CS269514B1 - Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers - Google Patents
Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers Download PDFInfo
- Publication number
- CS269514B1 CS269514B1 CS872775A CS277587A CS269514B1 CS 269514 B1 CS269514 B1 CS 269514B1 CS 872775 A CS872775 A CS 872775A CS 277587 A CS277587 A CS 277587A CS 269514 B1 CS269514 B1 CS 269514B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- output
- input
- data
- formatter
- multiplexer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Jedná se o zapojenie formátovača impulzov, ktoré umožňuje optimálnu realizáciu štrnástich rozličných módov formátovania údajov s časovou kompenzáciou z generátore testovacej postupnosti vedených cez pinelektroniku na meraný integrovaný obvod. Podstata řešení spočivá ve vhodnom přepojení prijimačov údajov prijimačov časovacich fáz, prijimačov riadenia, príjimača invertu, formátovača s časovou kompenzáciou, obvodov stálých logických úrovni, multiplexera s časovou kompenzáciou a budiča s invertorom. Formátovacie módy sú realizované zo vstupu údajov a vstupu časovačích fáz vo formátovači s časovou kompenzáciou a vedené z výstupov formátovača a obvodov stálých logických úrovni na údajové vstupy multiplexera s časovou kompenzáciou. Na výstup multiplexera je vyselektovaný jeden z Osmých základných módov formátovania podlá kombinácie riadiacich signálov na vstupe multiplexera. Údaje z výstupu vedú na vstup budiča s invertorom a možu prechádzaf na výstup bud v priamej formě alebo v invertovanej formě pódia stavu vstupu budiča s invertorom.This is the connection of the pulse formatter, which enables the optimal implementation of fourteen different data formatting modes with time compensation from the test sequence generator, which are routed through the pin electronics to the measured integrated circuit. The essence of the solution lies in the appropriate connection of data receivers, timing phase receivers, control receivers, an invert receiver, a formatter with time compensation, constant logic level circuits, a multiplexer with time compensation and a driver with an inverter. The formatting modes are realized from the data input and the input of the timer phases in the time-compensated formatter and led from the outputs of the formatter and constant logic level circuits to the data inputs of the time-compensated multiplexer. One of the Eight basic formatting modes is selected for the output of the multiplexer according to the combination of control signals at the input of the multiplexer. The data from the output leads to the input of the driver with inverter and can be passed to the output either in direct form or in the inverted form of the state stage of the driver input with inverter.
Description
CS 269514 B1 1CS 269514 B1 1
Vynález se týká zapojenia formátovača impulzov s časovou kompenzáciou pře testeryintegrovaných obvodov, ktorá umožňuje jednoduchá a technickými parametrami výhodnárealizáciu štrnástich rozličných formátovacích módov s kompenzáciou .zmien oneskoreniapri zmene módu pre ádaje z generátora testovacej postupnosti prechádzajáce cez pinele-ktroniku na testovaný integrovaný obvod.BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a pulse formatter incorporating time-compensated transistor integrated circuits, which allows for simple and technical advantageous implementation of fourteen different formatting modes with delay compensation over mode change for requesting from a test sequence generator passing through the pinel to the tested integrated circuit.
Doteraz známe riešenia podobných formátovačov impulzov bud využívali štandartnéobvodové celky a integrované obvody, čo vedle k neásporným ríešeniam s menším technic-kým a ekonomickým áčinkom, alebo nemajá dostatočný počet rozličných formátovacích módov,ktorý umožňuje efektivnejšie využivanie technických aj programových prostriedkov testeraV uvedených riešeniach taktiež nebol komplexně riešený problém časovej kalibrácíe každé-ho kanálu.So far known solutions of similar pulse formatters have used standard circuitry and integrated circuits, which in addition to unsafe solutions with less technical and economical pickups, or does not have a sufficient number of different formatting modes that allows more efficient use of technical and program resources. solved the problem of time calibration of each channel.
Uvedené nevýhody odstraňuje zapojenie formátovača impulzov s časovou kompenzácioupre testery integrovaných obvodoch Vl$podla vynálezu vhodného na realizáciu pomocou hradlových poli ECL, podstata ktorého spočívá v tom, že na vstup prijimačov ádajov je připo-jený výstup obvodov postupného spracovania ádajov generátora testovacej postupnosti.The above drawbacks are eliminated by the inclusion of a time-compensated pulse formatter of the V1a integrated circuit testers according to the invention suitable for ECL gate arrays, the output of the request sequence generator circuitry being connected to the receiver request input.
Na vstup prijimačov časových fáz je připojený výstup programovatelného přepínačefáz časovacieho generátora, na vstup prijimačov riadenia je připojený výstup MODE-re-gistra bloku riadenia pinelektroniky a na vstup prijimača invertu je připojený výstupINVERT-registra bloku riadenia pinelektroniky. Výstupy prijimača ádajov vedie na prvývstup formátovača s časovou kompenzáciou, výstup prijimačov časovačích fáz je přivedenýna druhý vstup formátovača s časovou kompenzáciou. Výstupy formátovača sá připojené naúdajové vstupy multiplexera s časovou kompenzáciou a taktiež výstupy obvodov trvalýchlogických úrovni sá přivedené na údajové vstupy multiplexera.· Výstup prijimačov riadeniaje připojený na riadiaci vstup multiplexera s časovou kompenzáciou. Údajový výstup mui-tiplexera vedie na vstup budiča s invertorom. Výstup prijimača inv,ertu je připojený nariadiaci vstup budiča s invertorom. Výstup budiča s inve torom je vedený na programova-telnú oneskorovaciu linku časovej kalibrácíe. Přednostou zapojenia formátovača impulzov s časovou kompenzáciou podlá vynálezu je,že v zapojení sá použité optimalizované funkčně obvodové celky, čim sa dosahuje minima-lizácia obvodových prostriedkov a zjednodušeníe aplikácie najm3 v případe, že celý obvo-dový systém formátovača impulzov je realizovaný v jednom integrovanou) obvode na bázehradlových poli. Oalšou přednostou zapojenia je použitie rýchlej ECL-technológie v danomhradlovom polí, čim sn zmenšuje oneskorenie signálu pri přechode obvodovým systémom aminimalizujů sa rozdieiy v oneskorenl jednotlivých módov činnosti formátovača impulzov.The output of the time phase receivers is connected to the output of the programmable switch of the timer generator phase, the output of the control receivers is connected to the output of the MODE-re-gister of the pinelectronics control block and the input of the invert receiver is connected to the output of the INVERT-register of the pinelectronics control block. The receiver request outputs lead to a time-compensated first formatter, the output of the timing receivers is inputted to the second time-compensated formatter. The outputs of the formatter are connected to the data inputs of the time-compensated multiplexer as well as the outputs of the perpetual logic levels applied to the data inputs of the multiplexer. The data output of the mu-tiplexer leads to the input of the inverter driver. The receiver input inv, ert is connected to the inverter driver input with the inverter. The driver exciter output is routed to a programmable time calibration delay line. A preferred embodiment of the time-compensated pulse formatter according to the invention is that optimized functional circuitry is used in the circuitry, thereby minimizing circuitry and simplifying the application in the event that the entire circuit of the pulse formatter is implemented in one integrated mode. perimeter on base-track fields. Another advantage of the circuit is the use of fast ECL technology in a field array, thereby reducing the signal delay when passing through a circuitry system to minimize the difference in the delay of each mode of the pulse formatter.
Použitie obvodového systému podlá vynálezu vo formě jedného integrovaného obvoduna báze hradlových poli prináša efekt zlepšenia technických vlastnosti výsledného pro-duktu a ekonomický efekt vyplývajáci zo zniženia výrobných nákladov.The use of a circuit system according to the invention in the form of a single integrated gate field base provides the effect of improving the technical properties of the resulting product and the economic effect resulting from the reduction of production costs.
Zapojenie formátovača impulzov s časovou kompenzacicupre testery integrovaných ob-vodov podlá vynálezu je zobrazené na priloženom výkrese. V konkrétnom pripade je formátovač impulzov s časovou kompenzáciou realizovaný tak,že na vstup 11 prijimačov ádajov 2. je připojený výstup obvodov postupného .spracovaniaádajov generátora testovacej postupnosti, na vstup 21 prijimačov časovačích fáz 2 jepřivedený výstup programovatelného prepínača fáz časovacieho generátora, na vstup 32prijimačov riadenia 3 vedie výstup MODE-registra bloku riadenia pinelektroniky a tak-tiež na vstup 41 prijimača invertu 2 vedie výstup INVERT - registra bloku riadenia pi-nelektroniky, pričom výstup 12 prijimačov ádajov 2 je připojený na prvý vstup 51 formá-tovača s časovou kompenzáciou a výstup 22 prijimačov časovačích fáz 2 na druhý vstup52 formátovača s časovou kompenzáciou 5, výstup 53 formátovača 2 je připojený na prvýúdajový vstup 71 multiplexera s časovou kompenzáciou výstup 54 na druhý údajovývstup 72» výstup 55 na treti údajový vstup 73, výstup 56 na štvrtý údajový vstup 74,A time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers according to the invention is shown in the attached drawing. In a particular case, the time-compensated pulse formatter is implemented by outputting the sequence of the test sequence generator circuits to the input 11 of the request receivers 2, the output of the programmable switch of the timing generator phase is applied to the input 21 of the timing phase receivers 2, to the input 32 of the control receivers 3, the output of the MODE-register of the pinelectronics control block leads to the input 41 of the invert receiver 2 and the output of the INVERT-register of the electronics control block, the output 12 of the receivers 2 is connected to the first input 51 of the time compensator and the output 22 of the timing receivers 2 to the second input 52 of the formatter with time compensation 5, the output 53 of the formatter 2 is connected to the first data input 71 of the multiplexer with time compensation output 54 to the second data input 72 »output 55 on the third data input 73, output 56 to the fourth data vs tup 74,
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS872775A CS269514B1 (en) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS872775A CS269514B1 (en) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS277587A1 CS277587A1 (en) | 1989-09-12 |
| CS269514B1 true CS269514B1 (en) | 1990-04-11 |
Family
ID=5365806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS872775A CS269514B1 (en) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS269514B1 (en) |
-
1987
- 1987-04-21 CS CS872775A patent/CS269514B1/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS277587A1 (en) | 1989-09-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4660197A (en) | Circuitry for synchronizing a multiple channel circuit tester | |
| DE69634824D1 (en) | INTEGRATED CIRCUIT ASSEMBLY WITH PARALLEL CONTROL | |
| TW272344B (en) | System and method that provides simultaneous, bidirectional transfer of signals between integrated circuit devices | |
| TW429322B (en) | Semiconductor test system | |
| EP0054111A1 (en) | Circuit for use on an LSI chip and for measuring the turn-on and turn-off delays of a logic circuit on said chip | |
| EP0322308A3 (en) | Delay line control system for automatic test equipment | |
| CS269514B1 (en) | Time-compensated pulse formatter for integrated circuit testers | |
| US20010013802A1 (en) | System and process for high speed interface clock skew correction | |
| US5021683A (en) | Circuit arrangement comprising two parallel branches for transmitting a binary signal | |
| US5703515A (en) | Timing generator for testing IC | |
| JPS62278836A (en) | High speed light bus | |
| US6469563B2 (en) | Circuit configuration for compensating runtime and pulse-duty-factor differences between two input signals | |
| US5012493A (en) | Phase difference-adjusting circuit | |
| FI851283A0 (en) | KOPPLINGSANORDNING FOER PROEVNING AV FUNKTIONSDUGLIGHETEN HOS EN DATAOEVERFOERINGSANORDNING. | |
| JP2573226B2 (en) | Signal time measurement device | |
| SU1183970A1 (en) | Signature analyser | |
| SU1416923A1 (en) | Device for measuring delay time of voltage comparator switching | |
| JPS61176871A (en) | Semiconductor testing device | |
| SU1437987A1 (en) | Digital time discriminator | |
| SU721766A1 (en) | Digital phase meter with constant measuring time | |
| SU1693734A1 (en) | Device for receiving and transferring digital binary information | |
| SU1062757A1 (en) | Device for transmitting and checking signals | |
| SU907790A1 (en) | Pulse shaper | |
| SU1674056A1 (en) | Multichannel meter of time intervals | |
| SU1226395A2 (en) | Device for measuring signal delay time in photodetector |