CN85202316U - 综合老化台 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于电子元器件的老化设备。

本实用新型采用抽屉式积木结构将各功能箱与机柜组合在一起。老化箱与老化板之间采用活板结构。集成电路老化板上装有可更换的条件板，以便对各种集成电路进行老化。对正在老化的集成电路可同时进行检测(采用示波器加电流表同时观察输出波形和电流值)。适用于对各种电子元器件进行老化和寿命试验以及质量分析的场合。

Description

本实用新型属于电子元器件的老化设备。

随着电子技术的迅速发展，电子设备已经广泛用于科学技术的各个领域。对电子产品的可靠性也日益重视。因此对电子元器件的可靠性提出了更高的要求。在电子元器件（包括电阻、电容、二极管、晶体管、集成电路等）的出厂前以及用户使用前都要将这些元器件进行老化筛选，用以剔除早期失效和稳定性差的那部分元件，从而保证其使用的可靠性。目前大多数单位采用的是品种单一的老化设备。用户面对众多的电子元器件就需购买多台老化设备。而且有些电子元器件的老化台还没有成品供应。在现有的多品种的综合老化台中，以航天部重庆巴山仪器厂生产的7913系列综合老化台为先进，但是该老化台对集成电路仍然不能老化，此外还存在老化箱和老化板之间采用固定搭配。老化夹具固定，一次只能老化一个品种（二端器件或者晶体管）。以及扩展老化困难等缺点。即使对于专用的集成电路老化设备，也不能同时兼顾到老化各类集成电路（包括数字集成电路、模拟集成电路和其他类型集成电路）对特殊、非标准的集成电路老化就更为困难。

本实用新型的目的在于制造出一种新型的综合老化台。可同时兼容老化二端器件、晶体管和集成电路三种类型的元器件。对老化中的元器件还可随机检测。

本实用新型的特点在于：

1.采用积木组合结构。老化板与老化箱之间采用“活板”结构组合。即采用接插形式。对于各功能箱（包括控制箱（1）、电源箱（5）、高温箱（6）二端器件老化箱（3）、晶体管老化箱（2）集成电路老化箱（4））与机柜的组合采用抽屉式积木结构。各功能箱可以根据需要自由组合。以便增减某一品种的老化数量和扩展老化品种（特殊的、非标准的和新的品种）。

2.为解决不同类型集成电路的老化兼容问题。采用了“条件板”方式，即对于某一品种的集成电路老化，每块被老化集成电路旁边配有一块专用条件板，与被老化集成电路一一对应，并分插在完全并联的双列插座上，条件板用接插件与老化板组合。如要更换老化的集成电路品种，只需更换相应的条件板。

3.集成电路的参数测试相当复杂。在老化箱内的集成电路品种各异，其测试就更为困难。本实用新型采用测量集成电路输出波形和测量工作电流相结合的方法，来分析集成电路在老化中的情况。其构成是将被测电路与条件板上的元器件构成完整的电路。定时测试整体工作电流。并以工作电流的稳定情况来判断分析集成电路质量。本实用新型还设置了信号源和示波器，用以检查集成电路输出波形是否符合要求，借以剔除失效的器件。

本实用新型的综合老化台，既可用作老化，又可作为高温测试筛选元器件的设备，还可进行质量分析，做寿命试验。每次老化既可以单一品种，又可以同时老化多个品种。本实用新型采用连续方式工作，装有定时、报警、高温测试、高温控制和过压保护等装置，可同时老化功率小于1瓦的晶体管200只，老化电流小于1A的二端器件（电阻、电容、二极管、稳压管）200只，接脚不大于18脚（也可以扩展到40脚）的集成电路100只。这样为科研单位、大专院校及小批量生产电子设备的工厂和其它需要老化电子元器件和寿命试验的单位提供了经济合理的老化设备。

图1a为本实用新型的实物照片。

图1b为本实用新型的老化板实物照片。

图2为本实用新型的组合示意图。

图3为本实用新型的集成电路测试原理图。

图4为本实用新型的集成电路老化插座接线图。

图5为本实用新型的方框示意图。

实施例：

本实用新型是由机柜（7）和各功能箱所组成（图1）。功能箱包括控制箱（1）、晶体管老化箱（2）、二端器件老化箱（3）、集成电路老化箱（4）、电源箱（5）、高温箱（6）。将各功能箱制成规格统一的抽屉。与机柜以积木式组合在一起。其中老化板与老化箱之间采用三个40线的镀金接插件相连接（图2）。其中晶体管老化板（10）与晶体管老化箱（2）组合，二端器件老化板（8）与二端器件老化箱（3）组合，集成电路老化板（9）与高温箱（6）组合。高温箱（6）与集成电路老化箱（4）互连。所有老化箱与机柜（7）组合，各老化箱老化板都可以根据需要增减，以扩展老化数量或品种。图3展示了对老化中的集成电路进行测试的原理图，其中（CP）为输入信号，由安置在本发明中的信号发生器（20）产生，其频率为正弦波信号为50Hz，方波信号为50Hz～500Hz。（OUT）为输出信号，将被测电路（X）输出的信号送到示波器（14）上。本实用新型中安置频率范围10Hz～1.5MHz的J2459示波器，作为检测信号和维修用。测试中将被测电路（X）与条件板（C′）组成一个工作状态的完整电路，每一个品种的集成电路都有一一对应的条件板，这样可根据需要进行老化测试。电源（F₁）为可调直流稳压电源，（E₂）为备用可调直流稳压电源，都在4～30V可调。图中的（G）均为地线。图4为集成电路老化插座接线图。其中，（A）为双列或扁平封装夹具插座。（B）为金属圆壳集成电路插座。（C）为条件板插座。

图5为本实用新型的方框示意图。控制箱（1）。电源（E₃）（E₄）分别为0～100V可调直流电源和恒压直流电源，向晶体管老化箱（2）供电；电源（E₅）（E₆）分别为0～90V可调直流电源和恒压直流电源，向二端器件老化箱供电；（16）为定时单元，它可分别对各老化箱进行老化定时，时间范围在1～99小时内。本实用新型装有过压保护装置（18）。其整定范围在4～30V，短路过流检测装置（17）其整定范围为0.5～10A；对于过压和过流均可通过报警单元（19）报警。高温箱（6）采用1KW的电炉加热，其温度在50℃～85℃范围内，温度测试控制器（15）可测量和控制高温箱（6）中的温度。信号发生器（20）、示波器（14）及检测单元（13）安装在集成电路老化箱（4）内，对老化的集成电路性能进行检测。检测单元（11）（12）分别检测晶体管老化箱（2）和二端器件老化箱（3）中老化的元器件性能。本实用新型采用24V直流稳压电源（E₁）作为整机工作电源。

Claims (3)

1、一种综合老化台，由各功能箱(包括二端器件老化箱[3]、晶体管老化箱[2]、集成电路老化箱[4]、控制箱[1]、电源箱[5]、高温箱[6]和机柜[7])所组成。其特征在于所述的综合老化台。各功能箱与机柜之间采用抽屉式积木结构组合。各老化箱与老化板之间采用接插的活板结构组合。

2、按照权利要求1所述的综合老化台，其特征在于集成电路老化板〔9〕上装有对各种集成电路老化的条件板〔C〕，条件板与被老化集成电路一一对应，并且条件板采用接插件与老化板组合。

3、按照权利要求1或2所述的综合老化台，其特征在于装有对高温箱中老化的集成电路进行随机检测的装置，采用示波器和电流表结合进行检测。

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