CS269514B1 - Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers - Google Patents

Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers Download PDF

Info

Publication number
CS269514B1
CS269514B1 CS872775A CS277587A CS269514B1 CS 269514 B1 CS269514 B1 CS 269514B1 CS 872775 A CS872775 A CS 872775A CS 277587 A CS277587 A CS 277587A CS 269514 B1 CS269514 B1 CS 269514B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
output
input
data
formatter
multiplexer
Prior art date
Application number
CS872775A
Other languages
Czech (cs)
Slovak (sk)
Other versions
CS277587A1 (en
Inventor
Lubomir Ing Burian
Jozef Ing Csc Chamraz
Bedrich Ing Csc Sindelar
Original Assignee
Lubomir Ing Burian
Jozef Ing Csc Chamraz
Sindelar Bedrich
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lubomir Ing Burian, Jozef Ing Csc Chamraz, Sindelar Bedrich filed Critical Lubomir Ing Burian
Priority to CS872775A priority Critical patent/CS269514B1/en
Publication of CS277587A1 publication Critical patent/CS277587A1/en
Publication of CS269514B1 publication Critical patent/CS269514B1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Jedná se o zapojenie formátovača impulzov, ktoré umožňuje optimálnu realizáciu štrnástich rozličných módov formátovania údajov s časovou kompenzáciou z generátore testovacej postupnosti vedených cez pinelektroniku na meraný integrovaný obvod. Podstata řešení spočivá ve vhodnom přepojení prijimačov údajov prijimačov časovacich fáz, prijimačov riadenia, príjimača invertu, formátovača s časovou kompenzáciou, obvodov stálých logických úrovni, multiplexera s časovou kompenzáciou a budiča s invertorom. Formátovacie módy sú realizované zo vstupu údajov a vstupu časovačích fáz vo formátovači s časovou kompenzáciou a vedené z výstupov formátovača a obvodov stálých logických úrovni na údajové vstupy multiplexera s časovou kompenzáciou. Na výstup multiplexera je vyselektovaný jeden z Osmých základných módov formátovania podlá kombinácie riadiacich signálov na vstupe multiplexera. Údaje z výstupu vedú na vstup budiča s invertorom a možu prechádzaf na výstup bud v priamej formě alebo v invertovanej formě pódia stavu vstupu budiča s invertorom.This is the connection of the pulse formatter, which enables the optimal implementation of fourteen different data formatting modes with time compensation from the test sequence generator, which are routed through the pin electronics to the measured integrated circuit. The essence of the solution lies in the appropriate connection of data receivers, timing phase receivers, control receivers, an invert receiver, a formatter with time compensation, constant logic level circuits, a multiplexer with time compensation and a driver with an inverter. The formatting modes are realized from the data input and the input of the timer phases in the time-compensated formatter and led from the outputs of the formatter and constant logic level circuits to the data inputs of the time-compensated multiplexer. One of the Eight basic formatting modes is selected for the output of the multiplexer according to the combination of control signals at the input of the multiplexer. The data from the output leads to the input of the driver with inverter and can be passed to the output either in direct form or in the inverted form of the state stage of the driver input with inverter.

Description

CS 269514 B1 1CS 269514 B1 1

Vynález se týká zapojenia formátovača impulzov s časovou kompenzáciou pře testeryintegrovaných obvodov, ktorá umožňuje jednoduchá a technickými parametrami výhodnárealizáciu štrnástich rozličných formátovacích módov s kompenzáciou .zmien oneskoreniapri zmene módu pre ádaje z generátora testovacej postupnosti prechádzajáce cez pinele-ktroniku na testovaný integrovaný obvod.BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a pulse formatter incorporating time-compensated transistor integrated circuits, which allows for simple and technical advantageous implementation of fourteen different formatting modes with delay compensation over mode change for requesting from a test sequence generator passing through the pinel to the tested integrated circuit.

Doteraz známe riešenia podobných formátovačov impulzov bud využívali štandartnéobvodové celky a integrované obvody, čo vedle k neásporným ríešeniam s menším technic-kým a ekonomickým áčinkom, alebo nemajá dostatočný počet rozličných formátovacích módov,ktorý umožňuje efektivnejšie využivanie technických aj programových prostriedkov testeraV uvedených riešeniach taktiež nebol komplexně riešený problém časovej kalibrácíe každé-ho kanálu.So far known solutions of similar pulse formatters have used standard circuitry and integrated circuits, which in addition to unsafe solutions with less technical and economical pickups, or does not have a sufficient number of different formatting modes that allows more efficient use of technical and program resources. solved the problem of time calibration of each channel.

Uvedené nevýhody odstraňuje zapojenie formátovača impulzov s časovou kompenzácioupre testery integrovaných obvodoch Vl$podla vynálezu vhodného na realizáciu pomocou hradlových poli ECL, podstata ktorého spočívá v tom, že na vstup prijimačov ádajov je připo-jený výstup obvodov postupného spracovania ádajov generátora testovacej postupnosti.The above drawbacks are eliminated by the inclusion of a time-compensated pulse formatter of the V1a integrated circuit testers according to the invention suitable for ECL gate arrays, the output of the request sequence generator circuitry being connected to the receiver request input.

Na vstup prijimačov časových fáz je připojený výstup programovatelného přepínačefáz časovacieho generátora, na vstup prijimačov riadenia je připojený výstup MODE-re-gistra bloku riadenia pinelektroniky a na vstup prijimača invertu je připojený výstupINVERT-registra bloku riadenia pinelektroniky. Výstupy prijimača ádajov vedie na prvývstup formátovača s časovou kompenzáciou, výstup prijimačov časovačích fáz je přivedenýna druhý vstup formátovača s časovou kompenzáciou. Výstupy formátovača sá připojené naúdajové vstupy multiplexera s časovou kompenzáciou a taktiež výstupy obvodov trvalýchlogických úrovni sá přivedené na údajové vstupy multiplexera.· Výstup prijimačov riadeniaje připojený na riadiaci vstup multiplexera s časovou kompenzáciou. Údajový výstup mui-tiplexera vedie na vstup budiča s invertorom. Výstup prijimača inv,ertu je připojený nariadiaci vstup budiča s invertorom. Výstup budiča s inve torom je vedený na programova-telnú oneskorovaciu linku časovej kalibrácíe. Přednostou zapojenia formátovača impulzov s časovou kompenzáciou podlá vynálezu je,že v zapojení sá použité optimalizované funkčně obvodové celky, čim sa dosahuje minima-lizácia obvodových prostriedkov a zjednodušeníe aplikácie najm3 v případe, že celý obvo-dový systém formátovača impulzov je realizovaný v jednom integrovanou) obvode na bázehradlových poli. Oalšou přednostou zapojenia je použitie rýchlej ECL-technológie v danomhradlovom polí, čim sn zmenšuje oneskorenie signálu pri přechode obvodovým systémom aminimalizujů sa rozdieiy v oneskorenl jednotlivých módov činnosti formátovača impulzov.The output of the time phase receivers is connected to the output of the programmable switch of the timer generator phase, the output of the control receivers is connected to the output of the MODE-re-gister of the pinelectronics control block and the input of the invert receiver is connected to the output of the INVERT-register of the pinelectronics control block. The receiver request outputs lead to a time-compensated first formatter, the output of the timing receivers is inputted to the second time-compensated formatter. The outputs of the formatter are connected to the data inputs of the time-compensated multiplexer as well as the outputs of the perpetual logic levels applied to the data inputs of the multiplexer. The data output of the mu-tiplexer leads to the input of the inverter driver. The receiver input inv, ert is connected to the inverter driver input with the inverter. The driver exciter output is routed to a programmable time calibration delay line. A preferred embodiment of the time-compensated pulse formatter according to the invention is that optimized functional circuitry is used in the circuitry, thereby minimizing circuitry and simplifying the application in the event that the entire circuit of the pulse formatter is implemented in one integrated mode. perimeter on base-track fields. Another advantage of the circuit is the use of fast ECL technology in a field array, thereby reducing the signal delay when passing through a circuitry system to minimize the difference in the delay of each mode of the pulse formatter.

Použitie obvodového systému podlá vynálezu vo formě jedného integrovaného obvoduna báze hradlových poli prináša efekt zlepšenia technických vlastnosti výsledného pro-duktu a ekonomický efekt vyplývajáci zo zniženia výrobných nákladov.The use of a circuit system according to the invention in the form of a single integrated gate field base provides the effect of improving the technical properties of the resulting product and the economic effect resulting from the reduction of production costs.

Zapojenie formátovača impulzov s časovou kompenzacicupre testery integrovaných ob-vodov podlá vynálezu je zobrazené na priloženom výkrese. V konkrétnom pripade je formátovač impulzov s časovou kompenzáciou realizovaný tak,že na vstup 11 prijimačov ádajov 2. je připojený výstup obvodov postupného .spracovaniaádajov generátora testovacej postupnosti, na vstup 21 prijimačov časovačích fáz 2 jepřivedený výstup programovatelného prepínača fáz časovacieho generátora, na vstup 32prijimačov riadenia 3 vedie výstup MODE-registra bloku riadenia pinelektroniky a tak-tiež na vstup 41 prijimača invertu 2 vedie výstup INVERT - registra bloku riadenia pi-nelektroniky, pričom výstup 12 prijimačov ádajov 2 je připojený na prvý vstup 51 formá-tovača s časovou kompenzáciou a výstup 22 prijimačov časovačích fáz 2 na druhý vstup52 formátovača s časovou kompenzáciou 5, výstup 53 formátovača 2 je připojený na prvýúdajový vstup 71 multiplexera s časovou kompenzáciou výstup 54 na druhý údajovývstup 72» výstup 55 na treti údajový vstup 73, výstup 56 na štvrtý údajový vstup 74,A time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers according to the invention is shown in the attached drawing. In a particular case, the time-compensated pulse formatter is implemented by outputting the sequence of the test sequence generator circuits to the input 11 of the request receivers 2, the output of the programmable switch of the timing generator phase is applied to the input 21 of the timing phase receivers 2, to the input 32 of the control receivers 3, the output of the MODE-register of the pinelectronics control block leads to the input 41 of the invert receiver 2 and the output of the INVERT-register of the electronics control block, the output 12 of the receivers 2 is connected to the first input 51 of the time compensator and the output 22 of the timing receivers 2 to the second input 52 of the formatter with time compensation 5, the output 53 of the formatter 2 is connected to the first data input 71 of the multiplexer with time compensation output 54 to the second data input 72 »output 55 on the third data input 73, output 56 to the fourth data vs tup 74,

Claims (3)

CS 269514 Bl výstup 57 na piaty údajový vstup 75 a výstup 58 na Siesty údajový vstup 76, pričom nasiedmy údajový vstup 77 multiplexera s časovou kompenzáciou 7~ je připojený prvý výstup61 obvodov trvalých logických úrovni 6 a na osmy údajový vstup 78 druhý výstup 62,okrem toho na riadiaci vstup 79 multiplexera s Časovou kompenzáciou 7 vedla výstup .33prijimačov riadenia 3 a výstup 710 multiplexera 7_ je připojený na vstup 81 budiče s in-vertorom 8, výstup 42 prijimača invertu 4 je přivedený na riadiaci vstup 82 budiča s in-vertorom 8 a jeho výstup 83 vedie na vstup programovatelnej oneskorovacej linky. Prijimače údajov _1 vytvárajú impulzy vedené cez obvody postupného spracovania údajovz generátora testovacej postupnosti na vstup 11 a tieto sú dalej vedené z výstupu 12 naprvý vstup 51 formátovača s časovou kompenzáciou 5^. Prijimače časovacich fáz 2 zase přij-mu a vytvárajú impulzy časovacich fáz, ktoré sú vedené cez programovatelný prepinač fázz časovacieho generátora na vstup 21.CS 269514 B1 output 57 to fifth data input 75 and output 58 to Siesty data input 76, wherein the seventh data input 77 of the time compensation multiplexer 77 is connected to the first output61 of the permanent logic level circuits 6 and to the eighth data input 78 to the second output 62, except in addition, the control input 79 of the multiplexer 7 with the time compensation 7 has a control output 3 output 33 and the output 710 of the multiplexer 7 is connected to the input 81 of the driver 8, the input 42 of the invert receiver 4 is applied to the control input 82 of the driver 8 and its output 83 leads to a programmable delay line input. The data receivers 1 generate pulses routed through the data processing circuitry of the test sequence generator to the input 11, and these are further fed from the output 12, the input 51 of the formatter with time compensation 5,. The timing phase receivers 2 again receive and generate timing phase pulses that are routed through a programmable phase generator phase switch to input 21. 2 výstupu 22 idú impulzy časovacich fáz na druhývstup 52 formátovača s časovou kompenzáciou 5. Výstup z MODE - registra je po přechodeprijimačov riadenia 3 přivedený z výstupu 32 na riadiaci vstup 79 multiplexera s časovoukompenzáciou 7 a určuje selektovanie Jednoho z osmých základných módov formétovania navýstup 710 multiplexera 7, Formátovač s časovou kompenzáciou £> na báze sekvenčných akombinačných obvodov realizuje a na výstupy podává následovně mody formétovaniaIa/ tzv. “bez návratu na nulu (NON RETURN TO ZERO - NRZ) s použitím fázy Tpf", ktorý je vedený z výstupu 53 formátovača íi na vstup 71 multiplexera 7^, b/ “bez návratu na nulu (NRZ) s použitím fázy TGX“, ktorý je vedený z výstupu 54 navstup 72, c/ "s návratom na nulu (RETURN TO ZERO - RZ) s použitím fázy TGX“, ktorý je vedenýz výstupu 55 na vstup 73, d/ ”s návratom na nulu (R2) pre invertované údaje s použitím fázy TGX", ktorý je ve-dený z výstupu 56 na vstup 74, e/ "výhradný súčet (EXCLUSIVE OR - XOR) s použitim fázy TGX“, ktorý je vedený z výstu- pu 57 na vstup 75, f/ "multiplexovanie dvoch údajov ('MULTIPLEX - RETURN TO ZERO - MUX - RZ) s použitim dvoch fáz TGX a TGY, ktorý je vedený z výstupu 58 formátovača s časovým kompenzátorom^5 na vstup 75 multiplexera _7. Posledně dva základné módy realizujú obvody stálých lo- gických úrovni tzv. "trvalá nula" (PERMANENT LOGIC ZERO - PLO), ktorý je z výstupu 61obvodov stálých logických úrovní 6 vedený na vstup 77 multiplexera s časovou kompenzáciou7 a tzv. "trvalá jednotka" (PERMANENT LOGIC ONE - PLO) vedená z výstupu 62 na vstup 78multiplexera 7_, Výstup 710 multiplexera s časovou kompenzáciou _7 je připojený na vstup81 budiča s invertorom j}, ktorý vysiela sformátované údaje cez výstup 83 na vstup ones-korovacej linky a dalěj do pinelektroniky bud v priamej formě (8 základných módov) aleboúdaje budu invertované a tým sa vytvára dalších 8 odvodených módov formátovania: "beznávratu na jednotku (NON RETURN TO ONE - NRO) s TG O, resp. s TGX", "s návratom na jed-notku (RETURN TO ZERO - RG) s TGX, resp. pře invertované údaje s TGX", "logická zhoda(LOGIC COINCIDENCE - LOC) s TGX", "invertované multiplexovanie dvoch údajov (INVERT MUX -- RZ) s TGX a TGY" a duplicitně módy PLO a PLZ. Vynález nájde uplatnenie v testeroch integrovaných obvodov VLSI s velkým počtom tes-tovacích kanálov. PREDMET VYNALEZU Zapojenie formátovača impulzov s časovou kompenzáciou pře testery integrovaných ob-vodov vyznačujúce sa tým, že na vstup (li) prijimačov údajov (1) je připojený výstupobvodov postupného spracovania údajov generátora testovacej postupnosti, na vstup (21)prijimačov časovacich fáz (2) je připojený výstup programovatelného prepínača fáz časo- CS 269514 B1 3 vacleho generátore ne vstup (31) prijimačov riadenia2 of the output 22 the timing phase pulses go to the second format 52 of the formatter with time compensation 5. The output of the MODE register is inputted from the output 32 to the control input 79 of the time compensation multiplexer 7 after the control transducers 3 and determines the selection of one of the eight basic modes of multiplexing output 710 7, the formatter with time compensation>> based on sequential combination circuits realizes and outputs the following modes of formatting Ia / “without return to zero (NON RETURN TO ZERO) using the Tpf phase which is output from the formatter output 53 to the input 71 of the multiplexer 7 ^, b / "without returning to zero (NRZ) using the TGX phase" which is output from the output 54 input 72, c / "returning to zero (RETURN TO ZERO - RZ) using phase TGX, which is output 55 to input 73, d / "returning to zero (R2) for inverted TGX data" output 56 to input 74, e / "EXCLUSIVE OR - XOR" using the TGX phase, which is routed from output 57 to input 75, f / "multiplexing two data ('MULTIPLEX - RETURN TO ZERO - MUX - RZ) using two phases TGX and TGY, which is output from formatter output 58 to time compensator 5 on input 75 of multiplexer 7. The last two basic modes are PERMANENT LOGIC ZERO (PLO), which is routed to the input 77 of the time-compensated multiplexer7 and the so-called "persistent unit" (permanent logic level 6). PERMANENT LOGIC ONE - PLO, output from output 62 to input 78multiplexer 7, time compensation output 710 of the multiplexer 7 is connected to input 81 of the inverter driver which transmits formatted data via output 83 to the input of the correction line and further to the pinelectronics bud in direct form (8 basic modes) or data I will be inverted to create another 8 derived formatting modes: "NON RETURN TO ONE" with TG O or TGX "," with return to unit (RETURN TO ZERO - RG) with TGX, or TGX inverted data "," logical match (LOGIC COINCIDENCE - LOC) with TGX "," inverted multiplexing of two data (INVERT MUX - RZ) with TGX and TGY " and duplicate PLO and PLZ modes. The invention finds application in VLSI integrated circuit testers with a large number of test channels. SUBSTITUTE A time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers, characterized in that the test sequence generator sequential processing data circuits are connected to the data receiver input (1), to a timing phase receiver (2) the CS 269514 B1 3 Vacuum Generator Programmable Phase Switch output is connected to the control receiver input (31) (3) Je přepojený výstup MODE;-registra bloku riadenia pinelektroniky a taktiež na vstup (41, přijímače ínvertu (4)výstup INVERT - registra bloku riadenia pinelektroniky, pričom výstup (12) prijimačovúdajov (1) Je připojený na prvý vetup (51) formátovača 3 časovou kompenzáciou (5) avýetup (22) prijimačov časovačích fáz (2) na. druhý vstup (52) formátovača s časovou kom-penzáciou (5), výstup (53) formátovača (5) Je připojený na prvý údajový vstup (71, mul-tlplexera s časovou kompenzáciou (7), výstup (54) na druhý údajový vstup (72), výstup(55) na třetí údajový vstup (73), výstup (55) na Stvrtý údajový vstup (74), výstup (57)na piaty údajový vstup (75) a výstup (58) na šiesty údajový vstup (76), pričom na siedmyúdajový vstup (77) multiplexera s časovou kompenzáciou (7) je připojený prvý výstup (51)obvodov trvalých logických úrovni (5) a na osmy údajový vstup (7Θ) druhý výstup (62),okrem toho na rladiaci vstup (79) multiplexera s časovou kompenzáciou (7) vedie výstup(33) prijimačov riadenia (3) a výstup (710) multiplexera (7) Je připojený na vstup (81)budiča s invertorom (8), výstup (42) prijimača invertu (4) je připojený na riadiaci vstup(82) budiča s invertorom (8) a jeho výstup (83) na vstup programovatelnej oneskrovacejlinky. 1 výkres(3) The output of MODE; -register of the pinelectronics control block and also the input (41, of the receiver of the invert (4) the output of the INVERT - register of the control block of the pinelectronics, the output (12) of the receiver (1) is connected to the first winding (51). of the formatter 3 by time compensation (5) and by the output (22) of the timing phase receivers (2) to the second input (52) of the time compensator (5), the output (53) of the formatter (5) is connected to the first data input (71) , time-compensated mul-buffer (7), output (54) to second data input (72), output (55) to third data input (73), output (55) to fourth data input (74), output (57) ) to a fifth data input (75) and an output (58) to a sixth data input (76), wherein a first output (51) of the logic level circuitry (5) is connected to the seven-time multiplexer data input (77) and to the eighth data input (7Θ) the second output (62), in addition to the tuning input (7) 9) the time compensation multiplexer (7) leads the control receiver output (33) (3) and the multiplexer output (710) (7) is connected to the inverter driver input (81), the invert receiver output (4) ) is connected to the inverter control input (82) of the inverter (8) and its output (83) to the programmable delay line input. 1 drawing
CS872775A 1987-04-21 1987-04-21 Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers CS269514B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS872775A CS269514B1 (en) 1987-04-21 1987-04-21 Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS872775A CS269514B1 (en) 1987-04-21 1987-04-21 Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS277587A1 CS277587A1 (en) 1989-09-12
CS269514B1 true CS269514B1 (en) 1990-04-11

Family

ID=5365806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS872775A CS269514B1 (en) 1987-04-21 1987-04-21 Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS269514B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
CS277587A1 (en) 1989-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4660197A (en) Circuitry for synchronizing a multiple channel circuit tester
DE69634824D1 (en) INTEGRATED CIRCUIT ASSEMBLY WITH PARALLEL CONTROL
TW272344B (en) System and method that provides simultaneous, bidirectional transfer of signals between integrated circuit devices
TW429322B (en) Semiconductor test system
EP0054111A1 (en) Circuit for use on an LSI chip and for measuring the turn-on and turn-off delays of a logic circuit on said chip
EP0322308A3 (en) Delay line control system for automatic test equipment
CS269514B1 (en) Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers
US20010013802A1 (en) System and process for high speed interface clock skew correction
US5021683A (en) Circuit arrangement comprising two parallel branches for transmitting a binary signal
US5703515A (en) Timing generator for testing IC
JPS62278836A (en) High speed light bus
US6469563B2 (en) Circuit configuration for compensating runtime and pulse-duty-factor differences between two input signals
US5012493A (en) Phase difference-adjusting circuit
FI851283A0 (en) KOPPLINGSANORDNING FOER PROEVNING AV FUNKTIONSDUGLIGHETEN HOS EN DATAOEVERFOERINGSANORDNING.
JP2573226B2 (en) Signal time measurement device
SU1183970A1 (en) Signature analyser
SU1416923A1 (en) Device for measuring delay time of voltage comparator switching
JPS61176871A (en) Semiconductor testing device
SU1437987A1 (en) Digital time discriminator
SU721766A1 (en) Digital phase meter with constant measuring time
SU1693734A1 (en) Device for receiving and transferring digital binary information
SU1062757A1 (en) Device for transmitting and checking signals
SU907790A1 (en) Pulse shaper
SU1674056A1 (en) Multichannel meter of time intervals
SU1226395A2 (en) Device for measuring signal delay time in photodetector