DE10016678A1 - Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Materialien stark unterschiedlicher Absorption aufweisenden Gesamtheit enthaltenen Gegenstands - Google Patents
Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Materialien stark unterschiedlicher Absorption aufweisenden Gesamtheit enthaltenen GegenstandsInfo
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Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Gesamtheit enthaltenen zu untersuchenden Gegenstands (1), wobei in der Gesamtheit Materialien (3, 11) mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand (1) stark unterschiedlicher Absorption einer zur Durchstrahlung verwendeten Strahlung vorhanden sind, wobei die Strahlung zur Erstellung von mehreren Einzelaufnahmen verwendet und aus mehreren Einzelaufnahmen tomosynthetische Bildrekonstruktionen vorgenommen werden, wobei der zu untersuchende Gegenstand (1) zumindest teilweise im Strahlengang (14) einer Strahlungsquelle (2, 7) und eines strahlungsempfindlichen Bildsensors (3) angeordnet ist, wobei im Strahlengang (14) mindestens ein weiterer Teilbereich der Gesamtheit liegt und wobei die Strahlungsquelle (2, 7) und/oder der Bildsensor (3) zur Erstellung der Einzelaufnahmen relativ zum zu untersuchenden Gegenstand (1) verstellbar ist. DOLLAR A Der zu untersuchende Gegenstand wird jeweils so durchstrahlt, dass ein entfernt vom zu untersuchenden Gegenstand (1) liegender Teilbereich mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand (1) stark unterschiedlicher Absorption außerhalb des Strahlengangs (14) von der Strahlungsquelle (2, 7) zu dem Bildsensor (3) liegt.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Durch
strahlung eines in einer Gesamtheit enthaltenen zu unter
suchenden Gegenstands, wobei in der Gesamtheit Materialien
mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand stark un
terschiedlicher Absorption einer zur Durchstrahlung ver
wendeten Strahlung vorhanden sind. Die Strahlung wird zur
Erstellung von mehreren Einzelaufnahmen verwendet, wobei
aus mehreren Einzelaufnahmen tomosynthetische Bildrekon
struktionen vorgenommen werden. Dabei ist der zu untersu
chende Gegenstand zumindest teilweise im Strahlengang ei
ner Strahlungsquelle und eines strahlungsempfindlichen
Bildsensors angeordnet, wobei im Strahlengang mindestens
ein weiterer Teilbereich der Gesamtheit liegt und wobei
die Strahlungsquelle und/oder der Bildsensor zur Erstel
lung der Einzelaufnahmen relativ zum zu untersuchenden Ge
genstand verstellbar ist. Die Erfindung betrifft dabei
insbesondere ein Verfahren zur Metallartefaktunterdrückung
bei Tomosyntheseaufnahmen, insbesondere für dentale Zwe
cke.
Die DE 195 33 716 A1 bezieht sich auf eine Röntgendiagnos
tikvorrichtung mit einer Positioniervorrichtung für einen
Strahlensensor und einen Strahlenempfänger. Gemäß dieser
Lösung ist eine erste Positioniervorrichtung für einen
Strahlensensor und eine zweite Positioniervorrichtung für
einen Strahlenempfänger vorgesehen. Beide Positioniervor
richtungen haben eine gemeinsame Bezugsachse. Bei einer An
kopplung des Strahlensenders an die erste Positioniervor
richtung trifft ein vom Strahlensender emittiertes Strah
lenbündel zumindest annähernd zentral auf den Strahlungs
empfänger auf.
Die beschriebene Röntgendiagnostikeinrichtung ist zur Er
stellung von Tomosyntheseaufnahmen geeignet. Bei einer To
mosyntheseaufnahme werden in der Regel während eines Um
laufs um den zu untersuchenden Gegenstand eine bestimmte
Anzahl von Einzelaufnahmen in gleichmäßigen Winkelschritten
einer regelmäßigen Kurve folgend vom Gegenstand angefer
tigt. Aus den auf diese Weise erhaltenen Einzelaufnahmen
werden dann die Bilder rekonstruiert. Weitere Röntgendia
gnostikeinrichtungen sind in der DE 43 17 446 A1 und in der
DE 44 14 689 A1 beschrieben.
Bilderzeugende Verfahren in der medizinischen Technik, die
aus Einzelaufnahmen Bilder rekonstruieren, haben generell
Probleme, wenn in der Aufnahme Zonen oder Objekte mit
schwierig verwertbaren Messdaten vorhanden sind. Dies gilt
insbesondere für Aufnahmen, welche Materialien abbilden,
die ein gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand hohes
Absorptionsvermögen der die Aufnahmen erzeugenden Strah
lung aufweisen. Diese Materialien stellen damit Störge
genstände dar.
Solche Aufnahmen entstehen beispielsweise dann, wenn Rönt
genaufnahmen im Kiefer- oder Zahnbereich des Kopfes erstellt
werden, da ein sehr hoher Prozentsatz der Bevölke
rung der Industriestaaten Metallteile im Mund hat, bei
spielsweise Zahnfüllungen, Kronen oder dergleichen. Die
Metallteile führen hier zu Störungen, im folgenden Bildar
tefakte genannt, die die diagnostische Auswertung der
Röntgenaufnahme erheblich erschweren oder im Extremfalle
ganz unmöglich machen.
Die durch Metallteile hervorgerufenen Bildartefakte lassen
sich in Nahartefakte und Fernartefakte unterteilen. Nahar
tefakte sind solche, die in unmittelbarer Umgebung des
darzustellenden Gegenstandes durch ein Metallteil, bei
spielsweise einer Amalgam-Füllung entstehen, während als
Fernartefakte solche Artefakte bezeichnet werden, wo das
störende Metallteil in einiger Entfernung vom abzubilden
den Gewebeteil liegt, beispielsweise im Gegenast des Kie
ferbogens.
Die Artefakte bergen die Gefahr erheblicher Fehldiagnosen.
Die Nahartefakte können einen real nicht vorhandenen Spalt
zwischen Füllung und Zahn suggerieren, das heißt bei Vor
liegen größerer Füllungen wäre ein Randspaltkaries nicht
mehr diagnostizierbar. Fernartefakte können vorhandene
Strukturen überdecken oder Pseudostrukturen vortäuschen.
Ausgehend von den aus dem Stand der Technik bereits be
kannten Lösungsansätzen liegt der Erfindung die Aufgabe
zugrunde, ein Verfahren bereitzustellen, mittels welchem
der Einfluss von Störungen bei der Erstellung von tomo
synthetischen Bildrekonstruktionen verringert wird. Insbe
sondere soll der die Abschattung des durch die Röntgen
strahlen abzubildenden Bereiches auftretende Einfluss der
Metallteilen so reduziert werden, dass diagnostisch verwertbare
tomosynthetisch rekonstruierbare Bilder entste
hen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass
der zu untersuchende Gegenstand jeweils so durchstrahlt
wird, dass ein entfernt vom zu untersuchenden Gegenstand
liegender Teilbereich mit gegenüber dem zu untersuchenden
Gegenstand stark unterschiedlicher Absorption außerhalb
des Strahlengangs von der Strahlungsquelle zu dem Bildsen
sor liegt.
Der mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens erzielbare
Vorteil liegt darin, dass die Verwertbarkeit von Tomo
syntheseaufnahmen verbessert wird. Teilbereiche mit gegen
über dem zu untersuchenden Gegenstand stark unterschiedli
cher Absorption, beispielsweise Metallanhäufungen, werden
somit als Fehlerquellen eliminiert. Die Durchstrahlung des
zu untersuchenden Gegenstands erfolgt bei einer dentalen
Panoramaaufnahme beispielsweise so, dass die auf der gege
nüberliegenden Gegenkieferastseite vorhandenen Metallan
häufungen durch den Strahlengang umgangen werden. Es wird
am Metall vorbeigestrahlt.
In weiterer Ausgestaltung des der Erfindung zugrundelie
genden Gedankens erfolgt in Abhängigkeit von der Lage des
entfernt vom zu untersuchenden Gegenstand liegenden Teil
bereichs mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand
stark unterschiedlicher Absorption ein Schrägstellen der
Strahlungsquelle und/oder eine Verkippung des zu untersu
chenden Gegenstands und/oder eine Veränderung der Blenden
öffnung an der Strahlenquelle. Dies führt dazu, dass auch
Informationen über die räumliche Anordnung im Zielbereich
in Gestalt von Tiefeninformationen gewonnen werden können.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung wird der Bildsen
sor bei einer Veränderung des Strahlengangs so bewegt,
dass der Mittelstrahl des emittierten Strahlungskegels im
wesentlichen die Mitte des Bildsensors trifft. Dadurch
lässt sich die für die Bilderzeugung erforderliche Fläche
des Bildsensors verringern.
Vorteilhafterweise werden der Bildsensor und die Strah
lungsquelle gemeinsam auf einer Ablaufkurve einander gege
nüberliegend um eine gemeinsame Rotationsachse bewegt.
Dabei kann es vorteilhaft sein, wenn die dem Bildsensor
und der Strahlungsquelle gemeinsame Rotationsachse in den
Mittelpunkt des zu untersuchenden Gegenstands simmuliert
wird. Dadurch kann man einen kleineren Sensor benutzen.
Es ist weiterhin möglich, die dem Bildsensor und der
Strahlungsquelle gemeinsame Rotationsachse außerhalb des
zu untersuchenden Obejkts auf einer Kurvenbahn so zu füh
ren, dass der Strahlungsschnittpunkt aller Aufnahmen im zu
untersuchenden Gegenstand liegt. Hierdurch lässt sich auch
bei komplizierten Aufnahmeverhältnissen ein kleiner Sensor
einsetzen.
Vorteilhafterweise wird die Strahlungsquelle und/oder der
Bildsensor so gesteuert, dass der Mittelstrahl des emit
tierten Strahlungskegels im wesentlichen die Mitte des zu
untersuchenden Gegenstands erfasst, was sich wiederum auf
die erforderliche Größe des Sensors positiv auswirkt.
Dadurch, dass der zu untersuchenden Gegenstand durch zwei
schräggestellte Strahlungsquellen oder unter Durchführung
von zwei Umläufen mit bezüglich des zu untersuchenden Gegenstands
unterschiedlich ausgerichteter Strahlungsquelle
durchstrahlt wird, können Tiefeninformationen gewonnen
werden und Informationslücken, die eventuell durch die
Führung der Durchstrahlung entstehen können, werden im I
dealfall geschlossen.
Vorteilhafterweise erfolgt die Abtastung des zu untersu
chenden Gegenstands durch mindestens eine auf je einer ge
krümmt verlaufenden Ablaufkurve bewegbaren Strahlungsquel
le.
Gemäß einer Weiterbildung kann die Durchstrahlung des zu
untersuchenden Gegenstands unter Auslenkung der Strah
lungsquelle senkrecht zu der hauptsächlichen Bewegungs
richtung der Strahlungsquelle an dem Teilbereich mit ge
genüber dem zu untersuchenden Gegenstand stark unter
schiedlicher Absorption vorbei erfolgen, beispielsweise
oberhalb und/oder unterhalb.
Vorteilhafterweise kann hierzu die Blendenöffnung und/oder
die Strahlungsquelle ausgelenkt werden.
Die Durchstrahlung kann so festgelegt werden, dass die Ko
ordinaten des durch die Strahlungsquelle abzutastenden Be
reichs aus einer vorhandenen Aufnahme ermittelt werden
und/oder dass mittels eines Röntgenaufnahmenprogramms die
räumliche Position des abzutastenden Zielbereiches bestimmt
wird.
Unter einem Röntgenaufnahmeprogramm versteht man die zur
Steuerung der Strahlungsquelle und des Sensors erforderli
chen Programmdaten, zu denen auch die Daten wie Belich
tungsdauer, Intensität und andere gehören.
Schließlich können Maßnahmen getroffen werden, dass aus dar
räumlichen Position des Zielbereiches die Steuerparameter
des Ablaufes einer Tomosyntheseaufnahme bestimmt werden.
In besonderer Weise eignet sich das Verfahren dann, wenn
der Teilbereich mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegens
tand stark unterschiedlicher Absorption Metallteile auf
weist.
Das hier beschriebene Verfahren lässt sich mit einem Ver
fahren zur Unterdrückung von Störungen, die durch Materia
lien mit einem gegenüber zu untersuchenden Gegenstand stark
unterschiedlicher Absorption einer zur Erstellung von meh
reren Einzelaufnahmen verwendeten Strahlung bei tomosynthe
tischen Bildrekonstruktionen aus mehreren Einzelaufnahmen
hervorgerufen werden, kombinieren, bei dem jede Einzelauf
nahme in eine Anzahl von n Segmenten unterteilt wird, die
Segmente, die Abbildungen der Materialien stark unter
schiedlicher Absorption enthalten, als "schlecht" gekenn
zeichnet werden und die tomosynthetischen Bildrekonstrukti
onen anhand der Einzelaufnahmen ohne die Berücksichtigung
der Anzahl von m "schlechten" Segmenten mit den verbleiben
den Segmenten der Anzahl n - m durchgeführt wird. Besondere
Ausgestaltungen des Verfahrens sind in der zeitgleich ein
gereichten Anmeldung der selben Anmelderin unter dem inter
nen Aktenzeichen 199 90 013 enthalten, die ausdrücklich hier
mit einbezogen werden.
Anhand einer Zeichnung wird die Erfindung nachstehend nä
her erläutert.
Es zeigt:
Fig. 1 die Umlaufbahn für eine Tomosyntheseaufnahme bei
der das aufzunehmende Gegenstand bei einer horizon
talen Abtastung von hochabsorbierenden Materialien
im Gegenkiefer abgedeckt wird,
Fig. 2 eine doppelt lineare Abtastung durch entweder zwei
Strahlungsquellen außerhalb eines Oklusalbereiches
oder zwei Durchläufe derselben Strahlungsquelle,
wobei die Durchstrahlungsebenen gekippt sind,
Fig. 3 die doppelt lineare Abtastung gemäß Fig. 2 außer
halb und innerhalb des Oklusalbereiches,
Fig. 4 eine Aufnahmegeometrie für den Oberkieferbereich
mit verkippter Strahlungsquelle und Ausnutzung des
Winkels des Strahlkegels eines Panoramageräts,
Fig. 5 eine Aufnahmegeometrie für den Unterkieferbereich
ebenfalls mit verkippter Strahlungsquelle und Aus
nutzung des Winkels des Strahlkegels,
Fig. 6 eine Verkippung des zu bestrahlenden Gegenstandes
in der Fokalebene,
Fig. 7 zur Ermittlung des radialen Korrekturabstandes X
bei Verkippung des zu durchstrahlenden Gegenstandes
um den Winkel β in der Fokalebene.
Fig. 1 zeigt einen aufzunehmenden Gegenstand 1, der bei
einer horizontal verlaufenden Abtastung durch eine Strahlungsquelle
2 von hochabsorbierendem Material in Gestalt
von Zahnfüllungen 3 im Gegenkieferast abgedeckt wird.
Der Strahlensender 2 und ein gegenüberliegender Bildsensor
4 bewegen sich mechanisch miteinander gekoppelt auf einer
kreisförmigen Umlaufbahn 5. Ihr gemeinsamer Drehpunkt 6
liegt in der Hochachse des abzubildenden Gegenstands 1. Im
Drehpunkt 6 liegt der Ursprung eines Koordinatensystems,
bestehend aus X-Achse 7 und Z-Achse 8.
In der gezeigten Konfiguration liegen die Störungsgegens
tände 3 als hochabsorbierender Materialien im Gegenkiefe
rast derart in einem Strahlenkegel 9, dass in einer fluch
tenden Position 2' in der Projektionsebene am Bildsensor 4
keine verwertbare Bildinformation ankommt. Mittels des er
findungsgemäß vorgeschlagenen Verfahrens wird das verhin
dert.
Fig. 2 zeigt dazu eine Abtastkonfiguration eines Kieferbe
reiches mit einer bezüglich der Hauptgbewegungsrichtung
ausgelenkten Strahlungsquelle 2, deren Strahlungskegel 9
an Metallanhäufungen 3.1, 3.2 in der Höhe des Palatinums
und Mandibularkanals vorbeigeht. Dies ist beispielsweise
dann der Fall, wenn der Mund eines Patienten geschlossen
ist. Dabei ist die Lage der Metallanhäufungen an sich 3.1,
3.2 bekannt. Bei zweifacher Bestrahlung des Gegenstandes 1
in den beiden dargestellten Lagen der Strahlungsquelle 2,
2" können Tiefeninformationen gewonnen werden. Dabei wird
auch der Bildsensor 4 in seiner Lage um ±y verschoben, um
dem Strahlengang 9, 9" zu folgen.
Die Strahlungsquellen 2, 2" sind dabei dem Bildsensor 4
gegenüberliegend angeordnet, dessen Vorderfläche dem zu
durchstrahlenden Gegenstand 1 zugewandt ist. In der in
Fig. 1 dargestellten Konfiguration liegt der zu durchstrahlende
Gegenstand 1 im Bereich beider kegelförmig auf
geweiteten Strahlengänge 9, 9", die jeweils von der
Strahlungsquelle 2, 2" emittiert werden. Dabei kann es
sich um zwei Strahlungsquellen handeln oder um eine einzi
ge Strahlungsquelle, die zeitlich nacheinander unter
schiedliche Positionen einnimmt.
Die beiden Strahlungsquellen 2, 2" tasten den Gegenstand
1 außerhalb des Okklusalbereichs (Kauebene) ab und laufen
auf linearen Ablaufkurven um einander herum.
Die Metallanhäufungen 3.1, 3.2 in Zähnen des Ober- bzw.
Unterkiefers 10, 11 werden durch Schrägstellung der Strah
lungsquellen 2, 2" auf ihren jeweiligen Ablaufkurven
nicht durch den Strahlungsgang der Strahlenkegel 9, 9"
erfasst.
Der Bildsensor 4 ist entsprechend der Schrägstellung oder
der Verkippung der Strahlungsquelle 2, 2" gegenüber einer
Mittelachse 12 ausgelenkt. Dazu ist der Bildsensor 4 gemäß
des dargestellten Doppelpfeiles relativ zu den Strahlungs
quelle n 2, 2" in Y-Richtung positionierbar. Mit dieser
Aufnahmekonfiguration lassen sich bessere Tiefeninformati
onen ermitteln, die eine räumlich zutreffende Zuordnung
des Zielbereiches der Röntgenaufnahmen gestatten.
Fig. 3 zeigt eine Ausführungsvariante bei geöffnetem Mund
des Patienten. Durch den geöffneten Mund des Patienten
sind Ober- und Unterkiefer 10, 11 voneinander beabstandet,
wobei der Abstand in Richtung Schneidezahnbereich größer
wird. In der in Fig. 3 gezeigten Konfiguration emittiert
die obere Strahlungsquelle 2 einen Strahlenkegel 9, der
durch die Öffnung 13 zwischen Ober- und Unterkiefer 10, 11
fällt. Die untere Strahlungsquelle 2" ist so positio
niert, dass sie den mit Metallanhäufungen 3.2 versehenen
Gegenkieferast 11 unterstrahlt, wobei der Strahlungskegel
9" den zu untersuchenden Gegenstand durchstrahlt. Der zu
durchstrahlende Gegenstand 1 liegt somit in beiden Strah
lungskegeln 9, 9", wobei die jeweiligen Strahlungskegel
mitten durch das zu durchstrahlende Gegenstand 1 etwa in
dessen Mitte durchtreten.
Die Hochachse 14 des zu durchstrahlenden Gegenstands 1
bildet die dem Bildsensor 3 und den beiden Strahlungsquel
len 2, 2" gemeinsame Rotationsachse. Der mechanische Auf
bau, mit der die Strahlungsquellen 2, 2" und der Bildsen
sor 4 miteinander verkoppelt sind, ist nicht dargestellt.
Fig. 4 zeigt die Darstellung der Aufnahmegeometrie für den
Oberkieferbereich; in dieser Darstellung ist die obere
Strahlungsquelle 2 etwas verkippt dargestellt.
Auch in dieser Konfiguration stellt die Achse 13 des zu
bestrahlenden Gegenstandes 1 die der Strahlungsquelle 2
und dem Bildsensor 4 den Strahlungsschnittpunkt aller
Aufnahmen dar. Die Metallanhäufungen 3.1 im Gegenkieferast
des Oberkiefers 10, die der Strahlungsquelle 2 nächst ge
legen sind und Fernartefakte auslösen können, werden da
durch aus dem Strahlenkegel 9 herausgehalten, dass die um
einen Winkel 17, hier etwa 7°, gegenüber einer Mittelachse
nach hinten verkippte Strahlungsquelle 2 eine abgedeckte
obere Blende aufweist. Der Mittelstrahl 15 des ungestörten
Strahlenkegels 9 durchstrahlt den Gegenstand 1 oberhalb
der Mitte und trifft auf die Oberfläche des Bildsensors 4
auf. Der vom gesamten Strahlenkegel 9 erfasste Gegenstand
1 wird ohne störende Artefakte auf dem Bildsensor 4 abge
bildet. Der Winkel des Strahlungskegels 9 beträgt etwa
25°. Auch hier ist der Mund des Patienten etwas geöffnet,
wodurch sich zwischen Ober- und Unterkiefer 10, 22 des Pa
tienten eine Öffnung 13 bildet.
Durch das teilweise Verdecken der Blende ist sicherge
stellt, dass Fernartefakte außerhalb des Strahlenkegels 9
liegen und dass das strahlungsabsorbierende Material 3.1,
3.2 die Erstellung und Auswertbarkeit der Tomosyntheseauf
nahme nicht beeinträchtigt.
Fig. 5 zeigt die Verkippung einer der Strahlungsquellen
2" und die Aufnahmegeometrie für den Unterkieferbereich.
Das Bildsensor 4 ist gegenüber der Lage in Fig. 4 etwas in
Y-Richtung heruntergefahren und liegt nun direkt gegenüber
einem Zahn 1 im Unterkiefer 11. Die Verkippung der Strah
lungsquelle 2" um den Winkel 17 zusammen mit der Abde
ckung der unteren Hälfte der Blendenöffnung bewirkt, dass
der Mittelstrahl 15 den Gegenstand 1 etwa mittig durch
dringt und die Füllung 3.2 im Gegenkieferast des Unterkie
fers 11, die Fernartefakte verursachen könnte, außerhalb
der Strahlungsführung des Strahlungskegels 9 liegt. Die
Füllung im Oberkieferbereich 10 oberhalb des zu durch
strahlenden Gegenstandes 1 liegt zwar im Strahlenkegel
9", beeinträchtigt jedoch die Erstellung der Tomosynthe
seaufnahme des Gegenstandes 1 in geringerem Maß. Der Öff
nungswinkel des Strahlungskegels 9" beträgt etwa 25°,
könnte jedoch auch 30° betragen oder auch kleinere Werte
annehmen. Der Kippwinkel 17 beträgt etwa 7°, könnte jedoch
auch größer oder kleiner sein, sollte sich jedoch im Be
reich von 10° bewegen.
Die Fig. 6 und 7 zeigen die Verkippung des zu durchstrah
lenden Gegenstandes 1 anstelle einer teilweise Verdeckung
der Blendenöffnung der Strahlungsquellen 2, 2". Im ge
zeigten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 6 ist die gemeinsame
Rotationsachse von Bildsensor 4 und den Strahlungsquel
len 2 darstellende Hochachse 14 des zu durchstrahlenden
Gegenstandes 1 um den Winkel β verkippt. Der Winkel β ent
spricht somit dem Kippwinkel des Kiefers des Patienten.
Durch eine solche Verkippung gelangt der zu durchstrahlen
de Gegenstand 1 optimal in den Strahlenkegel 9 der die
Strahlung aussendenden Strahlungsquelle 2. Der sich kegel
förmig ausbreitende Strahl 9 gelangt zwischen den Füllun
gen 3.1, 3.2 hindurch und wird durch das strahlenabsorbie
rende Material der Füllungen 3.1, 3.2 in keiner Weise be
einträchtigt.
Durch die Verkippung der Strahlungsquelle oder des Gegens
tandes 1 um den Winkel β kommt es auf der Oberfläche des
Bildsensors 4 zur verzerrten Darstellung der projizierten
Länge des zu durchstrahlenden Gegenstandes 1.
Die sich bei der Verkippung des zu durchstrahlenden Ge
genstandes 1 ergebende Geometrie ist in Fig. 7 darge
stellt. Aus dem Abstand FS vom Bildsensor 4 zu Strahlungs
quelle 2 ergibt sich die Strahllänge A aus dem Strahlwin
kel β. Das Maß x/2 bezeichnet die Hälfte des Strahlungske
gelwinkels, der sich beiderseits seines Mittelstrahles 15
verlaufend erstreckt.
Im in Fig. 7 vergrößert herausgezeichneten rechtwinkligen
Dreieck, läßt sich über die geometrischen Beziehungen
x = C tanβ
C = B tanβ - x tanβ
der radiale Korrekturabstand x gewinnen, der eine Rück
rechnung der Bildverzerrung durch die Verkippung des zu
durchstrahlenden Gegenstandes 1 gemäß
gestattet.
Der radiale Korrekturabstand x ist sowohl abhängig vom je
weiligen Strahlwinkel β als auch abhängig vom Verkippungs
winkel β des Kiefers des Patienten.
Neben der Korrektur der Bildverzerrung von der Projekti
onsebene in die Fokalebene ist eine Rekonstruktion der
Schichtlänge erforderlich. Die Schichtlängen sind um einen
Vergrößerungsfaktor MF zu korrigieren. Die Zurückrechnung
der Längenmaße aus der projizierten Schicht in die Fokal
schicht folgt aus der Beziehung
Lorg. = Lprojiziert - SA tanγ
wobei mit SA der Abstand zwischen Schicht und Bildsensor 4
bezeichnet ist, während Lprojiziert die projizierte Länge des
zu durchstrahlenden Gegenstandes 1 in der Sensoroberflä
chenebene 4 darstellt.
Zur optimalen Vorbereitung der Tomosyntheseaufnahme wird
der Kopf des Patienten zunächst genauestens positioniert.
Danach wird sichergestellt, dass der Mittelstrahl 15 des
Strahlungskegels 9 immer die Mitte des zu durchstrahlenden
Gegenstands 1 trifft oder simmuliert. Dazu kann vor der
Tomosyntheseaufnahme eine Panoramaaufnahme angefertigt
werden, durch welche auch die Region für die
Tomosymtheseaufnahme festlegbar ist. Durch das der
Aufnahme zugrundeliegende Röntgenprogramm, sowie mittels
der Koordinaten des Regionsrechteckes können die
räumlichen Positionen des Zielbereiches bestimmt werden.
Daraus lassen sich dann individuell die Koordinaten der
Ablaufkurven und die Steuerparameter für die
Tomosyntheseaufnahme ableiten.
Das Verfahren eignet sich zur Durchstrahlung von Gegens
tänden bei zahnärztlichen Tomosyntheseaufnahmen, wobei der
Bildsensor und eine Strahlungsquelle auf einer Ablaufkurve
einander gegenüberliegend gemeinsam um eine Rotationsachse
bewegbar sind Die Rotationsachse kann relativ zum darzu
stellenden Gegenstand verstellbar sein, wobei die Strah
lungsquelle ebenfalls relativ zum zu durchstrahlenden Ge
genstand verstellbar ist.
In Abhängigkeit von der Position strahlungsabsorbierenden
Materials erfolgt ein Schrägstellen der Strahlungsquellen
oder eine Verkippung des zu bestrahlenden Gegenstandes.
Dabei erfasst der Mittelstrahl des emittierten Strahlungs
kegels im wesentlichen die Mitte des Gegenstandes, wodurch
Tiefeninformation über die Lage des zu untersuchenden Ge
genstands gewonnen werden können.
Die Erfassung von Tiefeninformationen über die Durchstrah
lung kann durch Schrägstellung der Strahlungsquellen auf
der Ablaufkurve optimiert werden. Die Ablaufkurven können
anhand von Informationen aus einer zuvor angefertigten Pa
noramaschichtaufnahme festgelegt oder aus einer intraora
len Aufnahme oder aus einer individuell durchgeführten vi
suellen Inspektion des Mundes des Patienten abgeleitet
werden, so dass die Lage der aus den Strahlungsverläufen
herauszuhaltenden Metallanhäufungen bekannt ist.
Beispielsweise lassen sich so die Koordinaten des Regions
rechteckes ermitteln, die die Ablaufkurve bestimmen. Dar
aus lässt sich die Ablaufkurve entweder linear oder ge
krümmt verlaufend bestimmen, in jedem Falle aber immer so,
dass an Anhäufungen von Metall im Kieferbereich eines Pa
tienten vorbeigestrahlt werden kann.
Die Abtastung des zu durchstrahlenden Gegenstandes erfolgt
oberhalb und unterhalb der Metallbereiche im Gegenkiefe
rast, entweder durch eine Öffnung im Okklusalbereich zwi
schen Ober- und Unterkiefer, oder aber durch Schrägstel
lung der entsprechenden Strahlungsquelle in Abhängigkeit
vom Vorhandensein von Metallanhäufungen im Ober- oder Un
terkiefer. Neben einer Verkippung oder Schrägstellung der
Strahlungsquellen auf ihren Ablaufkurven kann auch eine
Verkippung des zu durchstrahlenden Gegenstandes, insbeson
dere des Kopfes um seine Hochachse selbst erfolgen. Die
Verkippung des Gegenstandes um seine Hochachse kann durch
Ermittlung eines Korrekturabstandes kompensiert werden,
wodurch die projizierte Länge der Tomosyntheseaufnahme auf
die in der Fokalebene tatsächlich vorliegende Länge zu
rückgerechnet wird.
Zusätzlich zu der besonderen Durchstrahlung des zu untersu
chenden Gegenstandes ist es möglich, die tomosynthetische
Bildrekonstruktion dadurch zu verbessern, dass besondere
Bildverarbeitungsverfahren angewendet werden, wie sich in
der zeitgleich eingereichten Anmeldung der selben Anmelde
rin unter dem internen Aktenzeichen 199 90 013 offenbart
sind. Die dort gemachten Ausführungen werden ausdrücklich
in die hier vorliegende Anmeldung mit einbezogen.
1
zu untersuchender Gegenstand
2
Strahlungsquelle
2
' Strahlungsquelle in fluchtender Position
2
" weitere Strahlungsquelle oder Strahlungsquelle im
zweiten Umlauf
3
metallische Störgegenstande
3.1
Metallanhäufung
3.2
Metallanhäufung
4
Bildsensor
5
Umlaufbahn
6
Drehpunkt
7
X-Achse
8
Z-Achse
9
Strahlengang, Strahlenkegel
9
" weiterer Strahlengang oder Strahlengang im zweiten Um
lauf
10
Oberkiefer
11
Unterkiefer
12
Mittelachse
13
Öffnung
14
Hochachse
15
Mittelstrahl
16
17
Kippwinkel
18
gekippte Achse
A Strahllänge
B Projektionslänge
FS Abstand des Sensors zur Strahlungsquelle
β Kippwinkel des Kiefers bzw. Strahlwinkel
γ Fokuswinkel
y Hypothenuse
c Kathete
x Korrekturabstand in der Projektionsebene durch Kie ferverkippung
A Strahllänge
B Projektionslänge
FS Abstand des Sensors zur Strahlungsquelle
β Kippwinkel des Kiefers bzw. Strahlwinkel
γ Fokuswinkel
y Hypothenuse
c Kathete
x Korrekturabstand in der Projektionsebene durch Kie ferverkippung
Claims (16)
1. Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Gesamtheit
enthaltenen zu untersuchenden Gegenstands (1), wobei in
der Gesamtheit Materialien (3, 11) mit gegenüber dem
zu untersuchenden Gegenstand (1) stark unterschiedli
cher Absorption einer zur Durchstrahlung verwendeten
Strahlung vorhanden sind, wobei die Strahlung zur Er
stellung von mehreren Einzelaufnahmen verwendet und
aus mehreren Einzelaufnahmen tomosynthetische Bildre
konstruktionen vorgenommen werden, wobei der zu unter
suchende Gegenstand (1) zumindest teilweise im Strah
lengang (14) einer Strahlungsquelle (2, 7) und eines
strahlungsempfindlichen Bildsensors (3) angeordnet
ist, wobei im Strahlengang (14) mindestens ein weite
rer Teilbereich der Gesamtheit liegt und wobei die
Strahlungsquelle (2, 7) und/oder der Bildsensor (3)
zur Erstellung der Einzelaufnahmen relativ zum zu un
tersuchenden Gegenstand (1) verstellbar ist, dadurch
gekennzeichnet, dass der zu untersuchende Gegenstand
jeweils so durchstrahlt wird, dass ein entfernt vom zu
untersuchenden Gegenstand (1) liegender Teilbereich
mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand (1)
stark unterschiedlicher Absorption außerhalb des
Strahlengangs (14) von der Strahlungsquelle (2, 7) zu
dem Bildsensor (3) liegt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
dass in Abhängigkeit von der Lage des entfernt vom zu
untersuchenden Gegenstand (1) liegenden Teilbereichs
mit gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand (1)
stark unterschiedlicher Absorption (6, 8) ein Schrägstellen
der Strahlungsquelle (2, 7) und/oder eine Ver
kippung (18) des zu untersuchenden Gegenstands (1)
und/oder eine Veränderung einer Blendenöffnung an der
Strahlungsquelle (2, 7) erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net, dass der Bildsensor bei einer Veränderung des
Strahlengangs so bewegt wird, dass der Mittelstrahl
(15) des emittierten Strahlungskegels (14) im wesent
lichen die Mitte des Bildsensors (3) trifft.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, dass der Bildsensor (3) und die Strah
lungsquelle (2, 7) gemeinsam auf einer Ablaufkurve
einander gegenüberliegend um eine gemeinsame Rotati
onsachse (9) bewegt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
dass die dem Bildsensor (3) und der Strahlungsquelle
(2, 7) gemeinsame Rotationsachse (9) in den Mittel
punkt des zu untersuchenden Gegenstands (1) gelegt
wird.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
dass die dem Bildsensor (3) und der Strahlungsquelle
(2, 7) gemeinsame Rotationsachse (9) ausserhalb des zu
untersuchenden Objekts auf einer Kurvenbahn so geführt
wird, dass der Strahlungsschnittpunkt aller Aufnahmen
im zu untersuchenden Gegenstand (1) liegt.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, dass der Mittelstrahl (15) des emit
tierten Strahlungskegels (14) im wesentlichen die Mit
te des zu untersuchenden Gegenstands (1) erfaßt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, dass der zu untersuchenden Gegenstand
(1) durch zwei schräggestellte Strahlungsquellen (2,
7) oder unter Durchführung von zwei Umläufen mit be
züglich des zu untersuchenden Gegenstands unterschied
lich ausgerichteter Strahlungsquelle durchstrahlt
wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, dass die Abtastung des zu untersuchen
den Gegenstands (1) durch mindestens eine auf je einer
gekrümmt verlaufenden Ablaufkurve bewegbaren Strah
lungsquelle (2, 7) erfolgt.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, dass die Durchstrahlung des zu unter
suchenden Gegenstands (1) unter Auslenkung des Strah
lenganges senkrecht zu der hauptsächlichen Bewegungs
richtung der Strahlungsquelle an dem Teilbereich mit
gegenüber dem zu untersuchenden Gegenstand (1) stark
unterschiedlicher Absorption (6, 8) vorbei erfolgt.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
dass die Blendenöffnung und/oder die Strahlungsquelle
ausgelenkt werden.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, dass die Koordinaten des durch die
Strahlungsquelle (2, 7) abzutastenden Bereichs aus ei
ner vorhandenen digitalen Aufnahme ermittelt werden.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, dass aus dem Röntgenaufnahmenprogramm
die räumliche Position des abzutastenden Zielbereiches
bestimmt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, dass aus der räumlichen Position des
Zielbereiches die Steuerparameter des Ablaufes der To
mosyntheseaufnahme bestimmt werden.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, dass der Teilbereich mit gegenüber dem
zu untersuchenden Gegenstand (1) stark unterschiedli
cher Absorption Metallteile (6, 8) aufweist.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-15, dadurch ge
kennzeichnet, dass zusätzlich Bildverarbeitende Ver
fahren zur Unterdrückung von Störungen, die durch Ma
terialien mit gegenüber einem zu untersuchenden Ge
genstand stark unterschiedlicher Absorption einer zu
Erstellung von mehreren Einzelaufnahmen verwendeten
Strahlung bei tomosynthetischen Bildrekonstruktionen
aus mehreren Einzelaufnahmen angewendet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10016678A DE10016678A1 (de) | 2000-04-04 | 2000-04-04 | Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Materialien stark unterschiedlicher Absorption aufweisenden Gesamtheit enthaltenen Gegenstands |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10016678A DE10016678A1 (de) | 2000-04-04 | 2000-04-04 | Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Materialien stark unterschiedlicher Absorption aufweisenden Gesamtheit enthaltenen Gegenstands |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10016678A1 true DE10016678A1 (de) | 2001-10-18 |
Family
ID=7637521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE10016678A Withdrawn DE10016678A1 (de) | 2000-04-04 | 2000-04-04 | Verfahren zur Durchstrahlung eines in einer Materialien stark unterschiedlicher Absorption aufweisenden Gesamtheit enthaltenen Gegenstands |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10016678A1 (de) |
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- 2000-04-04 DE DE10016678A patent/DE10016678A1/de not_active Withdrawn
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