DD202470A5

DD202470A5 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING TRANSPARENT MATERIAL TRACKS

Info

Publication number: DD202470A5
Application number: DD82241984A
Authority: DD
Inventors: Wolfgang Haubold; Gerhard Farwick
Original assignee: Feldmuehle Ag
Priority date: 1981-07-29
Filing date: 1982-07-27
Publication date: 1983-09-14
Also published as: FI822637A0; ES8305929A1; EP0071257B1; FI74148C; FI822637L; CS241114B2; ES514466A0; AU8644782A; CA1219933A; AU536514B2; DK334682A; CS547682A2; KR870001703B1; KR840000802A; FI74148B; EP0071257A1; BR8204412A; DE3262426D1; SU1276268A3

Abstract

Ziel und Aufgabe der Erfindung bestehen darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Pruefen von transparenten Materialbahnen zu schaffen, um in diesen Bahnen Fehler zu ermitteln, die nicht zu einer Oberflaechenverformung der Materialbahn fuehren. Insbesondere sollen sogenannte Kernblasen, d. h. Gasblasen, die sich mehr oder weniger in der Mitte der Materialbahn befinden und die sehr fein sind, so dass sie von im Vergleich zu ihren Abmessungen dicken Materialbahnschichten abgedeckt sind, ermittelt werden. Die Aufgabe wird dadurch geloest, dass waehrend des Abtastzyklus seitlich aus der Bahn austretende Strahlung zusaetzlich erfasst, in elektrische Impulse umgewandelt und zur Auswertung benutzt wird.The aim and the object of the invention are to provide a method and a device for testing transparent material webs in order to determine defects in these webs which do not lead to a surface deformation of the material web. In particular, so-called core bubbles, d. H. Gas bubbles, which are more or less in the middle of the web and are very fine, so that they are covered by compared to their dimensions thick web layers are determined. The object is achieved by additionally detecting radiation emerging laterally from the web during the scanning cycle, converting it into electrical impulses and using it for evaluation.

Description

Berlin, 10· 11· 1982Berlin, 10 · 11 · 1982

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Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von transparenten MaterialbahnenMethod and device for testing transparent material webs

Field of application of the invention

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglas auf in der Bahn eingeschlossene Fehler wie Fremdkörper oder Gasblasen, bei dem die Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt über ihre Breite abgetastet und die durchgelassene und/oder reflektierte Strahlung aufgefangen, in elektrische Signale umgesetzt und ausgewertet -wird·The invention relates to a method and a device for testing transparent material webs, in particular flat glass on errors trapped in the web, such as foreign bodies or gas bubbles, in which the web of material scanned with a flying point of light across its width and collected the transmitted and / or reflected radiation, in implemented and evaluated electrical signals -will ·

Characteristic of the known technical solutions

Unter transparenten Materialbahnen im Sinne der vorliegenden Erfindung sind Kunststoffe, organische Gläser, insbesondere jedoch Tafelglas, zu verstehen. Da tafelglas in großen Mengen als Flachglas, in Form eines endlosen Bandes, maschinell hergestellt wird, ist man selbstverständlich bestrebt, die Fehlerquellen hierbei möglichst_kl_ein__zu halten, so daß bei der Flachglashersteliung der größte Bedarf an Prüfgeräten besteht· Die Erfindung wird daher, ohne sie darauf zu beschränken, am Beispiel der Flachglasprüfung abgehandelt.In the context of the present invention, transparent material webs are plastics, organic glasses, but especially sheet glass. Since sheet glass is produced by machine in large quantities as flat glass, in the form of an endless belt, it is of course endeavored to keep the sources of errors as possible as possible, so that the greatest demand for testing equipment exists in the manufacture of flat glass. The invention will therefore be without it restrict, dealt with the example of the flat glass inspection.

Bei der Flachglasherstellung, beispielsweise auf Floatglasanlagen, kommt es trotz äußerster Vorsicht bei der Herstellung immer noch dazu, daß feine, meist helle Steinchen in die Glasbahn eindringen· Ein weiterer, ebenfalls häufiger Fehler sind Glasblasen, die sich in feinverteiltem Zustand in der Schmelze befinden. Beide Fehler führen, wenn sie eine gewisse Dimension erreichen, in der Glasbahn zu einer Ober-In the production of flat glass, for example on float glass plants, despite the extreme care during production, it is still possible for fine, mostly bright stones to penetrate into the glass sheet. Another equally common defect is glass bubbles, which are in a finely divided state in the melt. Both defects, when they reach a certain dimension, lead in the glass sheet to a surface

17. NOH 1982*04824517 NOH 1982 * 048245

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flächenverformungj auch wenn sie völlig rom Glas eingeschlossen sind· Oberflächenverformungen können jedoch sehr gut durch elektrooptische Prüfvorrichtungen und Verfahren ermittelt werden, wie sie beispielsweise in der DE-OS 2 411 407 beschrieben sind. Das trifft jedoch nicht auf Dehler zu, die so klein sind, daß sie die Oberfläche der Glasbahn nicht verändern, was insbesondere bei kleinen Kernblasen der Pail ist, so daß.diese Kernblasen insbesondere dann, wenn die zu prüfende Oberfläche nicht 100 % sauber ist, nicht von den üblichen Vorrichtungen erfaßt werden·However, surface deformations, even if completely enclosed with glass, can be very well determined by electro-optical inspection devices and methods as described in, for example, DE-OS 2,411,407. However, this does not apply to Dehler, which are so small that they do not alter the surface of the glass sheet, which is especially with small core bubbles of the pail, so that these core bubbles, especially if the surface to be tested is not 100 % clean, can not be detected by the usual devices

Die Prüfung von Floatglas erfolgt so, daß die gesamte Materialbahnbreite der sich kontinuierlich bewegenden Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet wird· Der fliegende Lichtpunkt wird im allgemeinen, um eine hohe Leuchtdichte zu erhalten, durch einen Laserstrahler erzeugt, der auf ein umlaufendes, verspiegeltes Polygon gerichtet wird, so daß der Lichtstrahl infolge der hohen Drehzahl des Polygons mit hoher Geschwindigkeit die Flachglasbahn überstreicht und dabei den fliegenden Lichtpunkt bildet. Ein Teil des Strahles wird bereits an der Oberfläche der Glasbahn reflektiert, ein weiterer Teil tritt in die Glasbahn ein, wird von der Unterfläche der Glasbahn reflektiert, der größte Teil des Strahles tritt nach Brechung durch die Glasbahn hindurch.The test of float glass is carried out so that the entire web width of the continuously moving web is scanned with a flying point of light · The flying spot is generally generated in order to obtain a high luminance, by a laser emitter, which is directed to a rotating, mirrored polygon is, so that the light beam as a result of the high speed of the polygon at high speed sweeps over the flat glass sheet and thereby forms the flying point of light. A part of the beam is already reflected on the surface of the glass sheet, another part enters the glass sheet, is reflected from the lower surface of the glass sheet, the majority of the beam passes through the glass sheet after refraction.

Object of the invention

Ziel der Erfindung ist es, die Nachteile des Standes der Technik zu vermeiden.The aim of the invention is to avoid the disadvantages of the prior art.

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Darlegung des Wesens der Erfindung We exposition of the sen s e rfindung

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgäbe zugrunde, in einer transparenten Materialbahn Fehler zu ermitteln, die nicht zu einer Oberflächenverformung der Materialbahn fuhren. Insbesondere sollen sogenannte Eernblasen, d» ta.· Gasblasen, die sich, mehr oder weniger in der Mitte der Materialbahn befinden und die sehr fein sind, so daß sie von im Vergleich zu ihren Abmessungen dicken Materialbahnschichten abgedeckt sind, ermittelt werden·The present invention is based on the task of determining defects in a transparent material web which do not lead to surface deformation of the material web. In particular, so-called Eernblasen, d? Ta · gas bubbles, which are more or less in the middle of the material web and are very fine, so that they are covered by compared to their dimensions thick material web layers, are determined ·

Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglas auf in der Bahn eingeschlossene Fehler, wie Fremdkörper oder Gasblasen, bei dem die Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt über die Breite abgetastet und die durch-• gelassene und/oder reflektierte Strahlung aufgefangen, in elektrische Signale umgesetzt und ausgewertet wird, das dadurch gekennzeichnet ist, daß wahrend des Abtastzyklus seitlich aus der Bahn austretende Strahlung zusätzlich erfaßt, in elektrische Impulse umgewandelt und zur Auswertung benutzt wird·This object is achieved by a method for testing transparent material webs, in particular flat glass, for defects trapped in the web, such as foreign bodies or gas bubbles, in which the web of material scanned across the width with a flying point of light and the transmitted and / or reflected radiation is collected, converted into electrical signals and evaluated, which is characterized in that during the scanning cycle laterally emerging from the web radiation is additionally converted into electrical impulses and used for evaluation ·

Fehlerprüfgerate der in der DE-OS 2 411 407 beschriebenen Art tasten mit einem fliegenden Lichtpunkt die Breite einer sich meist mit relativ hoher Geschwindigkeit bewegenden Materialbahn auf Oberflächenfehler ab· Sie besitzen eine einstellbare Empfindlichkeit, die bei transparenten Materialien ermöglicht, sowohl einen Fehler auf der Oberseite als auch einen Fehler auf der Unterseite bei der Abtastung der Materialbahn von oben zu erfassen. In der Materiaibahn eingeschlossene Kernblasen und auch feine, eingeschlossene Fremdkörper führen dabei nicht zu einer so starken Strahlablenkung, wie das Verformungen der Oberfläche tun, d. h·Error checking devices of the type described in DE-OS No. 2,411,407 scan the width of a material web, which usually moves at a relatively high speed, for surface defects with a flying spot of light. They have an adjustable sensitivity, which makes it possible to achieve an error on the upper side for transparent materials as well as detecting an error on the bottom when scanning the web from above. Core bubbles trapped in the material track, as well as fine trapped foreign bodies, do not lead to as much beam deflection as the deformation of the surface does, ie. H·

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das durch diese Fehler erzeugte Signal ist so schwach , daß es den Signalen entspricht, die durch feine, sich auf der laterialbahn ablagernde Staubpartikel verursacht werden« Diese Signale werden jedoch in der Auswertestation des Prüfgerätes abgeschnitten, wobei die Schwelle dieses Schnittes in ihrer Höhe einstellbar ist. Die Empfindlichkeit wird also so weit heruntergerege.lt, daß die Oberflächenverschmutzung nicht zu einem Fehl er signal führt.The signal generated by these errors is so weak that it corresponds to the signals caused by fine dust particles depositing on the web of material. However, these signals are cut off in the evaluation station of the test apparatus, the height of this cut being adjustable in height , The sensitivity is so heruntergerege.lt so that the surface contamination does not lead to a false signal.

Ist in der Glasbahn jedoch eine Kernblase oder ein feines Steinchen eingeschlossen, so wird der auftreffende Lichtpunkt in der Gasblase bzw· an der Oberfläche des Steinchens umgelenkt und in der Materialbahn weitergeleitet· Die Materialbahn selbst wirkt also in diesem Fall wie ein Lichtleiter. Da sowohl die Kernblasen, d. h· also die kleinen Gasblasen, als auch eingeschlossene Steinchen im wesentlichen kugelförmige Gestalt haben, wird der auf sie auftreffende oder in sie eintretende Lichtstrahl entsprechend seiner seitlichen Bewegung und dem sich damit ändernden Auftreffwinkel zumindest einmal auch parallel zur Abtastlinie in der Materialbahn reflektiert und gelangt auf diese Art und Weise zur rechten oder linken Seitenkante der Materialbahn, wo er als kurzzeitig aufblitzender, heller Lichtpunkt sichtbar wird·However, if a core bubble or a fine pebble is enclosed in the glass web, the impinging point of light in the gas bubble or on the surface of the pebble is deflected and passed on in the material web. In this case, the material web itself acts like a light guide. Since both the core bubbles, d. Thus, the small gas bubbles, as well as enclosed stones, have a substantially spherical shape, the light beam impinging or entering them is reflected at least once also parallel to the scanning line in the material web according to its lateral movement and thus changing angle of incidence, and arrives this way to the right or left side edge of the material web, where it is visible as a briefly flashing, bright point of light ·

Eine Aussage über den Fehler als solchen ist jedoch dabei noch nicht zu machen, d· h· die Fehlergröße kann auf Grund dieses seitlich aufleuchtenden Lichtpunktes nicht angegeben werden. Damit ist auch keine Entscheidung möglich, ob diese betreffende Materialbahn ausgeschieden werden muß oder ob ihre Yerwendung wegen minimaler Größe des Fehlers noch vertretbar ist· Die seitlich -aus der Bahn austretende Strahlung wird daher aufgefangen, in Impulse umgewandelt undHowever, a statement about the error as such is not yet to be made, that is, the error size can not be specified due to this laterally illuminated light spot. Thus, no decision is possible as to whether this material web in question must be eliminated or whether its use is still acceptable because of the minimum size of the defect. The radiation emerging laterally from the web is therefore collected, converted into pulses and

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zur Steuerung des Auswerteaggregates benutzt, d· h. daß in dem Moment, in dem der Lichtpunkt an einer oder beiden Seiten der zu prüfenden Materialbahn austritt, der Fehler lokalisiert und in seiner Größe erkannt werden kann· Die normale Oberflächenverschmutzung der zu prüfenden Materialbahn führt nicht zu einer Fehleranzeige·used to control the evaluation unit, ie. that the fault can be localized and recognized in its size at the moment when the light point emerges on one or both sides of the material web to be tested. The normal surface contamination of the material web to be tested does not lead to an error indication.

Der fliegende Lichtpunkt wird zweckmäßig durch einen Laserstrahler erzeugt, da auf diese Art und Weise relativ hohe Energien aufgebracht werden können, d. h. daß das Abtasten relativ breiter Haterialbahnen ohne störenden Leistungsverlust zum Hand hin möglich wird· Eine besonders bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht dabei vor, daß der fliegende Lichtpunkt die Farbe der zu prüfenden Materialbahn aufweist· Übliche Tafelgläser weisen, herrührend von geringen Spuren Eisen in der Schmelze, eine leicht grünliche Färbung auf, was man jedoch nur feststellen kann, wenn man die Stirnflächen des Tafelglases betrachtet· Aufgrund des relativ langen Weges, den der Lichtpunkt, im Glas zurücklegen muß, bevor er seitlich sichtbar wird, wirkt dieses Glas wie ein Farbfilter, d» h. daß im Falle dieser Grünfärbung einfallendes rotes Licht nach einer bestimmten zurückgelegten Wegstrecke im Glas auf Grund der Filterwirkung verschwunden, also weggefiltert ist· Dagegen wird Lieht der gleichen Wellenlänge, die der Färbung des Glases entspricht, nicht weggefiltert, sondern unterliegt nur der normalen Absorption und erreicht daher mit geringerem Verlust die Seitenflächen·The flying spot of light is expediently generated by a laser emitter, since in this way relatively high energies can be applied, i. H. A particularly preferred embodiment of the invention provides that the flying spot of light has the color of the material web to be tested. Conventional plate glasses, resulting from small traces of iron in the melt, a slightly greenish tint, which can only be seen by looking at the faces of the table glass. Due to the relatively long distance that the spot of light must travel in the glass before it becomes laterally visible, this glass acts like a color filter, i " H. that in the case of this green color incident red light has disappeared after a certain distance traveled in the glass due to the filter effect, ie weggefiltert · In contrast, is the same wavelength, which corresponds to the color of the glass, not filtered away, but subject only to the normal absorption and reached therefore with less loss the side surfaces ·

Durch Einsatz eines Strahlers, der in der gleichen Farbe strahlt, die die zu prüfende Materialbahn aufweist, ist es damit möglich, die Leistung des Strahlers geringer zu wählen und so Kosten an Energie und Material einzusparen, dabei gleichzeitig aber eine optimale Wirkung sicherzustellen·By using a radiator that radiates in the same color that has the material to be tested, it is thus possible to lower the power of the radiator to choose and thus save on energy and material costs, while ensuring an optimal effect ·

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Alle transparenten Materialien absorbieren jedoch einen gewissen Teil des durch sie durchtretenden Lichtes, d· h· daß bei den relativ breiten Flachglasbahnen, deren Breite oft über 3 m beträgt, beim Auftreten einer sogenannten Kera~ blase, also einer Gasblase in der Bahnmitte, das von dieser Blase reflektierte Licht einen Weg von ca* 1,50 m nach einer der beiden Seiten zurücklegen muß, ehe es von einem fotoelektrischen Wandler, im allgemeinen einem Fotomultiplier, aufgenommen werden kann» Es ergibt sich dadurch eine erhebliche Absorption des Lichtes, d· h· daß es nicht möglich ist, ohne zusätzliche "Verstärkung des vom Fotomultiplier abgegebenen Impulses eine genaue Aussage über diesen gerade ermittelten Fehler zu machen* Andererseits ergibt sich beim Wandern des Lichtstrahles zum Materialbahnrand hin ein immer deutlicheres Fehlersignal, auch dann, wenn die Größe des ermittelten Fehlers gleich ist und auch seine Anordnung in der Bahn identisch mit dem Fehler ist, der in Bahnmitte ermittelt wurde· Des weiteren kommt hinzu, daß die zu prüfende Materialbahn, also das Floatglas, nie 100 %±s sauber ist, d. h. also, daß sowohl die Oberseite als auch die Unterseite Staubpartikel aufweisen können, die ,-;-·. ebenfalls eine Reflektion des Strahles in das Glas" möglich machen· Es ist also immer ein gewisser Rauschpegel vorhanden, wobei auch dieser Rauschpegel sich ändert, d· iu bei Abtastung in Bahnmitte ist er wesentlich geringer als bei Abtastung in Bahnrand, so daß Fehler, die in Bahnmitte auftreten, innerhalb des Rauschpegels liegen können, der am Bahnrand existiert· Damit ist es wesentlich, den Rauschpegel so differenziert zu unterdrücken und die Absorption der transparenten Materialbahn so zu berücksichtigen, daß ein gleichartiger und gleich großer Fehler im Randbereich der Materialbahn genau die gleichen Impulse abgibt wie ein entsprechender Fehler im Mittenbereich der Materialbahn·However, all transparent materials absorb a certain part of the light passing through them, ie in the case of the relatively wide flat glass webs, whose width often exceeds 3 m, when a so-called "bubble" occurs, ie a gas bubble in the center of the web This light reflected by the bubble must cover a distance of approx. 1.50 m to one of the two sides before it can be picked up by a photoelectric converter, generally a photomultiplier. This results in a considerable absorption of the light, ie · That it is not possible to make an accurate statement about this just determined error without additional "amplification of the output from the photomultiplier pulse * On the other hand, there is an increasingly clear error signal when moving the light beam to the material web edge, even if the size of the determined Error is equal and also its arrangement in the track is identical to the error i In addition, the material web to be tested, that is to say the float glass, is never 100 % ± s clean, ie that both the upper side and the lower side can have dust particles which, -; - ·. Thus, there is always a certain noise level, whereby this noise level also changes, ie when scanning in the middle of the web it is considerably smaller than when scanning in the web edge, so that errors which in Ba hn middle occur, may be within the noise level, which exists at the edge of the web · so it is essential to suppress the noise level so differentiated and thus to take into account the absorption of the transparent sheet, that a similar and equally large error in the edge region of the material web exactly emits the same pulses as a corresponding error in the middle region of the material web ·

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Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht daher Tor, daß jeder elektrische Seitenimpuls in Abhängigkeit von der Position des die transparente Materialbahn abtastenden, fliegenden Lichtpunktes mit einem dieser Position zugeordneten wählbaren Wert verglichen wird und bei Überschreiten dijsses Wertes ein Fehlersignal ausgelöst wird»A preferred embodiment of the invention therefore provides that each electrical side pulse is compared in dependence on the position of the scanning the transparent material web, flying spot with a value assigned to this position selectable value and when dijsses value exceeded an error signal is triggered »

Eine zweckmäßige Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der wählbare Wert in einen elektronischen Speicher eingegeben wird· Diese Ausführungsform empfiehlt sich insbesondere, wenn lediglich ein Material, also beispielsweise eine einzige Glassorte, geprüft werden soll, so daß die Materialbahn von der Zusammensetzung und auch von der Dicke her keinen Änderungen unterworfen ist· In diesem Falle reicht es, einmal eine Absorptionskurve des Materiales aufzuzeichnen und diese abzuspeichern·An expedient embodiment of the invention provides that the selectable value is entered into an electronic memory. This embodiment is particularly recommended if only one material, for example a single type of glass, is to be tested, so that the material web of the composition and also of The thickness is not subject to any changes. In this case, it is sufficient to record an absorption curve of the material once and store it.

Unter dem Begriff elektronische Speicher sind Halbleiterspeicher zu verstehen, die sich nach den verwendeten Schaltungstechniken unterscheiden· Heben den Schieberegistern können Speichertypen wie HAM oder ROM oder PEOM eingesetzt werden, wobei sich die PROMs - programmable read only memories - besonders bewährt haben· Die PROMs sind !Festwertspeicher, die nach dem Herstellungsprozeß mit dem gewünschten Bit-muster versehen werden, was beispielsweise durch Wegbrennen von bestimmten Verbindungen innerhalb der Halbleiterschaltung geschehen kann· Diese Programmierung ist nicht mehr rückgängig zu machen, d· h. daß nach dem Schießen eines PROMs keine Änderung der einmal eingegebenen Information möglich und damit eine ungewollte Veränderung des Prüfzustandes nicht möglich ist· Bei einer zweiten Programmiermöglichkeit der PROMs wird die Kapazität der hochisolierten Gateelektroden ausgenutzt, die durch Bestrahlen mit UV-Licht entladen und durch nochmaliges Anlegen einerThe term electronic memory is to be understood as meaning semiconductor memory which differs according to the circuit techniques used. · Lifting the shift registers allows storage types such as HAM or ROM or PEOM to be used, whereby the PROMs - programmable read only memories - have proven to be particularly useful. Read-only memories, which are provided with the desired bit pattern after the manufacturing process, which can be done, for example, by burning away certain connections within the semiconductor circuit. This programming is irreversible, ie. that after the shooting of a PROM no change in the information once entered possible and thus an unwanted change in the test state is not possible · In a second programming option of the PROMs, the capacity of the highly insulated gate electrodes is used, the discharge by irradiation with UV light and by applying again one

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entsprechend hohen Spannung neu geladen, d. h· programmiert werden können·Reloaded according to high voltage, d. can be programmed ·

In der Logik des Auswerteaggregatea wird der Wert des eingehenden Impulses mit dem der jeweiligen Abtaststellung des Abtaststrahles entsprechenden Wert der gespeicherten Impulse verglichen und beim Überschreiten des gespeicherten Impulswertes ein Fehlersignal ausgelöst· Selbstverständlich ist es dabei möglich, mehrere PEOMs zu schießen, die verschiedenen Kurven entsprechen, d. h. also, daß auch verschiedene Materialbahnen nach jeweiliger Vorwahl des geeigneten Speichers geprüft werden können« Zweckmäßig können in diesem Falle als Speicher auch EAMs eingesetzt werden, die zwar nicht die Fähigkeit haben, gespeicherte Daten über lange Zeit zu behalten, jedoch nach Belieben programmiert werden können·In the logic of the Auswerteaggregatea the value of the incoming pulse is compared with the respective sampling position of the scanning beam value of the stored pulses and triggered when exceeding the stored pulse value, an error signal · Of course, it is possible to shoot several PEOMs that correspond to different curves, d. H. This means that different material webs can also be checked after the respective preselection of the suitable memory. "EAMs which do not have the ability to retain stored data for a long time but can be programmed as desired can be expediently also used as memory in this case.

Eine bevorzugte Ausführung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß aus dem den fliegenden Lichtpunkt bildenden Abtaststrahl ein Seferenzstrahl abgeteilt, über einen fehlerfreien Referenzstreifen der zu prüfenden, transparenten Materialbahn geführt, das-an den Seitenflächen des Referenzstreifens austretende Licht erfaßt, in Impulse umgewandelt und diese Impulse in ihrer Größe mit den aus der zu prüfenden Materialbahn erhaltenen Impulsen verglichen werden·A preferred embodiment of the invention is characterized in that a Seferenzstrahl divided from the flying light point forming a Seferenzstrahl, passed over a defect-free reference strip of the transparent material web to be tested, the-detected on the side surfaces of the reference strip light, converted into pulses and these pulses are compared in size with the pulses obtained from the material web to be tested

Durch diese Ausgestaltung der Erfindung ist.sichergestellt, daß stets exakte Werte erreicht werden, weil die identische Materialbahn als Referenzstreifen herangezogen wird. Selbstverständlich ist es auch möglich, einen Referenzstreifen einzusetzen, der der zu prüfenden Materialbahn im wesentlichen entspricht, ihr also nicht völlig identisch ist. Dann muß jedoch in Kauf genommen werden, daß die er-By this embodiment of the invention ist.sichergestellt that always accurate values are achieved because the identical web is used as a reference strip. Of course, it is also possible to use a reference strip, which essentially corresponds to the material web to be tested, so it is not completely identical. However, it must then be accepted that the

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jaaltenen Referenziapulse "nicht 100 %lg den Impulsen entsprechen, die aus der zu prüfenden Materialbahn erhalten werden, d. tu man muß eine gewisse Toleranzgrenze in Kauf nehmen·yes, reference pulses do not correspond 100 % to the pulses which are obtained from the material web to be tested, ie one must accept a certain tolerance limit.

Die Auswertung der Seitenimpulse erfolgt Torteilhaft mittels einer Triggerschwelle.--Dazu wird die Absorptionskurve in einem PROM abgelegt, wodurch sie sehr genau getroffen werden kann· Es ergibt sich bei diesem Verfahren eine absolute Unabhängigkeit von der Geschwindigkeit, ebenso ist es frei von Überschwingern· Durch Ablegen mehrerer PROMs ist es möglich, auch die Prüfung eingefärbter Gläser zu programmieren·The evaluation of the side impulses is done Torteilhaft by means of a Triggerschwelle .-- For this purpose, the absorption curve is stored in a PROM, so that they can be hit very accurately · It results in this method an absolute independence of the speed, as it is free of overshoots · By Placing several PROMs makes it possible to program also the testing of colored glasses ·

Bevorzugt erfolgt die Auswertung der Seitenimpulse durch Gegenpolen der erhaltenen Spannung,Preferably, the evaluation of the side pulses by opposite polarity of the voltage obtained,

Jede Stellung des fliegenden Lichtpunktes auf der Mate^rialbahn ergibt dabei, wenn diese fehlerfrei ist, einen Impuls, der identisch dem aus dem Referenzstreifen durch den abgeteilten Referenzstrahl erzeugten Impuls bei gleicher Stellung des fliegenden Lichtpunktes ist· Im fehlerfreien Zustand heben damit die Impulswerte einander gegenseitig auf. Es kommt also zu keinem Ausschlag, wohingegen beim Vorhandensein eines Fehlers eine Differenz zwischen den Impulswerten auftritt· Da die Absorption des Glases durch das Gegenpolen der erhaltenen Spannungen ausgeschaltet ist, ist aus der Größe der Differenz der Impulse die Fehlergröße ablesbar, d. iu daß jetzt gleich große Fehler, gleichgültig von ihrer Lage, also ihrem Abstand vom Rande der Materialbahn, auch zu einem gleich großen Fehlersignal führen·Each position of the flying spot of light on the material path results, if this is error-free, a pulse which is identical to the pulse generated from the reference strip by the divided reference beam at the same position of the flying spot. In the error-free state, the pulse values thus mutually cancel one another on. Thus, no deflection occurs, whereas in the presence of a fault, a difference occurs between the pulse values. Since the absorption of the glass is switched off by the opposite polarity of the obtained voltages, the size of the difference of the pulses makes the error variable readable, ie. iu that now equally large errors, regardless of their position, so their distance from the edge of the web, also lead to an equal error signal ·

Bine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens besteht zweckmäßig aus mindestens einem, die Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abtastenden Prüfgerät, einem das reflektierte und/oder durchgelassene Licht aufnehmendenBine device for carrying out the method expediently consists of at least one, the web with a flying light point scanning tester, the reflected and / or transmitted light receiving

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Empfänger und einer diesem zugeordneten Auswertestation, mit dem kennzeichnenden Merkmal, daß zusätzlich seitlich an der zn prüfenden Materialbahn mindestens ein Photomultiplier angeordnet ist.Receiver and an evaluation station associated therewith, with the characterizing feature that at least one photomultiplier is additionally arranged laterally on the zn-testing material web.

Die zusätzliche Anordnung eines einzigen Photomultipliers an einer Längsseite der zu prüfenden, transparenten Materialbahn ermöglicht bereits ein Auffinden von Kernblasen, d. h. daß das bisher serienmäßig verwendete Gerät, beispielsweise ein Gerät gemäß der DE-GS 2 411 407» über den zusätzlichen Photomultiplier gesteuert werden kann und dann Kernblasen und Einschlüsse in der Glasbahn entdeckt· Vorteilhaft ist der Photomultiplier dabei in Höhe der durch den fliegenden Lichtpunkt auf der zu prüfenden Materialbahn beschriebenen Abtastlinie angeordnet, da der in die Glasbahn eintretende Lichtstrahl zwar nach verschiedenen Seiten reflektiert wird,., die Strecke parallel zur Abtastlinie jedoch die kürzeste Strecke ist, so daß von allen Punkten, an denen der Lichtstrahl im Bereich der Materialseitenkante austritt, der Bereich der Abtastlinie den größten Helligkeitswert und damit den stärksten und klarsten Impuls liefert· '___. The additional arrangement of a single photomultiplier on one longitudinal side of the transparent material web to be tested already allows a finding of core bubbles, ie that the previously used as standard equipment, such as a device according to DE-GS 2,411,407 can be controlled via the additional photomultiplier and Then, the photomultiplier is advantageously arranged at the level of the scanning line described by the flying spot of light on the material web to be tested, since the light beam entering the glass web is reflected to different sides, Scanning line, however, is the shortest path, so that of all the points at which the light beam exits in the region of the material side edge, the area of the scan line provides the greatest brightness value and thus the strongest and clearest pulse · '___.

Eine bevorzugte Vorrichtung zur Durchführung der Prüfung ist dadurch gekennzeichnet, daß der der Stirnfläche der zu prüfenden Materialbahn zugeordnete Potomultiplier oberhalb und eine Spiegelfläche unterhalb des Längsrandes der zu prüfenden Materialbahn angeordnet ist·A preferred device for carrying out the test is characterized in that the end face of the material web to be tested associated with the potentiometer is arranged above and a mirror surface below the longitudinal edge of the material to be tested web ·

Das durch eine Kernblase oder einen Einschluß in der Materialbahn geleitete Licht tritt am unbearbeiteten Materialbahnrand aus und wird hier gestreut· Es gelangt also sowohl nach der Seite als auch nach oben und nach unten, so daß seine Erfassung bei einer rein seitlichen AnordnungThe guided by a core bubble or an inclusion in the web of light emerges from the raw material web edge and is scattered here · So it reaches both the side and up and down, so that its detection in a purely lateral arrangement

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des Potomult!pliers Schwierigkeiten bereitet* Durch das einfache .Anordnen einer Spiegelfläche unterhalb des Längsrandes wird jedoch auch ein großer Teil der aus der unbearbeiteten Stirnfläche der Materialbahn austretenden Lichtmenge noch vom Spiegel erfaßt und auf den oberhalb der Materialbahn angeordneten Potomultiplier reflektiert, der zusätzlich auch mit direkt nach oben austretendem Licht beaufschlagt wird» Die Lichterfassung wird dadurch wesentlich verbessert.Due to the simple arrangement of a mirror surface below the longitudinal edge, however, a large portion of the light output from the unprocessed end face of the material web is still detected by the mirror and reflected on the above the material web arranged potomultiplier, which also with Directly upward light is applied »The light detection is thereby substantially improved.

Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß dem Prüfgerät ein sich über die gesamte Breite der abzutastenden transparenten Materialbahn erstreckender Referenzstreifen aus einem fehlerfreien, der zu prüfenden, transparenten Materialbahn in Dicke, Färbung und Zusammensetzung entsprechendem oder identischem Material zugeordnet ist, der an seinen Schmalseiten mit je einem fotoelektrischen Wandler versehen ist· Die Schmalseiten dieses Eeferenzstreifens liegen parallel zu den Längsrändern der zu prüfenden, transparenten Materialbahn, sind aber im Gegensatz zu dieser bearbeitet,' so daß keine Undefinierte Streuung auftritt· Da die Streifen auch relativ schmal sind, kann das gesamte, an diesen Schmalseiten austretende Licht von dem fotoelektrischen Wandler erfaßt werden·An advantageous embodiment of the invention provides that the test instrument is a over the entire width of the scanned transparent material web extending reference strip from a faultless, to be tested, transparent material web in thickness, color and composition corresponding or identical material is assigned, on its narrow sides The narrow sides of this reference strip lie parallel to the longitudinal edges of the transparent material web to be tested, but are processed in contrast to it, so that no undefined scattering occurs. Since the strips are also relatively narrow, this can entire light emerging on these narrow sides can be detected by the photoelectric converter

Ein Lichteintritt in diesen Referenzstreifen erfolgt jedoch nur dann, wenn er einer besonderen Vorbehandlung unterzogen worden ist, d· h. im Hormalfälle würde, wie bei jedem flachglas, das Licht durch das Glas hindurchfallen und nicht in das Glas so eingeleitet werden, daß es zu einem erheblichen Prozentsatz an den Stirnseiten, also in diesem Pail den Schmalseiten des Referenzstreifens austritt.However, a light entry into this reference strip takes place only if it has been subjected to a special pre-treatment, ie. in the hormonal case, as with any flat glass, the light would fall through the glass and not be introduced into the glass so that it exits to a considerable percentage on the front sides, ie in this pail the narrow sides of the reference strip.

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Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht deshalb vor, daß der Referenzstreifen mit im gleichen Abstand voneinander sich in Längsrichtung der zu prüfenden Materialbahn erstreckenden Einkerbungen versehen ist, die in vorteilhafter Weise 5 bis 10 mm voneinander entfernt sind· Durch diese Ausgestaltung ergeben sich bei der Auswertung Impulse., die der Zahl der Einkerbungen entsprechen. Jeder Impuls weist entsprechend seinem Abstand von der Materialbahnmitte einen anderen Wert auf, da mit der Annäherung zum Rand des Referenzstreifens, also zu seiner Schmalseite, weniger Licht absorbiert wird und damit ein höheres Signal am fotoelektrischen Wandler ansteht·A preferred embodiment of the invention therefore provides that the reference strip is provided with indentations extending at the same distance from one another in the longitudinal direction of the material web to be tested, which are advantageously 5 to 10 mm apart from one another. This embodiment produces pulses during evaluation ., which correspond to the number of notches. Each pulse has a different value in accordance with its distance from the material web center, since less light is absorbed with the approach to the edge of the reference strip, that is, to its narrow side, and thus a higher signal is present at the photoelectric converter.

Durch Anordnung der Einkerbungen im gleichen Abstand zueinander kann dieses Signal gleichzeitig zur LagebeStimmung von Fehlern verwendet werden, wobei ein Abstand von 5 bis 10 mm voneinander schon eine sehr erhebliche Genauigkeit bei der Fehlerauswertung ermöglicht·By arranging the notches at the same distance from each other, this signal can be used simultaneously for determining the position of errors, with a distance of 5 to 10 mm from each other already allowing a very considerable accuracy in the error evaluation.

Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der Referenzstreifen mit einer sich über seine gesamte Länge erstreckenden mattierten Linie versehen ist· Diese mattierte Linie ist zweckmäßig eine gesandstrahlte Fläche oder ein auf den Referenzstreifen aufgebrachter transparenter Klebestreifen· Sowohl die gesandstrahlte Fläche als auch der zweckmäßig unterhalb des Referenzstreifens aufgebrachte transparente Klebestreifen ermöglichen das Eintreten des Lichtes in den Referenzstreifen und damit seine Weiterleitung zu den Schmalseiten und die Aufnahme in den fotoelektrischen Wandler. Abweichend von den vorher beschriebenen Einkerbungen ergibt sich jedoch jetzt in dem Wandler nicht ein Stromimpuls, sondern es tritt beim Auftreffen des Lichtstrahles auf den Referenzstreifen eine bestimmte Spannung auf, die sich in ihrer Höhe ändert· DenA further advantageous embodiment of the invention provides that the reference strip is provided with a matted line extending over its entire length. This matted line is expediently a sandblasted surface or a transparent adhesive strip applied to the reference strip. Both the sandblasted surface and the expedient transparent adhesive strips applied below the reference strip allow the light to enter the reference strip and thus its transmission to the narrow sides and the recording into the photoelectric converter. Deviating from the notches described above, however, there is now no current pulse in the converter, but when the light beam impinges on the reference strip, a certain voltage occurs, which changes in height

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geringsten Wert weist diese Spannung auf, wenn der fliegende Mchtpunkt die Mitte des Referenzstreif ens erreicht, wo die stärkste Absorption erfolgt« Aus diesem Grund ist der Refe~ renzstreifen auch beidseitig mit fotoelektrischen Wandlern * bestückt, da nur geringe Lichtmengen von einem Materialbahnrand bis zum anderen wandern« Eine von den Wandlern aufgezeichnete Kurve beginnt also für jeden der beiden Wandler in der Mitte der Materialbahn mit einem Wert, der geringfügig über Bull liegt, und steigt dann mit zunehmender Hähe des Abtastlichtpunktes zum Bahnrand an. Für die Beurteilung der gesamten Bahnbreite müssen dabei die Ergebnisse beider fotoelektrischer Wandler berücksichtigt werden, die sich gegenseitig zur vollen Kurve ergänzen«This voltage is lowest when the flying center reaches the center of the reference strip, where the strongest absorption occurs. For this reason, the reference strip is also equipped with photoelectric transducers * on both sides, since only small amounts of light pass from one edge of the web to the other Thus, a curve recorded by the transducers begins at a value slightly above Bull for each of the two transducers in the middle of the web, and then increases towards the edge of the web as the scanning light point increases. For the evaluation of the entire web width, the results of both photoelectric converters must be considered, which complement each other to the full curve «

Execution e1

Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnungen erläutert· Es zeigen:The invention will be explained below with reference to the drawings.

1: als Prinzipskizze ein Prüfgerät,1: a schematic diagram of a testing device,

Pig« 2: ein Prüfgerät mit Eeferenzstreifenabtastung, Pig. 3: im Detail die Spiegelanordnung am Rand,Pig «2: a tester with Eeferenzstreifenabtastung, Pig. 3: in detail the mirror arrangement on the edge,

Pig. 4: die von den Seitenfotomultipliern aufgezeichneten einzelnen, zu einer Kurve verbundenen Impulse,Pig. 4: the individual pulses recorded by the page photomultipliers, connected to a curve,

Pig. 5: die sich durch Gegenpolung der Kurve ergebende'Ge rade mit einem Peilersignal·Pig. 5: the ridge resulting from reversing the polarity of the curve with a directional signal ·

Die Materialbahn 1 wird mittels Walzen 8, die von einem Elektromotor 9 angetrieben werden, unter dem Prüfgerät 2 herbewegt· Das Prüfgerät 2 enthält einen Empfänger 3 für reflektierte Strahlung und einen Empfänger 3* für durchgelassene Strahlung« Beide Empfänger sind mit einer Auswertestation 4 verbunden, die auch von den seitlich anThe material web 1 is moved under the test apparatus 2 by means of rollers 8, which are driven by an electric motor 9. The test apparatus 2 contains a receiver 3 for reflected radiation and a receiver 3 * for transmitted radiation. Both receivers are connected to an evaluation station 4. which also from the side

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der Haterialbahn 1 angeordneten Fotomultipliern 5» 5* beauf schlagt wird.the Haterialbahn 1 arranged Fotomultipliern 5 »5 * beauf beat.

Der im Prüfgerät 2 angeordnete Laserstrahler 14 ist mit einem Strahlenteiler 30 versehen, der zwei Teilstrahlen 31 und 32 auf dem rotierenden Spiegelrad 15 abbildet· Der Teilstrahl 31 wird als Mchtpunkt 10^f, der Teilstrahl 32 als Mchtpunkt 10 abgebildet und auf Grund der Rotation des Spiegelrades 15 als Abtaststrahl 16 über die gesamte Breite der Materialbahn 1 geführt· Der als Punkt 10' abgebildete Teilstrahl 31 wird gleichzeitig über den Referenzstreifen 21 geführt und tritt durch die Einkerbung 24 in diesen ein. Den Schmalseiten 22 des ReferenzStreifens 21 ist je ein fotoelektrischer Wandler 23 bzw. 23" zugeordnet, der das aus dem Seferenzstreifen 21 austretende Licht aufnimmt und zur Auswertestation 4 weiterleitet«The arranged in the tester 2 laser emitter 14 is provided with a beam splitter 30, which images two partial beams 31 and 32 on the rotating mirror wheel 15 · The partial beam 31 is mchtpunkt 10 ^f , the partial beam 32 as Mchtpunkt 10 and due to the rotation of the mirror wheel 15 as a scanning beam 16 over the entire width of the material web 1 guided. The partial beam 31 shown as point 10 'is simultaneously guided over the reference strip 21 and enters through the notch 24 in this one. The narrow sides 22 of the reference strip 21 are each assigned a photoelectric converter 23 or 23 ", which receives the light emerging from the reference strip 21 and forwards it to the evaluation station 4."

Tritt in der Materialbahn 1 ein Fehler in Form einer Kernblase 13 auf, so wird der Abtaststrahl 16 nicht mehr als reflektierter Abtaststrahl 16^! den Empfänger 3 erreichen, sondern im wesentlichen abgeleitet als Lichtstrahl 11 bzw. 12 entlang der Abtastlinie 7 zur Stirnfläche 6 der Materialbahn 1 geführt, wo er in die Fotomultiplier 5, 5' eintritt, die den erhaltenen Impuls der Auswertestation 4 zuführen. Die Fotomultiplier 5» 5' sind durch Kabel 17 bzw. 18 mit der Auswertestation 4 verbunden, die fotoelektri-. sehen Wandler 23, 23' analog durch Kabel 33 und 34. Desgleichen erstreckt sich eine elektrische Leitung 19 zwischen dem Empfänger 3 und der Auswertestation 4·If an error occurs in the material web 1 in the form of a core bubble 13, the scanning beam 16 no longer becomes a reflected scanning beam 16 ^! reach the receiver 3, but essentially derived as a light beam 11 and 12 along the scan line 7 to the end face 6 of the web 1, where it enters the photomultiplier 5, 5 ', which supply the received pulse of the evaluation station 4. The photomultiplier 5 5 'are connected by cables 17 and 18 to the evaluation station 4, the photoelectric. see converter 23, 23 'analog through cable 33 and 34. Likewise, an electrical line 19 extends between the receiver 3 and the evaluation station 4 ·

Trifft der Abtaststrahl 16, wie bereits beschrieben, auf eine Kernblase 13» so wird das Licht von der Kernblase 13 abgelenkt und tritt im Bereich der Stirnfläche 6 der Materialbahn 1 aus. Da dieser Lichtaustritt Undefiniert ist,If the scanning beam 16, as already described, strikes a core bubble 13, the light is deflected by the core bubble 13 and exits in the area of the end face 6 of the material web 1. Since this light emission is undefined,

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ist im Randbereich der Materialbahn 1 ein im wesentlichen horizontal eingestellter Spiegel 27 und ein im wesentlichen vertikal eingestellter Spiegel 28 auf einer verschiebbaren Halterung 29 angeordnet, wobei beide Spiegel so ausgerichtet sind, daß sie auf sie fallendes licht in den über dem Sandbereich der Materialbahn angeordneten Potomultiplier 5 werfen· ·is in the edge region of the web 1, a substantially horizontally adjusted mirror 27 and a substantially vertically adjusted mirror 28 disposed on a movable support 29, wherein both mirrors are aligned so that they light falling on them in the above the sand region of the material web arranged Potomultiplier Throw 5 ·

Der Teilstrahl 31 erzeugt auf dem umlaufenden Spiegelrad den Lichtpunkt 10'· Der von diesem gebildete Referenzstrahl 20 tastet den Referenzstreifen 21 ab und tritt bei den Einkerbungen 24 in diesen ein. Durch jede Einkerbung 24 wird damit in dem fotoelektrischen Wandler 23 ein Impuls erzeugt, der in der Auswertestation aufgezeichnet und mit dem jeweiligsn, von den Pot omul tipliern 5> 5^T ermittelten ?/erten verglichen wird» Bei fehlerfreier Materialbahn 1 sind die ermittelten Werte identisch, weichen also nicht voneinander ab· Analog ist die Auswertung bei Einsatz eines Referenzstreifens 21, der eine mattierte Linie oder einen Klebestreifen aufweist· Das Licht tritt dabei entlang der mattierten Linie bzw. des Klebestreifens in den Referenzstreifen ein und verläßt ihn an seinen Schmalseiten 22, wo es von den fotoelektrischen Wandlern 23 aufgenommen wird· Statt eines Impulses ergibt sich hier jedoch eine sich mit dem Wandern des Referenzstrahles ändernde Spannung, die als Kurve aufgezeichnet werden kann«The partial beam 31 generates the light spot 10 'on the revolving mirror wheel. The reference beam 20 formed by it scans the reference strip 21 and enters into the notches 24 in the latter. Each impulse 24 generates a pulse in the photoelectric converter 23 which is recorded in the evaluating station and compared with the respective values determined by the potentiometer 5> 5 ^T. If the material web 1 is faultless, the determined values are identical The evaluation is analogous when using a reference strip 21 which has a matted line or an adhesive strip. The light enters the reference strip along the matted line or the adhesive strip and leaves it on its narrow sides 22. where it is picked up by the photoelectric transducers 23. Instead of a pulse, however, there is a voltage that changes with the wandering of the reference beam, which can be recorded as a curve. "

Pig. 4 zeigt eine Absorptionskurve 35» die entlang der Spitzen der einzelnen Impulse 36 gezogen wurde, die von den Einkerbungen 24 im Referenzstreifen 21 durch den Referenzstrahl 20 erzeugt wurden* In der gleichen Pigur ist unter der Absorptionskurve 35 die Rauschpegelkurve 37 eingezeichnet· Diese Rauschpegelkurve resultiert im wesentlichen von Verunreinigung auf der Glasober- oder Glasunter-Pig. FIG. 4 shows an absorption curve 35 drawn along the tips of the individual pulses 36 generated by the notches 24 in the reference strip 21 by the reference beam 20. In the same graph, the noise curve 37 is plotted below the absorption curve 35. This noise level curve results in of contamination on the glass top or glass substrate.

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seite her und hat bei dem erfindungsgemäßen Verfahren keine Bedeutung· Aus ihr ist jedoch klar ersichtlich, daß in den Randbereichen der Bahn der Rauschpegel wesentlich höher ist, so daß er Pehler, die im Bahnmittenbereich auftreten können, überlagert·However, it clearly shows that in the edge regions of the web the noise level is considerably higher, so that it overlaps with errors that may occur in the web center region.

KLg· 5 zeigt die Gegenpoltnig der Absorptionskurve 35, die über den Referenzstreifen 21 mit unterlegten Klebestreifen gewonnen wurde, mit der darüber dargestellten Abtastkurve 38· Die Abtastkurve 38 weist ein Pehlersignal 39 auf, das in seiner absoluten Höhe kleiner ist als die Werte im Randbereich bei der Kurve· Durch die Gegenpolung ergibt sich die Gegenpolungsgerade 40, aus der das Pehlersignal 39 gana klar herausragt·5 shows the opposite polarity of the absorption curve 35, which was obtained over the reference strip 21 with underlayed adhesive strips, with the scanning curve 38 shown above. The scanning curve 38 has a pseudo-signal 39 which is smaller in its absolute height than the values in the edge region The opposite polarity results in the opposite polarity straight line 40, from which the error signal 39 gana clearly protrudes.

Claims

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Method for testing transparent bales of material, in particular flat glass, for defects trapped in the web, such as foreign bodies or gas bubbles, in which the web of material has been scanned across its width with a flying point of light and the transmitted and / or reflected radiation is collected, converted into electrical signals and is evaluated, characterized in that during the scanning cycle laterally emerging from the web radiation is additionally detected, converted into electrical impulses and used for evaluation ·

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Scanning a reference beam divided, guided over a defect-free reference strip of the transparent material to be tested, detects the emerging on the side surfaces of the reference strip light and converted into pulses and these pulses are compared in size with the pulses obtained from the material to be tested web *

2. The method according to item 1, characterized in that the flying spot of light is generated by a laser emitter.

3 · Method according to one of the items 1 and 2, characterized in that the flying spot of light has the color of the material web to be tested.

4. Method according to one of the items 1 to 3, characterized in that each electrical side pulse is compared with a value assigned to this position as a function of the position of the flying light point scanning the transparent material web and an error signal is triggered when this value is exceeded.

5 «method according to item 4, characterized in that a selectable value is entered into an electronic memory.

6 · Method according to one of the items 1 to 5, characterized in that from the flying light point forming

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7. Method according to one of the items 1 to 6, characterized in that the evaluation of the page pulses takes place by means of a trigger threshold.

8. The method according to any one of the points 1 to 7, characterized in that the evaluation of the side pulses by opposite polarity of the voltages obtained is ·

9 «Device for carrying out the method according to any one of items 1 to 8, consisting of at least one scanning the material web with a flying light point tester, the reflected and / or transmitted light receiving receiver and an evaluation station associated therewith, characterized by the additional lateral assignment of at least one photomultiplier (5) to at least one end face (6) of the material web (1) to be tested.

10 device according to point 9, characterized in that the photomultiplier (5) is arranged at the level of the scanning line (7) described by the flying spot of light (10) on the material web (1) to be tested.

11. The device according to item 9, characterized in that the photomultiplier (5 »5 ') is arranged above and at least one mirror surface below the longitudinal edge of the transparent material web (1) to be tested.

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12 «Device according to one of the funkts 9 to 11, characterized in that the test apparatus (2) over the entire width of the scanned, transparent material web (1) extending ßeferenzstreifen (21) from a faultless, to be tested, transparent material web ( 1) in thickness, color and composition corresponding or identical material is assigned, which is provided on its narrow sides (22) each having a photoelectric converter (23). "7

13. Device according to one of the items 9 to 12, characterized in that the reference strip (21) is provided with notches (24) extending at the same distance from one another in the longitudinal direction of the material web (1) to be tested *

Device according to one of the points 9 to 13 », characterized in that the indentations (24) are arranged at a distance of 5 to 10 mm from each other.

Device according to one of the items 9 to 11, characterized in that the reference strip (21) is provided with a matted line extending over its entire length.

16. The device according to item 15, characterized in that the frosted line is generated by sandblasting.

17 · Device according to item 15 and 16, characterized in that the matted line is produced by attaching a transparent adhesive strip.

For this 5 Bl. Drawings