CS242139B1 - Křemíkový detektor jednotlivých fotonů - Google Patents

Křemíkový detektor jednotlivých fotonů Download PDF

Info

Publication number
CS242139B1
CS242139B1 CS848435A CS843584A CS242139B1 CS 242139 B1 CS242139 B1 CS 242139B1 CS 848435 A CS848435 A CS 848435A CS 843584 A CS843584 A CS 843584A CS 242139 B1 CS242139 B1 CS 242139B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
conductivity type
silicon
shallow layer
detector
single photon
Prior art date
Application number
CS848435A
Other languages
English (en)
Other versions
CS843584A1 (en
Inventor
Petr Friedrich
Bruno Sopko
Original Assignee
Petr Friedrich
Bruno Sopko
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Petr Friedrich, Bruno Sopko filed Critical Petr Friedrich
Priority to CS848435A priority Critical patent/CS242139B1/cs
Publication of CS843584A1 publication Critical patent/CS843584A1/cs
Publication of CS242139B1 publication Critical patent/CS242139B1/cs

Links

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

^Účelem řešení je vytvořit detektor, který je levnější než dosud užívané fotonásobiče, nevyžaduje složitou elektroniku a je minimálně tak rychlý jako fotonásobič. Tohoto cíle se dosáhne křemíkovým detektorem jednotlivých fotonů, sestávajícím z ochranného prstence typu vodivosti N, vytvořeného v křemíkovém substrátu typu vodivosti P a z mělké vrstvy typu vodivosti N4- soustředně umístěné vzhledem k ochrannému prstenci, kde na mělké vrstvě typu vodivosti N+ je vytvořena pasivační dvoj vrstva z kysličníku křemičitého a nitridu křemíku. Tyto detektory se dají využít pro speciální měření např. přesné vzdálenosti družic, místo některých použití fotonásobičů atd.

Description

Vynález se týká křemíkových detektorů jednotlivých fotonů s velmi rychlým spínáním v oblasti desítek ps.
Doposud se používaly speciální fotonásobiče, které jsou jednak cenové těžko dostupné, a jednak je pro jejich provoz nutná velmi složitá elektronika. Navíc mají tyto fotonásobiče poměrně nízkou životnost.
Výše uvedené nedostatky odstraňují křemíkové detektory jednotlivých fotonů podle vynálezu. Podstatou tohoto detektoru sestávajícího z ochranného prstence .typu vodivosti N vytvořeného v křemíkovém substrátu typu vodivosti P a z mělké vrstvy typu N1 soustředně umístěné vzhledem k ochrannému prstenci je, že na mělké vrstvě typu N+ je vytvořena pasivační dvojvrstva z kysličníku křemičitého a nitridu křemíků*.
Takto vytvořený detektor je zhruba třikrát rychlejší a podstatně levnější než speciální fptonásobič a má prakticky neomezenou životnost, charakteristickou pro polovodičové součástky. Vzhledem k velké rychlosti spínání a citlivosti lze dosáhnout lepších experimentálních výsledků než při použití fotonásobiče.
Příklad provedení křemíkového detektoru jednotlivých fotonů je schematicky uveden v náryse na obr. 1, kde je řez křemíkovým detektorem a na obr. 2, kde je půdorys detektoru.
Na křemíkovém substrátu 1 s vodivostí typu Pas vrstvou 2 kysličníku křemičitého S1O2 je vytvořen ochranný prstenec 3 s vodivostí typu N a vysoce koncentrovaná mělká vrstva 4 s vodivostí typu N* · Tato mělká vrstva 4 je soustředně umístěna vzhledem
242 139 k ochrannému prstenci Na mělké vrstvě £ je vytvořena pasivační dvojvrstva % kysličníku křemičitého SiOg a nitridu křemíku SÍ3N4· Detektor je opatřen kovovým přívodem 6, který je v tomto případě z hliníku.
Detektor pracuje jako fotonásobič přes lavinový průraz diody, přičemž póměr vrstev kysličníku křemičitého SÍO2 a nitridu křemíku SÍ5N4 určuje spektrální citlivost. Zvětšení rychlosti spínání oproti fotonásobiči je ve fyzikálním principu lavinového průrazu.
T přechodu ϊΓ* P, tedy v přechodu mezi vysoce koncentrovanou mělkou vrstvou £ a oblastí 1, tvořenou křemíkovým substrátem, se uskutečňuje lavinový průraz, který slouží k detekci a ochranný prstenec 2 s vodivostí N je nutný k omezení mikropiazmatických jevů.
Uvedené detektory jsou použitelné při speciálních měřeních, například při měření přesné vzdálenosti družic.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Křemíkový detektor jednotlivých fotonů, sestávající z ochranného prstence typu vodivosti N vytvořeného v křemíkovém substrátu typu vodivosti P a z mělké vrstvy typu vodivosti N* soustředně umístěné vzhledem k ochrannému prstenci,vyznačený tím, že na mělké vrstvě /5/ typu vodivosti N* je vytvořena pasivační dvojvrstva /4/ z kysličníku křemičitého a nitridu křemíku.
CS848435A 1984-11-06 1984-11-06 Křemíkový detektor jednotlivých fotonů CS242139B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS848435A CS242139B1 (cs) 1984-11-06 1984-11-06 Křemíkový detektor jednotlivých fotonů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS848435A CS242139B1 (cs) 1984-11-06 1984-11-06 Křemíkový detektor jednotlivých fotonů

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS843584A1 CS843584A1 (en) 1985-08-15
CS242139B1 true CS242139B1 (cs) 1986-04-17

Family

ID=5434856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS848435A CS242139B1 (cs) 1984-11-06 1984-11-06 Křemíkový detektor jednotlivých fotonů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS242139B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS843584A1 (en) 1985-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5808592B2 (ja) 基準電圧決定方法及び推奨動作電圧決定方法
US4011016A (en) Semiconductor radiation wavelength detector
SE506654C2 (sv) Positionskänslig fotodetektor med eliminerad inverkan av ströljus
CS242139B1 (cs) Křemíkový detektor jednotlivých fotonů
EP3126877A1 (en) Solid state photo multiplier device
US20170263793A1 (en) Photodetector and object detection system using the same
US11139326B2 (en) Photodetector, photodetection device, laser imaging detection and ranging apparatus
GB923153A (en) Semiconductor strain gauge
JP2019054225A (ja) 光検出器、光検出装置及びライダー装置
JP3165255B2 (ja) 測距センサ
JPS61155801A (ja) 複合形半導体位置検出素子
US3217166A (en) Photosensitive semiconductor junction device having a two-dimensional response
JPH0644640B2 (ja) 入射位置検出用半導体装置
JP2676814B2 (ja) マルチ型受光素子
RU50048U1 (ru) Многоэлементный кодовый фотоприемник
JPS629841B2 (cs)
JPH0621789B2 (ja) 距離検出装置
JPS5774618A (en) Liquid surface level detector
EC A simple differential pulse height analyser
SU1125477A1 (ru) Координатно-чувствительный приемник излучени
SU1307357A1 (ru) Устройство дл измерени посто нного тока в цепи с полупроводниковым диодом
JPS57201085A (en) Semiconductor radiation detector
JPH06112520A (ja) 光電変換装置
Hayes et al. Die-Edge Leakage Current for Stacked Silicon Photo Multiplier Device
SU136934A1 (ru) Способ измерени температур и устройство дл осуществлени этого способа