DE2556395A1

DE2556395A1 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING A GLASS STRIP WHICH IS MOVED IN A PRESET DIRECTION

Info

Publication number: DE2556395A1
Application number: DE19752556395
Authority: DE
Inventors: Roger Albert; Jean Josse
Original assignee: BFG Glassgroup GIE
Current assignee: BFG Glassgroup GIE
Priority date: 1974-12-19
Filing date: 1975-12-15
Publication date: 1976-06-24
Also published as: BE836518A; FR2295417A1; GB1526930A

Description

MÜLLER-B ORE · GROENIXG · DEUFEL - SCHÖjM - HERTELMÜLLER-B ORE GROENIXG DEUFEL - SCHÖjM - HERTEL

PATKIfTAJfWlLTEPATKIfTAJfWlLTE

DR. WOLFGANG MÜLLER-BORE HANS W. GROENING, DIPL.-ING. DR. PAUL. DEUFEL. DIPL.-CHEM. DR. ALFRED SCHÖN. DIPL.-CHEM. WERNER HERTEL. D1PL.-PHYS.DR. WOLFGANG MÜLLER-BORE HANS W. GROENING, DIPL.-ING. DR. PAUL. DEUFEL. DIPL.-CHEM. DR. ALFRED SCHÖN. DIPL.-CHEM. WERNER HERTEL. D1PL.-PHYS.

Kl/Ve/th - G 2437Kl / Ve / th - G 2437

15. DEZ.15 DEC.

BFG Glassgroup Rue Caumartin, 43 Paris - FranceBFG Glassgroup Rue Caumartin, 43 Paris - France

Verfahren, und Vorrichtung zur Überprüfung eines Glasbandes, welches in einer vorgegebenen Richtung bewegt wirdMethod and device for checking a glass ribbon, which is moved in a predetermined direction

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung eines Körpers aus Glas in Form einer Platte oder eines Bandes, welches in einer vorgegebenen Sichtung während der Herstellung des Körpers gezogen wird, um eine Information über Fehlstellen in Form von Blasen und/oder anderen lokalen Fehlstellen zu erhalten, die im Glas vorhanden sein können, wobei der Glaskörper mit einem Lichtbündel abgetastet wird und solche Lichtstrahlen ermittelt werden, welche durch den Körper übertragen werden, jedoch von einer Fehlstelle abgelenkt wurden. Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens. The invention relates to a method for testing a body made of glass in the form of a plate or a tape, which in a predetermined sighting is drawn during the manufacture of the body to provide information about defects in the form of To get bubbles and / or other local defects that may be present in the glass, the glass body with a Light beam is scanned and those light rays are detected, which are transmitted through the body, but from distracted from a defect. The invention also relates to an apparatus for carrying out this method.

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8 1IÜNCHENT 80 · KIEBERISTK. * · JPOSTPACII 8C0730 · ICABEL:8 1IÜNCHENT 80 · KIEBERISTK. * JPOSTPACII 8C0730 ICABEL:

TEL. <OS0> 47 107» · ¹I¹ELKXTEL. <OS0> 47 107 »· ¹ I ¹ ELKX

Es ist "bekannt, daß Glaskörper wie Platten oder Bänder aus Flachglas Blasen und/oder andere lokale Fehlstellen haben können, "beispielsweise Aushöhlungen oder Steine. Blasen sind gasförmige Einschlüsse, welche durch einen Fehler in der Glasschmelze oder bei der Glasherstellung aufteten können. Aushöhlungen sind lokale Vertiefungen oder Ausnehmungen in der Oberfläche. Steine sind Partikeln aus feuerfestem Material, welches sich von den feuerfesten Ofenwänden oder der Auskleidung des Ofens durch Erosion abgelöst hat, oder es handelt sich um ungeschmolzene Partikeln, welche aus dem Glasbad herkommen. Das Vorhandensein von lokalen Fehlstellen in einem Glaskörper ist oft nicht tragbar, insbesondere nicht im Falle von durchsichtigen Glaskörpern, welche aufgrund ihrer Funktion eine hohe optische Qualität haben müssen. Im allgemeinen sind Blasen jedoch weniger schädlich als andere lokale Fehlstellen vergleichbarer Größe. Für bestimmte industrielle Anwendungen kann das Vorhandensein einer kleinen Blase oder selbst"einer kleineren Anzahl solcher Blasen im Glas tragbar sein, während Glas mit anderen lokalen Fehlstellen wie Steinen oder Aushöhlungen nicht verwendbar wäre. Dies ist deshalb der Fall, weil bei im übrigen gleichen Voraussetzungen eine Blase eine weniger nachteilige Auswirkung auf das Erscheinungsbild und die optischen Eigenschaften des Glases als andere lokale Fehlstellen hat.It is "known that glass bodies are made up of sheets or ribbons Flat glass may have bubbles and / or other local defects, "For example cavities or stones. Bubbles are gaseous inclusions, which are caused by a defect in the glass melt or during glass production. Holes are local depressions or recesses in the Surface. Stones are particles of refractory material that have become detached from the refractory furnace walls or the furnace lining due to erosion, or they are unmelted particles that come from the glass bath. The presence of local voids in a vitreous body is often not wearable, especially not in the case of transparent glass bodies, which due to their function a must have high optical quality. In general, however, bubbles are less damaging than other local defects that are comparable Size. For certain industrial applications, the presence of a small bubble or even "a smaller one." Number of such bubbles in the glass can be tolerated, while glass with other local defects such as stones or cavities cannot would be usable. This is the case because, for the rest of the same conditions, one bladder is a less disadvantageous one Effect on the appearance and the optical properties of the glass than other local defects.

Es sind Verfahren bekannt, mit welchen das Vorhandensein von Fehlstellen wie Steinen und Blasen in einem Glaskörper automatisch ermittelt werden kann. Solche Methoden basieren auf der Bestrahlung des Glaskörpers mit einem Lichtbündel und der Abtastung von Lichtstrahlen, welche von einer Fehlstelle abgelenkt werden. . .There are known methods with which the presence of defects such as stones and bubbles in a glass body automatically can be determined. Such methods are based on irradiating the glass body with a light beam and scanning it of light rays that are deflected by a defect. . .

Bei einigen bekannten Methoden wird der Reflexionswinkel von Lichtstrahlen vom Körper dazu verwendet, zur Anzeige einerIn some known methods, the angle of reflection of light rays from the body is used to indicate a

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Fehlstelle zu dienen. Bei einem, anderen bekannten Verfahren werden Detektoren dazu verwendet, Lichtstrahlen abzutasten, welche durch den Glaskörper übertragen werden, wobei sie jedoch durch eine darin vorhandene !Fehlstelle abgelenkt werden. Die bekannten Methoden erfüllen die Erfordernisse der Industrie nach einer Methode zur Prüfung von Glaskörpern auf das Vorhandensein von Blasen und/oder anderen lokalen Fehlstellen nicht. Die bekannten Methoden leiden insbesondere unter dem Nachteil, daß sie zwischen Blasen und anderen Arten von lokalen Fehlstellen nicht unterscheiden können. Diese verschiedenen Fehlstellen erzeugen dasselbe Prüfungsergebnis. Deshalb können die bekannten Methoden nicht zur Klassifizierung oder Klassierung von Glaskörpern in verschiedene Qualitätsgrade verwendet werden, bei denen nicht nur das Vorhandensein, sondern vielmehr auch die Art von Fehlstellen berücksichtigt ist.Serve missing spot. In another known method Detectors are used to scan light beams transmitted through the vitreous, whereby they however, be distracted by an existing! The known methods meet the requirements of the industry according to a method for testing vitreous bodies for the presence of bubbles and / or other local defects. The known methods suffer in particular from the disadvantage that they cannot distinguish between bubbles and other types of local defects. These various flaws produce the same test result. Therefore, the known methods cannot be used for classification or classification of vitreous bodies are used in different grades of quality, in which not only the presence, but rather the type of imperfections is also taken into account.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Prüfung von Glaskörpern zu schaffen, welches bei solchen Glaskörpern anwendbar ist, die in einer vorgegebenen Eichtung während der Herstellung gezogen werden, wobei Blasen automatisch ermittelt und von anderen Arten von lokalen Fehlstellen unterschieden werden können.The object of the invention is to create a method for testing glass bodies which can be used with such glass bodies that are drawn in a predetermined direction during manufacture, with bubbles being detected automatically and can be distinguished from other types of local defects.

Zur Lösung dieser Aufgabe dienen vor allem die im Patentbegehren niedergelegten Merkmale.The patent application in particular serves to solve this problem laid down characteristics.

Ein Effekt bei bestimmten Glasherstellungsverfahren besteht darin, daß unter Umständen auftretende Blasen in die Länge gezogen werden. Dies rührt daher, daß das Glas Dehnungskräften in einer Vorzugsrichtung ausgesetzt ist, während es in einem halbgeschmolzenen oder plastischen Zustand ist. Somit werden Blasen in einer Glasplatte oder einer Glasbahn, d. h. beiThere is an effect in certain glass manufacturing processes in that any bubbles that may appear are elongated. This is because the glass has tensile forces exposed in a preferential direction while it is in a semi-molten or plastic state. Thus become Bubbles in a glass plate or sheet, d. H. at

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durch. Ziehen erzeugtem Flachglas, fast immer in der Zugrichtung des Glases in die Länge gezogen.by. Pulling produced flat glass, almost always in the direction of pulling of the glass elongated.

Die Erfindung nutzt dieses Phänomen aus, bei welchem eine Glasblase in die Länge gezogen wird.The invention takes advantage of this phenomenon in which a glass bubble is drawn out.

Gegenstand der Erfindung ist somit ein Verfahren zur Prüfung eines Körpers aus Glas in Form einer Platte oder eines Bandes, welches während der Herstellung des Körpers in einer vorgegebenen Richtung gezogen wird, um Information über Fehlstellen in Form von Blasen und/oder anderen lokalen Fehlstellen zu bekommen, welche im Glas vorhanden sein können, wobei der Glaskörper mit einem Lichtbündel abgetastet wird und Lichtstrahlen ermittelt werden, welche von dem Körper übertragen werden, jedoch von Fehlstellen abgelenkt wurden, weil sie von Licht getroffen wurden, welches sich dadurch auszeichnet, daß während des Abtastens einer Fehlstelle das Lichtbündel so gerichtet wird, daß bei Abwesenheit einer Fehlstelle die übertragenen Lichtstrahlen immer einen vorgegebenen Punkt beleuchten, daß zur Ermittlung von abgelenkten Lichtstrahlen ein Detektorsystem verwendet wird, welches zwei Detektoren oder Detektorgruppen aufweist, welche in bezug auf den vorgegebenen Punkt in der Weise unterschiedlich angeordnet sind, daß während der integrierten Abtastperiode der Fehlstelle die Aufteilung der Gesamtzahl von Lichtimpulsen, welche auf die Detektoren auftreffen, . zwischen den verschiedenen Detektoren oder Detektorgruppen sich bei einer Blase von der Aufteilung bei einer anderen Fehlstelle unterscheidet, und daß von dem Detektorsystem Signale abgeleitet werden, welche für die Aufteilung repräsentativ sind, wobei diese Signale zur Anzeige der Art der Fehlstelle verwendet werden.The subject of the invention is thus a method for testing a body made of glass in the form of a plate or a tape, which during the manufacture of the body in a predetermined Direction is pulled to get information about imperfections in the form of bubbles and / or other local imperfections, which can be present in the glass, whereby the glass body is scanned with a light beam and light rays are detected which are transmitted by the body but have been deflected by imperfections because they are struck by light which is characterized by the fact that the light beam is directed during the scanning of a defect that in the absence of a defect, the transmitted light rays always illuminate a predetermined point that for Detection of deflected light rays using a detector system is used, which has two detectors or detector groups, which with respect to the predetermined point in the Way are arranged differently that during the integrated sampling period of the defect the division of the Total number of light pulses that hit the detectors, . between the various detectors or detector groups differ in the case of a bubble from the division in a different flaws, and that signals are derived from the detector system which are necessary for the division are representative, these signals being used to indicate the nature of the defect.

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Durch das erfindungsgemäße Verfahren ist der wesentliche Vorteil erreichbar, daß Fehlstellen in der Form von langgestreckten Blasen von anderen lokalen Fehlstellen wie Steinen oder Aushöhlungen unterschieden werden können. Folglich ermöglicht die Erfindung die Einteilung von Glaskörpern, welche Fehlstellen der oben genannten Art enthalten, in der Weise, daß automatisch abgestufte Qualitätsgruppen gebildet werden können, bei welchen nicht nur die Anzahl von Fehlstellen in einzelnen Körpern berücksichtigt ist, sondern auch die Art bzw. die Arten solcher Fehlstellen.The method according to the invention is the main advantage achievable that defects in the form of elongated bubbles from other local defects such as stones or Hollows can be distinguished. Consequently, the invention enables the classification of glass bodies, which defects of the type mentioned above, in such a way that automatically graded quality groups can be formed, in which not only the number of defects in individual bodies is taken into account, but also the type or types such imperfections.

Die Erfindung bedient sich der Erkenntnis, daß dann, wenn ein Teil eines Glaskörpers, der eine langgestreckte Blase enthält, mit einem Lichtbündel abgetastet wird, der größte eil des durch die Blase abgelenkten Lichtes aus dem Körper in solchen Eichtungen austritt, die in der Richtung, in welcher das Lichtbündel einfällt, unter einem kleineren Winkel in bezug auf die kleinere Achse angeordnet ist als in bezug auf die gößere Achse der Blase. Hingegen wird während der Abtastperiode einer anderen lokalen Fehlstelle wie eines Steins oder einer Aushöhlung das Licht (aufgrund von Fehlern, welche die Fehlstelle in der Geometrie der Glasoberfläche erzeugt) in solche Eichtungen abgelenkt, welche in der Sichtung des einfallenden Lichtes gleichförmiger über 360° um die Fehlstelle herum verteilt sind. Gemäß der Erfindung wird dieser Unterschied in der Winkelverteilung des abgelenkten Lichtes als Kriterium dafür ausgenutzt, ob die Fehlstelle, welche für die Lichtablenkung verantwortlich ist, eine Blase oder eine andere Fehlstelle ist. Die Verteilung wird abgetastet, indem zwei Detektoren oder zwei Detektorgruppen in geeigneter Weise angeordnet werden, so daß die Anzahl von Lichtimpulsen, welche auf einen Detektor oder auf eine Detektorgruppe auftreffen, (nachfolgend als "α-Detektor" bezeichnet) in Beziehung zu der Anzahl von Lichtimpulsen, welche auf den anderen Detektor oder die andere Detektorgruppe auftreffenThe invention makes use of the knowledge that when a part of a vitreous body containing an elongated bubble, is scanned with a light beam, most of the light deflected by the bladder out of the body in such Exits directions in the direction in which the light beam occurs at a smaller angle with respect to the minor axis than with respect to the major axis the bladder. On the other hand, another local defect such as a stone or a hollow is detected during the sampling period deflects the light (due to errors that the flaw creates in the geometry of the glass surface) in such directions, which in the sighting of the incident light are distributed more uniformly over 360 ° around the defect. According to the invention becomes this difference in angular distribution of the deflected light is used as a criterion to determine whether the defect is responsible for the light deflection there is a bubble or other imperfection. The distribution is scanned by two detectors or two detector groups be arranged in a suitable manner, so that the number of light pulses, which on a detector or on a Detector group impinge, (hereinafter referred to as "α-detector") in relation to the number of light pulses which on hit the other detector or the other detector group

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(nachfolgend "ß-Dektektor" genannt) kleiner ist, wenn die Winkelverteilung des abgelenkten Lichtes für eine typische Blase charakteristisch ist als in dein Fall, in welchem die Winkelverteilung eine Charakteristik hat, welche einem typischen Stein oder einer typischen Aushöhlung entspricht.(hereinafter referred to as "ß-detector") is smaller if the Angular distribution of the deflected light is characteristic of a typical bubble than in your case in which the Angular distribution has a characteristic which corresponds to a typical stone or a typical cavity.

Der α-Detektor oder die α-Detektoren können in einem extremen Fall eine solche Größe haben und derart angeordnet sein, daß kein abgelenktes Licht einen solchen Detektor oder solche Detektoren erreicht, wenn die Lichtablenkung einer typischen Blase entspricht. Bei der Prüfung der meisten Glaskörper, welche langgestreckte Blasen enthalten, wird es jedoch nicht im Falle jeder einzelnen Blase möglich sein, zu verhindern, daß ein gewisser Anteil des abgelenkten Lichtes auf einen der α-Detektoren auf trifft. Es ist unvermeidlich, daß eine bestimmte Veränderung in der Form und den Lichtablenkeigenschaften zwischen verschiedenen Fehlstellen desselben Typs auftreten. Es ist auch nicht notwendig, dies zu verhindern, da es leicht zu bewerkstelligen ist, eine elektronische Anzeige- und Berechnung seinrichtung vorzusehen, welche Lichtimpulse auf den α-Detektoren oder dem α-Detektor vernachlässigt, wenn ihre Anzahl ein vorgegebenes Kriterium nicht erfüllt, welches je nach dem geforderten Genauigkeitsgrad festgelegt werden kann, der bei der Unterscheidung zwischen verschiedenen Arten von Fehlstellen verlangt wird. Demgemäß ist es möglich und auch zu empfehlen, solche α- und ß-Detektoren zu verwenden, welche Lichtabtast oberflächen mit einer solchen räumlichen Ausdehnung haben, daß jeder von ihnen abgelenkte übertragene Lichtstrahlen in einem nennenswerten Winkelbereich um den oben genannten Bestrahlungsfleck herum aufnimmt.The α-detector or the α-detectors can in an extreme Case of such a size and be arranged so that no deflected light such a detector or such Detectors reached when the light deflection is a typical Bubble corresponds. However, when testing most vitreous humor containing elongated bubbles, it will not in the case of each individual bubble it may be possible to prevent a certain proportion of the deflected light from reaching one of the α detectors hits. It is inevitable that a certain Changes in shape and light deflecting properties occur between different defects of the same type. It it is also not necessary to prevent this as it is easy to do an electronic display and calculation device to provide which light pulses on the α-detectors or the α-detector are neglected if their number does not meet a given criterion, whichever can be determined according to the degree of accuracy required when distinguishing between different types of Defects are required. Accordingly, it is possible and also recommended to use such α and β detectors which Light scanning surfaces with such a spatial extent have that each of them deflected transmitted light rays in a significant angular range around the above Around the radiation spot.

Es hat sich als höchst zweckmäßig erwiesen, den zu untersuchenden Körper entlang von Linien abzutasten, welche im wesentlichen senkrecht zu der Richtung angeordnet sind, in welcher der KörperIt has proven to be most expedient to scan the body to be examined along lines which essentially are arranged perpendicular to the direction in which the body

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gezogen wird. In einem solchen Falle ist der α-Detektor oder sind die α-Detektoren derart angeordnet, daß sie nur angelenkte Lichtstrahlen empfangen, welche aus dem Körper unter mehr als einem vorgegebenen Winkel zu einer ersten gedachten Ebene austreten, welche die augenblickliche Achse des auftreffenden Bündels enthält, und senkrecht zu der Zugrichtung steht, und unter weniger als einem bestimmten Winkel gegenüber einer zweiten gedachten Ebene, welche die augenblickliche Achse des auftreffenden Bündels enthält und parallel zu der Zugrichtung angeordnet ist. Hingegen werden zweckmäßigerweise der ß-Detektor oder die ß-Detektoren derart angeordnet, daß sie nur abgelenkte Lichtstrahlen empfangen, welche unter weniger als einem bestimmten Winkel gegenüber der ersten gedachten Ebene und unter mehr als einem bestimmten Winkel gegenüber der zweiten gedachten Ebene austreten.is pulled. In such a case, the α-detector or the α-detectors are arranged in such a way that they are only hinged Receive light rays emerging from the body at more than a predetermined angle to a first imaginary plane emerge, which is the instantaneous axis of the incident Bundle, and perpendicular to the direction of pull, and at less than a certain angle to a second imaginary plane, which is the instantaneous axis of the incident Contains bundle and is arranged parallel to the direction of pull. On the other hand, the ß-detector or the ß-detectors are arranged in such a way that they only receive deflected light beams which are less than a certain one Angle with respect to the first imaginary plane and at more than a certain angle with respect to the second imaginary plane Exit level.

Vorzugsweise ist die Anordnung derart getroffen, daß die verschiedenen Detektoren oder Detektorgruppen jeweils in bezug aufeinander derart angeordnet sind, daß keine Überlappung der Winkel auftritt, welche die verschiedenen Detektoren oder Detektorgruppen in bezug auf die Mitte des vorgegebenen Bestrahlungspunkte aufweisen, welcher durch Lichtstrahlen beleuchtet wird, wenn sie nicht durch eine Fehlstelle abgelenkt werden.The arrangement is preferably made such that the various Detectors or detector groups in each case with respect to one another are arranged such that there is no overlap of the angles which the various detectors or detector groups with respect to the center of the predetermined irradiation point which is illuminated by light rays when they won't be distracted by a flaw.

Es kann ein einzelner α-Detektor und ein einzelner ß-Detektor verwendet werden, wobei diese Detektoren in benachbarten gedachten Quadranten angeordnet sind, welche konzentrisch in bezug auf den oben genannten Bestrahlungsfleck oder Bestrahlungspunkt angeordnet sind. Vorzugsweise ist jedoch vorgesehen, daß zwei Detektoren in einer ersten Detektorgruppe vorhanden sind (a-Detektoren), deren Mitten winkelmäßig einen Abstand von 180° um den vorgegebenen Bestrahlungspunkt haben, und daß zwei Detektoren in einer zweiten Detektorgruppe vorhanden sind (ß-Detektoren) deren Mitten ebenfalls winkelmäßig in bezug aufeinander einenA single α-detector and a single β-detector can be used, these detectors imaginary in adjacent ones Quadrants are arranged which are concentric with respect to the above-mentioned irradiation spot or irradiation point are arranged. However, it is preferably provided that two detectors are present in a first detector group (a detectors), the centers of which are angularly spaced 180 ° from the predetermined irradiation point, and that two detectors in a second detector group there are (β-detectors) the centers of which are also angularly relative to one another

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ORIGINAL INSPECTEDORIGINAL INSPECTED

Abstand von 180° um den vorgegebenen Punkt aufweisen, und von den Mitten der α-Detektoren einen Abstand von 90° haben.Have a distance of 180 ° around the specified point, and have a distance of 90 ° from the centers of the α-detectors.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes ist vorgesehen, daß die Position auf dem Glaskörper, in welcher eine Fehlstelle ermittelt wird, in Form von Koordinaten aufgezeichnet wird, welche die Positionen festlegen, welche von dem Abtastpunkt eingenommen werden, der mit der Abtastung des Lichtes durch einen oder mehrere der Detektoren zusammenfällt. Eine solche Art der Aufzeichnung ist zweckmäßig, wenn der Körper anschließend in verschiedene Teile geschnitten werden soll, und zwar nach einem Schneidplan, der veränderbar ist, um die Positionen zu berücksichtigen, an welchen Fehlstellen im Körper vorhanden sind. Die Positionen solcher Fehlstellen können beispielsweise in einem Speicher abgespeichert werden und/oder können signalweise einem Rechner bzw. einer elektronischen Datenverarbeitungsanlage zugeführt werden, deren Ausgangssignal eine Schneideinrichtung automatisch steuert. Eine solche integrierte Prüf- und Schneidanlage ist in einer Flachglas-Herstellungsanlage außerordentlich vorteilhaft. Die Prüfmeth,ode kann auf verschiedene Platten von Flachglas angewandt .werden oder vorzugsweise auf ein kontinuierliches Glasband während seiner Herstellung.According to a preferred embodiment of the subject matter of the invention it is provided that the position on the glass body in which a defect is determined is in the form of coordinates is recorded, which determine the positions which are occupied by the sampling point which is associated with the Scanning the light by one or more of the detectors coincides. Such a type of recording is useful, if the body is then to be cut into different parts, according to a cutting plan that can be changed is to take into account the positions at which imperfections are present in the body. The positions of such imperfections can for example be stored in a memory and / or can be sent signal-wise to a computer or an electronic Data processing system are supplied, the output signal of which controls a cutting device automatically. Such an integrated testing and cutting system is extremely advantageous in a flat glass manufacturing system. the Testing method can be applied to various sheets of flat glass .be or, preferably, on a continuous ribbon of glass during its manufacture.

In Abhängigkeit von den Querschnittsabmessungen des Lichtbündels und von der Anzahl der Abtastungen, welche das Lichtbündel pro Zeiteinheit dem Glaskörper entlang durchführt, kann eine Fehlstelle bei einer Querabtastung oder bei einer Mehrzahl von aufeinander folgenden Querabtastungen des Bündels ermittelt werden. In jedem Falle wird die Art einer ermittelten Fehlstelle durch die Lichtimpulsanteile erkannt, die in vorgegebener Weise zwischen verschiedenen Detektoren oder Detektorgruppen verteilt sind, wenn während der integrierten Abtastperiode der Fehlstelle solche Lichtimpulse erzeugt werden.Depending on the cross-sectional dimensions of the light beam and on the number of scans, which the light beam per unit of time along the glass body, a defect in a transverse scan or in a plurality of determined by successive transverse scans of the bundle will. In any case, the type of a detected defect is recognized by the light pulse components, which are in a predetermined manner are distributed between different detectors or detector groups if during the integrated sampling period of the defect such light pulses are generated.

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Die Querschnittsgröße des Lichtbündels ist vorzugsweise genau so groß wie oder kleiner als die Projektionsfläche einer durchschnittlichen lokalen Fehlstelle wie eines Steins, einer Aushöhlung oder einer langgestreckten Blase. Somit hat das Bündel einen Durchmesser von 2 mm oder weniger.The cross-sectional size of the light beam is preferably exactly as large as or smaller than the projection area of a average local defect such as a stone, a hollow or an elongated bubble. So that has Bundles 2mm or less in diameter.

Weiterhin ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Bündelquerschnitt sf lache und/oder die Anzahl der Querabtastungen des Lichtbündels pro Längeneinheit des Glaskörpers derart gewählt sind, daß eine beliebige Fehlstelle mehrmals überschritten wird. Dabei ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Wege, welche vom Bündel in aufeinander folgenden Querabtastungen durchlaufen werden, sich gegenseitig überlappen, wodurch jeder Punkt einer Fehlstelle mehrmals abgetastet wird.Furthermore, it is preferably provided that the bundle cross-section sf area and / or the number of transverse scans of the Light bundles per unit length of the glass body are chosen such that any defect is exceeded several times will. It is preferably provided that the paths which the bundle traverses in successive transverse scans overlap each other, whereby each point of a flaw is scanned several times.

Vorzugsweise ist das verwendete Lichtbündel ein Laserlichtbündel. Der Vorteil der Verwendung eines Lasers besteht darin, daß das durch den Glaskörper projezierte Bündel parallel sein kann und einen sehr kleinen Querschnitt haben kann, wobei es zugleich eine verhältnismäßig große Intensität aufweist, so daß es leicht abzutasten ist. Vorzugsweise wird ein Laser verwendet, der ein Bündel aussendet, welches einen Durchmesser von 1 bis 2 mm aufweist. Ein geeigneter Laser ist ein Helium-Neon-Laser, Type 165» welcher rotes Licht von 6329 A aussendet und von der Firma Optique d¹Instrument de Precision S.A., Ghent, Belgien hergestellt und vertrieben wird.The light bundle used is preferably a laser light bundle. The advantage of using a laser is that the bundle projected through the glass body can be parallel and have a very small cross-section, while at the same time having a relatively high intensity so that it can be easily scanned. A laser is preferably used which emits a beam which has a diameter of 1 to 2 mm. A suitable laser is a helium-neon laser, type 165 »which emits red light of 6329 A and is manufactured and sold by the company Optique d ¹ Instrument de Precision SA, Ghent, Belgium.

Gemäß der Erfindung kann vorzugsweise vorgesehen sein, daß nicht nur die Position und die Art einer Fehlstelle angezeigt werden, sondern auch ihre Größe. Somit werden in bestimmten Ausführungsformen des Erfindungsgegenstandes Signale direkt oder indirekt von den Detektoren abgeleitet, welche die Größe einer Fehlstelle angeben. In bestimmten Ausführungsformen wird die Anzahl, mit welcher eine vorgegebene Fehlstelle durch dasAccording to the invention it can preferably be provided that not only the position and type of a defect are displayed, but also its size. Thus, in certain Embodiments of the subject matter of the invention signals derived directly or indirectly from the detectors indicating the size indicate a defect. In certain embodiments, the number of times a given defect is caused by the

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Lichtbündel während einer vollständigen Abtastung der Fehlstelle überstrichen wird, als ein Maß der Größe der Fehlstelle verwendet.Light beam is swept over during a complete scan of the defect, as a measure of the size of the defect used.

Weiterhin ist vorzugsweise vorgesehen, daß der Glaskörper . entlang einem Weg verlagert wird und daß der Bestrahlungspunkt in wiederholter Weise entlang einer Linie quer zu diesem Weg bewegt wird, wodurch der Körper linienweise abgetastet wird. Dies ist ein zweckmäßiger Weg, die gesamte Fläche eines Glaskörpers abzutasten. Wenn die Abtastung auf diese Art erfolgt, hängt die Anzahl der Querabtastungen, mit welcher eine vorgegebene Fehlstelle durch das Lichtbündel überstrichen wird, teilweise von der Länge der Fehlstelle ab, gemessen in der . Richtung der Verlagerung des Glaskörpers. Wenn angenommen wird, daß das Lichtbündel mit konstanter Geschwindigkeit quer über den Glaskörper streicht, kann diese Länge als Funktion der Anzahl von Querabtastungen der Fehlstelle durch das Lichtbündel und der Bewegungsgeschwindigkeit des Glaskörpers ausgedrückt v/erden. Es ist daher einfach, durch eine entsprechende elektronische Einrichtung eine automatische Anzeige der Fehlstellenlängen zu erzeugen. Allgemein gesagt, es genügt, die Fehlstellenlänge zu messen, weil für eine Fehlstelle einer bestimmten Art die Länge für die Größe der Fehlstelle ein ausreichendes Kriterium darstellt. Es ist nicht notwendig (obwohl es möglich ist), eine Anzeige für die Breite der Fehlstelle zu erzeugen, welche die Dauer der abgelenkten Lichtimpulse beeinflußt, so daß daher auch die integrierte Periode der abgelenkten Lichtabtastung während jeder Querabtastung der Fehlstelle durch das Lichtbündel beeinflußt wird. Furthermore, it is preferably provided that the glass body. is displaced along a path and that the irradiation point is moved in a repeated manner along a line transverse to this path, whereby the body is scanned line by line. This is a convenient way of scanning the entire surface of a glass body. When the scan is done in this way, depends on the number of transverse scans with which a given defect is covered by the light beam, partly on the length of the defect, measured in the. Direction of displacement of the vitreous. If it is assumed that the light beam sweeps across the glass body at a constant speed, this length can be a function of the number of transverse scans of the defect by the light beam and the speed of movement of the vitreous in terms of v / ground. It is therefore easy to use through an appropriate electronic Device to generate an automatic display of the length of the flaws. Generally speaking, the length of the flaw is sufficient to be measured because for a flaw of a certain type the length for the size of the flaw is a sufficient criterion represents. It is not necessary (although it is possible) to generate an indication of the width of the void that the The duration of the deflected light pulses is influenced, so that therefore also the integrated period of the deflected light sample is influenced by the light beam during each transverse scan of the defect.

Vorzugsweise wird das Lichtbündel oder zumindest ein Teil davon, welcher den Glaskörper bestrahlt, während der Abtastung parallel zu sich selbst verlagert. Durch diese Vorgehensweise werdenThe light bundle or at least a part of it, which irradiates the glass body, is preferably parallel during the scanning shifted to yourself. By doing this you will be

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Komplikationen, welche "bei einer genauen Abtastung der Lichtablenkung dann auftreten könnten, wenn der Einfallwinkel des Lichtbündels auf das Glas sich ändert, in vorteilhafter Weise ■vermieden, und die Methode kann leichter ausgeführt werden.Complications, which "with an accurate scan of the light deflection could occur when the angle of incidence of the light beam on the glass changes, in an advantageous manner ■ avoided and the method is easier to perform.

Gemäß einer "bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird ein System von Lichtreflektoren in Verbindung mit einer stationären Lichtquelle und stationären α- und ß-Detektoren verwendet, um wiederholte Querabtastdurchgänge des Glaskörpers durch ein Lichtbündel zu erzeugen, welches parallel zu sich selbst "bleibt, wobei das Lichtbündel im Falle eines Glaskörpers, der als flache Platte oder flaches Band ausgebildet ist, vorzugsweise senkrecht zu der Ebene der Platte oder des Bandes angeordnet ist. Auf diese Weise ist es möglich, außerordentlich rasche Abtastungen des Körpers durchzuführen und ein sehr genaues Abtastsystem aufzubauen. Beispielsweise kann in Verbindung mit der stationären Lichtquelle ein schnell oszillierender Reflektor wie ein Prismenreflektor verwendet werden, welcher ein reflektiertes Bündel in rascher schwingender Bogenbewegung reflektiert, und es kann ein Paar von stationären gekrümmten Reflektoren verwendet werden, welche jeweils vor und hinter dem Glaskörper angeordnet sind. Das entsprechende mit Genauigkeit bewegte Lichtbündel wird durch den Glaskörper hindurch reflektiert, und zwar als ein Bündel, welches-sich parallel bewegt, und die austretenden Strahlen werden an die Stelle der stationären Detektoren reflektiert.According to a "preferred embodiment of the invention Method is a system of light reflectors in connection with a stationary light source and stationary α- and ß-detectors are used to produce repeated transverse scan passes of the vitreous through a beam of light, which parallel to itself "remains, the light beam in the case of a glass body, which is designed as a flat plate or flat ribbon is, is preferably arranged perpendicular to the plane of the plate or tape. In this way it is possible to perform extremely rapid scans of the body and to build up a very precise scanning system. For example A rapidly oscillating reflector such as a prism reflector can be used in conjunction with the stationary light source which reflects a reflected beam in rapid oscillating arc motion, and there can be a pair of stationary curved reflectors are used, which are arranged in front of and behind the glass body. The corresponding Light bundle moved with precision is reflected through the glass body as a bundle which-itself moves in parallel, and the emerging rays are reflected in the place of the stationary detectors.

Weiterhin ist Gegenstand der Erfindung eine Vorrichtung zur Prüfung eines Körpers aus "Glas in Form einer Platte oder eines Bandes, welches während der Herstellung des Körpers in einer vorgegebenen Richtung gezogen wurde, um Information über Fehlstellen in Form von Blasen und/oder anderen lokalen Fehlstellen zu erhalten, die im Glas vorhanden sein können, wobei die Vorrichtung eine ^Halterung für einen solchen Körper in einerThe invention also relates to a device for Testing of a body made of "glass in the form of a plate or tape, which during the manufacture of the body in a predetermined direction was drawn to provide information about imperfections in the form of bubbles and / or other local imperfections to obtain that may be present in the glass, the device being a ^ holder for such a body in a

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vorgegebenen Zone aufweist, wobei weiterhin eine Einrichtung zur Abtastung wenigstens eines Teils dieser Zone mit einem Lichfbündel vorhanden ist und wobei eine Einrichtung zur Abtastung von Lichtstrahlen'vorhanden ist, welche durch eine Fehlstelle in dem Körper abgelenkt wurden, welche sich dadurch auszeichnet, daß die Abtasteinrichtung derart ausgebiX-det und angeordnet ist, daß sie das Lichtbündel in der Weise richtet, daß Lichtstrahlen, welche durch den Körper übertragen wurden, der von Fehlstellen frei ist, stets einen vorgegebenen Punkt beleuchten, daß die Einrichtung zur Abtastung von abgelenkten Lichtstrahlen zwei Detektoren oder zwei Gruppen von Detektoren aufweist, welche so unterschiedlich in bezug auf den vorgegebenen Punkt angeordnet sind, daß während der integrierten Abtastperiode der Fehlstelle die Aufteilung der Gesamtzahl von Lichtimpulsen, welche auf die Detektoren auftreffen, zwischen den verschiedenen Detektoren.oder Detektorgruppen bei einer Blase anders ist als bei einer Fehlstelle eines anderen Typs, und daß von dem Detektorsystem Signale ableitbar sind, welche diese Aufteilung anzeigen, wobei diese Signale zur Anzeige des Typs der Fehlstelle verwendbar sind.having predetermined zone, wherein further a device for scanning at least a part of this zone with a Lichfbündel is present and wherein a device for scanning of light rays' is present, which have been deflected by a defect in the body, which is thereby is characterized by the fact that the scanning device is designed and arranged in such a way that it captures the light beam in such a way directs that light rays which have been transmitted through the body, which is free from defects, always have a predetermined one Point illuminate that the device for scanning deflected light beams has two detectors or two groups of detectors which are so differently arranged with respect to the predetermined point that during the integrated sampling period of the defect the distribution of the total number of light pulses that hit the detectors, between the different detectors. or detector groups one blister is different from another's blemish Type, and that signals can be derived from the detector system which indicate this division, these signals being used for display of the type of defect are usable.

Die durch die erfindungsgemäße Vorrichtung erreichbaren Vorteile lassen sich leicht aus den oben für das erfindungsgemäße Verfahren genannten Vorteilen ableiten, und die Vorteile der nachfolgend genannten bevorzugten Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung entsprechen den Vorteilen, wie sie oben für bevorzugte Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Verfahrens angegeben sind.The advantages that can be achieved by the device according to the invention can easily be derived from the advantages mentioned above for the method according to the invention, and the advantages of preferred embodiments of the invention mentioned below Device correspond to the advantages, as described above for preferred embodiments of the invention Procedure are specified.

Vorzugsweise ist vorgesehen, daß die verschiedenen Detektoren oder Detektorgruppen in bezug aufeinander derart angeordnet sind, daß keine Überlappung der Winkel vorhanden ist, welche die verschiedenen Detektoren oder Detek tor gruppen um die MitteIt is preferably provided that the various detectors or detector groups are arranged in relation to one another in this way are that there is no overlap of the angles which the various detectors or detector groups around the center

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des vorgegebenen Bestrahlungspunktes bilden, welcher durch Lichtstrahlen getroffen wird, wenn sie nicht durch eine Fehlstelle abgelenkt wurden.of the given irradiation point, which by Light rays are hit if they have not been deflected by a flaw.

Weiterhin ist vorzugsweise vorgesehen, daß zwei Detektoren in einer ersten Detektorgruppe vorhanden sind (α-Detektoren), deren Mittel winkelmäßig einen Abstand von 180° um den vorgegebenen Bestrahlungspunkt haben, und daß zwei Detektoren in einer zweiten Detektorgruppe vorhanden sind (ß-Detektoren), deren Mittel ebenfalls winkelmäßig in bezug aufeinander einen Abstand von 180° um den vorgegebenen Punkt aufweisen, und von den Mitten der α-Detektoren einen Abstand von 90° haben»Furthermore, it is preferably provided that two detectors are present in a first detector group (α detectors), the means of which are angularly spaced 180 ° from the predetermined irradiation point, and that two detectors in a second detector group are present (ß-detectors), the means also angularly with respect to each other a Have a distance of 180 ° around the given point, and have a distance of 90 ° from the center of the α detectors »

Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung des Erfindungsgegenstandes ist weiterhin vorgesehen, daß eine Einrichtung vorhanden ist, welche dazu dient, die Position auf dem Glaskörper zu registrieren, bei welcher eine Fehlstelle ermittelt wird, und zwar in Form von Koordinaten, welche die Positionen festlegen, die der Abtastpunkt einnimmt, wenn er mit der Abtastung von Licht von einem oder mehreren Detektoren übereinstimmt.According to an advantageous further development of the subject matter of the invention it is also provided that a device is present which serves to determine the position on the glass body to register, in which a defect is determined, in the form of coordinates that define the positions, which the sample point occupies when it coincides with the sample of light from one or more detectors.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes ist vorgesehen, daß die Abtasteinrichtung derart angeordnet und ausgebildet ist, daß sie ein Lichtbündel in diese Zone projiziert, dessen Querschnittsgröße etwa genau so groß ist wie oder kleiner als die Projektionsfläche einer durchschnittlichen lokalen Fehlstelle wie eines Steins, einer Aushöhlung oder einer langgestreckten Blase. Beispielsweise kann das Bündel einen Durchmesser von 2 mm oder weniger aufweisen.According to a further preferred embodiment of the subject matter of the invention, it is provided that the scanning device is arranged and designed so that it projects a light beam into this zone, the cross-sectional size of which is approximately exactly the same is as large as or smaller than the projection area of an average local defect such as a stone, a hollow or an elongated bubble. For example, the bundle can have a diameter of 2 mm or less.

Weiterhin ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Abtasteinrichtung derart angeordnet und ausgebildet ist, daß sie ein Bündel einer solchen Größe projiziert, und den Körper in einer Längeneinheit so häufig abtastet, daß eine beliebige Fehlstelle durch das Lichtbündel mehrmals überstrichen wird.Furthermore, it is preferably provided that the scanning device is arranged and designed in such a way that it forms a bundle projected such a size, and the body in a unit of length so often scanned that any flaw through the light beam is swept over several times.

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Dabei ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Abtasteinrichtung derart angeordnet und ausgebildet ist, daß sie ein solches Lichtbündel projiziert, daß die Wege, welche von dem Lichtbündel bei aufeinander folgenden Durchgängen über- -strichen werden, sich gegenseitig überlappen.It is preferably provided that the scanning device is arranged and designed such that it is a such a light beam is projected that the paths which the light beam traversed in successive passes will overlap each other.

In bevorzugten Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung xueist die Abtasteinrichtung einen Laser als Lichtbündelquelle auf. .In preferred embodiments of the device according to the invention xueist the scanning device on a laser as a light beam source. .

Vorzugsweise sendet der Laser ein Lichtbündel mit einem Durchmesser von 1 bis 2 mm aus.The laser preferably sends a light beam with a diameter from 1 to 2 mm.

Weiterhin ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Detektoren eine Signal erz eugungseinrichtung aufweisen oder mit einer solchen Einrichtung verbunden sind, welche derart ausgebildet ist, daß sie Signale erzeugt, welche für die Größe irgendeiner Fehlstelle repräsentativ sind.Furthermore, it is preferably provided that the detectors have a signal generating device or with one such device are connected, which is designed such that it generates signals which for the size of any Defect are representative.

Dabei ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Signalerzeugungseinrichtung einen Zähler aufweist, welcher derart ausgebildet ist, daß er die Anzahl der Abtastvorgänge zählt, mit welchen eine vorgegebene Fehlstelle vom Lihhtbündel überstrichen wird.It is preferably provided that the signal generating device has a counter which is designed such that it counts the number of scans with which a predetermined defect is covered by the bundle of light.

In bevorzugten weiteren Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist vorgesehen, daß die Halterung eine Fördereinrichtung ist, welche dazu dient, den Glaskörper entlang einem Weg zu führen, und daß die Abtasteinrichtung derart angeordnet und ausgebildet ist, daß sie ein Lichtbündel liefert, welches eine Linie quer zu dem Weg des Glaskörpers wiederholt abtastet.In preferred further embodiments of the invention Device is provided that the holder is a conveyor which serves to the glass body along a To lead away, and that the scanning device is arranged and designed such that it delivers a light beam which repeatedly scans a line across the path of the vitreous.

Zweckmäßigerweise ist die Anordnung weiterhin derart getroffen, daß die Abtasteinrichtung derart ausgebildet ist, daß sie ein· Lichtbündel projiziert, welches zumindest in der Zone für dieThe arrangement is expediently made in such a way that that the scanning device is designed in such a way that it Projected light beam, which at least in the zone for the

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Halterung des Körpers sich parallel zu sich, selbst "bewegt.Holding the body parallel to itself "emotional.

Dabei entspricht es einer vorteilhaften Anordnung, daß die Detektoren stationär angeordnet sind und daß die Abtasteinrichtung eine stationäre Lichtquelle und wenigstens einen bewegbaren Reflektor aufweist, welcher dazu dient, wiederholte Abtastdurchgänge hervorzurufen.It corresponds to an advantageous arrangement that the detectors are arranged in a stationary manner and that the scanning device has a stationary light source and at least one movable reflector, which is used to cause repeated scan passes.

Schließlich ist vorzugsweise vorgesehen, daß die Halterung eine Ebene festlegt, in welcher eine Glasplatte oder ein Glasband angeordnet sein kann, und daß die Abtasteinrichtung derart ausgebildet ist, daß sie ein Lichtbündel senkrecht zu einer solchen Ebene liefert.Finally, it is preferably provided that the holder defines a plane in which a glass plate or a Glass ribbon can be arranged, and that the scanning device is designed such that it emits a light beam perpendicularly at such a level delivers.

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- 1b -- 1b -

Die Erfindung wird nachfolgend "beispielsweise anhand der Zeichnung "beschrieben; in dieser zeigen:The invention is hereinafter "for example based on the Drawing "; in this show:

Fig. 1 den allgemeinen Aufbau der optischen Bauteile der Vorrichtung in bezug auf einen in der Untersuchung befindlichen Körper und eine Einheit der elektronischen Recheneinrichtung,1 shows the general structure of the optical components of the device with respect to a body under investigation and a unit of the electronic Computing device,

Fig. 2 ein Diagramm, welches Teile der Fotodetektoreinheit veranschaulicht,Fig. 2 is a diagram illustrating parts of the photodetector unit;

Fig. 3 eine Draufsicht auf eine Anordnung, welche Einzelheiten eines Lichtbündeloszillators darstellt, sowie einen Teil eines zugehörigen Lichtpunktmonitors, undFig. 3 is a plan view of an arrangement showing details of a light beam oscillator, and a Part of an associated light point monitor, and

Fig. 4- ein Diagramm des elektronischen Rechen sy st ems.Fig. 4- is a diagram of the electronic computing system.

Gemäß Fig. 1 sendet ein Laser 1 ein Lichtbündel aus, welches einen Durchmesser von 1 bis 2 mm aufweist. Das Bündel wird mit Hilfe eines Prismas 2 abgelenkt, welches durch einen Motor 3 in Vibration versetzt wird. Durch die Vibration des Prismas wird das Lichtbündel mit einer Frequenz von 50 Hz hin und her bewegt, d. h. es führt 100 hin und her gehende Bewegungen pro Sekunde aus. ·According to FIG. 1, a laser 1 emits a light beam which has a diameter of 1 to 2 mm. The bundle comes with With the help of a prism 2, which is caused to vibrate by a motor 3, is deflected. By the vibration of the prism the light beam is back and forth with a frequency of 50 Hz moved, d. H. it performs 100 reciprocating movements per second. ·

Ein gekrümmter Reflektor 4, der eine Länge von 4- m aufweist, ist auf einem Abstand von 8 m vom Prisma angeordnet und reflektiert das Lichtbündel auf eine Glasscheibe oder ein Glasband 5> welches eine Breite von 360 cm aufweist und untersucht werden soll. Die Glasscheibe oder das Glasband wird in seiner eigenen Ebene weitertransportiert, und zwar in einer Richtung parallel zu seinem vorderen und seinem rückwärtigen Rand, in bezug auf die Zeichnung, wozu eine (nicht dargestellte) Fördereinrichtung verwendet vrird. Infolge dieser Bewegung und der hin und herA curved reflector 4, which has a length of 4 m, is arranged at a distance of 8 m from the prism and reflects the light beam onto a pane of glass or a ribbon of glass 5> which has a width of 360 cm and is examined target. The glass pane or the glass ribbon is transported on in its own plane, namely in a parallel direction to its front and rear edge, with reference to the drawing, including a conveyor (not shown) uses vrird. As a result of this movement and the back and forth

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gehenden Bewegung des Lichtbündels tastet das Lieh.foündel die Scheibe oder das Band entlang aufeinander folgender Querlinien wie 6 ab. Die Bewegungsgeschwindigkeit der Glasplatte oder des Glasbandes wird derart gewählt, daß das Glas sich während Jedes Abtastdurchganges des Lichtbündels nur um 0,1 bis 0,2 mm weiterbewegt, so daß jede Querlinie wie 6 fast senkrecht zu der Transportrichtung des Glases verläuft.Moving movement of the light beam, the light beam feels the Disc or tape along successive transverse lines like 6 from. The speed of movement of the glass plate or the glass ribbon is chosen so that the glass is during Each scanning pass of the light beam is only moved 0.1 to 0.2 mm, so that each transverse line such as 6 is almost perpendicular to the direction of transport of the glass.

Ein zweiter gekrümmter Reflektor 7 ist auf der gegenüberliegenden Seite des Glasbandes oder der Glasscheibe in bezug auf den ersten Reflektor 4 angeordnet. Der Spiegel 7 reflektiert das Abtastlichtbündel (wenn es nicht durch eine Fehlstelle im Glas abgelenkt wird), auf einen festen Punkt 8, der in der Mitte einer Abtastzone auf einer Abtasteinheit 9 angeordnet ist. Wenn das Lichtbündel auf eine Fehlstelle im Glas auftrifft, wird das Bündel momentan abgelenkt, und der Weg, in welchem die Lichtstrahlen, welche während des Abtastvorganges einer Fehlstelle abgelenkt werden, winkelmäßig um den Weg verteilt werden, entlang welchem das Lichtbündel von der Glasplatte oder dem Glasband ausgehen würde, wenn keine störende Ablenkung erfolgen würde, ist ein Kriterium dafür, ob die Fehlstelle eine Blase oder eine andere lokale Fehlstelle ist. Abgelenkte Lichtbündel werden nicht durch den Reflektor auf den zentralen Punkt 8 reflektiert, sondern sie werden durch diesen Reflektor auf einen oder mehrere von vier Fotodetektoren 10, 11, 12, 13 reflektiert, welche um diesen Punkt herum angeordnet sind. A second curved reflector 7 is on the opposite side of the ribbon or sheet of glass with respect to the first reflector 4 arranged. The mirror 7 reflects the scanning light bundle (if it is not through a flaw in the glass is deflected), to a fixed point 8, which is arranged in the middle of a scanning zone on a scanning unit 9. if the light beam hits a flaw in the glass, will the bundle momentarily deflected, and the path in which the light rays, which during the scanning process of a flaw be deflected, angularly distributed around the path along which the light beam from the glass plate or The glass ribbon would run out if there were no disturbing deflection is a criterion for whether the defect is a There is a blister or other local defect. The reflector does not deflect light bundles onto the central point 8, but they are reflected by this reflector onto one or more of four photodetectors 10, 11, 12, 13 which are arranged around this point.

Wenn eine langgestreckte Blase im Glas vorhanden ist, so liegt die Hauptachse dieser Blase in der Längsrichtung des Bandes oder der Scheibe, d. h. in der Richtung, in welcher die Scheibe oder das Band weitertransportiert wird, während die kleinere Achse der Blase im wesentlichen parallel zu der quer verlaufenden Abtastlinie 6 angeordnet ist. Lichtstrahlen, welche auf dieIf there is an elongated bubble in the glass, the major axis of this bubble is in the longitudinal direction of the ribbon or the disc, d. H. in the direction in which the disc or tape is advanced, while the smaller one The axis of the bubble is arranged substantially parallel to the transverse scan line 6. Rays of light that hit the

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Grenzfläche einer solchen Blase auftreffen, werden in der Weise abgelenkt, daß sie unter einem Winkel zu der Verlangerungsachse des Lichtbündels aus dem Glas austreten, in bezug auf die Einfallsrichtung des Lichtes. Lichtstrahlen, welche durch irgendeine Fehlstelle abgelenkt werden, können so angesehen werden, als ob sie von der Glasscheibe oder dem Glasband aus in einer oder mehreren gedachten Ebenen verlaufen, welche in verschiedenen Sichtungen von einer gemeinsamen Linie ausgehen, die mit der verlängerten Achse des einfallenden Lichtbündels zusammenfällt. In bezug auf die Richtung, in welcher das Lichtbündel auf das Glas auftrifft, treten Lichtstrahlen, welche durch eine Blase abgelenkt werden, hauptsächlich aus dem Glas in solchen Strahlungsebenen aus, welche unter einem kleineren Winkel zu der Querlinie 6 (und somit zu der kleineren Achse der Blase) als zu der Längsrichtung des Glasbandes oder der Glasplatte angeordnet sind (welche der Richtung der größeren Achse der Blase entspricht). Solche Strahlen,-welche durch eine Blase abgelenkt werden, werden folglich meistens durch den Spiegel 7 bh Stellen reflektiert, welche seitlich in bezug auf den zentralen Punkt 8 angeordnet sind, so daß solche abgelenkte Strahlen auf die Detektoren 10 und 11 auftreffen. Diese Detektoren 10 und 11 bilden somit eine Einrichtung, welche oben als ß-Detektor bezeichnet wurde. Es besteht eine gewisse Wahrscheinlichkeit, daß einige Lichtstrahlen, welche von einer Blase abgelenkt wurden, aus dem Glas in Strahlungsebenen austreten, die unter einem kleineren Winkel in bezug auf die Längsrichtung des Glasbandes als in bezug auf die Querlinie 6 angeordnet sind, wobei solche Lichtstrahlen durch den Spiegel 7 an Stellen oberhalb und unterhalb des zentralen Punktes 8 reflektiert werden, wo sie auf die Fotodetektoren 12 und 13 auf treffen, die oben als α-Detektoren bezeichnet wurden. Während jedoch über die Abtastperiode integriert wird, bleibt die Anzahl von Lichtimpulsen auf diese α-Detektoren klein im Vergleich zu der Gesamtzahl der Lichtimpulse auf den 'The boundary surface of such a bubble are deflected in such a way that they emerge from the glass at an angle to the axis of extension of the light beam, with respect to the direction of incidence of the light. Light rays which are deflected by any flaw can be viewed as if they run from the glass pane or the glass ribbon in one or more imaginary planes, which in different views start from a common line, which is the extended axis of the incident light beam coincides. With regard to the direction in which the light beam strikes the glass, light rays which are deflected by a bubble emerge mainly from the glass in radiation planes which are at a smaller angle to the transverse line 6 (and thus to the minor axis of the bubble) than to the longitudinal direction of the glass ribbon or the glass plate (which corresponds to the direction of the major axis of the bubble). Such rays, which are deflected by a bubble, are consequently mostly reflected by the mirror 7 bh points which are arranged laterally with respect to the central point 8, so that such deflected rays impinge on the detectors 10 and 11. These detectors 10 and 11 thus form a device which was referred to above as a β detector. There is a certain probability that some light rays, which have been deflected by a bubble, emerge from the glass in radiation planes which are arranged at a smaller angle with respect to the longitudinal direction of the glass ribbon than with respect to the transverse line 6, such light rays through the mirror 7 are reflected at points above and below the central point 8, where they hit the photodetectors 12 and 13, which were referred to above as α-detectors. However, while integrating over the sampling period, the number of light pulses on these α detectors remains small compared to the total number of light pulses on the '

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ß-Detektoren 10 und 11. Die Häufigkeit, mit welcher eine Blasen-, fehlsteile vom Lichtbündel überquert wird, hängt von der Größe der Fehlstelle ab. Yorzugsweise wird die Anordnung derart getroffen, daß eine !Fehlstelle durchschnittlicher Größe mehrmals vom Lichtbündel überquert wird, während das Lichtbündel nacheinander das Glas überstreicht. Die abgelenkte Lichtverteilung, welche als Kriterium für die Art der Fehlstelle dient, ist diejenige Verteilung, welche sich ergibt, wenn über die vollständige Abtastung der Fehlstelle integriert wird, welche verschiedene Abtastdurchgänge erfordert.ß detectors 10 and 11. The frequency with which a bubble, missing parts is crossed by the light beam depends on the size of the defect. Preferably, the arrangement is such hit that an! average size defect is crossed several times by the light beam, while the light beam one after the other over the glass. The deflected light distribution, which is used as a criterion for the type of defect is the distribution that results when the complete scanning of the defect is integrated, which requires several scanning passes.

Wenn hingegen das Lichtbündel einen typischen Stein oder eine Aushöhlung bzw. Ausnehmung antrifft, dann treten während der integrierten Abtastperiode bei einer solchen Fehlstelle die abgelenkten Lichtstrahlen aus dem Glas in Strahlungsebenen aus, die im wesentlichen über 360° um die verlängerte Achse des einfallenden Bündels herum derart angeordnet sind, daß die gesamte Zahl der Lichtimpulse auf den α-Detektoren in bezug auf die Gesamtzahl der Impulse auf den ß-Detektoren größer ist als in dem Falle, in welchem das Lichtbündel eine typische Blase trifft. Auf diese Weise ist es möglich, elektrische Signale, welche in Reaktion auf die Lichtimpulse erzeugt werden, als Basis für die Klassifizierung von Fehlstellen in verschiedene Kategorien zu verwenden. Diese Klassifizierung kann in Abhängigkeit von einer beliebigen Anzahl verschiedener Kriterien erfolgen, für welche nachfolgend Beispiele angeführt werden, die sich in die elektronische Klassifizierungsanordnung einbauen lassen.If, on the other hand, the light beam hits a typical stone or a cavity or recess, then occur during the integrated scanning period with such a defect the deflected light rays from the glass in radiation planes which are arranged substantially over 360 ° around the elongated axis of the incident bundle in such a way that the The total number of light pulses on the α detectors is greater than the total number of pulses on the β detectors is than the case in which the light beam hits a typical bubble. In this way it is possible to use electrical Signals that are generated in response to the light pulses as a basis for the classification of defects in to use different categories. This classification can vary depending on any number of different Criteria are made, for which examples are given below, which are included in the electronic classification system have it installed.

Die abgelenkten Lichtimpulse, welche von den Detektoren während der Abtastung einer Fehlstelle empfangen werden, haben eine außerordentlich geringe Dauer. Es sei angenommen, daß die Länge einer Abtastlinie 6 etwa 4 m beträgt, daß die Abtastgeschwindigkeit derart.bemessen ist, daß ein quer über das Glas verlaufender Abtastvorgang in 0,01 Sekunden ausgeführt wird und daß dieThe deflected light pulses which are received by the detectors during the scanning of a flaw have a extremely short duration. It is assumed that the length of a scanning line 6 is about 4 m, that the scanning speed is dimensioned in such a way that a Scanning is carried out in 0.01 seconds and that the

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Fehlstelle 1 mm groß ist, und unter diesen Annahmen beträgt die Dauer jedes abgelenkten Lichtimpulses etwa 2,5 MikrοSekunden. Die Anzahl solcher Impulse, welche eine bestimmte Fehlstelle erzeugt, hängt von der Anzahl der Abtastvorgänge des Lichtbündels ab, bei welchen die Fehlstelle getroffen wird. Dies bedeutet, daß die Anzahl solcher Impulse von der Länge der Fehlstelle abhängt, gemessen in der Längsrichtung des Glasbandes. Defect is 1 mm in size, and under these assumptions the duration of each deflected light pulse is about 2.5 microseconds. The number of such impulses, which a certain flaw generates, depends on the number of scanning processes of the light beam from which the defect is hit. This means that the number of such pulses depends on the length of the Defect depends, measured in the longitudinal direction of the glass ribbon.

Die kurzen abgelenkten Lichtimpulse, welche von den Detektoren 10 bis 13 aufgenommen werden, werden in der Abtasteinheit 9 in elektrische Impulse umgeformt, welche über entsprechende Leiter, die durch die Linie 14 dargestellt sind, einem Rechner 15 zugeführt werden, in welchem solche elektrische Signale verarbeitet und interpretiert werden.The short deflected light pulses which are picked up by the detectors 10 to 13 are in the scanning unit 9 in electrical impulses are converted, which are fed to a computer 15 via corresponding conductors, which are represented by the line 14 in which such electrical signals are processed and interpreted.

Ein zweites Prismas 2' ist an dem ersten Prisma 2 in der Weise angebracht, daß die zwei Prismen gleichsinnig schwingen. Das Prisma 2' dient dazu, ein Kodiersignal abzulenken, welches von einem Projektor 16 auf eine fotoelektrische Kodiereinrichtung 17 aufgebracht wird. Die Kodiereinrichtung sendet Signale aus, welche einerseits die augenblickliche Position des Lichtbündels entlang einer Abtastlinie wie 6 quer über das Glasband angeben und andererseits den Abstand in Längsrichtung zwischen der augenblicklichen Stellung des Lichtbündels und einer gedachten Querbezugslinie über das Glasband angeben, wobei dieser Abstand ausgedrückt ist als die Anzahl der Querabtastvorgänge innerhalb dieses LängsabStandes. Diese Kodiersignale werden über Leitungen, die durch die Leitung 18 veranschaulicht sind, dem Elektronenrechner 15 zugeführt, und die Information, welche solche Signale übertragen, ist in der Information enthalten, welche durch die Ausgangssignale von einem solchen Rechner geliefert wird.A second prism 2 'is on the first prism 2 in the way appropriate that the two prisms vibrate in the same direction. The prism 2 'is used to deflect a coding signal which is from a projector 16 is applied to a photoelectric encoder 17. The coding device sends out signals which on the one hand indicate the instantaneous position of the light beam along a scan line such as 6 across the glass ribbon and on the other hand the distance in the longitudinal direction between the instantaneous position of the light beam and an imaginary one Specify a transverse reference line across the ribbon of glass, this distance being expressed as the number of transverse scans within it this longitudinal distance. These coding signals are transmitted via lines, which are illustrated by the line 18, supplied to the electronic computer 15, and the information which such Signals transmitted is contained in the information provided by the output signals from such a computer will.

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Aus der obigen Beschreibung ist somit ersichtlich, daß die in der Fig. 1 dargestellte Anordnung dazu in der Lage ist, Signale zu erzeugen, welche die folgende Information über irgendeine Fehlstelle im Glas liefern können:From the above description it can thus be seen that the The arrangement shown in FIG. 1 is able to generate signals which contain the following information about can deliver any flaw in the glass:

(a) die Art der Fehlstelle (Blase oder Fehlstelle ohne Längsausdehnung wie Stein/Aushöhlung)(a) the type of defect (blister or defect without longitudinal extension like stone / hollow)

(b) die Lage der Fehlstelle auf dem Glasband(b) the position of the defect on the glass ribbon

(c) die Größe der Fehlstelle.(c) the size of the defect.

Eine Art der Erzeugung und Verwendung dieser Signale wird nachfolgend anhand weiterer Figuren der Zeichnung im einzelnen näher erläutert.One way of generating and using these signals is shown below explained in more detail with reference to further figures of the drawing.

Zunächst wird jedoch auf die nachfolgende Tabelle eingegangen, welche die verschiedenen abgelenkten Lichtbündelaufteilungen zwischen verschiedenen Detektorgruppen vergleicht, wobei ein Vergleich zwischen einer typischen Blase einerseits und einem typischen Stein andererseits gezogen wird. Es wird angenommen, daß die verschiedenen Fehlstellen dieselbe Länge haben (etwa 2 mm) und es ist in der Tabelle weiterhin die Annahme getroffen, daß das Lichtbündel einen Millimeter in der Längsrichtung des Glasbandes bei sechs hin und her gehenden Bewegungen abtastet. Jede horizontale Zeile der Tabelle stellt einen Durchgang des Lichtbündels quer über die Fehlstellen dar. Die zweite und die dritte vertikale Spalte geben für jede der verschiedenen Fehlstellen jeweils an, welcher der vier Fotodetektoren 10 bis 13 (Fig. 1) einen Lichtimpuls bei jedem der aufeinander folgenden Durchgänge des Lichtbündels aufnimmt.First, however, the following table will be discussed, which shows the various deflected light beam distributions compares between different detector groups, with a comparison between a typical bubble on the one hand and a typical stone on the other hand is pulled. It is assumed that the various imperfections are of the same length (approx 2 mm) and the table also assumes that the light beam is one millimeter in the longitudinal direction of the The glass ribbon is scanned in six reciprocating movements. Each horizontal row in the table represents one pass of the Light beam across the imperfections. The second and third vertical columns give for each of the various imperfections which of the four photodetectors 10 to 13 (Fig. 1) picks up a light pulse on each of the successive passes of the light beam.

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Tabel

Lichtbündel
durchgängeLight bundle
passages Blasebladder 1111 Steinstone 1212th 1111 1515th 11 10,10, 1111 1212th 1010 1010 22 10,10, 1111 12,12, 11,11 1515th 55 10,10, 1111 10,10, 12,12, 12,12, 1010 44th 10,10, 1111 11,11 12,12, 11,11 ' 5'5 10,10, 1111 10,10, 11,11 11,11 66th 10,10, 1111 15,15, 12,12, 1111 77th 10,10, 1111 10,10, 12,12, 1010 88th 10,10, 1111 15,15, 15,15, 99 10,10, 1111 10,10, 15,15, 1010 10,10, 1111 11,11 1515th 1111 10,10, 1111 1515th 1212th 10,10,

Die abgelenkte Lichtaufteilung zwischen verschiedenen Detektorgruppen, welche einen typischen Stein kennzeichnet, ist im wesentlichen dieselbe wie diejenige, welche eine Aushöhlung kennzeichnet.The deflected light distribution between different detector groups, which characterizes a typical stone is essentially the same as that which characterizes a hollow indicates.

Aus der obigen Tabelle ist ersichtlich, daß die Klassifizierung von Fehlstellen nach einem beliebigen Kriterium aus einer Anzahl von verschiedenen Aufteilungskriterien möglich wäre. Somit könnte beispielsweise die elektronische Klassifizierungseinrichtung oder Klassiereinrichtung eine Fehlstelle als Stein klassifizieren, welche mehr als eine vorgegebene Anzahl von Lichtimpulsen den α-Detektoren 12 und 13 zuführt. In einem Extremfall könnte diese vorgegebene Anzahl gleich Null sein, es würde jedoch normalerweise eine höhere Zahl gewählt, und zwar in Abhängigkeit von den erforderlichen Klassifizieransprüchen. From the table above it can be seen that the classification of defects according to any criterion from a number of different allocation criteria would be possible. Thus, for example, the electronic classification device or classification device could have a defect as a stone classify which supplies more than a predetermined number of light pulses to the α detectors 12 and 13. In one In the extreme case, this predetermined number could be zero, but a higher number would normally be chosen, and depending on the required classification requirements.

Weiterhin könnte die Klassiereinrichtung eine Fehlstelle dann" als Stein klassifizieren, wenn sie über eine integrierte Abtastperiode eine Anzahl von Lichtimpulsen auf die α-DetektorenFurthermore, the classification device could identify a defect then " classify as stone if they hit the α detectors with a number of light pulses over an integrated sampling period

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führt, die größer ist als ein vorgegebener Anteil an der Gesamtzahl der Impulse, welche insgesamt von der Abtasteinheit ermittelt werden, welche der Summe der Impulse der α- und der ß-Detektoren entspricht. Im Falle der als Stein klassifizierten Fehlstelle, auf welche sich die zweite Spalte der obigen Tabelle bezieht, ist der Anteil der Impulse auf den α- und den ß-Detektoren, welche von den α-Detektoren empfangen wird, 50 % von der Gesamtzahl. Wenn angenommen wird, daß dieser spezielle Stein in seiner Form nicht atypisch ist, würde der vorgegebene Anteil, welcher den Schwellenwert darstellt, der für die automatische Klassierung festgesetzt wäre, geringer sein als 50 %, um das Risiko zu vermeiden, daß ein Stein irrtümlich als Blase klassifiziert wird.which is greater than a predetermined proportion of the total number of pulses which are determined overall by the scanning unit, which corresponds to the sum of the pulses from the α and β detectors. In the case of the flaw classified as stone, to which the second column of the table above relates, the proportion of pulses on the α and β detectors that is received by the α detectors is 50 % of the total number. If it is assumed that this particular stone is not atypical in shape, the predetermined proportion, which represents the threshold value which would be set for the automatic classification, would be less than 50% in order to avoid the risk that a stone is mistakenly classified as Bubble is classified.

Ein drittes Kriterium zur Klassierung einer Fehlstelle, welches sich in bestimmten Fällen als zuverlässiger erweist, ist die Anzahl der Abtastlinien, in welcher die Anzahl von Impulsen auf den ß-Detektoren die Anzahl von Impulsen auf den α-Detektoren überschreitet. Wenn somit auf einer vorgegebenen Linie beide ß-Detektoren Impulse empfangen, jedoch kein α-Detektor oder nur ein α-Detektor einen Impuls aufnimmt oder wenn einer der ß-Detektoren einen Impuls empfängt, jedoch keiner der α-Detektoren einen Impuls aufnimmt, dann wird dieser Zustand so interpretiert, daß die Fehlstelle eine Blase ist, wobei natürlich die Klassierung nicht auf eine einzelne Abtastlinie gestützt wird, sondern eine Summierung über eine Mehrzahl von Abtastlinien erfordert, bei welchen dieser Zustand vorhanden ist.A third criterion for classifying a defect, which proves to be more reliable in certain cases, is that Number of scan lines in which the number of pulses on the β detectors is the number of pulses on the α detectors exceeds. If both ß-detectors receive pulses on a given line, but no α-detector or only one α-detector receives a pulse or if one of the ß-detectors receives a pulse, but none of the α-detectors picks up an impulse, then this condition is interpreted in such a way that the defect is a bubble, whereby of course the classification is not based on a single scan line, but a summation over a plurality of scan lines requires in which this condition is present.

Die Fig. 2 zeigt Elemente 'der Fotodetektoreinheit 9. Die Detektoren 10 und 11 sind an eine Hochspannungsquelle 19 angeschlossen. Die Detektoren 12 und 13 sind an eine ähnliche Energiequelle 20 angeschlossen. Die vier Detektoren 10 bis 13 sindFIG. 2 shows elements of the photodetector unit 9. The detectors 10 and 11 are connected to a high voltage source 19. The detectors 12 and 13 are connected to a similar source of energy 20 connected. The four detectors 10-13 are

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als Fotovervielfacherröhren ausgebildet, an deren Vorderseiten Trichter 21 "bis 24- angebracht sind, welche die abgelenkten Lichtstrahlen auf die Fotovervielfacher leiten.designed as photomultiplier tubes, on the front sides of funnels 21 "to 24- are attached, which the deflected Direct light beams onto the photomultiplier.

In Abhängigkeit von dem Weg, auf welchem die Aufteilung der abgelenkten Lichtimpulse zwischen verschiedenen Detektoren als Basis für die Fehlerklassierung verwendet werden soll, ist es nicht immer erforderlich, daß der Rechner 15 mit getrennten Signalen von den einzelnen Fotovervielfacherröhren 10 bis 13 gespeist wird. In manchen Fällen genügt es, in bezug auf jede Querabtastung des Lichtbündels über eine Fehlstelle einerseits einzugeben, ob ein Licht impuls nur von einem oder von beiden der Detektoren 12 bis 13 empfangen wurde und andererseits eine Information darüber einzuspeisen, ob ein Lichtimpuls von einem oder von beiden Detektoren 10 bis 11 empfangen wurde. Bei der in der Fig. 2 dargestellten. Schaltungsanordnung werden jedoch die Ausgangssignale der Detektoren 10, 11 nach einer Verstärkung in Vorverstärkern 25, 26 und einer Verarbeitung in Schwellenfiltern 27, 28 durch eine Einheit 29 summiert, welche e,in Summenaus gangs signal an den Rechner über die Leitung 30 liefert. In ähnlicher Weise werden die Signale von den Detektoren 12, 13 nach einer Weiterverarbeitung' in Vorverstärkern 31, 32 und Schwellenfiltern 33, 34 in einer Einheit 35 addiert, welche ein Ausgangs signal über eine Ausgangsleitung 36 liefert. .Depending on the path on which the division of the deflected light pulses between different detectors is to be used as a basis for the error classification, it is not always necessary that the computer 15 with separate Signals from the individual photomultiplier tubes 10 to 13 is fed. In some cases it is sufficient for each Transverse scanning of the light beam over a flaw on the one hand to enter whether a light pulse only from one or from both of the detectors 12 to 13 was received and on the other hand to feed information about whether a light pulse received by one or both detectors 10-11 became. In the case of the one shown in FIG. Circuit arrangement, however, the output signals of the detectors 10, 11 according to a gain in preamplifiers 25, 26 and a processing in threshold filters 27, 28 summed by a unit 29, which e, in Summenaus output signal to the computer via line 30 supplies. Similarly, the signals from the Detectors 12, 13 after further processing 'in preamplifiers 31, 32 and threshold filters 33, 34 in one unit 35 adds up, which is an output signal via an output line 36 supplies. .

Die Art der Aufzeichnung der Position des Lichtbündels entlang einer vorgegebenen Abtastlinie in dem Zeitpunkt, in welchem das Lichtbündel auf eine Fehlstelle auftrifft, wird unten anhand der Fig. 3 erläutert, welche in einem Grundriß bestimmte Bauelemente darstellt, die auch in der Fig. 1 veranschaulicht sind, nämlich die Prismenanordnung 2, 2' , den Progektor 16 und die Kodiereinrichtung 17, wobei weitere Bauelemente vorhanden sind.The type of recording of the position of the light beam along a given scan line at the point in time at which the If the bundle of light strikes a defect, this is based on the below 3 explains which, in a plan view, shows certain structural elements which are also illustrated in FIG. 1, namely the prism arrangement 2, 2 ', the Progector 16 and the Coding device 17, further components being present.

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Der Projektor weist eine Lichtquelle 37 und ein System von Linsen J8, 39, 40 auf. Zwischen den Linsen 39 und 40 ist ein Diapositiv 41 angeordnet, auf welchem in einem digitalen Kode (Gray-Kode) im Maßstab 1:100 die Breitenabmessung einer Glasscheibe oder eines Glasbandes mit 360 cm Breite dargestellt ist. Das Linsensystem projiziert über die schwingende Prismenanordnung ein zehnfach vergrößertes Bild dieser Anordnung auf eine Ebene, welche die vordere fotoempfindliche Aufnahmefläche der Kodiereinrichtung 17 enthält. Aufgrund der Schwingungen der Prismen werden die nacheinander auftretenden kodierten Skalenteilungen nacheinander über die Kodieroberfläche hinweggeführt. Die Oberfläche ist mit einer Reihe von getrennten fotoelektrischen Detektoren ausgestattet. Der elektrisch leitende Zustand des Detektorsystems in einem beliebigen vorgegebenen Zeitpunkt kennzeichnet die Position des Lichtpunktes entlang der abgetasteten Querlinie. Elektrische Signale, welche diese Position darstellen, werden über die Leitung 18 dem Rechner 15 zugeführt. «In irgendeinem Zeitpunkt, zu welchem Signale, die durch Lichtimpulse erzeugt werden, welche von der !Fotodetektor einheit 9 aufgenommen werden, den Rechner über die Leitung · 14 erreichen, verursachen diese Signale, daß die Position des Lichtbündels auf seinem Weg quer über das Glasband, wie es durch die über die Leitung 18 zugeführten Signale dargestellt ist, im Rechner gespeichert werden.The projector has a light source 37 and a system of Lenses J8, 39, 40 on. Between the lenses 39 and 40 is a slide 41 is arranged on which in a digital code (Gray code) on a scale of 1: 100 the width dimension of a Glass pane or a glass ribbon with a width of 360 cm is shown is. The lens system projects a ten times enlarged image of this arrangement over the oscillating prism arrangement on a plane, which is the front photosensitive recording surface the encoder 17 contains. Due to the vibrations of the prisms, those occurring one after the other encoded scale divisions passed one after the other over the coding surface. The surface is separated with a number of equipped with photoelectric detectors. The electrically conductive state of the detector system in any given Time characterizes the position of the point of light along the scanned transverse line. Electrical signals, which represent this position are fed to the computer 15 via the line 18. «At any point in time, at which signals, generated by light pulses emitted by the photodetector unit 9 reach the computer via line 14, these signals cause the position of the Light beam on its way across the glass ribbon, as shown by the signals supplied via line 18 is to be saved in the computer.

Weiterhin werden Signale dem Rechner von der Kodiereinrichtung 17 zugeführt, welche die Anzahl in der Folge von Querabtastungen des Glasbandes darstellen, beginnend mit Null, wobei das Lichtbündel in einem beliebigen Moment betrachtet wird. Wie oben bereits ausgeführt wurde, ist diese Zahl ein Maß der in Längsrichtung verlaufenden Ordinate der Fehlstelle» In einem beliebigen Zeitpunkt, in welchem ein Fehlstellensignal den Rechner über die Leitung 14 erreicht, wird das Augenblickssignal,Furthermore, signals are fed to the computer from the coding device 17, which indicate the number in the sequence of transverse scans of the glass ribbon, starting with zero, considering the light beam at any given moment. As has already been explained above, this number is a measure of the longitudinal ordinate of the defect »In one any point in time at which a fault signal reaches the computer via line 14, the instantaneous signal is

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welche diese Anzahl darstellt, im Rechner gespeichert.which represents this number is stored in the computer.

Eine Art der Verarbeitung der von den Fotodetektoren und der Kodiereinrichtung gelieferten Signale wird nachfolgend anhand der Fig. 4- erläutert.One type of processing of the signals supplied by the photodetectors and the coding device is explained below with reference to the Fig. 4- explained.

Es wird ein Rechner verwendet, der drei Speicher 42, 43, 44 aufweist. Jeder dieser Speicher, die aus an sich bekannten integrierten Schaltungen bestehen, weist eine Vielzahl von verschiedenen Adressen oder Speicheradressen für die Aufnahme von Information auf, welche sich auf verschiedene Positionen entlang der Querabtastung des Laserbündels über das Glasband bezieht. Eine Adressierschaltung 45 tastet die Adressen von jedem der d-rei Speicher synchron mit der Querabtastung des Laserbündels über das Glasband ab und gewährleistet, daß jeder Impuls von einem der Fotodetektor en 10, 11, 12 und 13 in der entsprechenden Adresse im zugehörigen Speicher oder in verschiedenen Speichern gespeichert wird, d. h. bei der Adresse, welche der Position entspricht, die vom Abtastpunkt entlang seiner Abtastlinie eingenommen wird, wenn ein solcher Impuls empfangen wird. Die Adressierschaltung 45 wird zu Beginn jeder Querabtastung des Laserbündels in Betrieb gesetzt, -.und zwar durch ein Aktivierungs signal, welches über eine Leitung 46 zugeführt wird, und sie am Ende jeder Querabtastung durch ein Signal außer Betrieb gesetzt, welches über eine Leitung 47 zugeführt wird. Solche Signale können von der Kodiereinrichtung 17 abgeleitet werden (siehe Fig. 1 und 3). Folglich werden den Speicheradressen nur Impulse von den Fotodetketoren während der Querabtastungen des Laserbündels über das Glasband in einer Richtung zugeführt. Solche Impulse, welche während der Rückläufe des Laserbündels übertragen werden, werden nicht gespeichert. Die Speicher enthalten somit eine Zählung der Anzahl von Impulsen, welche bei jeder Adresse aufgenommen werden. Somit tragen alle Impulse, welche bei einer vorgegebenen Adresse über die Abtastperiode einer vorgegebenen Fehlstelle aufgenommen werden, wobeiA computer is used which has three memories 42, 43, 44. Each of these memories, which consist of integrated circuits known per se, has a multiplicity of different addresses or memory addresses for the reception of information which relates to different positions along the transverse scan of the laser beam over the glass ribbon. An addressing circuit 45 scans the addresses of each of the three memories in synchronism with the transverse scanning of the laser beam across the glass ribbon and ensures that each pulse from one of the photodetectors 10, 11, 12 and 13 is in the corresponding address in the associated memory or in various memories, ie at the address which corresponds to the position taken by the scanning point along its scanning line when such a pulse is received. The addressing circuit 45 is put into operation at the beginning of each transverse scan of the laser beam, by an activation signal which is supplied via a line 46, and it is put out of operation at the end of each transverse scan by a signal which is supplied via a line 47 r t will. Such signals can be derived from the coding device 17 (see FIGS. 1 and 3). Consequently, the memory addresses are only supplied with pulses from the photodetectors during the transverse scans of the laser beam across the glass ribbon in one direction. Such pulses, which are transmitted during the return of the laser beam, are not stored. The memories thus contain a count of the number of pulses received at each address. Thus, all of the pulses which are recorded at a given address over the sampling period of a given defect carry

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eine Vielzahl von nacheinander erfolgenden Querabtastungen "berücksichtigt wird,dazu "bei, die von einer Einheit gespeicherte Zahl zu vergrößern.a plurality of successive transverse scans are "taken into account" in addition to the one stored by a unit Increase number.

Information, welche aus den Speichern entnommen wird, wird einem Elektronenrechner 48 zugeführt, welcher die Arten der einzelnen Fehlstellen identifiziert, und von dieser Rechnerinformation wird eine entsprechende Programmiereinheit 58 angesteuert, welche das Schneiden des Glasbandes steuert.Information which is taken from the memories is fed to an electronic computer 48, which the types of individual defects are identified, and a corresponding programming unit 58 is controlled from this computer information, which controls the cutting of the glass ribbon.

Nachfolgend wird auf die Schaltung im einzelnen näher eingegangen: Der Speicher 42 empfängt Ausgangssignale, welche über die Ausgangsleitung 56 von der a-Detektorschaltung übertragen wurden, und der Speicher 43 empfängt Ausgangs signale, welche über die Ausgangsleitungen 30 und 36 sowohl von der ß-Detektorschaltung als auch von der a-Detektorschaltung übertragen wurden (siehe auch Jig. 2). Der Speicher 44 ist mit der Kodiereinrichtung 17 verbunden (siehe Fig. 1 und 3)? und zwar durch die Leitung 18, und er ist mit den Leitungen 30 und 36 über ein ODER-Gatter 49 und eine Leitung 50 verbunden. Ein Signal, welches für die augenblickliche Position des Laserbündels entlang der Querlinie repräsentativ ist, welche gerade abgetastet wird, wird über die Leitungen 18 in den Speicher 44 gebracht, sobald ein Signal von einer der Fotodetektorschaltungen über die Leitung 30 oder 36 übertragen wird.The circuit is discussed in more detail below: The memory 42 receives output signals which are transmitted over the output line 56 were transmitted from the a-detector circuit, and the memory 43 receives output signals, which via the Output lines 30 and 36 from both the β detector circuit as well as were transmitted by the a-detector circuit (see also Jig. 2). The memory 44 is connected to the coding device 17 connected (see Fig. 1 and 3)? through line 18, and it is connected to lines 30 and 36 via an OR gate 49 and a line 50 connected. A signal for the The current position of the laser beam along the transverse line which is being scanned is representative of the Lines 18 brought into the memory 44 as soon as a signal from one of the photodetector circuits via the line 30 or 36 is transmitted.

Die Anordnung weist weiterhin eine Zähleinheit 51 auf, die eine Anzahl von einzelnen Zählern enthält, welche der Anzahl der einzelnen Adressen in den Speichern 42, 43 und 44 entspricht. Diese Zähler werden auch von der Adressierschaltung 45 abgetastet. Die Zähler sind normalerweise auf Null gestellt. Jeder Zähler tfird getriggert, sobald ein Impuls ihm von einer der Ausgangs- -leitungen 30 und 36 der Detektor schaltung en über das ODER-GatterThe arrangement also has a counting unit 51, the one Contains number of individual counters, which corresponds to the number of individual addresses in the memories 42, 43 and 44. These counters are also scanned by the addressing circuit 45. The counters are usually set to zero. Every counter tf is triggered as soon as an impulse is sent to it from one of the output lines 30 and 36 of the detector circuits via the OR gate

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zugeführt wird, mit welcher die Zähleinheit über eine Leitung 52 verbunden ist. Sobald ein vorgegebener Zähler getriggert wurde, registriert er die Anzahl der aufeinander folgenden Vorwärts-Abtastungen des Laserbündels über die "Adresse", welcher dieser Zähler entspricht.is supplied to which the counting unit is connected via a line 52. As soon as a given counter is triggered it registers the number of consecutive forward scans of the laser beam via the "address" which this counter corresponds.

Am Ende jeder Yorwärts-Abtastung des Laserbündels vergleicht ein Komparator 53 cLLe Anzahl der Impulse, welche bei jeder der Adressen des Speichers 43 registriert wurden, mit der Anzahl der Impulse, welche bei der entsprechenden Adresse in der Zähleinheit 51 registriert wurden. Dieser Vergleich ergibt, ob die bestimmte Fehlstelle, welche für solche Impulse verantwortlich ist, die vom Speicher 43 aufgenommen werden, vollständig abgetastet wurde. Somit wird angezeigt, daß die Abtastung der Fehlstelle abgeschlossen ist, sobald die Anzahl der von der Zähleinheit 51 registrierten Impulse die entsprechende Impulszahl im Speicher 43 überschreitet. Sobald dieser Zustand erreicht wird, bewirkt der Komparator die Auslesung der in den Speichern 42, 43 und 44 bei der entsprechenden Adresse gespeicherten Information, weiterhin die Übertragung der Information aus den Speichern 42 und 43 in den Rechner 48 über die Leitungen 54 und 55 und die Übertragung der' Information vom Speicher 44 zu der Programmiereinheit 58 über die Leitung 56.Compare at the end of each forward scan of the laser beam a comparator 53 cLLe number of pulses generated at each of the Addresses of the memory 43 have been registered with the number the pulses which were registered in the counting unit 51 at the corresponding address. This comparison shows whether the certain flaws, which are responsible for such impulses, which are received by the memory 43, completely scanned became. It is thus indicated that the scanning of the defect has been completed as soon as the number of the Counting unit 51 registered pulses exceed the corresponding number of pulses in memory 43. Once reached this state the comparator reads out the data stored in the memories 42, 43 and 44 at the corresponding address Information, the transmission of information continues from the memories 42 and 43 into the computer 48 via the lines 54 and 55 and the transfer of the 'information from the memory 44 to the programming unit 58 via the line 56.

Der Rechner 48 verarbeitet die Information, welche ihm zugeführt wird, in der Weise, daß die Fehlstelle entweder als Stein oder als Blase identifiziert wird, und er überträgt diese Information als ein entsprechendes Signal über die Leitung 57 zu der Programmiereinheit 58. 'The computer 48 processes the information which is fed to it, in such a way that the defect is either as a stone or is identified as a bubble, and it transmits this information as a corresponding signal over the line 57 to the programming unit 58. '

Nachfolgend wird die Querabtastung des Laserbündels entlang einer vorgegebenen Abtastlinie quer über das Band betrachtet! Am Beginn der Linie wird ein Impuls von der KodiereinrichtungIn the following, the transverse scanning of the laser beam along a specified scanning line across the strip is considered! At the beginning of the line there is a pulse from the encoder

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über die Leitung 46 zu der Adressierschaltung 45 übertragen. Dieser Impuls triggert die Adressierschaltung, welche ihrerseits die verschiedenen Adressen der Speicher 42, 43 und 44 abtastet und auch diejenige der Zähleinheit 51-transmitted via the line 46 to the addressing circuit 45. This pulse triggers the addressing circuit, which in turn sets the various addresses of the memories 42, 43 and 44 and that of the counting unit 51-

Bei einer Bestrahlung einer ersten Fehlstelle wird ein beliebiger Impuls von einem der Fotodetektoren 12 und 13 zum Speicher 42 über die Leitung 36 übertragen und zum Speicher 43 über die Leitung 59, wobei diese Impulse von der Adresse jeweils aufgenommen werden, welche durch die Adressierschaltung 45 festgelegt wird. Wenn an derselben Stelle entlang dem Weg des Laserbündels ein Impuls von einem Fotodetektor 10 oder 11 übertragen wird, so wird dieser Impuls über die Leitung 30 der entsprechenden Adresse im Speicher 43 zugeführt.When a first defect is irradiated, any pulse from one of the photodetectors 12 and 13 becomes the memory 42 transmitted via the line 36 and to the memory 43 via the Line 59, these pulses being picked up by the address respectively which are determined by the addressing circuit 45 will. When a pulse from a photodetector 10 or 11 is transmitted at the same point along the path of the laser beam is, this pulse is fed via line 30 to the corresponding address in memory 43.

Der Impuls von einem der Detektoren triggert auch den entsprechenden Zähler in der Zähleinheit 51. Die Position der Fehlstelle entlang dem Weg des Laserbündels wird im Speicher 44 aufgezeichnet.The pulse from one of the detectors also triggers the corresponding one Counter in counting unit 51. The position of the defect along the path of the laser beam is stored in memory 44 recorded.

Bei der Ermittlung einer zweiten Fehlstelle auf derselben Abtastlinie wird der Impuls oder werden die Impuls von dem Detektor oder den Detektoren zu einer weiteren Adresse in den Speichern 42, 43 und 44 und in der Zähleinheit 51 übertragen, wie es durch die Adressierschaltung 45 festgelegt wird.When detecting a second defect on the same scan line the pulse or pulses from the detector or detectors will be sent to another address in the memories 42, 43 and 44 and transmitted in the counting unit 51, as is determined by the addressing circuit 45.

Dieselben Operationen finden während der Querabtastung von nachfolgenden Abtastlinien jeweils statt. Jede weitere Übertragung eines Impulses in eine der Speicheradressen oder eine der Zähleinheitenadressen,- welcher ein Impuls während vorangegangener Querabtastungen des Laserbündels zugeführt wurde, führt zu einer Vergrößerung der bei dieser Adresse gespeicherten Zahl um eine Einheit.The same operations occur during the transverse scan of subsequent scan lines, respectively. Any further transmission a pulse in one of the memory addresses or one of the counting unit addresses, - which a pulse during previous Transverse scans of the laser beam were fed leads to an increase in the number stored at this address Number by one unit.

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Sobald eine Fehlstelle vollständig abgetastet ist, was durch, den Komparator 53 ermittelt wird, werden bei den vorgegebenen Adressen in den Speichern 42, 43 und 44 keine weiteren Impulse gespeichert, bis die Information ausgelesen und übertragen ist, worauf der entsprechende Zähler in der Einheit 51 auf Null zurückgestellt wird und die entsprechenden Speicheradressen gelöscht werden, um anschließend weitere Impulse verarbeiten und aufnehmen zu können.As soon as a defect has been completely scanned, which is the comparator 53 is determined, no further pulses are generated at the predetermined addresses in the memories 42, 43 and 44 stored until the information is read out and transmitted, whereupon the corresponding counter in the unit 51 on Zero is reset and the corresponding memory addresses are deleted in order to then process further pulses and to be able to record.

Der Rechner 48 arbeitet in der Weise, daß das Verhältnis zwischen der Anzahl von Impulsen ermittelt wird, welche an einer beliebigen vorgegebenen Adresse des Speichers 42 gespeichert sind, und daß die Anzahl von Impulsen bestimmt wird, welche an der entsprechenden Adresse des Speichers 43 gespeichert sind.The computer 48 operates in such a way that the ratio between the number of pulses is determined, which on a any predetermined address of the memory 42 are stored, and that the number of pulses is determined which at the corresponding address of the memory 43 are stored.

Die Programm! er einheit 58 dient dazu, eine Schneideinrichtung automatisch zu steuern, wodurch das Glasband automatisch in Stücke der erforderlichen Größe in einer Art und Weise geteilt wird, welche der Anordnung und der Bedeutung einzelner Fehlstellen Rechnung trägt, wobei auch die Qualitätsanforderungen berücksichtigt werden, welchen die geschnittenen Glasstücke entsprechen müssen, um diese Gla&stücke mit einem Minimum an Abfall aus dem Band herauszuschneiden.The program! he unit 58 is used to provide a cutting device automatically control, whereby the glass ribbon is automatically divided into pieces of the required size in a manner which of the arrangement and the significance of individual imperfections Takes into account, whereby the quality requirements are also taken into account, which the cut glass pieces Must conform to these glasses with a minimum of Cut waste from the tape.

In einer alternativen Ausführungsform könnte die Ausgangsinformation des Rechners 48 ausgedruckt werden, um einen Glasqualitäts-Klassifikationsplan oder um entsprechende Anweisungen ausgeben zu können, welche zum Schneiden des Glasbandes von Hand dienen könnten.In an alternative embodiment, the output information of the computer 48 can be printed out to provide a glass quality classification plan or in order to be able to issue corresponding instructions, which for cutting the glass ribbon by hand could serve.

- Patentansprüche -- patent claims -

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Claims

/ i.! Method for testing a body made of glass in the form of a —Plate or tape that was used during manufacture of the body is pulled in a predetermined direction in order to obtain information about imperfections in the form of bubbles and / or to get other local defects, which may be present in the glass, the glass body with a light beam is scanned and light rays are detected, 'which are transmitted by the body, but from imperfections were deflected because they were struck by light, marked by the fact that during scanning a flaw, the light beam is directed so that in the absence of a flaw, the transmitted light rays always illuminate a given point that a detector system is used to determine deflected light beams is used, which has two detectors or detector groups, which with respect to the predetermined point in the Way are arranged differently that during the integrated sampling period of the defect the division of the Total number of light pulses that hit the detectors, between the various detectors or detector groups differ in the case of a bubble from the division in a different flaws, and that signals are derived from the detector system which are necessary for the division are representative, these signals being used to indicate the nature of the defect.

2. The method according to claim '1, characterized in that the body under investigation is scanned along such lines which are substantially perpendicular to the Run in the direction in which the body is being pulled.

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3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that

that the various detectors or detector groups are each arranged with respect to one another in such a way that no overlap the angle that occurs between the various detectors or detector groups with respect to the center of the given irradiation point, which is determined by light rays is illuminated if they are not distracted by a defect.

4. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that two detectors in a first detector group are present (α-detectors), the centers of which are angularly spaced 180 ° from the predetermined irradiation point, and that two detectors in a second detector group are available (ß-detectors), their centers as well -angularly with respect to each other a distance of 180 ° around the given point and 90 ° from the center of the α detectors.

5. The method according to any one of the preceding claims, characterized characterized in that the position on the vitreous in which a defect is determined, recorded in the form of coordinates which determine the positions which will be occupied by the sampling point which is associated with the sampling of the light coincides with one or more of the detectors. . .

6. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the cross-sectional size of the light beam about the same size as or smaller than the projected area an average void, d. H. a stone, a cavity or an elongated bubble.

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7 «Method according to one of the preceding claims, characterized in that the bundle cross-sectional area and / or the number of transverse scans of the light bundle per unit length of the glass body are chosen so that any defect is exceeded several times.

8. The method according to claim 7? characterized in that the Paths which the bundle traverses in successive transverse scans overlap each other-, whereby each point of a flaw is scanned several times.

9- The method according to any one of the preceding claims, characterized characterized in that the light beam is a laser light beam.

10. The method according to claim 9, characterized in that the Laser light beam has a diameter of 1 to 2 mm.

11. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that signals from the detectors or directly can be derived indirectly, which are representative of the size of a defect.

12. The method according to claim 11, characterized in that the Number with which a specified flaw is caused by the light bundle during a complete scan of the flaw is exceeded, serves as a measure of the size of the defect.

13 · Method according to one of the preceding claims, characterized in characterized in that the glass body is displaced along a path and that the irradiation point is repeated is moved along a line transverse to this path, whereby the body is scanned line by line.

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14 ·. Method according to one of the preceding claims, characterized characterized in that the light beam or at least a part of this light beam which illuminates the glass body ~ tet, is displaced parallel to itself during the scan.

15 · The method according to claim 14, characterized in that a System of light reflectors is used in conjunction with a stationary light source and stationary detectors, to generate repeated scanning passes of the glass body through the light beam, which is parallel to itself remains arranged.

16. The method according to claim 15, characterized in that the Glass body is a glass plate or a glass ribbon, which is scanned by a light beam, which is perpendicular is arranged to the plate or tape.

17- Device for testing a body made of glass in the form of a plate or tape, which during manufacture the body was pulled in a given direction to obtain information about voids in the form of bubbles and / or other local defects that may be present in the glass, the device being a holder for such a body in a predetermined zone, further comprising means for scanning at least a part of this zone is present with a light beam and wherein a device for scanning of Light rays are present which have been deflected by a defect in the body, characterized in that the scanning device is designed and arranged in such a way that it directs the light beam in such a way that light rays, which have been transmitted through the body, which is free from imperfections, always illuminate a given point, that the device for scanning distracted

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Light rays has two detectors or two groups of detectors, which are so different in "reference are arranged on the predetermined point that during the integrated sampling period of the defect the division the total number of light pulses that hit the Detectors impinge between the different detectors or detector groups for a bubble is different than for a defect of a different type, and that of that Detector system signals can be derived, which indicate this division, these signals to indicate the type the defect are usable.

18. The device according to claim 17, characterized in that the various detectors or detector groups in relation are arranged on top of one another in such a way that there is no "overlap of the angles which the various detectors or form detector groups around the center of the given irradiation point, which is determined by light rays is hit if they have not been distracted by a flaw.

19 · Device according to one of claims 17 or 18, characterized in that two detectors in a first. Detector group are present (α detectors), the means of which are angularly spaced 180 ° from the specified irradiation point have, and that two detectors are present in a second detector group (ß-detectors), their means also angularly with respect to each other at a distance of 180 ° around the predetermined point, and from the Have a distance of 90 ° between the α-detectors.

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20. Device according to one of claims 17 to 19, characterized characterized in that a device is present which serves to register the position on the glass body, "in which a defect is determined, namely in the form of coordinates defining the positions that the scanning point assumes when it is scanned of light from one or more detectors.

21. Device according to one of claims 17 to 20, characterized in that the scanning device is arranged and designed such that it emits a light beam into it Projected zone, the cross-sectional size of which is about as large as or smaller than the projection area of a average local defect such as a stone, a hollow or an elongated bubble.

22. Device according to one of claims 17 to 20, characterized in that the scanning device is arranged in such a way and is designed to project a beam of such a size and the body in a unit length so frequently detects that any defect is covered several times by the light beam.

23. The device according to claim 22, characterized in that the scanning device is arranged and designed in such a way that it projects such a light beam that the paths which of the light beam on successive passes be painted over, overlap each other.

24 ·. Device according to one of Claims 17 to 23, characterized marked that ^. the scanning device is a laser light beam source having.

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25 · Vorrich.tru.ng according to claim 24, characterized in that the laser light source emits a beam with a diameter of 1 "to 2 mm.

26. Device according to one of claims 17 to 25, characterized characterized in that the detectors include signal generating means have or are connected to such a device which is designed such that they Generates signals representative of the size of any defect.

27 · Device according to claim 26, characterized in that the signal generating device has a counter,

he

which is designed such that / the number of scanning processes counts with which a given defect is covered by the light beam.

28. Device according to one of claims 17 to 27, characterized in that the holder is a conveyor is, which serves to guide the glass body. Along a path, and that the scanning device is arranged in such a way and is arranged to provide a beam of light which repeatedly scans a line transverse to the path of the vitreous.

29. Device according to one of claims 17 "to 28, characterized characterized in that the scanning device is designed such that it projects a light beam which at least moves parallel to itself in the body support zone.

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30. Apparatus according to claim 29, characterized in that the detectors are arranged stationary and that the scanning device has a stationary light source and at least has a movable reflector which is used to produce repeated scanning passes.

31. Device according to one of claims 29 or 30 »thereby characterized in that the holder defines a plane in which a glass plate or a glass ribbon can be arranged can, and that the scanning device is designed such that it emits a light beam perpendicular to such a plane supplies.

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