CN224081663U - 一种测试转接板和芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试转接板及芯片测试装置，该测试转接板包括：控制模块、选通模块、多个接口；控制模块包括选通信号输出端；选通信号输出端与选通模块的控制端电连接；多个接口包括多个第一接口和多个第二接口；第一接口与第二接口通过选通模块电连接；控制模块用于向选通模块提供选通信号；选通模块用于根据选通信号切换第一接口与第二接口之间的连接通路。本实用新型的技术方案，能够实现测试平台与多个测试仪器的连接通路自动切换，从而提高芯片的电气测试的效率。

Description

一种测试转接板和芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种测试转接板和芯片测试装置。

背景技术

芯片的电气测试可以评估芯片的电流、电压和功耗等电气参数，以及芯片的响应时间和稳定性等性能指标，对于芯片的设计优化、质量控制和故障排查均具有重要意义。针对高度集成的复杂芯片，在进行电气测试时需要在多个温度下分别测试多项电气特性。

然而，现有技术中的测试设备的仅能够测试芯片的某一项电气特性，当该项电气特性测试完成后，需要手动更换测试设备，以测试芯片的其他项电气特性，导致芯片的电气测试的效率较低。

实用新型内容

本实用新型提供了一种测试转接板和芯片测试装置，以解决现有技术中存在的缺陷，实现测试平台与多个测试仪器的连接通路自动切换，从而提高芯片的电气测试的效率。

根据本实用新型的一方面，提供了一种测试转接板，包括：控制模块、选通模块、多个接口；

所述控制模块包括选通信号输出端；所述选通信号输出端与所述选通模块的控制端电连接；

多个所述接口包括多个第一接口和多个第二接口；所述第一接口与所述第二接口通过所述选通模块电连接；

所述控制模块用于向所述选通模块提供选通信号；所述选通模块用于根据所述选通信号切换所述第一接口与所述第二接口之间的连接通路。

可选的，所述选通模块包括多个开关；

所述选通信号输出端分别与各所述开关的控制端电连接；

一个所述第一接口与一个所述第二接口之间的连接通路中设置有至少一个所述开关。

可选的，多个所述开关构成多个开关组；每个所述开关组包括至少一个所述开关；

各所述开关的第一端分别与各所述第一接口对应电连接，同一所述开关组中，各所述开关的第二端与同一所述第二接口电连接。

可选的，多个所述开关包括多个第一开关和多个第二开关；

所述第一开关的第一端与一个所述第一接口电连接；所述第一开关的第二端与至少一个所述第二开关的第一端电连接；所述第二开关的第二端与至少一个第二接口电连接。

可选的，各所述第一开关的第一端与各所述第一接口一一对应电连接；各所述第一开关的第二端电连接于第一节点；各所述第二开关的第一端均与所述第一节点电连接；各所述第二开关的第二端与各所述第二接口一一对应电连接。

可选的，多个所述第一开关构成M个第一开关组，多个所述第二开关构成M个第二开关组；各所述第一开关的第一端与各所述第一接口一一对应电连接；第i个所述第一开关组中各所述第一开关的第二端与第j个所述第二开关组中各所述第二开关的第一端电连接；各所述第二开关的第二端与各所述第二接口一一对应电连接；其中，M为大于或者等于2的整数，i和j为1至M的整数。

可选的，所述的测试转接板，还包括：电路板；

所述控制模块、所述选通模块和各所述接口分别设置在所述电路板上并通过所述电路板电连接。

可选的，所述电路板包括相对设置的第一表面和第二表面；所述控制模块、所述选通模块和各所述接口分散设置于所述第一表面和所述第二表面。

可选的，所述电路板包括工作区；所述工作区至少包括相对设置的第一边缘和第二边缘；多个所述接口至少构成第一接口组和第二接口组；

所述第一接口组设置于靠近所述第一边缘的一侧，所述第二接口组设置于靠近所述第二边缘的一侧；所述开关设置于所述第一接口组和所述第二接口组之间的所述工作区内。

可选的，所述工作区还包括连接所述第一边缘和所述第二边缘的第三边缘；多个所述接口还构成第三接口组；

所述第三接口组设置于靠近所述第三边缘的一侧。

可选的，所述控制模块包括控制接口和至少一微控制器；所述控制接口与所述微控制器电连接；

所述工作区还包括连接所述第一边缘和所述第二边缘的第四边缘；

所述控制接口设置于所述微控制器靠近所述第四边缘的一侧；

至少部分所述开关部分围绕所述控制模块排布。

可选的，所述的测试转接板，还包括电源接口和电源控制转换模块；

所述控制模块还包括电源输入端；

所述电源接口通过所述电源控制转换模块与所述电源输入端电连接。

可选的，至少部分所述开关部分围绕所述电源接口和所述电源控制转换模块排布。

可选的，所述电源控制转换模块包括电源开关、指示灯、电压转换器和稳压器；

所述电源接口依次通过所述电源开关、所述电压转换器和所述稳压器与所述电源输入端电连接；所述指示灯电连接于所述电源开关和所述电压转换器之间。

可选的，所述电源开关、所述指示灯、所述电压转换器和所述稳压器中的部分设置于所述第一表面，另一部分设置于所述第二表面。

可选的，所述的测试转接板，还包括多个第一支撑柱和多个第二支撑柱；

所述电路板还包括围绕所述工作区的周边区；

各所述第一支撑柱分散设置于所述第一表面的周边区；各所述第二支撑柱分散设置于所述第二表面的周边区。

可选的，各所述第一支撑柱的长度为第一长度，各所述第二支撑柱的长度为第二长度；

所述第一表面设置的各元器件距离所述第一表面的最大高度为第一高度；所述第二表面设置的各元器件距离所述第二表面的最大高度为第二高度；

所述第一长度大于或等于第一高度，所述第二长度大于或等于第二高度。

第二方面，本实用新型还提供一种芯片测试装置，包括测试平台和上述任一项所述的测试转接板，所述测试平台与所述测试转接板的部分接口电连接。

本实用新型的技术方案，通过使控制模块的选通信号输出端与选通模块的控制端电连接，以向选通模块提供选通信号，同时，各第一接口与各第二接口通过选通模块电连接，使得选通模块能够根据选通信号切换第一接口与第二接口之间的连接通路。如此，在测试转接板的第一接口和第二接口中的一者与测试平台电连接，另一者与测试仪器电连接时，测试转接板能够实现测试平台与测试仪器的连接通路的自动切换，从而提高芯片的电气测试的效率。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本实用新型的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本实用新型的范围。本实用新型的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的另一种测试转接板的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的第一表面的装配示意图；

图8为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的第二表面的装配示意图；

图9为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图；

图10为本实用新型实施例提供的芯片测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

如背景技术所述，现有技术中的测试设备仅能够测试芯片的某一项电气特性，当芯片需要测试在不同温度下的多项电气特性时，存在如下两种方案：

1)在各测试温度点下每次仅测试一项电气特性。针对某一项电气特性，将对应的测试设备上电，并调节测试平台所在的温箱的温度以遍历多个测试温度，同时，在每个测试温度点下分别加载测试，从而得到该芯片在不同测试温度下的该项电气特性。当需要测试芯片的其他项电气特性时，更换对应的测试设备，并重复以上测试。由于温箱的温度调节需要花费较多的时间，在测试芯片的多项电气特性时，温箱的温度需要重复切换多次，导致芯片的电气特性测试的效率较低。

2)在同一温度点下依次测试多项电气特性。该方法中，测试平台所在的温箱的温度只需调节遍历一次，无需重复切换多次，从而可以节约调节温箱的温度所花费的时间。然而，在同一温度点下，需要更换并加载多个测试设备以对芯片的多项电气特性进行测试，但测试设备的更换、连接、上电和加载等过程同样需要花费较多的时间，导致芯片的电气特性测试的效率依旧很低。

为解决上述技术问题，本实用新型实施例通过使测试转接板包括控制模块、选通模块和多个接口，且控制模块的选通信号输出端与选通模块的控制端电连接，以向选通模块提供选通信号，同时，各第一接口与各第二接口通过选通模块电连接，使得选通模块能够根据选通信号切换第一接口与第二接口之间的连接通路。如此，在测试转接板的第一接口和第二接口中的一者与测试平台电连接，另一者与测试仪器电连接时，测试转接板能够实现测试平台与测试仪器的连接通路的自动切换，从而提高芯片的电气测试的效率。

以上是本实用新型的核心思想，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。以下将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的结构示意图。参考图1所示，本实施例提供的测试转接板100包括：控制模块1、选通模块2、多个接口3，控制模块1包括选通信号输出端101，选通信号输出端101与选通模块2的控制端电连接。多个接口3包括多个第一接口31和多个第二接口32；第一接口31与第二接口32通过选通模块2电连接，控制模块1用于向选通模块2提供选通信号；选通模块2用于根据选通信号切换第一接口31与第二接口32之间的连接通路。

其中，控制模块1可以但不限于包括单片机；示例性的，控制模块1可以为STM32系列单片机。

接口3可以但不限于包括同轴射频连接器；示例性的，接口3可以为MMCX接口。第一接口31和第二接口32中的一者用于与芯片测试平台电连接，另一者用于与测试设备电连接，从而通过切换第一接口31和第二接口32之间的连接通路，使得芯片测试平台能够与各测试设备自动电连接，从而无需手动更换测试设备，有利于提高芯片的电气测试的效率。

需要说明的是，图1仅示例性示出了测试转接板100包括8个接口，其中包括4个第一接口和4个第二接口的情况，并非对测试转接板100中第一接口31和第二接口32的数量进行限定。本实施例中，第一接口31和第二接口32的数量可以相同，也可以不相同，根据实际需求进行设置即可。

控制模块1的选通信号输出端101与选通模块2的控制端电连接，第一接口31与第二接口32通过选通模块2电连接，使得选通模块2能够接收控制模块1提供的选通信号，并根据选通信号切换第一接口31和第二接口32之间的连接通路。

在一示例性实施例中，以图1为例，多个第一接口31包括第一个第一接口311、第二个第一接口312、第三个第一接口313和第四个第一接口314，多个第二接口32包括第一个第二接口321、第二个第二接口322、第三个第二接口323和第四个第二接口324，当需要使与第一个第一接口311电连接的测试设备向与第一个第二接口321和第二个第二接口322电连接的测试平台提供信号时，选通模块2可以控制第一个第一接口311与第一个第二接口321之间形成导通的通路，以及控制第一个第一接口311与第二个第二接口322之间形成导通的通路，并断开其他第一接口31与第二接口32之间的连接通路。以此类推，通过选通模块2可以控制不同的第一接口31与第二接口32之间的连接通路的导通或断开。

本实施例中，通过使测试转接板包括控制模块、选通模块和多个接口，且控制模块的选通信号输出端与选通模块的控制端电连接，以向选通模块提供选通信号，同时，各第一接口与各第二接口通过选通模块电连接，使得选通模块能够根据选通信号切换第一接口与第二接口之间的连接通路。如此，在测试转接板的第一接口和第二接口中的一者与测试平台电连接，另一者与测试仪器电连接时，测试转接板能够实现测试平台与测试仪器的连接通路的自动切换，从而提高芯片的电气测试的效率。

可选的，图2为本实用新型实施例提供的另一种测试转接板的结构示意图，参考图2所示，选通模块2包括多个开关21，选通信号输出端101分别与各开关21的控制端电连接；一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有一个开关21。

其中，多个开关21可以但不限于包括继电器开关或者半导体开关等。选通信号输出端101分别与各开关21的控制端电连接，使得控制模块1输出的选通信号能够控制各开关21的状态，其中，开关21的状态包括导通状态和断开状态。

可以理解的是，一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有至少一个开关21，可以为一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有一个开关21，或者，一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有多个开关21，通过控制各第一接口31和各第二接口32之间的连接通路中的各开关21的状态，实现各第一接口31与各第二接口32的之间的多种连接方式。

具体的，控制模块1的选通信号输出端101分别与各开关21的控制端电连接，使得控制模块1提供的选通信号能够分别控制各开关21的状态，例如可以控制一部分开关21导通，以及控制另一部分开关21断开，使得当第一接口31和第二接口32之间的连接通路中的各开关21均导通时，该第一接口31与第二接口32之间能够形成导通通路，而当第一接口31和第二接口32之间的连接通路中存在处于断开状态的开关21时，该第一接口31与第二接口32之间无法形成导通通路。如此，通过改变各开关21的导通或断开的状态，能够控制各第一接口31与各第二接口32之间的连接通路进行切换。

在一示例性实施例中，以图2为例，一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有一个开关21，使得与同一开关21电连接的第一接口31和第二接口32在该开关21导通时，第一接口31和第二接口32之间能够形成导通通路，相反的，与同一开关21电连接的第一接口31和第二接口32在该开关21断开时，第一接口31与第二接口32之间无法形成导通通路。如此，通过改变电连接在第一接口31和第二接口32之间的开关21的导通或断开的状态，能够控制对应的第一接口31和第二接口32之间的连接通路进行切换。例如，当与第一个第一接口311和第一个第二接口321电连接的开关21处于导通状态时，第一个第一接口311和第一个第二接口321之间的连接通路导通，其他第一接口31和其他第二接口32之间的连接通路无法导通。

需要说明的是，图2仅以一个第一接口31与一个第二接口32之间的连接通路中设置有一个开关21为例，对选通模块2控制第一接口31和第二接口32之间的连接通路的导通或断开的方式进行示例性地说明，而在本实施例中，各开关21与第一接口31和第二接口32的连接方式不限于此，可以根据实际需要进行设计。

可选的，图3为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图，参考图3所示，多个开关21构成多个开关组2101，每个开关组2101包括至少一个开关21；各开关21的第一端分别与各第一接口31对应电连接，同一开关组2101中，各开关21的第二端与同一第二接口32电连接，使得每个第二接口32与对应电连接的第一接口31之间的连接通路上串接一个开关21，基于控制模块1输出的选通信号，每个第二接口32可以电连接到部分第一接口31，使得各第一接口31和各第二接口32之间的连接方式较为灵活。

在一示例性实施例中，以图3为例，4个开关21构成2个开关组2101，该2个开关组2101分别为第一开关组2102和第二开关组2103，当第一开关组2102中与第一个第一接口311电连接的开关21处于导通状态时，第一个第一接口311与第一个第二接口321之间形成导通的通路，当第一开关组2102中与第二个第一接口312电连接的开关21处于导通状态时，第二个第一接口312与第一个第二接口321之间的连接通路断开。如此，通过控制第一开关组2102中各开关21的导通与断开状态，可以控制第一个第一接口311与第一个第二接口321之间，以及第二个第一接口312与第一个第二接口321的连接通路进行切换。

需要说明的是，图3仅示例性示出了4个开关21构成2个开关组2101，且每个开关组2101包括两个开关21的情况，并非对此进行限制。本实施例中，多个开关21构成的开关组2101的数量和每个开关组2101包括的开关21数量根据实际需求进行限定即可。

可选的，图4为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图，参考图4所示，多个开关21包括多个第一开关211和多个第二开关212；第一开关211的第一端与一个第一接口31电连接；第一开关211的第二端与一个第二开关212的第一端电连接；第二开关212的第二端与一个第二接口32电连接。

需要说明的是，图4仅示出了第一开关211的第一端与一个第一接口31电连接，第一开关211的第二端与一个第二开关212的第一端电连接，第二开关212的第二端与一个第二接口32电连接的情况，并非对各第一开关211和各第二开关212的连接方式进行限定。本实施例中，第一开关211的第二端电连接的第二开关212的第一端的数量不限于此，可以根据实际需要进行设计。

可选的，图5为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图，参考图5所示，各第一开关211的第一端与各第一接口31一一对应电连接，各第一开关211的第二端电连接于第一节点a，各第二开关212的第一端均与第一节点a电连接，各第二开关212的第二端与各第二接口32一一对应电连接，使得通过基于控制模块1输出的选通信号，控制各第一开关211和各第二开关212的状态，各第一接口31能够通过第一开关211和第二开关212电连接到任一第二接口32。

可选的，图6为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图，参考图6所示，多个第一开关211构成M个第一开关组2111，多个第二开关212构成M个第二开关组2121；各第一开关211的第一端与各第一接口31一一对应电连接；第i个第一开关组2111中各第一开关211的第二端与第j个第二开关组2121中各第二开关212的第一端电连接；各第二开关212的第二端与各第二接口32一一对应电连接。

其中，M为大于或者等于2的整数，i和j为1至M的整数，i与j可以相等，也可以不相等。

第一开关组2111包括至少一个第一开关211，第二开关组2121包括至少一个第二开关212。通过基于控制模块1输出的选通信号，控制各第一开关211和第二开关212的状态，与同一第一开关组2111电连接的第一接口31能够通过第一开关组2111和第二开关组2121与对应的多个第二开关212电连接。

需要说明的是，图6仅示例性示出了5个第一开关211构成2个第一开关组2111，5个第二开关212构成2个第二开关组2121的情况，并非对第一开关211和第二开关212的数量、第一开关组2111和第二开关组2121的数量进行限定。本实施例中，第一开关组2111的数量、第二开关组2121的数量、第一开关组2111中第一开关211的数量以及第二开关组2121中第二开关212的数量均不限于此，可根据实际需要进行设计。

可选的，图7为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的第一表面的装配示意图，图8为本实用新型实施例提供的一种测试转接板的第二表面的装配示意图。参考图7和图8所示，测试转接板100还包括电路板4；控制模块1、选通模块2和各接口3分别设置在电路板4上且通过电路板4电连接，从而能够提高测试转接板100的集成度，有利于减小测试转接板100的体积。

其中，控制模块1、选通模块2和各接口3通过电路板4电连接可以理解为控制模块1、选通模块2和各接口3通过电路板4上的金属走线和金属导电孔实现电连接。

需要说明的是，控制模块1、选通模块2和各接口3通过电路板4电连接时，其在电路板4中的位置可根据实际情况进行排布。在一示例性实施例中，若控制模块1、选通模块2和各接口3的元器件数量较多，各元器件可分散设置于电路板4的正面和反面，从而有利于进一步提高测试转接板100的集成度。在其他示例性实施例中，若控制模块1、选通模块2和各接口3的元器件数量较少，各元器件可仅设置于电路板4的一侧表面，从而能够减小测试转接板100的厚度。

可选的，继续参考图7和图8所示，电路板4包括相对设置的第一表面S1和第二表面S2；控制模块1、选通模块2和各接口3分散设置于第一表面S1和第二表面S2。

其中，第一表面S1指电路板4的正面和背面中的其中一者，第二表面S2指电路板4的正面和背面中的另一者。控制模块1、选通模块2和各接口3包括多个元器件，分散设置于第一表面S1和第二表面S2可以理解为控制模块1、选通模块2和各接口3中的部分设置于第一表面S1，另一部分设置于第二表面S2，或者，控制模块1、选通模块2和各接口3中的至少一者的部分元器件设置于第一表面S1，另一部分元器件设置于第二表面S2。

本实施例，通过将控制模块1、选通模块2和各接口3分散设置于第一表面S1和第二表面S2，从而能够进一步提高测试转接板100的集成度，有利于测试转接板100的小型化。

可选的，继续参考图7和图8所示，电路板4包括工作区；工作区至少包括相对设置的第一边缘L1和第二边缘L2；多个接口3至少构成第一接口组301和第二接口组302；第一接口组301设置于靠近第一边缘L1的一侧，第二接口组302设置于靠近第二边缘L2的一侧；开关21设置于第一接口组301和第二接口组302之间的工作区内。

其中，电路板4包括工作区和围绕工作区的周边区，工作区用于设置走线和元器件。第一接口组301和第二接口组302均包括至少一个接口3。在一示例性实施例中，第一接口组301设置于靠近第一边缘L1的一侧，且沿第一边缘L1排布，第二接口组302设置于靠近第二边缘L2的一侧，且沿第二边缘L2排布，从而方便测试平台或者测试仪器与各接口3之间进行插接。开关21设置于第一接口组301和第二接口组302之间的区域，从而方便开关21与接口3之间进行电连接。

可选的，继续参考图7和图8所示，工作区还包括连接第一边缘L1和第二边缘L2的第三边缘L3，多个接口3还构成第三接口组303，第三接口组303设置于靠近第三边缘L3的一侧，从而能够充分利用电路板4的工作区的边缘来设置接口3，在方便测试平台或者测试仪器与各接口3之间进行插接的前提下，能够进一步提高测试转接板100的集成度。

在一可选实施例中，继续参考图7和图8所示，多个接口3还构成设置于第一接口组301和第二接口组302之间的第四接口组304，第一接口组301、第三接口组303中的部分接口3和第四接口组304中的部分接口3围合形成第一U型结构，第二接口组302、第三接口组303中的另一部分接口3和第四接口组304中的另一部分接口3围合形成第二U型结构，从而电路板4上可以设置更多的接口3，有利于进一步提高测试转接板100的集成度。

需要说明的是，本实施例中并不限于多个接口3围合形成第一U型结构和第二U型结构，示例性的，多个接口3还可以围合形成V型结构、W型结构或圆弧型结构等，且本实施例对于围合形成的U型结构、V型结构、W型结构或圆弧型结构等的数量不做具体限定，只要能够在结合考虑插接便利程度、测试转接板100的集成度和电路板的散热能力等多种因素的前提下，实现本实用新型的核心发明点即可。

可选的，图9为本实用新型实施例提供的又一种测试转接板的结构示意图，结合参考图7-图9所示，控制模块1包括控制接口11和至少一微控制器12；控制接口11与微控制器12电连接；工作区包括连接第一边缘L1和第二边缘L2的第四边缘L4；控制接口11设置于微控制器12靠近第四边缘L4的一侧，至少部分开关21部分围绕控制模块1排布。

其中，控制接口11用于连接外部控制设备，例如连接用于发送控制信号的上位机等；在一示例性实施例中，控制接口11包括USB转I2C接口，从而能够通过USB接口的设备来控制和调试集成电路总线(Inter-Integrated Circuit，I2C)设备。微控制器12可以但不限于包括单片机，在一示例性实施例中，微控制器12包括STM32系列单片机。

由于控制接口11设置于微控制器12靠近第四边缘L4的一侧，部分围绕控制模块1排布可以理解为开关21在控制模块1靠近第一边缘L1、第二边缘L2或第三边缘L3中的至少一者的一侧排布，而微控制器12靠近第四边缘L4的一侧不设置开关21，从而有利于微控制器12与控制接口11之间的连接。

至少部分开关21部分围绕控制模块1排布可以理解为部分开关21围绕控制模块1排布或者全部开关21部分围绕控制模块1排列。在一示例性实施例中，当第一接口组301、第三接口组303中的部分接口3和第四接口组304中的部分接口3围合形成第一U型结构时，部分围绕控制模块1排布的部分开关21设置于第一U型结构内，控制接口11设置于第一U型结构的开口区域，从而能够方便外部控制设备和控制接口11进行插接、微控制器12与开关21的控制端进行电连接，以及各开关21与各接口3进行电连接。

可选的，继续参考图7至图9所示，测试转接板100还包括电源接口5和电源控制转换模块6；控制模块1还包括电源输入端102；电源接口5通过电源控制转换模块6与电源输入端102电连接。

其中，电源接口5用于接入外部电源，以为控制模块1供电；电源控制转换模块6用于对外部电源提供的初始电源进行控制和转换，得到与控制模块1适配的目标电源。在一示例性实施例中，外部电源提供的初始电源为12V电源，通过电源控制转换模块6进行电压转换后，输出电压为5V的目标电源至控制模块1的电源输入端102。

可选的，继续参考图7至图8所示，至少部分开关21部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布。

其中，至少部分开关21部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布可以理解为部分开关21部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布，或者，全部开关21部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布。在一示例性实施例中，当第二接口组302、第三接口组303中的另一部分接口3和第四接口组304中的另一部分接口3围合形成第二U型结构时，部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布的部分开关21设置于第二U型结构内，电源接口设置于第二U型结构的开口区域，从而能够方便外部电源和电源接口5进行插接，以及各开关21与各接口3进行电连接。

需要说明的是，图7和图8仅示例性说明了部分开关21围绕控制模块1排布，部分开关21部分围绕电源接口5和电源控制转换模块6排布的情况，并非对开关21、微控制器12、电源控制转换模块6的排布位置进行限定。在一示例性实施例中，各开关21部分围绕控制模块1和电源控制转换模块6排布。

可选的，继续参考图7至图9所示，电源控制转换模块6还包括电源开关61、指示灯62、电压转换器63和稳压器64；电源接口5依次通过电源开关61、电压转换器63和稳压器64与电源输入端102电连接；指示灯62电连接于电源开关61和电压转换器63之间。

其中，电源开关61用于控制外部电源提供的初始电源到电压转换器63的供电状态。电压转换器63用于将外部电源提供的初始电源转换为与控制模块1适配的目标电源，在一示例性实施例中，电压转换器63包括直流转换器，直流转换器用于将初始电源进行直流-直流变换，以得到直流目标电源。稳压器64用于对通过电压转换器63得到目标电源进行稳压处理，在一示例性实施例中，稳压器64包括低压差线性稳压器。指示灯62用于指示初始电源的供电状态；由于指示灯62电连接于电源开关61和电压转换器63之间，指示灯62点亮时说明电源开关61打开且外部电源供电正常，而当指示灯62熄灭时，表示电源开关61关闭或者外部电源供电异常。

具体的，当电源开关61处于关闭状态时，初始电源无法提供至电压转换器63，导致控制模块1未上电，控制模块1无法输出选通信号至选通模块2，进而选通模块2无法切换第一接口31与第二接口32之间的连接状态；相反的，当电源开关61处于打开状态时，初始电源提供至电压转换器63，并经电压转换器63进行电压转换后提供至控制模块1的电源输入端102，控制模块1上电，从而控制模块1能够输出选通信号至选通模块2，进而选通模块2能够根据选通信号切换第一接口31与第二接口32之间的连接状态。

需要说明的是，由于电源控制转换模块6中元器件的数量较多，将电源控制转换模块6中的电源开关61、指示灯62、电压转化器和稳压器64中的部分设置于电路板4的第一表面S1，另一部分设置于电路板4的第二表面S2，有利于提高电源控制转换模块6的集成度，进而有利于进一步缩小测试转接板100的体积。

可以理解的是，由于控制模块1、选通模块2和各接口3包括多个元器件，元器件具有一定的体积，当控制模块1、选通模块2和各接口3设置于电路板4上时，若不做保护措施，而是将测试转接板100直接放置于台面上，则电路板4的其中一侧表面上元器件会不可避免的受到挤压，从而影响该元器件的性能和电气连接稳定性。因此，可对电路板4进行一定的保护措施，例如设置支撑装置或者设置电路板支架等，以防止电路板4上设置的元器件受到挤压。

可选的，结合参考图6或图7所示，测试转接板100还包括多个第一支撑柱7和多个第二支撑柱8，电路板4还包括围绕工作区的周边区，各第一支撑柱7分散设置于第一表面S1的周边区，各第二支撑柱8分散设置于第二表面S2的周边区，使得第一支撑柱7能够支撑电路板4的第一表面S1上设置的元器件，第二支撑柱8能够支撑电路板4的第二表面S2上设置的元器件，从而能够防止电路板4上设置的元器件受到挤压，并提高电路板4的散热能力，有利于提高各元器件的性能和电气连接稳定性。

需要说明的是，当各元器件仅在电路板4的一侧表面设置时，可以仅在电路板4设置元器件的一侧表面的周边区设置多个支撑柱，从而能够简化测试转接板100的制备过程。

可选的，各第一支撑柱7的长度为第一长度，各第二支撑柱8的长度为第二长度；第一表面S1设置的各元器件距离第一表面S1的最大高度为第一高度，第二表面S2设置的各元器件距离第二表面S2的最大高度为第二高度。第一长度大于或等于第一高度，第二长度大于或等于第二高度，使得第一支撑柱7和第二支撑柱8可能够为电路板4上设置的各元器件提供有效支撑，进一步防止各元器件受到挤压，同时能够进一步提高电路板4的散热能力。

基于同一构思，本实用新型实施例还提供一种芯片测试装置。图10为本实用新型实施例提供的芯片测试装置的结构示意图，参考图10所示，该芯片测试装置01包括：测试平台200和上述任一实施例提供的测试转接板100，测试平台与测试转接板100的部分接口3电连接。

由于本实施例提供的芯片测试装置包括测试平台和上述任一实施例提供的测试转接板，且测试平台与测试转接板的部分接口电连接，使得该芯片测试装置具备本发明实施例提供的测试转接板的技术特征，能够达到本发明实施例提供的测试转接板的有益效果，相同之处可参照上述对本发明实施例提供的测试转接板的描述，在此不再赘述。

上述具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型保护范围之内。

Claims (18)

1.一种测试转接板，其特征在于，包括：控制模块、选通模块、多个接口；

所述控制模块包括选通信号输出端；所述选通信号输出端与所述选通模块的控制端电连接；

多个所述接口包括多个第一接口和多个第二接口；所述第一接口与所述第二接口通过所述选通模块电连接；

所述控制模块用于向所述选通模块提供选通信号；

所述选通模块用于根据所述选通信号切换所述第一接口与所述第二接口之间的连接通路。

2.根据权利要求1所述的测试转接板，其特征在于，所述选通模块包括多个开关；

所述选通信号输出端分别与各所述开关的控制端电连接；

一个所述第一接口与一个所述第二接口之间的连接通路中设置有至少一个所述开关。

3.根据权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，多个所述开关构成多个开关组；每个所述开关组包括至少一个所述开关；

各所述开关的第一端分别与各所述第一接口对应电连接；

同一所述开关组中，各所述开关的第二端与同一所述第二接口电连接。

4.根据权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，多个所述开关包括多个第一开关和多个第二开关；

所述第一开关的第一端与一个所述第一接口电连接；所述第一开关的第二端与至少一个所述第二开关的第一端电连接；所述第二开关的第二端与一个所述第二接口电连接。

5.根据权利要求4所述的测试转接板，其特征在于，各所述第一开关的第一端与各所述第一接口一一对应电连接；各所述第一开关的第二端电连接于第一节点；各所述第二开关的第一端均与所述第一节点电连接；各所述第二开关的第二端与各所述第二接口一一对应电连接。

6.根据权利要求4所述的测试转接板，其特征在于，多个所述第一开关构成M个第一开关组，多个所述第二开关构成M个第二开关组；各所述第一开关的第一端与各所述第一接口一一对应电连接；第i个所述第一开关组中各所述第一开关的第二端与第j个所述第二开关组中各所述第二开关的第一端电连接；各所述第二开关的第二端与各所述第二接口一一对应电连接；其中，M为大于或者等于2的整数，i和j为1至M的整数。

7.根据权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，所述测试转接板还包括电路板；

所述控制模块、所述选通模块和各所述接口分别设置在所述电路板上并通过所述电路板电连接。

8.根据权利要求7所述的测试转接板，其特征在于，所述电路板包括相对设置的第一表面和第二表面；所述控制模块、所述选通模块和各所述接口分散设置于所述第一表面和所述第二表面。

9.根据权利要求8所述的测试转接板，其特征在于，所述电路板包括工作区；所述工作区至少包括相对设置的第一边缘和第二边缘；多个所述接口至少构成第一接口组和第二接口组；

所述第一接口组设置于靠近所述第一边缘的一侧，所述第二接口组设置于靠近所述第二边缘的一侧；所述开关设置于所述第一接口组和所述第二接口组之间的所述工作区内。

10.根据权利要求9所述的测试转接板，其特征在于，所述工作区还包括连接所述第一边缘和所述第二边缘的第三边缘；多个所述接口还构成第三接口组；

所述第三接口组设置于靠近所述第三边缘的一侧。

11.根据权利要求9所述的测试转接板，其特征在于，所述控制模块包括控制接口和至少一微控制器；所述控制接口与所述微控制器电连接；

所述工作区还包括连接所述第一边缘和所述第二边缘的第四边缘；

所述控制接口设置于所述微控制器靠近所述第四边缘的一侧；

至少部分所述开关部分围绕所述控制模块排布。

12.根据权利要求9所述的测试转接板，其特征在于，所述测试转接板还包括电源接口和电源控制转换模块；

所述控制模块还包括电源输入端；

所述电源接口通过所述电源控制转换模块与所述电源输入端电连接。

13.根据权利要求12所述的测试转接板，其特征在于，至少部分所述开关部分围绕所述电源接口和所述电源控制转换模块排布。

14.根据权利要求13所述的测试转接板，其特征在于，所述电源控制转换模块包括电源开关、指示灯、电压转换器和稳压器；

所述电源接口依次通过所述电源开关、所述电压转换器和所述稳压器与所述电源输入端电连接；所述指示灯电连接于所述电源开关和所述电压转换器之间。

15.根据权利要求14所述的测试转接板，其特征在于，所述电源开关、所述指示灯、所述电压转换器和所述稳压器中的一部分设置于所述第一表面，另一部分设置于所述第二表面。

16.根据权利要求9所述的测试转接板，其特征在于，所述测试转接板还包括多个第一支撑柱和多个第二支撑柱；

所述电路板还包括围绕所述工作区的周边区；

各所述第一支撑柱分散设置于所述第一表面的周边区；各所述第二支撑柱分散设置于所述第二表面的周边区。

17.根据权利要求16所述的测试转接板，其特征在于，各所述第一支撑柱的长度为第一长度，各所述第二支撑柱的长度为第二长度；

所述第一表面设置的各元器件距离所述第一表面的最大高度为第一高度；所述第二表面设置的各元器件距离所述第二表面的最大高度为第二高度；

所述第一长度大于或等于所述第一高度，所述第二长度大于或等于所述第二高度。

18.一种芯片测试装置，其特征在于，包括测试平台和如权利要求1-17中任一项所述的测试转接板，所述测试平台与所述测试转接板的部分接口电连接。