CN2826411Y - 全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型所述的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪，包括原子化器，环绕原子化器设置有日盲通道和至少一道非日盲通道。日盲通道包括至少一个日盲光源，一个日盲光电倍增管和在日盲光源及日盲光电倍增管与原子化器之间分别设置的透镜；非日盲通道包括一个非日盲光源、一个非日盲光电倍增管、在非日盲光源及非日盲光电倍增管与原子化器之间分别设置的透镜和在非日盲光电倍增管与透镜之间设置的分光系统。该光谱仪扩充了现有氢化物发生一原子荧光光谱仪的测量范围，将有色散和无色散两种技术有机地结合起来，既保持了无色散系统的所有特点，又能测量一些灵敏线在非日盲区段且能形成氢化物的元素，极大地扩大了现有蒸气发生—无色散原子荧光光谱仪的测量范围。

Description

全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪

技术领域

本实用新型涉及适用于蒸气发生一原子荧光光谱分析领域，具体说，涉及全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪。

背景技术

原子荧光光谱法(AFS)是原子光谱法中的一个重要分支，它具有原子发射和原子吸收光谱两种技术的优点，同时又克服了两者的不足。其主要特点有：(1)谱线简单，仅需分光本领一般的分光光度计，甚至可以用滤光片等进行简单分光或用日盲光电倍增管直接测量；(2)灵敏度高，检出限低；(3)适用于多元素同时分析。

就原子荧光光谱仪器的发展来看，历史上曾出现过两类仪器，一类是有色散原子荧光光谱仪，如在二十世纪八十年代美国Baird公司生产的AFS-2000型多通道原子荧光光谱仪，采用脉冲供电空心阴极灯作激发光源，ICP为原子化器，光学滤光片为色散系统，12道同时测量。其特点是元素测量范围广，可以测几十种元素，检出限大多在火焰原子吸收法和ICP发射光谱法之间。但由于这类仪器存在着结构复杂、测量复杂基体样品时干扰较严重、难以实现12种元素同时测量等缺陷，这类仪器没有得到普及推广。另一类就是目前在我国已被广泛应用的氢化物发生一无色散原子荧光光谱仪，其特点是采用日盲光电倍增管作检测器，无须色散系统，结构简单，检出限低，干扰元素少，用一个检测器即可实现多元素同时测量。其缺陷是迄今为止，只能测量那些灵敏线在日盲区段(190nm～320nm)，且易形成气态氢化物的As、Sb、Bi、Se、Ge、Pb、Sn、Te、Hg、Cd和Zn等11种元素，与有色散系统的原子荧光光谱仪相比，能测量的元素非常有限。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种既保持了无色散系统的所有特点，同时还能测量一些能形成氢化物，灵敏线在非日盲区段(波长在320nm以上)的元素的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪。

本实用新型所述的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪，包括原子化器，环绕原子化器设置有日盲通道和至少一道非日盲通道，所述日盲通道包括至少一个日盲光源，一个日盲光电倍增管和在日盲光源及日盲光电倍增管与原子化器6之间分别设置的透镜和透镜；所述非日盲通道包括一个非日盲光源，一个非日盲光电倍增管，在非日盲光源及非日盲光电倍增管与原子化器之间分别设置的透镜和在非日盲光电倍增管与透镜之间设置的分光系统。

所述日盲通道的日盲光源为1-4个。

所述非日盲通道为1-4道。

本实用新型所述的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪包括氢化物发生—原子荧光光谱分析，扩充了现有氢化物发生—原子荧光光谱仪的测量范围，将有色散和无色散两种技术有机地结合起来，既保持了无色散系统的所有特点，同时还能测量一些能形成氢化物、但灵敏线在非日盲区段(波长在320nm以上)的元素，如六价Cr(357.87nm)、Cu(324.75nm)、Pd(340.46nm)、Rh(369.24nm)、Ru(372.80nm)、In(410.18nm)、Tl(377.57nm)、Ti(365.35nm)等，极大地扩大了现有蒸气发生(氢化物发生)—无色散原子荧光光谱仪的测量范围。

附图说明

图1是本实用新型所述的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪的示意图，表示“1+1”双通道的实施例；

图2是本实用新型所述光谱仪表示“N+D”多通道的实施例。

具体实施方式

参见图1和图2，本实用新型所述的全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪，包括原子化器6，环绕原子化器6的日盲通道和至少一道非日盲通道，所述日盲通道包括至少一个日盲光源10，一个日盲光电倍增管9和在日盲光源10及日盲光电倍增管9与原子化器6之间分别设置的透镜8和透镜7；所述非日盲通道包括一个非日盲光源1，一个非日盲光电倍增管2，在非日盲光源1及非日盲光电倍增管2与原子化器6之间分别设置的透镜5、4和在非日盲光电倍增管2与透镜4之间设置的分光系统3。

非日盲通道专门用来检测其灵敏线在非日盲区的易形成氢化物的元素，该非日盲通道可以是1道，2道，3道，4道等多通道，每一通道具有一个非日盲光电倍增管2，即检测器，所述分光系统为滤光片或单色仪或其它。

所述日盲通道专门用来检测其灵敏线在日盲区的易形成氢化物的元素，该日盲通道可以具有一个或多个日盲光源10，共用一个日盲光电倍增管检测器。

所述非日盲光电倍增管2和日盲光电倍增管不能在一条直线上，即光源的光线不能直射进光电倍增管。

本实用新型涉及到的“全谱”多通道蒸气发生原子荧光光谱仪也可称为“N+D”多通道蒸气发生原子荧光光谱仪。“N”指的是灵敏线在日盲区段，采用日盲光电倍增管9作检测器，无须分光系统(Nondispersive)的多道氢化物发生—无色散原子荧光光谱仪。这里所谓的“多道”可以是单道、双道、三道、四道光源等等，既可以单道测量，也可以多道同时测量，但共用一个日盲光电倍增管9作检测器，即一个检测器同时可以测多种元素。简言之，“N”指的是无色散通道。“D”指的是非日盲通道，其灵敏线在非日盲区段，包括可见或近红外区，采用波长范围含可见和近红外区的光电倍增管2作检测器，检测器前必须要加分光系统(Dispersive)，可以用滤光片或单色仪分光，因此测量该波长范围内的元素时一个检测器同时只能测一种元素。简言之，“D”指的是有色散通道。

非日盲通道和日盲通道可以单独测量，也可以同时测量，日盲通道和非日盲通道都可以单道测量，也可以多道同时测量。

下面以最简单的N和D均为单道时，即“1+1”双通道氢化物发生原子荧光光谱仪为例，来说明“N+D”多通道蒸气发生原子荧光光谱仪的工作原理。

参见图1，当被测元素的灵敏线在非日盲区时，则通过计算机控制选用有色散系统的非日盲通道测量。其工作过程为：被测元素的特征光源1，非日盲光源通过透镜5聚焦在原子化器6上，产生的被测元素的氢化物通过原子化器原子化后成为被测元素的原子，原子受特征光源的照射后产生荧光，荧光及其它杂散光一起通过透镜4聚焦在分光系统3上，分光系统，即单色仪或对应待测元素的滤光片将荧光分离出来并将其照射到检测器2，即非日盲光电倍增管上进行检测。

当被测元素的灵敏线在日盲区时，则通过计算机控制选用无色散系统的日盲通道测量。其工作过程为：被测元素的特征光源10，日盲光源通过透镜8聚焦在原子化器6上，产生的被测元素的氢化物通过原子化器原子化后成为被测元素的原子，原子受特征光源的照射后产生荧光，荧光及其它杂散光一起通过透镜7聚焦在检测器9(日盲光电倍增管)上进行检测。

当被测样品中既有灵敏线在非日盲区的元素也有灵敏线在日盲区的元素时，则通过计算机控制可同时启动非日盲通道和日盲通道，即双通道同时测量。

上述是N和D均为单道时，即“1+1”双通道氢化物发生原子荧光光谱仪的工作原理。如N为2、3、4…等多道，D也为2、3、4…等多道时，则如图2所示，只要在日盲通道的旁边，在以原子化器6为圆心的圆周上相应的加几路日盲特征光源即可，而日盲光电倍增管检测器共用一个。同样的原理，在非日盲通道的旁边再加几道非日盲通道，即可在同一台仪器上实现多道非日盲通道和多道日盲通道的集成，即组成了“N+D”多通道蒸气发生原子荧光光谱仪，通过计算机同步解调控制，可以多道日盲通道同时测量，或者多道非日盲通道同时测量，也可以多道日盲通道和多道非日盲通道同时测量，非常灵活地实现了有色散系统和无色散系统在同一台氢化物发生原子荧光光谱仪中有机结合，扩大了现有氢化物发生—无色散原子荧光光谱仪的测量范围。

Claims (3)

1、全谱多通道蒸气发生原子荧光光谱仪，包括原子化器(6)，其特征是环绕原子化器(6)设置有日盲通道和至少一道非日盲通道，所述日盲通道包括至少一个日盲光源(10)，一个日盲光电倍增管(9)和在日盲光源(10)及日盲光电倍增管(9)与原子化器(6)之间分别设置的透镜(8)和透镜(7)；所述非日盲通道包括一个非日盲光源(1)，一个非日盲光电倍增管(2)，在非日盲光源(1)及非日盲光电倍增管(2)与原子化器(6)之间分别设置的透镜(5、4)和在非日盲光电倍增管(2)与透镜(4)之间设置的分光系统(3)。

2、根据权利要求1所述的光谱仪，其特征是所述日盲通道的日盲光源(10)为1-4个。

3、根据权利要求1或2所述的光谱仪，其特征是所述非日盲通道为1-4道。