CS229332B1 - Scintilační detektor zpětně odražených elektronů - Google Patents

Scintilační detektor zpětně odražených elektronů Download PDF

Info

Publication number
CS229332B1
CS229332B1 CS779882A CS779882A CS229332B1 CS 229332 B1 CS229332 B1 CS 229332B1 CS 779882 A CS779882 A CS 779882A CS 779882 A CS779882 A CS 779882A CS 229332 B1 CS229332 B1 CS 229332B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
refractive index
aluminum
scintillation
layer
face
Prior art date
Application number
CS779882A
Other languages
English (en)
Inventor
Rudolf Ing Csc Autrata
Ota Ing Salyk
Petr Rndr Csc Schauer
Josef Ing Csc Kvapil
Jiri Ing Csc Kvapil
Original Assignee
Autrata Rudolf
Ota Ing Salyk
Petr Rndr Csc Schauer
Kvapil Josef
Jiri Ing Csc Kvapil
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Autrata Rudolf, Ota Ing Salyk, Petr Rndr Csc Schauer, Kvapil Josef, Jiri Ing Csc Kvapil filed Critical Autrata Rudolf
Priority to CS779882A priority Critical patent/CS229332B1/cs
Publication of CS229332B1 publication Critical patent/CS229332B1/cs

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Vynález Je určen pro detekci odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Podstatou vynálezu je scintilační destička z monokrystalu ytrium hliníkového granátu nebo ytrium hliníkového perovskitu se vstupním čelem zkoseným v úhlu 10 - 15° opatřená tenkou vrstvou hliníku a na odrazovém čele reflexní hliníkovou vrstvou. Scintilační destička je spojena přes vrstvu anorganického dielektrika optickým tmelem se světlovodem. Spojované díly a použitý tmel mají předem určený index lomu. Vynález je určen pro rastrovací elektronové mikroskopy.

Description

Vynález se týká scintilačního detektoru zpětně odražených elektronů, který řeší použití monokrystalického scintilátoru ytrium hliníkového granátu a ytrium hliníkového perovskitu pro detekci zpětně odražených elektronů.
Pro detekci zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu se nejčastěji používá polovodičový systém detektoru nebo kanálově násobičový systém detektoru. Nevýhoda obou systémů spočívá v nevhodné šíři pásma, ztěžující rychlé televizní snímání, v dosti velkém vlastním šumu polovodiče, v nízké rozlišovací schopnosti, ve zvyšování kapacity detektoru při přiblížení pozorovaného objektu, ve zhoršených vlastnostech detektoru při detekci elektronů o energii nižší jak 10 keV, v nutnosti zavedení dalšího předzesilovače a zesilovače, a tak i ve vyšší ceně. Výhodnější vlastnosti, zejména z hlediska dosažení vysoké rozlišovací schopnosti, lepších šumových parametrů a větší šíře pásma má scintilačně fotonásobičový systém. Pro detekci zpětně odražených elektronů je znám scintilační detektor označovaný jako typ Robinson, který se skládá z akrylového světlovodu tyčového tvaru, na který je přitmelen plastický scintilátor ve formě desky s otvorem. Plastický scintilátor má nevýhodu v rychlém poklesu účinnosti s dobou provozu (během několika hodin na 50 % účinnosti). Jeho znovuoživení na původní hodnotu účinnosti je možné jen obroušením degradované povrchové vrstvy, vyleštěním a opětným pokovením, což je dosti pracné nebo výměnou celého plastického scintilátoru.
Místo plastického scintilátoru je známé použití práškových scintilátorů nesených na podložce, která je tmelena na
-2229 332 světlovod, což představuje určité zlepšení životnosti. Práškové vrstvy jsou však citlivé na mechanické poškození, což při časté manipulaci detektoru v mikroskopu je nevýhodné. Práškové scintilátory se používají ve vícefunkčním detektoru fy Philips s vláknovým světlovodem, pevně zabudovaném v mikroskopu. Tento detektor vyžaduje dva fotonásobiče a je značně nákladný. Použití monokrystalického scintilátoru je známé ve spojení s vláknovou optikou, kde je světlo snímáno z boční stěny tenké scintilační destičky. Tento detektor je rovněž nákladný a navíc výstup světla z tenké destičky do vláknového světlovodu zaznamenává velké ztráty.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje scintilační detektor zpětně odražených elektronů, jehož podstatou je, že scintilační destička z monokrystalu ytrium hliníkového granátu aktivovaného trojmocným cérem o indexu lomu 1,80 - 1,85 má vstupní čelo zkosené pod úhlem 10 - 15° vůči protilehlému odrazovému čelu, které je opatřeno reflexní hliníkovou vrstvou, zatímco výstupní čelo scintilační destičky je pres vrstvu anorganického dielektrika o indexu lomu 1,6 - 1,7 a tlouštce 130 - 150 nm spojeno tmelem o indexu lomu 1,45 - 1,55 s polymetylmetakrylátovým světlovodem o indexu lomu 1,45 - 1,55.
Scintilační detektor s destičkou z monokrystalu ytrium hliníkového perovskitu aktivovaného trojmocným cérem o indexu lomu 1,90 - 1,95 má výstupní Čelo opatřeno vrstvou anorganického dielektrika o indexu lomu 1,65 - 1,75 a tlouštce 90 110 nm.
Výhodou scintilačního detektoru podle vynálezu je, že monokrystaly ytrium hliníkového perovskitu, bez nečistotových příměsových prvků, o indexu lomu 1,83, resp. 1,93 mají nejvyšší účinnost ze všech známých scintilačních materiálů pro detekci elektronů. Spojení doplněné vrstvou anorganického dielektrika o stanoveném indexu lomu a tlouštce vrstvy zajišťuje účinnější přestup světla z detektoru do světlovodu. Zkosení monokrystalického blokového scintilátoru na vstupním čele destičky o 10 - 15° přispívá k účinnějšímu odrazu generovaných fotonů směrem do světlovodu.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, na němž je v osovém řezu naznačen scintilační detektor.
-3229 332
Scintilační destička 2 s kuželovým otvorem 11 osazeným kovovým kroužkem 2 má vstupní čelo zkosené pod úhlem 10 - 15° a pokovené tenkou vrstvou J hliníku. Protilehlé odrazové čelo scintilační destičky 2 je opatřeno reflexní hliníkovou vrstvou
4. Scintilační destička 2 je spojena výstupním čelem přes vrst vu 2. anorganického dielektrika a optický tmel 6 se světlovodem 7, který dosedá na fotokatodu % fotonásobiČe 10. Nad kuželovým otvorem 11 je naznačen šipkou smér primárních elektronů 12. pod ním držák 13 s objektem 14 a šipkou je vyznačen směr zpětně odražených elektronů 15 a směr fotonů 16.
Primární elektrony 12 po průchodu kuželovým otvorem 21 dopadají na pozorovaný objekt 21, ze kterého jsou emitovány zpětně odražené elektrony 15 pronikající pres tenkou hliníkovou vrstvu 2» jejíž tlouštka je průchozí pro zpětně odražené elektrony 15 do scintilační destičky 2· Generované fotony 16 postupují po několikanásobných odrazech od reflexní hliníkové vrstvy 4 a tenké hliníkové vrstvy průchozí pro zpětně odražené elektrony 15 směrem k vrstvě anorganického dielektrika pod různým úhlem. Mezní úhel, to je úhel, pod kterým se fotony 16 odráží do anorganického dielektrika £ znět ke scintilační destičce 2» se zvětšuje, a tak větší množství fotonů 16 proniká dále přes vrstvu optického tmele 6 do světlovodu 2 a fotokatodě 2 fotonásobiČe 10.
Scintilační destička 2 musí být zhotovena z monokrystalu ytrium hliníkového granátu aktivovaného trojmocným cérem, s -4 obsahem nečistotových příměsových prvků nižším jak 1.10 % váh^a to tak, aby jeho index lomu činil 1,80 - 1,85. Pro použití ytrium hliníkového perovskitu aktivovaného trojmocným cérem platí za stejných podmínek index lomu 1,90 - 1,95. Všech na čela scintilační destičky 2» včetně kuželového otvoru 21 musí být vyleštěny do zrcadlového lesku. Vrstva anorganického dielektrika 2 musí mít tlouštku , což pro vlnovou délku 570 nm charakteristického světla emitovaného pro excitaci ytrium hliníkového granátu činí 142,5 nm. Pro vlnovou délku 380 nm charakteristického světla emitovaného pro excitaci ytrium hliníkového perovskitu má vrstva anorganického dielektrika tlouštku 95 nm. Index lomu anorganického dielektrika £ musí být geometrickým průměrem indexů lomu ytrium hliníkového granátu, popřípadě perovskitu a tmele, což je pro granát
229 332
-41 ,66 a pro perovskit 1,70. Pro optické tmelení se používá tmel na bázi epoxidů s indexem lomu 1,45 - 1,55. Jako materiál pro vrstvu anorganického dielektrika lze použít v případě ytrium hliníkového granátu kysličník hlinitý s indexem lomu 1,65, v případě ytrium hliníkového perovskitu kysličník hořečnatý s indexem lomu 1,93·
Scintilační detektor podle vynálezu je určen pro všechny typy rastrovacích elektronových mikroskopů, u nichž je požadavek detekovat zpětně odražené elektrony a mají ve vzorkové komoře přírubu pro montáž přídavného fotonásobiče.

Claims (2)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU 229 332
    1. Scintilační detektor zpětně odražených elektronů sestávající ze scintilační destičky o tlouštce 2 - 5 mm s kuželovým otvorem, mající vstupní čelo opatřeno tenkou vrstvou hliníku, vyznačený tím, že scintilační destička (1) z monokrystalu ytrium hliníkového gr*anátu aktivovaného trojmocným cérem o indexu lomu 1,80 - 1,85 má vstupní čelo zkosené pod úhlem 10 - 15° vůči protilehlému odrazovému čelu, které je opatřeno reflexní hliníkovou vrstvou (4), zatímco výstupní čelo scintilační destičky (1) je přes vrstvu anorganického dielektrika o indexu lomu 1 ,6 - 1,7 a tlouštce 130 - 150 nm spojeno tmelem o indexu lomu 1,45 - 1,55 s polymetylmetakrylátovým světlovodem o indexu lomu 1,45 - 1,55.
  2. 2. Scintilační detektor podle bodu 1, vyznačený tím, že scintilační destička (1) z monokrystalu ytrium hliníkového perovskitu aktivovaného trojmocným cérém o indexu lomu 1,90 - 1,95 má výstupní čelo opatřeno vrstvou anorganického dielektrika o indexu lomu 1,65 - 1,75 a tlouštce 90 - 110 nm.
    1 výkres
CS779882A 1982-11-03 1982-11-03 Scintilační detektor zpětně odražených elektronů CS229332B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS779882A CS229332B1 (cs) 1982-11-03 1982-11-03 Scintilační detektor zpětně odražených elektronů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS779882A CS229332B1 (cs) 1982-11-03 1982-11-03 Scintilační detektor zpětně odražených elektronů

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS229332B1 true CS229332B1 (cs) 1984-06-18

Family

ID=5427735

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS779882A CS229332B1 (cs) 1982-11-03 1982-11-03 Scintilační detektor zpětně odražených elektronů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS229332B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7297959B2 (en) Lens bonded X-ray scintillator system and manufacturing method therefor
JP5607686B2 (ja) 放射線像変換パネル及び放射線イメージセンサ
US5241180A (en) Radiation detection devices with tapered scintillator crystals
US20100301437A1 (en) Anti-Reflective Coating For Sensors Suitable For High Throughput Inspection Systems
EP1218919B1 (en) Electron image detector coupled by optical fibers with absorbing outer cladding to reduce blurring
CN111896511B (zh) 用于固态自旋的高效荧光收集装置及方法
CN1202251A (zh) 液体界面闪烁摄影机
CN1156712C (zh) 光学元件、射线图像传感器及光学元件的制造方法
US3068359A (en) Scintillator component
JP2016157905A (ja) 光学部品
CS229332B1 (cs) Scintilační detektor zpětně odražených elektronů
JP2013019796A (ja) 放射線検出器
US6775452B2 (en) Phosphor coated waveguide for efficient collection of electron-generated photons
JP6878141B2 (ja) 光学素子および光学機器
EP2775319A1 (en) Scintillator having a phase separation structure and radiation detector using the same
US6768836B2 (en) Phosphor coated waveguide for the efficient collection of electron-generated photons
US7560703B1 (en) Integrated segmented scintillation detector
WO2015112946A1 (en) Ceramic wavelength converter having a high reflectivity reflector
US5339003A (en) Laser screen for a cathode-ray tube
US3622796A (en) Selective collector for the wide-angle portion of a radiation beam
Autrata et al. Scintillation detector of backscattered electrons
RU2093869C1 (ru) Светосильный зеркально-линзовый объектив
EP0655424A1 (en) Method of bonding two optical surfaces together, optical assembly thus formed, and particle-optical apparatus comprising such an assembly
US20040159805A1 (en) Dielectric mirror for efficiency boost and flare control in CR collector
US10809393B2 (en) Monocrystal-based microchannel plate image intensifier