CS215955B1 - Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek - Google Patents

Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek Download PDF

Info

Publication number
CS215955B1
CS215955B1 CS716378A CS716378A CS215955B1 CS 215955 B1 CS215955 B1 CS 215955B1 CS 716378 A CS716378 A CS 716378A CS 716378 A CS716378 A CS 716378A CS 215955 B1 CS215955 B1 CS 215955B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
photoresist
matrix
scales
layer
production
Prior art date
Application number
CS716378A
Other languages
English (en)
Inventor
Milan Suchomel
Jaromir Fejt
Petr Kozer
Rudolf Sauer
Original Assignee
Milan Suchomel
Jaromir Fejt
Petr Kozer
Rudolf Sauer
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Milan Suchomel, Jaromir Fejt, Petr Kozer, Rudolf Sauer filed Critical Milan Suchomel
Priority to CS716378A priority Critical patent/CS215955B1/cs
Publication of CS215955B1 publication Critical patent/CS215955B1/cs

Links

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)

Description

Vynález se týká způsobu výroby přesných inkrementálních měřítek, zejména pro elektrooptické měření délek.
Vývoj řízení obráběcích strojů, sestavování automaticky řízených obráběcích center, jakož i další požadavky na numerická řízení v ostatních oblastech techniky vyžadují rozsáhlý rozvoj NC systémů. Nezbytnou součástí těchto systémů jsou odměřovací systémy,sloužící k převodu geometrických veličin, např. u obráběcích strojů posuvu v jednotlivých souřadnicích na číslicový výstup. Kromě systémů, využívajících elektromagnetických principů, např. induktosyn, se používá především měřidel, založených na elektrooptickém principu.
Základním elektrooptickým prvkem elektrooptických odečítačů délek jsou inkrementální měřítka, nazývaná též rastrovými měřítky. Jsou to v podstatě destičky z opticky propustného materiálu, opatřené vrstvou nepropouštějící světlo, zpravidla z vakuově napařeného kovu, v této vrstvě jsou vytvořena opticky propustná políčka, jejichž hustota dosahuje až 100 čar/mm a jejichž šířka, jakož i mezera mezi nimi obnáší 5 yum.
Při použití dvojice těchto měřítek, z nichž jedno je uspořádáno pevně a druhé je vůči němu uspořádáno pohyblivě ve směru měřeni, dochází vzájemným vykrý-áním světlých políček k periodické změně optické propustnosti soustavy. Tato změna propustnosti je fotoelektricky snímána, buď přímo, nebo metodou Moiréových proužků. Jedna změna periody optické propustnosti přitom odpovídá posunutí měřítka o jednu periodu dělení, a slouží tedy k převedení délkového posunutí měřítka na pulsní číselně zpracovatelný elektrický výstup.
Až dosud se tato měřítka vyrábějí technologickým způsobem skládajícím se ze tří hlavních kroků ; zhotovení originální matrice, zhotovení výrobní matrice a výroba vlastního měřítka.
215 955
-2Originální matriceae vyrábí například rytím diamantovým hrotem do kovové vrstvy, vakuově napařené, popřípadě chemicky nanesené na opticky propustné podložce, například skleněné apod. Kovová vrstvae zpravidla vakuově napařená, bývá obvykle z čisté mědi a její tloušťka činí coa 1 000 A.
Z této originální matrice se vyrobí výrobní matrice, sloužící k přenosu přesně definované kresby z originální matrice, mechanicky méně odolné, na vlastní měřítko. Výrobní matrice vykazuje oproti originální matrici mnohem vyšší mechanickou odolnost, jelikož její kovová vrstva, nanesená na opticky propustnou podložku, je tvořena vrstvou chrómu o tloušťce mezi cca 800 až 1 200 ft. Svou vysokou mechanickou odolností umožňuje výrobní matrice výrobu většího počtu měřítek z jedné originální matrice. Kresba je z originální matrice přenášena do chrómové vrstvy výrobní matrice fotochemicky pomocí fotorezistu. Potorezist se nanáší na podložku s chrómovou vrstvou, vysuší a kontaktně se vykopíruje z originální matrice kresba kolimovaným světlem v ultrafialové oblasti, vyvolá, zasuší a chemicky vyleptá, načež se zbytek fotorezistu odstraní. Výsledkem popsaného procesu je výrobní matrice.
Stejným způsobem, tj.nanesením chrómové vrstvy v tloušťce cca 800 až 1 200 ft, zpravidla vakuovým napařením, nanesením vrstvy fotorezistu na chrómovou vrstvu, vysušením fotorezistové vrstvy, kontaktním vykopírováním kresby z originální matrice kolimovaným světlem v ultrafialové oblasti, vyvoláním, zasušením a chemickým vyleptáním s následným odstraněním zbytku fotorezistu, se vyrobí vlastní měřítko.
Uvedený až dosud známý a používaný způsob výroby inkrementálních měřítek vykazuje četné vady a nedostatky. Zejména je obtížné vyrábět měřítka větších rozměrů, zvláště při vyšších hustotách stupnice, v důsledku nesnadného vytváření přesně definované vrstvy fotorezistu na výrobní matrici i na měřítku samém, přičemž je při vytváření fotorezistové vrstvy potřeba poměrně složitého zařízení, navíc značně nákladného. Dále pak při zúžení výbrusu řezné hrany diamantového nástroje pro rytí originální matrice pod cca 30 /um dochází často k narušení opticky propustné podložky ; vyryté políčko ztrácí přesný tvar, rozměr a obrysy a navíc se ještě rychle otupuje nástroj.
Uvedené nedostatky až dosud známého a používaného způsobu výroby těchto měřítek odstraňuje způsob výroby přesných inkrementálních měřítek, zejména pro elektrooptické měření délek, při kterém se do kovové vrstvy vakuově napařené na podklad z opticky propustného materiálu vyryje originální matrice, ze které se vyrobí výrobní matrice fotochemicky pomocí vrstvy fotorezistu, vytvořené na příslušné podložce jejím vytahováním konstantní rychlostí z fotorezistové lázně, a z výrobní matrice se stejnou cestou vyrábí vlastní měřítka, přičemž podstata vynálezu spočívá v tom, že při rytí do kovové vrstvy originální matrice se měrný přítlak diamantového nástroje udržuje v rozmezí 800 až 6 000 MPa a tloušťka fotorezistové vrstvy činí 0,5 až ,1,5 /um + 10 %, přičemž teplota fotorezistové lázně činí 20 až 24 °C, viskozita 8 až 15 cP a rychlost vytahování 0,1 až 1,0 mm/s.
Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek podle vynálezu je v následujícím podrobněji popsán na příkladu konkrétního provedení :
Na skleněnou destičku z borosilikátového skla EK 7 o rozměrech 300x80 mm-a tloušťce 10 mm, broušenou a leštěnou a předčištěnou alkoholem, byla vakuově napařena vrstva mědi v tloušťce cca 1 000 ft. Do této vrstvy byla na délkovém stroji pro rytí stupnic vyryta v lázni neutrálního minerálního cleje s přísadou 30 % petroleje stupnice 100 čar/mm diamantovým hrotem při měrném přítlaku na hrot rostoucím od 850 MPa do 3 300 MPa v délce 250 mm.
Po odrytí byla destička opláchnuta benzinem a opatřena ochrannou vrstvou fotorezistu v tlošťce 1,2 /um.
Výrobní matrice ze skla téže jakoati byla opatřena vakuově napařenou vrstvou chrómu v tloušťce cca 1 000 ft a vnesena do fotorezistové lázně, připravené z fotorezistu SCŘ 3.3 zředěním příslušným ředidlem v poměru 1:1, takže při 20 °C činila viskozita lázně 12,3 cP, hustota 0,8746 p/cm^, teplota 20,4 °C. Z této lázně byla destička vytahována svisle vzhůru stejnoměrnou rychlostí 0,33 mm/s a sušena po dobu 30 minut při 80 °C. Tloušťka fotorezistové vrstvy Činila 1,2 yum.
215 955
-3Potom byla ve vakuovém rámu, jehož horní stranu tvořila originální matrice, při 20 °C kontaktně exponována fotorezistová vrstva výrobní matrice průchodem expoziční štěrbinou, přičemž jako zdroje kolimovaného světla spektrální vlnové délky 330 až 450 /um bylo použito vysokotlaké rtuťové výbojky s křemeriným kondenzorem. Doba expozice činila 6 s. Exponované fotorezistová vrstva byla vyvolána dvoustupňové vždy 1 minutu v použité a 1 minutu v Čerstvé vývojce pro SCR 3, opláchnuta lihem a usušena, při 140 °C po dobu 30 minut. Po vychladnutí bylo provedeno leptání v roztoku 1 objemového dílu 50 % roztoku hydroxydu draselného a 3 objemových dílů 33 % roztoku červené krevní soli po dobu 4 minut při 20 °0. Potom byla vrstva zbylého fotorezistu odstraněna nabotnáním a mechanickým otěrem v trichlorethylenu. Byla získána přesná negativní kresba v chromové vrstvě výrobní matrice.
Stejným postupem bylo zhotoveno vlastní měřítko o rozměrech 220x38 mm tloušťky 5 mm. Měřítko při porovnání a měřítky, zhotovenými až dosud používaným způsobem, vykázalo podstatně lepší jakost'a zejména větší přesnost kresby políček.
Je zřejmé, že popsaný způsob provedení vynálezu je příkladný, a že jej lze obměňovat, například při vytváření fotorezistové vrstvy je možno místo vytahování podložní destičky z lázně ponechat destičku nehybnou a lázeň z nádoby vypouštět tak, aby hladina v nádobě klesala příslušnou rychlostí apod. Popisovaný způsob podle vynálezu rovněž není omezen pouze na výrobu inkrementálních měřítek, ale lze jej použít stejně dobře i při výrobě jiných stupnic, například při výrobě absolutních měřítek, dále měřítek určených pro optická odečítání, při výrobě různých matric, například pro tištěné spoje apod.,aniž se tím výjde z rámce vynálezu.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek, zejména pro elektrooptické měření délek, při kterém se do kovové vrstvy vakuově napařené na podklad z opticky propustného materiálu vyryje originální matrice, ze které se vyrobí výrobní matrice fotochemicky pomocí vrstvy fotorezistu, vytvořené na příslušné podložce jejím vytahováním konstantní rychlostí z fotorezistové lázně, a z výrobní matrice se stejnou cestou vyrábí vlastní měřítka, vyznačený tím, že při rytí do kovové vrstvy originální matrice se měrný přítlak diamantového nástroje udržuje v rozmezí 800 až 6 000 MPa a tloušťka fotorezistové vrstvy činí 0,5 až 1,5 /um + 10 %, přičemž teplota fotorezistové lázně činí 20 až 24 °C, viskozita 8 až 15 cP a rychlost vytahování 0,1 až 1,0 mm/s.
CS716378A 1978-11-02 1978-11-02 Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek CS215955B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS716378A CS215955B1 (cs) 1978-11-02 1978-11-02 Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS716378A CS215955B1 (cs) 1978-11-02 1978-11-02 Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS215955B1 true CS215955B1 (cs) 1982-10-29

Family

ID=5420246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS716378A CS215955B1 (cs) 1978-11-02 1978-11-02 Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS215955B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI82989B (fi) Foerfarande foer framstaellning av en ljusvaogledare.
US5004673A (en) Method of manufacturing surface relief patterns of variable cross-sectional geometry
US4797316A (en) Etched glass and process of manufacturing same
Stookey Chemical machining of photosensitive glass
US5998066A (en) Gray scale mask and depth pattern transfer technique using inorganic chalcogenide glass
CA2056307A1 (en) Method of manufacturing a stamper
US2447836A (en) Precision images and methods of producing them
US5269888A (en) Method of fabricating integrated optical devices by means of field-assisted ion exchange
JPH0449921B2 (cs)
US3370948A (en) Method for selective etching of alkali glass
EP0497742A1 (en) A graduated element for optical reading by reflection and a method for its manufacture
US1922434A (en) Method of indexing glass photomechanically
CS215955B1 (cs) Způsob výroby přesných inkrementálních měřítek
CA2056308A1 (en) Method for manufacturing a photomask for an optical memory
CN217465690U (zh) 一种采用激光雕刻技术制造的光栅尺
US4026743A (en) Method of preparing transparent artworks
CN110658695B (zh) 一种基于无掩模直写光刻的光学窗口透射波前修正方法
GB2043107A (en) Engraving metal surfaces
US2852373A (en) Reproducing engineering data
Bovey Graticules and fine scales: their production and application in modern measuring systems
DE19502624A1 (de) Maske zur 3D-Strukturierung und Verfahren zu ihrer Herstellung
SU1045201A1 (ru) Способ изготовлени пропускающей измерительной фазовой диффракционной решетки
SU1215081A1 (ru) Способ изготовлени фотошаблонов
SU1532308A1 (ru) Способ очистки пробелов фотополимерных печатных форм на основе полиакрилатов
SU1046804A1 (ru) Способ контрол точности совмещени при микролитографии