CS208550B1 - Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky - Google Patents

Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky Download PDF

Info

Publication number
CS208550B1
CS208550B1 CS81079A CS81079A CS208550B1 CS 208550 B1 CS208550 B1 CS 208550B1 CS 81079 A CS81079 A CS 81079A CS 81079 A CS81079 A CS 81079A CS 208550 B1 CS208550 B1 CS 208550B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
input
multiplexer
output
counter
control input
Prior art date
Application number
CS81079A
Other languages
English (en)
Inventor
Bedrich Sindelar
Original Assignee
Bedrich Sindelar
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bedrich Sindelar filed Critical Bedrich Sindelar
Priority to CS81079A priority Critical patent/CS208550B1/cs
Publication of CS208550B1 publication Critical patent/CS208550B1/cs

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Description

Vynález se týká generátoru porušení oikolí paměťové buňky. Pro svou funkci využívá pevné paměti jako registru slova, jehož obsahem je řízeným přepínáním zaplněna zkoušená paměť.
Doposud užívané způsoby generování vzorku porušení okolí paměťové buňky využívají programového vybavení, což vede k náročnějšímu systému.
Tyto nevýhody odstraňuje generátor podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že sestává z registru slova jehož první výstup, druhý výstup a třetí výstup jsou připojeny na první vstup, druhý vstup a třetí vstup prvního multiplexoru, přičemž čtvrtý výstup, pátý výstup a šestý výstup registru slova jsou připojeny na první vstup, druhý vstup a třetí vstup druhého multiplexoru a sedmý výstup, osmý výstup a devátý výstup registru slova jsou připojeny na první vstup, druhý vstup a třetí vstup třetího multiplexoru, přičemž výstup prvního multiplexoru je připojen na první výstup čtvrtého multiplexoru, výstup druhého multiplexoru je připojen na druhý vstup čtvrtého multiplexoru a výstup třetího multiplexoru je připojen na třetí vstup čtvrtého multiplexoru, přičemž první výstup prvního čítače je spojen s prvním ovládacím vstupem prvního multiplexoru, s prvním ovládacím vstupem druhého multiplexoru a s prvním ovládacím vstupem třetího multiplexoru, přičemž druhý výstup prvního čítače je spojen s druhým ovládacím vstupem prvního multiplexoru, s druhým ovládacím vstupem druhého multiplexoru a s druhým ovlá2 dacím vstupem třetího multiplexoru, přičemž první výstup druhého čítače je připojen na první ovládací vstup čtvrtého multiplexoru a druhý výstup druhého čítače je připojen na druhý vstup čtvrtého multiplexoru, přičemž hodinový vstup druhého čítače je připojen na výstup posledního bitu čítače počtu slopců zkoušené paměti, jehož hodinový vstup je připojen ná hodinový vstup prvního čítače a z výstupu čtvrtého multiplexoru je odebírán vzorek.
Vynález zjednodušuje obvodové vybavení a nevyžaduje vybavení programové. Umožňuje zkoušení každé paměťové buňky vzhledem ke čtyřem sousedním buňkám úplným testem, čímž přispívá k dokonalému ověření funkce zkoušené paměti.
Na připojeném obrázku je znázorněno blokové zapojení generátoru vzorku porušení okolí paměťové buňky.
Generátor podle vynálezu sestává z registru slova 1, jehož první výstup 11, druhý výstup 12 a třetí výstup 13 jsou připojeny na první vstup 31, druhý vstup 32 a třetí vstup 33 prvního multiplexoru 3, přičemž čtvrtý výstup 14, pátý výstup 15 a šestý výstup 16 registru slova 1 jsou připojeny na první vstup 41, druhý vstup 42 a třetí vstup 43 druhého multiplexoru 4 a sedmý výstup 17, osmý výstup 18 a devátý výstup 19 registru slova 1 jsou připojeny na první vstup 51, druhý vstup 52 a třetí vstup 53 třetího multiplexoru 5, přičemž výstup 36 prvního multiplexoru 3 je připojen na první vstup 81 čtvrtého multiplexoru 8, výstup 46 druhého multiplexoru 4 je připojen na druhý
208 550
208 vstup 82 čtvrtého multlplexoru a výstup 36 třetího multiplexoru 5 je připojen na třetí vstup 83 čtvrtého multiplexoru 8, přičemž první výstup 22 prvního čítače 2 je spojen s prvním ovládacím vstupem 34 prvního multiiplexoru 3, s prvním ovládacím vstupem 44 druhého multiplexoru 4 a s prvním ovládacím vstupem 54 třetího multiplexoru 5, přičemž druhý výstup 23 prvního čítače je spojen s druhým ovládacím vstupem 33 prvního multlplexoru, s druhým ovládacím vstupem 43 druhého multiplexoru a s druhým ovládacím vstupem 55 třetího multiplexoru, přičemž první výstup 72 druhého čítače 7 je připojen na první ovládací vstup čtvrtého multiplexoru a druhý výstup 73 druhého čítače 7 je připojen na druhý vstup čtvrtého multiplexoru 8, přičemž hodinový vstup 71 druhého čítače 7 je připojen na výstup 62 posledního bitu čítače 6 počtu slopců zkoušené paměti, jehož hodinový vstup 61 je připojen na hodinový vstup 21 prvního čítače 2 a z výstupu 86 čtvrtého multiplexoru 8 je odebírán vzorek.
Generátor podle vynálezu umožňuje zkou550 šet každou buňku zkoušené paměti úplným testem vzhledem k sousedním čtyřem buňkám. Registr slova 1 obsahuje devět bitů, které jsou do paměti zaznamenávány tím způsobem, že do první řádky je střídavě zaznamenávána první trojice bitů registru slova 1, do druhé řádky je střídavě zaznamenávána druhá trojice a do třetí trojice bitů registru slova 1. Čítač 2 řídí cyklické přepínání bitů v jednotlivých trojicích, přičemž první trojice je přepínána prvním multiplexorem 3, druhá trojice druhým multiplexorem 4 a třetí trojice bitů je přepínána multiplexorem 5. Po naplnění čítače 6, který určuje počet sloupců zkoušené paměti je změněn stav čítače 7 a tím je na výstup multiplexoru 8 přiveden bit z příslušné trojice bitů registru slova 1. Pro vytvoření úplného testu porušení okolí paměťové buňky existuje 32 různých obsahů registru slova 1.
Generátor podle vynálezu může být využit ve zkušebních zařízeních servisních a výrobních služeb počítačů a zařízení používajících paměti.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT
    Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky vyznačující se tím, že sestává z registru slova (1), jehož první výstup (11), druhý výstup (12) a třetí výstup (13) jsou připojeny na první vstup (31), druhý vstup (32) a třetí vstup (33) prvního multiplexoru (3 j, přičemž čtvrtý výstup (14), pátý výstup (15) a šestý výstup (16) registru slova (lj jsou připojeny na první vstup (41), druhý vstup (42) a třetí vstup (43) druhého multiplexoru (4) a sedmý výstup (17), osmý výstup (18) a devátý výstup (19) registru slova (lj jsou připojeny na první vstup (51), druhý vstup (52) a třetí vstup (53) třetího multiplexoru (5j, přičemž výstup (36) prvního multiplexoru (3) je připojen na první vstup (81) čtvrtého multiplexoru (8), výstup (46) druhého multiplexoru (4) je připojen na druhý vstup (82) čtvrtého multiplexoru a výstup (56) třetího multiplexoru (5) je připojen na třetí vstup (83) čtvrtého multiplexoru (8), přiVYNÁLEZU čemž první výstup (22) prvního čítače (2) je spojen s prvním ovládacím vstupem (34) prvního multiplexoru (3), s prvním ovládacím vstuipem (44) druhého multiplexoru (5) a s prvním ovládacím vstupem (54) třetího multiplexoru (5), přičemž druhý výstup (23) prvního čítače je spojen s druhým ovládacím vstupem (35) prvního multiplexoru, s druhým ovládacím vstupem (45) druhého multiplexoru a s druhým ovládacím vstupem (55) třetího multiplexoru, přičemž první výstup (72) druhého čítače (7) je připojen na první ovládací vstup (84) čtvrtého multiplexoru a druhý výstup (73) druhého čítače (7) je připojen na druhý vstup (85) čtvrtého multiplexoru (8), přičemž hodinový vstup (71) druhého čítače (7) je připojen na výstup (62) posledního bitu čítače (6) počtu sloupců zkoušené paměti, jehož hodinový vstup (61) je připojen na hodinový vstup (21) prvního čítače (2).
CS81079A 1979-02-06 1979-02-06 Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky CS208550B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS81079A CS208550B1 (cs) 1979-02-06 1979-02-06 Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS81079A CS208550B1 (cs) 1979-02-06 1979-02-06 Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS208550B1 true CS208550B1 (cs) 1981-09-15

Family

ID=5340942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS81079A CS208550B1 (cs) 1979-02-06 1979-02-06 Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS208550B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0242599A2 (en) Method and apparatus for simulating memory arrays in a logic simulation machine
JP3020035B2 (ja) 集積回路装置のテスト方法及び該方法でテストするのに好適な集積回路装置
GB2148029A (en) Very large scale integrated circuit subdivided into isochronous regions and methods for the machine-aided design and testing of such a circuit
JPH0750159B2 (ja) テストパタ−ン発生装置
WO2001063647A2 (en) Digital circuit implementation by means of parallel sequencers
EP0655744B1 (en) Multibit semiconductor memory device
KR19980080448A (ko) 반도체 메모리 시험장치
CS208550B1 (cs) Generátor vzorku porušení okolí paměťové buňky
US5309444A (en) Integrated circuit including a test cell for efficiently testing the accuracy of communication signals between a standard cell and an application cell
JPS5641599A (en) Address generation system of pattern generator
JPS60242380A (ja) 集積回路の故彰診断容易化回路
SU1416979A1 (ru) Устройство дл определени объема выборки параметров контрол
KR19990013307A (ko) 에뮬레이트 장치
JPH0748317B2 (ja) 半導体メモリ検査方式
SU875377A1 (ru) Ассоциативный параллельный процессор
CS203360B1 (cs) Generátor programu vzorku pro zkouienl pamětí
SU1481749A1 (ru) Устройство дл умножени
SU748504A1 (ru) Запоминающее устройство
JPS6168800A (ja) メモリ試験装置
SU936034A1 (ru) Резервированное запоминающее устройство
SU696446A1 (ru) Адаптивное вычислительное устройство
SU805413A1 (ru) Посто нное запоминающее устройство
JPS62237552A (ja) 試験アドレス制御方式
SU452036A1 (ru) Устройство дл защиты пам ти
JP3291771B2 (ja) メモリ試験用ブロックアドレスパターン発生器