CS197440B1 - Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer - Google Patents
Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer Download PDFInfo
- Publication number
- CS197440B1 CS197440B1 CS14176A CS14176A CS197440B1 CS 197440 B1 CS197440 B1 CS 197440B1 CS 14176 A CS14176 A CS 14176A CS 14176 A CS14176 A CS 14176A CS 197440 B1 CS197440 B1 CS 197440B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- radiation
- optical radiation
- optic
- optical
- mirror
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 53
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 5
- 239000011343 solid material Substances 0.000 title 1
- 230000004431 optic radiations Effects 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims description 11
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 240000004246 Agave americana Species 0.000 claims 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
ČESKOSLOVENSKASOCIALISTICKÁREPUBLIKA( 19 )
POPIS VYNÁLEZU
K AUTORSKÉMU OSVEDČENIU 197 440 (11) (Bl)
(61) (23) Výstavná priorita(22) Přihlášené 09 01 76(21) PV 141-76 (51) Int. Cl? O 01 J 3/08G 02 B 27/17G 02 P 1/19
ÚŘAD PRO VYNÁLEZY
A OBJEVY (40) Zverejnené 31 08 79 (45) Vydané 01 5 82 (75)
Autor vynálezu ŽATKOVIČ JURAJ ing. a NĚMEČKOVÁ ANNA prom. fy a., BRATISLAVA (54) Spfieob kvantitativného etanovenia hodnoty koefioientu kolmej odraznosti optickéhožiarenia tuhýoh látok a optický reflektometer 1
Predmetom vynálezu je spčsob merania koefioientu kolmej odraznosti optického žiare-nia tuhýoh látok, ako aj optický reflektometer umožňujúoi kvantitativné stanovenie hodnotykoefioientu kolmej odraznosti optiokého žiarenia od tuhýoh látok a to ak integrálněj, takaj spektrálnéj.
Doteraz nie sú známe reflektometre na meranie koefioientu kolmej odraznosti optické-ho žiarenia tuhýoh látok, ale len zariadenia na meranie koefioientu odraznosti optiokéhožiarenia pod určitým uhlom, alebo koefioientu difúznej odraznosti optiokého žiarenia,v ktorom sa například využívá rotujúoi kotúč so segmentami, na ktorýoh je nanesená skúmanáodrazná vrstva striedavo s referenčnou odraznou vrstvou na nasledujúoom segmente. ÍSalej súznáme zariadenia využlvajúoe rotujúoi kotúč na upínanie meranej i referenčnej vzorky na-příklad gulbvý fotometer, ktorým sa meria koefioient difúznej odraznosti optiokého žiare-nia tak, *že sa kotúč čiastočne pootočí, pričom sa vzorka posunie do zorného polM reflekto-metra a zmeria sa koefioient difúznej odraznosti optiokého žiarenia.
DoterajSie zariadenia neumožnili merat* koefioient kolmej odraznosti optiokého žiare-nia, ale len koefioient odraznosti optiokého žiarenia s deviáoiou minimálně osem stupňov,čo neumožňuje zlskanie pravdivej informáoie o koefioiente kolmej odraznosti optiokéhožiarenia, najma nie u difúznyoh povrohooh tuhýoh látok. 197 440 197 440
Spóeob kvantitativného etanovenia hodnoty koefioientu kolméj odraznosti optiokéhožiarenia tuhýoh látek umožňuje spóeob merania podlá vynálezu, pri ktorom nemodulovaná op-tioké žiarenie, vyohádzajúoe zo zdroje optiokého žiarenia alebo jeho časť, dopadá oez polopriepustná zrkadlo na referenčnú vzorku, od ktorej sa odrazené optioké žiarenie vraoiaspát’ na polopriepustné zrkadlo, pričom velkost’ časti žiarenia nim preohádzajúoeho sa zme-ria detekčnou sústavou optiokého žiarenia, potom dopadá nemodulované optioké žiarenie zno-va na polopriepustné zrkadlo, nim odrazená i preohádzajúoa časť optiokého žiarenia sa mo-duluje a potom dopadá na referenčnú vzorku. Velkost’ odrazenej časti modulovaného optiokéhožiarenia sa po preohode polopriepustným zrkadlom zmeria detekčnou sústavou optiokého žia-renia, potom sa zmeria detekčnou sústavou optiokého žiarenia velkost’ obooh odrazenýoh čas-tí optiokého žiarenia po dopade modulovaného optiokého žiarenia striedavo na referenčnúi meranú vzorku, koefioient kolmej odraznosti optického žiarenia skúmanej vzorky sa urču-je potom zo vztáhui 9X- " 9jr a3 " aaal - a2
Zariadením na kvantitativné stanovenie hodnoty koefioientu kolmej odraznosti optio-kého žiarenia je optioký reflektometer podlá vynálezu, ktorý pozostává zo zdroja optioké-ho žiarenia a zo zariadení na umiestnenie meranej i referenčnej vzorky, u kterého rotačnýmodulačný kotúč, kruhovo nesymetrický, je tvořený nepámym počtem rovnakýoh modulačnýohsegmentov tvaru výseče medzikružia, medzi ktorými sú modulačně otvory rovnako velké arovnakého tvaru ako modulačně segmenty, pričom jednotlivé časti optiokého reflektometrasú usporiadané navzájem tak, že optioké žiarenie, vyohádzajúoe zo zdroja optiokého žia-renia dopadá na polopriepustné zrkadlo pod takým ostrým uhlom ku kolmioi polopriepustnéhozrkadla, že toto dělí zvázok lúčov optiokého žiarenia na dve rovnaké časti, pričom jednot-livé časti optiokého žiarenia od polopriepustného zrkadla dopadajú na rotujúoi modulačnýkotúč, kruhovo nesymetrioký, v dvooh jeho miestaoh v uhle dopadu U5° a oez tento modulač-ný ketúč, kruhovo nesymetrický, dopadá striedavo na meranú i referenčnú vzorku, umlestne-né v rovnakej vzdialenosti od polopriepustného zrkadla svojou odraznou ploohou kolmo nadopadajúoi lúč, od nej sa odráža část* optiokého žiarenia do detekčnej sústavy optiokéhožiarenia oez polopriepustné zrkadlo.
Na Obr. 1 je znázorněná sohématioky celková zostava optiokého reflektometra podlávynálezu, kde za zďrojom optiokého žiarenia jL je polopriepustné zrkadlo 10, ktoré rozde- . t láje optioké žiarenie na dva na seba kolmé lúče tým, že část* optiokého žiarenia odráža ačást* prepúétá na rotačný modulačný kotúč 2 kruhovo nesymetrický a na detekčnú sústavuoptiokého žiarenia 2.» dálej na zariadenie 4 na umiestnenie meranej vzorky i na zariadenie5 na umiestnenie referenčnej vzorky.
Obr. 2 znázorňuje schématicky tvar rotačného modulačného kotúča 2, ktorý je kruhovonesymetrioký a je tvořený nepámym počtom rovnako velkých modulačnýoh segmentov 6. tvaruvýseče medzikružia, medzi ktorými sú modulačně otvory £ rovnako velké a rovnakého tvaru
Claims (2)
1. Spdsob kvantitativného stanovenia hodnoty koeficientu kolmej odraznosti optického žia-renia tuhýoh látok pomooou optiokého reflektometra, vyznačujúoi sa tým, že nemodulova-né optické žiarenie, vyohádzajúoe zo zdroja optiokého žiarenia /1/ alebo jeho časť,sa nechá dopadat’ cez polopriepustné zrkadlo /10/ na referenčnú vzorku /8/, od nej saodrazené optioké žiarenie vraoia spfiť na polopriepustné zrkadlo /10/, pričom velkost’časti žiarenia ním preohádzajúoeho /a^/ sa zmeria dotekžnou sústavou optického žiare-nia /3/, potom sa vedie nemodulované optické žiarenie znova na polopriepustné zrkadlo/10/ ním odrazená i preohádzajúoa část* optiokého žiarenia sa moduluje a potom sa neohádopadat’ na referenčnú vzorku /8/. Velkost’ odrazenej časti modulovaného optického žia-renia /&<>/ PO preohode polopriepustným zrkadlom /10/ sa zmeria detekčnou sústavou op-tiokého žiarenia /3/, potom po dopade modulovaného optiokého žiarenia striedavo na re-ferenčnú /8/ i meranú /9/ vzorku sa detekčnou sústavou optiokého žiarenia /3/ zmeriatá velkost’ optiokého žiarenia /a^/ od obooh odrazených častí optiokého žiarenia, ktorása dostává polopriepustným zrkadlom /10/ na detekčnú sústavu optiokého žiarenia /3/ akoefioient kolmej odraznosti optiokého žiarenia skúmanej vzorky sa určí zo vzťahui - a. J_r *
2. Optioký reflektometer na kvantitativné stanovenie hodnoty koefioientu kolmej odraznostioptiokého žiarenia tuhýoh látok podlto. bodu 1, pozostávajúoi zo zdroja optiokého žiare-nia, z rotečného modulačného kotúča, z detekčnej aústavy optického žiarenia, zo zaria-dení na umiestnenie meranej a referenčnej vzorky a z polopriepustného zrkadla, vyzna-čujúoi sa tým, že rotačný modulačný kotúč /2/ je kruhovo nesymetrioký, tvořený nepár-nym počtom rovnakýoh modulačnýoh segmentov /6/ tvaru výseče medzikružia, medzi modulač-nými segmentami /6/ sú modulačné otvory /7/ rovnako velké a rovnakého tvaru ako modu-lačné segmenty /6/, pričom jednotlivé časti optiokého reflektometra sú usporiadané 1» 197 440 navzájom tak, Se optické Siarenie dopadá na polopriepustné zrkadlo /10/ pod takýmostrým uhlom ku kolmioi na rovinu polopriepustného zrkadla /10/, že toto dělí zv&zoklúSov optiokého Siarenia na dve rovnaké Sasti, priSom optické Siarenie od polopriepust-ného zrkadla /10/ dopadá na rotujúoi rotačný modulaSný kotúS /2/, kruhovo nesymetriokýa to v dvooh jeho miestaoh v uhle dopadu 45° a oez tento dopadá striedavo na meranú /9/i referenSnú /8/ vzorku, ktoré sú umiestnené v rovhakej vzdialenosti od polopriepust-ného zrkadla /10/ svojou odraznou plochou kolmo na dopadajúoi lúS, od nioh sa odráSaSasť optického Siarenia do detekfinej sústavy optického Siarenia /3/ oez polopriepuatnézrkadlo /10/, 3 výkresy i
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS14176A CS197440B1 (en) | 1976-01-09 | 1976-01-09 | Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS14176A CS197440B1 (en) | 1976-01-09 | 1976-01-09 | Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS197440B1 true CS197440B1 (en) | 1980-05-30 |
Family
ID=5333050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS14176A CS197440B1 (en) | 1976-01-09 | 1976-01-09 | Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS197440B1 (cs) |
-
1976
- 1976-01-09 CS CS14176A patent/CS197440B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4816670A (en) | Optical measuring head | |
| EP0022263A2 (en) | Light curtain apparatus with provision for generating a cyclically varying scale signal | |
| EP0220757B1 (en) | Optical transducer element and displacement meter comprising such an element | |
| CA2785413A1 (en) | X-ray diffraction instrument | |
| US4969744A (en) | Optical angle-measuring device | |
| EP0248479A1 (en) | Arrangement for optically measuring a distance between a surface and a reference plane | |
| JPH0248054B2 (cs) | ||
| EP0396409A3 (en) | High resolution ellipsometric apparatus | |
| EP0259036A3 (en) | Inspection apparatus | |
| FI78355C (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
| GB2135772A (en) | Determination of surface roughness | |
| US6476910B1 (en) | Light scattering apparatus and method for determining radiation exposure to plastic detectors | |
| CS197440B1 (en) | Method of quantitative determination of the value of the coeficient of the vertical reflectibility of the optical radiation of the solid material and the optical reflectometer | |
| GB2126716A (en) | Automatic checking of surfaces | |
| CA2073344C (en) | Fluorescence assay apparatus | |
| EP0408722A1 (en) | A method for detecting optical phase changes during biosensor operation, biosensing apparatus and a biosensor adapted for use in the same | |
| GB1589176A (en) | Device for determining a condition at a surface of a subject or within a liquid | |
| JPH03214038A (ja) | 空気中に散布されたエアロゾルと粉麈などの測定装置 | |
| US4273446A (en) | Light spot position sensor for a wavefront sampling system | |
| KR100252937B1 (ko) | 엑스(x)선을이용한박막재료의밀도측정방법 | |
| JPS5593003A (en) | Measuring method for plate thickness of plate-shape transparent body | |
| JPS61235707A (ja) | 膜厚測定装置 | |
| SU1155848A1 (ru) | Устройство дл измерени шероховатости полированных поверхностей объектов | |
| JPH08159878A (ja) | 照受光装置 | |
| JP2952284B2 (ja) | Ｘ線光学系の評価方法 |