CN2475024Y - 用半导体发光的液体分析仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型一种用半导体发光的液体分析仪,包括:光检测部分和试样部分;光检测部分包括:光检测壳体,设在光检测壳体内的光检测管、光源、光源座、透镜;试样部分包括:试样座、设在试样座上的玻璃试样槽、设在试样座上旁边的多个试样检测器、以及与各试样检测器输出信号连接的试样信号处理电路;其特点是,光源为半导体发光管;以及,还包括一光源控制电路,半导体发光管连接在该光源控制电路的输出端;光检测管收到半导体发光管的光,通过透镜形成准直光源进入试样槽,被多个试样检测器所接收并通过试样信号处理电路处理。具有光源恒定,分析精度提高,仪器结构简单,分析范围扩大的优点。
Description
本实用新型涉及带光检测的液体分析仪，尤其涉及一种用半导体发光的液体分析仪。
目前带光检测的液体分析仪均采用灯泡作为仪器的光源，再加上滤光及准直系统，但由于灯泡的寿命较短，气体放电的漂弧及运输震动造成仪器必须经常返修。如使用半导体发光管，因发光管发光强度随时间和温度的变化而变化，不能进入实用。
本实用新型的目的是为了克服现有带光检测的液体分析仪的缺点，而提出的一种用半导体发光的液体分析仪，该分析仪通过半导体发光及自动控制电路使光源恒定，提高分析精度；同时，由于半导体发光管的特定波长可省去滤光系统，从而可使仪器结构简单，分析范围扩大。
本实用新型的目的是这样实现的，一种用半导体发光的液体分析仪，包括：光检测部分和试样部分；所述的光检测部分包括：光检测壳体，设在光检测壳体内的光检测管、光源、光源座、透镜；所述的试样部分包括：试样座、设在试样座上的玻璃试样槽、设在试样座上旁边的多个试样检测器、以及与各试样检测器输出信号连接的试样信号处理电路；其特点是，所述的光源为半导体发光管；以及，还包括一光源控制电路，所述的半导体发光管连接在该光源控制电路的输出端；所述的光检测管收到半导体发光管的光，通过透镜形成准直光源进入试样槽，被多个试样检测器所接收并通过试样信号处理电路处理。
上述用半导体发光的液体分析仪，其中，所述的光源控制电路是一个积分器。
上述用半导体发光的液体分析仪，其中，所述的光源控制电路与半导体发光管、光检测管组成自稳定光源。
上述用半导体发光的液体分析仪，其中，所述的半导体发光管的波长视被检测物要求选定。
上述用半导体发光的液体分析仪，其中，所述的半导体发光管设在光检测壳体内任意位置。
由于本实用新型采用了以上的技术方案，用半导体发光管作为液体分析仪的光源，并通过半导体发光管与光源控制电路组成光源恒定，同时利用半导体发光管的特定波长可省去滤光系统，从而可使仪器结构简单，分析内容扩大到应用液体的色度分析、浊度分析、浓度分析等等。如用红外光可测液体浓度浊度，换用紫光可测色度，通过色度可测液体的参数。
本实用新型的具体结构由以下的实施例及其附图进一步给出。
图1是本实用新型的结构示意图。
请参阅图1。本实用新型包括一种用半导体发光的液体分析仪，包括：光检测部分和试样部分；光检测部分包括：光检测壳体10，设在光检测壳体内的光检测管2、光源3、光源座4、以及透镜5；试样部分包括：试样座6、设在试样座上的玻璃试样槽7、设在试样座上旁边的多个试样检测器8、以及与各试样检测器输出信号连接的试样信号处理电路9。还包括一光源控制电路1。光源3半导体发光管构成。由光检测管的输出信号与光源控制电路的输入端，光源控制电路的输出端与半导体发光管连接。光源控制电路1由一个积分电路构成，该积分电路是成熟电路，故不赘述。仪器工作过程中由于某种原因使发光二极管的发光强度提高或降低，积分电路的输出电流可控制其恒定发光。该光源通过透镜成一准直的光源发射到玻璃试样槽8，被试样检测器7所接受，然后通过试样信号处理电路9放大处理，显示液体的不同参数。
本实用新型的光检测管2、半导体发光管3位于同一光检测壳体内，光检测管可直接收到发光管的光，发光管3可在其前面、后面、或侧面。而且发光管3可是红外光，也可是其他波长，换用特殊波长发光管可测出液体色度，通过色度的大小，可知液体的参数。试样座6和光源座4可是金属也可是非金属。玻璃试样槽8，可为立方体也可为圆柱形或其他形状。多个试样检测器7可为1个或多个，其试样信号处理电路9可是模拟电路也可是计算机电路组成，可显示及其打印数据。
本实用新型半导体发光的液体分析仪，可用于光电比色仪、浊度仪、色度仪、浓度计等等。它可极大提高仪器精度。提高仪器的抗震性和可靠性，提高仪器寿命，减少电源消耗，使仪器小型化和无维修成为可能。
Claims (5)
1.一种用半导体发光的液体分析仪，包括：光检测部分和试样部分；所述的光检测部分包括：光检测壳体，设在光检测壳体内的光检测管、光源、光源座、透镜；所述的试样部分包括：试样座、设在试样座上的玻璃试样槽、设在试样座上旁边的多个试样检测器、以及与各试样检测器输出信号连接的试样信号处理电路；其特征在于，所述的光源为半导体发光管；以及，还包括一光源控制电路，所述的半导体发光管连接在该光源控制电路的输出端；所述的光检测管收到半导体发光管的光，通过透镜形成准直光源进入试样槽，被多个试样检测器所接收并通过试样信号处理电路处理。
2.根据权利要求1所述的用半导体发光的液体分析仪，其特征在于，所述的光源控制电路是一个积分器。
3.根据权利要求1或2所述的用半导体发光的液体分析仪，其特征在于，所述的光源控制电路与半导体发光管、光检测管组成自稳定光源。
4.根据权利要求1所述的用半导体发光的液体分析仪，其特征在于，所述的半导体发光管的波长视被检测物要求选定。
5.根据权利要求1所述的用半导体发光的液体分析仪，其特征在于，所述的半导体发光管设在光检测壳体内任意位置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 99227685 CN2475024Y (zh) | 1999-06-29 | 1999-06-29 | 用半导体发光的液体分析仪 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN 99227685 CN2475024Y (zh) | 1999-06-29 | 1999-06-29 | 用半导体发光的液体分析仪 |
Publications (1)
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| CN2475024Y true CN2475024Y (zh) | 2002-01-30 |
Family
ID=34017165
Family Applications (1)
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| CN 99227685 Expired - Fee Related CN2475024Y (zh) | 1999-06-29 | 1999-06-29 | 用半导体发光的液体分析仪 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN2475024Y (zh) |
-
1999
- 1999-06-29 CN CN 99227685 patent/CN2475024Y/zh not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C57 | Notification of unclear or unknown address | ||
| DD01 | Delivery of document by public notice |
Addressee: Haiheng Electromechanical Meter Co., Ltd., Shanghai Document name: Correction notice |
|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |