可精准控制下压力量的IC插置装置
技术领域
本实用新型是与IC(集成电路)构件的处理装置有关,更详而言之,乃是指一种可精准控制下压力量的IC插置装置。
背景技术
按,IC插置装置主要是用来将IC插置在电路板或其他预定的位置上,该装置通常装设在有抓取、放置IC功能的机台上(如:将IC构件移入、移出机台的IC处理机(IC Handler));而现有的IC插置装置主要是由一空压缸来驱动IC抓取头的升降,以在抓取头将IC构件取起后驱动抓取头上升,待抓取头或电路板移至预定的对应位置后再驱动抓取头下降使IC构件插置于电路板上。
惟,由于IC种类很多,高度大小均不相同,因此在检测不同的IC时,须调整抓取头的下降高度,否则有可能造成IC的损坏,而现有IC插置装置的使用空压缸来驱动抓取头升降,会受限于空压缸的特性而无法精准的调整插置IC时的下压力,其中,是利用了压缩空气来计算下压力量的大小,而此种方式的误差约在5公斤以上;且,由于空压缸的活塞杆在运动时与油封之间会产生磨擦,因此在调整空压缸的下压行程时并无法精准的调整至适当位置,若位置偏高会造成下压力量过小而使插置不完全,若位置偏低则会造成下压力量过大而使IC构件损坏,造成在作业上的困扰、以及组装的良率降低;该种缺点亟待解决。
本实用新型的内容
本实用新型的主要目的即在提供一种可精准控制下压力量的IC插置装置,其可准确的控制下压力量,进而确保IC插置的完全性且不会损坏IC构件。
缘是,依据本实用新型所提供的一种可精准控制下压力量的IC插置装置,是配合使用于有抓取、放置IC需求的机台上,该插置装置包含有:一可控制转动行程的驱转单元,配合设置于一机台上;一螺杆,连接于该驱转单元,且位于该驱转单元的下方,受其驱转而转动;一滑座,是由至少一垂直导引构件枢设于该机台,该滑座并枢设于该螺杆,于该螺杆旋动时得带动该滑座沿该垂直导引构件上下位移;至少一压力检知器,可上下活动地设于该滑座;至少一抓取头,可上下活动地设于该滑座且位于该压力检知器下方,用以取、放IC;由此、于该螺杆旋转时可带动该抓取头随该滑座上、下位移,于该抓取头向下位移插置IC构件时,该滑座是压抵于该压力检知器再压抵于该抓取头,该压力检知器即可测出下压力量,并以设定该驱转单元在该下压力量时所运转的行程,使下压力量精准的维持在预定的大小。
其中该垂直导引构件具有一导杆以及一直线轴承,该直线轴承是设于该驱转单元上,该导杆则垂直枢接于该直线轴承,该滑座连接于该导杆且位于该导杆的底部。
其中该具有二垂直导引构件,各该垂直导引构件的直线轴承是分别设置于该驱转单元的两侧,该滑座的底部具有一配置板,该配置板的两侧分别固接于一垂直导引构件的导杆底端;还包含有:二负载座,分别设于该配登板的两侧底部,各该负载座具有一容置空间,二压力检知器,分别设于一负载座的容置空间内且位于该抓取头上方。
其中各该负载座的容置空间内设有一止推轴承,位于该压力检知器底部。
其中各该负载座是设有一垫板,位于该压力检知器与该止推轴承之间。
附图说明
有关本实用新型的详细结构、特征及功效,以下兹举一较佳实施例,并配合附图作进一步的说明,其中:
图1是本实用新型一较佳实施例的组合示意图;
图2是本实用新型一较佳实施例的局部放大图;
图3是本实用新型一较佳实施例的使用状态图。
具体实施方式
请参阅图1至图2,本实用新型一较佳实施例所提供的一种可精准控制下压力量的IC插置装置10,是配合装设于一IC处理机(ICHandler)90上,可用来抓取待测IC99至测试机(图中未示)的测试插槽91上,并用来将测试后的IC取走,该插置装置10主要是由一可控制转动行程的驱转单元11、一螺杆21、一滑座31、二压力检知器51、以及二抓取头61所组成,其中:
该可控制转动行程的驱转单元11,于本实施例中是为一伺服马达,是配合设置该IC处理机90的机台上;
该螺杆21,是为一滚珠螺杆,连接于该驱转单元11,且位于该驱转单元11的下方,受其驱转而转动;
该滑座31,枢接于该螺杆21,底端具有一配置板33;
二垂直导引构件37,各具有一导杆371及一直线轴承372,各该直线轴承372分别设于该驱转单元11的两侧,该二导杆371是枢接于各该直线轴承372,且底端分别连接于该配置板33的两侧;于该螺杆21转动时,该滑座31是受驱动而由该二导杆371的导引上下滑移;
二负载座41,分别固设于该配置板33的两侧底部,各该负载座41内部具有一容置空间43;
于各该负载座41的容置空间43内,由上而下设置一压板44,一压力检知器51,一垫板47,以及一止推轴承45,一抓取头61是由至少一螺栓63以可上、下活动的方式设置于该负载座41而位于该止推轴承45的底部;其中,于该抓取头61压抵于IC构件99上产生压力时,该止推轴承45是承受该抓取头61所有的压力,该止推轴承45可用来吸收压力产生时构件间的侧向力,保持位于该负载座41内的构件于水平状态,而该垫板47则用来将该止推轴承45所传来的压力平均分配于该压力检知器51上,该压力检知器51在压抵于该压板44后,即可测出压力值。
简言之,由上述结构,当抓取头61下压在IC构件上时,其反作用力会经由该抓取头61、止推轴承45、垫板47而传至该压力检知器51,该压力检知器51即压抵于该压板44,由此可测出下压力量的大小。
请再参阅图3,本实用新型于使用时,是配合设置于一IC处理机(IC Handler)90上,并先设定抓取头61下压的力量;设定时,先以IC处理机90上的控制介面(图中未示)驱动该驱转单元11驱转该螺杆21来控制该滑座31带动该等负载座41下降,直到该等抓取头61压抵于欲抓取的IC构件99,下压的反作用力即经由该抓取头61、止推轴承45、垫板47而传达至该压力检知器51,该压力检知器51即压抵于该压板44而得出一压力值,当压力值达到预定大小后,将该驱转单元11的转动行程记录起来,之后,只要该驱转单元11转动该行程,即可产生相同的压力;由此,于使用时,利用该躯转单元11(即伺服马达)可精准控制转动行程的特性,可进而使该抓取头61每次下压的行程均保持在一定的位置,亦即,只要设定了准确的下压力量,即可确保每次的下压力量均相同。
值得说明的是,本实用新型亦得使用在其他与IC取放有关的机台,并不以IC处理机(IC Handler)为限。
经由上述的结构可知,本实用新型的优点为:
一、下压力量可精准设定:利用该驱转单元11可精准控制转动行程的特性,再利用该止推轴承将压力产生时的侧向力吸收掉,并由该垫板平均分配压力,可使压力准确的传递至该压力检知器上,进而准确的测出下压力量,其误差值约在一公斤以内,优于现有技术,由此可见,本实用新型可较现有技术更为精准的设定出在下压行程及下压力量。
二、在抓取的过程中IC构件不易受到损坏:利用本发明可精准设定下压力量的特性,可确保每次压抵于IC构件99上的力量均相同,故,只要下压力量设定正确,即可确保每次抓取、插置IC构件时,不会因压力过大而损坏,或因压力过小而使插置不完全。
综上所述,本实用新型的可精准控制下压力量的IC插置装置,其具有前述优于现有技术的各项优点,实用性及进步性自己毋庸置疑,此外,该种结构从来未被公开使用或揭露于各种文献资料,合乎于新型专利要件,故依法提出申请。