CN2833511Y - 覆层测厚仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型有关一种覆层测厚仪，包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块，所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外，用以与被测量表面接触；所述测量电路位于壳体内，与所述测头电连接，接收测头的输入信号并输出信号给控制模块；所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路；所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接，接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号，并经内部计算转换为一测量数据，输出给显示模块；所述显示模块接收所述控制模块的输出信号，并在一显示器上显示出测量数据。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试设备，尤指一种能自动测试金属基体表面覆层厚度的便携式覆层测厚仪。
背景技术
现有技术中，金属基体上的覆层测试方法分为磁性法(采用F型测头)和涡流法(采用N型测头)。
磁性法可适用于磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度的测量，其测量原理为：当测量头与覆盖层接触时，测头与磁性金属基体构成一个闭合磁回路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁回路磁阻增加。磁阻大小正比于覆盖层厚度，通过磁阻大小测量即可得到覆盖层的厚度值，可直接从仪器表头上读出该厚度值。该种磁性法所采用的测量电路为F型测量电路。
涡流法可适用于非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的测量，其测量原理为：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对磁头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。该种涡流法所采用的测量电路为N型测量电路。
现有技术中有分别采用上述两种测量电路的量测设备。但由于两种测量设备所使用的场合不同，如上所述，磁性法可适用于磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度的测量，而涡流法可适用于非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的测量，若使用者不能正确分辩出金属基体是磁性金属还是非磁性金属，而错误地使用了量测设备，则将导致所测数据错误。另外，使用者为适用各种情况的覆层测量，必须同时携带两种量测设备，在实际工作中，造成许多不便。
发明内容
本实用新型提供一种FN一体的便携式覆层测厚仪，能自动、准确地测量出金属基体表面的覆层厚度。
本实用新型的覆层测厚仪，包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块，其中
所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外，用以与被测量表面接触；
所述测量电路位于壳体内，与所述测头电连接，接收测头的输入信号并输出信号给控制模块；所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路；
所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接，接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号，并经内部计算转换为一测量数据，输出给显示模块；
所述显示模块接收所述控制模块的输出信号，并在一显示器上显示出测量数据。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述控制模块为一16位的单片机。
所述单片机包括有第一存储器，该第一存储器内存储内控制程序，操作者可通过程序设定进行测头选择，包括：N型测头、F型测头和自动测量；当选择N型测头时，所述单片机读取N型测量电路的输出信号并进行处理；当选择F型测头时，所述单片机读取F型测量电路的输出信号并进行处理；当选择自动测量时，所述单片机根据N型测量电路和F型测量电路输出的不同的信号变化频率，选择其一进行处理。
所述N型测量电路输出信号的变化频率为2.0～2.3KHz；所述F型测量电路输出信号的变化频率为74.0～92.0Hz。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述单片机还包括有第二存储器，用以存储测量数据。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述壳体上还设置有串行接口，所述单片机可将计算得出的测量数据通过该串行接口输出给打印机。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述壳体上还设置有通讯接口，所述单片机可将计算得出的测量数据通过该通讯接口输出给外部的存储设备。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述单片机电连接一报警电路，可通过显示器或蜂鸣器进行错误提示。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述显示器为一液晶显示屏。
根据本实用新型的上述覆层测厚仪，所述壳体背部设置有电池仓。
本实用新型的覆层测厚仪，由于采用单片机控制，体积小、重量轻；且由于采用了磁性及涡流两种测厚方法，使用灵活、方便，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
附图说明
图1为本实用新型一电路结构框图。
图2为本实用新型的外部结构图。
图3为本实用新型的具体实施例的电路图。
具体实施方式
参阅图1，为本实用新型一具体实施例的电路结构图。本实用新型所述的覆层测厚仪，其电路结构中包括有测头、测量电路、控制模块和显示模块，所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外，用以与被测量表面接触，其他部分设置于壳体内部；如图1所示，所述测量电路位于壳体内，与所述测头电连接，接收测头的输入信号并输出信号给控制模块；所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路；所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接，接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号，并经内部计算转换为一测量数据，输出给显示模块；所述显示模块接收所述控制模块的输出信号，并在一显示器上显示出测量数据。
在具体的实施例中，所述的覆层测厚仪的内部电路结构可以主要包括有：FN型传感器构成的测头，一N型测量电路、一F型测量电路、一由单片机构成的控制模块和液晶显示模块。
参考图3所示的本实用新型的具体电路图，该覆层测厚仪采用的N型测量电路和F型测量电路与现有技术相同。单片机可选用16位单片机，型号为：MSP430。N型测量电路和F型测量电路的输出端分别连接到该单片机的两个信号输入端。该单片机内设有存储器，可存储一用户操作软件和测量数据。其中，用户操作软件可设置各种功能菜单，包括：
设置测量方式：可为单次测量或连续测量；
设置工作方式：可为直接方式或成组方式；直接方式可用于随意性测量，测量值暂存在一内存单元中；成组方式便于用户分批记录所测量的数据；
设置测头选择：操作者可通过软件菜单自主选择N型测头或F型测头，或选择自动测量方式；当选择N型测头时，所述单片机读取N型测量电路的输出信号并进行处理；当选择F型测头时，所述单片机读取F型测量电路的输出信号并进行处理；若选择自动测量方式则由单片机根据接收的信号频率变化范围来自动选择是采用N型测量电路的输出信号还是采用F型测量电路的输出信号。在本实施例中，N型测量电路输出信号的变化频率为2.0～2.3KHz；F型测量电路输出信号的变化频率为74.0～92.0Hz；
数据存储及删除功能设定：本实施例的覆层测厚仪可存储至少500个测量值，并对所获得的测量值进行各种运算，包括：计算平均值、输出最大值、输出最小值、累计测量次数及计算标准偏差等。
在本实施例的覆层测厚仪中，单片机接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号，并经内部计算转换为一测量数据。其中，内部计算方法可为查表法或坐标值对应法等现有技术来实现。即根据N型测量电路或F型测量电路的输出信号的幅度大小及频率高低对应输出一厚度测量数据。
其中，液晶显示模块是用以显示一测量数据于一液晶显示屏上，操作者通过该液晶显示屏可快速、直观地读取测量数据。
图2为本实用新型一实施例的外型图。包括一壳体，在壳体下部有一伸出于壳体外的测头4，用以接触被测表面。在壳体正面设置有键盘3，键盘3上具有若干可操作的按键及一液晶显示屏2。在壳体上还设置有通讯接口，如接打印机的串行接口、接计算机的输出接口及RS232接口1等。在壳体背面设置有电池仓5，可容纳两节五号干电池，以提供该测厚仪所需的工作电源。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
Claims (10)
1、一种覆层测厚仪，包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块，其特征在于：
所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外，用以与被测量表面接触；
所述测量电路位于壳体内，与所述测头电连接，接收测头的输入信号并输出信号给控制模块；所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路；
所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接，接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号，并经内部计算转换为一测量数据，输出给显示模块；
所述显示模块接收所述控制模块的输出信号，并在一显示器上显示出测量数据。
2、如权利要求1所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述控制模块为一16位的单片机。
3、如权利要求2所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述单片机包括有：
第一存储器，用以存储内控制程序；
测头选择单元，该测头选择单元进一步包括：N型测头选择模块，用于单片机读取N型测量电路的输出信号并进行处理；F型测头选择模块，用于单片机读取F型测量电路的输出信号并进行处理；自动测量选择模块，用于单片机根据N型测量电路和F型测量电路输出的不同信号变化频率，选择其一进行处理。
4、如权利要求3所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述N型测量电路输出信号的变化频率为2.0～2.3KHz；所述F型测量电路输出信号的变化频率为74.0～92.0Hz。
5、如权利要求2、3或4所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述单片机还包括有第二存储器，用以存储测量数据。
6、如权利要求5所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述壳体上还设置有串行接口，所述单片机可将计算得出的测量数据通过该串行接口输出给打印机。
7、如权利要求5所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述壳体上还设置有通讯接口，所述单片机可将计算得出的测量数据通过该通讯接口输出给外部的存储设备。
8、如权利要求5所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述单片机电连接一报警电路，可通过显示器或蜂鸣器进行错误提示。
9、如权利要求1、2、3或4所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述显示器为一液晶显示屏。
10、如权利要求1、2、3或4所述的覆层测厚仪，其特征在于：所述壳体背部设置有电池仓。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 200520114110 CN2833511Y (zh) | 2005-07-15 | 2005-07-15 | 覆层测厚仪 |
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| CN 200520114110 CN2833511Y (zh) | 2005-07-15 | 2005-07-15 | 覆层测厚仪 |
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| CN2833511Y true CN2833511Y (zh) | 2006-11-01 |
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Family Applications (1)
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| CN 200520114110 Expired - Lifetime CN2833511Y (zh) | 2005-07-15 | 2005-07-15 | 覆层测厚仪 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2005
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