spektralen Dimension" orthogonalen Dimension eine
Ausdehnung hat, verteilt man das durch den ursprünglichen Scanvorgang in ein "zeitliches
Nacheinander" gebrachte "räumliche Nebeneinander im Präparat" mit Hilfe einer weiteren
Scanvorrichtung wieder in ein "räumliches Nebeneinander" auf dem Chip, wobei die Zeilen
des Abtastvorgangs durchaus nicht mit den Zeilen des Chips synchron laufen müssen.
Ein weiterer, wesentlicher Vorteil der beschriebenen Anordnung ist, daß gleichzeitig oder
auch schnell nacheinander mit mehreren Anregungswellenlängen gemessen werden kann.
Diese müssen lediglich gleichzeitig bzw. schnell nacheinander in dem kollimierten Laserstrahl
200 enthalten sein. Dies wird erreicht durch Verwendung eines Lasers, der gleichzeitig mehre
re Linien aufweist, oder durch die kollineare Einkopplung unterschiedlicher Laser in einen
Laserstrahl. Letzteres lässt sich durch dichroitische Strahlteiler, besser jedoch durch eine
Spektrometeranordnung erreichen, in der ein dispersives Element verschiedene, durch die
jeweilige Wellenlänge vorgegebene Eintrittswinkel in einen gemeinsamen Austrittswinkel
umsetzt, wie dies in DE 41 15 401 beschrieben ist. Alternativ kann auch eine Galvanometer
montierte Gitteranordnung, analog zur in DE-42 28 366 A1 beschriebenen verwandt werden,
um in Millisekunden zwischen verschiedenen Laserlichtquellen und damit Wellenlängen hin
und her zu schalten. Als dispersives Element muß dabei, wie die Erfahrung gezeigt hat, nicht
unbedingt auf ein holographisches Volumengitter zurückgegriffen werden, es lässt sich z. B.
auch mit geritzten Gittern das erforderliche geringe Trägheitsmoment erzielen. Im einfachsten
Fall wird die Lasereinkopplung sowohl in das Spektrometer, als auch in das polychromatische
Fluoreszenzmikroskop, mit Fasern realisiert.
Zu beiden gezeigten optischen Anordnung ist zu sagen, daß der Strahlengang vorzugsweise
telezentrisch ausgelegt sein sollte, d. h. daß die Brennebenen aufeinanderfolgender abbildender
Elemente aufeinander zu liegen kommen. Diese Ebenen bieten sich gleichzeitig als Orte für
die Plazierung von Elementen an, welche dazu dienen, den Strahl spektral
(Dispersionselemente) bzw. im Zusammenhang mit der Raster-Abtastung (Scanelemente) des
Präparats abzulenken. Durch eine solche Plazierung wird gewährleistet, daß der Pupillen
strahlengang beim Scanvorgang bzw. bei der spektralen Aufspaltung ortsfest bleibt. Wo eine
solche Plazierung nicht möglich ist, beispielsweise weil zwei Elemente nicht genau an der
selben Stelle sitzen können oder weil eine Brennebene nicht direkt zugänglich ist, sollte ent
weder so nahe wie möglich an der optimalen Position plaziert werden, um den Strahlversatz
zu minimieren, oder aber es muss noch eine Zwischenabbildung eingeführt werden, damit die
ideale Position zugänglich gemacht wird.
Bei den in den Abbildungen beschriebenen Ausführungsformen sind dispersiven Elemente
zweidimensional ausgelegt, um eine maximale Störlichtunterdrückung zu gewährleisten. Na
türlich ist zur Vereinfachung der optischen Anordnung auch eine Dispersion lediglich in einer
Dimension vorstellbar.
Die Selektionselemente 26 bzw. 206 werden im gezeigten Beispiel so betrieben, daß das An
regungslicht mittels Reflexion im reflektierenden Bereich in den Anregungsstrahlengang ein
gekoppelt und das Fluoreszenzlicht mittels Transmission durch den transmittierenden Bereich
ausgekoppelt wird, wobei die räumliche Begrenzung des transmittierenden Bereichs als Wel
lenlängenbegrenzung für das zu detektierende Fluoreszenzlicht wirkt. Grundsätzlich kann die
ses Prinzip jedoch auch umgekehrt werden, so daß das Anregungslicht in gerader Linie durch
den transmittierenden Bereich hindurch in den Anregungsstrahlengang eingekoppelt wird,
während das Fluoreszenzlicht mittels Reflexion im reflektierenden Bereich für die Detektion
ausgekoppelt wird, wobei dann die räumliche Begrenzung des reflektierenden Bereichs als
Wellenlängenbegrenzung für das zu detektierende Fluoreszenzlicht wirkt. Es ist auch eine
Anordnung vorstellbar, bei der sowohl Anregungs-, als auch Emissionslicht vom Selektions
element reflektiert werden. Die reflektierten Strahlbündel müssen sich dabei in ihrem Winkel
so unterscheiden, daß eine effiziente Strahltrennung möglich wird.
Claims (20)
1. Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Abtasten einer Probenfläche (36), mit einem Selek
tionselement (26), mit dessen Hilfe Anregungslicht in einen Anregungsstrahlengang
eingekoppelt und zur Probenfläche geführt wird und gleichzeitig von der Probenfläche
emittiertes Fluoreszenzlicht, welches den Anregungsstrahlengang in umgekehrter Rich
tung durchläuft, aus dem Anregungsstrahlengang auskoppelt und der Registrierung
durch einen Detektor (46) zugeführt wird, wobei in dem Anregungsstrahlengang ein
erstes dispersives Element (30) vorgesehen ist, so daß das von der Probenfläche emit
tierte Fluoreszenzlicht spektral aufgespalten auf dem Selektionselement auftrifft, wobei
das Selektionselement einen ersten (48) und einen räumlich davon getrennten zweiten
Bereich (54) aufweist, wobei das auf den ersten Bereich auftreffende Anregungslicht
eingekoppelt wird, während der zweite Bereich zum Auskoppeln des von der Probeflä
che emittierten Fluoreszenzlichts dient, wobei das von dem.Selektionselement ausge
koppelte Licht ein zweites dispersives Element (42) durchläuft, das bezüglich des ersten
dispersiven Elements (30) subtraktiv wirkt und wobei die Begrenzungen (48, 50) des
zweiten Bereichs (54) im Zusammenspiel mit dem zweiten dispersiven Element als
Wellenlängenbegrenzung für das Fluoreszenzlicht wirkt, um mindestens den Wellen
längenbereich des Anregungslichts auszublenden, dadurch gekennzeichnet, daß die
räumliche Ausdehnung des zweiten Bereichs (54) einstellbar ist, um den ausgekoppelten
Wellenlängenbereich des Fluoreszenzlichts und damit seine Stoke's-Shift relative zum
Anregungslicht einzustellen.
2. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Bereich (48)
reflektierend und der zweite Bereich (54) transmittierend ausgebildet ist.
3. Vorrichtung gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der transmittierende Be
reich (54) spaltförmig ausgebildet ist, wobei der reflektierende Bereich (48) den Spalt
auf der einen Seite begrenzt und die andere Begrenzung von einem verstellbaren Backen
(50) gebildet wird.
4. Vorrichtung gemäß Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Anregungslicht einen
Spalt (14) durchläuft, der auf den reflektierenden Bereich (48) des Selektionselements
(26) abgebildet wird.
5. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Anregungslicht inko
härent ist und vor den Auftreffen auf dem Selektionselement (26) ein drittes dispersives
Element (18) durchläuft, welches bezüglich des ersten dispersiven Elements (30) sub
traktiv betrieben wird.
6. Vorrichtung gemäß Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Anregungs
licht kohärent und hochmonochromatisch ist und als beugungslimitierter Streifen auf
der Probenfläche (36) abgebildet wird.
7. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
sich das Selektionselement (26) in einer zu der Probenfläche (36) konjugierten Ebene
befindet.
8. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
sich das Selektionselement (26) in einer zu dem Detektor (46) konjugierten Ebene be
findet.
9. Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Abtasten einer Probenfläche (224), mit einem Selek
tionselement (206), mit dessen Hilfe Anregungslicht in einen Anregungsstrahlengang
eingekoppelt und zur Probenfläche geführt wird und gleichzeitig von der Probenfläche
emittiertes Fluoreszenzlicht, welches den Anregungsstrahlengang in umgekehrter Rich
tung durchläuft, aus dem Anregungsstrahlengang auskoppelt und der Registrierung
durch einen Detektor zugeführt wird, wobei in dem Anregungsstrahlengang ein erstes
dispersives Element (210) vorgesehen ist, so daß das von der Probenfläche emittierte
Fluoreszenzlicht spektral aufgespalten auf dem Selektionselement auftrifft, wobei das
Selektionselement einen ersten (240) und einen räumlich davon getrennten zweiten Be
reich (242) aufweist, wobei das auf den ersten Bereich auftreffende Anregungslicht ein
gekoppelt wird, während der zweite Bereich zum Auskoppeln des von der Probefläche
emittierten Fluoreszenzlichts dient, wobei das von dem Selektionselement ausgekop
pelte Licht ein zweites dispersives Element (232) durchläuft, das bezüglich des ersten
dispersiven Elements subtraktiv wirkt und wobei die Begrenzung des zweiten Bereichs
im Zusammenspiel mit dem zweiten dispersiven Element und als Wellenlängenbegren
zung für das Fluoreszenzlicht wirkt, um mindestens den Wellenlängenbereich des Anre
gungslichts auszublenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung für eine ko
härente Anregung mit einer oder mehreren getrennten Laser-Spektrallinien ausgebildet
ist, wobei Anregungslicht jeder Spektrallinie in einen eigenen durch die Wellenlänge
bestimmten Bereich (240) auf dem Selektionselement (206) fokussiert wird, wobei diese
Abbildungsbereiche den ersten Bereich (240) bilden und der Bereich zwischen den Ab
bildungsbereichen sowie ein Bereich, der bezüglich der Aufspaltung des Fluoreszenz
lichts durch das erste dispersive Element sich in Richtung zunehmender Wellenlänge an
den letzten Abbildungsbereich anschließt, mindestens einen Teil des zweiten Bereichs
(242) bilden.
10. Vorrichtung gemäß Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Bereich (240)
reflektierend und der zweite Bereich (242) transmittierend ausgebildet ist.
11. Vorrichtung gemäß Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß Anregungslicht jeder
Spektrallinie als beugungslimitierter Spot auf das Selektionselement (206) abgebildet
wird.
12. Vorrichtung gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß nur die Bereiche (240)
des Selektionselements, in welchen die Spots liegen, reflektierend ausgebildet sind,
während die übrigen Bereiche (242) transmittierend ausgebildet sind.
13. Vorrichtung gemäß Anspruch 9 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Anregungslicht
einen die Spektrallinien gleichzeitig enthaltenden kollimierten Strahl bildet, der ein
drittes dispersives Element (202) durchläuft, welches bezüglich des ersten dispersiven
Elements (210) subtraktiv betrieben wird, bevor das Anregungslicht auf das Selektions
element (206) auftrifft.
14. Vorrichtung gemäß Anspruch 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß dass das Anre
gungslicht als beugungsbegrenzter Spot auf die Probenfläche (224) abgebildet wird und
für das Fluoreszenzlicht für jede der beiden Raumrichtungen eine konfokale Blende
(228, 238) vorgesehen ist.
15. Vorrichtung gemäß Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das erste (210), das
zweite (232) und das dritte dispersive Element (202) jeweils in zwei orthogonalen
Richtungen dispersiv wirken.
16. Vorrichtung gemäß Anspruch 9 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß das Selektionsele
ment (206) in eine erste Ebene (216) abgebildet wird, welche in einer zur Probenfläche
(224) konjugierten Ebene liegt.
17. Vorrichtung gemäß Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der ersten E
bene (216) und der Probenfläche (224) eine erste Ablenkeinheit (220) vorgesehen ist,
welche das Anregungslicht in eine erste Raumrichtung ablenkt, um den Anregungslicht
spot über die Probenfläche (224) zu führen.
18. Vorrichtung gemäß Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der ersten E
bene (216) und dem Selektionselement (206) eine zweite Ablenkeinheit (212) vorgese
hen ist, welche das Anregungslicht eine zweite, zu der ersten Ablenkrichtung senkrech
ten Raumrichtung ablenkt.
19. Vorrichtung gemäß Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die konfokalen Blenden
(228, 238) in einer zur Ebene des Selektionselements (206) konjugierten Ebene (236)
liegen.
20. Fluoreszenz-Meßvorrichtung zum Abtasten einer Probenfläche, mit einem Selektions
element, mit dessen Hilfe Anregungslicht in einen Anregungsstrahlengang eingekoppelt
und zur Probenfläche geführt wird und gleichzeitig von der Probenfläche emittiertes
Fluoreszenzlicht, welches den Anregungsstrahlengang in umgekehrter Richtung durch
läuft, aus dem Anregungsstrahlengang auskoppelt und der Registrierung durch einen
Detektor zugeführt wird, wobei in dem Anregungsstrahlengang ein erstes dispersives
Element vorgesehen ist, so daß das von der Probenfläche emittierte Fluoreszenzlicht
spektral aufgespalten auf dem Selektionselement auftrifft, wobei das Selektionselement
einen ersten und einen räumlich davon getrennten zweiten Bereich aufweist, wobei das
auf den ersten Bereich auftreffende Anregungslicht eingekoppelt wird, während der
zweite Bereich zum Auskoppeln des von der Probefläche emittierten Fluoreszenzlichts
dient, wobei das von dem Selektionselement ausgekoppelte Licht ein zweites dispersi
ves Element durchläuft, das bezüglich des ersten dispersiven Elements subtraktiv wirkt
und wobei die Begrenzung des zweiten Bereichs im Zusammenspiel mit dem zweiten
dispersiven Element als Wellenlängenbegrenzung für das Fluoreszenzlicht wirkt, um
mindestens den Wellenlängenbereich des Anregungslichts auszublenden, dadurch ge
kennzeichnet, daß der erste Bereich und der zweite Bereich reflektierend ausgebildet
sind und gegeneinander verkippt sind, um einfallendes Licht in unterschiedliche Rich
tungen zu reflektieren.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10017825A DE10017825C2 (de) | 2000-04-10 | 2000-04-10 | Polychromatische Fluoreszenz-Meßvorrichtung |
US09/829,065 US6633381B2 (en) | 2000-04-10 | 2001-04-10 | Polychromatic fluorescence measurement device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10017825A DE10017825C2 (de) | 2000-04-10 | 2000-04-10 | Polychromatische Fluoreszenz-Meßvorrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10017825A1 true DE10017825A1 (de) | 2001-10-18 |
DE10017825C2 DE10017825C2 (de) | 2003-05-08 |
Family
ID=7638264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10017825A Expired - Lifetime DE10017825C2 (de) | 2000-04-10 | 2000-04-10 | Polychromatische Fluoreszenz-Meßvorrichtung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6633381B2 (de) |
DE (1) | DE10017825C2 (de) |
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Publication number | Publication date |
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DE10017825C2 (de) | 2003-05-08 |
US6633381B2 (en) | 2003-10-14 |
US20010028455A1 (en) | 2001-10-11 |
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